JPH0252551B2 - - Google Patents
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- JPH0252551B2 JPH0252551B2 JP17016684A JP17016684A JPH0252551B2 JP H0252551 B2 JPH0252551 B2 JP H0252551B2 JP 17016684 A JP17016684 A JP 17016684A JP 17016684 A JP17016684 A JP 17016684A JP H0252551 B2 JPH0252551 B2 JP H0252551B2
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- Japan
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- chute
- linear feeder
- feeder
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 21
- 238000003909 pattern recognition Methods 0.000 claims description 10
- 230000008713 feedback mechanism Effects 0.000 claims description 7
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 210000003739 neck Anatomy 0.000 description 2
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
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- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
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- Sorting Of Articles (AREA)
- Feeding Of Articles To Conveyors (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Chutes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は小ねじなどの小部品を検査する装置に
関する。
関する。
小ねじなどの小部品を検査して不良品を自動的
選別する装置は従来からある。例えば特願昭56−
77700号あるいは特願昭56−106521号にみられる
先行技術では、複数の回転ローラで被検査品を搬
送しつつ、不良品の検査と選別を行なうようにし
ている。この先行技術に代表されるように、従来
の検査装置は複数組のローラを使用するため装置
が大形化する。しかし従来の検査装置では、被検
査部品の搬送路に沿つて複数の光センサが配置さ
れており、これら光センサは互いに異なる検査項
目を分担していて、被検査部品を検査項目ごとに
複数段階に分けて検査するようにしている。この
ため各センサの同期をとることが難しく、信頼性
にやや問題がある。また振動式のフイーダーで搬
送しつつ光センサで検査するため、特に小さなね
じなどのような被検査部品では振動の影響が大き
く、検査不可能なこともある。
選別する装置は従来からある。例えば特願昭56−
77700号あるいは特願昭56−106521号にみられる
先行技術では、複数の回転ローラで被検査品を搬
送しつつ、不良品の検査と選別を行なうようにし
ている。この先行技術に代表されるように、従来
の検査装置は複数組のローラを使用するため装置
が大形化する。しかし従来の検査装置では、被検
査部品の搬送路に沿つて複数の光センサが配置さ
れており、これら光センサは互いに異なる検査項
目を分担していて、被検査部品を検査項目ごとに
複数段階に分けて検査するようにしている。この
ため各センサの同期をとることが難しく、信頼性
にやや問題がある。また振動式のフイーダーで搬
送しつつ光センサで検査するため、特に小さなね
じなどのような被検査部品では振動の影響が大き
く、検査不可能なこともある。
本発明は以上のような事情にもとづいてなされ
たものでその目的とするところは、小さな被検査
部品も確実に検査でき、しかも従来のローラ使用
のものに比較して小形に構成できるような小部品
の検査装置を提供することにある。
たものでその目的とするところは、小さな被検査
部品も確実に検査でき、しかも従来のローラ使用
のものに比較して小形に構成できるような小部品
の検査装置を提供することにある。
本発明の要旨とするところは、被検査部品を整
列させて搬送する整列搬送装置と、この整列搬送
装置の搬送終端に連続して設けられかつ被検査部
品を滑らせつつ落下させる測定部シユートと、上
記測定部シユートを落下する被検査部品が測定部
シユートの所定の位置を通過したことを検知する
センサと、上記センサが被検査部品の通過を検知
したときに発する信号にもとづいて発光し被検査
部品に向けて光を照射する発光器と、上記発光器
と対をなして被検査部品を撮像するカメラと、上
記カメラによつて撮像された被検査部品の像を検
査するパターン認識装置と、を具備したことにあ
る。
列させて搬送する整列搬送装置と、この整列搬送
装置の搬送終端に連続して設けられかつ被検査部
品を滑らせつつ落下させる測定部シユートと、上
記測定部シユートを落下する被検査部品が測定部
シユートの所定の位置を通過したことを検知する
センサと、上記センサが被検査部品の通過を検知
したときに発する信号にもとづいて発光し被検査
部品に向けて光を照射する発光器と、上記発光器
と対をなして被検査部品を撮像するカメラと、上
記カメラによつて撮像された被検査部品の像を検
査するパターン認識装置と、を具備したことにあ
る。
上記構成の検査装置によれば、被検査部品を分
離させた状態で測定部シユート上を移動させつ
つ、発光器とカメラそしてパターン認識装置の組
合わせにより各検査項目を検査することができる
から、タイミングずれの問題も生じない。しかも
検査は振動による影響を排除できるので、特の小
さなねじなどの検査も可能となる。そして従来の
ような複数組のローラを用いるものに比較して小
形に構成することができる。
離させた状態で測定部シユート上を移動させつ
つ、発光器とカメラそしてパターン認識装置の組
合わせにより各検査項目を検査することができる
から、タイミングずれの問題も生じない。しかも
検査は振動による影響を排除できるので、特の小
さなねじなどの検査も可能となる。そして従来の
ような複数組のローラを用いるものに比較して小
形に構成することができる。
以下に本発明の一実施例につき図面を参照して
説明する。第1図において図中1は基台であつ
て、この基台1の上に振動式のパーツフイーダー
2が設けられている。このパーツフイーダー2
は、周知のものと同様の構造をなしていてよい。
上記パーツフイーダー2には被検査部品3…が収
容される。被検査部品3…は例えばM1.4〜M2.3
程度の小ねじである。またパーツフイーダー2の
上部に搬出口4が設けられていて、被検査部品3
…を順次送り出すようになつている。
説明する。第1図において図中1は基台であつ
て、この基台1の上に振動式のパーツフイーダー
2が設けられている。このパーツフイーダー2
は、周知のものと同様の構造をなしていてよい。
上記パーツフイーダー2には被検査部品3…が収
容される。被検査部品3…は例えばM1.4〜M2.3
程度の小ねじである。またパーツフイーダー2の
上部に搬出口4が設けられていて、被検査部品3
…を順次送り出すようになつている。
また、上記搬出口4に連続して、整列搬送装置
5が設けられている。この整列搬送装置5は、本
実施例においては、溝付きシユート6と、後述す
るフイードバツク機構9の第1の直進フイーダー
13および第2の直進フイーダー16などからな
る。
5が設けられている。この整列搬送装置5は、本
実施例においては、溝付きシユート6と、後述す
るフイードバツク機構9の第1の直進フイーダー
13および第2の直進フイーダー16などからな
る。
上記溝付きシユート6は、長手方向に沿う断面
V状の搬送溝7を有し、第3図に示されるように
搬送溝7に沿つて上記被検査部品3…を長手方向
に整列させて、矢印F方向に送るようになつてい
る。
V状の搬送溝7を有し、第3図に示されるように
搬送溝7に沿つて上記被検査部品3…を長手方向
に整列させて、矢印F方向に送るようになつてい
る。
また、上記搬出口4の近傍にフイードバツク機
構9が設けられている。このフイードバツク機構
9は、上記溝付きシユート6の側壁の一部を欠如
させた切欠部10と、シユート部11からなる。
上記切欠部10は、第4図に示されるように搬送
溝7の両側を切り取り、被検査部品3が1本分通
れるような大きさと形状に形成されている。そし
て非整列状態(例えば頭部を下に向けて倒立した
状態など)で送られてきた被検査部品を上記切欠
部10から落下させるようになつている。
構9が設けられている。このフイードバツク機構
9は、上記溝付きシユート6の側壁の一部を欠如
させた切欠部10と、シユート部11からなる。
上記切欠部10は、第4図に示されるように搬送
溝7の両側を切り取り、被検査部品3が1本分通
れるような大きさと形状に形成されている。そし
て非整列状態(例えば頭部を下に向けて倒立した
状態など)で送られてきた被検査部品を上記切欠
部10から落下させるようになつている。
また上記シユート部11の基部は、パーツフイ
ーダー2に取付けられている。そしてシユート部
11の先端側は上記切欠部10の両脇と下面側を
囲むように配されている。すなわち、上記切欠部
10から落下した被検査部品をパーツフイーダー
2の振動を利用して、パーツフイーダー2に戻せ
るように配置されている。
ーダー2に取付けられている。そしてシユート部
11の先端側は上記切欠部10の両脇と下面側を
囲むように配されている。すなわち、上記切欠部
10から落下した被検査部品をパーツフイーダー
2の振動を利用して、パーツフイーダー2に戻せ
るように配置されている。
また上記溝付きシユート6に連続して第1の直
進フイーダー13が設けられている。この第1の
直進フイーダー13は、上記搬送溝7に連なる長
手方向の溝14を有している。そして図示しない
振動発生源によつて振動が与えられ、搬送溝7か
ら送られてくる被検査部品3…を受取り、溝14
に被検査部品3…の首下を垂下した状態で搬送す
るようになつている。
進フイーダー13が設けられている。この第1の
直進フイーダー13は、上記搬送溝7に連なる長
手方向の溝14を有している。そして図示しない
振動発生源によつて振動が与えられ、搬送溝7か
ら送られてくる被検査部品3…を受取り、溝14
に被検査部品3…の首下を垂下した状態で搬送す
るようになつている。
また、上記第1の直進フイーダー13の搬送終
端に連続して第2の直進フイーダー16が設けら
れている。この第2の直進フイーダー16も第1
の直進フイーダー13と同様の溝17を有し、図
示しない振動発生源によつて振動が与えられて被
検査部品3…を搬送するものであるが、その振幅
は第1の直進フイーダー13よりも小さくしてあ
る。
端に連続して第2の直進フイーダー16が設けら
れている。この第2の直進フイーダー16も第1
の直進フイーダー13と同様の溝17を有し、図
示しない振動発生源によつて振動が与えられて被
検査部品3…を搬送するものであるが、その振幅
は第1の直進フイーダー13よりも小さくしてあ
る。
従つて、第1の直進フイーダー13から第2の
直進フイーダー16に受け渡された被検査部品3
…は、その姿勢に変化はないが、第2の直進フイ
ーダー16の振幅が小さいため被検査部品3…の
上下動の姿勢が安定し、かつ密につまつた状態で
搬送されることになる。第1の直進フイーダー1
3の移送速度V1は、単位時間当りの移送量を高
めるために比較的速くしてあるため、被検査部品
3…の上下動は激しい。しかし第2の直進フイー
ダー16は振幅が小さいため、揺れがおさまると
同時に、その移送速度V2はV1より小さいから、
第2の直進フイーダー16では第5図に例示した
ように被検査部品3…がつまつた状態になるもの
である。
直進フイーダー16に受け渡された被検査部品3
…は、その姿勢に変化はないが、第2の直進フイ
ーダー16の振幅が小さいため被検査部品3…の
上下動の姿勢が安定し、かつ密につまつた状態で
搬送されることになる。第1の直進フイーダー1
3の移送速度V1は、単位時間当りの移送量を高
めるために比較的速くしてあるため、被検査部品
3…の上下動は激しい。しかし第2の直進フイー
ダー16は振幅が小さいため、揺れがおさまると
同時に、その移送速度V2はV1より小さいから、
第2の直進フイーダー16では第5図に例示した
ように被検査部品3…がつまつた状態になるもの
である。
なお、これら第1の直進フイーダー13と第2
の直進フイーダー16は、それぞれ搬送下流側が
多少下向きとなるように傾けて配している。
の直進フイーダー16は、それぞれ搬送下流側が
多少下向きとなるように傾けて配している。
そして第2の直進フイーダー16の搬送終端、
すなわち整列搬送装置5の搬送終端に連続して、
測定部シユート20が設けられている。この測定
部シユート20は透明材料からなり、その中央部
に長手方向に沿う溝21が設けられている。また
溝21の上部には、摩耗防止と搬送方向の滑り摩
擦の低減化を図るために、左右一対のリボン鋼2
2,22が上方に多少突出するようにして取着さ
れている。そしてこのリボン鋼22,22の上
を、被検査部品3…が滑りつつ落下するようにな
つている。かつこの測定部シユート20の傾斜角
度θ2(第5図参照)は、第2の直進フイーダー1
6の傾斜角度θ1よりもも大きくしてある。従つて
この測定部シユート20における移送速度V3は、
第2の直進フイーダー16による移送速度V2よ
りも大きくなる。このため測定部シユート20を
移動するときには、被検査部品3…の相互間に隙
間ができ、被検査部品3…は1本ずつ確実に分離
される。
すなわち整列搬送装置5の搬送終端に連続して、
測定部シユート20が設けられている。この測定
部シユート20は透明材料からなり、その中央部
に長手方向に沿う溝21が設けられている。また
溝21の上部には、摩耗防止と搬送方向の滑り摩
擦の低減化を図るために、左右一対のリボン鋼2
2,22が上方に多少突出するようにして取着さ
れている。そしてこのリボン鋼22,22の上
を、被検査部品3…が滑りつつ落下するようにな
つている。かつこの測定部シユート20の傾斜角
度θ2(第5図参照)は、第2の直進フイーダー1
6の傾斜角度θ1よりもも大きくしてある。従つて
この測定部シユート20における移送速度V3は、
第2の直進フイーダー16による移送速度V2よ
りも大きくなる。このため測定部シユート20を
移動するときには、被検査部品3…の相互間に隙
間ができ、被検査部品3…は1本ずつ確実に分離
される。
また、被検査部品3…が上記測定部シユート2
0の所定の位置を通過したことを検知するセンサ
24が設けられている。このセンサ24は、一例
として発光部24aと、この発光部24aから発
せられた光線を受けるとともに被検査部品3の通
過を検知したときにタイミング信号を発生する信
号発信部24bとからなる。
0の所定の位置を通過したことを検知するセンサ
24が設けられている。このセンサ24は、一例
として発光部24aと、この発光部24aから発
せられた光線を受けるとともに被検査部品3の通
過を検知したときにタイミング信号を発生する信
号発信部24bとからなる。
また上記信号にもとづいて発光する発光器2
6、すなわちストロボが設けられている。この発
光器26は、測定部シユート20を移動する被検
査部品3′に向けて光を照射する。
6、すなわちストロボが設けられている。この発
光器26は、測定部シユート20を移動する被検
査部品3′に向けて光を照射する。
また上記発光器26を対向する位置に、カメラ
28が設置されている。このカメラ28は、発光
器26の光を受けて被検査部品3′の形状を撮像
するものであり、その映像はパターン認識装置3
0に送られて記憶される。
28が設置されている。このカメラ28は、発光
器26の光を受けて被検査部品3′の形状を撮像
するものであり、その映像はパターン認識装置3
0に送られて記憶される。
このパターン認識装置30においては、被検査
部品3の頭径や頭部高さ、頭部形状、首下長さ、
ねじ山の有無および形状など所望の検査項目に対
応して画像が処理され、良品か不良品かが判断さ
れる。
部品3の頭径や頭部高さ、頭部形状、首下長さ、
ねじ山の有無および形状など所望の検査項目に対
応して画像が処理され、良品か不良品かが判断さ
れる。
更に、上記測定部シユート20の搬送下流側に
選別機構32が設けられている。この選別機構3
2は、パルスモータ33と、このパルスモータ3
3によつて回転駆動される振り分け板34などか
らなる。上記パルスモータ33はパターン認識装
置30から発生される信号によつて作動する。す
なわち、パターン認識装置30によつて良品と判
断されたときには、被検査部品3…は良品シユー
ト36に落下させられるが、不良品と判断された
時には振り分け板34が所定角度回転して、被検
査部品3…が不良品シユート37に落下させられ
るようになつている。
選別機構32が設けられている。この選別機構3
2は、パルスモータ33と、このパルスモータ3
3によつて回転駆動される振り分け板34などか
らなる。上記パルスモータ33はパターン認識装
置30から発生される信号によつて作動する。す
なわち、パターン認識装置30によつて良品と判
断されたときには、被検査部品3…は良品シユー
ト36に落下させられるが、不良品と判断された
時には振り分け板34が所定角度回転して、被検
査部品3…が不良品シユート37に落下させられ
るようになつている。
次に、記記構成の一実施例装置の作用につき説
明する。
明する。
被検査部品3…をパーツフイーダー2に投入す
ると、被検査部品3…は振動によつて順次搬出口
4から溝付きシユート6に送り込まれる。そして
搬送溝7に沿つて移送される。この移送途中にお
いて、非整列状態になつている被検査部品3はフ
イードバツク機構9のシユート部11に落下し、
パーツフイダー2の振動を利用してパーツフイダ
ー2の内部に自動的に戻される。このため、従来
装置では必要としていたエアコンプレツサ使用の
吹き飛ばし装置や再投入機などの余計な設備が不
要となり、装置を簡略化できる。
ると、被検査部品3…は振動によつて順次搬出口
4から溝付きシユート6に送り込まれる。そして
搬送溝7に沿つて移送される。この移送途中にお
いて、非整列状態になつている被検査部品3はフ
イードバツク機構9のシユート部11に落下し、
パーツフイダー2の振動を利用してパーツフイダ
ー2の内部に自動的に戻される。このため、従来
装置では必要としていたエアコンプレツサ使用の
吹き飛ばし装置や再投入機などの余計な設備が不
要となり、装置を簡略化できる。
そして第1の直進フイーダー13から第2の直
進フイーダー16に受け渡された被検査部品3…
は、前に述べたように密につまつた状態で測定部
シユート20まで導かれ、ここでは1本ずつ確実
に分離されて落下する。このように被検査部品3
…を1本1本分離させることにより、検査を正確
に行なうことが可能になる。
進フイーダー16に受け渡された被検査部品3…
は、前に述べたように密につまつた状態で測定部
シユート20まで導かれ、ここでは1本ずつ確実
に分離されて落下する。このように被検査部品3
…を1本1本分離させることにより、検査を正確
に行なうことが可能になる。
そしてセンサ24が被検査部品3の通過を検知
すると、発光器26が光り、被検査部品3はカメ
ラ28によつて撮像される。かくして被検査部品
3は、パターン認識装置30により各検査項目に
応じて画像処理され、検査結果に応じて選別機構
32が働き、良品は良品シユート36に、また不
良品は不良品シユート37に落とされる。
すると、発光器26が光り、被検査部品3はカメ
ラ28によつて撮像される。かくして被検査部品
3は、パターン認識装置30により各検査項目に
応じて画像処理され、検査結果に応じて選別機構
32が働き、良品は良品シユート36に、また不
良品は不良品シユート37に落とされる。
このように本実施例では、カメラ28で写され
た画像を、パターン認識を応用して画像処理する
ため、従来装置のように複数箇所に光センサを配
置して検査項目ごとに別の位置で検査を行なう場
合に問題となるタイミング不良の心配がなく、全
数を確実に検査できる。また、使用者側が検査項
目を自由に設定することが可能である。しかも、
検査は振動の影響を受けることがないので、被検
査部品3…を1本ずつ分離させて検査できること
とあいまつて、検査を正確に行なうことができ、
従来では検査不可能とされていた微細な小ねじの
検査と選別も可能である。
た画像を、パターン認識を応用して画像処理する
ため、従来装置のように複数箇所に光センサを配
置して検査項目ごとに別の位置で検査を行なう場
合に問題となるタイミング不良の心配がなく、全
数を確実に検査できる。また、使用者側が検査項
目を自由に設定することが可能である。しかも、
検査は振動の影響を受けることがないので、被検
査部品3…を1本ずつ分離させて検査できること
とあいまつて、検査を正確に行なうことができ、
従来では検査不可能とされていた微細な小ねじの
検査と選別も可能である。
なお本発明は、ねじ以外に例えば小物ばね、そ
の他の小部品の検査に用いることもできる。
の他の小部品の検査に用いることもできる。
前述したように本発明によれば、特に小ねじの
ような小部品を正確に検査することができ、また
比較的装置を小形に構成することができる。
ような小部品を正確に検査することができ、また
比較的装置を小形に構成することができる。
図面は本発明の一実施例を示し、第1図は検査
選択装置の斜視図、第2図はフイードバツク機構
部分の拡大斜視図、第3図は溝備きシユートの一
部の平面図、第4図は第2図中の−線に沿う
断面図、第5図は第2の直進フイーダーと測定部
シユートの関係を示す概略側面図、第6図は測定
部シユートの断面図である。 2……パーツフイーダー、3……被検査部品、
4……搬出口、5……整列搬送装置、6……溝付
きシユート、7……搬送溝、9……フイードバツ
ク機構、10……切欠部、11……シユート部、
13……第1の直進フイーダー、16……第2の
直進フイーダー、20……測定部シユート、24
……センサ、26……発光器、28……カメラ、
30……パターン認識装置、32……選別機構。
選択装置の斜視図、第2図はフイードバツク機構
部分の拡大斜視図、第3図は溝備きシユートの一
部の平面図、第4図は第2図中の−線に沿う
断面図、第5図は第2の直進フイーダーと測定部
シユートの関係を示す概略側面図、第6図は測定
部シユートの断面図である。 2……パーツフイーダー、3……被検査部品、
4……搬出口、5……整列搬送装置、6……溝付
きシユート、7……搬送溝、9……フイードバツ
ク機構、10……切欠部、11……シユート部、
13……第1の直進フイーダー、16……第2の
直進フイーダー、20……測定部シユート、24
……センサ、26……発光器、28……カメラ、
30……パターン認識装置、32……選別機構。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被検査部品を整列させて搬送する整列搬送装
置と、 この整列搬送装置の搬送終端に連続して設けら
れかつ被検査部品を滑らせつつ落下させる測定部
シユートと、 上記測定部シユートを落下する被検査部品が測
定部シユートの所定の位置を通過したことを検知
するセンサと、 上記センサが被検査部品の通過を検知したとき
に発する信号にもとづいて発光し被検査部品に向
けて光を照射する発光器と、 上記発光器と対をなして被検査部品を撮像する
カメラと、 上記カメラによつて撮像された被検査部品の像
を検査するパターン認識装置と、 を具備したことを特徴とする小部品の検査装置。 2 上記整列搬送装置は、断面V状の搬送溝を有
してこの搬送溝に沿つて上記被検査部品を長手方
向に整列させて送る溝付きシユートと、 上記溝付きシユートの側壁の一部を欠如させて
その位置で非整列状態の被検査部品を落下させる
切欠部およびこの切欠部から落下した被検査部品
をパーツフイーダーに戻すシユート部からなるフ
イードバツク機構と、 上記溝付きシユートの搬送終端に連続して設け
られた第1の直進フイーダーと、 上記第1の直進フイーダーの搬送終端に連続し
て設けられかつ第1の直進フイーダーよりも搬送
速度を遅くした第2の直進フイーダーと、 を備えて構成されることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の小部品の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17016684A JPS6150686A (ja) | 1984-08-15 | 1984-08-15 | 小部品の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17016684A JPS6150686A (ja) | 1984-08-15 | 1984-08-15 | 小部品の検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPS6150686A JPS6150686A (ja) | 1986-03-12 |
JPH0252551B2 true JPH0252551B2 (ja) | 1990-11-13 |
Family
ID=15899904
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17016684A Granted JPS6150686A (ja) | 1984-08-15 | 1984-08-15 | 小部品の検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6150686A (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH06255755A (ja) * | 1993-03-03 | 1994-09-13 | Ntn Corp | パーツフィーダ |
JP5173360B2 (ja) * | 2007-10-31 | 2013-04-03 | 日東精工株式会社 | 部品検査装置における搬送ユニット |
CN104690543B (zh) * | 2014-12-05 | 2016-05-04 | 国家电网公司 | 电表组装自动锁螺丝机送钉机构 |
-
1984
- 1984-08-15 JP JP17016684A patent/JPS6150686A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6150686A (ja) | 1986-03-12 |
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