JPH09309064A - 研磨装置及び研磨方法 - Google Patents
研磨装置及び研磨方法Info
- Publication number
- JPH09309064A JPH09309064A JP12984596A JP12984596A JPH09309064A JP H09309064 A JPH09309064 A JP H09309064A JP 12984596 A JP12984596 A JP 12984596A JP 12984596 A JP12984596 A JP 12984596A JP H09309064 A JPH09309064 A JP H09309064A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- surface plate
- polishing
- polished
- polishing apparatus
- thermal expansion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 平坦度の高い基板を長期間に亘って安定的に
作製することが可能な、研磨装置を提供すること。 【解決手段】 下定盤2と、下定盤2の上方に配設され
る上定盤3と、上定盤3に接して上定盤3を支持する定
盤支持部4とを具備し、下定盤2と上定盤3との間に被
研磨物を配置して該被研磨物を研磨する研磨装置におい
て、上記上定盤3の熱膨張係数と上記定盤支持部4の熱
膨張係数との差を±1.0×10-6K-1以下としてな
る。
作製することが可能な、研磨装置を提供すること。 【解決手段】 下定盤2と、下定盤2の上方に配設され
る上定盤3と、上定盤3に接して上定盤3を支持する定
盤支持部4とを具備し、下定盤2と上定盤3との間に被
研磨物を配置して該被研磨物を研磨する研磨装置におい
て、上記上定盤3の熱膨張係数と上記定盤支持部4の熱
膨張係数との差を±1.0×10-6K-1以下としてな
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平坦度に優れた基
板、特に、ハードディスク用のカーボン基板の研磨装置
及び研磨方法に関する。
板、特に、ハードディスク用のカーボン基板の研磨装置
及び研磨方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】現在一
般に使用されている研磨装置は、平面視して円形状の下
定盤と、該下定盤の上方に配設された上定盤と、該上定
盤を上方より支持する定盤支持体とを具備した両面研磨
式の研磨装置であり、上記上定盤と下定盤との間におい
て、キャリアと称する遊星歯車に被研磨物を装填し、該
被研磨物を該キャリアと共に直接又は研磨パッドを介し
て上記上・下定盤で挟持し、所定の加圧下において研磨
剤を供給しながら研磨を行うように構成されている。
般に使用されている研磨装置は、平面視して円形状の下
定盤と、該下定盤の上方に配設された上定盤と、該上定
盤を上方より支持する定盤支持体とを具備した両面研磨
式の研磨装置であり、上記上定盤と下定盤との間におい
て、キャリアと称する遊星歯車に被研磨物を装填し、該
被研磨物を該キャリアと共に直接又は研磨パッドを介し
て上記上・下定盤で挟持し、所定の加圧下において研磨
剤を供給しながら研磨を行うように構成されている。
【0003】しかしながら、上述した構成の研磨装置
は、長期間に亘って研磨を行うと、次第に被研磨物の平
坦度が極端に低下してくる。このような平坦度の低下
は、特に、被研磨物が、5μm以下といった精度の高い
平坦度を要求される磁気ディスク用基板である場合に
は、収率も低下し、コスト高の原因となっていた。
は、長期間に亘って研磨を行うと、次第に被研磨物の平
坦度が極端に低下してくる。このような平坦度の低下
は、特に、被研磨物が、5μm以下といった精度の高い
平坦度を要求される磁気ディスク用基板である場合に
は、収率も低下し、コスト高の原因となっていた。
【0004】従って、本発明の目的は、平坦度の高い基
板を長期間に亘って安定的に作製することが可能な、研
磨装置及び研磨方法を提供することにある。
板を長期間に亘って安定的に作製することが可能な、研
磨装置及び研磨方法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、鋭意検討
した結果、上定盤及びこれに接する定盤支持部に、熱膨
張係数の差が特定の範囲にある材質のものを採用した研
磨装置が、上記目的を達成し得ることを知見した。
した結果、上定盤及びこれに接する定盤支持部に、熱膨
張係数の差が特定の範囲にある材質のものを採用した研
磨装置が、上記目的を達成し得ることを知見した。
【0006】本発明の請求項1に記載の発明は、上記知
見に基づきなされたものであり、下定盤と、該下定盤の
上方に配設される上定盤と、該上定盤に接して該上定盤
を支持する定盤支持部とを具備し、該下定盤と上定盤と
の間に被研磨物を配置して該被研磨物を研磨する研磨装
置において、上記上定盤の熱膨張係数と上記定盤支持部
の熱膨張係数との差を±1.0×10-6K-1以下とした
ことを特徴とする研磨装置を提供するものである。
見に基づきなされたものであり、下定盤と、該下定盤の
上方に配設される上定盤と、該上定盤に接して該上定盤
を支持する定盤支持部とを具備し、該下定盤と上定盤と
の間に被研磨物を配置して該被研磨物を研磨する研磨装
置において、上記上定盤の熱膨張係数と上記定盤支持部
の熱膨張係数との差を±1.0×10-6K-1以下とした
ことを特徴とする研磨装置を提供するものである。
【0007】また、本発明は、上記本発明の研磨装置を
使用した好ましい研磨方法として、上記本発明の研磨装
置を使用した研磨方法であって、上記被研磨物を上記上
定盤と上記下定盤との間に配置して所定時間研磨を行っ
た後、該被研磨物を上下反転させて該上定盤と該下定盤
とで研磨する面を変更し、再度所定時間研磨を行うこと
を特徴とする研磨方法を提供するものである。
使用した好ましい研磨方法として、上記本発明の研磨装
置を使用した研磨方法であって、上記被研磨物を上記上
定盤と上記下定盤との間に配置して所定時間研磨を行っ
た後、該被研磨物を上下反転させて該上定盤と該下定盤
とで研磨する面を変更し、再度所定時間研磨を行うこと
を特徴とする研磨方法を提供するものである。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面を参照しながら詳細に説明する。
図面を参照しながら詳細に説明する。
【0009】図1及び図2は、本発明の一実施形態を示
したものであり、図において符号1は研磨装置、10は
ハードディスク用カーボン基板を示している。
したものであり、図において符号1は研磨装置、10は
ハードディスク用カーボン基板を示している。
【0010】図1及び図2に示したように、上記実施形
態の研磨装置1は、下定盤2と、下定盤2の上方に配設
される上定盤3と、上定盤3に接して上定盤3を支持す
る定盤支持部4とを具備して構成された両面研磨装置で
ある。
態の研磨装置1は、下定盤2と、下定盤2の上方に配設
される上定盤3と、上定盤3に接して上定盤3を支持す
る定盤支持部4とを具備して構成された両面研磨装置で
ある。
【0011】図2に示したように、上記下定盤2は、ベ
ース5上に矢印A方向に回転自在に設けられている。こ
の下定盤2の上面には、格子状の溝(図示せず)が形成
されており、中央の矢印B方向に回転する太陽歯車7と
外周側の矢印C方向に回転する内歯歯車8とに噛み合っ
て、公転しつつ自転する遊星歯車状のキャリア9が4機
配設されている。そして、これら各キャリア9に設けら
れた8個の穴内にそれぞれカーボン基板10がセットさ
れるようになっている。
ース5上に矢印A方向に回転自在に設けられている。こ
の下定盤2の上面には、格子状の溝(図示せず)が形成
されており、中央の矢印B方向に回転する太陽歯車7と
外周側の矢印C方向に回転する内歯歯車8とに噛み合っ
て、公転しつつ自転する遊星歯車状のキャリア9が4機
配設されている。そして、これら各キャリア9に設けら
れた8個の穴内にそれぞれカーボン基板10がセットさ
れるようになっている。
【0012】上記上定盤2は、エアシリンダー11の出
力ロッド11aの先端部にブラケット12を介して回転
可能に取り付けられており、上記エアシリンダー11に
より昇降可能に設けられていると共に、下降時にはベー
ス5側で図2に示す矢印D方向に回転するローター13
の溝に係合して同方向に回転するようになされている。
なお、上定盤2の下面にも、下定盤と同様の格子状の溝
(図示せず)が形成されている。
力ロッド11aの先端部にブラケット12を介して回転
可能に取り付けられており、上記エアシリンダー11に
より昇降可能に設けられていると共に、下降時にはベー
ス5側で図2に示す矢印D方向に回転するローター13
の溝に係合して同方向に回転するようになされている。
なお、上定盤2の下面にも、下定盤と同様の格子状の溝
(図示せず)が形成されている。
【0013】上定盤3は、上記定盤支持体4にボルト
(図示せず)によって、緊結固定されており、定盤支持
体4と共に回転自在に設けられている。
(図示せず)によって、緊結固定されており、定盤支持
体4と共に回転自在に設けられている。
【0014】而して、本発明の研磨装置においては、上
記上定盤の熱膨張係数と定盤支持部との熱膨張係数の差
は±1.0×10-6K-1以下、好ましくは、±0.5×
10 -6K-1以下とされる。定盤の熱膨張係数と定盤支持
部の熱膨張係数との差が±1.0×10-6K-1を超える
と、研磨時に発生する熱により、上定盤及び定盤支持体
間に熱膨張係数の差に伴うひずみが生じ、上定盤の平坦
度が悪化し、被研磨物の表面の平坦度が悪くなる。
記上定盤の熱膨張係数と定盤支持部との熱膨張係数の差
は±1.0×10-6K-1以下、好ましくは、±0.5×
10 -6K-1以下とされる。定盤の熱膨張係数と定盤支持
部の熱膨張係数との差が±1.0×10-6K-1を超える
と、研磨時に発生する熱により、上定盤及び定盤支持体
間に熱膨張係数の差に伴うひずみが生じ、上定盤の平坦
度が悪化し、被研磨物の表面の平坦度が悪くなる。
【0015】上記上定盤の材質は、熱膨張係数が8×1
0-6K-1以下のものが好ましく、5×10-6K-1のもの
がより好ましい。なお、本明細書において、熱膨張係数
とは、20℃〜100℃における値の平均値である。
0-6K-1以下のものが好ましく、5×10-6K-1のもの
がより好ましい。なお、本明細書において、熱膨張係数
とは、20℃〜100℃における値の平均値である。
【0016】このような特性を有する上記上定盤の具体
的な材質としては、例えば、インバー合金(1〜2×1
0-6K-1)、ニレジスト鋳鉄type5(5〜6×10
-6K -1)、「ノビナイト鋳鉄」〔登録商標、榎本鋳工
所、(2〜3×10-6K-1)〕、「パイレックスガラ
ス」〔登録商標、岩城ガラス、(3.2×10
-6K-1)〕、SiC(6.6×10-6K-1)等が挙げら
れ、これらの中でも、特に、取扱いに特に注意を要せ
ず、加工が容易で且つ比較的安価な点で、ニレジスト鋳
鉄、「ノビナイト鋳鉄」〔登録商標、榎本鋳工所〕が好
ましい。
的な材質としては、例えば、インバー合金(1〜2×1
0-6K-1)、ニレジスト鋳鉄type5(5〜6×10
-6K -1)、「ノビナイト鋳鉄」〔登録商標、榎本鋳工
所、(2〜3×10-6K-1)〕、「パイレックスガラ
ス」〔登録商標、岩城ガラス、(3.2×10
-6K-1)〕、SiC(6.6×10-6K-1)等が挙げら
れ、これらの中でも、特に、取扱いに特に注意を要せ
ず、加工が容易で且つ比較的安価な点で、ニレジスト鋳
鉄、「ノビナイト鋳鉄」〔登録商標、榎本鋳工所〕が好
ましい。
【0017】上記定盤支持体の材質は、上記上定盤と同
じ材質のものが好ましいが、上記上定盤と異なる材質で
あっても、熱膨張係数の差が上述したように、±1.0
×10-6K-1以下となる材質のものであれば特に制限な
く使用できる。この場合、定盤の熱膨張係数に比べて、
定盤支持体の熱膨張係数を低くすることがより好まし
い。また、特に、定盤及び定盤支持体の材料の熱膨張係
数が、ともに7.0×10-6K-1以下であると、加工を
繰り返し行ったときの収率の低下を防止でき、好まし
い。下限は、1.0×10-6K-1が好ましい。
じ材質のものが好ましいが、上記上定盤と異なる材質で
あっても、熱膨張係数の差が上述したように、±1.0
×10-6K-1以下となる材質のものであれば特に制限な
く使用できる。この場合、定盤の熱膨張係数に比べて、
定盤支持体の熱膨張係数を低くすることがより好まし
い。また、特に、定盤及び定盤支持体の材料の熱膨張係
数が、ともに7.0×10-6K-1以下であると、加工を
繰り返し行ったときの収率の低下を防止でき、好まし
い。下限は、1.0×10-6K-1が好ましい。
【0018】また、上記定盤支持体の寸法は、熱膨張係
数の差の影響を小さくするために上定盤より小さいこと
が好ましく、上定盤と接する面の表面積が、定盤支持体
に接する面の表面積の5〜70%であることが好まし
く、5〜30%であることがより好ましい。
数の差の影響を小さくするために上定盤より小さいこと
が好ましく、上定盤と接する面の表面積が、定盤支持体
に接する面の表面積の5〜70%であることが好まし
く、5〜30%であることがより好ましい。
【0019】なお、本発明の研磨装置においては、下定
盤の材質も上記上定盤と同じ材質とすることが好まし
い。
盤の材質も上記上定盤と同じ材質とすることが好まし
い。
【0020】本発明の研磨装置において、上記上定盤と
上記定盤支持体の固定方法は、ボルトによる緊結固定、
溶接による固定等の従来から採用されている固定方法と
して常法を採用する事が出来る。また、上述した上記上
定盤、下定盤、及び定盤支持体以外の構成については、
研磨装置として作動するための通常の構成を採用するこ
とができる。
上記定盤支持体の固定方法は、ボルトによる緊結固定、
溶接による固定等の従来から採用されている固定方法と
して常法を採用する事が出来る。また、上述した上記上
定盤、下定盤、及び定盤支持体以外の構成については、
研磨装置として作動するための通常の構成を採用するこ
とができる。
【0021】本発明の研磨装置は、研磨剤の種類を変更
することによって、取りしろが10〜1000μm程度
で、研磨後の平坦度が0〜5μm程度のラッピング加工
は勿論、取りしろが0〜20μm程度で研磨後の平坦度
が0〜5μm程度のポリッシング加工のいずれの研磨に
も適用することが出来る。さらには、上記上定盤・下定
盤にダイアモンド、SiC等の砥石を取り付けた研削加
工にも適用できる。なお、ここで、平坦度とは、後述す
る実施例の測定方法により測定される値である。
することによって、取りしろが10〜1000μm程度
で、研磨後の平坦度が0〜5μm程度のラッピング加工
は勿論、取りしろが0〜20μm程度で研磨後の平坦度
が0〜5μm程度のポリッシング加工のいずれの研磨に
も適用することが出来る。さらには、上記上定盤・下定
盤にダイアモンド、SiC等の砥石を取り付けた研削加
工にも適用できる。なお、ここで、平坦度とは、後述す
る実施例の測定方法により測定される値である。
【0022】本発明の研磨装置は、適用する被研磨物に
特に制限なく使用することができるが、アルミニウム若
しくはその合金、シリコン等の金属基板、又は、ガラ
ス、ガラス状カーボン、シリコン等の脆性材料基板等の
種々の材質の基板の研磨に好適であり、特に、ハードデ
ィスク用の基板として使用される、ガラス状カーボン製
基板の研磨に好適である。
特に制限なく使用することができるが、アルミニウム若
しくはその合金、シリコン等の金属基板、又は、ガラ
ス、ガラス状カーボン、シリコン等の脆性材料基板等の
種々の材質の基板の研磨に好適であり、特に、ハードデ
ィスク用の基板として使用される、ガラス状カーボン製
基板の研磨に好適である。
【0023】本発明の研磨装置に使用する研磨剤及び研
磨パッドは、特に制限されることはないが、本発明の研
磨装置を上記基板の研磨に使用する場合には、これらの
基板の研磨に使用される通常の研磨剤及び研磨パッドを
使用することが出来る。なお、この場合には、研磨材に
よる上・下定盤並びに定盤支持体の腐食を防止するため
に、表面に、例えば、Crメッキ等を施す。勿論、研磨
パッドを使用せずに上記上・下定盤で直接研磨してもよ
い。さらには、研磨材を使用せずにクーラントのみを使
用し、研磨パッドの代わりに上記砥石を取り付けて加工
を行っても良い。
磨パッドは、特に制限されることはないが、本発明の研
磨装置を上記基板の研磨に使用する場合には、これらの
基板の研磨に使用される通常の研磨剤及び研磨パッドを
使用することが出来る。なお、この場合には、研磨材に
よる上・下定盤並びに定盤支持体の腐食を防止するため
に、表面に、例えば、Crメッキ等を施す。勿論、研磨
パッドを使用せずに上記上・下定盤で直接研磨してもよ
い。さらには、研磨材を使用せずにクーラントのみを使
用し、研磨パッドの代わりに上記砥石を取り付けて加工
を行っても良い。
【0024】本発明の研磨装置を使用した基板の研磨
は、上記基板の研磨に使用される常法により行うことが
出来る。
は、上記基板の研磨に使用される常法により行うことが
出来る。
【0025】また、本発明の研磨方法は、上記本発明の
研磨装置を使用した研磨方法であって、上記本発明の研
磨装置により、所定時間研磨を行った後、該被研磨物を
上下反転させて上定盤と下定盤とで研磨する面を変更
し、再度所定時間研磨を行うことにより、良好な平坦度
が得られるので好ましい。
研磨装置を使用した研磨方法であって、上記本発明の研
磨装置により、所定時間研磨を行った後、該被研磨物を
上下反転させて上定盤と下定盤とで研磨する面を変更
し、再度所定時間研磨を行うことにより、良好な平坦度
が得られるので好ましい。
【0026】被研磨物の上下反転は、上下反転前におけ
る該被研磨物の取りしろが、最終的な取りしろの30〜
70%、好ましくは、40〜60%となったときに行う
ことが好ましい。
る該被研磨物の取りしろが、最終的な取りしろの30〜
70%、好ましくは、40〜60%となったときに行う
ことが好ましい。
【0027】本発明の研磨方法は、被研磨物の研磨後の
平坦度をより高いものとする場合に特に効果的である。
平坦度をより高いものとする場合に特に効果的である。
【0028】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。な
お、本発明は、本実施例に限定されるものではない。
お、本発明は、本実施例に限定されるものではない。
【0029】〔実施例1〕ディスク状に成形した硬化性
樹脂を所定雰囲気下、所定温度・所定時間で、焼成・炭
素化し、ハードディスク用ガラス状カーボン基板(直径
48mm)を作製した。そして、〔表1〕に示した材質
の上定盤(直径64cm)及び定盤支持体(直径46c
m)を使用すると共に、装置ベースとして、下記研磨装
置を使用し、下記加工条件により、下記基板の研磨を行
った。
樹脂を所定雰囲気下、所定温度・所定時間で、焼成・炭
素化し、ハードディスク用ガラス状カーボン基板(直径
48mm)を作製した。そして、〔表1〕に示した材質
の上定盤(直径64cm)及び定盤支持体(直径46c
m)を使用すると共に、装置ベースとして、下記研磨装
置を使用し、下記加工条件により、下記基板の研磨を行
った。
【0030】 <研磨装置> 装置ベース; SPEED FAM社製9B型両面研磨装置 下定盤; 直径64cm(インバー合金) キャリア(基板装填枚数6枚、直径23cm、厚さ0.5mm、グラスファイ バー入りエポキシ樹脂材(EG材)); 5枚 研磨パッド; ウレタンパッド
【0031】 <研磨条件> 加工圧力; 150g/cm2 下定盤回転数; 40rpm 加工時間; 30分 研磨剤; 平均粒径1.2μm、か焼アルミナ15wt% 研磨剤流量; 200cc/min
【0032】〔実施例2〜実施例7〕上定盤及び定盤支
持体の材質を、〔表1〕に示した材質に変更した以外
は、上記実施例1と同様の研磨装置及び研磨条件によ
り、研磨を行った。
持体の材質を、〔表1〕に示した材質に変更した以外
は、上記実施例1と同様の研磨装置及び研磨条件によ
り、研磨を行った。
【0033】〔実施例8〕実施例1において、ラッピン
グ取りしろ70μmの研磨を行った後、基板を上下反転
させて上定盤と下定盤による研磨面を変えた後、再び同
一条件でラッピング取りしろ70μmの研磨を行った。
グ取りしろ70μmの研磨を行った後、基板を上下反転
させて上定盤と下定盤による研磨面を変えた後、再び同
一条件でラッピング取りしろ70μmの研磨を行った。
【0034】〔比較例1〕上定盤及び定盤支持体の材質
を、〔表1〕に示した材質に変更した以外は、上記実施
例1と同様の研磨装置及び研磨条件により、研磨を行っ
た。
を、〔表1〕に示した材質に変更した以外は、上記実施
例1と同様の研磨装置及び研磨条件により、研磨を行っ
た。
【0035】〔比較例2〕上定盤及び定盤支持体の材質
を、〔表1〕に示した材質に変更した以外は、上記実施
例7と同様の研磨装置及び研磨条件により、研磨を行っ
た。
を、〔表1〕に示した材質に変更した以外は、上記実施
例7と同様の研磨装置及び研磨条件により、研磨を行っ
た。
【0036】
【表1】
【0037】〔評価方法〕上記各実施例により得られた
基板について、平坦度が5μm以下のものを合格品とす
るときの基板30枚当たりの収率を評価し、30枚の評
価を1ロットとし、1ロット目、100ロット目、及び
500ロット目の収率をそれぞれ評価した。なお、ここ
で、平坦度とは、ニデック社製 FT−11により測定
した値を採用した。結果を〔表2〕に示した。
基板について、平坦度が5μm以下のものを合格品とす
るときの基板30枚当たりの収率を評価し、30枚の評
価を1ロットとし、1ロット目、100ロット目、及び
500ロット目の収率をそれぞれ評価した。なお、ここ
で、平坦度とは、ニデック社製 FT−11により測定
した値を採用した。結果を〔表2〕に示した。
【0038】
【表2】
【0039】〔表2〕に示したように、上記各実施例で
は、500ロット目においての収率が初期ロットから低
下せず、長期間に亘って、平坦度の高い基板を安定的に
製造可能であることが確認された。
は、500ロット目においての収率が初期ロットから低
下せず、長期間に亘って、平坦度の高い基板を安定的に
製造可能であることが確認された。
【0040】
【発明の効果】本発明に係る研磨装置及び研磨方法によ
れば、平坦度の高い基板を長期間に亘って安定的に作製
することが可能である。
れば、平坦度の高い基板を長期間に亘って安定的に作製
することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る研磨装置の一実施形態を示す要部
概略正面図である。
概略正面図である。
【図2】図1のX−X線矢視図である。
1 研磨装置 2 下定盤 3 上定盤 4 定盤支持部
Claims (5)
- 【請求項1】 下定盤2と、該下定盤2の上方に配設さ
れる上定盤3と、該上定盤3に接して該上定盤3を支持
する定盤支持部4とを具備し、該下定盤2と上定盤3と
の間に被研磨物を配置して該被研磨物を研磨する研磨装
置において、 上記上定盤3の熱膨張係数と上記定盤支持部4の熱膨張
係数との差を±1.0×10-6K-1以下としたことを特
徴とする研磨装置。 - 【請求項2】 上記上定盤3が、上記定盤支持部4より
広い面積を有することを特徴とする請求項1に記載の研
磨装置。 - 【請求項3】 上記上定盤3及び上記定盤支持部4の熱
膨張係数がともに7.0×10-6K-1以下の材料からな
ることを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。 - 【請求項4】 上記被研磨物がカーボン基板であること
を特徴とする請求項1又は2に記載の研磨装置。 - 【請求項5】 請求項1〜4のいずれかに記載の研磨装
置を使用した研磨方法であって、 上記被研磨物を上記上定盤3と上記下定盤2との間に配
置して所定時間研磨を行った後、該被研磨物を上下反転
させて該上定盤3と該下定盤2とで研磨する面を変更
し、再度所定時間研磨を行うことを特徴とする研磨方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12984596A JPH09309064A (ja) | 1996-05-24 | 1996-05-24 | 研磨装置及び研磨方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12984596A JPH09309064A (ja) | 1996-05-24 | 1996-05-24 | 研磨装置及び研磨方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09309064A true JPH09309064A (ja) | 1997-12-02 |
Family
ID=15019665
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12984596A Pending JPH09309064A (ja) | 1996-05-24 | 1996-05-24 | 研磨装置及び研磨方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09309064A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100755011B1 (ko) * | 2005-12-14 | 2007-09-06 | 주식회사 실트론 | 연마용 정반, 이를 사용한 연마장치 및 연마방법 |
JP2008105171A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-05-08 | Hoya Corp | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスク用ガラス基板研磨装置および磁気ディスクの製造方法 |
US8408970B2 (en) | 2006-09-29 | 2013-04-02 | Hoya Corporation | Method of manufacturing glass substrate for magnetic disk, method of manufacturing magnetic disk, and polishing apparatus of glass substrate for magnetic disk |
WO2013047190A1 (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-04 | コニカミノルタアドバンストレイヤー株式会社 | 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法 |
CN110824692A (zh) * | 2018-08-08 | 2020-02-21 | 肖特股份有限公司 | 反射镜和反射镜基底及用于其生产的方法和装置 |
WO2020208968A1 (ja) * | 2019-04-11 | 2020-10-15 | 信越半導体株式会社 | 両面研磨装置 |
CN113710421A (zh) * | 2019-04-11 | 2021-11-26 | 信越半导体株式会社 | 双面研磨方法 |
-
1996
- 1996-05-24 JP JP12984596A patent/JPH09309064A/ja active Pending
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---|---|---|---|---|
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