JPH0929182A

JPH0929182A - 部品選別装置

Info

Publication number: JPH0929182A
Application number: JP20167295A
Authority: JP
Inventors: Mitsuo Kawai; 光雄河合
Original assignee: Shinko Electric Co Ltd
Current assignee: Shinko Electric Co Ltd
Priority date: 1995-07-14
Filing date: 1995-07-14
Publication date: 1997-02-04

Abstract

(57)【要約】［目的］外形サイズに差はなく、内部形状に差異のあ
る部品についての選別装置を提供すること。［構成］エヤシリンダ７４によって昇降されるステー
ジ７７に取り付けられ、コイルばね８５で付勢されてい
る検測棒８３がステージ７７と共にコイルばね８５の付
勢方向へ移動され、ギヤＭと開孔不良ギヤＭ’とで異な
る地点で停止されて、コイルばね８５の付勢力に抗して
ステージ７７との相対位置を変える時の変位の大きさを
検測棒８３に取り付けた検知プレート８１、８２と、ス
テージ７７に一体的に固定した光センサ９１、９２とに
よって検知し、ギヤＭと開孔不良ギヤＭ’と選別する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は部品選別装置に関するも
のであり、更に詳しくは部品を形状的差異によって選別
する装置に関する。

【０００２】

【従来の技術及びその問題点】図１は実施例における選
別対象としての、ギヤポンプ等に使用される鋳造ギヤ
（以降、ギヤと略）Ｍの斜視図であり、図２はその平面
図である。また、図３は図２における［３］−［３］線
方向の断面図であり、図４は図２における［４］−
［４］線方向の断面図である。すなわち、ギヤＭは６枚
のブレードＪと軸孔Ｋを有している。そして、最大外径
は４２〜７０ｍｍφ、孔径は１５〜３０ｍｍφ、厚さは
２０〜４０ｍｍのものが存在するが、図１〜図４はそれ
らの中の１種を示している。

【０００３】このギヤＭは鋳造品であるがため鋳造上り
時には開孔不良ギヤＭ’が存在しているが、ギヤＭ自体
の重量がやや大きいことのほか、開孔不良ギヤＭ’は外
形サイズに差がないこともあって、その選別装置は未だ
開発されておらず、現在では手作業で選別排除されてい
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする問題点】本発明は上述の問題
に鑑みてなされ、外形サイズに差のある部品は勿論、外
形サイズに差はないが内部形状に差のある部品をも選別
し得る部品選別装置を提供することを目的とする。

【０００５】

【問題点を解決するための手段】以上の目的は、２点間
を往復するステージに取り付けられ、前記ステージの往
復方向に伸縮するバネによって付勢されている検査ロッ
ドと、前記ステージが前記バネの付勢方向へ所定位置ま
で移動される間に、前記検査ロッドが選別されるべき部
品の形状的差異によって異なる地点で停止され、前記バ
ネの付勢力に抗して前記所定位置となる前記ステージと
の相対位置を変化させる時の変位の大きさの検知機構と
を具備し、前記変位の大きさの違いによって前記部品を
形状的に選別することを特徴とする部品選別装置、によ
って達成される。

【０００６】

【作用】２点間を往復するステージに取り付けられ、往
復方向に伸縮するバネで付勢されている検査ロッドが、
バネの付勢方向へ所定位置まで移動されるステージと共
に移動される間に部品の形状的差異によって異なる地点
で停止され、付勢力に抗して所定位置となるステージと
の相対位置を変化させる時の変位の大きさの違いを検知
し、その変位の大きさによって部品を選別するので、外
形サイズに差のある部品は勿論、外形サイズに差はなく
とも内部形状的に差異のある部品も選別し得る。

【０００７】

【実施例】以下、本発明の実施例による部品選別装置に
ついて、図面を参照して説明する。

【０００８】（第１実施例）図５は図１〜図４に示した
ギヤＭに混在する開孔不良ギヤＭ’を選別排除するため
のギヤ選別装置１００の全体を示す平面図であり、図６
はその側面図である。すなわち、上流側からギヤＭを収
容し１個ずつ送り出す捩り振動パーツフィーダ１と、こ
のギヤＭを個送する直線振動パーツフィーダ２と、送ら
れて来たギヤＭから開孔不良ギヤＭ’を選別し排除する
検査選別機構３と、良品のギヤＭを送り出すベルトコン
ベヤ４と、次工程への搬送機構５とを順に並べて構成さ
れている。

【０００９】捩り振動パーツフィーダ１はギヤＭを収容
し送り出すボウル１１と、これに捩り振動を与える駆動
部２１とからなっている。ボウル１１は、図５を参照し
て多数のギヤＭ（図５では簡明化のため散在的に示して
いる）を収容する底面１２に起点を有し、ギヤＭを単列
で移送する幅のトラック１４がボウル１１の周壁１３の
内面に沿う上昇スパイラル状に設けられており、ギヤＭ
を個送する移送路となる。そして、トラック１４はその
下流端部がボウル１１の外周側へ導出され、両側壁を有
する連絡トラック１５を介して下流の直線振動パーツフ
ィーダ２へ接続されている。

【００１０】駆動部２１においては、図６を参照し、ボ
ウル１１の底板と一体的な可動コアを兼ねる可動ブロッ
ク２２が等角度間隔に配置した傾斜板ばね２３によって
下方の固定ブロック２４に連結されており、固定ブロッ
ク２４上にはコイル２５を巻装した電磁石２６が可動ブ
ロック２２と僅かの間隙をあけ対向して設けられてい
る。駆動部２１は周囲を防音カバー２７で覆われてお
り、ボウル１１と共に防振ゴム２８を介して床上の共通
台板７に設置されている。そして、コイル２５に交流が
通電されることにより、ボウル１１に反時計方向を捩り
振動を与え、図５を参照し、ボウル１１内のギヤＭを矢
印ａで示す方向へ移送する。

【００１１】直線振動パーツフィーダ２はギヤＭを個送
する振動トラフ３１と、これに直線振動を与える駆動部
４１とからなっている。振動トラフ３１は、図５を参照
し、ギヤＭ１個分の幅を有する上に開いたコ字形状に形
成されておりその上面には上蓋３２が設けられ、ボルト
３３で振動トラフ３１の一方の側壁に固定されている。

【００１２】駆動部４１においては、図６を参照して、
振動トラフ３１の底板に固定された可動ブロック４２が
その部材４２ａ、４２ｂを介し前後一対の傾斜板ばね４
３によって下方の固定ブロック４４と連結されている。
固定ブロック４４上にはコイル４５を巻装した電磁石４
６が可動ブロック４２から垂下されている可動コア４２
ｃと僅かな間隙をあけ対向して設けられている。また、
駆動部４１は振動トラフ３１と共に防振ゴム４８を介し
て架台４９上に設置されており、架台４９は共通台板７
上に固定されている。そしてコイル４５に交流が通電さ
れることにより、振動トラフ３１に矢印ｂで示す方向の
直線振動が与えられ、図５を参照して、振動トラフ３１
内のギヤＭは矢印ｃで示す方向へ移送される。

【００１３】直線振動パーツフィーダ２の下流に設置さ
れている検査選別機構３はギヤＭから開孔不良ギヤＭ’
を選別し排除する。その詳細は後述するが、インデック
ステーブル５１上で矢印ｄ方向にステップ駆動される個
送回転板６１、検査機構７１、ギヤＭの排出シュート６
９等が設けられている。

【００１４】排出シュート６９の下流のベルトコンベヤ
４は共通台板７上の支持台１０６ａ、１０６ｂに支持さ
れ、下流側へ向かって上向き傾斜に設けられている。す
なわち、支持台１０６ｂに固定されたフレーム１０５に
駆動ローラ１０１と従動ローラ１０２が軸止されてお
り、これらに滑り止め１０４付きの無端ベルト１０３が
巻装されている。そしてギヤＭを矢印ｅで示す方向へ搬
送する。

【００１５】次工程への搬送機構５は搬送容器１０７
Ａ、１０７Ｂを水平面内で矢印ｆの方向に角度１８０度
回転させるアクチュエータ１０８と、ギヤＭで満たされ
たパレットコンテナ１０７Ａ（または１０７Ｂ）を矢印
ｇで示す方向へ搬送するローラコンベヤ１０９からなっ
ている。

【００１６】検査選別機構３はギヤＭをステップ移送す
るインデックス・テーブル５１とギヤＭの開孔Ｋを検査
する検査機構７１とからなっている。インデックス・テ
ーブル５１の詳細は平面図である図７、および図７にお
ける［８］−［８］線方向の断面を示す図８に示されて
おり、検査機構７１の詳細は図７における［９］−
［９］線方向の断面を示す図９に示されている。

【００１７】インデックス・テーブル５１は図８を参照
し、架台５９に設置された円筒状のインデックス・テー
ブル５１内において、台座５３にステッピング・モータ
５４が固定されており、ステッピング・モータ５４の出
力軸のギヤ５５、およびこれと噛み合うギヤ５６によっ
て回転軸５７が上方から見て時計方向に角度４５度でス
テップ駆動され、天板５２の裏面にボルト６５で固定さ
れた軸受６４内のベヤリング６３に軸支されている。そ
して、回転軸５７の上端部には個送回転板６１がボルト
６２で固定されており、天板５２上、すなわち、インデ
ックス・テーブル５１上で角度４５度のステップ回転を
行う。

【００１８】図７を参照して、個送回転板６１がステッ
プ回転されるインデックス・テーブル５１上には上流の
振動トラフ３１からギヤＭが送り込まれる箇所をポジシ
ョンＡとし、ポジションＡから時計回りに角度間隔４５
度でポジションＢ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈが規定され
ている。一方、ステップ回転される個送回転板６１には
周縁部に角度４５度の等角度間隔でＵ字形状の切り込み
６３が８個形成されており、この切込み６３の中に１個
のギヤＭを取り込み、インデックス・テーブル５１上を
滑らせてギヤＭをステップ移送する。この時、個送回転
板６１は各切込み６３が常にインデックス・テーブル５
１上のポジションＡ、Ｂ、Ｃ、…、Ｇ、Ｈの何れかの上
で停止するようにステップ回転される。なお、ポジショ
ンＡからポジションＥまでの間の天板５２の周縁にはギ
ヤＭの脱落を防ぐための周壁５８が設けられている。

【００１９】検査機構７１はインデックス・テーブル５
１のポジションＢの直上方に設けられている。すなわ
ち、図９を参照して、支持板７２上の取付板７３にエヤ
シンダ７４が取り付けられており、エヤシリンダ７４の
ロッド７５によって可動部７６がレール７４ａに沿い昇
降される。可動部７６の下面にはステージ７７が一体的
に固定されており、このステージ７７に検測棒８３が取
り付けられ、光センサ９１、９２が固定されている。

【００２０】すなわち、ステージ７７の上面に円筒状の
スリーブ８８がボルト８９で固定され、検測棒８３がス
リーブ８８からステージ７７を挿通して設けられいる。
そしてスリーブ８８の上面の開孔にはブッシュ８６、ス
テージ７７の開孔にはブッシュ８７が嵌め込まれ、検測
棒８３の下半部に設けた鍔８４が下方のブッシュ８７に
当接して係止されており、かつ上方のブッシュ８６と鍔
８４との間に、検測棒８３を囲むコイルばね８５が装着
されて検測棒８３を下方へ付勢している。また、検測棒
８３の上半部には光反射性の良好な面を与えた検知プレ
ート８１と検知プレート８２とが、後述の光センサ９
１、光センサ９２との関係において所定の位置にそれぞ
れの位置決めナット８１ａ、８２ａと共に螺着されてい
る。そして、検測棒８３はエヤシリンダ７４によってス
テージ７７と共に下降された時に、その先端部が天板５
２上のポジションＢにあるギヤＭの軸孔Ｋへ挿入される
ようになっている。

【００２１】また、ステージ７７にはセンサ固定柱９３
がボルト９４で固定されており、センサ固定柱９３の上
部には上述の検知プレート８１、８２に対応する光セン
サ９１、光センサ９２がそれぞれのナット９１ａ、９２
ａで固定されている。なお、光センサ９１、９２は発光
素子と受光素子とを内蔵し、自身からの発光の反射光を
受光して、反射光の有無により検知対象の有無をセンシ
ングするタイプのものである。

【００２２】検知プレート８１、８２と光センサ９１、
９２との位置関係はギヤＭがポシションＢにある場合の
図１０を参照し、ステージ７７がエヤシリンダ７４のス
トローク一杯まで下降され、共に下降される検測棒８３
の先端が開孔Ｋを挿通し、インデックス・テーブル５１
の天板５２に当接して下降が停止された時に、光センサ
９２が検知プレート８２を検知するように、また、開孔
不良ギヤＭ’がポジションＢにある場合の図１２を参照
して、ステージ７７がエヤシリンダ７４のストローク一
杯まで下降され、共に下降される検測棒８３の先端が不
良開孔Ｋ’に当接して下降を停止された時に、光センサ
９１が検知プレート８１を検知するように位置決めされ
ている。そして、これらの位置関係の調整は検知プレー
ト８１、８２の位置決めナット８１ａ、８２ａによって
行われる。開孔不良Ｋ’の形状によっては検測棒８３の
位置に多少の変動は起るが、上記の調整を行い得るほか
光センサ９１、９２は広い検知領域を備えているので支
障はない。

【００２３】その後、エヤシリンダ７４はステージ７７
をストローク一杯の図９の位置まで引き上げるが、ステ
ージ７７の昇降はギヤＭがインデックス・テーブル５１
のポジションＢにある間に行われ、個送回転板６１のス
テップ回転と連動されている。

【００２４】更には、インデックス・テーブル５１上で
ギヤＭの開孔Ｋの検査が行われるポジションＢから角度
４５度だけ進んだポジションＣにおいては、図７、およ
び図７における［１３］−［１３］線方向の部分破断側
面図である図１３を参照し、インデックス・テーブル５
１の天板５２を切り欠いて、エヤシリンダ９５で引き抜
かれ、また挿入される可動天板５２Ｍが設けられてい
る。すなわち、架台５９上の支持柱９７上にエヤシリン
ダ９５がレール板９６と共に固定されており、上流側の
ポジションＢで開孔不良ギヤＭ’が検知されるとその信
号は図示しないコントローラに入力されて、開孔不良ギ
ヤＭ’が個送回転板６１によってステップ移送されてポ
ジションＣへ到達した時に、可動天板５２Ｍがレール板
９６上を摺動して一点鎖線の位置まで引き抜かれる。

【００２５】そして、可動天板５２Ｍ上の開孔不良ギヤ
Ｍ’は周壁５８によって移動を阻止されるので下方へ陥
落する。可動天板５２Ｍの直下はインデックス・テーブ
ル５１を掘り込んで排出路９８が形成されており、開孔
不良ギヤＭ’を収容箱９９へ導くようになっている。

【００２６】開孔不良ギヤＭ’を下方へ陥落させた後、
エヤシリンダ９５は可動天板５２Ｍを天板５２内の元の
位置へ復帰させるが、この復帰動作も個送回転板６１が
次のステップ回転に入る迄の間に行われる。検査機構７
１によってポジションＢにギヤＭが検知された時には、
勿論、可動天板５２Ｍは引き抜かれない。

【００２７】また、更には、図７および図８を参照し
て、インデックス・テーブル５１のポジションＣから角
度９０度進んだポジションＥにおいては、天板５２を切
り欠いて、上端部を天板５２の表面と一致させた排出シ
ュート６９が下向き傾斜に取り付けられており、その両
側のボルト６８によって天板５２の裏面に固定されてい
る。そして、その下流端は前述のベルトコンベヤ４の上
行する無端ベルト１０３の直上となる位置にある。

【００２８】個送回転板６１の切込み６３はポジション
Ｅ以降のポジションＦ、Ｇ、Ｈを経由してポジションＡ
に戻るまでの間はギヤＭが空のままステップ回転され、
ポジションＡに戻った時に振動トラフ３１から新たにギ
ヤＭが送り込まれる。

【００２９】第１実施例によるギヤ選別装置１００は以
上のように構成されるが、次にその作用について説明す
る。

【００３０】図５を参照して、捩り振動パーツフィーダ
１のボウル１１に収容されているギヤＭは捩り振動を受
けて底面１２上を周辺部へ移動されると共に矢印ａの方
向へ移送されてトラック１４へ乗る。トラック１４はギ
ヤＭを単列で移送する幅とされているので多列で移送さ
れ始めたものは底面１２へ落下し、トラック１４がスパ
イラル状に上昇して最上部の周回に達した時点では、ギ
ヤＭは単列となって直線振動パーツフィーダ２への連絡
トラック１５へ移送される。

【００３１】連絡トラック１５から直線振動パーツフィ
ーダ２へ移行されたギヤＭは上蓋３２で覆われてトンネ
ル状となっている振動トラフ３１内を移送されるが、上
蓋３２が設けられていることにより、移送の途中で重な
り合うことなく下流端まで個送され、次の検査選別機構
３へ移行される。

【００３２】検査選別機構３においては、図７を参照
し、インデックス・テーブル５１上で時計方向、すなわ
ち、矢印ｄの方向に角度４５度でステップ回転されてい
る個送回転板６１の切り込み６３がポジションＡに達し
た時に振動トラフ３１から１個のギヤＭが切込み６３の
中へ送り込まれる。そして、残り７個の切込み６３も次
ぎ次ぎにポジションＡに到達するが、これらにも同様に
ギヤＭが順次送り込まれる。

【００３３】ポジションＡで切り込み６３に入ったギヤ
Ｍは角度４５度でステップ回転する切込み６３と周壁５
８とに囲まれてインデックス・テーブル５１上を摺動さ
れポジションＢに到るが、ここにおいて一時的に停止す
る間に、上方から検査機構７１の検測棒８３が下降され
てくる。すなわち、図９を参照し、当初、検測棒８３は
図９の実線で示す位置にあるが、エヤシリンダ７４がそ
の可動部７６と、これに一体的なステージ７７を下降さ
せる。図９において検測棒８３の先端がギヤＭの開孔Ｋ
内へ挿入され天板５２に当接する一点鎖線の位置までは
検測棒８３はステージ７７との相対位置を変えることな
くそのまま下降されるが、図１０を参照して、ステージ
７７が一点鎖線の位置からエヤシリンダ７４のストロー
ク一杯の実線位置まで下降された時、検測棒８３は天板
５２に当接しているので下降し得ず、鍔８４がコイルば
ね８５を圧縮して上昇し、ステージ７７との相対位置を
変える。そして、検測棒８３上の検知プレート８２がス
テージ７７と一体的なセンサ固定柱９３に固定されてい
る光センサ９２の検知領域内に入り、光センサ９２がこ
れを検知するので、その検知信号が入力されるコントロ
ーラはインデックス・テーブル５１上のポジションＢに
ギヤＭが存在することを認識し、ポジションＣにおける
可動天板５２Ｍの引き抜きを指令しない。次いでエヤシ
リンダ７４はステージ７７を引き上げ、図９の位置へ復
帰させる。

【００３４】次いでギヤＭは個送回転板６１の切込み６
３に囲われたままインデックス・テーブル５１上をポジ
ションＣへステップ移送されるが、可動天板５２Ｍは引
き抜かれることなくステップ移送され、ポジションＤを
経てポジションＥに至る。ポジションＥにおいては、図
８を参照し、天板５２を切り欠いて設けられている排出
シュート６９へ落ち込み、一点鎖線のように滑落して、
直下のベルトコンベヤ４の上行する無端ベルト１０３上
へ落下する。

【００３５】一方、開孔不良ギヤＭ’がポジションＢへ
移送されて来た場合には、図１１を参照して、エヤシリ
ンダ７４がステージ７７を図９の位置から下降させて、
検測棒８３が開孔不良ギヤＭ’の不良開孔Ｋ’に当接す
る実線位置までは、検測棒８３のステージ７７との相対
的な位置関係は当初のままであるが、ステージ７７がこ
の位置より下降されると、不良開孔Ｋ’に当接している
検測棒８３は下降し得ず、コイルばね８５を圧縮してス
テージ７７に対し相対的な位置を上昇させる。そして、
ステージ７７が一点鎖線の位置まで下降された時点で、
先ず光センサ９２が検測棒８３の検知プレート８２を検
知する。

【００３６】更に下降が継続されると、検知プレート８
２は光センサ９２の検知領域を外れるが、図１２を参照
して、ステージ７７がエヤシリンダ７４のストローク一
杯まで下降された時点では、光センサ９１が検測棒８３
の検知プレート８１を検知する。すなわち、光センサ９
２と光センサ９１とから検知信号が入力される図示しな
いコントローラは検測棒８３の直下のポジションＢには
開孔不良ギヤＭ’が存在することを認識し、開口不良ギ
ヤＭ’が次のポジションＣに移送された時に可動天板５
２Ｍを引き抜くことを指令する。また、エヤシリンダ７
４はステージ７７を引き上げ、図９の位置へ復帰させ
る。

【００３７】次いで開孔不良ギヤＭ’は個送回転板６１
の切込み６３内に囲われてインデックス・テーブル５１
上をステップ移送されポジションＣに至るが、図７、図
１３を参照し、この時、コントローラの指令によって可
動天板５２Ｍがエヤシリンダ９５によって一点鎖線の位
置まで引き抜かれる。可動天板５２Ｍ上の開孔不良ギヤ
Ｍ’は周壁５８に阻止され可動天板５２Ｍと共に移動し
得ずに下方へ陥落し、排出路９８を経て収容箱９９内へ
落下する。

【００３８】以上のようにして、検査選別機構３におい
て、ギヤＭはインデックス・テーブル５１上のポジショ
ンＥから排出路６９を経て下流のベルトコンベヤ４へ移
行され、開孔不良ギヤＭ’はポジションＣから陥落して
収容箱９９へ収容される。

【００３９】ベルトコンベヤ４へ落下するギヤＭは、図
５、図６を参照して、滑り止め１０４に後方を支持され
上行する無端ベルト１０３によって上り傾斜を搬送され
て、その下流端から次工程への搬送機構５におけるパレ
ットコンテナ１０７Ａへ投入される。そして、パレット
コンテナ１０７Ａが満杯になるとパレットコンテナ１０
７Ａ、１０７Ｂを載置しているアクチュエータ１０８が
作動し、パレットコンテナ１０７Ａと１０７Ｂとを水平
面内で矢印ｆのように角度１８０度回転させ、パレット
コンテナ１０７Ａと１０７Ｂとは位置を交換する。そし
て、パレットコンテナ１０７Ｂがあった位置へきたパレ
ットコンテナ１０７Ａは人手によってローラコンベヤ１
０９上を矢印ｇの方向へ送られ、空いた箇所に次ぎのパ
レットコンテナが載置される。

【００４０】（第２実施例）第２実施例の部品選別装置
２００は直方体の一面に大きい半球状隆起部Ｑを備えた
部品Ｐ_Q と、小さい半球状隆起部ｑを備えた部品Ｐ_q と
を選別する装置であり、図１４はその平面図、図１５は
図１４における［１５］−［１５］線方向の断面図（破
断しない部分を含む）である。

【００４１】図１４、図１５を参照して、部品Ｐ_Q 、Ｐ
_q の移送路１１１の下流端部の直上方に検査機構１７１
が設けられており、移送路１１１の下流端には検査結果
に従って部品Ｐ_Q と部品Ｐ_q とに振り分ける分配機２０
１が設けられている。

【００４２】検査機構１７１は図１４、および図１４に
おける［１６］−［１６］線方向の断面を示す図１６
（部分破断個所を含む）を参照して、図示しない支持柱
に支持された支持板１７２、１７３にエヤシリンダ１７
４が固定されており、そのロッド１７５によって可動部
１７６がレール１７４ａに沿い昇降され、可動部１７６
の下面にはステージ１７７が一体的に取り付けられてい
る。そして、ステージ１７７には検測棒１８３が上下動
可能に取り付けられ、ステージ１７７にボルト１９４で
固定したセンサ固定柱１９３に光センサ１９１、１９２
が固定されていることは第１実施例における検査機構７
１と同様である。

【００４３】すなわち、ステージ１７７の上面には円筒
状のスリーブ１８８がボルト１８９で取り付けられ、ス
リーブ１８８からステージ１７７を上下に挿通して検測
棒１８３が設けられている。スリーブ１８８の上面の開
孔にはブッシュ１８６、ステージ１７７の開孔にはブッ
シュ１８７が嵌め込まれ、検測棒１８３の下半部に設け
た鍔１８４が下方のブッシュ１８７に当接して支持さ
れ、上方のブッシュ１８６と鍔１８４との間には検測棒
１８３を囲むコイルばね１８５が装着されて、検測棒１
８３を下方へ付勢している。また、検測棒１８３の上半
部には光反射性の良好な検知プレート１８１、１８２が
後述の光センサ１９１、１９２と所定の位置関係におい
て位置決めナット１８１ａ、１８２ａと共にねじ止めさ
れている。そして検測棒１８３がエヤシリンダ１７４に
よって下降された時に、その先端部が部品Ｐ_Q の半球状
隆起部Ｑ、または部品Ｐ_q の半球状隆起部ｑに当接する
ようになっている。

【００４４】検測棒１８３の直下となる移送路１１１に
は部品Ｐ_Q または部品Ｐ_q を位置決めするために、スト
ッパピン１１９と位置決めロッド１２６とが設けられて
いる。ストッパピン１１９は移送路１１１の底板１１２
の下面にボルト１１８で取り付けたエヤシリンダ１１７
によって一点鎖線位置から底板１１２の開口を経て上方
の実線位置まで突き出され、移送路１１１を移送されて
くる部品Ｐ_Q またはＰ_q を検査時に一時的に停止させ
る。移送路１１１の幅方向の位置決めは支持板１２４上
のエヤシリンダ１２５によって移送路１１１と直交する
方向に往復される位置決めロッド１２６が移送路１１１
の側壁１１５に設けた切欠き１１６から移送路１１１内
へ挿入され、部品Ｐ_Q または部品Ｐ_q を移送路１１１の
もう一方の側壁１１３へ押し付けることによって行われ
る。

【００４５】移送路１１１の下流端に接続されている分
配機２０１は図１４、図１５を参照して、支持柱２０９
によって下流側へ向かい下向き傾斜に支持され、下流側
へ向かって拡大されている底板２０２の両側壁２０６、
２０８の間において、底板２０２の下面に取り付けたア
クチュエータ２０３によって底板２０２上で分配板２０
４が回転中心Ｏの回りに矢印ｈのように回動されるよう
になっている。すなわち、図１４では小さい半球状隆起
部ｑを有する部品Ｐ_q 用の通路が側壁２０６と分配板２
０４とによって形成されており、上流の検査機構１７１
で大きい半球状隆起部Ｑを有する部品Ｐ_Q が検知される
と分配板２０４は回転中心Ｏの回りに矢印ｈのように回
動され、側壁２０８と分配板２０４とが平行になって部
品Ｐ_Q の通路が形成されるようになっている。なお検査
のためのストッパピン１１９、位置決めロッド１２６、
ステージ１７７の作動、検査結果による分配板２０４の
回動は全て図示しないコントローラによって制御されて
いる。

【００４６】第２実施例の部品選別装置２００は以上の
ように構成されるが、次にその作用を説明する。

【００４７】選別されるべき部品Ｐ_Q 、Ｐ_q は移送路１
１１を図１４において右方から左方へ移送されてくる
が、図１５も参照し、移送路１１１の下流端部において
ストッパピン１１９が一点鎖線の位置から実線位置まで
突き出されることによって、例えば部品Ｐ_q が停止さ
れ、次いで図１６を参照して、移送路１１１の側壁１１
５の切欠き１１６からエヤシリンダ１２５によって位置
決めロッド１２６が押し出されて、図１６に続く動作を
示す図１７に見られるように、部品Ｐ_q を移送路１１１
の側壁１１３に押し付けて位置決めする。続いてエヤシ
リンダ１７４によってステージ１７７が下降され、ステ
ージ１７７に取り付けられている検測棒１８３も下降さ
れるが、図１７の一点鎖線の位置で検測棒１８３の先端
は部品Ｐ_q の半球状隆起部ｑに当接し、更にステージ１
７７がエヤシリンダ１７４のストローク一杯まで下降さ
れて図１７の実線位置に至る迄の間は、検測棒１８３は
鍔１８４によりコイルばね１８５を圧縮してステージ１
７７との相対的な位置を上昇させる。この時、ステージ
１７７と一体的に固定されている光センサ１９２が検測
棒１８３の検知プレート１８２を検知するが、その検知
信号が入力される図示しないコントローラは検測棒１８
３が当接しているものは部品Ｐ_q であることを認識す
る。

【００４８】この後、コントローラのプログラムに従っ
てエヤシリンダ１７４はステージ１７７を上方へ引き上
げ、エヤシリンダ１２５は位置決めロッド１２６を元の
位置へ引き戻し、エヤシリンダ１１７はストッパピン１
１９を引き下げるので、部品Ｐ_q の移送が再開され、か
つ、図１４のように分配板２０４が側壁２０６と平行で
ある場合にはそのままとし、そうでない場合にはアクチ
ュエータ２０３が分配板２０４を回動させて部品Ｐ_q の
通路を形成するので、部品Ｐ_q は一点鎖線で示すように
分配されて滑落する。

【００４９】一方、部品Ｐ_Q の場合は図１７に対応する
図１８を参照して、エヤシリンダ１７４によってステー
ジ１７７が一点鎖線の位置まで下降された時点で検測棒
１８３の先端が部品Ｐ_Q の半球状隆起部Ｑと当接し（こ
の位置は当然のことながら部品Ｐ_q の場合の当接位置よ
り高い）、その後、ステージ１７７がエヤシリンダ１７
４のストローク一杯まで下降されて図１８の実線位置に
至る迄の間は検測棒１８３は鍔１８４によってコイルば
ね１８５を圧縮してステージ１７７との相対的な位置を
上昇させる。そして、図１８の実線位置において光セン
サ１９２が検測棒１８３の検知プレート１８２を検知す
ると共に、光センサ１９１が検知プレート１８１を検知
する。光センサ１９１と光センサ１９２とから検知信号
の入力されるコントローラは、検測棒１８３が当接して
いるのは部品Ｐ_Q であることを認識する。

【００５０】この後、コントローラのプログラムに従っ
て、エヤシリンダ１７４はステージ１７７を上方へ引き
上げ、エヤシリンダ１２５は位置決めロッド１２６を元
の位置へ引き戻し、エヤシリンダ１１７はストッパピン
１１９を引き下げ、かつコントローラは分配機２０１の
アクチュエータ２０３を駆動して分配板２０４を側壁２
０８と平行な位置に回動させるので、部品Ｐ_Q は移送が
再開され、部品Ｐ_q とは異なる箇所へ分配される。

【００５１】以上、本発明の実施例について説明した
が、勿論、本発明はこれらに限られることなく、本発明
の技術的思想に基づいて種々の変形が可能である。

【００５２】例えば、各実施例において検測棒は上下方
向に移動させたが水平方向へ移動させるような検査機構
としてもよい。

【００５３】また、各実施例においては検測棒を下降さ
せて部品の形状的な差異を検査したが検測棒を上昇させ
て部品の形状的な差異を検査するようにしてもよい。

【００５４】また、第１実施例においては、可動天板５
２Ｍを検査機構７１の設けられているポジションＢの下
流側のポジションＣに設けたが、可動天板５２Ｍをポジ
ションＢに設けても何等差し支えない。

【００５５】また、各実施例においてはギヤＭと開孔不
良ギヤＭ’、または部品Ｐ_Q と部品Ｐ_q の如く、２レベ
ルの選別を行ったが、検測棒に取り付ける検知プレート
とこれを検知する光センサとの対を３対とすることによ
って、部品の形状的差異による３レベルの選別を行い得
る。

【００５６】また、各実施例において、例えば第１実施
例において、検知プレート８１、８２はコイルばね８５
の上方となる検測棒８３の上半部に取り付けたが、検知
プレート８１、８２の取り付け場所は検測棒８３上であ
ればよく必ずしも上半部でなくともよい。また、各実施
例、例えば第１実施例において、コイルばね８５のケー
スとなる円筒状スリーブ８８をステージ７７に直接に取
り付けたが、例えばセンサ固定柱９３の上端部にステー
ジ７７と平行な部材を取り付けて、これにスリーブ８８
を固定することにより、コイルばね８５を検測棒８３の
上端部に位置させることもできる。

【００５７】また、各実施例において、例えば第１実施
例において、検測棒８３のステージ７７に対する相対的
な移動を、検測棒８３上の検知プレート８１、８２と、
ステージ７７に一体的なセンサ固定柱９３上の光センサ
９１、９２との対によって検知したが、検測棒８３のス
テージ７７からの相対的な変位はこれ以外の変位を検知
する手段によって可能である。例えば、光センサに代え
て磁気センサを用いてもよく、リミット・スイッチとす
ることもできる。ないしは、検測棒８３を移動コアとす
る差動トランスや検測棒８３を摺動抵抗体とするポテン
シオセンサとして検測棒の変位の大きさを検知してもよ
い。

【００５８】また、第１実施例においては、設置スペー
スの長さを抑えるべく、インデックス・テーブル５１を
設けてギヤＭを円周状にステップ移送させたが、ベルト
コンベヤをステッピング・モータで駆動してギヤＭを直
線状にステップ移送するようにしてもよい。

【００５９】

【発明の効果】以上述べたように、本発明の部品選別装
置によれば、ステージに取り付けられて共に移動し、部
品の形状的差異によって異なる地点で停止される検査ロ
ッドのステージからの変位の大きさを検知して部品を選
別するので、外形的に差を有する部品は勿論のこと、外
形的に差はなくとも内部形状に差異のある部品も選別し
得る。

【００６０】また、ばねで付勢した検査ロッドを部品に
当接させるので、当接時の衝撃がやわらげられ部品に損
傷を与えない。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１実施例の選別対象部品であるギヤの斜視図
である。

【図２】同ギヤの平面図である。

【図３】図２における［３］−［３］線方向の断面図で
ある。

【図４】図２における［４］−［４］線方向の断面図で
ある。

【図５】第１実施例のギヤ選別装置全体の平面図であ
る。

【図６】同装置の部分破断側面図である。

【図７】同装置のインデックス・テーブル近傍の平面図
である。

【図８】図７における［８］−［８］線方向の断面図で
ある。

【図９】図７における［９］−［９］線方向の断面図で
ある。

【図１０】図９に対応する断面図であり、図９と共にギ
ヤに対する検測棒の作用を示す。

【図１１】図９に対応する断面図であり、図１２と共に
開孔不良ギヤに対する検測棒の作用を示す。

【図１２】図１１と同様な断面図であり、図１１と共に
開孔不良ギヤに対する検測棒の作用を示す。

【図１３】図７における［１３］−［１３］線方向の部
分破断側面図である。

【図１４】第２実施例の部品選別装置の平面図である。

【図１５】図１４における［１５］−［１５］線方向の
断面図である。

【図１６】図１４における［１６］−［１６］線方向の
断面図である。

【図１７】図１６に対応する部分破断側面図であり、図
１６と共に小形状部品に対する検測棒の作用を示す。

【図１８】図１６に対応する部分破断側面図であり、大
形状部品に対する検測棒の作用を示す。

【符号の説明】

１捩り振動パーツフィーダ２直線振動パーツフィーダ３検査選別機構４ベルトコンベヤ５搬送機構１１ボウル２１駆動部３１振動トラフ４１駆動部５１インデックス・テーブル５２天板５２Ｍ可動天板５４ステッピング・モータ６１個送回転板６３切り込み６９排出シュート７４エヤシリンダ７７ステージ８１検知プレート８２検知プレート８３検測棒８４鍔８５コイルばね８８スリーブ９１光センサ９２光センサ９５エヤシリンダ９８排出路１０３無端ベルト１０４滑り止めＭギヤＭ’ 開孔不良ギヤＨ開孔Ｈ’ 不良開孔

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】２点間を往復するステージに取り付けら
れ、前記ステージの往復方向に伸縮するバネによって付
勢されている検査ロッドと、前記ステージが前記バネの
付勢方向へ所定位置まで移動される間に、前記検査ロッ
ドが選別されるべき部品の形状的差異によって異なる地
点で停止され、前記バネの付勢力に抗して前記所定位置
となる前記ステージとの相対位置を変化させる時の変位
の大きさの検知機構とを具備し、前記変位の大きさの違
いによって前記部品を形状的に選別することを特徴とす
る部品選別装置。
【請求項２】前記検知機構が前記検査ロッド上に取り
付けられた検知点と前記ステージに一体的に固定されて
前記検知点を検知するためのセンサとの対からなり、該
対が前記部品の形状的差異による選別レベルの数と同数
設けられている請求項１に記載の部品選別装置。
【請求項３】前記検査ロッドと前記検知機構とが前記
部品を個送する振動パーツフィーダの移送路における、
前記部品の移送が一時的に停止され前記移送路の幅方向
に位置決めされる箇所に設けられている請求項１または
請求項２に記載の部品選別装置。
【請求項４】前記検査ロッドと前記検知機構とが前記
部品を個送するステップ移送機構の停止ポジションに設
けられている請求項１または請求項２に記載の部品選別
装置。
【請求項５】選別によって排除されるべき前記部品が
前記停止ポジションまたはそれより下流側の停止ポジシ
ョンにある時に、その底面部分が一時的に撤去されて、
前記排除されるべき部分が陥落し排除される請求項４に
記載の部品選別装置。
【請求項６】前記ステップ移送機構が、前記部分を個
送する振動パーツフィーダの下流側に接続されており、
前記部分を円周状にステップ移送する請求項４に記載の
部品選別装置。