JP2017021187A - 電子機器及び撮像装置 - Google Patents

Abstract

【課題】アクチュエータが発する磁力に起因する磁気センサの誤検知を防止する。【解決手段】撮像装置１は、磁石２６を有するＶＣＭユニット２３が実装されたレンズ鏡筒２と、撮像装置本体内の収納位置と撮像装置本体から突出した発光位置との間で移動可能な発光ユニット５１０と、発光ユニット５１０を制御するストロボ制御回路とを備え、発光ユニット５１０は磁気センサ５１５を備える。磁気センサ５１５は、発光ユニット５１０が収納位置にあるときに所定の閾値を超える磁束密度を検知し、発光ユニット５１０が発光位置にあるときに閾値以下の磁束密度を検知する。ストロボ制御回路は、磁気センサ５１５が閾値を超える磁束密度を検知したことを示す出力に応じて発光ユニット５１０を発光不可状態に維持し、磁気センサ５１５が閾値以下の磁束密度を検知したことを示す出力に応じて発光ユニット５１０を発光可能状態に維持する。【選択図】図７

Description

本発明は、磁気センサを用いて位置情報を検知する機能を備える電子機器及び撮像装置に関する。

電子機器の一例である撮像装置として、ストロボ発光部をカメラ本体の内部の収納位置とカメラ本体から突出した発光位置との間で移動させるポップアップ式のストロボユニットを備えるデジタルカメラが知られている。ストロボユニットのポップアップ機構としては、カメラ本体の小型化の要請から、ストロボ発光部の収納スペースの省スペース化が可能な２本の回動軸を用いるものが主流となっている。このような構造の場合、カメラ本体に対するストロボ発光部の高さ方向への移動量を抑えながら、ストロボ発光部を被写体側へストロボ発光部を移動させることができる。よって、大口径のレンズ鏡筒を備えている場合でも、レンズ鏡筒の先端でストロボ光が遮られる、所謂、ケラレの発生を防止することができる。このようなポップアップ式のストロボユニットでのストロボ発光部の位置検知方法としては、巨大磁気抵抗素子（ＧＭＲ素子）や半導体ホール素子等の磁気センサを用いる方法が知られている（例えば、特許文献１参照）。

一方、デジタルカメラを構成するレンズ鏡筒として、ズームレンズやフォーカスレンズ等の各種レンズを電子制御によって駆動するモータ等のアクチュエータを備えるものが知られており、これらのアクチュエータは、一般的に、磁石を備えている。ここで、レンズ鏡筒の光学性能の高性能化やカメラ本体に設けられるイメージセンサの大型化に伴う各種レンズの大口径化やレンズ数の増加により、アクチュエータによる駆動対象物の重量が増加している。そのため、レンズ鏡筒に設けられたアクチュエータには、重量が増加したレンズ群を駆動するためのより大きな駆動力を得るために、より強力な磁石を備える必要が生じている。

特開２００４−１８４２９３号公報

しかしながら、レンズ鏡筒を駆動するアクチュエータがより強力な磁石を備える場合、ストロボ発光部の位置を検知する磁気センサがアクチュエータの磁石の磁束を検知してしまい、所望のセンシング動作が行われずに誤検知が発生してしまうおそれがある。

本発明は、アクチュエータが発する磁力に起因する誤検知の発生を防止して、所望のセンシングを正確に行うことが可能な電子機器及び撮像装置を提供することを目的とする。

本発明に係る電子機器は、磁石を有するアクチュエータと、第１の位置と第２の位置との間を移動可能な可動部と、前記可動部に設けられた磁気検知手段と、を備える電子機器であって、前記磁気検知手段は、前記可動部が前記第１の位置にあるときに前記磁石の磁束密度を検知可能な位置に位置し、前記可動部が前記第２の位置にあるときに前記磁石の磁束密度を検知不可能な位置に位置することを特徴とする。

本発明に係る撮像装置は、磁石を有するアクチュエータが実装されたレンズ鏡筒と、前記レンズ鏡筒を通過した光が結像する位置に撮像素子が実装された撮像装置本体と、発光部を有し、前記発光部が前記撮像装置本体の内部に収納される収納位置と前記撮像装置本体から突出した発光位置との間で移動可能な発光ユニットと、前記発光ユニットに設けられ、前記磁石の磁束密度を検知する磁気検知手段と、前記発光部の発光を制御する制御手段と、を備え、前記磁気検知手段は、前記発光部が前記収納位置にあるときに所定の閾値を超える磁束密度を検知し、前記発光部が前記発光位置にあるときに前記所定の閾値以下の磁束密度を検知し、前記制御手段は、前記磁気検知手段が前記所定の閾値を超える磁束密度を検知しているときに前記発光部を発光不可状態に維持し、前記磁気検知手段が前記所定の閾値以下の磁束密度を検知しているときに前記発光部を発光可能状態に維持することを特徴とする。

本発明によれば、アクチュエータが発する磁力に起因する誤検知の発生を防止して、所望のセンシングを正確に行うことができる。

本発明の実施形態に係る撮像装置の外観斜視図である。 図１の撮像装置の分解斜視図である。 図１の撮像装置が備えるレンズ鏡筒を構成するフォーカス鏡筒の構成を示す斜視図、分解斜視図及び背面図である。 図１の撮像装置が備えるストロボユニットの構成を示す分解斜視図である。 図４のストロボユニットを構成する発光部及び発光部フレキの構成を示す斜視図と、発光部フレキに設けられた磁気センサの概略構成を示す図である。 図４のストロボユニットを構成する発光ユニットが、撮像装置本体の収納位置にある状態を示す側面図と、発光位置にある状態を示す側面図である。 図６（ｂ）の状態での磁気センサのセンシングを説明する図と、磁気センサの近傍の拡大図である。 図６（ａ）の状態での磁気センサのセンシングを説明する図と、磁気センサの近傍の拡大図である。 図４のストロボユニットを構成する発光部フレキの配線を説明する図である。

以下、本発明の実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。ここでは、本発明に係る電子機器として、撮像装置（より具体的には、デジタルカメラ）を取り上げることとする。

図１（ａ），（ｂ）は、本発明の実施形態に係る撮像装置１を被写体側（正面側）から見た外観斜視図であり、図１（ｃ）は、撮像装置１を背面側から見た外観斜視図である。図１（ａ）は、ストロボユニット５の発光ユニット５１０が撮像装置本体に収納された状態を示しており、図１（ｂ）は、ストロボユニット５の発光ユニット５１０が撮像装置本体からポップアップ（突出）して発光位置にある状態を示している。図１（ｃ）は、ストロボユニット５の発光ユニット５１０が撮像装置本体に収納された状態を示している。図２は、撮像装置１の分解斜視図である。

撮像装置１では、フロントカバー３１、リアカバー７１、上面カバー４０、サイドカバー６１及び発光部カバー５１が、撮像装置本体の外装を構成している。フロントカバー３１及びリアカバー７１は、例えば、アルミニウムやステンレス等の金属製の板材にプレス加工等の加工を施すことにより形成される。上面カバー４０、サイドカバー６１及び発光部カバー５１は、例えば、樹脂で形成される。

撮像装置１の正面側には、レンズ鏡筒２が配置されている。レンズ鏡筒２は、撮影位置と沈胴位置との間で光軸方向に移動して撮影倍率を変更するズーム式鏡筒であり、撮影レンズ、ズーム機構、シャッタ機構及びフォーカス機構等を備える。撮像装置本体内のレンズ鏡筒２の後方には、レンズ鏡筒を通過した光が結像した光学像を光電変換して画像デ−タを生成するＣＣＤセンサ又はＣＭＯＳセンサ等の撮像素子（不図示）が実装されている。また、撮像装置１の撮像装置本体の内部には、撮像装置１での各種動作やデータ処理を行うＣＰＵや、各種の電子部品及び電気部品を接続するフレキシブル配線基板を電気的に接続するコネクタ等が実装されたメイン基板（不図示）が配置されている。

撮像装置１の上面側に配置された上面カバー４０の正面側には、オートフォーカスの精度を向上させる際に発光する補助光照射窓４１が設けられている。また、上面カバー４０の上面側には、電源ボタン４２、再生ボタン４３、レリーズボタン４４、回転操作型のズームレバー４５、回転操作型のモードダイヤル４６及びマイク穴４７が設けられている。

撮像装置１を正面側から見たときの右上部には、ストロボユニット５が配置されている。ストロボユニット５は、発光ユニット５１０を有し、発光ユニット５１０は発光部カバー５１を有する。発光ユニット５１０は、不使用時には、図１（ａ）に示すように、撮像装置本体内に収納される。一方、発光ユニット５１０は、撮像時に被写体の明るさが足りない場合に、撮像装置本体からポップアップして図１（ｂ）に示す発光位置へ移動する。

発光ユニット５１０のポップアップ動作は、撮像装置１を正面側から見たときの右側面に設けられたストロボ解除レバー５２の操作によって行うことができる。また、レリーズボタン４４の半押しによって実行される自動露出の結果に基づき、被写体の明るさが足りないと判断された場合に発光ユニット５１０は自動的にポップアップして、発光位置へ移動する。このように、発光ユニット５１０は、可動部として、撮像環境に応じて、図１（ａ）に示す収納位置（第１の位置）と図１（ｂ）に示す発光位置（第２の位置）との間で移動可能に構成されている。

撮像装置１の底部には、撮像装置本体に電池を収納する電池室を開閉可能に覆う電池蓋８が設けられている。なお、電池室には、画像データを記憶する半導体メモリカード等の記憶媒体の挿抜が可能なカードスロットも設けられている。

撮像装置１を背面側から見たときの右側面には、各種の外部装置との有線通信に用いられるケーブルが挿抜される入出力用ジャックを開閉可能に覆うカバー部材９１，９２が設けられている。撮像装置１の背面を構成するリアカバー７１には、液晶パネル等の表示ユニット１０や、撮像装置１での各種設定や画像処理等を行うための操作ボタン群７２が設けられている。

次に、レンズ鏡筒２を構成するフォーカス鏡筒について説明する。フォーカス鏡筒は、レンズ鏡筒２においてフォーカスレンズを光軸方向に移動させて、被写体に対する合焦動作を行う部位である。本実施形態では、フォーカスレンズの駆動用アクチュエータとして、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）を使用した形態について説明する。

図３（ａ）は、フォーカス鏡筒２０の全体構成を示す斜視図である。図３（ｂ）は、フォーカス鏡筒２０の分解斜視図である。図３（ｃ）は、フォーカス鏡筒２０の背面図（撮像装置１の背面方向から見た図）である。フォーカス鏡筒２０は、撮像素子を保持するセンサホルダ２１を有しており、センサホルダ２１と撮像装置本体とが不図示のビス等で締結されることによって、レンズ鏡筒２は撮像装置本体に固定される。

フォーカス鏡筒２０は、ＶＣＭユニット２３を保持する固定筒２２を備える。固定筒２２は、センサホルダ２１に固定される。ＶＣＭユニット２３は、Ｕ字型のヨーク２７と、ヨーク２７の直線部分の内側面の一方に固定された磁石２６と、コイル２８とを有する。ヨーク２７は、固定筒２２に保持される。磁石２６には、大きな磁力を有するサマリウムコバルト系希土類磁石やネオジウム系希土類磁石等の永久磁石が用いられる。なお、ヨーク２７の直線部分とは、ヨーク２７が固定筒２２に保持された状態で、光軸と平行になる部分を指す。

フォーカス鏡筒２０は、フォーカスレンズ２４を保持したレンズ保持部材２５を備え、コイル２８は、レンズ保持部材２５に設けられている。ヨーク２７の一方の直線部分は、コイル２８の巻回内に挿入された状態で維持される。コイル２８には、半田付け部２９ａにおいてフレキシブル基板２９の一端が半田付けされており、フレキシブル基板２９の他端は、例えば、不図示のメイン基板に接続されている。フレキシブル基板２９に通電を行うことにより、コイル２８に発生した磁束と磁石２６の磁束との相互作用によって推進力を発生させ、コイル２８を光軸方向（ヨーク２７の長手方向）に移動させることにより、レンズ保持部材２５を光軸方向に移動させる。こうして、被写体に対してピントを合わせる合焦動作が行われる。

図４は、ストロボユニット５の構成を示す分解斜視図である。ストロボユニット５は、発光ユニット５１０を有する。発光ユニット５１０は、発光部５１１、発光部フレキ５１２、発光部ホルダ５１３及び発光部カバー５１を有する。発光部５１１は、Ｘｅ管、反射傘、発光部窓及びトリガコイル等を有し、Ｘｅ管を発光させたときの光は、反射傘によって撮像対象となる領域（撮影画角）に集光され、発光部窓から撮像対象へ照射される。詳細は後述するが、発光部５１１には、半田付けにより発光部５１１の発光を制御するためのフレキシブル基板である発光部フレキ５１２が接続される。

発光部ホルダ５１３は、発光部５１１が収納される発光部収納部５１３ａを有し、発光部収納部５１３ａの後ろ側には、発光部フレキ５１２を引き出すための挿通口５１３ｃが設けられている。発光ユニット５１０の組み立て時には、先ず、発光部ホルダ５１３の挿通口５１３ｃに発光部フレキ５１２を通しながら、発光部５１１が発光部収納部５１３ａに収納される。そして、発光部５１１は、発光部５１１が収納された発光部ホルダ５１３の上部に発光部カバー５１を被せることによってケーシングされる。最後に、発光部ホルダ５１３の側面からビス５１７が挿入されて、発光部カバー５１が発光部ホルダ５１３に固定される。これにより、発光ユニット５１０の組み立ては完了する。

発光ユニット５１０には、アーム部材５２１が組み付けられる。発光部ホルダ５１３の後ろ側の底面には一対の軸受部５１３ｄが設けられており、アーム部材５２１は、バネ５２２及び回動軸５２３を介して一対の軸受部５１３ｄに回動自在に支持される。バネ５２２は、発光ユニット５１０を撮像装置本体からの突出方向（発光位置へ向かう方向）へ付勢する。

発光ユニット５１０が発光位置にあるときに発光部フレキ５１２が外観に露出しないように、発光部フレキ５１２を覆うアームカバー部材５２４がアーム部材５２１に組み付けられる。アームカバー部材５２４は、ビス５２５によりアーム部材５２１に固定され、これにより、発光部アームユニット５２０の組み立てが完了する。即ち、発光部アームユニット５２０は、発光ユニット５１０、アーム部材５２１及びアームカバー部材５２４を主な構成部品とする。なお、アーム部材５２１にアームカバー部材５２４が固定されても、発光部フレキ５１２が移動するために必要な空間は確保されている。

発光部アームユニット５２０は、ストロボベース５３の上部に形成されたアームユニット収納部５３ａに収納される。ストロボベース５３の前面には、発光部フレキ５１２をストロボベース５３の後ろ側に配置されるストロボ基板５３０へ這い回すための第１挿通口５３ｂ及び第２挿通口５３ｃが形成されている。

発光部アームユニット５２０をストロボベース５３のアームユニット収納部５３ａに収納する際には、発光部フレキ５１２を第１挿通口５３ｂへ通してストロボベース５３の前面に引き出しておく。この状態で、アーム部材５２１は、バネ５５及び回動軸５６を介して、ストロボベース５３に設けた一対の軸受部５３ｄに回動可能に取り付けられる。ここで、一対の軸受部５３ｄは、ストロボ光のレンズ鏡筒２によるケラレが生じないように、撮像装置本体の高さ方向では上側に、且つ、光軸方向では被写体側に配置することが望ましい。つまり、外観部を構成する上面カバー４０の直下に一対の軸受部５３ｄを配置することが望ましい。バネ５５も、バネ５２２と同様に、発光ユニット５１０を撮像装置本体からの突出方向（発光位置へ向かう方向）へ付勢する。

続いて、発光部フレキ５１２を１８０度曲げて第２挿通口５３ｃへ通すことにより、発光部フレキ５１２は、ストロボベース５３の後ろ側に固定されるストロボ基板５３０へ這い回される。これにより、発光ユニット５１０が発光位置にポップアップした状態において、発光部フレキ５１２が露出する部分を最小限に抑えて、発光部フレキ５１２をストロボベース５３の後ろ側に配置したストロボ基板５３０に接続することができる。ストロボ基板５３０は、発光部フレキ５１２がストロボ基板５３０に配置された不図示のコネクタに接続された後に、ストロボベース５３に対してビス５３１により固定される。

次に、発光部５１１と発光部フレキ５１２の構成について説明する。図５（ａ）は、発光部５１１と発光部フレキ５１２の構成を示す斜視図である。

発光部５１１は、前述の通り、Ｘｅ管や反射傘、発光部窓、トリガコイル等を有している。Ｘｅ管へは、発光部フレキ５１２により所定の電圧が供給される。また、トリガコイルは、入力端子５１４として、Ｘｅ＋信号端子５１１ｄ、Ｘｅ−信号端子５１１ａ、トリガ入力信号端子５１１ｃ及びグランド（ＧＮＤ）信号端子５１１ｂを有する。発光部フレキ５１２は、トリガコイルの入力端子５１４に対応するＸｅ＋信号ランド５１２ｄ、Ｘｅ−信号ランド５１２ａ、トリガ入力信号ランド５１２ｃ及びグランド信号ランド５１２ｂを有しており、これらは半田付けにより接続される。

発光部フレキ５１２には、磁気検知素子である磁気センサ５１５が設けられている。磁気センサ５１５は、ＶＣＭユニット２３を構成する磁石２６との距離に応じて信号を出力する。また、発光部フレキ５１２の他端に設けられた端子部５１２ｅは、ストロボ基板５３０に配置された不図示のコネクタに接続されており、ストロボ基板５３０には、発光部５１１での発光を制御するストロボ制御回路が実装されている。こうして、磁気センサ５１５の出力信号は、発光部フレキ５１２の信号線を介して、ストロボ基板５３０に実装されたストロボ制御回路へ伝達される。

磁気センサ５１５には、巨大磁気抵抗素子が用いられる。ＧＭＲ素子は、磁気抵抗効果を利用して主面に平行な磁束を検知し、その際に、磁束密度が大きくなるにしたがって電気抵抗が大きくなる性質を有する合金（具体的には、ニッケル、鉄及びコバルトを主成分とする合金）からなる。ＧＭＲ素子と判定回路とを組み合わせることによって、ＧＭＲセンサが構成される。判定回路は、ストロボ制御回路の一部として構成することができる。

図５（ｂ）は、発光部フレキ５１２に設けられた磁気センサ５１５の概略構成を示す図である。磁気センサ５１５として、一般的なＧＭＲ素子を用いることができる。磁気センサ５１５は、端子５１５ａ，５１５ｂ，５１５ｃ，５１５ｄを備える。端子５１５ａ，５１５ｂはグランド端子であり、端子５１５ｃは電源端子であり、端子５１５ｄは信号出力端子である。磁気センサ５１５は、図５（ｂ）中の矢印Ａ方向を貫く磁束密度が所定の閾値を超える場合には、端子５１５ｄからＬ信号を出力する。一方、磁気センサ５１５は、図５（ｂ）中の矢印Ａ方向を貫く磁束密度が所定の閾値以下の場合には、端子５１５ｄからＨ信号を出力する。

次に、ストロボユニット５の動作について説明する。図６（ａ）は、発光ユニット５１０が撮像装置本体の収納位置で保持されている状態を示す側面図である。図６（ｂ）は、発光ユニット５１０が発光位置にある状態を示す側面図である。

発光ユニット５１０は、ストロボ解除レバー５２（図１（ａ）参照）と一体に形成される不図示の爪部が発光部ホルダ５１３の不図示の係合部と係合した状態で、図６（ａ）に示す収納位置に保持されている。撮影者がストロボ解除レバー５２をスライド操作すると、ストロボ解除レバー５２の爪部が発光部ホルダ５１３の係合部から離脱する。すると、バネ５５及びバネ５２２の付勢力により、アーム部材５２１が回動軸５６を中心に回動すると共に、発光ユニット５１０の発光部ホルダ５１３が回動軸５２３を中心に発光位置に向けて回動する。そして、アーム部材５２１がストロボベース５３のストッパ面５３ｅに当接することにより、バネ５５によるアーム部材５２１の付勢方向への回動が規制される。また、発光部ホルダ５１３がアーム部材５２１のストッパ面５２１ａに当接することにより、バネ５２２による発光部ホルダ５１３の付勢方向への回動が規制される。こうして、発光ユニット５１０は、図６（ｂ）に示す発光位置に保持される。

一方、撮影者が、発光位置にある発光ユニット５１０の発光部カバー５１を撮像装置本体側へ押し込むと、発光ユニット５１０がバネ５５２の付勢力に抗して回動軸５２３を中心として収納方向に回動する。また、アーム部材５２１が、バネ５５の付勢力に抗して回動軸５６を中心として収納方向に回動する。撮影者が更に発光部カバー５１を撮像装置本体側へ押し込むと、撮像装置本体に設けられたストロボ解除レバー５２の爪部が発光部ホルダ５１３の係合部と係合する。こうして、発光ユニット５１０を図６（ｂ）の発光位置から図６（ａ）の収納位置へ戻すことができる。

次に、磁気センサ５１５によるセンシング動作について説明する。図７（ａ）は、発光ユニット５１０が発光位置にあるときの（図６（ｂ）の状態での）磁気センサ５１５のセンシングを説明する図である。また、図７（ｂ）は、図７（ａ）における磁気センサ５１５の近傍の拡大図である。

フォーカス鏡筒２０が有する磁石２６とヨーク２７は、フォーカス鏡筒２０（図３参照）の上部、つまり、レンズ鏡筒２の上部に配置されており、磁石２６が発生する磁束が図７（ａ），（ｂ）では矢印Ｂで示されている。磁気センサ５１５は、発光ユニット５１０が発光位置にあるときに、磁気センサ５１５の磁束検知方向である矢印Ａ方向と磁石２６の磁束中心から放射方向である矢印Ｄ方向とが略一致するように、つまり、磁石２６の磁気を検知不可能な位置に配置される。

この状態では、図７（ｂ）に示すように、磁気センサ５１５の磁束検知方向（矢印Ａ方向）を貫く磁束が殆どなく、検知される磁束密度が閾値以下となるため、磁気センサ５１５からＨ信号がストロボ制御回路へ出力される。磁気センサ５１５からの出力信号を判定する判定回路を有するストロボ制御回路は、磁気センサ５１５からのＨ信号に基づき、発光ユニット５１０の発光部５１１を発光可能状態に制御する。したがって、撮影者がレリーズボタン４４を押下（全押し）したときに、必要に応じて発光部５１１からストロボ光が被写体に向けて照射される。

図８（ａ）は、発光ユニット５１０が収納位置にあるときの（図６（ａ）の状態での）磁気センサ５１５のセンシングを説明する図である。また、図８（ｂ）は、図８（ａ）における磁気センサ５１５の近傍の拡大図である。磁気センサ５１５は、発光ユニット５１０が収納位置にあるときに、磁気センサ５１５の磁束検知方向である矢印Ａ方向と磁石２６の磁束中心から放射方向である矢印Ｄ方向とが一定の角度で交差するように、つまり、磁石２６の磁気を検知可能な位置に配置される。

この状態では、発光ユニット５１０が収納位置にあるとき、磁気センサ５１５を通る矢印Ｂで示される磁束には、磁気センサ５１５の磁束検知方向（矢印Ａ方向）と平行な磁束成分Ｃが生じ、磁束検知方向を貫く磁束が発生した状態となる。そして、磁束成分Ｃの磁束密度が閾値より大きくなる（逆に言えば、磁束成分Ｃの磁束密度よりも小さい閾値を設定する）ことで、磁気センサ５１５からＬ信号がストロボ制御回路へ出力される。

ストロボ制御回路は、磁気センサ５１５からのＬ信号に基づき、発光ユニット５１０の発光部５１１を発光不可状態に制御する。したがって、撮影者がレリーズボタン４４を押下（全押し）しても、発光部５１１からはストロボ光は発光されない状態となる。

上記説明の通り、撮像装置１では、発光ユニット５１０が発光位置にあるときには、レンズ鏡筒２に設けられたボイスコイルモータ（アクチュエータ）が有する磁石２６の磁力の影響を受けることなく、発光部５１１を発光可能状態に維持することができる。換言すれば、発光ユニット５１０が発光位置にあるにもかかわらず、レンズ鏡筒２に設けられた磁石２６の磁力の影響を受けて、発光部５１１が発光不可状態に設定されてしまうのを防止することができる。

また、撮像装置１では、発光ユニット５１０が収納位置にあるときには、レンズ鏡筒２に設けられた磁石２６の磁力を検知して、発光部５１１を発光不可状態に維持することができる。換言すれば、発光ユニット５１０が収納位置にあるにもかかわらず、レンズ鏡筒２に設けられた磁石２６の磁力の影響を受けて、発光部５１１が発光可能状態に設定されてしまうのを防止することができる。

図９は、発光部フレキ５１２の配線を説明する図である。前述の通り、発光部５１１が有するトリガコイルのＸｅ＋信号端子５１１ｄ及びＸｅ−信号端子５１１ａはそれぞれ、発光部フレキ５１２のＸｅ＋信号ランド５１２ｄ及びＸｅ−信号ランド５１２ａに半田付けにより接続される。また、発光部５１１が有するトリガコイルのトリガ入力信号端子５１１ｃ及びグランド信号端子５１１ｂはそれぞれ、発光部フレキ５１２のトリガ入力信号ランド５１２ｃ及びグランド信号ランド５１２ｂに半田付けにより接続される。

磁気センサ５１５は、発光部フレキ５１２のＸｅ＋信号ランド５１２ｄ側に実装されている。このとき、トリガコイルのＸｅ＋信号用の信号線と、磁気センサ５１５のトリガ入力信号用及び信号出力用の信号線とを、トリガコイルのグランド信号線と磁気センサ５１５のグランド信号線とで隔てている。このような構成とすることにより、発光部５１１から磁気センサ５１５への発光ノイズの影響を小さく抑えることができ、磁気センサ５１５での磁束密度の検出精度を高く維持することができる。

以上、本発明をその好適な実施形態に基づいて詳述してきたが、本発明はこれら特定の実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の様々な形態も本発明に含まれる。例えば、フォーカス鏡筒２０に設けられた磁石の磁気を検知することによって発光部５１１の動作を制御した。しかし、フォーカス鏡筒２０の駆動に磁石を用いない構成も考えられる。その場合でも、例えば、レンズ鏡筒２に像ぶれ補正機構が設けられ、像ぶれ補正機構に磁石が用いられている場合には、この磁石の磁気を検知することによって、発光部５１１の動作を制御するようにしてもよい。また、本発明は、撮像装置に限って適用が可能なものではない。本発明は、磁石と、第１の位置と第２の位置との間を移動可能な可動部とを備え、可動部の位置を磁気センサで検知する電子機器において、磁石の磁力が磁気センサの検知結果に影響を与える電子機器に広く適用することができる。

１ 撮像装置
２ レンズ鏡筒
５ ストロボユニット
２３ ＶＣＭユニット
２６ 磁石
５１０ 発光ユニット
５１１ 発光部
５１２ 発光部フレキ
５１５ 磁気センサ

Claims (6)

1. 磁石を有するアクチュエータと、
   第１の位置と第２の位置との間を移動可能な可動部と、
   前記可動部に設けられた磁気検知手段と、を備える電子機器であって、
   前記磁気検知手段は、前記可動部が前記第１の位置にあるときに前記磁石の磁気を検知可能な位置に位置し、前記可動部が前記第２の位置にあるときに前記磁石の磁気を検知不可能な位置に位置することを特徴とする電子機器。
2. 前記磁気検知手段は、前記可動部が前記第２の位置にあるときに、前記磁石の磁束中心からの放射方向と前記磁気検知手段における磁束検知方向とが略一致する向きに配置されることを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
3. 前記磁気検知手段は、前記発光部が前記第１の位置にあるときに所定の閾値を超える磁束密度を検知し、前記発光部が前記第２の位置にあるときに前記所定の閾値以下の磁束密度を検知するように配置されることを特徴とする請求項１又は２に記載の電子機器。
4. 前記可動部は、電子部品を有し、
   前記磁気検知手段は、前記電子部品に接続されたフレキシブル基板に実装され、
   前記フレキシブル基板において、前記電子部品を駆動するための信号線と前記磁気検知手段の出力信号を伝達する信号線との間にグランド信号線が設けられていることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の電子機器。
5. 前記磁気検知手段は、巨大磁気抵抗素子であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の電子機器。
6. 磁石を有するアクチュエータが実装されたレンズ鏡筒と、
   前記レンズ鏡筒を通過した光が結像する位置に撮像素子が実装された撮像装置本体と、
   発光部を有し、前記発光部が前記撮像装置本体の内部に収納される収納位置と前記撮像装置本体から突出した発光位置との間で移動可能な発光ユニットと、
   前記発光ユニットに設けられ、前記磁石の磁束密度を検知する磁気検知手段と、
   前記発光部の発光を制御する制御手段と、を備え、
   前記磁気検知手段は、前記発光部が前記収納位置にあるときに所定の閾値を超える磁束密度を検知し、前記発光部が前記発光位置にあるときに前記所定の閾値以下の磁束密度を検知し、
   前記制御手段は、前記磁気検知手段が前記所定の閾値を超える磁束密度を検知しているときに前記発光部を発光不可状態に維持し、前記磁気検知手段が前記所定の閾値以下の磁束密度を検知しているときに前記発光部を発光可能状態に維持することを特徴とする撮像装置。