JPH09500515A - ミラーキャパシタを有する出力段を具える集積回路 - Google Patents

ミラーキャパシタを有する出力段を具える集積回路

Info

Publication number
JPH09500515A
JPH09500515A JP7528821A JP52882195A JPH09500515A JP H09500515 A JPH09500515 A JP H09500515A JP 7528821 A JP7528821 A JP 7528821A JP 52882195 A JP52882195 A JP 52882195A JP H09500515 A JPH09500515 A JP H09500515A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
state
output
integrated circuit
coupled
switching
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7528821A
Other languages
English (en)
Inventor
エイス カレル デェイクマンズ
Original Assignee
フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ filed Critical フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ
Publication of JPH09500515A publication Critical patent/JPH09500515A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00346Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents
    • H03K19/00361Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents in field effect transistor circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

(57)【要約】 集積回路は、NMOSトランジスタN1及びPMOSトランジスタP1にそれぞれ結合した入力部I並びにPMOSトランジスタ及びNMOSトランジスタを介してそれぞれ接続した第1及び第2電源端子Vdd及びVssに接続した出力部を有する出力段を具える。出力部を、ミラーキャパシタCMN及び切替手段N2,N3の直列接続部を介して第1ゲートに結合する。ミラーキャパシタは出力部の電圧の増大する速度を制限して、干渉を防止する。切替手段により、論理ローから論理ハイに切り替える前に非導通状態にする。これにより、干渉それ自体が別に発生するミラーキャパシタの突然の放電を防止する。

Description

【発明の詳細な説明】 ミラーキャパシタを有する出力段を具える集積回路 本発明は、第1及び第2電流チャネルの第1及び第2ゲート電極にそれぞれ結 合した入力部並びに前記第1及び第2電流チャネルを介してそれぞれ第1及び第 2電源端子に接続した出力部を有する出力段を具え、この出力段を、前記入力部 の信号の制御下で、前記第1及び第2電流チャネルをそれぞれ導通状態及び非導 通状態にする第1状態(L)から前記第1及び第2電流チャネルをそれぞれ非導 通状態及び導通状態にする第2状態(H)に切り替えるように配置し、前記出力 部を、ミラーキャパシタ及び切替手段の直列接続部を介して前記第1ゲート電極 に結合した集積回路に関するものである。この種の回路は米国特許明細書第5051 625 号から既知である。 この回路の第1電流チャネルはNMOSトランジスタのチャネルによって形成 され、かつ、第2電流チャネルはPMOSトランジスタのチャネルによって形成 されている。第1状態すなわち「論理ロー」状態では、NMOSトランジスタの チャネルは、第1電源端子に供給されるロー電源電圧を出力部に接続する。第2 状態すなわち「論理ハイ」状態では、PMOSトランジスタのチャネルは第2電 源端子に供給されるハイ電源電圧を出力部に接続する。このために、NMOSト ランジスタ及びPMOSトランジスタのゲート電極の電圧は論理ローとする。 第2状態から第1状態に切り替わると、ゲート電極の電圧は論理ローから論理 ハイに上昇する。この際、出力部の電圧が減少する。その理由は、NMOSトラ ンジスタのチャネルが導通を開始し、それに対してPMOSトランジスタは導通 しなくなるからである。第2状態から第1状態への切替が非常に急速になると、 妨害が発生する。切替速度したがって妨害の発生は出力の負荷の程度に依存する 。 ミラーキャパシタは、NMOSトランジスタのゲート電極に対して出力の電圧 の帰還結合を設ける。このような帰還結合はNMOSトランジスタのゲート電極 の電圧の増大に反対する。この反対は、出力部の電圧の減少速度が速くなるに従 って増大する。出力部それ自体の電圧の減少速度はNMOSトランジスタのゲー ト電極の電圧に依存するので、NMOSトランジスタの特性により減少速度が制 限される。したがってミラーキャパシタは減少速度を制御するとともに第2状態 から第1状態に切り替わる際に発生する妨害を制限する。 第1状態から第2状態に切り替わると、PMOSトランジスタのチャネルは導 通を開始し、それに対してNMOSトランジスタのチャネルは導通しなくなる。 NMOSトランジスタのチャネルが導通しなくなる速度はこの場合ミラーキャパ シタによって低減され、それに対してPMOSは既に導通状態となっている。そ の結果、短絡電流が第1電源端子から第2電源端子に流れはじめる。この電流に より、電源端子に干渉パルスが発生するとともに回路の電力消費が増大する。 従来の回路の一例では、別のNMOSトランジスタのチャネルをNMOSトラ ンジスタのチャネルに直列接続している。入力部の信号に応答して、別のトラン ジスタのチャネルも、NMOSトランジスタのチャネルが非導通状態になる際に 非導通状態となる。 これは、引用した刊行物(米国特許明細書第5051625 号)に開示されていない が短絡電流を防止する。しかしながら、集積回路に十分な表面領域を要するとい う欠点を有する。これは出力段の電流路の一部を形成するので、別のNMOSト ランジスタは、さらに大きくなるように既に構成されている必要がある。さらに 、単一NMOSトランジスタを具える元の出力段と同一の駆動電力を出力段が保 持すべき場合、NMOSトランジスタ及び別のNMOSトランジスタを元の出力 段のNMOSトランジスタの2倍の大きさにする必要がある。 本発明の目的は、切替速度を制限するミラーキャパシタを有する出力段を具え るとともに相当量の追加の表面領域を必要とすることなく短絡電流を制限した状 態にする集積回路を提供することである。 本発明による集積回路は、前記集積回路は、前記第1状態(L)から前記第2 状態(H)に切り替える前に前記切替手段を非導通状態にする手段を具えること を特徴とするものである。ミラーキャパシタを第1電流チャネルに結合しない結 果、第1電流チャネルをより急速に非導通状態にし、したがって短絡電流を防止 する。 出力部と第1ゲート電極との間に配置した切替手段は特に、引用した米国特許 (米国特許明細書第5051625 号)から既知である。第1及び第2状態に加えて、 引用した刊行物による回路も、NMOSトランジスタとPMOSトランジスタの いずれも導通状態でない高インピーダンス状態を有する。このために、回路は、 信号入力に依存しないとともに高インピーダンス状態を実現するように作用する 特定のイネーブル入力部を具える。 引用した刊行物による回路の切替手段を、高インピーダンス状態のミラーキャ パシタを介する入力部から出力部への信号の結合を防止するために設ける。この ために、切替手段をイネーブル入力によって制御する。高インピーダンス状態以 外、特に第1状態から第2状態及びその逆に切り替わる際、引用した刊行物によ る切替手段は導通状態のままである。さらに、第1及び第2ゲート電極が直接相 互接続して、第1及び第2ゲート電極を独立して制御することもできない。 第2状態から第1状態に切り替えるに当たり、切替手段をも導通状態にする。 したがって、この切替に対してミラーキャパシタは、出力部の電圧の減少速度を 制限するという上記効果を有する。 本発明による集積回路の一例は、前記集積回路は、前記切替手段を非導通状態 にした後前記ミラーキャパシタを放電させる放電回路を具えることを特徴とする ものである。放電回路は、ミラーキャパシタの両端間の電圧を第2状態から第1 状態への次の切替に要求される値に調整する。 ミラーキャパシタが適切な電圧に充電される速度は、状態の変化が互いに続く ことができる最大周波数を規定する。切替が非常に急速に互いに続くために切替 後ミラーキャパシタの両端間の電圧が次の切替に対する正確な値にまだ到達して いない場合、第1及び第2電流チャネルが同時に導通状態となり、したがって電 源端子間に電流パルスの妨害が発生する。しかしながら、ミラーキャパシタを適 切な電圧に充電する速度が非常に速くないので、ミラーキャパシタそれ自体を充 電するのに要求される電流により、電源端子の電流パルスの妨害が発生する。適 切な案では、ミラーキャパシタの充電速度を出力電圧の変化速度にほぼ等しくす べきである。 本発明による集積回路の他の例は、前記放電回路は前記第1電流チャネルと同 一の導電型の第3電流チャネルを具え、前記ミラーキャパシタを、接続部及び前 記切替手段を順次介して前記第1ゲート電極に結合し、前記接続部を、前記第3 電流チャネルを介して前記第1ゲート電極に結合し、前記第3電流チャネルの第 3ゲート電極を前記出力部に結合したことを特徴とするものである。本例では、 第3電流チャネルによって放電が発生し、この第3チャネルの導電性は、出力部 の電圧の変化速度に依存する速度で徐々に増大する。その結果放電速度は出力信 号の変化速度に適合される。したがって、放電は不必要に急速でなく、電源端子 に不必要な電流パルスが発生しない。 本発明による集積回路の一例は、前記出力部を、別のミラーキャパシタ及び別 の切替手段の別の直列接続部を介して前記第2ゲート電極に結合し、前記集積回 路は、前記第2状態(H)から前記第1状態(L)に切り替える前に前記別の切 替手段を非導通状態にする別の手段を具えることを特徴とするものである。した がって、出力部の電圧の変化速度は、第2状態から第1状態に切り替えることに より不必要な短絡電流を発生させることなく第1状態から第2状態への切替に対 しても制御される。 本発明による集積回路の一例は、前記ミラーキャパシタを、前記切替手段を介 して前記第1ゲート電極に結合するとともに前記別の切替手段を介して前記第2 ゲート電極に結合し、前記集積回路は、前記第2状態から前記第1状態に切り替 える前に前記別の切替手段を非導通状態にする別の手段を具えることを特徴とす るものである。したがって、第1のミラーキャパシタは、不必要な短絡電流を発 生させることなく第1状態から第2状態に切り替えるとともに第2状態から第1 状態に切り替えるように作用する。第2のミラーキャパシタに対する表面領域が 省略される。当然、この点を満足すべき状況では、このような切替動作は非常に 急速に互いに続くべきでないのでミラーキャパシタは切替の際にまだ十分充電又 は放電されていない。 本発明による集積回路の一例は、前記入力部を、第3及び第4電流チャネルの 第3及び第4ゲート電極に結合し、前記第1電極を、前記第3電流チャネルと抵 抗及び前記第4チャネルの直列接続部とを介して前記第1及び第2電源端子にそ れぞれ結合したことを特徴とするものである。第2状態から第1状態に切り替わ ると、ミラーキャパシタは抵抗及び第4電流チャネルを介して充電され、したが って第1ゲート電極の電圧は徐々に変化する。第1状態から第2状態に切り替わ ると、第1ゲート電極の電圧は、第3電流チャネルを流れる電流により変化する 。本発明によれば、切替手段は後の切替に対して導通状態ではなく、したがって 第3電流チャネルはミラーキャパシタを放電させる必要がない。その結果、第1 制御電極の電圧の変化は、大きな電流パルスが生じないにもかかわらず急速であ る。 本発明を特に、従来既知でない負荷を接続すべき集積回路の出力ピンを制御す るための出力段に使用することができる。 本発明及び本発明の利点を、図面を参照して詳細に説明する。 図1は、本発明による集積回路の一部の実施例を示す。 図2は、本発明による集積回路の一部の他の実施例を示す。 図1は、本発明による集積回路10の一部の実施例を示す。これは、出力部O を有する出力段の入力部Iに結合した出力部を有する論理回路ブロック19を示 す。入力部Iと出力部Oとの間に、共同して出力段を構成するN部11及びP部 12の並列接続部を配置する。出力部Oを集積回路10のピン13に結合する。 外部付加キャパシタンスCLを集積回路10のピン13に結合する。集積回路の 第1及び第2電源端子(Vss,Vdd)を、ワイヤを介して集積回路の別のピンに 結合する。これらワイヤをインダクタンスLp,LNの符号で示す。 N部11の入力部Iを、第1入力インバータ14の入力部に結合する。第1入 力インバータ14の出力部を第1ゲート電極に結合する。このゲート電極は、通 常トランジスタとして表されるとともにこのゲート電極に結合した電流チャネル の導電性を制御する役割を果たす。第1電極を具えるトランジスタを、第1出力 トランジスタN1と称する。第1出力トランジスタN1の電流チャネルを出力部 Oと第1電源端子Vssとの間に接続する。出力部OをミラーキャパシタCMNの端 子に接続し、このミラーキャパシタCMNの他の端子を、NMOSフィードバック トランジスタN2の電流チャネルを介して第1ゲート電極に接続する。入力部I を、インバータ16を介してNMOSフィードバックトランジスタN2のゲート 電極に結合する。ミラーキャパシタCMN及びNMOSフィードバックトランジス タN2の電流チャネルの接続点17を、NMOS放電トランジスタN3の電流チ ャネルを介して第1ゲート電極に結合する。NMOS放電トランジスタN3のゲ ート電極を出力部Oに結合する。 P区分12は、NMOSトランジスタN1,N2,N3及び第1入力インバー タ14をPMOSトランジスタP1,P2,P3及び第2入力インバータ15に それぞれ置き換えるとともに第1電源端子Vssと第2電源端子Vddとを交換した 点を除いてN区分と同一である。P区分12のミラーキャパシタをCMPと称する とともに、出力トランジスタP1を第2出力トランジスタと称する。 N区分11の第1入力インバータ14において、第1及び第2電源端子(Vss ,Vdd)を、NMOSトランジスタN4の電流チャネル、抵抗RN及びPMOS トランジスタP5の電流チャネルを順次に介して接続する。第1入力インバータ 15の入力部を、トランジスタN4,P5のゲート電極に結合する。抵抗RN及 びNMOSトランジスタN4の電流チャネルの接続部を、第1入力インバータ1 4の出力部に結合する。P区分は、第1入力インバータ14に対して相補的な第 2入力インバータ15(P4,Rp,N5)を具える。動作中、第1入力インバ ータ14は通常のインバータとして作用するが、第2電源端子Vddから出力しう る電流は抵抗Rpにより制限される。 動作中、回路の出力部Oは、図1に示すように、入力部I上に信号を発生させ る論理回路ブロック19の制御下で二つの論理状態のうちの一つを仮定すること ができる。第1状態(出力論理ロー)では、入力部Iの電圧が論理ローとなると ともにN区分11の出力トランジスタN1の電流チャネルが導通し、それに対し てP区分12の出力トランジスタP1電流チャネルは非導通状態となる。この状 態では、N区分11のミラーキャパシタCMNは、フィードバックトランジスタN 2の電流チャネルを介してNMOSトランジスタN1のゲート電極に導電的に接 続する。N区分11のミラーキャパシタCMNの両端間に、NMOS出力トランジ スタN2のゲート電極及び出力部Oにそれぞれ存在する論理ハイと論理ローとの 間の電圧差に相当する電圧が発生する。P区分12のミラーキャパシタCMPは第 2出力トランジスタP2のゲート電極から絶縁される。N区分11の放電トラン ジスタN3の電流チャネルは導通状態ではなく、P区分12の放電トランジスタ P3の電流チャネルは導通状態である。P区分12のミラーキャパシタCMPの両 端間に、PMOS出力トランジスタP2のゲート電極及び出力部Oにそれぞれ存 在する論理ハイと論理ローとの間の電圧差に相当する電圧が発生する。 入力部の電圧を論理ハイにすると、回路は第1状態から第2状態(論理ハイ) に切り替わる。入力部の制御下で、先ず、フィードバックトランジスタN2がイ ンバータ16により非導通状態となり、したがってN区分11のミラーキャパシ タCMNがNMOS出力トランジスタN1のゲート電極から絶縁される。 次いで、第1入力インバータ14の出力部を介して、出力トランジスタN1の 第1ゲート電極に第1電源端子Vssの電圧が引き出され、したがって第1出力ト ランジスタN1が非導通状態となる。フィードバックトランジスタN2の電流チ ャネルが絶縁するので、ミラーキャパシタを放電させる必要がなく、したがって 第1出力トランジスタN1の第1ゲート電極を、迅速かつミラーキャパシタCMN の放電が原因の不必要な電流パルスを発生させることなく低下させることができ る。出力部Oの電圧が最初論理ローのままであるので、放電トランジスタN2の 電流チャネルが絶縁し、したがってN区分11のミラーキャパシタCMNが最初保 持される。 既に説明したように、論理ハイに切り替わると、P区分12のフィードバック トランジスタP2の電流チャネルは入力部の影響下で導通状態となる。さらに、 放電トランジスタP3の電流チャネルは最初出力部Oの影響下で導通状態のまま である。したがって、第2ゲート電極を、トランジスタP2及びP3の電流チャ ネル並びにミラーキャパシタCMPを介して出力部Oにも接続する。 既に説明したように、論理ハイに切り替わると、第2入力インバータ15はそ の出力の電圧を低下しはじめる。しかしながら、第2入力インバータ15は、制 限された電流のみしか供給することができない。この電流はミラーキャパシタCMP 及び第2出力トランジスタP2のゲートキャパシタを充電する。その結果、第 2出力トランジスタP1の電流チャネルが導通しはじめる。結果的に、負荷キャ パシタンスCLが充電されるとともに出力部Oの電圧が増大する。増大速度は負 荷キャパシタンスの大きさに依存する。しかしながら、出力部Oの電圧が急速に 増大するに従って、ミラーキャパシタCMPは第2ゲート電極の電圧も増大させる 傾向にあり、したがって出力部Oの電圧の上昇を遅くする。 出力部Oの電圧が増大すると、N区分11の放電キャパシタN3の電流チャネ ルは徐々に導通状態になりはじめる。その結果、N区分11のミラーキャパシタ CMNの両端間の電圧は、最終的には出力部O及びNMOS出力トランジスタN1 のゲート電極にそれぞれ存在する論理ハイと論理ローとの間の差に相当する。 第2状態から第1状態への切替は、N区分11の役割とP区分12の役割とを 交換すると第1状態から第2状態への切替とほぼ同様に行われる。 切替に要求される電流は電源端子Vdd,Vssを介して得られる。これら端子を 、接続ワイヤを介して集積回路のピンに接続する。接続ワイヤはインダクタンス として作用し、したがって図1においてコイルLn及びLpで表す。切替の際に発 生するこれらワイヤを流れる電流の変動により干渉パルスが発生する。本発明は これら干渉パルスを軽減する。その理由は、出力の信号の変化速度が制限される とともに、出力トランジスタN1,P1を非導通状態とする前にこれらのゲート 電極が結合されたフィードバックトランジスタP2,N2を非導通状態とするこ とにより、ミラーキャパシタCMN及びCMPの不必要に急速な放電を防止するから である。 第2状態から第1状態に切り替わると、N区分11のフィードバックトランジ スタN2が導通状態となる。出力部OとNMOS入力トランジスタN1のゲート 電極との間の全電圧差がNチャネル11のミラーキャパシタンスCMNの両端間に この瞬時にまだ存在しないので、NMOSトランジスタN4が閉状態になると出 力トランジスタN1が切替の開始時に直接導通するおそれがあり、その結果出力 段によって引き出される電流が急速に増大し、インダクタンスLの両端間に高誘 導電圧が発生する。したがって、出力部Iの信号の切替周波数を好適にはローに 維持し、その結果ミラーキャパシタをその全電圧に到達させることができる。 したがって、ミラーキャパシタCMN及びCMPに対する最適放電速度を一案によ り決定することができる。非常に急速な放電を行う場合不所望な電流パルスが生 じる。非常に低速な放電を行う場合入力部Iの信号の最大に利用できる周波数が 減少する。 この案を実現するために、原理的には、放電トランジスタN3,P3の電流チ ャネルの代わりに抵抗又は抵抗として作用する素子を利用することもできる。こ の場合、放電が干渉パルスを妨害しない程度でミラーキャパシタCMN,CMPの放 電速度が制限されるように、抵抗を選択する(出力トランジスタN1,P1のゲ ート電極の代わりに、これら抵抗を、P区分12及びN区分11の電源端子Vdd ,Vssに直接接続することもできる。)。 しかしながら、ゲート電極が出力部Oに結合された放電トランジスタN3,P 3を利用する図1に示した解決は好適である。その理由は、この場合放電速度を 出力部Oの放電速度に適合させているからである。その結果、ミラーキャパシタ CMN及びCMP並びに放電トランジスタN3,P3を経る放電電流パルスは出力ト ランジスタN1,P1の電流チャネルを経る電流パルスに比べて妨害を少なくし 、それにもかかわらず放電速度は出力部Oの電圧変動が急速な場合急速となり( 、特に出力部Oの電圧が大幅に増大すると大幅に増大し、したがって直接導通す る場合には多量の充電量が消失し)、したがって使用される信号に対して高周波 数が好適となる。 図2は、本発明による集積回路29の一部の他の実施例を示す。本実施例では 、論理回路ブロック28を、第1入力インバータ25を介してNMOS型の第1 出力トランジスタ20の第1ゲート電極に結合した入力部Iに結合する。第1ト ランジスタ20の電流チャネルを、第1電源端子Vssと出力部Oとの間に接続す る。第1入力インバータ25は、図1を参照して説明した第1入力インバータ1 4と同一構造を有する。 入力部Iを、第2入力インバータ26を介してPMOS型の第2出力トランジ スタ21の第2ゲート電極にも結合する。第2出力トランジスタ21の電流チャ ネルを、第2電源端子Vddと出力部Oとの間に接続する。第2入力インバータ2 6は、図1を参照して説明した第2入力インバータ15と同一構造を有する。 出力Oを、ミラーキャパシタ22及びNMOSフィードバックトランジスタ2 3の電流チャネルを介して第1ゲート電極に帰還させる。また、出力Oを、この キャパシタ及びPMOSフィードバックトランジスタ24の電流チャネルを介し て第2ゲート電極に帰還させる。インバータ27を介して、入力部IをPMOS フィードバックトランジスタ24及びNMOSフィードバックトランジスタ23 に結合する。 動作中、論理回路ブロック28は出力Oを二つの論理状態のうちのいずれかに 設定することができる。第1状態(出力論理ロー)の場合、入力部Iの電圧は論 理ローとなり、第1出力トランジスタ20の電流チャネルが導通状態となり、そ れに対して第2出力トランジスタ21の電流チャネルが非導通状態となる。この 状態では、ミラーキャパシタ22を、フィードバックトランジスタ23の電流チ ャネルを介して第1出力トランジスタ20の第1ゲート電極に導電的に接続する 。ミラーキャパシタ22を、第2出力トランジスタ21のゲート電極から絶縁す る。 第1状態から第2状態(論理ハイ)に切り替わると、入力部Iの電圧は論理ハ イとなる。先ず、入力部Iの制御下で、ミラーキャパシタ22が、帰還トランジ スタ23を非導通状態とすることにより第1出力トランジスタ20のゲート電極 から絶縁される。 次いで、第1入力インバータ25の出力部を介して、第1出力トランジスタ2 0の第1ゲート電極に第1電源端子Vssの電圧を引き出し、その結果第1出力ト ランジスタ20は非導通状態となる。フィードバックトランジスタ23の電流チ ャネルが絶縁するので、ミラーキャパシタを放電する必要もなくなり、第1出力 トランジスタ20の第1ゲート電極を、急速かつミラーキャパシタ22の放電の ために不必要な電流パルスを発生させることなく電圧低下させることができる。 既に説明したように、論理ハイに切り替えると、入力の影響下で、フィードバ ックトランジスタ24の電流チャネルを、インバータ27を介して導通状態にす る。したがって、第2ゲート電極を、フィードバックトランジスタ24の電流チ ャネル及びミラーキャパシタ22を介して出力部Oと接続する。第2入力インバ ータ26をその出力の電圧に低下させる。第2入力インバータ26は、制限され た電流のみしか発生させない。この電流は、ミラーキャパシタ22及び第2出力 トランジスタ21のゲートキャパシタンスを充電する。したがって、第2出力ト ランジスタ21の電流チャネルは導通状態となる。その結果、出力部Oの電圧が 増大する。これの増大速度も負荷キャパシタンスの大きさに依存する。しかしな がら、出力部Oの電圧上昇が急速になると、ミラーキャパシタ22は第2ゲート 電極の電圧を上昇させ、出力部Oの電圧上昇は低速になる。 第1電源端子Vss、インバータ25、第1出力トランジスタ20及びフィード バックトランジスタ23の役割を第2電源端子Vdd,インバータ26、第2出力 トランジスタ21及びフィードバックトランジスタ24の役割とそれぞれ交換す る場合には、第2状態から第1状態への切替は、第1状態から第2状態への切替 と非常に類似している。 ミラーキャパシタ22は、第1状態から第2状態及び第2状態から第1状態に 切り替わると第1及び第2出力トランジスタ20,21に対して同一の低速タス クも実行する。 図1に示す実施例に比べて、図2の実施例は、集積回路の接続ワイヤの電流パ ルスを減少させる。その理由は、ミラーキャパシタ22の不必要な放電を防止す るからである。しかしながら、これは、出力信号の遷移の最大に使用できる周波 数を必然的に減少させる。その理由は、これら遷移が互いに間隔を置いて連続し 、遷移に応答してミラーキャパシタが充電又は放電されて最初の瞬時に結合した 出力トランジスタを非導通状態のままにする必要があるからである。このように して、出力トランジスタが同時に導通状態になることが原因の干渉パルスを防止 する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.第1及び第2電流チャネルの第1及び第2ゲート電極にそれぞれ結合した入 力部並びに前記第1及び第2電流チャネルを介してそれぞれ第1及び第2電源端 子に接続した出力部を有する出力段を具え、この出力段を、前記入力部の信号の 制御下で、前記第1及び第2電流チャネルをそれぞれ導通状態及び非導通状態に する第1状態(L)から前記第1及び第2電流チャネルをそれぞれ非導通状態及 び導通状態にする第2状態(H)に切り替えるように配置し、前記出力部を、ミ ラーキャパシタ及び切替手段の直列接続部を介して前記第1ゲート電極に結合し た集積回路において、前記集積回路は、前記第1状態(L)から前記第2状態( H)に切り替える前に前記切替手段を非導通状態にする手段を具えることを特徴 とする集積回路。 2.前記集積回路は、前記切替手段を非導通状態にした後前記ミラーキャパシタ を放電させる放電回路を具えることを特徴とする請求の範囲1記載の集積回路。 3.前記放電回路は前記第1電流チャネルと同一の導電型の第3電流チャネルを 具え、前記ミラーキャパシタを、接続部及び前記切替手段を順次介して前記第1 ゲート電極に結合し、前記接続部を、前記第3電流チャネルを介して前記第1ゲ ート電極に結合し、前記第3電流チャネルの第3ゲート電極を前記出力部に結合 したことを特徴とする請求の範囲2記載の集積回路。 4.前記出力部を、別のミラーキャパシタ及び別の切替手段の別の直列接続部を 介して前記第2ゲート電極に結合し、前記集積回路は、前記第2状態(H)から 前記第1状態(L)に切り替える前に前記別の切替手段を非導通状態にする別の 手段を具えることを特徴とする請求の範囲1,2又は3記載の集積回路。 5.前記ミラーキャパシタを、前記切替手段を介して前記第1ゲート電極に結合 するとともに前記別の切替手段を介して前記第2ゲート電極に結合し、前記集積 回路は、前記第2状態から前記第1状態に切り替える前に前記別の切替手段を非 導通状態にする別の手段を具えることを特徴とする請求の範囲1又は2記載の集 積回路。 6.前記入力部を、第3及び第4電流チャネルの第3及び第4ゲート電極に結合 し、前記第1電極を、前記第3電流チャネルと抵抗及び前記第4チャネルの直列 接続部とを介して前記第1及び第2電源端子にそれぞれ結合したことを特徴とす る請求の範囲1から5のうちのいずれかに記載の集積回路。 7.前記出力部を前記集積回路の出力ピンに直接結合したことを特徴とする請求 の範囲1から6のうちのいずれかに記載の集積回路。
JP7528821A 1994-05-09 1995-05-05 ミラーキャパシタを有する出力段を具える集積回路 Pending JPH09500515A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP94201298.0 1994-05-09
EP94201298 1994-05-09
PCT/IB1995/000329 WO1995031041A1 (en) 1994-05-09 1995-05-05 Integrated circuit comprising an output stage with a miller capacitor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09500515A true JPH09500515A (ja) 1997-01-14

Family

ID=8216864

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7528821A Pending JPH09500515A (ja) 1994-05-09 1995-05-05 ミラーキャパシタを有する出力段を具える集積回路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5587678A (ja)
EP (1) EP0707758B1 (ja)
JP (1) JPH09500515A (ja)
DE (1) DE69511206T2 (ja)
WO (1) WO1995031041A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001094406A (ja) * 1999-09-20 2001-04-06 Fuji Electric Co Ltd ドライブ回路

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08203270A (ja) * 1995-01-27 1996-08-09 Matsushita Electron Corp 半導体集積回路
JP2692637B2 (ja) * 1995-02-28 1997-12-17 日本電気株式会社 バスドライバ
US5760620A (en) * 1996-04-22 1998-06-02 Quantum Effect Design, Inc. CMOS limited-voltage-swing clock driver for reduced power driving high-frequency clocks
US5684420A (en) * 1996-05-29 1997-11-04 Vlsi Technology, Inc. Small signal amplifier for independent p-channel and n-channel drives
US5894241A (en) * 1996-09-30 1999-04-13 Cypress Semiconductor Corp. Bootstrap augmentation circuit and method
US5883531A (en) * 1997-08-18 1999-03-16 National Semiconductor Corporation Universal serial bus driver having MOS transistor gate capacitor
US5949259A (en) * 1997-11-19 1999-09-07 Atmel Corporation Zero-delay slew-rate controlled output buffer
US6225819B1 (en) 1998-03-17 2001-05-01 Cypress Semiconductor Corp. Transmission line impedance matching output buffer
JP2000049585A (ja) * 1998-07-31 2000-02-18 Fujitsu Ltd 出力バッファ回路
US6060938A (en) * 1998-08-19 2000-05-09 Fairchild Semiconductor Corp. Output buffer for reducing switching noise
US6281730B1 (en) 1999-05-13 2001-08-28 National Semiconductor Corporation Controlled slew rate driver
US6384621B1 (en) 2001-02-22 2002-05-07 Cypress Semiconductor Corp. Programmable transmission line impedance matching circuit
US6753708B2 (en) * 2002-06-13 2004-06-22 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Driver circuit connected to pulse shaping circuitry and method of operating same
US7888962B1 (en) 2004-07-07 2011-02-15 Cypress Semiconductor Corporation Impedance matching circuit
KR100706576B1 (ko) * 2005-08-01 2007-04-13 삼성전자주식회사 슬루율이 제어된 출력 구동회로
KR100832894B1 (ko) * 2005-10-06 2008-05-28 삼성전기주식회사 출력 버퍼회로
US8036846B1 (en) 2005-10-20 2011-10-11 Cypress Semiconductor Corporation Variable impedance sense architecture and method
ATE513365T1 (de) * 2006-03-31 2011-07-15 Nxp Bv Verfahren und system für einen signaltreiber mit kapazitätsrückmeldung
FR2907619B1 (fr) * 2006-10-20 2009-02-13 Atmel Nantes Sa Sa Dispositif d'interfacage de sortie compense en charge et circuit electronique correspondant.
US7652511B2 (en) * 2008-01-16 2010-01-26 Amazing Microelectronic Corp. Slew-rate control circuitry with output buffer and feedback
US9106378B2 (en) 2009-06-10 2015-08-11 Qualcomm Incorporated Systems, apparatus and methods for communicating downlink information
US9144037B2 (en) 2009-08-11 2015-09-22 Qualcomm Incorporated Interference mitigation by puncturing transmission of interfering cells
US8724563B2 (en) * 2009-08-24 2014-05-13 Qualcomm Incorporated Method and apparatus that facilitates detecting system information blocks in a heterogeneous network
US9277566B2 (en) * 2009-09-14 2016-03-01 Qualcomm Incorporated Cross-subframe control channel design
US8942192B2 (en) 2009-09-15 2015-01-27 Qualcomm Incorporated Methods and apparatus for subframe interlacing in heterogeneous networks
US9392608B2 (en) 2010-04-13 2016-07-12 Qualcomm Incorporated Resource partitioning information for enhanced interference coordination
US9226288B2 (en) 2010-04-13 2015-12-29 Qualcomm Incorporated Method and apparatus for supporting communications in a heterogeneous network
US9125072B2 (en) 2010-04-13 2015-09-01 Qualcomm Incorporated Heterogeneous network (HetNet) user equipment (UE) radio resource management (RRM) measurements
US9271167B2 (en) 2010-04-13 2016-02-23 Qualcomm Incorporated Determination of radio link failure with enhanced interference coordination and cancellation
US8886190B2 (en) 2010-10-08 2014-11-11 Qualcomm Incorporated Method and apparatus for measuring cells in the presence of interference
US8638131B2 (en) * 2011-02-23 2014-01-28 Qualcomm Incorporated Dynamic feedback-controlled output driver with minimum slew rate variation from process, temperature and supply
KR20140146482A (ko) * 2013-06-17 2014-12-26 에스케이하이닉스 주식회사 반도체시스템
DE102014209694A1 (de) * 2014-05-21 2015-11-26 Robert Bosch Gmbh Teilnehmerstation für ein Bussystem und Verfahren zur Erhöhung der Störfestigkeit im Bereich der elektromagnetischen Verträglichkeit für eine Teilnehmerstation
US9548726B1 (en) * 2015-02-13 2017-01-17 Inphi Corporation Slew-rate control and waveshape adjusted drivers for improving signal integrity on multi-loads transmission line interconnects
US10826466B1 (en) * 2019-09-26 2020-11-03 Stmicroelectronics S.R.L. Digital output buffer circuits with reduced input/output delay

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4857863A (en) * 1988-08-25 1989-08-15 Motorola, Inc. Low power output driver circuit with slew rate limiting
US5051625B1 (en) * 1988-10-28 1993-11-16 Nissan Motor Co.,Ltd. Output buffer circuits for reducing noise
WO1991020130A1 (en) * 1990-06-20 1991-12-26 Oki Electric Industry Co., Ltd. Output buffer circuit
US5218239A (en) * 1991-10-03 1993-06-08 National Semiconductor Corporation Selectable edge rate cmos output buffer circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001094406A (ja) * 1999-09-20 2001-04-06 Fuji Electric Co Ltd ドライブ回路

Also Published As

Publication number Publication date
EP0707758B1 (en) 1999-08-04
EP0707758A1 (en) 1996-04-24
DE69511206T2 (de) 2000-02-17
WO1995031041A1 (en) 1995-11-16
DE69511206D1 (de) 1999-09-09
US5587678A (en) 1996-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH09500515A (ja) ミラーキャパシタを有する出力段を具える集積回路
US7378878B2 (en) Driver circuit having programmable slew rate
JP4016079B2 (ja) 調整可能出力ドライバ回路
US20070222486A1 (en) Driver circuit connected to pulse shaping circuitry
EP0212677B1 (en) Electronic switching device with exciting coil
TWI430072B (zh) 使用在不同電壓區域之間的電位轉換器與方法
JP2685271B2 (ja) 集積回路
KR19990077343A (ko) 출력 버퍼 회로
JP3464278B2 (ja) ノイズ低減出力段を備えた集積回路
US6759880B2 (en) Driver circuit connected to a switched capacitor and method of operating same
KR101164308B1 (ko) 출력 회로
EP0652641A1 (en) Slew rate control circuit
JPH11511611A (ja) 増速cmosバッファ回路
US20060158921A1 (en) Semiconductor integrated circuit device
JPH07303039A (ja) 出力電流回路およびカスコード回路からの制御電流出力を発生する方法
JP2686943B2 (ja) 静電誘導形トランジスタのゲート駆動回路
JPH08275383A (ja) 突入電流防止回路
JPH09167948A (ja) 入力信号のエッジに応答してパルスを発生する回路及び方法
JPH11330937A (ja) 信号伝達装置
JPH02301323A (ja) レベルシフト回路
JPH028517Y2 (ja)
JP2000148260A (ja) 節電装置
JP2013222679A (ja) リレー装置及びリレー制御回路
JPH056293B2 (ja)
JP2003037488A (ja) 集積回路の供給電圧範囲を拡大する方法および制御回路