JP2003303655A - 電気部品用ソケット - Google Patents

電気部品用ソケット

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JP2003303655A JP2002109558A JP2002109558A JP2003303655A JP 2003303655 A JP2003303655 A JP 2003303655A JP 2002109558 A JP2002109558 A JP 2002109558A JP 2002109558 A JP2002109558 A JP 2002109558A JP 2003303655 A JP2003303655 A JP 2003303655A
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • H01R12/82Coupling devices connected with low or zero insertion force
    • H01R12/85Coupling devices connected with low or zero insertion force contact pressure producing means, contacts activated after insertion of printed circuits or like structures
    • H01R12/88Coupling devices connected with low or zero insertion force contact pressure producing means, contacts activated after insertion of printed circuits or like structures acting manually by rotating or pivoting connector housing parts

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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 コンタクトピンが挿通される貫通孔へのゴミ
の浸入を防止する電気部品用ソケットを提供する。 【解決手段】 ICパッケージ12が収容される収容面
部16dを有するソケット本体13と、ソケット本体1
3に配設され、ICパッケージ12の端子12bに電気
的に接続されるコンタクトピン14とを備え、コンタク
トピン14の接触部14cは、ICパッケージ12の収
容面部16dへの収容状態及び非収容状態の何れの時に
おいても、収容面部16dに形成された貫通孔16aか
ら上方に突出するように構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体装置(以
下「ICパッケージ」という)等の電気部品を着脱自在
に保持する電気部品用ソケットに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来から、この種の「電気部品用ソケッ
ト」としては、「電気部品」であるICパッケージを着
脱自在に保持するICソケットがある。
【0003】このICソケットは、ICパッケージが収
容される収容面部を有するソケット本体と、このソケッ
ト本体に配設され、ICパッケージの端子に電気的に接
続されるコンタクトピンとを備えている。
【0004】そのソケット本体は、上下動自在に配設さ
れて収容面部が形成されたフローティングプレートを有
し、フローティングプレートに形成された貫通孔にコン
タクトピンの上端部側の接触部が挿入されている。
【0005】そして、このフローティングプレート上に
ICパッケージが載置されて下方に押圧されることによ
り、このフローティングプレートが下方に移動されるこ
とから、ICパッケージの下面に設けられた端子に、コ
ンタクトピンの接触部が所定の圧力で当接して電気的に
接続されるようになっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のものにあっては、コンタクトピンの接触部
は、フローティングプレートの上死点位置では、このフ
ローティングプレートの貫通孔内に位置しているため、
この貫通孔内に上方からゴミが浸入して、コンタクトピ
ン接触部とICパッケージ端子との間にゴミが介在して
接触不良を招いたり、又、コンタクトピン接触部とフロ
ーティングプレートとの相対移動の障害となったりす
る、という問題があった。
【0007】そこで、この発明は、コンタクトピンが挿
通される貫通孔へのゴミの浸入を防止する電気部品用ソ
ケットを提供することを課題としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】かかる課題を達成するた
めに、請求項1に記載の発明は、電気部品が収容される
収容面部を有するソケット本体と、該ソケット本体に配
設され、前記電気部品の端子に電気的に接続されるコン
タクトピンとを備え、該コンタクトピンの接触部は、前
記電気部品の前記収容面部への収容状態及び非収容状態
の何れの時においても、前記収容面部に形成された貫通
孔から上方に突出するように構成されている電気部品用
ソケットとしたことを特徴とする。
【0009】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の構成に加え、前記ソケット本体は、前記コンタクトピ
ンが固定されるベース部と、該ベース部の上側に上下動
自在に配設されて前記収容面部が形成されたフローティ
ングプレートとを有し、該フローティングプレートに前
記貫通孔が形成されたことを特徴とする。
【0010】請求項3に記載の発明は、請求項1又は2
に記載の構成に加え、前記フローティングプレートの収
容面部上には、前記電気部品が載置される複数の載置突
部が上方に突出して形成され、該載置突部の突出量は、
前記フローティングプレートの上死点位置における前記
コンタクトピン接触部の突出量より大きいことを特徴と
する。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて説明する。
【0012】図1乃至図19には、この発明の実施の形
態を示す。
【0013】まず構成を説明すると、図中符号11は、
「電気部品用ソケット」としてのICソケットで、この
ICソケット11は、「電気部品」であるICパッケー
ジ12の性能試験を行うために、このICパッケージ1
2の板状の端子12bと、測定器(テスター)のプリン
ト配線板(図示省略)との電気的接続を図るものであ
る。
【0014】このICパッケージ12は、図19に示す
ように、いわゆるLGA(Land Grid Array)と称され
るもので、方形のパッケージ本体12aの下面に板状の
端子12bが行列状に配列されている。また、このパッ
ケージ本体12aの上面には中央部に上方に突出するダ
イ12cが形成されている。
【0015】一方、ICソケット11は、図3に示すよ
うに、プリント配線板(図示省略)上に配置されるソケ
ット本体13を有し、このソケット本体13は、ICパ
ッケージ12の端子12bに接触されるコンタクトピン
14が多数配設されるベース部15と、このベース部1
5の上側に配置されたフローティングプレート16とを
有している。
【0016】また、そのソケット本体13には、ICパ
ッケージ12を押圧する一対の開閉部材19が回動自在
に設けられると共に、この開閉部材19を開閉させる四
角形の枠形状の操作部材20が上下動自在に配設されて
いる。
【0017】より詳しくは、コンタクトピン14は、図
8及び図9に示すように、バネ性を有し、導電性に優れ
た板材から形成され、ベース部15の圧入孔15aに圧
入固定され、このベース部15から下方にリード部14
aが突出され、このリード部14aが、プリント配線板
に電気的に接続されるようになっている。また、このコ
ンタクトピン14には、リード部14aの上側に、略S
字状で弾性変形可能な弾性部14bが形成されると共
に、この弾性部14bの上端部に、ICパッケージ端子
12bに下方から当接して電気的に接続される接触部1
4cが形成されている。
【0018】そして、そのコンタクトピン14はフロー
ティングプレート16の貫通孔16aに挿通されてい
る。
【0019】このフローティングプレート16は、図1
に示すように、四角形状を呈し、収容面部16dの上側
にICパッケージ12が収容されるようになっていると
共に、ICパッケージ12を収容するときに案内するガ
イド部16bが、パッケージ本体12aの各角部に対応
して形成されると共に、マトリックス状に形成された多
数の貫通孔16aの形成範囲の周囲に、パッケージ本体
12aの周縁部に当接してICパッケージ12を支持す
る載置突部16cが計6カ所形成されている(図1,図
8及び図9参照)。
【0020】また、ベース部15に対して上下動自在に
配設され、図7に示すように、スプリング17により上
方に付勢され、図3に示すように、ベース部15から上
方に延長されて形成されたストッパ部15bにより、上
死点位置で停止させられるように構成されている。この
ストッパ部15bは、フローティングプレート16の後
述するガイド部16aの上面に当接するようになってい
る。
【0021】そして、図8にはICパッケージ12の非
収容状態、図9にはICパッケージ12の収容状態を示
しており、フローティングプレート16の貫通孔16a
に挿通されたコンタクトピン16は、収容面部16dへ
のICパッケージ12の収容状態及び非収容状態の何れ
の時においても、その貫通孔16aから上方に接触部1
4cが突出するように構成されている。
【0022】このICパッケージ12の非収容状態、す
なわち、フローティングプレート16の上死点位置にお
いては、図8に示すように、コンタクトピン接触部14
cのフローティングプレート貫通孔16aからの突出量
H1より、フローティングプレート収容面部16dに設
けられた載置突部16cの突出量H2の方が大きく設定
されている。これで、上死点位置においては、フローテ
ィングプレート16の載置突部16cにICパッケージ
12が載置された状態で、コンタクトピン接触部14c
とICパッケージ端子12bとが接触しないようになっ
ている。この上死点位置からフローティングプレート1
6が下方に押し下げられた時には、図9に示すように、
コンタクトピン接触部14cとICパッケージ端子12
bとが所定の接圧で接触されるようになっている。
【0023】一方、一対の開閉部材19は、図5に示す
ように、いわゆる観音開き可能に回動自在に設けられ、
各開閉部材19は、それぞれベースプレート22に「押
圧部」としてのヒートシンク23が取り付けられ、これ
らがソケット本体13にリンク機構27を介して開閉自
在に支持され、ヒートシンク23がICパッケージ12
を押圧する押圧位置から待避位置まで変位するように構
成されている。
【0024】ヒートシンク23は、例えばアルミダイキ
ャスト製で、熱伝導率が良好なもので形成され、図1,
図10及び図11に示すように、一方の面側(下面側)
に、ICパッケージ12に当接する当接突部23aが形
成され、他方の面側(上面側)に、効率的に放熱を行う
ための多数の放熱フィン23bが形成されている。
【0025】このヒートシンク23が、ベースプレート
22に螺合された計4つの取付ネジ29にガイドされ
て、このベースプレート22の平面部22aに対して垂
直方向に平行移動可能に設けられ、取付ネジ29の周囲
に設けられたコイルスプリング30により、ヒートシン
ク23がベースプレート平面部22aに当接される方向
に付勢されている。
【0026】リンク機構27は、ベースプレート22の
両側に一対ずつ設けられた「第1リンク部材」としての
第1リンク外側部材24及び第1リンク内側部材25
と、第2リンク部材26とを有している。
【0027】第1リンク外側部材24は図12に、又、
第1リンク内側部材25は図13に示すように板状に形
成されており、図3に示すように、これらの一端部24
a,25aがソケット本体13のベース部15から突設
された支持ポスト15cに支持軸32を介して上下方向
に回動自在に支持されている。なお、第1リンク外側部
材24及び第1リンク内側部材25は、ベースプレート
22等の両側に設けられて対称形状を呈しており、図1
2及び図13に記載のものは、その一方のものを示して
いる。
【0028】そして、図2及び図3に示すように、これ
ら第1リンク外側部材24及び第1リンク内側部材25
の他端部24b,25b側近傍が、取付軸33を介して
ベースプレート22の鉛直片22bに回動自在に取り付
けられている。しかし、第1リンク内側部材25には、
係止片25cが屈曲されて形成され、この係止片25c
が、図1に示すように、ベースプレート22の鉛直片2
2bに係止されることにより、このベースプレート22
は、第1リンク外側部材24及び第1リンク内側部材2
5に対して取付軸33を中心として、一方の方向への回
動が阻止されるようになっている。
【0029】さらに、第2リンク部材26は、図14に
示すように、ヒートシンク23等の両側に一対設けられ
た側板部26aと、これらを連結する長板状の連結橋部
26bとを有している。これら側板部26aが、両第1
リンク外側部材24と第1リンク内側部材25との間に
挟持されることにより、第1リンク外側部材24と第1
リンク内側部材25とが所定の間隔で平行に配設されて
いる。
【0030】そして、その側板部26aの一端部26c
が操作部材20に力点軸36を介して回動自在に取り付
けられると共に、この側板部26aの他端部26dと、
第1リンク外側部材24及び第1リンク内側部材25の
他端部24b,25bとの三者が連結軸34を介して回
動自在に連結されている。
【0031】これにより、操作部材20を図3に示す上
死点位置から図5に示すように、下降させると、力点軸
36の位置が下降し、第2リンク部材26の側板部26
aの下縁凹部26eが支持軸32に当接し、この支持軸
32がてこの支点となり、作用点である連結軸34が上
方に回動されることにより、取付軸33を介して第1リ
ンク外側部材24及び第1リンク内側部材25が支持軸
32を中心に上方に向けて回動することにより、ベース
プレート22及びヒートシンク23が上方に開かれるこ
ととなる。
【0032】一方、操作部材20は、図15に示すよう
に、ICパッケージ12が挿入可能な大きさの開口20
aを有する四角形の枠状を呈し、ソケット本体13に対
して上下動自在に配設されている。
【0033】すなわち、図3に示すように、計4本のガ
イドピン38のネジ部38aが、ソケット本体13に設
けられたナット39に螺合されて取り付けられ、このガ
イドピン38が操作部材20の案内孔20bに挿通され
ることにより、操作部材20がガイドピン38に案内さ
れて上下動自在に配設されている。そして、この操作部
材20が各ガイドピン38の周囲に配設されたコイルス
プリング41により上方に付勢され、上死点位置で、ガ
イドピン38の上端フランジ部38bに、操作部材20
の案内孔20bの周縁部20cが当接することにより、
操作部材20の上昇が規制されるようになっている。
【0034】その操作部材20の案内孔20bは、上方
が開口したガイドピン用凹所20dの底面部に形成さ
れ、操作部材20の上死点位置では、操作部材20の上
面部より、ガイドピン38の上端フランジ部38が距離
L1だけ低い位置に設定されている。
【0035】また、そのガイドピン用凹所20dの周囲
には、下方が開口した略円環形状のスプリング用凹所2
0cが形成され、このスプリング用凹所20cにコイル
スプリング41の上側が挿入されている。操作部材20
の上死点位置では、ガイドピン38の上端フランジ部3
8bより、コイルスプリング41の上端の方が高い位置
となっている(図3参照)。
【0036】さらに、この操作部材20には、図2及び
図16に示すように、相対向する辺部20jに2つずつ
通風路20fが形成されている。これら各辺部20jの
一対の通風路20fは、一対のガイドピン用凹所20d
の間に略水平方向に沿って形成され、各辺部20jの外
縁部側に外側開口20gが形成され、内縁部側に内側開
口20hが形成されている。これら外側開口20gは、
幅W1が内側開口20hの幅W2より広く形成されてい
る。
【0037】これで、開閉部材19を閉じた状態では、
通風路20fの外側開口20gから浸入した外気が内部
を通り、内側開口20hから枠形状内部のヒートシンク
23に向けて送風されると共に、内側から外側に排出さ
れるように構成されている。
【0038】かかる構成のICソケット11において、
ICパッケージ12の収容は以下のように行う。
【0039】まず、操作部材20を例えば自動機により
スプリング41等の付勢力に抗して下方に押し下げる。
これにより、図3に示す状態から、操作部材20の力点
軸36が下降し、第2リンク部材26が下方に回動する
ことにより、この第2リンク部材26の下縁凹部26e
が支持軸32に当接する(図4参照)。
【0040】この状態から更に押し下げると、てこの原
理により、その支持軸32を中心に第2リンク部材26
が回動し、連結軸34側が上方に移動し、第1リンク外
側部材24及び第1リンク内側部材25が支持軸32を
中心に上方に回動し、取付軸33を介してベースプレー
ト22及びヒートシンク23が持ち上げられて開かれる
(図5参照)。
【0041】この際、操作部材20の押下げ力は、コイ
ルスプリング41を押し下げる力に、ヒートシンク23
等の重量を加えたもので良いため、従来のようにヒート
シンクの押圧力を確保するための捻りコイルバネの付勢
力に抗した力が必要ないことから、従来より小さな力
で、開閉部材19を開くことができる。
【0042】また、ベースプレート22及びヒートシン
ク23は、その取付軸33及び、第1リンク内側部材2
5等の係止片25cにて支持されているため、取付軸3
3を中心に大きく回動してフラ付くするようなことがな
い。
【0043】この開閉部材19が最大限開かれた状態で
は、図5及び図6に示すように、開閉部材19が略鉛直
方向に沿っており、ICパッケージ12挿入範囲から退
避している。
【0044】この状態で、図8に示すように、ICパッ
ケージ12をフローティングプレート16上に各ガイド
部16bにて案内して、載置突部16c上に載置する。
この載置時には、載置突部16cの突出量H2の方が、
コンタクトピン14の接触部14cの突出量H1より大
きいため、ICパッケージ12の端子12bがコンタク
トピン14の接触部14cに衝突することなく、損傷を
防止することができる。
【0045】また、コンタクトピン接触部14cが常に
フローティングプレート16の貫通孔16aから上方に
突出しているため、この貫通孔16a内にゴミが溜まる
ようなことがない。従って、コンタクトピン接触部14
cとICパッケージ端子12bとの接触不良を防止でき
ると共に、フローティングプレート貫通孔16aに対す
るコンタクトピン14の相対移動を円滑に行うことがで
きる。
【0046】次いで、操作部材20への押圧力を解除す
ると、この操作部材20がコイルスプリング41の付勢
力にて上昇して行くことにより、上記とは反対の動作
で、開閉部材19が閉じて行き、図9に示すように、ヒ
ートシンク23の当接突部23aがICパッケージ12
のダイ12cに当接する。
【0047】この際には、ベースプレート22が取付軸
33を中心に僅かに回動すると共に、このベースプレー
ト22に対してヒートシンク23が取付ネジ29及びコ
イルスプリング30等を介して上下動自在に配設されて
いるため、ヒートシンク23の当接突部23aで、IC
パッケージ12のパッケージ本体12aを押圧する際
に、微妙な角度調節を行うことができ、力を分配してバ
ランス良く作用させることができる。
【0048】そして、フローティングプレート16がス
プリング17の付勢力に抗して下降させられることによ
り、コンタクトピン14の接触部14cのフローティン
グプレート16からの突出量が大きくなり、その接触部
14cがICパッケージ12の端子12bに当接する
(図9参照)。この当接状態では、コンタクトピン14
の弾性部14bが弾性変形され、この弾性力により、所
定の当接圧力が確保されることとなる。
【0049】また、この際には、図8に示すように、コ
ンタクトピン14の先端側の接触部14c側と、根元側
のリード部14a側とが半ピッチPだけズラして配置さ
れているため、その接触部14cの先端が下方に押し込
まれた場合でも、その先端が倒れ込むことなく真下に変
位することとなるため、変位動作を円滑に行うことがで
きる。
【0050】しかも、各リンク部材24,25,26を
設けることにより、大きな付勢力を有する捻りコイルバ
ネを用いることなく、ICパッケージ端子12bとコン
タクトピン接触部14cとの接圧を確保することが出来
る。
【0051】すなわち、図3に示すように、ヒートシン
ク23にコンタクトピン14及びフローティングプレー
ト16からの上方に向かう力F1が作用すると、この力
F1は取付軸33を介して連結軸34に作用することと
なる。そして、この力F1の分力F2が、第1リンク外
側部材24及び第1リンク内側部材25を支持軸32を
中心に回動させる力として作用する。しかし、図3に示
す状態から、第1リンク外側部材24及び第1リンク内
側部材25を分力F2方向に回動させようとすると、第
2リンク部材26がいわゆる突っ張りとなり、力点軸3
6に外方に向かう力F3が作用する。
【0052】この略水平方向に沿う力F3は、操作部材
20を外側に変形させる力として作用するが、操作部材
20を下降させる力として作用しない。従って、第2リ
ンク部材26が回動することなく、突っ張りとして作用
することから、ICパッケージ端子12bと、コンタク
トピン14の接触部14cとの接圧を確保できる。
【0053】してみれば、各リンク部材24,25,2
6を設けることにより、開閉部材19を開くときの操作
部材20の押圧力を小さくできると共に、開閉部材19
を閉じた状態でのICパッケージ12の端子12bと、
コンタクトピン14の接触部14cとの接圧を確保する
ことが出来る。
【0054】また、その第2リンク部材26は、図1に
示すように、両側に設けられた側板部26aが連結橋部
26bで連結されていることから、操作部材20の片押
しが発生しても、左右一対設けられた第1リンク外側部
材24と第1リンク内側部材25との動作を一体化させ
ることができ、片押しによるベースプレート22の傾き
を大幅に減少させることができる。
【0055】さらに、図5に示すように、ガイドピン3
8を短くすることにより、操作部材20を下降させて開
閉部材19を略90°回動させて、略鉛直方向に沿う状
態とした場合でも、そのガイドピン38の上端フランジ
部38bがヒートシンク23等に干渉するようなことが
ないと共に、ICソケット11の小型化を図ることがで
きる。
【0056】さらにまた、この短く形成されたガイドピ
ン38の周囲に配置されたコイルスプリング41は図3
に示すように、長く設定されているため、操作部材20
の上下ストロークを長くできると共に、そのコイルスプ
リング41により、その長い上下ストロークの範囲にお
いて上方への付勢力を確保することができる。
【0057】しかも、かかるICソケット11にICパ
ッケージ12をセットして、バーンイン試験を行う場合
には、所定の温度条件で、ICパッケージ12を試験す
る必要がある。しかし、そのICパッケージ12を収容
した状態では、このICパッケージ12の周囲は、枠形
状の操作部材20で覆われていることから、ヒートシン
ク23で放熱するようにしているものの、従来では、操
作部材20の内側の熱が逃げ難く、ICソケット11の
外側より温度が上昇してしまう虞があった。
【0058】ところが、ここでは、操作部材20に2ヶ
所ずつ通風路20fが形成されているため、この通風路
20fを介して、操作部材20の内側と外側との間の空
気の循環が行われる。従って、ICパッケージ12を所
定の条件温度で検査することが可能となる。
【0059】しかも、各通風路20fは、図16に示す
ように、操作部材20の相対向する辺部20jに形成さ
れて直線上に配置されているため、例えば左側の通風路
20fから操作部材20の内側に導入された空気は、I
Cパッケージ12が収容された部分で熱交換を行って、
そのまま右側の通風路20fからICソケット11の外
部に排出される。従って、風の通りが良いため、ICパ
ッケージ12の放熱をより効果的に行うことができる。
【0060】なお、上記実施の形態では、「電気部品用
ソケット」としてICソケット11に、この発明を適用
したが、これに限らず、他の装置にも適用できることは
勿論である。
【0061】
【発明の効果】以上説明してきたように、請求項1に記
載の発明によれば、コンタクトピンの接触部は、電気部
品の収容面部への収容状態及び非収容状態の何れの時に
おいても、収容面部に形成された貫通孔から上方に突出
するように構成されているため、その貫通孔内にゴミが
溜まるようなことがなく、コンタクトピン接触部と電気
部品端子との接触不良を防止できると共に、コンタクト
ピン接触部の貫通孔内における相対移動を円滑に行うこ
とができる。
【0062】請求項3に記載の発明によれば、フローテ
ィングプレートの収容面部上には、電気部品が載置され
る複数の載置突部が上方に突出して形成され、この載置
突部の突出量は、フローティングプレートの上死点位置
におけるコンタクトピン接触部の突出量より大きくした
ため、フローティングプレートの上死点位置で、電気部
品を収容して載置突部に載置した際には、電気部品端子
がコンタクトピン接触部に接触することがないため、電
気部品端子やコンタクトピン接触部の損傷を防止でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施の形態に係るICソケットの平
面図で、一対の開閉部材の上側半分を開いた状態を示す
図である。
【図2】同実施の形態に係るICソケットを示す図1の
右側面図である。
【図3】同実施の形態に係る図1のA−A線に沿う断面
図である。
【図4】同実施の形態に係るICソケットの操作部材の
下降途中の状態を示す図3に相当する断面図である。
【図5】同実施の形態に係るICソケットの操作部材の
最下降状態を示す図4に相当する断面図である。
【図6】同実施の形態に係る図1のB−B線に沿う断面
図である。
【図7】同実施の形態に係る図1のC−C線に沿う断面
図である。
【図8】同実施の形態に係るICパッケージを収容する
際の作用を示す断面図で、開閉部材を開いた状態の図で
ある。
【図9】同実施の形態に係るICパッケージを収容する
際の作用を示す断面図で、開閉部材を閉じてICパッケ
ージを収容した状態を図である。
【図10】同実施の形態に係るベースプレートとヒート
シンクとを示す断面図である。
【図11】同実施の形態に係るベースプレートとヒート
シンクとの取付状態を示す断面図である。
【図12】同実施の形態に係る第1リンク外側部材を示
す図で、(a)は平面図、(b)は正面図、(c)は
(b)の右側面図である。
【図13】同実施の形態に係る第1リンク内側部材を示
す図で、(a)は平面図、(b)は正面図、(c)は
(b)の右側面図である。
【図14】同実施の形態に係る第2リンク部材を示す図
で、(a)は第2リンク部材の平面図、(b)は正面
図、(c)は(a)の右側面図である。
【図15】同実施の形態に係る操作部材の平面図であ
る。
【図16】同実施の形態に係る操作部材の底面図であ
る。
【図17】同実施の形態に係る図15のD−D線に沿う
断面図である。
【図18】同実施の形態に係る図15のE−E線に沿う
断面図である。
【図19】ICパッケージを示す図で、(a)はICパ
ッケージの平面図、(b)はICパッケージの正面図、
(c)はICパッケージの底面図である。
【符号の説明】
11 ICソケット(電気部品用ソケット) 12 ICパッケージ(電気部品) 12b 端子 13 ソケット本体 14 コンタクトピン 14c 接触部 15 ベース部(ソケット本体) 16 フローティングプレート(ソケット本体) 16a 貫通孔 16c 載置突部 16d 収容面部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電気部品が収容される収容面部を有する
    ソケット本体と、該ソケット本体に配設され、前記電気
    部品の端子に電気的に接続されるコンタクトピンとを備
    え、 該コンタクトピンの接触部は、前記電気部品の前記収容
    面部への収容状態及び非収容状態の何れの時において
    も、前記収容面部に形成された貫通孔から上方に突出す
    るように構成されていることを特徴とする電気部品用ソ
    ケット。
  2. 【請求項2】 前記ソケット本体は、前記コンタクトピ
    ンが固定されるベース部と、該ベース部の上側に上下動
    自在に配設されて前記収容面部が形成されたフローティ
    ングプレートとを有し、該フローティングプレートに前
    記貫通孔が形成されたことを特徴とする請求項1に記載
    の電気部品用ソケット。
  3. 【請求項3】 前記フローティングプレートの収容面部
    上には、前記電気部品が載置される複数の載置突部が上
    方に突出して形成され、該載置突部の突出量は、前記フ
    ローティングプレートの上死点位置における前記コンタ
    クトピン接触部の突出量より大きいことを特徴とする請
    求項2に記載の電気部品用ソケット。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007115501A (ja) * 2005-10-20 2007-05-10 Enplas Corp 電気部品用ソケット
JP5490529B2 (ja) * 2007-04-04 2014-05-14 日本発條株式会社 導電性接触子ユニット

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7195507B2 (en) * 2003-08-06 2007-03-27 Yamaichi Electronics U.S.A., Inc. Socket apparatus with actuation via pivotal motion
JP4347027B2 (ja) * 2003-11-28 2009-10-21 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
TWM359085U (en) * 2008-11-25 2009-06-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector
CN101752765B (zh) * 2008-11-28 2012-10-03 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器
CN202503139U (zh) * 2011-04-01 2012-10-24 番禺得意精密电子工业有限公司 电连接器

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63255671A (ja) * 1987-03-27 1988-10-21 インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン 接触プローブ装置
JPH09289068A (ja) * 1996-04-22 1997-11-04 Enplas Corp Icソケット
JPH11185912A (ja) * 1997-12-24 1999-07-09 Toshiba Corp 半導体測定用治具
US6292003B1 (en) * 1998-07-01 2001-09-18 Xilinx, Inc. Apparatus and method for testing chip scale package integrated circuits

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3903060A1 (de) * 1989-02-02 1990-08-09 Minnesota Mining & Mfg Vorrichtung zum pruefen von integrierten schaltungsanordnungen
US5127837A (en) * 1989-06-09 1992-07-07 Labinal Components And Systems, Inc. Electrical connectors and IC chip tester embodying same
JP2665419B2 (ja) * 1991-08-13 1997-10-22 山一電機株式会社 電気部品用接続器
US6126467A (en) * 1998-07-22 2000-10-03 Enplas Corporation Socket for electrical parts
TW421333U (en) * 1999-02-24 2001-02-01 Hung Rung Fang IC socket
JP3739626B2 (ja) * 2000-03-10 2006-01-25 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63255671A (ja) * 1987-03-27 1988-10-21 インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン 接触プローブ装置
JPH09289068A (ja) * 1996-04-22 1997-11-04 Enplas Corp Icソケット
JPH11185912A (ja) * 1997-12-24 1999-07-09 Toshiba Corp 半導体測定用治具
US6292003B1 (en) * 1998-07-01 2001-09-18 Xilinx, Inc. Apparatus and method for testing chip scale package integrated circuits

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007115501A (ja) * 2005-10-20 2007-05-10 Enplas Corp 電気部品用ソケット
JP4647458B2 (ja) * 2005-10-20 2011-03-09 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
JP5490529B2 (ja) * 2007-04-04 2014-05-14 日本発條株式会社 導電性接触子ユニット

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