JPH10242829A - スイッチ回路装置 - Google Patents
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- JPH10242829A JPH10242829A JP9039598A JP3959897A JPH10242829A JP H10242829 A JPH10242829 A JP H10242829A JP 9039598 A JP9039598 A JP 9039598A JP 3959897 A JP3959897 A JP 3959897A JP H10242829 A JPH10242829 A JP H10242829A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 9
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 84
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 23
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 13
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 12
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 12
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 8
- 101100484930 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) VPS41 gene Proteins 0.000 description 6
- 101150073536 FET3 gene Proteins 0.000 description 3
- 101150015217 FET4 gene Proteins 0.000 description 3
- 101150079361 fet5 gene Proteins 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 210000004899 c-terminal region Anatomy 0.000 description 1
- 239000013642 negative control Substances 0.000 description 1
- 239000013641 positive control Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H11/00—Networks using active elements
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- H03H11/38—One-way transmission networks, i.e. unilines
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- H03K17/56—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
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- H03K17/693—Switching arrangements with several input- or output-terminals, e.g. multiplexers, distributors
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Abstract
フ時に信号の漏れが生じないスイッチ回路装置を提供す
ることである。 【解決手段】 ノードN1,N3間にFET1が接続さ
れ、ノードN2,N4間にFET2が接続され、ノード
N3,N5間にFET3が接続され、ノードN4,N5
間にFET4が接続される。ノードN1,N6間にFE
T5が接続され、ノードN2,N6間にFET6が接続
される。FET1,4,6のゲートは制御端子Dに接続
され、FET2,3,5のゲートは制御端子Eに接続さ
れる。電源端子FはノードN5,N6に接続される。ノ
ードN1,N2はそれぞれコンデンサC11,C12を
介して端子Aに接続される。FET5,6がプルアップ
切替回路7を構成する。プルアップ切替回路7はオフ状
態のFETのソースを電源電圧Vddにプルアップし、
オン状態のFETのソースを電源電圧Vddから切り離
す。
Description
トランジスタ(FET)からなるスイッチ回路装置に関
する。
信装置には、高速なスイッチング動作が可能なGaAs
系のスイッチ回路装置が用いられる。図9はMESFE
T(金属−半導体電界効果型トランジスタ;以下、FE
Tと略記する)を用いた従来のスイッチ回路装置の一例
を示す回路図である。
AにつながるノードN1と端子BにつながるノードN3
との間にFET100が接続され、端子Aにつながるノ
ードN2と端子CにつながるノードN4との間にFET
200が接続されている。また、ノードN3と接地電位
との間にFET300が接続され、ノードN4と接地電
位との間にFET400が接続されている。
抵抗を介して制御端子Dに接続され、FET200,3
00のゲートはそれぞれ抵抗を介して制御端子Eに接続
されている。制御端子D,Eには互いに相補な制御電圧
V1,V2が印加される。
端子Bには高周波信号RX1が与えられ、端子Cには高
周波信号RX2が与えられる。
ソース・ドレイン間電圧(Vds)特性の一例を示す図
である。
と、ドレイン電流Idsが約0.15[A/mm]とな
る。ゲート電圧Vgsを−1.0Vよりも深くすると、
ドレイン電流Idがほぼ0となる。したがって、例え
ば、ゲート電圧Vgsを0Vにすると、FETがオン
し、ゲート電圧Vgsを−3.0Vにすると、FETが
オフする。
ば、制御電圧V1を−3.0Vにし、制御電圧V2を0
Vとすると、FET200,300がオンし、FET1
00,400がオフする。それにより、端子A,C間で
信号の伝送が行われる。この動作時の電圧およびFET
の状態をかっこ内に示す。
V2を−3.0Vにすると、FET100,400がオ
ンし、FET200,300がオフする。それにより、
端子A,B間で信号の伝送が行われる。
スイッチ回路装置では、ドレイン電流(Id)−ソース
・ドレイン間電圧(Vds)特性のゲート電圧Vgsが
0Vの線形領域(オン状態)とゲート電圧Vgsをピン
チオフ電圧以下に印加した状態(オフ状態)を利用して
伝送経路を切り替える。
に、Vgs>0でもゲートに順方向電流が流れるまで印
加することができる(図11ではVgs=0.5V)。
この状態をオン状態として利用することができるなら
ば、Vgs=0の場合よりも大きな電流を流すことがで
きるとともに、線形領域の傾き(オン抵抗Ron)を小
さくすることができるため、高いパワーハンドリングが
能力および低挿入損失を実現できる。
路装置では、FET100,200,300,400を
オンオフさせるために、負の制御電圧を印加する必要が
あるので、負の電源回路を設けなければならない。その
ため、スイッチ回路装置の小型化を図れない。
動作させる場合、スイッチ回路装置を構成するFETを
正の電圧でプルアップする必要がある。FETを正の電
圧にプルアップする方法としては、電源電圧を用いてF
ETをプルアップする手法と、電源電圧を用いないでF
ETをプルアップする手法とがある。
ップするスイッチ回路装置の回路図である。
ードN1,N3間にFET1が接続され、ノードN2,
N4間にFET2が接続され、ノードN3,N5間にF
ET3が接続され、ノードN4,N5間にFET4が接
続されている。FET1,4のゲートはそれぞれ抵抗を
介して制御端子Dに接続され、FET2,3のゲートは
それぞれ抵抗を介して制御端子Eに接続されている。
性を有する。端子AおよびノードN5はそれぞれ抵抗を
介して電源端子Fに接続されている。電源端子Fには+
3.0Vの電源電圧Vddが印加される。
圧V2を+3.0Vとすると、FET2,3がオンし、
FET1,4がオフする。このとき、ノードN1,N
2,N5は電源端子Fから直接+3.0Vにプルアップ
され、ノードN3はFET3を介して+3.0Vにプル
アップされ、ノードN4はFET2を介して+3.0V
にプルアップされる。この動作時の電圧およびFETの
状態をかっこ内に示す。
ンジスタ2,3のゲート電圧Vgsが0Vとなり、ゲー
ト電圧Vgsを正に印加することができない。そのた
め、各FETに大きな電流を流すことができない。すな
わち、正側にゲート電圧Vgsを印加できるというFE
T1〜4の能力を発揮できない。
ルアップするスイッチ回路装置を示す回路図である。
ードN1,N3間にFET1が接続され、ノードN2,
N4間にFET2が接続され、ノードN3,N5間にF
ET3が接続され、ノードN4,N5間にFET4が接
続されている。FET1,4のゲートはそれぞれ抵抗を
介して制御端子Dに接続され、FET2,3のゲートは
それぞれ抵抗を介して制御端子Eに接続されている。こ
れらのFET1〜4は図11に示した特性を有する。
圧V2を+3.0Vにすると、FET2,3がオンし、
FET1,4がオフする。このとき、+3.0Vの制御
電圧V2によってFET2,3に過渡的に流れる順方向
電流で外部容量C0,C1,C2および容量13が充電
される。したがって、ノードN1,N2,N3,N4,
N5の電圧はFETのビルトイン電圧分低くなり、+
2.5Vとなる。この動作時の電圧およびFETの状態
をかっこ内に示す。
0.5Vのゲート電圧Vgsが印加されたことになり、
大きなドレイン電流を流すことができる。すなわち、図
13のスイッチ回路装置では、正側に大きなゲート電圧
Vgsを印加できるというFET1〜4の能力を有効に
利用することができる。その結果、図13のスイッチ回
路装置では、図12のスイッチ回路装置に比べて挿入損
失を低くすることが可能となる。
では次の問題が発生する。オフ状態のFET1,4に印
加されるゲート電圧Vgsは−2.5Vとなる。FET
1〜4のピンチオフ電圧Vpを−1.0Vとすると、オ
フ状態のFET1,4のゲート電圧Vgsとピンチオフ
電圧Vpとの差は1.5Vとなる。オフ状態のFETの
ゲート電圧Vgsとピンチオフ電圧Vpとの差は耐電圧
特性を決定する。
フ状態のFET1,4のゲート電圧Vgsは−3.0V
となる。この場合、オフ状態のFET1,4のゲート電
圧Vgsとピンチオフ電圧Vpとの差は2Vとなる。
は、図12のスイッチ回路装置に比べてオフ状態のFE
Tの耐電圧特性が悪くなるため、信号の漏れが生じやす
く、入出力電力特性の線型性が劣化する。
を示す回路図である。図14のスイッチ回路装置におい
ては、端子A,B間に5個のFET11〜15が直列に
接続され、端子A,C間に5個のFET21〜25が直
列に接続されている。FET11〜15のゲートはそれ
ぞれ抵抗を介して制御端子Dに接続され、FET21〜
25のゲートはそれぞれ抵抗を介して制御端子Eに接続
されている。制御端子D,Eには互いに相補な制御電圧
V1,V2が印加される。
電圧V1を+3.0Vとし、制御電圧V2を0Vとする
と、FET11〜15がオンし、FET21〜25がオ
フする。それにより、端子A,B間で信号の伝送が行わ
れる。
の5個のFET21〜25により分配される。したがっ
て、端子A,B間での信号の伝送時に、端子A,C間で
信号の漏れが生じにくい。また、各FETの大きさを小
さくすることができるので、歩留りが向上する。
21〜25のうち一方の端部側に位置するFET21の
ゲート・ソース間に印加される電圧および他方の端部側
に配置されるFET25のゲート・ドレイン間に印加さ
れる電圧が等分配の値よりも大きくなる。それにより、
端子A,B間で大電力の信号を伝送すると、端子A,C
間で信号の漏れが生じやすいという問題が生じる。
すことができるとともにオフ時に信号の漏れが生じない
スイッチ回路装置を提供することである。
発明に係るスイッチ回路装置は、第1の電界効果トラン
ジスタ、第2の電界効果トランジスタおよび切替回路を
備える。第1の電界効果トランジスタは、共通端子と第
1の端子との間に一段または複数段に接続され、かつ第
1の制御電圧を受けるゲート電極を有する。第2の電界
効果トランジスタは、共通端子と第2の端子との間に一
段または複数段に接続され、かつ第1の制御電圧と相補
な第2の制御電圧を受けるゲート電極を有する。切替回
路は、第1および第2の電界効果トランジスタのうちオ
フ状態の電界効果トランジスタの共通端子側の一方電極
に所定のプルアップ電圧を印加するともにオン状態の電
界効果トランジスタの共通端子側の一方電極をプルアッ
プ電圧から切り離す。
は、オフ状態の電界効果トランジスタの共通端子側の一
方電極がプルアップ電圧にプルアップされるので、オフ
状態の電界効果トランジスタのゲート電圧が低くなる。
それにより、オフ状態の電界効果トランジスタの耐電圧
特性が高くなり、信号の漏れが生じにくくなる。したが
って、第1および第2の電界効果トランジスタの段数を
減らすことが可能となり、スイッチ回路装置の歩留りが
向上するとともに、小型化および低価格化が図られる。
また、同じ段数の電界効果トランジスタを有する従来の
スイッチ回路装置と比べて入出力電力特性が向上する。
共通端子側の一方電極はプルアップ電圧から切り離され
るので、ゲート電極の電位よりもビルトイン電圧分低く
なる。それにより、オン状態の電界効果トランジスタの
抵抗が低くなり、低挿入損失化が図られる。また、オン
状態の電界効果トランジスタに多くの電流を流すことが
可能となるので、ゲート幅を小さく形成することができ
る。したがって、スイッチ回路装置の歩留りが向上する
とともに小型化および低価格化が図られる。
1の発明に係るスイッチ回路装置の構成において、切替
回路が、第3の電界効果トランジスタおよび第4の電界
効果トランジスタを含むものである。第3の電界効果ト
ランジスタは、第1の電界効果トランジスタの共通端子
側の一方電極とプルアップ電圧を受ける共通ノードとの
間に接続され、かつ第2の制御電圧を受けるゲート電極
を有する。第4の電界効果トランジスタは、第2の電界
効果トランジスタの共通端子側の一方電極と共通ノード
との間に接続され、かつ第1の制御電圧を受けるゲート
電極を有する。
オフし、第2の電界効果トランジスタがオンしたとき
に、第3の電界効果トランジスタがオンし、第4の電界
効果トランジスタがオフする。これにより、プルアップ
電圧を受ける共通ノードが第1の電界効果トランジスタ
の共通端子側の一方電極と接続され、かつ第2の電界効
果トランジスタの共通端子側の一方電極から遮断され
る。
し、第2の電界効果トランジスタがオフしたときに、第
3の電界効果トランジスタがオフし、第4の電界効果ト
ランジスタがオンする。これにより、プルアップ電圧を
受ける共通ノードが第2の電界効果トランジスタの共通
端子側の一方電極と接続され、かつ第1の電界効果トラ
ンジスタの共通端子側の一方電極から遮断される。
ンジスタの共通端子側の一方電極がプルアップ電圧にプ
ルアップされ、オン状態の電界効果トランジスタの共通
端子側の一方電極がプルアップ電圧にプルアップされな
い。
2の発明に係るスイッチ回路装置の構成において、切替
回路が、共通端子と第1の電界効果トランジスタの一方
電極との間に介挿された第1のコンデンサと、共通端子
と第2の電界効果トランジスタの一方電極との間に介挿
された第2のコンデンサとをさらに含むものである。こ
の場合、プルアップ電圧による電流が共通端子側に流れ
ることが防止される。
たは第3の発明に係るスイッチ回路装置の構成におい
て、第5の電界効果トランジスタおよび第6の電界効果
トランジスタをさらに備えたものである。第5の電界効
果トランジスタは、第1の端子と接地電位との間に一段
または複数段に接続され、かつ第2の制御電圧を受ける
ゲート電極を有する。第6の電界効果トランジスタは、
第2の端子と接地電位との間に一段または複数段に接続
され、かつ第1の制御電圧を受けるゲート電極を有す
る。
オフし、第2の電界効果トランジスタがオンしたとき
に、第5の電界効果トランジスタがオンし、第6の電界
効果トランジスタがオフする。これにより、第1の電界
効果トランジスタの他方電極が接地電位に接続される。
し、第2の電界効果トランジスタがオフしたときには、
第5の電界効果トランジスタがオフし、第6の電界効果
トランジスタがオンする。これにより、第2の電界効果
トランジスタの他方電極が接地電位に接続される。
スタの他方電極が接地電位に接続されるので、信号の漏
れが十分に防止され、分離度が向上する。
1の電界効果トランジスタ、第2の電界効果トランジス
タ、複数の第1の抵抗および複数の第2の抵抗を備え
る。第1の電界効果トランジスタは、共通端子と第1の
端子との間に複数段に接続され、かつ第1の制御電圧を
受けるゲート電極を有する。第2の電界効果トランジス
タは、共通端子と第2の端子との間に複数段に接続さ
れ、かつ第1の制御電圧と相補な第2の制御電圧を受け
るゲート電極を有する。複数の第1の抵抗は、複数段に
接続された各第1の電界効果トランジスタの一方電極と
他方電極との間にそれぞれ接続される。複数の第2の抵
抗は、複数段に接続された各第2の電界効果トランジス
タの一方電極と他方電極との間にそれぞれ接続される。
は、複数段に接続された第1および第2の電界効果トラ
ンジスタの一方電極と他方電極との間にそれぞれ抵抗が
接続されているので、オフ状態の各電界効果トランジス
タの一方電極および他方電極が等電位となる。そのた
め、共通端子と第1または第2の端子との間に印加され
る電圧がオフ状態の複数の電界効果トランジスタに等分
配される。
スタの耐電圧特性が向上するので、第1および第2の電
界効果トランジスタの段数を減らすことができる。した
がって、スイッチ回路装置の歩留りが向上するととも
に、小型化および低価格化が図られる。また、同じ段数
の電界効果トランジスタを有する従来のスイッチ回路装
置に比べて入出力電力特性が向上する。
けるスイッチ回路装置の回路図である。
C、制御端子D,Eおよび電源端子Fを有する。端子
A,B,Cにはそれぞれ高周波信号RX0,RX1,R
X2が与えられる。制御端子D,Eには、互いに相補な
制御電圧V1,V2が印加される。本実施例では、制御
電圧V1,V2は+3.0Vまたは0Vである。電源端
子Fには電源電圧Vddが印加される。本実施例では、
電源電圧Vddは+3.0Vである。端子A,B,Cに
はそれぞれ外部容量C0,C1,C2が接続される。
れ、ノードN2,N4間にはFET2が接続され、ノー
ドN3,N5間にはFET3が接続され、ノードN4,
N5間にはFET4が接続されている。FET1,4の
ゲートはそれぞれ抵抗を介して制御端子Dに接続され、
FET2,3のゲートはそれぞれ抵抗を介して制御端子
Eに接続されている。これらのFET1〜4は、図11
に示したドレイン電流(Id)−ソース・ドレイン間電
圧(Vds)特性を有する。ノードN3,N4はそれぞ
れ端子B,Cに接続されている。ノードN5は容量C1
3を介して接地されている。
プ切替回路7を備える。プルアップ切替回路7は、FE
T5,6およびコンデンサC11,C12を含む。コン
デンサC11は端子AとノードN1との間に接続され、
コンデンサC12は端子AとノードN2との間に接続さ
れている。FET5のソースおよびドレインはそれぞれ
抵抗を介してノードN1,N6に接続され、FET6の
ソースおよびドレインはそれぞれ抵抗を介してノードN
2,N6に接続されている。
Eに接続され、FET6のゲートは抵抗を介して制御端
子Dに接続されている。また、電源端子FはノードN6
に接続され、かつ抵抗を介してノードN5に接続されて
いる。
圧V2を+3.0Vとすると、FET2,3がオンし、
FET1,4がオフする。同時に、FET5がオンし、
FET6がオフする。これにより、ノードN1が電源端
子FからノードN6およびFET5を介して+3.0V
にプルアップされるとともに、ノードN3が電源端子F
からノードN5およびFET3を介して+3.0Vにプ
ルアップされる。
よってFET2に過渡的に流れる順方向電流で充電され
る。したがって、ノードN2,N4の電圧は+3.0V
の制御電圧V2からFET2のビルトイン電圧分低下し
た+2.5Vとなる。この動作時の電圧およびFETの
状態をかっこ内に示す。
ト電圧Vgsは+0.5Vとなるので、大きなドレイン
電流を流すことができる。一方、オフ状態のFET1,
4のゲート電圧Vgsは−3.0Vとなる。したがっ
て、FETのピンチオフ電圧Vpを−1.0Vとする
と、オフ状態のFET1,4のゲート電圧Vgsとピン
チオフ電圧Vpとの差が2.0Vとなり、耐電圧特性が
高くなる。その結果、端子A,C間で大きな電力の信号
を伝送した場合でも、端子A,B間に信号の漏れが生じ
ない。このとき、ノードN3が接地されるので、分離度
が向上する。
御電圧V2を0Vすると、FET1,4がオンし、FE
T2,3がオフする。同時に、FET5がオフし、FE
T6がオンする。この場合には、オン状態のFET1,
4のゲート電圧Vgsが+0.5Vとなり、オフ状態の
FET2,3のゲート電圧Vgsが−3.0Vとなる。
その結果、端子A,B間で大きな電力の伝送を行って
も、端子A,C間に信号の漏れが生じない。このとき、
ノードN4が接地されるので、分離度が向上する。
2の従来のスイッチ回路装置における挿入損失の周波数
依存性のシミュレーション結果を示す。図2において、
図1のスイッチ回路装置における挿入損失を実線L1で
示し、図12のスイッチ回路装置における挿入損失を破
線L2で示す。図2に示すように、図1のスイッチ回路
装置では、図12のスイッチ回路装置に比べて広い周波
数領域にわたって挿入損失が低くなっている。
2のスイッチ回路装置における分離度(アイソレーショ
ン)の周波数依存性のシミュレーション結果を示す。図
3において、図1のスイッチ回路装置における分離度を
実線L3で示し、図12のスイッチ回路装置における分
離度を破線L4で示す。図3に示すように、図1のスイ
ッチ回路装置では、1GHz以上の周波数領域で分離度
が高くなっている。
2のスイッチ回路装置の入出力電力特性はほぼ同じであ
った。
3の従来のスイッチ回路装置における入出力電力特性の
シミュレーション結果を示す。図4において、図1のス
イッチ回路装置の入出力電力特性を実線L5で示し、図
13のスイッチ回路装置の入出力電力特性を破線L6で
示す。図4に示すように、図1の本実施例のスイッチ回
路装置では、入力電力が22dBmを越えても直線性が
保たれている。
3のスイッチ回路装置の挿入損失および分離度はほぼ同
じであった。
回路装置と図12の従来のスイッチ回路装置との比較で
は、挿入損失および分離度については図1のスイッチ回
路装置が優れており、入出力電力特性についてはほぼ同
一である。また、図1のスイッチ回路装置と図13の従
来のスイッチ回路装置との比較では、入出力電力特性に
ついては図1のスイッチ回路装置が優れており、挿入損
失および分離度についてはほぼ同一である。
においては、高い挿入損失および分離度が得られ、かつ
入出力電力特性が向上している。
ッチ回路装置の回路図である。図5のスイッチ回路装置
においては、ノードN1,N3間に3個のFET11,
12,13が直列に接続され、ノードN2,N4間に3
個のFET21,22,23が直列に接続されている。
また、ノードN3,N5間に3個のFET31,32,
33が直列に接続され、ノードN4,N5間に3個のF
ET41,42,43が直列に接続されている。
3のゲートはそれぞれ抵抗を介して制御端子Dに接続さ
れ、FET21,22,23,31,32,33のゲー
トはそれぞれ抵抗を介して制御端子Eに接続されてい
る。これらのFET11〜13,21〜23,31〜3
3,41〜43は、図11に示したドレイン電流(I
d)−ソース・ドレイン間電圧(Vds)特性を有す
る。
・ドレイン間にはそれぞれ抵抗R11,R12,R13
が接続され、各FET21,22,23間のソース・ド
レイン間には抵抗R21,R22,R23が接続されて
いる。また、各FET31,32,33のソース・ドレ
イン間にはそれぞれ抵抗R31,R32,R33が接続
され、各FET41,42,43のソース・ドレイン間
にはそれぞれ抵抗R41,R42,R43が接続されて
いる。
は図1のスイッチ回路装置の構成と同様である。
第1の実施例のスイッチ回路装置と同様に、高い挿入損
失および分離度が得られ、かつ入出力電力特性が向上し
ている。
多段に接続されたFET11〜13,21〜23,31
〜33,41〜43が用いられているので、端子A,B
または端子A,C間に印加される電圧はオフ状態の各F
ETに分配される。しかも、各FETのソース・ドレイ
ン間に抵抗が接続されているので、オフ状態の各FET
のゲート・ソース間およびゲート・ドレイン間に印加さ
れる電圧が全て等しくなる。それにより、各FETの耐
電圧特性がさらに向上し、入出力電力特性もさらに向上
する。
ッチ回路装置の回路図である。図6のスイッチ回路装置
が図5のスイッチ回路装置と異なるのは、FET31〜
33,41〜43および抵抗R31〜R33,R41〜
R43が設けられていない点である。
ッチ回路装置に比べて分離度の点で劣るが,FETの数
が低減される。したがって、スイッチ回路装置の小型化
を図ることができる。
ッチ回路装置の回路図である。図7のスイッチ回路装置
において、端子A,B間に5個のFET11〜15が直
列に接続され、端子A,C間に5個のFET21〜25
が直列に接続されている。FET11〜15のゲートは
それぞれ抵抗を介して制御端子Dに接続され、FET2
1〜25のゲートはそれぞれ抵抗を介して制御端子Eに
接続されている。
イン間にはそれぞれ抵抗R11〜R15が接続され、各
FET21〜25のソース・ドレイン間にはそれぞれ抵
抗R21〜R25が接続されている。
X0,RX1,RX2が与えられる。制御端子D,Eに
は互いに相補な制御電圧V1,V2が与えられる。本実
施例では、制御電圧V1,V2は+3.0Vまたは0V
である。
多段に接続されたFETが用いられているので、端子
A,B間または端子A,C間に印加される電圧がオフ状
態のFETに分配される。しかも、各FETのソース・
ドレイン間に抵抗が接続されているので、オフ状態の各
FETのゲート・ソース間およびゲート・ドレイン間に
印加される電圧が全て等しくなる。それにより、各FE
Tの耐電圧特性が向上し、入出力電力特性も向上する。
4の従来のスイッチ回路装置における入出力電力特性の
シミュレーション結果を示す。図8において、図7のス
イッチ回路装置における入出力電力特性を実線L7で示
し、図14のスイッチ回路装置の入出力電力特性を破線
L8で示す。図8に示すように、図7のスイッチ回路装
置では、図14のスイッチ回路装置に比べて入出力電力
特性が向上している。
置の回路図である。
チ回路装置における挿入損失の周波数依存性のシミュレ
ーション結果を示す図である。
チ回路装置における分離度の周波数依存性のシミュレー
ション結果を示す図である。
チ回路装置における入出力電力特性のシミュレーション
結果を示す図である。
置の回路図である。
置の回路図である。
置の回路である。
スイッチ回路装置における入出力電力特性のシミュレー
ション結果を示す図である。
ある。
電圧特性の一例を示す図である。
電圧特性の他の例を示す図である。
イッチ回路装置の回路図である。
るスイッチ回路装置の回路図である。
図である。
43 FET R11〜R15,R21〜R25,R31〜R33,R
41〜R43 抵抗 A,B,C 端子 D,E 制御端子 F 電源端子 RX0,RX1,RX2 高周波信号 V1,V2 制御電圧 Vdd 電源電圧 7 プルアップ切替回路
Claims (5)
- 【請求項1】 共通端子と第1の端子との間に一段また
は複数段に接続され、かつ第1の制御電圧を受けるゲー
ト電極を有する第1の電界効果トランジスタと、 前記共通端子と第2の端子との間に一段または複数段に
接続され、かつ前記第1の制御電圧と相補な第2の制御
電圧を受けるゲート電極を有する第2の電界効果トラン
ジスタと、 前記第1および第2の電界効果トランジスタのうちオフ
状態の電界効果トランジスタの前記共通端子側の一方電
極に所定のプルアップ電圧を印加するとともにオン状態
の電界効果トランジスタの前記共通端子側の一方電極を
前記プルアップ電圧から切り離す切替回路とを備えたこ
とを特徴とするスイッチ回路装置。 - 【請求項2】 前記切替回路は、 前記第1の電界効果トランジスタの前記共通端子側の一
方電極と前記プルアップ電圧を受ける共通ノードとの間
に接続され、かつ前記第2の制御電圧を受けるゲート電
極を有する第3の電界効果トランジスタと、 前記第2の電界効果トランジスタの前記共通端子側の一
方電極と前記共通ノードとの間に接続され、かつ前記第
1の制御電圧を受けるゲート電極を有する第4の電界効
果トランジスタとを含むことを特徴とする請求項1記載
のスイッチ回路装置。 - 【請求項3】 前記切替回路は、 前記共通端子と前記第1の電界効果トランジスタの前記
一方電極との間に介挿された第1のコンデンサと、 前記共通端子と前記第2の電界効果トランジスタの前記
一方電極との間に介挿された第2のコンデンサとをさら
に含むことを特徴とする請求項2記載のスイッチ回路装
置。 - 【請求項4】 前記第1の端子と接地電位との間に一段
または複数段に接続され、かつ前記第2の制御電圧を受
けるゲート電極を有する第5の電界効果トランジスタ
と、 前記第2の端子と接地電位との間に一段または複数段に
接続され、かつ前記第1の制御電圧を受けるゲート電極
を有する第6の電界効果トランジスタとをさらに備えた
ことを特徴とする請求項1、2または3記載のスイッチ
回路装置。 - 【請求項5】 共通端子と第1の端子との間に複数段に
接続され、かつ第1の制御電圧を受けるゲート電極を有
する第1の電界効果トランジスタと、 前記共通端子と第2との端子との間に複数段に接続さ
れ、かつ前記第1の制御電圧と相補な第2の制御電圧を
受けるゲート電極を有する第2の電界効果トランジスタ
と、 前記複数段に接続された各第1の電界効果トランジスタ
の一方電極と他方電極との間にそれぞれ接続された複数
の第1の抵抗と、 前記複数段に接続された各第2の電界効果トランジスタ
の一方電極と他方電極との間にそれぞれ接続された複数
の第2の抵抗とを備えたことを特徴とするスイッチ回路
装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9039598A JPH10242829A (ja) | 1997-02-24 | 1997-02-24 | スイッチ回路装置 |
| US09/027,716 US5945867A (en) | 1997-02-24 | 1998-02-23 | Switch circuit device |
| EP98301293A EP0903855B1 (en) | 1997-02-24 | 1998-02-23 | High frequency switching device |
| DE69808576T DE69808576T2 (de) | 1997-02-24 | 1998-02-23 | Elektronischer Hochfrequenzschalter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP9039598A JPH10242829A (ja) | 1997-02-24 | 1997-02-24 | スイッチ回路装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| JPH10242829A true JPH10242829A (ja) | 1998-09-11 |
Family
ID=12557560
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9039598A Pending JPH10242829A (ja) | 1997-02-24 | 1997-02-24 | スイッチ回路装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
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| US (1) | US5945867A (ja) |
| EP (1) | EP0903855B1 (ja) |
| JP (1) | JPH10242829A (ja) |
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| US11418183B2 (en) | 2018-03-28 | 2022-08-16 | Psemi Corporation | AC coupling modules for bias ladders |
| US11870431B2 (en) | 2018-03-28 | 2024-01-09 | Psemi Corporation | AC coupling modules for bias ladders |
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| US12081211B2 (en) | 2020-01-06 | 2024-09-03 | Psemi Corporation | High power positive logic switch |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69808576T2 (de) | 2003-06-18 |
| DE69808576D1 (de) | 2002-11-14 |
| EP0903855A1 (en) | 1999-03-24 |
| US5945867A (en) | 1999-08-31 |
| EP0903855B1 (en) | 2002-10-09 |
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Legal Events
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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