JPH0931578A

JPH0931578A - 電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬質箔

Info

Publication number: JPH0931578A
Application number: JP7203941A
Authority: JP
Inventors: Kaneshige Yamamoto; 兼滋山本
Original assignee: Nippon Foil Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Nippon Foil Manufacturing Co Ltd
Priority date: 1995-07-17
Filing date: 1995-07-17
Publication date: 1997-02-04

Abstract

(57)【要約】【目的】安定して高静電容量の電極箔を得ることがで
きる、電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬質箔を
提供する。【構成】この電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム
硬質箔は、アルミニウム純度が９９．９重量％以上であ
る。そして、Ｆｅ：０．００１０〜０．０１００重量
％、Ｓｉ：０．００１５〜０．０１５０重量％、Ｃｕ：
０．０００１〜０．００５０重量％、その他不可避不純
物元素を含有している。Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の
合計は、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量の合計に対して、
１０％未満に規制されている。Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析
出量は、熱フェノール溶解法によって、誤差等を生じる
ことがなく、正確に測定される。また、Ｆｅの析出量
は、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計に対して、５〜
６０％の範囲に規制されていることが好ましい。Ｃｕの
析出量は、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計に対し
て、５０％以下に規制されていることが好ましい。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、静電容量の高い電解コ
ンデンサ用低圧電極箔を得ることのできる電解コンデン
サ電極用アルミニウム硬質箔に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来より、電解コンデンサ用電極箔を製
造するためには、電解コンデンサ電極用アルミニウム箔
にエッチング処理を施し、箔表面に微細な孔（エッチン
グピット）を多数形成して、箔表面の表面積を拡大する
ことが行われている。この表面積の拡大は、電解コンデ
ンサ用電極箔の静電容量を高めるために、最も有効な方
法である。従って、高静電容量の電解コンデンサ用電極
箔を得るためには、エッチング特性の良好な電解コンデ
ンサ電極用アルミニウム箔を使用して製造する必要があ
る。一方、エッチング処理としては、使用耐電圧に適し
たエッチングピットが得られるように、種々のエッチン
グ方法が採用されている。例えば、低圧用陽極箔或いは
陰極箔には、海綿状のエッチングピットが形成されてい
るのが好ましく、これに適するエッチング法として交流
エッチング法が採用されている。

【０００３】どのような電解コンデンサ低圧電極用アル
ミニウム箔が、良好なエッチング特性を示すかについて
は、従来より種々検討が行われている。例えば、刊行物
「住友軽金属技報」（１９９０年１０月号）の第１０〜
１７頁に掲載された「電解コンデンサ用アルミニウム箔
の交流エッチング後の静電容量に及ぼす析出ケイ素の影
響」と題する論文には、アルミニウム箔中の析出Ｓｉ周
辺部を開始点としてエッチングが進行するため、析出Ｓ
ｉの多いアルミニウム箔が電解コンデンサ電極用として
良好に使用しうることが開示されている（特に、第１７
頁右欄第１〜８行目）。

【０００４】また、特開昭６３−２６５４１６号公報に
は、アルミニウム箔中のＦｅ及びＳｉの析出量の各々
を、それぞれの含有量に対して１０％以下に規制したも
のが知られている。しかしながら、この先行技術におい
ては、Ｆｅ及びＳｉの析出量を、液体窒素中での電気抵
抗法によって測定しており、以下の如き欠点があった。
（ｉ）電気抵抗法では、アルミニウム箔中において析出
している全ての元素の影響で、電気抵抗値が増減し、Ｆ
ｅのみの析出量又はＳｉのみの析出量を測定すること
は、極めて困難であった。従って、アルミニウム箔中に
Ｆｅ又はＳｉのみが含有されている場合はともかく、他
のＣｕ，Ｚｎ，Ｍｎ等の元素が含有されていると、現実
的にはＦｅ又はＳｉのみの析出量を測定することはでき
なかった。（ii）Ｆｅ又はＳｉの析出量による電気抵抗
値の液体窒素中における減少量について、確定した値は
知られていない。従って、現実に、電気抵抗値の増減に
よって、Ｆｅ又はＳｉの析出量を知ることは困難であ
る。なお、２０℃で測定した、Ｓｉの析出量による電気
抵抗値の減少量（又はＳｉの固溶量による電気抵抗値の
増加量）についても、その値は未確定である（刊行物
「軽金属」１９８５年第３５巻第３号第１６２〜１６７
頁に掲載された「アルミニウムの再結晶に及ぼすけい素
および鉄，けい素共存の影響」と題する論文、特にその
第１６３頁左欄第５〜８行目を参照のこと。）。即ち、
液体窒素中での電気抵抗法により、種々の不純物元素を
含有するアルミニウム箔中のＦｅ又はＳｉの析出量を知
ることは、現実的には不可能とも言えるのである。従っ
て、特開昭６３−２６５４１６号公報記載の方法によっ
て、高静電容量の電解コンデンサ用電極箔を安定して得
ることができる、電解コンデンサ電極用アルミニウム箔
を製造することは、実質的に不可能であった。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明者は、
アルミニウム箔中で析出している各元素毎に、その析出
量を測定できる方法を採用し、種々研究を行った。その
結果、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量に対して、Ｆｅ，Ｓ
ｉ及びＣｕが一定の割合で析出しているアルミニウム箔
は、エッチング特性が良好で、高静電容量を持つ電解コ
ンデンサ用電極箔を安定して製造しうることを見出し、
既に特願平７−３７６２０号として特許出願（以下、
「先願」と言う。）を行っている。ここで、先願に係る
発明は、最終焼鈍という熱処理が施されることによっ
て、不純物元素個々の析出量が調整された電解コンデン
サ電極用アルミニウム軟質箔に関するものである。そし
て、本発明は、一般的な最終焼鈍が施されていない（不
純物元素の析出を促進させるという実質的な最終焼鈍が
施されていないことを意味しており、最終焼鈍が全く施
されていないということを意味するものではない。）電
解コンデンサ電極用アルミニウム硬質箔に係るものであ
る。このような硬質箔は、軟質箔に比較すると表面に形
成されている酸化皮膜の厚さが薄くなっており、軟質箔
をエッチングして電解コンデンサ用電極箔とする場合の
エッチング処理条件と同様の条件でエッチングすると、
表面が過溶解になって、エッチングが良好に進行しない
場合がある。従って、電解コンデンサ電極箔を製造する
際のエッチング条件についても、軟質箔のエッチング条
件とは異なる条件を採用する場合が多い。以上のよう
に、先願に係る発明と本発明とは、実質的に最終焼鈍が
施されているか否の点で相違するものである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】即ち、本発明は、アルミ
ニウム純度が９９．９重量％以上であって、Ｆｅ：０．
００１０〜０．０１００重量％、Ｓｉ：０．００１５〜
０．０１５０重量％、Ｃｕ：０．０００１〜０．００５
０重量％、その他不可避不純物元素を含有し、熱フェノ
ール溶解法によって測定されるＦｅ，Ｓｉ及びＣｕの析
出量の合計が、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量の合計に対
して、１０％未満に規制されていることを特徴とする電
解コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬質箔に関するも
のである。また、上記した条件に加えて、更にＦｅの析
出量が、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計に対して、
５〜６０％の範囲に規制されている電解コンデンサ電極
用アルミニウム硬質箔、又はＣｕの析出量が、Ｆｅ，Ｓ
ｉ及びＣｕの析出量の合計に対して、５０％以下に規制
されている電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬質
箔に関するものである。

【０００７】まず、本発明において、前提となること
は、電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬質箔のア
ルミニウム純度が９９．９重量％以上であるということ
である。純度が９９．９重量％未満であると、相対的に
不純物が多くなって、いかに各Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析
出量を規制しても、他の不純物元素による析出物の存在
のため、エッチング時に過溶解が生じやすくなり、表面
積を十分に拡大することができない。従って、エッチン
グ特性の良好な電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム
硬質箔が得られにくくなり、高静電容量の電解コンデン
サ用低圧電極箔が得られにくくなるため、好ましくな
い。

【０００８】電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬
質箔中には、Ｆｅが０．００１０〜０．０１００重量
％、好ましくは０．００３０〜０．０１００重量％含有
されている。Ｆｅが０．００１０重量％未満であると、
アルミニウム箔が高純度になり、高価になるので好まし
くない。更に、Ｆｅの量が少なくなりすぎて、Ｆｅを析
出させることが困難になる。逆に、Ｆｅが０．０１００
重量％を超えると、Ｆｅの析出量を本発明において規制
した範囲内とすることは容易であるが、析出Ｆｅの絶対
量が多くなって、エッチング時に過溶解が生じやすくな
り、高静電容量の電解コンデンサ用低圧電極箔が得られ
にくくなるため、好ましくない。

【０００９】また、電解コンデンサ低圧電極用アルミニ
ウム硬質箔中には、Ｓｉが０．００１５〜０．０１５０
重量％含有されている。Ｓｉが０．００１５重量％未満
であると、アルミニウム箔が高純度になり、高価になる
ので好ましくない。逆に、Ｓｉが０．０１５０重量％を
超えると、析出Ｓｉの絶対量が多くなって、エッチング
時に過溶解が生じやすくなり、高静電容量の電解コンデ
ンサ用低圧電極箔が得られにくくなるため、好ましくな
い。

【００１０】更に、電解コンデンサ低圧電極用アルミニ
ウム硬質箔中には、Ｃｕが０．０００１〜０．００５０
重量％含有されている。Ｃｕが０．０００１重量％未満
であると、Ｃｕの量が少なくなりすぎて、Ｃｕを析出さ
せることが困難になる。逆に、Ｃｕが０．００５０重量
％を超えると、析出Ｃｕの絶対量が多くなって、エッチ
ング時に過溶解が生じやすくなり、高静電容量の電解コ
ンデンサ用低圧電極箔が得られにくくなるため、好まし
くない。なお、本発明に係る電解コンデンサ低圧電極用
アルミニウム硬質箔中には、他の不純物元素、例えばＺ
ｎやＭｎなどを含有していてもよい。

【００１１】本発明に係る電解コンデンサ低圧電極用ア
ルミニウム硬質箔中には、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量
の合計に対して、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計が
１０％未満となるように、これらの元素が析出してい
る。ここで、１０％未満の技術的意義については、０％
を含まないものであり、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕが極めて少
量であっても析出しており、その析出量の合計が、Ｆ
ｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量の合計に対して１０％以上に
ならないことを意味している。この析出量の合計が１０
％以上であると、電解コンデンサ低圧電極用アルミニウ
ム硬質箔にエッチング処理を施すと、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣ
ｕの析出量が増大し、過溶解が生じて表面積の十分な拡
大が図れず、高静電容量の電解コンデンサ用低圧電極箔
が得られにくくなる。

【００１２】更に、本発明においては、Ｆｅ，Ｓｉ及び
Ｃｕの析出量の合計に対して、Ｆｅの析出量を５〜６０
％の範囲に規制することが好ましい。Ｆｅの析出量が５
％未満であると、エッチング開始点となるＦｅ析出物の
割合が相対的に少なくなり、エッチング特性が低下する
傾向が生じる。逆に、Ｆｅの析出量が６０％を超える
と、Ｆｅ析出物が多すぎて、過溶解を生じやすくなり、
表面積の拡大が図れなくなる傾向が生じる。

【００１３】また、本発明においては、Ｆｅ，Ｓｉ及び
Ｃｕの析出量の合計に対して、Ｃｕの析出量を５０％以
下に規制することが好ましい。ここで、５０％以下の技
術的意義については、０％を含まないものであり、Ｃｕ
が極めて少量であっても析出しており、その析出量が、
Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計に対して５０％を超
えないことを意味している。Ｃｕの析出物自体は貴な電
位を示すため、全体の析出物中に含まれるＣｕ析出物が
多くても、過溶解を生じる恐れがある。従って、Ｃｕの
析出量は５０％以下に規制されているのが好ましい。こ
こで、Ｃｕは単独では析出しにくいものであり、Ｆｅや
Ｓｉ等の析出物中に、化合物の形で又は固溶した形で存
在する。本発明においては、熱フェノール溶解法によっ
て、ＦｅやＳｉと共に定量分析されたＣｕの量を、Ｃｕ
の析出量としているものである。また、この定量分析さ
れたＣｕを、Ｃｕ析出物（厳密にはＣｕ析出物と言えな
いかもしれないが）と言っているのである。

【００１４】なお、Ｓｉは、単体で析出することもあれ
ば、Ａｌ−Ｆｅ−Ｓｉ系の化合物の形でも析出し、Ｓｉ
単独の影響について定量化するのが困難であるため、Ｓ
ｉの析出量には言及しなかった。しかし、Ｓｉの析出量
はエッチング特性に影響を及ぼすものであるため、本発
明においては、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量の合計に対
する、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計という形で言
及した。

【００１５】本発明においては、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの
析出量は、以下に説明する熱フェノール溶解法によって
測定する。熱フェノール溶解法の基本的な考え方は、次
のとおりである。即ち、約４４３Ｋに熱したフェノール
中でアルミニウム硬質箔を溶解させると、析出物以外の
アルミニウム及びアルミニウム中に固溶している各元素
は容易に溶解する。その後、溶解しなかった析出物を適
当な孔径のフィルターを介して瀘過し、フィルター上に
捕集された析出物を塩酸溶液に溶解し、この溶解溶液を
定量分析することによって、Ｆｅ，Ｓｉ，Ｃｕの個々の
析出量を測定するのである。熱フェノール溶解法を採用
した場合の具体的測定方法は、次のとおりである。ま
ず、種々の方法により調整して作製したアルミニウム硬
質箔を適当な大きさに切断採取し、適当な前処理方法に
よって切断時等に付着した不純物を除去する。この除去
方法としては、例えば、水酸化ナトリウム溶液やエタノ
ール等で洗浄する方法が採用される。その後、一定の容
量のフェノールを秤量して、これが蒸発して減少しない
ように還流しながら、４４３〜４５３Ｋに加熱する。こ
の加熱したフェノール中に、準備したアルミニウム硬質
箔を投入し、アルミニウム及びアルミニウム中に固溶し
ている各元素を溶解させる。その後、フェノールは約３
１３Ｋの温度にて凝固するので、一定量のベンジルアル
コールをフェノールに添加し、液体状態を維持させたま
ま、アルミニウムを溶解させたフェノールを適切な孔径
のフィルターを用いて瀘過する。そして、フィルター上
に捕集された析出物を一定の濃度の塩酸溶液で溶解す
る。この溶解溶液を、原子吸光法又はＩＣＰ発光分析法
等の方法で分析して、各元素含有量を測定する。以上の
ようにして、準備したアルミニウム硬質箔中に析出して
いたＦｅ，Ｓｉ及びＣｕの量を求めることができる。そ
して、個々の元素の析出量と、アルミニウム硬質箔中に
含有されていた個々の元素の含有量を用いて、本発明に
おけるＦｅ，Ｓｉ，Ｃｕの析出割合を計算することがで
きるのである。

【００１６】熱フェノール溶解法によって、各析出物を
フィルター上に捕集すれば、粒径分布を求めることがで
きる。即ち、フィルター上に捕集された析出物を、走査
型電子顕微鏡にて観察し、その結果を画像解析して粒径
分布を求めるのである。そして、本発明者がこの粒径分
布に関して研究したところ、２μｍ以下の析出物の数
が、析出物全体の数に対して、５０％以上を占めている
と、エッチング特性が良好になる傾向があった。２μｍ
以下の析出物の数が全体の５０％未満であると、エッチ
ング開始点が少なくなって、エッチング特性が低下する
のではないかと考えられる。なお、電解コンデンサ低圧
用陽極箔又は陰極箔を製造する際には、箔表面に微細な
エッチングピットを形成することが要求されるので、２
μｍを超える析出物の数はなるべく少ない方が好まし
い。つまり、２μｍを超える析出物は、エッチング時
に、比較的大きなエッチングピット形成の開始点となる
のである。

【００１７】また、本発明に係るアルミニウム硬質箔の
引張強さは、９８ＭＰａ以上であるのが好ましい。引張
強さが９８ＭＰａ未満のアルミニウム箔は、一般的には
軟質又は半硬質のものであるが、アルミニウム純度が高
い場合には硬質であることもある。引張強さが９８ＭＰ
ａ未満であると、一般的に、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出
量が多く、エッチング時に、過溶解となって表面積の十
分な拡大が図れない傾向が生じる。引張強さを９８ＭＰ
ａ以上とするには、圧延され、加工歪を持つ硬質のアル
ミニウム箔に、焼鈍処理の如く高温下での加熱処理を施
さなければ良い。なお、引張強さ（ＭＰａ）は、インス
トン型万能引張試験機を用いて、１０ｍｍ巾に切断した
アルミニウム箔をクロスヘッド速度：２×１０^-4ｍ／ｓ
ｅｃ、ゲージ長さ：５０ｍｍの条件で引張試験を行っ
て、測定したものである。

【００１８】以上のように、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出
量を、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量に対して、１０％未
満に規制した本発明に係る電解コンデンサ低圧電極用ア
ルミニウム硬質箔を製造する方法としては、例えば、所
定の速度にてアルミニウム鋳塊を鋳造後、適切な温度で
均質化処理し、所定の温度で熱間圧延や中間焼鈍等を行
う方法を挙げることができる。特に、均質化処理の温度
や時間、熱間圧延の温度や時間、中間焼鈍の温度や時間
等を調整することによって、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出
量を１０％未満に規制することができる。このようにし
て得られた電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬質
箔に、所定の条件でエッチング処理を施すと、箔表面に
微細なエッチングピットが形成され、表面積の拡大した
高静電容量の電解コンデンサ電極箔が得られるのであ
る。そして、この電解コンデンサ電極箔は、特に、低圧
用陽極箔や陰極箔として好適に使用することができる。

【００１９】

【実施例】実施例１厚さ４００ｍｍで、Ａｌ純度９９．
９８重量％、Ｆｅ：０．００３５重量％、Ｓｉ：０．０
０４０重量％、Ｃｕ：０．００３０重量％、その他不可
避不純物元素を含有するアルミニウム鋳塊を準備した。
このアルミニウム鋳塊に、８７３Ｋ×２１．６Ｋｓ（６
００℃×６時間）の条件で均質化処理を施した。その
後、熱間圧延開始温度８１３Ｋ（５４０℃），熱間圧延
終了温度５０３Ｋ（２３０℃），熱間圧延開始から終了
までの時間を７分間として、熱間圧延を施した。次い
で、常法により冷間圧延を施して、厚さ０．１ｍｍのア
ルミニウム硬質箔を得た。このアルミニウム硬質箔を、
界面活性剤を含有するアルカリ溶液にて脱脂洗浄を行っ
て、電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬質箔を得
た。

【００２０】実施例２熱間圧延開始温度８５３Ｋ（５８
０℃），熱間圧延終了温度５０３Ｋ（２３０℃），熱間
圧延開始から終了までの時間を１４分間とした他は、実
施例１と同様の方法によって、電解コンデンサ低圧電極
用アルミニウム硬質箔を得た。

【００２１】実施例３均質化処理を８３３Ｋ×２１．６
Ｋｓ（５６０℃×６時間）で行い、熱間圧延開始温度を
７９３Ｋ（５２０℃）で行う他は、実施例１と同様の方
法によって、電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬
質箔を得た。

【００２２】比較例１熱間圧延開始温度８５３Ｋ（５８
０℃），熱間圧延終了温度５３３Ｋ（２６０℃），熱間
圧延開始から終了までの時間を１４分間とした他は、実
施例１と同様の方法によって、電解コンデンサ低圧電極
用アルミニウム硬質箔を得た。

【００２３】比較例２実施例１で使用したアルミニウム
鋳塊に、実施例１と同一の条件で均質化処理を施した。
その後、熱間圧延開始温度８５３Ｋ（５８０℃），熱間
圧延終了温度５３３Ｋ（２６０℃），熱間圧延開始から
終了までの時間を１４分間として、熱間圧延を施した。
次いで、常法により一次冷間圧延を施した後、６３３Ｋ
×１８Ｋｓ（３６０℃×５時間）の条件で中間焼鈍を施
した。その後、常法により二次冷間圧延を施した後、厚
さ０．１ｍｍのアルミニウム硬質箔を得た。このアルミ
ニウム硬質箔を、界面活性剤を含有するアルカリ溶液に
て脱脂洗浄を行って、電解コンデンサ低圧電極用アルミ
ニウム硬質箔を得た。

【００２４】上記方法により得た５種類の電解コンデン
サ低圧電極用アルミニウム硬質箔について、Ｆｅ，Ｓｉ
及びＣｕの析出量を熱フェノール溶解法により測定し、
表１に記載した各析出量の割合を求めた。また、各電解
コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬質箔中における２
μｍ以下の析出物が占める割合も求めた。これらの結果
を表１に示した。更に、各電解コンデンサ低圧電極用ア
ルミニウム硬質箔の引張強さ測定し、それらの結果を表
１に示した。

【００２５】そして、各電解コンデンサ低圧電極用アル
ミニウム硬質箔に、以下の条件でエッチング処理及び化
成処理を施して、以下に示す条件で静電容量（μＦ／ｃ
ｍ²）を測定した。［エッチング処理］：３０３Ｋ（３
０℃）の（７．７ｗｔ．％ＨＣｌ＋１９．７ｗｔ．％Ａ
ｌＣｌ₃６Ｈ₂Ｏ＋０．１ｗｔ．％Ｃ₂Ｈ₂Ｏ₄２Ｈ₂Ｏ）溶
液中に、電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬質箔
を浸漬し、電流密度＋０．４Ａ／ｃｍ²で５０Ｈｚの矩
形波交流を３３０秒間施して、エッチング処理を行っ
た。［化成処理］：エッチング処理後のアルミニウム箔
を巾１ｃｍ×長さ５ｃｍの大きさに裁断し、この１枚を
液温３５３Ｋ（８０℃）の１３ｗｔ．％アジピン酸アン
モニウム水溶液中に浸漬し、対向電極をｓｕｓ３０４
として、２０Ｖで１５分間の条件で化成処理を行った。
［静電容量］：化成処理した低圧電極箔（大きさ巾１ｃ
ｍ×長さ５ｃｍ）１枚を、３０３Ｋ（３０℃）の１３ｗ
ｔ．％アジピン酸アンモニウム水溶液中に浸漬し、対向
電極を、静電容量が４００００μＦ以上のエッチドアル
ミニウム箔として、１２０Ｈｚの直列等価回路でＬＣＲ
メーターを用いて、静電容量（μＦ／ｃｍ²）を測定し
た。なお、表１に示した静電容量（％）は、Ｆｅ：０．
００４重量％、Ｓｉ：０．００４重量％、Ｃｕ：０．０
０３重量％、その他不可避不純物元素を含有する純度９
９．９８％のアルミニウム鋳塊を使用し、実施例１と同
一の方法で得られたアルミニウム箔に、前記したエッチ
ング処理及び化成処理を施した低圧電極箔の静電容量を
１００％として、これとの相対比較で求めたものであ
る。

【００２６】

【表１】

【００２７】実施例４まず、表２に示した元素組成を持
つアルミニウム鋳塊を準備した。このアルミニウム鋳塊
に、８７３Ｋ×２１．６Ｋｓ（６００℃×６時間）の条
件で均質化処理を施した。その後、熱間圧延開始温度８
３３Ｋ（５６０℃），熱間圧延終了温度５０３Ｋ（２３
０℃），熱間圧延開始から終了までの時間を８分間とし
て、熱間圧延を施した。次いで、常法により冷間圧延を
施して、厚さ０．１ｍｍのアルミニウム硬質箔を得た。
このアルミニウム硬質箔を、界面活性剤を含有するアル
カリ溶液にて脱脂洗浄を行って、電解コンデンサ低圧電
極用アルミニウム硬質箔を得た。

【００２８】実施例５〜７アルミニウム鋳塊の元素組成
を、表２に示したものに変更した他は、実施例４と同一
の方法によって電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム
硬質箔を得た。

【００２９】実施例８表２に示した元素組成を持つアル
ミニウム鋳塊に、７９３Ｋ×３６Ｋｓ（５２０℃×１０
時間）の条件で均質化処理を施した。その後、熱間圧延
開始温度７５３Ｋ（４８０℃），熱間圧延終了温度５２
３Ｋ（２５０℃），熱間圧延開始から終了までの時間を
１２分間として、熱間圧延を施した。その後は、実施例
４と同一の方法によって電解コンデンサ低圧電極用アル
ミニウム硬質箔を得た。

【００３０】比較例３表２に示した元素組成を持つアル
ミニウム鋳塊を準備した。このアルミニウム鋳塊に、７
５３Ｋ×３６Ｋｓ（４８０℃×１０時間）の条件で均質
化処理を施した。その後、熱間圧延開始温度７１３Ｋ
（４４０℃），熱間圧延終了温度５２３Ｋ（２５０
℃），熱間圧延開始から終了までの時間を１５分間とし
て、熱間圧延を施した。次いで、一次冷間圧延を施した
後、中間焼鈍を６２３Ｋ×１８Ｋｓ（３５０℃×５時
間）の条件で施し、更に二次冷間圧延を施し、厚さ０．
１ｍｍのアルミニウム硬質箔を得た。このアルミニウム
硬質箔を、界面活性剤を含有するアルカリ溶液にて脱脂
洗浄を行って、電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム
硬質箔を得た。

【００３１】比較例４〜６アルミニウム鋳塊の元素組成
を、表２に示したものに変更した他は、比較例３と同一
の方法によって電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム
硬質箔を得た。

【００３２】

【表２】

【００３３】以上の実施例４〜８及び比較例３〜６で得
られた電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬質箔に
ついて、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量を熱フェノール溶
解法により測定し、表３に記載した各析出量の割合を求
めた。また、各電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム
硬質箔中における２μｍ以下の析出物が占める割合も求
めた。これらの結果を表３に示した。更に、各電解コン
デンサ低圧電極用アルミニウム箔の引張強さを測定し、
それらの結果を表３に示した。また、実施例１と同一の
方法で静電容量を測定し、それらの結果も表３に示し
た。

【００３４】

【表３】

【００３５】以上の実施例１〜８及び比較例１〜６の結
果から明らかなように、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量
が、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量に対して、１０％未満
に規制されている電解コンデンサ低圧電極用アルミニウ
ム硬質箔を使用し、所定の条件でエッチング処理を行っ
た低圧電極箔は、高静電容量を有していることが分か
る。

【００３６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る電解
コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬質箔は、その硬質
箔中に含有されているＦｅ、Ｓｉ及びＣｕの析出量を、
Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量に対して、１０％未満に規
制したので、所定のエッチング処理を施すことによっ
て、安定して高静電容量の低圧電極箔を得ることができ
る。更に、Ｆｅ又はＣｕの各析出物の析出量を、特定の
範囲に規制した場合には、より安定して高静電容量の低
圧電極箔を得ることができる。また、各析出物の大きさ
や数を特定の範囲に規定したり、若しくはアルミニウム
硬質箔中の引張強さを特定の範囲に規定した場合にも、
より安定して高静電容量の低圧電極箔を得ることができ
るという効果を奏する。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】アルミニウム純度が９９．９重量％以上
であって、Ｆｅ：０．００１０〜０．０１００重量％、
Ｓｉ：０．００１５〜０．０１５０重量％、Ｃｕ：０．
０００１〜０．００５０重量％、その他不可避不純物元
素を含有し、熱フェノール溶解法によって測定されるＦ
ｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計が、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣ
ｕの含有量の合計に対して、１０％未満に規制されてい
ることを特徴とする電解コンデンサ低圧電極用アルミニ
ウム硬質箔。
【請求項２】熱フェノール溶解法によって測定される
Ｆｅの析出量が、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計に
対して、５〜６０％の範囲に規制されている請求項１記
載の電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬質箔。
【請求項３】熱フェノール溶解法によって測定される
Ｃｕの析出量が、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計に
対して、５０％以下に規制されている請求項１又は２記
載の電解コンデンサ低圧電極用アルミニウム硬質箔。
【請求項４】２μｍ以下の析出物の数が、析出物全体
の数に対して、５０％以上を占めている請求項１及至３
のいずれか一項に記載の電解コンデンサ低圧電極用アル
ミニウム硬質箔。
【請求項５】引張強さが９８ＭＰａ以上である請求項
１及至４のいずれか一項に記載の電解コンデンサ低圧電
極用アルミニウム硬質箔。