JP6848472B2 - コードの配列状態を検査するための試験装置 - Google Patents

Description

本発明は、コードの配列状態を検査するための試験装置に関する。

タイヤのカーカスは、カーカスプライで構成される。カーカスプライは、並列されたコードとトッピングゴムとからなる。カーカスプライは、両側のビードの間に架け渡されている。

タイヤはリムに組み込まれ、タイヤの内部には空気が充填される。これにより、タイヤは膨張する。カーカスプライに含まれるコードは、両側のビードの間に架け渡されている。カーカスプライにおけるコードの配列状態によっては、膨張したタイヤの表面に凹凸が生じることがある。このため、この凹凸が生じないよう、タイヤの製造工場では、様々な検討が行われている。この検討の一例が、特開２０１３−０５２５８２公報に開示されている。

特開２０１３−０５２５８２公報

タイヤの製造では、多数のコードを並列させた状態で、これらのコードを引き出しながら薄い２枚のゴムシートで挟み込み、カーカスプライ等の部品のためのトッピングシートが準備される。高品質なタイヤを安定に製造するために、製造の早い段階でしかも精度よく、トッピングシートにおけるコードの配列状態を把握できる技術の確立が求められている。

本発明の目的は、高品質なタイヤの安定な製造に寄与することができる、コードの配列状態を検査するための試験装置の提供にある。

本発明は、並列された多数のコードとゴムとからなるサンプルシートにおいて、これらのコードの配列状態を検査するために用いられる検出器である。この検出器は、支持体と、一対のプローブとを備えている。これらのプローブは、上記支持体の長さ方向に間隔をあけて配置されている。上記プローブは、渦電流式変位センサーである。

好ましくは、この検出器は、一対の転をさらに備えている。これらの転は、上記支持体の長さ方向に間隔をあけて配置され、この支持体に回転可能な状態で支持されている。これらの転は、上記サンプルシートに載せられる。

他の観点によれば、本発明は、並列された多数のコードとゴムとからなるサンプルシートにおいて、これらのコードの配列状態を検査するために用いられる試験装置である。この試験装置は、ドラムと、検出器とを備えている。上記ドラムは、上記サンプルシートが巻かれ、このサンプルシートをインフレートさせるチューブを備えている。上記検出器は、支持体と、一対のプローブとを備えている。これらのプローブは、上記支持体の長さ方向に間隔をあけて配置されている。上記プローブは、渦電流式変位センサーである。上記チューブと上記検出器との間に、上記サンプルシートは配置される。

好ましくは、この試験装置では、上記検出器は一対の転をさらに備えている。これらの転は、上記支持体の長さ方向に間隔をあけて配置され、この支持体に回転可能な状態で支持されている。これらの転は、上記サンプルシートに載せられる。

好ましくは、この試験装置は、上記ドラムを回転させるための回転手段をさらに備えている。上記ドラムの回転により、上記検出器は上記サンプルシート上を移動していく。

さらに他の観点によれば、本発明は、並列された多数のコードとゴムとからなるサンプルシートにおいて、これらのコードの配列状態を、ドラムと検出器とを備える試験装置を用いて検査するための試験方法である。この試験方法は、
（１）上記ドラムに上記サンプルシートを巻きつける工程、
（２）上記サンプルシートをインフレートさせる工程、
及び
（３）上記サンプルシート上に上記検出器をセットする工程
を含んでいる。上記ドラムは、上記サンプルシートが巻かれ、このサンプルシートをインフレートさせるチューブを備えている。上記検出器は、支持体と、一対のプローブとを備えている。これらのプローブは、上記支持体の長さ方向に間隔をあけて配置されている。上記プローブは、渦電流式変位センサーである。

好ましくは、この試験方法では、上記検出器は一対の転をさらに備えている。これらの転は、上記支持体の長さ方向に間隔をあけて配置され、この支持体に回転可能な状態で支持されている。これらの転は、上記サンプルシートに載せられる。

好ましくは、この試験方法では、上記試験装置は、上記ドラムを回転させるための回転手段をさらに備えている。上記試験方法は、
（４）上記ドラムを回転させて、上記検出器が上記サンプルシート上を移動させられる工程
をさらに含んでいる。

本発明に係る試験装置では、作業者の目視に頼ることなく、製造の早い段階でしかも精度よく、トッピングシートにおけるコードの配列状態の把握が可能である。この試験装置は、高品質なタイヤの安定な製造に寄与する。本発明によれば、高品質なタイヤの安定な製造に寄与することができる、コードの配列状態を検査するための試験装置が得られる。

図１は、本発明の一実施形態に係る試験装置を側面から見た様子が示された概略図である。 図２は、図１の試験装置を正面から見た様子が示された概略図である。 図３は、図１の試験装置の一部である検出器を側面から見た様子が示された概略図である。 図４は、図１の試験装置による検査の対象であるトッピングシートの一部が示された斜視図である。 図５は、トッピングシートから準備されたサンプルシートが示された斜視図である。 図６は、サンプルシートがドラムに巻かれている様子が示された概略図である。 図７は、インフレートされたサンプルシートが示された概略図である。 図８は、検出器がサンプルシートに載せられている様子が示された概略図である。 図９は、試験装置によるコードの配列状態の試験方法を説明するための概略図である。

以下、適宜図面が参照されつつ、好ましい実施形態に基づいて本発明が詳細に説明される。

図１及び２には、本発明の一実施形態に係る試験装置２の大要が示されている。この試験装置２は、並列された多数のコードとゴムとからなるサンプルシートにおいて、これらのコードの配列状態を検査するために用いられる。

この試験装置２は、ドラム４と、回転手段６と、検出器８とを備えている。ドラム４は、円筒状である。このドラム４は、チューブ１０と、一対のディスク１２と、回転軸１４とを備えている。

チューブ１０は、ドラム４の側面を構成する。チューブ１０は、架橋ゴムからなる。このチューブ１０の材質に特に制限はない。後述するが、チューブ１０は圧縮空気の充填によりインフレートされる。この試験装置２では、このチューブ１０には、タイヤの製造で用いられるブラダーの材質と同等の材質が用いられている。チューブ１０の両端のそれぞれは、図示されない固定手段によって、ディスク１２に固定されている。回転軸１４は、それぞれのディスク１２を支持している。この試験装置２では、この回転軸１４は、チューブ１０の長さ方向に伸縮可能である。

回転手段６は、回転軸１４を回転可能に支持している。この試験装置２では、この回転手段６はモーターである。この試験装置２では、この回転手段６によって、回転軸１４が回転させられる。これにより、ドラム４が回転する。この試験装置２は、ドラム４を回転させるための回転手段６を備えている。図１において、矢印Ａで示された方向が、この試験装置２を用いた検査におけるドラム４の回転方向である。

この試験装置２では、図示されない供給手段により、ドラム４の内部には圧縮空気が供給される。これにより、この試験装置２では、チューブ１０がインフレートされる。図１及び２において、二点鎖線で示されているのは、膨張状態にあるチューブ１０の輪郭である。前述したように、ドラム４の回転軸１４はチューブ１０の長さ方向に伸縮可能である。この試験装置２では、ドラム４の内部に圧縮空気を供給しチューブ１０をインフレートさせるとともに、左右のディスク１２間の距離が狭められる。なお、この圧縮空気の圧力は、０．３ＭＰａから１．０ＭＰａの範囲で適宜設定される。

図３には、検出器８が示されている。この検出器８は、支持体１６と、一対のプローブ１８と、一対の転２０とを備えている。

支持体１６は、プレートである。この検出器８では、この支持体１６にプローブ１８及び転２０のようなパーツが固定される。

それぞれのプローブ１８は、支持体１６の長さ方向に間隔をあけて配置されている。この検出器８では、このプローブ１８は渦電流式変位センサーである。この検出器８では、市販の渦電流式変位センサーがプローブ１８として用いられている。この検出器８では、このプローブ１８は、渦電流式変位センサーであれば、特に、制限はない。図示されていないが、プローブ１８は、ケーブルによりパーソナルコンピュータに繋げられている。このコンピュータにおいて、プローブ１８が検知した渦電流に関するデータが解析される。

一対の転２０は、支持体１６の長さ方向に間隔をあけて配置されている。この検出器８では、支持体１６の長さ方向において、プローブ１８の外側に転２０は設けられている。この検出器８では、プローブ１８に対する転２０の位置に特に制限はない。支持体１６の長さ方向において、プローブ１８の内側に転２０が位置するようにこの検出器８は構成されてもよい。例えば、転２０の内部にプローブ１８を設け、支持体１６の長さ方向において、プローブ１８の位置が転２０の位置と一致させられてもよい。

この検出器８では、転２０は、回転可能な状態で支持体１６に支持されている。後述するが、この検出器８では、転２０はサンプルシートに載せられる。転２０が回転するので、検出器８はサンプルシート上を移動可能である。転２０がサンプルシートに載せられた状態では、転２０の下端２２がサンプルシートに接触させられる。この検出器８では、転２０は、その下端２２（言い換えれば、接地面）がプローブ１８から突出するように、支持体１６に取り付けられる。このため、プローブ１８はサンプルシートとは接触しない。

図４には、タイヤの構成部材のひとつであるカーカス（具体的には、カーカスプライ）のためのトッピングシート２４の一部が示されている。タイヤの製造では、このトッピングシート２４を所定の形状に裁断し、カーカスプライが準備される。この図４において、矢印Ｘで表される方向はトッピングシート２４の幅方向である。矢印Ｙで表される方向は、トッピングシート２４の長さ方向である。矢印Ｚで表される方向は、トッピングシート２４の厚さ方向である。

トッピングシート２４は、多数のコード２６とゴム２８（トッピングゴムとも称される。）とからなる。これらのコード２６は、ゴム２８で覆われており、トッピングシート２４の幅方向に並列されている。それぞれのコード２６は、このトッピングシート２４の長さ方向に延在している。タイヤの製造では、カーカス以外に、このようなトッピングシート２４を準備する、タイヤの構成部材として、ベルト及びバンドが例示される。

以下に、本発明の試験装置２を用いて、図４に示されたトッピングシート２４におけるコード２６の配列状態の検査をするための試験方法が説明される。この試験方法では、トッピングシート２４からサンプルシートが準備される。この試験方法は、サンプルシートを準備する工程（ＳＴＥＰ１）を含んでいる。

図５には、サンプルシート３０が示されている。図５において、矢印Ｐで表される方向はサンプルシート３０の幅方向である。矢印Ｑで表される方向は、サンプルシート３０の長さ方向である。矢印Ｒで表される方向は、サンプルシート３０の厚さ方向である。なお、このサンプルシート３０の幅方向Ｐは、トッピングシート２４の長さ方向Ｙに対応している。このサンプルシート３０の長さ方向Ｑは、トッピングシート２４の幅方向Ｘに対応している。このサンプルシート３０の厚さ方向Ｒは、トッピングシート２４の厚さ方向Ｚに対応している。

前述したように、トッピングシート２４からサンプルシート３０が準備される。このサンプルシート３０は、多数のコード２６とゴム２８とからなる。これらのコード２６は、ゴム２８で覆われており、サンプルシート３０の長さ方向に並列されている。それぞれのコード２６は、このサンプルシート３０の幅方向に延在している。

このサンプルシート３０の準備では、トッピングシート２４は所定の長さ（図４における両矢印Ｌ）で切断される。これにより、サンプルシート３０が得られる。この切断の長さＬは、サンプルシート３０の幅でもある。この試験方法では、通常、この切断の長さＬは、ドラム４の幅に略一致させられる。

この試験方法では、サンプルシート３０は試験装置２に供給される。この試験装置２において、サンプルシート３０はドラム４に巻きつけられる。この試験方法は、ドラム４にサンプルシート３０を巻きつける工程（ＳＴＥＰ２）を含んでいる。図６には、サンプルシート３０をドラム４に巻きつけていく様子が示されている。この図６に示されているように、ドラム４を回転させながらサンプルシート３０がこのドラム４に巻かれていく。

前述したように、この試験装置２では、ドラム４のチューブ１０がこのドラム４の側面を構成している。したがって、サンプルシート３０はチューブ１０に巻かれている。

この試験方法では、サンプルシート３０をドラム４に巻きつけると、このドラム４の内部に圧縮空気が供給される。これにより、チューブ１０がインフレートされる。このチューブ１０にはサンプルシート３０が巻きつけられているので、このチューブ１０のインフレートとともに、図７に示されているように、サンプルシート３０もインフレートされる。つまり、サンプルシート３０はドラム４のチューブ１０に巻かれ、このチューブ１０によってインフレートされる。この試験方法は、サンプルシート３０をインフレートさせる工程（ＳＴＥＰ３）を含んでいる。この試験装置２においてドラム４は、サンプルシート３０が巻かれ、このサンプルシート３０をインフレートさせるチューブ１０を備えている。

この試験方法では、サンプルシート３０がインフレートされると、検出器８がこのサンプルシート３０上にセットされる。この試験方法は、サンプルシート３０上に検出器８をセットする工程（ＳＴＥＰ４）を含んでいる。この試験装置２では、検出器８をサンプルシート３０上にセットすることで、チューブ１０と検出器８との間に、サンプルシート３０が配置される。

図７に示されているように、この試験装置２では、検出器８に設けられた一対の転２０が、インフレートされたサンプルシート３０の頂３２（サンプルシート３０の半径方向外側端）に載せられる。このとき、図８に示されているように、検出器８の支持体１６の長さ方向が、ドラム４の回転方向に一致させられる。なお、この試験方法では、検出器８の安定な保持の観点から、図示されない保持手段によって、この検出器８はサンプルシート３０に載せられた状態でセットされている。

この試験方法では、検出器８をサンプルシート３０にセットされると、回転手段６によってドラム４が回転させられる。検出器８には転２０が設けられており、この転２０がサンプルシート３０に載せられているので、このドラム４の回転により、検出器８の内側をサンプルシート３０が滑らかに移動していく。この試験装置２では、このドラム４の回転により、検出器８はサンプルシート３０上を滑らかに移動していく。この試験方法は、ドラム４を回転させて、検出器８がサンプルシート３０上を移動させられる工程（ＳＴＥＰ５）を含んでいる。

以上説明したように、この試験方法は、
（１）サンプルシート３０を準備する工程、
（２）ドラム４にサンプルシート３０を巻きつける工程、
（３）サンプルシート３０をインフレートさせる工程、
（４）サンプルシート３０上に検出器８をセットする工程
及び
（５）ドラム４を回転させて、検出器８がサンプルシート３０上を移動させられる工程
を含んでいる。

この試験方法では、サンプルシート３０は、その長さ方向をドラム４の回転方向に一致させて、このドラム４に巻かれている。前述したように、サンプルシート３０に含まれる多数のコード２６は、このサンプルシート３０の長さ方向に並列されている。このため、検出器８に対してサンプルシート３０が移動させられることで、検出器８のプローブ１８の直下をコード２６が次々と通過していく。

この試験装置２では、前述したように、プローブ１８は渦電流式変位センサーである。このプローブ１８は、高周波の信号を出力しコード２６に渦電流を発生させ、この渦電流の大きさを検知する。この渦電流の大きさは、プローブ１８からコード２６までの距離によって変化する。検出器８のプローブ１８によって、渦電流の大きさを計測することで、プローブ１８からコード２６までの距離が得られる。この試験装置２では、この距離を計測することで、サンプルシート３０の厚さ方向におけるコード２６の位置を高精度に把握することができる。この試験方法は、検出器８によって、渦電流の大きさを計測する工程（ＳＴＥＰ６）をさらに含んでいる。

この試験装置２では、サンプルシート３０からプローブ１８までの距離は、使用するプローブ１８の仕様に応じて適宜決められる。また、本発明が対象とする、サンプルシート３０、すなわち、トッピングシート２４に含まれるコード２６の材質としては、渦電流を発生させる材質であれば特に制限はない。このような材質のコード２６としては、スチールコードが挙げられる。

図９には、検出器８の内側をサンプルシート３０が移動している一瞬の様子が示されている。矢印Ｂで示される方向は、検出器８に対するサンプルシート３０の移動方向である。この移動方向Ｂは、ドラム４の回転方向Ａでもある。この図９において、両矢印ＤＡは紙面左側に位置するプローブ１８ａ（以下、第一プローブ）からコード２６ａまでの距離（以下、第一コード距離）を表している。この試験装置２では、この第一コード距離ＤＡがこの第一プローブ１８ａによって計測される。両矢印ＤＢは、紙面右側に位置するプローブ１８ｂ（以下、第二プローブ）からコード２６ｂまでの距離（以下、第二コード距離）を表している。この試験装置２では、この第二コード距離ＤＢがこの第二プローブ１８ｂによって計測される。この試験装置２では、この第一コード距離ＤＡ及び第二コード距離ＤＢは同時に計測される。

第一コード距離ＤＡと第二コード距離ＤＢとの差（ＤＡ−ＤＢ）は、サンプルシート３０の厚さ方向における、第二コード２６ｂの位置に対する第一コード２６ａの位置（又は、第一コード２６ａの位置に対する第二コード２６ｂの位置）を表す尺度として用いることができる。この差（ＤＡ−ＤＢ）の絶対値が小さい場合、サンプルシート３０の厚さ方向において、第一コード２６ａは第二コード２６ｂと近い位置にあることが把握できる。この差（ＤＡ−ＤＢ）の絶対値が大きい場合、サンプルシート３０の厚さ方向において、第一コード２６ａは第二コード２６ｂの位置から離れた位置にあることが把握できる。この試験装置２では、検出器８のプローブ１８の直下をコード２６が次々と通過していくので、この差（ＤＡ−ＤＢ）をモニタリングすることで、サンプルシート３０の長さ方向における、コード２６の位置の揺らぎを確認できる。すなわち、この試験装置２では、コード２６の配列状態を作業者の目視に頼ることなく確認できる。この試験方法は、計測された渦電流の大きさに基づいて、コードの配列状態を確認する工程（ＳＴＥＰ７）をさらに含んでいる。

前述したように、サンプルシート３０の長さ方向はトッピングシート２４の幅方向に対応している。サンプルシート３０の長さをトッピングシート２４の幅と一致させておくことで、このサンプルシート３０におけるコード２６の配列状態を得ることで、トッピングシート２４全体におけるコード２６の配列状態の把握が可能である。しかもサンプリングシートはトッピングシート２４を所定の長さで裁断することで得られるので、製造の開始の段階も含め、サンプリングシートの準備をした時点での、トッピングシート２４におけるコード２６の配列状態の把握が可能である。

以上の説明から明らかなように、この試験装置２では、作業者の目視に頼ることなく、製造の早い段階でしかも精度よく、サンプルシート３０すなわちトッピングシート２４におけるコード２６の配列状態の把握が可能である。この試験装置２によれば、コード２６の配列状態が良好なトッピングシート２４をその後工程に供給できる。仮に、コード２６の配列状態に乱れがあることがこの試験装置２によって確認されても、トッピングシート２４の製造においてこのコード２６の配列状態の修正が可能である。この試験装置２を用いることで、高品質なトッピングシート２４を用いてタイヤを製造することができる。この試験装置２は、高品質なタイヤの安定な製造に寄与する。本発明によれば、高品質なタイヤの安定な製造に寄与することができる、コード２６の配列状態を検査するための試験装置２が得られる。

前述したように、この試験装置２では、ドラム４を回転させて、検出器８がサンプルシート３０上を移動させられる。この試験装置２では、人手に頼ることなく、検出器８を一定の速度でサンプルシート３０上を移動させることができる。この試験装置２では、コード２６の配列状態が高精度で把握できる。この観点から、この試験装置２は、ドラム４及び検出器８以外に、このドラム４を回転させるための回転手段６をさらに備えており、このドラム４の回転により検出器８がサンプルシート３０上を移動していくように構成されているのが好ましい。

この試験装置２では、好ましくは、ドラム４の回転速度が適切に設定される。これにより、検出器８が載せられる部分の移動速度による計測精度への影響が効果的に抑えられる。この観点から、この試験装置２では、図７に示されているように、検出器８がインフレートされたサンプルシート３０の頂３２に載せられている場合には、このサンプルシート３０の頂３２における、このサンプルシート３０の移動速度は、２ｍ／ｍｉｎ以上が好ましく、３ｍ／ｍｉｎ以上がより好ましい。この移動速度は、６ｍ／ｍｉｎ以下が好ましく、５ｍ／ｍｉｎ以下がより好ましい。

この試験装置２では、プローブ１８からコード２６までの距離はコード２６がプローブ１８の直下を通過するたびに計測される。この試験装置２では、この計測の時間間隔に、特に、制限はない。この時間間隔は、データの数及び精度に影響する。高精度な距離の把握の観点から、この時間間隔は、１２０／１０００秒以下が好ましい。特に、サンプルシート３０の移動速度を３ｍ／ｍｉｎから５ｍ／ｍｉｎまでの範囲で設定した場合に、この時間間隔を１２０／１０００秒以下に設定することで、かなり高精度で距離の把握が可能となることが発明者らの検討により確認されている。

前述したように、この試験装置２の検出器８には、一対の転２０が支持体１６の長さ方向に間隔をあけて配置されている。この試験装置２では、これらの転２０がサンプルシート３０に対して検出器８を安定に支持する。これらの転２０によって、サンプルシート３０から第一プローブ１８ａまでの距離が一定に保持される。サンプルシート３０から第二プローブ１８ｂまでの距離が、一定に保持される。この試験装置２では、差（ＤＡ−ＤＢ）をより正確に把握できる。この観点から、検出器８が一対の転２０をさらに備え、これらの転２０が支持体１６の長さ方向に間隔をあけて配置され、さらにこれらの転２０がこの支持体１６に回転可能な状態で支持され、そしてこれらの転２０がサンプルシート３０に載せられるように、この試験装置２が構成されているのが好ましい。

図９において、両矢印ＬＡＢは、第一プローブ１８ａと第二プローブ１８ｂとの間の間隔である。この間隔ＬＡＢは、プローブ間距離とも称される。

この試験装置２では、プローブ間距離ＬＡＢは、３０ｍｍ以上が好ましく、４０ｍｍ以下が好ましい。これにより、より高い精度で差（ＤＡ−ＤＢ）を計測することができる。この観点から、この距離ＬＡＢは、３３ｍｍ以上がより好ましく、３７ｍｍ以下がより好ましい。特に好ましくは、この距離ＬＡＢは３５ｍｍである。

前述したように、この試験装置２では、サンプルシート３０はチューブ１０によってインフレートされる。これにより、図８に示されているように、膨張したサンプルシート３０において、その頂３２の輪郭は略円形を呈する。この図８において、矢印Ｒｓはこの頂３２の輪郭を表す円の半径である。この半径Ｒｓは、通常、３００ｍｍから５００ｍｍの範囲で、好ましくは３５０ｍｍから４５０ｍｍの範囲で設定される。

この試験装置２では、膨張したサンプルシート３０において、その頂３２の輪郭を表す円の半径Ｒｓに対する、プローブ間距離ＬＡＢの比は、０．０５以上が好ましく、０．１３以下が好ましい。これにより、より高い精度で差（ＤＡ−ＤＢ）を計測することができる。この観点から、この比は、０．０７以上がより好ましく、０．１１以下がより好ましい。

以下、実施例によって本発明の効果が明らかにされるが、この実施例の記載に基づいて本発明が限定的に解釈されるべきではない。

［サンプルシートの準備］
スチールコード（３＋８×０．２３ＨＴ）をコードに用い、コードの密度が３５エンズ／５ｃｍ、そして、厚さが２．３８ｍｍに設定されたトッピングシートが６枚準備された。それぞれのトッピングシートから、サンプルシートが準備された。準備された６枚のサンプルシートは、サンプル１〜６で表されている。

［実施例］
図１−３に示された試験装置（距離ＬＡＢ＝３５ｍｍ、半径Ｒｓ＝４００ｍｍ）を用いて、差（ＤＡ−ＤＢ）を計測し、次の（ａ）〜（ｃ）で示された基準に合致する差（ＤＡ−ＤＢ）が計測された回数を得、この回数に基づいて、各サンプルシートにおけるコードの配列状態の確認を行った。その結果が、下記の表１に示されている。なお、差（ＤＡ−ＤＢ）が０．４０ｍｍ未満は、タイヤの外観品質に影響することのない「小さなうねり」であるので、この「小さなうねり」の計測回数はこの表１には示していない。
（ａ）差（ＤＡ−ＤＢ）が０．４５ｍｍ以上＝「大きなうねり」
（ｂ）差（ＤＡ−ＤＢ）が０．４０ｍｍ以上０．４５ｍｍ未満＝「中程度のうねり」
（ｃ）差（ＤＡ−ＤＢ）が０．４０ｍｍ未満＝「小さなうねり」

この実施例では、確認結果を下記の格付けで、外観品質への影響を与える恐れがあるかどうかの判定をした。
（ｉ）「中程度のうねり」の計測回数が２０回以上である、又は、「大きなうねり」の計測回数が３回以上である＝影響を与える恐れあり
（ii）上記（ｉ）以外＝影響を与える恐れなし
影響を与える恐れがあると判定された場合が「ＢＡＤ」として、影響を与える恐れがないと判定された場合が「ＧＯＯＤ」として、下記の表１の「配列状態の判定」の欄に示されている。

この実施例では、以上の判定を行うとともに、それぞれのトッピングシートを用いてタイヤを製造した。タイヤを正規リムに組み込み、内圧が正規内圧になるように、空気を充填し、タイヤ表面に凹凸が発生しているかどうかの確認を行った。この結果が、下記の表１の「凹凸の発生」の欄に示されている。凹凸の発生が認められた場合が「ＢＡＤ」で、凹凸の発生が認められなかった場合が「ＧＯＯＤ」で表されている。

［比較例］
比較例では、コード配列状態の確認は実施例のように試験装置を用いるのではなく、作業者の目視で行われた。このため、実施例のような、コードの配列状態の把握はできていない。タイヤの表面に凹凸が生じるかは、製造したタイヤを用いて判定されているのが実状である。このため、比較例の評価結果は、下記の表１には示されていない。

表１に示されるように、実施例の試験装置では、配列状態の確認結果と、タイヤにおける凹凸の発生の有無とが、整合することが確認されている。この評価結果から、本発明の優位性は明らかである。

以上説明された試験装置は、トッピングシートに限らず、並列された多数のコードを含む、様々なシート部材の検査において適用されうる。

２・・・試験装置
４・・・ドラム
６・・・回転手段
８・・・検出器
１０・・・チューブ
１６・・・支持体
１８、１８ａ、１８ｂ・・・プローブ
２０・・・転
２４・・・トッピングシート
２６、２６ａ、２６ｂ・・・コード
２８・・・ゴム
３０・・・サンプルシート

Claims (6)

1. 並列された多数のコードとゴムとからなるサンプルシートにおいて、これらのコードの配列状態を検査するために用いられる試験装置であって、
   ドラムと、検出器とを備えており、
   上記ドラムが、上記サンプルシートが巻かれ、このサンプルシートをインフレートさせるチューブを備えており、
   上記検出器が、支持体と、一対のプローブとを備えており、
   これらのプローブが上記支持体の長さ方向に間隔をあけて配置されており、
   上記プローブが渦電流式変位センサーであり、
   上記チューブと上記検出器との間に上記サンプルシートが配置される、試験装置。
2. 上記検出器が一対の転をさらに備えており、
   これらの転が上記支持体の長さ方向に間隔をあけて配置され、この支持体に回転可能な状態で支持されており、
   これらの転が上記サンプルシートに載せられる、請求項１に記載の試験装置。
3. 上記ドラムを回転させるための回転手段をさらに備えており、
   上記ドラムの回転により、上記検出器に対して上記サンプルシートが移動していく、請求項１又は２に記載の試験装置。
4. 並列された多数のコードとゴムとからなるサンプルシートにおいて、これらのコードの配列状態を、ドラムと検出器とを備える試験装置を用いて検査するための試験方法であって、
   上記ドラムに上記サンプルシートを巻きつける工程と、
   上記サンプルシートをインフレートさせる工程と、
   上記サンプルシート上に上記検出器をセットする工程と
   を含んでおり、
   上記ドラムが、上記サンプルシートが巻かれ、このサンプルシートをインフレートさせるチューブを備えており、
   上記検出器が、支持体と、一対のプローブとを備えており、
   これらのプローブが上記支持体の長さ方向に間隔をあけて配置されており、
   上記プローブが渦電流式変位センサーである、試験方法。
5. 上記検出器が一対の転をさらに備えており、
   これらの転が上記支持体の長さ方向に間隔をあけて配置され、この支持体に回転可能な状態で支持されており、
   これらの転が上記サンプルシートに載せられる、請求項４に記載の試験方法。
6. 上記試験装置が、上記ドラムを回転させるための回転手段をさらに備えており、
   上記試験方法が、
   上記ドラムを回転させて、上記検出器に対して上記サンプルシートが移動させられる工程
   をさらに含んでいる、請求項４又は５に記載の試験方法。

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