JPH09510046A - 高圧放電ランプを動作し点灯する方法と当該方法を実施するための回路 - Google Patents

高圧放電ランプを動作し点灯する方法と当該方法を実施するための回路

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JPH09510046A JP8520329A JP52032996A JPH09510046A JP H09510046 A JPH09510046 A JP H09510046A JP 8520329 A JP8520329 A JP 8520329A JP 52032996 A JP52032996 A JP 52032996A JP H09510046 A JPH09510046 A JP H09510046A
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Abstract

(57)【要約】 高周波HIDバラストは、高周波でHIDランプを動作するためのインバータと、放電アークの音響共鳴を避けるために前記インバータの動作周波数を検出し、調節するアーク不安定性制御器とを含む。バラストは、動作周波数の変化で起きる前記インバータの利得の変化にもかかわらず、ランプに送られる電力が、ほぼ一定であることを保証する。電力制御は、ランプ電力を検知し、前記インバータに与えるバス電圧を変えるためのブーストコンバータを制御することによりなされる。前記HIDランプにより供給される負荷が低い時、前記ブーストコンバータは、予め決められたレベルでバス電圧を保持するために、ランプの点灯中でも制御される。かなり広範囲な周波数範囲にわたるこれらのランプでの、音響共鳴/アーク不安定性の発生にもかかわらず、前記バラストは、異なる形式、ワット数及び製造業者のHIDランプを動作するのに適切である汎用的な技術を用いる。

Description

【発明の詳細な説明】 高圧放電ランプを動作し点灯する方法と当該方法を実施するための回路 技術分野 本発明は、高圧ガス放電ランプを特に高周波で、点灯し動作する方法と、該方 法を実施する回路とに関する。一般に、高圧放電ランプを点灯し及び動作する回 路は、バラストと呼ばれる。本発明は特に、ランプ内のアーク不安定性を検知し 、ランプ動作の間、可視フリッカを避けるために前記バラストの動作周波数を調 整する方法に関する。 背景技術 高圧放電ランプ(HID)、例えば水銀、メタルハライド及び高圧ナトリウム ランプは、通常は標準電力ライン周波数、例えば50−100Hzで又はわずか 上で磁気バラストで動作される。約20kHz以上の高周波数でHIDランプを 動作させる電気バラストを供給することは望ましい。高周波バラストは、低圧水 銀蛍光ランプ用として次第に普及している。高周波動作は、従来の低周波磁気バ ラストと比較して、バラストの磁気素子をサイズ及び重量において大きく減少す ることを可能にする。高周波動作は、陰極降下の減少のため、蛍光灯に対して約 10−15%のランプ効率の実質的増加をも供給する。サイズ及び重量について の同様な減少は、HIDランプ、特に低電力メタルハライドランプにとって望ま しいものであり、店及び道路の照射用に使用される、その様な用途において美的 に感じのよい品をデザインする、より高い柔軟性を供給するからである。蛍光灯 ほど大きくないが、ランプ効率もまた数パーセント増加する。 しかしながら、HIDランプのための高周波電気バラストの使用の主な障害は 、高周波動作で起こり得る音響共鳴が原因であるアーク不安定性により形成され る。最小点での音響共鳴は、人間を非常にいらつかせるアークのフリッカを引き 起こす。もっとひどい場合、音響共鳴は、放 ずっと偏向されたままにして当該壁を損なう。これらは、放電容器の破裂を引き 起こす。 音響共鳴が起きる周波数は、アーク管の大きさ、(即ち長さ、直径、端部のチ ャンバー形状、筒状の有無)、ガス充填密度、動作温度及びランプ配置方向を含 む数多くの要因に依存している。高周波バラストに対して、ランプ電流fIの動 作周波数は可聴範囲上(fI>20kHz)であるように一般的に選択されるが 、低いかもしれない。(歪んだ)正弦波を持つ通常のバラスト動作に対して、電 力周波数fpは、電流の周波数の2倍であるので、fpは40kHzよりも大き い。高圧水銀ランプ及び新しいメタルハライドランプのいくつかのアーク管また は放電容器は、セラミックであり及び円筒形状である。水銀ランプ及びメタルハ ライドランプのアーク管は、通常円筒体及びチャンバー端部の周囲が石英ガラス で作られる。これら一般的な円筒状アーク管に対して起こる長手方向の音響共鳴 の電力周波数は、以下の式で近似される。 ナーの長さ方向における音の平均速度を表し、ほぼ時速450m/sに等しい。 半径方位モードは、式(2)で与えられる。 径を表し、αlmはベッセル関数の第一微分の零位を表す。 完全な共鳴スペクトラムflmnは、式(3)から計算される。 アーク管の長さが半径よりもかなり長いならば、フリッカが起こる周波数は、長 手方向の共鳴周波数に対し式(1)から概算される。 例えば15mmのアーク管の長さを持つ100Wのメタルハライドランプの特 定の場合では、最小長手方向共鳴周波数は、15kHzの電力周波数で起きると 思われる。従って、より高次の共鳴は、30kHz以上の電力周波数fpで起き 、これらは、可聴範囲を越える電流周波数flと対応する。 この様に、共鳴周波数は、計算により近似され、及び/又は、周波数を変化さ せてランプを動作させ、結果生じるフリッカを視覚的にみる実験を通じて観察す る。特定の動作条件下の特定のランプタイプに対し、動作周波数は、可視フリッ カが起きないように選択され、そしてバラストは、この前もって選択された周波 数でランプを動作するように設計できる。しかしながら、前記バラストは、特定 の製造者の特定のワット数のランプに限定されるだろう。その上、動作温度及び /又は動作圧力を変えるだろう環境条件の変化、又は寿命によるランプ切れなど の動作条件の変化が前記共鳴周波数を変えるので、共鳴が前もって選択されたバ ラスト動作周波数で起きる。その上、特に大きさの制御が難しい石英ガラスのア ーク管の場合、同じ製造業者のランプでさえ異なる共鳴点を持つので、かなりの パーセントでランプが選択されたバラスト動作周波数でフリッカを起こす。欠損 がない上に、ある製造業者の特定のランプ用のバラストを製造することは、その 限定された市場を考慮しても高額であり、使用者にとっても融通がきかない。従 って、動作中でのアークの不安定性を検知し、音響共鳴によるアークの不安定性 を避けるための動作周波数を選択する広い範囲のランプのための、バラストを供 給することは望ましい。 論文「An Autotracking System For Stable Hf Operation of HID Lamps」F.B ernitz,Symp.Light Sources,Karisruhe 1986 には、中心周波数付近でランプ 動作周波数を掃引範囲にわたって連続して変化 させる制御器を説明している。前記掃引周波数とは、動作周波数が前記掃引範囲 を通じて繰り返される周波数のことである。前記制御器は、アーク不安定性を評 価するためのランプ電圧を検知する。制御信号は、安定した動作を達成するため に100kHzから数kHzまでの間、掃引周波数を変化させるための検知ラン プ電圧から取り出される。しかしながら、このシステムは、商業化されていない 。 日本特許公報第 4-27749 号(Kamaya)には、放電ランプのインピーダンスを 検知するバラストが説明されている。前記ランプのインピーダンスが特定のレベ ルよりも低いならば、バラストは、ランプ電流内の高周波発振成分を減らす。し かしながら、この設計の不利な点は、前記特定のレベルが固定されることであり 、既述したように、共鳴周波数は実際にランプ間では変化する。加えて、前記高 周波成分がランプ電流内で減小しても、動作がアーク不安定性が起こる他の共鳴 周波数へシフトしないという保証はない。 従って、本発明の目的は、ランプの電力、タイプ、大きさ、又は、物理的又は 化学的組成に関係なく広く応用できる、ガス放電ランプのアーク不安定性を検知 する方法を提供することである。他の目的は、広い範囲のバラストの回路構成で 実行される方法を提供することである。 さらに他の目的は、広域のランプ又は少なくともランプに対して、音響共鳴が 起こる周波数を検出し及び避けるために高周波で、HIDランプを動作する方法 を供給することである。 さらに他の目的は、本方法を実行するランプバラスト、即ち制御器を供給する ことである。 本発明による方法において、アーク不安定性は、ランプの電気パラメータ偏差 を評価することにより検出する。前記ランプ動作パラメータは、他のアーク不安 定性を避けるために前記偏差の評価に基づいて変化できる。本発明は、長さが変 化するという前記アークの変形により、例えば電圧、電流、コンダクタンス、又 はその逆のランプのインピーダンスのような、ランプの電気パラメータが順次に 変化することにより、アーク 不安定性が起こるという認識に基づいている。音響共鳴により、アーク不安定性 が起きる動作周波数は、複数の動作周波数の各々で決定される偏差量を評価する ことで決定される。 特に、音響共鳴によりアーク不安定性が起こる周波数を検出するのに適した本 発明の実施例は、複数の周波数でガス放電ランプを動作することと、各々の周波 数で選択された電気パラメータの複数のサンプルを感知し及び取り込むことと、 各々の周波数で得られる前記電気パラメータのサンプルの前記複数の周波数の各 々で偏差を計算することと、計算された該偏差を評価することと、前記偏差の前 記評価に基づいてランプ動作周波数を選択することとの工程を含む。 好ましくは、前記偏差は、前記サンプリングされたランプのパラメータの最小 の偏差を有する周波数を決定するために評価され、前記動作周波数はこの周波数 にセットされる。異なる周波数のスパン及び掃引レートとで上記工程を繰り返す ことは、前記偏差、従ってアーク偏向の全体的及び局部的最小値が起きる周波数 を速く正確に決定する。 好ましくは、検知されたランプパラメータは、コンダクタンス又はインピーダ ンスであり、電圧か又は電流単独で検知するよりも一般的に、より小さなアーク 偏向の正確な検出を許容する。コンダクタンスの偏差量を評価することで、音響 共鳴によるアーク偏向は人間の目には気づかないレベルで検知できることがわか った。ランプの電圧と電流の比であるコンダクタンス又はインピーダンスの使用 は、電圧又は電流単独の使用よりもより簡単なサンプリング技術を許容する。加 えて、コンダクタンス又はインピーダンスの使用は、一般的に適切には動作しな い電圧又は電流単独での検知による問題を克服する。例えば、電圧検出単独では 、例えば、サージ、管のたるみ及び他の外的な状況のような、ライン変動に敏感 である。 他の実施例によると、検出された前記偏差は標準偏差値である。これは、サン プリング間隔で検出されるアークの全偏差が、例えば、サンプリング間隔で検出 される最大偏差値だけよりもむしろ、効果的な偏差値 を与えるという利点を持つ。 他の実施例によると、音響共鳴が起こる周波数の検出は、中心周波数付近で対 称的掃引周波数を実行することにより達成され、当該掃引は、周波数が高くなる 周波数のセットの部分と、周波数が低くなる同じセットの周波数を含む部分とを 有する。アークの偏向応答においてヒステリシスがあることがわかったので、ど んな所与の周波数でも前記アーク不安定性は、周波数が変化する掃引レートにだ けでなく、周波数が増大しているのか減少しているのかにも依存する。対照的な やり方、すなわち周波数が増大する時及び減小する時両方で且つ同じ掃引レート で、各周波数のサンプリングをするやり方で各周波数の前記偏差を測定すること により、ヒステリシスの効果が取り除かれ、共鳴が起こる周波数の検知が改善さ れる。 好ましくは、フリッカのない周波数の検出及び動作周波数の選択は、ランプの 点灯と安定状態走査との間のランプ動作の立ち上がり段階の間なされる。前記立 ち上がりのとき、音響共鳴が起きる周波数は、ランプのガス圧及び温度の増大が 原因で速く変化する。これは、音響共鳴が原因の可視フリッカを有さない周波数 を検出するためのよい環境にすぐにならない間、前記周波数掃引及び反復速度は 、制御器がアーク偏向の偏差の局部的最小値に落ち着き、立ち上がりの終わりま でこの最小値をたどるように、選択できることがわかった。これは、前記立ち上 がり期間が終わり、前記ランプが全光出力に達したとき、所望の動作周波数が既 に選択され、前記ランプは、前記立ち上がり期間が終わるとすぐに、可視フリッ カなく動作できる。この技術は、低いガス圧力及び温度が原因の立ち上がりの間 のアーク不安定性を改良することが低い可能性にもかかわらず、十分に働くこと がわかった。好ましくは、前記アークの偏差の検出が、例えば環境の影響により 引き起こされるガス充填圧力及び温度の小さな変化を考慮して動作周波数の調整 がなされるように、安定状態の間、継続される。安定状態での制御のために、前 記周波数掃引のスパン及び掃引比が可視フリッカを避けるように、選択される。 アーク内のランダムな偏向が、例えば電極でのアーク飛び又はアーク流に突然 入るランプ放電容器内の充填材料の滴により引き起こされるフレアのような影響 により起こる。これらのランダムな事象が考慮されないならば、これらは、前記 周波数掃引の間、標準偏差の検出の誤差を生じ、標準偏差の誤った最小値に対応 する新たな周波数での動作を引き起こす。これを避けるために、他の実施例では 、それぞれの周波数掃引が連続的に2度なされ、新しい中心周波数での動作は、 当該2回の反復で測定されるそれぞれのセットの間の差が、規定されたレベル内 にある場合にのみ始められる。 本発明による、ランプ制御器又はバラストは、選択された周波数範囲内でHI Dランプを動作するための高周波インバータを含む。前記インバータは、上記説 明された方法の選択された工程を実施するアーク不安定性制御器により供給され る制御信号に応答する。実施例において、前記アーク不安定性制御器は、前記選 択された方法の工程を実行するためのソフトウェアでプログラムされたマイクロ プロセッサを含む。 既知の商業的に利用できるシステムとは違って、かなり広範囲な周波数範囲に わたるこれらのランプでの音響共鳴の発生にもかかわらず、前記バラストは、異 なる形式、製造業者及びワット数のHIDランプを動作するのに適切である汎用 的な動作原理を用いる。 好ましい実施例において、音響共鳴の検出及び回避の間、インバータ周波数従 ってランプ動作周波数の変化にもかかわらず、バラストは、ランプに送られる電 力がほぼ一定状態であることを保証する制御回路を含む。適切なランプ動作を保 証するために、HIDランプに送られる電力は、ランプ製造業者によって格付け されたランプのワット数の周りのかなり狭い範囲内で維持されなければならない 。ランプ電力の変化は、例えば、輝度効果、光出力、放射される光の色温度及び 色描写などの露光度測定パラメータを変化させ、これはあまり好ましくない。 従って、この測定、音響共鳴検知及び回避は、特に安定状態の間、使用者にほ ぼ不可視のやり方、すなわちほぼ可視フリッカが無くほぼ光特 性及び光強度の可視的変化が無いやり方で、バラストによりなされる。 前記バラストの実施例において、前記電力制御は、前記インバータに与えるブ ーストコンバータのバス電圧出力を制御することで得られる。前記インバータ回 路の利得、従って、前記ランプ電流は、インバータ周波数に依存する。ランプ電 圧及びランプ電流は、ランプ電力信号を得るために検知され、これは基準電力信 号と比較される。前記ブーストコンバータのブーストスイッチのデューティサイ クルは、前記インバータの利得の変化を補償するための前記バス電圧を調節する ように制御される。当該電力制御が電力を制限するので、寿命でのランプ破壊の 災害を防ぐのにも役に立つ。 他の実施例において、バラストは、回路素子及びランプを守るために、ランプ がブーストコンバータにとても小さい負荷だけを与えるとき、ランプ点灯及び立 ち上がりの間、バス電圧を保持するための制御を含む。 本発明のこれら及び他の目的、特徴および利点は、図面と以下に詳細な説明を 参照して明らかになるだろう。これらは、例証であって限定はされない。 図面の簡単な説明 第1図は、フリッカを起こしている放電アークの変位を説明し、 第2図は、周波数窓内にあるコンダクタンスの標準偏差を測定するための望まし いサンプリング技術を説明し、 第3図は、一つの実施例に従う、選択された周波数間隔での最少フリッカを見つ け、コンダクタンスサンプルGjkから標準偏差σkを計算するためのオープンル ープ制御のフローチャートを説明し、 第4図は、コンダクタンスを計算するための電圧及び電流の同時サンプリングを 説明し、 第5a図は、強い共鳴を検出するための全体的周波数掃引を説明し、 第5b図は、強い共鳴と強い共鳴がない許容動作窓との位置を説明し、 第5c図は、異なる製造業者からのいくつかの異なる100Wのメタル ハライドランプA、B、C、D、Eに対して強い共鳴が起こらない許容動作窓の 図を説明し、 第6a図は、第5c図の許容できる窓内の周波数範囲上で弱い共鳴を表すコンダ クタンスの偏差を説明し、 第6b図は、第6a図に示されたコンダクタンスの標準偏差における弱い共鳴に 対する全体的最小値を説明し、 第7a図、第7b図及び第7c図は、弱い共鳴に対する標準偏差の全体的最小値 を検出するための3通りの制御のやり方を説明し、 第8図は、安定状態動作で選択された動作周波数周辺で測定された偏差を説明し 、 第9図は、高圧放電ランプの動作に対する制御ループのフローチャートであり、 第10a図、第10b図は、100Wメタルハライドランプに対する第9図のル ーチンの出力を示し、 第11a図は、標準偏差σが、境界値σflよりも両方とも低い、広域の最小値と 狭い最小値とを持つ状況を説明し、 最小値として、前記広域の最小値の選択を説明し、 第12a図、第12b図は、アーク飛び及びナトリウムフレアそれぞれにより引 き起こされるアーク偏差に対する代表的伝導率反応を説明し、 第13図は、共鳴検出及び周波数制御を有するHIDランプバラストのブロック /配線図のダイアグラムであり、 第14図は、第13図の電力及びバス電圧制御(制御回路D)の配線図のダイア グラムであり、 第15図は、ランプに送られるバス電圧及び電力を制御するためにブーストスイ ッチQ1に対する動作信号Vgslのパルス幅制御を説明し、 第16図は、第13図の制御回路A及び制御回路Dの様々な素子を包含するIC の回路接続を示し、 第17図は、アーク不安定性制御に対する第13図の制御回路Cのブロ ックダイアグラムであり、 第18図は、第13図のハーフブリッジ制御器(制御回路B)の配線図である。 発明を実施するための最良の形態 第1図は、HIDランプの一組の放電電極2間にある放電アーク1を垂直動作 位置で示す。わかりやすくするために、アーク管は示されていない。前記アーク は、音響共鳴により誘発されるフリッカにより影響を受ける。前記放電アーク1 の中心位置は、任意の時間tで長さLを持つ前記アークの位置で表す。点線で示 されるオフセット位置1’にある放電アークは、時間t+δtでの偏向された前 記アークの位置を示し、そこでは前記アークは長さL+δlを持つ。偏向されて ないアークと偏向されたアークとの異なる長さは、例えば電圧、電流、コンダク タンス及びインピーダンスのような電気的ランプパラメータをこれらの各位置で 異なる値を持たせ、これら電気的パラメータの変化の主原因となる。このように 、音響共鳴は、アーク長の変化を生じさせ、従ってこれら電気的パラメータの変 化を生じさせる。従って、これらのパラメータの変化の検出は、電気的に音響共 鳴を検出し、どの周波数で共鳴及びアーク偏向が生じるかを評価するための設計 を開発し、可視フリッカが生じない周波数で動作するためにランプの動作周波数 を制御する可能性を与える。 ある状況では、満足できる制御が、ランプ電圧又はランプ電流Iの偏差だけを 検出することにより得られることは、注意されたい。しかしながら、インピーダ ンスと、特にコンダクタンスG=I/Vとを用いることが、非常な利点を持つ。 コンダクタンス又はインピーダンスの変化の測定は、電流又は電圧だけの変化の 測定と等しいか又はそれ以上のSN比を常に持つだろう。前記SN比は、コンダ クタンスで又はインピーダンスでの方が、電流又は電圧だけでの方より通常20 dB高い。電圧及び電流の両方を同時に測定してインピーダンス又はコンダクタ ンスに対するそれらの比を計算することにより、これらの信号の各々での例えば 電源ラインからのノイズ寄生がほぼ相殺される。電圧又は電流が単独で用いられ るならば、これらのノイズ信号は残存するだろう。これらの利点は、人間の目で は気付かない、実際にランプ電圧又は電流単独では通常検出できないとても小さ な偏向の検出を可能にすることである。加えて、電圧又は電流単独に基づく制御 が回路構成に依存するのに対し、コンダクタンス又はインピーダンスに基づく制 御は、ランプ制御器の回路構成とは独立である。最終的に、電圧及び電流の両方 がインピーダンス又はコンダクタンスを計算するために同時に検知されるとき、 電圧又は電流単独をサンプリングするよりもっと簡易なサンプリング設計が用い られる。 インピーダンス又はコンダクタンスの検出は上記利点を持つが、コンダクタン スの検出は、イグニッションの前、間及び直後では、ランプ電流はゼロ又はとて も小さくランプスタート電圧はとても高いという理由で好ましい。これらの時間 中、インピーダンスR=V/Iは無限大又はとても高いであろう。逆に、コンダ クタンスG=I/Vは、これらの時間中ゼロ又は小さく、常に計算できる。コン ダクタンスを使うことは、前記方法/バラストをランプに対しては敏感にさせな い。例えば、ランプが異なるランプタイプで置き換えられるか代用されるならば 、V及びIは変化するが、G=V/Iは同様の関連する範囲内にあるだろう。コ ンダクタンスを使うと、この制御はもっと一般的に考慮でき、即ち異なるタイプ 、メーカー及びワットの多様なランプに応用できる。従って、詳細な説明を通じ て、実施例がコンダクタンスの検出を基準に記述され、通常の当業者はランプ点 灯の後最初の数秒後での評価が避けられる限り、以下の実施例をインピーダンス で置き換えることを理解するだろう。加えて、当業者は、電圧又は電流の信号強 度が満足な制御を得るのに充分高いところでは、電圧又は電流単独のサンプリン グがコンダクタンスの代わりに用いられてもよいことを理解するだろう。 本発明による方法及びバラストは、いくつかの制御段階から成り、各々の段階 は、複数の周波数でのコンダクタンスのサンプリングと、各周波 数で選択された偏差の計算とによる。従って、好ましいコンダクタンスサンプリ ング及び偏差計算技術が、制御の段階を説明する前に述べられるだろう。伝導性の計算(サンプリング) この作業は、速く変化する電圧及び電流からコンダクタンスg(t)を計算す ることである。歪んだ正弦波を持ち通常は高い周波数バラストで動作するHID ランプに対しては、ランプ電圧は、周期p=2π/ωを持つ周期的交番関数V( t)=V(t+p)である。電流周波数fI及び従って電圧周波数は、可聴範囲 、即ち20kHzを超え、p<50μsの場合とする。定義により電流は、I( t)=g(t)V(t)により与えられる。伝導性、即ちコンダクタンスg(t )は、時間の正の関数でゆっくり変化するだけであり、適切に選ばれたサンプル 時間Tの間ほとんど一定である。少なくとも2個のサンプルが期間p内で(小さ な信号だけを検出することを避けるために)得られ、ある時間T>p(ミリセカ ンドのオーダーで)の間、合計Nサンプルが得られる。定義により、Gの値は、 ここで、一般に〈f〉は、観察された値fi(i=1,2,...N)の平均値 を定義により示す。前記伝導性計算に対する絶対値の合計が、合計がゼロと等し くなるのを避けるため、及び合計の最大値を得るために得られる(他のやり方は 、G=[〈I2〉/〈V2〉]1/2である)。電流に対する定義及び式を代入して 、 ここで、値giは、前記サンプル時間Tの間、ほとんど一定であるとみなす。電 流及び電圧が同時にサンプリングされるとき、Viにわたって2個の合計は相殺 される。これは、同時性サンプリングボードで実際に簡単に達成できる。周期p の整数でサンプルすることは必要でない、なぜならば前記合計は常に同じサンプ ルViにわたっているからである。 音響共鳴を検出するために、前記一般的設計は、複数の周波数でガス放電ラン プを動作させ、各周波数で、ランプ電圧及びランプ電流の複数の同時サンプルを 得ることにより、複数の時間でコンダクタンスを計算し、各周波数に対してその 周波数で得られるコンダクタンスの標準偏差を計算する。この工程は、以下の式 により与えられる。 各周波数fkで多数のNIV x NGサンプル(i=1からi=NIVまで;j=1 からj=NGまで)をとることにより、標準偏差σkが決められる。σkを計算す るために用いられる全サンプルは、前記周波数fkで集められる。それから次の 周波数fkが選択され、サンプリング及び計算が繰り返される。最小標準偏差を 持つ周波数は、音響共鳴により生じる最低のアーク偏向を持つ周波数であり、最 高標準偏差を持つ周波数は、最大アーク偏向を持つ周波数である。 これらの式を実行するサンプリング設計は、第2図に示される。周波数のシー ケンス(k=0,1,2...20)にわたって対称的周波数スイープがなされ る。各周波数fkで、伝導性Gjのシーケンス(j=1,2...NG)は、各伝 導性Gjに対して同時に選択されたサンプルIi及びViを測定することにより決 められる。これが、第2図にk=2の周波数の場合で示される。周波数スイープ は中心周波数fcで始まり、最小周波数faまで(部分A)減衰し、最大周波数fb まで(部分B)増大し、それから中心周波数fcまで(部分C)再び減衰する。 部分Bは、部分A及びCが結合されたのと同じセットの周波数を持つ。前記アー クの偏向応答におけるヒステリシスのため、周波数が増大し及び減衰してコンダ クタンスをサンプルすることが望ましい。このやり方で周波数スイープを実行す ることにより、ヒステリシスの効果は除去される。前記周波数スイープのスパン は、faとfbとで異なる。掃引レートは、周波数fkが変化するレートである。 式7、8では、電流及び電圧に用いられる指標i,j及びkは、原則3次元ア レーであることを示す。ランプバラスト内で行うために、これらの値を記憶する ためのメモリを与える必要を避けることは、有利だろう。一般の場合、標準偏差 は以下のように定義される。 しかしながら、式9で、合計の後に項を二乗して式(9a)を代入した後、式9 は以下のようになる。 式10(ここでxi=Gk)を使うことにより、周波数fkでサンプリングされた コンダクタンスGkの標準偏差σkの計算は、アレー内で各サンプルに対する全て の電流及び電圧を記憶する必要なしに、ソフトウェアで実行できる。第2図に示 される周波数スイープを実行する間、これを実施するためのフローチャートが、 第3図に示される。 コンダクタンスを使うことにより、標準偏差を決めるための標準偏差を決める ためのサンプリング設計は、電圧又は電流単独の標準偏差を使うことと比べて非 常に簡略化される。これは第4図に示され、第4図は2個のサンプル周期iとi +1とを持つ電圧V及び電流Iの波形を、得られたサンプルの位置及び振幅を表 す矢印とともに示す。第4図において、周期iのサンプルは、周期i+1とは位 相に関して異なる位置でとられる。このように、周期i内のΣ|I|又はΣ|V |は周期i+1でのとは同じではないので、電流又は電圧単独での標準偏差の計 算には誤差があるだろう。電圧V又は電流Iだけがサンプリングされるならば、 サンプリングは、正確な標準偏差のために電圧又は電流の波形について同時にト リガされなければならない。これは、この技術を実行するバラスト制御器内に付 加の検知及びトリガ装置を必要とするだろう。このようなトリガは、誤差を標準 偏差計算に導入してしまうだろう。前記コンダクタンスを使うことにより、電圧 及び電流は、同時に検知されることだけが必要である。同時に検知された電流及 び電圧の値は、コンダクタンスを定める比I/Vで正規化されるので、検知され た波形に関してサ ト内でのサンプリング設計とその実施とを簡略化する。 音響共鳴により瞬間に誘発される、力による電極間のアークの偏向 は、時間に関する2次の微分式により記述される。τ=50msの通常の時間定 数は、ある偏向を達成する時間を記述する。この時間は、前記ランプの周りに位 置されるコイルからの既知の値及び持続時間で外部電磁力により、100Wメタ ルハライドランプ内のアークを偏向することにより、決められる。音響共鳴によ り生じるアークへの等価の力は、F=F0sin(2πΔft)により記述でき る。この力で、最大応答は、Δf=3Hzの周波数で観察される。より高い周波 数の当該力では、周波数応答は40dB/decadeで落ちる。前記アークの 前記力の強さに依存して、偏向は大きくもなり小さくもなる。ランプを駆動する ために正弦波電流を用いるバラストにおいて、いくつかの共鳴がアーク管の壁に 対して前記アークを偏向できる。このような共鳴は、強い共鳴としてここに定義 される。前記壁に対して前記アークを偏向することができない他の全ての共鳴は 、弱い共鳴として定義される。前記アークを前記壁へ駆動する強い共鳴を妨げる ための制御設計を与えるために、当該制御は、50msよりもっと速く応答すべ きであり、強い共鳴が50msよりもっと小さい時間で起こらない異なる動作周 波数を与えるべきである。弱い共鳴によるフリッカを測定するとき、少なくとも 150msオーダーの時間が用いられるべきである。強い共鳴は、壁へのアーク の偏向がランプ爆発を生じるということで重要である。弱い共鳴は、人をとても 悩ますアークのフリッカを生じるということで重要である。ランプ特性 ランプの立ち上がり、即ちランプ点灯後の始めの数分間の理解は、ランプに対 する制御設計を開発するときに重要である。これは、下の表1に示される。 点灯の前では、通常の100Wメタルハライドランプの圧力pは、約0.3バー ルに等しい。通常は点灯後120から200秒以内で安定状態の動作圧力となる 約15から20バールへ向かって、立ち上がりの間、動作圧力は増大する。充填 ガス内のダンピング、即ち音響共鳴を誘発する抵抗、従って前記アークの位置の 変化は、前記圧力に逆比例するので、当該ダンピングは立ち上がりの間で約50 分の1に減少する。結果として、音響共鳴の強度とアーク不安定性とが増大する 。点灯後最初の約30秒の間、音響共鳴は起こらない、なぜならばそれはまだ本 質的に低圧放電ランプだからである。このように、前記コンダクタンスの測定を 通じて、共鳴及びフリッカの検出は、この期間にはできないだろう。t0=約3 0sからtsteady=約120sの間の他の立ち上がり時間中、ガスの中身が、従 って共鳴周波数は、ランプ温度TL、ランプ充填圧力、 く変化する。前記共鳴周波数の位置は、前記ランプがtsteadyの安定状態に到達 するまで安定しないだろう。 HIDランプを広い範囲の比定格ワット(例えば、20〜400W) にわたって動作できるバラストが所望ならば、コンダクタンスの偏差の検出は、 どのHIDランプに対しても、音響共鳴により誘発される可視フリッカのない動 作周波数を位置づけるために用いられることができるであろう。実際は、このよ うなバラストは、商業的には実際的ではない、なぜならば電子装置への電圧及び 電流がコストを決めるからであり、各ランプは最大出力のために設計されたバラ ストにより最もコスト高で動作されるからである。高周波数バラストが(例えば 違う製造者からの)類似形状のアーク管及び狭い範囲の定格ワットを持つランプ を動作できるならば、それは充分であり、従来技術を超える大きな改良となるだ ろう。本発明の好ましい実施例は、(アーク管壁に対して当該アークの偏向を生 じる)強い共鳴が所望のランプの所望の範囲に対して起こらない動作周波数の相 対的に狭い窓を前もって選択することに基づく。ランプ点灯後、方法及びこの方 法を実行するバラストは、制御される特定のランプに対して弱い共鳴により生じ る可視フリッカが起こらない周波数に戻すように前記前置選択窓内で動作する。 加えて、環境条件又は他の要素がランプの音響共鳴節を変えるので、前記方法及 びバラストは、当該ランプが音響共鳴を起こすことを妨げるためにランプ動作中 検出及び監視を継続する。 上記技術は、第5図から第7図を参照に一般の用語で説明されるだろう。これ らの図は、立ち上がり時間中及び安定状態中の両方で、強い共鳴及び弱い共鳴の 検出を示す。これらの技術を実行する好ましい実施例を遂行する特定の制御アル ゴリズムが、そのとき説明される。強い共鳴の検出:窓前置選択 音響共鳴が起こる周波数flmnは、式3により与えられる複数の節点にある。 これらの周波数は、複数の周波数fkで広い範囲のfaからfbまで(第5a図参 照)動作又は中心周波数fcを変えて式7、8、9及び第2図に関して述べられ たように、各周波数fkでランプ電圧及び電流の複数の同時サンプルをとること によって、コンダクタンスの標準偏差を 計算することにより、実験を通じて確定できる。この掃引から、強い共鳴が起こ るであろう周波数は明らかになるだろう、なぜならばこれらの周波数が最高標準 偏差を持つからであり、また可視観察できるからである。これらの周波数は第5 b図にドットで示される。 前記アーク管への損傷を避けるために、強い共鳴は、第5b図に示されるよう に反復工程により検出されるべきである。ダンプリング、及び前記アークの2次 の偏向応答のため、アーク偏向は、高い掃引レートで最小であり、低い掃引レー トで最大となるだろう。低い掃引レートが始めに用いられるならば、前記アーク は前記アーク管壁に対して当該管壁を損傷するのに充分長く偏向されるので、危 険である。従って、最初の周波数掃引は、約1000kHz/sの高い掃引レー トを用いるべきであり、最強の共鳴が前記アーク管を損傷することなく観察され る周波数窓を明らかにするだろう。これらの周波数は、他の掃引では避けるべき である。前記周波数掃引は、例えば100kHz/sと10kHz/sとの連続 する低い掃引レートで繰り返されるべきである。これは、前記最強共鳴が起こる 周波数を明らかにするだろう。周波数掃引の各掃引レートに対して、前記中心周 波数fcが変化する周波数の範囲は、それぞれの掃引レートで示される線により 、第5b図に示される。数千ヘルツのスパンを持ち、強い共鳴が起こらない周波 数の窓も観察され、実線としてRが付けられた線で第5b図に示される。これら の窓は、ランプが強い共鳴を避けるために動作されるべき周波数である。 この工程は、前記ランプバラスト内で、又は当該バラストにより制御されるべ きであろうランプに対して広い周波数窓を前置選択するバラスト設計者により用 いられる。前記バラスト設計者によりなされたならば、この工程は前記バラスト が動作するであろう各ランプに対して繰り返されるべきである。共通窓は、所望 のランプの各々が強い共鳴の発生なしに同じランプバラストにより繰り返せるよ うに、選択される。異なる製造者による数個の100WメタルハライドランプA −Eに対する許容できる動作窓のチャートは、第5c図に実線で示される。この チャー トの共通の許容できる動作窓は、20〜25kHzである。 前記前置選択される窓は、強い共鳴が完全にないことは、必要ではない。強い 共鳴による危険性は、増大されるサンプリング、又は例えば表題「壁偏向」で説 明される技術を使って避けることができる。しかしながら、前記前置選択範囲は 、どんなに狭くても、幾つかの安定領域は持つべきである。弱い共鳴の検出 強い共鳴のない窓が選択されると、ランプはこの前置選択窓内だけで動作され るべきである。再び、前記一般設計は、可視フリッカを生じる弱い共鳴が起こら ない周波数を検出するために、前記選択された窓内で周波数を変えることである 。好ましくは、第2図に示される周波数掃引及びサンプリング技術が、100W のメタルハライドランプのこの特有の場合には、例えばfq=20kHzとfr= 25kHzとの第5c図の前置選択窓の境界をそれぞれ表す、第6(a)図に示 されるfqとfrとの間で中心周波数を変化させるために用いられる。目標は、第 6(b)図に示される窓fqからfrの間で、伝導性Grの標準偏差の全体的最小 値を見つけることである。 幾つかの制御のやり方が可能である。第7a図に示される最初のやり方は、ラ ンプが、時間tiで点灯され、fqとfrとの間の中心周波数の中程で動作され、 共鳴周波数の位置と強度が相対的に安定であるtsteadyで始まる安定状態までウ オームアップすることが許容される。それから第2図の周波数掃引及びサンプリ ング技術は、tsteadyの始まりで実行され、前記中心周波数は、標準偏差が最小 となる、第6b図に示される全体的最小値Mに対応する周波数に調節される。立 ち上がり期間中前記周波数は変化しないので、前記選択された中心周波数fcが 共鳴周波数にあることはほんの小さなチャンスであり、立ち上がり期間中可視フ リッカは多分起こらないだろう。しかしながら、中心周波数が安定状態に到達し た後で変化するとき、可視フリッカは全光の出力では起こるだ ろう。前記フリッカが周波数掃引の数回の繰り返し、1分又はそれ位の期間中だ け続く間は、それでもなお前記ランプの使用者を邪魔する。 (第7b図に示される)他のやり方は、立ち上がり期間中、例えば点灯後およ そ30秒の遅延時間t0で、前記前置選択窓fqからfrまでの全幅にわたって再 び、前記周波数掃引及びサンプリング技術を始めることである。これは、可視フ リッカが、立ち上がり期間中及び安定状態動作が始まった後の両方で、起こると いう不具合を持つ。立ち上がり期間中、共鳴周波数及び前記全体的最小値は、前 記ランプが速く熱くなるにつれて、すべて速く変化する。大きなスパンの周波数 掃引が使われるとき、前記全体的最小値は、各周波数掃引及びサンプリングの繰 り返しを実行するのにかかる時間より速く変化する。大きなスパンでは、前記全 体的最小値が、前記安定状態がtsteadyで始まるまで速く落ちつくことができな いという結果となる。このやり方は、依然使えるけれども、最初のやり方より魅 力的ではない、なぜならば可視フリッカが立ち上がり期間中及び安定状態動作の 始まりの両方で起こるだろうからである。 第3のより好ましいやり方(第7図c)は、t0(点「A」参照)で前記周波 数掃引及びサンプリング技術を、窓fqからfrまでの幅よりもっと小さな第1ス パンで始めることである。上記やり方におけるfqからfrまでの前記スパン、通 常数kHzのスパンと比較して、この第3のやり方ではfqからfrまでの第1ス パンは、約0.1kHzである。瞬時の全体的最小値は、第1の数回の繰り返し の間見つからないだろう。しかしながら、各反復は、前記全体的最小値又は局部 的最小値が現在与えられる瞬時の周波数に最も近い中心周波数の位置になるだろ う。これは、当該周波数掃引の狭いスパンのどちらかの端部にあるだろう。数回 の繰り返しの後(点「B」参照)、前記周波数掃引及びサンプリングループは、 前記瞬時の全体的最小値に落ちつく。各連続繰り返しの後で、新しい中心周波数 は前記瞬時の全体的最小値とほとんど等しくなる。このように、この工程は、数 回の繰り返しの後、前記瞬時の全体的最小値を速く位置づけ、前記安定状態まで 前記瞬時の全体的最小値をたどらせる。 これは、前記ランプが低い光出力を持つだけの立ち上がりの初め近くでの最初の 数個の繰り返しの間だけ、フリッカが起こるだろうという利点がある。その後、 当該工程は、前記瞬時の全体的最小値を見つけてしまうだろうし、スパンは小さ く最小値に近いので、フリッカは立ち上がりの終わり付近と安定状態の間とでは 起こらないだろう。この制御のやり方は最も好ましい、なぜならば立ち上がり期 間中前記共鳴周波数の検出は、人の目にはほとんど気付かれないからである。安定状態検出 前記全体的最小値及び対応する好ましい動作周波数が決められると、当該所望 の動作周波数が安定状態の間調節されるべきかどうかを調べることを続けること が望ましい。ランプ温度が雰囲気温度内の変化により変わるならば、音の速度は 、対応する共鳴周波数の変化とともに変わるだろう。従って、このような変化は 、検出されるべきであり、前記動作周波数は継続して調節されるべきである。こ れは、fuからfvまでの(第8図参照)第2のスパンについて前に述べた前記周 波数掃引とサンプリングループを動的に繰り返すことにより、達成される。第2 のスパンは、立ち上がりの間使われた前記第1スパンと好ましくは等しいか小さ い。第2のスパンは、この安定状態検出工程の間、可視的にランプが、フリッカ がないように選ばれるべきであり、通常約0.1kHzである。動作ルーチン 第3の制御のやり方(第7c図)に従うHIDランプを動作させるためのルー チンのフローチャートが、第9図に示される。このアルゴリズムは、前置選択電 力周波数窓(fc0±Span0/2)内で、最小フリッカ及び対応する動作周波 数fminを見つける。パワー周波数間隔は、上述の実験的調査を基にして、又は ランプ制御器の始めの段階により、前記ランプ制御器により制御されるべきラン プに対して強い共鳴がない動作周波数の窓を見つけるために、前もって選択され る。 プログラムの始めで、前記中心周波数fcは、バラスト設計周波数fc0にイニ シャライズされる。高い電圧は、ランプを点灯するため当該ランプに印加される 。あらかじめ決められた時間tIの後、ランプ電流Iは、前記ランプが実際に点 灯されたかを決めるためにサンプリングされる。前記ランプ電流が値I0より小 さいならば、前記ランプは点灯されず、点灯が再び試みられる。前記電流IがI0 より大きいならば、前記ランプは点灯され、時間t及びカウンタ変数Nflは0 にイニシャライズされる。前記ランプは、時間tが立ち上がりの始まり近くの前 もって選択された時間t0より大きくなるまで、前記動作周波数fc0で立ち上が るように許容される。前記ランプ圧力及び温度が音響共鳴が起こるのに充分高く なるように、前記時間t0は、充分長くなるように選択される。時間t0が始まる と、前もって選択された第1スパン及び掃引レートの複数の周波数スイープが、 オープンループのサブルーチン(第3図参照)を介して伝わり、一方前記ランプ は、依然立ち上がり段階にあり、それは前記ランプが時間tsteady、例えば12 0秒で安定状態に到達する前である。前記オープンループプログラムへの入力は 、中心周波数fc,周波数スパン「Span」、サンプリングされた別個の周波 数の数NF、各別個の周波数NFで得られた伝導性サンプルの数NG、各サンプル Gjkで得られたサンプルI及びVの数NIV、及び各周波数でサンプルNGを得る ための時間δtFである。これらの変数は、第2図に示される。出力は、前記コン ダクタンスの最小標準偏差σminと、対応する周波数fminとである。立ち上がり 期間中、音響共鳴及びフリッカが起こらない周波数は、ガスチャージ及び温度が 変わるにつれて変化する。制御のこの段階の間、前記中心周波数は、共鳴がない 周波数が移動する方向に継続して更新される。このように、ランプが安定状態且 つt>tsteadyに達すると、前記中心周波数fcは、弱い共鳴及び可視フリッカ が起こらない適切な値に、通常は到達する。 時間tがtsteadyより小さい間、前記ルーチンは、第9図の分枝「A」にある 。tsteadyに達すると、前記中心動作周波数fcは、第6b図に 示されるように、安定状態内の前記全体的最小値であるfminにセットされる。 前記ルーチンは、fminでの標準偏差σminが可視フリッカが起こる周波数に対応 する値を持つσflより小さいならば、分枝「B」へ行く。σminがσflより大き いならば、可視フリッカは依然fminのランプ内で起こり、前記全体的最小値は 見つからない。前記周波数スイープが、可視フリッカが起こらない前記全体的最 小値を見つけるために、窓fqからfrの幅と等しいより大きなスパン(スパン= Span0)と周波数のより大きな数(NF=100)とを伴って、分枝「C」を 介して再び実行される。可視フリッカが起こらない最小値が見つかるならば、前 記プログラムは、より狭いスパンを伴って分枝「B」を介して、安定状態検出モ ードに入る。最初の繰り返しの後可視フリッカが起こるならば、フリッカのない 窓が見つかるまで、全体的掃引が繰り返される。分枝C内で繰り返しの数Nflが 、例えば10であるプリセット数を超えたならば、前記ランプは消灯する。 以下の数字は、100Wメタルハライドランプに対して上記ルーチンを操作す るための通常のパラメータである:NF=20、NG=20、NIV=20、δtf= 50ms、fc0=23.5kHz、Span0=3kHz、Span=0.1k Hz、tI=10ms、I0=0.1A、t0=30s、tsteady=120s、σf l =0.005G。値σflは、人によりフリッカが観察されるだろうコンダクタ ンスの標準偏差に対する控えめな閾値であることに、注意すべきである。これは 見積もることができ(W.F.Schreiber著、Springer-Verlag,Berlin(1991年) 、p14−16に記載の「Fundamentals of Electronic Imaging Systems参照) 、可視フリッカが起こらなくなるまでその値を調節することにより確定される。 コンダクタンスを用いる利点は、前記アークの偏向応答が人間の目の検知限以下 のレベルで評価されることができる程、SN比及び感知性が充分高いことである 。このように、安定状態の間、fcが周波数を掃引することにより継続してたど られ、結果として誘発されるアーク偏向は、測定できるが人間の目には見えない レベルであ る。 第10a図、第10b図は、上記パラメータ値を持って第9図のフローチャー トに従って動作される(第7(c)図の制御のやり方に従って動作する)100W メタルハライドランプのNFに対する最小周波数fmin及びσminそれぞれのグラ フである。約6回だけの繰り返しの後、前記σminは、フリッカが見えるレベル である0.005以下であった。その後σminは、可視フリッカレベルの約1/ 10のとても低いレベルのままであった。可視フリッカは最初の数回の繰り返し の間だけで起こった、これは、前記ランプがまだ低い光出力レベルであったとき 、立ち上がりの始めの部分の間実行されたということである。前記ランプが安定 状態に到達すると、分枝B(第9図)で、可視フリッカなくfcをモニタし且つ 調節することを続けた。他の選択基準 上記実施例では、周波数は、最低標準偏差を持つ周波数として選択された。他 の基準が、前記オープンループルーチンの各繰り返しの後で、新しい中心周波数 を選択するときに、応用されることもできる。例えば、広い最小値での動作がと ても狭い最小値での動作より安定しているので、動作周波数を囲む広い範囲は好 ましい。第11a図では、前記全体的最小値は、「AA」で示され、「BB」で 示される好ましい位置より狭い範囲を持つ。両方の位置では、σはσflより小さ く、可視フリッカは起こらない。フリッカが起こらないほど偏差は前記広い最小 値で充分に低いので、前記広い最小値は中心周波数として選択されてもよい。こ れは、σflより各々小さい最小値についての連続する周波数fkの数、2n(k −nからk+nまで)個のσk結果を加算し、新しいシリーズσを得てデータを 滑らかにすることにより、選択できる。前記滑らかにしたデータσは、第11( b)図に示される。前記新しい中心周波数は、前記最小標準偏差σで許容される 周波数と等しい。前記新しい中心周波数の選択は、このように前記コンダクタン スの標準偏差と前記全体的最 小値検出とに基づいている。壁偏向 前記放電アークが前記アーク管の壁に触れて残るとき、前記ランプが消灯する ことが望ましい。このように、関連するランプタイプに対して、σmaxは、前記 アークを前記壁に触れさせるのに充分大きい偏向に対応するσGに対して決めら れるべきである。立ち上がりの間、広いスイープは、σ>σmaxならば実行され る。前記広いスイープ内でασmin<σmaxとなるσminが満たされるならば、前 記アークはもはや壁になく、前記最小値が選択できる。しかしながら、ασmin >σmaxならば、前記アークは依然壁にあり、前記ランプは消灯されるべきであ る。定数αは、所望の統計上の信頼を与えるように選択され、通常2から4の間 である。他のアーク不安定性 前記アークの偏向は、音響共鳴以外の理由、例えば電極又はナトリウムフレア でのランダムなアーク飛びにより、起こるかもしれない。これら2通りの事象に 対する代表的コンダクタンス応答は、第12a図及び第12b図にそれぞれ示さ れる。第12a図及び第12b図で、曲線1は、ランダムな事象が起こらないと きのコンダクタンス値を示す。曲線2は、ナトリウムフレア(第12b図)の発 生、アーク飛び(第12a図)の発生をそれぞれ伴うコンダクタンス値を示す。 このようなランダムな事象の発生は、これにより生じる偏向が無視されないなら ば、中心動作周波数の偽のずれを生じるだろう。これらのランダムな事象の偏向 は、同じ結果が所望の統計的信頼性のレベル内に得られるならば、各測定を繰り 返すことと、テストすることとにより、音響共鳴偏向とは区別できる。当該結果 が前記所望の統計的信頼性のレベル内にないならば、前記中心周波数を調節する 前に、前記測定が再度繰り返されるべきである。例えば、前記周波数スイープは 、2度実行されてもよく、各回で全 体のスパン間で得られる全てのコンダクタンスサンプルの標準偏差を計算する。 第2のスイープ(σ2)のσが第1スイープ(σ1)のσの所望の信頼性あるレベ ル内にある、即ちσ2=βσ1ならば、ランダムな事象は起こらないし、新しい動 作周波数が選択できる。σ2>βσ1ならば、ランダムな事象は起こり、動作周波 数は変化すべきではない。βは通常2から4の間で選ばれる。当業者は、多くの 他のテスト、例えば前記2回の繰り返しの間の各周波数で測定された前記伝導サ ンプルの標準偏差の平均、最少、又は最大と比較することを用いることが理解で きるだろう。ランプバラスト 第13図は、高周波でHIDランプを動作させるための、及び音響共鳴/アー クの不安定性を生じさせる周波数での動作を検出し回避させるための、本発明に よる、HIDランプバラスト又は制御器の概略的なブロック図である。 以下の実施例は、あるバラストの回路配置を例示し、特定の用途、特に100 Wメタルハライドランプに関して選択された特定の数値パラメータを開示してい る。この実施例は、先に述べられたようなアークの不安定性検出のための、並び にバス電圧及びランプ電力制御のための、上述の方法を使用する多くの可能なバ ラストの実例の一つを例示するものである。ゆえに、以下の実施例が例示のみで 、限定的ではなく、開示された動作原理を、異なる動作パラメータを用いて種々 の異なるバラストの回路構成において使用可能であることが当業者に理解される であろう。 このバラストは、DC源10、ブーストコンバータ20、高周波DC−AC方 形波インバータ30及び点灯器40を有している。これらの要素10乃至40は 、ランプを点灯し、高周波の正弦波に近い波形のAC電流をランプ50に供給す る。ランプの点灯後、制御回路Cは、インバータ30の動作周波数を制御し、上 述の方法によりHIDランプにおけるアークの不安定性/音響共鳴を回避する。 制御回路Dは、ブースト回 路20を制御し、過電圧が前記ランプ及び該回路の各要素に印加されることを防 止するために、(前記ランプはランプ点灯段階中は小さな負荷しか与えないため に)このランプ点灯段階中の前記バス電圧を制限する。音響共鳴を回避するため に制御回路Cによりなされる前記インバータの動作周波数の変化にもかかわらず 、制御回路Dはまた、ブースト回路20を制御し、前記ランプへの定電力を維持 する。制御回路Aは、ブーストコンバータ20を、制御回路Dにより決定される ブースト周波数で動作させ、一方、制御回路Bは、インバータ30を、制御回路 Cにより決定される前記インバータ周波数で動作させる。 DC源10は、110乃至120Vの標準AC電力ライン電圧を入力するため に一対の入力端子1、2を有している。ダイオードD1乃至D4から成る整流器 は、DC線路RL1及びRL2間に約160Vの全波整流DC電圧を供給する。 DC源10はまた、当該ランプ制御器により生成される干渉から前記電力線を絶 縁するためにEMIフィルタ5を有しても良い。 ブーストコンバータ20は、選択電力がインバータ回路30を介してHIDラ ンプ50に供給されるようなレベルに線路RL1及びRL2間の前記DC電圧を 昇圧し制御する。このブーストコンバータは典型的には、160Vから約380 Vに電圧を昇圧する。このブーストコンバータはまた、力率補正も提供する。コ ンバータ20は、ダイオードD1及びD2のカソードに接続される一方の端を持 ち、ダイオードD5のアノードに接続される他方の端を持つインダクタL1を有 す。スイッチQ1は、DC線路RL2とRL1のインダクタL1及びダイオード D5の間の分岐点との間で接続されている。このスイッチQ1は、MOSFET であり、ボディダイオードBD1及びCds1で表される寄生容量を有している 。スイッチQ1の制御ゲートは、制御回路Aに接続され、さらに詳細に記載され るように、該スイッチQ1のスイッチング周波数及びデューティサイクルを制御 するために周期的電圧信号を供給する。このデューティサイクル及びスイッチン グ周波数は、インバータ回路30の コンデンサC4及びC5と共働して、コンデンサC4及びC5を介するDC線路 RL1及びRL2上の電圧を所望のレベルで一定に維持するように、インダクタ L1を介する電流の流れを制御する。コンデンサC4及びC5は、エネルギー蓄 積素子として作用し、ライン電圧がゼロであっても前記ランプに定電力を供給す る。 インバータ回路30は、DC線路RL1及びRL2間で直列接続されるスイッ チQ2及びQ3を持つ電圧供与ハーフブリッジDC−ACインバータである。こ れらスイッチQ2及びQ3はMOSFETである。スイッチQ2のソースは、線 路RL1に接続され、スイッチQ2のドレインは、スイッチQ3のソースに接続 され、スイッチQ3のドレインは、線路RL2に接続される。コンデンサCds 2及びダイオードBD2は、スイッチQ2の、各々、寄生容量及びボディダイオ ードである。コンデンサCds3及びダイオードBD3は、同様に、MOSFE TスイッチQ3の寄生容量及びボディダイオードである。スイッチQ2及びQ3 の制御ゲートは、制御回路Bに接続され、より詳細に記載されるであろう。交点 M1及びM2に現れる、このハーフブリッジインバータの出力は、当業者にとっ て普通のものである、高周波の一般的な方形波信号である。 コンデンサC6、C7及びインダクタL2のLCCネットワークは、スイッチ Q1及びQ2間の中間点M1とハーフブリッジコンデンサC4及びC5間の中間 点M2との間に直列接続される。HIDランプ50は、コンデンサC6と並列に 接続される。このLCCネットワークは、波形整形及び電流制限、即ち安定させ る機能を供与し、中間点M1及びM2間で与えられるインバータ出力から正弦波 に近い波形のランプ電流をHIDランプ50に供給する。 前記LCCネットワークはまた、点灯器としても機能し、前記制御器への初期 電力の印加で前記ランプを点灯する。前記LCCネットワークは、初期インバー タ動作周波数の第3高調波に同調され、この特定の用途に関して選択された約2 500Vの高始動電圧を供給する。第3高調波で前記ランプを始動させることは 、従来の第1高調波始動と比較して、 前記ブーストコンバータから引き込まれる初期点灯電流を減少させる利点を持つ 。前記インバータが動作を開始する際、点灯電圧は、前記初期動作周波数である インバータ出力の第3高調波で共振するLCCネットワークにより生じる。前記 ランプが始動した後、該ランプのインピーダンスは、コンデンサC7のインピー ダンスよりも非常に小さく、ゆえに、波形整形及び電流制限が、この場合、C6 及びL2のLCネットワークにより最初は制御される。すなわち、前記点灯器は 、ランプインピーダンスの変動(点灯前の約1Mから安定状態においては100 )を利用し、点灯電圧を供給するのに適したゲインから、前記ランプを動作させ るのに適したより低いゲインに、前記LCCネットワーク及び該ランプを有する 回路のゲインをシフトさせる。 図示のLCCネットワークに代えて、周知のパルス点灯器又は、第1又は第3 高調波で点灯するLC又はLCCネットワーク等の他の共振点灯器等の、他の点 灯器を使用しても良い。その上、図示のLCCネットワークにおいては、前記イ ンバータ動作周波数が点灯電圧を生じさせるために初期周波数(通常安定状態周 波数より高い)に設定され、次いで、点灯後のランプ動作のために第2の異なる 周波数に設定される、動的周波数シフトを使用しても良い。 制御回路Bは、周知のようにスイッチQ2及びQ3のスイッチング周波数及び パルス幅を制御し、当該バラストにより制御されるように前記ランプを動作させ るのに適した周波数範囲内の周波数で中間点M1及びM2間に方形波に近い波形 のACインバータ電圧を供給する。この場合、前記範囲は、第5c図に示される 100WメタルハライドランプA乃至Eに対する強い音響共鳴/アーク不安定性 を回避するために、前記前置選択動作窓である、約20kHzから25kHzの 間である。特に、制御回路Bは、アークの不安定性を制御する装置Cからの周波 数制御信号に応答し、該制御回路Cにより指示される周波数で前記ハーフブリッ ジを動作させる。 制御回路D及び制御回路Aの回路及び動作は、第14図及び第15図 を参照してより詳細に記載されるであろう。制御回路Dは、第13図に示される 位置VLamp及びILampでランプ電圧及びランプ電流を検知するための回路を有し ている。前記ランプ電圧は、抵抗R11及びR12並びにコンデンサC11を有 する電圧分割器を有する、第14図に示される電圧検知回路60において検知さ れる。コンデンサC11の機能は、位置VLampにおける検知ランプ電圧とグラン ドとの間のDC成分を絶縁することである。ダイオードD11は、抵抗R11及 びR12の間に接続されるアノード、及び抵抗R13の一方の側に接続されるカ ソードを有する。抵抗R13の他の側は、グランドに接続される。コンデンサC 12及びツェナーダイオードD12は、抵抗R13と並列に接続される。ツェナ ーダイオードD12のカソードは、ダイオードD11のカソードに接続される。 ダイオードD11及びD12は、半波整流器を形成し、検知ランプ電圧VLampを 表す、抵抗R13におけるDC電圧VLを供給する。 前記ランプ電流は、電流変成器Tを有する電流検出回路70により検出される 。抵抗R14、コンデンサC13及び抵抗R15が、電流変成器Tと並列に接続 される。ダイオードD13のアノードは、電流変成器Tの一方の側に接続され、 一方、該ダイオードのカソードは、抵抗R15に接続される。電流検知回路70 の出力は、DC電圧Viであり、前記ランプ電流ILampに線形比例する。 制御回路Dはさらに、ランプ電圧を表す信号VLとランプ電流を表す信号Viと を乗算し、ランプ電力を表す信号Vpを得る乗算器61を有している。ダイオー ドD14及び抵抗R19は、乗算器61の出力部とエラー増幅器65の反転入力 部との間に直列接続される。エラー増幅器65の非反転入力部は、HIDランプ 50に対する所望の動作電力を示す基準信号Vprefか、又は前記バス電圧に対す る上限を指示する基準信号Vrefを入力する。抵抗R20は、抵抗R19及びエ ラー増幅器65の反転入力部の間の分岐点と、グランドとの間に接続されている 。レジスタR21は、エラー増幅器65の反転入力部と出力部との間に接続され て いる。コンパレータ67は、それ自身の非反転入力部において前記エラー増幅器 の出力を入力し、それ自身の反転入力部においてオシレータ63ののこぎり歯波 形出力を入力する。 コンパレータ71は、それ自身の反転入力部において入力された信号Viと、 それ自身の正入力部において入力された信号Vriとを比較する。ダイオードD1 5は、コンパレータ71の出力部に接続されたそのカソード及びダイオードD6 のアノードに接続されたそのアノードを有している。ダイオードD16のカソー ドは、抵抗R18の一方の側に接続され、該レジスタR18の他方の側は、エラ ー増幅器65の反転入力部に接続される。抵抗R16及びR17を有する分圧器 が、ダイオードD15及びD16のアノードの間に接続されている。レジスタR 16の一方の端は、第13図に図示される位置においてDC線路またはバスRL 1に接続される。ゆえに、バス電圧を表す電圧V3が、レジスタR16及びR1 7の間の中間点に与えられる。 ランプ50の点灯中、制御回路Dは、バス電圧制御モードで動作する。この時 間中、前記ランプは、まだオンされず、高インピーダンスを有する。この結果、 ブーストコンバータ20上の負荷は軽く、DC線路RL1及びRL2上の電圧は 、他の手段が用いられることなしに著しく上昇するであろう。点灯後、前記ラン プのインピーダンスは減少し、該ランプが安定状態に到達するまで、該ランプに より引き込まれる電流は上昇する。前記バス電圧の制限が、ランプの寿命末期近 くを含んで破局的動作状況を防止するために点灯及び安定状態中に必要とされる 。制御回路Dは、バス電圧Vbusを検知し、このバス電圧を制御回路Aに供給す る。制御回路Aは、ブーストスイッチQ1のパルス幅を調整し、点灯段階中所定 の電圧にこのバス電圧を保つ。前記ランプは高インピーダンスを有するため、該 ランプを通る電流は、前記電流変成器Tにより検知され、次いで、半波整流器D 13を介して整流される小さな値を有する。前記ランプ電流に線形比例するDC 電圧Viは、点灯中はランプ電流がほとんどないため、略ゼロである。さらに、 乗算器61の出力は、基準電圧Vr ef よりも小さく、これは、ダイオードD14をブロッキングし、この期間中電力 制御ループの不活性化をなす。電圧Viは、コンパレータ71を介して電圧Vri と比較される。ViがVriよりも小さい場合、点灯中であるので、コンパレータ 71の出力は高電圧V2である。ゆえに、ダイオードD15は逆バイアスされ、 バス電圧制御ループが活性化される。すなわち、D16が、前記バス電圧値に依 存してターンオン又はオフされる。 電圧制御ループ回路がランプ点灯において始動し、ランプが非常に小さい負荷 を与える場合、前記バス電圧は即座に上昇し、抵抗R16及びR17の電圧分割 器を介して検知される。始動時に検知電圧V3が基準電圧Vrefよりも小さい間、 ダイオードD16はオフのままである。ダイオードD16の導通前の初期回路状 態における前記エラー増幅器の出力は、 により与えられる。電圧V0は、ブーストスイッチQ1に対するパルス幅制御を 得るために、オシレータ63により生成されるのこぎり歯波形と比較される。こ れにより、電解コンデンサC4及びC5(第13図)に蓄積されるエネルギを制 御する。故意に、ブースト段のデューティ比は、約0.48に設定される最大値 を持つ。検知電圧V3が基準値Vrefに到達すると、ダイオードD16は導通を開 始する。検知バス電圧は、抵抗R8を介してエラー増幅器65の反転端子に与え られる。エラー増幅器65の出力電圧V0は、 により与えられる。ここで、VDはダイオードD16間の順方向電圧降下である 。電圧V0及びオシレータ63の出力電圧は、ブーストスイッチQ1のパルス幅 制御を得るためにコンパレータ67に与えられる。第15図は、電圧V0、オシ レータ63からののこぎり歯波形、及びブーストスイッチQ1を制御するゲート ソース電圧Vgs1であるコンパレータ67の出力波形を図示する。電圧V0が小さ くなれば、スイッチQ1を制御する制御信号Vgs1のパルス幅も小さくなるであ ろう。ゆえに、このパルス幅は、検知バス電圧がV3が上昇するとき、減少する であろう。前記ブーストコンバータの動作に基づいて、前記バス電圧は、減少さ れ、例えば450Vの好ましい範囲内に保たれるであろう。 HIDランプ50の点灯後、制御回路Dは、電力制御モードにスイッチし、該 ランプへの電力を制御する。他の手段なしに、このランプに与えられる電力は、 共振LCCネットワーク又はいかなる他の点灯回路構成のゲイン、すなわちこの ランプに与えられる電力が前記インバータ出力周波数で変化するため、制御回路 Cがアークの不安定性を制御するために該ランプの動作周波数を変化させるとき 、変化するであろう。概して言うと、電力制御モードにおいては、ランプ電流及 びランプ電圧が、検知され、このランプにおける全電力を得るために乗算される 。該ランプ電力は、RL1及びRL2間の前記バス電圧を調整するために、ブー ストスイッチQ1のデューティ比を変化させる目的で、基準電力信号と比較され る。これは、このランプに与えられる電力の調整になる。 ランプ50が点灯すると、前記電圧信号Viは前記基準電圧Vriより大きくな る。比較器71は、ダイオードD15の導通に至る低電圧V2を出力する。この 結果、前記検知バス電圧Vbusは、保持され、バス電圧制御ループを不活性化に し、前記電力制御ループが活性化する。前記検知ランプ電圧VL信号及びランプ 電流Vi信号が、ランプの電力信号VPを得るために乗算器61に供給される。こ の電力信号Vpは、前記ブーストスイッチのパルス幅を制御するために前記基準 電力Vprefと比較されるであろう。前記ハーフブリッジインバータのスイッチン グ周波数 が変化する場合、前記ランプに与えられる電力は、点灯器に関する電圧ゲイン値 が差動インバータ動作周波数に関して異なるために、上昇または減少するであろ う。 ランプに伝送される電力の減少を例として仮定し、前記電力制御ループの動作 を例示する。乗算器61からの前記検知ランプ電力Vpが、抵抗R19及びダイ オードD14を介してエラー増幅器65の反転端子に供給され、前記基準電力Vpref と比較される。電力制御モードにおいて、エラー増幅器65の出力電圧V0 は、 により与えられる。ゆえに、V0は、検知電力Vpが減少するとき、上昇するであ ろう。前記検知ランプ電力Vpが減少するとき、V0は上昇し、Vgs1のパルス幅 が上昇する。前記パルス幅が上昇するとき、前記ブーストスイッチは、各サイク ル内でより長期間オンのままであり、ゆえに、線路RL1及びRL2間の前記バ ス電圧が上昇する。前記バス電圧Vbusの上昇の結果、前記ランプに与えられる 電力は上昇する。この負帰還が、前記信号Vprefにより設定される前記基準電力 と同一のランプ電力を保つ。他方においては、ランプ電力が制御回路Cにより前 記ハーフブリッジスイッチング周波数の変化により上昇する場合、前記検知電力 Vpがより大きくなり、ブーストスイッチQ1に対する前記駆動信号Vgs1のパル ス幅の減少に至る。この場合、前記ブーストコンバータは、前記検知電力が前記 基準電力値Vrefと等しくなるまで、線路RL1及びRL2上の前記バス電圧を 低下させるであろう。あるHIDランプは、それらの定格ワットよりも、寿命末 期近くにより大きな電力を引き込む傾向がある。これは、この高電力が前記バラ ストにより供給される場合、破局的ランプ故障に至る可能性がある。前記電力制 御モードがランプに供給される電力を制限するため、該モードは破局的故障を防 止するよう に働く。むしろ、該ランプは、前記信号Vprefに応じた電力が、その寿命末期時 に該ランプにより要求される前記高電力を満たすことが不十分であるとき、簡単 に動作をやめるであろう。 上記分析から、制御回路Dは、電圧及び電力制御モードの2つの制御モードを 持つことが分かる。前記電圧制御モードの一つの目的は、ランプ点灯中及び安定 状態動作より前の間前記バス電圧を保持することである。前記バス電圧制御も、 前記バラストの傾向が、ランプの寿命に伴うインピーダンス変動により過渡電力 を該ランプに供給することがある、破局的なランプ寿命末期を防止するために使 用することが可能である。前記電力制御モードの目的は、前記スイッチング周波 数及び前記ライン電圧の変化を伴っても定電力を該ランプに供給することである 。 第16図は、第13図の制御回路A及びDに関する回路図である。第14図に おいて述べられたのと同一の要素は、同一の参照番号を有する。第14図の乗算 器61として、14ピンIC(Analog Device Corp.から入手可能なモデルAD534 )が具体的に挙げられている。VLは、ピン1における入力であり、Viは、ピン 6における入力である。オシレータ63、エラー増幅器65及びコンパレータ6 7として、16ピン高速PWMコントローラ80(Unitrode Corp.から入手可能 なモデルUC3825)が具体的に挙げられている。UC3825は、高周波スイッチ モード電力供給に対して最適化され、MOSFETQ1のスイッチングを直接制 御する。スイッチQ1のソースSQ1は、ピン9、10及び12並びにグランド に接続される。スイッチQ1のゲートGQ1は、抵抗R22を介してピン14に 接続される。第16及び第18図において、ここでは特に記載されていないピン コネクションは、完全さを目的として単に示されていて、本発明の理解のために は必要ではない。このようなコネクションは、IC製造業者により特定される。 第17図に示されるように、アークの不安定性制御のための制御回路Cは、検 知ランプ電圧VL及びランプ電流Viを各々のディジタル信号に変換するための2 つのA/Dコンバータ90及び95を有している。こ れら信号VL及びViは、第14図の回路60及び70から来る。制御回路Cはさ らに、ソフトウェアとして第9図のプログラムを実行し、前記ハーフブリッジイ ンバータ30の動作周波数を制御する、マイクロプロセッサ100を有している 。マイクロプロセッサ100は、前記二重A/Dコンバータからの検知ランプ電 圧及びランプ電流を入力し、A/Dコンバータ105によりアナログ信号fsに 変換されるディジタル信号を出力する。この信号fsは、前述した方法によるい かなる動作モードを実行する際の前記ソフトウェアプログラムによる瞬時周波数 出力を表す。 マイクロプロセッサ100においてソフトウェアで第9図のプログラムを実行 することにより、制御回路Cは、音響共鳴/アーク不安定性が生じる周波数の検 出に関して前述した方法の各工程を実行するための、及び前記インバータの周波 数を新しい中心動作周波数に変更するための手段を有する。すなわち、例えば、 第2図の周波数掃引に関して、制御回路Cは、複数の別個の動作周波数にわたっ て前記動作周波数を変化させるための、及びこれら複数の別個の動作周波数各々 における該ランプの電気的パラメータの複数のサンプルを測定するための手段、 これら複数の動作周波数の各々において、各周波数においてとられたサンプルの 標準偏差を演算するための手段、及び新しい中心周波数を選択するために評価し 、例えば最小の標準偏差を検出する手段を有する。 制御回路Cに対する要素の選択は、第9図のプログラムを効果的に実行するた めに必要な所望の精度及びサンプリング速度に基づき、ランプの型式、物理的及 び化学的特性、ランプの電力並びに寸法に依存する。一つの実例においては、一 つの周波数において一つの標準偏差測定を得るために、ランプ電流及び電圧に対 する最小サンプル数は、20として選択された。サンプルは、各周波数掃引にお いて100個の個別の周波数がとられ、ゆえに、全体で100×20、すなわち 2000個のサンプルが各周波数掃引においてとられた。サンプリング速度は、 アークが反応することが可能な程十分に遅いべきであるが、大きなアーク移動を 防止するのに十分に速いべきである。サンプリング速度に関する適切な 範囲は、100Wメタルハライドランプに関して50msecと100msec との間である。A/D及びD/Aコンバータ90、95及び105の最小精度並 びにマイクロプロセッサ100の最小精度は、8ビット装置(8ビット=1/2 56=0.004)により満足される0.005になるように選択された。第1 3図及び第14図に示される実例においては、前記A/Dコンバータは、Linear Technologies から入手可能な8ビット高速モデルADC0820である。前記 D/Aコンバータも、Signeticsから入手可能な8ビットモデルNE5018で あった。前記マイクロプロセッサは、Philips Semiconductorsから入手可能な4 kのEPROMを持つ型番87C550の16MHz、8ビットプロセッサであ った。第9図のソフトウェアプログラムは、アセンブラ言語でプログラムされた 。これらの装置は、50msecと100msecとの間のサンプリング速度で 、前記ランプ電流及び電圧に関して10kHz乃至20kHzのサンプリングレ ートを提供する。これは、100Wメタルハライドランプにおける音響共鳴を効 果的に検出し回避するために満足行くものであることが分かった。 制御回路Bは、通常使用されるような定周波数よりむしろ、制御回路Cにより 指示される周波数で前記ハーフブリッジインバータを駆動することを除いては、 該ハーフブリッジインバータを駆動するための周知の技術を使用する。制御回路 Bを実施する回路が、第18図に図示されている。この回路は、IC110及び 120を有している。IC110は、16ピン、高速制御器(Unitrodeから入手 可能なモデルUC3825)であり、制御回路Cからの周波数を指示する出力信号fs を入力し、IC120への入力のための制御信号を供給するように働く。IC1 20は、14ピン、高電圧、高速MOSゲートドライバ(International Rectif ier から入手可能なモデル IR2110)である。このIR2110は、ハイ側及び ロー側両方の基準出力チャネルを持ち、内部的にデッドタイム制御が設定されて いるため、ハーフブリッジの用途に特に有用である。IC120は、MOSFE TスイッチQ2及びQ3にゲート/ソ ース駆動信号を供給する。制御回路Cの出力信号は、ピン5及び6に入力され、 デューティサイクル変動を制御するように働く。 IC110の出力は、ピン11及び14からとられ、IR2110(IC12 0)の各々ピン12及び10に入力される。スイッチQ2のゲートGQ2(第3 B図)は、抵抗R31を介してピン1に接続される。ダイオードD31は、それ のカソードがピン1に接続されるようにして抵抗R31と並列に接続され、この ピンでの負バイアスを防止するように働く。同様に、スイッチQ3のゲートGQ 3は、抵抗R32及びダイオードD32の並列構成を介してピン7に接続され、 これらはピン1に接続される抵抗/ダイオードネットワークと同一の機能をなす 。スイッチQ2のソースSQ2及びスイッチQ3のソースSQ3は、各々、ピン 2及び5に接続される。 前記マイクロプロセッサは、ここに述べられた工程の異なる組合せを含むよう に及び/又はその代わりに記載された一つのオプションを使用するようにプログ ラムされても良い。例えば、前記制御器は、より狭いがより小さい最小値よりも むしろ、広い最小値において起こる動作周波数を選択しても良く、又は例えば第 5(a)図乃至第5(c)図に関して述べられてような、立ち上がり及び安定状 態の間の異なる時点でオープンループルーチンを実行しても良い。さらに、前記 制御器/バラストは、各々が選択された機能を実行し他のモジュールに信号を出 力する1以上の部品を含む前記制御器を持つモジューラシステム形態で実行され ることも可能であろう。これに関連して、例えば、このモジューラシステムは、 各々がここで記載された機能の選択された組合せを実行する、一連の制御回路と 共働するように設計された制御器を持つバラストを含むことが可能であろう。 上述の記載から、出願人が、アークの不安定性を検出し回避するためにガス放 電ランプに汎用的に適用可能であり、特に音響共鳴によるアークの不安定性の検 出/回避するために有用である確かな工程を発見したことが分かる。これらの工 程は、(1994年2月10日に出願された 米国出願第08/197530号に開示されている等の)単段及び2段バラスト を含む多くの種々のバラスト回路構成で実行されても良く、既に述べたように、 種々の点灯器を使用しても良い。当該制御は、基本的に0Hzから数MHzで気 が付いた上限を持たない全ての(又は大きい)周波数範囲に適用可能である。サ ンプリング及び処理の速度(これは、より高速のプロセッサにより乗り越えられ るであろう)、及び最も重要なものでバラスト(ハードウェア)構造により制限 される。 インバータのゲインが広い周波数範囲にわたって非常にコンスタントであるこ とは、大きな周波数掃引範囲を実行することを可能にするであろうし、その設計 者による広い周波数窓の前述の前置選択に関する必要性を概ね取り除くであろう 。これは、該制御のより広い汎用性さえも可能にし、例えば、種々のワット範囲 に関して最適化されたバラストに汎用コントローラモジュールをプラグインする ことを可能にする。 本方法によれば、バラストを、ランプの(製造ラインにおける)寸法変動、ラ ンプの寿命に伴う化学的変質、及びそのランプの寿命の間のランプ特性の変化に 全く不感にする。この方法は、高周波電子バラストを使用してHIDランプを実 行することを可能にし、ランプ破壊及び破局的な寿命末期を回避する。この制御 は、スマートで、汎用的で、一般的で、柔軟であるため、このバラストを、ラン プに対して全く影響させないようにする。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.高圧放電ランプを点灯し動作させる方法であって、 a.複数の動作周波数で前記高圧放電ランプを動作させる工程と、 b.各前記複数の動作周波数において電気的ランプパラメータの複数のサンプ ルを検知し得る工程と、 c.前記複数の周波数の各々において、前記各周波数で得られた前記サンプル の偏差を演算する工程と、 d.前記演算された偏差を評価し、該評価に基づいてランプ動作周波数を選択 する工程とを有する方法。 2.検知される前記電気的ランプパラメータは、ランプ電圧、ランプ電流、ラン プコンダクタンス及びランプインピーダンスを有する一連の電気的なパラメータ から選ばれた少なくとも一つであることを特徴とする請求項1に記載の方法。 3.演算される前記偏差は、標準偏差であることを特徴とする請求項1又は2に 記載の方法。 4.前記偏差は最小偏差を決定するために評価され、前記動作周波数は、この最 小偏差に応じた周波数として選択されることを特徴とする請求項1、2又は3に 記載の方法。 5.前記高圧放電ランプは中心周波数付近の周波数掃引を実行することにより前 記複数の周波数で動作され、この掃引は周波数が増大する周波数セットを持つ部 分と周波数が減少する同一の周波数セットを持つ部分とを有することを特徴とす る請求項1乃至4の何れか一項に記載の方法。 6.前記工程(a)乃至(d)は、前記高圧放電ランプの点灯と安定状態動作と の間のランプ動作の立ち上がり段階中に実行されることを特徴とする請求項1乃 至5の何れか一項に記載の方法。 7.前記工程(a)乃至(d)は前記高圧放電ランプの前記ランプ立ち上がり段 階中及び定常状態動作中の両方で実行され、該立ち上がり段階中前記ランプが動 作する前記周波数は第1のスパンを持ち、該安定状態 に到達した後に前記ランプが動作する前記周波数は前記第1のスパン以下の第2 のスパンを持つことを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の方法。 8.安定状態動作中の前記周波数の第2のスパンは、前記高圧放電ランプが人に 見えるフリッカを持たないように選択されることを特徴とする請求項7に記載の 方法。 9.前記ランプの点灯及び動作は工程(a)乃至(d)の所定の反復数の後検出 される前記最小偏差が規定レベルを越える場合、ターンオフされることを特徴と する請求項1乃至8の何れか一項に記載の方法。 10.工程(a)及び(b)が2度連続的に実行され、ステップ(c)及び(d )が、前記2度の反復において測定された各サンプルセット間の差が規定信頼レ ベル内にある場合のみ実行されることを特徴とする請求項1乃至9の何れか一項 に記載の方法。 11.各々の標準偏差σ1及びσ2が前記第1及び第2の反復による前記サンプル に関して演算され、前記規定レベルはσ2≦βσ1であり、βは所望の統計的信頼 レベルに関して選択された定数であることを特徴とする請求項10に記載の方法 。 12.請求項1に記載の方法により高圧放電ランプを点灯し動作させるためのラ ンプバラストにおいて、 前記ランプバラストは、第1の動作周波数範囲にわたって前記ガス放電ランプ を動作させるバラスト手段と、 前記バラスト手段の前記動作周波数を制御する制御手段とを有し、 前記制御手段は、前記第1の動作周波数範囲内の複数の別個の動作周波数にわ たって前記動作周波数を変化させる手段と、 前記複数の動作周波数の各周波数において前記ランプの電気的パラメータの複 数のサンプルを測定する手段と、 前記複数の動作周波数の各周波数において、該各周波数において得られた前記 複数のサンプルにおける偏差を演算する手段と、 前記演算された偏差を評価し、該評価に基づいて前記バラスト手段の 前記動作周波数を調整する手段とを有することを特徴とするランプバラスト。 13.前記偏差を評価する前記手段は、前記複数の周波数の各周波数において得 られた前記サンプルの標準偏差を演算することを特徴とする請求項12に記載の ランプバラスト。 14.前記測定手段により測定された前記電気的ランプパラメータは、ランプ電 圧、ランプ電流、ランプコンダクタンス及びランプインピーダンスを有する一連 の電気的パラメータから選ばれた少なくとも一つであることを特徴とする請求項 12又は13に記載のランプバラスト。 15.前記測定手段により測定された前記電気的パラメータは、ランプコンダク タンスであることを特徴とする請求項12、13又は14に記載のランプバラス ト。 16.前記周波数を変化させる手段は、中心周波数付近の周波数掃引を実行する 手段を有し、この掃引は周波数が増大する周波数セットを持つ部分と周波数が減 少する同一の周波数セットを持つ部分とを有することを特徴とする請求項12乃 至15の何れか一項に記載のランプバラスト。 17.前記評価手段は、前記電気的パラメータの前記サンプルにおける前記偏差 が最小である周波数を決定し、この最小偏差を持つ該周波数へ前記バラスト手段 の前記動作周波数を調整することを特徴とする請求項12乃至16の何れか一項 に記載のランプバラスト。 18.前記制御手段は前記ランプの点灯と安定状態動作との間のランプ動作の立 ち上がり段階中に動作することを特徴とする請求項12乃至17の何れか一項に 記載のランプバラスト。 19.前記制御手段は前記ランプの前記ランプ立ち上がり段階中及び安定状態動 作中の両方で動作し、該立ち上がり段階中前記ランプが動作する前記周波数は第 1のスパンを持ち、該定常状態に到達した後に前記ランプが動作する周波数は前 記第1のスパン以下の第2のスパンを持つことを特徴とする請求項12乃至18 の何れか一項に記載のランプバラスト。 20.安定状態動作中の前記第2のスパンは、前記ランプが人に見えるフリッカ を持たないように選択されることを特徴とする請求項12乃至19の何れか一項 に記載のランプバラスト。 21.前記ランプ制御器は検出される前記最小偏差が規定レベルを越える場合前 記ランプを消灯する手段を有することを特徴とする請求項12乃至20の何れか 一項に記載のランプバラスト。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6703798B2 (en) 2002-02-26 2004-03-09 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Discharge lamp lighting device
JP2008112746A (ja) * 2008-02-04 2008-05-15 Mitsubishi Electric Corp 高圧放電灯点灯装置

Families Citing this family (73)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4437453A1 (de) * 1994-10-19 1996-04-25 Patent Treuhand Ges Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh Verfahren zum Betrieb einer Entladungslampe und Schaltungsanordnung zum Betrieb einer Entladungslampe
DE19535663A1 (de) * 1995-09-26 1997-03-27 Bosch Gmbh Robert Verfahren und Anordnung zur Leistungssteuerung einer Hochdruck-Gasentladungslampe
US5739645A (en) * 1996-05-10 1998-04-14 Philips Electronics North America Corporation Electronic ballast with lamp flash protection circuit
JP2000501553A (ja) * 1996-09-06 2000-02-08 フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ 回路構成
EP0840537A1 (en) * 1996-10-31 1998-05-06 MAGNETEK S.p.A. Electronic ballast for high-intensity discharge lamps
US6172468B1 (en) * 1997-01-14 2001-01-09 Metrolight Ltd. Method and apparatus for igniting a gas discharge lamp
US6714895B2 (en) * 2000-06-28 2004-03-30 A.L. Air Data, Inc. Lamp monitoring and control unit and method
US5942860A (en) * 1997-09-16 1999-08-24 Philips Electronics North America Corporation Electronic ballast for a high intensity discharge lamp with automatic acoustic resonance avoidance
US5859505A (en) * 1997-10-02 1999-01-12 Philips Electronics North America Corporation Method and controller for operating a high pressure gas discharge lamp at high frequencies to avoid arc instabilities
US5952794A (en) * 1997-10-02 1999-09-14 Phillips Electronics North America Corportion Method of sampling an electrical lamp parameter for detecting arc instabilities
US6040661A (en) * 1998-02-27 2000-03-21 Lumion Corporation Programmable universal lighting system
US5936357A (en) * 1998-07-24 1999-08-10 Energy Savings, Inc. Electronic ballast that manages switching frequencies for extrinsic purposes
US6157142A (en) * 1998-10-15 2000-12-05 Electro-Mag International, Inc. Hid ballast circuit with arc stabilization
US6963178B1 (en) * 1998-12-07 2005-11-08 Systel Development And Industries Ltd. Apparatus for controlling operation of gas discharge devices
US6137240A (en) * 1998-12-31 2000-10-24 Lumion Corporation Universal ballast control circuit
US6369518B1 (en) * 1999-01-28 2002-04-09 Matsoshita Electric Works R & D Laboratories Inc Lamps with electronic control of color temperature and color rendering index
US6194843B1 (en) 1999-01-29 2001-02-27 Electro-Mag International, Inc. HID ballast with hot restart circuit
US6479946B2 (en) * 1999-03-05 2002-11-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method and system for driving high pressure mercury discharge lamp, and image projector
US6452340B1 (en) * 1999-04-09 2002-09-17 Acuity Brands, Inc. Luminaire starting aid device
US6144172A (en) * 1999-05-14 2000-11-07 Matsushita Electric Works R&D Laboratory, Inc. Method and driving circuit for HID lamp electronic ballast
WO2001087020A1 (en) * 2000-04-27 2001-11-15 Lumion Corporation Universal ballast control circuit
US6400100B1 (en) 2000-07-20 2002-06-04 Philips Electronics North America Corporation System and method for determining the frequency of longitudinal mode required for color mixing in a discharge lamp
AU2001280708A1 (en) * 2000-07-21 2002-02-05 Osram Sylvania Inc. Method and apparatus for arc detection and protection for electronic ballasts
IL138493A0 (en) * 2000-09-15 2001-10-31 Lightech Electronics Ind Ltd Electronic ballast for high-intensity discharge lamps
DE10045709A1 (de) * 2000-09-15 2002-03-28 Tridonic Bauelemente Gmbh Dorn Elektronisches Vorschaltgerät
US6608452B1 (en) * 2001-01-18 2003-08-19 Fred H. Holmes Xenon power supply
DE10102940A1 (de) * 2001-01-23 2002-08-08 Patent Treuhand Ges Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh Mikrocontroller, Schaltnetzteil, Vorschaltgerät zum Betrieb mindestens einer elektrischen Lampe und Verfahren zum Betreiben mindestens einer elektrischen Lampe
WO2002076151A1 (en) * 2001-03-15 2002-09-26 Rodriguez Reginald J Arc maintenance device for high density discharge lamps including an adaptive waveform monitor
EP1397944A1 (en) * 2001-05-31 2004-03-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. Power control device, apparatus and method of controlling the power supplied to a discharge lamp
US6483259B1 (en) * 2001-06-12 2002-11-19 Koninklijke Phillips Electronics N.V. Method and apparatus for determining power frequencies that cause arc instabilities in discharge lamps
US6489731B1 (en) * 2001-07-27 2002-12-03 Koninklijke Philips Electronics N.V. Power supply and/or ballast system controlled by desired load power spectrum
DE10163032A1 (de) * 2001-12-20 2003-07-03 Tridonicatco Gmbh & Co Kg Elektronisches Vorschaltgerät für eine Gasentladungslampe
JP4460202B2 (ja) * 2001-12-28 2010-05-12 パナソニック電工株式会社 放電灯点灯装置
JP2003264093A (ja) * 2002-01-07 2003-09-19 Mitsubishi Electric Corp 高圧放電灯点灯装置
WO2003061352A1 (en) * 2002-01-15 2003-07-24 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device and method for operating a discharge lamp
NL1020276C2 (nl) * 2002-03-28 2003-09-30 Nedap Nv Elektronisch voorschakelapparaat voor gasontladingslampen.
US6650067B1 (en) * 2002-05-14 2003-11-18 Aurora Lighting, Inc. Electronic ballast for discharge lamps
US6841951B2 (en) * 2002-06-04 2005-01-11 General Electric Company Single stage HID electronic ballast
US6677718B2 (en) 2002-06-04 2004-01-13 General Electric Company HID electronic ballast with glow to arc and warm-up control
DE10241327A1 (de) * 2002-09-04 2004-03-18 Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH Schaltungsanordnung zum Betrieb von Entladungslampen
CN100346673C (zh) * 2002-09-24 2007-10-31 东芝照明技术株式会社 高压放电灯亮灯装置及照明装置
WO2004039130A1 (ja) * 2002-10-28 2004-05-06 Matsushita Electric Works, Ltd. 高圧放電灯点灯装置及びこれを搭載した照明器具
US6864645B2 (en) * 2003-03-05 2005-03-08 Matsushita Electric Works, Ltd. Method and circuit for driving a gas discharge lamp
DE10328718A1 (de) * 2003-06-25 2005-01-13 Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH Verfahren zum Betrieb mindestens einer Niederdruckentladungslampe und Betriebsgerät für mindestens eine Niederdruckentladungslampe
DE10333740A1 (de) * 2003-07-23 2005-02-10 Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH Betriebsverfahren für eine Hochdruckentladungslampe
JP4556396B2 (ja) * 2003-08-29 2010-10-06 ウシオ電機株式会社 エキシマ放電ランプ調光装置
US6936970B2 (en) 2003-09-30 2005-08-30 General Electric Company Method and apparatus for a unidirectional switching, current limited cutoff circuit for an electronic ballast
US7109668B2 (en) * 2003-10-30 2006-09-19 I.E.P.C. Corp. Electronic lighting ballast
KR100446102B1 (ko) * 2003-11-21 2004-08-25 K.D.G.Eng 두개의 방전관을 하나의 발라스터로 동시점등하는 장치및제어방법
US20070194721A1 (en) * 2004-08-20 2007-08-23 Vatche Vorperian Electronic lighting ballast with multiple outputs to drive electric discharge lamps of different wattage
US7420336B2 (en) * 2004-12-30 2008-09-02 General Electric Company Method of controlling cathode voltage with low lamp's arc current
US20060186833A1 (en) * 2005-02-23 2006-08-24 Yu Chung-Che Fluorescent tube driver circuit system of pulse-width modulation control
US7288898B2 (en) * 2005-03-04 2007-10-30 International Rectifier Corporation Automotive high intensity discharge lamp ballast circuit
JP4710754B2 (ja) * 2006-02-13 2011-06-29 ウシオ電機株式会社 放電ランプ点灯装置
JP4710842B2 (ja) * 2006-03-31 2011-06-29 ウシオ電機株式会社 希ガス蛍光ランプ点灯装置
US7382454B1 (en) 2006-09-24 2008-06-03 Carl Anthony Turner System and method for optically assessing lamp condition
JP2010516029A (ja) * 2007-01-10 2010-05-13 オスラム ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 高圧放電ランプを作動させるための回路装置および方法
KR20090113329A (ko) * 2007-02-13 2009-10-29 코닌클리즈케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. 가스 방전 램프를 구동하기 위한 장치
DE102008016757A1 (de) * 2008-03-31 2009-10-01 Tridonicatco Gmbh & Co. Kg Leistungsregelung von Gasentladungslampen in Halbbrückenschaltungen
DE102008014694A1 (de) * 2008-03-18 2009-09-24 Tridonicatco Gmbh & Co. Kg Leistungsregelung von Gasentladungslampen in Vollbrückenschaltungen
DE102008059494A1 (de) * 2008-11-28 2010-06-10 Osram Gesellschaft mit beschränkter Haftung Integrierte Gasentladungslampe und Verfahren zum Betreiben einer integrierten Gasentladungslampe
DE102008061088A1 (de) * 2008-12-08 2010-06-10 Tridonicatco Schweiz Ag Verfahren und Betriebsgerät zum Feststellen einer akustischen Resonanz bei einer HID-Lampe
DE102009019625B4 (de) * 2009-04-30 2014-05-15 Osram Gmbh Verfahren zum Ermitteln eines Typs einer Gasentladungslampe und elektronisches Vorschaltgerät zum Betreiben von mindestens zwei unterschiedlichen Typen von Gasentladungslampen
DE102009048562B4 (de) * 2009-10-07 2012-08-30 Heraeus Noblelight Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Betreiben einer elektrodenlosen Entladungslampe mit einem Wobbelgenerator
WO2011135493A2 (en) * 2010-04-29 2011-11-03 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of driving an arc-discharge lamp
JP2012164594A (ja) * 2011-02-09 2012-08-30 Panasonic Corp 半導体発光素子の点灯装置およびそれを用いた照明器具
CN102892246B (zh) 2011-07-18 2016-01-27 台达电子企业管理(上海)有限公司 放电灯系统及其控制方法
US9156343B2 (en) * 2011-12-27 2015-10-13 GM Global Technology Operations LLC Electrolytic capacitor reformation systems and methods
CN104919901B (zh) * 2013-01-17 2018-05-08 飞利浦灯具控股公司 用于连接到总线的灯负载的设置
DE102014013353A1 (de) * 2014-09-05 2016-03-10 B & S Elektronische Geräte GmbH Vorschaltgerät und Verfahren zur Steuerung eines Vorschaltgeräts
US10527552B2 (en) 2016-04-18 2020-01-07 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Simultaneous detection of multiple spectra of scattered radiation
JP6241688B1 (ja) * 2016-10-20 2017-12-06 岩崎電気株式会社 高圧ナトリウムランプ照明装置
EP3961891A1 (en) * 2020-09-01 2022-03-02 Tridonic GmbH & Co. KG Suppression of visible light output fluctuations of led converters

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4373146A (en) * 1980-10-20 1983-02-08 Gte Products Corporation Method and circuit for operating discharge lamp
JPH04277495A (ja) * 1991-03-04 1992-10-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 放電灯点灯装置
JP2953086B2 (ja) * 1991-03-22 1999-09-27 日産自動車株式会社 照明装置
TW235383B (ja) * 1991-04-04 1994-12-01 Philips Nv
US5225742A (en) * 1991-12-11 1993-07-06 Delta Coventry Corporation Solid state ballast for high intensity discharge lamps
DE4234358A1 (de) * 1992-10-12 1993-02-25 Juerg Nigg Verfahren zum betrieb einer gasentladungs- oder fluoreszenzlampe und vorschaltgeraet hierfuer sowie verwendungen hierfuer

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6703798B2 (en) 2002-02-26 2004-03-09 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Discharge lamp lighting device
JP2008112746A (ja) * 2008-02-04 2008-05-15 Mitsubishi Electric Corp 高圧放電灯点灯装置
JP4630348B2 (ja) * 2008-02-04 2011-02-09 三菱電機株式会社 高圧放電灯点灯装置

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Publication number Publication date
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