JPH1056210A - 熱電半導体焼結素子の製造方法及び熱電半導体焼結素子 - Google Patents

熱電半導体焼結素子の製造方法及び熱電半導体焼結素子

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JPH1056210A
JPH1056210A JP8210287A JP21028796A JPH1056210A JP H1056210 A JPH1056210 A JP H1056210A JP 8210287 A JP8210287 A JP 8210287A JP 21028796 A JP21028796 A JP 21028796A JP H1056210 A JPH1056210 A JP H1056210A
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thermoelectric semiconductor
sintered body
thermoelectric
sintered
semiconductor crystal
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JP8210287A
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Hitoshi Tauchi
内 比登志 田
Satoshi Hori
智 堀
Kazuo Ebisumori
森 一 雄 戎
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Aisin Seiki Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 熱電特性が向上した熱電半導体焼結素子を製
造すること。 【解決手段】 熱電半導体結晶を粉末化する粉末化工程
と、前記粉末化工程により粉末化された前記熱電半導体
結晶粉末を加熱しつつ押し出して熱電半導体焼結体を成
形する熱間押出工程と、前記熱間押出工程により押し出
された熱電半導体焼結体を切断して熱電半導体焼結素子
を成形する切断工程と、を備えることを特徴とする熱電
半導体焼結体の製造方法としたこと。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、熱電半導体を焼結
した熱電半導体焼結素子及び熱電半導体焼結素子の製造
方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、電子冷却素子に使用される熱電半
導体組成物は、ブリッジマン法又はゾーンメルト法で一
方向性凝固させて作製した結晶材料を使用していた。
【0003】しかし、単結晶材料をそのまま素子として
使用する場合、例えばBi−Te系の材料を素子として
使用する場合、Te−Te結合面で劈開性を有し、この
面で割れ易いため、非常に脆く、電子冷却素子の信頼性
や機械的強度が低下する。そこで、機械的強度を改良す
るために、特開昭64−37456号公報に示されるよ
うに、熱電半導体結晶を粉末化し、所望の粒子径に分級
した後にホットプレスを行い、粉末焼結体を形成し、該
焼結体を切りだして熱電半導体焼結素子とするものが提
案されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、従来
の熱電半導体焼結素子は、結晶体を粉末化した後に、ホ
ットプレス等により焼結体を形成するものが主流であ
る。しかし、最近の省エネルギー化、省スペース化の要
望が増加するにつれ、さらに熱電半導体の熱電特性(性
能指数=(ゼーベック係数)2 ×電気伝導度/熱伝導
率)のよいものが望まれるようになり、信頼性、機械的
強度を維持しつつ、なおかつ特性の優れたものを提供す
るにあたり、従来のホットプレス法による熱電半導体の
製造方法では、限界に達してきた。
【0005】また、ホットプレス工程においては、一般
的に焼結体が形成されるべきキャビティー空間が円筒状
に形成されている。このため、ホットプレスして取り出
された焼結体も円筒状である。このため、焼結体から素
子を切りだす際に、まず円筒の外周部を取り除いて角柱
状とし、この角柱をさらに細かく切って、素子を作製す
る必要がある。このため角柱状にする際に取り除かれた
円筒の外周部は製品として使用されず、この結果、製品
歩留りを悪化させるという問題点がある。ホットプレス
をする際に、角柱の焼結体を製造するようにすれば上記
問題点は解決されるが、このように構成すると、ホット
プレス時に圧力が角部に集中し、加圧力のバラツキによ
り熱電半導体の熱電特性がばらつくという新たな問題点
が発生する。
【0006】また、ホットプレスする際の粉末結晶粒子
の粒子径は一般的に、10〜200μmと大きいため、
焼結体としたときの粒界が大きく、機械的強度がそれ程
高くならないという問題点がある。
【0007】故に、本発明は、上記実情に鑑みてなされ
たものであり、信頼性、機械的強度を維持しつつ、熱電
半導体の特性をより向上させることを技術的課題とす
る。また、熱電半導体の製造方法において、歩留りが良
好であり、素子として切りだした際に特性が安定し、ま
た機械的強度にも優れた熱電半導体焼結素子とすること
を技術的課題とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記技術的課題を解決す
るために、本発明の請求項1において講じた技術的手段
は、熱電半導体結晶を粉末化する粉末化工程と、前記粉
末化工程により粉末化された前記熱電半導体結晶粉末を
加熱しつつ押し出して熱電半導体焼結体を成形する熱間
押出工程と、前記熱間押出工程により押し出された熱電
半導体焼結体を切断して熱電半導体焼結素子を成形する
切断工程と、を備えることを特徴とする熱電半導体焼結
体の製造方法としたことである。
【0009】本発明で最も注目すべきことは、粉末化工
程により粉末化された熱電半導体結晶粉末を焼結化する
際に、加熱しつつ押し出して焼結体を成形する熱間押出
工程を使用したことである。そして、熱間押出工程によ
り製造した焼結体を切断して熱電半導体焼結素子とした
ことである。押出成形により焼結体を製造すると、従来
のものよりも良好な熱電特性を備えた熱電半導体焼結素
子を製造することができる。また熱間押出工程にて製造
した焼結体を切断して焼結素子とするので、使用した原
材料を全て素子とすることができ、歩留りが向上する。
さらに、焼結素子であるので、機械的強度も良好であ
る。
【0010】上記技術的課題を解決するにあたって、本
発明の請求項2において講じた技術的手段のように、前
記切断工程は、前記熱間押出工程における押出方向に対
して垂直面で前記熱電半導体焼結体を切断することが好
ましい。熱間押出工程により焼結体を製造した場合、焼
結体の断面に対して均一に加圧力がかかる。このためこ
の断面と平行に、即ち押出方向に対して垂直面で焼結体
を切断して焼結素子を製造すれば、熱電特性を安定させ
ることができる。
【0011】上記技術的課題を解決するにあたって、本
発明の請求項3において講じた技術的手段のように、前
記熱間押出工程は、加熱温度を200℃〜550℃の範
囲内で行うことが好ましい。この加熱温度とすることに
より、より一層熱電特性の向上が望まれる。
【0012】また、上記技術的課題を解決するにあたっ
て、本発明の請求項4において講じた技術的手段のよう
に、前記熱間押し出し工程は、押し出し圧力を500k
g/cm2 以上として行うことが好ましい。押し出し圧
力を500kg/cm2 以上ととすると、上記熱電特性
の向上がより一層大きくなる。
【0013】上記技術的課題を解決するために、本発明
の請求項5において講じた技術的手段は、熱電半導体結
晶を粉末化し、該熱電半導体結晶の粉末を加熱しつつ押
し出して熱電半導体焼結体を成形し、該熱電半導体焼結
体を切断して成形した熱電半導体焼結素子としたことで
ある。このようにして製造した熱電半導体焼結体素子
は、従来のものよりも良好な熱電特性を示す。
【0014】また、上記技術的課題を解決するにあたっ
て、本発明の請求項6において講じた技術的手段のよう
に、前記熱電半導体焼結素子は、結晶粒径が10μm以
下であることが望ましい。熱間押出工程により熱電半導
体焼結体を製造すると、押出成形時の原材料である熱電
半導体結晶粉末がさらに微細化される。そして、焼結体
となったときの結晶粒径が10μm以下であると、粒界
が増加し、素子のクラックの進行が粒界で阻止され易く
なるため、素子の機械的強度がさらに増加する。
【0015】より好ましくは、本発明の請求項7におい
て講じた技術的手段のように、前記熱電半導体結晶は、
次式、 Bix Sby Tez Sea (0.35≦x≦0.65、 1.35≦y≦1.6
5、2.65≦z≦3.3、 0<a≦0.35) で示される組成であることが好ましい。上記組成とする
ことにより、P型熱電半導体焼結素子において、熱電特
性がより向上する。
【0016】また、本発明の請求項8において講じた技
術的手段のように、前記熱電半導体結晶は、次式、 Bix Sby Tez (0.35≦x≦0.65、 1.35≦y≦1.6
5、2.65≦z≦3.3) で示される組成であることが好ましい。上記組成とする
ことにより、P型熱電半導体焼結素子において、熱電特
性がより向上する。
【0017】また、本発明の請求項9において講じた技
術的手段のように、前記熱電半導体結晶の粉末は、次
式、 Bix Sby Tez Sea (1.35≦x≦2.05、 0<y≦0.65、
2.65≦z≦3.1、0<a≦0.3) で示される組成であることが好ましい。上記組成とする
ことにより、N型熱電半導体焼結素子において、熱電特
性がより向上する。
【0018】また、本発明の請求項10において講じた
技術的手段のように、前記熱電半導体結晶の粉末は、次
式、 Bix Tez Sea (1.35≦x≦2.05、 2.65≦z≦3.1、
0<a≦0.35) で示される組成であることが好ましい。上記組成とする
ことにより、N型熱電半導体焼結素子において、熱電特
性がより向上する。
【0019】また、本発明の請求項11において講じた
技術的手段のように、前記熱電半導体結晶の粉末は、次
式、 Bix Tez (1.35≦x≦2.05、 2.65≦z≦3.1) で示される組成であることが好ましい。上記組成とする
ことにより、N型熱電半導体焼結素子において、熱電特
性がより向上する。
【0020】
【発明の実施の形態】
(第1実施形態例)以下に、本発明の第1実施形態例に
ついて、図面に基づいて説明する。
【0021】まず、Bi2 Te2.85Se0.15の組成とな
るように、Bi、Te、Seの純度3Nの原材料を秤量
し、これらの原材料を石英管内に投入した。
【0022】次に、キャリア濃度を調整するため、石英
管内に臭化第2水銀(HgBr2 )を0.09wt%添
加した。
【0023】次に、真空ポンプにより石英管内を0.1
torr以下の真空にし、封止した。
【0024】管内を真空にした石英管を700℃にて1
時間加熱しながら揺動し、管内の原材料の混合物を溶融
撹拌した後、冷却させ、熱電半導体結晶合金とした。
【0025】この熱電半導体結晶合金をカッターミルに
て粉砕し、熱電半導体結晶粉末とした(粉末化工程)。
【0026】次に、粉砕された熱電半導体結晶粉末を分
級し、90μm以下の粉末に調整した。
【0027】このようにして作製した熱電半導体結晶の
粉末を、図1に概略的に示すような熱間押出装置1に入
れ、熱間押出成形を行った(熱間押出工程)。
【0028】ここで、熱間押出装置1について説明す
る。熱間押出装置1は、金型11を備える。金型11
は、外表面に板状のヒータ12が取付られており、図示
せぬ電源供給部からヒータ12に通電されて加熱され、
それにより金型11が加熱されるようになっている。ま
た金型11は、内部に材料供給用の空間部11aが設け
られており、この空間部11aに熱電半導体結晶粉末が
供給される。また、本実施形態例において空間部11a
は円柱形部111a及び円錐台形部111bより構成さ
れ、円柱形部111aの直径は20mmに、円錐台形部
111bのテーパー角(図1に示す角度θ)は45°に
設計した。空間部11aの円錐台形部111b側には、
通路部11bの一端が連結され、該通路部11bの他端
は金型11の図示Aで示す表面で開口している。この開
口部において押出成形体が金型11から排出される。本
実施形態例において、通路部11bの径は2mmに設計
した。円柱形部111aは、金型11の図示Bで示す表
面で開口している。パンチ13は、金型11のB表面側
に備えられている。パンチ13は、円柱状に形成されて
おり、その径は金型11の円柱径部111aの径とほぼ
同径とされている。そして、油圧駆動、モータ駆動等に
より、図示矢印C方向に駆動して、円柱径部111a内
を往復可能に構成されている。金型11内にはさらに温
度センサ14が組み込まれており、温度センサ14は金
型11の温度を計測可能となっている。
【0029】本実施形態例において、金型の温度は40
0℃、熱電半導体結晶粉末にかかる圧力は10ton/
cm2 となるように、ヒータ12の温度及びパンチ13
の押圧力が調整される。この条件下においてパンチ13
を図示矢印C方向に移動させると、空間部11a内の熱
電半導体結晶粉末は、加熱されつつも、パンチ13の押
圧力によって加圧され、次第に焼結体となる。このよう
にして成形された焼結体は、空間部11aから通路部1
1bへと押し出され、通路部11bから金型11の外部
に排出され、熱電半導体焼結体16が製造される。
【0030】次に、熱間押出された熱電半導体焼結体
を、図2に示すように押し出し方向と垂直な面で切断
し、切断片を熱電半導体焼結素子17とした。
【0031】(第2実施形態例)まず、Bi0.5 Sb
1.5 Se3.15の組成になるように、Bi、Sb、Seの
純度3Nの原材料を秤量し、石英管内に投入した。
【0032】次に、真空ポンプにより石英管内を0.1
torr以下の真空にし、封止した。
【0033】管内を真空にした石英管を700℃にて1
時間加熱しながら揺動し、管内の原材料の混合物を溶融
撹拌した後、冷却させて合金化した。
【0034】この合金をカッターミルにて粉砕した。
【0035】次に、粉砕された合金を分級し、50μm
以下の粉末に調整した。
【0036】このようにして作製した熱電半導体結晶の
粉末を、温度350℃、圧力10ton/cm2 の条件
下において熱間押出成形を行い、焼結体を作製した。こ
のときに使用した熱間押出装置は、第1実施形態例にお
いて説明したものと同じであるので、説明を省略する。
【0037】次に、熱間押し出しされた焼結体を、押し
出し方向と垂直な面で切断し、切断片を熱電半導体焼結
素子17とした。
【0038】(第3実施形態例)まず、Bi1.6 Sb
0.4 Te2.85Se0.15の組成となるように、Bi、T
e、Sb、Seの純度3Nの原材料を秤量し、石英管内
に投入した。
【0039】次に、キャリア濃度を調整するため、石英
管内に臭化銅(CuBr2 )を0.09wt%添加し
た。
【0040】次に、真空ポンプにより石英管内を0.1
torr以下の真空にし、封止した。
【0041】管内を真空にした石英管を700℃にて1
時間加熱しながら揺動し、管内の原材料の混合物を溶融
撹拌した後、冷却させて合金化した。
【0042】この合金をカッターミルにて粉砕した。
【0043】次に、粉砕された合金を分級し、45μm
以下の粉末に調整した。
【0044】このようにして作製した熱電半導体結晶の
粉末を、温度450℃、圧力2ton/cm2 の条件下
において熱間押出成形を行い、焼結体を作製した。この
ときに使用した熱間押出装置は、第1実施形態例で説明
したものと同様であるため、その説明を省略する。
【0045】次に、熱間押し出しされた焼結体を、押し
出し方向と垂直な面で切断し、切断片を熱電半導体焼結
素子17とした。
【0046】(第4実施形態例)まず、Bi2 Te2.7
Se0.3 の組成となるように、Bi、Te、Seの純度
3Nの原材料を秤量し、石英管内に投入した。
【0047】次に、キャリア濃度を調整するため、石英
管内に臭化第2水銀(HgBr2 )を0.09wt%添
加した。
【0048】次に、真空ポンプにより石英管内を0.1
torr以下の真空にし、封止した。
【0049】管内を真空にした石英管を700℃にて1
時間加熱しながら揺動し、管内の原材料の混合物を溶融
撹拌した後、冷却させて合金化した。
【0050】この合金をカッターミルにて粉砕した。
【0051】次に、粉砕された合金を分級し、45〜9
0μmの粉末に調整した。
【0052】このようにして作製した熱電半導体結晶の
粉末を、温度400℃、圧力50ton/cm2 の条件
下において熱間押出成形を行い、焼結体を作製した。こ
のときに使用した熱間押出装置は、第1実施形態例で使
用したものと同様であるので、その説明を省略する。
【0053】次に、熱間押し出しされた焼結体を、押し
出し方向と垂直な面で切断し、切断片を熱電半導体焼結
素子17とした。
【0054】(第5実施形態例)まず、Bi2 Te2.85
Se0.15の組成となるように、Bi、Te、Seの純度
3Nの原材料を秤量し、石英管内に投入した。
【0055】次に、キャリア濃度を調整するため、石英
管内に臭化第2水銀(HgBr2 )を0.09wt%添
加した。
【0056】次に、真空ポンプにより石英管内を0.1
torr以下の真空にし、封止した。
【0057】管内を真空にした石英管を700℃にて1
時間加熱しながら揺動し、管内の原材料の混合物を溶融
撹拌した後、冷却させて合金化した。
【0058】この合金をカッターミルにて粉砕した。
【0059】次に、粉砕された合金を分級し、10μm
以下の粉末に調整した。
【0060】このようにして作製した熱電半導体結晶の
粉末を、図1に示すような金型に入れ、温度350℃、
圧力60ton/cm2 の条件下において熱間押出成形
を行い、焼結体を作製した。このときに使用した熱間押
出装置は、第1実施形態例で使用したものと同様である
ので、その説明を省略する。
【0061】次に、熱間押し出しされた焼結体を、押し
出し方向と垂直な面で切断し、切断片を熱電半導体焼結
素子17とした。
【0062】(第6実施形態例)まず、Bi0.4 Sb
1.6 Te2.85Se0.15の組成となるように、Bi、T
e、Sb、Seの純度3Nの原材料を秤量し、石英管内
に投入した。
【0063】次に、キャリア濃度を調整するため、石英
管内に銀(Ag)を0.016wet%添加した。
【0064】次に、真空ポンプにより石英管内を0.1
torr以下の真空にし、封止した。
【0065】管内を真空にした石英管を700℃にて1
時間加熱しながら揺動し、管内の原材料の混合物を溶融
撹拌した後、冷却させて合金化した。
【0066】この合金をカッターミルにて粉砕した。
【0067】次に、粉砕された合金を分級し、120μ
m以下の粉末に調整した。
【0068】このようにして作製した熱電半導体結晶の
粉末を、図1に示すような金型に入れ、温度500℃、
圧力20ton/cm2 の条件下において熱間押出成形
を行い、焼結体を作製した。このときに使用した熱間押
出装置は、第1実施形態例で使用したものと同様である
ので、その説明を省略する。
【0069】次に、熱間押し出しされた焼結体を、押し
出し方向と垂直な面で切断し、切断片を熱電半導体焼結
素子17とした。
【0070】(第7実施形態例)まず、Bi0.5 Sb
1.5 Se3.0 の組成になるように、Bi、Sb、Seの
純度3Nの原材料を秤量し、石英管内に投入した。
【0071】次に、キャリア濃度を調整するため、石英
管内に銀(Ag)を0.016wt%添加した。
【0072】次に、真空ポンプにより石英管内を0.1
torr以下の真空にし、封止した。
【0073】管内を真空にした石英管を700℃にて1
時間加熱しながら揺動し、管内の原材料の混合物を溶融
撹拌した後、冷却させて合金化した。
【0074】この合金をカッターミルにて粉砕した。
【0075】次に、粉砕された合金を分級し、20〜9
0μmの粉末に調整した。
【0076】このようにして作製した熱電半導体結晶の
粉末を、図1に示すような金型に入れ、温度500℃、
圧力20ton/cm2 の条件下において熱間押出成形
を行い、焼結体を作製した。このときに使用した熱間押
出装置は、第1実施形態例で使用したものと同様である
ので、その説明を省略する。
【0077】次に、熱間押し出しされた焼結体を、押し
出し方向と垂直な面で切断し、切断片を熱電半導体焼結
素子17とした。
【0078】(第8実施形態例)まず、Bi0.6 Sb
1.4 Se3.25の組成になるように、Bi、Sb、Seの
純度3Nの原材料を秤量し、石英管内に投入した。
【0079】次に、真空ポンプにより石英管内を0.1
torr以下の真空にし、封止した。
【0080】管内を真空にした石英管を700℃にて1
時間加熱しながら揺動し、管内の原材料の混合物を溶融
撹拌した後、冷却させて合金化した。
【0081】この合金をカッターミルにて粉砕した。
【0082】次に、粉砕された合金を分級し、10μm
以下の粉末に調整した。
【0083】このようにして作製した熱電半導体結晶の
粉末を、図1に示すような金型に入れ、温度300℃、
圧力50ton/cm2 の条件下において熱間押出成形
を行い、焼結体を作製した。このときに使用した熱間押
出装置は、第1実施形態例で使用したものと同様である
ので、その説明を省略する。
【0084】次に、熱間押し出しされた焼結体を、押し
出し方向と垂直な面で切断し、切断片を熱電半導体焼結
素子17とした。
【0085】(比較例1)まず、Bi2 Te2.85Se
0.15の組成となるように、Bi、Te、Seの純度3N
の原材料を秤量し、石英管内に投入した。
【0086】次に、キャリア濃度を調整するため、石英
管内に臭化第2水銀(HgBr2 )を0.09wt%添
加した。
【0087】次に、真空ポンプにより石英管内を0.1
torr以下の真空にし、封止した。
【0088】管内を真空にした石英管を700℃にて1
時間加熱しながら揺動し、管内の原材料の混合物を溶融
撹拌した後、冷却させて合金化した。
【0089】この合金をカッターミルにて粉砕した。
【0090】次に、粉砕された合金を分級し、37〜7
4μm以下の粉末に調整した。
【0091】このようにして作製した熱電半導体結晶の
粉末を、温度400℃、圧力0.45ton/cm2
条件下においてホットプレスし、焼結体を成形した。
【0092】次に、ホットプレスして成形された焼結体
を切断し、切断片を熱電半導体焼結素子とした。
【0093】(比較例2)まず、Bi0.5 Sb1.5 Se
0.15の組成となるように、Bi、Sb、Seの純度3N
の原材料を秤量し、石英管内に投入した。
【0094】次に、真空ポンプにより石英管内を0.1
torr以下の真空にし、封止した。
【0095】管内を真空にした石英管を700℃にて1
時間加熱しながら揺動し、管内の原材料の混合物を溶融
撹拌した後、冷却させて合金化した。
【0096】この合金をカッターミルにて粉砕した。
【0097】次に、粉砕された合金を分級し、20〜1
50μm以下の粉末に調整した。
【0098】このようにして作製した熱電半導体結晶の
粉末を、温度380℃、圧力0.5ton/cm2 の条
件下においてホットプレスし、焼結体を成形した。
【0099】次に、ホットプレスして成形された焼結体
を切断し、切断片を熱電半導体焼結素子とした。
【0100】以上のように、各熱電半導体焼結素子サン
プルを作製し、各サンプルの圧縮強度、ゼーベック係
数、電気伝導度を測定した。実施形態例1〜4における
各サンプルの製造条件及び測定結果をまとめて表1に、
実施形態例5〜8における各サンプルの製造条件及び測
定結果をまとめて表2に、比較例における各サンプルの
製造条件及び測定結果をまとめて表3に示す(尚、実施
形態例におけるゼーベック係数、電気伝導度は押し出し
成形時の押し出し方向及び押し出し方向に対して垂直方
向の2方向について測定し、比較例におけるゼーベック
係数、電気伝導度はホットプレス時における加圧方向及
び加圧方向に対して垂直方向の2方向について測定し
た。)。また、実施形態例1において製造した熱電半導
体焼結素子サンプルの組織写真を図3(倍率10000
倍)に、実施形態例2において製造した熱電半導体焼結
素子サンプルの組織写真を図4(倍率1000倍)に、
比較例1において製造した熱電半導体焼結素子サンプル
の組織写真を図5(倍率400倍)に、比較例2におい
て製造した熱電半導体焼結素子サンプルの組織写真を図
6(倍率400倍)に示す
【0101】
【表1】
【0102】
【表2】
【0103】
【表3】
【0104】上記測定結果から明らかなように、第1実
施形態例〜第8実施形態例のいずれにおいても、比較例
として行ったホットプレスにより焼結体を製造したもの
よりも熱電特性が良好であった。これは、以下に示す理
由によるものと考えられる。即ち、図3〜図6の写真か
らも明らかなように、本実施形態例において製造した熱
電半導体焼結素子の粒径は非常に小さく、ほとんどが1
0μm以下となっている。これに対し、比較例において
製造した熱電半導体焼結素子の粒径は比較的大きく、5
0μm程度である。これは、熱間押出工程における押出
時に粉末粒が再結晶を起こし、微細化しているものと考
えられ、この再結晶プロセスにおいて、粉末粒界近傍が
溶け合い、電気伝導度が向上するため、熱電特性が良好
となるものと考えられる。
【0105】また、第1実施形態例〜第8実施形態例の
いずれにおいても、比較例であるホットプレスにより焼
結体を製造したものよりも、機械的強度(圧縮強度)が
高いことがわかる。これは、実施形態例の方が比較例の
ものよりも粒界が多く、焼結体内のクラックの進行が、
その粒界で阻止される確率が高いためであると思われ
る。
【0106】また、いずれの実施形態例をとってみて
も、押出方向に平行な方向で測定した熱電特性の方が、
押出方向に垂直な方向で測定した熱電特性の方が良好で
ある。これは、押出方向に対して平行な方向に、粒のC
面が配向するためと思われる(粒のC面に対して平行な
方向の方が、C面に対して垂直な方向よりも、熱電特性
が良好である。)。
【0107】
【発明の効果】請求項1の発明は、以下の如く効果を有
する。
【0108】粉末化工程により粉末化された熱電半導体
結晶粉末を焼結化する際に、加熱しつつ押し出して焼結
体を成形するした。これにより、従来のものよりも良好
な熱電特性を備えた熱電半導体焼結素子を製造すること
ができる。また熱間押出工程にて製造した焼結体を切断
して焼結素子とするので、使用した原材料を全て素子と
することができ、歩留りが向上した。さらに、焼結素子
であるので、機械的強度も良好である。
【0109】請求項2の発明は、以下の如く効果を有す
る。
【0110】熱間押出工程により熱電半導体焼結体を押
出た後に、押出方向に対して垂直面で前記熱電半導体焼
結体を切断して熱電半導体焼結素子を製造したので、良
好な熱電特性を備えた熱電半導体焼結素子を安定して製
造することができる。
【0111】請求項3の発明は、以下の如き効果を有す
る。
【0112】熱間押出工程における加熱温度を200℃
〜580℃の範囲内として行った。これにより、より一
層熱電特性が向上した熱電半導体焼結素子を安定して製
造することができる。加熱温度が200℃以下であると
再結晶による微細化が起こりにくくなり好ましくない。
また、加熱温度が580℃以上であると溶融してしま
い、押出成形ができなくなるので、好ましくない。
【0113】請求項4の発明は、以下の如く効果を有す
る。
【0114】熱間押し出し工程における押し出し圧力を
500kg/cm2 以上として行った。これにより、熱
電特性の向上がより一層大きな熱電半導体焼結素子を効
率良く製造することができる。押し出し圧力を500k
g/cm2 以下とすると押出速度が極端に遅くなり、生
産性が悪くなるため、好ましくない。
【0115】請求項5の発明は、以下の如く効果を有す
る。
【0116】熱電半導体結晶を粉末化し、該熱電半導体
結晶の粉末を加熱しつつ押し出して熱電半導体焼結体を
成形したので、熱電特性の向上した熱電半導体焼結素子
とすることができる。
【0117】請求項6の発明は、以下の如く効果を有す
る。
【0118】熱電半導体焼結素子の結晶粒径が10μm
以下としたので、素子の機械的強度をさらに増加させる
ことができる。
【0119】請求項7の発明は、以下の如く効果を有す
る。
【0120】熱電半導体結晶を、次式、 Bix Sby Tez Sea (0.35≦x≦0.65、 1.35≦y≦1.6
5、2.65≦z≦3.3、 0<a≦0.35) で示される組成としたため、P型熱電半導体焼結素子に
おいて、熱電特性をさらに向上させることができる。
【0121】請求項8の発明は、以下の如く効果を有す
る。
【0122】熱電半導体結晶を、次式、 Bix Sby Tez (0.35≦x≦0.65、 1.35≦y≦1.6
5、2.65≦z≦3.3) で示される組成としたため、P型熱電半導体焼結素子に
おいて、熱電特性をさらに向上させることができる。
【0123】請求項9の発明は、以下の如く効果を有す
る。
【0124】熱電半導体結晶の粉末を、次式、 Bix Sby Tez Sea (1.35≦x≦2.05、 0<y≦0.65、
2.65≦z≦3.1、0<a≦0.3) で示される組成としたため、N型熱電半導体焼結素子に
おいて、熱電特性をさらに向上させることができる。
【0125】請求項10の発明は、以下の如く効果を有
する。
【0126】熱電半導体結晶の粉末を、次式、 Bix Tez Sea (1.35≦x≦2.05、 2.65≦z≦3.1、
0<a≦0.35) で示される組成としたため、N型熱電半導体焼結素子に
おいて、熱電特性をさらに向上させることができる。
【0127】請求項11の発明は、以下の如く効果を有
する。
【0128】熱電半導体結晶の粉末を、次式、 Bix Tez (1.35≦x≦2.05、 2.65≦z≦3.1) で示される組成としたため、N型熱電半導体焼結素子に
おいて、熱電特性をさらに向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態例における、熱間押出装置の
概略図である。
【図2】本発明の実施形態例における、切断工程の概略
図である。
【図3】本発明の実施形態例1において製造した熱電半
導体焼結体の断面組織写真である。
【図4】本発明の実施形態例2において製造した熱電半
導体焼結体の断面組織写真である。
【図5】比較例1において製造した熱電半導体焼結体の
断面組織写真である。
【図6】比較例2において製造した熱電半導体焼結体の
断面組織写真である。
【符号の説明】
1 熱間押出装置 11 金型、 11a 材料供給部、 11b 通路
部、 111a 円柱形部、 111b 円錐台形部 12 ヒーター 13 パンチ 14 温度センサ 16 熱電半導体焼結体 17 熱電半導体焼結素子

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 熱電半導体結晶を粉末化する粉末化工程
    と、 前記粉末化工程により粉末化された前記熱電半導体結晶
    粉末を加熱しつつ押し出して熱電半導体焼結体を成形す
    る熱間押出工程と、 前記熱間押出工程により押し出された熱電半導体焼結体
    を切断して熱電半導体焼結素子を成形する切断工程と、 を備えることを特徴とする熱電半導体焼結体の製造方
    法。
  2. 【請求項2】 請求項1において、 前記切断工程は、前記熱間押出工程における押出方向に
    対して垂直面で前記熱電半導体焼結体を切断することを
    特徴とする熱電半導体焼結素子の製造方法。
  3. 【請求項3】 請求項1において、 前記熱間押出工程は、加熱温度を200℃〜580℃の
    範囲内で行うことを特徴とする熱電半導体焼結素子の製
    造方法。
  4. 【請求項4】 請求項1において、 前記熱間押出工程は、押し出し圧力を500kg/cm
    2 以上として行うことを特徴とする熱電半導体焼結素子
    の製造方法。
  5. 【請求項5】 熱電半導体結晶を粉末化し、該熱電半導
    体結晶の粉末を加熱しつつ押し出して熱電半導体焼結体
    を成形し、該熱電半導体焼結体を切断して成形した熱電
    半導体焼結素子。
  6. 【請求項6】 請求項5において、 前記熱電半導体焼結素子は、結晶粒径が10μm以下で
    あることを特徴とする、熱電半導体焼結素子。
  7. 【請求項7】 請求項5において、 前記熱電半導体結晶は、次式、 Bix Sby Tez Sea (0.35≦x≦0.65、 1.35≦y≦1.6
    5、2.65≦z≦3.3、 0<a≦0.35) で示される組成であることを特徴とする、熱電半導体焼
    結体。
  8. 【請求項8】 請求項5において、 前記熱電半導体結晶は、次式、 Bix Sby Tez (0.35≦x≦0.65、 1.35≦y≦1.6
    5、2.65≦z≦3.3) で示される組成であることを特徴とする、熱電半導体焼
    結体。
  9. 【請求項9】 請求項5において、 前記熱電半導体結晶の粉末は、次式、 Bix Sby Tez Sea (1.35≦x≦2.05、 0<y≦0.65、
    2.65≦z≦3.1、0<a≦0.3) で示される組成であることを特徴とする、熱電半導体焼
    結体。
  10. 【請求項10】 請求項5において、 前記熱電半導体結晶の粉末は、次式、 Bix Tez Sea (1.35≦x≦2.05、 2.65≦z≦3.1、
    0<a≦0.35) で示される組成であることを特徴とする、熱電半導体焼
    結体。
  11. 【請求項11】 請求項5において、 前記熱電半導体結晶の粉末は、次式、 Bix Tez (1.35≦x≦2.05、 2.65≦z≦3.1) で示される組成であることを特徴とする、熱電半導体焼
    結体。
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