JPH0982718A - 微細金属バンプの製造方法および製造装置 - Google Patents
微細金属バンプの製造方法および製造装置Info
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Abstract
板等の電極からの接続接点(バンプ)の欠落の防止。半
導体チップに形成したバンプにインナーリードを接続す
る際のバンプからのリードの流れ落ちの防止。 【解決手段】 微細ボールを一括保持した後、半導体チ
ップ、フィルムキャリアあるいは基板等の電極上に一括
して仮固定し、しかる後、そのボールを一括押圧してボ
ールの押圧される面を平坦にすると同時に電極上に接合
してバンプを形成する微細金属バンプの製造方法および
半導体製造装置。
Description
するための微細バンプの製造方法およびその装置に関す
るものである。
フィルムキャリアのインナーリードあるいは基板等の電
極の接合は、300μm以下の狭接合ピッチの多ピンパ
ッケージやエリア実装パッケージに有利である。従来か
らバンプの形成法としては、メッキプロセスよりなるウ
ェハバンプ法やボールボンディングしたワイヤをネック
部で切断して形成するスタッドバンプ法がある。
7号明細書参照)は上記の方法に較べ、量産性および信
頼性に優れたバンプの製造方法である。微細ボールバン
プ法では半導体チップ、フィルムキャリアあるいは基板
等の電極に対応した吸着孔を持つ配列基板に微細金属ボ
ールを一括して吸引して保持し、しかる後、前記微細金
属ボールと前記電極の位置合わせを行い、しかる後、前
記微細金属ボールを押圧しながら前記電極上に一括接合
してバンプを形成する。この時、接合性を確保するため
に半導体チップ、フィルムキャリアあるいは基板等の温
度を上げても良いとしている。
細ボールバンプ法ではバンプの頭が球状なので、例えば
TAB等のフィルムキャリアのインナーリードと半導体
チップに形成したバンプを押圧接合する際に、インナー
リードが流れてしまい接合不良が発生するという問題が
あった。さらに配列基板として吸着孔を持つものを使用
した場合、吸着孔に保持したボールを電極に押しつけて
接合する際に圧力をかけ過ぎると吸着孔にボールが食い
込んでしまうためバンプを電極上に形成できず欠落が発
生するという問題があった。食い込みを抑制するには低
圧で押圧する方法があるが、この場合は電極とボールの
十分な接合がとれずバンプを形成したチップ等を搬送す
る際にバンプが脱落してしまう。
は基板等の電極に十分な接合を確保しつつその頭が平坦
でかつ吸着孔へのボールの食い込みを防止した微細金属
バンプの製造方法と半導体製造装置を提供する。
を半導体チップ、フィルムキャリアあるいは基板等の電
極に対応させて配列基板に一括して保持し、前記配列基
板に保持した前記微細金属ボールと前記電極の位置合わ
せを行い、しかる後、前記微細金属ボールを前記電極に
一括して軽く押圧して仮固定し、その後、前記仮固定し
た微細金属ボールを押圧して、微細金属ボールの前記押
圧される面を平坦にすると同時に前記電極上に接合する
ことを特徴とする。
プ、フィルムキャリアあるいは基板等の電極に対応させ
て配列基板に一括して保持する機構と、前記配列基板に
保持した前記微細金属ボールと前記電極の位置合わせを
行う機構と、前記微細金属ボールを前記電極に一括して
軽く押圧して仮固定する機構と、前記仮固定した微細金
属ボールを押圧接合する機構を有することを特徴とする
半導体製造装置である。
体チップ、フィルムキャリアあるいは基板等の電極(こ
こで電極とはインナーリードを含むものとする)に対応
させて配列基板に一括して保持する。しかる後、配列基
板に保持した微細金属ボールと電極の位置合わせを行
い、しかる後、微細金属ボールを電極に一括して軽く押
圧して仮固定し、その後、仮固定した微細金属ボールを
押圧して、微細金属ボールの押圧される面を平坦にする
と同時に電極上に接合する。
は、配列基板を利用しても良い。例えば微細金属ボール
を保持する方法として電極に対応した吸着孔を持つ配列
基板に背面より吸引して一括保持させた場合、仮固定し
た後に配列基板の開孔部をずらし同じ配列基板で押圧し
て接合しても良い。このようにして形成された微細バン
プは電極材に強固に固定されており搬送中に脱落が生じ
ることがない。さらにバンプの頭(押圧される面)が平
坦なのでTABのインナーリードと接合する際にもリー
ドの位置ずれを起こさずに固定できる。形成したバンプ
の形状は微細金属ボールの押圧される面が平坦であれば
良い。例えば断面積が楕円形であったり、図2に示すよ
うに側面が膨らみ樽状になったりしても良い。
するために、押圧専用基板を使用することもできる。こ
の場合、押圧専用基板としては平坦面を持つものや図3
に示すような凹部35を持つものが使用できる。凹部を
持つ押圧基板を使用した場合、微細金属ボールは押圧専
用基板34に形成した凹部35構造にしたがって、電極
からの位置ずれなしに変形されつつ電極と接合される。
図4には凹部35を持つ加圧専用基板34とそれを使用
して形成したバンプの例を示す。凹部の形状は電極上に
形成されるバンプの押圧専用基板で押圧される面が平坦
になるものであれば良く、図4の円錐台状なものに関わ
らず任意の形状をとれるし、所望のバンプの大きさや形
状に合わせて設計することもできる。
際には、その荷重をボール1ケ当たり1〜30gに設定
する。この時、微細金属ボールはわずかに変形して電極
と弱く接合することで電極への仮固定が可能となる。し
かる後、押圧して電極に強固に接合する際には、その荷
重をボール1ケ当たり10〜100gに設定する。軽く
押圧する際、あるいは押圧する際に電極の形成された半
導体チップ、フィルムキャリア、あるいは基板の温度を
100〜500℃に加熱しておくと、より低圧での接合
が可能となり生産性が向上する。加熱方法は半導体チッ
プ、フィルムキャリアあるいは基板を加熱しても良い
し、配列基板や押圧専用基板で加熱しても良い。さらに
軽く押圧する際、あるいは押圧する際に、加熱に併用し
て超音波等の振動を印加すると、加熱温度や押圧時の圧
力を低くしつつ十分な接合を確保することができる。
産性を考慮すると微細金属ボールバンプ法による接合は
0.3mm以下の電極ピッチで有利である。この時、微細
金属ボールとしては直径100μm以下のものを使用す
る。このようなボールを押圧して押圧される面を平坦に
すると、例えば、断面積は150μm以下、高さは10
0μm以下の円柱状の形状となる。微細金属ボールとし
ては直径のばらつきがほとんどないものを使用するた
め、ボールを配列した時点でボールの高さは一様に揃っ
ている。従来の技術で述べたワイヤを切断するスタッド
バンプ法では、ワイヤを切断して電極上にバンプを形成
した後、バンプの高さを一様にする目的でその頭を加圧
成形するが、本発明によるバンプの製造方法はボールの
高さを揃えることを目的としたものではない。
気伝導性を持ち電気接続接点として使用できれば良い。
例えば、AuあるいはPt等の貴金属を主成分としたも
の、CuやAlを主成分としたもの、あるいは半田等の
低融点金属や合金等を使用できる。
ば、セラミックス(ガラス、アルミナ等、チッ化硼素、
チッ化珪素等、炭化珪素等)、耐熱性プラスチック、金
属(ステンレス等)が使用できる。バンプを形成する電
極を持つ基板としてはガラスエポキシ、ガラス、セラミ
ックス等よりなるプリント基板あるいはポリイミド等よ
りなるフレキシブル基板等のいずれでも使用できる。
方法を実現するために以下の機構を基本として構成され
る。 1.微細金属ボールを搭載容器から、吸引力、静電気
力、あるいは磁気力等により配列基板の電極に対応した
位置に一括して保持する機構。 2.画像処理等によって配列基板に保持した微細金属ボ
ールと電極の各々の位置を認識し、両者を一致させる機
構。 3.支持台上に設置した半導体チップ、フィルムキャリ
ア、あるいは基板の電極に、配列基板に保持した微細金
属ボールを、配列基板で微細金属ボールを軽く押圧し一
括して仮固定する機構。 4.仮固定した微細金属ボールを配列基板あるいは押圧
専用基板で微細金属ボールを押圧して電極に強固に接合
する機構。
気等で転写すべきボール以外の余分なボールが配列基板
やそれに保持されたボールに付着する場合がある。この
傾向はボール径が300μm以下になると現れやすく、
特にその径が150μm以下で著しくなる。このような
場合は本半導体製造装置の配列基板を保持する配列ヘッ
ドに、特開平7−226425号公報に開示されている
ような超音波振動による余分ボール除去機構を加えるこ
とによって、余分ボールを回避することができる。
仮固定する機構は、押圧して強固に接合する機構を兼ね
ても良いし独立であっても良い。両者を独立に稼働させ
た場合、装置のスループットが向上して生産性が上が
る。この他に、バンプを形成する際の加熱機構や超音波
印加機構等を付設しても良いし、半導体チップ、フィル
ムキャリア、あるいは基板の搬送入機構を付設しても良
い。以上説明したように、本発明によって微細金属バン
プを形成すれば電極からのバンプの脱落やバンプからの
インナーリードの流れ落ちがない。
方法を示してある。以下に図面を参照しながら詳細に説
明する。 (a)直径45μmの微細なAuを主成分とするボール
11を配列基板31で一括保持する。配列基板にはボー
ル径よりも小さな30μm径の孔32が開けてあり、ボ
ール11は配列基板背面より吸引によってこの孔に保持
されている。 (b)配列基板31を半導体チップ21の上に移動し、
ボール11との電極22の位置を合わせる。 (c)保持したボール11を支持台33の上に置かれた
チップ電極21に向かって下降させ、ボール1ケ当たり
10gの荷重で押圧する。 (d)ボール11を一括して仮固定し、配列基板を上昇
させる。 (e)配列基板31の開孔部をずらす。 (f)配列基板31を仮固定したボール12に向かって
下降させ、開孔部とは異なる平坦な部分で仮固定したボ
ール12を1ケ当たり30gの荷重で押圧する。 (g)ボールの押圧された面が平坦なバンプ13を形成
し、配列基板31を退避させる。
350℃に加熱してある。形成した微細金属バンプの断
面図を図2に示す。バンプの断面直径は55μmで高さ
は20μmの樽状の形状であった。バンプは電極材のA
lとAl−Au系合金を形成し強固に接合し欠落はな
い。このようなバンプ付きチップを搬送してもバンプの
脱落はなかった。さらにこのチップをフィルムキャリア
のインナーリードに接合したところリードの流れ落ちは
皆無であった。
バンプの他の製造方法を示してある。以下に図面を参照
しながら詳細に説明する。 (h)直径50μmの微細なPtを主成分とするボール
11を配列基板31で一括保持する。配列基板31には
ボール径よりも小さな35μm径の孔32が開けてあり
ボールは基板背面よりの吸引でこの孔32に保持されて
いる。 (i)配列基板31を半導体チップ21上に移動し、ボ
ール11との電極22の位置を合わせる。 (j)保持したボール11を支持台33の上に置かれた
チップ電極21に向かって下降させ、保持したボール1
1を電極22にボール1ケ当たり15gの荷重で押圧す
る。 (k)ボール11を電極22に一括して仮固定し、配列
基板31を退避させる。 (l)凹部35を持つ押圧専用基板34を仮固定したボ
ール12上に移動する。 (m)押圧専用基板34の凹部35と仮止固定したボー
ル12の位置を合わせる。 (n)押圧専用基板を下降させ、ボール1ケ当たり50
gの荷重で押圧する。 (o)円錐台状のバンプ14を形成し、押圧専用基板3
4を退避させる。
0℃に加熱してある。本発明によるチップの電極22の
上に、押圧専用基板34で形成した円錐台状のバンプの
断面図を図4に示す。バンプは電極材と強固に接合し欠
落はない。このような上面が平坦な円錐台状バンプ付き
チップを搬送してもバンプの脱落はなかった。さらにこ
のチップをフィルムキャリアのインナーリードに接合し
たところリードの流れ落ちは皆無であった。
導体チップ、フィルムキャリア、あるいは基板の電極
に、その電極と強固に接合されかつ頭(押圧される面)
の平坦な微細金属バンプを形成できる。このようなバン
プを使用すれば電極部からの欠落を防ぎ、フィルムキャ
リアと接合する際にバンプからのリードの流れ落ちも発
生しない。本発明によれば、面積の極めて小さな電子部
品を高い信頼性と生産性で実装できる。
模式的に示す図。
に示す図。
模式的に示す図。
Claims (6)
- 【請求項1】 微細金属ボールを半導体チップ、フィル
ムキャリアあるいは基板等の電極に対応させて配列基板
に一括して保持し、しかる後、前記配列基板に保持した
前記微細金属ボールと前記電極の位置合わせを行い、そ
の後、前記微細金属ボールを前記電極に一括して軽く押
圧して仮固定し、しかる後、前記仮固定した微細金属ボ
ールを押圧して、微細金属ボールの前記押圧される面を
平坦にすると同時に前記電極上に接合することを特徴と
する微細金属バンプの製造方法。 - 【請求項2】 微細金属ボールを、半導体チップ、フィ
ルムキャリアあるいは基板等の電極に対応した吸引孔を
持つ配列基板で吸引して一括保持し、しかる後、前記配
列基板に保持した前記微細金属ボールと前記電極の位置
合わせを行い、その後、前記微細金属ボールを前記電極
に一括して軽く押圧して仮固定し、しかる後、前記仮固
定した微細金属ボールを、前記配列基板の開孔部とは異
なる平坦な部分で押圧して、微細金属ボールの前記押圧
される面を平坦にすると同時に前記電極上に接合するこ
とを特徴とする請求項1記載の微細金属バンプの製造方
法。 - 【請求項3】 請求項1において、微細金属ボールを仮
固定した後、押圧して電極上に接合する際に、配列基板
とは異なる凹部を持つ押圧専用基板で押圧して前記電極
上に接合することを特徴とする微細金属バンプの製造方
法。 - 【請求項4】 微細金属ボールを半導体チップ、フィル
ムキャリアあるいは基板等の電極に対応させて配列基板
に一括して保持する機構と、前記配列基板に保持した前
記微細金属ボールと前記電極の位置合わせを行う機構
と、前記微細金属ボールを前記電極に一括して軽く押圧
して仮固定する機構と、前記仮固定した微細金属ボール
を押圧して、微細金属ボールの前記押圧される面を平坦
にすると同時に前記電極上に接合する機構を有すること
を特徴とする微細金属バンプの製造装置。 - 【請求項5】 微細金属ボールを半導体チップ、フィル
ムキャリアあるいは基板等の電極に対応した吸引孔を持
つ配列基板で吸引して一括保持する機構と、前記配列基
板に保持した前記微細金属ボールと前記電極の位置合わ
せを行う機構と、前記微細金属ボールを前記電極に一括
して軽く押圧して仮固定する機構と、前記仮固定した微
細金属ボールを前記配列基板の開孔部とは異なる平坦な
部分で押圧して、微細金属ボールの前記押圧される面を
平坦にすると同時に前記電極上に接合する機構を有する
有することを特徴とする微細金属バンプの製造装置。 - 【請求項6】 微細金属ボールを半導体チップ、フィル
ムキャリアあるいは基板等の電極に対応させて配列基板
に一括して保持する機構と、前記配列基板に保持した前
記微細金属ボールと前記電極の位置合わせを行う機構
と、前記微細金属ボールを前記電極に一括して軽く押圧
して仮固定する機構と、前記仮固定した微細金属ボール
を前記配列基板とは異なる凹部を持つ押圧専用基板を用
いて押圧して前記電極上に接合する機構を有することを
特徴とする微細金属バンプの製造装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/678,474 US5765744A (en) | 1995-07-11 | 1996-07-09 | Production of small metal bumps |
JP18100396A JP3429953B2 (ja) | 1995-07-11 | 1996-07-10 | 微細金属バンプの製造方法および製造装置 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17521795 | 1995-07-11 | ||
JP7-175217 | 1995-07-11 | ||
US08/678,474 US5765744A (en) | 1995-07-11 | 1996-07-09 | Production of small metal bumps |
JP18100396A JP3429953B2 (ja) | 1995-07-11 | 1996-07-10 | 微細金属バンプの製造方法および製造装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0982718A true JPH0982718A (ja) | 1997-03-28 |
JP3429953B2 JP3429953B2 (ja) | 2003-07-28 |
Family
ID=27324067
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18100396A Expired - Fee Related JP3429953B2 (ja) | 1995-07-11 | 1996-07-10 | 微細金属バンプの製造方法および製造装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5765744A (ja) |
JP (1) | JP3429953B2 (ja) |
Cited By (8)
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US8238613B2 (en) | 2003-10-14 | 2012-08-07 | Thomson Licensing | Technique for bit-accurate film grain simulation |
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- 1996-07-10 JP JP18100396A patent/JP3429953B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5765744A (en) | 1998-06-16 |
JP3429953B2 (ja) | 2003-07-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20030415 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090516 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090516 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100516 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110516 Year of fee payment: 8 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110516 Year of fee payment: 8 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110516 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120516 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130516 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140516 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |