JPH10254140A - 感放射線性樹脂組成物 - Google Patents
感放射線性樹脂組成物Info
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- JPH10254140A JPH10254140A JP9074718A JP7471897A JPH10254140A JP H10254140 A JPH10254140 A JP H10254140A JP 9074718 A JP9074718 A JP 9074718A JP 7471897 A JP7471897 A JP 7471897A JP H10254140 A JPH10254140 A JP H10254140A
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Abstract
ホールの解像度が優れ、しかも放射線に対する透明性、
ドライエッチング耐性、パターン形状、感度、解像度等
にも優れた感放射線性樹脂組成物を提供する。 【解決手段】 感放射線性樹脂組成物は、(A)主鎖お
よび/または側鎖に脂環式骨格を有する樹脂、(B1)
波長100〜300nmの放射線に対する透過率が60
%/μm以上である樹脂または(B2)下記一般式
(1)で表される分子量1,000以下の化合物、並び
に(C)感放射線性酸発生剤を含有し、かつ成分(A)
と成分(B1)または(B2)との少なくとも一方が酸
開裂性基を含有する。 【化1】 〔式中、R1 およびR2 は水素原子または酸開裂性基、
Zは環構成炭素原子の合計数が7〜25の環状炭化水素
構造を有する基を示し、0≦a≦6、0≦b≦6、1≦
(a+b)を満たす。〕
Description
成物に関わり、さらに詳しくは化学増幅型レジストとし
て好適に使用することができる感放射線性樹脂組成物に
関する。
工の分野においては、より高い集積度を得るために、最
近ではサブハーフミクロンオーダー(0.4μm以下)
の微細加工を可能にするリソグラフィー技術の開発が進
められており、近い将来には、サブクオーターミクロン
(0.25μm以下)レベルでの微細加工技術が必要に
なるとされている。従来のリソグラフィープロセスにお
いては、一般に放射線としてi線等の近紫外線が用いら
れているが、近紫外線ではサブクオーターミクロンレベ
ルの微細加工が極めて困難であると言われている。そこ
で、サブクオーターミクロンレベルの微細加工を可能と
するために、より波長の短い放射線の利用が検討されて
いる。このような短波長の放射線としては、例えば水銀
灯の輝線スペクトル、エキシマレーザーに代表される遠
紫外線、X線、電子線等を挙げることができるが、これ
らのうち、特にKrFエキシマレーザー(波長248n
m)あるいはArFエキシマレーザー(波長193n
m)が注目されている。このようなエキシマレーザーに
よる照射に適した感放射線性樹脂組成物として、酸解離
性官能基を有する成分と放射線の照射により酸を発生す
る成分(以下、「酸発生剤」という。)とによる化学増
幅効果を利用した組成物(以下、「化学増幅型感放射線
性組成物」という。)が数多く提案されている。このよ
うな化学増幅型感放射線性組成物としては、例えば、特
公平2−27660号公報には、カルボン酸のt−ブチ
ルエステル基またはフェノールのt−ブチルカーボナー
ト基を有する重合体と酸発生剤とを含有する組成物が提
案されている。この組成物は、放射線の照射により発生
した酸の作用により、重合体中に存在するt−ブチルエ
ステル基あるいはt−ブチルカーボナート基が開裂し
て、該重合体がカルボキシル基あるいはフェノール性水
酸基からなる酸性基を有するようになり、その結果、レ
ジスト被膜の照射領域がアルカリ現像液に易溶性となる
現象を利用したものである。ところで、従来の化学増幅
型感放射線性組成物の多くは、フェノール系樹脂をベー
スにするものであるが、このような樹脂では、放射線と
して遠紫外線を使用する場合、樹脂中の芳香族環に起因
して遠紫外線が吸収されるため、照射された遠紫外線が
レジスト被膜の下層部まで十分に到達できないという欠
点があり、そのため照射量がレジスト被膜の上層部では
多く、下層部では少なくなり、現像後のレジストパター
ンが上部が細く下部にいくほど太い台形状になってしま
い、十分な解像度が得られないなどの問題があった。そ
の上、現像後のレジストパターンが台形状となった場
合、次の工程、即ちエッチングやイオンの打ち込みなど
を行う際に、所望の寸法精度が達成できず、問題となっ
ていた。しかも、レジストパターン上部の形状が矩形で
ないと、ドライエッチングによるレジストの消失速度が
速くなってしまい、エッチング条件の制御が困難になる
問題もあった。一方、レジストパターンの形状は、レジ
スト被膜の放射線の透過率を高めることにより改善する
ことができる。例えば、ポリメチルメタクリレートに代
表される(メタ)アクリレート系樹脂は、遠紫外線に対
しても透明性が高く、放射線の透過率の観点から非常に
好ましい樹脂であり、例えば特開平4−226461号
公報には、メタクリレート系樹脂を使用した化学増幅型
感放射線性樹脂組成物が提案されている。しかしなが
ら、この組成物は、微細加工性能の点では優れているも
のの、芳香族環をもたないため、ドライエッチング耐性
が低いという欠点があり、この場合も高精度のエッチン
グ加工を行うことが困難である。さらに、化学増幅型感
放射線性組成物のレジストとしての特性を改良する方策
の一つとして、高分子あるいは低分子の添加剤を配合し
た3成分以上の多成分系組成物が多数提案されている
が、特にレジスト被膜の放射線の透過率と前記添加剤の
作用との関係については、未だ十分検討されておらず、
特にコンタクトホールの解像度の面で満足できず、さら
にはドライエッチング耐性、パターン形状、感度、解像
度等を総合した特性バランスの面でも未だ十分ではな
い。
放射線、例えばArFエキシマレーザーに代表される遠
紫外線、に感応する化学増幅型レジストとして、放射線
に対する透明性が優れ、十分なドライエッチング耐性を
有するとともに、特にコンタクトホールの解像度が優
れ、かつパターン形状、感度、解像度等の特性バランス
にも優れた化学増幅型レジストとして好適に使用するこ
とができる感放射線性樹脂組成物を提供することにあ
る。
に、(A)主鎖および/または側鎖に脂環式骨格を有す
る樹脂、(B1)フィルムとして100〜300nmの
波長範囲内の放射線に対する透過率が60%/μm以上
である樹脂、および(C)放射線の照射により酸を発生
する感放射線性酸発生剤を含有する感放射線性樹脂組成
物であって、前記成分(A)と成分(B1)の少なくと
も一方が酸開裂性基を含有することを特徴とする感放射
線性樹脂組成物(以下、「第1発明」という。)、から
なる。
び/または側鎖に脂環式骨格を有する樹脂、(B2)下
記一般式(1)で表される分子量1,000以下の化合
物、および(C)放射線の照射により酸を発生する感放
射線性酸発生剤を含有する感放射線性樹脂組成物であっ
て、前記成分(A)と成分(B2)の少なくとも一方が
酸開裂性基を含有することを特徴とする感放射線性樹脂
組成物(以下、「第2発明」という。)、
はそれぞれ独立に水素原子または酸開裂性基を示し、Z
は環を構成する炭素原子の合計数が7〜25の環状炭化
水素構造を有する基を示し、aおよびbは、0≦a≦
6、0≦b≦6、1≦(a+b)を満たす。〕からな
る。
よび/または側鎖に脂環式骨格を有する樹脂(以下、
「樹脂(A)」という。)からなる。第1発明における
樹脂(A)は、後述する樹脂(B1)が酸開裂性基を含
有しない場合は、酸開裂性基を含有しなければならず、
また、第2発明における樹脂(A)は、後述する化合物
(B2)が酸開裂性基を含有しない場合は、酸開裂性基
を含有しなければならない。但し、第1発明あるいは第
2発明においては、樹脂(A)と樹脂(B1)あるいは
化合物(B2)との双方が酸開裂性基を含有していても
よい。樹脂(A)における酸開裂性基は、適宜の位置に
存在することができるが、樹脂(A)が主鎖に脂環式骨
格を有する場合は、酸開裂性基は該脂環式骨格に存在す
ることが好ましい。また、樹脂(A)においては、酸開
裂性基自体が脂環式骨格を有することもできる。樹脂
(A)における脂環式骨格は単環でも多環でもよく、ま
た該脂環式骨格は1種以上存在することができる。ま
た、該脂環式骨格は、例えば、ハロゲン原子、炭素数1
〜10の1価の炭化水素基、炭素数1〜10の1価のハ
ロゲン化炭化水素基等の置換基を適宜の位置に有するこ
ともできる。第1発明および第2発明においては、樹脂
(A)がその主鎖および/または側鎖に脂環式骨格を有
することにより、レジストとして、特に放射線に対する
透明性およびドライエッチング耐性が優れた感放射線性
樹脂組成物を得ることができる。
する樹脂(以下、「樹脂(AI)」という。)、側鎖の
みに脂環式骨格を有する樹脂(以下、「樹脂(AII)」
という。)、および主鎖と側鎖の両方に脂環式骨格を有
する樹脂(以下、「樹脂(AIII)」という。)に分ける
ことができる。以下、これらの樹脂について順次説明す
る。まず、樹脂(AI)において、脂環式骨格は、好ま
しくは下記一般式(2)または一般式(3)で表される
骨格であり、特に下記一般式(2)で表される骨格が好
ましい。
て、nは0または1であり、AおよびBはそれぞれ独立
に水素原子、ハロゲン原子、炭素数1〜10の1価の炭
化水素基または炭素数1〜10の1価のハロゲン化炭化
水素基を示し、XおよびYはそれぞれ独立に水素原子、
ハロゲン原子、炭素数1〜10の1価の炭化水素基、炭
素数1〜10の1価のハロゲン化炭化水素基または酸開
裂性基を示し、かつXおよびYのうち少なくとも一つは
酸開裂性基である。〕 一般式(2)および一般式(3)におけるXおよびYの
酸開裂性基(以下、「酸開裂性基(i)」という。)と
しては、基-(CH2)x COOR3 、-(CH2)x 0COR4 もしくは
-(CH2)x CN{但し、R3は炭素数1〜10の炭化水素基、
炭素数1〜10のハロゲン化炭化水素基、テトラヒドロ
フラニル基、テトラヒドロピラニル基、アルコキシカル
ボニルメチル基(但し、アルコキシル基の炭素数は1〜
10である。)、カルボブトキシメチル基、カルボブト
キシエチル基、カルボブトキシプロピル基もしくはトリ
アルキリルシリル基(但し、アルキル基の炭素数は1〜
4である。)を示し、R4は炭素数1〜10の炭化水素基
または炭素数1〜10のハロゲン化炭化水素基を示し、
xは0〜4の整数である。}、またはXおよびYが脂環
式骨格中の炭素原子と結合して形成した、式
素数1〜8のアルキル基もしくは炭素数1〜4の -SO2R
6(但し、R6は炭素数1〜4のアルキル基もしくは炭素数
1〜4のハロゲン化アルキル基である。)を示す。}で
表される含酸素複素環構造あるいは含窒素複素環構造が
好ましい。一般式(2)および一般式(3)におけるX
およびYの好ましい酸開裂性基(i)において、基-(CH
2)x COOR3 としては、例えば、メトキシカルボニル基、
エトキシカルボニル基、n−プロポキシカルボニル基、
イソプロポキシカルボニル基、n−ブトキシカルボニル
基、2−メチルプロポキシカルボニル基、1−メチルプ
ロポキシカルボニル基、t−ブトキシカルボニル基、n
−ペンチルオキシカルボニル基、n−ヘキシルオキシカ
ルボニル基、n−ヘプチルオキシカルボニル基、n−オ
クチルオキシカルボニル基、n−デシルオキシカルボニ
ル基、シクロペンチルオキシカルボニル基、シクロヘキ
シルオキシカルボニル基、4−t−ブチルシクロヘキシ
ルオキシカルボニル基、シクロヘプチルオキシカルボニ
ル基、シクロオクチルオキシカルボニル基等の(シク
ロ)アルコキシカルボニル基;フェノキシカルボニル
基、4−t−ブチルフェノキシカルボニル基、1−ナフ
チルカルボニル基等のアリーロキシカルボニル基;ベン
ジルオキシカルボニル基、4−t−ブチルベンジルオキ
シカルボニル基等のアラルキルオキシカルボニル基;メ
トキシカルボニルメトキシカルボニル基、エトキシカル
ボニルメトキシカルボニル基、n−プロポキシカルボニ
ルメトキシカルボニル基、イソプロポキシカルボニルメ
トキシカルボニル基、n−ブトキシカルボニルメトキシ
カルボニル基、2−メチルプロポキシカルボニルメトキ
シカルボニル基、1−メチルプロポキシカルボニルメト
キシカルボニル基、t−ブトキシカルボニルメトキシカ
ルボニル基等のアルコキシカルボニルメトキシカルボニ
ル基;メトキシカルボニルメチル基、エトキシカルボニ
ルメチル基、n−プロポキシカルボニルメチル基、イソ
プロポキシカルボニルメチル基、n−ブトキシカルボニ
ルメチル基、2−メチルプロポキシカルボニルメチル
基、1−メチルプロポキシカルボニルメチル基、t−ブ
トキシカルボニルメチル基、シクロヘキシルオキシカル
ボニルメチル基、4−t−ブチルシクロヘキシルオキシ
カルボニルメチル基等の(シクロ)アルコキシカルボニ
ルメチル基;フェノキシカルボニルメチル基、1−ナフ
チルオキシカルボニルメチル基等のアリーロキシカルボ
ニルメチル基;ベンジルオキシカルボニルメチル基、4
−t−ブチルベンジルオキシカルボニルメチル基等のア
ラルキルオキシカルボニルメチル基;2−メトキシカル
ボニルエチル基、2−エトキシカルボニルエチル基、2
−n−プロポキシカルボニルエチル基、2−イソプロポ
キシカルボニルエチル基、2−n−ブトキシカルボニル
エチル基、2−(2−メチルプロポキシ)カルボニルエ
チル基、2−(1−メチルプロポキシ)カルボニルエチ
ル基、2−t−ブトキシカルボニルエチル基、2−シク
ロヘキシルオキシカルボニルエチル基、2−(4−ブチ
ルシクロヘキシルオキシカルボニル)エチル基等の(シ
クロ)アルコキシカルボニルエチル基;2−フェノキシ
カルボニルエチル基、2−(1−ナフチルオキシカルボ
ニル)エチル基等の2−アリーロキシカルボニルエチル
基;2−ベンジルオキシカルボニルエチル基、2−(4
−t−ブチルベンジルオキシカルボニル)エチル基等の
2−アラルキルオキシカルボニルエチル基等を挙げるこ
とができる。これらの基のうち、基 -COOR3 に相当する
ものが好ましく、さらに好ましくはメトキシカルボニル
基、エトキシカルボニル基、n−プロポキシカルボニル
基、イソプロポキシカルボニル基、n−ブトキシカルボ
ニル基、2−メチルプロポキシカルボニル基、1−メチ
ルプロポキシカルボニル基、t−ブトキシカルボニル
基、n−ペンチルオキシカルボニル基、n−オクチルオ
キシカルボニル基、n−デシルオキシカルボニル基、シ
クロペンチルオキシカルボニル基、シクロヘキシルオキ
シカルボニル基、t−ブトキシカルボニルメトキシカル
ボニル基である。
ば、アセチルオキシ基、プロピオニルオキシ基、ブチリ
ルオキシ基、バレリルオキシ基、カプロイルオキシ基、
ヘプタノイルオキシ基、オクタノイルオキシ基、ノナノ
イルオキシ基、デカノイルオキシ基、ウンデカノイルオ
キシ基、シクロヘキシルカルボニルオキシ基、4−t−
ブチルシクロヘキシルカルボニルオキシ基等の(シク
ロ)アシロキシ基;ベンゾイルオキシ基、4−t−ブチ
ルベンゾイルオキシ基、1−ナフトイルオキシ基等のア
リールカルボニルオキシ基;ベンジルカルボニルオキシ
基、4−t−ブチルベンジルカルボニルオキシ基等のア
ラルキルカルボニルオキシ基;アセチルオキシカルボニ
ルメチル基、プロピオニルオキシカルボニルメチル基、
ブチリルオキシカルボニルメチル基、シクロヘキシルカ
ルボニルオキシメチル基、4−t−ブチルシクロヘキシ
ルカルボニルオキシメチル基等の(シクロ)アシロキシ
メチル基;ベンゾイルオキシメチル基、1−ナフトイル
オキシメチル基等のアリールカルボニルオキシメチル
基;ベンジルカルボニルオキシメチル基、4−t−ブチ
ルベンジルカルボニルオキシメチル基等のアラルキルカ
ルボニルオキシメチル基;2−アセチルオキシエチル
基、2−プロピオニルオキシエチル基、2−ブチリルオ
キシエチル基、2−シクロヘキシルカルボニルオキシエ
チル基、2−(4−t−ブチルシクロヘキシルカルボニ
ルオキシ)エチル基等の2−(シクロ)アシロキシエチ
ル基;2−ベンゾイルオキシエチル基、2−(1−ナフ
トイルオキシ)エチル基等の2−アリールカルボニルオ
キシエチル基;2−ベンジルカルボニルオキシエチル
基、2−(4−t−ブチルベンジルカルボニルオキシ)
エチル基等の2−アラルキルカルボニルオキシエチル基
等を挙げることができる。また、基-(CH2)x CNとして
は、例えば、シアノ基、シアノメチル基、2−シアノエ
チル基、2−シアノプロピル基、3−シアノプロピル
基、4−シアノブチル基等を挙げることができる。
におけるA、B、XおよびYのハロゲン原子としては、
例えば、F、Cl、Br、I等を挙げることができ、ま
た炭素数1〜10の1価の炭化水素基としては、例え
ば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピ
ル基、n−ブチル基、2−メチルプロピル基、1−メチ
ルプロピル基、t−ブチル基、n−ヘキシル基、n−オ
クチル基、n−デシル基、シクロペンチル基、シクロヘ
キシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基等の
(シクロ)アルキル基;フェニル基、4−t−ブチルフ
ェニル基、1−ナフチル基等のアリール基;ベンジル
基、4−t−ブチルベンジル基等のアラルキル基等を挙
げることができ、また炭素数1〜10の1価のハロゲン
化炭化水素基としては、例えば、前記炭素数1〜10の
1価の炭化水素基のハロゲン化誘導体を挙げることがで
きる。
(ホ)の方法等により製造することができる。 (イ)下記一般式(4)で表される少なくとも1種のノ
ルボルネン誘導体(以下、「ノルボルネン誘導体
(α)」という。)を、場合により、開環共重合が可能
な少なくとも1種の他の不飽和脂環式化合物とともに、
開環(共)重合する工程を経る方法、
およびYは一般式(2)および一般式(3)と同義であ
り、R7 、R8 、R9 およびR10はそれぞれ独立に水素
原子、ハロゲン原子、炭素数1〜10の1価の炭化水素
基または炭素数1〜10の1価のハロゲン化炭化水素基
を示す。〕 (ロ)少なくとも1種のノルボルネン誘導体(α)と、
エチレン、無水マレイン酸等の共重合可能な1種以上の
不飽和化合物とを、ラジカル共重合する方法、(ハ)前
記(イ)または(ロ)の方法により得られた各樹脂を、
常法により部分的に加水分解および/または加溶媒分解
する方法、(ニ)前記(ハ)の方法により得られた樹脂
中のカルボキシル基あるいは水酸基を、常法により少な
くとも部分的にエステル化して、基 -COOR3 あるいは-O
COR4 (以下、これらの基をまとめて「酸開裂性エステ
ル基」という。)を新たに導入する方法、(ホ)下記一
般式(5)で表される少なくとも1種のノルボルネン誘
導体(以下、「ノルボルネン誘導体(β)」という。)
を開環(共)重合あるいはラジカル共重合して得られた
(共)重合体中のカルボキシル基あるいは水酸基を、常
法により少なくとも部分的にエステル化して、酸開裂性
エステル基を導入する工程を経る方法。
は一般式(1)および一般式(2)と同義であり、R
7 、R8 、R9 およびR10は一般式(4)と同義であ
り、CおよびDはそれぞれ独立に水素原子、ハロゲン原
子、炭素数1〜10の1価の炭化水素基、炭素数1〜1
0の1価のハロゲン化炭化水素基、-(CH2)x COOHまたは
-(CH2)x OHを示し、かつCおよびDのうち少なくとも一
つは-(CH2)x COOHまたは-(CH2)x OHであり、xは酸開裂
性基(i)におけるxと同義である。〕 さらに、前記(ハ)〜(ホ)の方法により得られた各樹
脂は、(ヘ)樹脂中のカルボキシル基あるいは水酸基を
さらにエステル化して、他の酸開裂性基を導入する方法
等により変性することもできる。
説明する。まず、前記(イ)の方法において、一般式
(4)におけるR7 、R8 、R9 およびR10のハロゲン
原子、炭素数1〜10の1価の炭化水素基および炭素数
1〜10の1価のハロゲン化炭化水素基としては、例え
ば、前記一般式(2)および一般式(3)について例示
した基と同様のものを挙げることができる。
(4)のnが0である化合物の具体例としては、5−メ
トキシカルボニルビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−
エン、5−エトキシカルボニルビシクロ[ 2.2.1]
ヘプト−2−エン、5−n−プロポキシカルボニルビシ
クロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、5−イソプロポ
キシカルボニルビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エ
ン、5−n−ブトキシカルボニルビシクロ[ 2.2.
1] ヘプト−2−エン、5−(2−メチルプロポキシ)
カルボニルビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、
5−(1−メチルプロポキシ)カルボニルビシクロ[
2.2.1] ヘプト−2−エン、5−t−ブトキシカル
ボニルビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、5−
シクロヘキシルオキシカルボニルビシクロ[ 2.2.
1] ヘプト−2−エン、5−(4’−t−ブチルシクロ
ヘキシルオキシ)カルボニルビシクロ[ 2.2.1] ヘ
プト−2−エン、5−フェノキシカルボニルビシクロ[
2.2.1] ヘプト−2−エン、5−テトラヒドロフラ
ニルオキシカルボニルビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−
2−エン、5−テトラヒドロピラニルオキシカルボニル
ビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、5−アセチ
ルオキシビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、5
−シアノビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、
クロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、5−メチル−5
−エトキシカルボニルビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−
2−エン、5−メチル−5−n−プロポキシカルボニル
ビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、5−メチル
−5−イソプロポキシカルボニルビシクロ[ 2.2.
1] ヘプト−2−エン、5−メチル−5−n−ブトキシ
カルボニルビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、
5−メチル−5−(2−メチルプロポキシ)カルボニル
ビシクロ[ 2.2.1]ヘプト−2−エン、5−メチル
−5−(1−メチルプロポキシ)カルボニルビシクロ[
2.2.1]ヘプト−2−エン、5−メチル−5−t−
ブトキシカルボニルビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2
−エン、5−メチル−5−シクロヘキシルオキシカルボ
ニルビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、5−メ
チル−5−(4’−t−ブチルシクロヘキシルオキシ)
カルボニルビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、
5−メチル−5−フェノキシカルボニルビシクロ[ 2.
2.1] ヘプト−2−エン、5−メチル−5−テトラヒ
ドロフラニルオキシカルボニルビシクロ[ 2.2.1]
ヘプト−2−エン、5−メチル−5−テトラヒドロピラ
ニルオキシカルボニルビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−
2−エン、5−メチル−5−アセチルオキシビシクロ[
2.2.1] ヘプト−2−エン、5−メチル−5−シア
ノビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、5,6−
ジ(メトキシカルボニル)ビシクロ[ 2.2.1] ヘプ
ト−2−エン、5,6−ジ(エトキシカルボニル)ビシ
クロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、5,6−ジ(n
−プロポキシカルボニル)ビシクロ[ 2.2.1] ヘプ
ト−2−エン、5,6−ジ(イソプロポキシカルボニ
ル)ビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、5,6
−ジ(n−ブトキシカルボニル)ビシクロ[ 2.2.
1] ヘプト−2−エン、5,6−ジ(t−ブトキシカル
ボニル)ビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、
5,6−ジ(フェノキシカルボニル)ビシクロ[ 2.
2.1] ヘプト−2−エン、5,6−ジ(テトラヒドロ
フラニルオキシカルボニル)ビシクロ[ 2.2.1]ヘ
プト−2−エン、5,6−ジ(テトラヒドロピラニルオ
キシカルボニル)ビシクロ[ 2.2.1]ヘプト−2−
エン、5,6−ジカルボキシアンハイドライドビシクロ
[ 2.2.1] ヘプト−2−エン等を挙げることができ
る。
一般式(4)のnが1である誘導体の具体例としては、
8−メトキシカルボニルテトラシクロ[ 4.4.0.1
2,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8−エトキシカルボ
ニルテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデ
カ−3−エン、8−n−プロポキシカルボニルテトラシ
クロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エ
ン、8−イソプロポキシカルボニルテトラシクロ[ 4.
4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8−n−
ブトキシカルボニルテトラシクロ[ 4.4.0.1
2,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8−(2−メチルプ
ロポキシ)カルボニルテトラシクロ[ 4.4.0.1
2,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8−(1−メチルプ
ロポキシ)カルボニルテトラシクロ[ 4.4.0.1
2,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8−t−ブトキシカ
ルボニルテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]
ドデカ−3−エン、8−シクロヘキシルオキシカルボニ
ルテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ
−3−エン、8−(4’−t−ブチルシクロヘキシルオ
キシ)カルボニルテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .
17,10 ]ドデカ−3−エン、8−フェノキシカルボニル
テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−
3−エン、8−テトラヒドロフラニルオキシカルボニル
テトラシクロ[ 4.4.0.12,5.17,10 ]−3−ド
デセン、8−テトラヒドロピラニルオキシカルボニルテ
トラシクロ[ 4.4.0.12,5.17,10 ]−3−ドデ
セン、8−アセチルオキシテトラシクロ[ 4.4.0.
12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8−シアノテトラ
シクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エ
ン、
ラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−
エン、8−メチル−8−エトキシカルボニルテトラシク
ロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、
8−メチル−8−n−プロポキシカルボニルテトラシク
ロ[ 4.4.0.12,5.17,10 ]ドデカ−3−エン、
8−メチル−8−イソプロポキシカルボニルテトラシク
ロ[ 4.4.0.12,5.17,10 ]ドデカ−3−エン、
8−メチル−8−n−ブトキシカルボニルテトラシクロ
[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8
−メチル−8−(2−メチルプロポキシ)カルボニルテ
トラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3
−エン、8−メチル−8−(1−メチルプロポキシ)カ
ルボニルテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]
ドデカ−3−エン、8−メチル−8−t−ブトキシカル
ボニルテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ド
デカ−3−エン、8−メチル−8−シクロヘキシルオキ
シカルボニルテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .1
7,10 ]ドデカ−3−エン、8−メチル−8−(4’−t
−ブチルシクロヘキシルオキシ)カルボニルテトラシク
ロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、
8−メチル−8−フェノキシカルボニルテトラシクロ[
4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8−
メチル−8−テトラヒドロフラニルオキシカルボニルテ
トラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]−3−ドデ
セン、8−メチル−8−テトラヒドロピラニルオキシカ
ルボニルテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]
−3−ドデセン、8−メチル−8−アセチルオキシテト
ラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−
エン、8−メチル−8−シアノテトラシクロ[ 4.4.
0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8,9−ジ
(メトキシカルボニル)テトラシクロ[ 4.4.0.1
2,5 .17,10]ドデカ−3−エン、8,9−ジ(エトキ
シカルボニル)テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .1
7,10]ドデカ−3−エン、8,9−ジ(n−プロポキシ
カルボニル)テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .1
7,10 ]ドデカ−3−エン、8,9−ジ(イソプロポキシ
カルボニル)テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .1
7,10 ]ドデカ−3−エン、8,9−ジ(n−ブトキシカ
ルボニル)テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10
]ドデカ−3−エン、8,9−ジ(t−ブトキシカルボ
ニル)テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ド
デカ−3−エン、8,9−ジ(シクロヘキシルオキシカ
ルボニル)テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10
]ドデカ−3−エン、8,9−ジ(フェノキシカルボニ
ル)テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデ
カ−3−エン、8,9−ジ(テトラヒドロフラニルオキ
シカルボニル)テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .1
7,10 ]−3−ドデセン、8,9−ジ(テトラヒドロピラ
ニルオキシカルボニル)テトラシクロ[ 4.4.0.1
2,5 .17,10 ]−3−ドデセン、8,9−ジカルボキシ
アンハイドライドテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .
17,10 ]ドデカ−3−エン等を挙げることができる。本
発明において、前記ノルボルネン誘導体(α)を2種以
上混合して使用する場合は、一般式(4)のnが0であ
る化合物とnが1である化合物とを併用することが好ま
しい。
環共重合が可能な他の不飽和脂環式化合物の具体例とし
ては、ビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、5−
メチルビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、5−
エチルビシクロ[ 2.2.1] ヘプト−2−エン、テト
ラシクロ [4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−
エン、8−メチルテトラシクロ [4.4.0.12,5 .
17,10 ]ドデカ−3−エン、8−エチルテトラシクロ
[4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8
−フルオロテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10
]ドデカ−3−エン、8−フルオロメチルテトラシクロ
[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8
−ジフルオロメチルテトラシクロ[ 4.4.0.1
2,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8−トリフルオロメ
チルテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデ
カ−3−エン、8−ペンタフルオロエチルテトラシクロ
[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、
8,8−ジフルオロテトラシクロ[ 4.4.0.1
2,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8,9−ジフルオロ
テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−
3−エン、8,8−ビス(トリフルオロメチル)テトラ
シクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エ
ン、8,9−ビス(トリフルオロメチル)テトラシクロ
[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8
−メチル−8−トリフルオロメチルテトラシクロ[ 4.
4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8,8,
9−トリフルオロテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .
17,10 ]ドデカ−3−エン、8,8,9−トリス(トリ
フルオロメチル)テトラシクロ[ 4.4.0.12,5.
17,10 ]ドデカ−3−エン、8,8,9,9−テトラフ
ルオロテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ド
デカ−3−エン、8,8,9,9−テトラキス(トリフ
ルオロメチル)テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .1
7,10 ]ドデカ−3−エン、8,8−ジフルオロ−9,9
−ビス(トリフルオロメチル)テトラシクロ[ 4.4.
0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8,9−ジフ
ルオロ−8,9−ビス(トリフルオロメチル)テトラシ
クロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エ
ン、8,8,9−トリフルオロ−9−トリフルオロメチ
ルテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ
−3−エン、8,8,9−トリフルオロ−9−トリフル
オロメトキシテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .1
7,10 ]ドデカ−3−エン、8,8,9−トリフルオロ−
9−ペンタフルオロプロポキシテトラシクロ[ 4.4.
0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、8−フルオロ
−8−ペンタフルオロエチル−9,9−ビス(トリフル
オロメチル)テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .1
7,10 ]ドデカ−3−エン、8,9−ジフルオロ−8−ヘ
プタフルオロイソプロピル−9−トリフルオロメチルテ
トラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3
−エン、8−クロロ−8,9,9−トリフルオロテトラ
シクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エ
ン、8,9−ジクロロ−8,9−ビス(トリフルオロメ
チル)テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10 ]ド
デカ−3−エン、8−(2,2,2−トリフルオロカル
ボキシエチル)テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .1
7,10 ]ドデカ−3−エン、8−メチル−8−(2,2,
2−トリフルオロカルボキシエチル)テトラシクロ[
4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン、
クテン、1,5−シクロオクタジエン、1,5,9−シ
クロドデカトリエン、ノルボルネン、5−エチリデンノ
ルボルネン、5−メチルノルボルネン、ジシクロペンタ
ジエン、トリシクロ[ 5.2.1.02,6 ] デカ−8−
エン、トリシクロ[ 5.2.1.02,6 ] デカ−3−エ
ン、トリシクロ[ 4.4.0.12,5 ] ウンデカ−3−
エン、トリシクロ[ 6.2.1.01,8 ] ウンデカ−9
−エン、トリシクロ[ 6.2.1.01,8 ] ウンデカ−
4−エン、テトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .
17,10.01,6 ] ドデカ−3−エン、8−メチルテトラ
シクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10.01,6 ]ドデカ
−3−エン、8−エチリデンテトラシクロ[ 4.4.
0.12,5 .17,12]ドデカ−3−エン、8−エチリデ
ンテトラシクロ[ 4.4.0.12,5 .17,10.0
1,6 ] ドデカ−3−エン、ペンタシクロ[ 6.5.1.
13,6 .02,7 .09,13 ]ペンタデカ−4−エン、ペン
タシクロ[ 7.4.0.12,5 .19,12.08,13 ]ペン
タデカ−3−エン等を挙げることができる。樹脂(A
I)において、前記他の不飽和脂環式化合物に由来する
繰返し単位の含有量は、樹脂(AI)中の全繰返し単位
に対して、通常、50モル%以下、好ましくは40モル
%以下、さらに好ましくは30モル%以下である。この
場合、他の不飽和脂環式化合物に由来する繰返し単位の
含有量が50モル%を超えると、ドライエッチング耐性
が低下する傾向がある。
例えば、メタセシス触媒を使用し、適当な溶媒中で実施
することができる。このようなメタセシス触媒は、通
常、W、MoまたはReの化合物の群から選ばれる少な
くとも1種(以下、「特定遷移金属化合物」という。)
と、デミングの周期律表IA、IIA、 IIIA、IVAある
いはIVB族金属の化合物からなり、金属−炭素結合また
は金属−水素結合を有する化合物の群から選ばれる少な
くとも1種(以下、「特定有機金属化合物等」とい
う。)との組み合せからなる。特定遷移金属化合物とし
ては、例えば、W、MoまたはReのハロゲン化物、オ
キシハロゲン化物、アルコキシハロゲン化物、アルコキ
シド、カルボン酸塩、(オキシ)アセチルアセトネー
ト、カルボニル錯体、アセトニトリル錯体、ヒドリド錯
体や、これらの化合物の誘導体等を挙げることができ
る。これらの化合物のうち、WまたはMoの化合物、よ
り具体的にはWまたはMoのハロゲン化物、オキシハロ
ゲン化物またはアルコキシハロゲン化物が、重合活性、
実用性等の観点から好ましい。また、特定遷移金属化合
物は、適当な錯化剤、例えば、トリフェニルホスフィン
(P(C6H5)3)、ピリジン(NC5H5)等により配位された化
合物であることもできる。特定遷移金属化合物の具体例
としては、WCl6、WCl5、WCl4、WBr6、WF6 、WI6 、MoCl
5 、MoCl4 、MoCl3 、ReCl3 、WOCl4 、WOCl3 、WOBr
3 、MoOCl3、MoOBr3、ReOCl3、ReOBr3、WCl2(OC2H5)4、
W(OC2H5)6 、MoCl3(OC2H5)2 、Mo(OC2H5)5、WO2(acac)2
(但し、acacはアセチルアセトネート残基を示す。) 、
MoO2(acac)2 、W(OCOR)5(但し、OCORはカルボン酸残基
を示す。) 、Mo(OCOR)5 、W(CO)6、Mo(CO)6 、Re2(CO)
10 、WCl5・P(C6H5)3、MoCl5・P(C6H5)3、ReOBr3・P(C6
H5)3、WCl6・NC5H5 、W(CO)5・P(C6H5)3、W(CO)3・(CH3
CN)3等を挙げることができる。これらの化合物のうち、
特にWCl6、MoCl5 、WCl2(OC2H5)4、MoCl3(OC2H5)2 等が
好ましい。前記特定遷移金属化合物は、単独でまたは2
種以上を組み合せて使用することができる。また、メタ
セシス触媒を構成する特定遷移金属化合物成分は、重合
系内で反応して特定遷移金属化合物を生成する2種以上
の化合物の混合物として使用することもできる。
ては、n-C4H9Li、n-C5H11Na 、C6H5Na、CH3MgI、C2H5Mg
Br、CH3MgBr 、n-C3H7MgCl、t-C4H9MgCl、CH2=CHCH2MgC
l 、(C2H5)2Zn 、(C2H5)2Cd 、CaZn(C2H5)4 、(CH3)3B
、(C2H5)3B、(n-C4H9)3B、(CH3)3Al、(CH3)2AlCl、CH3
AlCl2、(CH3)3Al2Cl3、(C2H5)3Al 、(C2H5)3Al2Cl3 、
(C2H5)2Al・O(C2H5)2、(C2H5)2AlCl 、C2H5AlCl2 、(C2
H5)2AlH、(C2H5)2AlOC2H5、(C2H5)2AlCN 、LiAl(C2H5)2
、(n-C3H7)3Al 、(i-C4H9)3Al 、(i-C4H9)2AlH、(n-C6
H13)3Al、(n-C8H17)3Al、(C6H5)3Al 、(CH3)4Ga、(CH3)
4Sn、(n-C4H9)4Sn 、(C2H5)3SnH、LiH 、NaH 、B2H6、N
aBH4 、AlH3、LiAlH4、TiH4等を挙げることができる。
これらの化合物のうち、(CH3)3Al、(CH3)2AlCl、CH3AlC
l2、(CH3)3Al2Cl3、(C2H5)3Al 、(C2H5)2AlCl 、C2H5Al
Cl2 、(C2H5)3Al2Cl3 、(C2H5)2AlH、(C2H5)2AlOC2H5、
(C2H5)2AlCN 、(n-C3H7)3Al 、(i-C4H9)3Al 、(i-C4H9)
2AlH、(n-C6H13)3Al、(n-C8H17)3Al、(C6H5)3Al 等が好
ましい。前記特定有機金属化合物等は、単独でまたは2
種以上を組み合せて使用することができる。特定遷移金
属化合物と特定有機金属化合物等との量的関係は、金属
原子比として、通常、1:1〜1:100、好ましくは
1:2〜1:50の範囲である。
合物等との組み合せからなる触媒には、触媒活性を高め
るため、下記活性化剤〜の1種以上をさらに添加す
ることもできる。 活性化剤: B、BF3 、BCl3、B(O-n-C4H9)3、 BF3・O
(CH3)2 、 BF3・O(C2H5)2、 BF3・O(n-C4H9)2、 BF3・2
C6H5OH 、 BF3・2CH3COOH、BF3・CO(NH2)2、 BF3・N(C2
H4OH)3、 BF3・ピペリジン、BF3・NH2C2H5 、B2O3、H3B
O3 等のほう素化合物;Si(OC2H5)4、Si(Cl)4等のけい素
化合物、 活性化剤:アルコール類、ヒドロパーオキシド類、ジ
アルキルパーオキシド類、ジアシルパーオキシド類、 活性化剤:水、 活性化剤:酸素、 活性化剤:アルデヒド類、ケトン類等のカルボニル化
合物や、それらのオリゴマーまたはポリマー、 活性化剤:エチレンオキシド、エピクロルヒドリン、
オキセタン等の環状エーテル類、 活性化剤:N,N-ジメチルホルムアミド、N,N-ジメチル
アセトアミド等のアミド類;アニリン、モルホリン、ピ
ペリジン等のアミン類;アゾベンゼン等のアゾ化合物、 活性化剤:N-ニトロソジメチルアミン、N-ニトロソジ
フェニルアミン等のN-ニトロソ化合物、 活性化剤:トリクロロメラミン、N-クロロスクシンイ
ミド、フェニルスルフェニルクロリド等の窒素−塩素結
合または硫黄−塩素結合を有する化合物。 これらの活性化剤と特定遷移金属化合物との量的関係
は、使用される活性化剤の種類によって極めて多様に変
化するため、一概には規定できないが、多くの場合、モ
ル比として、通常、0.005:1〜10:1、好まし
くは0.05:1〜3.0:1の範囲である。
って得られる樹脂(A1)の平均分子量は、メタセシス
触媒の種類や濃度、重合温度、溶媒の種類や量、モノマ
ー濃度等の反応条件を変えることにより調節することが
できるが、適当な分子量調節剤を反応系に適量添加して
調節することが好ましい。前記分子量調節剤としては、
例えば、エチレン、プロピレン、1−ブテン、1−ペン
テン、1−ヘキセン、1−ヘプテン、1−オクテン、1
−ノネン、1−デセン等のα−オレフイン類;1,3−
ブタジエン、1,4−ペンタジエン等のα,ω−ジオレ
フィン類;スチレン、α−メチルスチレン等のビニル芳
香族化合物;アセチレン類;塩化アリル、酢酸アリル、
トリメチルアリロキシシラン等の極性アリル化合物等を
挙げることができる。これらの分子量調節剤は、単独で
または2種以上を混合して使用することができる。分子
量調節剤の使用量は、全モノマー1モルに対して、通
常、0.005〜1モル、好ましくは0.02〜0.7
モルである。また、(イ)の方法に使用される溶媒とし
ては、例えば、n−ペンタン、n−ヘキサン、n−ヘプ
タン、n−オクタン、n−ノナン、n−デカン等のアル
カン類;シクロヘキサン、シクロヘプタン、シクロオク
タン、デカリン、ノルボルナン等のシクロアルカン類;
ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、クメ
ン等の芳香族炭化水素類;クロロブタン、ブロモヘキサ
ン、ジクロロエタン、ヘキサメチレンジブロミド、クロ
ロベンゼン等のハロゲン化炭化水素類;酢酸エチル、酢
酸n−ブチル、酢酸i−ブチル、プロピオン酸メチル等
の飽和カルボン酸エステル類等を挙げることができる。
これらの溶媒は、単独でまたは2種以上を混合して使用
することができる。
共重合は、例えば、ヒドロパーオキシド類、ジアルキル
パーオキシド類、ジアシルパーオキシド類、アゾ化合物
等のラジカル重合触媒を使用し、適当な溶媒中で実施す
ることができる。(ロ)の方法に使用される溶媒として
は、例えば、前記(イ)の方法について例示した溶媒の
ほか、テトラヒドロフラン等を挙げることができる。こ
れらの溶媒は、単独でまたは2種以上を混合して使用す
ることができる。また、前記(ハ)の方法における加水
分解率は、通常、10〜100モル%、好ましくは20
〜95モル%である。また、前記(ニ)の方法による酸
開裂性エステル基の導入率は、通常、10〜70モル
%、好ましくは20〜60モル%である。また、前記
(ホ)の方法において、一般式(4)におけるCおよび
Dのハロゲン原子、炭素数1〜10の1価の炭化水素基
および炭素数1〜10の1価のハロゲン化炭化水素基と
しては、例えば、前記一般式(1)および一般式(2)
について例示した基と同様のものを挙げることができ
る。ノルボルネン誘導体(β)の具体例としては、前記
ノルボルネン誘導体(α)について例示した化合物中の
エステル基をカルボキシル基または水酸基に転換した化
合物を挙げることができる。本発明においては、ノルボ
ルネン誘導体(β)を2種以上混合して使用する場合
も、一般式(4)のnが0である化合物とnが1である
化合物とを併用することが好ましい。(ホ)の方法に使
用される(共)重合体は、前記(イ)または(ロ)の方
法により得られた各樹脂(A1)を加水分解して得るこ
とができ、あるいは別途合成してもよい。(ホ)の方法
による酸開裂性エステル基の導入率は、通常、10〜7
0モル%、好ましくは20〜60モル%である。さら
に、前記(ヘ)の方法において、他の酸開裂性基として
は、例えば、メトキシメチルオキシ基、エトキシメチル
オキシ基、n−プロポキシメチルオキシ基、イソプロポ
キシメチルオキシ基、n−ブトキシメチルオキシ基、t
−ブトキシメチルオキシ基、フェノキシメチルオキシ
基、トリクロロエトキシメチルオキシ基等の線状アセタ
ール基;テトラヒドロフラニルオキシ基、テトラヒドロ
ピラニルオキシ基等の環状アセタール基;イソプロポキ
シカルボニルオキシ基、2−ブテニルオキシカルボニル
オキシ基、t−ブトキシカルボニルオキシ基、1−メチ
ル−2−プロペニルオキシカルボニルオキシ基、シクロ
ヘキシルオキシカルボニルオキシ基、2−シクロヘキセ
ニルオキシカルボニルオキシ基等のカーボネート基;ト
リメトキシメチルオキシ基、トリエトキシメチルオキシ
基、トリn−プロポキシメチルオキシ基、メトキシジエ
トキシメチルオキシ基等のオルソカーボネート基;メチ
ルエーテル基、エチルエーテル基、n−プロピルエーテ
ル基、イソプロピルエーテル基、n−ブチルエーテル
基、2−メチルプロピルエーテル基、1−メチルプロピ
ルエーテル基、t−ブチルエーテル基、シクロヘキシル
エーテル基、t−ブチルシクロヘキシルエーテル基等の
(シクロ)アルキルエーテル基;アリルエーテル基、2
−ブテニルエーテル基、2−シクロヘキセニルエーテル
基、1−メチル−2−プロペニルエーテル基等のアルケ
ニルエーテル基;ベンジルエーテル基、t−ブチルベン
ジルエーテル基等のアラルキルエーテル基;ビニルエー
テル基、1−プロペニルエーテル基、1−ブテニルエー
テル基、1,3−ブタジエニルエーテル基、フェニルビ
ニルエーテル基等のエノールエーテル基等を挙げること
ができる。(ヘ)の方法による他の酸開裂性基の導入反
応の例としては、(ヘ−1)各樹脂中のカルボキシル基
と2,3−ジヒドロ−4H−ピランとの付加反応による
エステル化反応、(ヘ−2)各樹脂中のヒドロキシル基
と2,3−ジヒドロ−4H−ピランとの付加反応による
エーテル化反応、(ヘ−3)各樹脂中のヒドロキシル基
とジアルキルジカーボネートとの反応によるエステル化
反応等を挙げることができる。(ヘ)の方法による他の
酸開裂性基の導入率は、通常、10〜70モル%、好ま
しくは20〜60モル%である。
射線に対する透明性の観点から、炭素・炭素不飽和結合
の少ないものが好ましい。このような樹脂(AI)は、
例えば、前記(イ)の方法または前記(ホ)の開環
(共)重合する方法における適宜の段階で、あるいはこ
れらの方法に続いて、水素付加、水付加、ハロゲン付
加、ハロゲン化水素付加等の付加反応を行うことによっ
て得ることができ、特に水素付加反応させることにより
得られる前記樹脂(AI)が好ましい。なお、前記
(ロ)の方法および前記(ホ)のラジカル(共)重合す
る方法により得られる樹脂(AI)は、実質的に炭素・
炭素不飽和結合をもたないものである。前記水素付加さ
せた樹脂(AI)における水素付加率は、好ましくは7
0%以上、さらに好ましくは90%以上、特に好ましく
は100%である。前記水素付加反応に使用される触媒
としては、例えば、通常のオレフイン性化合物の水素付
加反応に用いられているものを使用することができる。
このような水素付加触媒のうち、不均一系触媒として
は、例えば、Pd、Pt、Ni、Rh、Ru等の貴金属を、カーボ
ン、シリカ、アルミナ、チタニア等の担体に担持させた
固体触媒等を挙げることができる。これらの不均一系触
媒は、単独でまたは2種以上を混合して使用することが
できる。また、均一系触媒としては、例えば、ナフテン
酸ニッケル/トリエチルアルミニウム系、ニッケルアセ
チルアセトナート/トリエチルアルミニウム系、オクテ
ン酸コバルト/n−ブチルリチウム系、チタノセンジク
ロリド/ジエチルアルミニウムモノクロリド系や、酢酸
ロジウム、クロロトリス(トリフェニルホスフィン)ロ
ジウム等のロジウム系等を挙げることができる。これら
の均一系触媒は、単独でまたは2種以上を混合して使用
することができる。前記水素付加触媒のうち、不均一系
触媒が、反応活性が高く、反応後の触媒除去も容易であ
り、得られる樹脂(AI)の色調が優れる点で好まし
い。水素付加反応は、通常、常圧〜300気圧、好まし
くは3〜200気圧の水素ガス雰囲気下において、通
常、0〜200℃、好ましくは20〜180℃で実施す
ることができる。
I−1) 、樹脂(AI−2)および樹脂(AI−3) が
好ましい。樹脂(AI−1) は、下記一般式(6)で表
される繰返し単位からなる樹脂である。
れぞれ一般式(2)および一般式(3)と同義であり、
Xは酸開裂性基(i)を示す。〕 樹脂(AI−1) としては、Xの酸開裂性基(i)が一
般式(2)および一般式(3)における酸開裂性基
(i)について挙げた基-(CH2)x COOR3 からなる樹脂が
好ましく、さらに好ましくはXの酸開裂性基(i)が基
-COOR3 からなる樹脂であり、特に好ましくはXの酸開
裂性基(i)がメトキシカルボニル基、エトキシカルボ
ニル基、n−プロポキシカルボニル基、イソプロポキシ
カルボニル基、n−ブトキシカルボニル基、2−メチル
プロポキシカルボニル基、1−メチルプロポキシカルボ
ニル基、t−ブトキシカルボニル基、n−ペンチルオキ
シカルボニル基、n−オクチルオキシカルボニル基、n
−デシルオキシカルボニル基、シクロペンチルオキシカ
ルボニル基、シクロヘキシルオキシカルボニル基および
t−ブトキシカルボニルメトキシカルボニル基の群から
選ばれる基からなる樹脂である。樹脂(AI−1) にお
いて、一般式(6)で表される繰返し単位は1種以上存
在することができる。
(6)で表される繰返し単位および下記一般式(7)で
表される繰返し単位からなるランダム共重合体である。
て、nおよびmはそれぞれ独立に0または1であり、A
およびBはそれぞれ一般式(2)および一般式(3)と
同義であり、Xは酸開裂性基(i)を示す。〕 樹脂(AI−2)としては、Xの酸開裂性基(i)が一
般式(1)および一般式(2)における酸開裂性基
(i)について挙げた基-(CH2)x COOR3 からなる樹脂が
好ましく、さらに好ましくはXの酸開裂性基(i)が基
-COOR3 からなる樹脂であり、特に好ましくはXの酸開
裂性基(i)がメトキシカルボニル基、エトキシカルボ
ニル基、n−プロポキシカルボニル基、イソプロポキシ
カルボニル基、n−ブトキシカルボニル基、2−メチル
プロポキシカルボニル基、1−メチルプロポキシカルボ
ニル基、t−ブトキシカルボニル基、n−ペンチルオキ
シカルボニル基、n−オクチルオキシカルボニル基、n
−デシルオキシカルボニル基、シクロペンチルオキシカ
ルボニル基、シクロヘキシルオキシカルボニル基および
t−ブトキシカルボニルメトキシカルボニル基の群から
選ばれる基からなる樹脂である。樹脂(AI−2)にお
ける一般式(6)で表される繰返し単位と一般式(7)
で表される繰返し単位とのモル比は、通常、95/5〜
20/80、好ましくは90/10〜30/70であ
る。樹脂(AI−2)において、一般式(6)で表され
る繰返し単位および一般式(7)で表される繰返し単位
は、それぞれ1種以上存在することができる。
(8)で表される繰返し単位および下記一般式(9)で
表される繰返し単位からなるランダム共重合体である。
て、AおよびBはそれぞれ一般式(2)および一般式
(3)と同義であり、XおよびYはそれぞれ独立に水素
原子、ハロゲン原子、炭素数1〜10の1価の炭化水素
基、炭素数1〜10の1価のハロゲン化炭化水素基また
は酸開裂性基(i)を示し、かつXおよびYのうち少な
くとも一つは酸開裂性基(i)である。〕 樹脂(AI−3) としては、XおよびYの酸開裂性基
(i)が一般式(2)および一般式(3)における酸開
裂性基(i)について挙げた基-(CH2)x COOR3 からなる
樹脂が好ましく、さらに好ましくはXおよびYの酸開裂
性基(i)が基-COOR3からなる樹脂であり、特に好まし
くはXおよびYの酸開裂性基(i)がメトキシカルボニ
ル基、エトキシカルボニル基、n−プロポキシカルボニ
ル基、イソプロポキシカルボニル基、n−ブトキシカル
ボニル基、2−メチルプロポキシカルボニル基、1−メ
チルプロポキシカルボニル基、t−ブトキシカルボニル
基、n−ペンチルオキシカルボニル基、n−オクチルオ
キシカルボニル基、n−デシルオキシカルボニル基、シ
クロペンチルオキシカルボニル基、シクロヘキシルオキ
シカルボニル基およびt−ブトキシカルボニルメトキシ
カルボニル基の群から選ばれる基からなる樹脂である。
樹脂(AI−3) における一般式(8)で表される繰返
し単位と一般式(9)で表される繰返し単位とのモル比
は、通常、95/5〜10/90、好ましくは90/1
0〜20/80である。樹脂(AI−3) において、一
般式(8)で表される繰返し単位および一般式(9)で
表される繰返し単位は、それぞれ1種以上存在すること
ができる。
ルボキシル基含有アルカリ可溶性樹脂中の該カルボキシ
ル基の水素原子を、脂環式骨格を有する基で置換した構
造を有する樹脂等を挙げることができる。樹脂(II)に
おける脂環式骨格を有する基としては、例えば、シクロ
プロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シ
クロヘキセニル基、4−メトキシシクロヘキシル基等の
単環からなる基;ノルボルニル基、イソボルニル基、ト
リシクロデカニル基、テトラシクロデカニル基、ジシク
ロペンテニル基、アダマンチル基、アダマンチルメチル
基、1−メチルアダマンチル基、トリシクロ[ 5.2.
1.0 ]デカニル基、カルボキシトリシクロ[ 5.2.
1,0 ]デカニル基、カルボキシテトラシクロデカニル
基等の多環からなる基を挙げることができる。これらの
脂環式骨格を有する基のうち、アダマンチル基、アダマ
ンチルメチル基、1−メチルアダマンチル基、トリシク
ロ[ 5.2.1.0 ]デカニル基、カルボキシトリシク
ロ[ 5.2.1,0 ]デカニル基、カルボキシテトラシ
クロデカニル基等が好ましい。
る酸開裂性基(以下、「酸開裂性基(ii)」という。)
としては、例えば、置換メチル基、1−置換エチル基、
1−分岐アルキル基、シリル基、ゲルミル基、アルコキ
シカルボニル基、アシル基、環式酸開裂性基等を挙げる
ことができる。前記置換メチル基としては、例えば、メ
トキシメチル基、メチルチオメチル基、エトキシメチル
基、エチルチオメチル基、メトキシエトキシメチル基、
ベンジルオキシメチル基、ベンジルチオメチル基、フェ
ナシル基、ブロモフェナシル基、メトキシフェナシル
基、メチルチオフェナシル基、α−メチルフェナシル
基、シクロプロピルメチル基、ベンジル基、ジフェニル
メチル基、トリフェニルメチル基、ブロモベンジル基、
ニトロベンジル基、メトキシベンジル基、メチルチオベ
ンジル基、エトキシベンジル基、エチルチオベンジル
基、ピペロニル基、メトキシカルボニルメチル基、エト
キシカルボニルメチル基、n−プロポキシカルボニルメ
チル基、イソプロポキシカルボニルメチル基、n−ブト
キシカルボニルメチル基、t−ブトキシカルボニルメチ
ル基等を挙げることができる。また、前記1−置換エチ
ル基としては、例えば、1−メトキシエチル基、1−メ
チルチオエチル基、1,1−ジメトキシエチル基、1−
エトキシエチル基、1−エチルチオエチル基、1,1−
ジエトキシエチル基、1−フェノキシエチル基、1−フ
ェニルチオエチル基、1,1−ジフェノキシエチル基、
1−ベンジルオキシエチル基、1−ベンジルチオエチル
基、1−シクロプロピルエチル基、1−フェニルエチル
基、1,1−ジフェニルエチル基、1−メトキシカルボ
ニルエチル基、1−エトキシカルボニルエチル基、1−
n−プロポキシカルボニルエチル基、1−イソプロポキ
シカルボニルエチル基、1−n−ブトキシカルボニルエ
チル基、1−t−ブトキシカルボニルエチル基等を挙げ
ることができる。また、前記1−分岐アルキル基として
は、例えば、イソプロピル基、sec−ブチル基、t−
ブチル基、1,1−ジメチルプロピル基、1−メチルブ
チル基、1,1−ジメチルブチル基等を挙げることがで
きる。また、前記シリル基としては、例えば、トリメチ
ルシリル基、エチルジメチルシリル基、メチルジエチル
シリル基、トリエチルシリル基、イソプロピルジメチル
シリル基、メチルジイソプロピルシリル基、トリイソプ
ロピルシリル基、t−ブチルジメチルシリル基、メチル
ジ−t−ブチルシリル基、トリ−t−ブチルシリル基、
フェニルジメチルシリル基、メチルジフェニルシリル
基、トリフェニルシリル基等を挙げることができる。ま
た、前記ゲルミル基としては、例えば、トリメチルゲル
ミル基、エチルジメチルゲルミル基、メチルジエチルゲ
ルミル基、トリエチルゲルミル基、イソプロピルジメチ
ルゲルミル基、メチルジイソプロピルゲルミル基、トリ
イソプロピルゲルミル基、t−ブチルジメチルゲルミル
基、メチルジ−t−ブチルゲルミル基、トリ−t−ブチ
ルゲルミル基、フェニルジメチルゲルミル基、メチルジ
フェニルゲルミル基、トリフェニルゲルミル基等を挙げ
ることができる。また、前記アルコキシカルボニル基と
しては、例えば、メトキシカルボニル基、エトキシカル
ボニル基、イソプロポキシカルボニル基、t−ブトキシ
カルボニル基等を挙げることができる。また、前記アシ
ル基としては、例えば、アセチル基、プロピオニル基、
ブチリル基、ヘプタノイル基、ヘキサノイル基、バレリ
ル基、ピバロイル基、イソバレリル基、ラウリロイル
基、ミリストイル基、パルミトイル基、ステアロイル
基、オキサリル基、マロニル基、スクシニル基、グルタ
リル基、アジポイル基、ピペロイル基、スベロイル基、
アゼラオイル基、セバコイル基、アクリロイル基、プロ
ピオロイル基、メタクリロイル基、クロトノイル基、オ
レオイル基、マレオイル基、フマロイル基、メサコノイ
ル基、カンホロイル基、ベンゾイル基、フタロイル基、
イソフタロイル基、テレフタロイル基、ナフトイル基、
トルオイル基、ヒドロアトロポイル基、アトロポイル
基、シンナモイル基、フロイル基、テノイル基、ニコチ
ノイル基、イソニコチノイル基、p−トルエンスルホニ
ル基、メシル基等を挙げることができる。さらに、前記
環式酸開裂性基としては、例えば、シクロプロピル基、
シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘキセニ
ル基、4−メトキシシクロヘキシル基等の脂環式骨格を
有する基のほか、テトラヒドロピラニル基、テトラヒド
ロフラニル基、テトラヒドロチオピラニル基、テトラヒ
ドロチオフラニル基、3−ブロモテトラヒドロピラニル
基、4−メトキシテトラヒドロピラニル基、4−メトキ
シテトラヒドロチオピラニル基、3−テトラヒドロチオ
フェン−1,1−ジオキシド基等を挙げることができ
る。これらの酸開裂性基(ii)のうち、t−ブチル基、
t−ブトキシカルボニル基、1−メトキシエチル基、1
−エトキシエチル基、1−n−ブトキシエチル基、テト
ラヒドロピラニル基、メチルテトラヒドロピラニル基、
テトラヒドロフラニル基、メチルテトラヒドロフラニル
基、t−ブトキシカルボニルメチル基等が好ましい。
式骨格を有する重合性不飽和化合物を、場合により他の
重合性不飽和化合物とともに、(共)重合する方法、
(チ)予め製造したカルボキシル基含有アルカリ可溶性
樹脂の該カルボキシル基に、1種以上の脂環式骨格を有
する基を導入する方法等により製造することができる。
また、酸開裂性基(ii) を含有する樹脂(II)は、(ト
−1)前記(ト)の方法で、側鎖に脂環式骨格を有する
重合性不飽和化合物として、酸開裂性基(ii) 自体が該
脂環式骨格を有する基である化合物を使用する方法、
(ト−2)前記(ト)の方法で、他の重合性不飽和化合
物として酸開裂性基(ii)を含有する化合物を使用する
方法、(チ−1)前記(チ)の方法で、カルボキシル基
含有アルカリ可溶性樹脂の該カルボキシル基に、酸開裂
性基(ii)を同時に導入する方法のほか、(リ)側鎖に
脂環式骨格を有する重合性不飽和化合物とカルボキシル
基含有重合性不飽和化合物との共重合体中の該カルボキ
シル基に、1種以上の酸開裂性基(ii) を導入する方法
等により製造することができる。
記(ト)の方法において、側鎖に脂環式骨格を有する重
合性不飽和化合物としては、例えば、(メタ)アクリル
酸ノルボルニル、(メタ)アクリル酸イソボルニル、
(メタ)アクリル酸トリシクロデカニル、(メタ)アク
リル酸テトラシクロデカニル、(メタ)アクリル酸ジシ
クロペンテニル、(メタ)アクリル酸アダマンチル、
(メタ)アクリル酸アダマンチルメチル、(メタ)アク
リル酸1−メチルアダマンチル、(メタ)アクリル酸カ
ルボキシトリシクロデカニル、(メタ)アクリル酸カル
ボキシテトラシクロデカニル等を挙げることができる。
これらの側鎖に脂環式骨格を有する重合性不飽和化合物
のうち、(メタ)アクリル酸トリシクロデカニル、(メ
タ)アクリル酸テトラシクロデカニル、(メタ)アクリ
ル酸アダマンチル、(メタ)アクリル酸カルボキシトリ
シクロデカニル、(メタ)アクリル酸カルボキシテトラ
シクロデカニル等が好ましい。また、(ト)の方法にお
いて、他の重合性不飽和化合物としては、例えば、(メ
タ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、
(メタ)アクリル酸n−プロピル、(メタ)アクリル酸
n−ブチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシエチ
ル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル、(メ
タ)アクリル酸3−ヒドロキシプロピル等の(メタ)ア
クリル酸エステル;α−ヒドロキシメチルアクリル酸メ
チル、α−ヒドロキシメチルアクリル酸エチル、α−ヒ
ドロキシメチルアクリル酸n−プロピル、α−ヒドロキ
シメチルアクリル酸n−ブチル等のα−ヒドロキシメチ
ルアクリル酸エステル;(メタ)アクリル酸、クロトン
酸、マレイン酸、フマル酸、イタコン酸、シトラコン
酸、メサコン酸等の脂肪族不飽和カルボン酸類;(メ
タ)アクリル酸2−カルボキシエチル、(メタ)アクリ
ル酸2−カルボキシプロピル、(メタ)アクリル酸3−
カルボキシプロピル、(メタ)アクリル酸4−カルボキ
シブチル等のカルボキシル基含有脂肪族不飽和カルボン
酸エステル類;酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、酪酸
ビニル等のビニスエステル類;(メタ)アクリロニトリ
ル、α−クロロアクリロニトリル、クロトンニトリル、
マレインニトリル、フマロニトリル、メサコンニトリ
ル、シトラコンニトリル、イタコンニトリル等の不飽和
ニトリル化合物;(メタ)アクリルアミド、N,N−ジ
メチル(メタ)アクリルアミド、クロトンアミド、マレ
インアミド、フマルアミド、メサコンアミド、シトラコ
ンアミド、イタコンアミド等の不飽和アミド化合物;N
−ビニル−ε−カプロラクタム、N−ビニルピロリド
ン、ビニルピリジン、ビニルイミダゾール等の他の含窒
素ビニル化合物等を挙げることができる。これらの他の
重合性不飽和化合物は、単独でまたは2種以上を混合し
て使用することができる。
開裂性基(ii) 自体が脂環式骨格を有する基である酸開
裂性基(ii) 含有重合性不飽和化合物としては、例え
ば、(メタ)アクリル酸シクロプロピル、(メタ)アク
リル酸シクロペンチル、(メタ)アクリル酸シクロヘキ
シル、(メタ)アクリル酸シクロヘキセニル、(メタ)
アクリル酸4−メトキシシクロヘキシル、(メタ)アク
リル酸2−シクロプロピルオキシカルボニルエチル、
(メタ)アクリル酸2−シクロペンチルオキシカルボニ
ルエチル、(メタ)アクリル酸2−シクロヘキシルオキ
シカルボニルエチル、(メタ)アクリル酸2−シクロヘ
キセニルオキシカルボニルエチル、(メタ)アクリル酸
2−(4−メトキシシクロヘキシル)オキシカルボニル
エチル、等を挙げることができる。これらの酸開裂性基
(ii) 自体が脂環式骨格を有する基である酸開裂性基
(ii) 含有重合性不飽和化合物うち、(メタ)アクリル
酸シクロプロピル、(メタ)アクリル酸シクロペンチ
ル、(メタ)アクリル酸シクロヘキシル、(メタ)アク
リル酸シクロヘキセニル、(メタ)アクリル酸4−メト
キシシクロヘキシル等が好ましい。前記酸開裂性基(i
i) 自体が脂環式骨格を有する基である酸開裂性基(ii)
含有重合性不飽和化合物は、単独でまたは2種以上を
混合して使用することができる。また、前記(ト−2)
の方法において、酸開裂性基(ii) を含有する他の重合
性不飽和化合物としては、例えば、(メタ)アクリル
酸、クロトン酸、マレイン酸、フマル酸、イタコン酸、
シトラコン酸、メサコン酸等の脂肪族不飽和カルボン酸
類;(メタ)アクリル酸2−カルボキシエチル、(メ
タ)アクリル酸2−カルボキシプロピル、(メタ)アク
リル酸3−カルボキシプロピル、(メタ)アクリル酸4
−カルボキシブチル等のカルボキシル基含有脂肪族不飽
和カルボン酸エステル類等のカルボキシル基の水素原子
を、酸開裂性基(ii) (但し、脂環式骨格を有する基を
除く。)で置換した化合物等を挙げることができる。こ
れらの酸開裂性基(ii) を含有する他の重合性不飽和化
合物のうち、(メタ)アクリル酸テトラヒドロピラニ
ル、(メタ)アクリル酸テトラヒドロフラニル、(メ
タ)アクリル酸2−オキソシクロヘキシル、(メタ)ア
クリル酸t−ブチル等が好ましい。前記酸開裂性基(i
i) を含有する他の重合性不飽和化合物は、単独でまた
は2種以上を混合して使用することができる。
キシル基含有アルカリ可溶性樹脂としては、例えば、前
記(ト)の方法について例示した脂肪族不飽和カルボン
酸類、カルボキシル基含有脂肪族不飽和カルボン酸エス
テル類等の(共)重合体等を挙げることができる。
(チ)の方法において、カルボキシル基含有重合性不飽
和化合物は、単独でまたは2種以上を混合して使用する
ことができる。次に、前記(リ)の方法において、側鎖
に脂環式骨格を有する重合性不飽和化合物としては、例
えば、前記(ト)の方法について例示した側鎖に脂環式
骨格を有する重合性不飽和化合物等を挙げることがで
き、またカルボキシル基含有重合性不飽和化合物として
は、前記(ト−2)の方法について例示した脂肪族不飽
和カルボン酸類、カルボキシル基含有脂肪族不飽和カル
ボン酸エステル類と同様の化合物等を挙げることができ
る。(リ)の方法において、側鎖に脂環式骨格を有する
重合性不飽和化合物としては、前記(ト)の方法で挙げ
たものと同様の化合物が好ましく、また、カルボキシル
基含有重合性不飽和化合物としては、(メタ)アクリル
酸、クロトン酸、マレイン酸、フマル酸、イタコン酸等
が好ましい。(リ)の方法において、側鎖に脂環式骨格
を有する重合性不飽和化合物およびカルボキシル基含有
重合性不飽和化合物は、それぞれ単独でまたは2種以上
を混合して使用することができる。(チ)および(リ)
の方法においては、場合により、他の重合性不飽和化合
物を併用することもできる。前記他の重合性不飽和化合
物としては、例えば、(メタ)アクリル酸メチル、(メ
タ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸n−プロピ
ル、(メタ)アクリル酸n−ブチル、(メタ)アクリル
酸2−ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸2−ヒド
ロキシプロピル、(メタ)アクリル酸3−ヒドロキシプ
ロピル等の(メタ)アクリル酸エステル;α−ヒドロキ
シメチルアクリル酸メチル、α−ヒドロキシメチルアク
リル酸エチル、α−ヒドロキシメチルアクリル酸n−プ
ロピル、α−ヒドロキシメチルアクリル酸n−ブチル等
のα−ヒドロキシメチルアクリル酸エステル;酢酸ビニ
ル、プロピオン酸ビニル、酪酸ビニル等のビニルエステ
ル類;(メタ)アクリロニトリル、α−クロロアクリロ
ニトリル、クロトンニトリル、マレインニトリル、フマ
ロニトリル、メサコンニトリル、シトラコンニトリル、
イタコンニトリル等の不飽和ニトリル化合物;(メタ)
アクリルアミド、N,N−ジメチル(メタ)アクリルア
ミド、クロトンアミド、マレインアミド、フマルアミ
ド、メサコンアミド、シトラコンアミド、イタコンアミ
ド等の不飽和アミド化合物;N−ビニル−ε−カプロラ
クタム、N−ビニルピロリドン、ビニルピリジン、ビニ
ルイミダゾール等の他の含窒素ビニル化合物のほか、前
記した側鎖に脂環式骨格を有する重合性不飽和化合物、
酸開裂性基(ii) 自体が脂環式骨格を有する基である酸
開裂性基(ii) 含有重合性不飽和化合物、酸開裂性基
(ii) (但し、脂環式骨格を有する基を除く。)含有重
合性不飽和化合物等を適宜選択して使用することができ
る。これらの他の重合性不飽和化合物は、単独でまたは
2種以上を混合して使用することができる。(ト)の方
法における(共)重合、(チ)の方法におけるカルボキ
シル基含有アルカリ可溶性樹脂を製造する重合、および
(リ)の方法における側鎖に脂環式骨格を有する重合性
不飽和化合物とカルボキシル基含有重合性不飽和化合物
との共重合体を製造する共重合は、例えば、ラジカル重
合開始剤、アニオン重合触媒、配位アニオン重合触媒、
カチオン重合触媒等を適宜に選定し、塊状重合、溶液重
合、沈澱重合、乳化重合、懸濁重合、塊状−懸濁重合等
の適宜の重合方法により実施することができる。
有する繰返し単位の含有量は、全繰返し単位に対して、
通常、30〜80モル%、好ましくは40〜70モル%
であり、また酸開裂性基(ii) を含有する繰返し単位の
含有量は、全繰返し単位に対して、通常、70〜20モ
ル%、好ましくは60〜30モル%である。
い。(メタ)アクリル酸イソボルニル/(メタ)アクリ
ル酸メチル共重合体、(メタ)アクリル酸イソボルニル
/(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)アクリル酸イ
ソボルニル/(メタ)アクリル酸メチル/(メタ)アク
リル酸共重合体、(メタ)アクリル酸イソボルニル/
(メタ)アクリル酸t−ブチル/(メタ)アクリル酸メ
チル/(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)アクリル
酸イソボルニル/(メタ)アクリル酸テトラヒドロピラ
ニル/(メタ)アクリル酸メチル/(メタ)アクリル酸
共重合体、(メタ)アクリル酸イソボルニル/(メタ)
アクリル酸3−オキソシクロヘキシル/(メタ)アクリ
ル酸メチル/(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)ア
クリル酸トリシクロデカニル/(メタ)アクリル酸t−
ブチル/(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)アクリ
ル酸トリシクロデカニル/(メタ)アクリル酸t−ブト
キシカルボニル/(メタ)アクリル酸共重合体、(メ
タ)アクリル酸トリシクロデカニル/(メタ)アクリル
酸1−エトキシエチル/(メタ)アクリル酸共重合体、
(メタ)アクリル酸トリシクロデカニル/(メタ)アク
リル酸1−n−ブトキシエチル/(メタ)アクリル酸共
重合体、(メタ)アクリル酸トリシクロデカニル/(メ
タ)アクリル酸テトラヒドロピラニル/(メタ)アクリ
ル酸共重合体、(メタ)アクリル酸トリシクロデカニル
/(メタ)アクリル酸メチルテトラヒドロピラニル/
(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)アクリル酸トリ
シクロデカニル/(メタ)アクリル酸テトラヒドロフラ
ニル/(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)アクリル
酸トリシクロデカニル/(メタ)アクリル酸メチルテト
ラヒドロフラニル/(メタ)アクリル酸共重合体、(メ
タ)アクリル酸トリシクロデカニル/(メタ)アクリル
酸t−ブチル/(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロ
ピル共重合体、(メタ)アクリル酸トリシクロデカニル
/(メタ)アクリル酸t−ブトキシカルボニル/(メ
タ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル共重合体、(メ
タ)アクリル酸トリシクロデカニル/(メタ)アクリル
酸1−エトキシエチル/(メタ)アクリル酸2−ヒドロ
キシプロピル共重合体、(メタ)アクリル酸トリシクロ
デカニル/(メタ)アクリル酸1−n−ブトキシエチル
/(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル共重合
体、(メタ)アクリル酸トリシクロデカニル/(メタ)
アクリル酸テトラヒドロピラニル/(メタ)アクリル酸
2−ヒドロキシプロピル共重合体、(メタ)アクリル酸
トリシクロデカニル/(メタ)アクリル酸メチルテトラ
ヒドロピラニル/(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプ
ロピル共重合体、(メタ)アクリル酸トリシクロデカニ
ル/(メタ)アクリル酸テトラヒドロフラニル/(メ
タ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル共重合体、(メ
タ)アクリル酸トリシクロデカニル/(メタ)アクリル
酸メチルテトラヒドロフラニル/(メタ)アクリル酸2
−ヒドロキシプロピル共重合体、(メタ)アクリル酸ト
リシクロデカニル/(メタ)アクリル酸テトラヒドロピ
ラニル/α−ヒドロキシメチルアクリル酸エチル共重合
体、(メタ)アクリル酸トリシクロデカニル/(メタ)
アクリル酸t−ブチル/α−ヒドロキシメチルアクリル
酸エチル共重合体、(メタ)アクリル酸テトラシクロデ
カニル/(メタ)アクリル酸t−ブチル/(メタ)アク
リル酸メチル/(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)
アクリル酸テトラシクロデカニル/(メタ)アクリル酸
テトラヒドロピラニル/(メタ)アクリル酸メチル/
(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)アクリル酸テト
ラシクロデカニル/(メタ)アクリル酸3−オキソシク
ロヘキシル/(メタ)アクリル酸メチル/(メタ)アク
リル酸共重合体、(メタ)アクリル酸アダマンチル/
(メタ)アクリル酸t−ブチル/(メタ)アクリル酸メ
チル/(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)アクリル
酸アダマンチルメチル/(メタ)アクリル酸t−ブチル
/(メタ)アクリル酸メチル/(メタ)アクリル酸共重
合体、(メタ)アクリル酸アダマンチル/(メタ)アク
リル酸テトラヒドロピラニル/(メタ)アクリル酸メチ
ル/(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)アクリル酸
アダマンチルメチル共重合体/(メタ)アクリル酸テト
ラヒドロピラニル/(メタ)アクリル酸メチル/(メ
タ)アクリル酸、(メタ)アクリル酸アダマンチル/
(メタ)アクリル酸3−オキソシクロヘキシル/(メ
タ)アクリル酸メチル/(メタ)アクリル酸共重合体、
(メタ)アクリル酸アダマンチルメチル/(メタ)アク
リル酸3−オキソシクロヘキシル/(メタ)アクリル酸
メチル/(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)アクリ
ル酸イソボルニル/(メタ)アクリル酸トリシクロデカ
ニル/(メタ)アクリル酸メチル/(メタ)アクリル酸
共重合体、(メタ)アクリル酸イソボルニル/(メタ)
アクリル酸テトラシクロデカニル/(メタ)アクリル酸
メチル/(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)アクリ
ル酸イソボルニル/(メタ)アクリル酸アダマンチル/
(メタ)アクリル酸メチル/(メタ)アクリル酸共重合
体、(メタ)アクリル酸イソボルニル/(メタ)アクリ
ル酸アダマンチルメチル/(メタ)アクリル酸メチル/
(メタ)アクリル酸共重合体等を挙げることができる。
前記ノルボルネン誘導体(β)と側鎖に脂環式骨格を有
する重合性不飽和化合物との共重合体(以下、「樹脂
(AIII-1)」という。)のほか、酸開裂性基を含有する
樹脂(AIII)として、前記ノルボルネン誘導体(α)と
側鎖に脂環式骨格を有する重合性不飽和化合物との共重
合体(以下、「樹脂(AIII-2)」という。)、前記ノル
ボルネン誘導体(β)と側鎖に脂環式骨格を有する重合
性不飽和化合物と酸開裂性基(但し、脂環式骨格を有す
る基を除く。)含有重合性不飽和化合物との共重合体
(以下、「樹脂(AIII-3)」という。)等を挙げること
ができる。樹脂(AIII-1)〜(AIII-3)における側鎖に
脂環式骨格を有する重合性不飽和化合物としては、例え
ば、前記樹脂(AII) について例示した側鎖に脂環式骨
格を有する重合性不飽和化合物と同様の化合物等を挙げ
ることができ、また樹脂(AIII-3)における酸開裂性基
含有重合性不飽和化合物としては、例えば、前記樹脂
(AII) について例示した酸開裂性基(ii) 自体が脂環
式骨格を有する基である重合性不飽和化合物あるいは酸
開裂性基(ii) (但し、脂環式骨格を有する基を除
く。)含有重合性不飽和化合物と同様の化合物等を挙げ
ることができる。また、樹脂(AIII-1)〜(AIII-3)に
おいては、場合により、前記各重合性不飽和化合物とと
もに、他の重合性不飽和化合物を併用することもでき
る。前記他の重合性不飽和化合物としては、樹脂(AII
I-1)においては、例えば、(メタ)アクリル酸メチル、
(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸n−プ
ロピル、(メタ)アクリル酸n−ブチル、(メタ)アク
リル酸2−ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸2−
ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸3−ヒドロキ
シプロピル等の(メタ)アクリル酸エステル;α−ヒド
ロキシメチルアクリル酸メチル、α−ヒドロキシメチル
アクリル酸エチル、α−ヒドロキシメチルアクリル酸n
−プロピル、α−ヒドロキシメチルアクリル酸n−ブチ
ル等のα−ヒドロキシメチルアクリル酸エステル;(メ
タ)アクリル酸、クロトン酸、マレイン酸、フマル酸、
イタコン酸、シトラコン酸、メサコン酸等の脂肪族不飽
和カルボン酸類;(メタ)アクリル酸2−カルボキシエ
チル、(メタ)アクリル酸2−カルボキシプロピル、
(メタ)アクリル酸3−カルボキシプロピル、(メタ)
アクリル酸4−カルボキシブチル等のカルボキシル基含
有脂肪族不飽和カルボン酸エステル類;酢酸ビニル、プ
ロピオン酸ビニル、酪酸ビニル等のビニルエステル類;
(メタ)アクリロニトリル、α−クロロアクリロニトリ
ル、クロトンニトリル、マレインニトリル、フマロニト
リル、メサコンニトリル、シトラコンニトリル、イタコ
ンニトリル等の不飽和ニトリル化合物;(メタ)アクリ
ルアミド、N,N−ジメチル(メタ)アクリルアミド、
クロトンアミド、マレインアミド、フマルアミド、メサ
コンアミド、シトラコンアミド、イタコンアミド等の不
飽和アミド化合物;N−ビニル−ε−カプロラクタム、
N−ビニルピロリドン、ビニルピリジン、ビニルイミダ
ゾール等の他の含窒素ビニル化合物のほか、ノルボルネ
ン誘導体(β)等を挙げることができる。これらの他の
重合性不飽和化合物は、単独でまたは2種以上を混合し
て使用することができる。
ば、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エ
チル、(メタ)アクリル酸n−プロピル、(メタ)アク
リル酸n−ブチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシ
エチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル、
(メタ)アクリル酸3−ヒドロキシプロピル等の(メ
タ)アクリル酸エステル;α−ヒドロキシメチルアクリ
ル酸メチル、α−ヒドロキシメチルアクリル酸エチル、
α−ヒドロキシメチルアクリル酸n−プロピル、α−ヒ
ドロキシメチルアクリル酸n−ブチル等のα−ヒドロキ
シメチルアクリル酸エステル;(メタ)アクリル酸、ク
ロトン酸、マレイン酸、フマル酸、イタコン酸、シトラ
コン酸、メサコン酸等の脂肪族不飽和カルボン酸類;
(メタ)アクリル酸2−カルボキシエチル、(メタ)ア
クリル酸2−カルボキシプロピル、(メタ)アクリル酸
3−カルボキシプロピル、(メタ)アクリル酸4−カル
ボキシブチル等のカルボキシル基含有脂肪族不飽和カル
ボン酸エステル類;酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、
酪酸ビニル等のビニスエステル類;(メタ)アクリロニ
トリル、α−クロロアクリロニトリル、クロトンニトリ
ル、マレインニトリル、フマロニトリル、メサコンニト
リル、シトラコンニトリル、イタコンニトリル等の不飽
和ニトリル化合物;(メタ)アクリルアミド、N,N−
ジメチル(メタ)アクリルアミド、クロトンアミド、マ
レインアミド、フマルアミド、メサコンアミド、シトラ
コンアミド、イタコンアミド等の不飽和アミド化合物;
N−ビニル−ε−カプロラクタム、N−ビニルピロリド
ン、ビニルピリジン、ビニルイミダゾール等の他の含窒
素ビニル化合物のほか、前記ノルボルネン誘導体
(β)、酸開裂性基(ii) 自体が脂環式骨格を有する酸
開裂性基(ii) 含有重合性不飽和化合物、酸開裂性基
(ii) (但し、脂環式骨格を有する基を除く。)含有重
合性不飽和化合物等を挙げることができる。これらの他
の重合性不飽和化合物は、単独でまたは2種以上を混合
して使用することができる。
ば、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エ
チル、(メタ)アクリル酸n−プロピル、(メタ)アク
リル酸n−ブチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシ
エチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル、
(メタ)アクリル酸3−ヒドロキシプロピル等の(メ
タ)アクリル酸エステル;α−ヒドロキシメチルアクリ
ル酸メチル、α−ヒドロキシメチルアクリル酸エチル、
α−ヒドロキシメチルアクリル酸n−プロピル、α−ヒ
ドロキシメチルアクリル酸n−ブチル等のα−ヒドロキ
シメチルアクリル酸エステル;(メタ)アクリル酸、ク
ロトン酸、マレイン酸、フマル酸、イタコン酸、シトラ
コン酸、メサコン酸等の脂肪族不飽和カルボン酸類;
(メタ)アクリル酸2−カルボキシエチル、(メタ)ア
クリル酸2−カルボキシプロピル、(メタ)アクリル酸
3−カルボキシプロピル、(メタ)アクリル酸4−カル
ボキシブチル等のカルボキシル基含有脂肪族不飽和カル
ボン酸エステル類;酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、
酪酸ビニル等のビニルエステル類;(メタ)アクリロニ
トリル、α−クロロアクリロニトリル、クロトンニトリ
ル、マレインニトリル、フマロニトリル、メサコンニト
リル、シトラコンニトリル、イタコンニトリル等の不飽
和ニトリル化合物;(メタ)アクリルアミド、N,N−
ジメチル(メタ)アクリルアミド、クロトンアミド、マ
レインアミド、フマルアミド、メサコンアミド、シトラ
コンアミド、イタコンアミド等の不飽和アミド化合物;
N−ビニル−ε−カプロラクタム、N−ビニルピロリド
ン、ビニルピリジン、ビニルイミダゾール等の他の含窒
素ビニル化合物等を挙げることができる。これらの他の
重合性不飽和化合物は、単独でまたは2種以上を混合し
て使用することができる。
有する繰返し単位と側鎖に脂環式骨格を有する繰返し単
位との合計含有量は、全繰返し単位に対して、通常、3
0〜90モル%、好ましくは40〜80モル%であり、
また酸開裂性基を含有する繰返し単位の含有量は、全繰
返し単位に対して、通常、10〜70モル%、好ましく
は20〜60モル%である。
(A)としては、少なくとも主鎖に脂環式骨格を有する
樹脂が好ましく、特に樹脂(AI)が好ましい。樹脂
(A)のゲルパーミエーションクロマトグラフィー(G
PC)によるポリスチレン換算重量平均分子量(以下、
「Mw」という。)は、通常、5,000〜300,0
00、好ましくは5,000〜200,000、さらに
好ましくは10,000〜100,000である。この
場合、樹脂(A)のMwが5,000未満では、レジス
トとしての耐熱性が低下する傾向があり、また300,
000を超えると、レジストとしての現像性が低下する
傾向がある。第1発明および第2発明において、樹脂
(A)は、単独でまたは2種以上を混合して使用するこ
とができる。
(A)は、不純物が少ないほど好ましい。この不純物
は、主に各樹脂を製造する際に使用される触媒に由来す
るものであり、レジストとしての観点から特に考慮すべ
き不純物の例としては、F、Cl、Br等のハロゲン
や、デミングの周期律表IV族、V族、VI族、VII 族およ
びVIII族の金属等を挙げることができる。この場合、樹
脂中の残留ハロゲン含有量を3ppm以下、特に2pp
m以下とし、また残留金属含有量を300ppb以下、
特に100ppb以下とすることが好ましく、特に残留
ハロゲン含有量を3ppm以下、特に2ppm以下と
し、かつ残留金属含有量を300ppb以下、特に10
0ppb以下とすることが好ましい。これらの不純物含
有量を前記値以下とすることにより、感度、解像度、プ
ロセス安定性、パターン形状等がさらに改善される。樹
脂中の不純物を低減する方法としては、残留ハロゲンの
場合、十分水洗して除去する方法を挙げることができ、
また残留金属の場合、樹脂溶液の純水による洗浄あるい
は液々抽出、樹脂溶液の純水による洗浄あるいは液々抽
出と限外ろ過、遠心分離等の物理的精製法との組み合わ
せ等の方法を挙げることができる。
フィルムとして100〜300nmの波長範囲内の放射
線に対する透過率が60%/μm以上である樹脂(以
下、「樹脂(B1)」という。)からなる。第1発明に
おける樹脂(B1)は、前記樹脂(A)が酸開裂性基を
含有しない場合は、酸開裂性基を含有しなければならな
い。第1発明における感放射線性樹脂組成物を化学増幅
型レジストとして使用する場合は、放射線として、波長
が100〜300nmの範囲内のもの、好ましくはAr
Fエキシマレーザー(波長193nm)あるいはKrF
エキシマレーザー(波長248nm)が使用される。樹
脂(B1)のArFエキシマレーザーおよびKrFエキ
シマレーザーに対する透過率は、好ましくは65%以
上、特に好ましくは70%以上である。ArFエキシマ
レーザーに対する透過率が60%以上である樹脂(B
1)(以下、「樹脂(B1-I)」という。)としては、
例えば、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル
酸エチル、(メタ)アクリル酸n−プロピル、(メタ)
アクリル酸n−ブチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロ
キシエチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピ
ル、(メタ)アクリル酸3−ヒドロキシプロピル等の
(メタ)アクリル酸エステル類の単独重合体もしくはこ
れらの共重合体;前記(メタ)アクリル酸エステル類の
1種以上と他の重合性不飽和化合物、例えば、(メタ)
アクリル酸、クロトン酸、マレイン酸、フマル酸、イタ
コン酸、シトラコン酸、メサコン酸等の脂肪族不飽和カ
ルボン酸類;(メタ)アクリル酸2−カルボキシエチ
ル、(メタ)アクリル酸2−カルボキシプロピル、(メ
タ)アクリル酸3−カルボキシプロピル、(メタ)アク
リル酸4−カルボキシブチル等のカルボキシル基含有脂
肪族不飽和カルボン酸エステル類;酢酸ビニル、プロピ
オン酸ビニル、酪酸ビニル等のビニルエステル類;(メ
タ)アクリロニトリル、α−クロロアクリロニトリル、
クロトンニトリル、マレインニトリル、フマロニトリ
ル、メサコンニトリル、シトラコンニトリル、イタコン
ニトリル等の不飽和ニトリル化合物;(メタ)アクリル
アミド、N,N−ジメチル(メタ)アクリルアミド、ク
ロトンアミド、マレインアミド、フマルアミド、メサコ
ンアミド、シトラコンアミド、イタコンアミド等の不飽
和アミド化合物;N−ビニル−ε−カプロラクタム、N
−ビニルピロリドン、ビニルピリジン、ビニルイミダゾ
ール等の他の含窒素ビニル化合物等の1種以上との共重
合体のほか、酸開裂性基(ii) を含有する樹脂(B1-
I)として、例えば、(メタ)アクリル酸t−ブチルの
単独重合体、(メタ)アクリル酸t−ブチル/(メタ)
アクリル酸メチル共重合体、(メタ)アクリル酸t−ブ
チル/(メタ)アクリル酸共重合体、(メタ)アクリル
酸t−ブチル/(メタ)アクリル酸メチル/(メタ)ア
クリル酸共重合体、(メタ)アクリル酸t−ブチル/
(メタ)アクリル酸メチル/(メタ)アクリル酸/(メ
タ)アクリル酸テトラヒドロピラニル共重合体、(メ
タ)アクリル酸t−ブチル/(メタ)アクリル酸メチル
/(メタ)アクリル酸/(メタ)アクリル酸3−オキソ
シクロヘキシル共重合体等の(メタ)アクリル酸t−ブ
チルの(共)重合体;(メタ)アクリル酸テトラヒドロ
ピラニルの単独重合体、(メタ)アクリル酸テトラヒド
ロピラニル/(メタ)アクリル酸メチル共重合体、(メ
タ)アクリル酸テトラヒドロピラニル/(メタ)アクリ
ル酸共重合体、(メタ)アクリル酸テトラヒドロピラニ
ル/(メタ)アクリル酸メチル/(メタ)アクリル酸共
重合体、(メタ)アクリル酸テトラヒドロピラニル/
(メタ)アクリル酸メチル/(メタ)アクリル酸/(メ
タ)アクリル酸3−オキソシクロヘキシル共重合体等の
(メタ)アクリル酸テトラヒドロピラニルの(共)重合
体;(メタ)アクリル酸3−オキソシクロヘキシルの単
独重合体、(メタ)アクリル酸3−オキソシクロヘキシ
ル/(メタ)アクリル酸メチル共重合体、(メタ)アク
リル酸3−オキソシクロヘキシル/(メタ)アクリル酸
共重合体、(メタ)アクリル酸3−オキソシクロヘキシ
ル/(メタ)アクリル酸メチル/(メタ)アクリル酸共
重合体等の(メタ)アクリル酸3−オキソシクロヘキシ
ルの(共)重合体等を挙げることができる。樹脂(B1
-I)のMwは、通常、3,000〜30,000、好ま
しくは4,000〜20,000、さらに好ましくは
5,000〜15,000である。この場合、樹脂(B
1-I)のMwが3,000未満では、ドライエッチング
耐性が低下する傾向があり、また30,000を超える
と、樹脂(A)との相溶性が悪くなり、現像性が低下す
る傾向がある。
でまたは2種以上を混合して使用することができる。第
1発明における樹脂(B1)の使用量は、樹脂(A)1
00重量部に対して、通常、5〜50重量部、好ましく
は5〜40重量部である。この場合、樹脂(B−1)の
使用量が5重量部未満では、放射線に対する透過率の向
上効果が不十分となるおそれがあり、また50重量部を
超えると、十分なドライエッチング耐性や良好なパター
ン形状を得ることが困難となる傾向がある。
前記一般式(1)で表される分子量1,000以下の化
合物(以下、「化合物(B2)」という。)からなる。
一般式(1)において、R1 あるいはR2 が複数存在す
るとき、それぞれ相互に同一でも異なってもよい。第2
発明における化合物(B2)は、前記樹脂(A)が酸開
裂性基を含有しない場合は、酸開裂性基を含有しなけれ
ばならない。一般式(1)において、R1 およびR2 の
酸開裂性基としては、例えば、前記酸開裂性基(ii) と
同様の基を挙げることができる。第2発明における感放
射線性樹脂組成物を化学増幅型レジストとして使用する
場合は、放射線として、好ましくはArFエキシマレー
ザー(波長193nm)あるいはKrFエキシマレーザ
ー(波長248nm)が使用される。ArFエキシマレ
ーザーに対して好適な化合物(B2)としては、例え
ば、アダマンタンカルボン酸t−ブチル、アダマンタン
カルボン酸テトラヒドロピラニル、アダマンタンカルボ
ン酸3−オキソシクロヘキシル、アダマンタンカルボン
酸t−ブトキシカルボニルメチル、アダマンチル酢酸t
−ブチル、アダマンチル酢酸テトラヒドロピラニル、ア
ダマンチル酢酸3−オキソシクロヘキシル、アダマンチ
ル酢酸t−ブトキシカルボニルメチル、トリシクロデカ
ニルカルボン酸t−ブチル、トリシクロデカニルカルボ
ン酸テトラヒドロピラニル、トリシクロデカニルカルボ
ン酸3−オキソシクロヘキシル、トリシクロデカニルカ
ルボン酸t−ブトキシカルボニルメチル、トリシクロデ
カニルカルボン酸ジ−t−ブチル、トリシクロデカニル
カルボン酸ジテトラヒドロピラニル、トリシクロデカニ
ルカルボン酸ジ−3−オキソシクロヘキシル、トリシク
ロデカニルカルボン酸ジ−t−ブトキシカルボニルメチ
ル、コリック酸t−ブチル、コリック酸テトラヒドロピ
ラニル、コリック酸3−オキソシクロヘキシル、コリッ
ク酸t−ブトキシカルボニルメチル、リトコール酸t−
ブチル、リトコール酸テトラヒドロピラニル、リトコー
ル酸3−オキソシクロヘキシル、リトコール酸t−ブト
キシカルボニルメチル、ジヒドロコール酸t−ブチル、
ジヒドロコール酸テトラヒドロピラニル、ジヒドロコー
ル酸3−オキソシクロヘキシル、ジヒドロコール酸t−
ブトキシカルボニルメチル、1−t−ブトキシカルボニ
ルオキシナフタレン、2−t−ブトキシカルボニルオキ
シナフタレン、1−カルボ−t−ブトキシメトキシナフ
タレン、2−カルボ−t−ブトキシメトキシナフタレン
等を挙げることができる。これらの化合物(B2)のう
ち、アダマンタンカルボン酸t−ブチル、アダマンタン
カルボン酸t−ブトキシカルボニルメチル、アダマンチ
ル酢酸t−ブチル、アダマンチル酢酸t−ブトキシカル
ボニルメチル、トリシクロデカニルカルボン酸t−ブチ
ル、トリシクロデカニルカルボン酸ジ−t−ブチル、コ
リック酸t−ブチル、コリック酸t−ブトキシカルボニ
ルメチル、リトコール酸t−ブチル、リトコール酸t−
ブトキシカルボニルメチル、ジヒドロコール酸t−ブチ
ル、ジヒドロコール酸t−ブトキシカルボニルメチル等
が好ましい。第2発明において、化合物(B2)は、単
独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
第2発明における化合物(B2)の使用量は、樹脂
(A)100重量部に対して、通常、5〜50重量部、
好ましくは5〜40重量部である。この場合、化合物
(B2)の使用量が5未満では、放射線に対する透過率
の向上効果が不十分となるおそれがあり、また50重量
部を超えると、耐熱性や基板への接着性が低下する傾向
がある。なお、第1発明あるいは第2発明においては、
樹脂(B1)と化合物(B2)とを併用することもでき
る。
は、放射線の照射(以下、「露光」という。)により酸
を発生する感放射線性酸発生剤(以下、「酸発生剤
(C)」という。)からなる。酸発生剤(C)は、露光
により発生した酸の作用によって、樹脂(A)、あるい
は樹脂(B1)または化合物(B2)中に存在する酸開
裂性基を開裂させ、その結果レジスト被膜の露光部がア
ルカリ現像液に易溶性となり、ポジ型のレジストパター
ンを形成する作用を有するものである。このような酸発
生剤(C)としては、オニウム塩、ハロゲン含有化
合物、ジアゾケトン化合物、スルホン化合物、ス
ルホン酸化合物等を挙げることができる。これらの酸発
生剤(C)の例としては、下記のものを挙げることがで
きる。 オニウム塩 オニウム塩としては、例えば、ヨードニウム塩、スルホ
ニウム塩(テトラヒドロチオフェニウム塩を含む。)、
ホスホニウム塩、ジアゾニウム塩、ピリジニウム塩等を
挙げることができる。好ましいオニウム塩の具体例とし
ては、ジフェニルヨードニウムトリフルオロメタンスル
ホネート、ジフェニルヨードニウムピレンスルホネー
ト、ジフェニルヨードニウムドデシルベンゼンスルホネ
ート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムト
リフルオロメタンスルホネート、ビス(4−t−ブチル
フェニル)ヨードニウムドデシルベンゼンスルホネー
ト、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムナフ
タレンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)
ヨードニウムヘキサフルオロアンチモネート、トリフェ
ニルスルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、ト
リフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネー
ト、トリフェニルスルホニウムナフタレンスルホネー
ト、(ヒドロキシフェニル)ベンゼンメチルスルホニウ
ムトルエンスルホネート、シクロヘキシルメチル(2−
オキソシクロヘキシル)スルホニウムトリフルオロメタ
ンスルホネート、ジシクロヘキシル(2−オキソシクロ
ヘキシル)スルホニウムトリフルオロメタンスルホネー
ト、ジメチル(2−オキソシクロヘキシル)スルホニウ
ムトリフルオロメタンスルホネート、ジフェニルヨード
ニウムヘキサフルオロアンチモネート、トリフェニルス
ルホニウムカンファースルホネート、(4−ヒドロキシ
フェニル)ベンジルメチルスルホニウムトルエンスルホ
ネート、1−ナフチルジメチルスルホニウムトリフルオ
ロメタンスルホネート、1−ナフチルジエチルスルホニ
ウムトリフルオロメタンスルホネート、4−シアノ−1
−ナフチルジメチルスルホニウムトリフルオロメタンス
ルホネート、4−ニトロ−1−ナフチルジメチルスルホ
ニウムトリフルオロメタンスルホネート、4−メチル−
1−ナフチルジメチルスルホニウムトリフルオロメタン
スルホネート、4−シアノ−1−ナフチルジエチルスル
ホニウムトリフルオロメタンスルホネート、4−ニトロ
−1−ナフチルジエチルスルホニウムトリフルオロメタ
ンスルホネート、4−メチル−1−ナフチルジエチルス
ルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、4−ヒド
ロキシ−1−ナフチルジメチルスルホニウムトリフルオ
ロメタンスルホネート、
ロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、4
−メトキシ−1−ナフチルテトラヒドロチオフェニウム
トリフルオロメタンスルホネート、4−エトキシ−1−
ナフチルテトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタ
ンスルホネート、4−メトキシメトキシ−1−ナフチル
テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホ
ネート、4−エトキシメトキシ−1−ナフチルテトラヒ
ドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、
4−(1−メトキシエトキシ)−1−ナフチルテトラヒ
ドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、
4−(2−メトキシエトキシ)−1−ナフチルテトラヒ
ドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、
4−メトキシカルボニルオキシ−1−ナフチルテトラヒ
ドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、
4−エトキシカルボニルオキシ−1−ナフチルテトラヒ
ドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、
4−n−プロポキシカルボニルオキシ−1−ナフチルテ
トラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネ
ート、4−i−プロポキシカルボニルオキシ−1−ナフ
チルテトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタンス
ルホネート、4−n−ブトキシカルボニルオキシ−1−
ナフチルテトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタ
ンスルホネート、4−t−ブトキシカルボニルオキシ−
1−ナフチルテトラヒドロチオフェニウムトリフルオロ
メタンスルホネート、4−(2−テトラヒドロフラニル
オキシ)−1−ナフチルテトラヒドロチオフェニウムト
リフルオロメタンスルホネート、4−(2−テトラヒド
ロピラニルオキシ)−1−ナフチルテトラヒドロチオフ
ェニウムトリフルオロメタンスルホネート、4−ベンジ
ルオキシ−1−ナフチルテトラヒドロチオフェニウムト
リフルオロメタンスルホネート、1−(ナフチルアセト
メチル)テトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタ
ンスルホネート等を挙げることができる。
含有炭化水素化合物、ハロアルキル基含有複素環式化合
物等を挙げることができる。好ましいハロゲン含有化合
物の具体例としては、フェニル−ビス(トリクロロメチ
ル)−s−トリアジン、メトキシフェニル−ビス(トリ
クロロメチル)−s−トリアジン、ナフチル−ビス(ト
リクロロメチル)−s−トリアジン等の(トリクロロメ
チル)−s−トリアジン誘導体や、1,1−ビス(4−
クロロフェニル)−2,2,2−トリクロロエタン等を
挙げることができる。 ジアゾケトン化合物 ジアゾケトン化合物としては、例えば、1,3−ジケト
−2−ジアゾ化合物、ジアゾベンゾキノン化合物、ジア
ゾナフトキノン化合物等を挙げることができる。好まし
いジアゾケトンの具体例としては、1,2−ナフトキノ
ンジアジド−4−スルホニルクロリド、1,2−ナフト
キノンジアジド−5−スルホニルクロリド、2,3,
4,4’−テトラヒドロベンゾフェノンの1,2−ナフ
トキノンジアジド−4−スルホン酸エステルまたは1,
2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸エステル、
1,1,1−トリス(4−ヒドロキシフェニル)エタン
の1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホン酸エス
テルまたは1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホ
ン酸エステル等を挙げることができる。 スルホン化合物 スルホン化合物としては、例えば、β−ケトスルホン、
β−スルホニルスルホンや、これらの化合物のα−ジア
ゾ化合物等を挙げることができる。好ましいスルホン化
合物の具体例としては、4−トリスフェナシルスルホ
ン、メシチルフェナシルスルホン、ビス(フェニルスル
ホニル)メタン等を挙げることができる。 スルホン酸化合物 スルホン酸化合物としては、例えば、アルキルスルホン
酸エステル、アルキルスルホン酸イミド、ハロアルキル
スルホン酸エステル、アリールスルホン酸エステル、イ
ミノスルホネート等を挙げることができる。好ましいス
ルホン酸化合物の具体例としては、ベンゾイントシレー
ト、ピロガロールのトリストリフルオロメタンスルホネ
ート、ニトロベンジル−9,10−ジエトキシアントラ
セン−2−スルホネート、トリフルオロメタンスルホニ
ルビシクロ[ 2.2.1 ]ヘプト−5−エン−2,3−
ジカルボジイミド、N−ヒドロキシスクシイミドトリフ
ルオロメタンスルホネート、1,8−ナフタレンジカル
ボン酸イミドトリフルオロメタンスルホネート等を挙げ
ることができる。これらの酸発生剤(B)のうち、特
に、ジフェニルヨードニウムトリフルオロメタンスルホ
ネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム
トリフルオロメタンスルホネート、トリフェニルスルホ
ニウムトリフルオロメタンスルホネート、シクロヘキシ
ルメチル(2−オキソシクロヘキシル)スルホニウムト
リフルオロメタンスルホネート、ジシクロヘキシル(2
−オキソシクロヘキシル)スルホニウムトリフルオロメ
タンスルホネート、ジメチル(2−オキソシクロヘキシ
ル)スルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、4
−ヒドロキシ−1−ナフチルジメチルスルホニウムトリ
フルオロメタンスルホネート、4−ヒドロキシ−1−ナ
フチルテトラヒドロチオフェニウムトリフルオロメタン
スルホネート、1−(ナフチルアセトメチル)テトラヒ
ドロチオフェニウムトリフルオロメタンスルホネート、
トリフルオロメタンスルホニルビシクロ[ 2.2.1 ]
ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボジイミド、N−ヒ
ドロキシスクシイミドトリフルオロメタンスルホネー
ト、1,8−ナフタレンジカルボン酸イミドトリフルオ
ロメタンスルホネート等が好ましい。第1発明および第
2発明において、酸発生剤(C)は、単独でまたは2種
以上を混合して使用することができる。酸発生剤(C)
の使用量は、レジストとしての感度および現像性を確保
する観点から、樹脂(A)100重量部に対して、通
常、0.1〜10重量部、好ましくは0.5〜7重量部
である。この場合、酸発生剤(C)の使用量が0.1重
量部未満では、感度および現像性が低下し、また10重
量部を超えると、放射線に対する透明性が低下して、矩
形のレジストパターンを得られ難くなる傾向がある。
発生剤(C)から発生する酸に対してルイス塩基として
作用する化合物(以下、「ルイス塩基添加剤」とい
う。)を配合することにより、レジストパターンの側壁
の垂直性をより効果的に改善することができる。このよ
うなルイス塩基添加剤としては、例えば、含窒素塩基性
化合物やその塩類、カルボン酸類、アルコール類等を挙
げることができるが、含窒素塩基性化合物が好ましい。
前記含窒素塩基性化合物の具体例としては、トリエチル
アミン、トリn−プロピルアミン、トリi−プロピルア
ミン、トリn−ブチルアミン、トリn−ヘキシルアミ
ン、トリエタノールアミン、トリフェニルアミン、アニ
リン、N,N−ジメチルアニリン、2−メチルアニリ
ン、3−メチルアニリン、4−メチルアニリン、4−ニ
トロアニリン、1−ナフチルアミン、2−ナフチルアミ
ン、ジフェニルアミン、エチレンジアミン、テトラメチ
レンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、ピロリジン、
ピペリジン等のアミン化合物;イミダゾール、4−メチ
ルイミダゾール、4−メチル−2−フェニルイミダゾー
ル、チアベンダゾール等のイミダゾール化合物;ピリジ
ン、2−メチルピリジン、4−エチルピリジン、2−ヒ
ドロキシピリジン、4−ヒドロキシピリジン、2−フェ
ニルピリジン、4−フェニルピリジン、ニコチン酸、ニ
コチン酸アミド、キノリン、アクリジン等のピリジン化
合物;プリン、1,3,5−トリアジン、トリフェニル
−1,3,5−トリアジン、1,2,3−トリアゾー
ル、1,2,4−トリアゾール、ウラゾール等の他の含
窒素複素環化合物等を挙げることができる。これらの含
窒素塩基性化合物は、単独でまたは2種以上を混合して
使用することができる。ルイス塩基添加剤の配合量は、
酸発生剤(C)1モルに対して、通常、1モル以下、好
ましくは0.05〜1モルである。この場合、ルイス塩
基添加剤の配合量が1モルを超えると、レジストとして
の感度が低下する傾向がある。
線性樹脂組成物には、必要に応じて、他の各種添加剤を
配合することができる。このような添加剤としては、例
えば、塗布性、現像性等を改良する作用を示す界面活性
剤を挙げることができる。前記界面活性剤としては、例
えば、ポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポリオキ
シエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチレンオ
レイルエーテル、ポリオキシエチレンオクチルフェニル
エーテル、ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテ
ル、ポリエチレングリコールジラウレート、ポリエチレ
ングリコールジステアレート等のノニオン系界面活性剤
のほか、以下商品名で、KP341(信越化学工業
製)、ポリフローNo.75,同No.95(共栄社油
脂化学工業製)、エフトップEF301,同EF30
3,同EF352(トーケムプロダクツ製)、メガファ
ックスF171,同F173(大日本インキ化学工業
製)、フロラードFC430,同FC431(住友スリ
ーエム製)、アサヒガードAG710,サーフロンSー
382,同SCー101,同SCー102,同SCー1
03,同SCー104,同SCー105,同SCー10
6(旭硝子製)等を挙げることができる。これらの界面
活性剤は、単独でまたは2種以上を混合して使用するこ
とができる。界面活性剤の配合量は、樹脂(A)と樹脂
(B1)または化合物(B2)と酸発生剤(C)との合
計100重量部に対して、通常、2重量部以下である。
また、前記以外の添加剤としては、ハレーション防止
剤、接着助剤、保存安定化剤、消泡剤等を挙げることが
できる。
常、その使用に際して、全固形分濃度が、例えば5〜5
0重量%、好ましくは10〜25重量%となるように、
溶剤に溶解したのち、例えば孔径0.2μm程度のフィ
ルターでろ過することによって、組成物溶液として調製
される。前記組成物溶液の調製に使用される溶剤として
は、例えば、2−ブタノン、2−ペンタノン、3−メチ
ル−2−ブタノン、2−ヘキサノン、4−メチル−2−
ペンタノン、3−メチル−2−ペンタノン、3,3−ジ
メチル−2−ブタノン、2−ヘプタノン、2−オクタノ
ン等の直鎖状ケトン類;シクロペンタノン、3−メチル
−2−シクロペンタノン、シクロヘキサノン、2−メチ
ルシクロヘキサノン、2,6−ジメチルシクロヘキサノ
ン、イソホロン等の環状ケトン類;プロピレングリコー
ルモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコー
ルモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリコー
ルモノn−プロピルエーテルアセテート、プロピレング
リコールモノi−プロピルエーテルアセテート、プロピ
レングリコールモノn−ブチルエーテルアセテート、プ
ロピレングリコールモノイソブチルエーテルアセテー
ト、プロピレングリコールモノsec−ブチルエーテル
アセテート、プロピレングリコールモノt−ブチルエー
テルアセテート等のプロピレングリコールモノアルキル
エーテルアセテート類;2−ヒドロキシプロピオン酸メ
チル、2−ヒドロキシプロピオン酸エチル、2−ヒドロ
キシプロピオン酸n−プロピル、2−ヒドロキシプロピ
オン酸i−プロピル、2−ヒドロキシプロピオン酸n−
ブチル、2−ヒドロキシプロピオン酸i−ブチル、2−
ヒドロキシプロピオン酸sec−ブチル、2−ヒドロキ
シプロピオン酸t−ブチル等の2−ヒドロキシプロピオ
ン酸アルキル類のほか、n−プロピルアルコール、イソ
プロピルアルコール、n−ブチルアルコール、t−ブチ
ルアルコール、シクロヘキサノール、エチレングリコー
ルモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチル
エーテル、エチレングリコールモノ−n−プロピルエー
テル、エチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、
ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレング
リコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールジ−
n−プロピルエーテル、ジエチレングリコールジ−n−
ブチルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテ
ルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテル
アセテート、エチレングリコールモノ−n−プロピルエ
ーテルアセテート、プロピレングリコールモノメチルエ
ーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プ
ロピレングリコールモノ−n−プロピルエーテル、トル
エン、キシレン、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオ
ン酸エチル、エトキシ酢酸エチル、ヒドロキシ酢酸エチ
ル、2−ヒドロキシ−3−メチル酪酸メチル、3−メト
キシブチルアセテート、3−メチル−3−メトキシブチ
ルアセテート、3−メチル−3−メトキシブチルプロピ
オネート、3−メチル−3−メトキシブチルブチレー
ト、酢酸エチル、酢酸n−プロピル、酢酸n−ブチル、
アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、3−メトキシプ
ロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、
ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、N−メチルピロ
リドン、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメ
チルアセトアミド、ベンジルエチルエーテル、ジヘキシ
ルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテ
ル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、カプロ
ン酸、カプリル酸、1−オクタノール、1−ノナノー
ル、ベンジルアルコール、酢酸ベンジル、安息香酸エチ
ル、しゅう酸ジエチル、マレイン酸ジエチル、γ−ブチ
ロラクトン、炭酸エチレン、炭酸プロピレン等を挙げる
ことができる。これらの溶剤は、単独でまたは2種以上
を混合して使用することができるが、就中、環式ケトン
類、直鎖状ケトン類、プロピレングリコールモノアルキ
ルエーテルアセテート類および2−ヒドロキシプロピオ
ン酸アルキル類が好ましく、特に環式ケトン類と、直鎖
状ケトン類、プロピレングリコールモノアルキルエーテ
ルアセテート類および2−ヒドロキシプロピオン酸アル
キル類の群から選ばれる少なくとも1種との混合溶剤が
好ましい。
に化学増幅型ポジ型レジストとして有用である。前記化
学増幅型ポジ型レジストにおいては、露光により酸発生
剤(C)から発生した酸の作用によって、樹脂(A)、
あるいは樹脂(B1)または化合物(B2)中の酸開裂
性基が、例えば、(ヌ)アルコキシカルボニル基が開裂
してカルボキシル基に変換される反応、(ル) アルキル
カルボニルオキシ基が開裂して水酸基に変換される反
応、(ヲ)シアノ基が開裂してカルボキシル基に変換さ
れる反応、(ワ)酸無水物基が開裂してカルボキシル基
に変換される反応等を生起し、その結果レジストの露光
部のアルカリ現像液に対する溶解性が高くなり、該露光
部がアルカリ現像液によって溶解、除去され、ポジ型の
レジストパターンが得られる。第1発明および第2発明
の感放射線性樹脂組成物からレジストパターンを形成す
る際には、感放射線性樹脂組成物を、回転塗布、流延塗
布、ロール塗布等の適宜の塗布手段によって、例えば、
シリコンウエハー、アルミニウムで被覆されたウエハー
等の基板上に塗布することにより、レジスト被膜を形成
し、場合により予めプレベークを行ったのち、所定のレ
ジストパターンを形成するように該レジスト被膜に露光
する。その際に使用される放射線としては、ArFエキ
シマレーザー(波長193nm)あるいはKrFエキシ
マレーザー(波長248nm)が好ましい。第1発明お
よび第2発明においては、露光後に加熱処理(以下、
「露光後ベーク」という。)を行うことが好ましい。こ
の露光後ベークにより、前記(ヌ)〜(ワ)等の反応が
円滑に進行する。露光後ベークの加熱条件は、組成物の
配合組成によって変わるが、通常、30〜200℃、好
ましくは50〜170℃である。第1発明および第2発
明においては、感放射線性樹脂組成物の潜在能力を最大
限に引き出すため、例えば特公平6−12452号公報
等に開示されているように、使用される基板上に有機系
あるいは無機系の反射防止膜を形成しておくこともで
き、また環境雰囲気中に含まれる塩基性不純物等の影響
を防止するため、例えば特開平5−188598号公報
等に開示されているように、レジスト被膜上に保護膜を
設けることもでき、あるいはこれらの技術を併用するこ
ともできる。次いで、露光されたレジスト被膜を現像す
ることにより、所定のレジストパターンを形成する。現
像に使用される現像液としては、例えば、水酸化ナトリ
ウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、けい酸ナトリ
ウム、メタけい酸ナトリウム、アンモニア水、エチルア
ミン、n−プロピルアミン、ジエチルアミン、ジ−n−
プロピルアミン、トリエチルアミン、メチルジエチルア
ミン、ジメチルエチルアミン、トリエタノールアミン、
テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、ピロール、ピ
ペリジン、コリン、1,8−ジアザビシクロ−[5.
4.0]−7−ウンデセン、1,5−ジアザビシクロ−
[4.3.0]−5−ノネン等のアルカリ性化合物の少
なくとも1種を溶解したアルカリ性水溶液が好ましい。
該アルカリ性水溶液の濃度は、通常、10重量%以下で
ある。この場合、アルカリ性水溶液の濃度が10重量%
を超えると、未露光部も現像液に溶解し、好ましくな
い。また、前記アルカリ性水溶液からなる現像液には、
例えば有機溶剤を添加することもできる。前記有機溶剤
の具体例としては、アセトン、メチルエチルケトン、メ
チルイソブチルケトン、シクロペンタノン、シクロヘキ
サノン、3−メチル−2−シクロペンタノン、2,6−
ジメチルシクロヘキサノン等のケトン類;メチルアルコ
ール、エチルアルコール、n−プロピルアルコール、イ
ソプロピルアルコール、n−ブチルアルコール、t−ブ
チルアルコール、シクロペンタノール、シクロヘキサノ
ール、1,4−ヘキサンジオール、1,4−ヘキサンジ
メチロール等のアルコール類;テトラヒドロフラン、ジ
オキサン等のエーテル類;酢酸エチル、酢酸ブチル、酢
酸イソアミル等のエステル類;トルエン、キシレン等の
芳香族炭化水素類や、フェノール、アセトニルアセト
ン、ジメチルホルムアミド等を挙げることができる。こ
れらの有機溶剤は、単独でまたは2種以上を混合して使
用することができる。有機溶剤の使用量は、アルカリ性
水溶液に対して、100容量%以下が好ましい。この場
合、有機溶剤の使用量が100容量%を超えると、現像
性が低下し、露光部の現像残りが著しくなり、好ましく
ない。また、アルカリ性水溶液からなる現像液には、界
面活性剤等を適量添加することもできる。なお、アルカ
リ性水溶液からなる現像液で現像したのちは、一般に、
水で洗浄して乾燥する。
実施の形態をさらに具体的に説明する。但し、本発明
は、これらの実施例に何ら制約されるものではない。こ
こで、部および%は、特記しない限り重量基準である。
実施例および比較例における各測定・評価は、下記の要
領で行った。 Mw:東ソー(株)製GPCカラム(G2000HXL 2
本、G3000HXL 1本、G4000HXL 1本)を用
い、流量1.0ミリリットル/分、溶出溶媒テトラヒド
ロフラン、カラム温度40℃の分析条件で、単分散ポリ
スチレンを標準とするゲルパーミエーションクロマトグ
ラフィー(GPC)により測定した。 放射線透過率:組成物溶液を石英ガラス上にスピンコー
トした乾燥膜厚1.0μmの被膜について、波長193
nmにおける吸光度から、放射線透過率を算出して、遠
紫外線領域における透明性の尺度とした。 相対エッチング速度:組成物溶液を石英ガラス上にスピ
ンコートした乾燥膜厚1.0μmの被膜に対して、ドラ
イエッチング装置(日電アネルバ社製、DEM451)
を用い、エッチングガスをCF4 とし、ガス流量30sc
cm、圧力5Pa、出力100Wの条件でドライエッチ
ングを行い、エッチング速度を測定して、クレゾールノ
ボラック樹脂からなる被膜のエッチング速度に対する相
対値により、相対エッチング速度を評価した。エッチン
グ速度の小さいほど、ドライエッチング耐性に優れるこ
とを意味する。 パターン形状:線幅0.30μmのライン・アンド・ス
ペースパターン(1L1S)の方形状断面の下辺寸法L
1 と上下辺寸法L2 とを走査型電子顕微鏡により測定
し、0.85≦L2 /L1 ≦1を満足し、かつパターン
形状が裾を引いていない場合を、パターン形状が良好で
あるとした。 感度:組成物をシリコーンウエハー上にスピンコートし
たのち、表2に示す温度に保持したホットプレート上で
90秒間プレベークを行って、膜厚0.5μmのレジス
ト被膜を形成した。このレジスト被膜に、(株)ニコン
製ArFエキシマレーザー露光装置(レンズ開口数0.
55、露光波長193nm)により、マスクパターンを
介して露光した。次いで、表2に示す温度に保持したホ
ットプレート上で90秒間露光後ベークを行ったのち、
2.38%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶
液により、25℃で1分間現像し、水洗し、乾燥して、
ポジ型レジストパターンを形成した。その際、線幅0.
30μmのライン・アンド・スペースパターン(1L1
S)を1対1の線幅に形成する露光量を最適露光量と
し、この最適露光量を感度とした。 解像度:最適露光量で露光したときに解像される最小の
レジストパターンの寸法を解像度とした。 コンタクトホールの解像度:シリコンウエハー上に形成
したレジスト被膜に露光したのち、直ちに露光後ベーク
を行い、次いでアルカリ現像液で現像し、水洗し、乾燥
して、レジストパターンを形成したとき、0.25μm
×0.25μmの方形のレチクルを用いて断面が円形に
形成されるコンタクトホールの直径が0.25μmとな
る露光量を求め、この露光量で露光したときに解像され
るコンタクトホールの最小直径(μm)を、コンタクト
ホールの解像度とした。
ロ[ 4.4.0.12,5.17,10 ]ドデカ−3−エンの
合成 温度180℃、圧力3.5kg/cm2 ・Gに保持した
内容積50リットルの攪拌機付き反応容器に、定量ポン
プを用いて、メチルメタクリレート、ジシクロペンタジ
エンおよび5−メチル−5−メトキシカルボニルビシク
ロ[ 2.2.1]ヘプト−2−エンを、モル比1:2.
4(シクロペンタジエン単位換算):2.4の割合で、
反応容器内での反応原料の滞留時間が平均8時間となる
ように全供給速度を毎時4kgとして、連続的に供給し
た。また、重合禁止剤としてp−メトキシフェノールを
メチルメタクリレートに溶解して、反応原料の合計供給
量に対し300ppm(重量換算)の量で供給した。反
応中は、反応生成物を、毎時4kgの速度で反応容器か
ら抜き出して、圧力300torr、温度105℃に保
持したフラッシュ蒸留塔に連続的供給し、未反応原料の
一部を分離した。前記フラッシュ蒸留塔からの留出物
を、充填材(商品名スルザーパッキンBX、住友重機
(株)製)の充填高さが濃縮部で119cm、回収部で
102cmである塔径3インチの蒸留塔に連続的に供給
して、塔頂圧力5torr、還流比1で蒸留し、前記フ
ラッシュ蒸留塔で分離できなかった未反応原料を、塔頂
から回収し、塔底からは、下記式(10)で表される8
−メチル−8−メトキシカルボニルテトラシクロ[ 4.
4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エンを67%含
有する溶液を得た。
ルフラスコ内を窒素置換し、窒素気流下で、8−メチル
−8−メトキシカルボニルテトラシクロ[ 4.4.0.
12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン100部、5−メチ
ル−5−メトキシカルボニルビシクロ[ 2.2.1 ]ヘ
プト−2−エン100部、1−ヘキセン(分子量調節
剤)35部、トルエン200部を仕込み、80℃に加熱
した。次いで、メタセシス触媒としてジエチルアルミニ
ウムクロライドのトルエン溶液(濃度0.19モル/リ
ットル)2.7部とWCl6のトルエン溶液(濃度0.02
5モル/リットル)1.03部を加え、80℃で3時間
攪拌して重合し、下記各式で表される繰返し単位からな
る樹脂(収率90%)の溶液を得た。この樹脂を、樹脂
(AI-1)とする。
触媒としてクロロヒドロカルボニルトリフェニルホスフ
ィンルテニウム0.075部を添加し、水素ガス圧力1
00kg/cm2 ・G、温度165℃の条件で、4時間
処理して、水素添加反応を行った。次いで、得られた反
応溶液400部とトルエン100部を別の反応容器に仕
込み、乳酸0.71部と水1.15部を添加して、60
℃で30分間攪拌したのち、メチルアルコール260部
を添加して、60℃でさらに1時間攪拌した。その後、
反応容器を室温まで冷却し、貧溶媒相(メチルアルコー
ル相)と良溶媒相(樹脂溶液相)とに分離させたのち、
貧溶媒相のみを抜き出した。その後、抜き出したメチル
アルコールの4.5%に相当するメチルアルコールと5
5%に相当するトルエンとを、反応容器に添加して、6
0℃で1時間攪拌した。その後、再び室温まで冷却し
て、貧溶媒相と良溶媒相とに分離させ、貧溶媒相のみを
抜き出した。このメチルアルコールによる抽出操作を数
回繰返したのち、良溶媒相を分離し、良溶媒相から溶媒
を留去して、樹脂を回収した。次いで、この樹脂をテト
ラヒドロフランに再溶解したのち、大量のメチルアルコ
ールにより再凝固させ、凝固した樹脂を減圧下で乾燥し
て、精製樹脂を得た。この樹脂は、NMRスペクトルに
より測定した水素付加率が100%であり、下記各式で
表される繰返し単位からなり、Mwが22,000のラ
ンダム共重合体であった。この樹脂を、樹脂(AI-2)と
する。
ール200部、蒸留水10部および水酸化カリウム50
部を仕込み、窒素雰囲気中185℃で、4時間加水分解
を行った。次いで、反応溶液を冷却したのち、水酸化カ
リウムに対して1.1当量のしゅう酸2水和物を溶解し
た水溶液中に滴下して、樹脂を凝固させた。この樹脂
は、赤外吸収スペクトルおよび酸−アルカリ滴定により
測定した加水分解率が100%であり、下記各式で表さ
れる繰返し単位からなるランダム共重合体であった。こ
の樹脂を、樹脂(AI-3)とする。
ン200部、蒸留水200部、α−ブロモ酢酸t−ブチ
ル52部および炭酸カリウム41部を仕込み、窒素雰囲
気中還流下で、6時間攪拌した。次いで、酢酸エチル2
00部、蒸留水400部およびしゅう酸2水和物45部
を添加し、攪拌したのち、静置して、有機層を分離させ
た。この有機層を数回水で洗浄したのち、真空下で乾燥
して、精製樹脂を得た。この樹脂は、NMRスペクトル
により測定したt−ブトキシカルボニルメチル基による
エステル化率が48%であり、下記式(11−1)〜
(11−4)で表される繰返し単位からなり、各繰返し
単位のモル比が、(11−1)/(11−2)/(11
−3)/(11−4)=24/18/28/30であ
り、Mwが18,000のランダム共重合体であった。
この樹脂を、樹脂(AI-4)とする。
4.0.12,5 .17,10]ドデカ−3−エンの合成 アクリル酸t−ブチルおよびジシクロペンタジエンをモ
ル比3:1で用いた以外は、合成例1の(1)と同様に
して、8−t−ブトキシカルボニルテトラシクロ[ 4.
4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エンを30%含
有する溶液を得た。 (2)重合 合成例1の(2)で用いたセパラブルフラスコに、窒素
気流下で、8−t−ブトキシカルボニルテトラシクロ[
4.4.0.12,5 .17,10 ]ドデカ−3−エン26
部、無水マレイン酸10部、アゾビスイソブチロニトリ
ル3部およびプロピレングリコールモノメチルエーテル
36部を仕込み、70℃で6時間重合した。重合終了
後、反応溶液を大量のメタノール中に注いで、樹脂を凝
固させ、凝固した樹脂をメタノールで数回洗浄したの
ち、真空乾燥して、下記各式で表される繰返し単位から
なり、Mwが3,000の交互共重合体(収率52%)
を得た。この共重合体を、樹脂(AI-5)とする。
気流下で、アクリル酸トリシクロデカニル60部、アク
リル酸テトラヒドロピラニル35部、α−ヒドロキシメ
チルアクリル酸エチル11部、アゾビスイソブチロニト
リル1.5部、t−ドデシルメルカプタン3部およびジ
メトキシエタン250部を仕込み、75℃で6時間重合
した。その後、得られた樹脂をn−ヘキサンより再沈凝
固させ、凝固した樹脂をろ別したのち、真空乾燥して、
下記各式で表される繰返し単位からなり、Mwが11,
000のランダム共重合体(収率90%)を得た。この
共重合体を、樹脂(AII-1) とする。
気流下で、メタクリル酸t−ブチル60部、メタクリル
酸メチル40部、アゾビスイソブチロニトリル2部、t
−ドデシルメルカプタン1.5部およびエチレングリコ
ールジメチルエーテル250部を仕込み、75℃で6時
間重合した。その後、得られた樹脂をn−ヘキサンより
再沈凝固させ、凝固した樹脂をろ別したのち、真空乾燥
して、下記各式で表される繰返し単位からなり、Mwが
9,200である白色のランダム共重合体(収率90
%)を得た。この共重合体を、樹脂(B1-1)とする。
ラヒドロフラン200部と蒸留水200部を仕込んだの
ち、リトコール酸100部、α−ブロモ酢酸t−ブチル
57部および炭酸カリウム40部を溶解させ、窒素気流
下で18時間還流しつつ反応させた。その後、反応溶液
を室温まで冷却し、酢酸エチル400部と蒸留水400
部を加えて、水層を分離したのち、有機層を水酸化カリ
ウムの10%水溶液で2回洗浄して、未反応のリトコー
ル酸を除去した。次いで、反応生成物を蒸留水で3回洗
浄し、溶剤等を留去したのち、真空乾燥して、白色固体
を得た。この固体は、NMR測定により、リトコール酸
t−ブトキシカルボニルメチル(収率96%)であると
同定された。この化合物を、化合物(B2-1)とする。
キサン200部を仕込んだのち、アダマンタンカルボン
酸100部、ジヒドロピラン140部およびピリジニウ
ムp−トルエンスルホネート2部を溶解させ、10℃で
48時間攪拌しつつ反応させた。その後、炭酸カリウム
の5%水溶液400部と酢酸エチル400部を加え、水
層を分離して、有機層を3回水洗したのち、溶剤等を留
去して、無色オイル状のアダマンタンカルボン酸テトラ
ヒドロピラニル(収率90%)を得た。この化合物を、
化合物(B2-2)とする。
被膜について、放射線透過率および相対エッチング速度
を評価した。評価結果を、表1に示す。
パターンを形成して、パターン形状、感度、解像度およ
びコンタクトホールの解像度を評価した。評価結果を、
表3に示す。表1および表2における樹脂(A)、樹脂
(B1)および化合物(B2)以外の成分は、下記のと
おりである。 (C-1) :4−ヒドロキシナフチルテトラヒドロチオフ
ェニウムトリフルオロメタンスルホネート (C-2) :4,4’−ジ−t−ブチルヨードニウムトリ
フルオロメタンスルホネート (C-3) :シクロヘキシル(2−オキソシクロヘキシ
ル)スルホニウムトリフルオロメタンスルホネート (D-1) :シクロヘキサノン (D-2) :2−ヘプタノン (E-1) :トリn−ブチルアミン (E-2) :ニコチン酸アミド
脂組成物は、化学増幅型レジストとして、放射線に対す
る透明性が優れ、十分なドライエッチング耐性を有する
とともに、特にコンタクトホールの解像度が優れ、かつ
パターン形状、感度、解像度等の特性バランスにも優れ
ており、今後さらに微細化が進行すると予想される半導
体デバイスの製造に極めて好適に使用することができ
る。
Claims (2)
- 【請求項1】 (A)主鎖および/または側鎖に脂環式
骨格を有する樹脂、(B1)フィルムとして100〜3
00nmの波長範囲内の放射線に対する透過率が60%
/μm以上である樹脂、および(C)放射線の照射によ
り酸を発生する感放射線性酸発生剤を含有する感放射線
性樹脂組成物であって、前記成分(A)と成分(B1)
の少なくとも一方が酸開裂性基を含有することを特徴と
する感放射線性樹脂組成物。 - 【請求項2】 (A)主鎖および/または側鎖に脂環式
骨格を有する樹脂、(B2)下記一般式(1)で表され
る分子量1,000以下の化合物、および(C)放射線
の照射により酸を発生する感放射線性酸発生剤を含有す
る感放射線性樹脂組成物であって、前記成分(A)と成
分(B2)の少なくとも一方が酸開裂性基を含有するこ
とを特徴とする感放射線性樹脂組成物。 【化1】 〔一般式(1)において、R1 およびR2 はそれぞれ独
立に水素原子または酸開裂性基を示し、Zは環を構成す
る炭素原子の合計数が7〜25の環状炭化水素構造を有
する基を示し、aおよびbは、0≦a≦6、0≦b≦
6、1≦(a+b)を満たす。〕
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07471897A JP3633194B2 (ja) | 1997-03-12 | 1997-03-12 | 感放射線性樹脂組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Related Child Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004235722A Division JP3861892B2 (ja) | 2004-08-13 | 2004-08-13 | 感放射線性樹脂組成物 |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10254140A true JPH10254140A (ja) | 1998-09-25 |
JP3633194B2 JP3633194B2 (ja) | 2005-03-30 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP07471897A Expired - Fee Related JP3633194B2 (ja) | 1997-03-12 | 1997-03-12 | 感放射線性樹脂組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3633194B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001288364A (ja) * | 2000-04-05 | 2001-10-16 | Jsr Corp | 放射線硬化性組成物およびそれを用いた光導波路ならびに光導波路の製造方法 |
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-
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