JPH10199853A - スピン処理装置およびスピン処理方法 - Google Patents

スピン処理装置およびスピン処理方法

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JPH10199853A
JPH10199853A JP31371697A JP31371697A JPH10199853A JP H10199853 A JPH10199853 A JP H10199853A JP 31371697 A JP31371697 A JP 31371697A JP 31371697 A JP31371697 A JP 31371697A JP H10199853 A JPH10199853 A JP H10199853A
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cup
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敏 土井
Sadaaki Kurokawa
禎明 黒川
Naoaki Sakurai
直明 桜井
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 この発明はカップ体内で発生するミストが半
導体ウエハに付着するのを防止できるようにしたスピン
処理装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 半導体ウエハ21を回転させて処理する
スピン処理装置において、下カップ75およびこの下カ
ップに対し所定の隙間を介して上下動自在に設けられた
上カップ76とを有するカップ体80と、このカップ体
内に設けられ上記半導体ウエハを保持する回転体9と、
この回転体を回転駆動する駆動手段と、上記下カップの
底部に接続され上記カップ体内の排気を行う排気管77
と、上記上カップの内周面に設けられ上記回転体に保持
される上記半導体ウエハの周囲を覆う飛散防止カバ−8
1とを具備したことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は被処理物を回転さ
せながら洗浄処理し、ついで乾燥処理するスピン処理装
置およびスピン処理方法に関する。
【0002】
【従来の技術】たとえば液晶製造装置や半導体製造装置
においては、液晶用ガラス基板や半導体ウエハなどの被
処理物を高い清浄度で洗浄して乾燥させるということが
要求される工程がある。上記被処理物を洗浄して乾燥さ
せるためには、この被処理物を回転させながら純水など
の処理液を噴射して洗浄し、ついで処理液を噴射させず
に回転させることで乾燥させるということが行われる。
【0003】このような処理を行うためにスピン処理装
置が用いられている。スピン処理装置はカップ体を有す
る。このカップ体の内部には回転駆動機構によって回転
駆動される回転体が設けられている。この回転体の上面
側には上記被処理物が保持されている。上記カップ体の
上方には上記被処理物に向けて処理液を噴射するノズル
体が設けられている。
【0004】したがって、上記ノズル体から処理液を上
記被処理物に向けて噴射させることで、この被処理物の
上面全体を洗浄処理することができる。たとえば、被処
理物を薬液で洗浄処理する場合、その薬液による洗浄
後、同じく処理液としての純水を噴射してリンス処理
し、ついで処理液を供給しない状態で上記被処理物を回
転させることで、リンス処理された被処理物を乾燥処理
するということが行われる。
【0005】上記カップ体の内部には、回転する回転体
や被処理物に処理液が噴射されることでミストが発生
し、そのミストが洗浄処理や乾燥処理された被処理物に
再付着し、その被処理物を汚染させるということがあ
る。
【0006】そこで、上記カップ体の底部に排気管を接
続し、カップ体内に浮遊するミストをカップ体内の気体
とともに吸引排出することで、上記ミストが被処理物に
再付着するのを防止するということが行われている。
【0007】ところで、回転する被処理物からは、ミス
トが径方向外方へ向かって高速度で飛散し、カップ体の
内周面に衝突して反射する。カップ体の内周面で反射し
たミストは上記排気管に吸引されてカップ体内から排出
される。
【0008】しかしながら、カップ体の内周面で反射し
たミストはその反射方向が一定になりにくいから、その
一部は、カップ体内における、上記排気管で発生する吸
引作用が及ばない箇所に散乱する。そのため、ミストの
一部は上記排気管の吸引力によってカップ体内に生じる
気流に乗らずに、被処理物に再付着するということがあ
る。
【0009】上記カップ体は下カップと、この下カップ
に上下動自在に設けられた上カップとから構成されてい
る。そして、上記被処理物を上記回転体に対して着脱す
る際には、上記上カップを下降させて回転体を露出さ
せ、たとえばロボットによって着脱するようにしてい
る。
【0010】このような構成のカップ体によると、上カ
ップを上下動自在な構成とするためには、下カップと上
カップとの間に隙間を設けなければならない。そのた
め、カップ体内の気体を排出するために排気管に吸引力
を発生させると、その吸引力によって外気が下カップと
上カップとの隙間から吸引されるということがある。下
カップと上カップとの隙間を通過した外気には塵埃が含
まれていることがあるから、それによって被処理物が汚
染されるということがある。
【0011】なお、下カップと上カップとの間に隙間を
設けずに、上カップを上下動させると、これらの摺動に
よって塵埃が発生して被処理物に付着することが避けら
れないから、その点では隙間を設けた方がよいことにな
る。
【0012】さらに、排気管によってカップ体内の気体
を吸引排出する際、カップ体内で生じる気流の方向と排
気管によってカップ体内で生じる吸引方向とが異なる
と、カップ体内のミストが上記排気管へ円滑に流れにく
いということがある。その結果、カップ体内にミストが
浮遊し、そのミストが被処理物に付着するということが
ある。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】このように従来は、カ
ップ体内で発生するミストや被処理物が汚染されたり、
カップ体内に侵入する外気によって被処理物が汚染され
るということがあった。この発明の目的は、カップ体内
で発生するミストによって被処理物が汚染されたり、カ
ップ体内に侵入する外気によって被処理物が汚染される
などのことがないようにしたスピン処理装置およびスピ
ン処理方法を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、被処
理物を回転させて処理するスピン処理装置において、下
カップおよびこの下カップに対し所定の隙間を介して上
下動自在に設けられた上カップとを有するカップ体と、
このカップ体内に設けられ上記被処理物を保持する回転
体と、この回転体を回転駆動する駆動手段と、上記下カ
ップの底部に接続され上記カップ体内の排気を行う排気
管と、上記上カップの内周面に設けられ上記回転体に保
持される上記被処理物の周囲を覆う飛散防止カバ−とを
具備したことを特徴とする。
【0015】請求項2の発明は、被処理物を回転させて
処理するスピン処理装置において、下カップおよびこの
下カップに対し所定の隙間を介して上下動自在に設けら
れた上カップとを有するカップ体と、このカップ体内に
設けられ上記被処理物を保持するための回転体と、この
回転体を回転駆動する駆動手段と、上記下カップの底部
に接続され上記カップ体内の排気を行う排気管と、上記
上カップと下カップとの上記隙間を覆う外気侵入防止カ
バ−とを具備したことを特徴とする。
【0016】請求項3の発明は、被処理物を回転させて
処理するスピン処理装置において、下カップおよびこの
下カップに対し所定の隙間を介して上下動自在に設けら
れた上カップとを有するカップ体と、このカップ体内に
設けられ上記被処理物を保持する回転体と、この回転体
を回転駆動する駆動手段と、上記下カップの底部に接続
され上記カップ体内の排気を行う排気管と、上記カップ
体の内底部に設けられこのカップ体内の気体を上記排気
管へガイドするガイド部材とを具備したことを特徴とす
る。
【0017】請求項4の発明は、被処理物を回転させて
処理するスピン処理装置において、下カップおよびこの
下カップに対し所定の隙間を介して上下動自在に設けら
れた上カップとを有するカップ体と、このカップ体内に
設けられ上記被処理物を保持する回転体と、この回転体
を回転駆動する駆動手段と、上記下カップの底部に接続
され上記カップ体内の排気を行う排気管と、上記上カッ
プの内周面に設けられ上記回転体に保持される上記被処
理物の周囲を覆う飛散防止カバ−と、上記上カップと下
カップとの上記隙間を覆う外気侵入防止カバ−とを具備
したことを特徴とする。
【0018】請求項5の発明は、被処理物を回転させて
処理するスピン処理装置において、下カップおよびこの
下カップに対し所定の隙間を介して上下動自在に設けら
れた上カップとを有するカップ体と、このカップ体内に
設けられ上記被処理物を保持する回転体と、この回転体
を回転駆動する駆動手段と、上記下カップの底部に接続
され上記カップ体内の排気を行う排気管と、上記上カッ
プの内周面に設けられ上記回転体に保持される上記被処
理物の周囲を覆う飛散防止カバ−と、上記カップ体の内
底部に設けられこのカップ体内の気体を上記排気管へガ
イドするガイド部材とを具備したことを特徴とする。
【0019】請求項6の発明は、被処理物を回転させて
処理するスピン処理装置において、下カップおよびこの
下カップに対し所定の隙間を介して上下動自在に設けら
れた上カップとを有するカップ体と、このカップ体内に
設けられ上記被処理物を保持する回転体と、この回転体
を回転駆動する駆動手段と、上記下カップの底部に接続
され上記カップ体内の排気を行う排気管と、上記上カッ
プの内周面に設けられ上記回転体に保持される上記被処
理物の周囲を覆う飛散防止カバ−と、上記上カップと下
カップとの上記隙間を覆う外気侵入防止カバ−と、上記
カップ体の内底部に設けられこのカップ体内の気体を上
記排気管へガイドするガイド部材とを具備したことを特
徴とする。
【0020】請求項7の発明は、被処理物を回転させて
処理するスピン処理装置において、下カップおよびこの
下カップに対し所定の隙間を介して上下動自在に設けら
れた上カップとを有するカップ体と、このカップ体内に
設けられ上記被処理物を保持する回転体と、この回転体
を回転駆動する駆動手段と、上記下カップの底部に接続
され上記カップ体内の排気を行う排気管と、上記上カッ
プと下カップとの上記隙間を覆う外気侵入防止カバ−
と、上記カップ体の内底部に設けられこのカップ体内の
気体を上記排気管へガイドするガイド部材とを具備した
ことを特徴とする。
【0021】請求項8の発明は、請求項1乃至請求項7
のいずれかに記載された発明において、上記上カップの
内周面は凹状の円弧面であることを特徴とする。請求項
9の発明は、請求項1、4、5、6および請求項8のい
ずれかに記載の発明において、上記飛散防止カバ−はリ
ング状をなしていて、その下端は上記回転体に保持され
る被処理物の上面よりも上方に位置するように設定され
ていることを特徴とする。
【0022】請求項10の発明は、請求項1、4、5、
6、8および請求項9のいずれかに記載の発明におい
て、上記飛散防止カバ−の下端部は、径方向外方に向か
って屈曲されていることを特徴とする。
【0023】請求項11の発明は、請求項2、4、6お
よび請求項7のいずれかに記載の発明において、上記外
気侵入防止カバ−は筒状に形成され上端が上記上カップ
の外周面に取付けられ、上記下カップの周壁には上端に
開放した収納溝が形成されていて、上記外気侵入防止カ
バ−は、上記収納溝にスライド自在に収納されていると
ともに上記上カップが上昇した状態において下端部が上
記収納溝内に位置する長さに設定されていることを特徴
とする。
【0024】請求項12の発明は、請求項2、4、6、
7および請求項11のいずれかに記載の発明において、
上記外気侵入防止カバ−は、伸縮自在な蛇腹状に形成さ
れていて、一端が上記下カップの外周面に取付けられ、
他端が上記上カップの外周面に取付けられていることを
特徴とする。
【0025】請求項13の発明は、請求項3、5、6お
よび請求項7のいずれかに記載の発明において、上記ガ
イド部材は、周壁が上端から下端にゆくにつれて径方向
外方に向かって傾斜した筒状をなしていて、その下端は
上記排気管の径方向中途部に配置されていることを特徴
とする。
【0026】請求項14の発明は、カップ体内に設けら
れた回転体によって被処理物を回転させて処理するスピ
ン処理方法において、上記カップ体は下カップおよびこ
の下カップに対して所定の隙間を介して上下動自在に設
けられた上カップを有するとともに上記隙間は外気侵入
防止カバ−によって覆われており、上記上カップを下降
させて上記回転体に被処理物を供給する工程と、上記回
転体に被処理物を供給したのち上記上カップを上昇させ
てこの被処理物の周囲を覆う工程と、上記カップ体内を
排気しながら上記回転体を回転させて上記被処理物を処
理する工程と、上記被処理物を処理したのち上記上カッ
プを下降させて上記回転体から上記被処理物を取り出す
工程とを具備したことを特徴とする。
【0027】請求項1の発明によれば、回転体に保持さ
れた被処理物の周囲を覆う飛散防止カバ−が設けられて
いることで、被処理物から飛散して上カップの内周面で
反射したミストは上記飛散防止カバ−の外周面に衝突し
て上記被処理物へ戻りにくいから、被処理物が汚染され
にくくなる。
【0028】請求項2の発明によれば、上カップと下カ
ップとの隙間が外気侵入防止カバ−によって覆われてい
ることで、その隙間から外気が侵入して被処理物を汚染
するということが防止される。
【0029】請求項3の発明によれば、カップ体の内底
部にカップ体内の気体を排気管へガイドするガイド部材
を設けたことで、カップ体内のミストが円滑に排出さ
れ、被処理物が汚染されにくくなる。
【0030】請求項4の発明によれば、飛散防止カバ−
によって被処理物がミストによって汚染されるのが防止
されるとともに、外気侵入防止カバ−によって上カップ
と下カップとの隙間から外気が侵入して被処理物を汚染
するということが防止される。
【0031】請求項5の発明によれば、飛散防止カバ−
によって被処理物がミストにより汚染されるのが防止さ
れるとともに、ガイド部材によってカップ体内のミスト
が円滑に排出されるから、被処理物が汚染されにくくな
る。
【0032】請求項6の発明によれば、飛散防止カバ−
によって被処理物がミストによって汚染されるのが防止
され、外気侵入防止カバ−によって上カップと下カップ
との隙間から外気が侵入して被処理物を汚染するのが防
止され、さらにガイド部材によってカップ体内のミスト
が円滑に排出されるから、被処理物が汚染されにくくな
る。
【0033】請求項7の発明によれば、外気侵入防止カ
バ−によって上カップと下カップとの隙間から外気が侵
入して被処理物を汚染するのが防止されるとともに、ガ
イド部材によってカップ体内のミストが円滑に排出され
るから、被処理物が汚染されにくくなる。
【0034】請求項8の発明によれば、上カップの内周
面が凹状の円弧面であるため、この円弧面で反射したミ
ストは下方へ向かい排出され、被処理物の方向へ戻りに
くいから、被処理物が汚染されにくくなる。
【0035】請求項9の発明によれば、飛散防止カバ−
の下端が回転体に保持される被処理物の上面よりも上方
に位置していることで、被処理物の上面から飛散するミ
ストは飛散防止カバ−の内周面にほとんど衝突すること
なく、下端側を通過して上カップの内周面で反射し、つ
いで外周面に衝突して排出されるから、ミストによる被
処理物の汚染が良好に防止される。
【0036】請求項10の発明によれば、飛散防止カバ
−の下端部が径方向外方に向かって屈曲されていること
で、被処理物からのミストが飛散防止カバ−の下端部内
周面に衝突しても、そのミストは下方に向かって反射す
るから、被処理物に付着するのが防止される。
【0037】請求項11の発明によれば、上端が上カッ
プの外周面に取付けられた外気侵入防止カバ−を、下カ
ップに形成された収納溝に収納してラビリンス構造とし
たことで、上カップと下カップとの隙間から外気が侵入
するのを良好に防止することができる。
【0038】請求項12の発明によれば、上カップと下
カップとの隙間を、一端が上カップに連結され、他端が
下カップに連結された伸縮自在な蛇腹状の外気侵入防止
カバ−で覆うようにしたから、上記隙間から外気が侵入
するのを確実に防止することができる。
【0039】請求項13の発明によれば、ガイド部材の
下端を排気管の径方向中途部に位置させたことで、この
ガイド部材の外周面側と内周面側の両方に上記排気管で
発生する吸引力が作用するから、ガイド部材の外周面側
に浮遊するミストだけでなく、内周面側に入り込んだミ
ストも排出することができるばかりか、下カップの底部
に形成された通孔から内部に侵入する外気を被処理物に
接触させることなく排出させることもできる。請求項1
4の発明によれば、下カップと上カップとの隙間から外
気が侵入するのを防止しながら被処理物を洗浄処理や乾
燥処理することができる。
【0040】
【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施形態を図
面を参照して説明する。図1に示すこの発明のスピン乾
燥処理装置は本体ベ−ス1を有する。この本体ベ−ス1
には円筒状の支持体2が上下方向に貫通して設けられて
いる。この支持体2には同じく円筒状の回転軸3が中途
部を軸受4によって回転自在に支持されて設けられてい
る。
【0041】上記回転軸3の下端部は上記支持体2から
突出し、その下端部には従動プ−リ5が設けられてい
る。この従動プ−リ5の近傍にはステップモ−タ6が配
設されている。このステップモ−タ6の回転軸6aには
駆動プ−リ7が嵌着され、この駆動プ−リ7と上記従動
プ−リ5とにはベルト8が張設されている。したがっ
て、上記ステップモ−タ6が作動すれば、上記回転軸3
が回転駆動されるようになっている。
【0042】上記回転軸3の上端には上面にダイ10が
接合された回転体9が一体的に取り付けられている。こ
の回転体9には周方向に90度間隔で4本の保持部材1
1がブッシュ12を介して回転自在に立設されている。
上記保持部材11は図2に示すように円筒部13を有す
る。この円筒部13は上端が閉塞され、下端が開口して
いる。円筒部13の下端からは支軸14が垂設されてい
る。この支軸14は上記ブッシュ12(図1に示す)に
回転自在に支持されている。
【0043】上記円筒部13の上面には断面が流線形状
に形成された支持部15が一体的に設けられている。こ
の支持部15の上面には支持ピン16と、この支持ピン
16に比べて背の高いロックピン17とが立設されてい
る。支持ピン16は上記支軸14と軸中心をほぼ一致さ
せており、ロックピン17は上記支軸14の軸線に対し
て所定寸法偏心して設けられている。
【0044】上記構成の4本の保持部材11には図1に
示すように被処理物としての半導体ウエハ21が保持さ
れる。つまり、半導体ウエハ21はその周辺部の下面が
上記支持ピン16に支持されて設けられる。半導体ウエ
ハ21が支持ピン16に支持された状態で、上記保持部
材11は後述するごとく回転される。それによって、上
記保持部材11に設けられたロックピン17が偏心回転
して上記半導体ウエハ21の外周面に当接するから、半
導体ウエハ21は径方向にずれ動くことなく保持される
ことになる。
【0045】上記回転体9とダイ10との中心部分には
図1に示すように通孔25が形成されている。この通孔
25にはノズル体26が非接触状態で嵌挿されている。
このノズル体26は円錐形状をなしていて、その上面に
はノズル孔27が一端を開放して形成されている。
【0046】上記ノズル体26の下端面には支持軸28
の上端が連結されている。この支持軸28の上部はブラ
ケット31に保持されている。このブラケット31は上
記回転軸3に軸受29によって回転自在に支持されてい
る。つまり、上記ノズル体26は支持軸28を介してブ
ラケット31に保持されている。
【0047】上記回転軸3の内部の上記ブラケット31
の下方にはハウジング33が挿入されている。このハウ
ジング33の上端はブラケット31に結合され、下端部
は軸受33aによって上記回転軸3に回転自在に支持さ
れている。
【0048】上記ハウジング33には上記支持軸28が
挿通される第1の貫通孔34と、上記ノズル孔27に一
端を接続した供給チュ−ブ35が挿通された第2の貫通
孔36とが穿設されている。上記供給チュ−ブ35の他
端は図示しない薬液やリンス液などの処理液の供給部に
連通している。したがって、上記ノズル孔27から半導
体ウエハ21の下面に処理液を噴射できるようになって
いる。
【0049】上記回転体9に保持される半導体ウエハ2
1の上方にはノズル体30が配置されている。このノズ
ル体30は図示しない薬液やリンス液などの処理液の供
給部に連通していて、上記半導体ウエハ21の上面に向
けて処理液を噴射できるようになっている。
【0050】したがって、上記保持部材11に保持され
た半導体ウエハ21には上面と下面とに処理液を噴射す
ることができるようになっている。つまり、半導体ウエ
ハ21を乾燥処理する前にその上面と下面を洗浄処理や
リンス処理できるようになっている。
【0051】なお、上記ノズル体26は上記支持軸28
によって保持され、上記回転体9とは非接触状態となっ
ているから、この回転体9が回転軸3と一体に回転して
も、回転しないようになっている。
【0052】上記回転体9の下面側で、上記回転軸3の
上部外周面には円筒状のロック筒体41が回転自在に設
けられている。このロック筒体41の上端には、図3に
示すようにフランジ42が設けられ、このフランジ42
の上面には周方向に90度間隔で4本の係止ピン43が
突設されている。
【0053】上記係止ピン43は図2に示すようにレバ
−44の一端に開放して形成された係合溝45に係合し
ている。このレバ−44の他端は上記保持部材11の支
軸14の下端部に取付けられている。したがって、上記
ロック筒体41を図3と図4に矢印で示す反時計方向に
回転させ、係止ピン43によりレバ−44を同方向に回
動させれば、このレバ−44が連結された上記支軸14
を支点として上記保持部材11を図2に矢印で示す時計
方向に回動させることができる。
【0054】それによって、ロックピン17が偏心回転
するから、支持ピン16に支持された半導体ウエハ21
の外周面に上記ロックピン17を当接させ、半導体ウエ
ハ21の支持状態をロックできる。つまり、支持ピン1
6に支持された半導体ウエハ21が径方向にずれ動くの
を阻止する。上記ロック筒体41を時計方向に回動させ
れば、上記ロックピン17による半導体ウエハ21のロ
ック状態を解除することができる。
【0055】上記ロックピン17による半導体ウエハ2
1のロックおよびロックの解除、つまりロック筒体41
の回動は解除機構51によって行われる。この解除機構
51は図3と図4に示すように上記回転軸3の外周面に
設けられ上記ロック筒体41に形成された切欠溝41a
内に位置する第1の係止片52と、上記ロック筒体41
の外周面に設けられた第2の係止片53とを有する。
【0056】第1の係止片52と第2の係止片53との
間にはばね54が張設されている。このばね54は上記
第2の係止片53を介してロック筒体41を第1の係止
片52の方向に付勢している。つまり、ロック筒体41
は図3に矢印で示す反時計方向に付勢されている。
【0057】それによって、ロック筒体41は、ばね5
4の付勢力によって常時、反時計方向に回動付勢されて
いるので、係止ピン43およびレバ−44を介して保持
部材11が時計方向に回動させられ、ロックピン17が
半導体ウエハ21の外周面に当接するロック状態となっ
ている。
【0058】上記ロックピン17による半導体ウエハ2
1のロック状態の解除は、上記ステップモ−タ6の近傍
に配置された上記解除機構51を構成する第1のシリン
ダ61と、第2のシリンダ62とによって行われる。
【0059】すなわち、図4に示すように第1のシリン
ダ61の側方には第1のリニアガイド63によって第1
の可動体64が矢印方向にスライド自在に支持されてい
る。この第1の可動体64は上記第1のシリンダ61の
ロッド61aに連結されている。それによって、第1の
可動体64は、上記第1のシリンダ61が作動すること
で、上記第1のリニアガイド63に沿って往復駆動され
るようになっている。
【0060】上記第1の可動体64の上面先端部には一
対の挟持ロ−ラ65が所定の間隔で設けられている。第
1の可動体64が前進方向に駆動されると、これら挟持
ロ−ラ65は図4に鎖線で示すように回転軸3の第1の
係止片52を挟持する。それによって、上記回転軸3が
回転するのを阻止する。
【0061】上記第2のシリンダ62の側方には第2の
リニアガイド67によって第2の可動体68が矢印方向
にスライド自在に設けられている。第2の可動体68の
上面先端部には押圧ロ−ラ69が回転自在に設けられて
いる。したがって、上記押圧ロ−ラ69は第2のシリン
ダ62によって進退駆動される。
【0062】上記第1の係止片52が上記一対の挟持ロ
−ラ65によって挟持された状態で、上記第2のシリン
ダ62が作動して第2の可動体68が前進方向に駆動さ
れると、図4に鎖線で示すようにその先端部に設けられ
た押圧ロ−ラ69が上記ロック筒体41に設けられた第
2の係止片53を押圧する。
【0063】それによって、上記ロック筒体41は、ば
ね54の付勢力に抗して回転させられるから、係止ピン
43およびレバ−44を介して保持部材11がロック時
とは逆方向に回転させられる。したがって、ロックピン
17が反時計方向に偏心回転して半導体ウエハ21のロ
ック状態を解除するようになっている。
【0064】図1に示すように上記回転軸3の下端部外
周面にはドグ71が設けられ、このドグ71はマイクロ
フォトセンサ72によって検知される。このマイクロフ
ォトセンサ72の検知信号で上記ステップモ−タ6によ
る回転軸3の回転角度が制御される。つまり、半導体ウ
エハ21のロック状態を解除するときには、上記解除機
構51の第1、第2のシリンダ61、62に対して第1
の係止片52と第2の係止片53とが所定の位置になる
よう回転軸3の回転角度が制御されるようになってい
る。
【0065】上記本体ベ−ス1の上面側にはカップ体8
0が設けられている。このカップ体80は、底部に上記
回転軸3が挿通される通孔75aが形成された有底状の
下カップ75と、この下カップ75の内周面に対して外
周面が所定の隙間79を有するリング状の上カップ76
とからなる。上カップ76には図示しない上下駆動シリ
ンダのロッド78が連結され、このシリンダが作動する
ことで上カップ76が上下駆動されるようになってい
る。
【0066】上記上カップ76は、上昇位置で上記保持
部材11に保持された半導体ウエハ21の外周面を覆
い、図1に鎖線で示す下降位置で上端が上記半導体ウエ
ハ21の上面よりも低い位置になるよう上下動のストロ
−クが設定されている。
【0067】したがって、上カップ76を図1に鎖線で
示す位置まで下降させた状態において、図示しないロボ
ットによって上記回転体9に設けられた保持部材11へ
未処理の半導体ウエハ21を供給したり、処理液で処理
されてから乾燥処理された半導体ウエハ21を取り出す
ことができるようになっている。
【0068】さらに、下カップ75の底部には周方向に
所定間隔、たとえば90度間隔で複数の排気管77が接
続されている。各排気管77は図示しない処理液と気体
を分離する気水分離器を介して吸引ポンプ90に連通し
ている。したがって、上記排気管77に連通する吸引ポ
ンプ90の吸引力で、上記カップ体80内の処理液、ミ
スト、気体などを吸引排出できるようになっている。
【0069】上記上カップ76の内周面は凹状の円弧面
76aに形成され、この円弧面76aの上部には、上記
保持部材11に保持される半導体ウエハ21の上面より
わずかに上方の外周部を覆う円筒状の飛散防止カバ−8
1が設けられている。この飛散防止カバ−81は下端が
半導体ウエハ21の上面よりもわずかに上方、たとえば
数mm〜数十mm程度、好ましくは10mm程度上方に位置して
いる。
【0070】上記飛散防止カバ−81は弗素樹脂などの
耐蝕性に優れた合成樹脂によって筒状に形成されてい
る。この飛散防止カバ−81の上端には上部折曲部81
aが形成され、この上部折曲部81aは上記上カップ7
6の円弧面76aに接着あるいはねじなどによって固定
されている。さらに、飛散防止カバ−81の下端部には
径方向外方に向かって折曲された下部折曲部81bが形
成されている。
【0071】上記回転体9が回転駆動されて保持部材1
1に保持された半導体ウエハ21が一体的に回転するこ
とで、この半導体ウエハ21から処理液が飛散してミス
トが発生すると、そのミストは上カップ76の円弧面7
6aで反射する。
【0072】円弧面76aに衝突したミストは、その円
弧面76aが凹状であることで、大半が下方に向かって
反射するが、一部が上方に向かって反射することがあ
る。上記円弧面76aで上方に向かって反射したミスト
は上記飛散防止カバ−81の外周面に衝突するから、そ
のミストが保持部材11に保持された半導体ウエハ21
に付着するのが防止される。
【0073】しかも、上記飛散防止カバ−81の下端部
は径方向外方に向かって折曲された下部折曲部81bが
形成されている。そのため、半導体ウエハ21から飛散
するミストの一部は上記下部折曲部81bの内周面に衝
突するが、その内周面に衝突したミストは下方に向かっ
て反射する。そのため、飛散防止カバ−81を設けて
も、ミストがその内周面で反射して半導体ウエハ21へ
戻るのが上記下部折曲部81bによって防止される。
【0074】つまり、飛散防止カバ−81の下端と半導
体ウエハ21の上面との間隔を狭くしたことで、上カッ
プ76の円弧面76aで反射したミストが半導体ウエハ
21の上面へ再付着するのを防止できる反面、ミストの
一部が上記飛散防止カバ−81の下端部に衝突する。し
かしながら、飛散防止カバ−81の下端部は下部折曲部
81bに形成されているから、そこに衝突したミストは
下方に反射するため、半導体ウエハ21に付着するのが
防止されることになる。
【0075】上記上カップ76の外周面には外気侵入防
止カバ−82が取付けられている。この外気侵入防止カ
バ−82は、上記飛散防止カバ−81と同様、弗素樹脂
などの耐蝕性に優れた合成樹脂によって筒状に形成され
ている。この外気侵入防止カバ−82の上端にはL字状
の折曲部82aが形成され、この折曲部82aは上記上
カップ76の外周面上部の取付部76bに取付け固定さ
れている。
【0076】上記下カップ75の周壁には、その上端に
開放した収納溝83が全周にわたって形成されている。
上記上カップ76が上昇した状態において、上記外気侵
入防止カバ−82の下端部は上記収納溝83内に位置し
ている。それによって、上記下カップ75の上端部分、
つまり下カップ75と上カップ76との隙間79を介し
て重合した部分の外周は、上記外気侵入防止カバ−82
の下端部によって覆われている。
【0077】上記外気侵入カバ−82によって上記隙間
79が覆われることで、その隙間79から外気がカップ
体80内に侵入するのが防止される。上記外気侵入防止
カバ−82を収納溝83に挿入したことで、この外気侵
入防止カバ−82と下カップ75の周壁の収納溝83が
形成された部分とでラビリンス構造をなしている。その
ため、外気侵入防止カバ−82を収納溝83に挿入した
ことで、上記隙間79からの外気侵入を良好に阻止する
ことができる。
【0078】上記収納溝83に液体を入れ、この液体に
上記外気侵入防止カバ−82の下端部を浸漬させれば、
上記外気侵入防止カバ−82と下カップ75との間が気
密になるから、上記隙間79から外気が侵入するのを確
実に防止することができる。
【0079】上記上カップ76の上面が開口しているこ
とで、その開口からカップ体80内には外気が侵入す
る。しかしながら、スピン処理装置は、通常クリ−ンル
−ム(図示せず)内に設置されている。クリ−ンル−ム
では、パ−ティクルを含まない清浄空気が天井から床面
に向けて流れている。そのため、上記カップ体80の内
部には、上記上カップ76の上面開口から清浄空気が流
入するため、その空気によって半導体ウエハ21が汚染
されることはほとんどない。
【0080】なお、図6に示すように外気侵入防止カバ
−82Aを伸縮可能なゴムや合成樹脂によって蛇腹状の
円筒体とし、下端を下カップ75の上端に連結し、上端
を上カップ76の取付部76bに連結するようにしても
よい。
【0081】上記下カップ75の内底部には、弗素樹脂
などの耐蝕性に優れた合成樹脂によって上端が開放した
傘状に形成されたガイド部材85が設けられている。つ
まり、このガイド部材85は上端面が下端面よりも小径
で、周壁が上端から下端にゆくにつれて径方向外方に向
かって傾斜した筒状に形成されている。
【0082】上記ガイド部材85は、上端内周面が上記
回転体9の外周面に接近し、下端は下カップ75の底部
に接続された排気管77の開口の径方向中途部に位置し
ている。
【0083】上記吸引ポンプ90の吸引力がカップ体8
0内に作用することで、カップ体80内のミストと気体
は上記ガイド部材85の傾斜した外周面にガイドされて
上記排気管77へ円滑に排出される。しかも、ガイド部
材85の下端が排気管77の径方向中途部に位置してい
ることで、上記ガイド部材85の外周面側と内周面側と
の両方に、上記排気管77を介して吸引ポンプ90の吸
引力が作用する。そのため、上記ガイド部材85の外周
面側だけでなく、内周面側に入り込んだミストや下カッ
プ75の通孔75aから内周面側に入り込んだ気体も上
記排気管77から良好に排出されることになる。
【0084】このように構成されたスピン乾燥処理装置
によって半導体ウエハ21を洗浄処理してから乾燥処理
する場合には、まず、上カップ76を下降させて半導体
ウエハ21を回転体9(保持部材11)に供給する。つ
いで、上カップ76を上昇させ、回転体9に保持された
半導体ウエハ21の周辺部を覆い、カップ体80内を吸
引ポンプ90によって吸引しながら回転体9を回転さ
せ、半導体ウエハ21の上面と下面とに処理液を供給す
る。それによって、上記半導体ウエハ21は上面と下面
とが上記処理液によってたとえば洗浄処理されることに
なる。
【0085】洗浄処理を行ったのち、処理液の供給を停
止して回転体9を高速で回転して半導体ウエハ21に付
着した処理液を飛散させることで、上記半導体ウエハ2
1が乾燥処理されることになる。
【0086】回転する半導体ウエハ21に処理液が噴射
されたり、半導体ウエハ21が乾燥処理されることで、
その処理液がミストとなって周囲に飛散して上カップ7
6の円弧面76aに衝突する。この円弧面76aは凹状
であるから、半導体ウエハ21から飛散して上記円弧面
76aに衝突したミストのほとんどは下方に向かって反
射する。そのため、吸引ポンプ90の吸引力によってガ
イド部材85の外周面に沿って流れ、上記排気管77へ
円滑に排出される。
【0087】上カップ76の円弧面76aで反射したミ
ストの一部は、その円弧面76aへの入射角度によって
は上方に向かって反射する。しかしながら、上方に向か
って反射したミストは、上カップ76の上部に設けられ
た飛散防止カバ−81の外周面に衝突する。そのため、
上カップ76の円弧面76aで上方に向かって反射した
ミストが半導体ウエハ21に付着するのも防止される。
【0088】上記飛散防止カバ−81の下端部は径方向
外方に向かって折曲された下部折曲部81bに形成され
ている。そのため、半導体ウエハ21の上面からわずか
に上方に向かって飛散して上記下部折曲部81bの内周
面に衝突したミストは下方へ向かって反射する。そし
て、そのミストはガイド部材85の外周面にガイドされ
て排気管77へ排出されるため、半導体ウエハ21に付
着することがない。
【0089】このように、回転する半導体ウエハ21か
ら飛散するミストは、上カップ76の内周面が凹状の円
弧面76aであることや上カップ76に飛散防止カバ−
81を設けたことによって、上記上カップ76の内周面
で反射して半導体ウエハ21に付着するのを良好に防止
することができる。
【0090】しかも、カップ体80内から排気管77へ
排出されるミストはガイド部材85の傾斜した周壁の外
周面によって円滑にガイドされるから、そのことによっ
てもミストがカップ体80内から排出され易くなる。
【0091】上記飛散防止カバ−81とガイド部材85
とによって洗浄処理時に発生したミストがカップ体80
内から円滑かつ確実に排出されることで、乾燥処理時に
上記カップ体80内にはミストがほとんど残留すること
がない。したがって、洗浄に続いて乾燥処理を終えた半
導体ウエハ21が、ミストによって汚染されるのが防止
される。
【0092】上記カップ体80は、上カップ76を下降
させて半導体ウエハ21を回転体9から着脱する構成で
あるため、上記下カップ75と上カップ76との間に隙
間79が確保されるが、その隙間79、つまり下カップ
75と上カップ76との重合部分からパ−ティクルを含
む外気がカップ体80の内部へ侵入する虞がある。
【0093】しかしながら、上記各カップ75、76の
重合部分は外気侵入防止カバ−82によって覆われてい
る。そのため、上記重合部分の隙間79から外気がカッ
プ体80内へ侵入するのが防止されるから、外気に含ま
れるパ−ティクルが半導体ウエハ21に付着するという
こともない。
【0094】さらに、下カップ75の内底部に設けられ
たガイド部材85は、下端が排気管77の径方向中途部
に位置するように設けられている。そのため、排気管7
7を介してカップ体80内に作用する吸引ポンプ90の
吸引力は、上記ガイド部材85の外周面側だけでなく内
周面側にも作用する。
【0095】上記ガイド部材85の内周面側に作用する
吸引力は、下カップ75の通孔75aからカップ体80
内に侵入する外気を、カップ体80内に散乱させること
なく排気管77へ吸引するから、上記通孔75aから侵
入する外気に含まれるパ−ティクルが半導体ウエハ21
に付着するのが防止される。
【0096】図5は回転体9に保持された半導体ウエハ
21の上面におけるパ−ティクルをパ−ティクルカウン
タによって計測した結果を示す。同図中曲線Aは飛散防
止カバ−81と外気侵入防止カバ−82とが設けられて
いない場合で、その場合には回転体9の回転数が600
rpm に上昇するとパ−ティクル数が増加し始め、150
0rpm では所定の単位面積当たりのパ−ティクル数が約
5100個に急増した。
【0097】曲線Bは飛散防止カバ−81だけを設けた
場合で、この場合は曲線Aに比べて回転体9の回転数の
増加に対してパ−ティクルの増加割合が低く、回転数が
1500rpm のときには所定の単位面積当たりのパ−テ
ィクル数が約3500個であった。つまり、飛散防止カ
バ−81を設けることで、ミストが上カップ76で反射
して半導体ウエハ21へ付着するのが抑制できると考え
られる。
【0098】曲線Cは飛散防止カバ−81と外気侵入防
止カバ−82とを設けた場合で、この場合には回転体9
の回転数が1500rpmnとなっても、上記半導体ウエハ
21の上面ではパ−ティクルがほとんど検出されなかっ
た。つまり、飛散防止カバ−81と外気侵入防止カバ−
82とを設けることで、飛散防止カバ−81による上述
した効果と、外気侵入防止カバ−82による外気の侵入
防止効果によって半導体ウエハ21の汚染が低減される
ものと考えられる。
【0099】なお、この発明は上記一実施形態に限定さ
れず、種々変形可能である。たとえば、上記一実施形態
では被処理物として半導体ウエハを挙げたが、半導体ウ
エハに代わり、液晶表示装置に用いられる矩形状のガラ
ス基板であっても、この発明の装置で処理する際の汚染
を防止することができる。
【0100】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、回転体に保持
された被処理物の周囲を覆う飛散防止カバ−を設けるよ
うにした。そのため、被処理物から飛散して上カップの
内周面で反射したミストは上記飛散防止カバ−の外周面
に衝突して上記被処理物へ戻りにくいから、被処理物が
ミストによって汚染されにくくなる。
【0101】請求項2の発明によれば、上カップと下カ
ップとの隙間を外気侵入防止カバ−によって覆うように
した。そのため、上記隙間から外気が侵入して被処理物
が汚染されるのを防止することができる。
【0102】請求項3の発明によれば、カップ体の内底
部にカップ体内の気体を排気管へガイドするガイド部材
を設けるようにした。そのため、カップ体内のミストが
円滑に排出されるから、被処理物がミストによって汚染
されにくくなる。
【0103】請求項4の発明によれば、飛散防止カバ−
を設けたことで被処理物がミストによって汚染されるの
が防止されるとともに、外気侵入防止カバ−を設けたこ
とで上カップと下カップとの隙間から外気が侵入して被
処理物を汚染するということが防止される。
【0104】請求項5の発明によれば、飛散防止カバ−
を設けたことで被処理物がミストにより汚染されるのが
防止されるとともに、ガイド部材を設けたことでカップ
体内のミストが円滑に排出されるから、被処理物が汚染
されにくくなる。
【0105】請求項6の発明によれば、飛散防止カバ−
を設けたことで被処理物がミストによって汚染されるの
が防止され、外気侵入防止カバ−を設けたことで上カッ
プと下カップとの隙間から外気が侵入して被処理物を汚
染されるのが防止され、さらにガイド部材を設けたこと
でカップ体内のミストが円滑に排出されるから、被処理
物が汚染されにくくなる。
【0106】請求項7の発明によれば、外気侵入防止カ
バ−を設けたことで上カップと下カップとの隙間から外
気が侵入して被処理物が汚染されるのが防止されるとと
もに、ガイド部材を設けたことでカップ体内のミストが
円滑に排出されるから、被処理物が汚染されにくくな
る。
【0107】請求項8の発明によれば、上カップの内周
面を凹状の円弧面に形成した。そのため、この円弧面で
反射したミストは下方へ向かい排出され、被処理物の方
向へ戻りにくいから、被処理物が汚染されにくくなる。
【0108】請求項9の発明によれば、飛散防止カバ−
の下端を回転体に保持される被処理物の上面よりも上方
に位置させるようにした。そのため、被処理物の上面か
ら飛散するミストは飛散防止カバ−の内周面にほとんど
衝突することなく、下端側を通過して上カップの内周面
で反射し、ついで外周面に衝突して排出されるから、ミ
ストによる被処理物の汚染が良好に防止される。
【0109】請求項10の発明によれば、飛散防止カバ
−の下端部を径方向外方に向かって屈曲するようにし
た。そのため、被処理物からのミストが飛散防止カバ−
の下端部内周面に衝突しても、そのミストは下方に向か
って反射するから、被処理物に付着するのが防止され
る。
【0110】請求項11の発明によれば、上端が上カッ
プの外周面に取付けられた外気侵入防止カバ−を、下カ
ップに形成された収納溝に収納してラビリンス構造とし
た。そのため、上カップと下カップとの隙間から外気が
侵入するのを良好に防止することができる。
【0111】請求項12の発明によれば、上カップと下
カップとの隙間を、一端が上カップに連結され、他端が
下カップに連結された伸縮自在な蛇腹状の外気侵入防止
カバ−で覆うようにした。
【0112】そのため、上記隙間から外気が侵入するの
を確実に防止することができる。請求項13の発明によ
れば、ガイド部材の下端を排気管の径方向中途部に位置
させるようにした。
【0113】そのため、このガイド部材の外周面側と内
周面側の両方に上記排気管で発生する吸引力が作用する
から、ガイド部材の外周面側に浮遊するミストだけでな
く、内周面側に入り込んだミストも排出することができ
るばかりか、下カップの底部に形成された通孔から内部
に侵入する外気を被処理物に接触させることなく排出さ
せることもできる。請求項14の発明によれば、下カッ
プと上カップとの隙間から外気が侵入するのを防止しな
がら被処理物を洗浄処理や乾燥処理することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施形態を示す装置全体の概略的
構成の断面図。
【図2】同じく保持部材の斜視図。
【図3】同じく回転軸とロック筒体との関係を示す斜視
図。
【図4】同じく解除機構の平面図。
【図5】同じく実験結果を示すグラフ。
【図6】外気侵入防止カバ−の変形例を示す一部分の断
面図。
【符号の説明】
6…ステップモ−タ 9…回転体 21…半導体ウエハ(被処理物) 75…下カップ 76…上カップ 77…排気管 79…隙間 80…カップ体 81…飛散防止カバ− 82…外気侵入防止カバ− 83…収納溝 85…ガイド部材 90…吸引ポンプ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 桜井 直明 神奈川県横浜市磯子区新磯子町33番地 株 式会社東芝生産技術研究所内

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被処理物を回転させて処理するスピン処
    理装置において、 下カップおよびこの下カップに対し所定の隙間を介して
    上下動自在に設けられた上カップとを有するカップ体
    と、 このカップ体内に設けられ上記被処理物を保持する回転
    体と、 この回転体を回転駆動する駆動手段と、 上記下カップの底部に接続され上記カップ体内の排気を
    行う排気管と、 上記上カップの内周面に設けられ上記回転体に保持され
    る上記被処理物の周囲を覆う飛散防止カバ−とを具備し
    たことを特徴とするスピン処理装置。
  2. 【請求項2】 被処理物を回転させて処理するスピン処
    理装置において、 下カップおよびこの下カップに対し所定の隙間を介して
    上下動自在に設けられた上カップとを有するカップ体
    と、 このカップ体内に設けられ上記被処理物を保持するため
    の回転体と、 この回転体を回転駆動する駆動手段と、 上記下カップの底部に接続され上記カップ体内の排気を
    行う排気管と、 上記上カップと下カップとの上記隙間を覆う外気侵入防
    止カバ−とを具備したことを特徴とするスピン処理装
    置。
  3. 【請求項3】 被処理物を回転させて処理するスピン処
    理装置において、 下カップおよびこの下カップに対し所定の隙間を介して
    上下動自在に設けられた上カップとを有するカップ体
    と、 このカップ体内に設けられ上記被処理物を保持する回転
    体と、 この回転体を回転駆動する駆動手段と、 上記下カップの底部に接続され上記カップ体内の排気を
    行う排気管と、 上記カップ体の内底部に設けられこのカップ体内の気体
    を上記排気管へガイドするガイド部材とを具備したこと
    を特徴とするスピン処理装置。
  4. 【請求項4】 被処理物を回転させて処理するスピン処
    理装置において、 下カップおよびこの下カップに対し所定の隙間を介して
    上下動自在に設けられた上カップとを有するカップ体
    と、 このカップ体内に設けられ上記被処理物を保持する回転
    体と、 この回転体を回転駆動する駆動手段と、 上記下カップの底部に接続され上記カップ体内の排気を
    行う排気管と、 上記上カップの内周面に設けられ上記回転体に保持され
    る上記被処理物の周囲を覆う飛散防止カバ−と、 上記上カップと下カップとの上記隙間を覆う外気侵入防
    止カバ−とを具備したことを特徴とするスピン処理装
    置。
  5. 【請求項5】 被処理物を回転させて処理するスピン処
    理装置において、 下カップおよびこの下カップに対し所定の隙間を介して
    上下動自在に設けられた上カップとを有するカップ体
    と、 このカップ体内に設けられ上記被処理物を保持する回転
    体と、 この回転体を回転駆動する駆動手段と、 上記下カップの底部に接続され上記カップ体内の排気を
    行う排気管と、 上記上カップの内周面に設けられ上記回転体に保持され
    る上記被処理物の周囲を覆う飛散防止カバ−と、 上記カップ体の内底部に設けられこのカップ体内の気体
    を上記排気管へガイドするガイド部材とを具備したこと
    を特徴とするスピン処理装置。
  6. 【請求項6】 被処理物を回転させて処理するスピン処
    理装置において、 下カップおよびこの下カップに対し所定の隙間を介して
    上下動自在に設けられた上カップとを有するカップ体
    と、 このカップ体内に設けられ上記被処理物を保持する回転
    体と、 この回転体を回転駆動する駆動手段と、 上記下カップの底部に接続され上記カップ体内の排気を
    行う排気管と、 上記上カップの内周面に設けられ上記回転体に保持され
    る上記被処理物の周囲を覆う飛散防止カバ−と、 上記上カップと下カップとの上記隙間を覆う外気侵入防
    止カバ−と、 上記カップ体の内底部に設けられこのカップ体内の気体
    を上記排気管へガイドするガイド部材とを具備したこと
    を特徴とするスピン処理装置。
  7. 【請求項7】 被処理物を回転させて処理するスピン処
    理装置において、 下カップおよびこの下カップに対し所定の隙間を介して
    上下動自在に設けられた上カップとを有するカップ体
    と、 このカップ体内に設けられ上記被処理物を保持する回転
    体と、 この回転体を回転駆動する駆動手段と、 上記下カップの底部に接続され上記カップ体内の排気を
    行う排気管と、 上記上カップと下カップとの上記隙間を覆う外気侵入防
    止カバ−と、 上記カップ体の内底部に設けられこのカップ体内の気体
    を上記排気管へガイドするガイド部材とを具備したこと
    を特徴とするスピン処理装置。
  8. 【請求項8】 上記上カップの内周面は凹状の円弧面で
    あることを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか
    に記載のスピン処理装置。
  9. 【請求項9】 上記飛散防止カバ−はリング状をなして
    いて、その下端は上記回転体に保持される被処理物の上
    面よりも上方に位置するように設定されていることを特
    徴とする請求項1、4、5、6および請求項8のいずれ
    かに記載のスピン処理装置。
  10. 【請求項10】 上記飛散防止カバ−の下端部は、径方
    向外方に向かって屈曲されていることを特徴とする請求
    項1、4、5、6、8および請求項9のいずれかに記載
    のスピン処理装置。
  11. 【請求項11】 上記外気侵入防止カバ−は筒状に形成
    され上端が上記上カップの外周面に取付けられ、上記下
    カップの周壁には上端に開放した収納溝が形成されてい
    て、上記外気侵入防止カバ−は、上記収納溝にスライド
    自在に収納されているとともに上記上カップが上昇した
    状態において下端部が上記収納溝内に位置する長さに設
    定されていることを特徴とする請求項2、4、6および
    請求項7のいずれかに記載のスピン処理装置。
  12. 【請求項12】 上記外気侵入防止カバ−は、伸縮自在
    な蛇腹状に形成されていて、一端が上記下カップの外周
    面に取付けられ、他端が上記上カップの外周面に取付け
    られていることを特徴とする請求項2、4、6、7およ
    び請求項11のいずれかに記載のスピン処理装置。
  13. 【請求項13】 上記ガイド部材は、周壁が上端から下
    端にゆくにつれて径方向外方に向かって傾斜した筒状を
    なしていて、その下端は上記排気管の径方向中途部に配
    置されていることを特徴とする請求項3、5、6および
    請求項7のいずれかに記載のスピン処理装置。
  14. 【請求項14】 カップ体内に設けられた回転体によっ
    て被処理物を回転させて処理するスピン処理方法におい
    て、 上記カップ体は下カップおよびこの下カップに対して所
    定の隙間を介して上下動自在に設けられた上カップを有
    するとともに上記隙間は外気侵入防止カバ−によって覆
    われており、上記上カップを下降させて上記回転体に被
    処理物を供給する工程と、 上記回転体に被処理物を供給したのち上記上カップを上
    昇させてこの被処理物の周囲を覆う工程と、 上記カップ体内を排気しながら上記回転体を回転させて
    上記被処理物を処理する工程と、 上記被処理物を処理したのち上記上カップを下降させて
    上記回転体から上記被処理物を取り出す工程とを具備し
    たことを特徴とするスピン処理方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008518773A (ja) * 2004-11-08 2008-06-05 ブルーワー サイエンス アイ エヌ シー. 微細電子部品製造時に基板の外側エッジをコーティングする装置
JP2018041855A (ja) * 2016-09-08 2018-03-15 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7293727B2 (en) 2001-07-27 2007-11-13 Komatsu Ltd. Crusher and mobile crushing machine equipped with the crusher
JP2008518773A (ja) * 2004-11-08 2008-06-05 ブルーワー サイエンス アイ エヌ シー. 微細電子部品製造時に基板の外側エッジをコーティングする装置
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