JP2551698B2 - 真円度測定機の平均径測定方法及び装置 - Google Patents
真円度測定機の平均径測定方法及び装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は真円度測定機の平均径測
定方法及びその装置に係り、特に被測定物の内径又は外
形の平均径を測定する真円度測定機の平均径測定方法及
び装置に関する。
定方法及びその装置に係り、特に被測定物の内径又は外
形の平均径を測定する真円度測定機の平均径測定方法及
び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般にリング等を軸又は穴に嵌合させる
場合、リングと軸又はリングと穴とが適正な嵌め合い状
態になるように設定される。一方、リングの肉厚が薄い
場合リングの真円度を精度よく加工することが難しい。
従って加工されたリングは真円ではなく複雑な形状をし
ているので加工されたリングの平均径を正確に測定する
ことが困難である。しかしながら、このリングを軸又は
穴に嵌合させる場合、リングと軸又はリングと穴との嵌
め合い状態を知ることが重要であり、そのためにはリン
グの平均径が正確に測定されていることが不可欠であ
る。
場合、リングと軸又はリングと穴とが適正な嵌め合い状
態になるように設定される。一方、リングの肉厚が薄い
場合リングの真円度を精度よく加工することが難しい。
従って加工されたリングは真円ではなく複雑な形状をし
ているので加工されたリングの平均径を正確に測定する
ことが困難である。しかしながら、このリングを軸又は
穴に嵌合させる場合、リングと軸又はリングと穴との嵌
め合い状態を知ることが重要であり、そのためにはリン
グの平均径が正確に測定されていることが不可欠であ
る。
【０００３】そして、平均径の測定方法として以下の３
つの方法が知られている。第１の方法は被測定物の外径
や内径をマイクロメータ、ノギス等で直径を数カ所測定
してその測定値を平均した値を平均径とする方法であ
る。図４は第１の方法でリング２の内径を測定する場合
について説明している。また、第２の方法は被測定物の
内径（主に）をエアーマイクロメータ等により３方向又
は４方向を同時に測定し、３方向又は４方向の平均径を
求める方法である。図５は第２の方法でシャフト４の外
径を測定する場合について説明し、図６は第２の方法で
リング６の内径を測定する場合について説明している。
つの方法が知られている。第１の方法は被測定物の外径
や内径をマイクロメータ、ノギス等で直径を数カ所測定
してその測定値を平均した値を平均径とする方法であ
る。図４は第１の方法でリング２の内径を測定する場合
について説明している。また、第２の方法は被測定物の
内径（主に）をエアーマイクロメータ等により３方向又
は４方向を同時に測定し、３方向又は４方向の平均径を
求める方法である。図５は第２の方法でシャフト４の外
径を測定する場合について説明し、図６は第２の方法で
リング６の内径を測定する場合について説明している。
【０００４】更に、第３の方法は真円度測定機の検出器
の移動量をデジタルスケールで読み取り、検出器の信号
と移動量とを演算して被測定物の平均径を求める方法で
ある。
の移動量をデジタルスケールで読み取り、検出器の信号
と移動量とを演算して被測定物の平均径を求める方法で
ある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、第１の
方法と第２の方法は、被測定物が前述した薄肉リングの
ように真円でなく複雑な形状をしている場合被測定物の
平均径を正確に測定することが困難であるという問題が
ある。また第３の方法は高精度の真円度機構、回転軸に
対し検出器を平行に移動させる機構、及び検出器の径方
向移動量を検出するデジタルスケール等が必要になり設
備にかかる費用が増加し、さらに検出器の信号が熱等の
周囲条件で変動して被測定物の平均径を精度よく測定す
ることが困難であるという問題がある。
方法と第２の方法は、被測定物が前述した薄肉リングの
ように真円でなく複雑な形状をしている場合被測定物の
平均径を正確に測定することが困難であるという問題が
ある。また第３の方法は高精度の真円度機構、回転軸に
対し検出器を平行に移動させる機構、及び検出器の径方
向移動量を検出するデジタルスケール等が必要になり設
備にかかる費用が増加し、さらに検出器の信号が熱等の
周囲条件で変動して被測定物の平均径を精度よく測定す
ることが困難であるという問題がある。
【０００６】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、設備にかかる費用を増加せずに、被測定物の平
均径を正確に測定することができる真円度測定機の平均
径測定方法及び装置を提案することを目的とする。
もので、設備にかかる費用を増加せずに、被測定物の平
均径を正確に測定することができる真円度測定機の平均
径測定方法及び装置を提案することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成する為に、本体に設けられたテーブルに被測定物を載
置して検出器の先端子を被測定物に当接すると共にテー
ブル又は検出器を回転して先端子の変位に基づいて被測
定物の真円度を測定する真円度測定機の平均径測定方法
に於いて、 前記被測定物の所定測定位置の基準直径を
直径測定手段で測定し、前記検出器で前記被測定物の所
定測定位置の第１基準半径と、前記所定測定位置から１
８０°間隔をおいた測定位置の第２基準半径を測定し、
前記第１、第２基準半径と基準直径とから前記被測定物
のオフセット量を算出し、前記被測定物の任意測定位置
を複数箇所設定して前記検出器で被測定物の前記任意測
定位置の半径と該測定位置から１８０°間隔をおいた測
定位置の半径を測定し、前記オフセット量と前記任意測
定位置の半径と該測定位置から１８０°間隔をおいた測
定位置の半径とから任意測定位置の各々の直径寸法を算
出して、該各々の直径寸法から被測定物の平均径を算出
することを特徴とする。
成する為に、本体に設けられたテーブルに被測定物を載
置して検出器の先端子を被測定物に当接すると共にテー
ブル又は検出器を回転して先端子の変位に基づいて被測
定物の真円度を測定する真円度測定機の平均径測定方法
に於いて、 前記被測定物の所定測定位置の基準直径を
直径測定手段で測定し、前記検出器で前記被測定物の所
定測定位置の第１基準半径と、前記所定測定位置から１
８０°間隔をおいた測定位置の第２基準半径を測定し、
前記第１、第２基準半径と基準直径とから前記被測定物
のオフセット量を算出し、前記被測定物の任意測定位置
を複数箇所設定して前記検出器で被測定物の前記任意測
定位置の半径と該測定位置から１８０°間隔をおいた測
定位置の半径を測定し、前記オフセット量と前記任意測
定位置の半径と該測定位置から１８０°間隔をおいた測
定位置の半径とから任意測定位置の各々の直径寸法を算
出して、該各々の直径寸法から被測定物の平均径を算出
することを特徴とする。
【０００８】
【作用】本発明によれば、直径測定手段で被測定物の所
定測定位置の基準直径を測定して、さらに検出器で被測
定物の所定測定位置の第１基準半径と、所定測定位置か
ら１８０°間隔をおいた測定位置の第２基準半径を測定
し、基準直径、第１、第２基準半径を予めプログラム手
段に入力されている被測定物のオフセット量を求める式
に基づいて演算部で演算して被測定物のオフセット量を
算出する。次に複数箇所設定されている被測定物の任意
測定位置の半径を検出器で測定すると共に任意測定位置
から１８０°間隔をおいた測定位置の半径を測定し、オ
フセット量と任意測定位置の半径と測定位置から１８０
°間隔をおいた測定位置の半径とを予めプログラム手段
に入力されている式に基づいて演算部で演算して任意測
定位置の各々の直径寸法を算出して各々の直径寸法から
被測定物の平均径を算出することができる。
定測定位置の基準直径を測定して、さらに検出器で被測
定物の所定測定位置の第１基準半径と、所定測定位置か
ら１８０°間隔をおいた測定位置の第２基準半径を測定
し、基準直径、第１、第２基準半径を予めプログラム手
段に入力されている被測定物のオフセット量を求める式
に基づいて演算部で演算して被測定物のオフセット量を
算出する。次に複数箇所設定されている被測定物の任意
測定位置の半径を検出器で測定すると共に任意測定位置
から１８０°間隔をおいた測定位置の半径を測定し、オ
フセット量と任意測定位置の半径と測定位置から１８０
°間隔をおいた測定位置の半径とを予めプログラム手段
に入力されている式に基づいて演算部で演算して任意測
定位置の各々の直径寸法を算出して各々の直径寸法から
被測定物の平均径を算出することができる。
【０００９】
【実施例】以下、添付図面に従って本発明に係る真円度
測定機の平均径測定方法及び装置の好ましい実施例を詳
説する。図１に於いて真円度測定機１０のテーブル１２
が本体１４に回動自在に設けられていている。テーブル
１２には軸受１６、エンコーダ１８を介してモータ２０
が連結されて、テーブル１２はモータ２０が駆動すると
回転する。さらにテーブル１２にはＸ軸ツマミ２２とＹ
軸ツマミ２４とが設けられていて、テーブル１２はＸ軸
ツマミ２２を操作するとＸ軸方向に移動し、Ｙ軸ツマミ
２４を操作するとＹ軸方向に移動する。
測定機の平均径測定方法及び装置の好ましい実施例を詳
説する。図１に於いて真円度測定機１０のテーブル１２
が本体１４に回動自在に設けられていている。テーブル
１２には軸受１６、エンコーダ１８を介してモータ２０
が連結されて、テーブル１２はモータ２０が駆動すると
回転する。さらにテーブル１２にはＸ軸ツマミ２２とＹ
軸ツマミ２４とが設けられていて、テーブル１２はＸ軸
ツマミ２２を操作するとＸ軸方向に移動し、Ｙ軸ツマミ
２４を操作するとＹ軸方向に移動する。
【００１０】また、テーブル１２には被測定物２６が載
置されていて、被測定物２６には検出器２８の先端子３
０が当接されている。検出器２８は先端子３０の変位信
号を増幅器３２、Ａ／Ｄ変換器３４を介して演算部３６
に入力する。また演算部３６には前述したエンコーダ１
８からテーブル１２の回転角信号が入力され、さらにプ
ログラム部３８から後述する情報が入力される。さらに
演算部３６には入力手段４０を介して被測定物２６の所
定測定位置と、所定測定位置をマイクロメータやノギス
等の直径測定手段４１（図２参照）で測定した基準直径
Ｄが入力される。
置されていて、被測定物２６には検出器２８の先端子３
０が当接されている。検出器２８は先端子３０の変位信
号を増幅器３２、Ａ／Ｄ変換器３４を介して演算部３６
に入力する。また演算部３６には前述したエンコーダ１
８からテーブル１２の回転角信号が入力され、さらにプ
ログラム部３８から後述する情報が入力される。さらに
演算部３６には入力手段４０を介して被測定物２６の所
定測定位置と、所定測定位置をマイクロメータやノギス
等の直径測定手段４１（図２参照）で測定した基準直径
Ｄが入力される。
【００１１】制御部４２は演算部３６から出力された信
号に基づいてモータ２０の駆動を制御し、表示部４４と
プリンタ４６とは演算部３６で演算された値を表示す
る。そして真円度測定機の平均径測定装置４８は上述し
たエンコーダ１８、演算部３６、プログラム部３８、制
御部４２等から構成されている。前記の如く構成された
真円度測定機の平均径測定装置の作用を図２の平面図と
図３のフローチャートに基づいて説明する。
号に基づいてモータ２０の駆動を制御し、表示部４４と
プリンタ４６とは演算部３６で演算された値を表示す
る。そして真円度測定機の平均径測定装置４８は上述し
たエンコーダ１８、演算部３６、プログラム部３８、制
御部４２等から構成されている。前記の如く構成された
真円度測定機の平均径測定装置の作用を図２の平面図と
図３のフローチャートに基づいて説明する。
【００１２】先ず、被測定物２６をテーブル１２に載置
する。そして被測定物２６の基準直径をマイクロメータ
やノギス等の直径測定手段４１で測定して、測定した基
準直径Ｄと、測定した角度（すなわちテーブル１２の基
準位置に対して被測定物２６の測定箇所の角度β）をオ
ペレータが入力手段４０を介して演算部３６に入力する
（ステップ５０）。
する。そして被測定物２６の基準直径をマイクロメータ
やノギス等の直径測定手段４１で測定して、測定した基
準直径Ｄと、測定した角度（すなわちテーブル１２の基
準位置に対して被測定物２６の測定箇所の角度β）をオ
ペレータが入力手段４０を介して演算部３６に入力する
（ステップ５０）。
【００１３】次に検出器２８の先端子３０を被測定物２
６に当接し、テーブルを回転させて先端子３０で測定位
置（β）と（β＋π）の各々の第１基準半径Ｒ（β）と
第２基準半径Ｒ（β＋π）とを測定し、測定された第１
基準半径Ｒ（β）と第２基準半径Ｒ（β＋π）の値は増
幅器３２、Ａ／Ｄ変換器３４を介して演算部３６に入力
される（ステップ５２）。
６に当接し、テーブルを回転させて先端子３０で測定位
置（β）と（β＋π）の各々の第１基準半径Ｒ（β）と
第２基準半径Ｒ（β＋π）とを測定し、測定された第１
基準半径Ｒ（β）と第２基準半径Ｒ（β＋π）の値は増
幅器３２、Ａ／Ｄ変換器３４を介して演算部３６に入力
される（ステップ５２）。
【００１４】演算部３６に第１、第２基準半径Ｒ（β）
とＲ（β＋π）の値が入力されると、演算部３６は基準
直径Ｄ、及びプログラム部３８に予め入力されているｄ
＝Ｄ−｛Ｒ（β）＋Ｒ（β＋π）｝ （ｄ：被測定物２
６の中心がＸ−Ｙテーブル１２の回転中心からオフセッ
トしている量）の式に基づいてオフセット量ｄを求める
（ステップ５４）。
とＲ（β＋π）の値が入力されると、演算部３６は基準
直径Ｄ、及びプログラム部３８に予め入力されているｄ
＝Ｄ−｛Ｒ（β）＋Ｒ（β＋π）｝ （ｄ：被測定物２
６の中心がＸ−Ｙテーブル１２の回転中心からオフセッ
トしている量）の式に基づいてオフセット量ｄを求める
（ステップ５４）。
【００１５】次いで、検出器２８の先端子３０を被測定
物２６に当接した状態で、テーブルを回転して先端子３
０で予め設定されている被測定物２６の測定位置θn
（ｎ＝１、２、３…）の半径Ｒ（θn ）とＲ（θn ＋
π）の値を求める（ステップ５６）。半径Ｒ（θn ）と
Ｒ（θn ＋π）の値を求めた後、これらの値はプログラ
ム部３８に予め入力されている。
物２６に当接した状態で、テーブルを回転して先端子３
０で予め設定されている被測定物２６の測定位置θn
（ｎ＝１、２、３…）の半径Ｒ（θn ）とＲ（θn ＋
π）の値を求める（ステップ５６）。半径Ｒ（θn ）と
Ｒ（θn ＋π）の値を求めた後、これらの値はプログラ
ム部３８に予め入力されている。
【００１６】 Ｄn ＝Ｒ（θn ）＋Ｒ（θn ＋π）＋ｄ（θn ＝０〜180 度） の式からＤn （ｎ＝１、２、３…）を求める（ステップ
５８）。求められたＤn （ｎ＝１、２、３…）は各測定
位置θn （ｎ＝１、２、３…）の直径であるから、被測
定物２６の平均円Ｄ′は Ｄ′＝（Ｄ1 ＋Ｄ2 ＋Ｄ3 …）／ｎ の式で表され、この式は予めプログラム部３８に予め入
力されている。従ってステップ５８でＤn （ｎ＝１、
２、３…）が求められると、被測定物２６の平均円Ｄ′
が求められる（ステップ６０）。
５８）。求められたＤn （ｎ＝１、２、３…）は各測定
位置θn （ｎ＝１、２、３…）の直径であるから、被測
定物２６の平均円Ｄ′は Ｄ′＝（Ｄ1 ＋Ｄ2 ＋Ｄ3 …）／ｎ の式で表され、この式は予めプログラム部３８に予め入
力されている。従ってステップ５８でＤn （ｎ＝１、
２、３…）が求められると、被測定物２６の平均円Ｄ′
が求められる（ステップ６０）。
【００１７】そして、求められた被測定物２６の平均円
Ｄ′の値は表示部４４やプリンタ４６に表示される（ス
テップ６２）。前記実施例ではテーブル１２が回転する
真円度測定機の平均測定方法及び装置について説明した
が、これに限らず検出器２８を回転する装置にも適用す
ることができる。
Ｄ′の値は表示部４４やプリンタ４６に表示される（ス
テップ６２）。前記実施例ではテーブル１２が回転する
真円度測定機の平均測定方法及び装置について説明した
が、これに限らず検出器２８を回転する装置にも適用す
ることができる。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る真円度
測定機の平均径測定方法及び装置によれば、被測定物の
所定測定位置の基準直径と基準直径の各々半径、即ち第
１、第２基準半径とをオフセット量を求める式に基づい
て演算して被測定物のオフセット量を算出し、次に複数
箇所設定されている被測定物の任意測定位置の半径及び
任意測定位置から１８０°間隔をおいた測定位置の半径
と、求められたオフセット量とを平均径算出式に基づい
て演算して被測定物の平均径を算出することができる。
測定機の平均径測定方法及び装置によれば、被測定物の
所定測定位置の基準直径と基準直径の各々半径、即ち第
１、第２基準半径とをオフセット量を求める式に基づい
て演算して被測定物のオフセット量を算出し、次に複数
箇所設定されている被測定物の任意測定位置の半径及び
任意測定位置から１８０°間隔をおいた測定位置の半径
と、求められたオフセット量とを平均径算出式に基づい
て演算して被測定物の平均径を算出することができる。
【００１９】従って、真円度測定機に検出器の回転軸か
らの移動量を検出するデジタルスケール及び正確に平行
移動させる機構等がなくても被測定物の平均径を正確に
測定することができるので、設備にかける費用の増加を
防止することができる。
らの移動量を検出するデジタルスケール及び正確に平行
移動させる機構等がなくても被測定物の平均径を正確に
測定することができるので、設備にかける費用の増加を
防止することができる。
【図１】本発明に係る真円度測定機の平均径測定装置の
概略図である。
概略図である。
【図２】平均径測定方法の説明図である。
【図３】平均径測定方法のフローチャートである。
【図４】従来の平均径測定装置概略図である。
【図５】従来の平均径測定装置概略図である。
【図６】従来の平均径測定装置概略図である。
１０…真円度測定機 １２…テーブル １４…本体 １８…エンコーダ ２６…被測定物 ２８…検出器 ３０…先端子 ３６…演算部 ３８…プログラム手段 ４１…直径測定手段 ４８…平均径測定装置
Claims (2)
- 【請求項１】 本体に設けられたテーブルに被測定物を
載置して検出器の先端子を被測定物に当接すると共にテ
ーブル又は検出器を回転して先端子の変位に基づいて被
測定物の真円度を測定する真円度測定機の平均径測定方
法に於いて、前記被測定物の所定測定位置の基準直径を
直径測定手段で測定し、前記検出器で前記被測定物の所
定測定位置の第１基準半径と、前記所定測定位置から１
８０°間隔をおいた測定位置の第２基準半径を測定し、
前記第１、第２基準半径と基準直径とから前記被測定物
のオフセット量を算出し、前記被測定物の任意測定位置
を複数箇所設定して前記検出器で被測定物の前記任意測
定位置の半径と該測定位置から１８０°間隔をおいた測
定位置の半径を測定し、前記オフセット量と前記任意測
定位置の半径と該測定位置から１８０°間隔をおいた測
定位置の半径とから任意測定位置の各々の直径寸法を算
出して、該各々の直径寸法から被測定物の平均径を算出
することを特徴とする真円度測定機の平均径測定方法。 - 【請求項２】 本体に設けられたテーブルに被測定物を
載置して検出器の先端子を被測定物に当接すると共にテ
ーブル又は検出器を回転して、先端子の変位に基づいて
被測定物の真円度を測定する真円度測定機の平均径測定
装置に於いて、被測定物の直径を測定する直径測定手段
と、前記検出器で被測定物の所定測定位置を測定して求
められた第１基準半径と、前記測定位置から１８０°間
隔をおいた測定位置を測定して求められた第２基準半径
と、第１、第２基準半径の測定位置を前記直径測定手段
で測定して求められた基準直径とから前記被測定物のオ
フセット量を算出し、該オフセット量と前記検出器で測
定された被測定物の複数の任意測定位置の半径と該測定
位置から１８０°間隔をおいた測定位置の半径とから各
々の直径を算出し、該各々の直径から被測定物の平均径
を算出する式が入力されていているプログラム手段と、
テーブル又は検出器の回転角を検知して検知信号を出力
する手段と、前記テーブル又は検出器を回転した時先端
子を介して被測定物の半径寸法が入力されると共に前記
検知手段から出力されたテーブル又は検出器の回転角信
号が入力される演算部であって、該回転角信号が前記所
定測定位置の時の前記第１、第２基準半径、基準直径
や、前記回転角信号が任意測定位置の時の半径及び任意
測定位置から１８０°間隔をおいた位置の半径を、前記
プログラム手段に入力されている被測定物の平均径を求
める式で演算して被測定物の平均径を算出する演算部
と、から成ることを特徴とする真円度測定機の平均径測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3088706A JP2551698B2 (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 真円度測定機の平均径測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3088706A JP2551698B2 (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 真円度測定機の平均径測定方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04320920A JPH04320920A (ja) | 1992-11-11 |
| JP2551698B2 true JP2551698B2 (ja) | 1996-11-06 |
Family
ID=13950335
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3088706A Expired - Fee Related JP2551698B2 (ja) | 1991-04-19 | 1991-04-19 | 真円度測定機の平均径測定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2551698B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2253931A1 (en) | 2009-05-19 | 2010-11-24 | Mitutoyo Corporation | Form measuring instrument, form measuring method, and program |
| EP2253930A1 (en) | 2009-05-18 | 2010-11-24 | Mitutoyo Corporation | Form measuring instrument, and calibration method and calibration program therefor |
-
1991
- 1991-04-19 JP JP3088706A patent/JP2551698B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2253930A1 (en) | 2009-05-18 | 2010-11-24 | Mitutoyo Corporation | Form measuring instrument, and calibration method and calibration program therefor |
| US8504316B2 (en) | 2009-05-18 | 2013-08-06 | Mitutoyo Corporation | Form measuring instrument, and calibration method and calibration program therefor |
| EP2253931A1 (en) | 2009-05-19 | 2010-11-24 | Mitutoyo Corporation | Form measuring instrument, form measuring method, and program |
| US8290740B2 (en) | 2009-05-19 | 2012-10-16 | Mitutoyo Corporation | Form measuring instrument, form measuring method, and program |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04320920A (ja) | 1992-11-11 |
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