JPH10206991A - カメラのｅｅ試験器及びｅｅ試験器に用いられる測光 ユニット - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＩＸ２４０フィルムカートリッジ等のドロッ
プイン装填方式のため裏蓋のないカメラに対してのＥＥ
試験を可能とする。 【解決手段】 測光センサ３４を実装したフレキシブル
配線基板３３をケース３１内に収容する。ケース３１は
ドロップイン装填されるフィルムカートリッジと類似の
外形となっており、カメラのフィルムカートリッジ室内
に挿入することができる。カメラ内に挿入した状態で、
送り軸の操作部３７を回転させることにより、測光セン
サ３４をカメラ内のフィルムマスク部分に位置させる。
測光センサは露出光量を測定して出力するため、裏蓋が
なくてもＥＥ試験を行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、完成品の状態のカ
メラに対して、ＥＥ性能を測定するために使用されるＥ
Ｅ試験器及びＥＥ試験器に用いられる測光ユニットに関
する。

【０００２】

【従来の技術】ＥＥ試験は、完成品のカメラの絞り機構
やシャッタ機構が正常に動作するか否か、さらに詳しく
は、自動露出時に所定の被写体輝度に対して所定のＥＥ
精度が得られるか否かをチェックするために行われる。

【０００３】図９はＥＥ試験に使用されている従来のＥ
Ｅ試験器１を示し、基台２上にＥＥ調整器３と、カメラ
支持機４とが対向して配置されている。ＥＥ調整器３は
ハウジング５を有し、このハウジング５内にハロゲンラ
ンプ等の光源、光源からの光を反射するリフレクタ、検
出された露出光量をデータとして記憶するデータ書き込
み手段、さらには光源やその他の部材を制御する制御機
構（いずれも図示省略）が配置されている。又、ハウジ
ング５におけるカメラ支持機４側には、リフレクタから
反射された光を均一な面光線とするため、摺りガラス等
からなる拡散板６が設けられている。

【０００４】カメラ支持機４は、ＥＥ調整器３の方向に
直線的に伸びる水平ガイド機構７と、このガイド機構７
に沿って水平移動するスライダ８と、スライダ８上に取
り付けられたセンサ取付台９と、センサ取付台９上に設
けられている上下調整機構１０に支持されたカメラ載置
台１１とを備えている。上下調整機構１０は上下調整摘
み１２と、上下調整摘み１２の回転中心となっているピ
ニオンに噛合したラック１３とを有し、このラック１３
の上端にカメラ載置台１１が支持され、カメラ載置台１
１にカメラ（図示省略）が載置される。

【０００５】センサ取付台９には、測光センサ１５を有
したセンサ支持板１４が取り付けられている。測光セン
サ１５は、その受光面がＥＥ調整器３から出射される光
の光路に臨んでおり、カメラ載置台１１上のカメラ（図
示省略）のシャッタを通過した光を受光してカメラの露
出光量を検出する。この測光センサ１５には、コネクタ
１６を先端に有したシールド電線１７が接続されてお
り、コネクタ１６がＥＥ調整器３に接続されることによ
って、露出光量をＥＥ調整器３に出力する。

【０００６】以上のＥＥ試験器１では、完成品の状態の
カメラをカメラ載置台１１に載置してＥＥ試験を行う。
カメラは裏蓋を開けた状態で、カメラ載置台１１に載置
されており、スライダ８及び上下調整機構１０を調整す
ることにより、測光センサ１５をカメラの露出開口部に
合わせる。そして、カメラの撮影レンズ側から照射され
た一定輝度の基準光に対して露出動作を行い、この露出
動作によって測光センサ１５が受光した光量によりＥＥ
精度を測定する。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年のカメ
ラとして、フィルムカートリッジの装填を簡単に行うた
め、ドロップイン装填方式を採用したカメラが市販され
ている。例えば、ＩＸ２４０フィルムカートリッジを使
用するカメラでは、フィルムカートリッジ室の蓋（下
蓋）を開けて、フィルムカートリッジを挿入し、その
後、蓋を閉じるだけでフィルムが自動的にフィルムカー
トリッジから送り出されて撮影可能となる構造となって
いる。

【０００８】このようなドロップイン装填方式のカメラ
では、裏蓋が不要となっており、完成品としてのカメラ
は裏面が封鎖された状態となっている。従って、裏蓋が
開放されることをＥＥ試験の条件としている従来のＥＥ
試験器１は、裏蓋のないドロップイン装填方式のカメラ
に対しては、ＥＥ試験を行うことができない問題を有し
ている。

【０００９】本発明は、このような従来の問題点を考慮
してなされたものであり、完成品として裏蓋のない構造
のカメラに対しても、ＥＥ試験を行うことが可能なＥＥ
試験器及びこのＥＥ試験器に用いられる測光ユニットを
提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１の発明のＥＥ試験器は、一定輝度に対する
自動露出動作を試験対象のカメラに実行させたときの露
出光量を検出することによって、カメラの自動露出精度
を試験するカメラのＥＥ試験器であって、前記露出光量
を検出する測光センサと、この測光センサが実装された
電気回路基板と、この電気回路基板を前記カメラのフィ
ルムカートリッジ室に挿入したとき、前記測光センサを
カメラ内の所定の測定位置に配置させる配置用機構と、
を備えていることを特徴とする。

【００１１】このＥＥ試験器では、電気回路基板をカメ
ラのフィルムカートリッジ室に挿入することにより、配
置用機構が測光センサをカメラの測定位置に位置させる
ため、ＥＥ試験が可能となる。従って、裏蓋のないカメ
ラに対しても、ＥＥ試験を行うことができる。一方、裏
蓋のあるカメラに対しては、裏蓋を開放すると共に、電
気回路基板をフィルムカートリッジ室に挿入し、以後、
同様な作動を行うことによってＥＥ試験を行う。このた
め、裏蓋の有無に関わらずＥＥ試験を行うことができ
る。

【００１２】この発明における電気回路基板は、可撓性
のフレキシブル配線基板であっても良く、硬質なリジッ
ド配線基板であっても良い。フレキシブル配線基板の場
合、フレキシブル配線基板が巻き付けられる軸体と、こ
の軸体を回転可能に収容する容器とによって配置用機構
を構成でき、容器をカメラ内に挿入した状態で、手動或
いは電動によって軸体を回転させることによってフレキ
シブル配線基板を繰り出すことができる。リジッド配線
基板の場合、配置用機構としては、配線基板をカメラ内
で移動させるカム、歯車、小型モータ等の部材を適宜、
使用できる。

【００１３】請求項２の発明の測光ユニットは、一定輝
度に対する自動露出動作を試験対象のカメラに実行させ
たときの露出光量を検出することによって、カメラの自
動露出精度を試験するカメラのＥＥ試験器に用いられる
測光ユニットであって、前記露出光量を検出する測光セ
ンサと、この測光センサが実装されたフレキシブル配線
基板と、このフレキシブル配線基板を収容するケース
と、このケースから前記フレキシブル配線基板をカメラ
の内部に送り出す送出機構と、を備えていることを特徴
とする。

【００１４】この測光ユニットは、ケースをカメラの内
部に挿入した状態で、送出機構がフレキシブル配線基板
をカメラ内部に送り出すため、測光センサによるＥＥ試
験を行うことができる。この構造の測光ユニットは、ケ
ースをカメラ内に挿入するだけでＥＥ試験に供すること
ができる。このためＩＸ２４０フィルムカートリッジを
使用するカメラのみならず、１３５フィルムなどの従前
タイプのフィルムカートリッジを使用するカメラであっ
ても、ドロップイン装填方式のカメラであれば、どのカ
メラに対しても適用できる。

【００１５】請求項３の発明の測光ユニットは、一定輝
度に対する自動露出動作を試験対象のカメラに実行させ
たときの露出光量を検出する測光センサと、この測光セ
ンサが実装されたフレキシブル配線基板と、このフレキ
シブル配線基板が巻き付けられ、回転によってフレキシ
ブル配線基板を送り出す送り軸と、この送り軸が回転可
能に収容されたケースと、を備えていることを特徴とす
る。

【００１６】この測光ユニットにおいては、ケース内に
回転可能に設けられた送り軸を回転することによって、
フレキシブル配線基板を送り出し、測光センサによって
測定を行う。測定に必要な全ての部材がケース内に収容
されているため、コンパクトとなり、取り扱い性が良好
となる。

【００１７】

【発明の実施の形態】図１は、ドロップインによって装
填されるフィルムカートリッジを使用するカメラ２０を
示す。撮影レンズ２１が取り付けられた本体２２の下面
２２ａに蓋２３が開閉自在に取り付けられ、この蓋２３
に対向した本体２２の内部が、フィルムカートリッジ２
４が挿入されるフィルムカートリッジ室２５となってい
る。このような装填を行うことから、このカメラ２０に
おいては、裏蓋が本体の裏面に取り付けられることな
く、裏面側が閉鎖されている。なお、蓋２３は本体２２
の一側面２２ｂに設けられた開閉釦２６を操作すること
によって、開放される。

【００１８】フィルムカートリッジ２４は、ドロップイ
ンによってカメラ２０に装填されるものであり、例え
ば、１９９６年３月発行の定期刊行物「写真工業」第２
７、２８頁及び１９９６年１２月発行の同刊行物の第９
６〜９９頁に記載された形状及び内部構造のものが使用
される。

【００１９】このようなカメラ２０に適用される本発明
の一実施形態の測光ユニット３０は、カメラ２０のフィ
ルムカートリッジ室２５に挿入されるケース３１と、ケ
ース３１内に配置された送り軸３２（図３参照）と、こ
の送り軸３２に巻き付けられたフレキシブル配線基板３
３（図２及び図３参照）と、フレキシブル配線基板３３
の片面に実装された測光センサ３４（図２及び図３参
照）とを備えている。

【００２０】ケース３１はフィルムカートリッジ２４の
外形と略同様な類似した外形となっており、フィルムカ
ートリッジ２４と同様にフィルムカートリッジ室２５に
挿入することができる。この挿入によって測光ユニット
３０がカメラ２０内にセットされ、このセット状態でＥ
Ｅ試験に供することができる。

【００２１】図２及び図３は測光ユニット３０の詳細を
示す。ケース３１は、半割りされた２つの分割体３１
ａ、３１ｂからなり、この分割体３１ａ、３１ｂを組み
合わせることによって形成される。このケースはその一
部に平面部３５を有し、この平面部３５の先端部分に引
き出し口３６が形成されている。

【００２２】送り軸３２は半割りされたケース３１の分
割体３１ａ、３１ｂの中央部分に回転可能に支持されて
いる。又、送り軸３２の一端側の軸端はケース３１の下
面から突出しており、この突出部分が送り軸３２を回転
するための操作部３７となっている。

【００２３】フレキシブル配線基板３３は、送り軸３２
に基端部分が固着されることによって、送り軸３２に巻
き付けられると共に、先端部分に測光センサ３４が実装
されている。フレキシブル配線基板３３の片面には、銅
箔からなる配線パターン３８、３９が略平行に形成され
ており、この配線パターン３８、３９と測光センサ３４
とが電気的に接続される。なお、フレキシブル配線基板
３３の横幅は、カメラ２０内の所定の測定位置への送り
出しをスムーズに行わせるために、写真フィルムと略同
一となっていることが好ましい。

【００２４】測光センサ３４は厚さ１５０μｍ程度のシ
リコンダイオードチップが使用されている。この測光セ
ンサ３４はアノード端子及びカソード端子を有してお
り、これらの端子と配線パターン３８、３９とが金、ア
ルミニウム等からなるボンディングワイヤ４０によって
ワイヤボンディングされている。

【００２５】又、送り軸３２側の配線パターン３８、３
９の端部には、半田付けパターン３８ａ、３９ａが形成
されている。半田付けパターン３８ａ、３９ａは絶縁保
護のためにフレキシブル配線基板３３に被覆されたカバ
ーレイ４４（図５参照）から露出しており、この半田付
けパターン３８ａ、３９ａにリード線４１が半田付けに
よって接続されている。

【００２６】それぞれのリード線４１は送り軸３２に開
口された窓部３２ａに引き込まれ、操作部３７から送り
軸３２に挿入されたシールド電線４２内を挿通してい
る。そして、リード線４１はシールド電線４２の先端に
取り付けられたコネクタ４３に接続される（図１参
照）。この場合、コネクタ４３は、図９に示すコネクタ
１６と同様に、ＥＥ調整器３に電気的に接続されるもの
である。

【００２７】図４は、カバーレイ４４を省いたフレキシ
ブル配線基板３３を示す。この基板３３には、配線パタ
ーン３８、３９を囲み、且つ測光センサ３４の実装部位
を囲むシールドパターン４５が形成されると共に、配線
パターン３８、３９の間にも、シールドパターン４６が
形成されている。これらのシールドパターン４５、４６
は銅箔によって形成されるものであり、それぞれのシー
ルドパターン４５、４６の一部には、金等の導電性金属
がメッキされることによって形成されたグランド接続用
パターン４７、４８が設けられている。このグランド接
続用パターン４７、４８は、図６に示すようにカバーレ
イ４４が被覆されておらず、このグランド接続用パター
ン４７、４８を介してシールドパターン４５、４６をグ
ランドに接続することができる。

【００２８】測光センサ３４として使用されるフォトダ
イオードの出力電流は、被写体の輝度が低い場合、数十
ピコアンペア（ｐＡ）程度であり、外部からのノイズの
影響を極力排除しなければ正確な測定ができなくなる。
これに対しフレキシブル配線基板３３では、上述したよ
うに配線パターン３８、３９及び測光センサ３４の周囲
にシールドパターン４５、４６を形成してあり、グラン
ド接続用パターン４７、４８を介してシールドパターン
４５、４６をグランドに接続することができる。このた
め、ノイズを確実に排除でき、正確な測定が可能となっ
ている。

【００２９】なお、シールドパターン４５，４６につい
ては、グランドに接続することなく、グランド接続用パ
ターン４７，４８を介して測光センサ３４の配線パター
ン３８，３９のいずれか一方に接続しても良く、これに
より２本のリード線による出力が可能となる。

【００３０】フレキシブル配線基板３３をケース３１内
に収容するのに際し、同基板３３先端側の測光センサ３
４を送り軸３２に巻回することが難しい場合がある。測
光センサ３４が送り軸３２に巻回できるだけの可撓性を
有していないためである。このような場合は、測光セン
サ３４の実装部位をケース３１の平面部３５に位置させ
ることにより、フレキシブル配線基板３３の全体をケー
ス３１内に収容することができる。これにより測光セン
サ３４を曲げることなく収容できるため、測光センサ３
４が損傷することがないと共に、引き出し口３６から容
易に引き出すことができる。

【００３１】フレキシブル配線基板３３は、厚さ２５μ
ｍ程度のポリイミドフィルム等がベース４９として使用
される。このベース４９に対し、図５に示すように、配
線パターン３８（配線パターン３９も同様）及びシール
ドパターン４５（シールドパターン４６も同様）は、１
８μｍ程度の銅箔及び銅箔に胴メッキされた１０μｍ程
度のメッキ層によって形成されている。カバーレイ４４
は、これらのパターン３８、４５上に塗布された３５μ
ｍ程度の接着剤層及び接着剤層に接着された２５μｍ程
度のポリイミドフィルムによって構成されている。

【００３２】図５は、フレキシブル配線基板３３に対す
る測光センサ３４の実装構造を示す。測光センサ３４の
実装部分では、銅箔からなる実装用パターン５０がベー
ス４９上に形成され、この実装用パターン５０上に測光
センサ３４がダイボンディングされている。この測光セ
ンサ３４の実装部分の周囲におけるカバーレイ４４上に
は、ガラスエポキシ系樹脂からなる厚さ０．３ｍｍの封
止枠５１が接着されている。封止枠５１は測光センサ３
４を囲むように配置されており、この封止枠５１内に透
明なエポキシ系樹脂からなる封止樹脂５２を充填し、硬
化することによって、測光センサ３４、ボンディングワ
イヤ４０及び配線パターン３８（配線パターン３９も同
様）の先端部が封止されている。

【００３３】測光センサ３４は、半導体ウェハに形成さ
れるが、半導体ウェハの裏面を研磨して１５０μｍ程度
に薄くした後、ダイシングされて分離される。このため
薄いため、割れやすい特性を有している。これに対し
て、上述したように、封止枠５１で囲み、且つ封止樹脂
５２で封止した場合には、強度が付与されるため、測光
センサ３４が割れにくくなるメリットがある。なお、封
止枠５として、金属を使用しても良く、金属を使用する
ことによって封止枠５がノイズのシールドを兼ねるた
め、ノイズによる影響をさらに効果的に抑制することが
できる。

【００３４】図７は以上の測光ユニット３０を用いて、
カメラ２０のＥＥ調整を行うブロック図であり、図９と
同一の要素は同一の符号で対応させてある。調整対象と
なるカメラは完成品の状態であり、撮影レンズ２１、絞
り５５及びシャッター５６が内部に配置されている。

【００３５】測光ユニット３０は、図１に示すように、
このカメラ２０のフィルムカートリッジ室２５に下方か
ら挿入される。この挿入の後、送り軸３２の操作部３７
を手動によって、或いはステッピングモータ等の駆動に
よって回転させて、測光センサ３４がフィルムマスク
（露光開口部）に位置するまで、フレキシブル配線基板
３３を送り出す。これと共にシールド電線４２先端のコ
ネクタ４３を、ＥＥ調整器３のプラグに嵌合させて接続
する。

【００３６】ＥＥ調整器３は、ＥＥ調整を行う際の基準
となる光を発するハロゲンランプ等の光源５７と、光源
５７から出射した光をカメラ２０の方向に反射するリフ
レクタ５８と、リフレクタ５８で反射された光を均一な
面光線とする拡散板５９とを有している。又、測光ユニ
ット３０の測光センサ３４と接続され、同ユニット３０
で得られた出力を増幅すると共に、アナログ信号からデ
ジタル信号に変換する測光センサＩＦ（インターフェー
ス）回路６０と、測光センサＩＦ回路６０からの信号を
目的に応じてＢＶ（輝度）値、ＡＶ（絞り値）、ＴＶ
（シャッタースピード値）、ＥＶ（露出値）に算出して
変換する出力変換手段６１と、光源５７の輝度をＥＥ調
整のための調整条件に応じて制御する光源制御手段６３
と、測光センサＩＦ回路６０、出力変換手段６１及び光
源制御手段６３を制御する調整器制御手段６４とを備え
ている。

【００３７】カメラのＥＥ調整を行う際に、カメラに調
整用のシーケンスを実行させたり、調整値をカメラに記
憶させたり、カメラ２０に対してその他の作動を行わせ
るカメラ制御手段６５と、カメラ制御手段６５、調整器
制御手段６４を制御することによりＥＥ試験器全体の制
御を行うコントロール手段６６とを有している。

【００３８】なお、カメラ２０は、水平ガイド機構７、
上下調整機構１０に支持されたカメラ載置台１１に載置
されてＥＥ調整がなされるものであり、これらの構造は
図９と同様のものを使用することができる。

【００３９】次に、図８のフローチャートを参照してＥ
Ｅ調整の手順を説明する。カメラ２０の蓋２３を開い
て、フィルムカートリッジ室２５を開放状態とし（ステ
ップＳ１）、フィルムカートリッジ室２５に測光ユニッ
ト３０を挿入する（ステップＳ２）。そして、送り軸３
２を回転させて、フレキシブル配線基板３３を送り出す
（ステップＳ３）。この送り出しは、測光センサ３４が
フィルムマスク部分（露光開口部）に達するまで行い
（ステップＳ４）、測光センサ３４がフィルムマスク部
分に達した時点で、送り軸３２の回転を停止する（ステ
ップＳ５）。

【００４０】次に、ＥＥ調整以外の巻き上げ、レンズ駆
動、ＡＦ等の調整などの所謂、前工程での調整やチェッ
クが正しくなされてきたか否かをチェックする（ステッ
プＳ６）。その後、光源５７からの出射光を拡散板５９
を介して測光センサ３４に出力することにより、カメラ
内部の測光回路の調整を行い（ステップＳ７）、測光セ
ンサ３４の出力に基づいて光源５７の輝度を制御しなが
らシャッタ５６の調整（ステップＳ８）、絞り５５の調
整（ステップＳ９）を行う。そして、ステップＳ７〜Ｓ
９の調整内容を総合的にチェックするためにＥＥチェッ
クを行う（ステップＳ１０）。このチェックが完了した
後、これまでの調整データをＥＥＰＲＯＭなどのカメラ
２０の記憶手段に書き込む（ステップＳ１１）。

【００４１】その後は、送り軸３２を逆回転させてフレ
キシブル配線基板３３を巻き戻し（ステップＳ１２）、
フレキシブル配線基板３３の巻き戻しが完了したか否か
を判断し（ステップＳ１３）、巻き戻しが完了した時点
で送り軸３２の回転を停止する（ステップＳ１４）。そ
して、測光ユニット３０をフィルムカートリッジ室２５
から取り出し（ステップＳ１５）、蓋２３を閉じ（ステ
ップＳ１６）、ＥＥ調整を終了する。

【００４２】なお、以上の実施形態では、裏蓋のないド
ロップイン装填方式のカメラに対してのＥＥ調整を説明
したが、裏蓋のあるカメラに対しては、裏蓋を開放する
と共に、測光ユニットをフィルムカートリッジ室に挿入
してフレキシブル配線基板３３を送り出すことによっ
て、そのＥＥ調整を行うことができる。又、測光センサ
３４をフレキシブル配線基板３３に実装したが、リジッ
ドな配線基板に測光センサ３４を実装しても良い。リジ
ッドな配線基板では、ケース内に平板状に収容しても良
く、ケース内に収容することなく、そのままでフィルム
カートリッジ室内に挿入して、ＥＥ調整に使用すること
ができる。

【００４３】以上の実施の形態から、本発明は、下記の
発明を包含するものである。 （１） 一定輝度に対する自動露光動作を試験対象のカ
メラに実行させたときの露出光量を検出することによっ
て、カメラの自動露出精度を試験するカメラのＥＥ試験
器に用いられる測光ユニットであって、前記露出光量を
検出する測光センサが実装され、カメラのフィルムカー
トリッジ室に装填されるフレキシブル配線基板と、この
フレキシブル配線基板を送り出して前記測光センサをカ
メラの露光開口部に配置する送出機構と、を備えている
ことを特徴とするカメラのＥＥ試験器に用いられる測光
ユニット。

【００４４】この構成では、送出機構によって測光セン
サをカメラの露光開口部に位置させるため、ＥＥ調整を
正確に行うことができる。

【００４５】

【発明の効果】請求項１のＥＥ試験器では、電気回路基
板をカメラのフィルムカートリッジ室に挿入することに
より、配置用機構が測光センサをカメラの測定位置に位
置させるため、完成品状態で裏蓋のあるカメラ、完成品
状態で裏蓋のないカメラの双方に対して、ＥＥ試験を行
うことができる。

【００４６】請求項２の測光ユニットでは、送出機構が
フレキシブル配線基板をカメラ内部に送り出すため、測
光センサによるＥＥ試験を行うことができ、ＩＸ２４０
フィルムカートリッジを使用するカメラのみならず、ド
ロップイン装填方式のカメラであれば、どのカメラに対
しても適用できる。

【００４７】請求項３の測光ユニットによれば、測光セ
ンサが実装されたフレキシブル配線基板、このフレキシ
ブル配線基板が巻き付けられる送り軸等のＥＥ測定に必
要な全ての部材がケース内に収容されているため、コン
パクトとなり、取り扱い性が良好となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態の測光ユニットとカメラと
の関係を示す斜視図である。

【図２】測光ユニットの斜視図である。

【図３】測光ユニットの分解斜視図である。

【図４】カバーレイを除いたフレキシブル配線基板の平
面図である。

【図５】図４のＡ−Ａ線断面図である。

【図６】図４のＢ−Ｂ線断面図である。

【図７】ＥＥ試験器の全体のブロック図である。

【図８】ＥＥ試験の手順を説明するフローチャートであ
る。

【図９】従来のＥＥ試験器の斜視図である。

【符号の説明】

２０ カメラ ２５ フィルムカートリッジ室 ３０ 測光ユニット ３１ ケース ３２ 送り軸 ３３ フレキシブル配線基板 ３４ 測光センサ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 渡辺 章 東京都渋谷区幡ヶ谷２丁目43番２号 オリ ンパス光学工業株式会社内 (72)発明者 牛山 正 東京都渋谷区幡ヶ谷２丁目43番２号 オリ ンパス光学工業株式会社内 (72)発明者 井上 晃 東京都渋谷区幡ヶ谷２丁目43番２号 オリ ンパス光学工業株式会社内

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 一定輝度に対する自動露出動作を試験対
   象のカメラに実行させたときの露出光量を検出すること
   によって、カメラの自動露出精度を試験するカメラのＥ
   Ｅ試験器であって、 前記露出光量を検出する測光センサと、 この測光センサが実装された電気回路基板と、 この電気回路基板を前記カメラのフィルムカートリッジ
   室に挿入したとき、前記測光センサをカメラ内の所定の
   測定位置に配置させる配置用機構と、を備えていること
   を特徴とするカメラのＥＥ試験器。
2. 【請求項２】 一定輝度に対する自動露出動作を試験対
   象のカメラに実行させたときの露出光量を検出すること
   によって、カメラの自動露出精度を試験するカメラのＥ
   Ｅ試験器に用いられる測光ユニットであって、 前記露出光量を検出する測光センサと、 この測光センサが実装されたフレキシブル配線基板と、 このフレキシブル配線基板を収容するケースと、 このケースから前記フレキシブル配線基板をカメラ内部
   の露光開口位置に送り出す送出機構と、を備えているこ
   とを特徴とするカメラのＥＥ試験器に用いられる測光ユ
   ニット。
3. 【請求項３】 一定輝度に対する自動露出動作を試験対
   象のカメラに実行させたときの露出光量を検出する測光
   センサと、 この測光センサが実装されたフレキシブル配線基板と、 このフレキシブル配線基板が巻き付けられ、回転によっ
   てフレキシブル配線基板を送り出す送り軸と、 この送り軸が回転可能に収容されたケースと、を備えて
   いることを特徴とするカメラのＥＥ試験器に用いられる
   測光ユニット。