JPH01195309A - 円筒体測定装置 - Google Patents
円筒体測定装置Info
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- JPH01195309A JPH01195309A JP2006288A JP2006288A JPH01195309A JP H01195309 A JPH01195309 A JP H01195309A JP 2006288 A JP2006288 A JP 2006288A JP 2006288 A JP2006288 A JP 2006288A JP H01195309 A JPH01195309 A JP H01195309A
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Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、円筒体の円周長さ、真円度などを、１つの測
定工程によって能率良くかつ高精度に測定しうる円筒体
測定装置に関する。
定工程によって能率良くかつ高精度に測定しうる円筒体
測定装置に関する。
例えば第６図に示すように、フォークリフトなどの産業
用車両に装着されるソリッドタイヤａは、円筒状のスチ
ール製などのベースバンドｂの外周面に、ゴ上などを用
いたタイヤ基体Ｃを焼付は接着している。例えばこのよ
うな円筒体からなるベースバンドｂでは、車軸等への取
付けのために内周面の直径りとともに、厚さＴ、巾Ｗ、
内周面の円周長さである内周長、内周面の真円度である
内周面真円度などを一定の公差内に収めることが必要で
あり、そのため、それらの項目をタイヤ基体Ｃの取付前
に１つづつその精度を検査している。
用車両に装着されるソリッドタイヤａは、円筒状のスチ
ール製などのベースバンドｂの外周面に、ゴ上などを用
いたタイヤ基体Ｃを焼付は接着している。例えばこのよ
うな円筒体からなるベースバンドｂでは、車軸等への取
付けのために内周面の直径りとともに、厚さＴ、巾Ｗ、
内周面の円周長さである内周長、内周面の真円度である
内周面真円度などを一定の公差内に収めることが必要で
あり、そのため、それらの項目をタイヤ基体Ｃの取付前
に１つづつその精度を検査している。
しかしながら、従来の測定方法は、前記内周面の直径Ｄ
、厚さＴ、巾Ｗは、いわゆるノギスなどによって測定し
かつ記録紙に記録している。さらに、内周長は、内周面
に接して転勤するローラの回転数をエンコーダにより検
出する別個の内周長測定機によって測定している。さら
に内周面真円度は、例えば株式会社東京精密のロムコム
（商品名）などの専用機によって測定している。
、厚さＴ、巾Ｗは、いわゆるノギスなどによって測定し
かつ記録紙に記録している。さらに、内周長は、内周面
に接して転勤するローラの回転数をエンコーダにより検
出する別個の内周長測定機によって測定している。さら
に内周面真円度は、例えば株式会社東京精密のロムコム
（商品名）などの専用機によって測定している。
しかしながら、ノギス等を用いて内周面の直径Ｄ、厚さ
Ｔ、巾Ｗ等を手作業により測定することは、測定、記録
、集計等に多くの工数を必要とし、又測定誤差が生じが
ちである。
Ｔ、巾Ｗ等を手作業により測定することは、測定、記録
、集計等に多くの工数を必要とし、又測定誤差が生じが
ちである。
さらに内周長をローラの回転数により検出する測定機で
は、ローラの滑り、摩耗等によって測定誤差が生じやす
く、又ベースバンドｂに、切欠き、傷等が散在するとき
には測定が困難となり、又測定精度を低下させる。
は、ローラの滑り、摩耗等によって測定誤差が生じやす
く、又ベースバンドｂに、切欠き、傷等が散在するとき
には測定が困難となり、又測定精度を低下させる。
しかも内周面真円度の測定のためには、さらに前記した
専用機を用いるなど、従来、内周面の径寸法Ｒ１厚さＴ
、巾Ｗ、内周長、内周面真円度などの測定のためには、
このように手作業、別個の測定機によって行っていたた
め、複数の測定工程が必要であり、又その都度円筒体の
移し変えを要するなど、その測定には多大の手間を必要
とした。
専用機を用いるなど、従来、内周面の径寸法Ｒ１厚さＴ
、巾Ｗ、内周長、内周面真円度などの測定のためには、
このように手作業、別個の測定機によって行っていたた
め、複数の測定工程が必要であり、又その都度円筒体の
移し変えを要するなど、その測定には多大の手間を必要
とした。
本発明は、例えばベースバンドなどの円筒体の径寸法、
内周長、真円度を１つの測定工程で測定でき、作業能率
を向上するとともに測定精度の向上をも可能とする円筒
体測定装置の提供を目的としている。
内周長、真円度を１つの測定工程で測定でき、作業能率
を向上するとともに測定精度の向上をも可能とする円筒
体測定装置の提供を目的としている。
本発明は、円筒体を載置するとともに該円筒体を所定位
置に軸心を合わせるセンタリング手段を具えた測定台と
、第１の基準位置から前記円筒体の内周面までの半径方
向路＾Ｕである内周面変位量Ｘを測定する非接触式の第
１のセンサと第２の基準位置から前記円筒体の外周面ま
での半径方向距離である外周面変位ｉＹを測定する非接
触式の第２のセンサとの内の一方のセンサと、前記円筒
体とセンサとを前記円筒体の軸心廻りに相対回転する回
転手段とを具えるとともに、 （ａ） 第１のセンサを用いるときにおいて前記軸心
と第１の基準位置との間の半径方向距離である内周面基
準長さＳＸと前記内周面変位■Ｘのと和ＳＸ＋Ｘによっ
て軸心から内周面までの距離である内周面半径ＲＸを演
算すること、 第２のセンサを用いるときにおいて前記軸心と第２の基
準位置との間の半径方向距離である外周面基準長さＳＹ
と前記外周面変位量Ｙとの差ＳＹ−Ｙによって軸心から
外周面までの距離である外周面半径ＲＹを演算すること
、 （ｂ） 第１のセンサを用いるときにおいて前記相対
回転に際して全周をｎ等分した微小な一定の角度ピッチ
ΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１番目の前記内周
面半径ＲＸｉ、ＲＸｉ＋１で微小円弧を次式により演算
しかつ積分することにより内周面の円周長さである内周
長ＣＸを演算すること、第２のセンサを用いるときにお
いて、前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小な一
定の角度ピッチΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１
番目の前記外周面半径ＲＹｉ、ＲＹｉ＋１で微小円弧を
次式により演算しかつ積分することにより外周面の長さ
である外周長ＣＹを演算すること、（Ｃ） 第１のセ
ンサを用いるときにおいて、前記相対回転に際して微小
な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えられる前記内周面
半径ＲＸｉの最大値ＲＸｍａｘと最小値ＲＸｍｉｎとの
差により内周面真円度ＥＸを演算すること、 第２のセンサを用いるときにおいて、前記相対回転に際
して微小な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えられる前
記外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹｍａχと最小値ＲＹｍ
ｉｎとの差から外周面真円度ＥＹを演算すること。
置に軸心を合わせるセンタリング手段を具えた測定台と
、第１の基準位置から前記円筒体の内周面までの半径方
向路＾Ｕである内周面変位量Ｘを測定する非接触式の第
１のセンサと第２の基準位置から前記円筒体の外周面ま
での半径方向距離である外周面変位ｉＹを測定する非接
触式の第２のセンサとの内の一方のセンサと、前記円筒
体とセンサとを前記円筒体の軸心廻りに相対回転する回
転手段とを具えるとともに、 （ａ） 第１のセンサを用いるときにおいて前記軸心
と第１の基準位置との間の半径方向距離である内周面基
準長さＳＸと前記内周面変位■Ｘのと和ＳＸ＋Ｘによっ
て軸心から内周面までの距離である内周面半径ＲＸを演
算すること、 第２のセンサを用いるときにおいて前記軸心と第２の基
準位置との間の半径方向距離である外周面基準長さＳＹ
と前記外周面変位量Ｙとの差ＳＹ−Ｙによって軸心から
外周面までの距離である外周面半径ＲＹを演算すること
、 （ｂ） 第１のセンサを用いるときにおいて前記相対
回転に際して全周をｎ等分した微小な一定の角度ピッチ
ΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１番目の前記内周
面半径ＲＸｉ、ＲＸｉ＋１で微小円弧を次式により演算
しかつ積分することにより内周面の円周長さである内周
長ＣＸを演算すること、第２のセンサを用いるときにお
いて、前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小な一
定の角度ピッチΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１
番目の前記外周面半径ＲＹｉ、ＲＹｉ＋１で微小円弧を
次式により演算しかつ積分することにより外周面の長さ
である外周長ＣＹを演算すること、（Ｃ） 第１のセ
ンサを用いるときにおいて、前記相対回転に際して微小
な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えられる前記内周面
半径ＲＸｉの最大値ＲＸｍａｘと最小値ＲＸｍｉｎとの
差により内周面真円度ＥＸを演算すること、 第２のセンサを用いるときにおいて、前記相対回転に際
して微小な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えられる前
記外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹｍａχと最小値ＲＹｍ
ｉｎとの差から外周面真円度ＥＹを演算すること。
をなしうる演算手段を含んだ円筒体測定装置である。
又本発明は、第１のセンサ、第２のセンサを併有するこ
とにより前記した各演算値に加えて、厚さＴの測定も可
能となる。
とにより前記した各演算値に加えて、厚さＴの測定も可
能となる。
さらに本発明は、第３の基準位置から円筒体の端面まで
の距離である巾変位ＮＺを測定する第３のセンサＳ３を
具えることによって円筒体の巾の測定も可能とする。
の距離である巾変位ＮＺを測定する第３のセンサＳ３を
具えることによって円筒体の巾の測定も可能とする。
円筒体をセンタリング手段によって軸心を所定位置に合
わせて測定台上にｆ２置する。装置は、第１のセンサＳ
１と第２のセンサＳ２との内一方のセンサを具えており
、このセンサと測定台とを、前記円筒体の軸心廻りで相
対回転させる。第１のセンサＳ１を用いるときには、第
１の基準位置Ｐｌから円筒体の内周面までの半径方向距
離である内周面変位量Ｘを測定できる。又第２のセンサ
Ｓ２を用いるときには第２の基準位ｉＰ２から円筒体の
外周面までの半径方向距離である外周面変位量Ｙを測定
できる。なお第１のセンサＳ１、第２のセンサＳ２はと
もに非接触式であり、従って相対回転とともに前記内周
面変位量Ｘ、外周面変位量Ｙを測定する。なお通常、こ
れらの変位置Ｘ、Ｙは、通常好ましくは、相対回転に際
して、全周をｎ等分した微小な一定の角度ピッチΔΘご
とに順次測定する。又演算手段は、通常、マイクロプロ
セッサを含んでおりその中央処理袋ｚｃｐｕは、入力さ
れた前記内周面変位ＩＸ若しくは外周面変位量Ｙと、前
記軸心と第１の基準位１１Ｐ１との間の半径方向距離で
ある内周面基準長さＳｘ若しくは軸心と第２の基準位置
Ｐ２までの半径方向距離である外周面基準長さＳＹとに
基づいて、以下の演算を行う。
わせて測定台上にｆ２置する。装置は、第１のセンサＳ
１と第２のセンサＳ２との内一方のセンサを具えており
、このセンサと測定台とを、前記円筒体の軸心廻りで相
対回転させる。第１のセンサＳ１を用いるときには、第
１の基準位置Ｐｌから円筒体の内周面までの半径方向距
離である内周面変位量Ｘを測定できる。又第２のセンサ
Ｓ２を用いるときには第２の基準位ｉＰ２から円筒体の
外周面までの半径方向距離である外周面変位量Ｙを測定
できる。なお第１のセンサＳ１、第２のセンサＳ２はと
もに非接触式であり、従って相対回転とともに前記内周
面変位量Ｘ、外周面変位量Ｙを測定する。なお通常、こ
れらの変位置Ｘ、Ｙは、通常好ましくは、相対回転に際
して、全周をｎ等分した微小な一定の角度ピッチΔΘご
とに順次測定する。又演算手段は、通常、マイクロプロ
セッサを含んでおりその中央処理袋ｚｃｐｕは、入力さ
れた前記内周面変位ＩＸ若しくは外周面変位量Ｙと、前
記軸心と第１の基準位１１Ｐ１との間の半径方向距離で
ある内周面基準長さＳｘ若しくは軸心と第２の基準位置
Ｐ２までの半径方向距離である外周面基準長さＳＹとに
基づいて、以下の演算を行う。
（ａ） 第１のセンサを用いるとき、内周面基準長さ
ＳＸと内周面変位量Ｘとの和により内周面半径ＲＸを演
算すること、 第２のセンサを用いるときには、外周面基準長さＳＹと
外周面変位量Ｙとの差ＳＹ−Ｙによって外周面半径ＲＹ
を演算すること、 （ｂ） 前記した相対回転の微小ピッチ角度ΔΘごと
に順次えられる１番目、ｉ＋１番目の各内周面半径ＲＸ
ｉＲＸｉ＋１若しくは外周面半径ＲＹｉ。
ＳＸと内周面変位量Ｘとの和により内周面半径ＲＸを演
算すること、 第２のセンサを用いるときには、外周面基準長さＳＹと
外周面変位量Ｙとの差ＳＹ−Ｙによって外周面半径ＲＹ
を演算すること、 （ｂ） 前記した相対回転の微小ピッチ角度ΔΘごと
に順次えられる１番目、ｉ＋１番目の各内周面半径ＲＸ
ｉＲＸｉ＋１若しくは外周面半径ＲＹｉ。
ＲＹｉ＋１を順次微小三角形理論に基づ（計算式により
演算しかつ積分することによって、第１のセンサを用い
るときには内周面の円周長さである円周長ＣＸ５又第２
のセンサを用いるときとには外周面の円周長さである外
周長ＣＹを演算すること、 （Ｃ） 第１のセンサを用いたときには、前記内周面
半径ＲＸｉの最大値ＲＸｍａ ｘと最小値ＲＸｍｉｎと
の差により内周面真円度ＥＸを演算すること、第２のセ
ンサを用いるときには、外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹ
ｍａｘと最小値ＲＹｍｉｎとの差から外周面真円度ＥＹ
を演算することである。
演算しかつ積分することによって、第１のセンサを用い
るときには内周面の円周長さである円周長ＣＸ５又第２
のセンサを用いるときとには外周面の円周長さである外
周長ＣＹを演算すること、 （Ｃ） 第１のセンサを用いたときには、前記内周面
半径ＲＸｉの最大値ＲＸｍａ ｘと最小値ＲＸｍｉｎと
の差により内周面真円度ＥＸを演算すること、第２のセ
ンサを用いるときには、外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹ
ｍａｘと最小値ＲＹｍｉｎとの差から外周面真円度ＥＹ
を演算することである。
これによって、１つの測定工程によって、内周面半径Ｒ
Ｘ若しくは外周面半径ＲＹ、内周長ＣＸ若しくは外周長
ＣＹ、内周面真円度ＥＸ若しくは外周面真円度ＥＹとを
求めうる。
Ｘ若しくは外周面半径ＲＹ、内周長ＣＸ若しくは外周長
ＣＹ、内周面真円度ＥＸ若しくは外周面真円度ＥＹとを
求めうる。
又本発明の装置には、第１のセンサと第２のセンサとを
併用することもできる。このとき、演算手段によって、
内周面半径ＲＸ又は外周面半径ＲＹ、内周長Ｃχ又は外
周長ＣＹ、内周面真円度ＥＸ又は外周面真円度ＥＹに加
えて、厚さＴを、外周面半径ＲＹから内周面半径ＲＸを
減じることにより求めうる。
併用することもできる。このとき、演算手段によって、
内周面半径ＲＸ又は外周面半径ＲＹ、内周長Ｃχ又は外
周長ＣＹ、内周面真円度ＥＸ又は外周面真円度ＥＹに加
えて、厚さＴを、外周面半径ＲＹから内周面半径ＲＸを
減じることにより求めうる。
なお本明細書において「又は」とは、その前後のものの
内の一方、又は双方を含むことを意味している。
内の一方、又は双方を含むことを意味している。
又演算手段には、それらの値と規格値とを比較し、規格
値を１つの値が外れるときには警報させることもできる
。
値を１つの値が外れるときには警報させることもできる
。
さらに本発明の円筒体測定装置には、円筒体の端面から
第３の基準位置Ｐ３までの軸心方向の距離である巾変位
量Ｚを測定する第３のセンサＳ３を設けることができる
。又これによって演算手段は、測定台の載置面と、前記
第３の基準位置Ｐ３までの軸心方向の距離である巾周面
基準長さＳＺと前記巾変位量Ｚとの差５Ｚ−Ｚによって
円筒体の巾Ｗを演算する。
第３の基準位置Ｐ３までの軸心方向の距離である巾変位
量Ｚを測定する第３のセンサＳ３を設けることができる
。又これによって演算手段は、測定台の載置面と、前記
第３の基準位置Ｐ３までの軸心方向の距離である巾周面
基準長さＳＺと前記巾変位量Ｚとの差５Ｚ−Ｚによって
円筒体の巾Ｗを演算する。
このように第３のセンサＳ３を用いることによって、円
筒体の巾Ｗをも同時に測定することができる。
筒体の巾Ｗをも同時に測定することができる。
又演算手段によって集計させることもでき、これによっ
て、さらに円筒体測定作業の能率を改善しうる。
て、さらに円筒体測定作業の能率を改善しうる。
第１〜４図において、円筒体測定装置１は、円筒体２を
載置できかつセンタリング手段３を具えた測定台４と、
内周面変位量Ｘを測定する第１のセンサＳ１と、外周面
変位量Ｙを測定する第２のセンサＳ２と、巾変位ＩＪＺ
を求める第３のセンサＳ３とを具えている。なお第１の
センサＳ１、第２のセンサＳ２の一方又は第３のセンサ
Ｓ３を除くこともできる。又各センサＳ１、ＳＺ、Ｓ３
は、第２図に示す演算装置５に接続される一方、測定台
４と、第１のセンサＳ１、第２のセンサＳ２、第３のセ
ンサＳ３とは、本例では、回転手段６による測定台４の
回転によって相対回転しうる。前記測定台４は円板状を
なし、タイミングベルト等の精密伝動手段１１を介して
前記回転手段６であるモータＭ１に結合される。又該モ
ータＭ１に連係するエンコーダ１２は、測定台４の１回
転に際してその全周をｎ等分する微小角度ピッチΔΘご
とにタイミングパルスを発生しうる。
載置できかつセンタリング手段３を具えた測定台４と、
内周面変位量Ｘを測定する第１のセンサＳ１と、外周面
変位量Ｙを測定する第２のセンサＳ２と、巾変位ＩＪＺ
を求める第３のセンサＳ３とを具えている。なお第１の
センサＳ１、第２のセンサＳ２の一方又は第３のセンサ
Ｓ３を除くこともできる。又各センサＳ１、ＳＺ、Ｓ３
は、第２図に示す演算装置５に接続される一方、測定台
４と、第１のセンサＳ１、第２のセンサＳ２、第３のセ
ンサＳ３とは、本例では、回転手段６による測定台４の
回転によって相対回転しうる。前記測定台４は円板状を
なし、タイミングベルト等の精密伝動手段１１を介して
前記回転手段６であるモータＭ１に結合される。又該モ
ータＭ１に連係するエンコーダ１２は、測定台４の１回
転に際してその全周をｎ等分する微小角度ピッチΔΘご
とにタイミングパルスを発生しうる。
又センタリング手段３は、本実施例では、測定台４の回
転中心に向かいかつ３等分位置に配した直ｖＡ運動機１
４の内端に、前記円筒体２の内周面Ｘを押圧する押片１
５を設けており、又直線運動機１４は、夫々同期して回
転可能なパルスモータなどの電動機に精密ネジを連結し
この精密ネジに、廻り止めされた前記押片１５を螺合し
ている。なお押片１５は、回転中心と同心円上に位置さ
せて螺着している。従って、電動機の回転とともに同期
して半径方向外向きに押片１５が移動し、円筒体２の内
周面Ｘと当接することによって、円筒体２をセンタリン
グできる。なお押片１５は円筒体２の外周面ｙと当接さ
せることもできる。なお前記直線運動機１４として、進
退を同期させたエアシリンダ、油圧シリンダ等を用いる
こともでき、又センタリング手段３として、公知のいわ
ゆる３つ爪チャック状のもの、さらには個々に爪を調整
しつつ芯出しする４つ爪チャック状に形成することもで
きる。さらに外周面ｙによってセンタリングさせること
もできる。
転中心に向かいかつ３等分位置に配した直ｖＡ運動機１
４の内端に、前記円筒体２の内周面Ｘを押圧する押片１
５を設けており、又直線運動機１４は、夫々同期して回
転可能なパルスモータなどの電動機に精密ネジを連結し
この精密ネジに、廻り止めされた前記押片１５を螺合し
ている。なお押片１５は、回転中心と同心円上に位置さ
せて螺着している。従って、電動機の回転とともに同期
して半径方向外向きに押片１５が移動し、円筒体２の内
周面Ｘと当接することによって、円筒体２をセンタリン
グできる。なお押片１５は円筒体２の外周面ｙと当接さ
せることもできる。なお前記直線運動機１４として、進
退を同期させたエアシリンダ、油圧シリンダ等を用いる
こともでき、又センタリング手段３として、公知のいわ
ゆる３つ爪チャック状のもの、さらには個々に爪を調整
しつつ芯出しする４つ爪チャック状に形成することもで
きる。さらに外周面ｙによってセンタリングさせること
もできる。
前記第１、第２、第３のセンサＳ１、ＳＺ、Ｓ３として
、光学センサの他、渦電流変位センサ、静電容量型変位
計などの磁気、静電容量などにより測定する電気式セン
サなどの非接触型センサを用いうる。又電気式のセンサ
は、一般に検出面積が広く測定可能範囲が小さいため、
スポット径が小さく測定可能範囲の大な光学式のものが
好適に使用できる。又このような光学式変位計として、
レーザビームを用いたセレクテイブ、エレクトロニクス
社（スエーデン国）の販売に係るオプトケータ、三菱電
機株式会社製の商品名ＭＤ−１２１１などを用いうる。
、光学センサの他、渦電流変位センサ、静電容量型変位
計などの磁気、静電容量などにより測定する電気式セン
サなどの非接触型センサを用いうる。又電気式のセンサ
は、一般に検出面積が広く測定可能範囲が小さいため、
スポット径が小さく測定可能範囲の大な光学式のものが
好適に使用できる。又このような光学式変位計として、
レーザビームを用いたセレクテイブ、エレクトロニクス
社（スエーデン国）の販売に係るオプトケータ、三菱電
機株式会社製の商品名ＭＤ−１２１１などを用いうる。
又株式会社安永鉄工所の製作にかかる光学式内径表面欠
陥検出装置（商品名ＬＰＳ７００）等が測定端が小径の
円筒状をなすことによって、特に内周面変位量Ｘを測定
する第１のセンサＳ１として使用することもできる。な
おこのものは表面欠陥の測定装置であるが、変位を検出
でき、従って変位測定装置として使用する。
陥検出装置（商品名ＬＰＳ７００）等が測定端が小径の
円筒状をなすことによって、特に内周面変位量Ｘを測定
する第１のセンサＳ１として使用することもできる。な
おこのものは表面欠陥の測定装置であるが、変位を検出
でき、従って変位測定装置として使用する。
前記第１のセンサＳ１は、第１の支持台１６に、水平移
動手段１７、垂直移動手段１９を介して取付けられる。
動手段１７、垂直移動手段１９を介して取付けられる。
水平移動手段１７は、前記第１の支持台１６からのびる
ガイド軸２１と、該ガイド軸２１上を摺動する移動枠２
２とを具えるとともに、該移動枠２２は、第１の支持枠
１６との間に配した移動手段２４によって移動する。な
お移動手段２４は、例えばモータＭ２と、該モータＭ２
に取付くネジ軸２７とからなり、該ネジ軸２７を前記移
動枠２２に螺合させる。なお移動量を測定する測定器２
９として、モータＭ２に取付（エンコーダを用いること
ができ、移動枠２２の移動量をパルス数によって検出し
うる。又測定器２９として、マグネスケール、インダク
トシン、さらには直線型ポテンショメータなどを用いる
こともできる。
ガイド軸２１と、該ガイド軸２１上を摺動する移動枠２
２とを具えるとともに、該移動枠２２は、第１の支持枠
１６との間に配した移動手段２４によって移動する。な
お移動手段２４は、例えばモータＭ２と、該モータＭ２
に取付くネジ軸２７とからなり、該ネジ軸２７を前記移
動枠２２に螺合させる。なお移動量を測定する測定器２
９として、モータＭ２に取付（エンコーダを用いること
ができ、移動枠２２の移動量をパルス数によって検出し
うる。又測定器２９として、マグネスケール、インダク
トシン、さらには直線型ポテンショメータなどを用いる
こともできる。
又前記垂直移動手段１９は、前記移動枠２２に下段した
ガイド軸３０を摺動する移動枠３１を具え、又移動枠３
１は、モータＭ３を有する前記と同様な移動手段２４に
よって上下動し、又同様な測定器２９が設けられる。さ
らに、第１のセンサＳ１は、移動枠３１下面に設ける支
持片３２の下端で、測定方向を、円筒体２の内周面Ｘに
かつ半径方向に向けて取付けられる。
ガイド軸３０を摺動する移動枠３１を具え、又移動枠３
１は、モータＭ３を有する前記と同様な移動手段２４に
よって上下動し、又同様な測定器２９が設けられる。さ
らに、第１のセンサＳ１は、移動枠３１下面に設ける支
持片３２の下端で、測定方向を、円筒体２の内周面Ｘに
かつ半径方向に向けて取付けられる。
第２のセンサ＄２、第３のセンサＳ３は、第２の支持台
３３に取付けられる。第２のセンサＳ２は、モータＭ２
を有する移動手段２４と測定器２９とを具える同様な水
平イ多動手段３４の移動枠３５に取付けられる。なお移
動枠３５は、脚片上端に、円筒体２に向かってのびる水
平片を具え、前記第２のセンサＳ２は、半径方向かつ円
筒体２の外周面ｙにその測定部を向けて取付けられる。
３３に取付けられる。第２のセンサＳ２は、モータＭ２
を有する移動手段２４と測定器２９とを具える同様な水
平イ多動手段３４の移動枠３５に取付けられる。なお移
動枠３５は、脚片上端に、円筒体２に向かってのびる水
平片を具え、前記第２のセンサＳ２は、半径方向かつ円
筒体２の外周面ｙにその測定部を向けて取付けられる。
さらに第３のセンサＳ３は、前記移動枠３５を上面の、
モータＭ３、測定器２９を有する同様な垂直移動手段３
６の移動枠３７から突出する支持片先端に、その測定部
を下向けに固定される。
モータＭ３、測定器２９を有する同様な垂直移動手段３
６の移動枠３７から突出する支持片先端に、その測定部
を下向けに固定される。
又第１のセンサＳ１、第２のセンサＳ２、第３のセンサ
Ｓ３は、第２図に示すごとく、夫々増幅器ＡＭＰ、Ａ／
Ｄ変換器を介して、演算手段５の中央処理装置ＣｒＵに
通じるＣＰＵバスに接続され、又前記回転手段６のエン
コーダ１２もパルスカウンタを介してＣＰＵバスに導通
している。又ＣＰＵバスには、インターフェイスＰＩ１
０を介して、前記水平移動手段１７．３４、垂直移動手
段１９．３６の各モータＭ２、Ｍ３を制御するモータ駆
動回路４０と、操作盤４１の各種のスイッチとが接続さ
れる。さらに、前記測定器２９の各パルスも、カウンタ
を介してＣＰＵバスとの間で送受される。
Ｓ３は、第２図に示すごとく、夫々増幅器ＡＭＰ、Ａ／
Ｄ変換器を介して、演算手段５の中央処理装置ＣｒＵに
通じるＣＰＵバスに接続され、又前記回転手段６のエン
コーダ１２もパルスカウンタを介してＣＰＵバスに導通
している。又ＣＰＵバスには、インターフェイスＰＩ１
０を介して、前記水平移動手段１７．３４、垂直移動手
段１９．３６の各モータＭ２、Ｍ３を制御するモータ駆
動回路４０と、操作盤４１の各種のスイッチとが接続さ
れる。さらに、前記測定器２９の各パルスも、カウンタ
を介してＣＰＵバスとの間で送受される。
又中央処理装置ｃＰＵには、インターフェイスＩ１０を
介して警報器７が接続される。
介して警報器７が接続される。
然して、測定台４上にセンタリング手段３により、測定
台４の回転中心と円筒体２の軸心０を合わせて該円筒体
２を載置、固定する。
台４の回転中心と円筒体２の軸心０を合わせて該円筒体
２を載置、固定する。
又水平移動手段１７、垂直移動手段１９によって、第１
のセンサＳ１を所望の高さ及び測定基準面である第１の
基準位置Ｐ１を、内周面Ｘとの間の半径方向距離が測定
可能範囲となるように位置させる。
のセンサＳ１を所望の高さ及び測定基準面である第１の
基準位置Ｐ１を、内周面Ｘとの間の半径方向距離が測定
可能範囲となるように位置させる。
又前記水平移動手段１７の前記測定器２９は、固定され
た第１の支持台１６と第１の基準位置Ｐ１との間の距離
によって、該第１の基準位置Ｐ１と回転の軸心０との間
の半径方向距離である内周面基準長さＳＸの情報を演算
手段５に与える。
た第１の支持台１６と第１の基準位置Ｐ１との間の距離
によって、該第１の基準位置Ｐ１と回転の軸心０との間
の半径方向距離である内周面基準長さＳＸの情報を演算
手段５に与える。
又水平移動手段３４により第２のセンサＳ２を、外周面
ｙか゛ら該第２の、センサＳ２の測定基準点である第２
の基準位置Ｐ２までの距離が、測定可能範囲となるよう
に位置合わせする。又その測定器２９は、同様に、前記
軸心０と第２の基準位置Ｐ２までの間の距離である外周
面基準長さＳＹについての情報を演算手段５に与える。
ｙか゛ら該第２の、センサＳ２の測定基準点である第２
の基準位置Ｐ２までの距離が、測定可能範囲となるよう
に位置合わせする。又その測定器２９は、同様に、前記
軸心０と第２の基準位置Ｐ２までの間の距離である外周
面基準長さＳＹについての情報を演算手段５に与える。
又演算手段５は、中央処理装置ＣＰＵによって内周面基
準長さＳＸ、外周面基準長さＳＹを求め、記憶保持する
。
準長さＳＸ、外周面基準長さＳＹを求め、記憶保持する
。
又第３のセンサＳ３も、垂直移動手段３６によって、そ
の測定基準点である第３の基準位ｗＰ３を、円筒体２の
上面即ち端面２から所定の測定可能範囲となるように高
さ合わせされる。又その測定器２９によって、測定台４
の載置面４Ａと前記第３の基準位置Ｐ３との間の軸心方
向の距離である中基準長さＳＺを、前記と同様に中央処
理装置ＣＰＵが演算しかつ記憶する。
の測定基準点である第３の基準位ｗＰ３を、円筒体２の
上面即ち端面２から所定の測定可能範囲となるように高
さ合わせされる。又その測定器２９によって、測定台４
の載置面４Ａと前記第３の基準位置Ｐ３との間の軸心方
向の距離である中基準長さＳＺを、前記と同様に中央処
理装置ＣＰＵが演算しかつ記憶する。
なお第２のセンサＳ２も垂直方向に調整可能とすること
もでき、又第３のセンサＳ３を、第２のセンサＳ２と独
立して水平方向に移動させることもできる。さらに第１
の支持台１６、第２の支持台３３を１つの支持台を用い
て形成することもできる。
もでき、又第３のセンサＳ３を、第２のセンサＳ２と独
立して水平方向に移動させることもできる。さらに第１
の支持台１６、第２の支持台３３を１つの支持台を用い
て形成することもできる。
又前記演算手段５の中央処理装置ＣＰＵは、測定される
円筒体２として、許容される公差を含んだ厚さＴの規格
値である厚さ規格値ＮＴ、内周面半径ＲＸ又は外周面半
径ＲＹの規格値である内周面半径規格値ＮＲＸ又は外周
面半径規格値ＮＲＹ、内周長Ｃｘの規格値である内周長
規格値ＮＣＸ又は外周長ＣＹの規格値である外周長規格
値ＮＣＹ、内周面真円度ＥＸの規格値である内周面真円
度規格値ＮＥＸ又は外周面真円度ＥＹの規格値である外
周面真円度規格値ＮＥＹ、巾Ｗの規格値である巾規格値
ＮＷを記憶する。
円筒体２として、許容される公差を含んだ厚さＴの規格
値である厚さ規格値ＮＴ、内周面半径ＲＸ又は外周面半
径ＲＹの規格値である内周面半径規格値ＮＲＸ又は外周
面半径規格値ＮＲＹ、内周長Ｃｘの規格値である内周長
規格値ＮＣＸ又は外周長ＣＹの規格値である外周長規格
値ＮＣＹ、内周面真円度ＥＸの規格値である内周面真円
度規格値ＮＥＸ又は外周面真円度ＥＹの規格値である外
周面真円度規格値ＮＥＹ、巾Ｗの規格値である巾規格値
ＮＷを記憶する。
回転手段６を駆動することによって、測定台４上の円筒
体２は軸心廻りで回転するとともに、エンコーダ１２は
、全周をｎ等分した微小の一定の角度ピッチΔΘごとに
タイミングパルスを中央処理装置ＣＰＵに送り込む。又
タイミングパルスごとに、第１のセンサＳ１、第２のセ
ンサＳ２、第３のセンサＳ３は、夫々パルスごとの内周
面半径ＲＸｉ、外周面半径ＲＹｉ、巾変位量Ｚｉを中央
処理装置ｃｐｕに送り込む。
体２は軸心廻りで回転するとともに、エンコーダ１２は
、全周をｎ等分した微小の一定の角度ピッチΔΘごとに
タイミングパルスを中央処理装置ＣＰＵに送り込む。又
タイミングパルスごとに、第１のセンサＳ１、第２のセ
ンサＳ２、第３のセンサＳ３は、夫々パルスごとの内周
面半径ＲＸｉ、外周面半径ＲＹｉ、巾変位量Ｚｉを中央
処理装置ｃｐｕに送り込む。
演算手段５は前記記憶データ、又入力した変位量に基づ
いて次の演算を行う。
いて次の演算を行う。
（ａ） 前記内周面基準長さＳＺと内周面変位ｉＸと
を合計ＳＸ＋Ｘによって、軸心０から内周面Ｘまでの距
離である内周面半径ＲＸを計算する。
を合計ＳＸ＋Ｘによって、軸心０から内周面Ｘまでの距
離である内周面半径ＲＸを計算する。
又は外周面基準長さＳＹと前記外周面変位ＩＹとの差Ｓ
Ｙ−Ｙによって軸心０から外周面ｙまでの距離である外
周面半径ＲＹを計算する。
Ｙ−Ｙによって軸心０から外周面ｙまでの距離である外
周面半径ＲＹを計算する。
なおこの内周面半径ＲＸ、外周面半径ＲＹは、タイミン
グパルスの計数によりえられる例えば十字方向の４位置
等、夫々特定の位置で求めることも、又タイミングパル
スご褌にえられる内周面変位置Ｘｉ、外周面変位量Ｙｉ
に基づいてタイミングパルスごとに内周面半径ＲＸ ｉ
、外周面半径ＲＹｉを演算することもできる。
グパルスの計数によりえられる例えば十字方向の４位置
等、夫々特定の位置で求めることも、又タイミングパル
スご褌にえられる内周面変位置Ｘｉ、外周面変位量Ｙｉ
に基づいてタイミングパルスごとに内周面半径ＲＸ ｉ
、外周面半径ＲＹｉを演算することもできる。
（６）前記外周面半径ＲＹと内周面半径ＲＸの差ＲＹ−
ＲＸによって円筒体２の厚さＴを演算する。
ＲＸによって円筒体２の厚さＴを演算する。
なお厚さＴも、特定の位置で計算することも、各タイミ
ングパルスごとに求めることもできる。又結果として外
周面半径ＲＸから内周面半径ＲＹを減じるのであり、各
計算の手順は変化しうる。
ングパルスごとに求めることもできる。又結果として外
周面半径ＲＸから内周面半径ＲＹを減じるのであり、各
計算の手順は変化しうる。
（Ｃ） タイミングパルスごとに得られるｉ番目、ｉ
十１番目の内周面半径ＲＸｉ、ＲＸｉ＋１を用いて前記
角度ピッチΔΘによる順次微小三角形法に基づいて演算
する。この演算は、第５図（ａ）に示すように、前記角
度ΔΘを挟む２辺を、ＲＸ ｉ。
十１番目の内周面半径ＲＸｉ、ＲＸｉ＋１を用いて前記
角度ピッチΔΘによる順次微小三角形法に基づいて演算
する。この演算は、第５図（ａ）に示すように、前記角
度ΔΘを挟む２辺を、ＲＸ ｉ。
ＲＸｉ＋１とし、その辺端を結ぶ対辺の長さを、内周面
Ｘの微小円弧と近似して、次式に基づいて計算する。又
第５図（ｂ）は、そのフローチャートを示している。
Ｘの微小円弧と近似して、次式に基づいて計算する。又
第５図（ｂ）は、そのフローチャートを示している。
又は前記外周面半径ＲＹｉ、ＲＹｉ＋１に基づいて同様
に演算し、外周面ｙの円周長さである外周長ＣＹを演算
する。
に演算し、外周面ｙの円周長さである外周長ＣＹを演算
する。
ｃＹ−り（ＲＹ１５ｉｎへの”＋ （ＲＹ＊−＋ Ｒ
Ｙｔｃｏｓ△の２（ｄ） さらに、前記内周面半径Ｒ
Ｘｉの最大値ＲＸｍａｘと最小値ＲＸｍｉｎとの差によ
り内周面真円度ＥＸを求める。
Ｙｔｃｏｓ△の２（ｄ） さらに、前記内周面半径Ｒ
Ｘｉの最大値ＲＸｍａｘと最小値ＲＸｍｉｎとの差によ
り内周面真円度ＥＸを求める。
又は外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹｍａｘと最小値ＲＹ
ｍｉｎとの差から外周面真円度ＥＹを求める。
ｍｉｎとの差から外周面真円度ＥＹを求める。
（ｅ） 又前記巾基準長さＳＺと前記巾変位量Ｚとの
差５Ｚ−Ｚにより円筒体２の巾Ｗが演算できる。
差５Ｚ−Ｚにより円筒体２の巾Ｗが演算できる。
なお同様に、タイミングピッチごとに巾Ｗｉを求めるこ
とも、又特定の位置のみで巾Ｗを計算することもできる
。
とも、又特定の位置のみで巾Ｗを計算することもできる
。
なおこれらの演算結果は、変位量とともに表示装置ＣＲ
Ｔに表示させ又はプリントアウトすることもできる。
Ｔに表示させ又はプリントアウトすることもできる。
又変位量ｘ、ｙ、ｚとともに各演算値、さらにはその平
均値、標準偏差等を自動演算する演算回路を設けること
もできる。
均値、標準偏差等を自動演算する演算回路を設けること
もできる。
さらに内周長ＣＸ、外周長ＣＹの演算に際して、円筒体
２に切欠部等の欠落部があるときには、切欠部に至る直
前の変位１１Ｘｉ、Ｙｉを順次持ち越し計算するか、又
切欠部を挟む２つの変位量Ｘｉ、Ｘｊ又は変位ｉＹｉ、
Ｙｊを用いて最小二乗法により円弧で補間することがで
きる。
２に切欠部等の欠落部があるときには、切欠部に至る直
前の変位１１Ｘｉ、Ｙｉを順次持ち越し計算するか、又
切欠部を挟む２つの変位量Ｘｉ、Ｘｊ又は変位ｉＹｉ、
Ｙｊを用いて最小二乗法により円弧で補間することがで
きる。
さらに、前記センタリング手段３による円筒体２の芯出
し誤差は、前記内周面変位量Ｘｉ、外周面変位ＭＹｉを
、周知のように、フーリエ級数展開することによって演
算し補正することもできる。
し誤差は、前記内周面変位量Ｘｉ、外周面変位ＭＹｉを
、周知のように、フーリエ級数展開することによって演
算し補正することもできる。
・又演算手段５は、これらの厚さＴ、内周面半径ＲＸ又
は外周面半径ＲＹ、内周長ＣＸ又は外周長ＣＹ、内周面
真円度ＥＸ又は外周面真円度ＩＦ、Ｙ、巾Ｗが、夫々前
記厚さ規格値ＮＴ、内周面半径規格値ＮＲＸ又は外周面
半径規格値ＮＲＹ、内周面半径規格値ＮＲＸ又は外周面
半径規格値ＮＲＹ、内周面真円度規格値ＮＥＸ又は外周
面真円度規格値ＮＥＹと比較しそれらの公差を外れると
きには、前記警報器７をオンし通報するこ七によって、
円筒体２が不良であることを通報する。
は外周面半径ＲＹ、内周長ＣＸ又は外周長ＣＹ、内周面
真円度ＥＸ又は外周面真円度ＩＦ、Ｙ、巾Ｗが、夫々前
記厚さ規格値ＮＴ、内周面半径規格値ＮＲＸ又は外周面
半径規格値ＮＲＹ、内周面半径規格値ＮＲＸ又は外周面
半径規格値ＮＲＹ、内周面真円度規格値ＮＥＸ又は外周
面真円度規格値ＮＥＹと比較しそれらの公差を外れると
きには、前記警報器７をオンし通報するこ七によって、
円筒体２が不良であることを通報する。
なお前記ソリッドタイヤのベースバンドの測定に際して
は、前記厚さＷ、内周面半径ＲＸ、内周面真円度ＥＸ、
巾Ｗが、その品質確認のために利用される。
は、前記厚さＷ、内周面半径ＲＸ、内周面真円度ＥＸ、
巾Ｗが、その品質確認のために利用される。
又本発明の装置において、測定台４を固定しかつ第１の
センサＳ１、第２のセンサＳ２、第３のセンサＳ３を、
第７図に示すように円筒体２の軸心廻りに共に回転させ
ることにより相対回転させることもでき、このとき大型
の円筒体２の測定に際して特に便宜となる。又測定台４
を固定し、第１センサＳ１を第１図のように軸心より外
れた位置で軸心廻りに回転させるか、又は第８図に示す
ように、軸心位置に第１のセンサＳ１を位置させ、軸心
廻りで回転させるようにしてもよい。又装置は、ソリッ
ドタイヤのベースバンドの他、ローラ、円管など各種の
円筒体の測定のために使用しうる。
センサＳ１、第２のセンサＳ２、第３のセンサＳ３を、
第７図に示すように円筒体２の軸心廻りに共に回転させ
ることにより相対回転させることもでき、このとき大型
の円筒体２の測定に際して特に便宜となる。又測定台４
を固定し、第１センサＳ１を第１図のように軸心より外
れた位置で軸心廻りに回転させるか、又は第８図に示す
ように、軸心位置に第１のセンサＳ１を位置させ、軸心
廻りで回転させるようにしてもよい。又装置は、ソリッ
ドタイヤのベースバンドの他、ローラ、円管など各種の
円筒体の測定のために使用しうる。
このように本発明の円筒体測定装置は、測定台と、内周
面変位ＩＸ測定用の第１のセンサＳ１と外周面変位量Ｙ
測定用の第２のセンサＳ２との内の一方のセンサを具え
、又演算手段は、前記第１、第２のセンサＳ１、Ｓ２の
軸心からの距離である内周面基準長さＳＸ、外周面基準
長さＳＹとともに前記変位量Ｘ若しくはＹによって所定
の演算を施し、内周面若しくは外周面の半径、内周長若
しくは外周長、内周面真円度若しくは外周面真円度を演
算できる。従って１つの測定工程によりこれらの測定項
目を検査でき、従来の径寸法、円周長さ、真円度等を別
個に測定する場合に比べて、円筒体の段取り替えの手間
を減じ作業能率と測定精度を高めるとともに、円筒体の
傷の発生の危険を防止できる。又センサが非接触式であ
るため、ローラを用いる場合のすべり、擦り減り等によ
る誤差がなく、しかも円筒体に傷、切欠き等が存在する
場合にも、演算手段による演算による補間しうるため、
高精度の測定が可能となる。
面変位ＩＸ測定用の第１のセンサＳ１と外周面変位量Ｙ
測定用の第２のセンサＳ２との内の一方のセンサを具え
、又演算手段は、前記第１、第２のセンサＳ１、Ｓ２の
軸心からの距離である内周面基準長さＳＸ、外周面基準
長さＳＹとともに前記変位量Ｘ若しくはＹによって所定
の演算を施し、内周面若しくは外周面の半径、内周長若
しくは外周長、内周面真円度若しくは外周面真円度を演
算できる。従って１つの測定工程によりこれらの測定項
目を検査でき、従来の径寸法、円周長さ、真円度等を別
個に測定する場合に比べて、円筒体の段取り替えの手間
を減じ作業能率と測定精度を高めるとともに、円筒体の
傷の発生の危険を防止できる。又センサが非接触式であ
るため、ローラを用いる場合のすべり、擦り減り等によ
る誤差がなく、しかも円筒体に傷、切欠き等が存在する
場合にも、演算手段による演算による補間しうるため、
高精度の測定が可能となる。
又第１、第２のセンサの併用により、内周面半径又は外
周面半径、内周長又は外周長、内周面真円度又は外周面
真円度に加えて板厚を測定できる。
周面半径、内周長又は外周長、内周面真円度又は外周面
真円度に加えて板厚を測定できる。
さらに演算手段が、規格値を外れる値を検出したときに
警報しうるごとく構成でき、又測定結果を表示装置によ
り表示し又は自動的にプリントアウトさせることにより
、集計作業をも便宜とする。
警報しうるごとく構成でき、又測定結果を表示装置によ
り表示し又は自動的にプリントアウトさせることにより
、集計作業をも便宜とする。
さらに巾測定用の第３のセンサＳ３を用いることによっ
て巾の測定をも同時になしうることとなり、さらに作業
能率を高める。
て巾の測定をも同時になしうることとなり、さらに作業
能率を高める。
第１図は本発明の装置の要部を略示する斜視図、第２図
は演算手段をあわせてその一実施例を示す線図、第３図
は第１のセンサＳ１、第２のセンサＳ２の作用を示す断
面図、第４図は第３のセンサＳ３の作用を示す断面図、
第５図（ａ）は微小三角形法を例示する線図、第５図（
ｂ）は内周長又は外周長測定のためのフローを示すチャ
ート図、第６図はソリッドタイヤを例示する断面図、第
７図は３つのセンサを軸心廻りに回転させる他の実施例
を示す断面図、第８図は第１のセンサを軸心位置で回転
させるさらに他の実施例を示す断面図である。 ２−円筒体、 ３・・・センタリング手段、４−・測
定台、 ５−・−演算手段、 ６・・・回転手段、Ｐｌ
・・・第１の基準位置、 Ｐ２−第２の基準位置、Ｐ３
−・・第３の基準位置、 ３１−・第１のセンサ、Ｓ２
・・・第２のセンサ、 Ｓ３・−第３のセンサ。 特許出願人 住友ゴム工業株式会社代理人 弁理
士 苗 村 正第１閃 １，６ 第２１１Ｗ 第３ｍ 第７図 第８図 ３、ン鉦をする者 ４９牛との関係 特許出願人 住所 神戸市中央区筒井町１丁目１番１号名 称住友ゴ
ム工業株式会社 代表者 桂 １） 鑓 男 ４、代理人 住所 大阪市淀用区西中島４丁目２番２６号天神第１ビ
ル 電話（０６）３０２−１１７７８、禄串ｉ４頼の目
録 補正された特許請求の範囲 １ 円筒体を戴置するとともに該円筒体を所定位置に軸
心を合わせるセンタリング手段を具えた測定台と、第１
の基準位置から前記円筒体の内周面までの半径方向距離
である内周面変位量Ｘを測定する非接触式の第１のセン
サと第２の基準位置から前記円筒体の外周面までの半径
方向距離である外周面変位量Ｙを測定する非接触式の第
２のセンサとの内の一方のセンサと、前記円筒体とセン
サ 。 とを前記円筒体の軸心廻りに相対回転する回転手段とを
具えるとともに、以下の演算を行う演算手段を含んでな
る円筒体測定装置。 （ａｌ 第１のセンサを用いるときにお（〜で前記軸
心と第１の基準位置との間の半径方向距離である内周面
基準長さＳＸと前記内周面変位１ｘのと和ＳＸ＋Ｘによ
って軸心から内周面までの距離である内周面半径ＲＸを
演算すること、 第２のセンサを用いるときにお、いて前記軸心と第２の
基準位置との間の半径方向距離である外周面基準長さＳ
Ｙと前記外周面変位量Ｙとの差ＳＹ−Ｙによって軸心か
ら外周面までの距離である外周面半径ＲＹを演算するこ
と、 （ｂｌ 第１のセンサを用いるときにおいて前記相対
回転に際して全周をｎ等分した微小な一定の角度ピンチ
ΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１番目の前記内周
面半径ＲＸｉ、ＲＸｉ＋１で微小円弧を次式により演算
しかつ積分することにより内周面の円周長さである内周
長ＣＸを演算すること、第２のセンサを用いるときにお
いて、前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小な一
定の角度ピッチΔｅごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１
番目の前記外周面半径ＲＹｉ、ＲＹｉ＋１で微小円弧を
次式により演算しかつ積分することにより外周面の長さ
である外周長ＣＹを演算すること、ｔｃ＋ 第１のセ
ンサを用いるときにおいて、前記相対回転に際して微小
な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えられる前記内周面
半径ＲＸｉの最大（ｉｉＲＸｍａｘと最小値ＲＸｍｉｎ
との差により内周面真円度ＥＸを演算すること、 第２のセンサを用いるときにおいて、前記相対回転に際
して微小な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えられる前
記外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹｍａｘと最小値ＲＹｍ
ｉｎとの差から外周面真円度ＥＹを演算すること。 ２ 円筒体を載置するとともに該円筒体を所定位置に軸
心を合わせるセンタリング手段を具えた測定台と、第１
の基準位置から前記円筒体の内周面までの半径方向距離
である内周面変位量Ｘを測定する非接触式の第１のセン
サと、第２の基準位置から前記円筒体の外周面までの半
径方向距離である外周面変位量Ｙを測定する非接触式の
第２のセンサと、前記円筒体と、第１、第２のセンサと
を前記円筒体の軸心廻りに相対回転する回転手段とを具
えるとともに、以下の演算を行う演算手段を含んでなる
円筒体測定装置。 （ａｌ 前記軸心と第１の基準位置との間の半径方向
距離である内周面基準長さＳＸと前記内周面変位１ｘ、
＝ｏ和ＳＸ＋Ｘによって軸心から内周面までの距離であ
る内周面半径ＲＸを演算すること、又は前記軸心と第２
の基準位置との間の半径方向距離である外周面基準長さ
ｓｙと前記外周面変位ｉｌＹとの差ＳＹ−Ｙによって軸
心から外周面までの距離である外周面半径ＲＹを演算す
ること、（ｂ） 前記外周面半径ＲＹから、前記内周
面半径ＲＸを減じることにより円筒体の厚さＴ（＝ＲＹ
−ＲＸ）を演算すること、 （Ｃ） 前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小
な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ
＋１番目の前記内周面半径ＲＸｉ、ＲＸｉ＋１で微小円
弧を次式により演算しかつ積分することにより内周面の
円周長さである内周長ＣＸを演算すること、 ｃ ｘ ＝ Ｘ ｆ諏］＝ｉ耳（Ｒχｉ−Ｉ ＲＸ
ｉＣＯ５ΔΘ）２Ｉ；区 又は前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小な一定
の角度ピッチΔｅごとに順次えられるｉ番目と１＋１番
目の前記外周面半径ＲＹｉ、ＲＹｉ＋１で微小円弧を次
式により演算しかつ積分することにより外周面の長さで
ある外周長ＣＹを演算すること、 ＋ｄ） 前記相対回転に際して微小な一定の角度ピッ
チΔｅごとに順次えられる前記内周面半径ＲＸｉの最大
値ＲＸ…ａｘと最小値ＲＸｍｉｎとの差により内周面真
円度ＥＸを演算すること、 又は前記相対回転に際して微小な一定の角度とッチΔｅ
ごとに順次えられる前記外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹ
ｒｎａｘと最小値ＲＹｍｉｎとの差から外周面真円度Ｅ
Ｙを演算すること。 ３ 前記演算手段は、厚さＴの規格値である厚さ規格値
ＮＴ、内周面半径ＲＸ又番よ外周面半径ＲＹの規格値で
ある内周面半径規格値ＮＲＸ又は外周面半径規格値ＮＲ
Ｙ、内周長ＣＸの規格値である内周長規格値ＮＣＸ又は
外周長ＣＹの規格値である外周長規格値ＮＣＹ、内周面
真円度ＥＸの規格値である内周面真円度規格値ＮＥＸ又
は外周面真円度ＥＹの規格値である外周面真円度規格値
ＮＥＹとを記憶するとともに、測定によりえられた厚さ
Ｔ、内周面半径ＲＸ又は外周面半径ＲＹ、内周長ＣＸ又
は外周長ＣＹ、内周面真円度ＥＸ又は外周面真円度ＥＹ
を、夫々厚さ規格値ＮＴ、内周面半径規格値ＮＳＸ又は
外周面半径規格値ＮＳＹ、内周長規格値ＮＣＸ又は外周
長規格値ＮＣＹ、内周面真円度規格値ＮＥＸ又は外周面
規格値ＮＥＹと比較して、その各測定値の一つが各規格
値から外れるとき警報することを特徴とする請求項２記
載の円筒体測定装置。 ４ 円筒体を載置するとともに該円筒体を所定位置に軸
心を合わせるセンタリング手段を具えた測定台と、第１
の基準位置から前記円筒体の内周面までの半径方向距離
である内周面変位量Ｘを測定する非接触式の第１のセン
サと、第２の基準位置から前記円筒体の外周面までの半
径方向距離である外周面変位ｉＹを測定する非接触式の
第２のセンサと、第３の基準位置から前記円筒体の端面
までの軸心方向の距離である巾変位量Ｚを測定する非接
触式の第３のセンサと、前記円筒体と、第１、第２、第
３のセンサとを前記円筒体の軸心廻りに相対回転する回
転手段とを具えるとともに°、以下の演算を行う演算手
段を含んでなる円筒体測定装置。 （ａｌ 前記軸心と第１の基準位置との間の半径方向
距離である内周面基準長さＳＸと前記内周面変位ｌｘと
の和ＳＸ＋Ｘによって軸心から内周面までの距離である
内周面半径ＲＸを演算すること、又は前記軸心と第２の
基準位置との間の半径方向距離である外周面基準長さｓ
ｙと前記外周面変位ＩＹとの差ＳＹ−Ｙによって軸心か
ら外周面までの距離である外周面半径ＲＹを演算するこ
と、（ｂｌ 前記外周面半径ＲＹから、前記内周面半
径ＲＸを減じることにより円筒体の厚さＴ（＝ＲＹ−Ｒ
Ｘ）を演算すること、 ｆｃ） 前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小
な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ
＋１番目の前記内周面半径ＲＸｉ、ＲＸｉ＋１で微小円
弧を次式により演算しかつ積分することにより内周面の
円周長さである内周長ＣＸを演算すること、 又は前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小な一定
の角度ピッチΔｅごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１番
目の前記外周面半径ＲＹｉ、ＲＸｉ＋ｌで微小円弧を次
式により演算しかつ積分することにより外周面の円周長
さである外周長ＣＹを演算すること、 ＣＹ−ｆ（ＲＹ、ｓｉｎΔΘ）２÷（ＲＹ、−＋ −Ｒ
’ｉ、ｃｏｓΔΘ）２（ｄｌ 前記相対回転に際して
微小な一定の角度ピッチΔｅごとに順次えられる前記内
周面半径ＲＸｎの最大値ＲＸｍａｘと最小値ＲＸｍｉｎ
との差により内周面真円度ＥＸを演算すること、 又は前記相対回転に際して微小な一定の角度ピッチΔΘ
ごとに順次えられる前記外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹ
ｍａｘと最小値ＲＹｍｉｎとの差から外周面真円度ＥＹ
を演算すること、 （ｅ） 前記測定台の載置面と前記第３の基準位置ま
での円筒体軸心方向の距離である巾基準長さＳＺと前記
巾変位１ｚの差５Ｚ−Ｚにより前記円筒体の巾Ｗを演算
すること。 ５ 前記演算手段は、厚さＴの規格値である厚さ規格値
ＮＴ、内周面半径ＲＸ又は外周面半径ＲＹの規格値であ
る内周面半径規格値ＮＲＸ又は外周面半径規格値ＮＲＹ
、内周長ＣＸの規格値である内周長規格値Ｎ ＣＸ又は
外周長ＣＹの規格値である外周長規格値ＮＣＹ、内周面
真円度ＥＸの規格値である内周面真円度規格値ＮＥＸ又
は外周面真円度ＥＹの規格値である外周面真円度規格値
ＮＥＹ、巾Ｗの規格値である巾規格値ＮＷとを記憶する
とともに、測定によりえられた厚さＴ、内周面半径ＲＸ
又は外周面半径ＲＹ、内周長ＣＸ又は外周長ＣＹ、内周
面真円度ＥＸ又は外周面真円度ＥＹ、巾Ｗを、夫々厚さ
規格値ＮＴ、内周面半径規格値ＮＳＸ又は外周面半径規
格値ＮＳＹ、内周長規格値ＮＣＸ又は外周長規格値ＮＣ
Ｙ、内周面真円度規格値ＮＥＸ又は外周面規格値ＮＥＹ
、巾規格値ＮＷと比較して、その各測定値が各規格値か
ら外れるとき警報することを特徴とする請求項４記戦の
円筒体測定装置。
は演算手段をあわせてその一実施例を示す線図、第３図
は第１のセンサＳ１、第２のセンサＳ２の作用を示す断
面図、第４図は第３のセンサＳ３の作用を示す断面図、
第５図（ａ）は微小三角形法を例示する線図、第５図（
ｂ）は内周長又は外周長測定のためのフローを示すチャ
ート図、第６図はソリッドタイヤを例示する断面図、第
７図は３つのセンサを軸心廻りに回転させる他の実施例
を示す断面図、第８図は第１のセンサを軸心位置で回転
させるさらに他の実施例を示す断面図である。 ２−円筒体、 ３・・・センタリング手段、４−・測
定台、 ５−・−演算手段、 ６・・・回転手段、Ｐｌ
・・・第１の基準位置、 Ｐ２−第２の基準位置、Ｐ３
−・・第３の基準位置、 ３１−・第１のセンサ、Ｓ２
・・・第２のセンサ、 Ｓ３・−第３のセンサ。 特許出願人 住友ゴム工業株式会社代理人 弁理
士 苗 村 正第１閃 １，６ 第２１１Ｗ 第３ｍ 第７図 第８図 ３、ン鉦をする者 ４９牛との関係 特許出願人 住所 神戸市中央区筒井町１丁目１番１号名 称住友ゴ
ム工業株式会社 代表者 桂 １） 鑓 男 ４、代理人 住所 大阪市淀用区西中島４丁目２番２６号天神第１ビ
ル 電話（０６）３０２−１１７７８、禄串ｉ４頼の目
録 補正された特許請求の範囲 １ 円筒体を戴置するとともに該円筒体を所定位置に軸
心を合わせるセンタリング手段を具えた測定台と、第１
の基準位置から前記円筒体の内周面までの半径方向距離
である内周面変位量Ｘを測定する非接触式の第１のセン
サと第２の基準位置から前記円筒体の外周面までの半径
方向距離である外周面変位量Ｙを測定する非接触式の第
２のセンサとの内の一方のセンサと、前記円筒体とセン
サ 。 とを前記円筒体の軸心廻りに相対回転する回転手段とを
具えるとともに、以下の演算を行う演算手段を含んでな
る円筒体測定装置。 （ａｌ 第１のセンサを用いるときにお（〜で前記軸
心と第１の基準位置との間の半径方向距離である内周面
基準長さＳＸと前記内周面変位１ｘのと和ＳＸ＋Ｘによ
って軸心から内周面までの距離である内周面半径ＲＸを
演算すること、 第２のセンサを用いるときにお、いて前記軸心と第２の
基準位置との間の半径方向距離である外周面基準長さＳ
Ｙと前記外周面変位量Ｙとの差ＳＹ−Ｙによって軸心か
ら外周面までの距離である外周面半径ＲＹを演算するこ
と、 （ｂｌ 第１のセンサを用いるときにおいて前記相対
回転に際して全周をｎ等分した微小な一定の角度ピンチ
ΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１番目の前記内周
面半径ＲＸｉ、ＲＸｉ＋１で微小円弧を次式により演算
しかつ積分することにより内周面の円周長さである内周
長ＣＸを演算すること、第２のセンサを用いるときにお
いて、前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小な一
定の角度ピッチΔｅごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１
番目の前記外周面半径ＲＹｉ、ＲＹｉ＋１で微小円弧を
次式により演算しかつ積分することにより外周面の長さ
である外周長ＣＹを演算すること、ｔｃ＋ 第１のセ
ンサを用いるときにおいて、前記相対回転に際して微小
な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えられる前記内周面
半径ＲＸｉの最大（ｉｉＲＸｍａｘと最小値ＲＸｍｉｎ
との差により内周面真円度ＥＸを演算すること、 第２のセンサを用いるときにおいて、前記相対回転に際
して微小な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えられる前
記外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹｍａｘと最小値ＲＹｍ
ｉｎとの差から外周面真円度ＥＹを演算すること。 ２ 円筒体を載置するとともに該円筒体を所定位置に軸
心を合わせるセンタリング手段を具えた測定台と、第１
の基準位置から前記円筒体の内周面までの半径方向距離
である内周面変位量Ｘを測定する非接触式の第１のセン
サと、第２の基準位置から前記円筒体の外周面までの半
径方向距離である外周面変位量Ｙを測定する非接触式の
第２のセンサと、前記円筒体と、第１、第２のセンサと
を前記円筒体の軸心廻りに相対回転する回転手段とを具
えるとともに、以下の演算を行う演算手段を含んでなる
円筒体測定装置。 （ａｌ 前記軸心と第１の基準位置との間の半径方向
距離である内周面基準長さＳＸと前記内周面変位１ｘ、
＝ｏ和ＳＸ＋Ｘによって軸心から内周面までの距離であ
る内周面半径ＲＸを演算すること、又は前記軸心と第２
の基準位置との間の半径方向距離である外周面基準長さ
ｓｙと前記外周面変位ｉｌＹとの差ＳＹ−Ｙによって軸
心から外周面までの距離である外周面半径ＲＹを演算す
ること、（ｂ） 前記外周面半径ＲＹから、前記内周
面半径ＲＸを減じることにより円筒体の厚さＴ（＝ＲＹ
−ＲＸ）を演算すること、 （Ｃ） 前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小
な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ
＋１番目の前記内周面半径ＲＸｉ、ＲＸｉ＋１で微小円
弧を次式により演算しかつ積分することにより内周面の
円周長さである内周長ＣＸを演算すること、 ｃ ｘ ＝ Ｘ ｆ諏］＝ｉ耳（Ｒχｉ−Ｉ ＲＸ
ｉＣＯ５ΔΘ）２Ｉ；区 又は前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小な一定
の角度ピッチΔｅごとに順次えられるｉ番目と１＋１番
目の前記外周面半径ＲＹｉ、ＲＹｉ＋１で微小円弧を次
式により演算しかつ積分することにより外周面の長さで
ある外周長ＣＹを演算すること、 ＋ｄ） 前記相対回転に際して微小な一定の角度ピッ
チΔｅごとに順次えられる前記内周面半径ＲＸｉの最大
値ＲＸ…ａｘと最小値ＲＸｍｉｎとの差により内周面真
円度ＥＸを演算すること、 又は前記相対回転に際して微小な一定の角度とッチΔｅ
ごとに順次えられる前記外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹ
ｒｎａｘと最小値ＲＹｍｉｎとの差から外周面真円度Ｅ
Ｙを演算すること。 ３ 前記演算手段は、厚さＴの規格値である厚さ規格値
ＮＴ、内周面半径ＲＸ又番よ外周面半径ＲＹの規格値で
ある内周面半径規格値ＮＲＸ又は外周面半径規格値ＮＲ
Ｙ、内周長ＣＸの規格値である内周長規格値ＮＣＸ又は
外周長ＣＹの規格値である外周長規格値ＮＣＹ、内周面
真円度ＥＸの規格値である内周面真円度規格値ＮＥＸ又
は外周面真円度ＥＹの規格値である外周面真円度規格値
ＮＥＹとを記憶するとともに、測定によりえられた厚さ
Ｔ、内周面半径ＲＸ又は外周面半径ＲＹ、内周長ＣＸ又
は外周長ＣＹ、内周面真円度ＥＸ又は外周面真円度ＥＹ
を、夫々厚さ規格値ＮＴ、内周面半径規格値ＮＳＸ又は
外周面半径規格値ＮＳＹ、内周長規格値ＮＣＸ又は外周
長規格値ＮＣＹ、内周面真円度規格値ＮＥＸ又は外周面
規格値ＮＥＹと比較して、その各測定値の一つが各規格
値から外れるとき警報することを特徴とする請求項２記
載の円筒体測定装置。 ４ 円筒体を載置するとともに該円筒体を所定位置に軸
心を合わせるセンタリング手段を具えた測定台と、第１
の基準位置から前記円筒体の内周面までの半径方向距離
である内周面変位量Ｘを測定する非接触式の第１のセン
サと、第２の基準位置から前記円筒体の外周面までの半
径方向距離である外周面変位ｉＹを測定する非接触式の
第２のセンサと、第３の基準位置から前記円筒体の端面
までの軸心方向の距離である巾変位量Ｚを測定する非接
触式の第３のセンサと、前記円筒体と、第１、第２、第
３のセンサとを前記円筒体の軸心廻りに相対回転する回
転手段とを具えるとともに°、以下の演算を行う演算手
段を含んでなる円筒体測定装置。 （ａｌ 前記軸心と第１の基準位置との間の半径方向
距離である内周面基準長さＳＸと前記内周面変位ｌｘと
の和ＳＸ＋Ｘによって軸心から内周面までの距離である
内周面半径ＲＸを演算すること、又は前記軸心と第２の
基準位置との間の半径方向距離である外周面基準長さｓ
ｙと前記外周面変位ＩＹとの差ＳＹ−Ｙによって軸心か
ら外周面までの距離である外周面半径ＲＹを演算するこ
と、（ｂｌ 前記外周面半径ＲＹから、前記内周面半
径ＲＸを減じることにより円筒体の厚さＴ（＝ＲＹ−Ｒ
Ｘ）を演算すること、 ｆｃ） 前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小
な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ
＋１番目の前記内周面半径ＲＸｉ、ＲＸｉ＋１で微小円
弧を次式により演算しかつ積分することにより内周面の
円周長さである内周長ＣＸを演算すること、 又は前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小な一定
の角度ピッチΔｅごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１番
目の前記外周面半径ＲＹｉ、ＲＸｉ＋ｌで微小円弧を次
式により演算しかつ積分することにより外周面の円周長
さである外周長ＣＹを演算すること、 ＣＹ−ｆ（ＲＹ、ｓｉｎΔΘ）２÷（ＲＹ、−＋ −Ｒ
’ｉ、ｃｏｓΔΘ）２（ｄｌ 前記相対回転に際して
微小な一定の角度ピッチΔｅごとに順次えられる前記内
周面半径ＲＸｎの最大値ＲＸｍａｘと最小値ＲＸｍｉｎ
との差により内周面真円度ＥＸを演算すること、 又は前記相対回転に際して微小な一定の角度ピッチΔΘ
ごとに順次えられる前記外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹ
ｍａｘと最小値ＲＹｍｉｎとの差から外周面真円度ＥＹ
を演算すること、 （ｅ） 前記測定台の載置面と前記第３の基準位置ま
での円筒体軸心方向の距離である巾基準長さＳＺと前記
巾変位１ｚの差５Ｚ−Ｚにより前記円筒体の巾Ｗを演算
すること。 ５ 前記演算手段は、厚さＴの規格値である厚さ規格値
ＮＴ、内周面半径ＲＸ又は外周面半径ＲＹの規格値であ
る内周面半径規格値ＮＲＸ又は外周面半径規格値ＮＲＹ
、内周長ＣＸの規格値である内周長規格値Ｎ ＣＸ又は
外周長ＣＹの規格値である外周長規格値ＮＣＹ、内周面
真円度ＥＸの規格値である内周面真円度規格値ＮＥＸ又
は外周面真円度ＥＹの規格値である外周面真円度規格値
ＮＥＹ、巾Ｗの規格値である巾規格値ＮＷとを記憶する
とともに、測定によりえられた厚さＴ、内周面半径ＲＸ
又は外周面半径ＲＹ、内周長ＣＸ又は外周長ＣＹ、内周
面真円度ＥＸ又は外周面真円度ＥＹ、巾Ｗを、夫々厚さ
規格値ＮＴ、内周面半径規格値ＮＳＸ又は外周面半径規
格値ＮＳＹ、内周長規格値ＮＣＸ又は外周長規格値ＮＣ
Ｙ、内周面真円度規格値ＮＥＸ又は外周面規格値ＮＥＹ
、巾規格値ＮＷと比較して、その各測定値が各規格値か
ら外れるとき警報することを特徴とする請求項４記戦の
円筒体測定装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 円筒体を載置するとともに該円筒体を所定位置に軸
心を合わせるセンタリング手段を具えた測定台と、第１
の基準位置から前記円筒体の内周面までの半径方向距離
である内周面変位量Ｘを測定する非接触式の第１のセン
サと第２の基準位置から前記円筒体の外周面までの半径
方向距離である外周面変位量Ｙを測定する非接触式の第
２のセンサとの内の一方のセンサと、前記円筒体とセン
サとを前記円筒体の軸心廻りに相対回転する回転手段と
を具えるとともに、以下の演算を行う演算手段を含んで
なる円筒体測定装置。 （ａ）第１のセンサを用いるときにおいて前記軸心と第
１の基準位置との間の半径方向距離である内周面基準長
さＳＸと前記内周面変位量Ｘのと和ＳＸ＋Ｘによって軸
心から内周面までの距離である内周面半径ＲＸを演算す
ること、 第２のセンサを用いるときにおいて前記軸心と第２の基
準位置との間の半径方向距離である外周面基準長さＳＹ
と前記外周面変位量Ｙとの差ＳＹ−Ｙによって軸心から
外周面までの距離である外周面半径ＲＹを演算すること
、 （ｂ）第１のセンサを用いるときにおいて前記相対回転
に際して全周をｎ等分した微小な一定の角度ピッチΔΘ
ごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１番目の前記内周面半
径ＲＸｉ、ＲＸｉ＋１で微小円弧を次式により演算しか
つ積分することにより内周面の円周長さである内周長Ｃ
Ｘを演算すること、▲数式、化学式、表等があります▼ 第２のセンサを用いるときにおいて、前記相対回転に際
して全周をｎ等分した微小な一定の角度ピッチΔΘごと
に順次えられるｉ番目とｉ＋１番目の前記外周面半径Ｒ
Ｙｉ、ＲＹｉ＋１で微小円弧を次式により演算しかつ積
分することにより外周面の長さである外周長ＣＹを演算
すること、▲数式、化学式、表等があります▼ （ｃ）第１のセンサを用いるときにおいて、前記相対回
転に際して微小な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えら
れる前記内周面半径ＲＸｉの最大値ＲＸｍａｘと最小値
ＲＸｍｉｎとの差により内周面真円度ＥＸを演算するこ
と、 第２のセンサを用いるときにおいて、前記相対回転に際
して微小な一定の角度ピッチΔΘごとに順次えられる前
記外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹｍａｘと最小値ＲＹｍ
ｉｎとの差から外周面真円度ＥＹを演算すること。 ２ 円筒体を載置するとともに該円筒体を所定位置に軸
心を合わせるセンタリング手段を具えた測定台と、第１
の基準位置から前記円筒体の内周面までの半径方向距離
である内周面変位量Ｘを測定する非接触式の第１のセン
サと、第２の基準位置から前記円筒体の外周面までの半
径方向距離である外周面変位量Ｙを測定する非接触式の
第２のセンサと、前記円筒体と、第１、第２のセンサと
を前記円筒体の軸心廻りに相対回転する回転手段とを具
えるとともに、以下の演算を行う演算手段を含んでなる
円筒体測定装置。 （ａ）前記軸心と第１の基準位置との間の半径方向距離
である内周面基準長さＳＸと前記内周面変位蓋Ｘのと和
ＳＸ＋Ｘによって軸心から内周面までの距離である内周
面半径ＲＸを演算すること、又は前記軸心と第２の基準
位置との間の半径方向距離である外周面基準長さＳＹと
前記外周面変位量Ｙとの差ＳＹ−Ｙによって軸心から外
周面までの距離である外周面半径ＲＹを演算すること、 （ｂ）前記外周面半径ＲＹから、前記内周面半径ＲＸを
減じることにより円筒体の厚さＴ（＝ＲＹ−ＲＸ）を演
算すること、 （ｃ）前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小な一
定の角度ピッチΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１
番目の前記内周面半径ＲＸｉ、ＲＸｉ＋１で微小円弧を
次式により演算しかつ積分することにより内周面の円周
長さである内周長ＣＸを演算すること、 ▲数式、化学式、表等があります▼ 又は前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小な一定
の角度ピッチΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１番
目の前記外周面半径ＲＹｉ、ＲＹｉ＋１で微小円弧を次
式により演算しかつ積分することにより外周面の長さで
ある外周長ＣＹを演算すること、 ▲数式、化学式、表等があります▼ （ｄ）前記相対回転に際して微小な一定の角度ピッチΔ
Θごとに順次えられる前記内周面半径ＲＸｉの最大値Ｒ
Ｘｍａｘと最小値ＲＸｍｉｎとの差により内周面真円度
ＥＸを演算すること、 又は前記相対回転に際して微小な一定の角度ピッチΔΘ
ごとに順次えられる前記外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹ
ｍａｘと最小値ＲＹｍｉｎとの差から外周面真円度ＥＹ
を演算すること。 ３ 前記演算手段は、厚さＴの規格値である厚さ規格値
ＮＴ、内周面半径ＲＸ又は外周面半径ＲＹの規格値であ
る内周面半径規格値ＮＲＸ又は外周面半径規格値ＮＲＹ
、内周長ＣＸの規格値である内周長規格値ＮＣＸ又は外
周長ＣＹの規格値である外周長規格値ＮＣＹ、内周面真
円度ＥＸの規格値である内周面真円度規格値ＮＥＸ又は
外周面真円度ＥＹの規格値である外周面真円度規格値Ｎ
ＥＹとを記憶するとともに、測定によりえられた厚さＴ
、内周面半径ＲＸ又は外周面半径ＲＹ、内周長ＣＸ又は
外周長ＣＹ、内周面真円度ＥＸ又は外周面真円度ＥＹを
、夫々厚さ規格値ＮＴ、内周面半径規格値ＮＳＸ又は外
周面半径規格値ＮＳＹ、内周長規格値ＮＣＸ又は外周長
規格値ＮＣＹ、内周面真円度規格値ＮＥＸ又は外周面規
格値ＮＥＹと比較して、その各測定値の一つが各規格値
から外れるとき警報することを特徴とする請求項２記載
の円筒体測定装置。 ４ 円筒体を載置するとともに該円筒体を所定位置に軸
心を合わせるセンタリング手段を具えた測定台と、第１
の基準位置から前記円筒体の内周面までの半径方向距離
である内周面変位量Ｘを測定する非接触式の第１のセン
サと、第２の基準位置から前記円筒体の外周面までの半
径方向距離である外周面変位量Ｙを測定する非接触式の
第２のセンサと、第３の基準位置から前記円筒体の端面
までの軸心方向の距離である巾変位量Ｚを測定する非接
触式の第３のセンサと、前記円筒体と、第１、第２、第
３のセンサとを前記円筒体の軸心廻りに相対回転する回
転手段とを具えるとともに、以下の演算を行う演算手段
を含んでなる円筒体測定装置。 （ａ）前記軸心と第１の基準位置との間の半径方向距離
である内周面基準長さＳＸと前記内周面変位量Ｘのと和
ＳＸ＋Ｘによって軸心から内周面までの距離である内周
面半径ＲＸを演算すること、又は前記軸心と第２の基準
位置との間の半径方向距離である外周面基準長さＳＹと
前記外周面変位量Ｙとの差ＳＹ−Ｙによって軸心から外
周面までの距離である外周面半径ＲＹを演算すること、 （ｂ）前記外周面半径ＲＹから、前記内周面半径ＲＸを
減じることにより円筒体の厚さＴ（＝ＲＹ−ＲＸ）を演
算すること、 （ｃ）前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小な一
定の角度ピッチΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１
番目の前記内周面半径ＲＸｉ、ＲＸｉ＋１で微小円弧を
次式により演算しかつ積分することにより内周面の円周
長さである内周長ＣＸを演算すること、 ▲数式、化学式、表等があります▼ 又は前記相対回転に際して全周をｎ等分した微小な一定
の角度ピッチΔΘごとに順次えられるｉ番目とｉ＋１番
目の前記外周面半径ＲＹｉ、ＲＸｉ＋１で微小円弧を次
式により演算しかつ積分することにより外周面の円周長
さである外周長ＣＹを演算すること、 ▲数式、化学式、表等があります▼ （ｄ）前記相対回転に際して微小な一定の角度ピッチΔ
Θごとに順次えられる前記内周面半径ＲＸｎの最大値Ｒ
Ｘｍａｘと最小値ＲＸｍｉｎとの差により内周面真円度
ＥＸを演算すること、 又は前記相対回転に際して微小な一定の角度ピッチΔΘ
ごとに順次えられる前記外周面半径ＲＹｉの最大値ＲＹ
ｍａｘと最小値ＲＹｍｉｎとの差から外周面真円度ＥＹ
を演算すること、 （ｅ）前記測定台の載置面と前記第３の基準位置までの
円筒体軸心方向の距離である巾基準長さＳＺと前記巾変
位量Ｚの差ＳＺ−Ｚにより前記円筒体の巾Ｗを演算する
こと。 ５ 前記演算手段は、厚さＴの規格値である厚さ規格値
ＮＴ、内周面半径ＲＸ又は外周面半径ＲＹの規格値であ
る内周面半径規格値ＮＲＸ又は外周面半径規格値ＮＲＹ
、内周長ＣＸの規格値である内周長規格値ＮＣＸ又は外
周長ＣＹの規格値である外周長規格値ＮＣＹ、内周面真
円度ＥＸの規格値である内周面真円度規格値ＮＥＸ又は
外周面真円度ＥＹの規格値である外周面真円度規格値Ｎ
ＥＹ、巾Ｗの規格値である巾規格値ＮＷとを記憶すると
ともに、測定によりえられた厚さＴ、内周面半径ＲＸ又
は外周面半径ＲＹ、内周長ＣＸ又は外周長ＣＹ、内周面
真円度ＥＸ又は外周面真円度ＥＹ、巾Ｗを、夫々厚さ規
格値ＮＴ、内周面半径規格値ＮＳＸ又は外周面半径規格
値ＮＳＹ、内周長規格値ＮＣＸ又は外周長規格値ＮＣＹ
、内周面真円度規格値ＮＥＸ又は外周面規格値ＮＥＹ、
巾規格値ＮＷと比較して、その各測定値が各規格値から
外れるとき警報することを特徴とする請求項４記載の円
筒体測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006288A JPH01195309A (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 円筒体測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP2006288A JPH01195309A (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 円筒体測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01195309A true JPH01195309A (ja) | 1989-08-07 |
Family
ID=12016599
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2006288A Pending JPH01195309A (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 円筒体測定装置 |
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