JPH10213533A - 粒子濃度計測装置 - Google Patents
粒子濃度計測装置Info
- Publication number
- JPH10213533A JPH10213533A JP1539097A JP1539097A JPH10213533A JP H10213533 A JPH10213533 A JP H10213533A JP 1539097 A JP1539097 A JP 1539097A JP 1539097 A JP1539097 A JP 1539097A JP H10213533 A JPH10213533 A JP H10213533A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pressure
- flow field
- model
- test piece
- pressure vessel
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Abstract
(57)【要約】
【課題】従来の粒子カウンターを用いて高負圧力流れ場
でも粒子濃度計測が可能であることを課題とする。 【解決手段】空気と粒子が混ざって固気二相流れとなっ
ている供試体モデル(21)内の粒子濃度を計測する粒子濃
度計測装置において、前記供試体モデル(21)に接続配管
(22)を介して接続され、供試体モデル(21)内圧と等しい
圧力容器(23)と、前記供試体モデル(21)とサンプリング
管(24)を介して接続され、前記圧力容器(23)内に収容さ
れた粒子カウンター(25)とを具備することを特徴とする
粒子濃度計測装置。
でも粒子濃度計測が可能であることを課題とする。 【解決手段】空気と粒子が混ざって固気二相流れとなっ
ている供試体モデル(21)内の粒子濃度を計測する粒子濃
度計測装置において、前記供試体モデル(21)に接続配管
(22)を介して接続され、供試体モデル(21)内圧と等しい
圧力容器(23)と、前記供試体モデル(21)とサンプリング
管(24)を介して接続され、前記圧力容器(23)内に収容さ
れた粒子カウンター(25)とを具備することを特徴とする
粒子濃度計測装置。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、粒子濃度計測装置
に関する。
に関する。
【０００２】
【従来の技術】粒体実験や流体実験では、固体と気体を
混合した固気二相流の実験を数多く実施している。固気
二相流れ場の中で固体である粒子の濃度計測として、従
来から粒子カウンターを用いて計測する場合がある。図
２（Ａ），（Ｂ）は従来の粒子濃度計測装置の説明図
で、図２（Ａ）は側面図、図２（Ｂ）は平面図である。
混合した固気二相流の実験を数多く実施している。固気
二相流れ場の中で固体である粒子の濃度計測として、従
来から粒子カウンターを用いて計測する場合がある。図
２（Ａ），（Ｂ）は従来の粒子濃度計測装置の説明図
で、図２（Ａ）は側面図、図２（Ｂ）は平面図である。
【０００３】図中の符番１は供試体モデルである。この
供試体モデル１内には試験用粒子が注入されており、供
試体モデル１内は空気と試験用粒子が混ざった固気二相
流れとなっている。前記供試体モデル１の上部側壁に
は、サンプリング管２を介して吸引器（図示せず）を内
蔵した粒子カウンター３が接続され、この粒子カウンタ
ー３には排気管４が接続されている。また、前記供試体
モデル１の上部には、該供試体モデル１内を負圧にする
ための試験用ブロワー５が接続され、この試験用ブロワ
ー５は吸込式で空気を供試体モデル１内に流している。
前記供試体モデル１内の粒子濃度を計測する場合、従来
からサンプリング管２を供試体モデル１内に挿入してあ
る一定量でサンプリング管２を介して吸引し、粒子カウ
ンター３で吸引して粒子個数をカウントする手法を採用
していた。
供試体モデル１内には試験用粒子が注入されており、供
試体モデル１内は空気と試験用粒子が混ざった固気二相
流れとなっている。前記供試体モデル１の上部側壁に
は、サンプリング管２を介して吸引器（図示せず）を内
蔵した粒子カウンター３が接続され、この粒子カウンタ
ー３には排気管４が接続されている。また、前記供試体
モデル１の上部には、該供試体モデル１内を負圧にする
ための試験用ブロワー５が接続され、この試験用ブロワ
ー５は吸込式で空気を供試体モデル１内に流している。
前記供試体モデル１内の粒子濃度を計測する場合、従来
からサンプリング管２を供試体モデル１内に挿入してあ
る一定量でサンプリング管２を介して吸引し、粒子カウ
ンター３で吸引して粒子個数をカウントする手法を採用
していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、供試体モデ
ル１には、試験用ブロワー５を接続して空気を吸引式で
流している。この時、供試体モデル１によって空気を流
すための抵抗力（圧力損失）が変化する。抵抗力が小さ
い（モデルの圧力損失が小さい）場合、供試体モデル１
内の負荷圧力は数ｍｍＨ2 Ｏ程度でほとんど常圧に等し
い流れ場となっている。従来の粒子カウンター３はそれ
自体が吸引器を内蔵し常圧内の流れ場の粒子を吸引する
ことができた。
ル１には、試験用ブロワー５を接続して空気を吸引式で
流している。この時、供試体モデル１によって空気を流
すための抵抗力（圧力損失）が変化する。抵抗力が小さ
い（モデルの圧力損失が小さい）場合、供試体モデル１
内の負荷圧力は数ｍｍＨ2 Ｏ程度でほとんど常圧に等し
い流れ場となっている。従来の粒子カウンター３はそれ
自体が吸引器を内蔵し常圧内の流れ場の粒子を吸引する
ことができた。
【０００５】即ち、従来の粒子カウンターは常圧流れ場
の中の粒子濃度計測として限られるが、この原因はカウ
ンター内蔵の吸引器の吸込圧が小さいためである。現在
市販されている粒子カウンターでは、ほとんど常圧内の
対応機種がしかなく、流れ場の圧力によって粒子の吸引
圧を調整できるタイプがない。また、供試体モデルによ
って高負圧力になる流れ場では、現在の粒子カウンター
では粒子濃度計測が不可能となっている。
の中の粒子濃度計測として限られるが、この原因はカウ
ンター内蔵の吸引器の吸込圧が小さいためである。現在
市販されている粒子カウンターでは、ほとんど常圧内の
対応機種がしかなく、流れ場の圧力によって粒子の吸引
圧を調整できるタイプがない。また、供試体モデルによ
って高負圧力になる流れ場では、現在の粒子カウンター
では粒子濃度計測が不可能となっている。
【０００６】本発明はこうした事情を考慮してなされた
もので、従来の粒子カウンターを用いて高負圧力になる
流れ場でも粒子濃度計測が可能となる粒子濃度計測装置
を提供することを目的とする。
もので、従来の粒子カウンターを用いて高負圧力になる
流れ場でも粒子濃度計測が可能となる粒子濃度計測装置
を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】常圧流れ場では、サンプ
リング管を介して直接粒子カウンターで粒子を吸引して
濃度計測を実施していた。しかし、高負荷の流れ場では
計測不可能となる。そこで、本発明者らは、従来から使
用している粒子カウンターを供試体モデル内の流れ場に
影響が無い位置で接続配管を介して圧力容器内に収納し
て、高負荷の流れ場でも計測可能となる装置を提案し
た。
リング管を介して直接粒子カウンターで粒子を吸引して
濃度計測を実施していた。しかし、高負荷の流れ場では
計測不可能となる。そこで、本発明者らは、従来から使
用している粒子カウンターを供試体モデル内の流れ場に
影響が無い位置で接続配管を介して圧力容器内に収納し
て、高負荷の流れ場でも計測可能となる装置を提案し
た。
【０００８】本発明は、空気と粒子が混ざって固気二相
流れとなっている供試体モデル内の粒子濃度を計測する
粒子濃度計測装置において、前記供試体モデルに配管を
介して接続され、供試体モデル内圧と等しい圧力容器
と、前記供試体モデルとサンプリング管を介して接続さ
れ、前記圧力容器内に収容された粒子カウンターとを具
備することを特徴とする粒子濃度計測装置である。
流れとなっている供試体モデル内の粒子濃度を計測する
粒子濃度計測装置において、前記供試体モデルに配管を
介して接続され、供試体モデル内圧と等しい圧力容器
と、前記供試体モデルとサンプリング管を介して接続さ
れ、前記圧力容器内に収容された粒子カウンターとを具
備することを特徴とする粒子濃度計測装置である。
【０００９】本発明において、前記圧力容器は供試体モ
デル内の流れ場に影響が無い位置で供試体モデルと接続
配管を介して接続されていることが好ましい。 （作用）供試体モデル内の流れ場に影響がない位置で接
続配管を接続する。この接続配管は圧力容器と接続され
ており、この圧力容器内にかかる圧力は、供試体モデル
内の圧力と等しい圧力となる。この圧力容器の中に従来
から使用している粒子カウンターを予め収納しておく。
粒子カウンターは、通常圧流れ場のみに使用可能であ
る。しかし、本発明の接続配管を介した圧力容器内で
は、相対的に常圧流れ場となり、従来の粒子カウンター
を用いて高負圧力となる流れ場でも粒子濃度計測が可能
となる。
デル内の流れ場に影響が無い位置で供試体モデルと接続
配管を介して接続されていることが好ましい。 （作用）供試体モデル内の流れ場に影響がない位置で接
続配管を接続する。この接続配管は圧力容器と接続され
ており、この圧力容器内にかかる圧力は、供試体モデル
内の圧力と等しい圧力となる。この圧力容器の中に従来
から使用している粒子カウンターを予め収納しておく。
粒子カウンターは、通常圧流れ場のみに使用可能であ
る。しかし、本発明の接続配管を介した圧力容器内で
は、相対的に常圧流れ場となり、従来の粒子カウンター
を用いて高負圧力となる流れ場でも粒子濃度計測が可能
となる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施例に係る粒
子濃度計測装置について図１（Ａ），（Ｂ）を参照して
説明する。ここで、図１（Ａ）は同粒子濃度計測装置の
側面図、図１（Ｂ）は図１（Ａ）の平面図である。
子濃度計測装置について図１（Ａ），（Ｂ）を参照して
説明する。ここで、図１（Ａ）は同粒子濃度計測装置の
側面図、図１（Ｂ）は図１（Ａ）の平面図である。
【００１１】図中の符番21は供試体モデルである。この
供試体モデル21内には試験用粒子が注入されており、供
試体モデル21内は空気と試験用粒子が混ざった固気二相
流れとなっている。つまり、供試体モデル21には、その
側部から試験用粒子や空気が配管を介して吸込まれるよ
うになっている。前記供試体モデル21には、該供試体モ
デル21内の流れ場の影響が無い位置で接続配管22を介し
て圧力容器23が接続されている。前記供試体モデル21の
上部側壁にはサンプリング管24を介して粒子カウンター
25が接続され、この粒子カウンター25には排気管26が接
続されている。
供試体モデル21内には試験用粒子が注入されており、供
試体モデル21内は空気と試験用粒子が混ざった固気二相
流れとなっている。つまり、供試体モデル21には、その
側部から試験用粒子や空気が配管を介して吸込まれるよ
うになっている。前記供試体モデル21には、該供試体モ
デル21内の流れ場の影響が無い位置で接続配管22を介し
て圧力容器23が接続されている。前記供試体モデル21の
上部側壁にはサンプリング管24を介して粒子カウンター
25が接続され、この粒子カウンター25には排気管26が接
続されている。
【００１２】前記粒子カウンター25は、前記圧力容器23
内に収納されている。従って、供試体モデル21が高圧の
場合でも、圧力容器23内の圧力は、供試体モデル21内の
圧力と等しくなり、圧力容器23内は相対的に常圧流れ場
となる。前記供試体モデル21の上部には、試験用ブロワ
ー27が配管28を介して接続されており、試験用ブロワー
28は吸込式で空気を流している。
内に収納されている。従って、供試体モデル21が高圧の
場合でも、圧力容器23内の圧力は、供試体モデル21内の
圧力と等しくなり、圧力容器23内は相対的に常圧流れ場
となる。前記供試体モデル21の上部には、試験用ブロワ
ー27が配管28を介して接続されており、試験用ブロワー
28は吸込式で空気を流している。
【００１３】上記実施例に係る粒子濃度計測装置によれ
ば、供試体モデル21に該供試体モデル21内の流れ場の影
響が無い位置で接続配管22を介して圧力容器23が接続さ
れており、また供試体モデル21の上部側壁とサンプリン
グ管24を介して粒子カウンター25が接続され、さらにこ
の粒子カウンター25が前記圧力容器23内に収納された構
成となっている。従って、供試体モデル21が高圧の場合
でも、圧力容器23内の圧力は、供試体モデル21内の圧力
と等しくなり、圧力容器23内は相対的に常圧流れ場とな
り、次のような効果が得られる。
ば、供試体モデル21に該供試体モデル21内の流れ場の影
響が無い位置で接続配管22を介して圧力容器23が接続さ
れており、また供試体モデル21の上部側壁とサンプリン
グ管24を介して粒子カウンター25が接続され、さらにこ
の粒子カウンター25が前記圧力容器23内に収納された構
成となっている。従って、供試体モデル21が高圧の場合
でも、圧力容器23内の圧力は、供試体モデル21内の圧力
と等しくなり、圧力容器23内は相対的に常圧流れ場とな
り、次のような効果が得られる。
【００１４】1)供試体モデル21の圧力損失が変化して
も、高圧力から低圧力流れ場まで全ての流れ場で粒子濃
度計測が可能となる。 2)従来からの粒子カウンターを流用できる。
も、高圧力から低圧力流れ場まで全ての流れ場で粒子濃
度計測が可能となる。 2)従来からの粒子カウンターを流用できる。
【００１５】3)接続配管22と圧力容器23を追加するのみ
で計測が可能であり、コストを低く押えることができ
る。 4)粒子カウンター25への高負荷を防止できる。
で計測が可能であり、コストを低く押えることができ
る。 4)粒子カウンター25への高負荷を防止できる。
【００１６】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、接
続配管と圧力容器を追加するのみで、従来の粒子カウン
ターを用いて高負圧力になる流れ場でも粒子濃度計測が
可能となる低コストの粒子濃度計測装置を提供できる。
続配管と圧力容器を追加するのみで、従来の粒子カウン
ターを用いて高負圧力になる流れ場でも粒子濃度計測が
可能となる低コストの粒子濃度計測装置を提供できる。
【図１】本発明の一実施例に係る粒子濃度計測装置の説
明図であり、図１（Ａ）は同装置の側面図、図１（Ｂ）
は図１（Ａ）の平面図。
明図であり、図１（Ａ）は同装置の側面図、図１（Ｂ）
は図１（Ａ）の平面図。
【図２】従来の粒子濃度計測装置の説明図であり、図２
（Ａ）は同装置の側面図、図２（Ｂ）は図２（Ａ）の平
面図。
（Ａ）は同装置の側面図、図２（Ｂ）は図２（Ａ）の平
面図。
21…供試体モデル、 22…接続配管、 23…圧力容器、 24…サンプリング管、 25…粒子カウンター、 26…排気管、 27…試験用ブロワー。
Claims (1)
- 【請求項１】 空気と粒子が混ざって固気二相流れとな
っている供試体モデル内の粒子濃度を計測する粒子濃度
計測装置において、前記供試体モデルに配管を介して接
続され、供試体モデル内圧と等しい圧力容器と、前記供
試体モデルとサンプリング管を介して接続され、前記圧
力容器内に収納された粒子カウンターとを具備すること
を特徴とする粒子濃度計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1539097A JPH10213533A (ja) | 1997-01-29 | 1997-01-29 | 粒子濃度計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1539097A JPH10213533A (ja) | 1997-01-29 | 1997-01-29 | 粒子濃度計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10213533A true JPH10213533A (ja) | 1998-08-11 |
Family
ID=11887422
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1539097A Withdrawn JPH10213533A (ja) | 1997-01-29 | 1997-01-29 | 粒子濃度計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10213533A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102654443A (zh) * | 2012-03-20 | 2012-09-05 | 东南大学 | 流化床颗粒运动的非接触式三维测量装置与方法 |
| KR101188437B1 (ko) | 2010-09-02 | 2012-10-08 | 건국대학교 산학협력단 | 먼지 센서 장치 및 이를 이용한 먼지 센싱 방법 |
| CN116907927A (zh) * | 2023-09-13 | 2023-10-20 | 上海兄弟微电子技术有限公司 | 一种半导体气体管道固体颗粒测试的气体取样装置 |
-
1997
- 1997-01-29 JP JP1539097A patent/JPH10213533A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101188437B1 (ko) | 2010-09-02 | 2012-10-08 | 건국대학교 산학협력단 | 먼지 센서 장치 및 이를 이용한 먼지 센싱 방법 |
| CN102654443A (zh) * | 2012-03-20 | 2012-09-05 | 东南大学 | 流化床颗粒运动的非接触式三维测量装置与方法 |
| CN116907927A (zh) * | 2023-09-13 | 2023-10-20 | 上海兄弟微电子技术有限公司 | 一种半导体气体管道固体颗粒测试的气体取样装置 |
| CN116907927B (zh) * | 2023-09-13 | 2023-11-14 | 上海兄弟微电子技术有限公司 | 一种半导体气体管道固体颗粒测试的气体取样装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040406 |