JPH10199231A - ページコピーモードを有するdram - Google Patents

ページコピーモードを有するdram

Info

Publication number
JPH10199231A
JPH10199231A JP9340104A JP34010497A JPH10199231A JP H10199231 A JPH10199231 A JP H10199231A JP 9340104 A JP9340104 A JP 9340104A JP 34010497 A JP34010497 A JP 34010497A JP H10199231 A JPH10199231 A JP H10199231A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
page
output signal
inverter
decoder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9340104A
Other languages
English (en)
Inventor
Jin-Hong Ahn
アン ジン−ホン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SK Hynix Inc
Original Assignee
LG Semicon Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LG Semicon Co Ltd filed Critical LG Semicon Co Ltd
Publication of JPH10199231A publication Critical patent/JPH10199231A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/12Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4091Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1018Serial bit line access mode, e.g. using bit line address shift registers, bit line address counters, bit line burst counters
    • G11C7/1021Page serial bit line access mode, i.e. using an enabled row address stroke pulse with its associated word line address and a sequence of enabled column address stroke pulses each with its associated bit line address
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】従来のDRAMに簡単な制御信号及び回路を追
加することで、ページコピーモードを行い得るDRAM
を提供する。 【解決手段】複数のアドレス信号ビットをマルチプレク
シングするアドレスマルチプレクサ30と、該マルチプレ
クサ30の出力信号をローアドレスストロブ信号/RASによ
りリセットさせるローアドレスリセット部31と、該リセ
ット部31の出力信号をディコーディングするプリディコ
ーダー32と、該プリディコーダー32の出力信号をディコ
ーディングするローディコーダー33と、該ローディコー
ダー33の出力信号を受けてワードラインを駆動するワー
ドライン駆動部34と、前記プリディコーダー32の出力信
号をページコピー信号PAGE-CP によりラッチするブロッ
クディコーディング信号ラッチ部35と、該ラッチ部35の
出力信号を受けてセンスアンプイネーブル信号SN,SPB及
びセンスアンプイコライザ信号SAEQをセンスアンプ駆動
部に出力するセンスアンプコントローラー37と、から構
成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ページコピーモー
ドを有するDRAMに係るもので、詳しくは、アクセス
されたデータをDRAMチップの外部に出力せず、共有
のビットラインを経てメモリページ単位にメモリにライ
ト(write )してページコピーモードを行い得るように
したページコピーモードを有するDRAMに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、DRAM(ダイナミックRAM)
のメモリセル及びセンスアンプは、図4に示すように、
センスアンプイネーブル信号SN,SPB及びセンスア
ンプイコライザ信号SAEQを受けるセンスアンプ駆動
部10と、該センスアンプ駆動部10により駆動され各
双のビットラインBL0〜BLm,BL0b〜BLmb
に夫々連結されたセンスアンプ11〜14と、ビットラ
インイコライザ信号BLEQ及びプリチャージ信号VB
LPにより前記ビットラインBL0〜BLm,BL0b
〜BLmbを電源電圧Vccの半分に該当するレベルに
プリチャージさせるプリチャージ部15〜18と、各ワ
ードラインWL0〜WLn及び前記ビットラインBL0
〜BLm,BL0b〜BLmbに夫々連結された複数の
セル19a,19bを有するメモリセル行列19と、か
ら構成されていた。
【0003】そして、前記メモリセル行列19は、ビッ
トラインBL0〜BLmとビットラインBL0b〜BL
mbとのいずれか一方にのみ各セル19a,19bが連
結される折返し形態に構成されていた。前記センスアン
プ駆動部10は、センスアンプイネーブル信号SPBを
受けるゲート、電源電圧Vccを受けるソース、及び、
各センスアンプ11〜14を経て信号線SPCに連結さ
れたドレインを有するPMOSトランジスタ10aと、
該PMOSトランジスタ10aのドレインに連結された
ドレイン、センスアンプイコライザ信号SAEQを受け
るゲート、及び、各センスアンプ11〜14を経て信号
線SNCBに連結されたソースを有するNMOSトラン
ジスタ10bと、該NMOSトランジスタ10bのソー
スに連結されたドレイン、センスアンプイネーブル信号
SNを受けるゲート、及び接地電源Vssに連結された
ソースを有するNMOSトランジスタ10cと、を備え
て構成されていた。
【0004】前記センスアンプ11〜14は、信号線S
PCに夫々連結されたソース及びビットラインBL0〜
BLm,BL0b〜BLmbに連結されたゲートを有す
る各PMOSトランジスタ11a,11bと、信号線S
NCBに夫々連結されたソース及び各ビットラインBL
0〜BLm,BL0b〜BLmbに連結されたゲートを
有する各NMOSトランジスタ11c,11dと、を備
えて構成されていた。
【0005】前記プリチャージ部15〜18は、各ビッ
トラインBL0〜BLm,BL0b〜BLmbに夫々連
結されたドレインとソース、及び、ビットラインイコラ
イザ信号BLEQを夫々受けるゲートを有した各NMO
Sトランジスタ15a,15b,15cを備えて構成さ
れていた。そして、このように構成された従来DRAM
のメモリセル及びセンスアンプを駆動する駆動装置は、
図5に示すように、ローアドレスストロブ(row addre
ssstrobe )信号/RASにより複数のアドレス信号ビ
ットAi,Ajをマルチプレクシングするアドレスマル
チプレクサ20と、該アドレスマルチプレクサ20の出
力信号を前記ローアドレスストロブ信号/RASにより
リセットさせるローアドレスリセット部21と、該ロー
アドレスリセット部21の出力信号をディコーディング
するプリディコーダー22と、該プリディコーダー22
の出力信号をディコーディングするローディコーダー2
3と、該ローディコーダー23の出力信号を受けてワー
ドラインWL0〜WLnを駆動するワードライン駆動部
24と、前記プリディコーダー22の出力信号をディコ
ーディングするブロックディコーダー25と、該ブロッ
クディコーダー25の出力信号を受けてセンスアンプイ
ネーブル信号SN,SPB及びセンスアンプイコライザ
信号SAEQを図4に示したセンスアンプ駆動部10に
印加するセンスアンプコントローラー26と、から構成
されていた。
【0006】前記アドレスマルチプレクサ20において
は、ローアドレスストロブ信号/RASを反転するイン
バーター20aと、該インバーター20a及びローアド
レスストロブ信号/RASによりアドレス信号ビットA
iをスイッチングする伝送ゲート20bと、該伝送ゲー
ト20bの出力信号をラッチする各インバーター20
c,20dと、前記ローアドレスストロブ信号/RAS
によりアドレス信号ビットAjをスイッチングする伝送
ゲート20eと、該伝送ゲート20eの出力信号をラッ
チする各インバーター20f,20gと、を備えてい
た。
【0007】前記プリディコーダー22は、図6に示す
ように、前記ローアドレスリセット部21の出力信号を
夫々論理積する各ANDゲート22a〜22dと、それ
らANDゲート22a〜22dに連結された各インバー
ター22e〜22hと、を備えていた。このように構成
された従来DRAMの動作を説明する。
【0008】図7(A)に示すようなローアドレススト
ロブ信号/RASがローレベルに遷移されると、図7
(B)に示すようなアドレス信号がアドレスマルチプレ
クサ20に入力し、該アドレスマルチプレクサ20を通
過したローアドレスはローアドレスリセット部21を経
てプリディコーダー22に印加され、前記ローアドレス
ストロブ信号/RAS信号がハイレベルである時ローア
ドレスリセット部21によりリセットされる。
【0009】次いで、プリディコーダー22は前記入力
されたローアドレスをディコーディングしてローディコ
ーダー23及びブロックディコーダー25に夫々出力す
る。これによって、ワードライン駆動部24により前記
ローアドレスに該当するワードラインWLiにハイレベ
ルの信号が載せられ(図7(C)参照)、アドレス信号
に該当するビットラインBL0〜BLm,BL0b〜B
Lmbが選択される。
【0010】このとき、センスアンプコントローラー2
6は所定レベルのセンスアンプイネーブル信号SN,S
PB及びセンスアンプイコライザ信号SAEQを出力し
てセンスアンプ駆動部10を動作させるため、メモリセ
ル行列19の該当セルのデータが読み出される。その
後、ローアドレスストロブ信号/RASがハイレベルに
遷移されてワードラインWLiの信号がローレベルに遷
移され、ビットラインBL0〜BLm,BL0b〜BL
mbはプリチャージ信号VBLPにより電源電圧Vcc
の半分に該当する低電位でプリチャージされる。
【0011】次いで、ローアドレスストロブ信号/RA
Sが再びローレベルに遷移されると、他のアドレス信号
が入力し、このような過程により新しい信号に該当する
ワードラインWLjが駆動される(図7(D)参照)。
このように従来のDRAMは、アドレスが変化する毎
に、常にビットラインBL0〜BLm,BL0b〜BL
mbがプリチャージされ、次のアドレスのデータが以前
のアドレスのデータと混合されないようになっている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来のD
RAMでは、前述のように、アドレスが変る毎に常にビ
ットラインBL0〜BLm,BL0b〜BLmbをプリ
チャージする構成であったため、以前のアドレスに該当
しセンスアンプに貯蔵されたデータを共有のビットライ
ンを経て他のアドレスのメモリセルに書き込むことがで
きず、よって、ページコピーモードを行い得ないという
問題点があった。
【0013】そこで、本発明の目的は、従来DRAMに
簡単な制御信号及び回路を追加することで、既存のビッ
トラインプリチャージ過程を省いてページコピーモード
を行い得るページコピーモードを有するDRAMを提供
しようとするものである。
【0014】
【課題を解決するための手段】そのため請求項1記載の
発明に係るページコピーモードを有するDRAMは、メ
モリセル行列と、センスアンプと、該メモリセル行列及
びセンスアンプを駆動する駆動装置と、を備えたDRA
Mにおいて、ローアドレスストロブ信号(/RAS)に
より複数のアドレス信号ビット(Ai,Aj)をマルチ
プレクシングするアドレスマルチプレクサ(30)と、
該アドレスマルチプレクサ(30)の出力信号を前記ロ
ーアドレスストロブ信号(/RAS)によりリセットさ
せるローアドレスリセット部(31)と、該ローアドレ
スリセット部(31)の出力信号をディコーディングす
るプリディコーダー(32)と、該プリディコーダー
(32)の出力信号をディコーディングするローディコ
ーダー(33)と、該ローディコーダー(33)の出力
信号を受けてワードライン(WL0〜WLn)を駆動す
るワードライン駆動部(34)と、前記プリディコーダ
ー(32)の出力信号をページコピー信号(PAGE−
CP)によりラッチするブロックディコーディング信号
ラッチ部(35)と、該ブロックディコーディング信号
ラッチ部(35)の出力信号をディコーディングするブ
ロックディコーダー(36)と、該ブロックディコーダ
ー(36)の出力信号を受けてセンスアンプイネーブル
信号(SN,SPB)及びセンスアンプイコライザ信号
(SAEQ)を出力するセンスアンプコントローラー
(37)と、を備えて構成される。
【0015】かかる構成によると、プリディコーダー
(32)の出力信号がリセットされる以前の信号を、ペ
ージコピー信号(PAGE−CP)によりブロックディ
コーディング信号ラッチ部(35)でラッチすること
で、ビットラインのデータ信号がローレベルに遷移され
ずに、以前にセンシングされたデータ信号を載せること
が可能となる。
【0016】請求項2記載の発明では、前記ブロックデ
ィコーディング信号ラッチ部(35)が、ページコピー
信号(PAGE−CP)を反転するインバーター(35
a)と、該インバーター(35a)の出力信号及びペー
ジコピー信号(PAGE−CP)により前記プリディコ
ーダー(32)の出力信号をスイッチングする伝送ゲー
ト(35b)と、該伝送ゲート(35b)の出力信号を
反転するインバーター(35c)と、該インバーター
(35c)の出力信号を反転して前記インバーター(3
5c)に再び出力するインバーター(35d)と、前記
インバーター(35c)の出力信号を反転するインバー
ター(35e)と、を備えて構成されるものとした。
【0017】かかる構成によると、前記プリディコーダ
ー(32)の出力信号をスイッチングする伝送ゲート
(35b)が、ページコピー信号(PAGE−CP)に
よって制御され、リセットされる以前の前記プリディコ
ーダー(32)の出力信号をラッチする。請求項3記載
の発明では、前記伝送ゲート(35b)が、前記インバ
ーター(35a)の出力信号をNMOSトランジスタの
ゲートから受け、前記ページコピー信号(PAGE−C
P)をPMOSトランジスタのゲートから受けるように
構成されるものとした。
【0018】かかる構成によると、ページコピー信号
(PAGE−CP)を反転するインバーター(35a)
の出力信号がNMOSトランジスタのゲートを介して伝
送ゲート(35b)に受け渡される一方、前記ページコ
ピー信号(PAGE−CP)がPMOSトランジスタの
ゲートを介して伝送ゲート(35b)に受け渡される。
請求項4記載の発明では、前記ページコピー信号(PA
GE−CP)が、ローアドレスストロブ信号(/RA
S)及びライトイネーブル信号(/WE)がそれぞれロ
ーレベルであるときの前記ローアドレスストロブ信号
(/RAS)のハイレベルからローレベルへの遷移によ
りリセットされる構成とした。
【0019】かかる構成によると、ローアドレスストロ
ブ信号(/RAS)及びライトイネーブル信号(/W
E)がそれぞれローレベルであるときの前記ローアドレ
スストロブ信号(/RAS)のハイレベルからローレベ
ルへの遷移により、例えばローレベルであったページコ
ピー信号(PAGE−CP)がハイレベルに遷移し、再
度、同じリセット状態が成立したときに、ハイレベルか
らローレベルに遷移する。尚、ローアドレスストロブ信
号(/RAS)及びライトイネーブル信号(/WE)が
それぞれローレベルであるときの前記ローアドレススト
ロブ信号(/RAS)のハイレベルからローレベルへの
遷移によりリセットさせるモードを、WCBR(WEB,CA
SB,Before RASB)モードと称する。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。本発明に係るページコピーモードを有するDRA
Mは、図1に示すように、ローアドレスストロブ信号/
RASにより複数のアドレス信号ビットAi,Ajをマ
ルチプレクシングするアドレスマルチプレクサ30と、
該アドレスマルチプレクサ30の出力信号を前記ローア
ドレスストロブ信号/RASによりリセットさせるロー
アドレスリセット部31と、該ローアドレスリセット部
31の出力信号をディコーディングするプリディコーダ
ー32と、該プリディコーダー32の出力信号をディコ
ーディングするローディコーダー33と、該ローディコ
ーダー33の出力信号を受けてワードラインWL0〜W
Lnを駆動するワードライン駆動部34と、前記プリデ
ィコーダー32の出力信号をページコピー信号PAGE
−CPによりラッチするブロックディコーディング信号
ラッチ部35と、該ブロックディコーディング信号ラッ
チ部35の出力信号をディコーディングするブロックデ
ィコーダー36と、該ブロックディコーダー36の出力
信号を受けてセンスアンプイネーブル信号SN,SPB
及びセンスアンプイコライザ信号SAEQを出力するセ
ンスアンプコントローラー37と、から構成される。
【0021】前記ブロックディコーディング信号ラッチ
部35は、ページコピー信号PAGE−CPを反転する
インバーター35aと、該インバーター35aの出力信
号及びページコピー信号PAGE−CPにより前記プリ
ディコーダー32の出力信号をスイッチングする伝送ゲ
ート35bと、該伝送ゲート35bの出力信号を反転す
るインバーター35cと、該インバーター35cの出力
信号を反転して前記インバーター35cに再び出力する
インバーター35dと、前記インバーター35cの出力
信号を反転するインバーター35eと、を備えている。
【0022】そして、前記伝送ゲート35bにおいて
は、前記インバーター35aの出力信号をNMOSトラ
ンジスタのゲートから受け、前記ページコピー信号PA
GE−CPをPMOSトランジスタのゲートから受ける
ように構成されている。このように構成された本発明の
動作を説明する。即ち、図2(A)に示すようなローア
ドレスストロブ信号/RASがローレベルに遷移される
と、図2(B)に示すようなアドレス信号により所定の
ワードラインWLiが図2(C)のように駆動され、プ
リディコーダー32の出力信号は、図2(E)に示すよ
うなローレベルのページコピー信号PAGE−CPの制
御によりブロックディコーディング信号ラッチ部35に
ラッチされる。
【0023】これにより、センスアンプコントローラー
37は、ローレベルのセンスアンプイネーブル信号SP
B、ハイレベルのセンスアンプイネーブル信号SN、及
びローレベルのセンスアンプイコライザ信号SAEQを
出力して該当のセンスアンプを動作させ、該該当のセン
スアンプはビットラインに載せられたデータをセンシン
グする。
【0024】その後、ローアドレスストロブ信号/RA
Sがハイレベルに遷移されると、ローアドレスリセット
部31はローアドレスをリセットさせ、よって、プリデ
ィコーダー32の出力信号もリセットされて、その結
果、ワードラインWLiの信号はハイレベルからローレ
ベルに遷移される。この場合、ページコピー信号PAG
E−CPはローアドレスストロブ信号/RASがローレ
ベルからハイレベルに遷移される以前にハイレベルに遷
移される。
【0025】従って、プリディコーダー32の出力信号
がリセットされる以前にブロックディコーディング信号
ラッチ部35の伝送ゲート35bがターンオフされて、
プリディコーダー32の出力信号がリセットされる以前
の信号をラッチし、その結果、図2(F)に示すよう
に、ビットラインのデータ信号はローレベルに遷移され
ず、以て、ビットラインはプリチャージされず、以前に
センシングされたデータ信号が載せられる。
【0026】その後、ローアドレスストロブ信号/RA
Sがハイレベルからローレベルに再び遷移されると、新
しいアドレス信号が入力して図2(D)に示すような新
しいアドレスに該当するワードラインWLjが駆動され
る。このとき、ページコピー信号PAGE−CPはハイ
レベルに維持されるため、ブロックディコーディング信
号ラッチ部35の伝送ゲート35bがターンオフ状態に
維持されて、ワードラインWLiの駆動時にセンシング
されたデータが共有のビットラインを経てワードライン
WLjに連結されたセルにライトされる。即ち、ワード
ラインWLiのページがワードラインWLjに連結され
たセルにコピーされる。
【0027】次いで、ページコピー信号PAGE−CP
が幾度のローアドレスストロブ信号/RASの周期の間
継続してハイレベルに維持され、新しく選択されるワー
ドラインが同様なメモリブロックに連結されていると、
最初にセンシングされたセルのデータは選択されるワー
ドライン毎にコピーされる。このように同様なデータが
複数のワードラインにライトされる動作は、DRAMの
テスト時に有用に活用される。
【0028】一方、ローアドレスストロブ信号/RAS
がハイレベルの間ページコピー信号PAGE−CPがロ
ーレベルに遷移されると、ブロックディコーディング信
号ラッチ部35の伝送ゲート35bがターンオンされ
て、ローアドレスのリセット信号を通過させるため、正
常的にビットラインがプリチャージされる。ここで、前
記ページコピー信号PAGE−CPは、以下に示すWC
BR(WEB,CASB, Before RASB)モードにより作られ
る。
【0029】即ち、図3を参照すると、ページコピー信
号PAGE−CPは、図3(b)に示すようなコラムア
ドレスストロブ信号/CAS及び図3(c)に示すよう
なライトイネーブル信号/WEが夫々ローレベルである
状態で、図3(a)に示すようなローアドレスストロブ
信号/RASがハイレベルからローレベルに遷移される
場合にリセットされ、また、ページコピー信号PAGE
−CPは前記のWCBRモードで再びリセットされる。
【0030】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るペー
ジコピーモードを有するDRAMにおいては、ページコ
ピー信号PAGE−CPを用いて任意のワードラインに
より駆動される全てのセルのデータであるページ単位の
データを共有のビットラインを経て他のワードラインの
セルにライトするようになっているため、DRAMテス
ト時有用に活用し得るという効果がある。
【0031】又、特定のデータをチップの外部に出力せ
ず、メモリにライトすることができるため、DRAMを
より速くテストし、電源の消耗を減らし得るという効果
がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るページコピーモードを有するDR
AMの構成図。
【図2】本発明に係るDRAMの動作に関するタイミン
グチャートで、(A)はローアドレスストロブ信号の波
形図、(B)はアドレス信号の波形図、(C)及び
(D)はワードラインに印加される信号の波形図、
(E)はページコピー信号の波形図、(F)はビットラ
インに載せられるデータ信号の波形図。
【図3】本発明に係るページコピー信号の生成に関する
タミングチャートで、(A)はローアドレスストロブ信
号の波形図、(B)はコラムアドレスストロブ信号の波
形図、(C)はライトイネーブル信号の波形図、(D)
はページコピー信号の波形図。
【図4】従来DRAMのメモリ及びセンスアンプ部分の
構成図。
【図5】従来DRAMを駆動する駆動装置のブロック
図。
【図6】従来プリディコーダーの回路図。
【図7】従来DRAMの動作に関するタイミング図で、
(A)はローアドレスストロブ信号の波形図、(B)は
アドレス信号の波形図、(C)及び(D)はワードライ
ンに印加される信号の波形図、(E)はビットラインに
載せられるデータ信号の波形図。
【符号の説明】
30:アドレスマルチプレクサ 31:ローアドレスリセット部 32:プリディコーダー 33:ローディコーダー 34:ワードライン駆動部 35:ブロックディコーディング信号ラッチ部 36:ブロックディコーダー 37:センスアンプコントローラー 35a,35c,35e:インバーター 35b:伝送ゲート

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】メモリセル行列と、センスアンプと、該メ
    モリセル行列及びセンスアンプを駆動する駆動装置と、
    を備えたDRAMにおいて、 ローアドレスストロブ信号(/RAS)により複数のア
    ドレス信号ビット(Ai,Aj)をマルチプレクシング
    するアドレスマルチプレクサ(30)と、 該アドレスマルチプレクサ(30)の出力信号を前記ロ
    ーアドレスストロブ信号(/RAS)によりリセットさ
    せるローアドレスリセット部(31)と、 該ローアドレスリセット部(31)の出力信号をディコ
    ーディングするプリディコーダー(32)と、 該プリディコーダー(32)の出力信号をディコーディ
    ングするローディコーダー(33)と、 該ローディコーダー(33)の出力信号を受けてワード
    ライン(WL0〜WLn)を駆動するワードライン駆動
    部(34)と、 前記プリディコーダー(32)の出力信号をページコピ
    ー信号(PAGE−CP)によりラッチするブロックデ
    ィコーディング信号ラッチ部(35)と、 該ブロックディコーディング信号ラッチ部(35)の出
    力信号をディコーディングするブロックディコーダー
    (36)と、 該ブロックディコーダー(36)の出力信号を受けてセ
    ンスアンプイネーブル信号(SN,SPB)及びセンス
    アンプイコライザ信号(SAEQ)を出力するセンスア
    ンプコントローラー(37)と、 を備えて構成されることを特徴とするページコピーモー
    ドを有するDRAM。
  2. 【請求項2】前記ブロックディコーディング信号ラッチ
    部(35)が、 ページコピー信号(PAGE−CP)を反転するインバ
    ーター(35a)と、 該インバーター(35a)の出力信号及びページコピー
    信号(PAGE−CP)により前記プリディコーダー
    (32)の出力信号をスイッチングする伝送ゲート(3
    5b)と、 該伝送ゲート(35b)の出力信号を反転するインバー
    ター(35c)と、 該インバーター(35c)の出力信号を反転して前記イ
    ンバーター(35c)に再び出力するインバーター(3
    5d)と、 前記インバーター(35c)の出力信号を反転するイン
    バーター(35e)と、 を備えて構成されることを特徴とする請求項1記載のペ
    ージコピーモードを有するDRAM。
  3. 【請求項3】前記伝送ゲート(35b)が、前記インバ
    ーター(35a)の出力信号をNMOSトランジスタの
    ゲートから受け、前記ページコピー信号(PAGE−C
    P)をPMOSトランジスタのゲートから受けるように
    構成されたことを特徴とする請求項2記載のページコピ
    ーモードを有するDRAM。
  4. 【請求項4】前記ページコピー信号(PAGE−CP)
    が、ローアドレスストロブ信号(/RAS)及びライト
    イネーブル信号(/WE)がそれぞれローレベルである
    ときの前記ローアドレスストロブ信号(/RAS)のハ
    イレベルからローレベルへの遷移によりリセットされる
    ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の
    ページコピーモードを有するDRAM。
JP9340104A 1996-12-30 1997-12-10 ページコピーモードを有するdram Pending JPH10199231A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR77506/1996 1996-12-30
KR1019960077506A KR100234714B1 (ko) 1996-12-30 1996-12-30 페이지 카피 모드를 갖는 디램

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10199231A true JPH10199231A (ja) 1998-07-31

Family

ID=19492544

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9340104A Pending JPH10199231A (ja) 1996-12-30 1997-12-10 ページコピーモードを有するdram

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5886944A (ja)
JP (1) JPH10199231A (ja)
KR (1) KR100234714B1 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4112824B2 (ja) * 2001-07-12 2008-07-02 株式会社東芝 半導体記憶装置
KR100442960B1 (ko) * 2001-12-21 2004-08-04 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 테스트 장치
KR101970712B1 (ko) * 2012-08-23 2019-04-22 삼성전자주식회사 단말기의 데이터 이동장치 및 방법
KR20160061703A (ko) 2014-11-24 2016-06-01 삼성전자주식회사 내부 카피 동작을 수행하는 메모리 장치
US9922695B2 (en) 2015-03-25 2018-03-20 Intel Corporation Apparatus and method for page copying within sections of a memory
US9881659B2 (en) 2015-09-25 2018-01-30 Intel Corporation Technologies for clearing a page of memory
US9804793B2 (en) 2016-03-04 2017-10-31 Intel Corporation Techniques for a write zero operation
US10249351B2 (en) 2016-11-06 2019-04-02 Intel Corporation Memory device with flexible internal data write control circuitry
KR20180058456A (ko) 2016-11-24 2018-06-01 삼성전자주식회사 메모리를 관리하는 방법 및 장치.
US10490239B2 (en) 2016-12-27 2019-11-26 Intel Corporation Programmable data pattern for repeated writes to memory
WO2018163252A1 (ja) * 2017-03-06 2018-09-13 ゼンテルジャパン株式会社 半導体記憶システム

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5210723A (en) * 1990-10-31 1993-05-11 International Business Machines Corporation Memory with page mode
US5233565A (en) * 1990-12-26 1993-08-03 Motorola, Inc. Low power BICMOS memory using address transition detection and a method therefor
US5621692A (en) * 1994-05-24 1997-04-15 Winbond Electronics Corporation Memory device with page select capability
JP3176228B2 (ja) * 1994-08-23 2001-06-11 シャープ株式会社 半導体記憶装置
US5761657A (en) * 1995-12-21 1998-06-02 Ncr Corporation Global optimization of correlated subqueries and exists predicates

Also Published As

Publication number Publication date
KR100234714B1 (ko) 1999-12-15
US5886944A (en) 1999-03-23
KR19980058194A (ko) 1998-09-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6240039B1 (en) Semiconductor memory device and driving signal generator therefor
US7239566B2 (en) Semiconductor memory device and method of precharging global input/output lines thereof
US6111808A (en) Semiconductor memory device
US6741511B2 (en) Semiconductor memory device
JP4413293B2 (ja) リセット動作を高速化したメモリデバイス
KR20100102817A (ko) 반도체 장치의 콘트롤 신호 구동장치
US5574691A (en) Semiconductor memory device having circuit for activating predetermined rows of memory cells upon detection of disturb refresh test
JP2002170387A (ja) 高電圧発生器を有する半導体装置及びその高電圧供給方法
JPH10283776A (ja) 半導体記憶装置
JP2000357398A (ja) 外部アドレスにより自動リフレッシュ動作が行えるテストモードを有する同期式dram及び自動リフレッシュ方法
JP3778381B2 (ja) 半導体メモリ装置
JPH10199231A (ja) ページコピーモードを有するdram
US5517451A (en) Semiconductor memory device and memory initializing method
JP2003109398A (ja) 半導体記憶装置
KR100567994B1 (ko) 스트레스 시험을 실행하는 다이나믹 메모리 디바이스
US6094389A (en) Semiconductor memory apparatus having refresh test circuit
KR100316513B1 (ko) 반도체메모리장치
JPH10293996A (ja) 半導体メモリ装置とそのデータ読出方法
KR100333536B1 (ko) 센스앰프를이용하여테스트를수행하는메모리소자
JPH04345988A (ja) 書込み動作を有する半導体メモリー装置
KR0167294B1 (ko) 순차엑세스를 위한 메모리장치
JP2000090694A (ja) 半導体メモリ装置
JP2000215696A (ja) 半導体記憶装置および半導体テスト方法
KR20010104901A (ko) 데이터 출력 시간을 단축할 수 있는 동기형 집적 회로메모리 장치
JP2000173296A (ja) 半導体記憶装置及びその検査方法