JPH10231114A - SiF4の製造方法 - Google Patents
SiF4の製造方法Info
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- JPH10231114A JPH10231114A JP3376697A JP3376697A JPH10231114A JP H10231114 A JPH10231114 A JP H10231114A JP 3376697 A JP3376697 A JP 3376697A JP 3376697 A JP3376697 A JP 3376697A JP H10231114 A JPH10231114 A JP H10231114A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 熱分解後残渣を取り出す際に塊状とな
り、取出しが困難となる。又、熱分解容器の壁部にも溶
着し炉壁の腐食がある。 【解決手段】 ヘキサフルオロケイ酸化合物を熱分解
しSiF4を製造する方法において、一般式、MSiF
6で示されるヘキサフルオロケイ酸化合物の、Mがアル
カリ金属又はアルカリ土類金属とSiO2及び/又はA
l2O3を用いる。
り、取出しが困難となる。又、熱分解容器の壁部にも溶
着し炉壁の腐食がある。 【解決手段】 ヘキサフルオロケイ酸化合物を熱分解
しSiF4を製造する方法において、一般式、MSiF
6で示されるヘキサフルオロケイ酸化合物の、Mがアル
カリ金属又はアルカリ土類金属とSiO2及び/又はA
l2O3を用いる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ヘキサフルオロケ
イ酸化合物を熱分解し、SiF4を製造する方法に関す
る。
イ酸化合物を熱分解し、SiF4を製造する方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】SiF4は、含フッ素アモルファスシリ
コン膜の原料として、あるいは光ファイバー用配線の原
料として使用されている。これらの原料に用いられるS
iF4ガスの純度は、99.99重量%〜99.999
重量%と高純度なものが要求されている。
コン膜の原料として、あるいは光ファイバー用配線の原
料として使用されている。これらの原料に用いられるS
iF4ガスの純度は、99.99重量%〜99.999
重量%と高純度なものが要求されている。
【0003】このSiF4製造方法も数多く知られてお
り、代表的なものとして、濃硫酸存在下でHFとSiO
2を反応させる方法(特公昭59−34130号公報)
や、珪フッ化水素酸水溶液(H2SiF6)を濃硫酸中
で分解する方法等が、以前から良く知られているが、発
生するガスの純度が低いことから、精製工程が必要であ
る。又、珪フッ化ソ−ダ(Na2SiF6)あるいは珪
フッ化バリウム(Ba 2SiF6)を熱分解する方法
(以下熱分解法)も知られている。この熱分解法は、S
iF4ガス中に副生物を生じない為、高純度のSiF4
ガスが得られるという優れた特徴を持っている。
り、代表的なものとして、濃硫酸存在下でHFとSiO
2を反応させる方法(特公昭59−34130号公報)
や、珪フッ化水素酸水溶液(H2SiF6)を濃硫酸中
で分解する方法等が、以前から良く知られているが、発
生するガスの純度が低いことから、精製工程が必要であ
る。又、珪フッ化ソ−ダ(Na2SiF6)あるいは珪
フッ化バリウム(Ba 2SiF6)を熱分解する方法
(以下熱分解法)も知られている。この熱分解法は、S
iF4ガス中に副生物を生じない為、高純度のSiF4
ガスが得られるという優れた特徴を持っている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、熱分解
法の原料であるヘキサフルオロケイ酸化合物は、工業的
に製造されたものを使用するため一般的に純度が低い。
そのため、ヘキサフルオロケイ酸化合物中の不純物が、
熱分解反応によって熱分解後、下記一般式nMFmで示
す残渣を取り出す際に塊状となり、取出しが困難とな
る。又、熱分解容器の壁部にも溶着し炉壁の腐食もみら
れ、その解決が望まれている。一般式 MSiF6 → SiF4 + nMFm n、m:1〜2の整数
法の原料であるヘキサフルオロケイ酸化合物は、工業的
に製造されたものを使用するため一般的に純度が低い。
そのため、ヘキサフルオロケイ酸化合物中の不純物が、
熱分解反応によって熱分解後、下記一般式nMFmで示
す残渣を取り出す際に塊状となり、取出しが困難とな
る。又、熱分解容器の壁部にも溶着し炉壁の腐食もみら
れ、その解決が望まれている。一般式 MSiF6 → SiF4 + nMFm n、m:1〜2の整数
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、熱分解法にお
いて分解後残渣の塊状防止について鋭意検討した結果、
ヘキサフルオロケイ酸化合物に特定する添加物を加える
ことによって、熱分解後残渣の塊状を防止する方法を見
いだした。
いて分解後残渣の塊状防止について鋭意検討した結果、
ヘキサフルオロケイ酸化合物に特定する添加物を加える
ことによって、熱分解後残渣の塊状を防止する方法を見
いだした。
【0006】すなわち、本発明はヘキサフルオロケイ酸
化合物を熱分解しSiF4を製造する方法において、一
般式、MSiF6で示されるヘキサフルオロケイ酸化合
物の、Mがアルカリ金属又はアルカリ土類金属とSiO
2及び/又はAl2O3を用いることを特徴とするSi
F4の製造方法に関する。
化合物を熱分解しSiF4を製造する方法において、一
般式、MSiF6で示されるヘキサフルオロケイ酸化合
物の、Mがアルカリ金属又はアルカリ土類金属とSiO
2及び/又はAl2O3を用いることを特徴とするSi
F4の製造方法に関する。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明を詳細に説明する。
本発明で使用するヘキサフルオロケイ酸化合物は、MS
iF6で示されるヘキサフルオロケイ酸化合物の内、M
がアルカリ金属、アルカリ土類金属及びPb、Znが用
いられる。これを例示すると、Na2SiF6、K2S
iF6、BaSiF6、MgSiF6等が挙げられる。
これらは、コスト的に安価な工業的に製造されたものが
使用され、これらは、市販されているものでもよい。ま
た、ケイフッ化物と金属塩及びアルカリ金属と反応し、
生成したヘキサフルオロケイ酸化合物を濾過、洗浄、乾
燥したものを使用してもよい。
本発明で使用するヘキサフルオロケイ酸化合物は、MS
iF6で示されるヘキサフルオロケイ酸化合物の内、M
がアルカリ金属、アルカリ土類金属及びPb、Znが用
いられる。これを例示すると、Na2SiF6、K2S
iF6、BaSiF6、MgSiF6等が挙げられる。
これらは、コスト的に安価な工業的に製造されたものが
使用され、これらは、市販されているものでもよい。ま
た、ケイフッ化物と金属塩及びアルカリ金属と反応し、
生成したヘキサフルオロケイ酸化合物を濾過、洗浄、乾
燥したものを使用してもよい。
【0008】本発明で使用するSiO2及び/又はAl
2O3の純度は、通常99重量%程度のものが好まし
い。このとき、低純度のSiO2及び/又はAl2O3
を使用すると、不純物中の有機物が熱によってガス化す
るため、発生するSiF4の純度が低下し、精製工程が
必要となるので高純度のものを使用するのが好ましい。
2O3の純度は、通常99重量%程度のものが好まし
い。このとき、低純度のSiO2及び/又はAl2O3
を使用すると、不純物中の有機物が熱によってガス化す
るため、発生するSiF4の純度が低下し、精製工程が
必要となるので高純度のものを使用するのが好ましい。
【0009】本発明で用いるSiO2及び/又はAl2
O3の平均粒子径は1次粒子径で0.1〜100μmの
ものを使用する。通常、SiO2及び/又はAl2O3
には水分が吸着していることがあるため、熱風乾燥器等
で乾燥を行って使用するのが好ましい。
O3の平均粒子径は1次粒子径で0.1〜100μmの
ものを使用する。通常、SiO2及び/又はAl2O3
には水分が吸着していることがあるため、熱風乾燥器等
で乾燥を行って使用するのが好ましい。
【0010】ヘキサフルオロケイ酸化合物に対するSi
O2及び/又はAl2O3の添加量は、ヘキサフルオロ
ケイ酸化合物に対し1〜20重量%添加するのが好まし
い。添加量が1重量%未満であると熱分解反応によっ
て、残渣を取り出す際に塊状となり、取出しが困難とな
る。又、熱分解容器の壁部にも溶着し炉壁の腐食が発生
するので好ましくない。また、20重量%を超えると経
済的に不利になり好ましくない。
O2及び/又はAl2O3の添加量は、ヘキサフルオロ
ケイ酸化合物に対し1〜20重量%添加するのが好まし
い。添加量が1重量%未満であると熱分解反応によっ
て、残渣を取り出す際に塊状となり、取出しが困難とな
る。又、熱分解容器の壁部にも溶着し炉壁の腐食が発生
するので好ましくない。また、20重量%を超えると経
済的に不利になり好ましくない。
【0011】本発明の熱分解温度は、ヘキサフルオロケ
イ酸化合物の種類によって若干異なるが、通常は500
〜800℃が好ましい。熱分解温度が500℃未満では
分解が進行しないため好ましくない。また、800℃を
超えると残渣の融点に達し溶融するので好ましくない。
イ酸化合物の種類によって若干異なるが、通常は500
〜800℃が好ましい。熱分解温度が500℃未満では
分解が進行しないため好ましくない。また、800℃を
超えると残渣の融点に達し溶融するので好ましくない。
【0012】本発明で用いるSiO2は、公知されてい
る全ての方法で製造された物が使用できる。例示すると
ハロゲン化ケイ素燃焼加水分解法、電孤法、ケイ酸ソー
ダを酸で中和する方法、副産物を原料とする方法等があ
る。
る全ての方法で製造された物が使用できる。例示すると
ハロゲン化ケイ素燃焼加水分解法、電孤法、ケイ酸ソー
ダを酸で中和する方法、副産物を原料とする方法等があ
る。
【0013】また、Al2O3は、公知されている全て
の方法で製造された物が使用できる。例示するとバイヤ
ー法,再結晶法,蒸留法,放電酸化法,エチレンクロー
ルヒドリン法等がある。
の方法で製造された物が使用できる。例示するとバイヤ
ー法,再結晶法,蒸留法,放電酸化法,エチレンクロー
ルヒドリン法等がある。
【0014】熱分解で発生したSiF4中には、若干の
水分、フッ化水素等の不純物を含んでいるので、必要に
応じて(深冷分離)蒸留や吸着剤を用い、これらの不純
物を除去する事により、高純度のSiF4を得ることが
できる。吸着剤を用いて精製を行う場合、吸着剤として
は活性アルミナ、シリカ、天然または合成ゼオライト、
活性炭等が用いられる。
水分、フッ化水素等の不純物を含んでいるので、必要に
応じて(深冷分離)蒸留や吸着剤を用い、これらの不純
物を除去する事により、高純度のSiF4を得ることが
できる。吸着剤を用いて精製を行う場合、吸着剤として
は活性アルミナ、シリカ、天然または合成ゼオライト、
活性炭等が用いられる。
【0015】
【実施例】以下、実施例で本発明を詳細に説明する。以
下において%及び部は特記しない限り重量基準で示す。 実施例1 純度99%Na2SiF6100部を用い、これに日本
シリカ工業社(商品名:Nipsil)のSiO210
部を添加、均一に混合し全量を分解容器(形状:円筒
形、材質:ニッケル鋼、容積:1.6L)に仕込み、分
解容器を分解炉に取り付けた。次に、分解容器内を窒素
置換し、置換後分解容器圧力をダイヤフラム式真空ポン
プで10torrまで減圧にした。減圧後、分解容器を
700℃まで1時間で昇温、温度700℃に保ち3時間
熱分解をした。次に、分解容器を放冷し室温まで冷却し
た後、分解容器内に残っている分解残渣の状態を観察し
た。このとき残渣は粉体の状態で存在しており、スコッ
プ等で容易に取り出せた。又、分解容器壁部への溶着も
なく腐食もみられなかった。ここで、発生した生成物は
粗SiF443.7部、SiF4の収率は79%であっ
た。
下において%及び部は特記しない限り重量基準で示す。 実施例1 純度99%Na2SiF6100部を用い、これに日本
シリカ工業社(商品名:Nipsil)のSiO210
部を添加、均一に混合し全量を分解容器(形状:円筒
形、材質:ニッケル鋼、容積:1.6L)に仕込み、分
解容器を分解炉に取り付けた。次に、分解容器内を窒素
置換し、置換後分解容器圧力をダイヤフラム式真空ポン
プで10torrまで減圧にした。減圧後、分解容器を
700℃まで1時間で昇温、温度700℃に保ち3時間
熱分解をした。次に、分解容器を放冷し室温まで冷却し
た後、分解容器内に残っている分解残渣の状態を観察し
た。このとき残渣は粉体の状態で存在しており、スコッ
プ等で容易に取り出せた。又、分解容器壁部への溶着も
なく腐食もみられなかった。ここで、発生した生成物は
粗SiF443.7部、SiF4の収率は79%であっ
た。
【0016】実施例2 実施例1のSiO210部を5部に変更した以外は、実
施例1と同様に行った。分解炉内に残っている分解残渣
の状態を観察した結果、残渣は粉体の状態で存在してお
り、スコップ等で容易に取り出せた。又、分解容器壁部
への溶着もなく腐食もみられなかった。ここで、発生し
た生成物は粗SiF446.5部、SiF4の収率は8
4%であった。
施例1と同様に行った。分解炉内に残っている分解残渣
の状態を観察した結果、残渣は粉体の状態で存在してお
り、スコップ等で容易に取り出せた。又、分解容器壁部
への溶着もなく腐食もみられなかった。ここで、発生し
た生成物は粗SiF446.5部、SiF4の収率は8
4%であった。
【0017】実施例3 実施例1のSiO210部を15部に変更した以外は、
実施例1と同様に行った。分解炉内に残っている分解残
渣の状態を観察した結果、残渣は粉体の状態で存在して
おり、スコップ等で容易に取り出せた。又、分解容器壁
部への溶着もなく腐食もみられなかった。ここで、発生
した生成物は粗SiF443.1部、SiF4の収率は
78%であった。
実施例1と同様に行った。分解炉内に残っている分解残
渣の状態を観察した結果、残渣は粉体の状態で存在して
おり、スコップ等で容易に取り出せた。又、分解容器壁
部への溶着もなく腐食もみられなかった。ここで、発生
した生成物は粗SiF443.1部、SiF4の収率は
78%であった。
【0018】実施例4 SiO2をバイヤー法で製造したAl2O3に変更した
以外は、実施例1と同様に行った。分解炉内に残ってい
る分解残渣の状態を観察した結果、残渣は粉体の状態で
存在しており、スコップ等で容易に取り出せた。又、分
解容器壁部への溶着もなく腐食もみられなかった。ここ
で、発生した生成物は粗SiF444.8部、SiF4
の収率は81%だった。
以外は、実施例1と同様に行った。分解炉内に残ってい
る分解残渣の状態を観察した結果、残渣は粉体の状態で
存在しており、スコップ等で容易に取り出せた。又、分
解容器壁部への溶着もなく腐食もみられなかった。ここ
で、発生した生成物は粗SiF444.8部、SiF4
の収率は81%だった。
【0019】比較例1 実施例1のSiO2を除いたほかは、実施例1と同様に
行った。分解容器内に残っている分解残渣の状態を観察
した結果、残渣は、塊状の状態で存在し、分解容器壁部
にも溶着しており残渣を取り出すのに苦労した。また、
分解容器壁部の腐食が確認された。ここで、発生した生
成物は粗SiF4が38.7部であり、SiF4の収率
は70%であった。
行った。分解容器内に残っている分解残渣の状態を観察
した結果、残渣は、塊状の状態で存在し、分解容器壁部
にも溶着しており残渣を取り出すのに苦労した。また、
分解容器壁部の腐食が確認された。ここで、発生した生
成物は粗SiF4が38.7部であり、SiF4の収率
は70%であった。
【0020】
【発明の効果】本発明はヘキサフルオロケイ酸化合物に
特定の添加物を加えることによって、熱分解後の分解炉
内の残渣が塊状となることなく、取出しが容易となっ
た。また、壁部に溶着することなく、炉壁の腐食も防止
できた。すなわち、残渣処理の改善及び収率の向上が達
成された。
特定の添加物を加えることによって、熱分解後の分解炉
内の残渣が塊状となることなく、取出しが容易となっ
た。また、壁部に溶着することなく、炉壁の腐食も防止
できた。すなわち、残渣処理の改善及び収率の向上が達
成された。
Claims (3)
- 【請求項1】 ヘキサフルオロケイ酸化合物を熱分解
しSiF4を製造する方法において、一般式、MSiF
6で示されるヘキサフルオロケイ酸化合物の、Mがアル
カリ金属又はアルカリ土類金属とSiO2及び/又はA
l2O3を用いることを特徴とするSiF4の製造方
法。 - 【請求項2】 ヘキサフルオロケイ酸化合物に対する
SiO2及び/又はAl2O3の添加量が、1〜20重
量%である請求項1記載の製造方法。 - 【請求項3】 SiO2及び/又はAl2O3の平均
粒子径が0.1〜100μmである請求項1記載の製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3376697A JPH10231114A (ja) | 1997-02-18 | 1997-02-18 | SiF4の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3376697A JPH10231114A (ja) | 1997-02-18 | 1997-02-18 | SiF4の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10231114A true JPH10231114A (ja) | 1998-09-02 |
Family
ID=12395574
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3376697A Pending JPH10231114A (ja) | 1997-02-18 | 1997-02-18 | SiF4の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10231114A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003027014A1 (fr) * | 2001-09-28 | 2003-04-03 | Zao 'astor Electronics' | Procede de fabrication de tetrafluorure de silicium |
WO2010077880A1 (en) | 2008-12-17 | 2010-07-08 | Memc Electronic Materials, Inc. | Processes and systems for producing silicon tetrafluoride from fluorosilicates in a fluidized bed reactor |
US8388925B2 (en) | 2009-12-30 | 2013-03-05 | Memc Electronic Materials, Inc. | Methods for producing aluminum trifluoride |
US8529860B2 (en) | 2009-12-30 | 2013-09-10 | Memc Electronics Materials, Inc. | Methods for producing silicon tetrafluoride |
CN107188129A (zh) * | 2017-07-24 | 2017-09-22 | 衢州市鼎盛化工科技有限公司 | 含氟化钙废料制备氟化氢和四氟化硅的方法 |
CN111039293A (zh) * | 2018-10-15 | 2020-04-21 | 多氟多化工股份有限公司 | 一种四氟化硅的生产方法 |
-
1997
- 1997-02-18 JP JP3376697A patent/JPH10231114A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003027014A1 (fr) * | 2001-09-28 | 2003-04-03 | Zao 'astor Electronics' | Procede de fabrication de tetrafluorure de silicium |
KR100822333B1 (ko) * | 2001-09-28 | 2008-04-17 | 자크리토에 악치오네르노에 오브쉐스트보 "아스토르 엘렉트로닉스" | 사플루오르화규소의 제조 방법 |
WO2010077880A1 (en) | 2008-12-17 | 2010-07-08 | Memc Electronic Materials, Inc. | Processes and systems for producing silicon tetrafluoride from fluorosilicates in a fluidized bed reactor |
US8388925B2 (en) | 2009-12-30 | 2013-03-05 | Memc Electronic Materials, Inc. | Methods for producing aluminum trifluoride |
US8529860B2 (en) | 2009-12-30 | 2013-09-10 | Memc Electronics Materials, Inc. | Methods for producing silicon tetrafluoride |
US9527752B2 (en) | 2009-12-30 | 2016-12-27 | Sunedison, Inc. | Methods for producing aluminum trifluoride |
CN107188129A (zh) * | 2017-07-24 | 2017-09-22 | 衢州市鼎盛化工科技有限公司 | 含氟化钙废料制备氟化氢和四氟化硅的方法 |
CN107188129B (zh) * | 2017-07-24 | 2020-05-19 | 衢州市鼎盛化工科技有限公司 | 含氟化钙废料制备氟化氢和四氟化硅的方法 |
CN111039293A (zh) * | 2018-10-15 | 2020-04-21 | 多氟多化工股份有限公司 | 一种四氟化硅的生产方法 |
CN111039293B (zh) * | 2018-10-15 | 2021-06-29 | 多氟多化工股份有限公司 | 一种四氟化硅的生产方法 |
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