JPH0943307A - Ｉｃソケット装置 - Google Patents
Ｉｃソケット装置Info
- Publication number
- JPH0943307A JPH0943307A JP7193561A JP19356195A JPH0943307A JP H0943307 A JPH0943307 A JP H0943307A JP 7193561 A JP7193561 A JP 7193561A JP 19356195 A JP19356195 A JP 19356195A JP H0943307 A JPH0943307 A JP H0943307A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- socket
- electromagnet
- tester
- controller
- lid
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Abstract
(57)【要約】
【課題】ＩＣの特性測定の場合に、ＩＣソケットの押え
蓋をテスタに連動させ自動に固定及び解放させること
で、ＩＣの測定を容易にする。 【解決手段】ＩＣソケットの押え蓋２に永久磁石３を内
蔵させ、ＩＣソケット本体１に内蔵した電磁石４に電流
を供給しその電磁力で押え蓋２を固定する。この電磁石
４に電流を供給するコントローラ５をテスタ６に連動さ
せることで、テストのタイミングに合ったＩＣソケット
の着脱を、自動的に行うことができる。
蓋をテスタに連動させ自動に固定及び解放させること
で、ＩＣの測定を容易にする。 【解決手段】ＩＣソケットの押え蓋２に永久磁石３を内
蔵させ、ＩＣソケット本体１に内蔵した電磁石４に電流
を供給しその電磁力で押え蓋２を固定する。この電磁石
４に電流を供給するコントローラ５をテスタ６に連動さ
せることで、テストのタイミングに合ったＩＣソケット
の着脱を、自動的に行うことができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は電気特性測定を行う
ＩＣソケット装置に関し、特に電磁力によりＩＣを固定
するＩＣソケット装置に関する。
ＩＣソケット装置に関し、特に電磁力によりＩＣを固定
するＩＣソケット装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣを電気特性測定機（以下テスタとい
う）により測定する場合、ＩＣと電気的接続を得るた
め、図３に示すようなＩＣソケットを用いている。この
ＩＣソケット本体１にＩＣ８をのせ、押さえ蓋２を閉じ
ストッパ１１で固定する。これによりＩＣ８とコンタク
トピン１０間の電気的接続がとれ、ＩＣ８をテスタ６で
測定することができる。この従来のＩＣソケットでは、
まず押さえ蓋２をストッパ１１で固定する際に、互いに
こすれ合うため磨耗するという問題点と、次に押さえ蓋
２を固定・解放するためには、ストッパ１１を人手によ
り動かさねばならないという問題点があった。
う）により測定する場合、ＩＣと電気的接続を得るた
め、図３に示すようなＩＣソケットを用いている。この
ＩＣソケット本体１にＩＣ８をのせ、押さえ蓋２を閉じ
ストッパ１１で固定する。これによりＩＣ８とコンタク
トピン１０間の電気的接続がとれ、ＩＣ８をテスタ６で
測定することができる。この従来のＩＣソケットでは、
まず押さえ蓋２をストッパ１１で固定する際に、互いに
こすれ合うため磨耗するという問題点と、次に押さえ蓋
２を固定・解放するためには、ストッパ１１を人手によ
り動かさねばならないという問題点があった。
【０００３】そこで、これらの解決策として、図４には
実開昭６１−１３２７７４号に示すＩＣソケット、図５
には実開平２−４７７８９号に示すＩＣソケットがあ
る。図４は電磁石を用いてＩＣ８の外部端子９を電磁力
で吸着し固定するものであるが、外部端子９が弱磁性体
である銅材でできている場合、図３に示すＩＣソケット
ではＩＣ８の外部端子９を吸着できない。また、図５で
はＩＣソケット本体１および押さえ蓋２を取り付けられ
た永久磁石３により、ＩＣ８を固定するものである。こ
の場合、常に同じ接着力でＩＣソケット本体１と押え蓋
２は接着しているため、連続してＩＣを載せ替えるとい
う作業には向かないという問題点が残った。
実開昭６１−１３２７７４号に示すＩＣソケット、図５
には実開平２−４７７８９号に示すＩＣソケットがあ
る。図４は電磁石を用いてＩＣ８の外部端子９を電磁力
で吸着し固定するものであるが、外部端子９が弱磁性体
である銅材でできている場合、図３に示すＩＣソケット
ではＩＣ８の外部端子９を吸着できない。また、図５で
はＩＣソケット本体１および押さえ蓋２を取り付けられ
た永久磁石３により、ＩＣ８を固定するものである。こ
の場合、常に同じ接着力でＩＣソケット本体１と押え蓋
２は接着しているため、連続してＩＣを載せ替えるとい
う作業には向かないという問題点が残った。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】そのため、図４，図５
から類推可能なＩＣソケットとして、図６のような構造
が考えられる。これは、押さえ蓋２に永久磁石３を内蔵
させ、ＩＣソケット本体１に設けた電磁石４によりＩＣ
８を固定するものである。ＩＣ８の測定時には、電磁石
４に電流を流すコントローラ５をＯＮさせ、電磁石４に
電流を流し電磁力によりＩＣ８を固定し、測定完了後Ｉ
Ｃ８を取り出すため電磁石４の電流をカットするために
コントローラ５をＯＦＦする。これにより電磁力を用い
てＩＣ８を測定することが可能となる。しかし、図６の
ＩＣソケットでも、テスタ６とコントローラ５が連動し
ていないため、コントローラ５のオン・オフを人手によ
り操作しなければならないという問題があった。
から類推可能なＩＣソケットとして、図６のような構造
が考えられる。これは、押さえ蓋２に永久磁石３を内蔵
させ、ＩＣソケット本体１に設けた電磁石４によりＩＣ
８を固定するものである。ＩＣ８の測定時には、電磁石
４に電流を流すコントローラ５をＯＮさせ、電磁石４に
電流を流し電磁力によりＩＣ８を固定し、測定完了後Ｉ
Ｃ８を取り出すため電磁石４の電流をカットするために
コントローラ５をＯＦＦする。これにより電磁力を用い
てＩＣ８を測定することが可能となる。しかし、図６の
ＩＣソケットでも、テスタ６とコントローラ５が連動し
ていないため、コントローラ５のオン・オフを人手によ
り操作しなければならないという問題があった。
【０００５】本発明の目的は、これらの問題を解決し、
テスタ動作と連動することでＩＣの着脱を容易にしたＩ
Ｃソケット装置を提供することにある。
テスタ動作と連動することでＩＣの着脱を容易にしたＩ
Ｃソケット装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のＩＣソケット装
置の構成は、試験すべきＩＣの各端子と対応して設けら
れると共にテスタと接続されるコンタクトピンを備えこ
のＩＣを装着するソケットと、このソケットの一端に端
部が支持され前記ＩＣを押圧する押え蓋と、この押え蓋
の他端に前記ソケットと面して一方の極性を向けて設け
られた磁性体と、この磁性体と対向して一磁極が向くよ
うに前記ソケット内に設けられた電磁石と、この電磁石
を前記テスタのテスト動作と同期してオン・オフ制御す
るコントローラとを有することを特徴とする。
置の構成は、試験すべきＩＣの各端子と対応して設けら
れると共にテスタと接続されるコンタクトピンを備えこ
のＩＣを装着するソケットと、このソケットの一端に端
部が支持され前記ＩＣを押圧する押え蓋と、この押え蓋
の他端に前記ソケットと面して一方の極性を向けて設け
られた磁性体と、この磁性体と対向して一磁極が向くよ
うに前記ソケット内に設けられた電磁石と、この電磁石
を前記テスタのテスト動作と同期してオン・オフ制御す
るコントローラとを有することを特徴とする。
【０００７】本発明において、コントローラが、電磁石
をテスタのテスト動作時に一極性として磁性体を吸引す
る方向に動作させると共に、前記電磁石をそのテスト終
了後一定時間逆極性として前記磁性体を反発させる方向
に動作させるようにすることもできる。
をテスタのテスト動作時に一極性として磁性体を吸引す
る方向に動作させると共に、前記電磁石をそのテスト終
了後一定時間逆極性として前記磁性体を反発させる方向
に動作させるようにすることもできる。
【０００８】
【発明の実施の形態】図１は本発明の一実施形態の操作
を工程順に示した模式図であり、図２は本実施形態の動
作を説明するタイミングチャートである。
を工程順に示した模式図であり、図２は本実施形態の動
作を説明するタイミングチャートである。
【０００９】まず、図１（ａ）に示すように、ＩＣソケ
ット本体１にＩＣ８を載せる。次にテスタ６によるテス
トをスタートさせると、テスタ６はコントローラ５へコ
ントロール信号を出力し、ＩＣ８が固定されるまでしば
らく待機状態となる。コントロール信号を受け取ったコ
ントローラ５は、電磁石４の上面の極性が永久磁石３の
下面の極性と反対となるように電流を流し、電磁力によ
り押え蓋２を吸着し、図１（ｂ）のようにＩＣ８を固定
する。
ット本体１にＩＣ８を載せる。次にテスタ６によるテス
トをスタートさせると、テスタ６はコントローラ５へコ
ントロール信号を出力し、ＩＣ８が固定されるまでしば
らく待機状態となる。コントロール信号を受け取ったコ
ントローラ５は、電磁石４の上面の極性が永久磁石３の
下面の極性と反対となるように電流を流し、電磁力によ
り押え蓋２を吸着し、図１（ｂ）のようにＩＣ８を固定
する。
【００１０】その後テスタ６のテストが開始される。テ
スタ６によるテストが終了すると、テスタ６はコントロ
ーラ５へテスト終了のコントロール信号を出力する。コ
ントロール信号を受け取ったコントローラ５は、電磁石
４の電流を反転させ、図１（ｃ）のように押え蓋２を電
磁力の反発により浮き上がらせる。これにより、ＩＣ８
を取り出すことができる。最後に、コントローラ５が電
磁石４の電流をカットしてＩＣ８の測定は終了する。
スタ６によるテストが終了すると、テスタ６はコントロ
ーラ５へテスト終了のコントロール信号を出力する。コ
ントロール信号を受け取ったコントローラ５は、電磁石
４の電流を反転させ、図１（ｃ）のように押え蓋２を電
磁力の反発により浮き上がらせる。これにより、ＩＣ８
を取り出すことができる。最後に、コントローラ５が電
磁石４の電流をカットしてＩＣ８の測定は終了する。
【００１１】また図２に示すように、ＩＣ８のテスタ６
は、その動作開始をスタート（ＳＴＡＲＴ）信号により
行い、一定の待機時間（ＷＡＩＴ）後に、テスト動作
（ＴＥＳＴ）を開始する。このテストが終了するとテス
タ６は動作停止（ＯＦＦ）となる。このテスト動作を同
期してコントローラ５は、コントロール信号を出力する
が、このコントロール信号は、図２のようにテスタ６の
スタート信号により立上り、テスト終了により立下る信
号となる。
は、その動作開始をスタート（ＳＴＡＲＴ）信号により
行い、一定の待機時間（ＷＡＩＴ）後に、テスト動作
（ＴＥＳＴ）を開始する。このテストが終了するとテス
タ６は動作停止（ＯＦＦ）となる。このテスト動作を同
期してコントローラ５は、コントロール信号を出力する
が、このコントロール信号は、図２のようにテスタ６の
スタート信号により立上り、テスト終了により立下る信
号となる。
【００１２】このコントロール信号に対応してコントロ
ーラ５は電磁石４を駆動する。すなわち、スタート信号
によりコントロール信号が立上ると電磁石４が永久磁石
３を吸引する駆動電流をオンとし、テスト終了によりコ
ントロール信号が立下ると、電磁石４が永久磁石３を反
発する方向の反転駆動電流を一時的にオンとした後、そ
の駆動電流をオフとする。従って、ＩＣ８の着脱がきわ
めて容易にできることになる。
ーラ５は電磁石４を駆動する。すなわち、スタート信号
によりコントロール信号が立上ると電磁石４が永久磁石
３を吸引する駆動電流をオンとし、テスト終了によりコ
ントロール信号が立下ると、電磁石４が永久磁石３を反
発する方向の反転駆動電流を一時的にオンとした後、そ
の駆動電流をオフとする。従って、ＩＣ８の着脱がきわ
めて容易にできることになる。
【００１３】このコントローラ５は、テスタ６の制御タ
イミングに同期して電磁石４が一方向および逆方向に駆
動できるような正負の一定電流を供給できればよいの
で、簡単なタイミング回路（例えばモノステーブルマル
チバイブレータ）および電流ゲート回路で構成すること
ができる。また電磁石４への反転駆動電流の供給時間
は、ＩＣソケットの大きさ永久磁石３との関係などによ
り適当に設定すればよい。
イミングに同期して電磁石４が一方向および逆方向に駆
動できるような正負の一定電流を供給できればよいの
で、簡単なタイミング回路（例えばモノステーブルマル
チバイブレータ）および電流ゲート回路で構成すること
ができる。また電磁石４への反転駆動電流の供給時間
は、ＩＣソケットの大きさ永久磁石３との関係などによ
り適当に設定すればよい。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したよう本発明のＩＣソケット
は、ＩＣソケットの押え蓋に磁性体を内蔵し、ＩＣソケ
ット本体に電磁力により、その押え蓋を固定するための
電磁石を内蔵し、この電磁石を制御するコントロール装
置を備えているので、ＩＣソケットが磨耗することな
く、人手を用いることなくテスタに連動したタイミング
でＩＣの固定力が得られ、ＩＣの外部端子の素材によら
ずＩＣの特性測定を確実に実施する事ができる。
は、ＩＣソケットの押え蓋に磁性体を内蔵し、ＩＣソケ
ット本体に電磁力により、その押え蓋を固定するための
電磁石を内蔵し、この電磁石を制御するコントロール装
置を備えているので、ＩＣソケットが磨耗することな
く、人手を用いることなくテスタに連動したタイミング
でＩＣの固定力が得られ、ＩＣの外部端子の素材によら
ずＩＣの特性測定を確実に実施する事ができる。
【図１】本発明の第１の実施の形態を説明する模式的側
面図である。
面図である。
【図２】図１の動作を説明するタイミングチャートであ
る。
る。
【図３】従来のＩＣソケット装置の一例を示す模式的側
面図である。
面図である。
【図４】従来のＩＣソケットの他の公知例を示す模式的
側面図である。
側面図である。
【図５】従来のＩＣソケットのさらに他の公知例を示す
分解斜視図である。
分解斜視図である。
【図６】図４、図５から考えられるＩＣソケット装置を
示す模式的側面図である。
示す模式的側面図である。
１ ＩＣソケット本体 ２ 押え蓋 ３ 永久磁石 ４ 電磁石 ５ コントローラ ６ テスタ ７ コントロール信号線 ８ ＩＣ ９ 外部端子 １０ コンタクトピン １１ ストッパ
Claims (3)
- 【請求項１】 試験すべきＩＣの各端子と対応して設け
られると共にテスタと接続されるコンタクトピンを備え
このＩＣを装着するソケットと、このソケットの一端に
端部が支持され前記ＩＣを押圧する押え蓋と、この押え
蓋の他端に前記ソケットと面して一方の極性を向けて設
けられた磁性体と、この磁性体と対向して一磁極が向く
ように前記ソケット内に設けられた電磁石と、この電磁
石を前記テスタのテスト動作と同期してオン・オフ制御
するコントローラとを有することを特徴とするＩＣソケ
ット装置。 - 【請求項２】 コントローラが、電磁石をテスタのテス
ト動作時に一極性として磁性体を吸引する方向に動作さ
せると共に、前記電磁石をそのテスト終了後一定時間逆
極性として前記磁性体を反発させる方向に動作させるよ
うにした請求項１記載のＩＣソケット装置。 - 【請求項３】 磁性体が永久磁石である請求項１または
請求項２記載のＩＣソケット装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7193561A JP2723844B2 (ja) | 1995-07-28 | 1995-07-28 | Ｉｃソケット装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7193561A JP2723844B2 (ja) | 1995-07-28 | 1995-07-28 | Ｉｃソケット装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0943307A true JPH0943307A (ja) | 1997-02-14 |
| JP2723844B2 JP2723844B2 (ja) | 1998-03-09 |
Family
ID=16310088
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7193561A Expired - Fee Related JP2723844B2 (ja) | 1995-07-28 | 1995-07-28 | Ｉｃソケット装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2723844B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100793699B1 (ko) * | 2007-09-17 | 2008-01-09 | 주식회사 지엔티시스템즈 | 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그 |
| CN108023247A (zh) * | 2017-12-04 | 2018-05-11 | 上海财经大学 | 智能地插系统 |
| JP2023527207A (ja) * | 2020-05-29 | 2023-06-27 | 維沃移動通信有限公司 | ワイヤレスイヤホン、ワイヤレスイヤホンボックス及びワイヤレスイヤホン機器 |
-
1995
- 1995-07-28 JP JP7193561A patent/JP2723844B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100793699B1 (ko) * | 2007-09-17 | 2008-01-09 | 주식회사 지엔티시스템즈 | 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그 |
| CN108023247A (zh) * | 2017-12-04 | 2018-05-11 | 上海财经大学 | 智能地插系统 |
| CN108023247B (zh) * | 2017-12-04 | 2019-04-23 | 上海财经大学 | 智能地插系统 |
| JP2023527207A (ja) * | 2020-05-29 | 2023-06-27 | 維沃移動通信有限公司 | ワイヤレスイヤホン、ワイヤレスイヤホンボックス及びワイヤレスイヤホン機器 |
| US12114122B2 (en) | 2020-05-29 | 2024-10-08 | Vivo Mobile Communication Co., Ltd. | Wireless earphone, wireless earphone box, and wireless earphone device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2723844B2 (ja) | 1998-03-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19971111 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |