JPH10232357A

JPH10232357A - 光走査装置

Info

Publication number: JPH10232357A
Application number: JP9342585A
Authority: JP
Inventors: Takayoshi Suzuki; 孝義鈴木
Original assignee: Fuji Xerox Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Business Innovation Corp
Priority date: 1996-12-16
Filing date: 1997-12-12
Publication date: 1998-09-02

Abstract

(57)【要約】【課題】複数の光ビームによって形成された画像のつ
なぎめにおける画質を低下させないようにする。【解決手段】ＳＯＳセンサ３４ａからのＳＯＳ信号を
入力してからＳＯＳセンサ３４ａからのＳＯＳ信号を入
力するまでの、ＰＬＬシンセサイザは、一定数のクロッ
クを発振する。このクロックに基づいて作成された画像
クロックに基づいて、レーザーダイオード１２ａ、１２
ｂが照射されるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光走査装置に係
り、より詳しくは、複数の光ビームを照射し、かつ、該
照射された複数の光ビームを１つの偏向手段により偏向
すると共に、該偏向された複数の光ビームにより感光体
の１本の走査ラインを分割して走査する光走査装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、２つのレーザービームを照射
し、かつ、該照射された２つのレーザービームを１つの
ポリゴンミラーにより偏向すると共に、該偏向された２
つのレーザービームにより感光体の走査ラインを分割し
て走査する光走査装置が提案されている（特開昭６３−
４７７１８号公報）。

【０００３】この光走査装置では、一方のレーザービー
ムで感光体の画像領域の前半部分を走査し、他方のレー
ザービームで感光体の画像領域の後半部分を走査する。
このように走査ラインを２つのレーザービームで分割走
査することにより、ポリゴンミラーの面数を増やして印
字速度を向上させることが可能になる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、走査ライン
を２つのレーザービームで分割走査するために、できあ
がった画像は、各レーザービームで作成された複数の画
像で構成される。

【０００５】ここで、各レーザービームは、互いに異な
る位置に配置された複数の光源から発生され、かつ、異
なる経路を経て感光体に到達する。このため、温度変
化、振動や衝撃等の外部要因により光源の配置位置、光
源を構成する部品の位置、経路上に配置された光学系の
位置等が変位して、レーザービームの経路が予め定めた
経路からずれることがある。

【０００６】このように、レーザービームの経路がずれ
ると、各レーザービームで作成された複数の画像のつな
ぎ目において画像の不連続が発生し、画質が著しく低下
する。

【０００７】また、ポリゴンミラーの回転速度にむらが
発生すると、各レーザービームで作成された複数の画像
のドット位置の走査ライン方向の間隔が走査ライン毎に
変動する。一方、各画像の最初のドット位置は、所定の
センサからの開始タイミング信号に基づいて定まるた
め、固定される。よって、複数の画像のつなぎ目におい
て画質が著しく低下する。

【０００８】本発明は、上記事実に鑑み成されたもの
で、光ビームの経路が予め定めた経路からずれたり、偏
向手段の偏向速度にむらが発生しても複数の光ビームに
よって形成された画像のつなぎめにおける画質を低下さ
せることのない光走査装置を提供することを目的とす
る。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
請求項１記載の発明は、複数の光ビームを照射し、か
つ、該照射された複数の光ビームを１つの偏向手段によ
り偏向すると共に、該偏向された複数の光ビームにより
感光体の１本の走査ラインを分割して走査する光走査装
置であって、前記走査ラインが走査される際に前記感光
体の画像形成可能領域に最初に入射する位置以前の予め
定められた位置及び最後に入射する位置以後の予め定め
られた位置の少なくとも一方を通過する光ビームを検知
する検知手段と、前記検知手段により光ビームが検知さ
れてから再度光ビームが検知されるまでの間、一定数の
クロックを発振する発振手段と、前記発振手段により発
振されたクロックに基づいて、前記複数の光ビームが照
射されるように調整する調整手段と、を備えている。

【００１０】請求項２記載の発明は、複数の光ビームを
照射し、かつ、該照射された複数の光ビームを１つの偏
向手段により偏向すると共に、該偏向された複数の光ビ
ームにより感光体の１本の走査ラインを分割して走査す
る光走査装置であって、前記複数の光ビームの中の所定
の光ビーム及び該所定の光ビームに隣接する他の光ビー
ムによって前記走査ラインが１回走査されて形成される
一方の画像形成可能領域の先端ドットと他方の画像形成
可能領域の後端ドットとの前記走査ライン方向の最短距
離の情報に基づいて、該最短距離が所定値となるように
前記所定の光ビーム及び前記他の光ビームの少なくとも
一方の照射タイミングを調整する調整手段を備えてい
る。

【００１１】請求項３記載の発明は、請求項２記載の発
明において、前記走査ラインが走査される際に前記感光
体の画像形成可能領域に最初に入射する位置以前の予め
定められた第１の位置及び最後に入射する位置以後の予
め定められた第２の位置を通過する光ビームを検知する
検知手段と、前記走査ラインが１回走査される際前記第
１の位置及び前記第２の位置の少なくとも一方を通過す
る光ビームが検知されてから再度前記第１の位置及び前
記第２の位置の少なくとも一方を通過する光ビームが検
知されるまでの間、一定数のクロックを発振する発振手
段と、前記走査ラインが１回走査される際に前記第１の
位置を通過する光ビームが検知されてから前記第２の位
置を通過する光ビームが検知されるまでの間に発振され
たクロックを計数する計数手段と、を更に備え、前記調
整手段は、前記計数されたクロックの数と予め定めた数
とを比較すると共に、該比較結果に基づいて、該最短距
離が所定値となるように前記所定の光ビーム及び前記他
の光ビームの少なくとも一方の照射タイミングを調整す
ることを特徴とする。

【００１２】請求項４記載の発明は、複数の光ビームを
照射し、かつ、該照射された複数の光ビームを１つの偏
向手段により偏向すると共に、該偏向された複数の光ビ
ームにより感光体の１本の走査ラインを分割して走査す
る光走査装置であって、前記複数の光ビームによって前
記走査ラインが走査されて形成される画像形成可能領域
各々に対応する画像データを複数の走査ライン分記憶す
る記憶手段と、前記走査ラインが１回走査されることに
よって前記複数の光ビームの中の所定の光ビームと該所
定の光ビームに隣接する他の光ビームとによって走査さ
れる各々の走査ラインの間隔が所定値以上の場合、前記
間隔が前記所定値以内となるように、前記所定の光ビー
ム及び前記他の光ビームの前記画像データを前記記憶手
段から選択的に読み出すと共に前記走査ラインが走査さ
れる際、該読み出した各々の画像データに基づいて前記
所定の光ビーム及び前記他の光ビームの各々が照射され
るように調整する調整手段と、を備えている。

【００１３】請求項５記載の発明は、複数の光ビームを
照射し、かつ、該照射された複数の光ビームを１つの偏
向手段により偏向すると共に、該偏向された複数の光ビ
ームにより感光体の１本の走査ラインを分割して走査す
る光走査装置であって、前記走査ラインが１回走査され
ることによって前記複数の光ビームの中の所定の光ビー
ムと該所定の光ビームに隣接する他の光ビームとによっ
て走査される各々の走査ラインの間隔が所定値未満の場
合に、前記走査ラインが走査される際、前記所定の光ビ
ーム及び前記他の光ビームによって重複して走査される
画像形成可能領域が設けられると共に、該画像形成可能
領域に入射する所定の光ビーム及び前記他の光ビームの
入射光量の１ドット分の合計が該画像形成可能領域以外
の画像形成可能領域に入射する前記所定の光ビーム又は
前記他の光ビームの１ドット分の入射光量と略等しくな
るように調整する調整手段と、を備えている。

【００１４】請求項６記載の発明は、請求項４又は請求
項５記載の発明において、前記複数の光ビームによって
前記感光体が１回走査されることによって前記感光体の
画像形成可能領域に最初に入射する位置以前の予め定め
られた位置及び最後に入射する位置以後の予め定められ
た位置を通過する光ビームを受光する受光手段を更に備
え、前記調整手段は、前記走査ラインが１回走査される
ことによる前記受光手段の受光状態に基づいて、前記間
隔が所定値以上か否かを判断することを特徴とする。

【００１５】請求項７記載の発明は、前記偏向手段の前
記複数の光ビームを偏向する偏向面に入射する光ビーム
の前記走査方向のビーム径の長さが該偏向面の前記走査
方向の長さ以上であることを特徴とする。

【００１６】即ち、請求項１記載の発明に係る光走査装
置は、複数の光ビームを照射し、かつ、該照射された複
数の光ビームを１つの偏向手段により偏向すると共に、
該偏向された複数の光ビームにより感光体の１本の走査
ラインを分割して走査する。なお、偏向手段には、ポリ
ゴンミラー、ガルバノメータミラー等がある。

【００１７】ここで、複数の光ビームを１つの偏向手段
により偏向するので、複数の光ビームを複数の偏向手段
により各１つ偏向する場合のように、複数の偏向手段間
の各光ビームの偏向角度のばらつきが発生することがな
い。

【００１８】また、請求項７記載の発明のように、偏向
手段の複数の光ビームを偏向する偏向面に入射する光ビ
ームの走査方向のビーム径の長さが該偏向面の走査方向
の長さ以上とすると、偏向面内に局所的に光ビームの偏
向角が他の部位と相違する部位が発生しても、該部位を
含んだ広い偏向面で複数の光ビームを偏向するので、該
部位で反射した光ビームが全体の光ビームのごく一部と
なり誤差を小さくすることができる。

【００１９】検知手段は、走査ラインが走査される際に
感光体の画像形成可能領域に最初に入射する位置以前の
予め定められた位置及び最後に入射する位置以後の予め
定められた位置の少なくとも一方を通過する光ビームを
検知する。

【００２０】即ち、検知手段によって光ビームを検知す
る態様には、上記画像形成可能領域に最初に入射する位
置以前の予め定められた位置を通過する光ビームを検知
する第１の態様、上記画像形成可能領域に最後に入射す
る位置以後の予め定められた位置を通過する光ビームを
検知する第２の態様、及び、上記画像形成可能領域に最
初に入射する位置以前の予め定められた位置及び最後に
入射する位置以後の予め定められた位置を通過する光ビ
ームを検知する第３の態様の３種類がある。

【００２１】発振手段は、検知手段により光ビームが検
知されてから再度光ビームが検知されるまでの間、一定
数のクロックを発振する。即ち、第１の態様の場合で
は、発振手段は、上記画像形成可能領域に最初に入射す
る位置以前の予め定められた位置を通過する光ビームが
検知されてから再度光ビームが検知されるまでの間、一
定数のクロックを発振する。第２の態様の場合では、上
記画像形成可能領域に最後に入射する位置以後の予め定
められた位置を通過する光ビームが検知されてから再度
光ビームが検知されるまでの間、一定数のクロックを発
振する。

【００２２】そして、調整手段は、発振手段により発振
されたクロックに基づいて、複数の光ビームが照射され
るように調整する。

【００２３】このように、走査ラインが走査される際に
感光体の画像形成可能領域に最初に入射する位置以前の
予め定められた位置及び最後に入射する位置以後の予め
定められた位置の少なくとも一方を通過する光ビームが
検知されてから再度光ビームが検知されるまでの間、一
定数のクロックを発振すると、複数の走査ラインが走査
される各々において一定数のクロックが発振される。

【００２４】そして、発振されたクロックに基づいて複
数の光ビームを照射するので、偏向手段に上記偏向の速
度にむらが生じても、複数の走査ラインが走査される各
々において一定間隔にドットを形成することができる。
このため、複数の光ビームにより形成される画像の各々
に不連続なつなぎ目が発生することを防止することがで
きる。

【００２５】請求項２記載の発明に係る光走査装置は、
請求項１記載の発明の光走査装置と同様に、複数の光ビ
ームを照射し、かつ、該照射された複数の光ビームを１
つの偏向手段により偏向すると共に、該偏向された複数
の光ビームにより感光体の１本の走査ラインを分割して
走査する。

【００２６】そして、調整手段は、複数の光ビームの中
の所定の光ビーム及び該所定の光ビームに隣接する他の
光ビームによって走査ラインが１回走査されて形成され
る一方の画像形成可能領域の先端ドットと他方の画像形
成可能領域の後端ドットとの走査ライン方向の最短距離
の情報に基づいて、該最短距離が所定値となるように所
定の光ビーム及び他の光ビームの少なくとも一方の照射
タイミングを調整する。

【００２７】ここで、上記先端ドットと上記後端ドット
との走査ライン方向の最短距離の情報は、次のように求
めることができる。

【００２８】第１に、複数の光ビームにより走査ライン
を走査して、走査ライン方向及び該方向と直交する方向
に所定のパターンの画像を形成し、形成した画像を画像
読取手段（ＣＣＤセンサ）により読み取り、読み取った
画像に基づいて、上記情報を求める。

【００２９】第２に、請求項３記載の発明のように、検
知手段により走査ラインが走査される際に感光体の画像
形成可能領域に最初に入射する位置以前の予め定められ
た第１の位置及び最後に入射する位置以後の予め定めら
れた第２の位置を通過する光ビームを検知し、発振手段
により走査ラインが１回走査される際第１の位置及び第
２の位置の少なくとも一方を通過する光ビームが検知さ
れてから再度第１の位置及び第２の位置の少なくとも一
方を通過する光ビームが検知されるまでの間、一定数の
クロックを発振し、計数手段により走査ラインが１回走
査される際に第１の位置を通過する光ビームが検知され
てから第２の位置を通過する光ビームが検知されるまで
の間に発振されたクロックを計数する。そして、計数さ
れたクロックの数と予め定めた数とを比較すると、該比
較結果は、上記先端ドットと上記後端ドットとの走査ラ
イン方向の最短距離の情報に対応する。即ち、複数の光
ビームのビーム経路が適正であれば、上記クロック数
は、予め定めた数と一致する。しかし、複数の光ビーム
のビーム経路が適正なビーム経路からずれると、上記ク
ロック数は、予め定めた数と一致せず、この差が上記最
短距離の情報に対応する。

【００３０】ここで、所定の光ビーム及び他の光ビーム
によって走査ラインが１回走査されて形成される一方の
画像形成可能領域の先端ドットと他方の画像形成可能領
域の後端ドットとの走査ライン方向の最短距離の情報
は、複数の光ビームにより形成される画像の各々のつな
ぎ目のずれ量に対応する。よって、該最短距離が所定値
となるようにするので、複数の光ビームにより形成され
る画像の各々に不連続なつなぎ目が発生することを防止
することができる。

【００３１】請求項４記載の発明に係る光走査装置は、
請求項１記載の発明の光走査装置と同様に、複数の光ビ
ームを照射し、かつ、該照射された複数の光ビームを１
つの偏向手段により偏向すると共に、該偏向された複数
の光ビームにより感光体の１本の走査ラインを分割して
走査する。

【００３２】記憶手段は、複数の光ビームによって走査
ラインが走査されて形成される画像形成可能領域各々に
対応する画像データを複数の走査ライン分記憶する。

【００３３】ここで、記憶手段は、複数の光ビームによ
って走査ラインが走査されて形成される画像形成可能領
域各々に対応する画像データを一括して記憶する第１の
記憶手段と、第１の記憶手段から読み出されかつ複数の
光ビームによって走査ラインが走査されて形成される画
像形成可能領域各々に対応する画像データを複数の光ビ
ーム各々に対応して記憶する複数の第２の記憶手段と、
により構成するようにしてもよい。

【００３４】調整手段は、走査ラインが１回走査される
ことによって複数の光ビームの中の所定の光ビームと該
所定の光ビームに隣接する他の光ビームとによって走査
される各々の走査ラインの間隔が所定値以上の場合、間
隔が所定値以内となるように、所定の光ビーム及び他の
光ビームの画像データを記憶手段から選択的に読み出す
と共に、走査ラインが走査される際、該読み出した各々
の画像データに基づいて所定の光ビーム及び他の光ビー
ムの各々が照射されるように調整する。

【００３５】ここで、所定値は、走査ラインが複数回走
査されることによって所定の光ビーム又は他の光ビーム
によって走査される複数の走査ラインの隣接する走査ラ
インの間隔である。

【００３６】このように、走査ラインが１回走査される
ことによって所定の光ビームと該所定の光ビームに隣接
する他の光ビームとによって走査される各々の走査ライ
ンの間隔は、複数の光ビームにより形成される画像の各
々のつなぎ目のずれ量に相当し、該間隔が所定値以上の
場合、該間隔が所定値以内となるようにしているので、
複数の光ビームにより形成される画像の各々に不連続な
つなぎ目が発生することを防止することができる。

【００３７】ここで、上記走査ラインを、例えば、主走
査ラインとすると、請求項２（請求項３）記載の発明
は、複数の光ビームにより形成される画像の各々の不連
続なつなぎ目の主走査方向のずれをなくすように調整す
ることができるのに対し、請求項４記載の発明は、複数
の光ビームにより形成される画像の各々の不連続なつな
ぎ目の副走査方向のずれをなくすように調整することが
できる。

【００３８】請求項５記載の発明に係る光走査装置は、
請求項１記載の発明の光走査装置と同様に、複数の光ビ
ームを照射し、かつ、該照射された複数の光ビームを１
つの偏向手段により偏向すると共に、該偏向された複数
の光ビームにより感光体の１本の走査ラインを分割して
走査する。

【００３９】そして、調整手段は、走査ラインが１回走
査されることによって複数の光ビームの中の所定の光ビ
ームと該所定の光ビームに隣接する他の光ビームとによ
って走査される各々の走査ラインの間隔が所定値未満の
場合に、走査ラインが走査される際、所定の光ビーム及
び他の光ビームによって重複して走査される画像形成可
能領域が設けられると共に、該画像形成可能領域に入射
する所定の光ビーム及び他の光ビームの入射光量の１ド
ット分の合計が該画像形成可能領域以外の画像形成領域
領域に入射する所定の光ビーム又は他の光ビームの１ド
ット分の入射光量と略等しくなるように調整する。

【００４０】なお、調整手段は、上記のように調整する
のに、所定の光ビーム及び他の光ビームの発光強度又は
発光間隔を調整するようにしてもよい。

【００４１】ここで、所定値は、上記と同様、走査ライ
ンが複数回走査されることによって所定の光ビーム又は
他の光ビームによって走査される複数の走査ラインの隣
接する走査ラインの間隔である。

【００４２】このように、上記間隔が所定値未満の場合
に、重複して走査される画像形成可能領域を設けるの
で、所定の光ビームにより形成され画像形成可能領域と
他の光ビームにより形成される画像形成可能領域とが連
続し、かつ、該画像形成可能領域に入射する所定の光ビ
ーム及び他の光ビームの入射光量の１ドット分の合計が
該画像形成可能領域以外の画像形成領域領域に入射する
所定の光ビーム又は他の光ビームの１ドット分の入射光
量と略等しくなるように調整するので、重複して走査さ
れる画像形成可能領域と該画像形成可能領域以外の画像
形成領域領域との境目を認識されないようにすることが
できる。

【００４３】ここで、上記間隔は、次のように求めるこ
とができる。第１に、複数の光ビームにより走査ライン
を走査して、走査ライン方向及び該方向と直交する方向
に所定のパターンの画像を形成し、形成した画像を画像
読取手段（ＣＣＤセンサ）により読み取り、読み取った
画像に基づいて、上記間隔を求める。

【００４４】第２に、請求項６記載の発明のように、受
光手段により複数の光ビームによって感光体が１回走査
されることによって感光体の画像形成可能領域に最初に
入射する位置以前の予め定められた位置及び最後に入射
する位置以後の予め定められた位置を通過する光ビーム
を受光し、走査ラインが１回走査されることによる受光
手段の受光状態に基づいて、間隔を求める。

【００４５】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して詳細に説明する。

【００４６】本形態に係る光走査装置は、図１に示すよ
うに、レーザダイオード１２ａ、１２ｂを備えている。
なお、レーザダイオード１２ａから照射されたレーザビ
ームをレーザビームＡといい、レーザダイオード１２ｂ
から照射されたレーザビームをレーザビームＢというこ
とにする。

【００４７】レーザダイオード１２ａの光軸上には、レ
ーザダイオード１２ａに近いほうから順にコリメータレ
ンズ１４ａ、スリット１６ａ、シリンダレンズ１８ａ、
及び反射ミラー２０ａが配置され、レーザダイオード１
２ｂの光軸上には、レーザダイオード１２ｂに近いほう
から順に、コリメータレンズ１４ｂ、スリット１６ｂ、
シリンダレンズ１８ｂ、及び反射ミラー２０ｂが配置さ
れている。

【００４８】レーザダイオード１２ａ、１２ｂの各々の
光軸上には更に、反射ミラー２０ａ、反射ミラー２０ｂ
に近いほうから順に、ｆθレンズ２８（第１のレンズ２
６、第２のレンズ２４）、ポリゴンミラー２２が配置さ
れている。なお、ポリゴンミラー２２により反射（偏
向）されたレーザビームＡ、Ｂは再度、ｆθレンズ２８
（第２のレンズ２４、第１のレンズ２６）を透過する。
また、ポリゴンミラー２２の各偏向面の走査ライン方向
の長さは、該偏向面に入射する際のレーザビームＡ、Ｂ
の走査ライン方向のビーム径の長さより短くなっている
（所謂、オーバーフィルド系）。なお、以下、走査ライ
ン方向を主走査方向といい、走査ライン方向と直交する
方向を副走査方向という。

【００４９】レーザダイオード１２ａ、１２ｂの各々の
光軸上には更に、ｆθレンズ２８に近いほうから順に、
シリンダミラー３０及び感光体３６が配置されている。

【００５０】レーザビームＡによって感光体３６が走査
される際に感光体３６の画像領域に最初に入射する位置
以前の予め定められた位置には、ミラー３２ａが配置さ
れている。ミラー３２ａによって反射されたレーザービ
ームＡの光軸上には、検知手段としてのスタートオブス
キャン（以下、ＳＯＳという）センサ３４ａが配置され
ている。

【００５１】レーザビームＢによって感光体３６が走査
される際に感光体３６の画像領域に最後にレーザビーム
Ｂが入射する位置以後の予め定められた位置には、ミラ
ー３２ｂが配置されている。ミラー３２ｂによって反射
されたレーザービームＢの光軸上には、検知手段として
のエンドオブスキャン（以下、ＥＯＳという）センサ３
４ｂが配置されている。

【００５２】次に、本形態の光走査装置の制御系を説明
する。本制御系は、図２に示すように、図示しない複数
のＣＰＵにより構成され、光走査装置の稼働を制御す
る、調整手段としての制御回路１００を備えている。

【００５３】制御回路１００には、ＳＯＳセンサ３４
ａ、ＥＯＳセンサ３４ｂ、画像形成処理回路２００、及
び補正回路３００が接続されている。画像形成処理回路
２００には、レーザダイオード１２ａ、１２ｂ、及び補
正回路３００が接続されている。なお、補正回路３００
には、ＳＯＳセンサ３４ａが接続されている。

【００５４】次に、画像形成処理回路２００を説明す
る。画像形成処理回路２００は、図３に示すように、図
示しないプリンタインターフェースユニット（又はイメ
ージ入力装置）から送られてくるラスタ状の画像テータ
を加工する画像処理装置４２を備えている。

【００５５】画像処理装置４２には、制御回路１００内
に備えられ、かつ、画像処理クロック（ＰＣＬＫ）及び
画像処理走査開始信号（ＰＳＯＳ）を発振する図示しな
い発振器、及び記憶手段（第１の記憶手段）としてのイ
メージメモリ４４が接続されている。なお、イメージメ
モリ４４は、記憶容量が、数ライン分のメモリ（例え
ば、半導体で構成されている）や数百ページ分のディス
ク装置（磁気ディスクや光ディスク等）で構成してもよ
い。

【００５６】イメージメモリ４４には、上記発振器、制
御回路１００、補正回路３００、及び、記憶手段（第２
の記憶手段）としてのギャップメモリ４６ａ、４６ｂが
接続されている。

【００５７】ギャップメモリ４６ａには、制御回路１０
０、補正回路３００、及びスクリーンジェネレータ４８
ａが接続され、スクリーンジェネレータ４８ａには、レ
ーザーダイオードドライバ５０ａが接続されている。レ
ーザーダイオードドライバ５０ａには、制御回路１０
０、及びレーザダイオード１２ａが接続されている。

【００５８】ギャップメモリ４６ｂには、制御回路１０
０、補正回路３００、及びスクリーンジェネレータ４８
ｂが接続され、スクリーンジェネレータ４８ｂには、レ
ーザーダイオードドライバ５０ｂが接続されている。レ
ーザーダイオードドライバ５０ｂには、制御回路１０
０、及びレーザダイオード１２ｂが接続されている。

【００５９】ここで、イメージメモリ４４を説明する。
イメージメモリ４４には、図４に示すように、画像処理
クロック（ＰＣＬＫ）及び画像処理走査開始信号（ＰＳ
ＯＳ）によって１走査ライン単位で画像データ（ＰＤＡ
ＴＡ）の書き込みが行われる。また、イメージメモリ４
４は、制御回路１００からの制御信号ＡＢ₄₄によって画
像データが最初に読み出されるアドレス（本形態は２つ
のアドレス）及び読み出されるデータ数が指定される。
なお、このアドレス及びデータ数は、制御回路１００内
の図示しないレジスタに記憶されている。そして、複数
の読み出し画像クロック（ＶＣＬＫＡ，ＶＣＬＫＢ）及
び書き込みタイミング制御信号（ＤＥＬＡＹＡ，ＤＥＬ
ＡＹＢ）によって、上記指定されたアドレスを最初のア
ドレスとし、かつ、指定されたデータ数分、独立に画像
データ（ＤＡＴＡ−Ａ、ＤＡＴＡ−Ｂ）が読み出され
る。

【００６０】本形態では、１走査ラインの画像形成領域
内の画像データは６９５１としている。そして、制御信
号ＡＢ₄₄に従い、画像データＤＡＴＡ−Ａは、アドレス
１〜３４７５により定められる位置に記憶された合計３
４７５ドット分の画像データで構成され、画像データＤ
ＡＴＡ−Ｂは、アドレス３４７６〜６９５１により定め
られる位置に記憶された合計３４７６ドット分の画像デ
ータで構成されることになる。

【００６１】次に、ギャップメモリ４６ａ、４６ｂを説
明する。ギャップメモリ４６ａは、図５（１）に示すよ
うに、画像データＤＡＴＡ−Ａを、複数（本形態では６
つの）の走査ライン（〜参照）分記憶し、ギャップ
メモリ４６ｂは、図５（２）に示すように、画像データ
ＤＡＴＡ−Ｂを複数（本形態では５つ）の走査ライン
（〜参照）分記憶する。

【００６２】ギャップメモリ４６ａ、４６ｂからは、そ
れぞれ制御回路１００からの制御信号Ａ₄₆、Ｂ₄₆によっ
て、複数の走査ライン分記憶した画像データＤＡＴＡ−
Ａ、ＤＡＴＡ−Ｂの内、読み出される画像データＤＡＴ
Ａ−Ａ、ＤＡＴＡ−Ｂが選択される。

【００６３】次に、補正回路３００を説明する。補正回
路３００は、図６に示すように、発振手段としてのＰＬ
Ｌ（Phase-Locked-Loop ）シンセサイザ７５を備えてい
る。ＰＬＬシンセサイザ７５は、ＳＯＳセンサ３４ａに
接続された位相比較器７０を備えている。位相比較器７
０には、ローパスフィルタ（Ｌ．Ｐ．Ｆ）７２が接続さ
れ、ローパスフィルタ７２には、電圧制御発振回路
（Ｖ．Ｃ．Ｏ）７４が接続され、電圧制御発振回路７４
には、分周器７６が接続され、分周器７６には、位相比
較器７０が接続されている。

【００６４】ＰＬＬシンセサイザ７５の電圧制御発振回
路７４と分周器７６との間には、遅延コントローラ７８
ａ、７８ｂ、及び１／８カウンタ８０ａ、８０ｂが接続
されている。

【００６５】遅延コントローラ７８ａには、ＳＯＳセン
サ３４ａ、１／８カウンタ８０ａ、画像形成処理回路２
００、及び制御回路１００が接続され、遅延コントロー
ラ７８ｂには、ＳＯＳセンサ３４ａ、１／８カウンタ８
０ｂ、画像形成処理回路２００、及び制御回路１００が
接続されている。

【００６６】次に、ＳＯＳセンサ３４ａ、ＥＯＳセンサ
３４ｂを説明するが、各々同一の構成となっているの
で、以下、ＳＯＳセンサ３４ａのみを説明する。

【００６７】ＳＯＳセンサ３４ａは、図７に示すよう
に、レーザビームＡの走査ラインと直交する副走査方向
に複数（本形態では、２つ）配置され、かつ、ＳＯＳセ
ンサ３４ａに入射するレーザビームＡを受光する２つ
の、受光手段としての受光素子（フォトダイオード）８
２Ｎ₁、８２Ｎ₂により構成されている。なお、受光素
子８２Ｎ₁、８２Ｎ₂は、レーザビームを受光すると、
受光量に比例した強度の信号を出力する。

【００６８】次に、制御回路１００を説明する。制御回
路１００は、前述したように、光走査装置の稼働を制御
する複数のＣＰＵ、レジスタ、及び発振器等を含んで構
成されている。制御回路１００には、更に、図８に示す
ように、ＳＯＳセンサ３４ａを構成する受光素子８２Ｎ
₁、８２Ｎ₂に接続され、かつ、受光素子８２Ｎ₁、８
２Ｎ₂から出力された信号を増幅する増幅器８４Ｎ₁、
８４Ｎ₂を備えている。増幅器８４Ｎ₁、８４Ｎ₂に
は、減算器８８が接続され、減算器８８には、レジスタ
８６に接続された減算器９０が接続されている。なお、
制御回路１００には、図示しないが、ＳＯＳセンサ３４
ａを構成する受光素子８２Ｎ₁、８２Ｎ₂に対応して備
えられた上記素子と同様な素子を、ＥＯＳセンサ３４ｂ
を構成する受光素子に対応して備えている。

【００６９】次に、本形態の光走査装置の作用を説明す
る。レーザダイオード１２ａより発せられたレーザービ
ームＡは画像データＤＡＴＡ−Ａに従って明滅し、コリ
メータレンズ１４ａ、スリット１６ａ、シリンダレンズ
１８ａを通過した後、反射ミラー２０ａで反射し、ｆθ
レンズ２８（第１のレンズ２６、第２のレンズ２４の
順）を通過して、ポリゴンミラー２２に入射する。ポリ
ゴンミラー２２は回転することによりレーザービームＡ
を偏向し、レーザービームＡはｆθレンズ２８（第２の
レンズ２４、第１のレンズ２６の順）を再度通過し、シ
リンダミラー３０にて反射され、感光体３６の画像領域
の前半部分Ｒ_aを走査する。画像領域走査前のレーザー
ビームＡがミラー３２ａで反射して、ＳＯＳセンサ３４
ａに入射する。これにより、ＳＯＳセンサ３４ａは主走
査方向の書きだしタイミングの起点となるＳＯＳ信号を
発生する。

【００７０】同様にレーザダイオード１２ｂより発せら
れたレーザービームＢは画像データＤＡＴＡ−Ｂに従っ
て明滅し、コリメータレンズ１４ｂ、スリット１６ｂ、
シリンダレンズ１８ｂを通過した後、反射ミラー２０ｂ
で反射し、ｆθレンズ２８（第１のレンズ２６、第２の
レンズ２４の順）を通過して、ポリゴンミラー２２に入
射する。ポリゴンミラー２２は回転することによりレー
ザービームＢを偏向し、レーザービームＢはｆθレンズ
２８（第２のレンズ２４、第１のレンズ２６の順）を再
度通過し、シリンダミラー３０にて反射され、感光体３
６の画像領域の後半部分Ｒ_bを走査する。画像領域走査
後のレーザービームＢがミラー３２ｂで反射して、ＥＯ
Ｓセンサ３４ｂに入射する。ＥＯＳセンサ３４ｂは主走
査方向の書き終わりタイミングを規定するＥＯＳ信号を
発生する。

【００７１】次に、前述したように、画像データに従っ
てレーザビームＡ、Ｂを明滅する際の画像形成処理回路
２００の作用を説明する。

【００７２】前述したプリンタインターフェースユニッ
ト（又はイメージ入力装置）から送られてくるラスタ状
の画像テータは画像処理装置４２で加工され、画像処理
装置４２は、発振器からの画像処理走査開始信号（ＰＳ
ＯＳ）に従って１走査ライン単位で、かつ、画像処理ク
ロック（ＰＣＬＫ）に従って１ドット毎に画像データを
イメージメモリ４４に出力すると共に、イメージメモリ
４４は、この画像処理走査開始信号（ＰＳＯＳ）に従っ
て１走査ライン単位で、かつ、画像処理クロック（ＰＣ
ＬＫ）に従って１ドット毎に画像データを記憶する。

【００７３】イメージメモリ４４は、制御回路１００か
らの制御信号ＡＢ₄₄によって画像データＤＡＴＡ−Ａ、
ＤＡＴＡ−Ｂを読み出すアドレス及びデータ数が指定さ
れる。また、イメージメモリ４４からは、複数の読み出
し画像クロック（ＶＣＬＫＡ，ＶＣＬＫＢ）及び書き込
みタイミング制御信号（ＤＥＬＡＹＡ，ＤＥＬＡＹＢ）
によって、指定されたアドレスから独立に画像データ
（ＤＡＴＡ−Ａ、ＤＡＴＡ−Ｂ）が読み出される。ま
た、この複数の読み出し画像クロック（ＶＣＬＫＡ，Ｖ
ＣＬＫＢ）及び書き込みタイミング制御信号（ＤＥＬＡ
ＹＡ，ＤＥＬＡＹＢ）によって、上記読み出された画像
データＤＡＴＡ−Ａがギャップメモリ４６ａに書き込ま
れると共に、上記読み出された画像データＤＡＴＡ−Ｂ
がギャップメモリ４６ｂに書き込まれる。

【００７４】画像データＤＡＴＡ−Ａの書き込みに伴っ
てギャップメモリ４６ａからは、既に書き込まれた画像
データＤＡＴＡ−Ａをスクリーンジェネレータ４８ａに
出力すると共に、同様に、画像データＤＡＴＡ−Ｂの書
き込みに伴ってギャップメモリ４６ｂからは、既に書き
込まれた画像データＤＡＴＡ−Ｂをスクリーンジェネレ
ータ４８ｂに出力する。

【００７５】スクリーンジェネレータ４８ａ、４８ｂ
は、入力した画像データ（ＤＡＴＡ−Ａ、ＤＡＴＡ−
Ｂ）を２値化し、２値化された画像データ（ＤＡＴＡ−
Ａ、ＤＡＴＡ−Ｂ）は、レーザーダイオードドライバ５
０ａ、５０ｂにより電流のスイッチングに変換され、そ
れに応じてレーザダイオード１２ａ、１２ｂが明滅す
る。

【００７６】次に、前述したように、画像データに従っ
てレーザビームＡ、Ｂを明滅する際の補正回路３００の
作用を説明する。

【００７７】画像領域走査前のレーザービームＡがミラ
ー３２ａで反射して、ＳＯＳセンサ３４ａに入射する
と、ＳＯＳセンサ３４ａから、ＳＯＳ信号が出力され、
ＰＬＬシンセサイザ７５、及び遅延コントローラ７８
ａ、７８ｂに入力される。

【００７８】ＰＬＬシンセサイザ７５は、図９（１）、
図９（２）に示すように、入力したＳＯＳ信号と位相が
同期した発振クロックＣＬＫ０を発振する。

【００７９】発振クロックＣＬＫ０は、遅延コントロー
ラ７８ａ、７８ｂ、及び１／８カウンタ８０ａ、８０ｂ
に入力される。

【００８０】遅延コントローラ７８ａ、７８ｂは、図９
（１）、図９（３）、図９（５）に示すように、ＳＯＳ
信号の入力に同期して書き込みタイミング制御信号（Ｄ
ＥＬＡＹＡ，ＤＥＬＡＹＢ）をリセットする（立ち上げ
る）。遅延コントローラ７８ａ、７８ｂは、書き込みタ
イミング制御信号（ＤＥＬＡＹＡ，ＤＥＬＡＹＢ）をリ
セットしたときから発振クロックＣＬＫ０の入力回数の
カウントを開始する。そして、ＳＯＳ信号を入力したと
きから、感光体３６の画像領域の最初のドットにレーザ
ビームＡが入射するまでの時間に、後述する遅延量制御
信号Ａ、Ｂにより定まる時間が加算された時間に相当す
る数だけ発振クロックＣＬＫ０をカウントしたとき、書
き込みタイミング制御信号（ＤＥＬＡＹＡ，ＤＥＬＡＹ
Ｂ）のリセットを解除する（立ち下げる）。

【００８１】１／８カウンタ８０ａ、８０ｂは、書き込
みタイミング制御信号（ＤＥＬＡＹＡ，ＤＥＬＡＹＢ）
のリセットが解除された後、１／８分周した画像クロッ
ク（ＶＣＬＫＡ、ＶＣＬＫＢ）を発生させる。即ち、１
／８カウンタ８０ａ、８０ｂは、図９（２）、図９
（４）、図９（６）に示すように、発振クロックＣＬＫ
０の入力を８回カウントする毎に、画像クロック（ＶＣ
ＬＫＡ、ＶＣＬＫＢ）の立ち上がり及び立ち下がりを交
互に繰り返す。

【００８２】このようにＳＯＳ信号を入力する毎に、遅
延コントローラ７８ａ、７８ｂにより書き込みタイミン
グ制御信号（ＤＥＬＡＹＡ，ＤＥＬＡＹＢ）がリセット
されることにより、イメージメモリ４４、ギャップメモ
リ４６ａ、４６ｂに対して、走査ラインの切替えが指示
されると共に、書き込みタイミング制御信号（ＤＥＬＡ
ＹＡ，ＤＥＬＡＹＢ）のリセットが解除された後の１／
８カウンタ８０ａ、８０ｂからの画像クロック（ＶＣＬ
ＫＡ、ＶＣＬＫＢ）に基づいて、画像データＤＡＴＡ−
Ａ、ＤＡＴＡ−Ｂの１ドット毎の書き込み及び読み出し
が行われる。これにより、画像データＤＡＴＡ−Ａ、Ｄ
ＡＴＡ−Ｂが１ドット毎にスクリーンジェネレータ４８
ａ、４８ｂに出力され、レーザーダイオードドライバ５
０ａ、５０ｂにより、レーザダイオード１２ａ、１２ｂ
が１ドット毎に明滅する。

【００８３】ところで、本形態では、感光体３６を走査
する際、更に、次のように光ビームの照射タイミングを
調整している。

【００８４】即ち、前述したように、光走査装置はレー
ザビームＡ、Ｂにより主走査方向の１走査ラインを分割
して走査するので、レーザービームＡにより形成される
第１の画像とレーザービームＢにより形成される第２の
画像とにより、最終的な画像が形成される。光走査装置
の組立直後のイニシャル状態（正常状態）では、第１の
画像及び第２の画像の各々のドットは、主走査方向及び
複数走査方向に渡って、連続する。

【００８５】しかしながら、次に説明する要因により、
第１の画像と第２の画像とのつなぎ目に不連続が生じる
ことがある。

【００８６】第１の要因は複数のポリゴンミラーを備え
た場合、これら複数のポリゴンミラーを回転させるため
の複数のモータ（ポリゴンモータ）の分割角度誤差によ
る画像書き出し位置の変動である。即ち、複数のレーザ
ービームを異なる複数のポリゴンミラーの偏向面に入射
させた場合、各偏向面の各々の回転軸に対する角度が各
ポリゴンミラー間でばらつくと、各ポリゴンミラーによ
って反射される複数のレーザービームの相対的な角度変
動が発生し、上記つなぎ目におけるドット位置の変動が
発生する。

【００８７】本形態ではレーザビームＡ、Ｂを１つのポ
リゴンミラー２２の同一の偏向面に入射させることによ
り、上記つなぎ目におけるドット位置の変動を防止して
いる。

【００８８】第２の要因はポリゴンミラー２２の１偏向
面内におけるレーザビームの感光体３６上の走査速度の
変動による画像書き出し位置の変動である。即ち、レー
ザビームの走査方向のビーム径が、ポリゴンミラー２２
の１偏向面の走査方向の長さより小さい、所謂、アンダ
ーフィルド系の場合、レーザービームはポリゴンミラー
の１偏向面の一部に当たるようになっており、走査角度
の変化に伴いポリゴンミラーに当たる位置も移動する。
このとき偏向面のゆがみ等により、局所的な走査速度変
動が発生しかつポリゴンミラー２２の各偏向面間で差が
あるために画像のつなぎ目におけるドット位置の変動が
発生する。

【００８９】本形態では、オーバーフィルド型の光走査
装置となっており、常にポリゴンミラーの一面すべてを
使用して走査しているため、ポリゴンミラーの１偏向面
のゆがみ等による走査速度変動の発生を防止している。
このため画像のつなぎ目におけるドット位置の変動は発
生しない。

【００９０】第３の要因はポリゴンミラー２２の回転速
度のむらである。即ち、オーバーフィルド系で、かつ、
レーザビームＡ、Ｂを１つのポリゴンミラー２２の同一
の偏向面に入射させ、一定周期でレーザービームを明滅
しても、ポリゴンミラー２２に回転速度のむらが発生す
ると、例えば、図１０（１）に示すように、ポリゴンミ
ラー２２の回転速度が速い場合（符号Ｖ_fで示した走査
ライン参照）の主走査方向のドット間隔は、ポリゴンミ
ラー２２に回転速度が遅い場合（符号Ｖ_dで示した走査
ライン参照）の主走査方向のドット間隔より、短くな
る。

【００９１】この一方、感光体３６の画像領域の最初の
ドットにレーザビームＡ、Ｂを入射させるタイミング
は、前述したように、ＳＯＳ信号の入力により定まるよ
って、第１の画像の最後のドット位置（矢印Ｅａ）が第
２の画像の最初のドット位置（矢印Ｓｂ）に対して、副
走査方向に渡って揺らぎ、画質が著しく低下する。

【００９２】本形態では、次のように調整している。即
ち、感光体３６上の各主走査ライン上のドット数（画素
数）は一定であるので、ＳＯＳ信号の発生から次のＳＯ
Ｓ信号の発生までのドット数は一定である。これを利用
して、ＰＬＬシンセサイザ７５によって、ＳＯＳ信号の
位相と同期し、かつ、ＳＯＳ信号が入力された時から再
度ＳＯＳ信号が入力されるまでの間、一定数の発振クロ
ックＣＬＫ０を発振し、発振された発振クロックＣＬＫ
０に基づいて、レーザビームＡ、Ｂを照射するようにし
ている。即ち、ポリゴンミラー２２の回転速度のむらが
生じて、レーザビームＡ、Ｂにより感光体３６を走査す
る時間が変動しても、ＳＯＳ信号が入力される各々の間
に渡って常に等間隔でかつ一定数の発振クロックＣＬＫ
０を発振すると、副の走査ラインの各々における発振ク
ロックＣＬＫ０各々に対応するレーザビームの感光体３
６上の入射位置は一致する。よって、副走査方向に渡っ
て上記揺らぎが発生せず、画質を維持することができ
る。

【００９３】ここで、本形態では、発振クロックＣＬＫ
０を次のようにして発振させている。即ち、ＳＯＳ信号
の発生から次のＳＯＳ信号の発生までのドット数が８２
２０ドットであり、ＳＯＳ信号の周期の８倍の発振クロ
ック（ＣＬＫＯ）を得ることとすると、電圧制御発振回
路（Ｖ．Ｃ．Ｏ）７４からの発振周波数を分周器７６
で、１／６５７６０＝１／（８×８２２０）にし、位相
比較器７０で、ＳＯＳ信号と、この発振クロック（ＣＬ
ＫＯ）との位相とを比較して、調整する。

【００９４】例えば、ポリゴンミラー２２に回転速度が
速くなった場合には、図１１（１）、図１１（２）に示
すように、ＳＯＳ信号の発生から次のＳＯＳ信号の発生
までの時間が短くなると共に、ＳＯＳ信号の立ち上がり
から立ち下がりまでの時間が短くなる。これにより、Ｓ
ＯＳ信号より、発振クロック（ＣＬＫＯ）の位相が遅れ
た場合には、位相比較器７０からは遅れ量に比例した信
号（電圧）が、ローパスフィルタ７２を介して、電圧制
御発振回路（Ｖ．Ｃ．Ｏ）７４に入力（印加）される。
これにより、電圧制御発振回路（Ｖ．Ｃ．Ｏ）７４から
は、印加された電圧に比例した周波数のクロックが発振
され、これにより、ＳＯＳ信号と発振クロック（ＣＬＫ
Ｏ）との位相が一致する。また、分周器７６で、１／６
５７６０＝１／（８×８２２０）にしているので、ＳＯ
Ｓ信号が入力されてから次にＳＯＳセンサが入力されま
での間に一定数の発振クロックＣＬＫ０を発振すること
ができる。

【００９５】なお、ＳＯＳ信号に代えて、ＥＯＳ信号に
基づいて上記のように発振クロックＣＬＫ０を発振する
ようにしてもよい。即ち、ＥＯＳ信号入力されてから次
にＳＯＳ信号が入力されまでの間に一定数の発振クロッ
クＣＬＫ０を発振するようにしてもよい。また、ＳＯＳ
信号及びＥＯＳ信号に基づいて上記のように発振クロッ
クＣＬＫ０を発振するようにしてもよい。即ち、ＳＯＳ
信号入力されてから次のＳＯＳ信号が入力されまでにＥ
ＯＳ信号が入力されるまでの間に一定数の発振クロック
ＣＬＫ０を発振するようにしてもよい。

【００９６】第４の要因は温度変化や衝撃によるレーザ
ビームの位置ずれである。

【００９７】例えば、光学部品の位置ずれ等により、画
像のつなぎ目で、主走査方向及び副走査方向のドット間
隔が広がったり狭まったりすることがあり、画質が著し
く低下する。

【００９８】即ち、レーザビームＡ及びレーザビームＢ
によって走査ラインが１回走査されて形成される一方の
画像形成可能領域の先端ドットと他方の画像形成可能領
域の後端ドットとの主走査方向の最短距離が１．０ドッ
トより大きくなったり、走査ラインが１回走査されるこ
とによってレーザビームＡ、Ｂによって走査される各々
の走査ラインの間隔がずれたりする。

【００９９】更に詳細に説明すると、例えば、図１２
（１）に示すように、レーザービームＡが１つの主走査
ラインを最後に入射するドット（後端ドット）Ｄａｅと
レーザビームＢが１つの走査ラインを最初に入射するド
ット（先端ドット）Ｄｂｓとが、主走査方向に１．５ド
ット、副走査方向に１．０ドットずれる。即ち、ドット
Ｄｂｓ位置が、イニシャル状態の場合のドット（Ｄｂ
ｓ）位置より主走査方向に０．５ドット、副走査方向に
１．０ドットずれる。なお、ドットＤｂｓ位置が、イニ
シャル状態の場合のドット（Ｄｂｓ）位置より、主走査
方向のみ又は副走査方向のみにずれる場合もある。

【０１００】まず、主走査方向の位置ずれを補正する調
整方法を、図１３に示した制御ルーチンを参照して説明
する。

【０１０１】本ルーチンは、立ち上がった状態のＳＯＳ
信号が立ち下がった時、スタートし、一旦立ち上がった
ＥＯＳ信号が立ち下がるまで、発振クロックＣＬＫ０を
カウントする（ステップ１０２、ステップ１０４）。な
お、ステップ１０２、ステップ１０４が本発明の計数手
段に対応する。

【０１０２】次のステップ１０６で、イニシャル値Ｃ０
からカウント値Ｃを減算して、減算値ΔＣを求める。

【０１０３】なお、イニシャル値Ｃ０は、図１４
（１）、図１４（２）に示すように、イニシャル状態で
のＳＯＳ信号の立ち下がり（ａ）からＥＯＳ信号の立ち
下がり（ｂ）までの発振クロックＣＬＫＯのカウント値
である。ここで、ドットＤｂｓ位置がイニシャル状態の
場合のドット（Ｄｂｓ）位置からｎドット（例えば、１
２ＣＬＫ０分）に相当する距離、主走査方向にずれてい
る場合、ＳＯＳ信号の立ち下がり時からＥＯＳ信号の立
ち下がり時までの時間がｎドット分短くなる。即ち、Ｅ
ＯＳ信号の立ち下がり時が図１４（６）に示すように、
１２ＣＬＫ０分短くなる（ｂ′参照）。このときの、Ｓ
ＯＳ信号の立ち下がり時からＥＯＳ信号の立ち下がり時
までの時間に相当する発振クロックＣＬＫ０のカウント
値がステップ１０２でカウントされたカウント値Ｃであ
る。よって、イニシャル値Ｃ０からカウント値Ｃを減算
すれば、減算値ΔＣは、上記主走査方向のずれ量に対応
する発振クロックＣＬＫ０数である。

【０１０４】次のステップ１０８で、減算値ΔＣに基づ
いて遅延量制御信号を決定して、遅延コントローラ７８
ａ及び遅延コントローラ７８ｂの少なくとも一方に出力
する。即ち、本形態では、上記ずれ量を遅延制御信号Ｂ
にフィードバックして、遅延コントローラ７８ｂに出力
する。これにより、図１４（７）に示すように、１／８
カウンタ８０ｂで、ＶＣＬＫＢを立ち上げるタイミング
を、発振クロックＣＬＫＯの１２クロック分早めること
ができる。このように、主走査方向のずれ量に対応する
発振クロックＣＬＫ０数に相当する分、ＶＣＬＫＢを立
ち上げるタイミングを早めることにより、ドット（Ｄｂ
ｓ）位置から０．５ずれていたドットＤｂｓ位置（図１
２（１）参照）を、図１２（３）に示すように、ドット
（Ｄｂｓ）位置に主走査方向において一致させる、即
ち、主走査方向のドット位置ずれを精度良く補正するこ
とが可能になる。

【０１０５】なお、ＶＣＬＫＡを立ち上げるタイミング
を、発振クロックＣＬＫＯの１２クロック分遅らせても
よく、また、ＶＣＬＫＢを立ち上げるタイミングをｍ
（例えば、５）クロック分早めると共に、ＶＣＬＫＡを
立ち上げるタイミングを、１２−ｍ（＝７）クロック分
遅らせてもよい。

【０１０６】次に、副走査方向のレーザビームの位置ず
れを補正する調整方法を、図１５に示した制御ルーチン
を参照して説明する。なお、この調整方法は、ドットＤ
ｂｓ位置のイニシャル状態の場合のドット（Ｄｂｓ）位
置からの副走査方向のずれ量が１ドット以上の場合と１
ドットより小さい場合とに分けられる。

【０１０７】ステップ１２２で、一方のレーザビーム
（Ａ）による走査ラインの副走査位置を取込み、ステッ
プ１２４で、他方のレーザビーム（Ｂ）による走査ライ
ンの副走査位置を取込む。副走査位置の取込みは、次の
ように行う。

【０１０８】即ち、前述したように、ＳＯＳセンサ３４
ａは、レーザビームＡの走査ラインと直交する副走査方
向に配置され、かつ、ＳＯＳセンサ３４ａに入射するレ
ーザビームＡを受光する２つの受光素子（フォトダイオ
ード）８２Ｎ₁、８２Ｎ₂により構成されている。な
お、ＥＯＳセンサ３４ｂも同様に２つの受光素子（フォ
トダイオード）により構成されている。

【０１０９】レーザビームＡ、Ｂによる走査ラインが、
イニシャル状態よりも、副走査方向又は副走査方向と逆
方向へ移動すると、受光素子８２Ｎ₁、８２Ｎ₂の一方
の受光量が大きくなり、他方の受光量が小さくなる。即
ち、走査ラインがイニシャル状態（図７（１）参照）よ
りも副走査方向と逆方向に移動すると、図７（２）に示
すように、受光素子８２Ｎ₁の受光量が大きくなり、受
光素子８２Ｎ₂が小さくなる。一方、走査ラインがイニ
シャル状態よりも副走査方向に移動すると、図７（３）
に示すように、受光素子８２Ｎ₁の受光量が小さくな
り、受光素子８２Ｎ₂が大きくなる。

【０１１０】なお、受光素子８２Ｎ₁、８２Ｎ₂は受光
量に比例した大きさの信号を出力するので、受光素子８
２Ｎ₁、８２Ｎ₂から出力された信号に基づいて、レー
ザビームＡの走査ラインの移動方向及び移動量を認識す
ることができる。なお、レーザビームＢの走査ラインの
移動方向及び移動量も同様に認識することができる。即
ち、図８に示すように、受光素子８２Ｎ₁、８２Ｎ₂か
らの出力（ｐｄ１、ｐｄ２）は、増幅器８４Ｎ₁、８４
Ｎ₂により増幅され、増幅された出力（αｐｄ１、βｐ
ｄ２）は、減算器８８により減算される。減算値（αｐ
ｄ１−βｐｄ２）は、減算器９０にて、レジスタ８６に
予め記憶されたイニシャル状態での受光素子８２Ｎ₁、
８２Ｎ₂からの出力（増幅されている）の差ｓ０と比較
され、副走査位置を示す信号（αｐｄ１−βｐｄ２±ｓ
０）が出力される。なお、レーザビームＢの走査ライン
の副走査位置を示す信号も同様に出力される。

【０１１１】次のステップ１２６で、このようにして取
り込まれた一方のレーザビームＡによる走査ラインと他
方のレーザビームＢによる走査ラインとのずれ量ΔＳを
演算する。

【０１１２】ステップ１２８で、ずれ量ΔＳが１ドット
以上か否かを判断する。即ち、一方のレーザビームＡに
よる走査ラインが、他方のレーザビームＢによる走査ラ
インに対して、副走査方向と逆方向に１ドット以上の位
置に位置するか否かを判断す。図１２（２）に示すよう
にずれ量ΔＳが１ドット以上の場合には、ズレ量ΔＳの
整数部分ｎ１を算出し、ステップ１３２で、ギャップメ
モリ４６ａ、４６ｂに、ギャップメモリ４６ｂから読み
出す画像データの走査ラインのアドレスを、ギャップメ
モリ４６ａから読み出す画像データの走査ラインのアド
レスより、ｎ１だけ進める制御信号Ａ₄₆、Ｂ₄₆を出力し
て、ステップ１４０に進む。これにより、ずれ量ΔＳが
１ドット未満に補正される。

【０１１３】即ち、例えば、レーザビームＡによる走査
ラインが、レーザビームＢによる走査ラインに対して、
副走査方向と逆方向に１ドットの位置に位置すると判断
された場合には、図５（１）に示すように、ギャップメ
モリ４６ａから、走査ラインのアドレスがの画像デー
タが読み出される際、図５（２）に示すように、ギャッ
プメモリ４６ｂから、走査ラインのアドレスがの画像
データが読み出されるように制御する制御信号Ａ₄₆、Ｂ
₄₆を出力する。

【０１１４】一方、ずれ量ΔＳが１ドット以上でないと
判断された場合、ステップ１３４で、ずれ量ΔＳが−１
ドット以下か否かを判断する。即ち、一方のレーザビー
ムＡによる走査ラインが、他方のレーザビームＢによる
走査ラインに対して、副走査方向に１ドット以上の位置
に位置するか否かを判断する。ずれ量ΔＳが−１ドット
以下の場合には、ステップ１３６で、ズレ量ΔＳの整数
部分ｎ２を算出し、ステップ１３８で、ギャップメモリ
４６ａ、４６ｂに、ギャップメモリ４６ｂから読み出す
画像データの走査ラインのアドレスを、ギャップメモリ
４６ａから読み出す画像データの走査ラインのアドレス
より、ｎ２だけ遅らせる制御信号Ａ₄₆、Ｂ₄₆を出力し
て、ステップ１４０に進む。これにより、ずれ量ΔＳ
（絶対値）が１ドット未満に補正される。

【０１１５】更に、ずれ量ΔＳが１ドット以上でなく、
ずれ量ΔＳが−１ドット以下でもない場合（１＞ずれ量
ΔＳ＞−１）、即ち、ずれ量ΔＳが微細な場合には、そ
のままステップ１４０に進む。

【０１１６】ここで、以上により、ステップ１４０に進
む場合としては、ステップ１２８〜ステップ１３２、ス
テップ１３４〜ステップ１３８の処理により、上記のよ
うにずれ量ΔＳが１ドット未満に補正される場合と、も
ともとずれ量ΔＳが１ドット以上でなく、ずれ量ΔＳが
−１ドット以下でもない場合（１＞ずれ量ΔＳ＞−１）
と、がある。本ステップ１４０では、最初に読み出すア
ドレス及び読み出すデータ数を調整して所定数のドット
が重なって読みだされるように制御する制御信号ＡＢ₄₄
をイメージメモリ４４に出力し、ステップ１４２で、図
１６に示すようにレーザービームＡとレーザービームＢ
の画像領域が所定数のドット分重なるようにレーザビー
ムＡ、Ｂの照射タイミングを制御する遅延量制御信号
Ａ、Ｂを、遅延コントローラ７８ａ、７８ｂに出力す
る。

【０１１７】なお、ステップ１２８〜ステップ１３２、
ステップ１３４〜ステップ１３８の処理によりずれ量Δ
Ｓが０となった場合や、もともとずれ量ΔＳが０の場合
もあるが、この場合は、ステップ１４０、ステップ１４
２の処理を実行せずに、本ルーチンを終了するようにし
てもよい。

【０１１８】なお、重なり部分に入射するレーザビーム
Ａ、Ｂの入射光量の１ドット分の合計が該重なり部分以
外の画像形成可能領域に入射するレーザビームＡ、Ｂの
１ドット分の入射光量と略等しくなる制御信号Ａ₅₀、Ｂ
₅₀をレーザーダイオードドライバ５０ａ、５０ｂに出力
する。

【０１１９】ここで、ずれ量ΔＳが微細な場合に、レー
ザービームＡとレーザービームＢの画像領域が所定数の
ドット分重なるようにレーザビームＡ、Ｂの照射タイミ
ングを制御すると共に、重なり部分のレーザビームＡ、
Ｂによって形成される各ドットへの総入射光量の各々
が、重なり部分以外の画像領域を走査する際のレーザビ
ームＡ又はレーザビームＢによって形成される各ドット
への入射光量の各々と略等しくなるように制御するのは
次の通りである。

【０１２０】即ち、図１６（１）に示すように、上記の
ように重なりを設けないと、ずれ量ΔＳが微細（１／２
ドット）の場合でも、若干の不連続性が認識される。

【０１２１】一方、図１６（２）に示すように、重なり
の部分を設けていても、ずれ量ΔＳが１．５ドットある
ために、レーザービームＡによって形成される画像とレ
ーザービームＢによって形成され画像が不連続となって
いる。

【０１２２】一方、ずれ量ΔＳが微細な場合に、レーザ
ービームＡとレーザービームＢの画像領域が所定数のド
ット分重なるようにレーザビームＡ、Ｂの照射タイミン
グを制御すると共に、重なり部分のレーザビームＡ、Ｂ
によって形成される各ドットへの総入射光量の各々が、
重なり部分以外の画像領域を走査する際のレーザビーム
Ａ又はレーザビームＢによって形成される各ドットへの
入射光量の各々と略等しくなるように制御した場合の画
像は、図１６（３）に示すように、連続したラインとし
て、認識される。

【０１２３】なお、重なり部分のレーザビームＡ、Ｂに
よって形成される各ドットへの総入射光量の各々が、重
なり部分以外の画像領域を走査する際のレーザビームＡ
又はレーザビームＢによって形成される各ドットへの入
射光量の各々と略等しくなるようにするには、図１６
（４）に示すように、上記重なり部分において、レーザ
ービームＡの発光強度を漸減させると共に、レーザービ
ームＢの発光強度を漸増させたり、図１６（５）に示す
ように、重なり部分においてレーザービームＡのパルス
幅を漸減させると共に、レーザービームＢのパルス幅を
漸増させるようにしてもよい。

【０１２４】以上説明した実施の形態では、複数のレー
ザビームによって走査されて形成される画像のつなぎめ
のドット位置の主走査方向のずれ量を、ＳＯＳ信号の立
ち下がり時からＥＯＳ信号の立ち下がり時までに発振さ
れた発振クロックをカウントすることにより検出した
り、複数のレーザビームによって走査されて形成される
画像のつなぎめのドット位置の副走査方向のずれ量を、
上記複数の受光素子からの出力に基づいて検出したりし
ているが、本発明はこれに限定されるものでなく、感光
体上あるいは転写ベルト上に上記光走査装置により形成
されたレジスト検出マークをレジスト検出センサー（例
えば、ＣＣＤカメラ等）にて読み取ってもよいし、プリ
ントアウトされた画像を目視にて検出してもよい。

【０１２５】図１７に示すように、例えば、転写ベルト
６２上に形成された画像中央部において、レーザビーム
Ａ、Ｂを交互に走査することにより、主走査方向及び副
走査方向の各々に直線画像を複数形成することにより、
レジスト検出マークを形成し、レジスト検出センサーに
よりレジスト検出マークを読み取って、主走査方向の直
線画像により主走査方向のずれ量を検出し、副走査方向
の直線画像により副走査方向のずれ量を検出する。

【０１２６】なお、レジスト検出センサ６０を適用した
光走査装置の例は、例えば、図１８に示すようになる。
なお、この例は、即ち、Ｋ，Ｙ，Ｍ、Ｃの４色分の光走
査装置、感光体、及び現像器によって形成された画像を
転写ベルト６２上に重ねて転写するタンデム方式であ
り、各色の画像位置ずれを検出するためのレジスト検出
センサーにより各色の相対的な色ずれ量を検出して光走
査装置にフィードバックすることにより色ずれの補正も
行う。

【０１２７】なお、前述した実施の形態では、ポリゴン
ミラーを用いた例を説明したが、本発明はこれに限定さ
れるものでなく、ガルバノメータメラー等を用いるよう
にしてもよい。

【０１２８】また、前述した実施の形態では、レーザダ
イオードを用いた例を説明したが、本発明はこれに限定
されるものでなく、ＬＥＤ等を用いるようにしてもよ
い。

【０１２９】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、複数の光
ビームにより形成される画像の各々に不連続なつなぎ目
が発生することを防止することができるので、該画像の
各々により構成される全体の画像の画質を向上させるこ
とができる、という効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施の形態の光走査装置の構成を示す図であ
る。

【図２】本実施の形態の制御系を示すブロック図であ
る。

【図３】画像形成処理回路を示す図である。

【図４】イメージメモリを示す図である。

【図５】ギャップメモリを示す図である。

【図６】補正回路を示す図である。

【図７】ＳＯＳセンサの構成を示す図である。

【図８】走査ラインの副走査位置を求めるためのブロッ
ク図である。

【図９】主走査方向のつなぎ目のタイミングチャートで
ある。

【図１０】つなぎ目の変動の模式図である。

【図１１】ＰＬＬシンセサイザから、ＳＯＳ信号を入力
する毎に調整して発振される発振クロックのタイミング
チャートである。

【図１２】主走査方向及び副走査方向のずれ補正を説明
する図である。

【図１３】主走査方向のずれを補正する制御ルーチンを
示すフローチャートである。

【図１４】主走査方向のつなぎ目補正のタイミングチャ
ートである。

【図１５】副走査方向のビーム位置ずれを補正する制御
ルーチンを示すフローチャートである。

【図１６】露光領域に重なりを設けた場合の補正図であ
る。

【図１７】レジスト検出マークが形成された転写ベルト
の図である。

【図１８】本実施の形態の変形例に係る光走査装置を複
数配置した図である。

【符号の説明】

３４ａＳＯＳセンサ（検知手段）３４ｂＥＯＳセンサ（検知手段）７５ＰＬＬシンセサイザ（発振手段）１００制御回路（調整手段）４４イメージメモリ（記憶手段）４６ａギャップメモリ（記憶手段）４６ｂギャップメモリ（記憶手段）８２Ｎ₁、８２Ｎ₂ 受光素子（受光手段）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数の光ビームを照射し、かつ、該照射
された複数の光ビームを１つの偏向手段により偏向する
と共に、該偏向された複数の光ビームにより感光体の１
本の走査ラインを分割して走査する光走査装置であっ
て、前記走査ラインが走査される際に前記感光体の画像形成
可能領域に最初に入射する位置以前の予め定められた位
置及び最後に入射する位置以後の予め定められた位置の
少なくとも一方を通過する光ビームを検知する検知手段
と、前記検知手段により光ビームが検知されてから再度光ビ
ームが検知されるまでの間、一定数のクロックを発振す
る発振手段と、前記発振手段により発振されたクロックに基づいて、前
記複数の光ビームが照射されるように調整する調整手段
と、を備えた光走査装置。
【請求項２】複数の光ビームを照射し、かつ、該照射
された複数の光ビームを１つの偏向手段により偏向する
と共に、該偏向された複数の光ビームにより感光体の１
本の走査ラインを分割して走査する光走査装置であっ
て、前記複数の光ビームの中の所定の光ビーム及び該所定の
光ビームに隣接する他の光ビームによって前記走査ライ
ンが１回走査されて形成される一方の画像形成可能領域
の先端ドットと他方の画像形成可能領域の後端ドットと
の前記走査ライン方向の最短距離の情報に基づいて、該
最短距離が所定値となるように前記所定の光ビーム及び
前記他の光ビームの少なくとも一方の照射タイミングを
調整する調整手段を備えた光走査装置。
【請求項３】前記走査ラインが走査される際に前記感
光体の画像形成可能領域に最初に入射する位置以前の予
め定められた第１の位置及び最後に入射する位置以後の
予め定められた第２の位置を通過する光ビームを検知す
る検知手段と、前記走査ラインが１回走査される際前記第１の位置及び
前記第２の位置の少なくとも一方を通過する光ビームが
検知されてから再度前記第１の位置及び前記第２の位置
の少なくとも一方を通過する光ビームが検知されるまで
の間、一定数のクロックを発振する発振手段と、前記走査ラインが１回走査される際に前記第１の位置を
通過する光ビームが検知されてから前記第２の位置を通
過する光ビームが検知されるまでの間に発振されたクロ
ックを計数する計数手段と、を更に備え、前記調整手段は、前記計数されたクロックの数と予め定
めた数とを比較すると共に、該比較結果に基づいて、該
最短距離が所定値となるように前記所定の光ビーム及び
前記他の光ビームの少なくとも一方の照射タイミングを
調整することを特徴とする請求項２記載の光走査装置。
【請求項４】複数の光ビームを照射し、かつ、該照射
された複数の光ビームを１つの偏向手段により偏向する
と共に、該偏向された複数の光ビームにより感光体の１
本の走査ラインを分割して走査する光走査装置であっ
て、前記複数の光ビームによって前記走査ラインが走査され
て形成される画像形成可能領域各々に対応する画像デー
タを複数の走査ライン分記憶する記憶手段と、前記走査ラインが１回走査されることによって前記複数
の光ビームの中の所定の光ビームと該所定の光ビームに
隣接する他の光ビームとによって走査される各々の走査
ラインの間隔が所定値以上の場合、前記間隔が前記所定
値以内となるように、前記所定の光ビーム及び前記他の
光ビームの前記画像データを前記記憶手段から選択的に
読み出すと共に前記走査ラインが走査される際、該読み
出した各々の画像データに基づいて前記所定の光ビーム
及び前記他の光ビームの各々が照射されるように調整す
る調整手段と、を備えた光走査装置。
【請求項５】複数の光ビームを照射し、かつ、該照射
された複数の光ビームを１つの偏向手段により偏向する
と共に、該偏向された複数の光ビームにより感光体の１
本の走査ラインを分割して走査する光走査装置であっ
て、前記走査ラインが１回走査されることによって前記複数
の光ビームの中の所定の光ビームと該所定の光ビームに
隣接する他の光ビームとによって走査される各々の走査
ラインの間隔が所定値未満の場合に、前記走査ラインが
走査される際、前記所定の光ビーム及び前記他の光ビー
ムによって重複して走査される画像形成可能領域が設け
られると共に、該画像形成可能領域に入射する所定の光
ビーム及び前記他の光ビームの入射光量の１ドット分の
合計が該画像形成可能領域以外の画像形成可能領域に入
射する前記所定の光ビーム又は前記他の光ビームの１ド
ット分の入射光量と略等しくなるように調整する調整手
段と、を備えた光走査装置。
【請求項６】前記複数の光ビームによって前記感光体
が１回走査されることによって前記感光体の画像形成可
能領域に最初に入射する位置以前の予め定められた位置
及び最後に入射する位置以後の予め定められた位置を通
過する光ビームを受光する受光手段を更に備え、前記調整手段は、前記走査ラインが１回走査されること
による前記受光手段の受光状態に基づいて、前記間隔が
所定値以上か否かを判断することを特徴とする請求項４
又は請求項５記載の光走査装置。
【請求項７】前記偏向手段の前記複数の光ビームを偏
向する偏向面に入射する光ビームの前記走査方向のビー
ム径の長さが該偏向面の前記走査方向の長さ以上である
ことを特徴とする請求項１乃至請求項６の何れか１項に
記載の光走査装置。