JPH1031035A - プローブカード固定機構及びプローブ装置 - Google Patents

プローブカード固定機構及びプローブ装置

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JPH1031035A
JPH1031035A JP20288996A JP20288996A JPH1031035A JP H1031035 A JPH1031035 A JP H1031035A JP 20288996 A JP20288996 A JP 20288996A JP 20288996 A JP20288996 A JP 20288996A JP H1031035 A JPH1031035 A JP H1031035A
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JP
Japan
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ring
card
probe
probe card
fixing
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JP20288996A
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English (en)
Inventor
Takeshi Shimura
剛 志村
Hisashi Nakajima
久 中島
Kazuto Yokomori
和人 横森
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 検査中に空気圧の低下や空気供給の停止が起
っても、プローブカードを確実に固定し、またその脱落
を確実に防止できる固定機構とその機構を備えたプロー
ブ装置を提供する。 【解決手段】 プローブカード固定機構は、プローブ装
置本体のヘッドプレート1Aに固定リング51が固定さ
れ、該リング51の下面に固定されたシリンダリング5
2と昇降可能に嵌合すると共に、前記固定リング51と
の間で圧縮気体を導入できる気密室53を作り、該室の
圧力に応じてシリンダリング52に従ってピストンリン
グ55が昇降し、このピストンリングと回転自在に嵌合
しかつプローブカードを受けるカード受けリング56
を、ピストンリング55を介して常に上方へ持上げるよ
うにシリンダリング52にコイルスプリング58が装着
され、このコイルスプリングの持上げ力によりプローブ
カードは固定される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プローブカード固定機
構及びプローブ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のプローブ装置は、例えば図7に示
すように、装置本体1と、この装置本体1内にX、Y、
Z及びθ方向で移動可能に配設され、被検査体例えば半
導体ウエハWを載置する載置台2と、この載置台2上に
載置された半導体ウエハWに形成されたICチップの電
極パッドに対応するプローブ針3Aを有するプローブカ
ード3と、このプローブカード3をカードホルダ4を介
して固定するインサートリング5と、このインサートリ
ング5に固定されたプローブカード3と接続リング6を
介して電気的に接続するテストヘッド7とを備え、載置
台2により半導体ウエハWの電極パッドをプローブ針3
Aに対して位置決めした後、テストヘッド7、接続リン
グ6及びプローブカード3を介して図示しないテスタと
半導体ウエハWの各ICチップとの間でテスト信号を送
受信して電気的検査を行なうようにしてある。
【0003】ところで、上記インサートリング5はプロ
ーブカード3を自動的あるいは半自動的に交換するプロ
ーブカード固定機構(以下、単に「固定機構」と称
す。)として構成されている。従って、以下では必要に
応じてインサートリング5を固定機構5として説明す
る。この固定機構5は、図7の○で囲んだ部分を拡大し
た図8のような構造を有している。この固定機構5は、
図8に示すように、ヘッドプレート(図示せず)に固定
された固定リング51と、この固定リング51の下面に
嵌合したシリンダリング52と、このシリンダリング5
2の外周上面全周に渡って形成されたリング状溝に装着
されて気密室53を形成するOリング54と、このOリ
ング54を押さえるフランジ部55Aを有すると共にシ
リンダリング52の外周面に従って昇降するピストンリ
ング55と、このピストンリング55の外面で係合する
と共に周方向で回転自在になったカード受けリング56
とを備えて構成されている。
【0004】また、上記カード受けリング56の内周面
には周方向等間隔に複数の係合面56Aが内側に向けて
延設され、また、上記カードホルダ4の外周面には周方
向等間隔に複数の係合面4Aが外側に向けて延設されて
いる。そして、カード受けリング56の各係合面56A
の間をカードホルダ4の各係合面4Aが通り抜け、カー
ドホルダ4を周方向に回転することで各係合面56Aと
各係合面4Aが係合してカード受けリング56でカード
ホルダ4を受けるようにしてある。
【0005】また、上記固定リング51及びシリンダリ
ング52には外部から上記気密室53へ通じる通路57
がそれぞれ形成され、この通路57には例えば図示しな
い空気供給源が接続され、この空気供給源から通路57
を介して気密室53に圧縮空気を供給するようにしてあ
る。気密室53では圧縮空気の受給により上昇した空気
圧でOリング54がピストンリング55と共に上昇し、
これにより持ち上げられたカード受けリング56とシリ
ンダリング52とでカードホルダ4をクランプし、この
時の空気圧によりカードホルダ4を介してプローブカー
ド3を固定するようにしてある。また、プローブカード
3を自動的あるいは半自動的に交換する時には、気密室
53の圧縮空気を排気することによりピストンリング5
5と共にカード受けリング56を下降させ、カードホル
ダ4をシリンダリング52から離し、この状態でカード
受けリング56を回転させてカードホルダ4の係合突部
4Aとカード受けリング56の係合面56Aとの係合状
態を解除することで、プローブカード3を取り外すよう
にしてある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
プローブ装置の固定機構(インサートリング)5の場合
には、上述のようにシリンダリング52の気密室53内
の空気圧を利用してシリンダリング52とカード受けリ
ング56とでプローブカード3を固定するようにしてあ
るため、万一、何等かの原因で気密室53に対する空気
の供給が停止したり、あるいは空気圧が極端に低下した
りした場合には、ピストンリング55が徐々に下降し、
カードホルダ4、即ちプローブカード3を固定すること
ができず、最終的に図8の二点鎖線で示す位置まで落下
して半導体ウエハWに接触し、プローブカード3が損傷
するという課題があった。
【0007】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、検査中に空気圧が低下したり、空気供給が
停止したりすることがあっても、プローブカードを確実
に固定し、プローブカードの脱落を確実に防止すること
ができるプローブカード固定機構及びこのプローブカー
ド固定機構を備えたプローブ装置を提供することを目的
としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
のプローブカード固定機構は、被検査体の電気的特性を
行うプローブ装置の装置本体にプローブカードを固定す
る機構において、上記装置本体のヘッドプレートに固定
された固定リングと、この固定リングの下面に固定され
たシリンダリングと、このシリンダリングと昇降可能に
嵌合すると共に上記固定リングとの間で圧縮気体を導入
できる気密室を作り気密室の圧力に応じてシリンダリン
グに従って昇降するピストンリングと、このピストンリ
ングと回転自在に嵌合し且つ上記プローブカードを受け
るカード受けリングと、このカード受けリングを上記ピ
ストンリングを介して常時上方へ付勢するように上記シ
リンダリングに装着された弾性部材とを備え、上記弾性
部材の付勢力によりカード受けリングと上記シリンダリ
ングとで上記プローブカードを固定することを特徴とす
るものである。
【0009】また、本発明の請求項2に記載のプローブ
カード固定機構は、請求項1に記載の発明において、上
記弾性部材は、コイルスプリングにより形成され、上記
シリンダリングの周壁に周方向等間隔に形成された複数
の孔にそれぞれ装着されたことを特徴とするものであ
る。
【0010】また、本発明の請求項3に記載のプローブ
装置は、被検査体に接触する接触子を有するプローブカ
ードと、このプローブカードを固定するプローブカード
固定機構とを備えプローブ装置において、上記プローブ
カード固定機構は、上記装置本体のヘッドプレートに固
定された固定リングと、この固定リングの下面に固定さ
れたシリンダリングと、このシリンダリングと昇降可能
に嵌合すると共に上記固定リングとの間で圧縮気体を導
入できる気密室を作り気密室の圧力に応じてシリンダリ
ングに従って昇降するピストンリングと、このピストン
リングと回転自在に嵌合し且つ上記プローブカードを受
けるカード受けリングと、このカード受けリングを上記
ピストンリングを介して常時上方へ付勢するように上記
シリンダリングに装着された弾性部材とを備え、上記弾
性部材の付勢力によりカード受けリングと上記シリンダ
リングとで上記プローブカードを固定することを特徴と
するものである。
【0011】
【発明の実施の形態例】以下、図1〜図6に示す実施形
態に基づいて従来と同一または相当部分には同一符号を
附して本発明を説明する。本実施形態のプローブ装置
は、図1に示すように、装置本体1と、この装置本体1
のヘッドプレート1Aの中央孔にプローブカード3の固
定機構として装着されたインサートリング5と、このイ
ンサートリング5と外部との間でプローブカード3を搬
送するカード搬送機構8を備え、インサートリング5と
カード搬送機構8を介してプローブカード3を半自動的
に交換できるように構成されている。上記カード搬送機
構8は、装置本体1の正面で折り畳み自在に構成されて
いる。このカード搬送機構8は、例えばプローブカード
3を真空吸着するトレイ81と、このトレイ81を起倒
自在に支持するアーム82と、このアーム82を装置本
体1の正面とインサートリング5の真下との間で往復回
転させると共にアーム82をインサートリング5の真下
で昇降させる駆動機構(図示せず)とを備え、トレイ8
1を介してプローブカード3を搬送するようにしてあ
る。尚、図1において、9は装置本体1の正面でトレイ
81を被うカバーで、このカバー9は昇降可能に構成さ
れている。
【0012】ところで、上記インサートリング(固定機
構)5は、図2の(a)、(b)に示すように、装置本
体1のヘッドプレート1Aに固定された固定リング51
と、この固定リング51の下面に軸芯を一致させて接合
したシリンダリング52と、このシリンダリング52に
外側から昇降可能に嵌合すると共に固定リング51との
間で気密室53を作るOリング54を支持するピストン
リング55と、このピストンリング55と回転自在に嵌
合し且つプローブカード3のホルダ4を受けるカード受
けリング56と、このカード受けリング56をシリンダ
リング52に向けて持ち上げるようにピストンリング5
5を常時上方へ付勢する弾性部材例えばコイルスプリン
グ58とを備えている。
【0013】また、図3〜図5で拡大して示すように、
上記固定リング51の下面にはリング状突起が形成さ
れ、このリング状突起に全周に渡って溝が形成されてい
る。この溝にはOリング54が装着され、このOリング
54によって溝内にリング状の気密室53を作るように
してある。また、上記ピストンリング55の上面にはリ
ング状の溝が形成され、このリング状溝に固定リング5
1のリング状突起が嵌入し、この溝の底面でOリング5
4を支持している。また、図4に示すように、固定リン
グ51には外部から気密室53に通じる通路57が形成
され、この通路57には圧縮空気源10及び排気装置1
1が切替可能に接続されている。そして、プローブカー
ド3を取り外す時には圧縮空気源10から通路57を介
して気密室53内に圧縮空気が供給しコイルスプリング
58の付勢力に抗してピストンリング55を押し下げ、
また、プローブカード3を固定する時には排気装置11
を用いて気密室53内の加圧空気を排気して減圧しコイ
ルスプリング58の付勢力でピストンリング55を持ち
上げるようにしてある。
【0014】また、図3〜図5に示すように、上記ピス
トンリング55の下面外周縁部には下方に突出する周壁
55Aが形成され、この周壁55Aの内面下端には周方
向等間隔に複数の係合面55Bが内側に向けて延設さ
れ、また、上記カード受けリング56の外周面上端には
周方向等間隔に複数の係合面56Bが外側に向けて延設
されている。そして、カード受けリング56をピストン
リング55に取り付ける時には、カード受けリング56
の係合面56Bをピストンリング55の各係合面55B
間の隙間に合わせ、カード受けリング56を押し上げ、
周方向でカード受けリング56を回転させることで係合
面55Bに係合面56Bを係合させて両者55、56を
一体化するようにしてある。また、カード受けリング5
6の内周面下端には周方向等間隔に複数の係合面56A
が内側に向けて延設され、各係合面56Aがカード搬送
機構8のトレイ81上のカードホルダ4の係合面4Aと
係合し、プローブカード3をカード受けリング56で受
けて支持するようにしてある。
【0015】また、上記シリンダリング52はシリンダ
部52Bでピストンリング55を昇降案内するようにし
てあるが、このシリンダ部52Bの外周面下端には図3
に示すようにフランジ部52Cが外側に向けて延設され
ている。また、ピストンリング55の内周面上端にはフ
ランジ部55Cが内側に向けて延設され、このフランジ
部55Cとシリンダリング52のフランジ部52C間に
隙間δ(図5参照)が形成され、この隙間δの範囲でピ
ストンリング55が昇降するようにしてある。
【0016】更に、図3に示すようにシリンダリング5
2のフランジ部52Cには周方向で互いに所定間隔を空
けた凹陥部52Dが形成され、各凹陥部52Dにはコイ
ルスプリング58が装着されている。また、ピストンリ
ング55のフランジ部55Cには各コイルスプリング5
8にそれぞれ対応する円柱状のスプリングガイド58A
が下方に突出させて取り付けられ、各スプリングガイド
58Aが凹陥部52D内に装着されたコイルスプリング
58に嵌入し、各コイルスプリング58によってピスト
ンリング55を常時に上方へ付勢し、カード受けリング
56とシリンダリング52とでプローブカード3をクラ
ンプするようにしてある。即ち、コイルスプリング58
はピストンリング55のフランジ部55Cがシリンダリ
ング52のフランジ部52Cから最も離間した位置でも
蓄勢された状態になっている。
【0017】また、シリンダリング52は、図4に示す
ように、例えばボルト等のネジ部材59によりフランジ
部52Cの複数箇所で固定リング51に接合、固定さ
れ、しかもネジ部材59にはガイド部材60が装着され
ている。そして、ピストンリング55のフランジ部55
Cにはガイド部材60に対応する貫通孔が形成されてい
る。更に、図2の(b)に戻って説明すると、シリンダ
リング52のフランジ部52C、ピストンリング55の
フランジ部55Cには固定リング51の下面から垂下す
るガイドピン61が貫通し、これらのガイドピン61に
よってプローブカード3の位置決めを行うようにしてあ
る。尚、コイルスプリング58、ネジ部材59及びガイ
ドピン61の配置を示したものが図6である。図6では
コイルスプリング58を大きな○印、ネジ部材59を◎
印、ガイドピン61を小さな○印で示したある。また、
上記ヘッドプレート1Aの下側には、図5に示すよう
に、例えはフォトセンサ62が配設され、このフォトセ
ンサ62によりピストンリング55に固定されたシャッ
ター63を検出し、ピストンリング55の昇降動作を検
出するようにしてある。
【0018】尚、本実施形態のプローブ装置は、図1に
示すように、ディスプレイ12を装備しており、このデ
ィスプレイ12に種々の操作内容を表示するようにして
ある。従って、オペレータはディスプレイ12の表示内
容を見ながらマウス(図示せず)によりマウスポインタ
を移動させて例えば固定機構56及びカード搬送機構8
の操作を行なうようにしてある。また、このディスプレ
イ12は同図に示すように画面の傾斜角を種々の角度に
変更できると共に水平方向に回転できるようにしてあ
り、オペレータの操作位置に応じて画面を見易い角度に
することができるようにしてある。
【0019】次に動作について説明する。プローブカー
ド3を新しいものと交換する時にはカード搬送機構8の
トレイ81を図1に示すように水平に倒した後、カード
搬送機構8が駆動すると、アーム82が反時計方向へ9
0°回転して停止すると、トレイ81がインサートリン
グ(固定機構)5の真下に位置する。この時、空気供給
源10から圧縮空気を気密室53へ供給すると、その圧
力でOリング54及びこれを受けているピストンリング
55がコイルスプリング58の付勢力に抗して下降し、
これによりカード受けリング56が下降してカード受け
リング55とシリンダリング52とによるプローブカー
ド3のクランプを解除する。その後、カード受けリング
56が下降端に達すると、プローブカード3はトレイ8
1上で位置決めピン(図示せず)の作用で位置決めされ
た状態でトレイ81上に載置され、更に、例えば真空吸
着によりトレイ81上で固定される。
【0020】次いで、固定機構5のエアシリンダ等から
なる駆動機構が駆動し、カード受けリング56が所定角
度だけ回転すると、カード受けリング56の係合面56
Aがカードホルダ4の係合面4Aから外れ、プローブカ
ード3をカード受けリング56から解放する。その後、
カード搬送機構8のトレイ81が僅かな距離だけ下降す
ると、プローブカード3はカード受けリング56から離
れる。この時、カード搬送機構8が駆動して逆方向に回
転してインサートリング5から装置本体1外へプローブ
カード3を搬送する。その後、オペレータがトレイ81
上のプローブカード3を次に使用すべきプローブカード
3と交換する。
【0021】プローブカード3を新しいものと交換した
後、再度カード搬送機構8が駆動してトレイ81が回転
し、上述したように新たなプローブカード3をインサー
トリング5の真下まで搬送する。この時、固定機構5の
カード受けリング56はプローブカード3を受け入れる
状態になっている。そこで、トレイ21が上昇し、プロ
ーブカード3がカード受けリング56内へ嵌り込み、更
に、エアシリンダ等の駆動機構が駆動するとカード受け
リング56が逆方向へ回転し、その係合面56Aがカー
ドホルダ4の係合面4Aと重なる。次いで、排気装置1
1が駆動して気密室53内の空気を排気すると、ピスト
ンリング55がコイルスプリング58の付勢力を得てカ
ード受けリング56と共に上昇し、カード受けリング5
6とシリンダリング52とでプローブカード3をクラン
プし、インサートリング5にプローブカード3を固定す
る。
【0022】以上説明したように本実施形態によれば、
プローブカード3をインサートリング5へ固定する時に
は、気密室53内の空気圧を利用せず、コイルスプリン
グ58の付勢力を利用してピストンリング55をカード
受けリング56と共に持ち上げてプローブカード3をシ
リンダリング52とで固定するようにしたため、検査中
に空気供給源10から供給される空気圧が低下したり、
圧縮空気の供給が停止したりすることがあっても、空気
圧の変動に左右されることなくコイルスプリング58に
よりプローブカード3を確実に固定し、プローブカード
3のインサートリング5からの脱落を確実に防止するこ
とができる。
【0023】尚、本発明は上記実施形態に何等制限され
るものではなく、本発明に用いられる弾性部材はピスト
ンリングに付勢力を付与できるものであれば、コイルス
プリング以外のものであっても良い。
【0024】
【発明の効果】本発明の請求項1〜請求項3に記載の発
明によれば、検査中に空気圧が低下したり、空気供給が
停止したりすることがあっても、プローブカードを確実
に固定し、プローブカードの脱落を確実に防止すること
ができるプローブカード固定機構及びプローブ装置を提
供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のプローブ装置の一実施形態を示す斜視
図である。
【図2】図1に示すプローブ装置に適用されたプローブ
カード固定機構を示す断面図で、(a)は右半分がカー
ドホルダをクランプした状態を示す図、左半分がピスト
ンリングを下げた状態を示す図である。
【図3】図2に示すプローブカード固定機構のコイルス
プリングが装着された部分を拡大して示す断面図であ
る。
【図4】図2に示すプローブカード固定機構の空気通路
が形成された部分を拡大して示す断面図である。
【図5】図2に示すプローブカード固定機構のピストン
リングの昇降範囲が判る部分を拡大して示す断面図であ
る。
【図6】図2に示すプローブカード固定機構のコイルス
プリング等の配置状態を示す説明図である。
【図7】従来のプローブ装置の要部を示す構成図であ
る。
【図8】図7に示すプローブ装置の要部を拡大して示す
図4相当図である。
【符号の説明】
3 プローブカード 3A プローブ針 4 カードホルダ 5 インサートリング(固定機構) 51 固定リング 52 シリンダリング 53 気密室 55 ピストンリング 56 カード受けリング 58 コイルスプリング(弾性部材)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査体の電気的特性を行うプローブ装
    置の装置本体にプローブカードを固定する機構におい
    て、上記装置本体のヘッドプレートに固定された固定リ
    ングと、この固定リングの下面に固定されたシリンダリ
    ングと、このシリンダリングと昇降可能に嵌合すると共
    に上記固定リングとの間で圧縮気体を導入できる気密室
    を作り気密室の圧力に応じてシリンダリングに従って昇
    降するピストンリングと、このピストンリングと回転自
    在に嵌合し且つ上記プローブカードを受けるカード受け
    リングと、このカード受けリングを上記ピストンリング
    を介して常時上方へ付勢するように上記シリンダリング
    に装着された弾性部材とを備え、上記弾性部材の付勢力
    によりカード受けリングと上記シリンダリングとで上記
    プローブカードを固定することを特徴とするプローブカ
    ード固定機構。
  2. 【請求項2】 上記弾性部材は、コイルスプリングによ
    り形成され、上記シリンダリングの周壁に周方向等間隔
    に形成された複数の孔にそれぞれ装着されたことを特徴
    とする請求項1に記載のプローブカード固定機構。
  3. 【請求項3】 被検査体に接触する接触子を有するプロ
    ーブカードと、このプローブカードを固定するプローブ
    カード固定機構とを備えプローブ装置において、上記プ
    ローブカード固定機構は、上記装置本体のヘッドプレー
    トに固定された固定リングと、この固定リングの下面に
    固定されたシリンダリングと、このシリンダリングと昇
    降可能に嵌合すると共に上記固定リングとの間で圧縮気
    体を導入できる気密室を作り気密室の圧力に応じてシリ
    ンダリングに従って昇降するピストンリングと、このピ
    ストンリングと回転自在に嵌合し且つ上記プローブカー
    ドを受けるカード受けリングと、このカード受けリング
    を上記ピストンリングを介して常時上方へ付勢するよう
    に上記シリンダリングに装着された弾性部材とを備え、
    上記弾性部材の付勢力によりカード受けリングと上記シ
    リンダリングとで上記プローブカードを固定することを
    特徴とするプローブ装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6794888B2 (en) 2001-12-13 2004-09-21 Tokyo Electron Limited Probe device
JP2004327714A (ja) * 2003-04-24 2004-11-18 Nec Machinery Corp ウェーハシートのエキスパンド装置
KR100781410B1 (ko) 2005-09-16 2007-12-03 동경 엘렉트론 주식회사 프로브 카드의 클램프기구 및 프로브 장치
KR102648394B1 (ko) * 2023-11-15 2024-03-18 주식회사 유니테스트 웨이퍼 검사용 프로브 카드 홀더

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6794888B2 (en) 2001-12-13 2004-09-21 Tokyo Electron Limited Probe device
JP2004327714A (ja) * 2003-04-24 2004-11-18 Nec Machinery Corp ウェーハシートのエキスパンド装置
JP4515041B2 (ja) * 2003-04-24 2010-07-28 キヤノンマシナリー株式会社 ウェーハシートのエキスパンド装置
KR100781410B1 (ko) 2005-09-16 2007-12-03 동경 엘렉트론 주식회사 프로브 카드의 클램프기구 및 프로브 장치
KR102648394B1 (ko) * 2023-11-15 2024-03-18 주식회사 유니테스트 웨이퍼 검사용 프로브 카드 홀더

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