JPH10178390A - ビット誤り測定装置 - Google Patents
ビット誤り測定装置Info
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- JPH10178390A JPH10178390A JP8336655A JP33665596A JPH10178390A JP H10178390 A JPH10178390 A JP H10178390A JP 8336655 A JP8336655 A JP 8336655A JP 33665596 A JP33665596 A JP 33665596A JP H10178390 A JPH10178390 A JP H10178390A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被測定装置は、複数の光加入者側装置が、そ
れぞれ光バースト信号を出力し、その信号は加入者側光
ファイバを経由して光スターカプラでパッシィブにアダ
ーされてセンタ側光ファイバで、センタ側装置に接続さ
れている。加入者側光ファイバは、それぞれ長さが異な
るので、パッシィブにアダーされた信号はビット不連続
な信号である。このような信号において、所望の光加入
者側装置とセンタ側装置との間（所望のチャンネル）の
ビット誤りを測定する。 【解決手段】 バースト試験信号を、被測定装置の各光
加入者装置７−１〜７−ｎに入力する。被測定装置の各
伝送路を経由して出力されるビット不連続なバースト試
験信号をＦＩＦＯメモリ１７に入力して、所定のクロッ
ク信号で読み出すことによってビット連続な信号に変換
する。所望のチャンネルを指定して、被測定装置におけ
るビット誤りを容易に測定することができる。
れぞれ光バースト信号を出力し、その信号は加入者側光
ファイバを経由して光スターカプラでパッシィブにアダ
ーされてセンタ側光ファイバで、センタ側装置に接続さ
れている。加入者側光ファイバは、それぞれ長さが異な
るので、パッシィブにアダーされた信号はビット不連続
な信号である。このような信号において、所望の光加入
者側装置とセンタ側装置との間（所望のチャンネル）の
ビット誤りを測定する。 【解決手段】 バースト試験信号を、被測定装置の各光
加入者装置７−１〜７−ｎに入力する。被測定装置の各
伝送路を経由して出力されるビット不連続なバースト試
験信号をＦＩＦＯメモリ１７に入力して、所定のクロッ
ク信号で読み出すことによってビット連続な信号に変換
する。所望のチャンネルを指定して、被測定装置におけ
るビット誤りを容易に測定することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、ビット誤り測定
装置に関するもので、特にＰＯＮ（Passive Optical Ne
twork ）システムに適用するビット誤り測定装置に関す
るものである。
装置に関するもので、特にＰＯＮ（Passive Optical Ne
twork ）システムに適用するビット誤り測定装置に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】従来のビット誤り測定装置について図４
を参照して説明する。
を参照して説明する。
【０００３】図４は、従来のビット誤り測定装置の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【０００４】ビット誤り測定装置１０１は、データ発生
器１０２，クロック源１０３，リファレンスデータ発生
器１１８，誤り検出器１０４および制御手段１０５で構
成される。
器１０２，クロック源１０３，リファレンスデータ発生
器１１８，誤り検出器１０４および制御手段１０５で構
成される。
【０００５】データ発生器１０２は、被測定システム６
に対してバースト試験信号を出力し、誤り検出器１０４
は、被測定システム６を経由した前記バースト試験信号
をリファレンスデータ発生器１１８から出力された前記
バースト試験信号と比較して、被測定システム６で生じ
たビット誤りを測定する。
に対してバースト試験信号を出力し、誤り検出器１０４
は、被測定システム６を経由した前記バースト試験信号
をリファレンスデータ発生器１１８から出力された前記
バースト試験信号と比較して、被測定システム６で生じ
たビット誤りを測定する。
【０００６】クロック源１０３は、データ発生器１０
２，リファレンスデータ発生器１１８および誤り検出器
１０４にクロック信号を出力し、制御手段１０５はＣＰ
Ｕ（中央処理装置）で構成されておりデータ発生器１０
２およびリファレンスデータ発生器１１８から各種の試
験信号を発生させるとともに、誤り検出器１０４の測定
を支援する。
２，リファレンスデータ発生器１１８および誤り検出器
１０４にクロック信号を出力し、制御手段１０５はＣＰ
Ｕ（中央処理装置）で構成されておりデータ発生器１０
２およびリファレンスデータ発生器１１８から各種の試
験信号を発生させるとともに、誤り検出器１０４の測定
を支援する。
【０００７】このビット誤り測定装置１０１の測定の対
象である被測定システム６について説明する。この被測
定システムは、ＰＯＮ（Passive Optical Network ）シ
ステムと言われる光通信システムである。
象である被測定システム６について説明する。この被測
定システムは、ＰＯＮ（Passive Optical Network ）シ
ステムと言われる光通信システムである。
【０００８】光加入者側装置７−１〜７−ｎは、加入者
側光ファイバ１３−１〜１３−ｎの一端に接続され、セ
ンタ側装置８から送られて来た光信号を受信して、これ
を電気信号に変換し、その情報を抽出して利用する。ま
た、発信したい情報が含まれた電気信号を光信号に変換
して加入者側光ファイバ１３を通して送信する。
側光ファイバ１３−１〜１３−ｎの一端に接続され、セ
ンタ側装置８から送られて来た光信号を受信して、これ
を電気信号に変換し、その情報を抽出して利用する。ま
た、発信したい情報が含まれた電気信号を光信号に変換
して加入者側光ファイバ１３を通して送信する。
【０００９】光スターカプラ１５は、複数のｎ個の光加
入者側装置７−１〜７−ｎにそれぞれ接続されているｎ
本の加入者側光ファイバ１３−１〜１３−ｎの他端から
の光信号をアダーして１本にしてこれらをセンタ側光フ
ァイバ１４に伝達する双方向性でパッシィブな光カプラ
である。これによってｎチャンネルの光伝送路が形成さ
れる。
入者側装置７−１〜７−ｎにそれぞれ接続されているｎ
本の加入者側光ファイバ１３−１〜１３−ｎの他端から
の光信号をアダーして１本にしてこれらをセンタ側光フ
ァイバ１４に伝達する双方向性でパッシィブな光カプラ
である。これによってｎチャンネルの光伝送路が形成さ
れる。
【００１０】センタ側装置８は、光電気変換器（Ｏ／
Ｅ）１０、リタイミング回路１１およびデジタルＰＬＬ
１２で構成される。光電気変換器１０は、センタ側光フ
ァイバ１４から入力される光加入者側装置７−１〜７−
ｎが送信する光信号を電気信号に変換する。デジタルＰ
ＬＬ１２はデジタル回路で構成された位相同期発振器で
あり、光電気変換器１０から出力される電気信号からク
ロック源１０３のクロック信号成分に同期したクロック
信号を再生して出力する。リタイミング回路１１は、光
電気変換器１０の出力波形をデジタルＰＬＬ１２の出力
する再生されたクロック信号でタイミングをとり、これ
に同期した波形に変換して出力する。
Ｅ）１０、リタイミング回路１１およびデジタルＰＬＬ
１２で構成される。光電気変換器１０は、センタ側光フ
ァイバ１４から入力される光加入者側装置７−１〜７−
ｎが送信する光信号を電気信号に変換する。デジタルＰ
ＬＬ１２はデジタル回路で構成された位相同期発振器で
あり、光電気変換器１０から出力される電気信号からク
ロック源１０３のクロック信号成分に同期したクロック
信号を再生して出力する。リタイミング回路１１は、光
電気変換器１０の出力波形をデジタルＰＬＬ１２の出力
する再生されたクロック信号でタイミングをとり、これ
に同期した波形に変換して出力する。
【００１１】次に、図５および図６を参照して被測定シ
ステム６の動作を説明する。
ステム６の動作を説明する。
【００１２】図５は、被測定システム６の動作原理を説
明するための図で、複数の光加入者側装置７−１〜７−
ｎとセンタ側装置８との間で行う被測定システム６の光
伝送方式が示されている。図６は被測定システムの光パ
ッシィブ多重の動作を説明するための図で、各光加入者
側装置７−１〜７−ｎが出力する上り信号が光スターカ
プラ１５で合成される様子が示されている。この光伝送
方式は、センタ側装置８から複数の各光加入者側装置７
−１〜７−ｎへ信号を伝送する下り信号と、複数の各光
加入者側装置７−１〜７−ｎからセンタ側装置８へ信号
を伝送する上り信号とを時間分割による多重化（ＴＣ
Ｍ：Time Compression Multiplexing ）により、１本の
光ファイバで双方向に伝送する一心双方向多重伝送方式
である。
明するための図で、複数の光加入者側装置７−１〜７−
ｎとセンタ側装置８との間で行う被測定システム６の光
伝送方式が示されている。図６は被測定システムの光パ
ッシィブ多重の動作を説明するための図で、各光加入者
側装置７−１〜７−ｎが出力する上り信号が光スターカ
プラ１５で合成される様子が示されている。この光伝送
方式は、センタ側装置８から複数の各光加入者側装置７
−１〜７−ｎへ信号を伝送する下り信号と、複数の各光
加入者側装置７−１〜７−ｎからセンタ側装置８へ信号
を伝送する上り信号とを時間分割による多重化（ＴＣ
Ｍ：Time Compression Multiplexing ）により、１本の
光ファイバで双方向に伝送する一心双方向多重伝送方式
である。
【００１３】下り信号のフレーム構成は次のとおりであ
る。図５に示すように、各光加入者側装置７−１〜７−
ｎへ伝送される情報（ＩＦ1 〜ＩＦn ）は加入者単位の
独立した信号で、時間領域で多重化するＴＤＭ（Time D
ivision Multiplexing）方式により各光加入者側装置７
−１〜７−ｎ毎に順次連続した信号として送られてく
る。この下り信号は、それぞれの信号（ＩＦ1 ，ＩＦ
2 ，・・・，ＩＦn ）を識別するために、先頭にオーバ
ヘッド（ＯＨ）と呼ばれるフレームを備えている。
る。図５に示すように、各光加入者側装置７−１〜７−
ｎへ伝送される情報（ＩＦ1 〜ＩＦn ）は加入者単位の
独立した信号で、時間領域で多重化するＴＤＭ（Time D
ivision Multiplexing）方式により各光加入者側装置７
−１〜７−ｎ毎に順次連続した信号として送られてく
る。この下り信号は、それぞれの信号（ＩＦ1 ，ＩＦ
2 ，・・・，ＩＦn ）を識別するために、先頭にオーバ
ヘッド（ＯＨ）と呼ばれるフレームを備えている。
【００１４】この下り信号は、光スターカプラ１５で接
続されている全ての光加入者側装置７−１〜７−ｎに送
られる。オーバヘッド（ＯＨ）には、各光加入者側装置
７−１〜７−ｎへ伝送する情報を含む信号（ＩＦ1 〜Ｉ
Ｆn ）がどの位置に納められているかを示す符号が付さ
れていて、それぞれの光加入者側装置７−１〜７−ｎ
は、このオーバヘッド（ＯＨ）から自分宛の信号の位置
を読み取り、その位置に送られてきた情報を取り込む。
続されている全ての光加入者側装置７−１〜７−ｎに送
られる。オーバヘッド（ＯＨ）には、各光加入者側装置
７−１〜７−ｎへ伝送する情報を含む信号（ＩＦ1 〜Ｉ
Ｆn ）がどの位置に納められているかを示す符号が付さ
れていて、それぞれの光加入者側装置７−１〜７−ｎ
は、このオーバヘッド（ＯＨ）から自分宛の信号の位置
を読み取り、その位置に送られてきた情報を取り込む。
【００１５】オーバヘッド（ＯＨ）には、さらに、各光
加入者側装置７−１〜７−ｎが信号を送出するときの送
出タイミングをそれぞれの光加入者側装置７−１〜７−
ｎに伝達する情報（送出タイミング指定）が含まれてい
る。
加入者側装置７−１〜７−ｎが信号を送出するときの送
出タイミングをそれぞれの光加入者側装置７−１〜７−
ｎに伝達する情報（送出タイミング指定）が含まれてい
る。
【００１６】次に、上り信号について説明する。図５お
よび図６に示すように光スターカプラ１５を用いたパッ
シィブ多重方式で、各光加入者側装置７−１〜７−ｎか
らの光信号の送出タイミングを指定して、時間領域で多
重化するＴＤＭＡ（Time Division Multiple Access ）
が用いられる。
よび図６に示すように光スターカプラ１５を用いたパッ
シィブ多重方式で、各光加入者側装置７−１〜７−ｎか
らの光信号の送出タイミングを指定して、時間領域で多
重化するＴＤＭＡ（Time Division Multiple Access ）
が用いられる。
【００１７】各光加入者側装置７−１〜７−ｎは、送出
する情報を時間領域で圧縮してバースト光信号とし、オ
ーバヘッド（ＯＨ）で指定された送出タイミングで、こ
れを送出する。それぞれの光加入者側装置７−１〜７−
ｎから送出されたそれぞれの情報を含む信号（ＩＦ1 〜
ＩＦn ）は光スターカプラ１５によりアダーされてセン
タ側光ファイバ１４を経てセンタ側装置８に送られる。
する情報を時間領域で圧縮してバースト光信号とし、オ
ーバヘッド（ＯＨ）で指定された送出タイミングで、こ
れを送出する。それぞれの光加入者側装置７−１〜７−
ｎから送出されたそれぞれの情報を含む信号（ＩＦ1 〜
ＩＦn ）は光スターカプラ１５によりアダーされてセン
タ側光ファイバ１４を経てセンタ側装置８に送られる。
【００１８】この場合、それぞれの光加入者側装置７−
１〜７−ｎからの光バースト信号（ＩＦ1 〜ＩＦn ）
は、アダーされたときに重ならないように、送出タイミ
ングが指定されている。
１〜７−ｎからの光バースト信号（ＩＦ1 〜ＩＦn ）
は、アダーされたときに重ならないように、送出タイミ
ングが指定されている。
【００１９】また、それぞれの光加入者側装置７−１〜
７−ｎが送出する上り信号は、光レベル，位相ともまち
まちなので、これらの再生に必要な基準クロック情報を
プリアンブルとして各バースト信号（ＩＦ1 ，ＩＦ2 ，
・・・，ＩＦn ）の先頭に入れてある。
７−ｎが送出する上り信号は、光レベル，位相ともまち
まちなので、これらの再生に必要な基準クロック情報を
プリアンブルとして各バースト信号（ＩＦ1 ，ＩＦ2 ，
・・・，ＩＦn ）の先頭に入れてある。
【００２０】このようなＰＯＮシステムにおけるビット
誤りは、次のようにして測定する。データ発生器１０２
は、誤り検出器１０４と共通なクロック源１０３からの
クロック信号を受けて各光加入者側装置７−１〜７−ｎ
にビット誤りを試験するためのバースト試験信号（ＩＦ
1 〜ＩＦn ）を送出する。各光加入者側装置７−１〜７
−ｎから送出されたバースト試験信号は、光スターカプ
ラ１５によりアダーされ図６の上り信号に示すごとくシ
リアルデータとしてセンタ側装置８に送られてくる。こ
のシリアルデータは、チャンネル毎に各光加入者側装置
７−１〜７−ｎから光スターカプラ１５までの加入者側
光ファイバ１３−１〜１３−ｎの物理長ｌ1 〜ｌn が同
一でないため遅延時間がそれぞれ異なりビット不連続な
信号となる。そのため各光加入者側装置７−１〜７−ｎ
のそれぞれのビット誤りを測定するには各光加入者側装
置毎（１チャンネル毎）に行う必要があった。すなわち
第１の光加入者側装置７−１を測定する場合には、バー
ストゲート信号の位相を光加入者側装置７−１からの信
号に対して最適な位相に調整するため、他の光加入者側
装置７−２〜７−ｎの系の信号に対してはバーストゲー
ト信号の位相が最適とならず、信号の取り出しができ
ず、結果的に測定ができないという欠点があった。
誤りは、次のようにして測定する。データ発生器１０２
は、誤り検出器１０４と共通なクロック源１０３からの
クロック信号を受けて各光加入者側装置７−１〜７−ｎ
にビット誤りを試験するためのバースト試験信号（ＩＦ
1 〜ＩＦn ）を送出する。各光加入者側装置７−１〜７
−ｎから送出されたバースト試験信号は、光スターカプ
ラ１５によりアダーされ図６の上り信号に示すごとくシ
リアルデータとしてセンタ側装置８に送られてくる。こ
のシリアルデータは、チャンネル毎に各光加入者側装置
７−１〜７−ｎから光スターカプラ１５までの加入者側
光ファイバ１３−１〜１３−ｎの物理長ｌ1 〜ｌn が同
一でないため遅延時間がそれぞれ異なりビット不連続な
信号となる。そのため各光加入者側装置７−１〜７−ｎ
のそれぞれのビット誤りを測定するには各光加入者側装
置毎（１チャンネル毎）に行う必要があった。すなわち
第１の光加入者側装置７−１を測定する場合には、バー
ストゲート信号の位相を光加入者側装置７−１からの信
号に対して最適な位相に調整するため、他の光加入者側
装置７−２〜７−ｎの系の信号に対してはバーストゲー
ト信号の位相が最適とならず、信号の取り出しができ
ず、結果的に測定ができないという欠点があった。
【００２１】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、バーストゲ
ート信号の位相を各チャンネル毎に調整することなくビ
ット誤りの測定を行うことを可能にし、線路長が不揃い
のために生じたビット不連続なバースト試験信号を、所
望の光加入者側装置７−１〜７−ｎ単位で抽出し、ビッ
ト誤りを測定するものである。
ート信号の位相を各チャンネル毎に調整することなくビ
ット誤りの測定を行うことを可能にし、線路長が不揃い
のために生じたビット不連続なバースト試験信号を、所
望の光加入者側装置７−１〜７−ｎ単位で抽出し、ビッ
ト誤りを測定するものである。
【００２２】
【課題を解決するための手段】本発明に係るビット誤り
測定装置は、それぞれ所定のタイミングで光バースト信
号を出力する複数の光加入者側装置７−１〜７−ｎと、
一端が前記複数の光加入者側装置に接続された複数の加
入者側光ファイバ１３−１〜１３−ｎ、前記複数の加入
者側光ファイバの他端にパッシィブ接続され前記複数の
光加入者側装置が出力した光バースト信号をアダーして
出力する光スターカプラ１５および一端が前記光スター
カプラに接続されたセンタ側光ファイバ１４でなる複数
チャンネルの光伝送路１３−１〜１３−ｎ，１５，１４
と、前記センタ側光ファイバの他端が接続され前記加入
者側光ファイバから入力されアダーされた光バースト信
号を電気バースト信号に変換して出力する光電気変換器
１０、前記光電気変換器が出力する変換された電気バー
スト信号を受けて前記電気バースト信号に含まれるクロ
ック信号に同期したクロック信号を再生して出力するデ
ジタルＰＬＬ１２および前記光電気変換器の出力する変
換された電気バースト信号と前記デジタルＰＬＬの出力
する再生されたクロック信号とを受けて前記変換された
電気バースト信号を前記再生されたクロック信号でリタ
イミングして出力するリタイミング回路１１でなるセン
タ側装置８とを含む被測定システム６のビット誤りを測
定するビット誤り測定装置であって、クロック信号を発
生するクロック源３と、前記クロック信号を受けて前記
被測定システムのビット誤りを測定するために各チャン
ネル毎に前記所定のタイミングでバースト試験信号（Ｉ
Ｆ1 〜ＩＦn ）を発生し前記複数の光加入者側装置にそ
れぞれ出力するとともにバーストゲート信号をそれぞれ
前記所定のタイミングで発生するデータ発生器２と、前
記リタイミング回路が出力するリタイミングされたバー
スト試験信号（ＩＦ1 ′〜ＩＦn ′）を前記デジタルＰ
ＬＬ回路が出力する再生されたクロック信号によって書
き込みかつ前記クロック源が出力するクロック信号によ
って読み出すＦＩＦＯメモリ１７と、前記データ発生器
が出力するバースト試験信号と同一内容のリファレンス
バースト信号を出力するリファレンスデータ発生器１８
と、前記データ発生器が出力したバーストゲート信号に
よって指定された光伝送路を通過して前記ＦＩＦＯメモ
リから読み出されたバースト試験信号を前記リファレン
スデータ発生器が出力したバースト試験信号と比較して
ビット誤りを検出するとともにビット誤りが所定の値よ
り多いときは前記リファレンスデータ発生器を再起動さ
せる誤り検出器４とを備え、もって、バースト試験信号
によって所望の光加入者側装置を指定して被測定システ
ムのビット誤りを測定することを特徴とするものであ
る。
測定装置は、それぞれ所定のタイミングで光バースト信
号を出力する複数の光加入者側装置７−１〜７−ｎと、
一端が前記複数の光加入者側装置に接続された複数の加
入者側光ファイバ１３−１〜１３−ｎ、前記複数の加入
者側光ファイバの他端にパッシィブ接続され前記複数の
光加入者側装置が出力した光バースト信号をアダーして
出力する光スターカプラ１５および一端が前記光スター
カプラに接続されたセンタ側光ファイバ１４でなる複数
チャンネルの光伝送路１３−１〜１３−ｎ，１５，１４
と、前記センタ側光ファイバの他端が接続され前記加入
者側光ファイバから入力されアダーされた光バースト信
号を電気バースト信号に変換して出力する光電気変換器
１０、前記光電気変換器が出力する変換された電気バー
スト信号を受けて前記電気バースト信号に含まれるクロ
ック信号に同期したクロック信号を再生して出力するデ
ジタルＰＬＬ１２および前記光電気変換器の出力する変
換された電気バースト信号と前記デジタルＰＬＬの出力
する再生されたクロック信号とを受けて前記変換された
電気バースト信号を前記再生されたクロック信号でリタ
イミングして出力するリタイミング回路１１でなるセン
タ側装置８とを含む被測定システム６のビット誤りを測
定するビット誤り測定装置であって、クロック信号を発
生するクロック源３と、前記クロック信号を受けて前記
被測定システムのビット誤りを測定するために各チャン
ネル毎に前記所定のタイミングでバースト試験信号（Ｉ
Ｆ1 〜ＩＦn ）を発生し前記複数の光加入者側装置にそ
れぞれ出力するとともにバーストゲート信号をそれぞれ
前記所定のタイミングで発生するデータ発生器２と、前
記リタイミング回路が出力するリタイミングされたバー
スト試験信号（ＩＦ1 ′〜ＩＦn ′）を前記デジタルＰ
ＬＬ回路が出力する再生されたクロック信号によって書
き込みかつ前記クロック源が出力するクロック信号によ
って読み出すＦＩＦＯメモリ１７と、前記データ発生器
が出力するバースト試験信号と同一内容のリファレンス
バースト信号を出力するリファレンスデータ発生器１８
と、前記データ発生器が出力したバーストゲート信号に
よって指定された光伝送路を通過して前記ＦＩＦＯメモ
リから読み出されたバースト試験信号を前記リファレン
スデータ発生器が出力したバースト試験信号と比較して
ビット誤りを検出するとともにビット誤りが所定の値よ
り多いときは前記リファレンスデータ発生器を再起動さ
せる誤り検出器４とを備え、もって、バースト試験信号
によって所望の光加入者側装置を指定して被測定システ
ムのビット誤りを測定することを特徴とするものであ
る。
【００２３】また、本発明に係るビット誤り測定装置
は、前記データ発生器２が、各バースト試験信号に対応
してバーストゲート信号を並列に出力し、前記誤り検出
器４が前記並列に出力されたバーストゲート信号毎に誤
り検出を並列に行うことを特徴とするものである。
は、前記データ発生器２が、各バースト試験信号に対応
してバーストゲート信号を並列に出力し、前記誤り検出
器４が前記並列に出力されたバーストゲート信号毎に誤
り検出を並列に行うことを特徴とするものである。
【００２４】
【発明の実施の形態】被測定システムにおいて、各光加
入者側装置から発信された光バースト信号は、各伝送路
を経由して、センタ側装置に伝送されるが、各伝送路の
物理長が異なるため遅延される時間が異なりビット不連
続な信号となる。
入者側装置から発信された光バースト信号は、各伝送路
を経由して、センタ側装置に伝送されるが、各伝送路の
物理長が異なるため遅延される時間が異なりビット不連
続な信号となる。
【００２５】本発明は、この各光加入者側装置にデータ
発生器が出力するバースト試験信号を入力し、各光伝送
路を通過してセンタ側で受信したビット不連続となった
バースト試験信号をＦＩＦＯメモリに順次書き込み、こ
れをデータ発生器が出力するクロック信号で読み出して
ビット連続のバースト試験信号に変換して、所望の光加
入者側装置から各チャンネルの伝送路を経由してセンタ
側装置が出力するバースト試験信号（以下「所望のチャ
ンネルのデータ」という）を抜きとり、各光伝送路のビ
ット誤りを測定する。
発生器が出力するバースト試験信号を入力し、各光伝送
路を通過してセンタ側で受信したビット不連続となった
バースト試験信号をＦＩＦＯメモリに順次書き込み、こ
れをデータ発生器が出力するクロック信号で読み出して
ビット連続のバースト試験信号に変換して、所望の光加
入者側装置から各チャンネルの伝送路を経由してセンタ
側装置が出力するバースト試験信号（以下「所望のチャ
ンネルのデータ」という）を抜きとり、各光伝送路のビ
ット誤りを測定する。
【００２６】
【実施例】本発明の一実施例を図１ないし図３を用いて
説明する。
説明する。
【００２７】図１は本発明のビット誤り測定装置の一実
施例の構成を示すブロック図、図２は誤り試験器の構成
を示すブロック図、図３は本発明のバースト試験信号そ
の他のタイミングを示す図である。
施例の構成を示すブロック図、図２は誤り試験器の構成
を示すブロック図、図３は本発明のバースト試験信号そ
の他のタイミングを示す図である。
【００２８】図１において被測定システム６は図４の従
来例と全く同じものなので、説明を省略する。
来例と全く同じものなので、説明を省略する。
【００２９】また、ビット誤り測定装置１については、
データ発生器２はデータ発生器１０２に一部の機能が追
加され、また、ＦＩＦＯメモリ１７が追加されたので、
この構成を説明するが、これ以外は、図４の従来例と同
じなので、説明を省略する。
データ発生器２はデータ発生器１０２に一部の機能が追
加され、また、ＦＩＦＯメモリ１７が追加されたので、
この構成を説明するが、これ以外は、図４の従来例と同
じなので、説明を省略する。
【００３０】データ発生器２は、バースト試験信号（Ｉ
Ｆ1 ，ＩＦ2 ，ＩＦ3 ，・・・，ＩＦn ）を各光加入者
側装置７−１〜７−ｎへ出力するほか、誤り検出器４に
対してバーストゲート信号を出力する。このバーストゲ
ート信号は、所望のチャンネルのデータを抽出するため
の信号で、各バースト試験信号に同期しており、遅延回
路により必要な量だけ遅延されて出力される。その他の
機能は図４のデータ発生器２と同じである。
Ｆ1 ，ＩＦ2 ，ＩＦ3 ，・・・，ＩＦn ）を各光加入者
側装置７−１〜７−ｎへ出力するほか、誤り検出器４に
対してバーストゲート信号を出力する。このバーストゲ
ート信号は、所望のチャンネルのデータを抽出するため
の信号で、各バースト試験信号に同期しており、遅延回
路により必要な量だけ遅延されて出力される。その他の
機能は図４のデータ発生器２と同じである。
【００３１】ＦＩＦＯメモリ１７は、センタ側装置８の
リタイミング回路１１が出力するリタイミングされたバ
ースト試験信号（ＩＦ1 ′，ＩＦ2 ′，ＩＦ3 ′，・・
・，ＩＦn ′）を、デジタルＰＬＬ１２が出力する再生
されたクロック信号によって順次書き込み、先に入力さ
れたものから順番に、クロック源３が出力するクロック
信号によって読み出すことによって、ビット不連続な再
生されたバースト試験信号（ＩＦ1 ′，ＩＦ2 ′，ＩＦ
3 ′，・・・，ＩＦn ′）をビット連続なバースト試験
信号（ＩＦ1 ″，ＩＦ2 ″，ＩＦ3 ″，・・・，ＩＦ
n ″）に変換して誤り検出器４に出力する。
リタイミング回路１１が出力するリタイミングされたバ
ースト試験信号（ＩＦ1 ′，ＩＦ2 ′，ＩＦ3 ′，・・
・，ＩＦn ′）を、デジタルＰＬＬ１２が出力する再生
されたクロック信号によって順次書き込み、先に入力さ
れたものから順番に、クロック源３が出力するクロック
信号によって読み出すことによって、ビット不連続な再
生されたバースト試験信号（ＩＦ1 ′，ＩＦ2 ′，ＩＦ
3 ′，・・・，ＩＦn ′）をビット連続なバースト試験
信号（ＩＦ1 ″，ＩＦ2 ″，ＩＦ3 ″，・・・，ＩＦ
n ″）に変換して誤り検出器４に出力する。
【００３２】リファレンスデータ発生器１８は、制御手
段５からの指令によりリファレンスバースト信号を誤り
検出器４に出力する。このリファレンスバースト信号の
内容は、データ発生器２が出力するバースト試験信号の
内容と同じものである。
段５からの指令によりリファレンスバースト信号を誤り
検出器４に出力する。このリファレンスバースト信号の
内容は、データ発生器２が出力するバースト試験信号の
内容と同じものである。
【００３３】誤り検出器４は、図２に示すとおり、ＡＮ
Ｄ回路４１，データ比較器４２および同期検出回路４３
により構成されている。
Ｄ回路４１，データ比較器４２および同期検出回路４３
により構成されている。
【００３４】ＡＮＤ回路４１は、バーストゲート信号に
よりＯＮ，ＯＦＦ制御され、ＦＩＦＯメモリ１７から出
力されるバースト試験信号をＯＮ，ＯＦＦして、バース
トゲート信号で指定されたチャンネルを通過したバース
ト試験信号をデータ比較器４２に入力する。データ比較
器４２は、このバースト試験信号をリファレンスデータ
発生器１８からのリファレンスバースト信号と各ビット
毎に比較してエラー信号を出力する。同期検出回路４３
はＭビットのバースト試験信号に対して所定のＮビット
以上の誤りが含まれているときは、リファレンスデータ
発生器１８に同期再起動制御信号を出力する。
よりＯＮ，ＯＦＦ制御され、ＦＩＦＯメモリ１７から出
力されるバースト試験信号をＯＮ，ＯＦＦして、バース
トゲート信号で指定されたチャンネルを通過したバース
ト試験信号をデータ比較器４２に入力する。データ比較
器４２は、このバースト試験信号をリファレンスデータ
発生器１８からのリファレンスバースト信号と各ビット
毎に比較してエラー信号を出力する。同期検出回路４３
はＭビットのバースト試験信号に対して所定のＮビット
以上の誤りが含まれているときは、リファレンスデータ
発生器１８に同期再起動制御信号を出力する。
【００３５】次に、本発明の一実施例の動作を図１ない
し図３を参照して説明する。データ発生器２は、各出力
端子＃１，＃２，＃３，・・・＃ｎから、図３の（ａ
1 ），（ａ2 ），（ａ3 ），・・・，（ａn ）に示すバ
ースト試験信号ＩＦ1 ，ＩＦ2 ，ＩＦ3 ，・・・，ＩＦ
n を出力する。これらのバースト試験信号はそれぞれ対
応する光加入者側装置７−１，７−２，７−３，・・
・，７−ｎに入力され、光バースト信号に変換されて、
加入者側光ファイバ１３−１，１３−２，１３−３，・
・・，１３−ｎにそれぞれ出力され、光スターカプラ１
５でパッシィブにアダーされて、センタ側光ファイバ１
４を経てセンタ側装置８に入力される。
し図３を参照して説明する。データ発生器２は、各出力
端子＃１，＃２，＃３，・・・＃ｎから、図３の（ａ
1 ），（ａ2 ），（ａ3 ），・・・，（ａn ）に示すバ
ースト試験信号ＩＦ1 ，ＩＦ2 ，ＩＦ3 ，・・・，ＩＦ
n を出力する。これらのバースト試験信号はそれぞれ対
応する光加入者側装置７−１，７−２，７−３，・・
・，７−ｎに入力され、光バースト信号に変換されて、
加入者側光ファイバ１３−１，１３−２，１３−３，・
・・，１３−ｎにそれぞれ出力され、光スターカプラ１
５でパッシィブにアダーされて、センタ側光ファイバ１
４を経てセンタ側装置８に入力される。
【００３６】図３の（ｂ）はアダー信号で、パッシィブ
にアダーされてセンタ側装置８に入力されるバースト試
験信号を示す。一般に、バースト毎の振幅（光のピーク
パワー）は異なるが、ここでは同一レベルとしておく。
にアダーされてセンタ側装置８に入力されるバースト試
験信号を示す。一般に、バースト毎の振幅（光のピーク
パワー）は異なるが、ここでは同一レベルとしておく。
【００３７】ｔ1 ，ｔ2 ，ｔ3 ，・・・，ｔn は各チャ
ンネル毎のバースト試験信号に生じた時間遅れで、それ
ぞれの時間遅れが異なるのは、各加入者側光ファイバ１
３−１，１３−２，１３−３，・・・，１３−ｎの物理
長ｌ1 ，ｌ2 ，ｌ3 ，・・・，ｌn がそれぞれ異なるた
めである。
ンネル毎のバースト試験信号に生じた時間遅れで、それ
ぞれの時間遅れが異なるのは、各加入者側光ファイバ１
３−１，１３−２，１３−３，・・・，１３−ｎの物理
長ｌ1 ，ｌ2 ，ｌ3 ，・・・，ｌn がそれぞれ異なるた
めである。
【００３８】このバースト試験信号（ＩＦ1 〜ＩＦn ）
は、センタ側装置８の光電気変換器１０で電気信号に変
換されてリタイミング回路１１およびデジタルＰＬＬ１
２に入力される。デジタルＰＬＬ１２は入力されたバー
スト試験信号の先頭部分のプリアンブルデータからクロ
ック信号を再生し、この再生したクロック信号を各光加
入者側装置７−１〜７−ｎ毎に出力する。リタイミング
回路１１は、光電気変換器１０で電気信号に変換された
各光加入者側装置７−１〜７−ｎのバースト試験信号
（ＩＦ1 ′〜ＩＦn ′）を、それぞれ対応する再生され
たクロック信号でタイミングをとって出力する。
は、センタ側装置８の光電気変換器１０で電気信号に変
換されてリタイミング回路１１およびデジタルＰＬＬ１
２に入力される。デジタルＰＬＬ１２は入力されたバー
スト試験信号の先頭部分のプリアンブルデータからクロ
ック信号を再生し、この再生したクロック信号を各光加
入者側装置７−１〜７−ｎ毎に出力する。リタイミング
回路１１は、光電気変換器１０で電気信号に変換された
各光加入者側装置７−１〜７−ｎのバースト試験信号
（ＩＦ1 ′〜ＩＦn ′）を、それぞれ対応する再生され
たクロック信号でタイミングをとって出力する。
【００３９】ビット誤り測定装置１のＦＩＦＯメモリ１
７は、リタイミング回路１１が出力したバースト試験信
号（ＩＦ1 ′〜ＩＦn ′）を、デジタルＰＬＬ１２が出
力する再生されたタイミング信号で順次書き込む。ＦＩ
ＦＯメモリ１７に書き込まれたバースト試験信号（ＩＦ
1 ′〜ＩＦn ′）はクロック源３のクロック信号によっ
て読み出され、ＡＮＤ回路４１に入力され、データ発生
器２が出力するバーストゲート信号で指定されたチャン
ネルのバースト試験信号だけが通過する。このバースト
試験信号は、ＦＩＦＯメモリ１７に入力されるときはビ
ット不連続なデータであるが、クロック源３のクロック
信号によって読み出されるときにはビット連続のデータ
に変換されている。
７は、リタイミング回路１１が出力したバースト試験信
号（ＩＦ1 ′〜ＩＦn ′）を、デジタルＰＬＬ１２が出
力する再生されたタイミング信号で順次書き込む。ＦＩ
ＦＯメモリ１７に書き込まれたバースト試験信号（ＩＦ
1 ′〜ＩＦn ′）はクロック源３のクロック信号によっ
て読み出され、ＡＮＤ回路４１に入力され、データ発生
器２が出力するバーストゲート信号で指定されたチャン
ネルのバースト試験信号だけが通過する。このバースト
試験信号は、ＦＩＦＯメモリ１７に入力されるときはビ
ット不連続なデータであるが、クロック源３のクロック
信号によって読み出されるときにはビット連続のデータ
に変換されている。
【００４０】データ比較器４２は、ＦＩＦＯメモリ１７
から読み出されたバースト試験信号を、リファレンスデ
ータ発生器１８から出力されたリファレンスバースト信
号と比較して、各チャンネル毎に発生したビット誤りを
測定する。
から読み出されたバースト試験信号を、リファレンスデ
ータ発生器１８から出力されたリファレンスバースト信
号と比較して、各チャンネル毎に発生したビット誤りを
測定する。
【００４１】同期検出回路４３は、データ比較器４２の
出力を受けて、Ｍビットのリファレンスバースト信号の
うちビット誤りがＮビット以上であるときに同期はずれ
と判断し、リファレンスデータ発生器１８を再起動させ
る同期制御信号を出力して同期させる。
出力を受けて、Ｍビットのリファレンスバースト信号の
うちビット誤りがＮビット以上であるときに同期はずれ
と判断し、リファレンスデータ発生器１８を再起動させ
る同期制御信号を出力して同期させる。
【００４２】このようにして、各伝送路を通過したバー
スト試験信号はビット不連続なデータであるが、前述し
たとおりＦＩＦＯメモリ１７を経由することでビット連
続なデータに変換されているため、各チャンネル毎にバ
ーストゲート信号の位相を変える必要がなく誤り検出器
４における誤り検出を容易に行うことができる。なお、
この比較はバースト試験信号（ＩＦ1 〜ＩＦn ）のうち
データ発生器２が出力したバーストゲート信号で所望の
チャンネルを指定して行うことができる。
スト試験信号はビット不連続なデータであるが、前述し
たとおりＦＩＦＯメモリ１７を経由することでビット連
続なデータに変換されているため、各チャンネル毎にバ
ーストゲート信号の位相を変える必要がなく誤り検出器
４における誤り検出を容易に行うことができる。なお、
この比較はバースト試験信号（ＩＦ1 〜ＩＦn ）のうち
データ発生器２が出力したバーストゲート信号で所望の
チャンネルを指定して行うことができる。
【００４３】制御手段５は、データ発生器２、リファレ
ンスデータ発生器１８および誤り検出器４を制御して次
のことを行わせる。
ンスデータ発生器１８および誤り検出器４を制御して次
のことを行わせる。
【００４４】データ発生器２が出力するバースト試験信
号およびリファレンスデータ発生器１８が出力するリフ
ァレンスバースト信号を設定し、または変更するほかバ
ーストゲート信号を設定して、測定する伝送路を指定す
る。
号およびリファレンスデータ発生器１８が出力するリフ
ァレンスバースト信号を設定し、または変更するほかバ
ーストゲート信号を設定して、測定する伝送路を指定す
る。
【００４５】また、誤り検出器４がバースト試験信号を
リファレンスバースト信号と比較するときタイミング関
係を調整し、各種のデータ処理を行う。
リファレンスバースト信号と比較するときタイミング関
係を調整し、各種のデータ処理を行う。
【００４６】なお、バーストゲート信号を各バースト試
験信号毎に（各チャンネル毎に）並列に出力して、誤り
検出の並列処理を行うことができる。
験信号毎に（各チャンネル毎に）並列に出力して、誤り
検出の並列処理を行うことができる。
【００４７】
【発明の効果】以上詳細に説明したとおり、本発明のビ
ット誤り測定装置は、被測定システムを通過してきたビ
ット不連続なバースト試験信号を、ＦＩＦＯメモリに書
き込み、データ発生器のタイミング信号で読み出すこと
によりビット連続なバースト試験信号に変換した後ビッ
ト誤りを測定するようにしたので、誤り測定が容易に行
えるほか、バーストゲート信号の位相をチャンネル毎に
調整することなく所望のチャンネルの伝送路を指定して
ビット誤りを測定することができる。
ット誤り測定装置は、被測定システムを通過してきたビ
ット不連続なバースト試験信号を、ＦＩＦＯメモリに書
き込み、データ発生器のタイミング信号で読み出すこと
によりビット連続なバースト試験信号に変換した後ビッ
ト誤りを測定するようにしたので、誤り測定が容易に行
えるほか、バーストゲート信号の位相をチャンネル毎に
調整することなく所望のチャンネルの伝送路を指定して
ビット誤りを測定することができる。
【００４８】また、本発明は誤り検出を並列処理するの
で、複数の光加入者側装置のビット誤りをほとんど同時
に測定することができる。
で、複数の光加入者側装置のビット誤りをほとんど同時
に測定することができる。
【図１】本発明のビット誤り測定装置の一実施例の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】誤り検出器の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明のバースト試験信号その他のタイミング
を示す図である。
を示す図である。
【図４】従来のビット誤り測定装置の構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図５】被測定システムの動作原理を説明するための図
である。
である。
【図６】被測定システムの光パッシィブ多重の動作を説
明するための図である。
明するための図である。
１ ビット誤り測定装置 ２ データ発生器 ３ クロック源 ４ 誤り検出器 ５ 制御手段 ６ 被測定システム ７−１〜７−ｎ 光加入者側装置 ８ センタ側装置 １０ 光電気変換器 １１ リタイミング回路 １２ デジタルＰＬＬ １３−１〜１３−ｎ 加入者側光ファイバ １４ センタ側光ファイバ １５ 光スターカプラ １７ ＦＩＦＯメモリ １８ リファレンスデータ発生器 ４１ ＡＮＤ回路 ４２ データ比較器 ４３ 同期検出回路
Claims (2)
- 【請求項１】 それぞれ所定のタイミングで光バースト
信号を出力する複数の光加入者側装置（７−１〜７−
ｎ）と、 一端が前記複数の光加入者側装置に接続された複数の加
入者側光ファイバ（１３−１〜１３−ｎ）、 前記複数の加入者側光ファイバの他端にパッシィブ接続
され前記複数の光加入者側装置が出力した光バースト信
号をアダーして出力する光スターカプラ（１５）および
一端が前記光スターカプラに接続されたセンタ側光ファ
イバ（１４）でなる複数チャンネルの光伝送路（１３−
１〜１３−ｎ、１５，１４）と、 前記センタ側光ファイバの他端が接続され前記加入者側
光ファイバから入力されアダーされた光バースト信号を
電気バースト信号に変換して出力する光電気変換器（１
０）、 前記光電気変換器が出力する変換された電気バースト信
号を受けて前記電気バースト信号に含まれるクロック信
号に同期したクロック信号を再生して出力するデジタル
ＰＬＬ（１２）および前記光電気変換器の出力する変換
された電気バースト信号と前記デジタルＰＬＬの出力す
る再生されたクロック信号とを受けて前記変換された電
気バースト信号を前記再生されたクロック信号でリタイ
ミングして出力するリタイミング回路（１１）でなるセ
ンタ側装置（８）とを含む被側定システム（６）のビッ
ト誤りを測定するビット誤り測定装置であって、 クロック信号を発生するクロック源（３）と、 前記クロック信号を受けて前記被測定システムのビット
誤りを測定するために各チャンネル毎に前記所定のタイ
ミングでバースト試験信号（ＩＦ1 〜ＩＦn ）を発生し
前記複数の光加入者側装置にそれぞれ出力するとともに
バーストゲート信号をそれぞれ前記所定のタイミングで
発生するデータ発生器（２）と、 前記リタイミング回路が出力するリタイミングされたバ
ースト試験信号（ＩＦ1 ′〜ＩＦn ′）を前記デジタル
ＰＬＬ回路が出力する再生されたクロック信号によって
書き込みかつ前記クロック源が出力するクロック信号に
よって読み出すＦＩＦＯメモリ（１７）と、 前記データ発生器が出力するバースト試験信号と同一内
容のリファレンスバースト信号を出力するリファレンス
データ発生器（１８）と、 前記データ発生器が出力したバーストゲート信号によっ
て指定された光伝送路を通過して前記ＦＩＦＯメモリか
ら読み出されたバースト試験信号を前記リファレンスデ
ータ発生器が出力したバースト試験信号と比較してビッ
ト誤りを検出するとともに、ビット誤りが所定の値より
多いときは前記リファレンスデータ発生器を再起動させ
る誤り検出器（４）とを備え、もって、バースト試験信
号によって所望の光加入者側装置を指定して被測定シス
テムのビット誤りを測定することを特徴とするビット誤
り測定装置。 - 【請求項２】 前記データ発生器（２）が、各バースト
試験信号に対応してバーストゲート信号を並列に出力
し、前記誤り検出器（４）が前記並列に出力されたバー
ストゲート信号毎に誤り検出を並列に行うことを特徴と
する請求項１に記載のビット誤り測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33665596A JP3696353B2 (ja) | 1996-12-17 | 1996-12-17 | ビット誤り測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33665596A JP3696353B2 (ja) | 1996-12-17 | 1996-12-17 | ビット誤り測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10178390A true JPH10178390A (ja) | 1998-06-30 |
| JP3696353B2 JP3696353B2 (ja) | 2005-09-14 |
Family
ID=18301424
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33665596A Expired - Fee Related JP3696353B2 (ja) | 1996-12-17 | 1996-12-17 | ビット誤り測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3696353B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100387246B1 (ko) * | 2001-06-02 | 2003-06-12 | 엘지전자 주식회사 | 게이트웨이에서 음성 데이터 트래픽 링크 테스트 장치 및방법 |
| JP2007132945A (ja) * | 2005-11-11 | 2007-05-31 | Taida Electronic Ind Co Ltd | 光ファイバネットワークの測定システム及びその測定方法 |
| JP2011160022A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Fujitsu Telecom Networks Ltd | Ｐｏｎシステム及び光信号送受信制御方法 |
| JP2017504985A (ja) * | 2013-11-27 | 2017-02-09 | レムフェルダー エレクトロニック ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングＬｅｍｆｏｅｒｄｅｒ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ ＧｍｂＨ | 光伝送区間の信号伝送品質を決定する方法及び装置 |
-
1996
- 1996-12-17 JP JP33665596A patent/JP3696353B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100387246B1 (ko) * | 2001-06-02 | 2003-06-12 | 엘지전자 주식회사 | 게이트웨이에서 음성 데이터 트래픽 링크 테스트 장치 및방법 |
| JP2007132945A (ja) * | 2005-11-11 | 2007-05-31 | Taida Electronic Ind Co Ltd | 光ファイバネットワークの測定システム及びその測定方法 |
| JP2011160022A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Fujitsu Telecom Networks Ltd | Ｐｏｎシステム及び光信号送受信制御方法 |
| JP2017504985A (ja) * | 2013-11-27 | 2017-02-09 | レムフェルダー エレクトロニック ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングＬｅｍｆｏｅｒｄｅｒ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ ＧｍｂＨ | 光伝送区間の信号伝送品質を決定する方法及び装置 |
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|---|---|
| JP3696353B2 (ja) | 2005-09-14 |
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