JPH09249463A - 真空気密容器用封着ろう材および真空気密容器の製造方法 - Google Patents

真空気密容器用封着ろう材および真空気密容器の製造方法

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JPH09249463A
JPH09249463A JP8054763A JP5476396A JPH09249463A JP H09249463 A JPH09249463 A JP H09249463A JP 8054763 A JP8054763 A JP 8054763A JP 5476396 A JP5476396 A JP 5476396A JP H09249463 A JPH09249463 A JP H09249463A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 セラミックからなる絶縁容器の開口端部への
濡れ性が良好な真空気密容器用封着ろう材をを提供する
ものである。 【解決手段】 Ag−Cu−Tiからなり、Cu−Ti
化合物が40体積%以下含まれることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、真空気密容器用封
着ろう材および真空気密容器の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】真空バルブやサイリスタ等に用いられる
真空気密容器は、セラミックからなる絶縁容器の開口端
部に金属からなる端板(封止金具)を封着(接合)する
ことにより製造され、内部を真空気密状態に保持するも
のである。
【0003】このような真空気密容器は、従来よりセラ
ミックからなる絶縁容器の開口端部に金属からなる端板
との間にMo−Mnメタライズ層を介在し、加熱するこ
とにより前記絶縁容器と前記端板とを封着する方法によ
り製造されていた。しかしながら、この方法はMo−M
nメタライズ層を作る工程が複雑であり、しかも封着に
際し高温度の熱処理を必要とする問題があった。
【0004】そこで、Mo−Mnメタライズ層を用いる
方法に代わる封着方法として、活性金属法が検討されて
いる。活性金属ろう材としては、Ag、Cu、Tiの3
元素を含むものが一般的であり、共晶組成のAg−Cu
中にTiを添加したろう材により接合することが特開昭
35−1216号に開示されている。しかしながら、こ
のような活性金属ろう材を前記セラミックからなる絶縁
容器の開口端部と前記金属からなる端板との間に介在さ
せ、前記ろう材の融点で加熱すると、ろう材全体が一度
に溶融して前記絶縁容器に対して十分な濡れ性が得られ
ないため、前記絶縁容器の開口端部に前記金属からなる
端板を良好に封着することが困難であった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、セラミック
からなる絶縁容器の開口端部への濡れ性が良好な真空気
密容器用封着ろう材を提供しようとするものである。本
発明は、セラミックからなる絶縁容器の開口端部と金属
からなる端板とを濡れ広がった脚長のろう材および前記
開口端部表面に形成したTi偏析層により強固ににより
封着することが可能な真空気密容器の製造方法を提供し
ようとするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる真空気密
容器用封着ろう材は、Ag−Cu−Tiからなり、Cu
−Ti化合物が40体積%以下含まれることを特徴とす
るものである。本発明に係わる真空気密容器の製造方法
は、セラミックからなる絶縁容器の開口端部にAg−C
u−Tiからなり、Cu−Ti化合物が40体積%以下
含まれる封着用ろう材を介して金属からなる端板を当接
させ、前記ろう材をAg−Cu共晶温度を越える温度で
前記ろう材が接する前記絶縁容器表面に厚さ50nm以
上のTi偏析層が形成されるまで加熱処理して前記絶縁
容器に前記端板を封着することを特徴とするものであ
る。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の真空気密容器用封
着ろう材について詳細に説明する。この封着ろう材は、
Ag−Cu−Tiからなり、Cu−Ti化合物が40体
積%以下含まれる。このようなろう材の組織は、を図1
の概略図に示すようにCu−Ti化合物1がAg2およ
びCu3に分散されている。ろう材の組成は、Ag:C
u:Ti=50〜59:33〜40:1〜17程度にす
ればよく、特にAgおよびCuの組成比率は、封着処理
後に微細な共晶組織を形成するために可能な限り共晶組
成に近似させることが好ましい。また、Tiは融点上昇
を起こすために3〜17atm%にすることが好まし
い。
【0008】前記Cu−Ti化合物としては、例えばC
uTi、Cu3 Ti、Cu4 Ti、Cu3 Ti2 、Cu
4 Ti3 等を挙げることができる。前記Cu−Ti化合
物の前記ろう材中の量が40体積%を越えると、リーク
パスとなり得る引け巣が形成される恐れがある。また、
下限は3堆積%にすることがこのましい。濡れ性を改善
する観点から、より好ましい前記ろう材中のCu−Ti
化合物の量は、5〜25体積%である。
【0009】次に、本発明の真空気密容器の製造方法に
ついて説明する。図2に示すようにセラミックからなる
筒状の絶縁容器11の開口端部に金属からなる端板(封
止金具)12をそれぞれ配置すると共に前記絶縁容器1
1の開口端部と前記封止金具12の間にAg−Cu−T
iからなり、Cu−Ti化合物が40体積%以下含まれ
る封着用ろう材13をそれぞれ介在した後、前記ろう材
13をAg−Cu共晶温度を越える温度に加熱すること
により真空気密容器を製造する。
【0010】前記絶縁容器は、例えばアルミナ、窒化珪
素等のセラミックから形成される。前記端板(封止金
具)は、例えばステンレス、鉄、ニッケル合金等の金属
から形成される。
【0011】前記Ag−Cu共晶温度を越える温度での
熱処理温度は、Ag、Cuの組成より最適値を選び、最
終的にCu−Ti化合物相以外のAg−Cu相が完全に
溶融する温度にする。また、温度を高くし過ぎるとCu
−Ti化合物も同時に溶融してCu−Ti化合物の効果
を発揮できなくなる。例えば、Ag57.7モル%、C
u38.5モル%、Ti3.8モル%でTiを全てCu
4 Tiの形態の化合物にする場合には、Ag−Cu共晶
温度が1053Kであるため、熱処理温度を1060〜
1150K程度にすることが好ましい。
【0012】以上説明した本発明に係わるAg−Cu−
Tiからなり、Cu−Ti化合物が40体積%以下含ま
れる封着ろう材は、Ag−Cu共晶温度以上に加熱して
も一度に溶融することなく溶解速度の遅いCu−Ti化
合物で液相を保持する。このため、前記封着ろう材13
を前記絶縁容器11の開口端部と封止金具12に介在さ
せ、Ag−Cu共晶温度を越える温度に加熱する熱処理
を施すと、その温度がAg−Cu共晶温度を越えた時点
でCu−Ti化合物以外のAgおよびCuがまず溶融す
る。Cu−Ti化合物も液相に接している部分から溶融
を開始する。さらに、熱処理するとCu−Ti化合物以
外の領域が液相になる。ただし、温度を徐々に上げて接
合を行ってもよい。
【0013】図3に前記絶縁容器11の開口端部および
封止金具12の接合付近の断面図を、図4に液相が生成
した封着部の組織の概念図を示す。図4に示すように溶
解速度の遅い未溶融Cu−Ti化合物の粒子14がAg
−Cuの液相15中に存在する。Cu−Ti化合物から
溶融したTiは、熱処理過程において前記開口端部表面
にTi偏析層16を形成する。また、前記未溶融Cu−
Ti化合物の粒子14の存在により前記液相15を前記
絶縁容器11の開口端部に広い面積で保持されるため、
図3に示すように前記開口端部表面に濡れ広がった脚長
の封着部17を形成できると共に、前記Ti偏析層16
を脚長の封着部17に対応する前記開口端部表面に形成
できる。熱処理を続行することにより50nm以上の厚
さのTi偏析層16を前記開口端部表面に形成する。な
お、リークパスとなり得る引け巣の形成を抑制する観点
から前記Cu−Ti化合物を全て液相中に溶融すること
が好ましい。
【0014】したがって、絶縁容器11の開口端部に封
止金具12を脚長の封着部17により接合でき、かつ絶
縁容器11の開口端部と前記封着部17の界面に50n
m以上の厚さを有するTi偏析層16を形成できるた
め、前記絶縁容器11の開口端部と封止金具12とが強
固にかつ気密に接合された真空気密容器を製造すること
ができる。
【0015】
【実施例】以下、本発明の実施例を前述した図面を参照
して詳細に説明する。 (実施例1)まず、Ag57.7モル%、Cu38.5
モル%、Ti3.8モル%の組成を有する融液を作り、
この融液を徐冷することによりTiがCu4 Tiの形態
で含有される厚さ0.2mmのリング状の封着ろう材を
作製した。この封着ろう材は、断面観察等によりCu4
Tiの体積率が27%であった。つづいて、外径44m
m、内径39mm、高さ52mmの純度94%のアルミ
ナ製の筒状絶縁容器の両端面に前記封着ろう材を介して
厚さ0.5mm、外径39mm、高さ5mmのキャップ
状をなすSUS304からなる封止金具を当接させた。
ひきつづき、これらの部材を真空炉に入れ、6×10-4
Paまで真空引きした後、10K/分の昇温速度で10
90Kまで昇温し、20分間保持し、そのまま炉冷する
ことにより絶縁容器の両端面に封止金具が封着部に接合
された真空気密容器を製造した。
【0016】(比較例1)封着ろう材としてAg、Cu
およびTiの箔を実施例1と同様な成分組成になるよう
に積層した積層物を用いた以外、実施例1と同様な方法
により真空気密容器を製造した。
【0017】得られた実施例1および比較例1の真空気
密容器の封着部の形状を調べた。その結果、実施例1の
真空気密容器の封着部は前述した図3に示すような脚長
の形状をなし、かつその組織は微細な共晶であり、リー
クパスとなり得る空隙が認められなかった。これに対
し、比較例1の絶縁容器11の両端面と封止金具12と
の間に形成された封着部18は図5に示すように球根の
ような形状になり、絶縁容器11の端面との接触面積が
狭いものであった。
【0018】実施例1および比較例1の真空気密容器に
ついて内部の真空気密性を調べた。その結果、実施例1
の真空気密容器はリークが認められなかった。これに対
し、比較例1の真空気密容器はリークによる真空度の低
下が認められた。また、実施例1および比較例1の真空
気密容器の封着部に赤色塗料を塗ってレッドチェックを
行った。その結果、実施例1の真空気密容器は空隙の発
生が認められなかった。これに対し、比較例1の真空気
密容器は絶縁容器と封着部の界面に空隙の発生が認めら
れた。さらに、実施例1および比較例1の真空気密容器
について封止金具を引張って封着部の破面を調べた。そ
の結果、実施例1の真空気密容器では接合界面に空隙の
発生が認められず、Ti偏析層が2μm形成されてい
た。これに対し、比較例1の真空気密容器では接合界面
に空隙の発生が認められた。
【0019】(実施例2)まず、Ag50.0モル%、
Cu41.7モル%、Ti8.3モル%の組成を有する
融液を作り、この融液を徐冷することによりTiがTi
単体およびCu4Tiの形態で含有する厚さ0.3mm
のリング状の封着ろう材を作製した。この封着ろう材
は、断面観察等によりCu4 Tiの体積率が33%であ
った。つづいて、外径44mm、内径39mm、高さ5
2mmの純度94%のアルミナ製の筒状絶縁容器の両端
面に前記封着ろう材を介して厚さ0.5mm、外径39
mm、高さ5mmのキャップ状をなすSUS304から
なる封止金具を当接させた。ひきつづき、これらの部材
を真空炉に入れ、6×10-4Paまで真空引きした後、
10K/分の昇温速度で1110Kまで昇温し、20分
間保持し、そのまま炉冷することにより絶縁容器の両端
面に封止金具が封着部に接合された真空気密容器を製造
した。
【0020】(比較例2)封着ろう材として実施例1と
同様な成分組成でアモルファス状態のAg、Cuおよび
Tiからなるものを用いた以外、実施例1と同様な方法
により真空気密容器を製造した。なお、前記アモルファ
ス状態の封着ろう材中にはTiがCu4 Tiの形態で存
在していなかった。
【0021】得られた実施例2および比較例2の真空気
密容器の封着部の形状を調べた。その結果、実施例2の
真空気密容器の封着部は前述した図3に示すような脚長
の形状をなし、かつその組織は一部実溶融のCu−Ti
化合物が存在するものの、リークパスとなり得る空隙が
認められなかった。これに対し、比較例2の真空気密容
器の封着部は前述した図5と同様に球根のような形状に
なり、絶縁容器の端面との接触面積が狭いものであっ
た。
【0022】実施例2および比較例2の真空気密容器に
ついて内部の真空気密性を調べた。その結果、実施例2
の真空気密容器はリークが認められなかった。これに対
し、比較例2の真空気密容器はリークによる真空度の低
下が認められた。また、実施例2および比較例2の真空
気密容器の封着部に赤色塗料を塗ってレッドチェックを
行った。その結果、実施例2の真空気密容器はクラック
の発生が認められなかった。これに対し、比較例2の真
空気密容器は絶縁容器と封着部の界面にクラックの発生
が認められた。さらに、実施例2および比較例2の真空
気密容器について封止金具を引張って封着部の破面を調
べた。その結果、実施例2の真空気密容器では接合界面
に空隙の発生が認められず、Ti偏析層が3μm形成さ
れていた。これに対し、比較例2の真空気密容器では接
合界面に空隙の発生が認められた。
【0023】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によればセ
ラミックからなる絶縁容器の開口端部への濡れ性が良好
な真空気密容器用封着ろう材を提供できる。本発明によ
れば、セラミックからなる絶縁容器の開口端部と金属か
らなる端板とを濡れ広がった脚長のろう材および前記開
口端部表面に形成したTi偏析層により強固により封着
することができ、絶縁容器の開口端部と端板と気密に接
合された信頼性の高い真空気密容器の製造方法を提供す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる封着ろう材の組織を示す模式
図。
【図2】本発明の真空気密容器の接合前の状態を示す断
面図。
【図3】図2の真空気密容器の接合後の状態を示す要部
断面図。
【図4】図2の封着部の組織を示す模式図。
【図5】比較例1により製造された真空気密容器の接合
後の状態を示す要部断面図。
【符号の説明】
1…Cu−Ti化合物、 2…Ag、 3…Cu、 11…絶縁容器、 12…封止金具、 16…Ti偏析層、 17…封着部。
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // H01H 33/66 H01H 33/66 F (72)発明者 滝川 りか 東京都府中市東芝町1番地 株式会社東芝 府中工場内 (72)発明者 丹羽 昭次 東京都府中市晴見町2丁目24番地の1 東 芝エフエーシステムエンジニアリング株式 会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 Ag−Cu−Tiからなり、Cu−Ti
    化合物が40体積%以下含まれることを特徴とする真空
    気密容器用封着用ろう材。
  2. 【請求項2】 セラミックからなる絶縁容器の開口端部
    にAg−Cu−Tiからなり、Cu−Ti化合物が40
    体積%以下含まれる封着用ろう材を介して金属からなる
    端板を当接させ、前記ろう材をAg−Cu共晶温度を越
    える温度で前記ろう材が接する前記絶縁容器表面に厚さ
    50nm以上のTi偏析層が形成されるまで加熱処理し
    て前記絶縁容器に前記端板を封着することを特徴とする
    真空気密容器の製造方法。
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