JPH1041437A - 樹脂モールド型半導体装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】電子装置を小型化、軽量化および薄膜化できる
樹脂モールド型半導体装置を提供すること。 【解決手段】支持導体1上に薄膜コンデンサとなる誘電
体薄膜6を固着し、この誘電体薄膜6上にシリコンチッ
プ3の裏面電極となる裏面蒸着膜5が固着され、シリコ
ンチップ1上の電極パッド4は外部導出端子2とボンデ
ィングワイヤ7で接続され、全体を図のように樹脂8で
モールドす。この構成とすることで、占有面積の大きい
コンデンサが半導体チップの支持体となり、平面的な広
がりを小さくできる。さらに、コンデンサを薄膜とする
ことで電子装置全体を小型化、軽量化および薄膜化でき
る。
樹脂モールド型半導体装置を提供すること。 【解決手段】支持導体1上に薄膜コンデンサとなる誘電
体薄膜6を固着し、この誘電体薄膜6上にシリコンチッ
プ3の裏面電極となる裏面蒸着膜5が固着され、シリコ
ンチップ1上の電極パッド4は外部導出端子2とボンデ
ィングワイヤ7で接続され、全体を図のように樹脂8で
モールドす。この構成とすることで、占有面積の大きい
コンデンサが半導体チップの支持体となり、平面的な広
がりを小さくできる。さらに、コンデンサを薄膜とする
ことで電子装置全体を小型化、軽量化および薄膜化でき
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はICなどの半導体
チップからなる能動素子とコンデンサなどの受動素子と
を収納した樹脂モールド型半導体装置に関する。
チップからなる能動素子とコンデンサなどの受動素子と
を収納した樹脂モールド型半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の電子装置はシリコンチップなどの
半導体チップを樹脂モールドパッケージなどに収納した
能動素子とチップ化された抵抗、コイル、コンデンサな
どの受動素子とをプリント基板上もしくはセラミック基
板上に外付け実装する所謂ハイブリッド型が一般的であ
る。図4に従来の樹脂モールド型半導体装置の要部構成
図を示す。支持導体1にシリコンチップ3が搭載され、
シリコンチップ3と外部導出端子2(リード端子)とは
ボンディングワイヤ7で接続され、全体は樹脂8でモー
ルドされた構造となっている。この樹脂モールド型半導
体装置などの能動素子とコンデンサなどの受動素子をプ
リント基板に搭載して電子装置が完成する。近年、この
電子装置の小型化、軽量化および薄膜化に対する要求お
よび実装コストの低減化に対する要求が強い。
半導体チップを樹脂モールドパッケージなどに収納した
能動素子とチップ化された抵抗、コイル、コンデンサな
どの受動素子とをプリント基板上もしくはセラミック基
板上に外付け実装する所謂ハイブリッド型が一般的であ
る。図4に従来の樹脂モールド型半導体装置の要部構成
図を示す。支持導体1にシリコンチップ3が搭載され、
シリコンチップ3と外部導出端子2(リード端子)とは
ボンディングワイヤ7で接続され、全体は樹脂8でモー
ルドされた構造となっている。この樹脂モールド型半導
体装置などの能動素子とコンデンサなどの受動素子をプ
リント基板に搭載して電子装置が完成する。近年、この
電子装置の小型化、軽量化および薄膜化に対する要求お
よび実装コストの低減化に対する要求が強い。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】それらの要求を満足さ
せるためには、従来外付けされていた受動素子の素子点
数を低減する必要があり、そのために、その一部を能動
素子が収納されたパッケージの中に取り込むことが必要
となる。しかし、単にそれらの受動素子を平面的にパッ
ケージの中に取り込むだけでは、占有面積の低減にはな
らず、電子装置の小型化、軽量化、薄膜化には差程寄与
しない。
せるためには、従来外付けされていた受動素子の素子点
数を低減する必要があり、そのために、その一部を能動
素子が収納されたパッケージの中に取り込むことが必要
となる。しかし、単にそれらの受動素子を平面的にパッ
ケージの中に取り込むだけでは、占有面積の低減にはな
らず、電子装置の小型化、軽量化、薄膜化には差程寄与
しない。
【0004】この発明の目的は、前記の課題を解決し
て、電子装置の小型化、軽量化および薄膜化に寄与し、
且つ低コスト化が図れる樹脂モールド型半導体装置を提
供することにある。
て、電子装置の小型化、軽量化および薄膜化に寄与し、
且つ低コスト化が図れる樹脂モールド型半導体装置を提
供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、半導体チップおよび受動素子が支持導体に固着さ
れ、収納された樹脂モールド半導体装置において、支持
導体と半導体チップ間に誘電体薄膜を挟み、この誘電体
薄膜の両面を支持導体と半導体チップとに固着する構成
とする。
めに、半導体チップおよび受動素子が支持導体に固着さ
れ、収納された樹脂モールド半導体装置において、支持
導体と半導体チップ間に誘電体薄膜を挟み、この誘電体
薄膜の両面を支持導体と半導体チップとに固着する構成
とする。
【0006】また前記の誘電体薄膜と半導体チップとが
ダイアタッチ剤もしくは低融点金属で固着するとよい。
前記の誘電体薄膜で薄膜コンデンサを形成する。前記の
構成とすることで、占有面積の大きいコンデンサが半導
体チップの支持体となり、平面的な広がりを小さくでき
る。さらに、コンデンサを薄膜とすることで電子装置全
体を小型化、軽量化および薄膜化できる。
ダイアタッチ剤もしくは低融点金属で固着するとよい。
前記の誘電体薄膜で薄膜コンデンサを形成する。前記の
構成とすることで、占有面積の大きいコンデンサが半導
体チップの支持体となり、平面的な広がりを小さくでき
る。さらに、コンデンサを薄膜とすることで電子装置全
体を小型化、軽量化および薄膜化できる。
【0007】
【発明の実施の形態】図1はこの発明の一実施例で要部
断面図を示す。支持導体1上に薄膜コンデンサとなる誘
電体薄膜6を固着し、この誘電体薄膜6上にシリコンチ
ップ3の裏面電極となる裏面蒸着膜5が固着され、シリ
コンチップ1上の電極パッド4は外部導出端子2とボン
ディングワイヤ7で接続され、全体が図のように樹脂8
でモールドされる。尚、支持導体1と外部導出端子2は
リードフレームにおいてメインフレームとインナーリー
ドといわれるものである。また請求項1ないし3で表現
した半導体チップとは裏面蒸着膜を含んおり、請求項2
で表現した誘電体薄膜はその上に被覆した金属膜も含ん
でいる。
断面図を示す。支持導体1上に薄膜コンデンサとなる誘
電体薄膜6を固着し、この誘電体薄膜6上にシリコンチ
ップ3の裏面電極となる裏面蒸着膜5が固着され、シリ
コンチップ1上の電極パッド4は外部導出端子2とボン
ディングワイヤ7で接続され、全体が図のように樹脂8
でモールドされる。尚、支持導体1と外部導出端子2は
リードフレームにおいてメインフレームとインナーリー
ドといわれるものである。また請求項1ないし3で表現
した半導体チップとは裏面蒸着膜を含んおり、請求項2
で表現した誘電体薄膜はその上に被覆した金属膜も含ん
でいる。
【0008】図2はこの発明の樹脂モールド型半導体装
置の製造工程で、順に同図(a)から同図(f)は工程
図を示す。同図(a)において、42Niアロイ板10
(Feベース42%Ni合金板 厚み=0.15mm)
に薄くAgメッキを施し、その一方の表面に薄膜コンデ
ンサを形成するための誘電体薄膜6を形成する。誘電体
薄膜6は酢酸鉛とタンタルペンタエトキシドと酢酸スカ
ンジウムの混合溶液をAgメッキした42Niアロイ板
10上にスピンナーで回転塗布した後、600〜700
℃で焼成して形成され、その誘電体薄膜6の厚さは0.
5μmで、組成はPb(Sc0.5 Ta0.5 )O3 であ
る。同図(b)において、0.5μm厚のPb(Sc
0.5 Ta0.5 )O3 薄膜を選択的にエッチングして薄膜
コンデンサを構成する誘電体薄膜6となる。エッチャン
トとしては混酸(HF:HNO3 :CH3 COOH=
1:1:10)を用いた。同図(c)において、通常の
フォトエッチングにより42Niアロイ板10を誘電体
薄膜6が被着している支持導体1と誘電体薄膜が被着し
ていない外部導出端子2とに分離するためにエッチング
により切断加工する。このときのエッチャントとしては
塩化第二鉄水溶液を用いる。その後、プラズマ洗浄を行
い、誘電体薄膜6表面と支持導体1および外部導出端子
2の各表面を清浄にする。このプラズマ洗浄の条件は、
プラズマ出力;500W,プラズマ処理時間;180s
ec,ガス成分;Ar+10%H2 ,ガス流量;300
sccmである。同図(d)において、Ti/Ni/A
gの3層の裏面蒸着膜5が形成されたシリコンチップ3
をBi17%添加のSn−Pbはんだ箔を介して支持導
体1上に形成された誘電体薄膜6上に配置し、170
℃,N2雰囲気でリフローし、裏面蒸着膜5と誘電体薄
膜6とをはんだ付けする。同図(e)において、シリコ
ンチップ3表面に形成された図示されていない電極パッ
ドと外部導出端子2間とをアルミ線や金線などのボンデ
ィングワイヤ7で接続する。必要に応じて、シリコンチ
ップ3の電極パッドと誘電体薄膜6で形成された薄膜コ
ンデンサ端子と接続したり、また支持導体1と外部導出
端子2とを接続したりする。同図(f)において、外部
導出端子の一部を露出させ全体を樹脂8でモールドす
る。シリコンチップ3の発熱量が多いときには支持導体
1の裏面を樹脂8から露出させ、冷却体にネジなどで固
着する場合もある。
置の製造工程で、順に同図(a)から同図(f)は工程
図を示す。同図(a)において、42Niアロイ板10
(Feベース42%Ni合金板 厚み=0.15mm)
に薄くAgメッキを施し、その一方の表面に薄膜コンデ
ンサを形成するための誘電体薄膜6を形成する。誘電体
薄膜6は酢酸鉛とタンタルペンタエトキシドと酢酸スカ
ンジウムの混合溶液をAgメッキした42Niアロイ板
10上にスピンナーで回転塗布した後、600〜700
℃で焼成して形成され、その誘電体薄膜6の厚さは0.
5μmで、組成はPb(Sc0.5 Ta0.5 )O3 であ
る。同図(b)において、0.5μm厚のPb(Sc
0.5 Ta0.5 )O3 薄膜を選択的にエッチングして薄膜
コンデンサを構成する誘電体薄膜6となる。エッチャン
トとしては混酸(HF:HNO3 :CH3 COOH=
1:1:10)を用いた。同図(c)において、通常の
フォトエッチングにより42Niアロイ板10を誘電体
薄膜6が被着している支持導体1と誘電体薄膜が被着し
ていない外部導出端子2とに分離するためにエッチング
により切断加工する。このときのエッチャントとしては
塩化第二鉄水溶液を用いる。その後、プラズマ洗浄を行
い、誘電体薄膜6表面と支持導体1および外部導出端子
2の各表面を清浄にする。このプラズマ洗浄の条件は、
プラズマ出力;500W,プラズマ処理時間;180s
ec,ガス成分;Ar+10%H2 ,ガス流量;300
sccmである。同図(d)において、Ti/Ni/A
gの3層の裏面蒸着膜5が形成されたシリコンチップ3
をBi17%添加のSn−Pbはんだ箔を介して支持導
体1上に形成された誘電体薄膜6上に配置し、170
℃,N2雰囲気でリフローし、裏面蒸着膜5と誘電体薄
膜6とをはんだ付けする。同図(e)において、シリコ
ンチップ3表面に形成された図示されていない電極パッ
ドと外部導出端子2間とをアルミ線や金線などのボンデ
ィングワイヤ7で接続する。必要に応じて、シリコンチ
ップ3の電極パッドと誘電体薄膜6で形成された薄膜コ
ンデンサ端子と接続したり、また支持導体1と外部導出
端子2とを接続したりする。同図(f)において、外部
導出端子の一部を露出させ全体を樹脂8でモールドす
る。シリコンチップ3の発熱量が多いときには支持導体
1の裏面を樹脂8から露出させ、冷却体にネジなどで固
着する場合もある。
【0009】この実施例では薄膜コンデンサとなる誘電
体薄膜6とシリコンチップ3との固着ははんだで行った
が、同図(b)の後で、薄膜コンデンサとなる誘電体薄
膜6の表面に薄膜コンデンサの電極となる金属膜(例え
ばNi/Ag)を蒸着し加工した後、シリコンチップ3
とこの金属膜面とを通常用いられてるダイアタッチ剤
(絶縁性樹脂接着剤)で固着しても構わない。但し、そ
の場合は金属膜面と外部導出端子とはアルミ線や金線な
どでワイヤボンディングする必要がある。
体薄膜6とシリコンチップ3との固着ははんだで行った
が、同図(b)の後で、薄膜コンデンサとなる誘電体薄
膜6の表面に薄膜コンデンサの電極となる金属膜(例え
ばNi/Ag)を蒸着し加工した後、シリコンチップ3
とこの金属膜面とを通常用いられてるダイアタッチ剤
(絶縁性樹脂接着剤)で固着しても構わない。但し、そ
の場合は金属膜面と外部導出端子とはアルミ線や金線な
どでワイヤボンディングする必要がある。
【0010】図3はこの発明をDC−DCコンバータに
適用した適用例で、同図(a)は降圧型DC−DCコン
バータの構成図、同図(b)は昇圧型DC−DCコンバ
ータの構成図である。図3において、ICは集積回路,
SWはスイッチング回路,Diはダイオード,Lはコイ
ル,Cはコンデンサである。通常は、個別に樹脂等でモ
ールドされた能動素子(IC,Di)や受動素子(L,
C)をプリント基板に構成してDC−DCコンバータを
製作する。また場合によっては、点線内の回路を構成す
る素子をシリコンチップやその表面に形成して、コンデ
ンサのみ外付けする場合もある。いずれの場合もコンデ
ンサは基本的に大きくしようとすると占有面積が大きく
なる。このコンデンサを個別の能動素子(IC,Di)
のシリコンチップの裏面に固着したり、または点線内の
能動素子をシリコンチップ内に形成し、点線内の受動素
子をシリコンチップ上に形成し、そのシリコンチップの
裏面にコンデンサを固着すればコンデンサが占有する面
積をシリコンチップが占有する面積と重ねることがで
き、DC−DCコンバータを小型化できる。またコンデ
ンサの電極はシリコンチップの裏面電極(裏面蒸着膜)
および支持導体と兼ねているためコンデンサ単独での電
極は不要になり軽量化を図ることができる。またコンデ
ンサを薄膜化することで、DC−DCコンバータを薄膜
化できる。さらにこれらを達成することで低コスト化も
同時に図ることができる。尚、シリコンチップ内にIC
回路、SW回路やダイオードを内蔵する場合は分離領域
が設けられることが多い。
適用した適用例で、同図(a)は降圧型DC−DCコン
バータの構成図、同図(b)は昇圧型DC−DCコンバ
ータの構成図である。図3において、ICは集積回路,
SWはスイッチング回路,Diはダイオード,Lはコイ
ル,Cはコンデンサである。通常は、個別に樹脂等でモ
ールドされた能動素子(IC,Di)や受動素子(L,
C)をプリント基板に構成してDC−DCコンバータを
製作する。また場合によっては、点線内の回路を構成す
る素子をシリコンチップやその表面に形成して、コンデ
ンサのみ外付けする場合もある。いずれの場合もコンデ
ンサは基本的に大きくしようとすると占有面積が大きく
なる。このコンデンサを個別の能動素子(IC,Di)
のシリコンチップの裏面に固着したり、または点線内の
能動素子をシリコンチップ内に形成し、点線内の受動素
子をシリコンチップ上に形成し、そのシリコンチップの
裏面にコンデンサを固着すればコンデンサが占有する面
積をシリコンチップが占有する面積と重ねることがで
き、DC−DCコンバータを小型化できる。またコンデ
ンサの電極はシリコンチップの裏面電極(裏面蒸着膜)
および支持導体と兼ねているためコンデンサ単独での電
極は不要になり軽量化を図ることができる。またコンデ
ンサを薄膜化することで、DC−DCコンバータを薄膜
化できる。さらにこれらを達成することで低コスト化も
同時に図ることができる。尚、シリコンチップ内にIC
回路、SW回路やダイオードを内蔵する場合は分離領域
が設けられることが多い。
【0011】
【発明の効果】この発明によれば、DC−DCコンバー
タなどの電子装置において、大きな面積を占めるコンデ
ンサを薄膜で形成し、且つ半導体チップと重ねること
で、電子装置の小型化、軽量化および薄膜化を図り、か
つ低コスト化も同時に図ることができる。
タなどの電子装置において、大きな面積を占めるコンデ
ンサを薄膜で形成し、且つ半導体チップと重ねること
で、電子装置の小型化、軽量化および薄膜化を図り、か
つ低コスト化も同時に図ることができる。
【図1】この発明の一実施例で要部断面図
【図2】この発明の樹脂モールド型半導体装置の製造工
程で、(a)から(f)は工程図
程で、(a)から(f)は工程図
【図3】この発明をDC−DCコンバータに適用した適
用例で、(a)は降圧型DC−DCコンバータの構成
図、(b)は昇圧型DC−DCコンバータの構成図
用例で、(a)は降圧型DC−DCコンバータの構成
図、(b)は昇圧型DC−DCコンバータの構成図
【図4】従来の樹脂モールド型半導体装置の要部構成図
1 支持導体 2 外部導出端子 3 シリコンチップ 4 電極パッド 5 裏面蒸着膜 6 誘電体薄膜(薄膜コンデンサ) 7 ボンディングワイヤ 8 樹脂 10 42Niアロイ板
Claims (4)
- 【請求項1】半導体チップおよび受動素子が支持導体に
固着され、収納された樹脂モールド半導体装置におい
て、支持導体と半導体チップ間に挟まれて両面が固着さ
れた誘電体薄膜を有することを特徴とする樹脂モールド
型半導体装置。 - 【請求項2】支持導体と一方の表面が固着された誘電体
薄膜の他表面がダイアタッチ剤で半導体チップと固着さ
れることを特徴とする請求項1記載の樹脂モールド型半
導体装置。 - 【請求項3】支持導体と一方の表面が固着された誘電体
薄膜の他表面が低融点金属を介して半導体チップと固着
されるこを特徴とする請求項1記載の樹脂モールド型半
導体装置。 - 【請求項4】誘電体薄膜で薄膜コンデンサが形成される
ことを特徴とする請求項1記載の樹脂モールド型半導体
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8196811A JPH1041437A (ja) | 1996-07-26 | 1996-07-26 | 樹脂モールド型半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8196811A JPH1041437A (ja) | 1996-07-26 | 1996-07-26 | 樹脂モールド型半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1041437A true JPH1041437A (ja) | 1998-02-13 |
Family
ID=16364055
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8196811A Pending JPH1041437A (ja) | 1996-07-26 | 1996-07-26 | 樹脂モールド型半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1041437A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009521276A (ja) * | 2005-12-22 | 2009-06-04 | プロテウス バイオメディカル インコーポレイテッド | 植え込み型集積回路 |
-
1996
- 1996-07-26 JP JP8196811A patent/JPH1041437A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009521276A (ja) * | 2005-12-22 | 2009-06-04 | プロテウス バイオメディカル インコーポレイテッド | 植え込み型集積回路 |
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