JP3116827B2 - キャッシュメモリ制御装置 - Google Patents

キャッシュメモリ制御装置

Info

Publication number
JP3116827B2
JP3116827B2 JP08185932A JP18593296A JP3116827B2 JP 3116827 B2 JP3116827 B2 JP 3116827B2 JP 08185932 A JP08185932 A JP 08185932A JP 18593296 A JP18593296 A JP 18593296A JP 3116827 B2 JP3116827 B2 JP 3116827B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tag
memory
data
address
entry
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP08185932A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1031619A (ja
Inventor
孝宏 福井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP08185932A priority Critical patent/JP3116827B2/ja
Priority to EP97112097A priority patent/EP0823685B1/en
Priority to DE69715993T priority patent/DE69715993T2/de
Priority to US08/895,206 priority patent/US5825682A/en
Priority to KR1019970033020A priority patent/KR100241483B1/ko
Publication of JPH1031619A publication Critical patent/JPH1031619A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3116827B2 publication Critical patent/JP3116827B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/08Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/88Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring with partially good memories
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C15/00Digital stores in which information comprising one or more characteristic parts is written into the store and in which information is read-out by searching for one or more of these characteristic parts, i.e. associative or content-addressed stores
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1008Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
    • G06F11/1064Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices in cache or content addressable memories

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、キャッシュメモリ
制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】キャッシュメモリはメインメモリの内容
の一部を一時的に保持格納するものであり、一つ以上の
データワードの多くのブロックから構成されている。各
ブロックには、それがメインメモリのどのブロックのコ
ピーであるかを一意に識別するアドレスタグが関連付け
られている。データ処理装置がメモリ参照を行うごと
に、キャッシュはアドレスタグの比較を行って要求され
たデータのコピーがあるかを調べる。コピーがあればそ
のデータを供給する。コピーがなければ、メインメモリ
から対応するブロックを検索して、キャッシュメモリに
格納されているブロックの一つを置き換えてから、該当
するデータをデータ処理装置に供給する。
【0003】近来、キャッシュメモリの大容量化に伴
い、メモリセル等の故障が無視できなくなってきてい
る。そのため従来この種のキャッシュメモリは特開昭5
9−207080号公報に示されるようにパリティビッ
トやECC(Error Check and Cor
rect)コード等の冗長ビットを付加することによ
り、メモリセルの故障に対処している。
【0004】図5に示すように、従来のこの種のキャッ
シュメモリ制御装置21はタグメモリ17、データメモ
リ10、比較器20、検出器18、無効化処理部19を
備えている。
【0005】データ処理装置1から送られてくるアドレ
ス情報101とパリティビット124はキャッシュメモ
リ17内のアドレスレジスタ2にセットされる。タグメ
モリ17から読みだされたタグアドレス情報106とア
ドレスレジスタ2にセットされたアドレス情報102
は、比較器20に入力される。比較器20ではアドレス
レジスタ2から送出されるアドレス情報102とタグメ
モリ17から送出されるタグアドレス情報106との比
較を行う。比較結果が一致する場合一致信号121を比
較器20において発生する。この一致信号20をブロッ
クアクセス制御部8により判断し、比較器20によりア
ドレス一致が検出されないキャッシュミスの場合アドレ
ス情報113をメインメモリ11に送出する。そこで、
ブロックリードが起動され、タグメモリ17へのアドレ
スデータ格納とメインメモリ11からのデータのデータ
メモリ10への格納が行われる。また、比較器20によ
ってアドレス一致が検出されたキャッシュヒット状態で
は、検出器18によりタグメモリ17から送出されるパ
リティビット情報107とアドレスレジスタ2から送出
されるパリティビット125とが比較される。もし、パ
リティビット情報107とパリティビット125が一致
したならばキャッシュヒットとなり、データメモリ10
をアクセスする。もし、パリティビット情報107とパ
リティビット125が一致しない場合、タグメモリ17
内に不正データがあることを示している。この場合ブロ
ックアクセス制御装置8は通常のキャッシュミスと同様
の処理を行う。さらに無効化処理部19は不正データの
存在するタグメモリ17内の該当ブロックのバリッドビ
ットをセットし無効化する。これにより不正データの原
因が回復性故障で再度この該当ブロックをアクセスした
時、故障が回復していた場合、該当ブロックのバリット
ビットをチェックすることによりキャッシュミスを発生
させ、整合を保つことができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】近年、キャッシュメモ
リのラインサイズを変更可能な機能を有しているデータ
処理装置が出現してきている。これは、環境に適したラ
インサイズに設定することにより、システムの効率を高
めようというものである。例としてキャッシュメモリの
データ長を128ビット、ラインサイズを4ワード、8
ワードに設定可能な時を考える。まずラインサイズが4
ワードの場合はキャッシュメモリの構成は図6のように
なる。この時タグメモリへのアドレス信号はデータメモ
リと全く同様に接続すればよい。次にラインサイズが8
ワードの場合、キャッシュメモリの構成は図7のように
なる。タグメモリ内のタグ1はデータメモリ内のデータ
1、データ2の双方に対して有効である。ここでライン
サイズが4ワードの場合にタグ2としてアドレス情報を
保持格納していた領域は未使用となる。タグ4について
も同様である。このように従来のこの種のキャッシュメ
モリはラインサイズの変更に伴いタグメモリ内に未使用
領域が存在するという欠点がある。
【0007】したがって、本発明の目的は、ラインサイ
ズの変更に対処してタグメモリ内の未使用領域を有効活
用したキャッシュメモリ制御装置を提供することにあ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明によるキャッシュ
メモリ制御装置は、第1のラインサイズのデータを格納
するデータエントリを複数有するデータメモリと、前記
データメモリが有するデータエントリの数と同じ数のタ
グエントリを有し、前記データエントリと前記タグエン
トリが1対1に対応している、タグメモリとを備え、ラ
インサイズが前記第1のラインサイズである場合には、
前記データエントリに格納されているデータのアドレス
情報は、該データエントリに対応する前記タグエントリ
に格納されており、ラインサイズが前記第1のラインサ
イズの2倍である場合には、1つのラインを構成する2
つの前記データエントリに格納されているデータのアド
レス情報は、該2つの前記データエントリに対応する2
つの前記タグエントリの少なくとも1つに格納されてい
る、ラインサイズを変更可能なキャッシュメモリ制御装
置であって、前記タグエントリに不正なアドレス情報が
格納されていたか否かを示すビットを前記タグメモリが
有する前記タグエントリの数と同じ数だけ有し、前記タ
グエントリと前記ビットが1対1に対応している、フラ
グレジスタと、前記タグエントリから読み出したアドレ
ス情報に不正があることが検出された場合に、該タグエ
ントリに対応する前記ビットを該タグエントリに不正な
アドレス情報が格納されていたことを示すようにセット
する無効化処理部と、ラインサイズが前記第1のライン
サイズの2倍である場合に用いられるデコーダであっ
て、アクセス要求対象のアドレスと、該アドレスにより
アクセスされるラインに対応する2つの前記タグエント
リに対応する2つの前記ビットとを入力とし、該2つの
前記ビットのうち、一方のビットが該一方のビットに対
応する前記タグエントリに不正なアドレス情報が格納さ
れていたことを示し、他方のビットが該他方のビットに
対応する前記タグエントリに不正なアドレス情報が格納
されていたことを示さない場合には、前記他方のビット
に対応する前記タグエントリをアクセスするように前記
タグメモリへのアドレス信号を生成するデコーダとを備
えることを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
【0010】図1は本発明の一実施例を示すキャッシュ
メモリ制御装置の構成図である。図1に示されるよう
に、本実施例はキャッシュメモリ制御装置12の内部に
タグメモリ4とデータメモリ10とアドレスレジスタ2
とフラグレジスタ3とデコーダ5と比較器6と検出器7
と無効化処理部9とブロックアクセス制御部8とを有し
ている。アドレスレジスタ2はデータ処理装置1からの
キャッシュアクセス時のアドレス101を保持する。フ
ラグレジスタ3はタグメモリ4の各ブロックに対応した
ビットより成り、アドレスレジスタ2から送出されるア
ドレス情報102と無効化処理部9から送出されるフラ
グセット信号111により該当するビットがセットされ
る。デコーダ5はアドレスレジスタ2から送出されるア
ドレス情報102とフラグレジスタ3から送出されるマ
スク信号104をデコードしタグメモリへのアドレス信
号105を生成する。比較器6はアドレスレジスタ2か
ら送出されるアドレス情報102とタグメモリから送出
されるタグアドレス情報106とを比較し、一致したか
否かを一致信号108によって検出器7とブロックアク
セス制御部8とデータメモリ10に通知する。検出器7
は比較器6での比較結果が一致した場合タグメモリ4か
ら送出されるタグアドレス情報106のパリティビット
を生成し、タグメモリ4から送出されるタグパリティビ
ット107と比較する。無効化処理部9は検出器7から
送出される不正データ信号109によりフラグレジスタ
3の該当ビットをセットする。ここで、キャッシュメモ
リのラインサイズが4ワードと8ワードの2種類に設定
可能で、データメモリのバス幅が4ワードの場合を考え
る。ラインサイズが4ワードの時は、図6に示すように
タグメモリおよびデータメモリが1対1に対応している
ため、タグメモリには未使用領域は存在しない。またラ
インサイズが8ワードの時は、タグメモリ内のタグ1は
データメモリ内のデータ1、データ2の双方に対して有
効である。ここでラインサイズが4ワードの場合にタグ
2としてアドレス情報を保持格納していた領域は未使用
となる。タグ4についても同様である。
【0011】次にラインサイズが8ワードの場合の動作
を説明する。図2は本実施例のキャッシュメモリ制御装
置12の詳細図である。キャッシュアクセスが発生する
とデータ処理装置1からのアドレス情報101がアドレ
スレジスタ2に格納される。いまフラグレジスタ3の各
ビットはクリアされているものとする。アドレスレジス
タ2から送出されるアドレス情報102がタグメモリ4
のタグ3及びタグ4の位置を示している場合、フラグレ
ジスタ3からはf3及びf4の値がフラグ信号121,
122によりデコーダ5に送出される。ここでf3及び
f4はクリア状態であるためAND素子51の出力12
3はロウレベルとなる。これがタグメモリ4へのアドレ
ス信号105の最下位ビットとなる。アドレス信号10
5の上位はアドレスレジスタ2から送出されるアドレス
情報102を使用する。このようにフラグレジスタ3が
クリアされている、すなわちタグメモリ4の内容に不正
データが存在しないときはタグメモリ4のタグn*2+
1(nは整数)を指定するようにアドレス信号105が
処理される。比較器6にはアドレスレジスタ2から送出
されるアドレス情報102とタグメモリ4からタグアド
レス106を介してタグ3が入力され比較される。もし
比較結果が不一致ならば一致信号108はロウレベルと
なる。このとき無効化処理部から送出されるキャッシュ
ヒット信号110とフラグセット信号111はともにロ
ウレベルとなり、キャッシュアクセスがミスヒットと判
断され、ブロックアクセス制御部によりメインメモリへ
のアクセス動作に移る。またこのときフラグレジスタ3
はセットされない。もし比較結果が一致したならば一致
信号108はハイレベルとなる。さらに検出器7におい
てパリティ生成回路71によりタグアドレス情報106
のパリティ122が生成され、タグメモリ4から送出さ
れるタグパリティ信号107と比較される。もし比較結
果が一致したならば、無効化処理部から送出されるキャ
ッシュヒット信号110がハイレベル、フラグセット信
号111がロウレベルとなる。すなわちタグメモリ4の
内容に不正データは存在しないと判断され、キャッシュ
R>ヒットとして動作を継続する。次にもし検出器7の比
較結果が不一致ならば無効化処理部から送出されるキャ
ッシュヒット信号110がロウレベル、フラグセット信
号111がハイレベルとなる。このときキャッシュミス
ヒットとなりメインメモリへのアクセス動作へと移り、
さらにタグメモリ4内に不正データが存在することを現
している。フラグセット信号111がハイレベルの時、
アドレス情報2とAND素子51の出力123とで指定
されるフラグレジスタ3の該当ビットf3が1にセット
される。
【0012】次に、再びタグメモリ4内のタグ3及びタ
グ4へのキャッシュアクセスが発生したとする。アドレ
スレジスタ2から送出されるアドレス情報102により
フラグレジスタ3から送出されるマスク信号121,1
22はそれぞれハイレベルとロウレベルになる。デコー
ダ5ではマスク信号121とマスク信号122からタグ
メモリ4へのアドレスの最下位ビット123を生成し、
ハイレベルとなる。つまりメモリセル等の不具合により
不正データが存在すると前回判断されたタグ3ではなく
未使用領域であったタグ4へのアドレス指定を行うこと
になる。もちろんこの場合、比較器6での比較結果は一
致しないことは周知であり、ミスヒット動作へと移行す
る。
【0013】上述したように本実施例のキャッシュメモ
リ制御装置はタグメモリ内に不具合が存在し、本来キャ
ッシュヒットすべきでないのにキャッシュヒットしたと
き、故障が存在する領域と未使用領域との入れ替えが可
能となる。
【0014】次に、本発明の他の実施例について図面を
参照して説明する。
【0015】図3は本発明の他の実施例を示すキャッシ
ュメモリ制御装置の構成図である。図3に示されるよう
に、本実施例はキャッシュメモリ制御装置13の内部に
タグメモリ4とデータメモリ10とアドレスレジスタ2
とフラグレジスタ3とデコーダ5とアドレス加算器14
と比較器6と検出器15と無効化処理部16とブロック
アクセス制御部8とを有している。第1の実施例との相
違点はアドレス加算器14と検出器15と無効化処理部
16である。アドレス加算器14はブロックリード時に
タグメモリ4へのアドレス制御をする。検出器15は比
較器6での比較結果が一致した場合タグメモリ4から送
出されるタグアドレス情報106のパリティビットを生
成し、タグメモリ4から送出されるタグパリティビット
107と比較する。またタグメモリ4から送出されるタ
グアドレス情報106とアドレス加算器116の出力に
応じて送出されるその他のタグアドレス情報120とを
比較する。無効化処理部16は検出器15から送出され
る不正データ信号109によりフラグレジスタ3の該当
ビットをセットする。
【0016】ここで、第1の実施例と同様キャッシュメ
モリのラインサイズが4ワードと8ワードの2種類に設
定可能で、データメモリのバス幅が4ワードの場合を考
える。ラインサイズが4ワードの時は、図6に示すよう
にタグメモリおよびデータメモリが1対1に対応してい
るため、タグメモリには未使用領域は存在しない。また
ラインサイズが8ワードの時は、タグメモリ内のタグ1
はデータメモリ内のデータ1、データ2の双方に対して
有効である。ここでラインサイズが4ワードの場合にタ
グ2としてアドレス情報を保持格納していた領域は未使
用となる。タグ4についても同様である。
【0017】次にラインサイズが8ワードの場合の動作
を説明する。図4は本実施例のキャッシュメモリ制御装
置13の詳細図である。キャッシュアクセスが発生する
とデータ処理装置1からのアドレス情報101がアドレ
スレジスタ2に格納される。いまフラグレジスタ3の各
ビットはクリアされているものとする。アドレスレジス
タ2から送出されるアドレス情報102がタグメモリ4
のタグ3及びタグ4の位置を示している場合、フラグレ
ジスタ3からはf3及びf4の値がフラグ信号121,
122によりデコーダ5に送出される。ここでf3及び
f4はクリア状態であるためAND素子51の出力12
3はロウレベルとなる。アドレス加算器14はクロック
に同期して入力信号を反転させる。これがタグメモリ4
への最下位アドレス信号116となる。アドレス信号1
05の上位はアドレスレジスタ2から送出されるアドレ
ス情報102を使用する。このようにフラグレジスタ3
がクリアされている、すなわちタグメモリ4の内容に不
正データが存在しないときはタグメモリ4のタグn*2
+1(nは整数)を指定するようにアドレス信号105
が処理される。比較器6にはアドレスレジスタ2から送
出されるアドレス情報102とタグメモリ4からタグア
ドレス106を介してタグ3が入力され比較される。も
し比較結果が不一致ならば一致信号108はロウレベル
となる。このとき無効化処理部から送出されるキャッシ
ュヒット信号110とフラグセット信号111はともに
ロウレベルとなり、キャッシュアクセスがミスヒットと
判断され、ブロックアクセス制御部によりメインメモリ
へのアクセス動作に移る。またこのときフラグレジスタ
3はセットされない。ここでブロックリード時、メイン
メモリからのデータをタグ情報とともにデータメモリ1
0、タグメモリ4に格納するわけであるが、タグメモリ
4へのアドレスをアドレス加算器で制御することによ
り、従来未使用領域であったタグ4にタグ3と同一デー
タを格納する。もし比較結果が一致したならば一致信号
108はハイレベルとなる。さらに検出器15において
パリティ生成回路71によりタグアドレス情報106の
パリティ122が生成され、タグメモリ4から送出され
るタグパリティ信号107と比較器72で比較される。
さらに、アドレス加算器14によりタグメモリ4へのア
ドレスが加算されタグ4がタグメモリ4より送出され
る。このタグアドレス情報120とタグアドレス情報1
06とが比較器73で比較される。比較器73での比較
結果が一致かつ比較器72での比較結果が一致していた
ならば無効化処理部16への入力信号117,118は
ともにハイレベルとなり、キャッシュヒット信号110
がハイレベル、フラグセット信号111がロウレベルと
なる。この場合、タグ3は不正データでないことにな
り、キャッシュヒットとしてデータメモリ10をアクセ
スする。もし比較器73の比較結果が一致しない場合は
比較信号118がロウレベルとなり無効化処理部111
から送出されるキャッシュヒット信号110はロウレベ
ルとなる。すなわちキャッシュミスとなる。この時、比
較器72での比較結果が一致していれば、無効化処理部
16はフラグセット信号111をロウレベルにしタグメ
モリ4内のタグ3には不正データが存在しないことを、
比較結果が一致していなければ、無効化処理部16はフ
ラグセット信号111をハイレベルにしタグメモリ4内
のタグ3に不正データが存在していることを示す。フラ
グセット信号111がハイレベルの時、アドレス情報2
とAND素子51の出力123とで指定されるフラグレ
ジスタ3の該当ビットf3が1にセットされる。
【0018】次に、再びタグメモリ4内のタグ3及びタ
グ4へのキャッシュアクセスが発生したとする。アドレ
スレジスタ2から送出されるアドレス情報102により
フラグレジスタ3から送出されるマスク信号121,1
22はそれぞれハイレベルとロウレベルになる。デコー
ダ5ではマスク信号121とマスク信号122からタグ
メモリ4へのアドレスの最下位ビット123を生成し、
ハイレベルとなる。つまりメモリセル等の不具合により
不正データが存在すると前回判断されたタグ3ではなく
未使用領域であったタグ4へのアドレス指定を行うこと
になる。この場合、タグメモリ4内のタグ4にはすでに
タグアドレス情報が格納されているので前述の一連の動
作によりキャッシュヒット、ミスの判定を行う。以後の
動作は前述したとおりである。
【0019】上述したように本実施例のキャッシュメモ
リ制御装置はタグメモリ内に不具合が存在したとき、故
障の存在する領域と未使用領域との入れ替えが可能とな
る。またタグメモリ内のメモリセルの故障により本来キ
ャッシュヒットすべきでないのにキャッシュヒットした
場合のみでなく、本来キャッシュヒットすべきであるの
にキャッシュヒットしない場合においても、キャッシュ
メモリの整合性を保ちつつ動作の継続が可能となる。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように本発明のキャッシュ
メモリ制御装置はキャッシュメモリのラインサイズの変
更の際に生じるタグメモリの未使用領域の有効利用及び
信頼性の向上が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のキャッシュメモリ制御装置
の構成図
【図2】本発明の一実施例のキャッシュメモリ制御装置
の詳細図
【図3】本発明のその他の実施例のキャッシュメモリ制
御装置の構成図
【図4】本発明のその他の実施例のキャッシュメモリ制
御装置の詳細図
【図5】従来のキャッシュメモリ制御装置の構成図
【図6】キャッシュメモリ構成図(ラインサイズ4ワー
ド)
【図7】キャッシュメモリ構成図(ラインサイズ8ワー
ド)
【符号の説明】
1 データ処理装置 2 アドレスレジスタ 3 フラグレジスタ 4 タグメモリ 5 デコーダ 6,72,73 比較器 7,15 検出器 8 ブロックアクセス制御部 9,16 無効化処理部 10 データメモリ 11 メインメモリ 12,13,21 キャッシュメモリ制御装置 14 アドレス加算器 51,91,92,93,94 AND素子 71 パリティ生成器 101〜125 信号線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06F 12/08 - 12/12

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1のラインサイズのデータを格納する
    データエントリを複数有するデータメモリと、 前記データメモリが有するデータエントリの数と同じ数
    のタグエントリを有し、前記データエントリと前記タグ
    エントリが1対1に対応している、タグメモリとを備
    え、 ラインサイズが前記第1のラインサイズである場合に
    は、前記データエントリに格納されているデータのアド
    レス情報は、該データエントリに対応する前記タグエン
    トリに格納されており、 ラインサイズが前記第1のラインサイズの2倍である場
    合には、1つのラインを構成する2つの前記データエン
    トリに格納されているデータのアドレス情報は、該2つ
    の前記データエントリに対応する2つの前記タグエント
    リの少なくとも1つに格納されている、 ラインサイズを変更可能なキャッシュメモリ制御装置で
    あって、 前記タグエントリに不正なアドレス情報が格納されてい
    たか否かを示すビットを前記タグメモリが有する前記タ
    グエントリの数と同じ数だけ有し、前記タグエントリと
    前記ビットが1対1に対応している、フラグレジスタ
    と、 前記タグエントリから読み出したアドレス情報に不正が
    あることが検出された場合に、該タグエントリに対応す
    る前記ビットを該タグエントリに不正なアドレス情報が
    格納されていたことを示すようにセットする無効化処理
    部と、 ラインサイズが前記第1のラインサイズの2倍である場
    合に用いられるデコーダであって、アクセス要求対象の
    アドレスと、該アドレスによりアクセスされるラインに
    対応する2つの前記タグエントリに対応する2つの前記
    ビットとを入力とし、該2つの前記ビットのうち、一方
    のビットが該一方のビットに対応する前記タグエントリ
    に不正なアドレス情報が格納されていたことを示し、他
    方のビットが該他方のビットに対応する前記タグエント
    リに不正なアドレス情報が格納されていたことを示さな
    い場合には、前記他方のビットに対応する前記タグエン
    トリをアクセスするように前記タグメモリへのアドレス
    信号を生成するデコーダ とを備えることを特徴とするキ
    ャッシュメモリ制御装置。
JP08185932A 1996-07-16 1996-07-16 キャッシュメモリ制御装置 Expired - Fee Related JP3116827B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08185932A JP3116827B2 (ja) 1996-07-16 1996-07-16 キャッシュメモリ制御装置
EP97112097A EP0823685B1 (en) 1996-07-16 1997-07-15 Cache memory capable of using faulty tag memory
DE69715993T DE69715993T2 (de) 1996-07-16 1997-07-15 Cache-Speicher mit Verwendung fehlerhaften Ettikettenspeichers
US08/895,206 US5825682A (en) 1996-07-16 1997-07-16 Cache memory capable of using faulty tag memory
KR1019970033020A KR100241483B1 (ko) 1996-07-16 1997-07-16 불량 테그 메모리를 사용할 수 있는 캐쉬 메모리

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08185932A JP3116827B2 (ja) 1996-07-16 1996-07-16 キャッシュメモリ制御装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1031619A JPH1031619A (ja) 1998-02-03
JP3116827B2 true JP3116827B2 (ja) 2000-12-11

Family

ID=16179409

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP08185932A Expired - Fee Related JP3116827B2 (ja) 1996-07-16 1996-07-16 キャッシュメモリ制御装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5825682A (ja)
EP (1) EP0823685B1 (ja)
JP (1) JP3116827B2 (ja)
KR (1) KR100241483B1 (ja)
DE (1) DE69715993T2 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10154394A (ja) * 1996-11-21 1998-06-09 Toshiba Corp メモリ装置
US6034433A (en) * 1997-12-23 2000-03-07 Intel Corporation Interconnect structure for protecting a transistor gate from charge damage
US5901095A (en) * 1997-12-23 1999-05-04 Lsi Logic Corporation Reprogrammable address selector for an embedded DRAM
US5907511A (en) * 1997-12-23 1999-05-25 Lsi Logic Corporation Electrically selectable redundant components for an embedded DRAM
US5896331A (en) * 1997-12-23 1999-04-20 Lsi Logic Corporation Reprogrammable addressing process for embedded DRAM
US6064588A (en) * 1998-03-30 2000-05-16 Lsi Logic Corporation Embedded dram with noise-protected differential capacitor memory cells
US5999440A (en) * 1998-03-30 1999-12-07 Lsi Logic Corporation Embedded DRAM with noise-protecting substrate isolation well
US6005824A (en) * 1998-06-30 1999-12-21 Lsi Logic Corporation Inherently compensated clocking circuit for dynamic random access memory
US5978304A (en) * 1998-06-30 1999-11-02 Lsi Logic Corporation Hierarchical, adaptable-configuration dynamic random access memory
US6748562B1 (en) * 2000-10-31 2004-06-08 Agilent Technologies, Inc. Memory tester omits programming of addresses in detected bad columns
JP3701886B2 (ja) * 2001-04-27 2005-10-05 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 記憶回路ブロック及びアクセス方法
US7240277B2 (en) * 2003-09-26 2007-07-03 Texas Instruments Incorporated Memory error detection reporting
JP2006190402A (ja) * 2005-01-07 2006-07-20 Renesas Technology Corp 半導体装置
US10020037B2 (en) * 2007-12-10 2018-07-10 Intel Corporation Capacity register file
GB2576005B (en) 2018-07-31 2020-10-07 Advanced Risc Mach Ltd Handling guard tag loss

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59207080A (ja) * 1983-05-10 1984-11-24 Nec Corp キヤツシユ記憶制御装置
AU604101B2 (en) * 1987-04-13 1990-12-06 Computervision Corporation High availability cache organization
JPH035851A (ja) * 1989-06-01 1991-01-11 Fujitsu Ltd バッファ記憶装置
US5226150A (en) * 1990-10-01 1993-07-06 Digital Equipment Corporation Apparatus for suppressing an error report from an address for which an error has already been reported
US5497347A (en) * 1994-06-21 1996-03-05 Motorola Inc. BICMOS cache TAG comparator having redundancy and separate read an compare paths
US5617347A (en) * 1995-03-17 1997-04-01 Fujitsu Limited Cache memory system and method thereof for storing a staged memory item and a cache tag within a single cache array structure
US5668766A (en) * 1996-05-16 1997-09-16 Intel Corporation Method and apparatus for increasing memory read access speed using double-sensing

Also Published As

Publication number Publication date
US5825682A (en) 1998-10-20
KR980010790A (ko) 1998-04-30
DE69715993T2 (de) 2003-06-12
EP0823685B1 (en) 2002-10-02
JPH1031619A (ja) 1998-02-03
DE69715993D1 (de) 2002-11-07
EP0823685A1 (en) 1998-02-11
KR100241483B1 (ko) 2000-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3116827B2 (ja) キャッシュメモリ制御装置
US5867642A (en) System and method to coherently and dynamically remap an at-risk memory area by simultaneously writing two memory areas
US4608687A (en) Bit steering apparatus and method for correcting errors in stored data, storing the address of the corrected data and using the address to maintain a correct data condition
US7376877B2 (en) Combined tag and data ECC for enhanced soft error recovery from cache tag errors
EP0090638B1 (en) Cache memory systems
US6766429B1 (en) Low cost and high RAS mirrored memory
JP2738687B2 (ja) 誤り訂正システムおよび方法
US8205136B2 (en) Fault tolerant encoding of directory states for stuck bits
US5875201A (en) Second level cache having instruction cache parity error control
US20040210799A1 (en) Cache directory array recovery mechanism to support special ECC stuck bit matrix
JP3741318B2 (ja) 誤り検出および訂正方法および装置
US6108753A (en) Cache error retry technique
JP2002007225A (ja) アドレスパリティエラー処理方法並びに情報処理装置および記憶装置
US4805173A (en) Error control method and apparatus
US5357521A (en) Address sensitive memory testing
US5916314A (en) Method and apparatus for cache tag mirroring
US5381544A (en) Copyback memory system and cache memory controller which permits access while error recovery operations are performed
US6631489B2 (en) Cache memory and system with partial error detection and correction of MESI protocol
US6412051B1 (en) System and method for controlling a memory array in an information handling system
JPS59207098A (ja) 情報処理装置
JPS60142759A (ja) Lru決定用記憶装置のエラ−検出方式
US7831889B2 (en) Method and device for error detection for a cache memory and corresponding cache memory
JPS6136670B2 (ja)
JP3106448B2 (ja) プロセッサ装置
JPH09204363A (ja) データメモリ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20000905

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees