JPH0952732A - 低融点ガラス及び低融点封着用組成物 - Google Patents
低融点ガラス及び低融点封着用組成物Info
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- JPH0952732A JPH0952732A JP23349595A JP23349595A JPH0952732A JP H0952732 A JPH0952732 A JP H0952732A JP 23349595 A JP23349595 A JP 23349595A JP 23349595 A JP23349595 A JP 23349595A JP H0952732 A JPH0952732 A JP H0952732A
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- low
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C3/00—Glass compositions
- C03C3/12—Silica-free oxide glass compositions
- C03C3/14—Silica-free oxide glass compositions containing boron
- C03C3/145—Silica-free oxide glass compositions containing boron containing aluminium or beryllium
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C8/00—Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
- C03C8/24—Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions, i.e. for use as seals between dissimilar materials, e.g. glass and metal; Glass solders
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- Glass Compositions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ガラス中にF2 やTl2 Oを含有せず、しか
もPbO−B2 O3 系ガラスを用いた封着材よりも低温
で焼成可能な封着材を提供する。 【解決手段】 重量百分率でPbO 36〜60%、T
eO2 26〜44%、Ag2 O 4〜17%、B2 O
3 1〜18%、Al2 O3 1〜10%の組成を有す
る低融点ガラス55〜85体積%と、フィラー45〜1
5体積%とからなること特徴とする。
もPbO−B2 O3 系ガラスを用いた封着材よりも低温
で焼成可能な封着材を提供する。 【解決手段】 重量百分率でPbO 36〜60%、T
eO2 26〜44%、Ag2 O 4〜17%、B2 O
3 1〜18%、Al2 O3 1〜10%の組成を有す
る低融点ガラス55〜85体積%と、フィラー45〜1
5体積%とからなること特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ガラス、セラミックス
及び金属相互間の接着や封着に使用される低融点ガラス
及び低融点封着用組成物に関し、より詳しくはガラス、
セラミックス及び/又は金属で構成される電子部品の接
着や、パッケージの気密封着に使用される低融点ガラス
及び低融点封着用組成物に関するものである。
及び金属相互間の接着や封着に使用される低融点ガラス
及び低融点封着用組成物に関し、より詳しくはガラス、
セラミックス及び/又は金属で構成される電子部品の接
着や、パッケージの気密封着に使用される低融点ガラス
及び低融点封着用組成物に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来からガラス、セラミックス及び/又
は金属で構成される電子部品の接着や、パッケージの気
密封着には、PbO−B2 O3 系の低融点ガラスや、こ
れにフィラーを添加した封着用組成物が知られている。
これらの封着材は、焼成温度ができる限り低温であるこ
とが望まれるが、PbO−B2 O3 系のガラスを使用す
る場合には低温化に限界があり、焼成温度は450℃付
近である。
は金属で構成される電子部品の接着や、パッケージの気
密封着には、PbO−B2 O3 系の低融点ガラスや、こ
れにフィラーを添加した封着用組成物が知られている。
これらの封着材は、焼成温度ができる限り低温であるこ
とが望まれるが、PbO−B2 O3 系のガラスを使用す
る場合には低温化に限界があり、焼成温度は450℃付
近である。
【0003】そこで近年、PbO−B2 O3 系ガラスに
F2 やTl2 Oを含有させ、400℃以下での焼成を可
能にした封着材が開発され、実用化されている。
F2 やTl2 Oを含有させ、400℃以下での焼成を可
能にした封着材が開発され、実用化されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】F2 やTl2 Oを含有
するガラスは、焼成中にこれらの成分が揮発して電子部
品の特性を劣化させることがある。またTl2 Oは有害
物質であるため、ガラス製造時や使用時に特別の設備が
必要になる。
するガラスは、焼成中にこれらの成分が揮発して電子部
品の特性を劣化させることがある。またTl2 Oは有害
物質であるため、ガラス製造時や使用時に特別の設備が
必要になる。
【0005】本発明の目的は、ガラス中にF2 やTl2
Oを含有せず、しかもPbO−B2O3 系ガラスを用い
た封着材よりも低温で焼成可能な低融点ガラス及び低融
点封着用組成物を提供することである。
Oを含有せず、しかもPbO−B2O3 系ガラスを用い
た封着材よりも低温で焼成可能な低融点ガラス及び低融
点封着用組成物を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の低融点ガラス
は、重量百分率でPbO 36〜60%、TeO2 2
6〜44%、Ag2 O 4〜17%、B2 O3 1〜1
8%、Al2 O3 1〜10%の組成を有することを特
徴とする。
は、重量百分率でPbO 36〜60%、TeO2 2
6〜44%、Ag2 O 4〜17%、B2 O3 1〜1
8%、Al2 O3 1〜10%の組成を有することを特
徴とする。
【0007】また本発明の低融点封着用組成物は、重量
百分率でPbO 36〜60%、TeO2 26〜44
%、Ag2 O 4〜17%、B2 O3 1〜18%、A
l2O3 1〜10%の組成を有する低融点ガラス55
〜85体積%と、フィラー45〜15体積%とからなる
こと特徴とする。
百分率でPbO 36〜60%、TeO2 26〜44
%、Ag2 O 4〜17%、B2 O3 1〜18%、A
l2O3 1〜10%の組成を有する低融点ガラス55
〜85体積%と、フィラー45〜15体積%とからなる
こと特徴とする。
【0008】
【作用】本発明において、低融点ガラスの組成を上記の
ように限定した理由を以下に述べる。
ように限定した理由を以下に述べる。
【0009】PbOはガラスの骨格を形成する成分であ
り、その含有量は36〜60%、好ましくは38〜57
%である。PbOが36%より少ないとガラス化し難く
なり、また軟化点が高くなり過ぎて低温焼成が困難にな
る。PbOが60%より多いと熱膨張係数が高くなり過
ぎて好ましくない。
り、その含有量は36〜60%、好ましくは38〜57
%である。PbOが36%より少ないとガラス化し難く
なり、また軟化点が高くなり過ぎて低温焼成が困難にな
る。PbOが60%より多いと熱膨張係数が高くなり過
ぎて好ましくない。
【0010】TeO2 はガラスの骨格を形成するととも
にガラスを低融点化させる成分であり、その含有量は2
6〜44%、好ましくは28〜42%である。TeO2
が26%より少ないとその効果がなく、44%より多い
とガラスが不安定になるとともに、熱膨張係数が大きく
なり過ぎる。
にガラスを低融点化させる成分であり、その含有量は2
6〜44%、好ましくは28〜42%である。TeO2
が26%より少ないとその効果がなく、44%より多い
とガラスが不安定になるとともに、熱膨張係数が大きく
なり過ぎる。
【0011】Ag2 Oもガラスを低融点化する成分であ
り、その含有量は4〜17%、好ましくは6〜14%で
ある。Ag2 Oが4%より少ないとその効果がなく、1
7%より多いと熱膨張係数が大きくなり過ぎるととも
に、急激に結晶が析出して被封着物との濡れ性が悪くな
る。
り、その含有量は4〜17%、好ましくは6〜14%で
ある。Ag2 Oが4%より少ないとその効果がなく、1
7%より多いと熱膨張係数が大きくなり過ぎるととも
に、急激に結晶が析出して被封着物との濡れ性が悪くな
る。
【0012】B2 O3 はガラスの骨格を形成する成分で
あり、その含有量は1〜18%、好ましくは3〜16%
である。B2 O3 が1%より少ないとガラス化し難くな
り、18%より多いとガラス化し難くなるとともに化学
的耐久性が大きく低下する。
あり、その含有量は1〜18%、好ましくは3〜16%
である。B2 O3 が1%より少ないとガラス化し難くな
り、18%より多いとガラス化し難くなるとともに化学
的耐久性が大きく低下する。
【0013】Al2 O3 はガラスを安定化させる成分で
あり、その含有量は1〜10%、好ましくは3〜8%で
ある。Al2 O3 が1%より少ないとその効果がなく、
10%より多いと軟化点が高くなり過ぎる。
あり、その含有量は1〜10%、好ましくは3〜8%で
ある。Al2 O3 が1%より少ないとその効果がなく、
10%より多いと軟化点が高くなり過ぎる。
【0014】以上の組成を有する低融点ガラスは、非結
晶性であり、また軟化点や流動点が低いため低温で焼成
することが可能であるが、比較的熱膨張係数が高いため
被封着物の種類によっては熱膨張係数が整合しなかった
り、封着部分の機械的強度が不足することがある。この
ような場合、フィラーを添加してこれらの特性を改善す
ることができる。
晶性であり、また軟化点や流動点が低いため低温で焼成
することが可能であるが、比較的熱膨張係数が高いため
被封着物の種類によっては熱膨張係数が整合しなかった
り、封着部分の機械的強度が不足することがある。この
ような場合、フィラーを添加してこれらの特性を改善す
ることができる。
【0015】フィラーの添加量は、種々の条件を考慮し
て決定すればよいが、本発明の低融点封着用組成物にお
いては、低融点ガラス55〜85体積%、フィラー45
〜15体積%であることが好ましい。両者の混合割合を
このように限定した理由は、低融点ガラスが55体積%
より少ない(フィラーが45体積%より多い)と封着用
組成物の流動性が低くなり過ぎて良好な封着形状が得難
くなる。また焼成体の緻密性が損なわれ、機械的強度が
低下したり、気密封着が困難になり易い。一方低融点ガ
ラスが85体積%より多い(フィラーが15体積%より
少ない)と上記した特性を改善する効果が小さくなる。
て決定すればよいが、本発明の低融点封着用組成物にお
いては、低融点ガラス55〜85体積%、フィラー45
〜15体積%であることが好ましい。両者の混合割合を
このように限定した理由は、低融点ガラスが55体積%
より少ない(フィラーが45体積%より多い)と封着用
組成物の流動性が低くなり過ぎて良好な封着形状が得難
くなる。また焼成体の緻密性が損なわれ、機械的強度が
低下したり、気密封着が困難になり易い。一方低融点ガ
ラスが85体積%より多い(フィラーが15体積%より
少ない)と上記した特性を改善する効果が小さくなる。
【0016】フィラーとしては、種々の汎用耐火性フィ
ラーが使用できる。例えば酸化錫(SnO2 )、コージ
エライト(2MgO・2Al2 O3 ・5SiO2 )、チ
タン酸鉛(PbTiO3 )、ウイレマイト(ZnO・S
iO2 )が最適であるが、これ以外にもジルコン(Zr
SiO4 )やアルミナ(Al2 O3 )等も使用可能であ
る。
ラーが使用できる。例えば酸化錫(SnO2 )、コージ
エライト(2MgO・2Al2 O3 ・5SiO2 )、チ
タン酸鉛(PbTiO3 )、ウイレマイト(ZnO・S
iO2 )が最適であるが、これ以外にもジルコン(Zr
SiO4 )やアルミナ(Al2 O3 )等も使用可能であ
る。
【0017】
【実施例】以下、実施例に基づいて本発明を説明する。
【0018】表1及び表2は、本発明の低融点ガラス
(試料A〜J)及び従来より使用されているPbO−B
2 O3 系ガラス(試料K)を示している。
(試料A〜J)及び従来より使用されているPbO−B
2 O3 系ガラス(試料K)を示している。
【0019】
【表1】
【0020】
【表2】
【0021】各試料は次のようにして調製した。まず表
中の組成になるように酸化鉛、二酸化テルル、酸化銀、
ホウ酸、酸化アルミニウム及び二酸化ケイ素を混合し、
坩堝に入れ、750〜850℃で1時間溶融した後、ロ
ーラーで急冷してフィルム状に成型した。次にこのフィ
ルムをアルミナ製ボールミルで粉砕し、JISの100
メッシュ篩を通過させて分級し、平均粒子径が6〜7ミ
クロンのガラス粉末を得た。
中の組成になるように酸化鉛、二酸化テルル、酸化銀、
ホウ酸、酸化アルミニウム及び二酸化ケイ素を混合し、
坩堝に入れ、750〜850℃で1時間溶融した後、ロ
ーラーで急冷してフィルム状に成型した。次にこのフィ
ルムをアルミナ製ボールミルで粉砕し、JISの100
メッシュ篩を通過させて分級し、平均粒子径が6〜7ミ
クロンのガラス粉末を得た。
【0022】続いて得られたガラス粉末のガラス転移
点、軟化点、流動点を示差熱分析(DTA)によって求
めた。なお各試料のDTAプロファイルには結晶化ピー
ク温度が発現せず、何れの試料も非晶質のまま安定であ
ることが確認された。また40×4mmφに成型した試
料を用い、押棒式熱膨張計によって30〜200℃の平
均熱膨張係数を測定した。結果を表1及び表2に示す。
点、軟化点、流動点を示差熱分析(DTA)によって求
めた。なお各試料のDTAプロファイルには結晶化ピー
ク温度が発現せず、何れの試料も非晶質のまま安定であ
ることが確認された。また40×4mmφに成型した試
料を用い、押棒式熱膨張計によって30〜200℃の平
均熱膨張係数を測定した。結果を表1及び表2に示す。
【0023】表から明らかなように、本発明の実施例で
ある試料A〜Jは、ガラス転移点が285〜318℃、
軟化点が355〜385℃、流動点が387〜419℃
であり、30〜200℃における平均熱膨張係数が10
9〜148×10-7/℃であった。一方従来使用されて
いるPbO−B2 O3 系ガラス(試料K)はガラス転移
点が325℃、軟化点が400℃、流動点が431℃で
あり、平均熱膨張係数が105×10-7/℃であった。
ある試料A〜Jは、ガラス転移点が285〜318℃、
軟化点が355〜385℃、流動点が387〜419℃
であり、30〜200℃における平均熱膨張係数が10
9〜148×10-7/℃であった。一方従来使用されて
いるPbO−B2 O3 系ガラス(試料K)はガラス転移
点が325℃、軟化点が400℃、流動点が431℃で
あり、平均熱膨張係数が105×10-7/℃であった。
【0024】表3〜表6は、試料A〜Jの低融点ガラス
とフィラーを混合してなる本発明の低融点封着用組成物
(試料No.1〜20)及び試料Kとフィラーを混合し
てなる比較例(試料No.21及び22)をそれぞれ示
している。
とフィラーを混合してなる本発明の低融点封着用組成物
(試料No.1〜20)及び試料Kとフィラーを混合し
てなる比較例(試料No.21及び22)をそれぞれ示
している。
【0025】
【表3】
【0026】
【表4】
【0027】
【表5】
【0028】
【表6】
【0029】表3〜表6から明らかなように、本発明の
実施例である試料No.1〜20は、ガラス転移点が2
85〜320℃、軟化点が373〜409℃、流動点が
406〜434℃であり、30〜200℃における平均
熱膨張係数が61〜120×10-7/℃であった。一
方、比較例である試料No.21及び22は、ガラス転
移点が325℃及び324℃、軟化点が425℃及び4
19℃、流動点が445℃及び440℃であり、平均熱
膨張係数は72×10-7/℃及び90×10-7/℃であ
った。
実施例である試料No.1〜20は、ガラス転移点が2
85〜320℃、軟化点が373〜409℃、流動点が
406〜434℃であり、30〜200℃における平均
熱膨張係数が61〜120×10-7/℃であった。一
方、比較例である試料No.21及び22は、ガラス転
移点が325℃及び324℃、軟化点が425℃及び4
19℃、流動点が445℃及び440℃であり、平均熱
膨張係数は72×10-7/℃及び90×10-7/℃であ
った。
【0030】これらの事実は、本発明の低融点封着用組
成物が、ガラス中にF2 やTl2 Oを含有しないにも関
わらず、PbO−B2 O3 系ガラスを用いた封着材より
も低温で焼成可能であることを示している。
成物が、ガラス中にF2 やTl2 Oを含有しないにも関
わらず、PbO−B2 O3 系ガラスを用いた封着材より
も低温で焼成可能であることを示している。
【0031】
【発明の効果】本発明の低融点ガラス及び低融点封着用
組成物は、ガラス中にF2 やTl2 Oを含有することな
く、従来のPbO−B2 O3 系ガラスを用いた封着材よ
りも低温で焼成できる。またフィラーの種類や量を調整
することによって、機械的強度を向上させたり、熱膨張
係数をガラス、セラミックス、金属等の被封着物に整合
させることが可能である。
組成物は、ガラス中にF2 やTl2 Oを含有することな
く、従来のPbO−B2 O3 系ガラスを用いた封着材よ
りも低温で焼成できる。またフィラーの種類や量を調整
することによって、機械的強度を向上させたり、熱膨張
係数をガラス、セラミックス、金属等の被封着物に整合
させることが可能である。
【0032】それゆえ、各種電子部品の接着、表示デバ
イス本体の組み立て、ICや水晶振動子を搭載したパッ
ケージの気密封着に好適である。
イス本体の組み立て、ICや水晶振動子を搭載したパッ
ケージの気密封着に好適である。
Claims (2)
- 【請求項1】 重量百分率でPbO 36〜60%、T
eO2 26〜44%、Ag2 O 4〜17%、B2 O
3 1〜18%、Al2 O3 1〜10%の組成を有す
ることを特徴とする低融点ガラス。 - 【請求項2】 重量百分率でPbO 36〜60%、T
eO2 26〜44%、Ag2 O 4〜17%、B2 O
3 1〜18%、Al2 O3 1〜10%の組成を有す
る低融点ガラス55〜85体積%と、フィラー45〜1
5体積%とからなること特徴とする低融点封着用組成
物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23349595A JPH0952732A (ja) | 1995-08-17 | 1995-08-17 | 低融点ガラス及び低融点封着用組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23349595A JPH0952732A (ja) | 1995-08-17 | 1995-08-17 | 低融点ガラス及び低融点封着用組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0952732A true JPH0952732A (ja) | 1997-02-25 |
Family
ID=16955921
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23349595A Pending JPH0952732A (ja) | 1995-08-17 | 1995-08-17 | 低融点ガラス及び低融点封着用組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0952732A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017199661A (ja) * | 2016-04-13 | 2017-11-02 | イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニーE.I.Du Pont De Nemours And Company | 導電性ペースト組成物およびそれによって製造される半導体デバイス |
WO2018163632A1 (ja) * | 2017-03-10 | 2018-09-13 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 物理量測定装置およびその製造方法ならびに物理量測定素子 |
-
1995
- 1995-08-17 JP JP23349595A patent/JPH0952732A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017199661A (ja) * | 2016-04-13 | 2017-11-02 | イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニーE.I.Du Pont De Nemours And Company | 導電性ペースト組成物およびそれによって製造される半導体デバイス |
WO2018163632A1 (ja) * | 2017-03-10 | 2018-09-13 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 物理量測定装置およびその製造方法ならびに物理量測定素子 |
JPWO2018163632A1 (ja) * | 2017-03-10 | 2019-11-07 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 物理量測定装置およびその製造方法ならびに物理量測定素子 |
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