JPH10270594A - 配線基板 - Google Patents
配線基板Info
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- JPH10270594A JPH10270594A JP7026497A JP7026497A JPH10270594A JP H10270594 A JPH10270594 A JP H10270594A JP 7026497 A JP7026497 A JP 7026497A JP 7026497 A JP7026497 A JP 7026497A JP H10270594 A JPH10270594 A JP H10270594A
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- H05K1/092—Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
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- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
Abstract
接続不良を起こすことがなく、しかも基板上に設けられ
たスルーホールに気泡が発生しにくく信頼性の高い回路
基板構造を提供することを目的とする。 【解決手段】基板1の少なくとも一方の面側には配線パ
ターン5が設けられ、また基板1にはスルーホール2が
設けられる。基板1の配線パターン5が設けられた面側
には配線パターン5と接続された電極3が形成される。
突起電極4と電極3とはスルーホール2に充填されたた
とえば半田等の金属によって電気的に接続される。電極
3には細孔が適当数設けられており、金属を充填する際
の空気抜けに用いられる。
Description
た基板に関するものであって、更に詳しくはスルーホー
ルを介して基板に設けられた電極と、電極の設けられた
面と異なる面に突起電極を形成した配線基板に関するも
のである。
アレイ)やCSP(チップ サイズパッケージ)やM
CM(マルチ チップ モジュール)等の半導体装置に
おいては、各種の基板を用いて、半導体素子と外部電極
の接続が図られている。その際、配線基板の一方の面に
半導体素子を搭載し、他の一方の面に外部電極を設け、
それぞれの間を配線パターン及びスルーホールを用いて
接続する方法が採られている。一例として、図5および
図6および図7に一般的にBGAとして用いられている
パッケージの構造を示した。
の概略を示した断面図であり、図6および図7は、図5
に示した半導体装置の要部を示す断面図である。図中、
101は基板、102は基板101の一方の面ににフェ
イスダウンまたはワイヤーボンディング技術で実装され
た半導体素子、103は基板上に形成され、半導体素子
102と接続された配線パターン、104は配線パター
ン103の一部を用いて形成された電極、105は基板
101の半導体素子102と異なる他方の面に形成され
た突起電極、106は電極104と突起電極105を接
続するために基板101に設けられたスルーホール、1
07は電解メッキによりスルーホール106中に形成さ
れた金属メッキ層である。突起電極105として通常多
く用いられるのは、Sn/Pb半田をボール状に形成す
る方法である。図6に示すように半田を電極104にス
ルーホール106を通して半田付けし、突起電極105
を形成する。半田による突起電極の形成方法には半田ク
リームと呼ばれる半田の微粒子をフラックス中に分散さ
せペースト状にしたものをスルーホール上に塗布した
後、加熱し半田を溶融させることにより半田付けを行
う。
のスルーホール106側に電解メッキ法により金属メッ
キ層107を形成した後Sn/Pb半田を金属メッキ層
107に半田付けし突起電極105を形成する場合もあ
る。
術を用いて半導体装置を製造している。
半導体装置に用いる配線基板においては、例えば図6に
おいて、半田をスルーホール106を通して電極104
に半田付けするために気泡108が入りやすく、突起電
極105と電極104の接合強度の低下や電気的な接続
不良を起こすことがあった。また、図7による電解メッ
キによる配線基板においては、電解メッキをするための
大がかりな湿式の設備が必要であり、簡便に基板を製造
することが出来なかった。
決するために設けられたもので、請求項1に記載の配線
基板では、配線パターンが少なくとも一方の面側に設け
られた基板と、前記基板に設けられたスルーホールと、
前記スルーホールの一方の面側に設けられ、なおかつ前
記配線パターンと接続された電極と、前記スルーホール
に充填された金属によってなる配線基板であって、前記
電極部にひとつまたは複数個の孔が設けられたことを特
徴とする。このような構造の配線基板を用いれば、ま
ず、湿式の大がかりな設備を必要とせず簡便に配線基板
を製造できる。また、半田付け時に前記電極上に設けら
れた一つまたは複数個の孔により空気が抜けるため、気
泡の発生もなく、良好な接続を得る事が出来る。
パターンが少なくとも一方の面側に設けられた基板と、
前記基板に設けられたスルーホールと、前記スルーホー
ルの一方の面側に設けられ、なおかつ前記配線パターン
と接続された電極と、前記スルーホールに充填された金
属粒子を含む樹脂によってなる配線基板であって、前記
電極部にひとつまたは複数個の孔が設けられたことを特
徴とする。このような構造の配線基板においては、前述
の特徴に加え、半田による接続方法に比べ比較的低温で
突起電極を形成することが出来るため、配線基板や半導
体装置に与える熱によるダメージを少なくすることが出
来る。
一実施例を概念的に示す断面図であり。図2(a)は、
図1の配線基板の要部を拡大して示す断面図であり図2
(b)は図2(a)を図中斜め上方から見た斜視図であ
る。図2(c)は、図2(a)の製造工程を説明する断
面図である。
基板1に開けられたスルーホール、3はスルーホールの
一方の開口部上に設けられた電極、3aは電極3に設け
られた孔、4は突起電極、5は配線パターン、6は接着
剤を現している。
(b)および図2(c)を用いて説明する。まず、基板
1として厚み125μmのポリイミド樹脂を用いた。基
板1には接着剤6を厚み約10〜20μm塗布する。基
板1に所定の形状のプレス抜きを行いスルーホール2を
形成する。スルーホール2としてφ150μmの丸穴を
開けている。次に厚み35μmの銅箔を接着剤6に加熱
押圧して接着し、フォトエッチング法を用いて所定のパ
ターン5を形成する。この際、スルーホール2上に電極
3と電極3に細い孔3aを形成する。この後、図2
(c)に示すように、電極3と反対の面にスルーホール
2の一部または全てを充填するように半田粒子8をフラ
ックス中に含ませた半田クリーム7をスクリーン印刷に
より印刷する。この際、電極3には、細孔3aが設けて
あることにより、スルーホール2を塞ぐように半田クリ
ーム7を印刷しても、スルーホール2中の空気は、細孔
3aを通して排気されるため、スルーホール中に半田ク
リーム7の未充填の発生を無くすことが出来る。その
後、約185〜230℃に加熱し、半田を溶融させる。
溶融した半田は自身の表面張力により球状となり、図2
(a)の構造を得ることが出来る。この様に加熱した場
合には、半田クリーム中のフラックスが熱により一部ガ
ス化するが、このガスも細孔3aを通して排出されるた
め、スルーホール2中に空洞は発生しない。
ル グリッド アレイ)と呼ばれるTCP(テープ キ
ャリア パッケージ)上に半田による突起電極を形成し
た半導体装置に適用する配線基板としての一例としてあ
げた。その他に、通常広く用いられる材料としてガラス
エポキシ樹脂による基板やセラミックスによる基板にお
いても上記実施例と同様な効果が得られることは容易に
推察することが出来る。
クリーム7の替わりに金属粒子を含有する樹脂を塗布
し、約150℃で加熱硬化させることにより突起電極4
を形成しても良い。金属粒子としてAg/Pd合金の微
粉末を用いた。Ag/Pdの微粉末を含んだ樹脂を印刷
する際も前述の実施例による半田クリーム7の印刷時と
同様に気泡が細孔を通って排出されるため未充填による
気泡の発生を同様に防ぐことが出来る。また、本実施例
によれば半田の溶融温度である180℃以上に加熱しな
くても樹脂が硬化するため、配線基板に与える熱による
ダメージを少なくすることが出来る。
ように図3および図4に斜視図で示したような形状を選
択することも可能である。この場合電極3とスルーホー
ル2との隙間2aが、図2(b)の細孔3aと同じ機能
を果たし、スルーホール2に半田クリームや充填される
金属粒子を含有する樹脂を充填した際の空気抜きの機能
を果たし、突起電極と電極との接続を良好にすることが
出来る。
た半導体装置において、電極3に細孔3aまたは、電極
3とスルーホール2との間隙2aを設けることにより、
スルーホール2への未充填や気泡の発生を無くすことが
できる。このことにより、突起電極5と電極3との電気
的接合を良好に保ち、高い品質の製品を得ることが出来
る。
て金属粒子を含有した樹脂を用いることにより、熱スト
レスのかからない配線基板を得ることが出来る。
す断面図である。
一実施例の要部を概念的に示す断面図であり、(b)は
(a)の電極3側上方より見た斜視図である。
視図である。
視図である。
である。
面図である。
面図である。
Claims (3)
- 【請求項1】配線パターンが少なくとも一方の面側に設
けられた基板と、前記基板に設けられたスルーホール
と、前記スルーホールの一方の面側に設けられ、なおか
つ前記配線パターンと接続された電極と、前記スルーホ
ールに充填された金属によってなる配線基板であって、
前記電極部にひとつまたは複数個の孔が設けられたこと
を特徴とする配線基板。 - 【請求項2】配線パターンが少なくとも一方の面側に設
けられた基板と、前記基板に設けられたスルーホール
と、前記スルーホールの一方の面側に設けられ、なおか
つ前記配線パターンと接続された電極と、前記スルーホ
ールに充填された金属粒子を含む樹脂によってなる配線
基板であって、前記電極部にひとつまたは複数個の孔が
設けられたことを特徴とする配線基板。 - 【請求項3】前記電極と前記スルーホールの開口部との
間に間隙を有することを特徴とする請求項1または請求
項2記載の配線基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07026497A JP3582286B2 (ja) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 配線基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07026497A JP3582286B2 (ja) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 配線基板の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10270594A true JPH10270594A (ja) | 1998-10-09 |
JP3582286B2 JP3582286B2 (ja) | 2004-10-27 |
Family
ID=13426507
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP07026497A Expired - Fee Related JP3582286B2 (ja) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 配線基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3582286B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6408749B1 (en) * | 1998-10-27 | 2002-06-25 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Gear transmission for driving a printing press |
JP2002190548A (ja) * | 2000-12-20 | 2002-07-05 | Hitachi Cable Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2006210770A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Toppan Printing Co Ltd | 半導体装置搭載用基板、および半導体素子用bgaパッケージ |
-
1997
- 1997-03-24 JP JP07026497A patent/JP3582286B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6408749B1 (en) * | 1998-10-27 | 2002-06-25 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Gear transmission for driving a printing press |
JP2002190548A (ja) * | 2000-12-20 | 2002-07-05 | Hitachi Cable Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2006210770A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Toppan Printing Co Ltd | 半導体装置搭載用基板、および半導体素子用bgaパッケージ |
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JP3582286B2 (ja) | 2004-10-27 |
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