JPH10300816A - テストボード着脱装置 - Google Patents
テストボード着脱装置Info
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- JPH10300816A JPH10300816A JP9127899A JP12789997A JPH10300816A JP H10300816 A JPH10300816 A JP H10300816A JP 9127899 A JP9127899 A JP 9127899A JP 12789997 A JP12789997 A JP 12789997A JP H10300816 A JPH10300816 A JP H10300816A
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- cover
- test
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- board
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 テストボードの着脱動作を簡易・迅速に行う
と共に、保守を容易にすることにある。 【解決手段】 テストボード着脱装置は、テストボード
2を保護するカバー3と、テストボード2のみの挿入・
引き出しが可能な固定レール11と、テストボード2を
戴置して昇降する昇降レール16で構成されている。カ
バー3が嵌合されたテストボード2を固定レール11に
戴置し、カバー3を固定レール11に残した状態で、固
定レール11と昇降レールを介してテストボード2のみ
を移動させることにより、テストヘッド1に対する着脱
動作を行う。また、テストボード2の着脱時のみ、テス
トボード2とカバー3の嵌合・取り外しを行い、着脱動
作終了時点では、カバー3はテストボード2に嵌合され
ているので、そのまま保管する。
と共に、保守を容易にすることにある。 【解決手段】 テストボード着脱装置は、テストボード
2を保護するカバー3と、テストボード2のみの挿入・
引き出しが可能な固定レール11と、テストボード2を
戴置して昇降する昇降レール16で構成されている。カ
バー3が嵌合されたテストボード2を固定レール11に
戴置し、カバー3を固定レール11に残した状態で、固
定レール11と昇降レールを介してテストボード2のみ
を移動させることにより、テストヘッド1に対する着脱
動作を行う。また、テストボード2の着脱時のみ、テス
トボード2とカバー3の嵌合・取り外しを行い、着脱動
作終了時点では、カバー3はテストボード2に嵌合され
ているので、そのまま保管する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はテストボード着脱
装置、特に特定品種のICソケットを備えたテストボー
ドを、保守が容易な状態で、テストヘッドに対して着脱
可能にしたテストボード着脱装置に関する。
装置、特に特定品種のICソケットを備えたテストボー
ドを、保守が容易な状態で、テストヘッドに対して着脱
可能にしたテストボード着脱装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般にICテスタは、図5に示すよう
に、ピンエレクトロニクス回路等の測定回路を内蔵した
テストヘッド100と、テストヘッド100に接続する
テストボード200を備えている。
に、ピンエレクトロニクス回路等の測定回路を内蔵した
テストヘッド100と、テストヘッド100に接続する
テストボード200を備えている。
【0003】テストヘッド100は、筐体119の上面
に接続部品118を備え、被測定デバイスであるICの
自動供給装置、例えば、水平搬送用オートハンドラ40
0に接続されている。
に接続部品118を備え、被測定デバイスであるICの
自動供給装置、例えば、水平搬送用オートハンドラ40
0に接続されている。
【0004】テストボード200は、シャーシ270と
保持板220を備え、シャーシ270上には、プリント
基板290を介して、ICソケット280が実装されて
いて、このICソケット280に、測定対象であるIC
が装着されるようになっている。
保持板220を備え、シャーシ270上には、プリント
基板290を介して、ICソケット280が実装されて
いて、このICソケット280に、測定対象であるIC
が装着されるようになっている。
【0005】そして、多品種のICを試験する場合に
は、そのICに合った特定品種のICソケット280を
実装したテストボード200が必要となるため、テスト
ボード200は、テストヘッド100に対して、着脱可
能でなければならない。
は、そのICに合った特定品種のICソケット280を
実装したテストボード200が必要となるため、テスト
ボード200は、テストヘッド100に対して、着脱可
能でなければならない。
【0006】従来、特定品種のICソケット280を実
装したテストボード200を、テストヘッド100に装
着する場合は、次のようにする。
装したテストボード200を、テストヘッド100に装
着する場合は、次のようにする。
【0007】先ず、作業者は、水平搬送用オートハンド
ラ400から、テストヘッド100を、作業者の手の届
く位置まで、水平移動させ、次に、ICソケット280
を実装したテストボード200を、そのテストヘッド1
00に装着する。
ラ400から、テストヘッド100を、作業者の手の届
く位置まで、水平移動させ、次に、ICソケット280
を実装したテストボード200を、そのテストヘッド1
00に装着する。
【0008】これとは反対に、テストボード200をテ
ストヘッド100から離脱させる場合にも、先ず、テス
トヘッド100を、作業者の手の届く位置まで、水平移
動させ、次に、ICソケット280を実装したテストボ
ード200を、テストヘッド100から離脱させる。
ストヘッド100から離脱させる場合にも、先ず、テス
トヘッド100を、作業者の手の届く位置まで、水平移
動させ、次に、ICソケット280を実装したテストボ
ード200を、テストヘッド100から離脱させる。
【0009】一方、テストボード200は、テストヘッ
ド100と接続せずに使用しない場合には、テストヘッ
ド100の接続部品118に対応した接続部品210
が、剥き出し状態のまま、保管されている。
ド100と接続せずに使用しない場合には、テストヘッ
ド100の接続部品118に対応した接続部品210
が、剥き出し状態のまま、保管されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記従来技術
には(図5)、次のような課題がある。 (1)テストボード200の着脱動作が面倒で、手間が
かかる。上述したように、従来は特定品種のICソケッ
ト280を実装したテストボード200をテストヘッド
100に対して着脱する場合は、テストヘッド100自
体を水平移動しなければならない。
には(図5)、次のような課題がある。 (1)テストボード200の着脱動作が面倒で、手間が
かかる。上述したように、従来は特定品種のICソケッ
ト280を実装したテストボード200をテストヘッド
100に対して着脱する場合は、テストヘッド100自
体を水平移動しなければならない。
【0011】そのため、テストボード200の着脱動作
が面倒で、手間がかかり、この結果、作業効率が低下す
る。
が面倒で、手間がかかり、この結果、作業効率が低下す
る。
【0012】(2)テストボード200の保守が容易で
ない。また、上述したように、テストボード200は、
使用しない場合には、その接続部品210が剥き出し状
態のまま、保管されている。
ない。また、上述したように、テストボード200は、
使用しない場合には、その接続部品210が剥き出し状
態のまま、保管されている。
【0013】そのため、テストボード200の未使用時
には、接続部品210が損傷され易い。
には、接続部品210が損傷され易い。
【0014】更に、接続部品210は、テストボード2
00の底面に実装されているため、目視で確認し難く、
損傷に気付かないままテストヘッド100に接続する場
合には、テストヘッド100側の接続部品118まで損
傷してしまうことがある。
00の底面に実装されているため、目視で確認し難く、
損傷に気付かないままテストヘッド100に接続する場
合には、テストヘッド100側の接続部品118まで損
傷してしまうことがある。
【0015】これを解決するために、ネジなどの締結部
品でテストボード200の接続部品210を保護するカ
バーが提案されたが、締結作業が煩わしく、このような
カバーは、結局使用されなくなり、接続部品の損傷を招
き、保守効率が悪い。
品でテストボード200の接続部品210を保護するカ
バーが提案されたが、締結作業が煩わしく、このような
カバーは、結局使用されなくなり、接続部品の損傷を招
き、保守効率が悪い。
【0016】この発明の目的は、テストボードの着脱動
作を簡易・迅速に行うと共に、保守を容易にすることに
ある。
作を簡易・迅速に行うと共に、保守を容易にすることに
ある。
【0017】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、この発明によれば、テストボード2に対する嵌合、
又は取り外しが可能であって、テストボード2の接続部
品21を被覆するカバー3と、テストヘッド1に固定さ
れ、カバー3が嵌合されたテストボード2を戴置すると
共に、カバー3を係止し、テストボード2のみの挿入、
又は引き出しが可能な固定レール11と、固定レール1
1と隣接して直列に配置され、テストボード2を戴置し
て昇降し、テストボード2とテストヘッド1の接続部品
21、28どうしを結合、又は分離させる昇降レール1
6を備える。
に、この発明によれば、テストボード2に対する嵌合、
又は取り外しが可能であって、テストボード2の接続部
品21を被覆するカバー3と、テストヘッド1に固定さ
れ、カバー3が嵌合されたテストボード2を戴置すると
共に、カバー3を係止し、テストボード2のみの挿入、
又は引き出しが可能な固定レール11と、固定レール1
1と隣接して直列に配置され、テストボード2を戴置し
て昇降し、テストボード2とテストヘッド1の接続部品
21、28どうしを結合、又は分離させる昇降レール1
6を備える。
【0018】この発明の構成によれば、カバー3が嵌合
されたテストボード2を、固定レール11に載置するこ
とにより(図3)、固定レール11を連結するバー15
のピン14が、カバー3の穴31に挿入して、カバー3
は係止状態となる。
されたテストボード2を、固定レール11に載置するこ
とにより(図3)、固定レール11を連結するバー15
のピン14が、カバー3の穴31に挿入して、カバー3
は係止状態となる。
【0019】従って、テストボード2を、固定レール1
1と同一平面上にある昇降レール16側へ押し込むと、
カバー3だけが、固定レール11側に残り、テストボー
ド2のみを昇降レール16側へ移動させることができる
ので(図4の矢印C)、昇降レール16を降下させて、
テストヘッド1の接続部品18とテストボード2の接続
部品21を結合させることができ、これにより、テスト
ボード2は、テストヘッド1に対して装着される。
1と同一平面上にある昇降レール16側へ押し込むと、
カバー3だけが、固定レール11側に残り、テストボー
ド2のみを昇降レール16側へ移動させることができる
ので(図4の矢印C)、昇降レール16を降下させて、
テストヘッド1の接続部品18とテストボード2の接続
部品21を結合させることができ、これにより、テスト
ボード2は、テストヘッド1に対して装着される。
【0020】また、テストヘッド1の接続部品18と、
テストボード2の接続部品21とを分離させた後、昇降
レール16を、固定レール11と同一平面上まで上昇さ
せることにより、テストボード2を、固定レール11側
へ移動させることができる(図4の矢印D)。
テストボード2の接続部品21とを分離させた後、昇降
レール16を、固定レール11と同一平面上まで上昇さ
せることにより、テストボード2を、固定レール11側
へ移動させることができる(図4の矢印D)。
【0021】従って、テストボード2のガイドレール2
3とマグネット24の作用により、固定レール11側に
残っていたカバー3は、テストボード2に嵌合されるの
で、テストボード2を、カバー3と一体となって取り外
すことができ、これにより、テストボード2は、テスト
ヘッド1から離脱させることができる(図4)。
3とマグネット24の作用により、固定レール11側に
残っていたカバー3は、テストボード2に嵌合されるの
で、テストボード2を、カバー3と一体となって取り外
すことができ、これにより、テストボード2は、テスト
ヘッド1から離脱させることができる(図4)。
【0022】また、離脱したテストボード2には、カバ
ー3が嵌合されているので、そのまま保管することがで
きる。
ー3が嵌合されているので、そのまま保管することがで
きる。
【0023】これにより、テストヘッド1を固定したま
まで、テストボード2のみを移動させることにより着脱
が可能となったので、テストボード2の着脱動作が簡易
・迅速になり、また、テストボード2の着脱時のみ(図
4)、テストボード2の接続部品21を保護するカバー
3を、テストヘッド1に残したままで、特別な作業を必
要とせずに、テストボード2とカバー3の嵌合・取り外
しが可能となったので、テストボード2の未使用時の保
管を容易にすることができるようになった。
まで、テストボード2のみを移動させることにより着脱
が可能となったので、テストボード2の着脱動作が簡易
・迅速になり、また、テストボード2の着脱時のみ(図
4)、テストボード2の接続部品21を保護するカバー
3を、テストヘッド1に残したままで、特別な作業を必
要とせずに、テストボード2とカバー3の嵌合・取り外
しが可能となったので、テストボード2の未使用時の保
管を容易にすることができるようになった。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、この発明を実施形態により
添付図面を参照して説明する。図1は、この発明の実施
形態を示す図である。図1において、参照符号1はテス
トヘッド、2はテストボード、3はカバーである。
添付図面を参照して説明する。図1は、この発明の実施
形態を示す図である。図1において、参照符号1はテス
トヘッド、2はテストボード、3はカバーである。
【0025】テストヘッド1は、筐体19にピンエレク
トロニクス回路等の測定回路(図示省略)を内蔵してお
り、ICテスタ本体(図示省略)と接続され、移動可能
な支持脚部(図示省略)の上に載っている。
トロニクス回路等の測定回路(図示省略)を内蔵してお
り、ICテスタ本体(図示省略)と接続され、移動可能
な支持脚部(図示省略)の上に載っている。
【0026】筐体19の前面19aの上部には、相対向
する2本のレール11が、外側に向かって固定されてい
る。
する2本のレール11が、外側に向かって固定されてい
る。
【0027】固定レール11は、後述するテストボード
2を、カバー3が嵌合された状態でで戴置する(図1)
と共に、カバー3が取り外された状態で、軌道面11a
に沿って案内する(図4)。
2を、カバー3が嵌合された状態でで戴置する(図1)
と共に、カバー3が取り外された状態で、軌道面11a
に沿って案内する(図4)。
【0028】この2本の固定レール11は、バー15に
より連結され、バー15の上面には、ピン14が設けら
れ、後述するカバー3が嵌合されたテストボード2を、
固定レール11に戴置したときに、ピン14がカバー3
の穴31に挿入する。
より連結され、バー15の上面には、ピン14が設けら
れ、後述するカバー3が嵌合されたテストボード2を、
固定レール11に戴置したときに、ピン14がカバー3
の穴31に挿入する。
【0029】また、2本の固定レール11には、後述す
る昇降レール16と反対側に、ブロック13が、昇降レ
ール16側に、プレート12がそれぞれ設けられてい
る。
る昇降レール16と反対側に、ブロック13が、昇降レ
ール16側に、プレート12がそれぞれ設けられてい
る。
【0030】ブロック13は、テストボード2を固定レ
ール11に戴置する場合に(図3の矢印A)、位置決め
の機能を果たし、テストボード2を昇降レール16から
引き出す場合に(図4の矢印D)、ストッパーの機能を
果たす。
ール11に戴置する場合に(図3の矢印A)、位置決め
の機能を果たし、テストボード2を昇降レール16から
引き出す場合に(図4の矢印D)、ストッパーの機能を
果たす。
【0031】プレート12は、テストボード2を固定レ
ール11に載置する場合に(図3の矢印A)、前記ブロ
ック13と共に、位置決めの機能を果たす。
ール11に載置する場合に(図3の矢印A)、前記ブロ
ック13と共に、位置決めの機能を果たす。
【0032】また、筐体9の上面であって、その内側に
は、前記固定レール11に隣接して、レール16が直列
に設けられ、レール16は、矢印E、Fの方向(図4)
に昇降可能に取り付けられている。
は、前記固定レール11に隣接して、レール16が直列
に設けられ、レール16は、矢印E、Fの方向(図4)
に昇降可能に取り付けられている。
【0033】昇降レール16は、固定レール11から移
動して来たテストボード2を戴置し、前記のとおり、昇
降すると共に、テストボード2を、その軌道面16aに
沿って案内する。
動して来たテストボード2を戴置し、前記のとおり、昇
降すると共に、テストボード2を、その軌道面16aに
沿って案内する。
【0034】昇降レール16の底面のほぼ中央部には、
駆動手段であるシリンダ17のピストンロッド17cが
固定され、ピストンロッド17cは、筐体19の上面を
貫通している。
駆動手段であるシリンダ17のピストンロッド17cが
固定され、ピストンロッド17cは、筐体19の上面を
貫通している。
【0035】シリンダ17は、例えばエアシリンダであ
り、筐体19に内蔵されている。
り、筐体19に内蔵されている。
【0036】また、前記昇降レール16の底面には、案
内棒17a、17bが固定されており、案内棒17a、
17bは、ピストンロッド17cを挟んで配置され、筐
体19の上面を貫通している。
内棒17a、17bが固定されており、案内棒17a、
17bは、ピストンロッド17cを挟んで配置され、筐
体19の上面を貫通している。
【0037】この構成により、昇降レール16が最上位
置に到達したときには、その軌道面16aと、固定レー
ル11の軌道面11aとは、同一平面上に位置するよう
になっている。
置に到達したときには、その軌道面16aと、固定レー
ル11の軌道面11aとは、同一平面上に位置するよう
になっている。
【0038】この2本の昇降レール16の間には、筐体
19の上面に、接続部品18が実装されている。
19の上面に、接続部品18が実装されている。
【0039】この接続部品18は、後述するテストボー
ド2の接続部品21と対応している。
ド2の接続部品21と対応している。
【0040】例えばテストヘッド1の接続部品18が雌
コネクタの場合は、テストボード2の接続部品21は、
雄コネクタであり、テストヘッド1の接続部品18がポ
ゴピンと呼ばれる接触子の場合は、テストボード2の接
続部品21は、プリント基板である。
コネクタの場合は、テストボード2の接続部品21は、
雄コネクタであり、テストヘッド1の接続部品18がポ
ゴピンと呼ばれる接触子の場合は、テストボード2の接
続部品21は、プリント基板である。
【0041】この構成により、シリンダ17を作動させ
ると、昇降レール16は、前記固定レール11を介して
挿入されたテストボード2を載置した状態で昇降し、テ
ストボード2とテストヘッド1の接続部品21、18ど
うしを結合させ、又は分離させることが可能である。
ると、昇降レール16は、前記固定レール11を介して
挿入されたテストボード2を載置した状態で昇降し、テ
ストボード2とテストヘッド1の接続部品21、18ど
うしを結合させ、又は分離させることが可能である。
【0042】一方、テストボード2は、既述したよう
に、被測定デバイスであるICを装着するボードであ
り、図1に示すように、シャーシ27と保持板22で構
成されている。
に、被測定デバイスであるICを装着するボードであ
り、図1に示すように、シャーシ27と保持板22で構
成されている。
【0043】シャーシ27は、直方体状に形成され、シ
ャーシ27の上面には、プリント基板29が取り付けら
れ、プリント基板29には、ICソケット28が実装さ
れている。
ャーシ27の上面には、プリント基板29が取り付けら
れ、プリント基板29には、ICソケット28が実装さ
れている。
【0044】保持板22は、シャーシ23を保持し、全
体として矩形状に形成され、保持板22の下面には、接
続部品21が実装されている。
体として矩形状に形成され、保持板22の下面には、接
続部品21が実装されている。
【0045】また、保持板22には、その両側面に翼部
25が取り付けられており、翼部25の上面には、取手
26が設けされている。
25が取り付けられており、翼部25の上面には、取手
26が設けされている。
【0046】更に、前記保持板22の底面であって、前
記接続部品21の両側には、ガイドレール23が設けら
れていると共に、接続部品21の前方には、マグネット
24が設けられている。
記接続部品21の両側には、ガイドレール23が設けら
れていると共に、接続部品21の前方には、マグネット
24が設けられている。
【0047】この構成により、後述するカバー3を、テ
ストボード2に対して嵌合し、又は取り外すことができ
る。
ストボード2に対して嵌合し、又は取り外すことができ
る。
【0048】即ち、カバー3を、ガイドレール23に沿
って挿入すると共に、マグネット24に吸着させること
により、テストボード2に嵌合し、接続部品21を被覆
してそれを保護する。この状態でテストボード2を保管
しておくが、テストヘッド1に対して着脱する場合には
(図4)、カバー3を取り外し、テストボード2のみ
を、固定レール11に沿って移動させる。
って挿入すると共に、マグネット24に吸着させること
により、テストボード2に嵌合し、接続部品21を被覆
してそれを保護する。この状態でテストボード2を保管
しておくが、テストヘッド1に対して着脱する場合には
(図4)、カバー3を取り外し、テストボード2のみ
を、固定レール11に沿って移動させる。
【0049】また、カバー3は、側面の4面のうち一面
は無く、相対する側面の上部に鍔32が設けられ、テス
トボード2のガイドレール23が挿入できるようになっ
ている。
は無く、相対する側面の上部に鍔32が設けられ、テス
トボード2のガイドレール23が挿入できるようになっ
ている。
【0050】カバー3の残りの一側面である前面3a
は、テストボード2のマグネット24に吸着され、当接
する面である。
は、テストボード2のマグネット24に吸着され、当接
する面である。
【0051】更に、カバー3には、既述したバー15の
ピン14に対応した穴31が形成され、カバー3が嵌合
されたテストボード2を固定レール11に戴置したとき
に(図3)、この穴31にピン14が挿入される。
ピン14に対応した穴31が形成され、カバー3が嵌合
されたテストボード2を固定レール11に戴置したとき
に(図3)、この穴31にピン14が挿入される。
【0052】これにより、カバー3は、固定レール11
に係止され、カバー3からテストボード2を取り外し
(図4)、テストボード2のみを固定レール11に沿っ
て移動させ、テストヘッド1に対する挿入、又は引き出
しを行うことができる(図4の矢印C、D)。
に係止され、カバー3からテストボード2を取り外し
(図4)、テストボード2のみを固定レール11に沿っ
て移動させ、テストヘッド1に対する挿入、又は引き出
しを行うことができる(図4の矢印C、D)。
【0053】以下、前記構成を備えたこの発明の動作を
説明する。
説明する。
【0054】A.テストボード2の保管 図2に示すように、テストボード16の保持板22の下
面に取り付けられたガイドレール23と、保持板22の
下面の間に、カバー3の鍔32を挿入して行くと、カバ
ー3の前面3aが、保持板22の下面に取り付けられた
マグネット24磁力により、吸着される。
面に取り付けられたガイドレール23と、保持板22の
下面の間に、カバー3の鍔32を挿入して行くと、カバ
ー3の前面3aが、保持板22の下面に取り付けられた
マグネット24磁力により、吸着される。
【0055】これにより、カバー3は、テストボード2
に嵌合され、接続部品21がカバー3に被覆されること
により、保護され、またカバー3とテストボード2が一
体となって保管される。
に嵌合され、接続部品21がカバー3に被覆されること
により、保護され、またカバー3とテストボード2が一
体となって保管される。
【0056】B.テストボード2の装着 (1)テストボード2の載置 図3に示すように、カバー3が嵌合されているテストボ
ード2を、その取手26を手で握りながら、保管場所か
らテストヘッド1まで運び、矢印Aで示すように、テス
トヘッド1の外側に固定された固定レール11上に戴置
させる。
ード2を、その取手26を手で握りながら、保管場所か
らテストヘッド1まで運び、矢印Aで示すように、テス
トヘッド1の外側に固定された固定レール11上に戴置
させる。
【0057】このとき、テストボード2の翼部25が、
テストヘッド1の固定レール11の上面に設けられたプ
レート12とブロック13の間に収まるように、位置決
めする。
テストヘッド1の固定レール11の上面に設けられたプ
レート12とブロック13の間に収まるように、位置決
めする。
【0058】また、この場合、テストボード2に嵌合さ
れているカバー3は,固定レール11を連結しているバ
ー15上に戴置され、カバー3の穴31に、バー15の
ピン14が挿入されることにより、カバー3は係止され
る。
れているカバー3は,固定レール11を連結しているバ
ー15上に戴置され、カバー3の穴31に、バー15の
ピン14が挿入されることにより、カバー3は係止され
る。
【0059】(2)テストボード2の挿入 次に、テストボード2の翼部25を、図4の矢印Cで示
すように、固定レール11の軌道面11a上を滑動させ
ることにより、テストボード2を固定レール11側から
昇降レール16側へ移動させる。この場合、2つの取手
26の間の長さは、2つのプレート12の間の長さより
も小さく、また、翼部25の厚さは、プレート12と軌
道面11aの間の距離よりも小さいので、テストボード
2の翼部25は、プレート12の下を通過して、固定レ
ール11側から昇降レール16側へ移動させることがで
きる。
すように、固定レール11の軌道面11a上を滑動させ
ることにより、テストボード2を固定レール11側から
昇降レール16側へ移動させる。この場合、2つの取手
26の間の長さは、2つのプレート12の間の長さより
も小さく、また、翼部25の厚さは、プレート12と軌
道面11aの間の距離よりも小さいので、テストボード
2の翼部25は、プレート12の下を通過して、固定レ
ール11側から昇降レール16側へ移動させることがで
きる。
【0060】また、既述したように、カバー3の穴31
に、バー15のピン14が挿入することにより、カバー
3は、固定レール11のバー15に係止されている。
に、バー15のピン14が挿入することにより、カバー
3は、固定レール11のバー15に係止されている。
【0061】従って、テストボード2を、昇降レール1
6側に押し込むことにより、その押し込み力がマグネッ
ト24の磁力に打ち勝ち、カバー3の前面3aからマグ
ネット24が引き離され、テストボード2をカバー3か
ら取り外し、テストボード2のみを昇降レール16側へ
移動させることができる。
6側に押し込むことにより、その押し込み力がマグネッ
ト24の磁力に打ち勝ち、カバー3の前面3aからマグ
ネット24が引き離され、テストボード2をカバー3か
ら取り外し、テストボード2のみを昇降レール16側へ
移動させることができる。
【0062】昇降レール16側に移動させたテストボー
ド2を更に押し込んで、昇降レール16の当接面16b
に突き当てることにより、テストボード2をテストヘッ
ド1に挿入する。
ド2を更に押し込んで、昇降レール16の当接面16b
に突き当てることにより、テストボード2をテストヘッ
ド1に挿入する。
【0063】次いで、シリンダ17を作動させ、テスト
ボード2が戴置された状態の昇降レール16を、矢印E
に示す方向に降下させることにより、最下位置まで到達
させ、テストボード2の接続部品21とテストヘッド1
の接続部品18を結合させる。
ボード2が戴置された状態の昇降レール16を、矢印E
に示す方向に降下させることにより、最下位置まで到達
させ、テストボード2の接続部品21とテストヘッド1
の接続部品18を結合させる。
【0064】これにより、テストボード2は、テストヘ
ッド1に装着された。
ッド1に装着された。
【0065】C.テストボードの離脱 (1)テストボードの引き出し シリンダ17を作動させ、テストボード2が戴置された
状態の昇降レール16を、図4の矢印Fに示す方向に上
昇させることにより、テストボード2の接続部品21と
テストヘッド1の接続部品18を分離させると共に、昇
降レール16を最上位置まで到達させ、その軌道面16
aと、固定レール11の軌道面11aとを同一平面上に
位置させる。
状態の昇降レール16を、図4の矢印Fに示す方向に上
昇させることにより、テストボード2の接続部品21と
テストヘッド1の接続部品18を分離させると共に、昇
降レール16を最上位置まで到達させ、その軌道面16
aと、固定レール11の軌道面11aとを同一平面上に
位置させる。
【0066】昇降レール16が最上位置まで到達したと
きに、それに戴置されているテストボード2を、図4の
矢印Dで示すように、昇降レール16側から固定レール
11側へ移動させることにより、テストボード2の翼部
25を、固定レール11のブロック13に突き当てる。
きに、それに戴置されているテストボード2を、図4の
矢印Dで示すように、昇降レール16側から固定レール
11側へ移動させることにより、テストボード2の翼部
25を、固定レール11のブロック13に突き当てる。
【0067】このとき、テストボード2を、固定レール
11側に移動させて行くと、テストボード2の保持板2
2のガイドレール23と保持板22の底面の間に、固定
レール11上に残っていたカバー3の鍔32が挿入さ
れ、テストボード2の翼部25が、ブロック13に突き
当たると同時に、テストボード2の保持板22に取り付
けられたマグネット24が、カバー3の前面3aと吸着
する。
11側に移動させて行くと、テストボード2の保持板2
2のガイドレール23と保持板22の底面の間に、固定
レール11上に残っていたカバー3の鍔32が挿入さ
れ、テストボード2の翼部25が、ブロック13に突き
当たると同時に、テストボード2の保持板22に取り付
けられたマグネット24が、カバー3の前面3aと吸着
する。
【0068】これにより、テストボード2とカバー3は
嵌合された。
嵌合された。
【0069】(2)テストボードの取り出し テストボード2とカバー3を嵌合させた場合(図3)、
テストボード2の翼部25は、固定レール11のブロッ
ク13とプレート12の間に位置している(図3)。
テストボード2の翼部25は、固定レール11のブロッ
ク13とプレート12の間に位置している(図3)。
【0070】従って、カバー3が嵌合されているテスト
ボード2の取手26を手で握り、矢印Bで示すように、
テストボード2を上に持ち上げれば、カバー3と一体の
ままで、テストヘッド1から取り出すことがでる。
ボード2の取手26を手で握り、矢印Bで示すように、
テストボード2を上に持ち上げれば、カバー3と一体の
ままで、テストヘッド1から取り出すことがでる。
【0071】これにより、テストボード2は、テストヘ
ッド1から離脱させることができ、カバー3が嵌合され
たままの状態で保管する。
ッド1から離脱させることができ、カバー3が嵌合され
たままの状態で保管する。
【0072】
【発明の効果】前記のとおり、この発明によれば、テス
トボード着脱装置を、テストボードを保護するカバー
と、テストボードのみの挿入・引き出しが可能な固定レ
ールと、テストボードを戴置して昇降する昇降レールで
構成したことにより、カバーを固定レールに残した状態
で、固定レール11と昇降レールを介してテストボード
のみを移動させ、テストヘッドに対する着脱動作が可能
となり、また、テストボードの着脱時のみ、ネジなどの
特別な手段を利用した締結作業を必要とすることなく、
テストボード2とカバー3の嵌合・取り外しが可能とな
った。
トボード着脱装置を、テストボードを保護するカバー
と、テストボードのみの挿入・引き出しが可能な固定レ
ールと、テストボードを戴置して昇降する昇降レールで
構成したことにより、カバーを固定レールに残した状態
で、固定レール11と昇降レールを介してテストボード
のみを移動させ、テストヘッドに対する着脱動作が可能
となり、また、テストボードの着脱時のみ、ネジなどの
特別な手段を利用した締結作業を必要とすることなく、
テストボード2とカバー3の嵌合・取り外しが可能とな
った。
【0073】従って、テストボードの着脱動作を簡易・
迅速に行うと共に、保守を容易にすることができるとい
う効果がある。
迅速に行うと共に、保守を容易にすることができるとい
う効果がある。
【0074】
【図1】この発明の実施形態を示す全体図である。
【図2】この発明のテストボード2とカバー3との関係
を示す図である。
を示す図である。
【図3】この発明のテストヘッド1に対するテストボー
ド2の戴置動作と取り出し動作を説明する図である。
ド2の戴置動作と取り出し動作を説明する図である。
【図4】この発明のテストヘッド1に対するテストボー
ド2の挿入動作と引き出し動作を説明する図である。
ド2の挿入動作と引き出し動作を説明する図である。
【図5】従来技術の説明図である。
1 テストヘッド 2 テストボード 3 カバー 4 水平搬送用オートハンドラ 11 固定レール 12 プレート 13 ブロック 14 ピン 15 バー 16 昇降レール 17 シリンダ 18 テストヘッド1の接続部品 19 筐体 21 テストボード2の接続部品 22 保持板 23 ガイドレール 24 マグネット 25 翼部 26 取手 27 シャーシ 28 ICソケット 29 プリント基板 31 カバー3の穴 32 カバー3の鍔
Claims (3)
- 【請求項1】 テストボード(2)に対する嵌合、又は
取り外しが可能であって、テストボード(2)の接続部
品(21)を被覆するカバー(3)と、 テストヘッド(1)に固定され、カバー(3)が嵌合さ
れたテストボード(2)を戴置すると共に、カバー
(3)を係止し、テストボード(2)のみの挿入、又は
引き出しが可能な固定レール11と、 固定レール(11)と隣接して直列に配置され、テスト
ボード(2)を戴置して昇降し、テストボード(2)と
テストヘッド(1)の接続部品(21、28)どうしを
結合、又は分離させる昇降レール(16)を備えたこと
を特徴とするテストボード着脱装置。 - 【請求項2】 テストボード(2)の両側には、ガイド
レール(23)が、前方には、マグネット(24)がそ
れぞれ設けられ、カバー(3)の鍔(32)をガイドレ
ール(23)に沿って挿入することにより、カバー
(3)の前面(3a)がマグネット(24)に吸着され
る請求項1記載のテストボード着脱装置。 - 【請求項3】 固定レール(11)はバー(15)によ
り連結されていると共に、バー(15)には、ピン(1
4)が設けられ、カバー(3)が嵌合されたテストボー
ド(2)を固定レール(11)に戴置したときに、ピン
(14)が、カバー(3)の穴(31)に挿入される請
求項1記載のテストボード着脱装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12789997A JP3324445B2 (ja) | 1997-04-30 | 1997-04-30 | テストボード着脱装置 |
GB9807480A GB2325357B (en) | 1997-04-30 | 1998-04-07 | Test board mount/dismount apparatus |
IE980260A IE980260A1 (en) | 1997-04-30 | 1998-04-07 | Test board mount/dismount apparatus |
SG1998000744A SG65062A1 (en) | 1997-04-30 | 1998-04-15 | Test board mount/dismount apparatus |
KR1019980015169A KR100318955B1 (ko) | 1997-04-30 | 1998-04-28 | 테스트보드착탈장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12789997A JP3324445B2 (ja) | 1997-04-30 | 1997-04-30 | テストボード着脱装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10300816A true JPH10300816A (ja) | 1998-11-13 |
JP3324445B2 JP3324445B2 (ja) | 2002-09-17 |
Family
ID=14971425
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12789997A Expired - Fee Related JP3324445B2 (ja) | 1997-04-30 | 1997-04-30 | テストボード着脱装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3324445B2 (ja) |
KR (1) | KR100318955B1 (ja) |
GB (1) | GB2325357B (ja) |
IE (1) | IE980260A1 (ja) |
SG (1) | SG65062A1 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008003073A (ja) * | 2006-05-25 | 2008-01-10 | Yokogawa Electric Corp | Icテスタ及びテストボードの着脱方法 |
WO2011064847A1 (ja) * | 2009-11-25 | 2011-06-03 | 株式会社アドバンテスト | 基板装着装置、テストヘッド、及び電子部品試験装置 |
CN102451820A (zh) * | 2010-10-15 | 2012-05-16 | 王立民 | 电子产品的挑检方法 |
JP2021158378A (ja) * | 2019-11-07 | 2021-10-07 | 東京エレクトロン株式会社 | ウエハ検査システム |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100632032B1 (ko) * | 1999-07-14 | 2006-10-04 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 프로브 카드 분리 가이드를 구비한 dc 검사장비 |
KR100772152B1 (ko) * | 2006-11-22 | 2007-11-02 | 프롬써어티 주식회사 | 웨이퍼 테스터용 테스트헤드와 퍼포먼스보드유닛의도킹장치 |
KR101348423B1 (ko) * | 2013-10-08 | 2014-01-10 | 주식회사 아이티엔티 | 자동 테스트 장비의 테스트 보드용 이젝터 장치 |
TWI593469B (zh) * | 2014-05-22 | 2017-08-01 | 旺矽科技股份有限公司 | 晶粒標示方法及晶粒標示設備 |
KR101883749B1 (ko) | 2017-08-16 | 2018-07-31 | 주식회사 포스코 | 소재 표면조도 측정지그 및 이를 이용한 측정방법 |
-
1997
- 1997-04-30 JP JP12789997A patent/JP3324445B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-04-07 IE IE980260A patent/IE980260A1/en not_active IP Right Cessation
- 1998-04-07 GB GB9807480A patent/GB2325357B/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-04-15 SG SG1998000744A patent/SG65062A1/en unknown
- 1998-04-28 KR KR1019980015169A patent/KR100318955B1/ko not_active IP Right Cessation
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008003073A (ja) * | 2006-05-25 | 2008-01-10 | Yokogawa Electric Corp | Icテスタ及びテストボードの着脱方法 |
WO2011064847A1 (ja) * | 2009-11-25 | 2011-06-03 | 株式会社アドバンテスト | 基板装着装置、テストヘッド、及び電子部品試験装置 |
JP5368580B2 (ja) * | 2009-11-25 | 2013-12-18 | 株式会社アドバンテスト | 基板装着装置、テストヘッド、及び電子部品試験装置 |
CN102451820A (zh) * | 2010-10-15 | 2012-05-16 | 王立民 | 电子产品的挑检方法 |
JP2021158378A (ja) * | 2019-11-07 | 2021-10-07 | 東京エレクトロン株式会社 | ウエハ検査システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3324445B2 (ja) | 2002-09-17 |
GB2325357A (en) | 1998-11-18 |
KR19980081806A (ko) | 1998-11-25 |
IE980260A1 (en) | 1998-11-04 |
KR100318955B1 (ko) | 2002-03-20 |
GB9807480D0 (en) | 1998-06-10 |
GB2325357B (en) | 2001-07-18 |
SG65062A1 (en) | 1999-05-25 |
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