JPH09510949A - 基体の被覆 - Google Patents

基体の被覆

Info

Publication number
JPH09510949A
JPH09510949A JP7525307A JP52530795A JPH09510949A JP H09510949 A JPH09510949 A JP H09510949A JP 7525307 A JP7525307 A JP 7525307A JP 52530795 A JP52530795 A JP 52530795A JP H09510949 A JPH09510949 A JP H09510949A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
coating
membrane
conductive
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
JP7525307A
Other languages
English (en)
Inventor
ガノン,レイモンド・ピーター
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
University of Queensland UQ
Original Assignee
University of Queensland UQ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from AUPM4840A external-priority patent/AUPM484094A0/en
Priority claimed from AUPN0260A external-priority patent/AUPN026094A0/en
Application filed by University of Queensland UQ filed Critical University of Queensland UQ
Publication of JPH09510949A publication Critical patent/JPH09510949A/ja
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/34Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
    • C03C17/36Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
    • C03C17/3602Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer
    • C03C17/3618Coatings of type glass/inorganic compound/other inorganic layers, at least one layer being metallic
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/02Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with glass
    • C03C17/04Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with glass by fritting glass powder
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/06Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with metals
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/34Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/34Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
    • C03C17/36Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/34Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
    • C03C17/36Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
    • C03C17/3602Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer
    • C03C17/3639Multilayers containing at least two functional metal layers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/34Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
    • C03C17/36Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal
    • C03C17/3602Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer
    • C03C17/3642Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions at least one coating being a metal the metal being present as a layer the multilayer coating containing a metal layer
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/04Glass compositions containing silica
    • C03C3/062Glass compositions containing silica with less than 40% silica by weight
    • C03C3/07Glass compositions containing silica with less than 40% silica by weight containing lead
    • C03C3/072Glass compositions containing silica with less than 40% silica by weight containing lead containing boron
    • C03C3/074Glass compositions containing silica with less than 40% silica by weight containing lead containing boron containing zinc
    • C03C3/0745Glass compositions containing silica with less than 40% silica by weight containing lead containing boron containing zinc containing more than 50% lead oxide, by weight
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/12Silica-free oxide glass compositions
    • C03C3/122Silica-free oxide glass compositions containing oxides of As, Sb, Bi, Mo, W, V, Te as glass formers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4803Insulating or insulated parts, e.g. mountings, containers, diamond heatsinks
    • H01L21/481Insulating layers on insulating parts, with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4846Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6835Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68359Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used as a support during manufacture of interconnect decals or build up layers
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/20Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by affixing prefabricated conductor pattern

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 基体への被覆の適用を、中間膜を用いて行う。被覆は、一般に、導電性または半導電性であり、基体は一般にガラスである。1つの形態において、被覆は、1またはそれ以上の層で平坦な可撓性の膜に適用される。膜は続いて基体上に置かれ、その組み合わせは加熱チャンバー内で制御された条件で処理される。組み合わせは、まず、中性雰囲気で加熱されて犠牲的な膜を揮発させ、続いて、酸化および還元条件において被覆と基体との強い結合が形成されるように処理される。もう1つの形態において、犠牲的でない膜は基体と物理的および/または化学的な相溶性を有する基体接触表面を有しており、化学的にまたは熱的に処理されると、基体と結合を生じる。

Description

【発明の詳細な説明】 基体の被覆 本発明は、基体に対して1またはそれ以上の被覆の効果的な接着を形成するた めの方法に関する。特に、本発明は、非導電性基体、一般に湾曲したまたは複雑 な形状のガラス上に、導電性または半導電性被覆を形成することを目的とするが 、この特定の用途に本発明は限定されない。 発明の背景 金属または導電性フィルムがガラスまたはその他の非導電性基体に適用される 最もよく知られている工業的方法、例えば鏡の工業的な製造において、フィルム の接着特性は(利点であるが)あまり重要ではない。その後の金属または有機物 質の被覆によって、フィルムはフィルムの接着性の低下を引き起こし得る損傷か ら保護される。 他の被覆方法、例えばプリント回路基板の保護などにおいて行われる方法では 、金属被覆を、被覆に機械的定着をもたらすように調製されたプラスチック、セ ラミックまたは他の非導電性基体上に付着させる。そのような表面を調製するの に、エッチングまたはサンドブラスチングなどを用いることが必要とされること もある。これらの基体上への金属の付着を促すために、気相および化学的還元剤 を使用してもよい。 真空蒸着およびスパッタリングは、基体上にそのような被覆を形成する他の既 知の方法である。これらの方法において、基体と被覆との間の界面は一般に異質 であり、多くの場合に弱い相互接着を形成する。これらの方法によっても、限ら れた厚さの被覆しか形成されない。 他の既知の方法、例えば、エレクトロニクス産業のための半導体部品の製造に 用いられるような方法においては、選ばれた基体表面への半導電性および/また は導電性フィルムの移行は首尾よく達成されている。表面移行プロセスによって 製造されるフィルムは、一般に、良好な相対結合強度を示す。しかしながら、こ れらのフィルムのその後の機能は表面接着の機械的強度に必ずしも依存しないの で、このことはあまり利点とはならないことが多い。 そのようなフィルムの主たる問題点は、厚さを増大させたり、または表面移行 フィルムを変性させたりすることが必要である場合に生じる。フィルム厚の増大 は、数ある標準的技術の1つを用いることによって通常達成されており、そのよ うな技術には真空蒸着、無電解メッキ、イオン置換(ion displacement)および 電気メッキが含まれる。フィルム厚を増大させるために今日用いられている技術 および方法は、高コストで煩わしく、寸法が制限される。 更に、移行プロセスによって表面被覆が形成される場合、被覆は、含まれる物 質の個々の特性とは異なる物理的および化学的特性を示すことがあると一般に理 解されている。従って、表面移行プロセスによって形成される導電性または半導 電性被覆は、続いてその厚みを増大することを困難または不可能にする性質を示 すことがある。 既存の方法のいくつかでは、基体と導電性フィルムとの有効な結合強度を形成 するために、中間被覆、例えば接着剤などを用いることが必要となる。これらの 複合被覆は、温度および溶剤感受性を含めて多くの問題点を有する。更に、中間 被覆が存在することが、被覆された基体を続いて使用する際に障害となることが ある。 非導電性基体上に導電性および/または半導電性被覆の精密に描かれたパター ンを形成する場合、既存の方法では更に問題点が生じる。ステンシル、マスク、 レジストおよびポストエッチングなどは、基体上にそのような導電性または半導 電性被覆の精密に描かれたパターンを形成するために今日用いられているデバイ スおよび方法である。被覆の輪郭を確立するために用いられる積極的な加熱なら びに他の物理的および化学的処理の間に、ステンシルおよび同様のデバイスを保 持することは困難である。 最後に、基体に被覆を適用する既知の方法は、一般に、平坦な基体のために設 計されており、湾曲した基体表面にはあまり適してはいない。 本発明は、非導電性基体に被覆を適用する改良された方法であって、従来技術 の被覆方法における上述の問題点の少なくともいくつかを解決または改良する方 法を提供することを目的とする。 本発明の好ましい目的は、導電性または半導電性被覆の精密に描かれたパター ンを正確に形成することができ、その場合に加熱処理または他の物理的および化 学的処理の間も精密なパターンが保たれる被覆技術を提供することである。 本発明の更に好ましい目的は、非導電性基体上に精密に描かれた導電性または 半導電性多層被覆を形成する効果的な手段を提供することである。 発明の概要 広範な形態の1つにおいて、本発明は、非導電性基体に被覆を適用する方法で あって、 膜に被覆を付着させる段階、 膜を基体上に置く段階、ならびに 基体、膜および被覆の組み合わせを制御された条件で処理して、膜を除去し、 被覆が基体に結合できるようにする段階 を含んでなる方法を提供する。 一般に、被覆は薄い導電性または半導電性層である。 本発明の好ましい形態において、膜は、加熱によって実質的な残留物を残さず に揮発する物質を含んでなる。被覆された膜が基体の上に置かれた後、基体は8 0〜3800℃、一般に600〜1200℃の範囲で熱処理に付される。そのよ うな加熱は、中性雰囲気、酸化雰囲気および還元雰囲気の間で正確に入れ換わる 制御された雰囲気において行うことが好ましい。加熱は、直接的または間接的手 段によって行ってもよい。 そのような加熱に付された場合、膜は、実質的な残留物を残さずに揮発する。 更に、制御された雰囲気条件における選ばれた熱処理を用いることによって、焼 結および溶融作用が得られ、それによって被覆物質が基体の中に移行する。(更 にもう1つの被覆層がある場合には、被覆中で他方の層との均質な溶融を達成す ることもできる。) 膜材料は、好適には、化学物質、例えばジエチレングリコールモノステアレー トまたはポリビニルアルコールなどであってよい。別法では、膜材料は、デンプ ンと組み合わせられたセルロース架橋マトリックスを含んでもよい。 好適には、膜は、そのような化学薬品および/または物質が(150ミクロン 以下の)適当な厚さで表面に被覆されることによって形成される。化学薬品を乾 燥可撓性膜条件に一度硬化させて、膜は表面から分離される。そのような表面は 、膜の剥離を容易にするように、剥離性被覆、例えばシリコーンまたはテフロン (登録商標)(PTFE)などにより前処理されていることが好ましい。 典型的な膜の寸法は、約300×480mmである。尤も、連続被覆プロセス を用いて6m×50mもの大きな面積を形成することもできる。 別の態様において、膜は実質的な残留物を残さずに揮発する基体接触物質を含 んでなり、溶融性物質を含む融通性のあるゾルゲル法により被覆される。 本発明のもう1つの形態において、膜は溶剤溶液に完全にまたは部分的に溶解 し得る物質を含んでなる。この組み合わせが溶剤中に入れられると、膜は溶解し 、被覆が基体に結合される。 本発明の更にもう1つの態様において、膜は基体材料と化学的および物理的に 適合性のある基体接触物質を有しており、続いて加熱および/または化学処理さ れると、基体と接着性結合を形成する。 そのような基体接触物質の1つは配合されたシリカゲルである。 膜に適するその他の物質には、PVAバインダーを含むシリケートおよびボレ ートの懸濁液から調製される可撓性ゲルが含まれる。同様の水溶性または油系ポ リマーを、バインダーおよびゲル形成剤として用いることができる。場合によっ て、被覆物質のパターンが描かれた層を、最初の金箔の「膜」の上に「プリント 」することもできる。 好適には、被覆は、金、白金、銀、ロジウム、銅およびパラジウムなどの導電 性物質を含んでいてよい。被覆を、金属層として膜に適用することもできる。別 法では、被覆を膜に、シルクスクリーン印刷によって適用することもできる。後 者の方法では、金属または絶縁材料は(10ミクロン以下の)微粉末の形態であ り、場合によりバインダー/インク液体媒体中に分散される。そのような金属粉 末用の適当なバインダー/インク媒体は、テルピネオール中のエチルセルロース である。 もう1つの態様において、被覆はコロイド溶液またはインク状の懸濁液の形態 であってよく、それらは膜の上に塗布されて結合される。 被覆は、通常、精密に描かれたパターンで膜に適用される。膜の上への被覆の 配置およびパターン形成は、フォトリソグラフィーまたは他の既知のプリント方 法によって行うことができる。 本発明のもう1つの態様において、複数の導電性、半導電性および/または非 導電性材料の層が、真空蒸着および/またはスパッタリング技術を用いて膜の上 に設けられる。被覆の精密に描かれるパターンは、適当な材料、例えば感光性エ マルジョンなどのステンシルを用いることによって形成される。 本発明の更に別の態様において、被覆は、上側または下側に1またはそれ以上 の他の材料層が設けられた層として膜の上に取り付けることができる。そのよう な他の層の材料は、導電性、半導電性、絶縁性のものおよび/または局部的に酸 化または還元条件を生じることのできるものであってよい。 導電性および/または半導電性の相互接続は、選ばれた被覆層の間で形成する ことができる。そのような相互接続によって、被覆層の1つの層および/または 複数の層に電気的な接続を形成し得る手段がもたらされる。 被覆は、基体および/または基体上の導電性/半導電性もしくは絶縁性材料の 他の層に被覆を結合または融着させるのを助ける溶融性物質を含んでいてもよい 。適当な溶融性物質の1つは、ガラス粉末および/または金属酸化物を含むホウ 砂配合物である。 本発明の特定の用途において、被覆はフォトクロミックおよび/またはエレク トロクロミック化合物を含んでいてもよい。ガラス基体の上に配された場合に、 フォトクロミックおよび/またはエレクトロクロミック被覆は、被覆ガラスの光 学的特性を、不透明から透明まで、或は種々の濃淡の色合いを経て変化させるの に用いることができる。 一般に、基体はガラスである。ガラス基体上に被覆した膜の位置決めは、常套 の手段、例えば、真空(減圧)、テーブルおよび/またはローラーによる取り上 げおよび取付け(pick and place)手段などによって行うことができる。 ガラス基体は、平らであっても、湾曲していてもよい。円筒状またはその他の 湾曲した基体について、正確な位置決めするためには、真空または静電ローラー による取り上げ(ピックアップ)および転写機構が最も効果的であると考えられ る。 その他の基体材料には、ホウケイ酸ガラス、石英ガラス、ガラスセラミックお よび耐熱性セラミックが含まれる。無機化合物材料、例えば、アルミノシリケー トおよび既知のドープされた半導体材料を基体として使用することもできる。 本発明をより十分に理解し、実施することができるように、添付図面を参照し て実施例を説明する。 図面の説明 図1は、実施例において用いる加熱チャンバーの模式的正面図; 図2は、多層被覆の模式的な立面断面図; 図3は、多層被覆の模式的な斜視図;および 図4は、もう1つの多層被覆の摸式的な立面断面図である。 好ましい態様の詳細な説明 実施例1 熱によって揮発する膜を、精密に描かれたパターンで導電性金属層により被覆 した。膜は、ジエチレングリコールモノステアレート、ポリビニルアルコール、 デンプンと組み合されたセルロース架橋マトリックスまたは他の適当な材料の可 撓性層である。 導電性被覆は、バインダー/インク媒体に懸濁させた金属微粉末、例えば銅粒 子などを含んでなり、シルクスクリーニングプロセスで膜に適用される。1つま たはそれ以上のそのような被覆層を膜に適用することもできる。導電層のパター ンを選択することにより、特定の電気部品を提供することもできるし、或は最終 製品において所望の電磁界を形成することもできる。 被覆された膜を、基体、例えばガラスシリンダーなどに配する。 ガラスシリンダーは、続いて、例えば図1に示されるような高温真空チャンバ ー1の中に入れる。チャンバー1の内部は、その外側の加熱エレメント2によっ て加熱する。チャンバー1は、ガス・ポート3および排気/真空ポート4ならび にイオン化蒸気ポート5も備えている。ガラスシリンダー(図示せず)は、基体 試料ホルダー6の上に置かれてチャンバー1の中に入れられる。続いてチャンバ ー1は、封止可能なフランジ・アセンブリ7によって封止され、そのアセンブリ には回転可能な真空シール・アセンブリ8が設けられている。観察窓9がチャン バー1に設けられていると好都合である。 チャンバー1は、ステンレス鋼ケーシングおよび付属品を用いて、高温セラミ ック/耐熱性ライニングと共に構成することができる。チャンバーの一般的な加 熱は加熱エレメント2によって行うことができるが、精密な局部的加熱は、チャ ンバーハウジングおよびライニングの適当な位置に設けた観察ポートを介して焦 点を合わせたレーザーによって行うことができる。更なるおよび/または別の加 熱源を供給するために、高周波誘導加熱を用いることもできる。 もう1つの好ましいプロセス加熱手段は、チャンネル化された高電圧プラズマ 炎ある。 チャンバー1内の制御される雰囲気に用いられる気体には、窒素、水素、アセ チレン、プロパン、酸素、フッ素またはこれらの好ましい混合物が含まれる。そ の他の選ばれた気体を用いて、特定の基体に表面エッチングおよび感受性化効果 を達成することもできる。 ガラスシリンダーをチャンバー1の中に入れた後、チャンバーを封止し、チャ ンバー内の温度を毎分5℃の割合で上昇させ、周囲温度から120℃まで上昇さ せて水分を除去する。この水分除去段階の間に、チャンバーの中に毎分100ミ リリットルの典型的な流量で乾燥窒素を流して、水分を追い出す。 続いて低圧(25mb)の乾燥窒素雰囲気において、温度を毎分10℃の割合 で約620℃まで上昇させて、膜を揮発させる。(膜は、揮発によって実質的な 残留物を残さないような物質から選ばれる。) その後、温度を約620℃にて約15分間維持する(が、この時間は、使用す る材料および必要とされる基体移行深さによって変化し得る)。そのような加熱 は、酸化雰囲気において行われ、その雰囲気は、乾燥空気または酸素混合物(例 えば酸素80%および窒素20%または酸素80%およびフッ素20%)を毎分 100ミリリットルの典型的流量にてチャンバーの中に流すことによって形成す ることができる。 酸化段階に続いて、温度を620℃から約1200℃に上昇させ、約15分間 の「ソーク」時間が保持される(が、この時間は、使用する材料、基体および必 要とされる中間層移行深さによって変化し得る)。この高温プロセスの間に、被 覆の基体への焼結が起こる。この段階は、チャンバーの中に毎分約100ミリリ ットルの流量で水素を通すことによって一般に形成される還元雰囲気において行 われる。 続いて、基体を約580℃に冷却し、その温度に約20分間保つ(が、これも 特定の基体材料に合わせて変化し得る)。続いて、温度を4時間で徐々に20℃ まで更に降下させる。冷却プロセスは、中性雰囲気、一般に毎分100ミリリッ トルの流量の乾燥窒素にて行われる。 最終製品において、導電性金属層とガラス基体との間に強い結合が形成されて いる。 実施例2 実施例1において説明した方法の変法を用いて、種々の導電層を基体に適用す る。図2に示すように、導電性材料Bの層を適当な膜Aの上に置く。導電層Bに 溶融剤Cを被覆し、続いて別の導電層Dを被覆する。別の導電性材料、例えば半 導電性材料層Eを導電性材料層Dの上に配する。最後に、絶縁層Fを別の導電性 材料Eの頂部に配する。続いて、多層被覆膜Aを適当な基体Gの上に載せ、実施 例1において説明したような加熱サイクルを用いて加熱処理を行う。 個々の層の厚さは、特定の用途に応じて、0.25ミクロン〜1000ミクロ ン以上までの間で変動させることができる。 図2に示す層の別のアレンジメントにおいて、 Aは、膜として形成された溶融性材料の層、 Bは導電性材料の層、 Cは半導電性材料の層、 Dはエレクトロクロミック材料の層、 Eは導電性材料の層、 Fは絶縁層、および Gはガラス基体である。 好適には、導電層中の材料は、塩化物形態の金属を含んでいてよい。酸化雰囲 気から中性雰囲気ないし還元雰囲気へ変化する制御された雰囲気における加熱処 理によって種々の層の間が焼結されることにより、多層被覆基体において強い層 間結合が形成される。 図3に説明する別の態様において、 Aは適当な膜材料、 Bは基体、 Cは半導電性材料の層、 Dは導電性材料の層、 Eは絶縁性材料の層、 Fはエレクトロクロミック材料の層、および Gは導電性材料の層である。 個々の層を適当に設計することによって、導電性材料および半導電性材料の独 立したゾーンを相互に連絡させ、異なる層の間を貫通させて、完成したデバイス に形成することができる。 例えばフォトリソグラフィーなどの層形成技術を用いて、ベースの膜に実質的 に任意のパターンまたはデザインを層として形成することができる。従って、複 雑な集積回路および/またはハイブリッド回路を形成することもできる。 実施例3 ガラス基体上に膜を置く。膜は、基体材料と化学的および物理的に適合性のあ る調製された複合体材料である。続いて行う加熱および/または化学的処理によ り、膜は基体と接着性の結合を形成する。 「調製された複合体」材料には、常套のように調製され、フリット状に粉末化 されて、有機バインダー中に結合された鉛/ホウケイ酸ガラスマトリックスが適 する。この複合体は、別法では、ゾル−ゲル法によって高純度で調製することも できる。 もう1つの適当な「調製された複合体」材料は、常套のにように調製され、フ リット状に粉末化され、並びに有機バインダーの中に結合されたバリウム/ホウ ケイ酸ガラスマトリックスである。この場合にも、複合体をゾル−ゲル法により 高純度で調製することができる。 実施例4 種々の被覆層を膜の上に置き、続いて膜を基体に適用する。 有利には、基体と接触する膜材料は、基体材料の5.0×10-6cm/℃内の 熱膨張係数を有する。膜は、基体材料の0.4×10-6cm℃内の熱膨張特性を 有するガラス質および/またはガラス/セラミック材料を含んでなる。適当なガ ラス質/セラミック基体稜触膜は、以下の重量の成分を含んでなる: SiO2 5% B23 24% PbO 60% ZnO 11%。 もう1つの適当な半導電性材料接触ガラス質膜は、以下の重量の成分を含んで なる: V25 83% P25 10% BaO 7%。 好適には、膜は半導電性材料および/またはエレクトロクロミック材料を含ん でいてよい。 実施例5 被覆された膜を、ソーダ/ライムガラス基体、例えば、建築用の目的に通常用 いられ、「フロート・ガラス」プロセスを用いて一般に製造されるガラスパネル に適用した。平らなガラスパネルは、一般に2mm〜30mmの厚さであり、7 .5×10-6cm/℃〜8.5×10-6cm/℃の膨張係数を有するものが好ま しい。 被覆は、エレクトロクロミック半導電性層化合物、例えばTiO2および/また はWO3などをゾルーゲル法または常套のように調製されたガラス質/セラミッ クマトリックス中に含む。 実施例6 低ないし中間効率のものであってもよい大きな太陽電池を高層ビルの被覆に用 いて発電させることにより、片寄っていたエネルギーコストを補うことができる 。規格化された製造の可能性により、必要に応じて強化されたシートに被覆が適 用できる。 大面積の光電池は、p層およびn層、Siが用いられるp−n接合半導電性ガ ラス質/セラミック接触領域、および/またはガラス質媒体の中に加熱処理工程 中にドープされまたは結晶化されたn型半導体、例えばIn23、Cd2SnO4を 有する。 実施例7 大面積の基体に適するもう1つの光発電積層構造には、以下のものが含まれる : [a]基体材料−重量当たり熱膨張係数が7.9〜8.0×10-6/cm/℃の建 築用平面ガラス、 [b]SiO2 5%、B23 15%、PbO 64%、ZnO 16%を含んでなる 基体接触膜、 [c]スパッタリング/CVDプロセスにより堆積されたおよび/または揮発性 コロイド状懸濁液中に金属塩化物を含む金属接触層。適当な金属には、Al、Ag 、Cu、Pt、Auが含まれる。 [d]p層およびn層、p−n接合半導電性ガラス質/セラミック接触領域、 [e]Al23、La23、Pa25、CeO2、TiO2およびWO3に加えてLi2O −ZnO−B23−SiO2を有するゾル−ゲル法および/または常套のように調 製されたガラスを含んでなる中間層材料、 [f]もう1つの中間層材料は、例えば、結晶性のSi、Ge、CaAs、CdSe、 InP、Li2O−ZnO−B23−SiO2ガラス中に核形成されている材料であっ て、常套のようにおよび/またはゾルーゲル法により形成された材料を含んでも よい。 [g]スパッタリング/CVDプロセスによりデポジットされたおよび/または 揮発性コロイド状懸濁液中に金属塩化物を含んでなる金属接触層。金属には、A l、Ag、Cu、Pt、Auが含まれる。 [h]SiO2 5%、B23 15%、PbO 64%、ZnO 16%を含んでなる ことが好ましい基体接触膜。 層[C]、[D]、[E]、[F]および[G]は、それらの相対的位置を入れ換えるこ とのできる層である。 実施例8 被覆された基体は、熱処理の前に、以下の層を有してなる: (a)基体、 (b)揮発性基体接触材料、 (c)ガラス粉末(適当なガラス基体との相溶性を有し、約50ミクロンの粒子 寸法のもの)、 (d)導電性材料(例えば、Cu、Ag、Pd、Au、W、Ti、など)、 (e)ガラス粉末(適当なガラス基体との相溶性を有し、約50ミクロンの粒子 寸法のもの)、 (f)半導電性材料(例えば、TiO2、WO2、Seなど) (g)ガラス粉末(適当なガラス基体との相溶性を有し、約50ミクロンの粒子 寸法のもの) 基体接触物質は金箔であってもよい。 実施例9 基体接触膜は加熱前に、金箔およびその上のガラス粉末(例えば粉末化された フリット)を含む。ガラス粉末は、ガラス基体との適合性を有し、約50ミクロ ンの粒子寸法を有する。 上述のような被覆および/または回路を、湾曲した表面または複雑な形状の表 面を有する基体上に形成することができる。導電性または半導電性層を基体に直 接適用する従来技術の方法とは異なって、本発明において導電性/半導電性層は 、まず膜に適用される。このことによって、平らな膜上に複雑な相互接続される 多層のアレンジメントを都合よくそして正確に形成することができる。多層アレ ンジメントは、続いて、一時的な媒体となる膜を介して、全体が基体上に置かれ る。 本発明の方法に従って製造される被覆された製品は、多くの場合に、高い操作 温度に耐え、優れた物理的/化学的耐久性を有する。 本発明の方法は、広範な工業的および化学的分野における用途を有する。本発 明の範囲から離れることなく、特定の用途の幾つかを以下に記載する。 1.本発明の方法は、所望の形状および強度の電磁界を形成するNMR用途に用 いられる複雑な電極の形成に用いることができる。 2.本発明の方法は、向上したコレクター−コンダクター接合効率を有する太陽 電池の製造にも用いることができる。本発明の方法は、プログラム可能な電気泳 動セル、遠隔でセンシング/モニタリングするデバイスおよびマイクロ・レイジ ング・デバイスにも適する。 3.本発明の方法を用いて、エレクトロクロミック・スイッチング・デバイスを 形成することができる。そのようなデバイスは、光ファイバー信号および制御手 段、可変制御窓ならびに仕切りの色合いの変化に用いることができる。例えば、 エレクトロクロミック層をガラス基体の上に設け、得られる構造部材の透明度を 、エレクトロクロミック層に適当な電圧を印加することによって変化させること ができる。 他の用途にはフォトクロミック被覆が含まれる。建築用の寸法のガラスシート 上に、太陽光により可逆的に活性化される被覆を設けることができる。そのよう な大規模な外部用途には、太陽により活性化される光学的暗色化/放熱制御ガラ スおよび被覆が含まれる。 4.本発明の方法は、ポストデポジション/含浸技術、レーザーデポジション/ エッチングおよびパターニング(パターン形成)、例えば超伝導体フィルム研究 用のデバイスの製造にも適する。 5.本発明の方法は、チューブ状ガラス容器に被覆を適用して、マイクロコンピ ュータにより制御される加熱および/または接触デバイス、例えば、ミクロ分画 および蒸留を行うのに用いることもできる。 6.本発明の方法は、大規模な多層集積回路の製造、例えば、個々にまたは複合 体として活性化することができるように接続されたピクセルサイズのエレクトロ クロミック材料の点が組込まれた1枚の大規模平面ガラススクリーン(一般に、 2m×3m)を製造するのにも適する。 単層または多層のコンピュータ制御されるエレクトロクロミック被覆は、例え ば平面テレビおよびビデオ装置などのディスプレイ・スクリーンの用途に用いる ことができる。最大限の生産量で板ガラスシートを被覆し、規格化された形態で 接続して、10m×10mを越えるスクリーンをつくることもできる。 7.苛酷な外部環境用の厚い被覆の鏡の用途。強化ガラス安全スクリーンの用途 。 8.被覆方法を化学強化ガラスシートに用いることもできる。積層した被覆は、 強化温度に付された場合に、既存の浸漬イオン交換法と同様の仕上り結果をもた らす表面状態調節を付与する配合物と組み合わせることもできる。大きな化学強 化ガラスパネルを、エレクトロクロミックおよび/または光電特性と組み合わせ ると、寸法とは無関係に、既存の配列(array)のいずれのものよりも優れた利 点が得られる。 上述の説明は本発明の幾つかの態様を説明するに過ぎず、請求の範囲に記載の 本発明の範囲から離れることなく、当業者には明らかである変更をそれらに加え ることができる。 例えば、本発明の更に別の態様において、膜は、図4に示すように反転したフ ォーマットで使用される。膜材料Aは、単層または多層被覆B、C、D、Eおよ び/またはFの上に結合する「キャノピー」を形成するような種類のものである 。 この態様において、膜材料Aは基体Gと化学的に結合して、強い接着を形成す る。層材料が互いにまたは基体に融着したりまたは化学的結合をしないような場 合にこれは望ましい。膜材料Aは、被覆層B、C、D、Eおよび/またはFを共 に、基体Gの表面の位置にしっかりと保持する連続ガラスの「スキン」として機 能する。この態様は、高融点金属(例えば、タングステン)および無機物の粉末 を基体上に精密にパターン形成させ、持続的に保持させることが必要である場合 に、非常に有用である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI H01L 21/285 8826−4M H01L 21/285 S 8826−4M P 31/04 7511−4E H05K 3/38 D H05K 3/38 7809−2K H01L 31/04 F (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FR,GB,GR,IE,IT,LU,M C,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF,CG ,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE,SN, TD,TG),AP(KE,MW,SD,SZ,UG), AM,AT,AU,BB,BG,BR,BY,CA,C H,CN,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,GB ,GE,HU,IS,JP,KE,KG,KP,KR, KZ,LK,LR,LT,LU,LV,MD,MG,M N,MW,MX,NO,NZ,PL,PT,RO,RU ,SD,SE,SG,SI,SK,TJ,TM,TT, UA,UG,US,UZ,VN

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.非導電性基体に被覆を適用する方法であって、 膜の表面に被覆を適用する段階、 膜を基体の上に置く段階、 基体、膜および被覆の組み合わせを制御された条件で処理して、膜を除去し、 被覆が基体に結合することができるようにする段階 を含んでなる方法。 2.被覆が導電性または半導電性材料である請求の範囲1記載の方法。 3.処理段階に、膜を加熱して基体上に実質的な残留物を残さずに揮発させる 段階を含む請求の範囲1記載の方法。 4.膜を、中性、酸化および還元雰囲気で連続的に加熱する請求の範囲3記載 の方法。 5.処理段階に、中性雰囲気の温度を約620℃まで徐々に上昇させて膜を揮 発させる段階、雰囲気を酸化雰囲気に変更し、温度を所定の時間約620℃に維 持する段階、還元雰囲気において温度を所定の時間約1200℃に上昇させる段 階および中性雰囲気において基体を冷却する段階が含まれる請求の範囲4記載の 方法。 6.処理段階を真空チャンバー内で行う請求の範囲4記載の方法。 7.膜がジエチレングリコールモノステアレートまたはポリビニルアルコール を含んでなる請求の範囲1記載の方法。 8.膜が、デンプンと組み合わせられたセルロース架橋マトリックスを含んで なる請求の範囲1記載の方法。 9.処理段階が、溶剤溶液に基体を溶解させる段階を含む請求の範囲1記載の 方法。 10.液体またはゲル媒体中の金属微粉末の形態で、被覆を基体に適用する請 求の範囲1記載の方法。 11.シルクスクリーニングまたはステンシル法で被覆を基体に付着させる請 求の範囲10記載の方法。 12.被覆をコロイド状態で基体に適用する請求の範囲1記載の方法。 13.被覆をフォトリソグラフィー法で基体に適用する請求の範囲1記載の方 法。 14.被覆が多層被覆である請求の範囲1記載の方法。 15.被覆を、真空蒸着および/またはスパッタリング技術によって、複数の 導電性、半導電性および/または絶縁性層を所定のパターンで累積的に膜に適用 して形成する請求の範囲14記載の方法。 16.被覆を膜に多層被覆として適用する請求の範囲14記載の方法。 17.被覆に溶融物質が含まれており、処理段階に、組み合わせを加熱するこ とにより、溶融物質に被覆の複数の層どうしのおよび/または被覆の基体への結 合を生じさせることが含まれる請求の範囲14記載の方法。 18.被覆が感光性および/またはエレクトロクロミック材料を含んでなり、 基体がガラスシートである請求の範囲1記載の方法。 19.基体が湾曲した表面を有するガラスであり、膜が湾曲した表面に適用さ れる請求の範囲1記載の方法。 20.非導電性基体に被覆を適用する方法であって、 被覆を膜に付着させる段階、 基体材料と化学的および/または物理的に相溶性を有する基体接触物質を含む 膜を基体上に置く段階、 膜を化学的または熱的に処理して、基体との接着性結合を形成する段階 を含んでなる方法。 21.膜がシリコンゲルである請求の範囲20記載の方法。 22.被覆が膜と基体との間に配される請求の範囲20記載の方法。 23.基体がガラスである請求の範囲1記載の方法。 24.請求の範囲1記載の方法によって形成される被覆された基体。 25.請求の範囲20記載の方法によって形成される被覆された基体。
JP7525307A 1994-04-05 1995-04-05 基体の被覆 Ceased JPH09510949A (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
AUPM4840A AUPM484094A0 (en) 1994-04-05 1994-04-05 Coating of substrates
AU4840 1994-12-22
AUPN0260A AUPN026094A0 (en) 1994-12-22 1994-12-22 Coated substrates and their uses
PCT/AU1995/000194 WO1995026935A1 (en) 1994-04-05 1995-04-05 Coating of substrates
AU0260 1999-09-30

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09510949A true JPH09510949A (ja) 1997-11-04

Family

ID=25644655

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7525307A Ceased JPH09510949A (ja) 1994-04-05 1995-04-05 基体の被覆

Country Status (9)

Country Link
US (1) US5916401A (ja)
EP (1) EP0759893A4 (ja)
JP (1) JPH09510949A (ja)
KR (1) KR100363546B1 (ja)
CN (1) CN1147805A (ja)
CA (1) CA2187231A1 (ja)
NZ (1) NZ283305A (ja)
RU (1) RU2152911C2 (ja)
WO (1) WO1995026935A1 (ja)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9525111D0 (en) * 1995-12-08 1996-02-07 Pilkington Plc Glass and glass products
TW552243B (en) * 1997-11-12 2003-09-11 Jsr Corp Process of forming a pattern on a substrate
KR100637904B1 (ko) * 1998-03-18 2006-10-24 미쯔비시 가스 케미칼 컴파니, 인코포레이티드 레이저에 의한 관통홀 제조방법
JPH11312860A (ja) * 1998-04-27 1999-11-09 Jsr Corp 電極の製造方法および転写フィルム
US7033641B2 (en) * 2001-09-26 2006-04-25 Toyo Kohan Co., Ltd. Gas separating unit and method for manufacturing the same
US7811628B2 (en) * 2006-12-22 2010-10-12 Roger Wen-Yi Hsu Layered lenses and method of layering lenses
DE102007027999A1 (de) * 2007-06-14 2008-12-18 Leonhard Kurz Gmbh & Co. Kg Heißprägen von Strukturen
US8318265B2 (en) * 2008-06-12 2012-11-27 General Electric Company Plasma mediated processing of non-conductive substrates
US8734920B2 (en) * 2009-04-29 2014-05-27 Guardian Industries Corp. Coated article with low-E coating having titanium oxide layer and/or NiCr based layer(s) to improve color values and/or transmission, and method of making same
NZ598567A (en) * 2009-08-12 2013-09-27 Pure Bioscience Formulations and methods employing anhydrous disinfectant
US9932267B2 (en) * 2010-03-29 2018-04-03 Vitro, S.A.B. De C.V. Solar control coatings with discontinuous metal layer
US10654747B2 (en) 2010-03-29 2020-05-19 Vitro Flat Glass Llc Solar control coatings with subcritical copper
US10654748B2 (en) 2010-03-29 2020-05-19 Vitro Flat Glass Llc Solar control coatings providing increased absorption or tint
US20130334089A1 (en) * 2012-06-15 2013-12-19 Michael P. Remington, Jr. Glass Container Insulative Coating
RU2613860C1 (ru) * 2015-10-16 2017-03-21 Константин Владимирович Зименко Способ декоративно-художественной обработки стекла
WO2017087475A1 (en) * 2015-11-16 2017-05-26 Western Michigan University Research Foundation Process for binding conductive ink to glass
WO2018069874A1 (en) * 2016-10-13 2018-04-19 Giorgio Macor Method and apparatus for generating a superficial structure
RU2640617C1 (ru) * 2016-10-24 2018-01-10 Автономная некоммерческая организация высшего образования "Белгородский университет кооперации, экономики и права" Способ глазурования листовых стекол
US11078718B2 (en) 2018-02-05 2021-08-03 Vitro Flat Glass Llc Solar control coatings with quadruple metallic layers
US10830933B2 (en) 2018-06-12 2020-11-10 Guardian Glass, LLC Matrix-embedded metamaterial coating, coated article having matrix-embedded metamaterial coating, and/or method of making the same
US10562812B2 (en) 2018-06-12 2020-02-18 Guardian Glass, LLC Coated article having metamaterial-inclusive layer, coating having metamaterial-inclusive layer, and/or method of making the same

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3266661A (en) * 1961-10-04 1966-08-16 Corning Glass Works Method of applying electro-conductive coatings and resulting article
DE1219843B (de) * 1962-05-09 1966-06-23 Buntpapierfabrik A G Verfahren zum Dekorieren von nichtglasierten Rohscherben unter Verwendung keramischer Schiebebilder
US3615560A (en) * 1965-03-22 1971-10-26 Philips Corp Methods of manufacturing photosensitive materials
US3521941A (en) * 1967-02-07 1970-07-28 American Cyanamid Co Electro-optical device having variable optical density
US3632365A (en) * 1967-07-13 1972-01-04 Owens Illinois Inc Decorative decal with a pyrolyzable film base
US3655496A (en) * 1969-09-25 1972-04-11 Vitta Corp Tape transfer of sinterable conductive, semiconductive or insulating patterns to electronic component substrates
GB1258660A (ja) * 1969-12-19 1971-12-30
US3615980A (en) * 1970-02-12 1971-10-26 Daniel J Rose Decal metallization of ceramic substrates
JPS5235109B2 (ja) * 1972-02-23 1977-09-07
SU640982A1 (ru) * 1977-01-26 1979-01-05 Предприятие П/Я В-2756 Способ декорировани стеклоизделий
DE2808222C3 (de) * 1978-02-25 1981-09-03 Battelle-Institut E.V., 6000 Frankfurt Verfahren zur Herstellung von Composite-Membranen
DE2910234C2 (de) * 1979-03-15 1983-05-26 Alkor GmbH Kunststoffverkauf, 8000 München Verfahren zur Herstellung eines Formkörpers aus einer Trägerplatte mit einer Dekorschicht
US4448622A (en) * 1982-04-26 1984-05-15 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Composite polymeric film and method for its use in installing a very thin polymeric film in a device
JPS5983962A (ja) * 1982-10-29 1984-05-15 Kamaya Kagaku Kogyo Kk ガラス製品の加飾方法
US4469774A (en) * 1983-03-28 1984-09-04 E. I. Du Pont De Nemours And Company Positive-working photosensitive benzoin esters
JPS59190240A (ja) * 1983-04-07 1984-10-29 Toyota Motor Corp 耐摩耗性機能性ガラスの製造方法
US4648179A (en) * 1983-06-30 1987-03-10 International Business Machines Corporation Process of making interconnection structure for semiconductor device
FR2548962B1 (fr) * 1983-07-13 1987-06-05 Saint Gobain Desjonqueres Decor d'objets tels des flacons en verre
US4573768A (en) * 1983-12-05 1986-03-04 The Signal Companies, Inc. Electrochromic devices
JPS605042A (ja) * 1984-05-28 1985-01-11 Dainippon Printing Co Ltd 鏡板の製造法
JPS6116573A (ja) * 1984-07-03 1986-01-24 Matsushita Electronics Corp Mis型半導体装置の製造方法
US4622240A (en) * 1985-11-12 1986-11-11 Air Products And Chemicals, Inc. Process for manufacturing thick-film electrical components
US4753694A (en) * 1986-05-02 1988-06-28 International Business Machines Corporation Process for forming multilayered ceramic substrate having solid metal conductors
JPH07115890B2 (ja) * 1986-12-23 1995-12-13 旭硝子株式会社 ガラス基体面への薄膜形成方法
JP2867568B2 (ja) * 1990-03-19 1999-03-08 トヨタ自動車株式会社 機能性多層薄膜およびその製造方法
JP2655742B2 (ja) * 1990-07-16 1997-09-24 工業技術院長 先細炭素微小電極及びその製造方法
JP3160951B2 (ja) * 1991-08-23 2001-04-25 松下電器産業株式会社 厚膜導体ペースト組成物および多層配線基板の製造方法
JPH0570176A (ja) * 1991-09-18 1993-03-23 Asahi Glass Co Ltd 低反射帯電防止膜及びその製造方法
JPH05221691A (ja) * 1992-02-14 1993-08-31 Asahi Glass Co Ltd 硬質カーボン膜の密着性改善方法
DE4213041C1 (ja) * 1992-04-21 1993-06-09 W.C. Heraeus Gmbh, 6450 Hanau, De
US5302562A (en) * 1992-10-28 1994-04-12 International Business Machines Corporation Method of controlling the densification behavior of a metallic feature in a ceramic material
US5380391A (en) * 1993-03-08 1995-01-10 Mahn, Jr.; John Heat activated transfer for elastomeric materials
US5480503A (en) * 1993-12-30 1996-01-02 International Business Machines Corporation Process for producing circuitized layers and multilayer ceramic sub-laminates and composites thereof

Also Published As

Publication number Publication date
RU2152911C2 (ru) 2000-07-20
EP0759893A1 (en) 1997-03-05
EP0759893A4 (en) 2000-02-23
CN1147805A (zh) 1997-04-16
KR100363546B1 (ko) 2003-01-24
CA2187231A1 (en) 1995-10-12
NZ283305A (en) 1998-03-25
WO1995026935A1 (en) 1995-10-12
KR970702222A (ko) 1997-05-13
US5916401A (en) 1999-06-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH09510949A (ja) 基体の被覆
US5462897A (en) Method for forming a thin film layer
US5277724A (en) Method of minimizing lateral shrinkage in a co-fired, ceramic-on-metal circuit board
EP0084051A4 (en) THIN SOLAR CELLS.
JPH0160548B2 (ja)
EP0858669A1 (en) A battery of photovoltaic cells and process for manufacturing the same
KR20100015787A (ko) 서브밀리미터 개구부를 갖는 서브밀리미터 그리드 제조용 마스크 제조 방법 및 서브밀리리터 그리드
CN1849856A (zh) 两面配线玻璃基板的制造方法
JPH10510954A (ja) 絶縁された多層構造体を準備するための方法
JP2000151080A (ja) 転写式印刷パタ―ン形成方法及びこれにより印刷パタ―ンが形成されたガラス
JP3351043B2 (ja) 多層セラミック基板の製造方法
JP2010129379A (ja) 湿潤ゲル体膜、透明導電性膜および透明導電性膜積層基板並びにそれらの製造方法
AU696783B2 (en) Coating of substrates
US4915759A (en) Method for producing a multilayer system
TWI651862B (zh) 太陽能電池的製造方法
JP2010143802A (ja) 酸化ケイ素ゲル体膜、透明導電性膜および透明導電性膜積層基板並びにそれらの製造方法
JP7270937B2 (ja) セラミックベースマイクロホットプレート及びその製造方法
EP0054403A2 (en) Method of manufacturing photo-voltaic devices
EP1054429B1 (en) Process for forming electrodes
CN114173510B (zh) 一种具有空气隔热层的微型多层隔热结构及其制备和应用
KR100579492B1 (ko) 절연성 보호막을 갖는 도전막 상의 전극형성 방법 및 절연성 보호막을 갖는 도전막이 형성된 장치
CN118276710B (zh) 一种银纳米线触控电极单元及其制备方法、触控面板
US20030151365A1 (en) Glass plate provided with electrodes made of a conducting material
KR20110027895A (ko) 염료감응형 태양전지 및 그 제조방법
JPS62252995A (ja) 多層装置およびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050816

A313 Final decision of rejection without a dissenting response from the applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A313

Effective date: 20060105

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060207