JPH10189669A - プローブカードクランプ機構及びプローブ装置 - Google Patents

プローブカードクランプ機構及びプローブ装置

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JPH10189669A
JPH10189669A JP8357665A JP35766596A JPH10189669A JP H10189669 A JPH10189669 A JP H10189669A JP 8357665 A JP8357665 A JP 8357665A JP 35766596 A JP35766596 A JP 35766596A JP H10189669 A JPH10189669 A JP H10189669A
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ring
probe card
card
fixing ring
probe
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    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
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    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
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    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07342Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being at an angle other than perpendicular to test object, e.g. probe card

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 従来は、ポゴピンに対してプローブカード3
が傾斜して接触し、ひいてはポゴピンに無理な力が加わ
ってポゴピンを損傷したり、一部のポゴピンとプローブ
カード3の接続端子との接触が不十分で安定した検査を
実施できなくなる虞があった。 【解決手段】 カードホルダークランプ機構(インサー
トリング)2は、ヘッドプレート1Aに固定された固定
リング21と、その下面に取り付けられ、回転してカー
ドホルダー31外周の複数箇所の係止用フランジ31C
をクランプする、プローブカード3を固定リング21に
対して固定や解放をするためのロックリング22を備え
る。ロックリング22の内周面にカードホルダー31の
各係止用フランジ31Cがそれぞれ通る切欠部22Eを
複数設け、それにカムフォロワ22Fをそれぞれ設け、
カードホルダー31の各係止用フランジ31Cの下面に
はカム31Dを設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プローブカードクラン
プ機構及びプローブ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のプローブ装置は、例えば図7に示
すように、装置本体11と、この装置本体11内にX、
Y、Z及びθ方向で移動可能に配設され、被検査体例え
ば半導体ウエハ(以下、「ウエハ」と称す。)Wを載置
する載置台12と、この載置台12上に載置されたウエ
ハWに形成されたICチップの電極パッドに対応するプ
ローブ針13Aを有するプローブカード13と、このプ
ローブカード13をカードホルダー14を介して固定す
るインサートリング15と、このインサートリング15
に固定されたプローブカード13と接続リング16を介
して電気的に接続するテストヘッド17とを備え、載置
台12によりウエハWの電極パッドをプローブ針13A
に対して位置決めした後、テストヘッド17、接続リン
グ16及びプローブカード13を介して図示しないテス
タとウエハWの各ICチップとの間でテスト信号を送受
信して電気的検査を行なうようにしてある。
【0003】ところで、上記インサートリング15は自
動的あるいは半自動的に交換するプローブカード13を
自動的にクランプして固定するプローブカードクランプ
機構(以下、単に「クランプ機構」と称す。)を備えて
いる。従って、以下では必要に応じてインサートリング
15をクランプ機構15として説明する。このクランプ
機構15は、図7の○で囲んだ部分を拡大した図8のよ
うな構造を有している。このクランプ機構15は、例え
ば図8に示すように、ヘッドプレート11Aに固定され
た固定リング151と、この固定リング151の下面に
嵌合したシリンダリング152と、このシリンダリング
152の外周上面全周に渡って形成されたリング状溝に
装着されて気密室153を形成するOリング154と、
このOリング154を押さえるフランジ部155Aを有
すると共にシリンダリング152の外周面に従って昇降
するピストンリング155と、このピストンリング15
5の外面で係合すると共に周方向で回転自在になったカ
ード受けリング156とを備えて構成されている。
【0004】また、上記カード受けリング156の内周
面には周方向等間隔に複数の係合部156Aが内側に向
けて延設され、また、上記カードホルダー14の外周面
には周方向等間隔に複数の係合部14Aが外側に向けて
延設されている。そして、カード受けリング156の各
係合部156Aの間をカードホルダー14の各係合部1
4Aが通り抜け、カード受けリング156を周方向に回
転することで各係合部156Aと各係合部14Aが係合
してカード受けリング156でカードホルダー14を受
けるようにしてある。
【0005】また、上記固定リング151及びシリンダ
リング152には外部から気密室153へ通じる通路1
57がそれぞれ形成され、この通路157には例えば図
示しない空気供給源が接続され、この空気供給源から通
路157を介して気密室153に圧縮空気を供給するよ
うにしてある。気密室153では圧縮空気の受給により
上昇した空気圧でOリング154がピストンリング15
5と共に上昇し、これにより持ち上げられたカード受け
リング156とシリンダリング152とでカードホルダ
ー14をクランプし、この時の空気圧によりカードホル
ダー14を介してプローブカード13を固定するように
してある。また、プローブカード13を自動的あるいは
半自動的に交換する時には、気密室153の圧縮空気を
排気することによりピストンリング155と共にカード
受けリング156を下降させ、カードホルダー14をシ
リンダリング152から離し、この状態でカード受けリ
ング156を回転させてカードホルダー14の係合突部
14Aとカード受けリング156の係合部156Aとの
係合状態を解除することで、プローブカード13を取り
外すようにしてある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
プローブ装置のクランプ機構(インサートリング)15
の場合には、上述のようにシリンダリング152の気密
室153内の空気圧を利用してピストンリング155及
びカードホルダー14を介してプローブカード13持ち
上げてシリンダリング152の下面とカード受けリング
156とでプローブカード13をクランプして固定して
いるが、従来の空気圧を利用した持ち上げる方法ではプ
ローブカード13を垂直に持ち上げることが難しく、僅
かではあるがプローブカード13が傾いた状態で持ち上
げられるという課題があった。例えば6〜8インチ程度
のウエハを検査する従来のプローブカード13の場合に
は、空気圧を利用して持ち上げてもプローブカードの傾
きはそれほど大きく影響しないが、ウエハが更に大口径
化し、ウエハが例えば12インチにもなると、これに伴
ってプローブカード13の口径も大きくなり、プローブ
カード13に僅かな傾きあっても接続リング16下面の
ポゴピン(図示せず)がプローブカード13の接続端子
と均等に接触せず、ポゴピンに対してプローブカード1
3が傾斜して接触し、ひいてはポゴピンに無理な力が加
わってポゴピンを損傷したり、一部のポゴピンとプロー
ブカード13の接続端子との接触が不十分で安定した検
査を実施できなくなる虞がある。
【0007】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、プローブカードを垂直に持ち上げることが
でき、ウエハが大口径化してもプローブカードの接続端
子と全てのポゴピンとが常に均等に接触してポゴピンに
無理な力が加わることなく、ポゴピンの損傷を防止する
ことができると共に常に安定した検査を実施することが
できるプローブカードクランプ機構及びこのプローブカ
ードクランプ機構を備えたプローブ装置を提供すること
を目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
のプローブカードクランプ機構は、被検査体の電気的特
性を行うプローブ装置の装置本体にプローブカードを固
定する機構において、上記装置本体のヘッドプレートに
固定された固定リングと、この固定リングの下面に取り
付けられ且つ正逆回転してカードホルダー外周の複数箇
所の係止用フランジをクランプしあるいはクランプを解
除してプローブカードを上記固定リングに対して固定し
また上記固定リングから解放するロックリングと、この
ロックリングを正逆回転させる駆動手段とを備え、上記
ロックリングの内周面に上記カードホルダーの各係止用
フランジがそれぞれ通る切欠部を複数設けると共にこれ
らの切欠部にカムフォロワをそれぞれ設け、且つ、上記
カードホルダーの各係止用フランジの下面には傾斜面か
らなるカムを設けたことを特徴とするものである。
【0009】また、本発明の請求項2に記載のプローブ
カードクランプ機構は、請求項1に記載の発明におい
て、上記固定リングに偏心プーリを複数箇所に設けると
共に、上記ロックリングの内周面に上記偏心プーリが嵌
まり込む溝を設け、上記偏心プーリの軸心の位置調整に
より上記ロックリングを上記固定リングに対して一体化
することを特徴とするものである。
【0010】また、本発明の請求項3に記載のプローブ
カードクランプ機構は、請求項1または請求項2に記載
の発明において、上記係止用フランジのガイド孔を介し
て上記プローブカードを上記固定リングに対する取り付
け位置へ案内するガイド機構を上記固定リングに設け、
上記ガイド機構は、上記固定リングから垂下するガイド
ピンと、このガイドピンの下端に固定された逆円錐台状
のガイド部材とを有することを特徴とするものである。
【0011】また、本発明の請求項4に記載のプローブ
カードクランプ機構は、請求項3に記載の発明におい
て、上記ガイド機構は、上記ガイド部材と上記固定リン
グ間に弾装されたスプリングと、このスプリングを下端
で受け且つ上記ガイド孔より大径に形成されたスプリン
グ受けとを有することを特徴とするものである。
【0012】また、本発明の請求項5に記載のプローブ
装置は、被検査体に接触する接触子を有するプローブカ
ードと、このプローブカードを固定するプローブカード
クランプ機構とを備えたプローブ装置において、上記プ
ローブカードクランプ機構は、上記装置本体のヘッドプ
レートに固定された固定リングと、この固定リングの下
面に取り付けられ且つ正逆回転してカードホルダー外周
の複数箇所の係止用フランジをクランプしあるいはクラ
ンプを解除してプローブカードを上記固定リングに対し
て固定しまた上記固定リングから解放するロックリング
と、このロックリングを正逆回転させる駆動手段とを備
え、上記ロックリングの内周面に上記カードホルダーの
各係止用フランジがそれぞれ通る切欠部を複数設けると
共にこれらの切欠部にカムフォロワをそれぞれ設け、且
つ、上記カードホルダーの各係止用フランジの下面には
傾斜面からなるカムを設けたことを特徴とするものであ
る。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、図1〜図6に示す実施形態
に基づいて本発明を説明する。本実施形態のプローブ装
置はインサートリングを除き基本的には従来のプローブ
装置に準じて構成されている。従って、以下では本実施
形態の特徴部分を中心に説明し、その他、従来のプロー
ブ装置と同様に構成されている部分についての説明は省
略する。本実施形態のプローブ装置は、図1に示すよう
に、装置本体1と、この装置本体1のヘッドプレート1
Aの中央孔に固定されたインサートリング2と、このイ
ンサートリング2に対してプローブカード3を搬送する
カード搬送機構4を備え、カード搬送機構4を介してプ
ローブカード3を半自動的に交換できるように構成され
ている。
【0014】上記カード搬送機構4は、装置本体1の正
面で折り畳み自在に構成されている。このカード搬送機
構4は、例えばプローブカード3を真空吸着するトレイ
41と、このトレイ41を起倒自在に支持するアーム4
2と、このアーム42を装置本体1の正面とインサート
リング2の真下との間で往復回転させると共にアーム4
2をインサートリング2の真下で昇降させる駆動機構
(図示せず)とを備え、トレイ41にプローブカード3
を載せて搬送するようにしてある。尚、図1において、
5は装置本体1の正面でトレイ41を被うカバーで、こ
のカバー5は昇降可能に構成されている。
【0015】ところで、上記インサートリング2はプロ
ーブカード3をクランプするクランプ機構として構成さ
れている。そこで、以下では必要に応じてインサートリ
ング2をクランプ機構2として説明する。クランプ機構
2は、図2及び図3の(a)に示すように、装置本体1
のヘッドプレート1Aのフランジ部1Bに固定された固
定リング21と、この固定リング21と中心を一致させ
てその下面に正逆回転可能に取り付けられたロックリン
グ22と、このロックリング22を固定リング21に対
して回転自在に一体化する複数(例えば6個)のVプー
リ23とを備えている。尚、図3では1個のVプーリの
みが示してある。
【0016】上記固定リング21は、図2、図3の
(a)に示すように、ヘッドプレート1Aのフランジ部
1Bと係合するフランジ部21Aと、このフランジ部2
1Aの内端から垂下する偏平な筒状部21Bと、この筒
状部21Bの下端から内方に水平に延設され且つ後述の
ようにロックリング22とでカードホルダーの係止用フ
ランジをクランプするフランジ状のクランプ部21Cと
を有している。筒状部21Bの外周面には内側へ円弧状
に膨らむ凹部21Dが周方向等間隔を隔てて6箇所に形
成され、各凹部21DにVプーリ23が回転自在に配置
されている。また、クランプ部21Cはプローブカード
3を固定する際の基準面となる。尚、固定リング21は
図2に示すようにネジ部材21Dによってヘッドプレー
ト1Aに対して固定される。
【0017】上記ロックリング22は、図3の(a)及
び図4に示すように、固定リング21の筒状部21Bが
余裕をもって嵌入する内径に形成されている。そして、
ロックリング22は図3の(a)に示すようにVプーリ
23を介して固定リング21に取り付けるようにしてあ
る。そこで、ロックリング22について説明する前にV
プーリ23について説明する。
【0018】上記Vプーリ23は、図3に示すように、
固定リング21の上面側に取り付けられるベアリングナ
ット23Aと、固定リング21の下側からベアリングナ
ット23Aと螺合するベアリングピン23Bと、ベアリ
ングピン23Bで回転自在に支持されたプーリ23C
と、プーリ23Cの高さを調整するスペーサ23Dとを
有している。また、同図に示すようにベアリングナット
23Aの中心には固定リング21の孔に嵌入する軸23
Eが形成され、この軸23Eには軸心から僅かに偏倚し
た位置にベアリングピン23Bが螺合する雌ネジ23F
が形成されている。従って、ベアリングピン23Bの軸
心はベアリングナット23Aの軸心から偏心しているた
め、Vプーリ23を固定リング21に取り付けた後、ベ
アリングナット23Aを回転させることによりプーリ2
3Cがロックリング22の内周面のV溝(後述する)と
係合してロックリング22が固定リング21と一体化し
たり、係合状態が解除されてロックリング22が固定リ
ング21から外れたりするようしてある。
【0019】上記ロックリング22を固定リング21に
取り付ける時には、ベアリングナット23Aを回転させ
てプーリ23Cをロックリング22の内周面から離れた
位置に調整しておくことによりロックリング22が固定
リング21の筒状部21Bに嵌まり込み、ロックリング
22を固定リング21に嵌め込んだ後、ベアリングナッ
ト23Aを逆方向へ回転させることによりプーリ23C
がロックリング22の内周面のV溝と係合し、両者2
1、22が図4〜図6に示すように一体化すると共に、
ロックリング22が固定リング21に対して回転自在に
なる。ロックリング22を一体する時のベアリングナッ
ト23Aの向きは治具用溝23H(図3の(b)参照)
の向きによって判るようにしてある。尚、図3の(b)
において、23GはVプーリ23を固定リング21に固
定する時に利用される孔である。
【0020】また、上記ロックリング22は、図3の
(a)〜図6に示すように、固定リング21のフランジ
部21Aの径方向内側で係合する上リング22Aと、こ
の上リング22Aと複数(例えば4個)の結合ピン22
Bを介してスプリングの力を利用して一体化した下リン
グ22Cとを備え、2箇所のエアシリンダ24、24
(図4参照)により正逆回転するようにしてある。上リ
ング22Aの内径は下リング22Cの内径より大きく形
成され、下リング22Cの内径は固定リング21の筒状
部22Bの外径より大きく形成されている。また、上下
のリング22A、22Cには周方向等間隔に接合ピン2
2B用の孔が形成されている。
【0021】そして、上リング22Aの内周面全周に6
個のVプーリ23が嵌まり込むV溝22Dが形成され、
ロックリング22はVプーリ23を介して回転自在にな
っている。また、下リング22Cの内周面には周方向略
等間隔に切欠部22Eが6箇所に形成され、各切欠部2
2Eはカードホルダー31の係止用フランジが通り抜け
るようになっている。つまり、カード搬送機構4がイン
サートリング2の真下から例えば67mm上昇してプロ
ーブカード3を持ち上げると、カードホルダー31のカ
ム部がカムフォロワ22Fに触れることなくロックリン
グ22の切欠部22Eを通り抜けられるようにしてあ
る。更に、上記各切欠部22Eの内周面にはカムフォロ
ワ22Fが径方向に突出させて取り付けられ、しかも各
カムフォロワ22Fはそれぞれの切欠部22Eにおいて
一方向(図3の(a)、図4では反時計回り方向)に偏
倚している。カムフォロワ22Fは回転自在に軸支され
たローラからなり、このローラがカードホルダー31の
係止用フランジのカムを転動してプローブカード3を垂
直に持ち上げるようにしてある。
【0022】一方、カードホルダー31の内周側には図
5、図6に示すように内フランジ31Aが形成され、こ
の内フランジ31Aが固定リング21のクランプ部21
Cと接触するようにしてある。そして、この内フランジ
31Aの下面には段部31Bが形成され、この段部31
Bにプローブカード3を取り付けるようにしてある。ま
た、カードホルダー31の外周面上端部にはロックリン
グ22の切欠部22Eに対応する係止用フランジ31C
が形成され、更に、各係止用フランジ31Cは、下面の
略半分が傾斜面として形成され、残りの半分が上面と平
行する平行面として形成されている。そして、傾斜面は
ロックリング22のカムフォロワ22Fが転動するカム
31Dとして形成され、係止用フランジ31Cが切欠部
22Eに嵌まり込んだ時にカム31Dがカムフォロワ2
2Fの隣に位置するようにしてある。また、図6に示す
ように互いに対向する位置にある2箇所の係止用フラン
ジ31Cには大きさを異にするガイド孔31Eがそれぞ
れ形成され、後述するガイド機構と協働してプローブカ
ード3をインサートリング2の取り付け位置へ案内する
ようにしてある。尚、各ガイド孔31Eの内周面上端に
はテーパ面が形成されている。
【0023】従って、インサートリング2内へプローブ
カード3が持ち上げられた時点で、図4に示すエアシリ
ンダ24を介してロックリング22が時計方向へ回転す
ると、図5の(b)に示すように6箇所のカムフォロワ
22Fが係止用フランジ31Cの実線位置から一点鎖線
位置へ移動し、それぞれのカム31Dと係合し、更に回
転し続けるとカムフォロワ22Fはカム31Dに案内さ
れてプローブカード3が徐々に垂直に持ち上げられ、カ
ムフォロワ22Fが係止用フランジ31Cの平行面に達
した時点で、図5の(a)に示すようにカードホルダー
31は、係止用フランジ31Cがカムフォロワ22Fに
より押し上げられると共に内フランジ31Aが固定リン
グ21のクランプ部21Cに圧接して固定される。
【0024】また、図4、図6に示すように上記固定リ
ング21には太さを異にする2個のガイド機構25、2
6が取り付けられ、カード搬送機構4上のプローブカー
ド3を両ガイド機構25、26を介して固定リング21
の取り付け位置へ案内すると共にプローブカード3のロ
ックを解除した時にプローブカード3をカード搬送機構
4上へ弾き出すようにしてある。各ガイド機構25、2
6はいずれも同一構成を有するため、細い方のガイド機
構25を例に挙げて説明し、他のガイド機構26にはガ
イド機構25の符号に相当する符号を附してその説明を
省略する。尚、ガイド機構25、26の大きさが異なる
のは、プローブカード3の取り付け方向を間違わないよ
うにするためでる。
【0025】上記ガイド機構25は、固定リング21の
孔に嵌入するボルト25Aと、このボルト25Aにネジ
止めされて固定リング21から垂下するガイドピン25
Bと、このガイドピン25Bの下端に固定された逆円錐
台状のガイド部材25Cと、これら両者25B、25C
間に弾装されたスプリング25Dと、このスプリング2
5Dを下端で受けるスプリング受け25Eとを有してい
る。そして、スプリング受け25Eはスプリング25D
のスプリング力で常時ガイド部材25Cに押し付けられ
ている。
【0026】従って、プローブカードを3をインサート
リング2に取り付ける時に、プローブカード3を持ち上
げると、カードホルダー31の係止用フランジ31Cに
形成されガイド孔31Eに固定リング21のガイド機構
25のガイド部材25Cが嵌入する。この時、ガイド孔
31Eの内周面上端がテーパ面になっていると共にガイ
ド部材25Cの周面がテーパ面になっているため、ガイ
ド孔31Eとガイド部材25Cの位置が若干ずれていて
も、これらを介してプローブカード3は固定リング21
の取り付け位置へ確実に案内される。一方、インサート
リング2からプローブカード3を取り外す時に、ロック
リング22によるロック状態が解除されると、ガイド機
構25のスプリング25Dの付勢力でプローブカード3
をインサートリング2から弾き出すようにしてある。ま
た、インサートリング2とプローブカード3の最終的な
位置決めは、図6に示すように、固定リング21のクラ
ンプ部21Cに取り付けられた複数のガイドピン21F
と、これらのガイドピン21Fに対応してカードホルダ
ー31の内フランジ31Aに形成されたガイド孔31F
によって行われる。
【0027】次に、動作について説明する。例えばプロ
ーブカード3を新しいものと交換する時にはカード搬送
機構4のトレイ41を図1に示すように水平に起こした
後、カード搬送機構4が駆動すると、アーム42が反時
計方向へ100°回転し、トレイ41がインサートリン
グ2の真下に来た時点で停止し、この位置で上昇する。
【0028】その直後、エアシリンダ24が駆動してロ
ックリング22がVプーリ23を介して固定リング21
及びプローブカード3に対して反時計方向へ回転して図
5の(b)に示すようにロックリング22の周方向に均
等に配置された6個のカムフォロワ22Fが一点鎖線の
位置から実線位置へ徐々に移動すると、この間に各カム
フォロワ22Fは係止用フランジ31Cの平行面からカ
ム31Dを辿って係止用フランジ31Cからそれぞれ同
時に外れる。この時、固定リング21に取り付けられた
2箇所のガイド機構25、26のスプリング25D、2
6Dが働き、スプリング受け25E、26Eを介してカ
ードホルダー31をインサートリング2から弾き出す。
これによりプローブカード3がインサートリング2から
自動的に外れてカード搬送機構4のアーム42上へ移
る。
【0029】次いで、カード搬送機構4が駆動して逆方
向に回転してインサートリング2から装置本体1の外側
へプローブカード3を搬送する。ここでオペレータがト
レイ41上のプローブカード3を次に使用すべきプロー
ブカード3と交換する。カード搬送機構4上のプローブ
カード3を新しいものと交換した後、再度カード搬送機
構4が駆動してトレイ41が回転し、上述したように新
たなプローブカード3をインサートリング2の真下まで
搬送し、この位置でアーム42が上昇すると、プローブ
カード3がインサートリング2への取り付け位置から若
干ずれていても、2個のガイド機構25、26及びカー
ドホルダー31のガイド孔31Eの働きにより、カード
ホルダー31の係止用フランジ31Cがロックリング2
2の切欠部22Eは円滑に嵌まり込み、最終的には固定
リング21のガイドピン21Fがカードホルダー31の
内フランジ31Aのガイド孔31Fに嵌まり込み、正確
に所定位置へ位置決めされる。
【0030】その直後、エアシリンダ24が駆動してロ
ックリング22がVプーリ23を介して固定リング21
及びプローブカード3に対して時計方向へ回転して図5
の(b)に示すように6個のカムフォロワ22Fが実線
の位置から一点鎖線位置へ徐々に移動すると、この間に
カムフォロワ22Fは係止用フランジ31Cのカム31
Dを辿り、プローブカード3をガイド機構25、26の
スプリング25D、26Dの付勢力に抗しながら徐々に
垂直上方へ持ち上げ、カム31Dが平行面に達すると、
ガイド機構25、26のスプリング25D、26Dが最
も蓄勢された状態でカードホルダー31は固定リング2
1のクランプ部21Cとロックリング22のカム22F
とでクランプされて固定される。従って、図5(a)、
図6で一点鎖線で示すようにテストヘッドTが接続リン
グを介してプローブカード3に接触する時には接続リン
グの全てのポゴピンはプローブカード3の接続端子に対
して垂直になっているため、ポゴピンが損傷することは
ない。
【0031】以上説明したように本実施形態によれば、
インサートリング2は、ヘッドプレート1Aに固定され
た固定リング21と、この固定リング21の下面で正逆
回転するロックリング22と、このロックリング22を
正逆回転させるエアシリンダ24とを備え、ロックリン
グ22の内周面にカードホルダー31の6箇所の係止用
フランジ31Cがそれぞれ通る切欠部22Eが設けられ
ていると共にこれらの切欠部22Eにカムフォロワ22
Fがそれぞれ設けられ、しかも各係止用フランジ31C
の下面に傾斜面からなるカム31Dが設けられているた
め、プローブカード3をインサートリング2の真下から
持ち上げると、カードホルダー31の6箇所の係止用フ
ランジ31Cがロックリング22の切欠部22Eに嵌ま
り込み、この状態でエアシリンダ24によりロックリン
グ22を回転させると、そのカムフォロワ22Fが係止
用フランジ31Cのカム31Dに従って転動し、プロー
ブカード3を徐々に垂直に持ち上げることができ、最終
的には係止用フランジ31Cの平行面でクランプされ、
接続リングの全てのポゴピンがプローブカード3の接続
端子に対して垂直で且つ均等に当たる。従って、ウエハ
が大口径化しても安定した検査を行うことができ、しか
もポゴピンが損傷することもない。
【0032】また、本実施形態によれば、固定リング2
1にVプーリ23を6箇所に設けると共に、ロックリン
グ22の内周面に各Vプーリ23が嵌まり込むV溝22
Dを設け、Vプーリ23の軸心の位置調整によりロック
リング22を固定リング21に対して一体化できるよう
にしたため、Vプーリ23の向きを調整するだけで、ロ
ックリング22を固定リング21に対して簡単に取り付
けることができ、しかもVプーリ23によりロックリン
グ22が円滑に回転することができる。
【0033】また、本実施形態によれば、カードホルダ
ー31のガイド孔31Eを介して固定リング21の取り
付け位置へプローブカード3を案内するガイド機構2
5、26を固定リング21に設け、しかもガイド機構2
5、26は、固定リング21から垂下するガイドピン2
5B、26Bと、このガイドピン25B、26Bの下端
に固定された逆円錐台状のガイド部材25C、26Cと
を有するため、プローブカード3をインサートリング2
の真下で厳密に取り付け位置に設定できなくてもガイド
部材25C、26Cがガイド孔31Eに対して確実に嵌
まり込み、プローブカード3をインサートリング2の取
り付け位置へ案内することができる。
【0034】また、上記ガイド機構25、26は、ガイ
ド部材25C、26Cと固定リング21間に弾装された
スプリング25D、26Dと、このスプリング25D、
26Dを下端で受け且つガイド孔31Eより大径に形成
されたスプリング受け25E、26Eとを有するため、
プローブカード3をインサートリング2から取り外す時
に、スプリング25D、26Dの付勢力によってプロー
ブカード3をインサートリング2から弾き出し、プロー
ブカード3を自動的に容易に取り外すことができる。
【0035】尚、本発明は上記実施形態に何等制限され
るものではないことは云うまでもない。
【0036】
【発明の効果】本発明の請求項1及び請求項5に記載の
発明によれば、プローブカードを垂直に持ち上げること
ができ、ウエハが大口径化してもプローブカードの接続
端子と全てのポゴピンとが常に均等に接触してポゴピン
に無理な力が加わることなく、ポゴピンの損傷を防止す
ることができると共に常に安定した検査を実施すること
ができるプローブカードクランプ機構及びこのプローブ
カードクランプ機構を備えたプローブ装置を提供するこ
とができる。
【0037】また、本発明の請求項2に記載の発明によ
れば、請求項1に記載の発明において、偏心プーリの軸
心の位置調整によりロックリングを固定リングに対して
一体化するプローブカードクランプ機構を提供すること
ができる。
【0038】また、本発明の請求項3に記載の発明によ
れば、請求項1または請求項2に記載の発明において、
プローブカードをインサートリングの固定位置へ確実に
案内することができるプローブカードクランプ機構を提
供することができる。
【0039】また、本発明の請求項4に記載の発明によ
れば、請求項3に記載の発明において、インサートリン
グからプローブカードを確実に取り外すことができるプ
ローブカードクランプ機構を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のプローブ装置の一実施形態を示す斜視
図である。
【図2】図1に示すインサートリングの固定リングをヘ
ッドプレートに組み付ける状態を示す斜視図である。
【図3】図1に示すインサートリングを示す図で、
(a)は固定リング、ロックリング及びVプーリの関係
を示す分解斜視図、(b)はVプーリのベアリングナッ
トを示す平面図である。
【図4】図1に示すインサートリングのガイド機構を組
み付ける状態を示す斜視図である。
【図5】図1に示すインサートリングとプローブカード
との関係を示す図で、(a)はインサートリングにプロ
ーブカードを固定した状態を示す断面図で、特にカムフ
ォロワとカムとの関係及び固定リング、ロックリングと
Vプーリとの関係を示す図、(b)はロックリングのカ
ムフォロワとカムの動作説明図である。
【図6】図1に示すインサートリングにプローブカード
を固定した状態を示す断面図で、特にガイド機構の組み
付け状態を示す図である。
【図7】従来のプローブ装置の要部を示す構成図であ
る。
【図8】図7に示すプローブ装置のインサートリングの
要部の断面を拡大して示す図である。
【符号の説明】
1 装置本体 2 インサートリング 3 プローブカード 21 固定リング 22 ロックリング 22D V溝 22E 切欠部22E 22F カムフォロワ 23 Vプーリ(偏心プーリ) 24 エアシリンダ(駆動手段) 25、26 ガイド機構 24B、26B ガイドピン 25C、26C ガイド部材 25D、26D スプリング 25E、26E スプリング受け 31 カードホルダー 31C 係止用フランジ 31D カム

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査体の電気的特性を行うプローブ装
    置の装置本体にプローブカードを固定する機構におい
    て、上記装置本体のヘッドプレートに固定された固定リ
    ングと、この固定リングの下面に取り付けられ且つ正逆
    回転してカードホルダー外周の複数箇所の係止用フラン
    ジをクランプしあるいはクランプを解除してプローブカ
    ードを上記固定リングに対して固定しまた上記固定リン
    グから解放するロックリングと、このロックリングを正
    逆回転させる駆動手段とを備え、上記ロックリングの内
    周面に上記カードホルダーの各係止用フランジがそれぞ
    れ通る切欠部を複数設けると共にこれらの切欠部にカム
    フォロワをそれぞれ設け、且つ、上記カードホルダーの
    各係止用フランジの下面には傾斜面からなるカムを設け
    たことを特徴とするプローブカードクランプ機構。
  2. 【請求項2】 上記固定リングに偏心プーリを複数箇所
    に設けると共に、上記ロックリングの内周面に上記偏心
    プーリが嵌まり込む溝を設け、上記偏心プーリの軸心の
    位置調整により上記ロックリングを上記固定リングに対
    して一体化することを特徴とする請求項1に記載のプロ
    ーブカードクランプ機構。
  3. 【請求項3】 上記係止用フランジのガイド孔を介して
    上記プローブカードを上記固定リングに対する取り付け
    位置へ案内するガイド機構を上記固定リングに設け、上
    記ガイド機構は、上記固定リングから垂下するガイドピ
    ンと、このガイドピンの下端に固定された逆円錐台状の
    ガイド部材とを有することを特徴とする請求項1または
    請求項2に記載のプローブカードクランプ機構。
  4. 【請求項4】 上記ガイド機構は、上記ガイド部材と上
    記固定リング間に弾装されたスプリングと、このスプリ
    ングを下端で受け且つ上記ガイド孔より大径に形成され
    たスプリング受けとを有することを特徴とする請求項3
    に記載のプローブカードクランプ機構。
  5. 【請求項5】 被検査体に接触する接触子を有するプロ
    ーブカードと、このプローブカードを固定するプローブ
    カードクランプ機構とを備えたプローブ装置において、
    上記プローブカードクランプ機構は、上記装置本体のヘ
    ッドプレートに固定された固定リングと、この固定リン
    グの下面に取り付けられ且つ正逆回転してカードホルダ
    ー外周の複数箇所の係止用フランジをクランプしあるい
    はクランプを解除してプローブカードを上記固定リング
    に対して固定しまた上記固定リングから解放するロック
    リングと、このロックリングを正逆回転させる駆動手段
    とを備え、上記ロックリングの内周面に上記カードホル
    ダーの各係止用フランジがそれぞれ通る切欠部を複数設
    けると共にこれらの切欠部にカムフォロワをそれぞれ設
    け、且つ、上記カードホルダーの各係止用フランジの下
    面には傾斜面からなるカムを設けたことを特徴とするプ
    ローブ装置。
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