JPH09289068A - Icソケット - Google Patents

Icソケット

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JPH09289068A
JPH09289068A JP8100370A JP10037096A JPH09289068A JP H09289068 A JPH09289068 A JP H09289068A JP 8100370 A JP8100370 A JP 8100370A JP 10037096 A JP10037096 A JP 10037096A JP H09289068 A JPH09289068 A JP H09289068A
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    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/02Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
    • H05K7/10Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
    • H05K7/1053Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads
    • H05K7/1061Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by abutting
    • H05K7/1069Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by abutting with spring contact pieces

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 耐熱試験等に際しICパッケージの半田ボー
ル端子が軟化した場合でも半田ボール端子の突出高さの
平坦性が保持されるように構成することも、常温で使用
する場合には半田ボールのワイピングが有効に行われ得
るように構成することもできるICソケットを提供す
る。 【解決手段】 ICソケットは、弓形のコンタクト3の
一端部を支持するソケット本体1と、コンタクト3の他
端部を案内する孔2aを有するフローティング部材2
と、フローティング部材2を押圧するカバー部材4を備
えている。上記案内孔2aの開口縁には、コンタクト3
の上記他端部の突出量と半田ボール端子に対する接触位
置を規制し得るストッパー2a′が設けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、CSP(チップサ
イズパッケージ)やBGA(ボールグリッドアレイ)タ
イプのパッケージに適するICソケット、特にバーンイ
ン用として好適に使用し得るICソケットに関する。
【0002】
【従来の技術】CSPやBGAタイプパッケージ用のソ
ケットとしては、従来より種々の構造のものが提案され
ている(例えば、特開平6−89764号公報、特開平
6−203926号公報等参照)。そして、一般にBG
Aタイプパッケージにおいて、パッケージ本体の下面に
突設されたバンプは、半球形か球形をなしていて半田材
等の低融点金属で構成されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従って、ICソケット
にBGAタイプパッケージを装填して耐熱試験(125
〜150℃)等を行うと、半田ボールが軟化し、コンタ
クトピンの接触圧によって半田ボールが変形して、半田
ボールの突出高さの平坦性(コプラナリテイー)が狂っ
てしまい、パッケージのプリント回路基板への実装時に
不具合を生じるという問題があった。又、この問題とは
別に、半田ボールとコンタクトとの電気的接続を出来る
限り小さい接触抵抗をもって確実に行わせるようにする
ため、半田ボールとコンタクトとの接触時に両者を相対
的に擦らせる所謂ワイピング動作が効果的に行われ得る
ように構成することが要求される。
【0004】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であり、その目的とするところは、半田ボールを有する
BGAタイプパッケージが耐熱試験に供された場合でも
半田ボールの突出高さの平坦性が保持されるように構成
することができ、また常温下での実装に用いられる場合
には半田ボールに対するワイピングが有効に行われ得る
ように構成することができるICソケットを提供しよう
とするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明によるICソケットは、列設された多数の可
撓性コンタクトの各一端部を可動的に支持するソケット
本体と、ソケット本体上に昇降可能に装架されていて上
記コンタクトの他端部を可動的に支持するフローティン
グ部材と、フローティング部材に被着可能でフローティ
ング部材をソケット本体に向けて押圧し得るカバー部材
とを備え、フローティング部材には、コンタクトの各他
端部のフローティング部材からの突出量を規制する多数
の案内手段と、ICパッケージを収容してその多数の端
子を対応するコンタクトの各他端部に夫々接触させるよ
うにし得る収容部とが設けられ、収容部にICパッケー
ジが装填されてカバー部材を被着押圧したとき、コンタ
クトの各一端部とプリント回路基板の電極との間及びコ
ンタクトの各他端部とICパッケージの端子との間に夫
々所定圧の接触が得られるようにしている。
【0006】又、本発明によれば、ICソケットは、列
設された多数の可撓性コンタクトの各一端部を下方へ突
出させて固定的に支持するソケット本体と、ソケット本
体上に昇降可能に装架されていてコンタクトの各他端部
を可動的に支持するフローティング部材と、フローティ
ング部材に被着可能でフローティング部材をソケット本
体に向けて押圧し得るカバー部材とを備え、フローティ
ング部材には、コンタクトの各他端部のフローティング
部材からの突出量を規制する案内部と、ICパッケージ
を収容してその多数のボール端子を対応するコンタクト
の各他端部に夫々接触させるようにし得る収容部とが設
けられ、収容部にICパッケージが装填されてカバー部
材を被着押圧したとき、コンタクトの各他端部とICパ
ッケージの各ボール端子との間に所定圧の摺動接触が得
られるようにしている。又、本発明によれば、上記コン
タクトの各他端部の先端は斜面に形成され、該斜面が各
ボール端子の下死点以外の面に摺動接触するようになっ
ている。
【0007】又、本発明によれば、上記収容部はフロー
ティング部材に明けられた開口として形成され、カバー
部材には、フローティング部材の頂面に接する第一面と
収容部に収容されたICパッケージの上面に接する第二
面とが形成されていて、カバー部材を被着したとき第一
面がフローティング部材の頂面に接するよりも早く第二
面が収容部に収容されたICパッケージの上面に接する
ようになっている。
【0008】又、本発明によれば、ICパッケージの端
子は半田ボールとして形成されていて、フローティング
部材の案内手段は、コンタクトの各他端部が半田ボール
の中心に向かうように配設されている。
【0009】又、本発明によれば、コンタクトの各他端
部先端が、その長さ方向に対して傾斜した面又はナイフ
エッジとなるように形成されている。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、図示した実施例に基づき本
発明の実施の態様を説明する。図1乃至図4は本発明の
第1実施例を示しており、図1(a)は開蓋状態にある
ICソケットの中央縦断面図、図2は図1に示したIC
ソケットの横断面図、図3(a)乃至(c)は図1に示
したICソケットの作用を説明するための要部拡大図、
図4(a)及び(b)はICパッケージの半田ボールと
コンタクトの接触状態を示す拡大図、図5はコンタクト
の端部先端の代表的形状例を示す拡大斜視図である。
【0011】図中、1は電気絶縁性の合成樹脂等で構成
されていて底壁に多数の孔1aを列設した平面形状が方
形のソケット本体、2はソケット本体1上に図示しない
係止機構により上昇位置が限定されて昇降可能に装架さ
れていてソケット本体の孔1aに対応して設けられた円
形又は方形の多数の案内孔2aとICパッケージPを収
容するための開口として形成された収容部2bを有する
電気絶縁性の合成樹脂等より成るフローティング部材、
3はベリリウム銅等の薄板をプレス加工することにより
弓形に形成されていて一端部がソケット本体の孔1aに
挿入されてソケット本体1に可動的に支持され他端部が
フローティング部材の案内孔2aに可動的に挿入された
多数のコンタクトである。コンタクト3の両端部は一線
上に揃うように弧状部に対し折り曲げられて直線状をな
しており、またフローティング部材の案内孔2aは上端
より下端に向って開口面積が若干大きくなるように形成
されていて、コンタクト3の他端部が摺接すべき案内孔
2aの開口縁部分2a′は曲面をなしている(図4)。
【0012】4は一端部がソケット本体1に枢着されて
いて、閉じられたときフローティング部材2の頂面に接
する第一面4aと収容部2bに収容されたICパッケー
ジPの上面に接する第二面4bとを有するカバー部材、
5はカバー部材4の他端部に枢着されていて閉蓋状態を
維持するためソケット本体1に形成されたフック部1b
に係合し得るフック5aを有するロックレバー、6はロ
ックレバー5に左旋習性を付与するスプリング、7はカ
バー部材4に開放習性を付与するスプリング、8はその
上にソケット本体1が固定されて各コンタクト2の一端
部先端が当接すべき多数の電極8aを有するプリント回
路基板である。
【0013】上記ICソケットにおいて、ソケット本体
1とフローティング部材2との組立てに当り、コンタク
ト3は僅かに弾性変形せしめられた状態で組み込まれて
いるから、カバー部材4を開放した無負荷の場合でも、
コンタクト3の復元力により、フローティング部材2は
上限位置に保持されている。又、多数の案内孔2aは、
収容部2bにICパッケージPが装填されたとき、各コ
ンタクト3の他端部を対応する半田ボールBの中心方向
へ向け得るような関係位置に配列されている。
【0014】第一実施例は上記のように構成されている
から、図1(a)の状態で、例えば、図3(a)に矢印
で示すように、半田ボール付BGAタイプICパッケー
ジPを収容部2bに装填すれば、各半田ボールBの下死
点は、対応するコンタクト3の他端部先端に軽く接触し
た状態で静止する(図3(b)参照)。かくして、カバ
ー部材4を閉じれば、先ず第二面4bがICパッケージ
Pの上面に当設するが、この時未だカバー部材4の第一
面4aはフローティング部材2の頂面と非接触状態にあ
る(第3(b)図参照)。更にカバー部材4を閉じてい
くと、第一面4aがフローティング部材2の頂面に接す
るに至って、コンタクト3は曲率をわずかに増すように
変形せしめられる。従って、この時コンタクト3の一端
部先端とプリント回路基板8の電極8aとの間及びコン
タクト3の他端部先端と半田ボールBとの間に多少の接
圧が生じる(図3(c)参照)。
【0015】次に閉蓋状態を保持させるため、完全にカ
バー部材4を閉じ、ロックレバー5のフック5aをソケ
ット本体のフック部1bに係合させれば、フローティン
グ部材2はカバー部材4に押されて更に僅かに下降し、
コンタクト3は更に曲率を増して、コンタクト3の一端
部先端とプリント回路基板8の電極8aとの間及びコン
タクト3の他端部先端と半田ボールBとの間には、所定
の大きさの接圧が得られるようになる(図3(d)参
照)。この時、コンタクト3の両端の接圧力はコンタク
ト3がフリー状態で両先端を押されるので、ほぼ等しい
大きさとなる。
【0016】上記閉蓋過程において、例えば、ICパッ
ケージPの試験等が常温下で実施される場合は上述のよ
うにして各接触部の接圧が得られて、案内孔2aとコン
タクト3の他端部との相対位置関係は図4(a)に示す
如く保持されるが、耐熱試験等におけるように周囲温度
が150℃付近になると、半田ボールBは軟化するため
コンタクト3の他端部先端は半田ボールB内にくい込
み、図4(b)の状態となる。しかしこの場合、本発明
によれば案内孔2aの下端縁部2a′がコンタクト3の
移動のストッパーとして作用するため、コンタクト3の
他端部は常温時に比べて距離Sだけ上昇した位置で強制
的に停止せしめられる。従って、耐熱試験終了により半
田ボールBがその状態で固化しても、各半田ボールBの
突出高は略均一となり、実装時に不都合を生じることは
なくなる。又、図4(c)に示す如く、コンタクト3は
上端接触部を水平に折り返し、ボールBの下死点に接触
部が水平に当接するようにしてもよい。この場合にもフ
ローティング部材2の下端縁部2a′がストッパーとな
り、ボールの軟化時でも図4(d)の如く、所定の範囲
内で支障のない状態でボールBがつぶれ、不都合を生じ
ることはない。
【0017】上記第1実施例において、コンタクト3の
他端部先端の形状は半田ボールBとの接触の確実性を考
慮して種々考えられるが、図5はその代表例を示してい
る。即ち、図5(a)は平面による一点接触の例を、
(b)は二つのエッジによる二点接触の例を、(c)は
単一のエッジによる点接触の例を夫々示している。これ
らの例は、何れもICパッケージPが常温下で試験等が
行われる場合について説明されたが、耐熱試験で半田ボ
ールBが軟化した場合には、面接触又は線接触の状態と
なることは言うまでもない。
【0018】尚、装填されたICパッケージPを取り出
す場合には、ロックレバー5をその習性に抗して右旋さ
せればよい。即ち、ロックレバー5を右旋させてフック
5aをソケット本体1のフック部1bから外せば、カバ
ー部材4はスプリング7の弾力により右旋せしめられて
開放状態となる。この状態でICパッケージPは容易に
取り出され得る。
【0019】図6は本発明の第2実施例の要部拡大図
で、(a)は無負荷状態即ち開蓋状態でフローティング
部材の収容部2bにICパッケージPを装填した状態
を、(b)はカバー部材4を閉じてロックレバー5をロ
ック状態にしたときの状態を夫々示している。この実施
例は、コンタクト3の一端部がソケット本体1の下面よ
り所定の長さ突出した状態でソケット本体1により固定
的に支持されており、且つ案内孔2aが、コンタクト3
の他端部先端を半田ボールBの側面に圧接しながら摺動
させてワイピングが効果的に行われるように誘導し得る
位置関係となるように、フローティング部材2に列設さ
れた点で、第1実施例とは異なる。又、この場合には、
耐熱試験で半田ボールBが軟化した際、図6(b)に一
点鎖線で示す如く、フローティング部材2の案内孔2a
の上縁部2a″がストッパーとして作用し、ボールBへ
のくい込み量が、所定値以内に規制される。
【0020】従って、第2実施例は、ICパッケージP
が常温下で試験等が行われるときに好適に使用され得、
カバー部材4の閉合過程で半田ボールBがコンタクト3
により効果的にワイピングされ、常に良好な電気的接触
状態が得られる点で有効である。尚、この実施例におい
ても、ICソケットの基本的構成及びICパッケージP
の装填及び取出し時におけるフローティング部材2,コ
ンタクト3及びカバー部材4の基本的動作は第1実施例
の場合と同様であるので、それらの説明は省略する。
【0021】以上、実施例では、カバー部材4の第一面
4aよりも第二面4bの方が高くなる場合を述べたが収
容するパッケージの厚さに従い逆の高さ関係であっても
よく、相互に異なる高さ位置に形成されている場合のほ
か、図1(b)に示すように第一面と第二面を同一高さ
位置に形成してもよい。それらの場合、収容部2bにI
CパッケージPを収容したときICパッケージの上面が
フローティング部材2の頂面より所定高さ分だけ突出す
るようにフローティング部材と収容部は形成される。
又、実施例では、カバー部材4は回動式に開閉する形態
で説明されたが、これに限定されるものではなく、鍋蓋
式に開閉する形態のものでも同様に適用され得ることは
言うまでもない。又、第2実施例においても、コンタク
ト3の他端部先端の形状は図5に示した如き各種のもの
を採用し得る。
【0022】
【発明の効果】上述の如く本発明によれば、装填される
ICパッケージの半田ボールとフローティング部材に列
設された案内手段との相対位置関係を適宜選定すること
により、耐熱試験等に際しても半田ボールのコプラナリ
ティーを適正に保持し得るICソケットを提供し、又、
コンタクトによる半田ボールに対するワイピング作用が
有効に行われ得るICソケットを提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本発明に係るICソケットの第1実施
例を開蓋状態で示す中央縦断面図である。(b)は
(a)のICソケットの蓋部の異なる例を示す要部中央
縦断面図である。
【図2】図1(a)に示したICソケットの横断面図で
ある。
【図3】(a),(b),(c)及び(d)は図1に示
したICソケットの作用を説明するための要部拡大図で
ある。
【図4】(a)及び(b)は異なる温度条件でのICパ
ッケージの半田ボールとコンタクトとの接触状態を示す
拡大図、(c)及び(d)は(a)及び(b)とは異な
るコンタクトとICパッケージの半田ボールとの異なる
温度条件での接触状態を示す拡大図である。
【図5】(a),(b)及び(c)はコンタクトの端部
先端の互いに異なる代表的形状例を夫々示す拡大斜視図
である。
【図6】本発明に係るICソケットの第2実施例におけ
るICパッケージの半田ボールとコンタクトとの接触状
態を示す拡大図で、(a)は無負荷時を、(b)は押圧
時を夫々示している。
【符号の説明】
1 ソケット本体 1a 孔 1b フック部 2 フローティング部材 2a 案内孔 2a′ 開孔縁部分 2b 収容部 3 コンタクト 4 カバー部材 4a 第一面 4b 第二面 5 ロックレバー 5a フック 6,7 スプリング 8 プリント回路基板 8a 電極 P ICソケット B 端子(半田ボール)

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 列設された多数の可撓性コンタクトの各
    一端部を可動的に支持するソケット本体と、該ソケット
    本体上に昇降可能に装架されていて上記コンタクトの各
    他端部を可動的に支持するフローティング部材と、該フ
    ローティング部材に被着可能で該フローティング部材を
    上記ソケット本体に向けて押圧し得るカバー部材とを備
    え、上記フローティング部材には、上記コンタクトの各
    他端部のフローティング部材からの突出量を規制する多
    数の案内手段と、ICパッケージを収容してその多数の
    端子を対応する上記コンタクトの各他端部に夫々接触さ
    せるようにし得る収容部とが設けられ、該収容部にIC
    パッケージが装填されて上記カバー部材を被着押圧した
    とき、上記コンタクトの各一端部とプリント回路基板の
    電極との間及び上記コンタクトの各他端部とICパッケ
    ージの端子との間に夫々所定圧の接触が得られるように
    したICソケット。
  2. 【請求項2】 列設された多数の可撓性コンタクトの各
    一端部を下方へ突出させて固定的に支持するソケット本
    体と、該ソケット本体上に昇降可能に装架されていて上
    記コンタクトの各他端部を可動的に支持するフローティ
    ング部材と、該フローティング部材に被着可能で該フロ
    ーティング部材を上記ソケット本体に向けて押圧し得る
    カバー部材とを備え、上記フローティング部材には、上
    記コンタクトの各他端部のフローティング部材からの突
    出量を規制する多数の案内手段と、ICパッケージを収
    容してその多数のボール端子を対応する上記コンタクト
    の各他端部に夫々接触させるようにし得る収容部とが設
    けられ、該収容部にICパッケージが装填されて上記カ
    バー部材を被着押圧したとき、上記コンタクトの各他端
    部とICパッケージの各ボール端子との間に所定圧の摺
    動接触が得られるようにしたICソケット。
  3. 【請求項3】 上記コンタクトの各他端部の先端は斜面
    に形成され、上記斜面が各ボール端子の下死点以外の面
    に摺動接触するようにした請求項2に記載のICソケッ
    ト。
  4. 【請求項4】 上記収容部は上記フローティング部材に
    明けられた開口として形成され、上記カバー部材には上
    記フローティング部材の頂面に接する第一面と上記収容
    部に収容されたICパッケージの上面に接する第二面と
    が形成されていて、上記カバー部材を被着したとき、上
    記第一面がフローティング部材の頂面に接するよりも早
    く上記第二面が上記収容部に収容されたICパッケージ
    の上面に接するようにした、請求項1又は2に記載のI
    Cソケット。
  5. 【請求項5】 ICパッケージの端子は半田ボールとし
    て形成されていて、上記フローティング部材の上記案内
    手段は、上記コンタクトの各他端部が上記半田ボールの
    中心に向うように配設されている請求項1又は4に記載
    のICソケット。
  6. 【請求項6】 上記コンタクトの各他端部先端が、その
    長さ方向に対して傾斜した面又はナイフエッジとなるよ
    うに形成された請求項1又は2に記載のICソケット。
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