JPH0968319A - 調理器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 マイクロコンピュータで使用するプログラム
またはデータを記憶させたメモリが正常であるか否かの
チェックを、使用者宅で使用されるようになってからも
実行可能にして、マイクロコンピュータの誤動作を防止
する。 【解決手段】 本発明の調理器は、所定時期または設定
時間毎にＲＯＭ内におけるプログラムまたはデータを記
憶している記憶領域を単位領域に区分すると共に上記憶
領域の全ての単位領域のデータ内容を合計し、そして、
この合計値とＲＯＭに予め記憶されている検査用合計値
とを比較し、この比較結果が不一致であるときに、即
ち、ＲＯＭのデータ内容が異常であるときにエラー処理
を行うように構成したものである。これによって、調理
器が使用者宅で使用されるようになってからも、ＲＯＭ
の内容が正常であるか否かのチェックが自動的に実行さ
れるようになる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロコンピュ
ータにより調理運転を制御するように構成された調理器
に関する。

【０００２】

【発明が解決しようとする課題】例えばヒータ付き電子
レンジにおいては、重量センサやガスセンサや温度セン
サ等からの検知信号に基づいてマイクロコンピュータに
よってマグネトロンやヒータ等を駆動制御することによ
り食品を自動的に加熱調理するように構成されている。
上記マイクロコンピュータは、内蔵するＲＯＭ内に記憶
しているプログラムに基づいて上記加熱調理運転を実行
している。ここで、ＲＯＭに記憶させたプログラムが正
常であるか否かのチェックは、工場においてマイクロコ
ンピュータを実装したプリント配線基板の製造が完了し
たときに１回実行されるだけであった。即ち、ヒータ付
き電子レンジが使用者宅で使用されるようになってから
は、上記ＲＯＭのチェックが実行されることはなかっ
た。

【０００３】しかしながら、ヒータ付き電子レンジを長
期間使用していると、ＲＯＭに記憶させたプログラムの
内容が一部変化してしまうことが稀にある。特に、１回
だけデータを書き込み可能なＲＯＭ（ＯＴＰ−ＥＰＲＯ
Ｍ）を使用するＯＴＰマイクロコンピュータの場合、加
熱調理実行時の熱の影響等により上記ＲＯＭの内容が一
部変化してしまうことがあった。このような場合、マイ
クロコンピュータが誤動作するため、加熱調理運転が正
常に実行されないおそれがあった。

【０００４】そこで、本発明の目的は、マイクロコンピ
ュータで使用するプログラムまたはデータを記憶させた
メモリの内容が正常であるか否かのチェックを、使用者
宅で使用されるようになってからも実行可能に構成し
て、マイクロコンピュータの誤動作を確実に防止するこ
とができる調理器を提供するにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明の調理器は、調理
運転を制御するマイクロコンピュータと、このマイクロ
コンピュータで使用するプログラムまたはデータを記憶
するメモリと、所定時期または設定時間毎に前記メモリ
内における前記プログラムまたは前記データを記憶して
いる記憶領域を単位領域に区分すると共にこれら全ての
単位領域のデータ内容を合計する演算手段と、この演算
手段により演算された合計値と、前記メモリに予め記憶
されている検査用合計値とを比較する比較手段と、この
比較手段による比較結果が不一致であるときにエラー処
理を行うエラー処理手段とを備えて成るところに特徴を
有する。

【０００６】上記構成によれば、演算手段により所定時
期または設定時間毎にメモリ内におけるプログラムまた
はデータを記憶している記憶領域を単位領域に区分する
と共にこれら全ての単位領域のデータ内容を合計し、そ
して、比較手段により上記合計値とメモリに予め記憶さ
れている検査用合計値とを比較し、この後、エラー処理
手段により上記比較手段の比較結果が不一致であるとき
に、即ち、メモリのデータ内容が異常であるときにエラ
ー処理を行うようにした。これによって、使用者宅で使
用されるようになってからも、メモリの内容が正常であ
るか否かのチェックが実行されるようになる。そして、
メモリのデータ内容が異常であることが検知されたとき
には、適切なエラー処理が行われるから、マイクロコン
ピュータの誤動作を防止することができるのである。

【０００７】また、上記構成の場合、エラー処理手段に
よって、比較手段による比較結果が不一致であることが
所定回数連続したときに、メモリが異常であることを報
知するように構成することが好ましい。この構成の場
合、使用者は上記異常報知によりメモリが異常であるこ
とを速やかに認識することができ、調理運転の実行を止
めると共に、修理に出す等の処置を行うことができる。

【０００８】更に、演算手段によって、メモリ内におけ
るプログラムまたはデータを記憶している記憶領域を複
数の分割領域に分割し、各分割領域毎に合計値を算出
し、そして、比較手段によって、上記複数の分割領域の
各合計値と、メモリに予め記憶されている上記複数の分
割領域に対応する各検査用合計値とを比較するように構
成することが良い構成である。このように構成すると、
各合計値を算出するのに要する時間を、分割しないとき
よりも短縮することができ、メモリのチェック時間を短
くし得る。

【０００９】また、演算手段、比較手段及びエラー処理
手段を構成するメモリチェックプログラムを記憶するチ
ェックプログラム記憶領域を、メモリ内に２か所設け、
これら２か所のチェックプログラム記憶領域に記憶され
たメモリチェックプログラムを交互に動作させるように
構成することも好ましい。

【００１０】更に、メモリ内におけるプログラムまたは
データを記憶している記憶領域を２つの領域に分け、第
１の領域のデータ内容だけをチェックする第１のメモリ
チェックプログラムを第２の領域内に記憶させると共
に、第２の領域のデータ内容だけをチェックする第２の
メモリチェックプログラムを第１の領域内に記憶させる
ように構成することも良い構成である。

【００１１】一方、ＲＯＭコレクションデータ及びこの
ＲＯＭコレクションデータの検査用合計値を記憶する不
揮発性メモリを備えると共に、ＲＡＭを備え、そして、
不揮発性メモリに記憶されたＲＯＭコレクションデータ
及び検査用合計値を読出してＲＡＭへ書き込んだとき
に、ＲＡＭに書き込まれたＲＯＭコレクションデータの
合計値を求め、この求めた合計値とＲＡＭに書き込まれ
た検査用合計値とが一致したときだけＲＯＭコレクショ
ン機能の動作を許可するように構成することが一層好ま
しい構成である。この構成の場合、設定時間毎に、ＲＡ
Ｍに書き込まれたＲＯＭコレクションデータの合計値を
求め、この求めた合計値とＲＡＭに書き込まれた検査用
合計値とが不一致である場合、不揮発性メモリに記憶さ
れたＲＯＭコレクションデータ及び検査用合計値を再び
読出してＲＡＭへ書き込むように構成することがより一
層良い。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、本発明をヒータ付き電子レ
ンジに適用した第１の実施例について図１ないし図４を
参照しながら説明する。まず、ヒータ付き電子レンジの
電気的構成を概略的に示す図３において、マイクロコン
ピュータ１は、ヒータ付き電子レンジの調理運転を制御
する機能を有しており、そのためのプログラムを内蔵Ｒ
ＯＭ２内に記憶している。このマイクロコンピュータ１
が、演算手段、比較手段及びエラー処理手段の各機能を
有する構成となっている。そして、マイクロコンピュー
タ１は、上記ＲＯＭ２の他にＲＡＭ３を内蔵している。

【００１３】ここで、上記ＲＯＭ２は、例えばマスクＲ
ＯＭ、ＰＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ、ＯＴＰ−ＥＰＲＯＭ等か
ら構成されている。そして、このＲＯＭ２の記憶領域
は、図４に示すように構成されており、そのアドレス０
番地からアドレスＰＲＧＥＮＤ番地までの記憶領域にマ
イクロコンピュータ１で使用するプログラム及びＲＯＭ
データが記憶されていると共に、アドレスＲＯＭＥＮＤ
番地の記憶領域（例えば２バイトの領域）に検査用合計
値（チェックサム）が記憶されている。

【００１４】この検査用合計値は、上記プログラム及び
ＲＯＭデータが記憶領域に正常に記憶されている状態
で、その記憶領域を単位領域である例えば１バイトに区
分すると共にこれら全ての１バイトのデータ内容を合計
した合計値、即ち、正常合計値のことである。そして、
本実施例の場合、上記正常合計値のうちの例えば下位２
バイトのデータを検査用合計値として上記ＲＯＭＥＮＤ
番地の記憶領域内に記憶（格納）させている。

【００１５】また、マイクロコンピュータ１は、ヒータ
付き電子レンジの加熱室内にマイクロ波を供給して食品
をレンジ調理するマイクロ波発振装置４を駆動制御する
ように構成されている。このマイクロ波発振装置４は、
例えばマグネトロンとこのマグネトロンを駆動する駆動
回路とから構成されている。更に、マイクロコンピュー
タ１は、加熱室内の食品をヒータ調理するヒータ加熱装
置５を駆動制御するように構成されている。このヒータ
加熱装置５は、加熱室の天井部に配設された上部平面ヒ
ータ、加熱室の底面部に配設された下部平面ヒータ、加
熱室の背面部に配設され該加熱室内に熱風を循環供給す
る熱風供給ユニット、並びに、これらヒータ及びユニッ
トを駆動する駆動回路から構成されている。

【００１６】そして、マイクロコンピュータ１は、操作
パネルに配設された各種の表示器６を駆動制御するよう
に構成されている。上記表示器６としては、調理時間や
時刻や調理の種類や調理メニュー等を表示するものが設
けられている。また、マイクロコンピュータ１は、操作
パネルに配設された各種のキースイッチ７からのスイッ
チ信号及び各種のセンサ８からの検知信号を受けるよう
に構成されている。上記キースイッチ７としては、調理
開始スイッチ、調理メニュー選択スイッチ、時間設定ス
イッチ、時刻設定スイッチ、取消スイッチ等が設けられ
ている。上記センサ８としては、食品の重量を検知する
重量センサ、食品から発生する水蒸気等のガスを検知す
るガスセンサ、食品から発生するアルコールを検知する
アルコールセンサ、食品の形状等を検知する光センサ等
が設けられている。

【００１７】また、マイクロコンピュータ１は、不揮発
性メモリとして例えばＥＥＰＲＯＭ９内に記憶されてい
るデータを読み込むと共に、該ＥＥＰＲＯＭ９内にデー
タを書き込むことが可能に構成されている。上記ＥＥＰ
ＲＯＭ９内には、ＲＯＭコレクション用データ及びこの
ＲＯＭコレクション用データの検査用合計値（チェック
サム）が予め記憶されている。上記ＲＯＭコレクション
用データとは、マイクロコンピュータ１が実行するプロ
グラム（ＲＯＭ２に記憶されているもの）のうちの所定
の一部分を変更するためのプログラム、即ち、変更用プ
ログラムのことである。

【００１８】この場合、マイクロコンピュータ１は、Ｅ
ＥＰＲＯＭ９内のＲＯＭコレクションデータを読み出し
てＲＡＭ３に書き込んだ後において、ＲＯＭ２に記憶さ
れたプログラムのうちの所定の一部分を実行するとき
に、プログラム変更指令が与えられていると、上記所定
の一部分に変えてＲＡＭ３に書き込んだＲＯＭコレクシ
ョンデータ（変更用プログラム）を実行するように構成
されている。

【００１９】次に、上記構成の作用、特にはＲＯＭ２内
のプログラム及びデータをチェックする動作について図
１及び図２も参照して説明する。この図１及び図２に示
すフローチャートは、ＲＯＭ２内に記憶されたプログラ
ムのうちの主としてＲＯＭ２をチェックするための制御
部分（即ち、チェックプログラム）の内容を概略的に示
すものである。

【００２０】まず、ヒータ付き電子レンジの電源プラグ
を電源コンセントに差し込み接続して電源を投入する
と、図１のステップＳ１に示すように、初期化処理が実
行される。続いて、ＲＯＭ２をチェックする処理が実行
される（ステップＳ２）。このＲＯＭチェック処理は、
図２に示すようなサブルーチンとして定義されている。
具体的には、まず、電源投入から或いは前回ＲＯＭチェ
ックしてから、設定時間である例えば１時間が経過した
か否かを判断する（ステップＳ１０１）。ここで、１時
間が経過していなければ、ステップＳ１０１にて「Ｎ
Ｏ」へ進み、上記サブルーチンを抜け出して図１のステ
ップＳ３へ進み、通常の処理を実行するようになってい
る。

【００２１】この通常の処理では、使用者による調理メ
ニューや調理時間等の設定操作が可能であると共に、上
記設定操作の後、調理開始操作が行われると、マイクロ
コンピュータ１により加熱調理運転が開始されて自動的
に実行されるように構成されている。そして、ステップ
Ｓ２へ戻り、上記ＲＯＭチェック処理と上記通常の処理
が繰り返し実行される構成となっている。

【００２２】さて、電源投入から或いは前回ＲＯＭチェ
ックしてから１時間が経過すると、ＲＯＭチェック処理
のステップＳ１０１（図２参照）にて「ＹＥＳ」へ進
み、ＲＯＭ２の記憶領域のうちのアドレス０番地からア
ドレスＰＲＧＥＮＤ番地までの記憶領域のデータ内容を
合計する（ステップＳ１０２）。この場合、上記アドレ
ス０番地からアドレスＰＲＧＥＮＤ番地までの記憶領域
を単位領域である例えば１バイトに区分すると共に、上
記記憶領域内の全ての１バイトのデータ内容を合計する
計算を行うように構成されている。そして、この計算を
実行するに際しては、合計値（合計結果）としては、下
位２バイトのデータだけを残すように計算している。

【００２３】続いて、上述したようにして計算された合
計値と、上記ＲＯＭ２のアドレスＲＯＭＥＮＤ番地の記
憶領域（２バイト領域）内に記憶されている検査用合計
値（チェックサム）とが等しいか否かを判断する（ステ
ップＳ１０３）。ここで、計算された合計値と検査用合
計値とが等しい場合には、ＲＯＭ２内のデータ内容（プ
ログラム及びＲＯＭデータ）が正常であると判断するこ
とができる。そして、この等しい場合には、ステップＳ
１０３にて「ＹＥＳ」へ進み、上記１時間の経過を計時
するタイマ（マイクロコンピュータ１の内蔵タイマ）を
リセットして再び計時開始する（ステップＳ１０４）。
続いて、ＲＯＭチェックのサブルーチンを抜け出して図
１のステップＳ３へ進むように構成されている。

【００２４】一方、ステップＳ１０３において、計算さ
れた合計値と検査用合計値とが等しくない場合には、何
等かの原因でＲＯＭ２内のデータ内容（プログラム及び
ＲＯＭデータ）が変化している、即ち、ＲＯＭ２が異常
であると判断することができる。そして、この異常の場
合には、ステップＳ１０３にて「ＮＯ」へ進み、ＲＯＭ
２内のデータ内容が異常であることを報知し（ステップ
Ｓ１０５）、このエラー報知状態で停止するように構成
されている。尚、上記エラー報知としては、例えば操作
パネルの表示器６にＲＯＭ２内のデータ内容が異常であ
る旨を示すメッセージまたはエラーコードを表示すると
共に、必要に応じてブザーを鳴動させるように構成され
ている。

【００２５】このような構成の本実施例によれば、マイ
クロコンピュータ１によって、１時間毎にＲＯＭ２内に
おけるプログラム及びＲＯＭデータを記憶している記憶
領域（０番地からＰＲＧＥＮＤ番地までの記憶領域）を
１バイトに区分すると共にこれら全ての１バイトのデー
タ内容を合計し、そして、この合計値とＲＯＭ２のＲＯ
ＭＥＮＤ番地に予め記憶されている検査用合計値とを比
較し、この比較結果が不一致であるときに、即ち、ＲＯ
Ｍ２のデータ内容が異常であるときにエラー報知するよ
うに構成した。これによって、電子レンジが使用者宅で
使用されるようになってからも、ＲＯＭ２の内容が正常
であるか否かのチェックが実行されるようになる。そし
て、ＲＯＭ２のデータ内容が異常であることが検知され
たときには、その旨が報知される。このため、使用者は
上記ＲＯＭ異常が発生した電子レンジの使用を止めて修
理に出すことが可能になるから、マイクロコンピュータ
１が誤動作してしまうことを確実に防止することができ
る。

【００２６】尚、上記実施例では、電源投入から或いは
前回ＲＯＭチェックしてから設定時間である例えば１時
間毎にＲＯＭ２をチェックする構成としたが、これに限
られるものではなく、１時間未満或いは１時間を越える
適当な時間毎にＲＯＭ２をチェックする構成としても良
い。また、上記実施例では、設定時間毎にＲＯＭ２をチ
ェックする構成としたが、これに代えて、所定時期であ
る例えば電源投入時または調理開始時等にＲＯＭ２をチ
ェックするように構成しても良い。

【００２７】図５は本発明の第２の実施例を示すもので
あり、第１の実施例と異なるところを説明する。尚、第
１の実施例と同一処理ステップ及び同一判断ステップに
は同一ステップ符号を付している。上記第２の実施例で
は、ＲＯＭ２をチェックするサブルーチンにおいて、計
算された合計値と検査用合計値とが一致しないこと、即
ち、ＲＯＭ２内のデータ内容が変化していることが所定
回数（例えば５回）連続したときにＲＯＭ２内のデータ
内容が異常であることを報知するようにしている。

【００２８】具体的には、図５に示すように、ステップ
Ｓ１０１からステップＳ１０３までは第１の実施例と同
様に実行される。そして、ステップＳ１０３において、
計算された合計値と検査用合計値とが等しい場合には、
ステップＳ１０３にて「ＹＥＳ」へ進み、エラー回数を
カウントするカウンタを零クリアすると共に、１時間の
経過を計時するタイマをリセットして再び計時開始する
（ステップＳ１１１）。続いて、ＲＯＭチェックのサブ
ルーチンを抜け出して図１のステップＳ３へ進むように
構成されている。

【００２９】一方、ステップＳ１０３において、計算さ
れた合計値と検査用合計値とが等しくない場合（即ち、
ＲＯＭ２内のデータ内容が異常である場合）には、ステ
ップＳ１０３にて「ＮＯ」へ進み、エラー回数をカウン
トするカウンタをカウントアップする（ステップＳ１１
２）。続いて、上記カウンタのカウント値が「５」であ
るか否かを判断する（ステップＳ１１３）。ここで、カ
ウンタのカウント値が「５」でなければ、ステップＳ１
１３にて「ＮＯ」へ進み、ＲＯＭチェックのサブルーチ
ンを抜け出して図１のステップＳ３へ進むように構成さ
れている。これに対して、ステップＳ１１３において、
カウンタのカウント値が５であった場合（ＲＯＭ２内の
データ内容の異常が５回連続したとき）、ステップＳ１
１３にて「ＹＥＳ」へ進み、ＲＯＭ２内のデータ内容が
異常であることを報知し（ステップＳ１０５）、このエ
ラー報知状態で停止するように構成されている。

【００３０】上述した以外の第２の実施例の構成は第１
の実施例の構成と同じ構成となっている。従って、上記
第２の実施例においても、第１の実施例と同様な作用効
果を得ることができる。特に、第２の実施例では、ＲＯ
Ｍ２内のデータ内容の異常を５回連続して検知したとき
にＲＯＭ２の異常を報知する構成としたので、ＲＯＭ２
内のデータ内容に本当に異常があるときだけ異常を報知
することができる。換言すると、ＲＯＭ２内のデータ内
容が正常であってＲＯＭ２内のデータをマイクロコンピ
ュータ１のレジスタに読み込む際に、ノイズ等の影響に
より一時的に読み込みエラーが発生したような場合（再
度読み込めばエラーが発生しないような場合）には、異
常を報知することがないから、異常報知の信頼性を高く
することができる。

【００３１】図６及び図７は本発明の第３の実施例を示
すものであり、第１の実施例と異なるところを説明す
る。尚、第１の実施例と同一構成には同一符号を付すと
共に、第１の実施例と同一処理ステップ及び同一判断ス
テップには同一ステップ符号を付している。上記第３の
実施例では、図６に示すように、ＲＯＭ２の記憶領域の
うちのアドレス０番地からアドレスＰＲＧＥＮＤ番地ま
での記憶領域（マイクロコンピュータ１で使用するプロ
グラム及びＲＯＭデータを記憶した領域）を３個の分割
領域１、２、３に分割している。そして、これら３個の
分割領域１、２、３に対応する各検査用合計値（チェッ
クサム１、２、３）を、アドレスＰＲＧＥＮＤの次の番
地からアドレスＲＯＭＥＮＤ番地までの記憶領域（例え
ば２×３バイトの領域）に記憶させている。

【００３２】次に、ＲＯＭ２をチェックするサブルーチ
ンを示す図７において、ステップＳ１０１までは第１の
実施例と同様に実行される。そして、ステップＳ１０１
において、電源投入から或いは前回ＲＯＭチェックして
から１時間が経過した場合、ステップＳ１０１にて「Ｙ
ＥＳ」へ進み、チェックする分割領域を示す領域カウン
タが「１」であるか否かを判断する（ステップＳ１２
１）。この場合、初期化処理で上記領域カウンタが
「１」に初期化されているので、ステップＳ１２１にて
「ＹＥＳ」へ進み、ＲＯＭ２の第１の分割領域１のデー
タ内容を合計する（ステップＳ１２２）。この場合、上
記第１の分割領域１を１バイトに区分すると共に、上記
領域１内の全ての１バイトのデータ内容を合計する計算
を行うと共に、合計値としては下位２バイトのデータだ
けを残すようにしている。

【００３３】続いて、上記領域カウンタを「２」に設定
する（ステップＳ１２３）。そして、上述したようにし
て計算された合計値１と、上記ＲＯＭ２内に予め記憶さ
れているチェックサム１（検査用合計値）とを比較する
（ステップＳ１２４）。続いて、この比較結果が「等し
い」か否かを判断する（ステップＳ１２５）。ここで、
比較結果が等しい場合には、ＲＯＭ２の分割領域１内の
データ内容（プログラム及びＲＯＭデータ）が正常であ
ると判断することができる。そして、この等しい場合に
は、ステップＳ１２５にて「ＹＥＳ」へ進み、１時間の
経過を計時するタイマをリセットして再び計時開始する
（ステップＳ１０４）。続いて、ＲＯＭチェックのサブ
ルーチンを抜け出して図１のステップＳ３へ進むように
構成されている。

【００３４】一方、ステップＳ１２５において、比較結
果が等しくない場合には、ＲＯＭ２の分割領域１内のデ
ータ内容が異常であるから、ステップＳ１２５にて「Ｎ
Ｏ」へ進み、ＲＯＭ２内のデータ内容が異常であること
を報知し（ステップＳ１０５）、このエラー報知状態で
停止するように構成されている。

【００３５】次に、ＲＯＭ２の第２の分割領域２内のデ
ータ内容をチェックする場合について説明する。この場
合、領域カウンタが「２」であるから、図７のステップ
Ｓ１２１にて「ＮＯ」へ進み、領域カウンタが「２」で
あるか否かを判断し（ステップＳ１２６）、該ステップ
Ｓ１２６にて「ＹＥＳ」へ進み、ＲＯＭ２の第２の分割
領域２のデータ内容を合計する（ステップＳ１２７）。
続いて、上記領域カウンタを「３」に設定する（ステッ
プＳ１２８）。そして、上述したようにして計算された
合計値２と、上記ＲＯＭ２内に予め記憶されているチェ
ックサム２（検査用合計値）とを比較する（ステップＳ
１２９）。続いて、この比較結果が「等しい」か否かを
判断する（ステップＳ１２５）。

【００３６】ここで、比較結果が等しい場合には、ＲＯ
Ｍ２の分割領域２内のデータ内容（プログラム及びＲＯ
Ｍデータ）が正常であると判断することができ、一方、
比較結果が等しくない場合には、ＲＯＭ２の分割領域２
内のデータ内容が異常であると判断することができる。
これ以降の処理は前述した第１の分割領域１をチェック
する場合と同じである。

【００３７】次に、ＲＯＭ２の第３の分割領域３内のデ
ータ内容をチェックする場合について説明する。この場
合、領域カウンタが「３」であるから、図７のステップ
Ｓ１２１及びステップＳ１２６にてそれぞれ「ＮＯ」へ
進み、ＲＯＭ２の第３の分割領域３のデータ内容を合計
する（ステップＳ１３０）。続いて、上記領域カウンタ
を「１」に設定する（ステップＳ１３１）。そして、上
述したようにして計算された合計値３と、上記ＲＯＭ２
内に予め記憶されているチェックサム３（検査用合計
値）とを比較する（ステップＳ１３２）。続いて、この
比較結果が「等しい」か否かを判断する（ステップＳ１
２５）。

【００３８】ここで、比較結果が等しい場合には、ＲＯ
Ｍ２の分割領域３内のデータ内容が正常であると判断す
ることができ、一方、比較結果が等しくない場合には、
ＲＯＭ２の分割領域３内のデータ内容が異常であると判
断することができる。これ以降の処理は前述した第１ま
たは第２の分割領域１、２をチェックする場合と同じで
ある。以下、３つの分割領域１、２、３の各チェックが
１時間毎に１つずつ逐次実行されるように構成されてい
る。尚、上述した以外の第３の実施例の構成は第１の実
施例の構成と同じ構成となっている。従って、第３の実
施例においても、第１の実施例と同様な作用効果を得る
ことができる。特に、第３の実施例では、ＲＯＭ２の記
憶領域を３つの分割領域１、２、３に分割し、１時間毎
にそのうちの１つの分割領域をチェックするように構成
したので、１時間毎にチェックに要する時間を短縮する
ことができる。

【００３９】尚、上記実施例では、ＲＯＭ２の記憶領域
を３つの分割領域１、２、３に分割する構成としたが、
これに限られるものではなく、２つまたは４つ以上の分
割領域に分割するように構成しても良い。

【００４０】図８ないし図１０は本発明の第４の実施例
を示すものであり、第１の実施例と異なるところを説明
する。尚、第１の実施例と同一構成には同一符号を付す
と共に、第１の実施例と同一処理ステップ及び同一判断
ステップには同一ステップ符号を付している。上記第４
の実施例では、図８に示すように、ＲＯＭ２の記憶領域
のうちのアドレス０番地からアドレスＰＲＧＥＮＤ番地
までの記憶領域を２個の分割領域１、２に分割し、第１
の分割領域１にメインプログラム及びＲＯＭデータを記
憶させ、第２の分割領域２にインターバルタイマ割込で
動作する割込プログラムを記憶させるように構成してい
る。

【００４１】そして、これら２個の分割領域１、２に対
応する各検査用合計値（各２バイトのデータからなるチ
ェックサム１、２）を、アドレスＰＲＧＥＮＤの次の番
地からアドレスＲＯＭＥＮＤ番地までの記憶領域（例え
ば２×２バイトの領域）に記憶させている。この場合、
メインプログラムは、第２の分割領域２のデータ内容を
チェックする第２のメモリチェックプログラムを有する
構成となっている。また、割込プログラムは、第１の分
割領域１のデータ内容をチェックする第１のメモリチェ
ックプログラムを有する構成となっている。

【００４２】次に、ＲＯＭ２の第２の分割領域２をチェ
ックする第２のメモリチェックプログラム（サブルーチ
ン）を示す図９において、ステップＳ１０１までは第１
の実施例と同様に実行される。そして、ステップＳ１０
１において、電源投入から或いは前回ＲＯＭチェックし
てから１時間が経過した場合、ステップＳ１０１にて
「ＹＥＳ」へ進み、ＲＯＭ２の第２の分割領域２のデー
タ内容を合計する（ステップＳ１４１）。この場合、上
記第２の分割領域２を１バイトに区分すると共に、上記
領域２内の全ての１バイトのデータ内容を合計する計算
を行うと共に、合計値としては下位２バイトのデータだ
けを残して保存するようにしている。

【００４３】続いて、上述したようにして計算された合
計値と、上記ＲＯＭ２内に予め記憶されているチェック
サム２（検査用合計値）とが等しいか否かを判断する
（ステップＳ１４２）。ここで、等しい場合には、ＲＯ
Ｍ２の分割領域２内のデータ内容が正常であると判断す
ることができ、ステップＳ１４２にて「ＹＥＳ」へ進
み、１時間の経過を計時するタイマをリセットして再び
計時開始する（ステップＳ１０４）。続いて、分割領域
２チェックの第２のメモリチェックプログラムのサブル
ーチンを抜け出して図１のステップＳ３へ進むように構
成されている。

【００４４】一方、ステップＳ１４２において、合計値
とチェックサム２とが等しくない場合には、ＲＯＭ２の
第２の分割領域２内のデータ内容が異常であるから、ス
テップＳ１４２にて「ＮＯ」へ進み、ＲＯＭ２内のデー
タ内容が異常であることを報知し（ステップＳ１０
５）、このエラー報知状態で停止するように構成されて
いる。

【００４５】次に、ＲＯＭ２の第１の分割領域１内のデ
ータ内容をチェックする場合について説明する。この場
合、インターバルタイマ割込で動作する割込プログラム
内の第１のメモリチェックプログラムによってチェック
処理が実行されるように構成されている。具体的には、
インターバルタイマ割込が発生すると、図１０に示すよ
うに、ステップＳ２０１において電源投入から或いは前
回ＲＯＭチェックしてから１時間が経過したか否かの判
断を行う。ここで、１時間が経過していない場合には、
ステップＳ２０１にて「ＮＯ」へ進み、通常の割込処理
を実行するように構成されている（ステップＳ２０
２）。

【００４６】さて、上記ステップＳ１０１において１時
間が経過した場合、「ＹＥＳ」へ進み、ＲＯＭ２の第１
の分割領域１のデータ内容を合計する（ステップＳ２０
３）。この場合、上記第１の分割領域１を１バイトに区
分すると共に、上記領域１の全ての１バイトのデータ内
容を合計する計算を行うと共に、合計値としては下位２
バイトのデータだけを残すようにしている。続いて、上
述したようにして計算された合計値と、上記ＲＯＭ２内
に予め記憶されているチェックサム１（検査用合計値）
とが「等しい」か否かを判断する（ステップＳ２０
４）。ここで、等しい場合には、ＲＯＭ２の分割領域１
内のデータ内容が正常であると判断することができ、ス
テップＳ２０４にて「ＹＥＳ」へ進み、１時間の経過を
計時するタイマをリセットして再び計時開始する（ステ
ップＳ２０５）。続いて、通常の割込処理を実行するよ
うに構成されている（ステップＳ２０２）。

【００４７】一方、ステップＳ２０４において、合計値
とチェックサム１とが等しくない場合には、ＲＯＭ２の
分割領域１内のデータ内容が異常であるから、ステップ
Ｓ２０４にて「ＮＯ」へ進み、ＲＯＭ２内のデータ内容
が異常であることを報知し（ステップＳ２０６）、この
エラー報知状態で停止するように構成されている。尚、
上述した以外の第４の実施例の構成は第１の実施例の構
成と同じ構成となっている。従って、第４の実施例にお
いても、第１の実施例と同様な作用効果を得ることがで
きる。特に、第４の実施例では、メインプログラムと割
込プログラムとで交互に他方のプログラムが記憶された
分割領域をチェックする構成としたので、いずれか一方
のメモリチェックプログラムが記憶された分割領域にメ
モリ異常が発生した場合でも、他方のメモリチェックプ
ログラムによりメモリ異常が発生した分割領域を確実に
チェックして異常を報知することができる。

【００４８】尚、上記第４の実施例では、ＲＯＭ２内を
メインプログラムを記憶する領域１と割込プログラムを
記憶する領域２とに分割する構成としたが、これに代え
て、ＲＯＭ２内を２つの領域に分割し、各分割領域内に
それぞれＲＯＭ２全体をチェックするメモリチェックプ
ログラムを記憶させ、これら２つのメモリチェックプロ
グラムを交互に動作させてＲＯＭ２をチェックするよう
に構成しても良い。この構成の場合も、２つのメモリチ
ェックプログラムが記憶されている２つの記憶領域が同
時に異常となることは非常に少ないから、正常な記憶領
域に存在するメモリチェックプログラムによりＲＯＭ２
を確実にチェックして異常を報知することができる。

【００４９】図１１及び図１２は本発明の第５の実施例
を示すものであり、第１の実施例と異なるところを説明
する。尚、第１の実施例と同一構成には同一符号を付す
と共に、第１の実施例と同一処理ステップ及び同一判断
ステップには同一ステップ符号を付している。上記第５
の実施例では、電源投入時の初期化処理において、ＥＥ
ＰＲＯＭ９からＲＯＭコレクション用データを読み込ん
でＲＡＭ３に書き込んだときに、書き込んだ（読み込ん
だ）ＲＯＭコレクション用データが正しいか否かをチェ
ックする処理を実行するように構成されている。

【００５０】具体的には、ヒータ付き電子レンジの電源
プラグを電源コンセントに差し込み接続して電源を投入
すると、図１２のステップＳ３０１に示すように、通常
の初期化処理が実行される。この通常の初期化処理は、
第１の実施例の初期化処理（図１のステップＳ１）の中
から、「ＥＥＰＲＯＭ９からＲＯＭコレクション用デー
タを読み込んでＲＡＭ３に書き込む処理」を除いた初期
化処理である。続いて、ＥＥＰＲＯＭ９からＲＯＭコレ
クション用データ及びその検査用合計値（例えば２バイ
トのデータからなるチェックサム）を読出してＲＡＭ３
に書き込む処理が実行される（ステップＳ３０２）。
尚、この場合、ＲＯＭコレクション用データ及びその検
査用合計値（チェックサム）は、ＲＡＭ３の記憶領域の
一部分に図１１に示すように記憶される構成となってい
る。

【００５１】続いて、ＲＡＭ３の記憶領域のうちのＲＯ
Ｍコレクション用データが記憶された記憶領域のデータ
内容を合計する（ステップＳ３０３）。この場合、上記
記憶領域を単位領域である例えば１バイトに区分すると
共に、上記記憶領域内の全ての１バイトのデータ内容を
合計する計算を行うように構成されている。更に、この
計算を実行する場合、合計値としては下位２バイトのデ
ータだけを残すように構成されている。そして、上述し
たようにして計算された合計値と、上記ＲＡＭ３に記憶
されている検査用合計値（チェックサム）とが等しいか
否かを判断する（ステップＳ３０４）。

【００５２】ここで、計算された合計値と検査用合計値
とが等しい場合には、ＲＡＭ３内のＲＯＭコレクション
用データの内容が正常であると判断することができ、こ
の場合には、ステップＳ３０４にて「ＹＥＳ」へ進み、
ＲＯＭコレクション用データを使用することが許可され
る（ステップＳ３０５）。この後は、前述したＲＯＭ２
をチェックする処理（ステップＳ２）及び通常の処理
（ステップＳ３）が逐次実行されるように構成されてい
る。

【００５３】一方、ステップＳ３０４において、計算さ
れた合計値と検査用合計値とが等しくない場合には、Ｒ
ＡＭ３内のＲＯＭコレクション用データの内容が異常で
あると判断することができ、この場合には、ステップＳ
３０４にて「ＮＯ」へ進み、ＲＯＭコレクション用デー
タを使用することが禁止される（ステップＳ３０６）。
続いて、ＲＯＭコレクション用データの内容が異常であ
ることを表示するメッセージまたはエラーコードを表示
器６に表示して上記異常を報知するように構成されてい
る（ステップＳ３０７）。そして、この場合、ＲＯＭコ
レクション用データを使用しなくても、マイクロコンピ
ュータ１はＲＯＭ２内のプログラムに基づいて加熱調理
運転を実行することが可能であるから、上記ステップＳ
３０７の後は、前述したＲＯＭ２をチェックする処理
（ステップＳ２）及び通常の処理（ステップＳ３）を逐
次実行するように構成されている。

【００５４】尚、上述した以外の第５の実施例の構成は
第１の実施例の構成と同じ構成となっている。従って、
上記第５の実施例においても、第１の実施例と同様な作
用効果を得ることができる。特に、第５の実施例では、
ＥＥＰＲＯＭ９からＲＯＭコレクション用データをＲＡ
Ｍ３に読み込んだときに、読み込んだＲＯＭコレクショ
ン用データが正しいか否かをチェックする構成としたの
で、ＥＥＰＲＯＭ９内のＲＯＭコレクション用データが
変化したか否か、即ち、ＥＥＰＲＯＭ９のデータ内容が
異常になったか否かを判断することができる。そして、
ＥＥＰＲＯＭ９内のＲＯＭコレクション用データが変化
した場合には、そのＲＯＭコレクション用データの使用
を禁止する構成としたので、加熱調理運転時にマイクロ
コンピュータ１が誤動作することを確実に防止すること
ができる。

【００５５】図１３及び図１４は本発明の第６の実施例
を示すものであり、第１の実施例と異なるところを説明
する。尚、第１の実施例と同一構成には同一符号を付す
と共に、第１の実施例と同一処理ステップ及び同一判断
ステップには同一ステップ符号を付している。上記第６
の実施例では、電源投入時の初期化処理においてＥＥＰ
ＲＯＭ９からＲＡＭ３に読み込んだＲＯＭコレクション
用データを設定時間毎に正常であるか否かをチェックす
る処理を実行するように構成されている。

【００５６】具体的には、ヒータ付き電子レンジの電源
プラグを電源コンセントに差し込み接続して電源を投入
すると、図１３に示すように、初期化処理が実行される
（ステップＳ１）。この初期化処理により、ＥＥＰＲＯ
Ｍ９からＲＯＭコレクション用データ及びその検査用合
計値（チェックサム）を読み込んでＲＡＭ３に書き込む
処理が実行される。続いて、ＲＡＭ３に読み込んだ（書
き込んだ）ＲＯＭコレクション用データをチェックする
処理（ステップＳ４０１）が実行される。

【００５７】このＲＡＭ３のチェック処理は、図１４に
示すようなサブルーチンとして定義されている。具体的
には、まず、電源投入から或いは前回ＲＡＭチェックし
てから設定時間である例えば１時間が経過したか否かを
判断する（ステップＳ４１１）。ここで、１時間が経過
していなければ、ステップＳ４１１にて「ＮＯ」へ進
み、上記サブルーチンを抜け出して図１３のステップＳ
２へ進み、ＲＯＭ２をチェックする処理（ステップＳ
２）を実行すると共に、通常の処理（ステップＳ３）を
実行するように構成されている。そして、ステップＳ４
０１へ戻り、上記ＲＡＭチェック処理と上記ＲＯＭチェ
ック処理と通常の処理とが繰り返し実行される構成とな
っている。

【００５８】さて、電源投入から或いは前回ＲＡＭチェ
ックしてから１時間が経過すると、ＲＡＭチェック処理
のサブルーチンのステップＳ４１１（図１４参照）にて
「ＹＥＳ」へ進む。続いて、ＲＡＭ３の記憶領域のうち
のＲＯＭコレクション用データが記憶された記憶領域の
データ内容を合計する（ステップＳ４１２）。この場
合、上記記憶領域を単位領域である例えば１バイトに区
分すると共に、上記記憶領域内の全ての１バイトのデー
タ内容を合計する計算を行うように構成されている。更
に、この計算を実行する場合、合計値としては下位２バ
イトのデータだけを残すように構成されている。続い
て、上述したようにして計算された合計値と、上記ＲＡ
Ｍ３に記憶されている検査用合計値（２バイトのチェッ
クサム）とが等しいか否かを判断する（ステップＳ４１
３）。

【００５９】ここで、計算された合計値と検査用合計値
とが等しい場合には、ＲＡＭ３に記憶されたＲＯＭコレ
クション用データの内容が正常であると判断することが
でき、この場合には、ステップＳ４１３にて「ＹＥＳ」
へ進み、上記１時間の経過を計時するタイマ（マイクロ
コンピュータ１の内蔵タイマ）をリセットして再び計時
開始する（ステップＳ４１４）。続いて、ＲＡＭチェッ
クのサブルーチンを抜け出して図１３のステップＳ２へ
進むように構成されている。

【００６０】一方、ステップＳ４１３において、計算さ
れた合計値と検査用合計値とが等しくない場合には、何
等かの原因でＲＡＭ３内のデータ内容（ＲＯＭコレクシ
ョン用データ）が変化している、即ち、異常であると判
断することができる。そして、この異常の場合には、ス
テップＳ４１３にて「ＮＯ」へ進み、再びＥＥＰＲＯＭ
９（不揮発性メモリ）からＲＯＭコレクション用データ
及びその検査用合計値（チェックサム）を読出してＲＡ
Ｍ３に書き込む（読み込む）処理が実行されるように構
成されている（ステップＳ４１５）。続いて、上記１時
間の経過を計時するタイマをリセットして再び計時開始
した後（ステップＳ４１４）、ＲＡＭチェックのサブル
ーチンを抜け出して図１３のステップＳ２へ進むように
構成されている。

【００６１】尚、上述した以外の第６の実施例の構成は
第１の実施例の構成と同じ構成となっている。従って、
第６の実施例においても、第１の実施例と同様な作用効
果を得ることができる。特に、第６の実施例では、ＥＥ
ＰＲＯＭ９からＲＡＭ３に読み込んだＲＯＭコレクショ
ン用データが正しいか否かを設定時間（１時間）毎にチ
ェックする構成としたので、例えばマイクロコンピュー
タ１の誤動作等によりＲＡＭ３に読み込んだＲＯＭコレ
クション用データが変化したか否か、即ち、ＲＡＭ３の
データ内容が異常になったか否かを判断することができ
る。

【００６２】そして、ＲＡＭ３内のＲＯＭコレクション
用データが変化した場合には、再びＥＥＰＲＯＭ９から
ＲＯＭコレクション用データをＲＡＭ３に読み込むよう
に構成したので、自動的に正常なＲＯＭコレクション用
データを使用することが可能となる。これにより、加熱
調理運転時にマイクロコンピュータ１が誤動作すること
をより一層確実に防止することができる。

【００６３】尚、上記第１ないし第６の実施例では、Ｒ
ＯＭ２またはＲＡＭ３内の記憶領域のデータ内容の合計
を計算する場合、記憶領域を１バイト単位で区切って全
データを加算して合計を求めるように構成したが、これ
に限られるものでなく、記憶領域を２バイト単位または
３バイト単位以上で区切って全データを加算して合計を
求めるように構成しても良い。この構成の場合、区切っ
た単位記憶領域に対応する検査用合計値（チェックサ
ム）を予め準備してＲＯＭ２またはＥＥＰＲＯＭ９に記
憶させておけば良い。

【００６４】図１５及び図１６は本発明の第７の実施例
を示すものであり、第５の実施例と異なるところを説明
する。尚、第５の実施例と同一処理ステップ及び同一判
断ステップには同一ステップ符号を付している。上記第
７の実施例は、第５の実施例に対して、ＥＥＰＲＯＭ９
からＲＯＭコレクション用データをＲＡＭ３に読み込む
際に読み込みエラー（即ち、データ転送エラー）が発生
したか否かをチェックする処理を追加したものである。
そして、図１５及び図１６に示すフローチャートは、Ｅ
ＥＰＲＯＭ９内のＲＯＭコレクション用データを１ワー
ド（２バイト）ずつ読み出してＲＡＭ３に書き込んで
（保存して）いく処理の詳細な制御内容を示している。

【００６５】まず、図１５に示すステップＳ３０１まで
は第５の実施例と同様に実行される。続いて、ＲＡＭ３
のチェックサム（検査用合計値）検査用エリア（本実施
例の場合、２バイトのデータ）をクリアする（ステップ
Ｓ５０１）。続いて、ＥＥＰＲＯＭ９内のＲＯＭコレク
ション用データの先頭のデータ、具体的には、ＥＥＰＲ
ＯＭ９内のアドレス３２Ｈ（「Ｈ」は１６進数を示す）
の記憶領域の１ワード（２バイト）分のデータを読み込
む（ステップＳ５０２）。このＥＥＰＲＯＭ９からデー
タを読み込む処理は、図１６に示すサブルーチンによっ
て実行されるように構成されている。

【００６６】具体的には、図１６のステップＳ６０１に
おいて、まずエラー回数カウンタを零クリアする。続い
て、指定されたアドレス（この場合、３２Ｈ）の１ワー
ド（２バイト）分のデータを１回読み込み、この読み込
んだデータ、即ち、１回目データをレジスタｅｄに保存
する（ステップＳ６０２）。そして、上記指定されたア
ドレスの１ワード分のデータを再び読み込み、この読み
込んだデータ、即ち、２回目データをレジスタｈｌに格
納されているアドレスにより示されるＲＡＭ３内のエリ
アに保存する（ステップＳ６０３）。尚、レジスタｈｌ
には、作業領域として使用可能なＲＡＭ３のエリアのア
ドレスを予め格納しておく。

【００６７】この後、読み込んだ１回目データと２回目
データとが等しいか否かを判断する（ステップＳ６０
４）。ここで、１回目データと２回目データとが等しい
場合には、読み込み（データ転送）が正常に実行された
と判断することができ、ステップＳ６０４にて「ＹＥ
Ｓ」へ進み、読み込みエラーなしのフラグを設定する
（ステップＳ６０５）。続いて、このサブルーチンを抜
けて図１５のステップＳ５０３へ進む。

【００６８】一方、１回目データと２回目データとが等
しくない場合には、読み込み（データ転送）が正常に実
行されなかったと判断することができ、ステップＳ６０
４にて「ＮＯ」へ進み、エラー回数カウンタをカウント
アップ（１加算）する（ステップＳ６０６）。続いて、
エラー回数カウンタが「３」に等しくなったか否かを判
断する（ステップＳ６０７）。この場合、エラー回数カ
ウンタはまだ「１」であるから、ステップＳ６０７にて
「ＮＯ」へ進み、ステップＳ６０２に戻って再び読み込
み処理を実行する。

【００６９】この実施例の場合、上述した連続して２回
読み込んだデータが一致しないことが３回続くと、ステ
ップＳ６０７にて「ＹＥＳ」へ進み、読み込みエラー有
りのフラグを設定するように構成されている（ステップ
Ｓ６０８）。続いて、このサブルーチンを抜けて図１５
のステップＳ５０３へ進むようになっている。

【００７０】上記ステップＳ５０３においては、ＥＥＰ
ＲＯＭ９からデータを読み込むときにエラーがあったか
否かを判断する。ここで、読み込みエラーがあった場合
には、ステップＳ５０３にて「ＹＥＳ」へ進み、ＲＯＭ
コレクション用データを使用することが禁止される（ス
テップＳ３０６）と共に、ＲＯＭコレクション用データ
の読み込み異常が発生したことを表示するメッセージま
たはエラーコードを表示器６に表示して上記異常を報知
するように構成されている（ステップＳ３０７）。そし
て、これ以降の処理は第５の実施例と同じである。

【００７１】一方、上記ステップＳ５０３において、読
み込みエラーがなかった場合には、ステップＳ５０３に
て「ＮＯ」へ進み、読み込んだデータ、即ち、ＲＯＭコ
レクション用データのデータ（１ワード単位のデータ）
の個数を示すデータをレジスタｃに格納する（ステップ
Ｓ５０４）。そして、上記読み込んだデータをチェック
サム検査用エリア内のデータに加算する（ステップＳ５
０５）。

【００７２】続いて、レジスタｈｌに、ＲＡＭ３内にお
けるＲＯＭコレクション用データを書き込む（格納す
る）エリアの先頭アドレスを格納する（ステップＳ５０
６）。更に、ＥＥＰＲＯＭ９内の読み込みアドレスを３
３Ｈに設定する（ステップＳ５０７）。そして、ＥＥＰ
ＲＯＭ９からデータを読み込むと共に、読み込んだデー
タをＲＡＭ３に書き込む処理を実行する（ステップＳ５
０８）。この処理は、図１６に示すサブルーチンによっ
て前述したようにして実行される。

【００７３】この後、上記サブルーチンを抜けてくる
と、ステップＳ５０９において、ＥＥＰＲＯＭ９からデ
ータを読み込むときにエラーがあったか否かを判断す
る。ここで、読み込みエラーがあった場合には、ステッ
プＳ５０９にて「ＹＥＳ」へ進み、ＲＯＭコレクション
用データを使用することが禁止される（ステップＳ３０
６）と共に、ＲＯＭコレクション用データの読み込み異
常が発生したことを報知するように構成されている（ス
テップＳ３０７）。これ以降の処理は第５の実施例と同
じである。

【００７４】一方、上記ステップＳ５０９において、読
み込みエラーがなかった場合には、ステップＳ５０９に
て「ＮＯ」へ進み、読み込んだデータをチェックサム検
査用エリア内のデータに加算する（ステップＳ５１
０）。続いて、レジスタｈｌ内のデータを２加算する
（ＲＡＭ３におけるＲＯＭコレクション用データを書き
込むエリアのアドレスを２バイト加算する）と共に、Ｅ
ＥＰＲＯＭ９内の読み込みアドレスを１加算する（ステ
ップＳ５１１）。更に、レジスタｃ内のデータを１減算
した後（ステップＳ５１２）、レジスタｃ内のデータが
「０」になったか否かを判断する（ステップＳ５１
３）。ここで、レジスタｃ内のデータが「０」になって
いなければ、ステップＳ５１３にて「ＮＯ」へ進み、ス
テップＳ５０８に戻って、ＥＥＰＲＯＭ９からデータを
読み込むと共に、読み込んだデータをＲＡＭ３に書き込
む処理を繰り返す。

【００７５】この後、ＲＯＭコレクション用データをす
べて読み込んでＲＡＭ３に書き込むと、レジスタｃ内の
データが「０」になるから、ステップＳ５１３にて「Ｙ
ＥＳ」へ進む。このとき、ＥＥＰＲＯＭ９内の読み込み
アドレスは、ＲＯＭコレクション用データの検査用合計
値の格納領域をポイントしているから、このままの状態
でＥＥＰＲＯＭ９からデータ（検査用合計値）を読み込
むと共に、読み込んだデータ（検査用合計値）をＲＡＭ
３に書き込む処理を実行する（ステップＳ５１４）。こ
の処理は、図１６に示すサブルーチンによって前述した
ようにして実行される。

【００７６】この後、上記サブルーチンを抜けてくる
と、ステップＳ５１５において、ＥＥＰＲＯＭ９からデ
ータを読み込むときにエラーがあったか否かを判断す
る。ここで、読み込みエラーがあった場合には、ステッ
プＳ５１５にて「ＹＥＳ」へ進み、ＲＯＭコレクション
用データを使用することが禁止される（ステップＳ３０
６）と共に、ＲＯＭコレクション用データの読み込み異
常が発生したことを報知するように構成されている（ス
テップＳ３０７）。これ以降の処理は第５の実施例と同
じである。

【００７７】一方、上記ステップＳ５１５において、読
み込みエラーがなかった場合には、ステップＳ５１５に
て「ＮＯ」へ進み、読み込んだデータである検査用合計
値がチェックサム検査用エリア内のデータ（計算した合
計値）に等しいか否かを判断する（ステップＳ５１
６）。ここで、等しい場合には、ステップＳ５１６にて
「ＹＥＳ」へ進み、ＲＯＭコレクション用データを使用
することが許可される（ステップＳ３０５）。一方、等
しくない場合には、ステップＳ５１６にて「ＮＯ」へ進
み、ＲＯＭコレクション用データを使用することが禁止
される（ステップＳ３０６）と共に、ＥＥＰＲＯＭ９内
のＲＯＭコレクション用データに異常があること（また
はＲＯＭコレクション用データの読み込み異常が発生し
たこと）を報知するように構成されている（ステップＳ
３０７）。これ以降の処理は第５の実施例と同じであ
る。

【００７８】尚、上述した以外の第７の実施例の構成は
第５の実施例の構成と同じ構成となっている。従って、
第７の実施例においても、第５の実施例と同様な作用効
果を得ることができる。特に、第７の実施例では、ＥＥ
ＰＲＯＭ９からＲＯＭコレクション用データをＲＡＭ３
に読み込むときに、読み込みエラー（即ち、データ転送
エラー）が発生したか否か判断する処理を追加する構成
としたので、読み込みエラーを速やかに且つ確実に検出
することができる。

【００７９】また、上記第１ないし第７の実施例では、
不揮発性メモリとしてＥＥＰＲＯＭ９を用いたが、これ
に限られるものではなく、ＥＰＲＯＭやワンタイムＲＯ
Ｍ（ＯＴＰ−ＰＲＯＭ）を用いる構成としても良い。更
に、上記各実施例では、ヒータ付き電子レンジに適用し
たが、電気オーブンや炊飯器やクッキングヒータ等に適
用しても良い。

【００８０】

【発明の効果】本発明は、以上の説明から明らかなよう
に、演算手段により所定時期または設定時間毎にメモリ
内におけるプログラムまたはデータを記憶している記憶
領域を単位領域に区分すると共に上記憶領域の全ての単
位領域のデータ内容を合計し、そして、比較手段により
上記合計値とメモリに予め記憶されている検査用合計値
とを比較し、この後、エラー処理手段により上記比較手
段の比較結果が不一致であるときに、即ち、メモリのデ
ータ内容が異常であるときにエラー処理を行うように構
成したので、調理器が使用者宅で使用されるようになっ
てからも、メモリの内容が正常であるか否かのチェック
が自動的に実行されるようになり、そして、メモリのデ
ータ内容が異常であることが検知されたときには、適切
なエラー処理が行われるから、マイクロコンピュータの
誤動作を確実に防止することができるという優れた効果
を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例を示すフローチャート

【図２】サブルーチンのフローチャート

【図３】ブロック図

【図４】ＲＯＭの記憶領域を示す図

【図５】本発明の第２の実施例を示す図２相当図

【図６】本発明の第３の実施例を示す図４相当図

【図７】図２相当図

【図８】本発明の第４の実施例を示す図４相当図

【図９】メインプログラム内のチェックプログラムを示
すフローチャート

【図１０】割込プログラム内のチェックプログラムを示
すフローチャート

【図１１】本発明の第５の実施例を示すもので、ＲＡＭ
の記憶エリアを示す図

【図１２】図１相当図

【図１３】本発明の第６の実施例を示す図１相当図

【図１４】図２相当図

【図１５】本発明の第７の実施例を示す図１２相当図

【図１６】サブルーチンのフローチャート

【符号の説明】

１はマイクロコンピュータ（演算手段、比較手段、エラ
ー処理手段）、２はＲＯＭ、３はＲＡＭ、６は表示器、
７はキースイッチ、９はＥＥＰＲＯＭ（不揮発性メモ
リ）を示す。

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 調理運転を制御するマイクロコンピュー
   タと、 このマイクロコンピュータで使用するプログラムまたは
   データを記憶するメモリと、 所定時期または設定時間毎に、前記メモリ内における前
   記プログラムまたは前記データを記憶している記憶領域
   を単位領域に区分すると共にこれら全ての単位領域のデ
   ータ内容を合計する演算手段と、 この演算手段により演算された合計値と前記メモリに予
   め記憶されている検査用合計値とを比較する比較手段
   と、 この比較手段による比較結果が不一致であるときにエラ
   ー処理を行うエラー処理手段とを備えて成る調理器。
2. 【請求項２】 エラー処理手段は、比較手段による比較
   結果が不一致であることが所定回数連続したときに、メ
   モリが異常であることを報知するように構成されている
   ことを特徴とする請求項１記載の調理器。
3. 【請求項３】 演算手段は、メモリ内におけるプログラ
   ムまたはデータを記憶している記憶領域を複数の分割領
   域に分割し、各分割領域毎に合計値を算出するように構
   成されていると共に、 比較手段は、前記複数の分割領域の各合計値と、前記メ
   モリに予め記憶されている前記複数の分割領域に対応す
   る各検査用合計値とを比較するように構成されているこ
   とを特徴とする請求項１または２記載の調理器。
4. 【請求項４】 演算手段、比較手段及びエラー処理手段
   を構成するメモリチェックプログラムを記憶するチェッ
   クプログラム記憶領域を、メモリ内に２か所設け、 これら２か所のチェックプログラム記憶領域に記憶され
   たメモリチェックプログラムを交互に動作させることを
   特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載の調理
   器。
5. 【請求項５】 メモリ内におけるプログラムまたはデー
   タを記憶している記憶領域を２つの領域に分け、 第１の領域のデータ内容だけをチェックする第１のメモ
   リチェックプログラムを第２の領域内に記憶させると共
   に、第２の領域のデータ内容だけをチェックする第２の
   メモリチェックプログラムを第１の領域内に記憶させる
   ように構成したことを特徴とする請求項４記載の調理
   器。
6. 【請求項６】 ＲＯＭコレクションデータ及びこのＲＯ
   Ｍコレクションデータの検査用合計値を記憶する不揮発
   性メモリと、 ＲＡＭとを備え、 前記不揮発性メモリに記憶されたＲＯＭコレクションデ
   ータ及び検査用合計値を読出して前記ＲＡＭへ書き込ん
   だときに、前記ＲＡＭに書き込まれたＲＯＭコレクショ
   ンデータの合計値を求め、この求めた合計値と前記ＲＡ
   Ｍに書き込まれた検査用合計値とが一致したときだけＲ
   ＯＭコレクション機能の動作を許可することを特徴とす
   る請求項１記載の調理器。
7. 【請求項７】 設定時間毎に、ＲＡＭに書き込まれたＲ
   ＯＭコレクションデータの合計値を求め、この求めた合
   計値と前記ＲＡＭに書き込まれた検査用合計値とが不一
   致である場合、不揮発性メモリに記憶されたＲＯＭコレ
   クションデータ及び検査用合計値を再び読出して前記Ｒ
   ＡＭへ書き込むことを特徴とする請求項６記載の調理
   器。