JPS60142201A - 薄肉円環の直径測定装置 - Google Patents
薄肉円環の直径測定装置Info
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- JPS60142201A JPS60142201A JP24730783A JP24730783A JPS60142201A JP S60142201 A JPS60142201 A JP S60142201A JP 24730783 A JP24730783 A JP 24730783A JP 24730783 A JP24730783 A JP 24730783A JP S60142201 A JPS60142201 A JP S60142201A
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- measuring
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/20—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring contours or curvatures
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B5/08—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring diameters
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、玉軸受などの量産工程におけるマツチング
に適する薄肉円環の直径測定装置に関する○ 従来技術 玉軸受の量産工程においては、内輪と外輪の軌道寸法を
計測し、所望の隙間値を与える最適寸法のボールを選択
するマツチング工程が不可欠とされている。このため、
マツチング工程で内・外輪の軌道寸法を正しく計測する
ことは非常に重要であるが、内・外輪の肉厚が薄くなる
と加工後に歪が残ることが多くなるため、軌道寸法の計
測値は測定方向によって直径の値を異にし、具の値を定
めることが難しくなる。この不都合は、第１図に示す如
く真円の円柱体の一端に円錐台が形成された矯正治具Ａ
を、内輪や外輪などの被測定物Ｂの孔Ｏ内に挿通して歪
によって変形している被測定物Ｂを真円に矯正したのち
計測器りで計測することＫより解消することができる。
に適する薄肉円環の直径測定装置に関する○ 従来技術 玉軸受の量産工程においては、内輪と外輪の軌道寸法を
計測し、所望の隙間値を与える最適寸法のボールを選択
するマツチング工程が不可欠とされている。このため、
マツチング工程で内・外輪の軌道寸法を正しく計測する
ことは非常に重要であるが、内・外輪の肉厚が薄くなる
と加工後に歪が残ることが多くなるため、軌道寸法の計
測値は測定方向によって直径の値を異にし、具の値を定
めることが難しくなる。この不都合は、第１図に示す如
く真円の円柱体の一端に円錐台が形成された矯正治具Ａ
を、内輪や外輪などの被測定物Ｂの孔Ｏ内に挿通して歪
によって変形している被測定物Ｂを真円に矯正したのち
計測器りで計測することＫより解消することができる。
しかし、この矯正治具Ａを用いる場合には、作業性がき
わめて悪くなるだけでなく、矯正治具Ａによる被測定物
Ｂの寸法変化や、被測定物Ｂが矯正治具Ａの軸線と直角
をなす方向に矯正されない場合に新たな膜着を発生する
といった不都合があった。
わめて悪くなるだけでなく、矯正治具Ａによる被測定物
Ｂの寸法変化や、被測定物Ｂが矯正治具Ａの軸線と直角
をなす方向に矯正されない場合に新たな膜着を発生する
といった不都合があった。
目 的
この発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、被
測定物の歪を機械的に矯正することなく真の直径を容易
にめることができる薄肉円環の直径測定装置を提供する
ことにある。
測定物の歪を機械的に矯正することなく真の直径を容易
にめることができる薄肉円環の直径測定装置を提供する
ことにある。
構 成
この発明は、円環状被測定物を載置した状態に保持する
テーブルと、前記被測定物の同面側に計測部位を有する
計測手段、それも前記テーブルもしくは計測手段のいず
れか一方の回転によシ該回転するテーブルもしくは計測
手段の回転中心から前記被測定物の計測部位までの長さ
を被測定物の全１可に亘って測定し、その測定値を電気
信号に変換する計測手段と、前記テーブルもしくは計測
手段の回転角度を検出して電気信号に変換する角度検出
手段と、前記計測手段からの測定値入力と角度検出手段
からの検出値入力とから一定回転角度毎に分割して被測
定物の円弧長さをめ、その積算された被測定物の周長に
相当する円の直径を演算する演算器とからなっている。
テーブルと、前記被測定物の同面側に計測部位を有する
計測手段、それも前記テーブルもしくは計測手段のいず
れか一方の回転によシ該回転するテーブルもしくは計測
手段の回転中心から前記被測定物の計測部位までの長さ
を被測定物の全１可に亘って測定し、その測定値を電気
信号に変換する計測手段と、前記テーブルもしくは計測
手段の回転角度を検出して電気信号に変換する角度検出
手段と、前記計測手段からの測定値入力と角度検出手段
からの検出値入力とから一定回転角度毎に分割して被測
定物の円弧長さをめ、その積算された被測定物の周長に
相当する円の直径を演算する演算器とからなっている。
実施例
第２図は、この発明の測定原理を示したものである０歪
によって変形している円環状被測定物Ｗの周長りを、円
環内の一点０に対して一定の微小な角度Δθでｎ（整数
）分割し、任意の扇形分割片の半径をｒｌとすると、 Ｌ＝Σｒ１・Δθ （１） １＝１ 被測定物Ｗと同じ同長りを持つ円Ｗ′の直径をＤとすれ
ば、 Ｄ−’；ｉ＝’；４１ｒ １−Δθ １２）上式に Δ
θ＝ ” （ｒａｉｌ ）を代入すれば、今 ｎ＝３６
０ とすると（このとき、Δθ−π −（ｒａｄ） ＝ １° となる） 、（３）式は、８
０ となる。
によって変形している円環状被測定物Ｗの周長りを、円
環内の一点０に対して一定の微小な角度Δθでｎ（整数
）分割し、任意の扇形分割片の半径をｒｌとすると、 Ｌ＝Σｒ１・Δθ （１） １＝１ 被測定物Ｗと同じ同長りを持つ円Ｗ′の直径をＤとすれ
ば、 Ｄ−’；ｉ＝’；４１ｒ １−Δθ １２）上式に Δ
θ＝ ” （ｒａｉｌ ）を代入すれば、今 ｎ＝３６
０ とすると（このとき、Δθ−π −（ｒａｄ） ＝ １° となる） 、（３）式は、８
０ となる。
被測定物Ｗが半径ｒの円であり、前記中心Ｏが円の中心
と一致しているときは、ｒ ｊ、 −ｒＷ常数となるか
ら、（３）式は、 と々す、円の直径と一致する。
と一致しているときは、ｒ ｊ、 −ｒＷ常数となるか
ら、（３）式は、 と々す、円の直径と一致する。
（３）弐において、ｒｌを一定の基準半径Ｒとそれから
の変位量Ｘｊを用いてｒｉ−Ｒ＋ｘｌと表わすと、（３
）式は ｎ Ｄ＝−Σ （Ｒ＋Ｘ１） ｒ１１＝１ となる。
の変位量Ｘｊを用いてｒｉ−Ｒ＋ｘｌと表わすと、（３
）式は ｎ Ｄ＝−Σ （Ｒ＋Ｘ１） ｒ１１＝１ となる。
次に、上記測定原理に基づくこの発明の一実施例を第３
図以下について説明する。
図以下について説明する。
測定台１は垂直方向に設けられた軸受２，２の部分で、
回転テーブル３とネジ４その他によって一体に連結され
た軸５を回転自在に保持している。
回転テーブル３とネジ４その他によって一体に連結され
た軸５を回転自在に保持している。
回転テーブル３は、通常ＳＵＳまたはＭＯナイロン製で
、裏面側の環状凹溝６に装着されたマグネット７によシ
上面に載置される玉軸受の内輪や外輪などの被測定物８
を吸着し、軸５の下端部に連結されテーブル３の回転角
度を検出して設定角度毎にパルスを発生するエンコーダ
９とともに、プーリー１０．１１を介してモータ１２に
よシ回転される。測定台１には、回転される被測定物８
の軌道半径寸法を、回転テーブル３の回転中心０−〇か
ら基準半径Ｒだけ離れた円同面を中心とし・それからの
半径方向の変位量を電気信号として検出する変位センサ
ー１３が設けられている。
、裏面側の環状凹溝６に装着されたマグネット７によシ
上面に載置される玉軸受の内輪や外輪などの被測定物８
を吸着し、軸５の下端部に連結されテーブル３の回転角
度を検出して設定角度毎にパルスを発生するエンコーダ
９とともに、プーリー１０．１１を介してモータ１２に
よシ回転される。測定台１には、回転される被測定物８
の軌道半径寸法を、回転テーブル３の回転中心０−〇か
ら基準半径Ｒだけ離れた円同面を中心とし・それからの
半径方向の変位量を電気信号として検出する変位センサ
ー１３が設けられている。
変位センサー１３としては、被測定物８の計測部位に接
触してその半径方向の変位量を電気信号に変換する軽接
触用の差動トランスタイプのトランスデユーサが用いら
れるが、変位センサー１３は必ずしも被測定物８に接触
する必要はなく、渦電流式または容量式等のように非接
触タイプのセンサーを用いてもよい。
触してその半径方向の変位量を電気信号に変換する軽接
触用の差動トランスタイプのトランスデユーサが用いら
れるが、変位センサー１３は必ずしも被測定物８に接触
する必要はなく、渦電流式または容量式等のように非接
触タイプのセンサーを用いてもよい。
第４図はこの発明の装置全体の構成を示したものであっ
て、エンコーダ９はマイクロコンピュータのような演算
器１５のプリセットカウンタ回路１６に接続され、変位
センサー１３からの電気信号は、演算器１５で処理でき
るよう変換するＡ／Ｄ変換回路１４を通して演算器１５
のゲート回路１７に入力され、図示しないメモリ一部に
貯えられる０変位センサー１３とともに計測手段を構成
するη変換回路１４は、変位センサー１３からの基準半
径Ｒを零点とする正負方向の半径方向の変位量に相当す
る電気信号に基準半径Ｒに相当する電気信号を加えて正
の半径寸法の変位に換算する役割を果す。
て、エンコーダ９はマイクロコンピュータのような演算
器１５のプリセットカウンタ回路１６に接続され、変位
センサー１３からの電気信号は、演算器１５で処理でき
るよう変換するＡ／Ｄ変換回路１４を通して演算器１５
のゲート回路１７に入力され、図示しないメモリ一部に
貯えられる０変位センサー１３とともに計測手段を構成
するη変換回路１４は、変位センサー１３からの基準半
径Ｒを零点とする正負方向の半径方向の変位量に相当す
る電気信号に基準半径Ｒに相当する電気信号を加えて正
の半径寸法の変位に換算する役割を果す。
演算器１５は前記カウンタ回路１６、ゲート回路１７の
ほかに演算回路１８を備えていて、演算器１５に被測定
物８の周長分割数ｎが設定されると１プリセツト力ウン
タ回路１６は、エンコータ９から発生する回転パルス９
ａの個数が予め設定されだ周長分割数ｎ４Ｃ等しいカウ
ント数に達したときに、ゲート回路１７を閉じて変位セ
ンサー１３から被測定物８の半径司法についての余分な
情報が入力されるのを阻止するように構成されている。
ほかに演算回路１８を備えていて、演算器１５に被測定
物８の周長分割数ｎが設定されると１プリセツト力ウン
タ回路１６は、エンコータ９から発生する回転パルス９
ａの個数が予め設定されだ周長分割数ｎ４Ｃ等しいカウ
ント数に達したときに、ゲート回路１７を閉じて変位セ
ンサー１３から被測定物８の半径司法についての余分な
情報が入力されるのを阻止するように構成されている。
被測定物８が１回転する間に演算器１５内に貯えられた
ｎ個のデータは、前記（５）式に従って演算回路１８で
演算され、被測定物８の局長に相当する円の直径りが表
示回路１９に表示される。
ｎ個のデータは、前記（５）式に従って演算回路１８で
演算され、被測定物８の局長に相当する円の直径りが表
示回路１９に表示される。
次に上記実施例の動作について説明する。
先ず、基準半径只の真円の円板ゲージを回転テーブル３
に載置してその半径方向に向けられた変位センサー１３
の検出端を円板ゲージの円周面に当接し、回転テーブル
３を１回転させる間の変位センサー１３の最大振れと最
小振れを検出して差が最も小さくなるように円板ゲージ
を調整し、その平均値に変位セン号−１３の零点をセッ
トする。
に載置してその半径方向に向けられた変位センサー１３
の検出端を円板ゲージの円周面に当接し、回転テーブル
３を１回転させる間の変位センサー１３の最大振れと最
小振れを検出して差が最も小さくなるように円板ゲージ
を調整し、その平均値に変位セン号−１３の零点をセッ
トする。
このセット状態では、変位センサー１３の零点は、回転
テーブル３の回転中心Ｏから基準半径只の位置にあるこ
とを示す。上記零点のセットが終ると円板ゲージを回転
テーブル３から取り去り、円環状の被測定物８を見当で
その中心が回転テーブル３の回転中心Ｏに近接するよう
に回転テーブル３に載置して、変位センサー１３の検出
端を被測定物８の測定部位に当接させる。
テーブル３の回転中心Ｏから基準半径只の位置にあるこ
とを示す。上記零点のセットが終ると円板ゲージを回転
テーブル３から取り去り、円環状の被測定物８を見当で
その中心が回転テーブル３の回転中心Ｏに近接するよう
に回転テーブル３に載置して、変位センサー１３の検出
端を被測定物８の測定部位に当接させる。
次いで、演算器１５に周長分割数ｎを設定して回転テー
ブル３を回転させると、軸５に連結されたエンコーダ９
は、一定角度３６０°／ｎ毎に回転パルス９ａを発生す
る。エンコーダ９が回転パルス９ａを発生する都度、被
測定物８の半径寸法の変位を電気信号に変換する変位セ
ンサー１３からの各電気信号は、Ａ／Ｄ 変換回路１４
でコンピュータ処理ができるようにＡ／Ｄ変換されて・
演ｎ器１５のゲート回路１７を通して図示しないメモリ
一部に順次貯えられる。被測定物８の１回転によシ演算
器１５内にｎ個の半径寸法のデータが貯えられ、ゲート
回路１７がブリ９セツト力ウンタ回路１６によって閉じ
られると、演算器１５に予めプログラムされた前記（５
）式によシ、被測定物８の直径りが表示回路１９に表示
される。
ブル３を回転させると、軸５に連結されたエンコーダ９
は、一定角度３６０°／ｎ毎に回転パルス９ａを発生す
る。エンコーダ９が回転パルス９ａを発生する都度、被
測定物８の半径寸法の変位を電気信号に変換する変位セ
ンサー１３からの各電気信号は、Ａ／Ｄ 変換回路１４
でコンピュータ処理ができるようにＡ／Ｄ変換されて・
演ｎ器１５のゲート回路１７を通して図示しないメモリ
一部に順次貯えられる。被測定物８の１回転によシ演算
器１５内にｎ個の半径寸法のデータが貯えられ、ゲート
回路１７がブリ９セツト力ウンタ回路１６によって閉じ
られると、演算器１５に予めプログラムされた前記（５
）式によシ、被測定物８の直径りが表示回路１９に表示
される。
上記は円環状被測定物８の外径を測定する場合であるが
、変位センサー１３の検出端を被測定物８の内径部に当
接すれば、同じ操作手段によって内径がめられる。
、変位センサー１３の検出端を被測定物８の内径部に当
接すれば、同じ操作手段によって内径がめられる。
上述の方法によ請求めた玉軸受の内輪および外輪の軌道
底置径値をそれぞれＤｌ、Ｄｏとすれば、玉軸受のマツ
チングにおける最適ボールの寸法Ｂｄは、設定ラジアル
隙間６に対し、 １３ｄ＝１−（Ｄ ｏ −Ｄ １−ε）Ｋより、容易に
めることができる０ 第５［ｉｌ：、被測定物８の直径のシミュレーション結
果の一例を示したもので、ａは被測定円、ｂと０は周長
分割数がそれぞれｎｗ８．３６のときの演算結果である
。円グラフの最小目盛の単位は１μｍ・真円度〜１０μ
ｍ、被測定物８の測定中心の偏心〜２０μｍの条件のも
とての各ｎの値に対する分析結果は次表の通りである。
底置径値をそれぞれＤｌ、Ｄｏとすれば、玉軸受のマツ
チングにおける最適ボールの寸法Ｂｄは、設定ラジアル
隙間６に対し、 １３ｄ＝１−（Ｄ ｏ −Ｄ １−ε）Ｋより、容易に
めることができる０ 第５［ｉｌ：、被測定物８の直径のシミュレーション結
果の一例を示したもので、ａは被測定円、ｂと０は周長
分割数がそれぞれｎｗ８．３６のときの演算結果である
。円グラフの最小目盛の単位は１μｍ・真円度〜１０μ
ｍ、被測定物８の測定中心の偏心〜２０μｍの条件のも
とての各ｎの値に対する分析結果は次表の通りである。
上表からｎ＝３６０とした場合、精度は十分に向上する
と考えられる。
と考えられる。
この実施例の装置によれば、円環状の被測定物８が歪み
によって変形している場合にも、その歪みを機械的に矯
正することなしに、回転テーブル３と一体に回転する被
測定物８０局長を分割個数ｎに対してめることにより、
被測定物８の円の直径刀を定めることができる。直径刀
の演算精度は、演算器１５に設定する周長分割数ｎの値
を変えることにより、所定の精度に調整ｉＪ能である０
また、被測定物８の内径または外径の計測に際し、その
中心を回転テーブル３０回転中心に厳密に芯合せする必
要がないから、測定時にわずられしい手数がかからず、
薄肉玉軸受の最適マツチングを効率よく行うことができ
る。
によって変形している場合にも、その歪みを機械的に矯
正することなしに、回転テーブル３と一体に回転する被
測定物８０局長を分割個数ｎに対してめることにより、
被測定物８の円の直径刀を定めることができる。直径刀
の演算精度は、演算器１５に設定する周長分割数ｎの値
を変えることにより、所定の精度に調整ｉＪ能である０
また、被測定物８の内径または外径の計測に際し、その
中心を回転テーブル３０回転中心に厳密に芯合せする必
要がないから、測定時にわずられしい手数がかからず、
薄肉玉軸受の最適マツチングを効率よく行うことができ
る。
第６図は、この発明のもう一つの実施例の要部構成を示
すものであって、測定台１０１上に被測定物１０８をマ
グネジ）ＩＯ２により吸着固定し、測定台１０１上に設
けたアーム１０３の先端部に変位センサー１１３を前記
被測定物１０８の回りを回転できるように装着し、被？
ＩＩＩＪ定物１０８の半径方向の変位量が測定できるよ
うにしたものである。
すものであって、測定台１０１上に被測定物１０８をマ
グネジ）ＩＯ２により吸着固定し、測定台１０１上に設
けたアーム１０３の先端部に変位センサー１１３を前記
被測定物１０８の回りを回転できるように装着し、被？
ＩＩＩＪ定物１０８の半径方向の変位量が測定できるよ
うにしたものである。
１１０はエンコーダ１０９を内蔵したスピンドル駆動モ
ータ、１０２，１０２はモーフ１】０から延長したスピ
ンドル軸１０５を回転１１能に支持する軸受である。
ータ、１０２，１０２はモーフ１】０から延長したスピ
ンドル軸１０５を回転１１能に支持する軸受である。
スピンドル軸１０５の先端にはロッド１１５が・スライ
ド可能に取付けられており、ロッド１１５の先端に取付
けた変位センサ−１１３自体を半径方向に移動５Ｊ能に
している０１１６はロッド１１５をスピンドル軸１０５
に固定テるための固定用の止めネジである。なお、図示
していないＡ／Ｄ変換回路、演算器等の構成は第１実施
例の場合と同様である。
ド可能に取付けられており、ロッド１１５の先端に取付
けた変位センサ−１１３自体を半径方向に移動５Ｊ能に
している０１１６はロッド１１５をスピンドル軸１０５
に固定テるための固定用の止めネジである。なお、図示
していないＡ／Ｄ変換回路、演算器等の構成は第１実施
例の場合と同様である。
この実施例では変位センサ−１１３自体を回転させるよ
うにし、かつ変位センサー１１３を取付ケタロッド１１
６をスピンドル軸１０５に対しスライド可能としたので
、スピンドル軸１０５の回転中心からの基準半径只の調
整が自由に行え、被測定物１０８自体の大きさが異なる
ものにも適応が可能となる。
うにし、かつ変位センサー１１３を取付ケタロッド１１
６をスピンドル軸１０５に対しスライド可能としたので
、スピンドル軸１０５の回転中心からの基準半径只の調
整が自由に行え、被測定物１０８自体の大きさが異なる
ものにも適応が可能となる。
効 果
この発明は、円環状被測定物を保持するテーブルと、前
記テーブルもしくは計測手段のいずれか一方の回転によ
り該回転するテーブルもしくは計測手段の回転中心から
前記被測定物の計測部位までの長さを被測定物の全周に
亘って測定し、その測定値を電気信号に変換する計測手
段と、前記テーブルもしくは計測手段の回転角度を検出
して電気信号に変換する角度検出手段と、前記計測手段
からの計測値と角度検出手段からの定回転角度検出値と
から被測定物の周長をめその周長に相当する円の直径を
演算する演算器とからなるものであるから、被測定物の
歪みを治具を用いて機械的に矯正することなしに円の直
径をめ、薄肉玉軸受の最適マツチングを行うことができ
る。また、被測定物の円の直径をめる場合に１破測定物
の中心をテーブルまたは計測手段の回転中心に厳密に一
致させる必要がないから、手数がかからず、その上、矯
正治具を用いたときに発生し易かった寸法変化その他に
基因する直径の誤差をも解消することができる。
記テーブルもしくは計測手段のいずれか一方の回転によ
り該回転するテーブルもしくは計測手段の回転中心から
前記被測定物の計測部位までの長さを被測定物の全周に
亘って測定し、その測定値を電気信号に変換する計測手
段と、前記テーブルもしくは計測手段の回転角度を検出
して電気信号に変換する角度検出手段と、前記計測手段
からの計測値と角度検出手段からの定回転角度検出値と
から被測定物の周長をめその周長に相当する円の直径を
演算する演算器とからなるものであるから、被測定物の
歪みを治具を用いて機械的に矯正することなしに円の直
径をめ、薄肉玉軸受の最適マツチングを行うことができ
る。また、被測定物の円の直径をめる場合に１破測定物
の中心をテーブルまたは計測手段の回転中心に厳密に一
致させる必要がないから、手数がかからず、その上、矯
正治具を用いたときに発生し易かった寸法変化その他に
基因する直径の誤差をも解消することができる。
第１図は従来の一実施例を示す斜面図、第２図はこの発
明の測定原理を示す説明図、第３図はこの発明の要部構
成の縦断面図、第４図はこの発明の構成全体を示すブロ
ック図、第５図ｄ、シミュレーション結果の一例を示す
円グラフ、第６図は他の実施例を示す要部構成の縦断面
図である。 ３・・・テーブル、８・・・被測定物、計測手段：（１
３・・・変位センサー、１４・・・Ａ／Ｄ変換回路）、
１５・・・演ｎ器、Ｄ・・・被測定物の円の直径、０・
・・回転中心、割数）
明の測定原理を示す説明図、第３図はこの発明の要部構
成の縦断面図、第４図はこの発明の構成全体を示すブロ
ック図、第５図ｄ、シミュレーション結果の一例を示す
円グラフ、第６図は他の実施例を示す要部構成の縦断面
図である。 ３・・・テーブル、８・・・被測定物、計測手段：（１
３・・・変位センサー、１４・・・Ａ／Ｄ変換回路）、
１５・・・演ｎ器、Ｄ・・・被測定物の円の直径、０・
・・回転中心、割数）
Claims (2)
- （１）円環状被測定物を載置した状態に保持するテーブ
ルと、前記被測定物の局面側に計測部位を有する計測手
段、それも前記テーブルもし、くは計測手段のいずれか
一方の回転により該回転するテーブルもしくは計測手段
の回転中心から前記被測定物の計測部位までの長さを被
測定物の全１ｉ’ｉｌに亘って測定し、その測定値を電
気信号に変換するｎ［測子段と、前記テーブルもしくは
計測手段の回転角度を検出して電気信号に変換する角度
検出手段と、前記計測手段からの測定値入力と角度検出
手段からの検出値入力とから一定回転角度毎に分割して
被測定物の円弧長さをめ、その積算された被測定物の周
長忙相当する円の直径を演算する演算器とからなること
を特徴とする薄肉円環の直径測定装置 - （２）円環状被測定物を載置した状態に保持するテーブ
ルが回転し、計測手段が前記テーブルの回転中心から披
測定物囚面側の計測部位までの長さを被測定物の全周に
亘って測定する特許請求の範囲第１項記載の薄肉円環の
直径測定装置（３）計測手段が円環状被測定物を載置し
た状態に保持するテーブル上を回転し、該計測手段の回
転中心から被測定物１閏面側の計測部位までの長さを被
測定物の全局に亘って測定する特許請求の範囲第１項記
載の薄肉円環の直径測定装置（４）計測手段が設定され
た基準半径からの変位を検出して電気信号に変換する変
位センサーと、この変位センサーからの変位入力に基準
半径忙相当する電気信号を付加する回路とからなる特許
請求の範囲第１項記載の薄肉円環の直径測定装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24730783A JPS60142201A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 薄肉円環の直径測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24730783A JPS60142201A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 薄肉円環の直径測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60142201A true JPS60142201A (ja) | 1985-07-27 |
Family
ID=17161462
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24730783A Pending JPS60142201A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 薄肉円環の直径測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60142201A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01267405A (ja) * | 1988-04-19 | 1989-10-25 | Sanko Senzai Kogyo Kk | 環状部品の多項目同時測定装置 |
| JP2006337164A (ja) * | 2005-06-01 | 2006-12-14 | Toyota Motor Corp | 摺動面形状測定方法 |
| JP2010266413A (ja) * | 2009-05-18 | 2010-11-25 | Mitsutoyo Corp | 形状測定装置、その校正方法、及び校正プログラム |
| JP2012032227A (ja) * | 2010-07-29 | 2012-02-16 | Nsk Ltd | 薄肉リング状ワークの寸法測定方法 |
| CN104976946A (zh) * | 2015-07-24 | 2015-10-14 | 天津市广山津达机械有限责任公司 | 一种定子测量架 |
| CN107401967A (zh) * | 2017-09-07 | 2017-11-28 | 重庆青山工业有限责任公司 | 一种测量工件纵向盲孔中纵向环状凸台直径的装置 |
| JP2022075431A (ja) * | 2020-11-06 | 2022-05-18 | 株式会社フジテクノ | リングギアの内径測定装置とこの内径測定方法及びその矯正方法 |
Citations (1)
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|---|---|---|---|---|
| JPS559132A (en) * | 1978-07-07 | 1980-01-23 | Nippon Seiko Kk | Method of detecting angular error at measuring needle point in measuring circle or arc, etc. |
-
1983
- 1983-12-29 JP JP24730783A patent/JPS60142201A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS559132A (en) * | 1978-07-07 | 1980-01-23 | Nippon Seiko Kk | Method of detecting angular error at measuring needle point in measuring circle or arc, etc. |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN107401967B (zh) * | 2017-09-07 | 2023-08-04 | 重庆青山工业有限责任公司 | 一种测量工件纵向盲孔中纵向环状凸台直径的装置 |
| JP2022075431A (ja) * | 2020-11-06 | 2022-05-18 | 株式会社フジテクノ | リングギアの内径測定装置とこの内径測定方法及びその矯正方法 |
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