JPH10506993A - 物質のロールの少なくとも1シートの伸張値の測定方法及び装置 - Google Patents
物質のロールの少なくとも1シートの伸張値の測定方法及び装置Info
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.物質のロールの少なくとも1シートの伸張値の測定方法であって、該方法は 、 前記ロールの一側方端部をその外周から半径方向にマーク付けして、ロールの 半径に沿って整合する一連のマークを生産する工程(a)と; ロールを回転自在に支持してロールの周囲の層を弛める工程(b)と; 前記工程(a)及び(b)の後、前記マークのうち、前記ロールの周囲の最も 外側にある1つのマークの、それに隣接するマークに対する横方向移動値GAP を測定する工程(c)と;よりなる方法。 2.ロールの少なくとも1シートの、対応する直径に対する伸張値を判断するた めに、ロールの直径を測定する工程(d)を更に有し、前記値GAPは前記工程 (d)において測定された直径のロールの前記シートの伸張値を示してなる、請 求の範囲第1項記載の方法。 3.前記工程(a)において、マーク付けの工程は、ロールの一側方端部をその 外周から半径方向に切り欠きして、ロールの半径に沿って整合する一連の切り欠 きを生産する工程よりなり、 前記工程(c)において、前記測定工程は、前記ロールの円周上最も外側にあ る1つの切り欠きの、それと隣接する切り欠きに対する横方向移動値GAPを測 定する工程よりなる、請求の範囲第2項記載の方法。 4.ロールの、直径に対するシートの伸張値のプロフィールを判断するために、 前記工程(a)において、前記ロールの前記一側方端部はその中心から外周に 向けてマーク付けされ; 前記工程(c)は、 前記1つのマークを含む物質の一部を巻き解く工程(i)と; 物質の前記一部にある前記1つのマークが第1位置を通過するのを検出して、 それに応じた時間に関する信号Aを発生する工程(ii)と; 前記1つのマークの直後で、且つロールの周囲に位置する第2のマークが第2 位置を通過するのを検出し、それに応じた時間に関する信号Bを発生する工程( iii)と; 時間に関する信号A及びBを比較して時間Δtを得て、信号A及びBのうちど ちらが先に生じたかを判断し、それに応じた極性値を確立する工程(iv)と; 前記時間Δtの間に巻き解かれた物質LMの長さを測定する工程(v)と; OVを第1及び第2位置の相対位置により決定されるオフセット値とした時に 、前記値GAPを等式、GAP=P×LM+OV、により計算する工程(vi) と;よりなり、 前記工程(c)及び(d)はロールが巻き解かれる際に何対かの第1及び第2 マークごとに反復され、 上記方法は更に、工程(vi)で計算された値GAPのそれぞれを記憶して、 工程(d)で測定されたロールの直径に関する値GAPの変動を示す関数Fを確 立する工程(e)を有し、前記関数Fは物質の前記ロールの、直径に対する異な るシートの伸張値のプロフィールを示す、請求の範囲第2項記載の方法。 5.前記工程(b)において、前記ロールはその中心軸により支持される、請求 の範囲第2項記載の方法。 6.前記ロールの対応する直径値についての伸張率STR(%)を、等式、ST R(%)=[前記値のギャップ]×100/π×[前記ロールの対応する直径値 ]、により計算する工程(e)を更に有する、請求の範囲第2項記載の方法。 7.前記工程(d)において、前記直径は、前記第2位置の通過を2回連続して 検出することにより決定される時間内に巻き解かれる物質DMの長さを測定し、 等式、直径=DM/π、により前記直径を計算することにより測定される、請 求の範囲第4項記載の方法。 8.物質のロールの少なくとも1シートの伸張値の測定装置であって、前記ロー ルの一側方端部をその外周から半径方向にマーク付けして、その半径に沿って整 合された一連のマークを生産してなり、前記装置は、 ロールを回転自在に支持してその周辺の層を緩ませる支持するための支持手段 と; マークのうち、ロールの周囲の最も外側にある1つのマークの、それと隣接す るマークに対する横方向移動値GAPを測定するための第1測定手段と、よりな る装置。 9.前記ロールの直径を測定するための第2測定手段を更に備え、前記値GAP は、ロールの前記直径におけるシートの伸張値を示す、請求項8記載の装置。 10.第1測定ユニットは、 前記1つのマークを含む物質の一部を巻き解くための巻き解き手段と; 物質の一部である前記1つのマークが第1部分を通過するのを検出して、それ に応じた時間に関する信号Aを発生するための第1検出手段と; 前記1つのマークの直後にあり、且つロールの外周に位置する第2マークが第 2位置を通過するのを検出して、それに応じた時間に関する信号Bを発生するた めの第2検出手段と; 時間に対する信号A及びBを比較して時間Δtを得て、信号A及びBのどちら が先に生じたかを判断して極性値を確立するための、比較手段 と; 前記時間Δtの間に巻き解かれた物質LMの長さを測定するための評価手段と ; OVを前記第1及び第2位置の相対位置により決定されるオフセット値とした 時に、ギャップGAPを、等式、GAP=P×LM+OV、により計算するため の第1計算手段と; 前記第1及び第2検出手段により検出された何対かの通過をサンプリングする サンプリング手段と; 前記サンプリング手段により採取された何対かの通過について計算された値G APを記憶するための、記憶手段と; 前記記憶手段に記憶された値GAPから、ロールの直径に対する値GAPのプ ロフィールを示す関数Fを確立するための第2計算手段と;よりなる、請求の範 囲第9項記載の装置。 11.前記支持手段は底板により機械的に連結された2つの平行な垂直部材より なり、該垂直部材はそれぞれ前記ロールの中心軸を支持するためのボール軸受を 備えた上部を有し、これにより、装置の作動中に前記ロールが前記垂直部材間に 取り付けられる、請求の範囲第9項記載の装置。 12.前記第2測定手段により測定される前記ロールの対応する直径値について の張力STR(%)の率を、等式、STR(%)=[前記値のギャップ]×10 0/π×[前記ロールの対応する直径値]、により計算するための計算手段を更 に有する、請求の範囲第9項記載の装置。 13.第1測定手段は、 所定の側部直径D1を有するローラと; 前記ローラに連結されて、該ローラの完全な1回転につき所定の数のパルスN Pを発生するタコメータと; 前記第1及び第2検出手段及びタコメータに連結されて、前記時間Δ tの間に前記タコメータにより発生されるパルスN1の数を検出するための第3 検出手段と; 物質の前記長さLMを、等式、LM=N1×[(D1×π)/NP]、により 計算する第2計算手段と:を更に有し、 前記ローラは、支持部に取り付け可能であり、装置の作動中、該ローラは前記 ロールと平行であり、前記物質の巻き解かれた部分がローラの少なくとも一部の 周囲に配置され、ローラが自由に回転して、物質の前記部分が巻き解かれるとロ ーラの周囲の層が緩んでなる、請求の範囲第10項記載の装置。 14.前記第2測定手段は、 第2検出手段及びタコメータに連結されて、前記第2位置を2回連続して検出 することにより決定される時間Δtの間に、前記タコメータにより発生されるパ ルスN2の数を検出するための第4検出手段と; 前記ロールの直径D2を、等式、D2=[(N2×D1)/NP]、により計 算するための第3計算手段と;を有する、請求の範囲第13項記載の装置。 15.前記ロールの一側方端部をその外周から半径方向に切り欠きして、その半 径に沿って整合された一連のマークを生産し、 前記第1及び第2検出手段はそれぞれ第1及び第2光学センサよりなり; 前記比較手段は光学センサ及びメモリからの信号を受信するためのインターフ ェース装置よりなるコンピュータにより提供され; 前記第1及び第2計算手段は前記コンピュータにより提供され; 前記サンプリング手段は前記コンピュータにより提供され; 前記記憶手段は前記メモリにより提供される、請求の範囲第10項記載の装置 。 16.前記ロールの一側方端部をその外周から半径方向に切り欠きして 、その半径に沿って整合された一連のマークを生産し、 前記第1及び第2検出手段はそれぞれ第1及び第2光学センサよりなり; 前記第3及び第4検出手段は光学センサ及び前記タコメータからの信号を受信 するためのインターフェース装置を有するコンピュータにより提供され; 前記比較手段は前記コンピュータにより提供され; 前記第1、第2及び第3計算手段は前記コンピュータにより提供され; 前記サンプリング手段は前記コンピュータにより提供され; 前記記憶手段は前記メモリにより提供される、請求の範囲第14項記載の装置 。
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