JPH10252549A - 回転数検出装置及び回転機械の制御装置 - Google Patents
回転数検出装置及び回転機械の制御装置Info
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- JPH10252549A JPH10252549A JP9052656A JP5265697A JPH10252549A JP H10252549 A JPH10252549 A JP H10252549A JP 9052656 A JP9052656 A JP 9052656A JP 5265697 A JP5265697 A JP 5265697A JP H10252549 A JPH10252549 A JP H10252549A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 サンプリングパルスの時間幅を可変にする機
能を持たせ、低速回転数領域から高速回転数領域に至る
まで精度の高い回転数検出を行う。 【解決手段】 回転機械の回転数に応じて出力される交
番波形を波形整形回路12により整形して周波数カウン
タ13に入力し、サンプリングパルス発生回路15によ
り生成したサンプリングパルスのパルス幅に含まれる波
形整形後の入力パルス数をカウントする。そしてこの場
合、入力パルスの周波数に応じてサンプリングパルスの
パルス幅を可変にしたものであり、例えば入力パルスの
周波数が低くなった場合にはサンプリングパルスの幅を
長くする。
能を持たせ、低速回転数領域から高速回転数領域に至る
まで精度の高い回転数検出を行う。 【解決手段】 回転機械の回転数に応じて出力される交
番波形を波形整形回路12により整形して周波数カウン
タ13に入力し、サンプリングパルス発生回路15によ
り生成したサンプリングパルスのパルス幅に含まれる波
形整形後の入力パルス数をカウントする。そしてこの場
合、入力パルスの周波数に応じてサンプリングパルスの
パルス幅を可変にしたものであり、例えば入力パルスの
周波数が低くなった場合にはサンプリングパルスの幅を
長くする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、タービン等の回
転機械の回転数検出装置に係り、特に回転速度を広範囲
にわたって精度良く検出する装置に関するものである。
転機械の回転数検出装置に係り、特に回転速度を広範囲
にわたって精度良く検出する装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図13は特開昭61−43240号公報
に示された従来の回転数検出装置のブロック図である。
図において、交流発電機110からの出力電圧は波形整
形回路111により矩形波に整形されてディジタル制御
に適した波形に変換される。波形整形回路111からの
出力はPLL112(フェーズ・ロックド・ループ)内
のP/D113(フェーズ・ディテクタ)に入力され
る。PLL112内にはP/D113の他にカウンタ1
14,VCO115(ボルテージ・コントロール・オシ
レータ)が内蔵され、P/D113では波形整形回路1
11からのパルス信号の立上がりとカウンタ114から
のフィードバック信号との位相差がゼロになるよう位相
を合わせるようになっている。VCO115では波形整
形回路111からの入力信号fに対し周波数N・f(N
=2,3,4,…)のパルス列をF/V116(周波数/
電圧変換器)に出力すると共に、周波数N・fのパルス
をカウンタ114に出力する。カウンタ114は2進カ
ウンタ等が使用され、VCO115からの信号を1/N
に分周しP/D113にフィードバックする。図14
(a)は周波数fのパルスであり、図14(b)はP/
D113で位相が合わせられた周波数N・fのパルスで
ある。なお、この場合N=4に設定され、サンプリング
時間はTで表わされている。
に示された従来の回転数検出装置のブロック図である。
図において、交流発電機110からの出力電圧は波形整
形回路111により矩形波に整形されてディジタル制御
に適した波形に変換される。波形整形回路111からの
出力はPLL112(フェーズ・ロックド・ループ)内
のP/D113(フェーズ・ディテクタ)に入力され
る。PLL112内にはP/D113の他にカウンタ1
14,VCO115(ボルテージ・コントロール・オシ
レータ)が内蔵され、P/D113では波形整形回路1
11からのパルス信号の立上がりとカウンタ114から
のフィードバック信号との位相差がゼロになるよう位相
を合わせるようになっている。VCO115では波形整
形回路111からの入力信号fに対し周波数N・f(N
=2,3,4,…)のパルス列をF/V116(周波数/
電圧変換器)に出力すると共に、周波数N・fのパルス
をカウンタ114に出力する。カウンタ114は2進カ
ウンタ等が使用され、VCO115からの信号を1/N
に分周しP/D113にフィードバックする。図14
(a)は周波数fのパルスであり、図14(b)はP/
D113で位相が合わせられた周波数N・fのパルスで
ある。なお、この場合N=4に設定され、サンプリング
時間はTで表わされている。
【0003】図13のF/V116ではVCO115か
らのディジタル信号の周波数変化を電圧変化に変換し比
較回路117に出力する。比較回路117では前記電圧
信号と外部設定器118からの設定回転速度を比較し、
その偏差を求めスロットル開度補償量を駆動回路119
(パワートランジスタ等)に送出する。すなわち、外部
設定器118は図15のように構成され、切換スイッチ
127がOFF状態の時は入力端子121から抵抗12
3、124及び保護IC125を介して比較回路117
に高電圧が供給され、比較回路117は設定周波数が例
えば50Hzに設定されていると判断する。この場合、
比較回路 117では設定周波数が50Hzであるとし
て演算がなされ駆動回路119に対応する制御値を出力
する。これによってエンジンコントローラ120を介し
てエンジン150は交流発電機110が50Hzの発電
を行うように制御される。一方切換スイッチ127をO
N状態に切換えると、入力端子121からの電圧は切換
スイッチ127を介して逃げるので比較回路117には
低電圧が供給されることになり比較回路117は設定周
波数が例えば60Hzに設定されていると判断し、前述
と同様の制御が行われる。
らのディジタル信号の周波数変化を電圧変化に変換し比
較回路117に出力する。比較回路117では前記電圧
信号と外部設定器118からの設定回転速度を比較し、
その偏差を求めスロットル開度補償量を駆動回路119
(パワートランジスタ等)に送出する。すなわち、外部
設定器118は図15のように構成され、切換スイッチ
127がOFF状態の時は入力端子121から抵抗12
3、124及び保護IC125を介して比較回路117
に高電圧が供給され、比較回路117は設定周波数が例
えば50Hzに設定されていると判断する。この場合、
比較回路 117では設定周波数が50Hzであるとし
て演算がなされ駆動回路119に対応する制御値を出力
する。これによってエンジンコントローラ120を介し
てエンジン150は交流発電機110が50Hzの発電
を行うように制御される。一方切換スイッチ127をO
N状態に切換えると、入力端子121からの電圧は切換
スイッチ127を介して逃げるので比較回路117には
低電圧が供給されることになり比較回路117は設定周
波数が例えば60Hzに設定されていると判断し、前述
と同様の制御が行われる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前記従来の回転数検出
装置では、PLL回路112におけるサンプリング時間
Tが固定のため低速回転領域から高速回転領域を計測す
る精度に限界があり、また、比較回路117においては
回転速度をアナログ値で比較するため正確な回転数を検
出することができないという問題点があった。
装置では、PLL回路112におけるサンプリング時間
Tが固定のため低速回転領域から高速回転領域を計測す
る精度に限界があり、また、比較回路117においては
回転速度をアナログ値で比較するため正確な回転数を検
出することができないという問題点があった。
【0005】この発明は前記のような課題を解決するた
めになされたものであり、サンプリング時間を可変とす
ることによって低速回転領域から高速回転領域に至るま
であらゆる回転領域の検出を高精度に確保できる回転検
出装置を得ることを目的とする。
めになされたものであり、サンプリング時間を可変とす
ることによって低速回転領域から高速回転領域に至るま
であらゆる回転領域の検出を高精度に確保できる回転検
出装置を得ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、回転
機械の回転数に応じて発生する入力パルスと、サンプリ
ングパルス発生回路により発生するサンプリングパルス
とを入力し、前記入力パルス又は前記サンプリングパル
スのいずれか一方のパルス幅内に含まれる他方のパルス
数をカウントする周波数カウンタを備え、前記入力パル
スの周波数に応じてサンプリングパルスのパルス幅ある
いは周波数を可変にしたものであり、低速回転領域から
高速回転領域の回転数検出においてより精度を高くする
ことができる。
機械の回転数に応じて発生する入力パルスと、サンプリ
ングパルス発生回路により発生するサンプリングパルス
とを入力し、前記入力パルス又は前記サンプリングパル
スのいずれか一方のパルス幅内に含まれる他方のパルス
数をカウントする周波数カウンタを備え、前記入力パル
スの周波数に応じてサンプリングパルスのパルス幅ある
いは周波数を可変にしたものであり、低速回転領域から
高速回転領域の回転数検出においてより精度を高くする
ことができる。
【0007】請求項2の発明は、回転機械の回転数に応
じて出力される交番波形を整形する波形整形回路と、サ
ンプリングパルスを発生するサンプリングパルス発生回
路と、前記サンプリングパルス幅に含まれる前記波形整
形後の入力パルス数をカウントする周波数カウンタを備
え、前記入力パルスの周波数に応じてサンプリングパル
スのパルス幅を可変にしたものであり、特に、高速回転
領域における回転数検出においてより精度を高くするこ
とができる。
じて出力される交番波形を整形する波形整形回路と、サ
ンプリングパルスを発生するサンプリングパルス発生回
路と、前記サンプリングパルス幅に含まれる前記波形整
形後の入力パルス数をカウントする周波数カウンタを備
え、前記入力パルスの周波数に応じてサンプリングパル
スのパルス幅を可変にしたものであり、特に、高速回転
領域における回転数検出においてより精度を高くするこ
とができる。
【0008】請求項3の発明は、回転機械の回転数に応
じて出力される交番波形を整形する波形整形回路と、サ
ンプリングパルスを発生するサンプリングパルス発生回
路と、前記波形整形後の入力パルスのパルス幅に含まれ
る前記サンプリングパルス数をカウントする周波数カウ
ンタを備え、前記入力パルスの周波数に応じてサンプリ
ングパルスの周波数を可変にしたものであり、特に、低
速回転領域における回転数検出においてより精度を高く
することができる。
じて出力される交番波形を整形する波形整形回路と、サ
ンプリングパルスを発生するサンプリングパルス発生回
路と、前記波形整形後の入力パルスのパルス幅に含まれ
る前記サンプリングパルス数をカウントする周波数カウ
ンタを備え、前記入力パルスの周波数に応じてサンプリ
ングパルスの周波数を可変にしたものであり、特に、低
速回転領域における回転数検出においてより精度を高く
することができる。
【0009】請求項4の発明は、カウント動作の初期時
点で入力パルスとサンプリングパルスとの同期をとるこ
とを特徴とするものであり、パルスの個数をより精度よ
くカウントでき、回転数検出の誤差をさらに低減するこ
とができる。
点で入力パルスとサンプリングパルスとの同期をとるこ
とを特徴とするものであり、パルスの個数をより精度よ
くカウントでき、回転数検出の誤差をさらに低減するこ
とができる。
【0010】請求項5の発明は、カウント動作の初期時
点で入力パルスとサンプリングパルスとの同期をとると
共に、カウント動作の終了時点でカウントする側のパル
スとカウントされる側のパルスのずれ時間を計測して調
整することを特徴とするものであり、回転数検出の誤差
をさらに低減できる。
点で入力パルスとサンプリングパルスとの同期をとると
共に、カウント動作の終了時点でカウントする側のパル
スとカウントされる側のパルスのずれ時間を計測して調
整することを特徴とするものであり、回転数検出の誤差
をさらに低減できる。
【0011】請求項6の発明は、周波数カウンタにより
検出された回転数と回転数設定器により設定された回転
数とをディジタル回転数コンパレータにより比較演算す
るものであり、回転速度をディジタル値で比較するため
正確な回転数を検出することができる。
検出された回転数と回転数設定器により設定された回転
数とをディジタル回転数コンパレータにより比較演算す
るものであり、回転速度をディジタル値で比較するため
正確な回転数を検出することができる。
【0012】請求項7の発明は、ディジタル回転数コン
パレータにより比較演算した値をエンジンコントローラ
にフィードバックし、更にエンジンを制御して回転機械
を駆動するものであり、高速回転領域から低速回転領域
までより精度の高い回転機械の回転制御が行える。
パレータにより比較演算した値をエンジンコントローラ
にフィードバックし、更にエンジンを制御して回転機械
を駆動するものであり、高速回転領域から低速回転領域
までより精度の高い回転機械の回転制御が行える。
【0013】
実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1による回
転数検出装置を示す構成ブロック図であり、図1の構成
において、回転機械であるタービン10はエンジン50
に連結されて回転駆動される。タービン10には交番周
波数生成回路11が接続され、この交番周波数生成回路
11は前記タービン10の回転数に応じて交番波形(電
圧値)を出力する。交番周波数生成回路11には波形整
形回路12が接続され、この波形整形回路12は交番周
波数生成回路11から出力された交番波形を矩形波に整
形してディジタル制御に適した波形に変換する。周波数
カウンタ13は波形整形回路12により整形された波形
の数をカウントする回路であり、サンプリングパルス成
形回路15は前記波形をカウントする際に使用するサン
プリングパルスを生成する回路である。回転数設定器1
6は判定基準となる回転数を設定する回路であり、ディ
ジタル回転数コンパレータ14は回転数設定器16によ
り設定された回転数と周波数カウンタ13の回路の出力
とを比較してその回転数偏差等をエンジンコントローラ
20にフィードバックする回路である。エンジンコント
ローラ20は前記フィードバック値に基づいてエンジン
50を制御作動させタービン10を駆動する。
転数検出装置を示す構成ブロック図であり、図1の構成
において、回転機械であるタービン10はエンジン50
に連結されて回転駆動される。タービン10には交番周
波数生成回路11が接続され、この交番周波数生成回路
11は前記タービン10の回転数に応じて交番波形(電
圧値)を出力する。交番周波数生成回路11には波形整
形回路12が接続され、この波形整形回路12は交番周
波数生成回路11から出力された交番波形を矩形波に整
形してディジタル制御に適した波形に変換する。周波数
カウンタ13は波形整形回路12により整形された波形
の数をカウントする回路であり、サンプリングパルス成
形回路15は前記波形をカウントする際に使用するサン
プリングパルスを生成する回路である。回転数設定器1
6は判定基準となる回転数を設定する回路であり、ディ
ジタル回転数コンパレータ14は回転数設定器16によ
り設定された回転数と周波数カウンタ13の回路の出力
とを比較してその回転数偏差等をエンジンコントローラ
20にフィードバックする回路である。エンジンコント
ローラ20は前記フィードバック値に基づいてエンジン
50を制御作動させタービン10を駆動する。
【0014】次に、実施の形態1の動作について説明す
る。タービン10の回転数に応じて交番周波数生成回路
11は交番波形(電圧値)を出力し、波形整形回路12
は交番周波数生成回路11から出力された交番波形を矩
形波に整形してディジタル制御に適したパルスに変換す
る。整形されたパルスは周波数カウンタ13に入力さ
れ、サンプリングパルス生成回路24によって生成され
たサンプリングパルスに基づいてカウントされる。
る。タービン10の回転数に応じて交番周波数生成回路
11は交番波形(電圧値)を出力し、波形整形回路12
は交番周波数生成回路11から出力された交番波形を矩
形波に整形してディジタル制御に適したパルスに変換す
る。整形されたパルスは周波数カウンタ13に入力さ
れ、サンプリングパルス生成回路24によって生成され
たサンプリングパルスに基づいてカウントされる。
【0015】本実施の形態による入力パルスのカウント
動作を図2及び図3により説明する。まず、図2(a)
において、周波数カウンタ13はサンプリングパルス生
成回路15により生成したサンプリングパルスの時間T
1の中に含まれる入力パルス数をカウントすることによ
って単位時間(1秒)あたりの回転数を算出する。しか
しながら、図2(b)のようにタービン10が低速回転
領域に入り入力パルスの周波数が低くなった場合には、
図2(a)と同じサンプリングパルスの時間T1内の入
力パルス数が少なくなるため回転数の測定誤差が大きく
なってしまう。そこで、サンプリングパルス生成回路1
5によって周波数カウンタ13に入力されるパルスのカ
ウント数が小さくなった場合には、図3に示すようにサ
ンプリングパルスのパルス幅の時間をT1からT2に大き
く設定する(T1<T2)ことによって、タービン10が
低速回転領域に入った場合の回転数の測定誤差を小さく
する。
動作を図2及び図3により説明する。まず、図2(a)
において、周波数カウンタ13はサンプリングパルス生
成回路15により生成したサンプリングパルスの時間T
1の中に含まれる入力パルス数をカウントすることによ
って単位時間(1秒)あたりの回転数を算出する。しか
しながら、図2(b)のようにタービン10が低速回転
領域に入り入力パルスの周波数が低くなった場合には、
図2(a)と同じサンプリングパルスの時間T1内の入
力パルス数が少なくなるため回転数の測定誤差が大きく
なってしまう。そこで、サンプリングパルス生成回路1
5によって周波数カウンタ13に入力されるパルスのカ
ウント数が小さくなった場合には、図3に示すようにサ
ンプリングパルスのパルス幅の時間をT1からT2に大き
く設定する(T1<T2)ことによって、タービン10が
低速回転領域に入った場合の回転数の測定誤差を小さく
する。
【0016】図4は上述の周波数カウンタ13及びサン
プリングパルス発生回路15の動作を示すフローチャー
ト図であり、S401において周波数カウンタ13は波
形整形回路12からの整形されたパルスを入力すると共
に当該入力パルス情報をサンプリングパルス生成回路1
5に送出する。サンプリングパルス生成回路15は、S
402により入力パルスの周期を判定し、周期が長くな
った場合はサンプリングパルスのパルス幅の時間Tを、
例えばT1→T2のように大きく設定し、周期が短くなっ
た場合は元に戻す(S403)。この場合、入力パルス
の周期の大小によりサンプリングパルスの時間Tを段階
的に変化させても良いし、連続的に変化させても良い。
S404では前記決定されたサンプリングパルスに基づ
いて入力パルス数をカウントし単位時間当たりの回転数
を検出する。
プリングパルス発生回路15の動作を示すフローチャー
ト図であり、S401において周波数カウンタ13は波
形整形回路12からの整形されたパルスを入力すると共
に当該入力パルス情報をサンプリングパルス生成回路1
5に送出する。サンプリングパルス生成回路15は、S
402により入力パルスの周期を判定し、周期が長くな
った場合はサンプリングパルスのパルス幅の時間Tを、
例えばT1→T2のように大きく設定し、周期が短くなっ
た場合は元に戻す(S403)。この場合、入力パルス
の周期の大小によりサンプリングパルスの時間Tを段階
的に変化させても良いし、連続的に変化させても良い。
S404では前記決定されたサンプリングパルスに基づ
いて入力パルス数をカウントし単位時間当たりの回転数
を検出する。
【0017】次に、周波数カウンタ13によりカウント
された回転数と、回転数設定器25で設定された基準回
転数とを、ディジタル回転数コンパレータ回路23によ
りディジタル的に比較演算して、エンジンコントローラ
20にフィードバックし、エンジン50を制御作動させ
タービン10を駆動する。
された回転数と、回転数設定器25で設定された基準回
転数とを、ディジタル回転数コンパレータ回路23によ
りディジタル的に比較演算して、エンジンコントローラ
20にフィードバックし、エンジン50を制御作動させ
タービン10を駆動する。
【0018】以上のように実施の形態1によれば、入力
パルスの周期(周波数)に応じてサンプリングパルスの
パルス幅を可変にして、サンプリングパルスのパルス幅
に含まれる入力パルスをカウントしたので、回転数の検
出を高精度に確保できるとともに正確な回転数でタービ
ン(回転機械)の制御を行うことができる。特にこの方
式は、高速回転領域に重点を置く制御を行う場合に適し
ている。
パルスの周期(周波数)に応じてサンプリングパルスの
パルス幅を可変にして、サンプリングパルスのパルス幅
に含まれる入力パルスをカウントしたので、回転数の検
出を高精度に確保できるとともに正確な回転数でタービ
ン(回転機械)の制御を行うことができる。特にこの方
式は、高速回転領域に重点を置く制御を行う場合に適し
ている。
【0019】実施の形態2.図5は実施の形態2による
回転数検出装置を示す構成ブロック図である。図5の構
成において、周波数カウンタ回路30とサンプリングパ
ルス生成回路31以外は図1と同様の回路構成である。
本実施の形態2では、波形整形回路12により整形され
た出力パルスは周波数カウンタ回路30に入力され、サ
ンプリングパルス生成回路31では周波数可変のサンプ
リングパルスを生成する。そして、周波数カウンタ30
では波形整形回路12からの入力パルスのパルス幅に含
まれる前記サンプリングパルス数をカウントすることに
よりタービン10の回転数を検出する。
回転数検出装置を示す構成ブロック図である。図5の構
成において、周波数カウンタ回路30とサンプリングパ
ルス生成回路31以外は図1と同様の回路構成である。
本実施の形態2では、波形整形回路12により整形され
た出力パルスは周波数カウンタ回路30に入力され、サ
ンプリングパルス生成回路31では周波数可変のサンプ
リングパルスを生成する。そして、周波数カウンタ30
では波形整形回路12からの入力パルスのパルス幅に含
まれる前記サンプリングパルス数をカウントすることに
よりタービン10の回転数を検出する。
【0020】本実施の形態によるサンプリングパルスの
カウント動作を図6及び図7により説明する。まず、図
6(a)において、周波数カウンタ30は波形整形回路
12からの入力パルスのパルス幅、すなわち時間T3の
中に含まれるサンプリングパルス数をカウントすること
によって単位時間(1秒)あたりの回転数を算出する。
しかしながら、図6(b)のようにタービン10が高速
回転領域に入ると、入力パルスの幅が短くなり、図6
(a)と同様の周波数のサンプリングパルスでは入力パ
ルス幅の時間T4当たりのパルス数が少なくなる。その
結果、回転数の測定誤差が大きくなってしまう。そこ
で、サンプリングパルス生成回路31によって周波数カ
ウンタ13に入力されるパルスの周波数が高くなった場
合には、図7に示すようにサンプリングパルスの周波数
を高くすることによって、タービン10が高速回転領域
に入った場合の回転数の測定誤差を小さくする。
カウント動作を図6及び図7により説明する。まず、図
6(a)において、周波数カウンタ30は波形整形回路
12からの入力パルスのパルス幅、すなわち時間T3の
中に含まれるサンプリングパルス数をカウントすること
によって単位時間(1秒)あたりの回転数を算出する。
しかしながら、図6(b)のようにタービン10が高速
回転領域に入ると、入力パルスの幅が短くなり、図6
(a)と同様の周波数のサンプリングパルスでは入力パ
ルス幅の時間T4当たりのパルス数が少なくなる。その
結果、回転数の測定誤差が大きくなってしまう。そこ
で、サンプリングパルス生成回路31によって周波数カ
ウンタ13に入力されるパルスの周波数が高くなった場
合には、図7に示すようにサンプリングパルスの周波数
を高くすることによって、タービン10が高速回転領域
に入った場合の回転数の測定誤差を小さくする。
【0021】図8は上述の周波数カウンタ30及びサン
プリングパルス発生回路31の動作を示すフローチャー
ト図であり、S801において周波数カウンタ30は波
形整形回路12からの整形されたパルスを入力すると共
に当該入力パルス情報をサンプリングパルス生成回路3
1に送出する。サンプリングパルス生成回路31は、S
802により入力パルスの周波数を判定し、周波数が高
くなった場合はサンプリングパルスの周波数を高く設定
する(S803)。この場合、入力パルスの周波数によ
りサンプリングパルスの周波数を段階的に変化させても
良いし、連続的に変化させても良い。S804では入力
パルスのパルス幅に含まれる前記決定されたサンプリン
グパルスをカウントし単位時間当たりの回転数を検出す
る。
プリングパルス発生回路31の動作を示すフローチャー
ト図であり、S801において周波数カウンタ30は波
形整形回路12からの整形されたパルスを入力すると共
に当該入力パルス情報をサンプリングパルス生成回路3
1に送出する。サンプリングパルス生成回路31は、S
802により入力パルスの周波数を判定し、周波数が高
くなった場合はサンプリングパルスの周波数を高く設定
する(S803)。この場合、入力パルスの周波数によ
りサンプリングパルスの周波数を段階的に変化させても
良いし、連続的に変化させても良い。S804では入力
パルスのパルス幅に含まれる前記決定されたサンプリン
グパルスをカウントし単位時間当たりの回転数を検出す
る。
【0022】以上のように実施の形態2によれば、入力
パルスの周波数に応じてサンプリングパルスの周波数を
可変にして、入力パルスのパルス幅に含まれるサンプリ
ングパルスをカウントしたので、回転数の検出を高精度
に確保できるとともに正確な回転数でタービン(回転機
械)の制御を行うことができる。特にこの方式は、低速
回転領域に重点を置く制御を行う場合に適している。
パルスの周波数に応じてサンプリングパルスの周波数を
可変にして、入力パルスのパルス幅に含まれるサンプリ
ングパルスをカウントしたので、回転数の検出を高精度
に確保できるとともに正確な回転数でタービン(回転機
械)の制御を行うことができる。特にこの方式は、低速
回転領域に重点を置く制御を行う場合に適している。
【0023】実施の形態3.図9は実施の形態3による
回転数検出装置を示す構成ブロック図であり、図10は
周波数カウンタによる回転数の検出動作を表わす信号図
である。図9において、周波数カウンタ回路40とサン
プリングパルス生成回路41以外は図1と同様の回路構
成である。周波数カウンタ回路40には、波形整形回路
12からの入力パルスとサンプリング生成回路41から
のサンプリングパルスとの同期をとる機構が設けられて
いる。
回転数検出装置を示す構成ブロック図であり、図10は
周波数カウンタによる回転数の検出動作を表わす信号図
である。図9において、周波数カウンタ回路40とサン
プリングパルス生成回路41以外は図1と同様の回路構
成である。周波数カウンタ回路40には、波形整形回路
12からの入力パルスとサンプリング生成回路41から
のサンプリングパルスとの同期をとる機構が設けられて
いる。
【0024】次に、実施の形態3による入力パルスのカ
ウント動作を図10(a)により説明する。実施の形態
1と同様に、周波数カウンタ40はサンプリングパルス
生成回路41により生成したサンプリングパルスのパル
ス幅すなわち時間T5の中に含まれる入力パルス数をカ
ウントすることによって単位時間(1秒)あたりの回転
数を算出する。そしてこの場合、入力パルスとサンプリ
ングパルスの立ち上がりエッジで同期をとるようにす
る。なお、入力パルスの立ち下がりエッジとサンプリン
グパルスの立上がりエッジで同期をとるようにしても良
い。
ウント動作を図10(a)により説明する。実施の形態
1と同様に、周波数カウンタ40はサンプリングパルス
生成回路41により生成したサンプリングパルスのパル
ス幅すなわち時間T5の中に含まれる入力パルス数をカ
ウントすることによって単位時間(1秒)あたりの回転
数を算出する。そしてこの場合、入力パルスとサンプリ
ングパルスの立ち上がりエッジで同期をとるようにす
る。なお、入力パルスの立ち下がりエッジとサンプリン
グパルスの立上がりエッジで同期をとるようにしても良
い。
【0025】以上のように、入力パルスとサンプリング
パルスの同期をとるようにしたので、サンプリングパル
スのパルス幅当たりの入力パルスの個数をより精度よく
カウントでき、回転数検出の誤差をさらに低減すること
ができる。
パルスの同期をとるようにしたので、サンプリングパル
スのパルス幅当たりの入力パルスの個数をより精度よく
カウントでき、回転数検出の誤差をさらに低減すること
ができる。
【0026】実施の形態3によるサンプリングパルスの
カウント動作を図10(b)により説明する。実施の形
態2と同様に、周波数カウンタ40は入力パルスのパル
ス幅、すなわち時間T6の中に含まれるサンプリングパ
ルス数をカウントすることによって単位時間(1秒)あ
たりの回転数を算出する。そしてこの場合、入力パルス
とサンプリングパルスの立ち上がりエッジで同期をとる
ようにする。また、入力パルスの立ち上がりエッジとサ
ンプリングパルスの立ち下がりエッジで同期をとるよう
にしても良い。
カウント動作を図10(b)により説明する。実施の形
態2と同様に、周波数カウンタ40は入力パルスのパル
ス幅、すなわち時間T6の中に含まれるサンプリングパ
ルス数をカウントすることによって単位時間(1秒)あ
たりの回転数を算出する。そしてこの場合、入力パルス
とサンプリングパルスの立ち上がりエッジで同期をとる
ようにする。また、入力パルスの立ち上がりエッジとサ
ンプリングパルスの立ち下がりエッジで同期をとるよう
にしても良い。
【0027】このようにすれば、入力パルスのパルス幅
当たりのサンプリングパルスの個数をより精度よくカウ
ントでき、回転領域の回転数検出の誤差をさらに低減す
ることができる。
当たりのサンプリングパルスの個数をより精度よくカウ
ントでき、回転領域の回転数検出の誤差をさらに低減す
ることができる。
【0028】実施の形態4.図11は実施の形態4によ
る回転数検出装置を示す構成ブロック図であり、図12
は周波数カウンタによる回転数の検出動作を表わす信号
図である。図11において、周波数カウンタ回路60と
サンプリングパルス生成回路61以外は図1と同様の回
路構成である。周波数カウンタ回路60には、波形整形
回路12から送信される入力パルスとサンプリング生成
回路41から送信されるサンプリングパルスとの同期を
とる機構が設けられ、さらにカウントする側のパルスと
カウントされる側のパルスのずれ時間を計測して調整す
る機構が備えられている。
る回転数検出装置を示す構成ブロック図であり、図12
は周波数カウンタによる回転数の検出動作を表わす信号
図である。図11において、周波数カウンタ回路60と
サンプリングパルス生成回路61以外は図1と同様の回
路構成である。周波数カウンタ回路60には、波形整形
回路12から送信される入力パルスとサンプリング生成
回路41から送信されるサンプリングパルスとの同期を
とる機構が設けられ、さらにカウントする側のパルスと
カウントされる側のパルスのずれ時間を計測して調整す
る機構が備えられている。
【0029】次に、実施の形態4によるカウント動作を
図12(a)により説明する。実施の形態1と同様に、
周波数カウンタ60はサンプリングパルス生成回路61
により生成したサンプリングパルスの時間T7の中に含
まれる入力パルス数をカウントすることによって単位時
間(1秒)あたりの回転数を算出する。そしてこの場
合、まず、入力パルスの立ち下がりエッジとサンプリン
グパルスの立ち上がりエッジで同期をとる。次に、サン
プリングパルスの時間T7の中に含まれる入力パルス数
をカウントする。更に、サンプリングパルスの立ち下が
りエッジから入力パルスの立ち上がりエッジまでの時間
t1を計測する。そして、前記カウントされた入力パル
ス数を、サンプリングパルスの時間幅T7と前記時間t1
との和で割ってやると単位時間(1秒)あたりの回転数
が算出できる。
図12(a)により説明する。実施の形態1と同様に、
周波数カウンタ60はサンプリングパルス生成回路61
により生成したサンプリングパルスの時間T7の中に含
まれる入力パルス数をカウントすることによって単位時
間(1秒)あたりの回転数を算出する。そしてこの場
合、まず、入力パルスの立ち下がりエッジとサンプリン
グパルスの立ち上がりエッジで同期をとる。次に、サン
プリングパルスの時間T7の中に含まれる入力パルス数
をカウントする。更に、サンプリングパルスの立ち下が
りエッジから入力パルスの立ち上がりエッジまでの時間
t1を計測する。そして、前記カウントされた入力パル
ス数を、サンプリングパルスの時間幅T7と前記時間t1
との和で割ってやると単位時間(1秒)あたりの回転数
が算出できる。
【0030】以上のように、サンプリングパルスの立ち
上がり時点で入力パルスとサンプリングパルスの同期を
とり、サンプリングパルス立上がり期間中の入力パルス
をカウントし、更にサンプリングパルスの立ち下がり時
点から入力パルスの周期終了時点までの時間を計測する
ようにしたので、所定時間当たりの入力パルスの個数を
より精度よくカウントでき、回転数検出の誤差をさらに
低減できる。
上がり時点で入力パルスとサンプリングパルスの同期を
とり、サンプリングパルス立上がり期間中の入力パルス
をカウントし、更にサンプリングパルスの立ち下がり時
点から入力パルスの周期終了時点までの時間を計測する
ようにしたので、所定時間当たりの入力パルスの個数を
より精度よくカウントでき、回転数検出の誤差をさらに
低減できる。
【0031】実施の形態4によるサンプリングパルスの
カウント動作を図12(b)により説明する。実施の形
態2と同様に、周波数カウンタ60は入力パルスのパル
ス幅、すなわち時間T8の中に含まれるサンプリングパ
ルス数をカウントすることによって単位時間(1秒)あ
たりの回転数を算出する。そしてこの場合、まず入力パ
ルスの立ち上がりエッジとサンプリングパルスの立ち下
がりエッジで同期をとるようにする。次に、入力パルス
のパルス幅(時間T8)の中に含まれるサンプリングパ
ルス数をカウントする。更に、サンプリングパルスの立
ち下がりエッジから入力パルスの立ち下がりエッジまで
の時間t2を計測する。
カウント動作を図12(b)により説明する。実施の形
態2と同様に、周波数カウンタ60は入力パルスのパル
ス幅、すなわち時間T8の中に含まれるサンプリングパ
ルス数をカウントすることによって単位時間(1秒)あ
たりの回転数を算出する。そしてこの場合、まず入力パ
ルスの立ち上がりエッジとサンプリングパルスの立ち下
がりエッジで同期をとるようにする。次に、入力パルス
のパルス幅(時間T8)の中に含まれるサンプリングパ
ルス数をカウントする。更に、サンプリングパルスの立
ち下がりエッジから入力パルスの立ち下がりエッジまで
の時間t2を計測する。
【0032】このようにすれば、入力パルスのパルス幅
当たりのサンプリングパルスの個数をより精度よくカウ
ントでき、回転数検出の誤差をさらに低減することがで
きる。
当たりのサンプリングパルスの個数をより精度よくカウ
ントでき、回転数検出の誤差をさらに低減することがで
きる。
【0033】
【発明の効果】以上のように請求項1の発明によれば、
入力パルスの周波数に応じてサンプリングパルスのパル
ス幅あるいは周波数を可変にしたので、低速回転領域か
ら高速回転領域の回転数検出においてより精度を高くす
ることができる。
入力パルスの周波数に応じてサンプリングパルスのパル
ス幅あるいは周波数を可変にしたので、低速回転領域か
ら高速回転領域の回転数検出においてより精度を高くす
ることができる。
【0034】請求項2の発明によれば、入力パルスの周
波数に応じてサンプリングパルスのパルス幅を可変にし
たので、特に高速回転領域における回転数検出において
より精度を高くすることができる。
波数に応じてサンプリングパルスのパルス幅を可変にし
たので、特に高速回転領域における回転数検出において
より精度を高くすることができる。
【0035】請求項3の発明によれば、入力パルスの周
波数に応じてサンプリングパルスの周波数を可変にした
ので、特に低速回転領域における回転数検出においてよ
り精度を高くすることができる。
波数に応じてサンプリングパルスの周波数を可変にした
ので、特に低速回転領域における回転数検出においてよ
り精度を高くすることができる。
【0036】請求項4の発明によれば、カウント動作の
初期時点で入力パルスとサンプリングパルスとの同期を
とることにより、パルスの個数をより精度よくカウント
でき、回転数検出の誤差をさらに低減することができ
る。
初期時点で入力パルスとサンプリングパルスとの同期を
とることにより、パルスの個数をより精度よくカウント
でき、回転数検出の誤差をさらに低減することができ
る。
【0037】請求項5の発明によれば、カウント動作の
初期時点で入力パルスとサンプリングパルスとの同期を
とると共に、カウント動作の終了時点でカウントする側
のパルスとカウントされる側のパルスのずれ時間を計測
して調整することにより、回転数検出の誤差をさらに低
減できる。
初期時点で入力パルスとサンプリングパルスとの同期を
とると共に、カウント動作の終了時点でカウントする側
のパルスとカウントされる側のパルスのずれ時間を計測
して調整することにより、回転数検出の誤差をさらに低
減できる。
【0038】請求項6の発明によれば、回転速度をディ
ジタル値で比較するため正確な回転数を検出することが
できる。
ジタル値で比較するため正確な回転数を検出することが
できる。
【0039】請求項7の発明によれば、高速回転領域か
ら低速回転領域までより精度の高い回転機械の回転制御
が行える。
ら低速回転領域までより精度の高い回転機械の回転制御
が行える。
【図1】 この発明の実施の形態1による回転数検出装
置を示す構成ブロック図である。
置を示す構成ブロック図である。
【図2】 実施の形態1による入力パルスのカウント動
作を説明するための波形図である。
作を説明するための波形図である。
【図3】 実施の形態1による入力パルスのカウント動
作を説明するための波形図である。
作を説明するための波形図である。
【図4】 実施の形態1による入力パルスのカウント動
作を示すフローチャート図である。
作を示すフローチャート図である。
【図5】 実施の形態2による回転数検出装置を示す構
成ブロック図である。
成ブロック図である。
【図6】 実施の形態2によるサンプリングパルスのカ
ウント動作を説明するための波形図である。
ウント動作を説明するための波形図である。
【図7】 実施の形態2によるサンプリングパルスのカ
ウント動作を説明するための波形図である。
ウント動作を説明するための波形図である。
【図8】 実施の形態2によるサンプリングパルスのカ
ウント動作を示すフローチャート図である。
ウント動作を示すフローチャート図である。
【図9】 実施の形態3による回転数検出装置を示す構
成ブロック図である。
成ブロック図である。
【図10】 実施の形態3によるカウント動作を説明す
るための波形図である。
るための波形図である。
【図11】 実施の形態4による回転数検出装置を示す
構成ブロック図である。
構成ブロック図である。
【図12】 実施の形態4によるカウント動作を説明す
るための波形図である。
るための波形図である。
【図13】 従来の回転数検出装置の一例を示す構成ブ
ロック図である。
ロック図である。
【図14】 従来の回転数検出装置によるカウント動作
を示す波形図である。
を示す波形図である。
【図15】 従来の回転数設定器の一例を示す回路図で
ある。
ある。
10 タービン,11 交番周波数生成回路、12 波
形整形回路、13,30,40,60 周波数カウンタ
回路、15,31,41,61 サンプリングパルス生
成回路、14 ディジタル回転数コンパレータ、16
回転数設定器、20 エンジンコントローラ、50 エ
ンジン。
形整形回路、13,30,40,60 周波数カウンタ
回路、15,31,41,61 サンプリングパルス生
成回路、14 ディジタル回転数コンパレータ、16
回転数設定器、20 エンジンコントローラ、50 エ
ンジン。
Claims (7)
- 【請求項1】 回転機械の回転数に応じて発生する入力
パルスと、サンプリングパルス発生回路により発生する
サンプリングパルスとを入力し、前記入力パルス又は前
記サンプリングパルスのいずれか一方のパルス幅内に含
まれる他方のパルス数をカウントする周波数カウンタを
備え、前記入力パルスの周波数に応じてサンプリングパ
ルスのパルス幅あるいは周波数を可変にしたことを特徴
とする回転数検出装置。 - 【請求項2】 回転機械の回転数に応じて出力される交
番波形を整形する波形整形回路と、サンプリングパルス
を発生するサンプリングパルス発生回路と、前記サンプ
リングパルス幅に含まれる前記波形整形後の入力パルス
数をカウントする周波数カウンタを備え、前記入力パル
スの周波数に応じてサンプリングパルスのパルス幅を可
変にしたことを特徴とする回転数検出装置。 - 【請求項3】 回転機械の回転数に応じて出力される交
番波形を整形する波形整形回路と、サンプリングパルス
を発生するサンプリングパルス発生回路と、前記波形整
形後の入力パルスのパルス幅に含まれる前記サンプリン
グパルス数をカウントする周波数カウンタを備え、前記
入力パルスの周波数に応じてサンプリングパルスの周波
数を可変にしたことを特徴とする回転数検出装置。 - 【請求項4】 カウント動作の初期時点で入力パルスと
サンプリングパルスとの同期をとることを特徴とする請
求項1から請求項3のいずれか1項に記載の回転数検出
装置。 - 【請求項5】 請求項4記載の回転数検出装置におい
て、カウント動作の終了時点でカウントする側のパルス
とカウントされる側のパルスのずれ時間を計測して調整
することを特徴とする回転数検出装置。 - 【請求項6】 前記周波数カウンタにより検出された回
転数と回転数設定器により設定された回転数とをディジ
タル回転数コンパレータにより比較演算することを特徴
とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の回
転数検出装置。 - 【請求項7】 請求項6の回転数検出装置のディジタル
回転数コンパレータにより比較演算した値をエンジンコ
ントローラにフィードバックし、更にエンジンを制御し
て回転機械を駆動する回転機械の制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9052656A JPH10252549A (ja) | 1997-03-07 | 1997-03-07 | 回転数検出装置及び回転機械の制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9052656A JPH10252549A (ja) | 1997-03-07 | 1997-03-07 | 回転数検出装置及び回転機械の制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10252549A true JPH10252549A (ja) | 1998-09-22 |
Family
ID=12920912
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9052656A Pending JPH10252549A (ja) | 1997-03-07 | 1997-03-07 | 回転数検出装置及び回転機械の制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10252549A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000310151A (ja) * | 1999-04-28 | 2000-11-07 | Mitsubishi Electric Corp | エンジン制御用回転数演算装置 |
JP2006105146A (ja) * | 2004-10-02 | 2006-04-20 | Robert Bosch Gmbh | クランクシャフトの回転数を測定する方法 |
WO2017078110A1 (ja) * | 2015-11-04 | 2017-05-11 | 株式会社アミテック | 変位検出装置 |
-
1997
- 1997-03-07 JP JP9052656A patent/JPH10252549A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000310151A (ja) * | 1999-04-28 | 2000-11-07 | Mitsubishi Electric Corp | エンジン制御用回転数演算装置 |
JP2006105146A (ja) * | 2004-10-02 | 2006-04-20 | Robert Bosch Gmbh | クランクシャフトの回転数を測定する方法 |
WO2017078110A1 (ja) * | 2015-11-04 | 2017-05-11 | 株式会社アミテック | 変位検出装置 |
US10775198B2 (en) | 2015-11-04 | 2020-09-15 | Amiteq Co., Ltd. | Displacement detection device |
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