JPH0961811A - 液晶パネル - Google Patents
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Abstract
れを防止してコントラストの低下を防止する。 【構成】 ゲート電極3は透明導電膜3aと金属膜3b
とによって形成される。画素電極2の外周縁部には金属
遮光膜11が形成される。その上にゲート絶縁膜4が形
成され、ゲート電極3上にi型a−Si層5とn+ 型a
−Si層6が形成される。n+ 型a−Si層6上には画
素電極2に接続されたソース電極8と信号線13に接続
されたドレイン電極7が形成される。その上に絶縁膜1
0を介して画素電極2上に開口を有する有機遮光膜9が
形成される。有機遮光膜9の開口端は金属遮光膜11上
に設定されている。
Description
特に、薄膜トランジスタを用いたアクティブマトリクス
型液晶パネルに関するものである。
は、各画素を分離してコントラストを向上させるため
に、TFT基板上あるいは対向電極基板上または両基板
上に遮光膜が形成される。図4を用いて、特開平2−1
66422号公報にて提案された、TFT基板上に遮光
膜を形成する例について説明する。
極22およびゲート絶縁膜23が形成され、その上には
アンドープアモルファスシリコン層(以下、i型a−S
i層と記す)24が形成され、さらにそのソース領域お
よびドレイン領域上にはこれらの領域とオーミックコン
タクトをとるためのリン(P)が高濃度にドープされた
アモルファスシリコン層(以下、n+ 型a−Si層と記
す)25が形成されている。ゲート絶縁膜23上にはま
たインジウム・スズ酸化物(ITO)からなる画素電極
26が形成されている。n+ 型a−Si層25上には信
号線に接続されたドレイン電極27と画素電極26に接
続されたソース電極28とが形成されている。
画素電極26上にはパッシベーション膜である絶縁膜2
9が形成されており、その上には、画素電極26上の領
域を除いて、黒色顔料を含むネガ・フォトレジストから
なる有機遮光膜30が形成されている。このTFT基板
は、対向電極の形成された対向電極基板と狭い間隙を隔
てて接着される。そして、両基板の間隙内に液晶が充填
されて、液晶パネルが製作される。
画素電極と信号線(ドレイン電極に接続されている)と
が同層に形成されているため、両者間の接触を防止する
ために画素電極を信号線から後退させて形成する必要が
あり、そのため開口率の低下を招いていた。また、画素
電極と有機遮光膜との間にすきまができると、そのすき
まの領域上の液晶を制御することができず光漏れが生じ
るため、対向電極基板上に遮光膜(ブラックマトリク
ス)を設けない場合には画素電極と有機遮光膜とをオー
バラップさせなければならないが、有機遮光膜のパター
ニング精度は数μm程度と低いため、開口率のばらつき
が大きくなるという問題点があった。さらに、有機遮光
膜は、特に現像時間が長い場合、パターン端部の形状に
荒れが起こりやすい。また、金属遮光膜と異なり十分な
遮光性を確保するためには厚い膜厚の遮光膜が必要とな
る。パターン端部に荒れが生じたりあるいは端部での段
差が大きい場合、その付近の画素電極領域内に液晶の配
向不良が生じ、黒表示時にこの部分に明点の表示が現れ
るため、コントラストの低下を招く。
は、第1に、開口率をばらつきなく大きくできるように
することであり、第2に、高いコントラスト比の液晶パ
ネルを提供しうるようにすることである。
めの本発明による液晶パネルは、第1の透明基板上
に、複数の走査線とこれと直交する複数の信号線とが形
成され、走査線と信号線とによって形成される格子目ご
とに走査線と信号線とに接続された薄膜トランジスタと
該薄膜トランジスタに接続された画素電極とが形成され
てなるTFT基板と、第2の透明基板上に対向電極が
形成されてなる対向電極基板と、が液晶を挟持して対向
配置されているものであって、前記TFT基板上の前記
画素電極と前記信号線とが絶縁膜を介して層間分離さ
れ、前記画素電極の外周縁部上にゲート電極を構成する
金属と同層の金属により第1の遮光膜が形成され、か
つ、前記画素電極上に開口端が前記第1の遮光膜上にあ
る開口が形成されている第1の遮光膜が前記TFT基板
上を被覆していることを特徴としている。
て図面を参照して説明する。図1は、本発明の第1の実
施例の平面図であり、図2はそのA−A線の断面図であ
る。図1に示されるように、走査線12と信号線13と
が直交して形成されており、走査線と信号線とによって
形成される格子目には画素電極2が形成されている。各
画素電極2は薄膜トランジスタに接続されるが、薄膜ト
ランジスタは、走査線12から突起して形成されたゲー
ト電極3と、信号線13から突起して形成されたドレイ
ン電極7と、画素電極2に接続されたソース電極8と、
i型a−Si層5を構成要素として有している。
が形成されている。また、TFT基板上は画素電極2上
に開口を有する有機遮光膜9によって被覆されている。
この有機遮光膜9の開口端は金属遮光膜11上に設定さ
れている。図2に示されるように、ゲート電極3とi型
a−Si層5との間にはゲート絶縁膜4が形成されてお
り、i型a−Si層5とドレイン電極7およびソース電
極8との間にはソース・ドレイン領域とのオーミックコ
ンタクトのためにn+ 型a−Si層6が形成されてい
る。ゲート電極3は、透明導電膜3aと金属膜3bとに
よって構成されている。
る。ガラスのような透明絶縁基板1上にITO等からな
る透明導電膜とCr等からなる金属膜を成膜し、この2
層膜をパターニングして、画素電極2、ゲート電極3お
よび走査線12を形成する。次に、画素電極2上の金属
膜を外周縁部分を残して除去して金属遮光膜11を形成
する。続いて、プラズマCVD法により、ゲート絶縁膜
4、i型a−Si層5およびn+ 型a−Si層6を連続
して成膜する。
トリソグラフィによりn+ 型a−Si層6およびi型a
−Si層5をパターニングして薄膜トランジスタ形成個
所に島状のアモルファスシリコン膜を形成する。続い
て、画素電極2上のゲート絶縁膜4を除去する。次に、
Cr等の金属膜を成膜しこれをパターニングしてドレイ
ン電極7、ソース電極8を形成するとともにドレイン電
極に接続された信号線13を形成する。続いて、露出し
たn+ 型a−Si層6をエッチング除去する。
ストを塗布し、露光・現像を行って有機遮光膜9を形成
する。この有機遮光膜は、走査線12および信号線13
を完全に覆い、画素電極2の外周縁部と一部重なり、か
つ金属遮光膜11上にパターンの端部がくるように形成
される。フォトレジストに含有される黒色の顔料には種
々の有機・無機顔料、あるいはそれらの混合物が用いら
れる。有機遮光膜は、非感光性の有機材料を用いて形成
してもよい。この場合、ポリアニリンや黒色の顔料を分
散させた有機材料を塗布・乾燥させた後、ポジ型フォト
レジストを塗布し、露光・現像を行って同時に有機遮光
膜をパターニングし、その後にフォトレジストを剥離除
去することによって形成することができる。
た後、狭い間隙を隔てて対向電極基板と接着される。そ
して、接着された両基板の間隙内に液晶が封入されて液
晶パネルに組み立てられる。なお、本実施例の液晶パネ
ルにおいては、対向電極基板側に通常形成される遮光膜
(ブラックマトリクス)は形成されていない。このよう
に構成されたTFT基板では、画素電極と信号線とが別
々の層に形成されており、画素電極を信号線の方向に広
げても信号線との短絡が起こらないため、画素電極を広
くとることができ、開口率を高くすることができる。さ
らに金属遮光膜が画素電極上にあり、その外周縁部を覆
っているので、有機遮光膜のパターンの端部付近で起こ
る配向不良をこの金属遮光膜で隠すことができ、コント
ラストの低下を抑制することができる。さらに、形成さ
れる有機遮光膜の開口パターンにばらつきがあっても開
口率にばらつきが生じることはなく均一の品質の液晶パ
ネルを提供することができる。
図である。本実施例の構造は、ドレイン電極7、ソース
電極8および信号線13と有機遮光膜9との間に絶縁膜
10が形成されている。この構造によれば、ソース電極
とドレイン電極間、および信号線間が絶縁膜10によっ
て絶縁されることになるので、抵抗が低い、カーボン・
ブラックを黒色顔料として含む有機遮光膜を形成するこ
とができ、薄い膜厚でも高い遮光性が得られるため、こ
の有機遮光膜の端部付近の段差による配向不良を低減で
きる。また、本実施例では、画素電極上の金属膜(第1
金属膜)の除去をソース・ドレイン電極を形成する第2
金属膜のパターニング時に同時に行っている。これによ
り、フォトリソグラフィ工程およびエッチング工程を先
の実施例の場合よりも少なくすることができる。
T基板は、従来同層にあった画素電極と信号線を絶縁膜
によって層間分離したものであるので、画素電極と信号
線との短絡の恐れがなくなり、画素電極を広げることが
できるため、開口率を向上させることができる。さら
に、画素電極上の外周縁部に金属遮光膜を設けたので、
有機遮光膜のパターニング精度が数μmであっても有機
遮光膜の端部は金属遮光膜上に留まり画素電極上に至る
ことはなくなる。したがって、有機遮光膜の端部に大き
な段差が形成されたりパターンに荒れが生じることがあ
っても、液晶の配向配向の乱れを金属遮光膜によって遮
光することができ、光漏れによるコントラストの低下を
防ぐことができる。さらに、開口率のばらつきを防止し
て均一の品質の液晶パネルを提供することができる。
Claims (5)
- 【請求項1】 (a)平行に形成された複数の走査線
と、これと交差して形成された複数の信号線と、走査線
と信号線とによって形成される格子目ごとに走査線と信
号線とに接続されて形成された薄膜トランジスタと、各
格子目ごとに前記薄膜トランジスタに接続されて形成さ
れた画素電極とを有するTFT基板と、(b)対向電極
を有する対向電極基板と、が液晶を挟持して対向配置さ
れている液晶パネルにおいて、前記TFT基板上の前記
画素電極と前記信号線とが絶縁膜を介して層間分離さ
れ、前記画素電極の外周縁部上に第1の遮光膜が形成さ
れ、かつ、前記画素電極上に開口端が前記第1の遮光膜
上にある開口が形成されている第2の遮光膜が前記TF
T基板上を被覆していることを特徴とする液晶パネル。 - 【請求項2】 前記第1の遮光膜が、前記ゲート電極を
構成する金属膜と同層の金属膜により形成されているこ
とを特徴とする液晶パネル。 - 【請求項3】 前記第2の遮光膜が、有機材料を主体と
する材料により形成されていることを特徴とする液晶パ
ネル。 - 【請求項4】 前記信号線および前記薄膜トランジスタ
が絶縁膜を介して前記第2の遮光膜によって被覆されて
いることを特徴とする液晶パネル。 - 【請求項5】 前記画素電極と前記信号線とが前記ゲー
ト絶縁膜により層間分離されていることを特徴とする液
晶パネル。
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Cited By (2)
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---|---|---|---|---|
KR100486686B1 (ko) * | 2002-05-17 | 2005-05-03 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치 및 그 제조방법 |
KR100646780B1 (ko) * | 1999-08-12 | 2006-11-17 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치용 박막 트랜지스터 기판 및 그 제조 방법 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3856889B2 (ja) * | 1997-02-06 | 2006-12-13 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 反射型表示装置および電子デバイス |
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TWI382264B (zh) | 2004-07-27 | 2013-01-11 | Samsung Display Co Ltd | 薄膜電晶體陣列面板及包括此面板之顯示器裝置 |
KR101610846B1 (ko) * | 2009-09-08 | 2016-04-11 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 그 제조 방법 |
KR101972463B1 (ko) * | 2011-02-18 | 2019-08-19 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기전계발광 표시장치 및 그 제조방법 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07181515A (ja) * | 1993-12-22 | 1995-07-21 | Fujitsu Ltd | 液晶表示装置の製造方法 |
Family Cites Families (3)
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---|---|---|---|---|
DE3752301T2 (de) * | 1986-11-29 | 2000-03-23 | Sharp K.K., Osaka | Verfahren zur Herstellung eines Dünnschichttransistors |
JP2514731B2 (ja) * | 1990-02-05 | 1996-07-10 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス表示装置 |
JP2518510B2 (ja) * | 1993-04-22 | 1996-07-24 | 日本電気株式会社 | 薄膜トランジスタアレイ |
-
1995
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Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07181515A (ja) * | 1993-12-22 | 1995-07-21 | Fujitsu Ltd | 液晶表示装置の製造方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100646780B1 (ko) * | 1999-08-12 | 2006-11-17 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치용 박막 트랜지스터 기판 및 그 제조 방법 |
KR100486686B1 (ko) * | 2002-05-17 | 2005-05-03 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치 및 그 제조방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW334522B (en) | 1998-06-21 |
US5723878A (en) | 1998-03-03 |
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KR970011976A (ko) | 1997-03-29 |
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