JPH1010433A - 顕微鏡システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】使用される標本により自動焦点検出に係る制御
内容を切り換えて制御することができ、標本に合わせた
最適な自動焦点検出動作が選択できるようにすること。 【解決手段】対物レンズ４と標本３との間の光軸方向の
距離を変化させて自動的に合焦位置を検出する自動焦点
検出機能を備えた顕微鏡システムにおいて、合焦位置検
出のための複数種の処理内容が格納された記憶手段と、
この記憶手段から取り出した合焦位置検出のための処理
内容に基づいて合焦位置を検出するための処理を実行す
る合焦制御実行手段１５と、外部から与えられる選択条
件に基づいて前記合焦制御実行手段１５で使用する合焦
位置検出のための処理内容を切換える制御内容切換手段
１５とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、自動焦点検出機能
を備えた顕微鏡システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】現在、微細な試料を拡大観察したり、観
察像を写真やビデオ画像として記録することの出来る顕
微鏡装置が、生物分野の研究をはじめ工業分野の検査工
程等で幅広く利用されている。

【０００３】従来の顕微鏡装置では、写真撮影を行う場
合、特に焦点深度の深い低倍対物レンズで写真撮影を行
うためには、写真撮影の際のピント合わせ操作にかなり
の熟練を要していた。また、高倍対物レンズで拡大観察
する場合、標本やステージの傾き等により、標本を光軸
と水平方向に移動しただけでもピントがズレてしまうこ
とがあり、この場合には標本を移動する度に再度ピント
合わせ操作を行わなければならなかった。

【０００４】そこで、顕微鏡写真撮影の際のピント合わ
せに関する操作性や写真撮影性能の向上を図るために種
々の技術が開発されてきた。本出願人は、特公平５−８
７８０４号（特願昭５８−４７６４７号）において、顕
微鏡写真撮影性能や写真撮影の操作性を改善するための
技術を開示している。具体的には、標本をスライドガラ
ス標本に限定して、予めピント位置付近にオートフォー
カス開始の基準位置を設け、自動焦点検出（ＡＦ制御）
動作を開始すると基準位置まで標本移動ステージを光軸
と垂直方向へ無条件で移動させ、その基準位置からピン
ト合わせ動作を行う、というものである。このような技
術手段を自動合焦機能に組み込むことにより、ピント合
わせの高速化を達成している。

【０００５】また、対物レンズの変更や照明光状態の変
更により観察法を切換えることのできる顕微鏡装置があ
る。顕微鏡の観察法にはさまざまなものがあるが、周知
のものでは明視野観察、暗視野観察、微分干渉観察、偏
光観察、位相差観察、蛍光観察などがある。標本の種類
により、照明光の照射方向（透過／落射照明）を切換え
ることにより標本の種類、特性に応じた観察法で観察を
行っている。

【０００６】ところで、対物レンズの変換やコンデンサ
の変更により観察法が切換えられた場合、その都度条件
に合わせて照明光の明るさや絞りの状態を最適な状態に
しなければ顕微鏡の性能を充分に生かすことができな
い。ところが、このような操作は顕微鏡操作にかなりの
熟練を有していなければ円滑に行ない得なかった。

【０００７】そこで、対物レンズの状態、光路設定状態
に連動して撮影像の明るさを一定に保つように制御する
顕微鏡システムが開発された。本出願人は、特願平７−
０１５８１２号等において、対物レンズの状態等に応じ
て撮影像の明るさを制御することのできる顕微鏡システ
ムを開示している。具体的には、各観察法での絞り、明
るさ、照明状態の調整値等の観察条件を記憶しておき、
観察法が切り換わる毎に最適な観察条件を読出して自動
的に再現するものである。このような技術手段を顕微鏡
システムに採用することで、観察法切換えの操作性の向
上を図り、顕微鏡操作を最適化するようにしている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の顕微
鏡装置は、顕微鏡写真の撮影性能、撮影の際の操作性は
改善されたものの、単一標本（スライドガラス標本）を
使用することを前提として自動合焦機能のシステム構成
が採られているため、観察対象の標本がスライドガラス
標本から他の標本へ変わった場合、例えば金属標本のよ
うな反射標本やスライドガラスよりも厚みのある標本に
変わった場合には適応できずに不具合が生じる可能性が
ある。

【０００９】例えば、観察対象の標本がスライドガラス
標本から当該スライドガラス標本よりも厚い他の標本へ
変わっている場合、予めスライドガラス標本に対して衝
突が生じないようにピント位置付近に設定した基準位置
よりも他の標本の表面のほうが突出していると、ＡＦ制
御を行うときに、基準位置に達する前に対物レンズと標
本が衝突する結果となってしまう。

【００１０】また、従来の顕微鏡システムは、観察法が
切換わる毎に最適な観察条件を再現できるようにするこ
とで観察法の切換えに伴う調整作業の操作性を改善して
いるが、ＡＦ制御動作として単一モードの制御しか実施
していないことから、上記同様の問題が生じる可能性が
ある。

【００１１】本発明は、以上のような実情に鑑みてなさ
れたもので、標本の種類に対応して自動合焦機能を選択
的に切換えることができ、標本に合わせて最適なＡＦ制
御が可能で、標本及び対物レンズの衝突を確実に回避し
得る顕微鏡システムを提供することを目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために以下のような手段を講じた。対物レンズと
標本との間の光軸方向の距離を変化させて自動的に合焦
位置を検出する自動焦点検出機能を備えたものにおい
て、合焦位置検出のための複数種の処理内容が格納され
た記憶手段と、前記記憶手段から取り出した合焦位置検
出のための処理内容に基づいて合焦位置を検出するため
の処理を実行する合焦制御実行手段と、外部から与えら
れる選択条件に基づいて前記合焦制御実行手段で使用す
る合焦位置検出のための処理内容を切換える制御内容切
換手段とを具備する。

【００１３】本発明によれば、記憶手段に合焦位置検出
のための処理内容が複数種類用意され、合焦制御実行手
段で使用する合焦位置検出のための処理内容が制御内容
切換手段により外部から与えられる選択条件に基づいて
切換えられる。したがって、標本が変わった場合に、制
御内容切換手段に変更後の標本に適した処理内容を選択
条件として与えてやることにより変更後の標本に適した
処理内容の自動焦点検出が実行されるものとなる。

【００１４】制御内容切換手段に対して選択条件を入力
するための入力装置を接続して、観察者が変更後の標本
の種別を指示するだけで当該変更後の標本に適した自動
焦点検出のモードが選択されるようにする。

【００１５】スライドガラス標本に対するＡＦ制御の処
理内容としてＡＦ制御開始時に対物レンズ又はステージ
を無条件で基準位置へ移動させる処理を含んだ処理内容
を設定し、反射標本に対するＡＦ制御の処理内容として
ＡＦ制御開始時にコントラストの有無を判断してコント
ラストが無い時にはマニュアル操作可能な状態にしてコ
ントラスト値をモニタし、コントラスト値が有りの状態
となった段階で所定の合焦制御へ移行する。

【００１６】指示された観察法に合わせて観察条件を自
動的に再設定する観察法自動切換え機能と、対物レンズ
と標本との間の光軸方向の距離を変化させて自動的に合
焦位置を検出する自動焦点検出機能とを備えた顕微鏡シ
ステムにおいて、合焦位置検出のための複数種の処理内
容が格納された記憶手段と、前記記憶手段から取り出し
た合焦位置検出のための処理内容に基づいて合焦位置を
検出するための処理を実行する合焦制御実行手段と、観
察法に応じて前記合焦制御実行手段で使用する合焦位置
検出のための処理内容を切換える制御内容切換手段とを
具備する。

【００１７】本発明によれば、使用する観察法によって
観察対象の標本の種類が特定されるので、観察法に応じ
て合焦位置検出のための処理内容を切換えることにより
標本に対して最適なＡＦ制御を自動的に選択できるよう
になる。

【００１８】合焦位置検出のための処理内容に対応した
複数の制御モードと観察法の種類との対応を管理するモ
ード管理テーブルを備え、制御内容切換手段が前記モー
ド管理テーブルを参照して観察法に対応した処理内容を
認識できるようにした。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。 （第１の実施の形態）第１の実施の形態の顕微鏡装置
は、種類の異なる複数の標本について個々の標本毎にＡ
Ｆ制御内容の異なる各ＡＦ制御用プログラムを記憶して
おき、観察者から観察対象となる標本の種別データを入
力できるようにして、種別データに基づいて実行すべき
ＡＦ制御用プログラム（サブルーチンを含む）を選択す
るようにしている。

【００２０】図１は、第１の実施の形態に係わる顕微鏡
装置の全体構成を示している。スライドガラスに作成し
た染色標本等の透過性のある標本を観察するための光を
照射するための透過用光源１を備えている。透過用光源
１から発した照明光でステージ２に載置された標本３を
透過照明光学系を介して透過照明する。照明された標本
３の標本像は対物レンズ４で拡大されてから所定位置で
結像し、当該標本像を接眼レンズ５から拡大観察できる
ようになっている。

【００２１】また、金属組織標本など反射光を利用して
観察する為の光源となる落射用光源６を備えている。落
射用光源６を使用して標本３を照明する場合、光路中に
落射キューブ７を挿入する。落射用光源６から発した光
を、図１に示すように光路上に配置した落射キューブ７
にて対物レンズ側へ反射し、対物レンズ４を通して落射
照明する。

【００２２】対物レンズ４から出射される標本像の光束
を、接眼レンズ５と自動焦点用光学系に分割するための
鏡筒８が光路上に配置されている。同図に示す例では、
反射光は接眼レンズ側へ入射し、透過光は自動焦点用光
学系へ入射する。

【００２３】自動焦点用光学系には、ＡＦ制御に使用さ
れる像の入力部となるＣＣＤセンサ９が設置されてい
る。ＣＣＤセンサ９上には結像レンズ１０にて標本像を
結像させている。ＣＣＤセンサ９面上には光路差分割プ
リズム１１により光路差を持たせた２つの像を結像位置
を変えて結像させる。

【００２４】ＣＣＤセンサ９の蓄積時間のコントロール
やＣＣＤセンサ９に印加するシフトパルスはタイミング
ジェネレータ１２が発生させる。ＣＣＤセンサ９から読
み出されたアナログデータをアナログ処理部１３で処理
してからＡ／Ｄ変換部１４でデジタルデータに変換す
る。Ａ／Ｄ変換部１４から出力されるデジタルデータは
制御回路１５へ与えられる。

【００２５】制御回路１５の内部構成は、周知のＣＰＵ
回路であり、観察作業をサポートするためのアプリケー
ションプログラムを格納したＲＯＭ、演算用データを格
納するためのＲＡＭ等を含んでおり、装置全体のコント
ロールを行う。ＲＯＭの中には、２種類のＡＦ制御用の
上記プログラムが格納されており、後述する入力装置１
９からの標本種別データに基づいてその制御モードを切
り換えることが可能になっている。

【００２６】駆動回路１６からの信号によりモータ１７
を駆動してステージ２を光軸と垂直方向に上下動させる
ようにしている。モータ１７によりステージ２が移動し
た場合にステージ位置を検出するための位置検出回路１
８を備えている。制御回路１５は位置検出回路１８から
ステージ位置検出信号を取り込んで駆動回路１６へ指示
を与える。

【００２７】また、自動焦点動作開始信号等の指示を与
えるための入力装置１９が制御回路１５に接続されてい
る。図４は入力装置１９のスイッチ構造を示している。
入力装置１９はＡＦ動作のＯＮ／ＯＦＦ制御を行う為の
ＡＦスイッチ２０と、ＡＦ制御モードの選択を行う為の
ＭＯＤＥスイッチ２１，２２で構成されている。スイッ
チ２０〜２２は周知の接点スイッチ回路で構成されてお
り、その状態が制御回路１５で読み取れる様になってい
る。

【００２８】以上のように構成された顕微鏡装置は以下
のように動作する。この顕微鏡装置はＡＦ制御に光路差
ＡＦ方式を採用しているものとする。光路差ＡＦ方式
は、基本的にはＣＣＤセンサ９上に基準結像面を挟んで
光軸方向に前後する２ケ所の結像位置を配置し、それぞ
れの受光像に基づいて、駆動回路１６を介してモータ１
７を駆動しステージ２を上下動させてピント合わせを行
うものである。この基準結像面に対して前後２ケ所に結
像位置を配置させる役割を果たすのが光路差分割プリズ
ム１１である。

【００２９】基準結像面より前の結像位置に配置された
受光素子に結像した像（以下前ピン像と呼ぶ）のコント
ラスト信号と、基準結像面より後の結像位置に配置され
た受光素子に結像した像（以下後ピン像と呼ぶ）のコン
トラスト信号は、図２の様な特性を示す。尚、同図にお
ける縦軸はコントラスト値、横軸はデフォーカス量を示
している。

【００３０】図２に示すように、前ピン像のコントラス
トは合焦点からステージ２の光軸と垂直方向の＋側へ少
し離れた位置で最大となる。また、後ピン像のコントラ
ストは合焦点から前ピン像と反対側のステージ２の光軸
と垂直方向の−側へ少し離れた位置で最大となる。この
ときＣＣＤセンサ９上の前後２ケ所の結像位置は、合焦
点から等距離ずれた位置の像となる。よって、前ピン
像、後ピン像のコントラストの最大値をとる場所は合焦
点から等距離になる。

【００３１】図２における後ピン像のコントラスト値
（Ａ）から前ピン像のコントラスト値（Ｂ）を差し引い
た値（以下、Ｓカーブとよぶ）を図３に示す。同図にお
ける縦軸は差分コントラスト値、横軸はデフォーカス量
である。

【００３２】図３に示すように、合焦点は（Ａ−Ｂ）の
値が０となる点と一致する。この点をクロスポイントと
呼ぶ。また、標本３が合焦点へ近づいている場合、（Ａ
−Ｂ）は正の値となり、一方、標本が合焦点から離れて
いる場合は（Ａ−Ｂ）は負の値となる。

【００３３】制御回路１５は、前ピン／後ピン像のコン
トラスト値の差分をとり、その正負の極性でステージ３
を移動させる方向を決定し、駆動回路１６を介してモー
タ１７によりステージ３を制御する。この動作を前ピン
／後ピン像のコントラスト値の差分が０となるまで繰り
返すことにより対物レンズ４の焦点位置を標本３に一致
させるものである。

【００３４】この実施の形態は上記ＡＦ制御を実行する
前段で前記２つのＡＦ制御モードの切換え処理を実行し
ている。図６にＡＦ制御モードの切換え処理を含んだＡ
Ｆ制御動作のフローチャートを示している。ＡＦ制御モ
ードとして、２つのモードを含んでおり、一つはスライ
ドガラス標本を対象としたものであり、もう一つは金属
組織標本等の反射標本を対象としたものである。ここで
は、ＭＯＤＥスイッチ２１はスライドガラス標本に対応
したＡＦ制御モードのスイッチ、ＭＯＤＥスイッチ２２
は金属組織標本に対応したＡＦ制御モードのスイッチが
割当られているものとする。

【００３５】スライドガラス標本を使用する場合 操作者が、ステージ２上にスライドガラスの標本３をセ
ットし、透過照明光による観察を行うべく透過用光源１
を点灯し、落射キューブ７を光路外へ移動する操作を行
う。そして、観察標本がスライドガラス標本であるの
で、入力装置１９のＭＯＤＥスイッチ２１を押し、ピン
ト合わせを行うためにＡＦスイッチ２０を押す。

【００３６】制御回路１５は、ＭＯＤＥスイッチ２１が
選択されたことを入力装置１９の接点状態から認識する
と、保持しているモードデータをスライドガラス標本に
対応したＡＦ制御モードを示すモード１にデータ更新す
る。また、ＭＯＤＥスイッチ２２が選択された場合には
金属組織標本に対応したＡＦ制御モードを示すモード２
にデータ更新する。

【００３７】ＡＦスイッチ２０が押されると、そのとき
保持しているモードデータを確認する。今、ＡＦ制御モ
ードとしてモード１が保持されているので、モード１に
対応したＡＦ制御用プログラムを実行する。モード１に
対応したＡＦ制御用プログラムは、ステージ２をピント
面付近の基準位置まで無条件で移動させる処理を含んで
いる。そのため、駆動回路１６に指示を与えてモータ１
７を駆動し、位置検出回路１８の信号をモニターしなが
らステージ２を駆動することにより、ピント面付近の基
準位置を検出する。スライドガラスの一般的な厚みは、
０．９〜１．４ｍｍ程であるので、スライドガラスの厚
みを考慮に入れて理論上の合焦位置より、０．５ｍｍ下
の付近に基準位置を設定しておくことが好ましい。

【００３８】制御回路１５は、ステージ２が基準位置に
達したことを検出すると、実際にＣＣＤセンサ９の信号
を確認しながらのピント合わせ動作に移る。制御回路１
５からタイミングジェネレータ１２に駆動信号を与えて
ＣＣＤセンサ９を駆動する。ＣＣＤセンサ９で得られた
像のデータは、アナログ処理部１３に入力され、ここで
Ａ／Ｄ変換部１４の入力仕様に適合した信号レベルに増
幅される。増幅された信号は、Ａ／Ｄ変換部１４に送ら
れ制御回路１５で扱えるデジタルデータに変換される。
Ａ／Ｄ変換部１４で変換された像データ（デジタルデー
タ）により、制御回路１５は、駆動回路１６、モータ１
７で前述した光路差ＡＦ方式を用いて、ピント合わせ動
作を実行する。そして、ピントが検出されると（Ｓカー
ブが０となると）、その時点でＡＦ動作を終了する。

【００３９】金属組織標本を使用する場合 次に、操作者が、観察している標本３を例えば金属組織
標本などの透過性のない厚い標本に交換したものとす
る。操作者は、透過性のない標本を観察するのに適した
観察条件を設定する。そのため、現在点灯している透過
用光源１を消灯し、落射用光源６を点灯させ、反射光に
より観察を行うため落射キューブ７を光路中に挿入す
る。これにより、落射用光源６からの光は、落射キュー
ブ７により対物レンズ４側に反射され、対物レンズ４を
通して標本３に照射される。標本３に照射された光は、
標本３により反射され再び対物レンズ４、落射キューブ
７を介して鏡筒８、接眼レンズ５を通り観察可能にな
る。

【００４０】次にＡＦ制御モードの切換えを行う。標本
３が金属組織標本なので、ＭＯＤＥスイッチ２２を選択
する。入力装置１９でＭＯＤＥスイッチ２２が押される
と、制御回路１５では保持しているモードデータをモー
ド２に更新する。そして、ＡＦスイッチ２０が押される
と、制御回路１５は現在保持しているモードをモード２
と認識し、モード２に対応したＡＦ制御用プログラムを
実行する。モード２に対応したＡＦ制御用プログラム
は、モード１のようなステージ２を無条件で基準位置ま
で移動させる処理は含んでいない。モード１とは標本が
異なるため、モード１の様な動作ではＡＦ制御できない
からである。モード１では、理論上のピント位置から
０．５ｍｍ下の基準位置まで強制的にステージ２を移動
していたが、モード２では標本の厚さが規定できないた
め基準位置の設定が不可能である。仮にモード１と同じ
位置に設定した場合を考えると、スライドガラスの最大
厚み１．４ｍｍより厚い標本がステージ２に載置される
と、ステージ２が基準位置に達する前に対物レンズ４と
標本３が衝突してしまう恐れがあるためである。

【００４１】この実施の形態では、モード２に対応した
ＡＦ制御用プログラムに、光路差ＡＦ方式によるＡＦ制
御を実行する前に、受光像の結像状態を確認してコント
ラストを求める処理が入っている。

【００４２】制御回路１５は、モード２でＡＦスイッチ
２０が押された場合は、直ちにタイミングジェネレータ
１２を駆動し、現在のＣＣＤセンサ９上の受光像の結像
状態を確認する。そして、Ａ／Ｄ変換部１４からのデー
タによりコントラスト値の演算を行い、コントラストの
無い状態ならばＡＦ動作を待機状態にする。この時、制
御回路１５は、ＣＣＤセンサ９の駆動は続行させてお
く。

【００４３】制御回路１５は、図５に示す様にコントラ
ストカーブに対してしきい値（同図ｃ点）を設定して、
コントラストがそのしきい値以上か又はしきい値未満か
によりコントラストの状態（コントラストの有無）を判
断する。コントラスト値がしきい値以上であればコント
ラスト有りと認識し、しきい値未満ならコントラスト無
しと認識する。

【００４４】ＡＦ待機状態の場合、制御回路１５は駆動
回路１６への信号出力を中止することにより、モータ１
７をフリー状態にする。モータ１７がフリー状態になる
と、ステージ２は図示しない焦準ハンドルによる手動操
作が可能になる。操作者は、接眼レンズ５を覗きながら
焦準ハンドルを回し、ステージ２を移動させる。この時
も、ＣＣＤセンサ９では絶えず受像し、制御回路１５は
コントラスト演算をつづけてコントラストの状態を判断
する。

【００４５】制御回路１５は、コントラスト値が大きく
なってしきい値を越えた状態までステージ２が移動され
たことを検出すると、ＡＦ待機状態を解除し、駆動回路
１６を介してモータ１７を駆動し、ＡＦ動作を開始す
る。

【００４６】後のＡＦ制御動作は「スライドガラス標本
の場合」と同様であり、光路差ＡＦ方式を使用して前ピ
ン像のコントラスト値と後ピン像のコントラスト値との
差分が０になるようにステージ２を駆動して合焦点の検
出を行い、検出後にＡＦ動作を終了する。

【００４７】一方、ＡＦスイッチ２０が押された状態で
コントラストがしきい値を越えていた場合は、待機状態
とはならずに、そのままＡＦ動作に移る。このように、
第１の実施の形態によれば、複数種の標本にそれぞれ最
適なＡＦ制御用プログラムを記憶し、ＡＦ制御に使用す
るＡＦ制御用プログラムをモード１，２として観察者か
ら切換え可能にしておき、観察者から指示されたモード
に対応したＡＦ制御用プログラムを使用してＡＦ制御を
行うので、観察している標本に最適なＡＦ制御が可能と
なった。また、金属組織標本を使用した場合には、標本
及び対物レンズを保護するようなＡＦ制御を行い、標本
と対物レンズの衝突の可能性が著しく減少する。

【００４８】上記した第１の実施の形態では、２つのＡ
Ｆ制御モードを選択できるように構成したが、観察対象
にする標本の種類が増えるのに応じてそれぞれの標本に
適したＡＦ制御モードを適宜増加することも可能であ
る。

【００４９】（第２の実施の形態）第２の実施の形態に
係る顕微鏡システムは、観察法の切換えが発生した場合
に観察条件を自動的に再調整する機能を備えたシステム
であり、観察者にモードの入力を求めることなく観察法
に応じて自動的にＡＦ制御内容を切換えるようにしたも
のである。

【００５０】図７は、第２の実施の形態に係る顕微鏡シ
ステムの全体構成を示している。この顕微鏡システムに
おける光学系では、例えばハロゲンランプからなる透過
照明用光源１０１からの光をコレクタレンズ１０２で集
光して透過用フィルターユニット１０３へ入射する。

【００５１】透過用フィルターユニット１０３は、透過
照明用光源１０１の色温度を変えずに明るさの調光を行
う複数枚のＮＤフィルターと、色補正を行うための複数
枚の補正フィルターとからなり、任意のフィルターを照
明光学系の光路中に選択的に挿脱可能になっている。

【００５２】上記透過用フィルターユニット１０３を透
過した照明光を、透過視野絞り１０４，透過開口絞り１
０５，コンデンサ光学素子ユニット１０６，コンデンサ
トップレンズユニット１０７を介して試料ステージ１０
８の下方からステージ上の観察試料Ｓを照明するように
透過照明光学系が構成されている。

【００５３】コンデンサ光学素子ユニット１０６は、光
路中に選択的に挿入される暗視野観察用、微分干渉観察
用、位相差観察用の複数の光学素子１０６ａ〜１０６ｃ
からなる。

【００５４】コンデンサトップレンズユニット１０７
は、光路中に選択的に挿入される複数のトップレンズ１
０７ａ，１０７ｂからなる。トップレンズ１０７ａは低
倍観察時に使用され、トップレンズ１０７ｂは高倍観察
時に使用される。

【００５５】試料ステージ１０８は、観察試料Ｓを光軸
と直交する平面内で２次元移動可能になっていると共
に、ピント合わせのため光軸方向へ移動可能になってい
る。試料ステージ上方には複数の対物レンズ１０９ａ〜
１０９ｃがレボルバー１０９に保持されている。

【００５６】キューブユニット１１１は、各種観察法に
より選択的に挿入される落射明視野用、落射暗視野用、
落射蛍光用の複数のキューブ１１１ａ〜１１１ｃからな
る。キューブユニット１１１を透過した光は観察用プリ
ズム１１３を介して接眼レンズ１１４へ導いている。

【００５７】一方、水銀ランプ等からなる落射照明用光
源１１５からの光を、落射用フィルターユニット１１
６，落射シャッター１１７，落射視野絞り１１８，落射
開口絞り１１９を介して、キューブユニット１１１の光
路中に挿入されているキューブに入射し、観察試料Ｓ側
へ反射させて落射照明するのが落射照明光学系である。

【００５８】落射用フィルターユニット１１６は、落射
照明用光源１１５の色温度を変えずに明るさの調光を行
う複数枚のＮＤフィルターと、色補正を行うための複数
枚の補正フィルターとから構成される。落射シャッター
１１７は、光路中に挿脱可能で落射用光源１１５を遮光
するためのシャッターである。

【００５９】本顕微鏡システムの電気制御系は以下のよ
うに構成されている。システム全体の動作を管理してい
るメインコントロール部１３０に対して、落射絞りコン
トロール部１３１、落射フィルターコントロール部１３
２、コンデンサコントロール部１３３、透過視野絞りコ
ントロール部１３４、透過フィルターコントロール部１
３５、フレームコントロール部１３６、ＡＦコントロー
ル部１４０を、専用シリアルバス１３７を介してそれぞ
れ接続している。

【００６０】落射絞りコントロール部１３１は落射視野
絞り１１８と落射開口絞り１１９を駆動及び制御するコ
ントロール部であり、落射フィルターコントロール部１
３２は落射用フィルターユニット１１６を駆動及び制御
するコントロール部である。

【００６１】コンデンサコントロール部１３３は、コン
デンサ光学素子ユニット１０６，コンデンサトップレン
ズユニット１０７，透過用開口絞り１０５の駆動及び制
御を行う部分である。また、透過視野絞りコントロール
部１３４は透過用視野絞り１０４の駆動及び制御を行う
コントロール部であり、透過フィルターコントロール部
１３５は透過用フィルターユニット１０３の駆動及び制
御を行うコントロール部である。フレームコントロール
部１３６は、透過照明用光源１０１，落射照明用光源１
１５，レボルバー１０９，キューブユニット１１１，落
射シャッター１１７を駆動制御するコントロール部であ
る。

【００６２】ＡＦ制御コントロール部１４０は、ＣＣＤ
センサ９から入力する信号からコントラスト値を演算し
て焦点検出を行い、ステージ１０８を光軸方向へ上下動
させてピント合わせを行うコントロール部である。

【００６３】上記各コントロール部１３１〜１３６、１
４０は、図８に示す回路構成を夫々備えている。ＣＰＵ
回路１４１と、このＣＰＵ回路１４１からの指令で制御
対象の光学ユニットを駆動する駆動回路１４２と、制御
対象である駆動部の位置を検出してＣＰＵ回路１４１へ
知らせる位置検出回路１４３と、ＣＰＵ回路１４１と専
用シリアルバス１３７とを接続する専用シリアル通信Ｉ
／Ｆ回路１４４と、その他の図示しない周辺回路とをコ
ントロール部内に内蔵している。

【００６４】上記ＣＰＵ回路１４１は、ＣＰＵ１４５が
ＲＯＭ１４６，ＲＡＭ１４７にＣＰＵバス１４８を介し
て接続され、ＲＯＭ１４６に各々の制御内容を記述した
プログラムが記憶され、ＲＡＭ１４７に制御演算用のデ
ータが格納されている。そして各コントロール部１３１
〜１３６及び１４０に専用シリアルバス１３７を介して
メインコントロール部１３０から制御指示が送り込ま
れ、ＣＰＵ１４５がＲＯＭ１４６のプログラムに従って
動作することにより各々受け持ちの光学ユニット等の制
御を行う。

【００６５】図９は、メインコントロール部１３０の構
成を示す図である。メインコントロール部１３０は、各
コントロール部１３１〜１３６，１４０と同様に構成さ
れたＣＰＵ回路１４１−Ｍに加えて、顕微鏡の各種設定
状態を記憶し電源遮断後もその記憶内容を記憶している
不揮発性メモリ１５０と、各種操作ＳＷを設けたＳＷ入
力部１５１と、各種情報を表示するための表示部１５２
と、専用シリアルバス１３７をコントロールする為の専
用シリアルバス駆動回路１５３とにより構成されてい
る。

【００６６】次に、以上のように構成された本実施の形
態の動作内容について説明する。図１０は実施形態全体
における動作の流れを示している。すなわち、電源が投
入されると操作画面を表示して、「初期設定処理」「対
物レンズ切換処理」「観察法切換処理」のいずれかの処
理を受け付ける。図１１に「観察法切換処理」に関する
フローチャートを示している。また、図１２は観察法の
切換処理が実行された後にＡＦ制御の指示が与えられた
場合に実行されるＡＦ制御処理のフローチャートを示し
ている。 （初期設定処理）顕微鏡操作の前段階として、観察法の
変更に伴う観察条件の自動調整の為に必要となる各種パ
ラメータの設定操作を行う。実際には、図１３に示す制
御パラメータテーブルを作成して不揮発性メモリ１５０
へ保存する。

【００６７】具体的には、図示しない電源ＳＷが押され
るとメインコントロール部１３０のＣＰＵ１４５−Ｍが
ＲＯＭ１４６−Ｍから操作画面表示データを読出して表
示部１５２に操作画面を表示する。

【００６８】図２０は操作画面の構成例を示している。
操作画面は、初期設定画面を呼び出すためのＩＮＩＴＩ
ＡＬスイッチ３００、観察法の切換えを行うスイッチ表
示領域３１０、照明系の切換えを行うスイッチ表示領域
３２０、対物レンズの指定を行うスイッチ表示領域３３
０から構成されている。領域３１０は、明視野観察法指
定スイッチ３１１、暗視野観察法指定スイッチ３１２、
微分干渉観察指定スイッチ３１３、位相差観察法指定ス
イッチ３１４、蛍光観察法指定スイッチ３１５が備えら
れている。領域３２０は、落射照明を選択する落射照明
選択スイッチ３２１、透過照明を選択する透過照明選択
スイッチ３２２が備えられている。

【００６９】操作画面において、ＩＮＩＴＩＡＬスイッ
チ３００が押された場合に初期設定処理が実行されるよ
うに設定する。初期設定処理では、図１３に示す制御用
パラメータテーブルのレボルバ位置Ｎｏを指定して該当
項目に対物レンズに関する情報を設定していく。なお、
観察法に応じた絞り情報等は予め設定しておくことがで
きる。

【００７０】また、図１４に示す観察法に対応したＡＦ
制御モードテーブルを記憶させる。同図には、第１の実
施の形態と同様にスライドガラス標本のＡＦ制御に適し
たＡＦ制御モードであるモード１と、金属標本のＡＦ制
御に適したＡＦ制御モードであるモード２とが設定され
ている例が示されている。観察法により使用する標本の
種類が限定されるので、観察法毎にモード１又はモード
２のうち適しているほうのモードを設定している。

【００７１】なお、モード１およびモード２の各々に対
応して各ＡＦ制御用プログラムが選択的に実行可能に搭
載されているものとする。次に、実際に顕微鏡装置を操
作する時の作用について説明する。

【００７２】今、操作者が操作画面（図２０）に対して
観察法指定スイッチの一つである明視野指定スイッチ３
１１（ＢＦ）を選択すると、ＣＰＵ１４５−ＭがＳＷ入
力部１５１と表示部１５２の表示内容より、透過明視野
観察が指定されたものと判断し、透過明視野観察法への
切換え動作を開始する。すなわち、図１１に示すフロー
チャートに基づいて以下の（１）〜（５）の手順からな
る観察法切換処理を実行する。 （１） 対物レンズの適合性チェック メインコントロール部１３０において、図１３の制御パ
ラメータテーブルを参照して現在選択されている対物レ
ンズ（観察光学系の光路上に挿入されている対物レンズ
のこと）が指定観察法での観察に適しているかどうかを
チェックする。対物レンズが指定観察法に不適合であれ
ば、対物レンズの変更を実行する。

【００７３】対物レンズの変更が必要な場合は、制御パ
ラメータテーブルを参照することにより指定観察法に対
して適している複数の対物レンズのなかから倍率の小さ
い対物レンズを選択する。

【００７４】変更対物レンズが決定したらＣＰＵ１４５
−Ｍが専用シリアルバス駆動回路１５３を駆動し、専用
シリアルバス１３７を介してフレームコントロール部１
３６にレボルバー１０９の回転指示を与える。この回転
指示を受けたフレームコントロール部１３６が駆動回路
１４２を駆動してレボルバー１０９の指定取付け穴位置
を光軸位置に挿入する。 （２） 照明経路の変更 指定観察法が指定されると、当該指定観察法にあった照
明、観察が行えるように照明経路を確保する処理を実行
する。

【００７５】先ず、透過観察法か落射観察法かによりラ
ンプ電圧の供給先を切り換えて光源を適正化する。透過
観察法の場合は透過照明用光源１０１、落射観察法の場
合は落射照明用光源１１５を点燈させるべくＣＰＵ１４
５−Ｍは、フレームコントロール部１３６に照明用光源
制御指示を専用シリアルバス１３７を使用して通知す
る。その結果、照明用光源の印加電圧は、図１３の制御
パラメータテーブルに登録されているランプ電圧（Ｌｖ
ｏｌ）に制御される。

【００７６】キューブの適正化が行われる。ＣＰＵ１４
５−Ｍは、不揮発メモリ１５０に予め記憶してあるキュ
ーブ種別テーブルからキューブの設定条件を取得する。
図１５はキューブ種別テーブルの構成を示している。キ
ューブ種別テーブルは、キューブユニット１１１におけ
るキューブ位置と、各位置に取り付けられているキュー
ブの種別とを対応させたテーブルである。

【００７７】キューブ種別テーブルから指定観察法に適
合したキューブデータを取得して、取得したキューブデ
ータに基づいて該当するキューブが観察光軸上に挿入す
るようフレームコントロール部１３６に制御指示を送
る。

【００７８】フレームコントロール部１３６は、制御指
示が送られてくると指定キューブを光軸位置へ挿入すべ
く駆動回路１４２でキューブユニット１１１を駆動す
る。最後に、コンデンサ１３９の制御を行う。コンデン
サ１３９の制御は、コンデンサトップレンズユニット１
０７と光学素子ユニット１０６の２つのユニットを制御
することにより行われる。図１３の制御パラメータテー
ブルを参照して、現在挿入されている対物レンズの倍率
に応じてコンデンサトップレンズの倍率を選択する。

【００７９】挿入すべきトップレンズが決定したら、コ
ンデンサコントロール部１３３に制御指示を送出して、
トップレンズ１０７ａあるいは１０７ｂのどちらかを光
軸上に挿入させる。

【００８０】次に、光学素子種別テーブルから取得した
設定条件に基づいて光学素子ユニット１０６の光学素子
を適正化する指令をコンデンサコントロール部１３３へ
出すことにより光学素子ユニット１０６の光学素子を調
整する。

【００８１】図１６は光学素子種別テーブルの構成例を
示している。このテーブルは、光学素子ユニット１０６
における光学素子位置と、各位置に取り付けられている
光学素子の種別とを対応させたテーブルである。

【００８２】光学素子種別テーブルから指定観察法に適
合した光学素子及び位置データを取得し、光学素子の位
置が決定したらコンデンサトップレンズユニット１０７
と同様、コンデンサコントロール部１３３に制御指示を
出す。 （３） 明るさの調整 透過用フィルタユニット１０３に装着されている複数の
ＮＤフィルターの組み合わせを変えることにより透過照
明側の照明光の明るさを調整し、落射用フィルタユニッ
ト１１６に装着されている複数のＮＤフィルターの組み
合わせを変えることにより落射照明側の照明光の明るさ
を調整する。

【００８３】図１８は、透過用フィルターユニット１０
３に装着されている各種フィルターの種類とフィルター
取付け位置との対応を示すテーブルを示している。Ｎｏ
１〜Ｎｏ４のＮＤフィルターは、色温度を変えずに明る
さのコントロールを行う為のものである。この４枚の組
み合わせで光の透過量を調整し、光量の制御を行うこと
ができる。これらフィルターは透過フィルターコントロ
ール部１３５により、照明光路中に任意に挿入可能とな
っている。

【００８４】図１９は、Ｎｏ１〜Ｎｏ４のＮＤフィルタ
ーの組み合わせと光量比との関係を表したテーブルであ
る。なお、光量比はＮＤフィルター未挿入の状態を基準
値として、基準値からの減光率を示している。このよう
な光量比−ＮＤフィルタ組合せテーブルを不揮発性メモ
リ１５０に記憶しておく。

【００８５】観察時の像面の照度Ｌは透過観察法の場
合、（１）式、落射観察法の場合（２）式で表すことが
できる。 Ｌ＝｛Ｋｋ（ＬＡ×ＮＤ×ＡＳ）×ＯＢ｝×Ｋｍ …………………（１） Ｌ＝｛Ｋｋ（ＬＡ×ＮＤ×ＡＳ）｝×Ｋｍ …………………………（２） “ＬＡ”は基準対物レンズを使用し、ＡＳ径１００％の
時の像面照度（基準照度）である。このＬＡは使用する
照明光学系により各々異なる。“ＮＤ”は透過用フィル
ターユニット１０３、或いは落射用フィルターユニット
１１６のＮＤフィルターの組合わせ濃度比率である。

【００８６】実際のＮＤフィルター組み合わせを求める
ために、図１３の制御パラメータテーブルより対物レン
ズ明るさ係数ｌｏｇａＯＢ、観察法別の明るさ係数ｌｏ
ｇａＫｋ、明るさマニュアル補正値ｌｏｇａＫｍを取得
して、これらのデータからｌｏｇａＮＤを計算する。Ｒ
ＯＭ１４６−Ｍに予め格納してあるＮＤ係数−光量比対
応テーブルからｌｏｇａＮＤに対応した光量比を決め
る。そして、図１９に示す光量比−ＮＤフィルタ組合せ
テーブルから前記光量比となるようなＮＤフィルタの組
合せを求める。その求めた組み合わせとなるように透過
フィルターユニット１０３の透過フィルタコントロール
部１３５に指令を出す。

【００８７】専用シリアルバス１３７で、メインコント
ロール部１３０からの制御指示を受けた透過フィルター
ユニット１０３は、駆動回路１４２でその指示された組
み合わせとなるようにＮＤフィルターの組み合わせを変
更する。 （４） 視野絞りの調整 視野絞り径を算出する。透過視野絞り径の算出式を
（３）式に、落射視野絞り径の算出式を（４）式に示
す。

【００８８】 透過視野絞り径＝｛ＯＣｆｒ／（ＯＢｍａｇ×ＦＳｍａｇ）｝×Ｋｆｓ …（３） 落射視野絞り径＝（ＯＣｆｒ／ＦＳｍａｇ）×Ｋｆｓ …（４） “ＯＣｆｒ”は接眼レンズ１１４の視野数であり、本実
施例では、２６．５を使用する。“ＯＢｍａｇ”は対物
レンズの倍率であり、図１３の制御パラメータテーブル
から現在選択されている対物レンズの倍率を参照する。
“ＦＳｍａｇ”は、ＦＳ像の投影倍率であり、これは、
現在使用されているコンデンサトップレンズにより異な
る。ＦＳ像の投影倍率（ＦＳｍａｇ）のデータは、メイ
ンコントロール部１３０のＲＯＭ１４６に実行プログラ
ムと共に予め格納してあり、図１７に示すようにトップ
レンズの種別テーブルとなっている。

【００８９】透過視野絞り１０４がこのようにして求め
られたＦＳ径になるように透過視野絞りコントロール部
１３４に指令（ＦＳ径データを）送る。専用シリアルバ
ス１３７を介してデータを受けた透過視野絞りコントロ
ール部１３４は、駆動回路１４２を駆動してＦＳ径を更
新する。

【００９０】また、落射視野絞り１１８を制御する場合
は、ＦＳ径演算モジュールが（４）式を使用して落射照
明系に設置した視野絞り１１８の最適なＦＳ径を求めて
ＦＳ径を落射絞りコントロール部１３１に指示する。視
野数ＯＣｆｒ及び視野絞り投影倍率（ＦＳｍａｇ）は固
定値として扱うことができるので、予めＲＯＭ１４６−
Ｍに格納したプログラム内に設定しておく。 （５） 開口絞りの調整 最後に、標本のコントラストを調整するための開口絞り
を制御する。開口絞りの算出は、（５）式、（６）式で
決定される。

【００９１】 透過開口絞り＝２×ＯＢｎａ×ＣＤｆ×Ｋａｓ …………………（５） 落射開口絞り＝２×ＯＢｎａ×ＯＢｆｂ×ＡＳｍａｇ×Ｋａｓ …（６） “ＯＢｎａ”は対物レンズの開口数であり、対物レンズ
毎に個有値を持つ。“ＣＤｆ”は使用しているコンデン
サトップレンズの焦点距離であり、これも使用トップレ
ンズ毎に個有値を持つ。“Ｋａｓ”は補正係数である。
この値を変えることにより，各観察法、対物レンズ毎に
固有の絞り値を設定する事が出来る。

【００９２】このようにして求められたＡＳ径に透過開
口絞り１０５を制御するためコンデンサコントロール部
１３３にデータを送る。専用シリアルバス１３７を介し
てデータを受けたコンデンサコントロール部１３３は、
駆動回路１４２を駆動してＡＳ径を更新する。また、落
射開口絞り１１５の絞り径を制御する場合は（６）式を
使用して開口絞り径を求める。求めた絞り径を落射絞り
コントロール部１３１へ送信する。

【００９３】以上の（１）〜（５）の処理により、指定
された観察法に適した観察状態となるように顕微鏡シス
テムの光学系の各部が自動的に調整されることになる。
この様にして変更した観察法の準備が整ったところで、
観察すべき標本Ｓをステージ１０８に載置する。実際の
観察を行う場合は、対物レンズのピントを標本Ｓに合わ
せるためにＡＦ制御の指令を顕微鏡システムに対して入
力することになる。

【００９４】図１２のフローチャートに基づいてＡＦ制
御が実行される。すなわち、図２０に示す操作画面にお
いてＡＦスイッチ３４０が押されると、メインコントロ
ール部１３０はまず、現在の観察法に対応したＡＦモー
ドを選択し、ＡＦコントロール部１４０にそのモードを
通知する。メインコントロール部１３０のＲＯＭ１４６
−Ｍに予め格納されている図１４のＡＦモードテーブル
に各観察法で決まる最適なＡＦ制御内容のＡＦモードが
設定されているので、そのテーブルを参照することでＡ
Ｆ制御モードを決定する。

【００９５】具体的には、図１４のＡＦモードテーブル
にしたがえば透過観察の明視野、暗視野、微分干渉、位
相差、及び落射の蛍光観察がスライドガラス標本対応の
モード１で、落射の明視野、暗視野がモード２となって
いる。即ち、透過観察の明視野、暗視野、微分干渉位相
差、及び落射の蛍光観察状態でＡＦスイッチ３４０が押
されると、ＡＦコントロール１４０部は、第１の実施の
形態で説明した「スライドガラス標本の場合」と同じシ
ーケンスでＡＦ制御動作を行い、逆に落射の明視野、暗
視野でＡＦスイッチ３４０が押されれば、「金属組織標
本の場合」と同じ動作で自動焦点検出を実行することに
なる。

【００９６】このような、第２の実施の形態によれば、
観察法の変更があった場合に、変更後の観察法にて観察
対象となる標本の種類に適したＡＦ制御内容に自動的に
切り換えられるので、観察法の切り換えに応じて標本を
変更した場合には最適なＡＦ制御内容に切換えることが
でき、またモード切換え作業の省力化と、切換えミスな
どの誤操作を防止できる。

【００９７】また、第２の実施の形態ではＡＦ制御モー
ドとしてモード１、モード２の２つを用意しているが、
切換えるモード数は２種類に限定されるものでは無く、
種々選択可能である。

【００９８】また、焦点検出方法として、瞳分割法など
光路差以外のものにも適用することができる。また、ア
クティブ方式とパッシブ方式等焦点検出方法自体を切り
換えられるようにしてもよい。さらに、ステージ駆動方
式として、対物レンズ上下方式等他の部位を駆動するよ
うにしてもよい。観察法として、透過／落射の同時観察
も制御方法切換え対象とすることができる。本発明は上
記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨
を逸脱しない範囲内で種々変形実施可能である。

【００９９】

【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、使
用される標本により、自動焦点検出に係る制御内容を切
り換えて制御することができ、標本に合わせた最適な自
動焦点検出動作が選択できる。これにより、顕微鏡、標
本破損の危険が無くなり、操作性が良い顕微鏡を達成で
きる。

【０１００】また、本発明によれば、使用される観察法
に応じて自動焦点検出に係る制御内容を切り換えること
で、自動焦点検出動作の選択作業を省力化でき、更に操
作性の優れた顕微鏡が達成できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の実施の形態に係る顕微鏡装置の全体構成
図である。

【図２】後ピン像と前ピン像のコントラストと特性を示
す図である。

【図３】後ピン像と前ピン像のコントラストに基づいた
Ｓカーブを示す図である。

【図４】第１の実施の形態に係る顕微鏡装置に備えた入
力装置のスイッチ構造を示す図である。

【図５】後ピン像と前ピン像のコントラスト特性に対し
てコントラスト有無を判断するためのしきい値を設定し
た状態を示す図である。

【図６】第１の実施の形態におけるＡＦ制御のフローチ
ャートである。

【図７】第２の実施の形態に係る顕微鏡システムの全体
構成図である。

【図８】第２の実施の形態に係る顕微鏡システムに備え
たコントロール部の構成図である。

【図９】第２の実施の形態に係る顕微鏡システムに備え
たメインコントロール部の構成図である。

【図１０】第２の実施の形態に係る顕微鏡システムの全
体的な動作を示すフローチャートである。

【図１１】第２の実施の形態における観察法切換処理の
フローチャートである。

【図１２】第２の実施の形態におけるＡＦ制御のフロー
チャートである。

【図１３】制御パラメータテーブルのデータ構造を示す
図である。

【図１４】ＡＦ制御モードテーブルのデータ構造を示す
図である。

【図１５】キューブ位置テーブルのデータ構造を示す図
である。

【図１６】光学素子種別テーブルのデータ構造を示す図
である。

【図１７】トップレンズ種別テーブルのデータ構造を示
す図である。

【図１８】フィルター種類−取付け位置の対応テーブル
を示す図である。

【図１９】フィルター組み合わせと光量比の対応テーブ
ルを示す図である。

【図２０】操作画面の構成図である。

【符号の説明】

１…透過用光源 ２…ステージ ３…標本 ４…対物レンズ ５…接眼レンズ ６…落射用光源 ７…落射キューブ ８…鏡筒 ９…ＣＣＤセンサ １０…結像レンズ １１…光路差分割プリズム １２…タイミングジェネレータ １３…アナログ処理部 １５…制御回路 １９…入力装置 ２０…ＡＦスイッチ ２１…ＭＯＤＥスイッチ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 対物レンズと標本との間の光軸方向の距
   離を変化させて自動的に合焦位置を検出する自動焦点検
   出機能を備えた顕微鏡システムにおいて、 合焦位置検出のための複数種の処理内容が格納された記
   憶手段と、 前記記憶手段から取り出した合焦位置検出のための処理
   内容に基づいて合焦位置を検出するための処理を実行す
   る合焦制御実行手段と、 外部から与えられる選択条件に基づいて前記合焦制御実
   行手段で使用する合焦位置検出のための処理内容を切換
   える制御内容切換手段とを具備したことを特徴とする顕
   微鏡システム。
2. 【請求項２】 指示された観察法に合わせて観察条件を
   自動的に再設定する観察法自動切換え機能と、対物レン
   ズと標本との間の光軸方向の距離を変化させて自動的に
   合焦位置を検出する自動焦点検出機能とを備えた顕微鏡
   システムにおいて、 合焦位置検出のための複数種の処理内容が格納された記
   憶手段と、 前記記憶手段から取り出した合焦位置検出のための処理
   内容に基づいて合焦位置を検出するための処理を実行す
   る合焦制御実行手段と、 観察法に応じて前記合焦制御実行手段で使用する合焦位
   置検出のための処理内容を切換える制御内容切換手段と
   を具備したことを特徴とする顕微鏡システム。
3. 【請求項３】 請求項２記載の顕微鏡システムにおい
   て、 合焦位置検出のための処理内容に対応した複数の制御モ
   ードと観察法の種類との対応を管理するモード管理テー
   ブルを備え、前記制御内容切換手段が前記モード管理テ
   ーブルを参照して観察法に対応した処理内容を認識でき
   るようにしたことを特徴とする顕微鏡システム。