JPH08209275A

JPH08209275A - 電解コンデンサ電極用アルミニウム箔

Info

Publication number: JPH08209275A
Application number: JP7037620A
Authority: JP
Inventors: Kaneshige Yamamoto; 兼滋山本
Original assignee: Nippon Foil Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Nippon Foil Manufacturing Co Ltd
Priority date: 1995-02-01
Filing date: 1995-02-01
Publication date: 1996-08-13

Abstract

(57)【要約】【目的】安定して高静電容量の電極箔を得ることがで
きる、電解コンデンサ電極用アルミニウム箔を提供す
る。【構成】この電解コンデンサ電極用アルミニウム箔
は、アルミニウム純度が９９．９重量％以上である。そ
して、Ｆｅ：０．００１０〜０．０１５０重量％、Ｓ
ｉ：０．００１５〜０．０２００重量％、Ｃｕ：０．０
００１〜０．００５０重量％、その他不可避不純物元素
を含有している。Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計
は、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量の合計に対して、１０
〜７０％の範囲に規制されている。Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕ
の析出量は、熱フェノール溶解法によって、誤差等を生
じることがなく、正確に測定される。また、Ｆｅの析出
量は、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計に対して、１
５〜７５％の範囲に規制されていることが好ましい。Ｃ
ｕの析出量は、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計に対
して、１〜２０％の範囲に規制されていることが好まし
い。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、静電容量の高い電解コ
ンデンサ用電極箔（特に低圧用電極箔）を得ることので
きる電解コンデンサ電極用アルミニウム箔に関するもの
である。

【０００２】

【従来の技術】従来より、電解コンデンサ用電極箔を製
造するためには、電解コンデンサ電極用アルミニウム箔
にエッチング処理を施し、箔表面に微細な孔（エッチン
グピット）を多数形成して、箔表面の表面積を拡大する
ことが行われている。この表面積の拡大は、電解コンデ
ンサ用電極箔の静電容量を高めるために、最も有効な方
法である。従って、高静電容量の電解コンデンサ用電極
箔を得るためには、エッチング特性の良好な電解コンデ
ンサ電極用アルミニウム箔を使用して製造する必要があ
る。一方、エッチング処理としては、使用耐電圧に適し
たエッチングピットが得られるように、種々のエッチン
グ方法が採用されている。例えば、低圧用陽極箔或いは
陰極箔には、海綿状のエッチングピットが形成されてい
るのが好ましく、これに適するエッチング法として交流
エッチング法が採用されている。

【０００３】どのような電解コンデンサ電極用アルミニ
ウム箔が、良好なエッチング特性を示すかについては、
従来より種々検討が行われている。例えば、刊行物「住
友軽金属技報」（１９９０年１０月号）の第１０〜１７
頁に掲載された「電解コンデンサ用アルミニウム箔の交
流エッチング後の静電容量に及ぼす析出ケイ素の影響」
と題する論文には、アルミニウム箔中の析出Ｓｉの存在
箇所からエッチングが進行するため、析出Ｓｉの多いア
ルミニウム箔が電解コンデンサ電極用として良好に使用
しうることが開示されている（特に、第１７頁右欄第１
〜８行目）。

【０００４】また、特公平３−６１３３３号公報には、
アルミニウム箔中のＦｅ又はＳｉのいずれか一方の析出
量を、その含有量に対して１０〜７０％に規制したもの
が知られている。しかしながら、この先行技術において
は、Ｆｅ又はＳｉの析出量を、液体窒素中での電気抵抗
法によって測定しており、以下の如き欠点があった。（ｉ）電気抵抗法では、アルミニウム箔中において析出
している全ての元素の影響で、電気抵抗値が増減し、Ｆ
ｅのみの析出量又はＳｉのみの析出量を測定すること
は、極めて困難であった。従って、アルミニウム箔中に
Ｆｅ又はＳｉのみが含有されている場合はともかく、他
のＣｕ，Ｚｎ，Ｍｎ等の元素が含有されていると、現実
的にはＦｅ又はＳｉのみの析出量を測定することはでき
なかった。（ii）Ｆｅ又はＳｉの析出量による電気抵抗
値の液体窒素中における減少量について、確定した値は
知られていない。従って、現実に、電気抵抗値の増減に
よって、Ｆｅ又はＳｉの析出量を知ることは困難であ
る。なお、２０℃で測定した、Ｓｉの析出量による電気
抵抗値の減少量（又はＳｉの固溶量による電気抵抗値の
増加量）についても、その値は未確定である（刊行物
「軽金属」１９８５年第３５巻第３号第１６２〜１６７
頁に掲載された「アルミニウムの再結晶に及ぼすけい素
および鉄，けい素共存の影響」と題する論文、特にその
第１６３頁左欄第５〜８行目を参照のこと。）。即ち、
液体窒素中での電気抵抗法により、種々の不純物元素を
含有するアルミニウム箔中のＦｅ又はＳｉの析出量を知
ることは、現実的には不可能とも言えるのである。従っ
て、特開平３−６１３３３号公報記載の方法によって、
高静電容量の電解コンデンサ用電極箔を安定して得るこ
とができる、電解コンデンサ電極用アルミニウム箔を製
造することは、実質的に不可能であった。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明者は、
アルミニウム箔中で析出している各元素毎に、その析出
量を測定できる方法を採用し、種々研究を行った。その
結果、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量に対して、Ｆｅ，Ｓ
ｉ及びＣｕが一定の割合で析出しているアルミニウム箔
は、エッチング特性が良好で、高静電容量を持つ電解コ
ンデンサ用電極箔を安定して製造しうることを見出し、
本発明に到達したのである。また、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕ
の析出量の合計に対して、Ｆｅが一定の割合で析出して
いるアルミニウム箔、又はＣｕが一定の割合で析出して
いるアルミニウム箔についても、エッチング特性が良好
で、高静電容量を持つ電解コンデンサ用電極箔を安定し
て製造しうることを見出し、本発明に到達したのであ
る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】即ち、本発明は、アルミ
ニウム純度が９９．９重量％以上であって、Ｆｅ：０．
００１０〜０．０１５０重量％、Ｓｉ：０．００１５〜
０．０２００重量％、Ｃｕ：０．０００１〜０．００５
０重量％、その他不可避不純物元素を含有し、熱フェノ
ール溶解法によって測定されるＦｅ，Ｓｉ及びＣｕの析
出量の合計が、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量の合計に対
して、１０〜７０％の範囲に規制されていることを特徴
とする電解コンデンサ電極用アルミニウム箔に関するも
のである。また、上記した条件に加えて、更にＦｅの析
出量が、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計に対して、
１５〜７５％の範囲に規制されている電解コンデンサ電
極用アルミニウム箔、又はＣｕの析出量が、Ｆｅ，Ｓｉ
及びＣｕの析出量の合計に対して、１〜２０％の範囲に
規制されている電解コンデンサ電極用アルミニウム箔に
関するものである。

【０００７】まず、本発明において、前提となること
は、電解コンデンサ電極用アルミニウム箔のアルミニウ
ム純度が９９．９重量％以上であるということである。
純度が９９．９重量％未満であると、相対的に不純物が
多くなって、いかに各Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量を規
制しても、他の不純物元素による析出物の存在のため、
エッチング時に過溶解が生じやすくなり、表面積を十分
に拡大することができない。従って、エッチング特性の
良好な電解コンデンサ電極用アルミニウム箔が得られに
くくなり、高静電容量の電解コンデンサ用電極箔が得ら
れにくくなるため、好ましくない。

【０００８】電解コンデンサ電極用アルミニウム箔中に
は、Ｆｅが０．００１０〜０．０１５０重量％、好まし
くは０．００３０〜０．０１００重量％含有されてい
る。Ｆｅが０．００１０重量％未満であると、アルミニ
ウム箔が高純度になり、高価になるので好ましくない。
更に、Ｆｅの量が少なくなりすぎて、本発明において規
制した範囲内でＦｅを析出させることが困難になる。逆
に、Ｆｅが０．０１５０重量％を超えると、Ｆｅの析出
量を本発明において規制した範囲内とすることは容易で
あるが、析出Ｆｅの絶対量が多くなって、エッチング時
に過溶解が生じやすくなり、高静電容量の電解コンデン
サ用電極箔が得られにくくなるため、好ましくない。

【０００９】また、電解コンデンサ電極用アルミニウム
箔中には、Ｓｉが０．００１５〜０．０２００重量％含
有されている。Ｓｉが０．００１５重量％未満である
と、アルミニウム箔が高純度になり、高価になるので好
ましくない。逆に、Ｓｉが０．０２００重量％を超える
と、析出Ｓｉの絶対量が多くなって、エッチング時に過
溶解が生じやすくなり、高静電容量の電解コンデンサ用
電極箔が得られにくくなるため、好ましくない。

【００１０】更に、電解コンデンサ電極用アルミニウム
箔中には、Ｃｕが０．０００１〜０．００５０重量％含
有されている。Ｃｕが０．０００１重量％未満である
と、Ｃｕの量が少なくなりすぎて、本発明において規制
した範囲内でＣｕを析出させることが困難になる。逆
に、Ｃｕが０．００５０重量％を超えると、析出Ｃｕの
絶対量が多くなって、エッチング時に過溶解が生じやす
くなり、高静電容量の電解コンデンサ用電極箔が得られ
にくくなるため、好ましくない。なお、本発明に係る電
解コンデンサ電極用アルミニウム箔中には、他の不純物
元素、例えばＺｎやＭｎなどを含有していてもよい。

【００１１】本発明に係る電解コンデンサ電極用アルミ
ニウム箔中には、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕが一定の量的割合
で析出している。即ち、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量の
合計に対して、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計が１
０〜７０％の割合となるように析出している。この析出
量の合計が１０％未満であると、エッチングの開始点が
少なくなり、多数のエッチングピットが形成されず、高
静電容量の電解コンデンサ用電極箔が得られにくくな
る。逆に、析出量の合計が７０％を超えると、エッチン
グ時に過溶解が生じ、表面積の十分な拡大が図れず、高
静電容量の電解コンデンサ用電極箔が得られにくくな
る。

【００１２】更に、本発明においては、Ｆｅ，Ｓｉ及び
Ｃｕの析出量の合計に対して、Ｆｅの析出量を１５〜７
５％の範囲に規制することが好ましい。Ｆｅの析出量が
１５％未満であると、エッチング開始点となるＦｅ析出
物の割合が相対的に少なくなり、エッチング特性が低下
する傾向が生じる。逆に、Ｆｅの析出量が７５％を超え
ると、Ｆｅ析出物が多すぎて、過溶解を生じやすくな
り、表面積の拡大が図れなくなる傾向が生じる。

【００１３】また、本発明においては、Ｆｅ，Ｓｉ及び
Ｃｕの析出量の合計に対して、Ｃｕの析出量を１〜２０
％の範囲に規制することが好ましく、特に１〜１０％の
範囲に規制することがより好ましい。Ｃｕはアルミニウ
ムに固溶しやすい元素であり、固溶するとアルミニウム
のマトリックスの自然電極電位が高くなることによっ
て、エッチング特性が向上する。しかしながら、Ｃｕの
固溶量が多すぎると、エッチング時に過溶解を生じる恐
れがあり、表面積の拡大が図れなくなる恐れがあるた
め、Ｃｕを１％以上析出させるのが好ましい。また、Ｃ
ｕの析出物自体は貴な電位を示すため、Ｃｕ析出物が多
くても、過溶解を生じる恐れがある。従って、Ｃｕの析
出量は２０％以下に規制されているのが好ましい。

【００１４】なお、Ｓｉは、単体では析出することもあ
れば、Ａｌ−Ｆｅ−Ｓｉ系の化合物の形でも析出し、Ｓ
ｉ単独の影響について定量化するのが困難であるため、
Ｓｉの析出量には言及しなかった。しかし、Ｓｉの析出
量はエッチング特性に影響を及ぼすものであるため、本
発明においては、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの含有量の合計に
対する、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計という形で
言及した。

【００１５】本発明においては、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの
析出量は、以下に説明する熱フェノール溶解法によって
測定する。熱フェノール溶解法の基本的な考え方は、次
のとおりである。即ち、約４４３Ｋに熱したフェノール
中でアルミニウム箔を溶解させると、析出物以外のアル
ミニウム及びアルミニウム中に固溶している各元素は容
易に溶解する。その後、溶解しなかった析出物を適当な
孔径のフィルターを介して瀘過し、フィルター上に捕集
された析出物を塩酸溶液に溶解し、この溶解溶液を定量
分析することによって、Ｆｅ，Ｓｉ，Ｃｕの個々の析出
量を測定するのである。熱フェノール溶解法を採用した
場合の具体的測定方法は、次のとおりである。まず、種
々の方法により調整して作製したアルミニウム箔を適当
な大きさに切断採取し、適当な前処理方法によって切断
時等に付着した不純物を除去する。この除去方法として
は、例えば、水酸化ナトリウム溶液やエタノール等で洗
浄する方法が採用される。その後、一定の容量のフェノ
ールを秤量して、これが蒸発して減少しないように還流
しながら、４４３〜４５３Ｋに加熱する。この加熱した
フェノール中に、準備したアルミニウム箔を投入し、ア
ルミニウム及びアルミニウム中に固溶している各元素を
溶解させる。その後、フェノールは約３１３Ｋの温度に
て凝固するので、一定量のベンジルアルコールをフェノ
ールに添加し、液体状態を維持させたまま、アルミニウ
ムを溶解させたフェノールを適切な孔径のフィルターを
用いて瀘過する。そして、フィルター上に捕集された析
出物を一定の濃度の塩酸溶液で溶解する。この溶解溶液
を、原子吸光法又はＩＣＰ発光分析法等の方法で分析し
て、各元素含有量を測定する。以上のようにして、準備
したアルミニウム箔中に析出していたＦｅ，Ｓｉ及びＣ
ｕの量を求めることができる。そして、個々の元素の析
出量と、アルミニウム箔中に含有されていた個々の元素
の含有量を用いて、本発明におけるＦｅ，Ｓｉ，Ｃｕの
析出割合を計算することができるのである。

【００１６】熱フェノール溶解法によって、各析出物を
フィルター上に捕集すれば、粒径分布を求めることがで
きる。即ち、フィルター上に捕集された析出物を、走査
型電子顕微鏡にて観察し、その結果を画像解析して粒径
分布を求めるのである。そして、本発明者がこの粒径分
布に関して研究したところ、２μｍ以下の析出物の数
が、析出物全体の数に対して、５０％以上を占めている
と、エッチング特性が良好になる傾向があった。２μｍ
以下の析出物の数が全体の５０％未満であると、エッチ
ング開始点が少なくなって、エッチング特性が低下する
のではないかと考えられる。なお、電解コンデンサ低圧
用陽極箔又は陰極箔を製造する際には、箔表面に微細な
エッチングピットを形成することが要求されるので、２
μｍを超える析出物の数はなるべく少ない方が好まし
い。つまり、２μｍを超える析出物は、エッチング時
に、比較的大きなエッチングピット形成の開始点となる
のである。

【００１７】また、本発明において、アルミニウム箔中
の平均結晶粒径は０．０２〜１ｍｍであるのが好まし
い。エッチングの初期には結晶粒界からエッチングピッ
トが形成されることが多く、従って、結晶粒径が小さい
ほど、数多くのエッチングピットが形成され、表面積拡
大に寄与する。即ち、平均結晶粒径が１ｍｍを超える
と、多くのエッチングピットが形成されず、表面積が十
分に拡大しない傾向となる。しかしながら、結晶粒径が
小さすぎると、形成されたエッチングピット同士が合体
して抜け落ちてしまい、却って表面積を減少させる結果
となる。即ち、平均結晶粒径が０．０２ｍｍ未満になる
と、しだいに表面積が減少してゆく傾向となる。なお、
平均結晶粒径は、ＪＩＳＧ０５０１に規定される方
法で測定を数回繰り返し、その平均値を算出して求め
る。

【００１８】また、本発明に係るアルミニウム箔の引張
強さは、９８ＭＰａ以下であるのが好ましい。引張強さ
が９８ＭＰａ以下のアルミニウム箔は、一般的には軟質
又は半硬質のものであるが、アルミニウム純度が高い場
合には硬質であることもある。引張強さが９８ＭＰａを
超えると、一般的に、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量が少
なく、エッチング特性の良好なアルミニウム箔が得られ
ない傾向が生じる。引張強さを９８ＭＰａ以下とするに
は、圧延され、加工歪を持つ硬質のアルミニウム箔に焼
鈍等の熱処理を施して、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕを所定量析
出させることによって行うことができる。なお、引張強
さ（ＭＰａ）は、インストン型万能引張試験機を用い
て、１０ｍｍ巾に切断したアルミニウム箔をクロスヘッ
ド速度：２×１０^-4ｍ／ｓｅｃ、ゲージ長さ：５０ｍｍ
の条件で引張試験を行って、測定したものである。

【００１９】以上のように、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出
量を所定の範囲に規制した、本発明に係る電解コンデン
サ電極用アルミニウム箔を製造する方法としては、例え
ば、所定の速度にてアルミニウム鋳塊を鋳造後、適切な
温度で均質化処理し、所定の温度で熱間圧延や中間焼鈍
等を行うこと方法を挙げることができる。特に、均質化
処理の温度や時間、熱間圧延の温度や時間、中間焼鈍及
び最終焼鈍の温度や時間等を調整することによって、Ｆ
ｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量を所定の範囲に規制すること
ができる。このようにして得られた電解コンデンサ電極
用アルミニウム箔に、所定の条件でエッチング処理を施
すと、箔表面に微細なエッチングピットが形成され、表
面積の拡大した高静電容量の電解コンデンサ電極箔が得
られるのである。そして、この電解コンデンサ電極箔
は、特に、低圧用陽極箔や陰極箔として好適に使用する
ことができる。

【００２０】

【実施例】

実施例１厚さ４００ｍｍで、Ａｌ純度９９．９８重量％、Ｆｅ：
０．００３５重量％、Ｓｉ：０．００４０重量％、Ｃ
ｕ：０．００３０重量％、その他不可避不純物元素を含
有するアルミニウム鋳塊を準備した。このアルミニウム
鋳塊に、８３３Ｋ×２１．６Ｋｓ（５６０℃×６時間）
の条件で均質化処理を施した。その後、熱間圧延開始温
度８０３Ｋ（５３０℃），熱間圧延終了温度５３３Ｋ
（２６０℃），熱間圧延開始から終了までの時間を９分
間として、熱間圧延を施した。次いで、常法により冷間
圧延を施して、厚さ０．１ｍｍのアルミニウム箔を得
た。このアルミニウム箔を、界面活性剤を含有するアル
カリ溶液にて脱脂洗浄を行った後、５６３Ｋ×５４Ｋｓ
（２９０℃×１５時間）の条件で最終焼鈍を施して、電
解コンデンサ電極用アルミニウム箔を得た。

【００２１】実施例２最終焼鈍の条件を６２３Ｋ×６１Ｋｓ（３５０℃×約１
７時間）とした他は、実施例１と同一の方法で電解コン
デンサ電極用アルミニウム箔を得た。

【００２２】実施例３冷間圧延工程中、６３３Ｋ×１８Ｋｓ（３６０℃×５時
間）の条件で中間焼鈍を挿入した他は、実施例１と同一
の方法で電解コンデンサ電極用アルミニウム箔を得た。

【００２３】実施例４実施例１で使用したアルミニウム鋳塊に、７５３Ｋ×５
４Ｋｓ（４８０℃×１５時間）の条件で均質化処理を施
した。その後、熱間圧延を施すことなく徐冷して、冷間
圧延を施した。次いで、６３３Ｋ×１８Ｋｓ（３６０℃
×５時間）の条件で中間焼鈍を施した後、更に冷間圧延
を施し、厚さ０．１ｍｍのアルミニウム箔を得た。この
アルミニウム箔を、界面活性剤を含有するアルカリ溶液
にて脱脂洗浄を行った後、５６３Ｋ×５４Ｋｓ（２９０
℃×１５時間）の条件で最終焼鈍を施して、電解コンデ
ンサ電極用アルミニウム箔を得た。

【００２４】比較例１熱間圧延の条件を、熱間圧延開始温度８５３Ｋ（５８０
℃），熱間圧延終了温度５８３Ｋ（２１０℃），熱間圧
延開始から終了までの時間を６分間とした他は、実施例
１と同一の方法で電解コンデンサ電極用アルミニウム箔
を得た。

【００２５】上記方法により得た５種類の電解コンデン
サ電極用アルミニウム箔について、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕ
の析出量を熱フェノール溶解法により測定し、表１に記
載した各析出量の割合を求めた。また、各電解コンデン
サ電極用アルミニウム箔中における２μｍ以下の析出物
が占める割合も求めた。これらの結果を表１に示した。
更に、各電解コンデンサ電極用アルミニウム箔の引張強
さ及び各箔中の平均結晶粒径を測定し、それらの結果を
表１に示した。

【００２６】そして、各電解コンデンサ電極用アルミニ
ウム箔に、以下の条件でエッチング処理及び化成処理を
施して、以下に示す条件で静電容量（μＦ／ｃｍ²）を
測定した。［エッチング処理］：３１５Ｋ（４２℃）の（７．２ｗ
ｔ．％ＨＣｌ＋９．３ｗｔ．％ＡｌＣｌ₃６Ｈ₂Ｏ＋０．
１ｗｔ．％Ｈ₂ＳＯ₄）溶液中に、電解コンデンサ電極用
アルミニウム箔を浸漬し、電流密度０．３５Ａ／ｃｍ²
で２０Ｈｚの矩形波交流を２７０秒間施して、エッチン
グ処理を行った。［化成処理］：エッチング処理後のアルミニウム箔を巾
１ｃｍ×長さ５ｃｍの大きさに裁断し、この１枚を液温
３５３Ｋ（８０℃）の１３ｗｔ．％アジピン酸アンモニ
ウム水溶液中に浸漬し、対向電極をｓｕｓ３０４とし
て、２０Ｖで１５分間の条件で化成処理を行った。［静電容量］：化成処理した電極箔（大きさ巾１ｃｍ×
長さ５ｃｍ）１枚を、１３ｗｔ．％アジピン酸アンモニ
ウム水溶液中に浸漬し、対向電極を、静電容量が４００
００μＦ以上のエッチドアルミニウム箔として、１２０
Ｈｚの直列等価回路でＬＣＲメーターを用いて、静電容
量（μＦ／ｃｍ²）を測定した。なお、表１に示した静
電容量（％）は、Ｆｅ：０．００４重量％、Ｓｉ：０．
００４重量％、Ｃｕ：０．００３重量％、その他不可避
不純物元素を含有する純度９９．９８％のアルミニウム
鋳塊を使用し、実施例１と同一の方法で得られたアルミ
ニウム箔に、前記したエッチング処理及び化成処理を施
した電極箔の静電容量を１００％として、これとの相対
比較で求めたものである。

【００２７】

【表１】

【００２８】実施例５まず、表２に示した元素組成を持つアルミニウム鋳塊を
準備した。このアルミニウム鋳塊に、８３３Ｋ×２１．
６Ｋｓ（５６０℃×６時間）の条件で均質化処理を施し
た。その後、熱間圧延開始温度８９３Ｋ（６２０℃），
熱間圧延終了温度５０３Ｋ（２３０℃），熱間圧延開始
から終了までの時間を１０分間として、熱間圧延を施し
た。次いで、常法により冷間圧延を施して、厚さ０．１
ｍｍのアルミニウム箔を得た。このアルミニウム箔を、
界面活性剤を含有するアルカリ溶液にて脱脂洗浄を行っ
た後、５６３Ｋ×５４Ｋｓ（２９０℃×１５時間）の条
件で最終焼鈍を施して、電解コンデンサ電極用アルミニ
ウム箔を得た。

【００２９】実施例６表２に示した元素組成を持つアルミニウム鋳塊を使用す
る他は、実施例５と同一の方法で、電解コンデンサ電極
用アルミニウム箔を得た。

【００３０】実施例７表２に示した元素組成を持つアルミニウム鋳塊を使用す
る他は、実施例５と同一の方法で、電解コンデンサ電極
用アルミニウム箔を得た。

【００３１】実施例８表２に示した元素組成を持つアルミニウム鋳塊を使用す
る他は、実施例５と同一の方法で、電解コンデンサ電極
用アルミニウム箔を得た。

【００３２】実施例９表２に示した元素組成を持つアルミニウム鋳塊（実施例
７の鋳塊）を準備した。このアルミニウム鋳塊に、７５
３Ｋ×９０Ｋｓ（４８０℃×２５時間）の条件で均質化
処理を施した。その後、熱間圧延開始温度７１３Ｋ（４
４０℃），熱間圧延終了温度５２３Ｋ（２５０℃），熱
間圧延開始から終了までの時間を１５分間として、熱間
圧延を施した。次いで、一次冷間圧延を施した後、中間
焼鈍を５７３Ｋ×１８Ｋｓ（３００℃×５時間）の条件
で施し、更に二次冷間圧延を施し、厚さ０．１ｍｍのア
ルミニウム箔を得た。このアルミニウム箔を、界面活性
剤を含有するアルカリ溶液にて脱脂洗浄を行った後、５
６３Ｋ×５４Ｋｓ（２９０℃×１５時間）の条件で最終
焼鈍を施して、電解コンデンサ電極用アルミニウム箔を
得た。

【００３３】比較例２まず、表２に示した元素組成を持つアルミニウム鋳塊を
準備した。このアルミニウム鋳塊に、７９３Ｋ×９０Ｋ
ｓ（５２０℃×２５時間）の条件で均質化処理を施し
た。その後、熱間圧延開始温度７５３Ｋ（４８０℃），
熱間圧延終了温度５２３Ｋ（２５０℃），熱間圧延開始
から終了までの時間を１２分間として、熱間圧延を施し
た。次いで、常法により冷間圧延を施して、厚さ０．１
ｍｍのアルミニウム箔を得た。このアルミニウム箔を、
界面活性剤を含有するアルカリ溶液にて脱脂洗浄を行っ
た後、６２３Ｋ×５４Ｋｓ（３５０℃×１５時間）の条
件で最終焼鈍を施して、電解コンデンサ電極用アルミニ
ウム箔を得た。

【００３４】比較例３表２に示した元素組成を持つアルミニウム鋳塊（実施例
５の鋳塊）を準備した。このアルミニウム鋳塊に、実施
例９と同一の条件で、均質化処理，熱間圧延，冷間圧
延，中間焼鈍，脱脂洗浄，及び最終焼鈍を施して、電解
コンデンサ電極用アルミニウム箔を得た。

【００３５】比較例４表２に示した元素組成を持つアルミニウム鋳塊（比較例
２の鋳塊）を準備した。このアルミニウム鋳塊に、実施
例９と同一の条件で、均質化処理，熱間圧延，冷間圧
延，中間焼鈍，脱脂洗浄，及び最終焼鈍を施して、電解
コンデンサ電極用アルミニウム箔を得た。

【００３６】

【表２】

【００３７】以上の実施例５〜９及び比較例２〜４で得
られた電解コンデンサ電極用アルミニウム箔について、
Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量を熱フェノール溶解法によ
り測定し、表３に記載した各析出量の割合を求めた。ま
た、各電解コンデンサ電極用アルミニウム箔中における
２μｍ以下の析出物が占める割合も求めた。これらの結
果を表３に示した。更に、各電解コンデンサ電極用アル
ミニウム箔の引張強さ及び各箔中の平均結晶粒径を測定
し、それらの結果を表３に示した。また、実施例１と同
一の方法で静電容量を測定し、それらの結果も表３に示
した。

【００３８】

【表３】

【００３９】以上の実施例１〜９及び比較例１〜４の結
果から明らかなように、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量が
特定の範囲内に規制されている電解コンデンサ電極用ア
ルミニウム箔を使用し、エッチング処理した電極箔は、
高静電容量を有していることが分かる。実施例７〜９に
係る方法で得られた電解コンデンサ電極用アルミニウム
箔は、静電容量が低いが、相対評価の基準に用いたアル
ミニウム箔が９９．９８％Ａｌ純度であるのに対して、
低純度であるにも拘らず、比較的高静電容量であり、特
に実施例７及び８においては、９９．９８％Ａｌ純度の
アルミニウム箔の性能に匹敵する性能を有していること
が分かる。また、比較例２に係る方法で得られた電解コ
ンデンサ電極用アルミニウム箔についても、低純度であ
るにも拘らず、比較的高静電容量の電極箔が得られてい
るが、Ｆｅ及びＳｉの含有量が多いため、製造条件の若
干の相違によって、安定して高静電容量の電極箔が得ら
れない可能性がある。

【００４０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る電解
コンデンサ電極用アルミニウム箔は、その箔中に含有さ
れているＦｅ、Ｓｉ及びＣｕの析出量を、特定の範囲に
規制したので、エッチング処理を施すことによって、安
定して高静電容量の電極箔を得ることができる。更に、
Ｆｅ又はＣｕの各析出物の析出量を、特定の範囲に規制
した場合には、より安定して高静電容量の電極箔を得る
ことができる。また、各析出物の大きさや数を特定の範
囲に規定したり、若しくはアルミニウム箔中の平均結晶
粒径の大きさや引張強さを特定の範囲に規定した場合に
も、より安定して高静電容量の電極箔を得ることができ
るという効果を奏する。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】アルミニウム純度が９９．９重量％以上
であって、Ｆｅ：０．００１０〜０．０１５０重量％、
Ｓｉ：０．００１５〜０．０２００重量％、Ｃｕ：０．
０００１〜０．００５０重量％、その他不可避不純物元
素を含有し、熱フェノール溶解法によって測定されるＦ
ｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計が、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣ
ｕの含有量の合計に対して、１０〜７０％の範囲に規制
されていることを特徴とする電解コンデンサ電極用アル
ミニウム箔。
【請求項２】熱フェノール溶解法によって測定される
Ｆｅの析出量が、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計に
対して、１５〜７５％の範囲に規制されている請求項１
記載の電解コンデンサ電極用アルミニウム箔。
【請求項３】熱フェノール溶解法によって測定される
Ｃｕの析出量が、Ｆｅ，Ｓｉ及びＣｕの析出量の合計に
対して、１〜２０％の範囲に規制されている請求項１又
は２記載の電解コンデンサ電極用アルミニウム箔。
【請求項４】２μｍ以下の析出物の数が、析出物全体
の数に対して、５０％以上を占めている請求項１及至３
のいずれか一項に記載の電解コンデンサ電極用アルミニ
ウム箔。
【請求項５】平均結晶粒径が０．０２〜１ｍｍであ
り、且つ引張強さが９８ＭＰａ以下である請求項１及至
４のいずれか一項に記載の電解コンデンサ電極用アルミ
ニウム箔。