JPH1031619A - キャッシュメモリ制御装置 - Google Patents
キャッシュメモリ制御装置Info
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- JPH1031619A JPH1031619A JP8185932A JP18593296A JPH1031619A JP H1031619 A JPH1031619 A JP H1031619A JP 8185932 A JP8185932 A JP 8185932A JP 18593296 A JP18593296 A JP 18593296A JP H1031619 A JPH1031619 A JP H1031619A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/08—Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/88—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring with partially good memories
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C15/00—Digital stores in which information comprising one or more characteristic parts is written into the store and in which information is read-out by searching for one or more of these characteristic parts, i.e. associative or content-addressed stores
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
- G06F11/1064—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices in cache or content addressable memories
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- Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 キャッシュメモリの一部であるタグメモリに
故障が存在したときに、キャッシュメモリの整合性を保
ち、キャッシュアクセス動作の継続を可能にする。 【解決手段】 キャッシュメモリ制御装置内部にタグメ
モリ4内に不正データが存在するか否かを示すフラグレ
ジスタ3と、フラグレジスタ3の内容に応じてタグアド
レス4に対するアドレスを生成するデコーダ5と、デー
タ処理装置からのアドレス情報102とタグメモリ4か
らのタグアドレス情報106を比較する比較器6と、タ
グメモリ4内のタグアドレス情報106が不正データか
否かを検出する検出器7と、タグアドレス情報106に
不正データがあると検出された時、フラグレジスタ3を
セットする無効化処理部を有することにより、メモリセ
ル等の故障により不正データが発生した場合、デコーダ
5でタグメモリ4の未使用領域アドレスを指定すること
が可能となる。これによりキャッシュの整合性および動
作の継続性が保たれる。
故障が存在したときに、キャッシュメモリの整合性を保
ち、キャッシュアクセス動作の継続を可能にする。 【解決手段】 キャッシュメモリ制御装置内部にタグメ
モリ4内に不正データが存在するか否かを示すフラグレ
ジスタ3と、フラグレジスタ3の内容に応じてタグアド
レス4に対するアドレスを生成するデコーダ5と、デー
タ処理装置からのアドレス情報102とタグメモリ4か
らのタグアドレス情報106を比較する比較器6と、タ
グメモリ4内のタグアドレス情報106が不正データか
否かを検出する検出器7と、タグアドレス情報106に
不正データがあると検出された時、フラグレジスタ3を
セットする無効化処理部を有することにより、メモリセ
ル等の故障により不正データが発生した場合、デコーダ
5でタグメモリ4の未使用領域アドレスを指定すること
が可能となる。これによりキャッシュの整合性および動
作の継続性が保たれる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、キャッシュメモリ
制御装置に関する。
制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】キャッシュメモリはメインメモリの内容
の一部を一時的に保持格納するものであり、一つ以上の
データワードの多くのブロックから構成されている。各
ブロックには、それがメインメモリのどのブロックのコ
ピーであるかを一意に識別するアドレスタグが関連付け
られている。データ処理装置がメモリ参照を行うごと
に、キャッシュはアドレスタグの比較を行って要求され
たデータのコピーがあるかを調べる。コピーがあればそ
のデータを供給する。コピーがなければ、メインメモリ
から対応するブロックを検索して、キャッシュメモリに
格納されているブロックの一つを置き換えてから、該当
するデータをデータ処理装置に供給する。
の一部を一時的に保持格納するものであり、一つ以上の
データワードの多くのブロックから構成されている。各
ブロックには、それがメインメモリのどのブロックのコ
ピーであるかを一意に識別するアドレスタグが関連付け
られている。データ処理装置がメモリ参照を行うごと
に、キャッシュはアドレスタグの比較を行って要求され
たデータのコピーがあるかを調べる。コピーがあればそ
のデータを供給する。コピーがなければ、メインメモリ
から対応するブロックを検索して、キャッシュメモリに
格納されているブロックの一つを置き換えてから、該当
するデータをデータ処理装置に供給する。
【0003】近来、キャッシュメモリの大容量化に伴
い、メモリセル等の故障が無視できなくなってきてい
る。そのため従来この種のキャッシュメモリは特開昭5
9−207080号公報に示されるようにパリティビッ
トやECC(Error Check and Cor
rect)コード等の冗長ビットを付加することによ
り、メモリセルの故障に対処している。
い、メモリセル等の故障が無視できなくなってきてい
る。そのため従来この種のキャッシュメモリは特開昭5
9−207080号公報に示されるようにパリティビッ
トやECC(Error Check and Cor
rect)コード等の冗長ビットを付加することによ
り、メモリセルの故障に対処している。
【0004】図5に示すように、従来のこの種のキャッ
シュメモリ制御装置21はタグメモリ17、データメモ
リ10、比較器20、検出器18、無効化処理部19を
備えている。
シュメモリ制御装置21はタグメモリ17、データメモ
リ10、比較器20、検出器18、無効化処理部19を
備えている。
【0005】データ処理装置1から送られてくるアドレ
ス情報101とパリティビット124はキャッシュメモ
リ17内のアドレスレジスタ2にセットされる。タグメ
モリ17から読みだされたタグアドレス情報106とア
ドレスレジスタ2にセットされたアドレス情報102
は、比較器20に入力される。比較器20ではアドレス
レジスタ2から送出されるアドレス情報102とタグメ
モリ17から送出されるタグアドレス情報106との比
較を行う。比較結果が一致する場合一致信号121を比
較器20において発生する。この一致信号20をブロッ
クアクセス制御部8により判断し、比較器20によりア
ドレス一致が検出されないキャッシュミスの場合アドレ
ス情報113をメインメモリ11に送出する。そこで、
ブロックリードが起動され、タグメモリ17へのアドレ
スデータ格納とメインメモリ11からのデータのデータ
メモリ10への格納が行われる。また、比較器20によ
ってアドレス一致が検出されたキャッシュヒット状態で
は、検出器18によりタグメモリ17から送出されるパ
リティビット情報107とアドレスレジスタ2から送出
されるパリティビット125とが比較される。もし、パ
リティビット情報107とパリティビット125が一致
したならばキャッシュヒットとなり、データメモリ10
をアクセスする。もし、パリティビット情報107とパ
リティビット125が一致しない場合、タグメモリ17
内に不正データがあることを示している。この場合ブロ
ックアクセス制御装置8は通常のキャッシュミスと同様
の処理を行う。さらに無効化処理部19は不正データの
存在するタグメモリ17内の該当ブロックのバリッドビ
ットをセットし無効化する。これにより不正データの原
因が回復性故障で再度この該当ブロックをアクセスした
時、故障が回復していた場合、該当ブロックのバリット
ビットをチェックすることによりキャッシュミスを発生
させ、整合を保つことができる。
ス情報101とパリティビット124はキャッシュメモ
リ17内のアドレスレジスタ2にセットされる。タグメ
モリ17から読みだされたタグアドレス情報106とア
ドレスレジスタ2にセットされたアドレス情報102
は、比較器20に入力される。比較器20ではアドレス
レジスタ2から送出されるアドレス情報102とタグメ
モリ17から送出されるタグアドレス情報106との比
較を行う。比較結果が一致する場合一致信号121を比
較器20において発生する。この一致信号20をブロッ
クアクセス制御部8により判断し、比較器20によりア
ドレス一致が検出されないキャッシュミスの場合アドレ
ス情報113をメインメモリ11に送出する。そこで、
ブロックリードが起動され、タグメモリ17へのアドレ
スデータ格納とメインメモリ11からのデータのデータ
メモリ10への格納が行われる。また、比較器20によ
ってアドレス一致が検出されたキャッシュヒット状態で
は、検出器18によりタグメモリ17から送出されるパ
リティビット情報107とアドレスレジスタ2から送出
されるパリティビット125とが比較される。もし、パ
リティビット情報107とパリティビット125が一致
したならばキャッシュヒットとなり、データメモリ10
をアクセスする。もし、パリティビット情報107とパ
リティビット125が一致しない場合、タグメモリ17
内に不正データがあることを示している。この場合ブロ
ックアクセス制御装置8は通常のキャッシュミスと同様
の処理を行う。さらに無効化処理部19は不正データの
存在するタグメモリ17内の該当ブロックのバリッドビ
ットをセットし無効化する。これにより不正データの原
因が回復性故障で再度この該当ブロックをアクセスした
時、故障が回復していた場合、該当ブロックのバリット
ビットをチェックすることによりキャッシュミスを発生
させ、整合を保つことができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】近年、キャッシュメモ
リのラインサイズを変更可能な機能を有しているデータ
処理装置が出現してきている。これは、環境に適したラ
インサイズに設定することにより、システムの効率を高
めようというものである。例としてキャッシュメモリの
データ長を128ビット、ラインサイズを4ワード、8
ワードに設定可能な時を考える。まずラインサイズが4
ワードの場合はキャッシュメモリの構成は図6のように
なる。この時タグメモリへのアドレス信号はデータメモ
リと全く同様に接続すればよい。次にラインサイズが8
ワードの場合、キャッシュメモリの構成は図7のように
なる。タグメモリ内のタグ1はデータメモリ内のデータ
1、データ2の双方に対して有効である。ここでライン
サイズが4ワードの場合にタグ2としてアドレス情報を
保持格納していた領域は未使用となる。タグ4について
も同様である。このように従来のこの種のキャッシュメ
モリはラインサイズの変更に伴いタグメモリ内に未使用
領域が存在するという欠点がある。
リのラインサイズを変更可能な機能を有しているデータ
処理装置が出現してきている。これは、環境に適したラ
インサイズに設定することにより、システムの効率を高
めようというものである。例としてキャッシュメモリの
データ長を128ビット、ラインサイズを4ワード、8
ワードに設定可能な時を考える。まずラインサイズが4
ワードの場合はキャッシュメモリの構成は図6のように
なる。この時タグメモリへのアドレス信号はデータメモ
リと全く同様に接続すればよい。次にラインサイズが8
ワードの場合、キャッシュメモリの構成は図7のように
なる。タグメモリ内のタグ1はデータメモリ内のデータ
1、データ2の双方に対して有効である。ここでライン
サイズが4ワードの場合にタグ2としてアドレス情報を
保持格納していた領域は未使用となる。タグ4について
も同様である。このように従来のこの種のキャッシュメ
モリはラインサイズの変更に伴いタグメモリ内に未使用
領域が存在するという欠点がある。
【0007】したがって、本発明の目的は、ラインサイ
ズの変更に対処してタグメモリ内の未使用領域を有効活
用したキャッシュメモリ制御装置を提供することにあ
る。
ズの変更に対処してタグメモリ内の未使用領域を有効活
用したキャッシュメモリ制御装置を提供することにあ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明による制御装置
は、データ処理装置とメインメモリの間におかれるキャ
ッシュメモリの制御装置として、当該キャッシュメモリ
制御装置内部に、前記メインメモリ内のデータの一部を
格納するためのデータメモリと、前記データメモリと前
記メインメモリに対するアドレス情報を格納するための
タグメモリと、前記タグメモリ内に不正データが存在す
るか否かを示す情報を保持するための保持手段と、前記
データ処理装置からのアドレス情報とタグメモリ内部の
アドレス情報を比較するための比較手段と、タグメモリ
内のアドレス情報に不正データが存在するか否かを判断
するための検出手段と、前記検出手段の結果に応じて前
記保持手段にデータを格納するための格納手段と、前記
レジスタの内容に応じてタグメモリに対するアドレスを
生成するための手段とを有している。
は、データ処理装置とメインメモリの間におかれるキャ
ッシュメモリの制御装置として、当該キャッシュメモリ
制御装置内部に、前記メインメモリ内のデータの一部を
格納するためのデータメモリと、前記データメモリと前
記メインメモリに対するアドレス情報を格納するための
タグメモリと、前記タグメモリ内に不正データが存在す
るか否かを示す情報を保持するための保持手段と、前記
データ処理装置からのアドレス情報とタグメモリ内部の
アドレス情報を比較するための比較手段と、タグメモリ
内のアドレス情報に不正データが存在するか否かを判断
するための検出手段と、前記検出手段の結果に応じて前
記保持手段にデータを格納するための格納手段と、前記
レジスタの内容に応じてタグメモリに対するアドレスを
生成するための手段とを有している。
【0009】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
て図面を参照して説明する。
【0010】図1は本発明の一実施例を示すキャッシュ
メモリ制御装置の構成図である。図1に示されるよう
に、本実施例はキャッシュメモリ制御装置12の内部に
タグメモリ4とデータメモリ10とアドレスレジスタ2
とフラグレジスタ3とデコーダ5と比較器6と検出器7
と無効化処理部9とブロックアクセス制御部8とを有し
ている。アドレスレジスタ2はデータ処理装置1からの
キャッシュアクセス時のアドレス101を保持する。フ
ラグレジスタ3はタグメモリ4の各ブロックに対応した
ビットより成り、アドレスレジスタ2から送出されるア
ドレス情報102と無効化処理部9から送出されるフラ
グセット信号111により該当するビットがセットされ
る。デコーダ5はアドレスレジスタ2から送出されるア
ドレス情報102とフラグレジスタ3から送出されるマ
スク信号104をデコードしタグメモリへのアドレス信
号105を生成する。比較器6はアドレスレジスタ2か
ら送出されるアドレス情報102とタグメモリから送出
されるタグアドレス情報106とを比較し、一致したか
否かを一致信号108によって検出器7とブロックアク
セス制御部8とデータメモリ10に通知する。検出器7
は比較器6での比較結果が一致した場合タグメモリ4か
ら送出されるタグアドレス情報106のパリティビット
を生成し、タグメモリ4から送出されるタグパリティビ
ット107と比較する。無効化処理部9は検出器7から
送出される不正データ信号109によりフラグレジスタ
3の該当ビットをセットする。ここで、キャッシュメモ
リのラインサイズが4ワードと8ワードの2種類に設定
可能で、データメモリのバス幅が4ワードの場合を考え
る。ラインサイズが4ワードの時は、図6に示すように
タグメモリおよびデータメモリが1対1に対応している
ため、タグメモリには未使用領域は存在しない。またラ
インサイズが8ワードの時は、タグメモリ内のタグ1は
データメモリ内のデータ1、データ2の双方に対して有
効である。ここでラインサイズが4ワードの場合にタグ
2としてアドレス情報を保持格納していた領域は未使用
となる。タグ4についても同様である。
メモリ制御装置の構成図である。図1に示されるよう
に、本実施例はキャッシュメモリ制御装置12の内部に
タグメモリ4とデータメモリ10とアドレスレジスタ2
とフラグレジスタ3とデコーダ5と比較器6と検出器7
と無効化処理部9とブロックアクセス制御部8とを有し
ている。アドレスレジスタ2はデータ処理装置1からの
キャッシュアクセス時のアドレス101を保持する。フ
ラグレジスタ3はタグメモリ4の各ブロックに対応した
ビットより成り、アドレスレジスタ2から送出されるア
ドレス情報102と無効化処理部9から送出されるフラ
グセット信号111により該当するビットがセットされ
る。デコーダ5はアドレスレジスタ2から送出されるア
ドレス情報102とフラグレジスタ3から送出されるマ
スク信号104をデコードしタグメモリへのアドレス信
号105を生成する。比較器6はアドレスレジスタ2か
ら送出されるアドレス情報102とタグメモリから送出
されるタグアドレス情報106とを比較し、一致したか
否かを一致信号108によって検出器7とブロックアク
セス制御部8とデータメモリ10に通知する。検出器7
は比較器6での比較結果が一致した場合タグメモリ4か
ら送出されるタグアドレス情報106のパリティビット
を生成し、タグメモリ4から送出されるタグパリティビ
ット107と比較する。無効化処理部9は検出器7から
送出される不正データ信号109によりフラグレジスタ
3の該当ビットをセットする。ここで、キャッシュメモ
リのラインサイズが4ワードと8ワードの2種類に設定
可能で、データメモリのバス幅が4ワードの場合を考え
る。ラインサイズが4ワードの時は、図6に示すように
タグメモリおよびデータメモリが1対1に対応している
ため、タグメモリには未使用領域は存在しない。またラ
インサイズが8ワードの時は、タグメモリ内のタグ1は
データメモリ内のデータ1、データ2の双方に対して有
効である。ここでラインサイズが4ワードの場合にタグ
2としてアドレス情報を保持格納していた領域は未使用
となる。タグ4についても同様である。
【0011】次にラインサイズが8ワードの場合の動作
を説明する。図2は本実施例のキャッシュメモリ制御装
置12の詳細図である。キャッシュアクセスが発生する
とデータ処理装置1からのアドレス情報101がアドレ
スレジスタ2に格納される。いまフラグレジスタ3の各
ビットはクリアされているものとする。アドレスレジス
タ2から送出されるアドレス情報102がタグメモリ4
のタグ3及びタグ4の位置を示している場合、フラグレ
ジスタ3からはf3及びf4の値がフラグ信号121,
122によりデコーダ5に送出される。ここでf3及び
f4はクリア状態であるためAND素子51の出力12
3はロウレベルとなる。これがタグメモリ4へのアドレ
ス信号105の最下位ビットとなる。アドレス信号10
5の上位はアドレスレジスタ2から送出されるアドレス
情報102を使用する。このようにフラグレジスタ3が
クリアされている、すなわちタグメモリ4の内容に不正
データが存在しないときはタグメモリ4のタグn*2+
1(nは整数)を指定するようにアドレス信号105が
処理される。比較器6にはアドレスレジスタ2から送出
されるアドレス情報102とタグメモリ4からタグアド
レス106を介してタグ3が入力され比較される。もし
比較結果が不一致ならば一致信号108はロウレベルと
なる。このとき無効化処理部から送出されるキャッシュ
ヒット信号110とフラグセット信号111はともにロ
ウレベルとなり、キャッシュアクセスがミスヒットと判
断され、ブロックアクセス制御部によりメインメモリへ
のアクセス動作に移る。またこのときフラグレジスタ3
はセットされない。もし比較結果が一致したならば一致
信号108はハイレベルとなる。さらに検出器7におい
てパリティ生成回路71によりタグアドレス情報106
のパリティ122が生成され、タグメモリ4から送出さ
れるタグパリティ信号107と比較される。もし比較結
果が一致したならば、無効化処理部から送出されるキャ
ッシュヒット信号110がハイレベル、フラグセット信
号111がロウレベルとなる。すなわちタグメモリ4の
内容に不正データは存在しないと判断され、キャッシュ
ヒットとして動作を継続する。次にもし検出器7の比較
結果が不一致ならば無効化処理部から送出されるキャッ
シュヒット信号110がロウレベル、フラグセット信号
111がハイレベルとなる。このときキャッシュミスヒ
ットとなりメインメモリへのアクセス動作へと移り、さ
らにタグメモリ4内に不正データが存在することを現し
ている。フラグセット信号111がハイレベルの時、ア
ドレス情報2とAND素子51の出力123とで指定さ
れるフラグレジスタ3の該当ビットf3が1にセットさ
れる。
を説明する。図2は本実施例のキャッシュメモリ制御装
置12の詳細図である。キャッシュアクセスが発生する
とデータ処理装置1からのアドレス情報101がアドレ
スレジスタ2に格納される。いまフラグレジスタ3の各
ビットはクリアされているものとする。アドレスレジス
タ2から送出されるアドレス情報102がタグメモリ4
のタグ3及びタグ4の位置を示している場合、フラグレ
ジスタ3からはf3及びf4の値がフラグ信号121,
122によりデコーダ5に送出される。ここでf3及び
f4はクリア状態であるためAND素子51の出力12
3はロウレベルとなる。これがタグメモリ4へのアドレ
ス信号105の最下位ビットとなる。アドレス信号10
5の上位はアドレスレジスタ2から送出されるアドレス
情報102を使用する。このようにフラグレジスタ3が
クリアされている、すなわちタグメモリ4の内容に不正
データが存在しないときはタグメモリ4のタグn*2+
1(nは整数)を指定するようにアドレス信号105が
処理される。比較器6にはアドレスレジスタ2から送出
されるアドレス情報102とタグメモリ4からタグアド
レス106を介してタグ3が入力され比較される。もし
比較結果が不一致ならば一致信号108はロウレベルと
なる。このとき無効化処理部から送出されるキャッシュ
ヒット信号110とフラグセット信号111はともにロ
ウレベルとなり、キャッシュアクセスがミスヒットと判
断され、ブロックアクセス制御部によりメインメモリへ
のアクセス動作に移る。またこのときフラグレジスタ3
はセットされない。もし比較結果が一致したならば一致
信号108はハイレベルとなる。さらに検出器7におい
てパリティ生成回路71によりタグアドレス情報106
のパリティ122が生成され、タグメモリ4から送出さ
れるタグパリティ信号107と比較される。もし比較結
果が一致したならば、無効化処理部から送出されるキャ
ッシュヒット信号110がハイレベル、フラグセット信
号111がロウレベルとなる。すなわちタグメモリ4の
内容に不正データは存在しないと判断され、キャッシュ
ヒットとして動作を継続する。次にもし検出器7の比較
結果が不一致ならば無効化処理部から送出されるキャッ
シュヒット信号110がロウレベル、フラグセット信号
111がハイレベルとなる。このときキャッシュミスヒ
ットとなりメインメモリへのアクセス動作へと移り、さ
らにタグメモリ4内に不正データが存在することを現し
ている。フラグセット信号111がハイレベルの時、ア
ドレス情報2とAND素子51の出力123とで指定さ
れるフラグレジスタ3の該当ビットf3が1にセットさ
れる。
【0012】次に、再びタグメモリ4内のタグ3及びタ
グ4へのキャッシュアクセスが発生したとする。アドレ
スレジスタ2から送出されるアドレス情報102により
フラグレジスタ3から送出されるマスク信号121,1
22はそれぞれハイレベルとロウレベルになる。デコー
ダ5ではマスク信号121とマスク信号122からタグ
メモリ4へのアドレスの最下位ビット123を生成し、
ハイレベルとなる。つまりメモリセル等の不具合により
不正データが存在すると前回判断されたタグ3ではなく
未使用領域であったタグ4へのアドレス指定を行うこと
になる。もちろんこの場合、比較器6での比較結果は一
致しないことは周知であり、ミスヒット動作へと移行す
る。
グ4へのキャッシュアクセスが発生したとする。アドレ
スレジスタ2から送出されるアドレス情報102により
フラグレジスタ3から送出されるマスク信号121,1
22はそれぞれハイレベルとロウレベルになる。デコー
ダ5ではマスク信号121とマスク信号122からタグ
メモリ4へのアドレスの最下位ビット123を生成し、
ハイレベルとなる。つまりメモリセル等の不具合により
不正データが存在すると前回判断されたタグ3ではなく
未使用領域であったタグ4へのアドレス指定を行うこと
になる。もちろんこの場合、比較器6での比較結果は一
致しないことは周知であり、ミスヒット動作へと移行す
る。
【0013】上述したように本実施例のキャッシュメモ
リ制御装置はタグメモリ内に不具合が存在し、本来キャ
ッシュヒットすべきでないのにキャッシュヒットしたと
き、故障が存在する領域と未使用領域との入れ替えが可
能となる。
リ制御装置はタグメモリ内に不具合が存在し、本来キャ
ッシュヒットすべきでないのにキャッシュヒットしたと
き、故障が存在する領域と未使用領域との入れ替えが可
能となる。
【0014】次に、本発明の他の実施例について図面を
参照して説明する。
参照して説明する。
【0015】図3は本発明の他の実施例を示すキャッシ
ュメモリ制御装置の構成図である。図3に示されるよう
に、本実施例はキャッシュメモリ制御装置13の内部に
タグメモリ4とデータメモリ10とアドレスレジスタ2
とフラグレジスタ3とデコーダ5とアドレス加算器14
と比較器6と検出器15と無効化処理部16とブロック
アクセス制御部8とを有している。第1の実施例との相
違点はアドレス加算器14と検出器15と無効化処理部
16である。アドレス加算器14はブロックリード時に
タグメモリ4へのアドレス制御をする。検出器15は比
較器6での比較結果が一致した場合タグメモリ4から送
出されるタグアドレス情報106のパリティビットを生
成し、タグメモリ4から送出されるタグパリティビット
107と比較する。またタグメモリ4から送出されるタ
グアドレス情報106とアドレス加算器116の出力に
応じて送出されるその他のタグアドレス情報120とを
比較する。無効化処理部16は検出器15から送出され
る不正データ信号109によりフラグレジスタ3の該当
ビットをセットする。
ュメモリ制御装置の構成図である。図3に示されるよう
に、本実施例はキャッシュメモリ制御装置13の内部に
タグメモリ4とデータメモリ10とアドレスレジスタ2
とフラグレジスタ3とデコーダ5とアドレス加算器14
と比較器6と検出器15と無効化処理部16とブロック
アクセス制御部8とを有している。第1の実施例との相
違点はアドレス加算器14と検出器15と無効化処理部
16である。アドレス加算器14はブロックリード時に
タグメモリ4へのアドレス制御をする。検出器15は比
較器6での比較結果が一致した場合タグメモリ4から送
出されるタグアドレス情報106のパリティビットを生
成し、タグメモリ4から送出されるタグパリティビット
107と比較する。またタグメモリ4から送出されるタ
グアドレス情報106とアドレス加算器116の出力に
応じて送出されるその他のタグアドレス情報120とを
比較する。無効化処理部16は検出器15から送出され
る不正データ信号109によりフラグレジスタ3の該当
ビットをセットする。
【0016】ここで、第1の実施例と同様キャッシュメ
モリのラインサイズが4ワードと8ワードの2種類に設
定可能で、データメモリのバス幅が4ワードの場合を考
える。ラインサイズが4ワードの時は、図6に示すよう
にタグメモリおよびデータメモリが1対1に対応してい
るため、タグメモリには未使用領域は存在しない。また
ラインサイズが8ワードの時は、タグメモリ内のタグ1
はデータメモリ内のデータ1、データ2の双方に対して
有効である。ここでラインサイズが4ワードの場合にタ
グ2としてアドレス情報を保持格納していた領域は未使
用となる。タグ4についても同様である。
モリのラインサイズが4ワードと8ワードの2種類に設
定可能で、データメモリのバス幅が4ワードの場合を考
える。ラインサイズが4ワードの時は、図6に示すよう
にタグメモリおよびデータメモリが1対1に対応してい
るため、タグメモリには未使用領域は存在しない。また
ラインサイズが8ワードの時は、タグメモリ内のタグ1
はデータメモリ内のデータ1、データ2の双方に対して
有効である。ここでラインサイズが4ワードの場合にタ
グ2としてアドレス情報を保持格納していた領域は未使
用となる。タグ4についても同様である。
【0017】次にラインサイズが8ワードの場合の動作
を説明する。図4は本実施例のキャッシュメモリ制御装
置13の詳細図である。キャッシュアクセスが発生する
とデータ処理装置1からのアドレス情報101がアドレ
スレジスタ2に格納される。いまフラグレジスタ3の各
ビットはクリアされているものとする。アドレスレジス
タ2から送出されるアドレス情報102がタグメモリ4
のタグ3及びタグ4の位置を示している場合、フラグレ
ジスタ3からはf3及びf4の値がフラグ信号121,
122によりデコーダ5に送出される。ここでf3及び
f4はクリア状態であるためAND素子51の出力12
3はロウレベルとなる。アドレス加算器14はクロック
に同期して入力信号を反転させる。これがタグメモリ4
への最下位アドレス信号116となる。アドレス信号1
05の上位はアドレスレジスタ2から送出されるアドレ
ス情報102を使用する。このようにフラグレジスタ3
がクリアされている、すなわちタグメモリ4の内容に不
正データが存在しないときはタグメモリ4のタグn*2
+1(nは整数)を指定するようにアドレス信号105
が処理される。比較器6にはアドレスレジスタ2から送
出されるアドレス情報102とタグメモリ4からタグア
ドレス106を介してタグ3が入力され比較される。も
し比較結果が不一致ならば一致信号108はロウレベル
となる。このとき無効化処理部から送出されるキャッシ
ュヒット信号110とフラグセット信号111はともに
ロウレベルとなり、キャッシュアクセスがミスヒットと
判断され、ブロックアクセス制御部によりメインメモリ
へのアクセス動作に移る。またこのときフラグレジスタ
3はセットされない。ここでブロックリード時、メイン
メモリからのデータをタグ情報とともにデータメモリ1
0、タグメモリ4に格納するわけであるが、タグメモリ
4へのアドレスをアドレス加算器で制御することによ
り、従来未使用領域であったタグ4にタグ3と同一デー
タを格納する。もし比較結果が一致したならば一致信号
108はハイレベルとなる。さらに検出器15において
パリティ生成回路71によりタグアドレス情報106の
パリティ122が生成され、タグメモリ4から送出され
るタグパリティ信号107と比較器72で比較される。
さらに、アドレス加算器14によりタグメモリ4へのア
ドレスが加算されタグ4がタグメモリ4より送出され
る。このタグアドレス情報120とタグアドレス情報1
06とが比較器73で比較される。比較器73での比較
結果が一致かつ比較器72での比較結果が一致していた
ならば無効化処理部16への入力信号117,118は
ともにハイレベルとなり、キャッシュヒット信号110
がハイレベル、フラグセット信号111がロウレベルと
なる。この場合、タグ3は不正データでないことにな
り、キャッシュヒットとしてデータメモリ10をアクセ
スする。もし比較器73の比較結果が一致しない場合は
比較信号118がロウレベルとなり無効化処理部111
から送出されるキャッシュヒット信号110はロウレベ
ルとなる。すなわちキャッシュミスとなる。この時、比
較器72での比較結果が一致していれば、無効化処理部
16はフラグセット信号111をロウレベルにしタグメ
モリ4内のタグ3には不正データが存在しないことを、
比較結果が一致していなければ、無効化処理部16はフ
ラグセット信号111をハイレベルにしタグメモリ4内
のタグ3に不正データが存在していることを示す。フラ
グセット信号111がハイレベルの時、アドレス情報2
とAND素子51の出力123とで指定されるフラグレ
ジスタ3の該当ビットf3が1にセットされる。
を説明する。図4は本実施例のキャッシュメモリ制御装
置13の詳細図である。キャッシュアクセスが発生する
とデータ処理装置1からのアドレス情報101がアドレ
スレジスタ2に格納される。いまフラグレジスタ3の各
ビットはクリアされているものとする。アドレスレジス
タ2から送出されるアドレス情報102がタグメモリ4
のタグ3及びタグ4の位置を示している場合、フラグレ
ジスタ3からはf3及びf4の値がフラグ信号121,
122によりデコーダ5に送出される。ここでf3及び
f4はクリア状態であるためAND素子51の出力12
3はロウレベルとなる。アドレス加算器14はクロック
に同期して入力信号を反転させる。これがタグメモリ4
への最下位アドレス信号116となる。アドレス信号1
05の上位はアドレスレジスタ2から送出されるアドレ
ス情報102を使用する。このようにフラグレジスタ3
がクリアされている、すなわちタグメモリ4の内容に不
正データが存在しないときはタグメモリ4のタグn*2
+1(nは整数)を指定するようにアドレス信号105
が処理される。比較器6にはアドレスレジスタ2から送
出されるアドレス情報102とタグメモリ4からタグア
ドレス106を介してタグ3が入力され比較される。も
し比較結果が不一致ならば一致信号108はロウレベル
となる。このとき無効化処理部から送出されるキャッシ
ュヒット信号110とフラグセット信号111はともに
ロウレベルとなり、キャッシュアクセスがミスヒットと
判断され、ブロックアクセス制御部によりメインメモリ
へのアクセス動作に移る。またこのときフラグレジスタ
3はセットされない。ここでブロックリード時、メイン
メモリからのデータをタグ情報とともにデータメモリ1
0、タグメモリ4に格納するわけであるが、タグメモリ
4へのアドレスをアドレス加算器で制御することによ
り、従来未使用領域であったタグ4にタグ3と同一デー
タを格納する。もし比較結果が一致したならば一致信号
108はハイレベルとなる。さらに検出器15において
パリティ生成回路71によりタグアドレス情報106の
パリティ122が生成され、タグメモリ4から送出され
るタグパリティ信号107と比較器72で比較される。
さらに、アドレス加算器14によりタグメモリ4へのア
ドレスが加算されタグ4がタグメモリ4より送出され
る。このタグアドレス情報120とタグアドレス情報1
06とが比較器73で比較される。比較器73での比較
結果が一致かつ比較器72での比較結果が一致していた
ならば無効化処理部16への入力信号117,118は
ともにハイレベルとなり、キャッシュヒット信号110
がハイレベル、フラグセット信号111がロウレベルと
なる。この場合、タグ3は不正データでないことにな
り、キャッシュヒットとしてデータメモリ10をアクセ
スする。もし比較器73の比較結果が一致しない場合は
比較信号118がロウレベルとなり無効化処理部111
から送出されるキャッシュヒット信号110はロウレベ
ルとなる。すなわちキャッシュミスとなる。この時、比
較器72での比較結果が一致していれば、無効化処理部
16はフラグセット信号111をロウレベルにしタグメ
モリ4内のタグ3には不正データが存在しないことを、
比較結果が一致していなければ、無効化処理部16はフ
ラグセット信号111をハイレベルにしタグメモリ4内
のタグ3に不正データが存在していることを示す。フラ
グセット信号111がハイレベルの時、アドレス情報2
とAND素子51の出力123とで指定されるフラグレ
ジスタ3の該当ビットf3が1にセットされる。
【0018】次に、再びタグメモリ4内のタグ3及びタ
グ4へのキャッシュアクセスが発生したとする。アドレ
スレジスタ2から送出されるアドレス情報102により
フラグレジスタ3から送出されるマスク信号121,1
22はそれぞれハイレベルとロウレベルになる。デコー
ダ5ではマスク信号121とマスク信号122からタグ
メモリ4へのアドレスの最下位ビット123を生成し、
ハイレベルとなる。つまりメモリセル等の不具合により
不正データが存在すると前回判断されたタグ3ではなく
未使用領域であったタグ4へのアドレス指定を行うこと
になる。この場合、タグメモリ4内のタグ4にはすでに
タグアドレス情報が格納されているので前述の一連の動
作によりキャッシュヒット、ミスの判定を行う。以後の
動作は前述したとおりである。
グ4へのキャッシュアクセスが発生したとする。アドレ
スレジスタ2から送出されるアドレス情報102により
フラグレジスタ3から送出されるマスク信号121,1
22はそれぞれハイレベルとロウレベルになる。デコー
ダ5ではマスク信号121とマスク信号122からタグ
メモリ4へのアドレスの最下位ビット123を生成し、
ハイレベルとなる。つまりメモリセル等の不具合により
不正データが存在すると前回判断されたタグ3ではなく
未使用領域であったタグ4へのアドレス指定を行うこと
になる。この場合、タグメモリ4内のタグ4にはすでに
タグアドレス情報が格納されているので前述の一連の動
作によりキャッシュヒット、ミスの判定を行う。以後の
動作は前述したとおりである。
【0019】上述したように本実施例のキャッシュメモ
リ制御装置はタグメモリ内に不具合が存在したとき、故
障の存在する領域と未使用領域との入れ替えが可能とな
る。またタグメモリ内のメモリセルの故障により本来キ
ャッシュヒットすべきでないのにキャッシュヒットした
場合のみでなく、本来キャッシュヒットすべきであるの
にキャッシュヒットしない場合においても、キャッシュ
メモリの整合性を保ちつつ動作の継続が可能となる。
リ制御装置はタグメモリ内に不具合が存在したとき、故
障の存在する領域と未使用領域との入れ替えが可能とな
る。またタグメモリ内のメモリセルの故障により本来キ
ャッシュヒットすべきでないのにキャッシュヒットした
場合のみでなく、本来キャッシュヒットすべきであるの
にキャッシュヒットしない場合においても、キャッシュ
メモリの整合性を保ちつつ動作の継続が可能となる。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように本発明のキャッシュ
メモリ制御装置はキャッシュメモリのラインサイズの変
更の際に生じるタグメモリの未使用領域の有効利用及び
信頼性の向上が図れる。
メモリ制御装置はキャッシュメモリのラインサイズの変
更の際に生じるタグメモリの未使用領域の有効利用及び
信頼性の向上が図れる。
【図1】本発明の一実施例のキャッシュメモリ制御装置
の構成図
の構成図
【図2】本発明の一実施例のキャッシュメモリ制御装置
の詳細図
の詳細図
【図3】本発明のその他の実施例のキャッシュメモリ制
御装置の構成図
御装置の構成図
【図4】本発明のその他の実施例のキャッシュメモリ制
御装置の詳細図
御装置の詳細図
【図5】従来のキャッシュメモリ制御装置の構成図
【図6】キャッシュメモリ構成図(ラインサイズ4ワー
ド)
ド)
【図7】キャッシュメモリ構成図(ラインサイズ8ワー
ド)
ド)
1 データ処理装置 2 アドレスレジスタ 3 フラグレジスタ 4 タグメモリ 5 デコーダ 6,72,73 比較器 7,15 検出器 8 ブロックアクセス制御部 9,16 無効化処理部 10 データメモリ 11 メインメモリ 12,13,21 キャッシュメモリ制御装置 14 アドレス加算器 51,91,92,93,94 AND素子 71 パリティ生成器 101〜125 信号線
Claims (3)
- 【請求項1】 データ処理装置とメインメモリの間にお
かれるキャッシュメモリの制御装置において、該キャッ
シュメモリ制御装置内部に、前記メインメモリ内のデー
タの一部を格納するためのデータメモリと、前記データ
メモリと前記メインメモリに対するアドレス情報を格納
するためのタグメモリと、前記タグメモリ内に不正デー
タが存在するか否かを示す情報を保持するための保持手
段と、前記データ処理装置からのアドレス情報とタグメ
モリ内部のアドレス情報を比較するための比較手段と、
タグメモリ内のアドレス情報に不正データが存在するか
否かを判断するための検出手段と、前記検出手段の結果
に応じて前記保持手段にデータを格納するための格納手
段と、前記レジスタの内容に応じてタグメモリに対する
アドレスを生成するための手段を有するキャッシュメモ
リ制御装置。 - 【請求項2】 タグメモリより出力するタグアドレスが
正常か否かを判断し、異常な場合は入力アドレスに対応
するタグメモリのアドレス指定を切り換えるキャッシュ
メモリ制御装置。 - 【請求項3】 タグメモリに記憶するタグアドレスのパ
リティをアドレス毎に対応して記憶し、タグメモリより
出力するタグアドレスのパリティを生成し、生成したパ
リティと前記記憶したパリティとを比較し、不一致の場
合は入力アドレスに対応するタグメモリのアドレス指定
を切り換えるキャッシュメモリ制御装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP08185932A JP3116827B2 (ja) | 1996-07-16 | 1996-07-16 | キャッシュメモリ制御装置 |
EP97112097A EP0823685B1 (en) | 1996-07-16 | 1997-07-15 | Cache memory capable of using faulty tag memory |
DE69715993T DE69715993T2 (de) | 1996-07-16 | 1997-07-15 | Cache-Speicher mit Verwendung fehlerhaften Ettikettenspeichers |
KR1019970033020A KR100241483B1 (ko) | 1996-07-16 | 1997-07-16 | 불량 테그 메모리를 사용할 수 있는 캐쉬 메모리 |
US08/895,206 US5825682A (en) | 1996-07-16 | 1997-07-16 | Cache memory capable of using faulty tag memory |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP08185932A JP3116827B2 (ja) | 1996-07-16 | 1996-07-16 | キャッシュメモリ制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1031619A true JPH1031619A (ja) | 1998-02-03 |
JP3116827B2 JP3116827B2 (ja) | 2000-12-11 |
Family
ID=16179409
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP08185932A Expired - Fee Related JP3116827B2 (ja) | 1996-07-16 | 1996-07-16 | キャッシュメモリ制御装置 |
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Country | Link |
---|---|
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EP (1) | EP0823685B1 (ja) |
JP (1) | JP3116827B2 (ja) |
KR (1) | KR100241483B1 (ja) |
DE (1) | DE69715993T2 (ja) |
Families Citing this family (15)
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JPH10154394A (ja) * | 1996-11-21 | 1998-06-09 | Toshiba Corp | メモリ装置 |
US5901095A (en) * | 1997-12-23 | 1999-05-04 | Lsi Logic Corporation | Reprogrammable address selector for an embedded DRAM |
US6034433A (en) * | 1997-12-23 | 2000-03-07 | Intel Corporation | Interconnect structure for protecting a transistor gate from charge damage |
US5896331A (en) * | 1997-12-23 | 1999-04-20 | Lsi Logic Corporation | Reprogrammable addressing process for embedded DRAM |
US5907511A (en) * | 1997-12-23 | 1999-05-25 | Lsi Logic Corporation | Electrically selectable redundant components for an embedded DRAM |
US5999440A (en) * | 1998-03-30 | 1999-12-07 | Lsi Logic Corporation | Embedded DRAM with noise-protecting substrate isolation well |
US6064588A (en) * | 1998-03-30 | 2000-05-16 | Lsi Logic Corporation | Embedded dram with noise-protected differential capacitor memory cells |
US5978304A (en) * | 1998-06-30 | 1999-11-02 | Lsi Logic Corporation | Hierarchical, adaptable-configuration dynamic random access memory |
US6005824A (en) * | 1998-06-30 | 1999-12-21 | Lsi Logic Corporation | Inherently compensated clocking circuit for dynamic random access memory |
US6748562B1 (en) * | 2000-10-31 | 2004-06-08 | Agilent Technologies, Inc. | Memory tester omits programming of addresses in detected bad columns |
JP3701886B2 (ja) * | 2001-04-27 | 2005-10-05 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 記憶回路ブロック及びアクセス方法 |
US7240277B2 (en) * | 2003-09-26 | 2007-07-03 | Texas Instruments Incorporated | Memory error detection reporting |
JP2006190402A (ja) * | 2005-01-07 | 2006-07-20 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
US10020037B2 (en) * | 2007-12-10 | 2018-07-10 | Intel Corporation | Capacity register file |
GB2576005B (en) | 2018-07-31 | 2020-10-07 | Advanced Risc Mach Ltd | Handling guard tag loss |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59207080A (ja) * | 1983-05-10 | 1984-11-24 | Nec Corp | キヤツシユ記憶制御装置 |
AU604101B2 (en) * | 1987-04-13 | 1990-12-06 | Computervision Corporation | High availability cache organization |
JPH035851A (ja) * | 1989-06-01 | 1991-01-11 | Fujitsu Ltd | バッファ記憶装置 |
US5226150A (en) * | 1990-10-01 | 1993-07-06 | Digital Equipment Corporation | Apparatus for suppressing an error report from an address for which an error has already been reported |
US5497347A (en) * | 1994-06-21 | 1996-03-05 | Motorola Inc. | BICMOS cache TAG comparator having redundancy and separate read an compare paths |
US5617347A (en) * | 1995-03-17 | 1997-04-01 | Fujitsu Limited | Cache memory system and method thereof for storing a staged memory item and a cache tag within a single cache array structure |
US5668766A (en) * | 1996-05-16 | 1997-09-16 | Intel Corporation | Method and apparatus for increasing memory read access speed using double-sensing |
-
1996
- 1996-07-16 JP JP08185932A patent/JP3116827B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-07-15 EP EP97112097A patent/EP0823685B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-07-15 DE DE69715993T patent/DE69715993T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1997-07-16 US US08/895,206 patent/US5825682A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-07-16 KR KR1019970033020A patent/KR100241483B1/ko not_active IP Right Cessation
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Publication number | Publication date |
---|---|
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US5825682A (en) | 1998-10-20 |
KR980010790A (ko) | 1998-04-30 |
EP0823685A1 (en) | 1998-02-11 |
JP3116827B2 (ja) | 2000-12-11 |
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EP0823685B1 (en) | 2002-10-02 |
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