JPH09213887A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH09213887A
JPH09213887A JP1382496A JP1382496A JPH09213887A JP H09213887 A JPH09213887 A JP H09213887A JP 1382496 A JP1382496 A JP 1382496A JP 1382496 A JP1382496 A JP 1382496A JP H09213887 A JPH09213887 A JP H09213887A
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JP
Japan
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clock
wiring
semiconductor device
layer
hard macro
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Application number
JP1382496A
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English (en)
Inventor
Masuo Yamazaki
益男 山▲崎▼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体装置において、各回路の再配置のたび
にクロック分配の再設計をなくし、事前の性能予測を容
易にする。 【解決手段】 スタンダードセルの半導体装置1上で、
回路を構成およびクロック電源を供給するために複数の
配線を使用する場合に、規則的なパターンの固定クロッ
ク配線2によりハードマクロ3、ハードマクロ4、F/
F5,6からのクロック接続配線を接続することでクロ
ックを分配する。固定クロック配線2と接続ブロックで
あるハードマクロ3,4、F/F5,6のクロック入力
端子はスルーホール9で接続されている。ハードマクロ
3,4、F/F5,6は、第1層の信号配線7と、第2
層の信号配線8により回路構成のために接続されてい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は複数層の配線を有す
る半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のゲートアレー半導体装置では、図
3に示すように、ゲートアレー半導体装置15上に、ゲ
ートアレー領域18、ハードマクロ領域19上に構成さ
れたF/F20、ハードマクロ21があり、信号配線用
の1層、2層配線22、23により接続されたF/F2
0、ハードマクロ21へクロック供給するための信号配
線と同一層の1層、2層配線16、17でクロックが供
給されていた。
【0003】また、従来のスタンダードセル,フルカス
タム半導体装置では、図4に示すように、スタンダード
セル半導体装置24上にF/F27、ハードマクロ28
が配置され、信号配線用の1層、2層配線29、30に
よりF/F27、ハードマクロ28が接続されており、
クロックドライバ31信号配線と同一層の1層、2層ク
ロック配線25、26によりクロックが供給されてい
た。
【0004】特開平2−125663では、複数個のセ
ルの周辺に特定配線が自動的におかれ、必要に応じてセ
ルと接続する配線を自動的に配置していた。
【0005】特開昭63−304641では、固定され
たフリップフロップ列とクロックディストリビュータセ
ルが固定配置され、フリップフロップ側面にあらかじめ
準備された配線領域によりフリップフロップとクロック
ディストリビュータを接続していた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来のゲートアレー半
導体装置では、配線層を増やすと製造が難しくなるこ
と、または各LSIごとに最適設計をするために同一配
線層を信号配線とクロック分配のための配線に使用して
いるので、クロック配線により信号配線領域が減少し、
配線領域確保のために、半導体装置の集積度が低下して
いた。また、スタンダードセル,フルカスタムの半導体
装置は、半導体装置上の回路の再配置を行うたびにクロ
ック分配の再設計を行わなければならず、また、クロッ
ク分配配線が回路の再配置を行うたびに異なるため、配
置前に性能予測するのが困難であった。
【0007】本発明の目的は、各回路の再配置のたびに
クロック分配の再設計を行なう必要がなく、事前に性能
予測が容易な半導体装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は、
クロック信号分配用のクロック配線が専用の配線層に規
則的なパターンで形成され、前記クロック信号により機
能する回路と前記クロック配線を接続する接続ブロック
を有することを特徴とする。
【0009】信号配線とは別の配線層を使用して、規則
的な固定配線によりハードマクロ、F/Fへクロックを
分配することにより、スタンダードセル半導体装置では
各回路の再配置のたびにクロック供給の配線を設計する
必要がなく、ゲートアレー半導体装置では必要に応じて
クロックを自由に供給することができ、クロック配線が
信号層と異なるため、各回路をクロック配線に影響され
ず、自由に信号配線を引くことができ、クロック分配が
規則的な固定配線で構成されている半導体装置の性能予
測が容易である。
【0010】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。
【0011】図1は本発明の第1の実施形態の半導体装
置、特にスタンダードセル構造の半導体装置の平面図で
ある。
【0012】スタンダードセルの半導体装置1上で、回
路を構成およびクロック電源を供給するために複数の配
線を使用する場合に、規則的なパターンの固定クロック
配線2によりハードマクロ3、ハードマクロ4、F/F
5,6からのクロック接続配線を接続することでクロッ
クを分配する。固定クロック配線2と接続ブロックであ
るハードマクロ3,4、F/F5,6のクロック入力端
子はスルーホール9で接続されている。ハードマクロ
3,4、F/F5,6は、第1層の信号配線7と、第2
層の信号配線8により回路構成のために接続されてい
る。
【0013】図2は本発明の第2の実施形態の半導体装
置、特にゲートアレー半導体装置の平面図である。
【0014】ゲートアレー半導体装置10上で、回路を
構成およびクロック電源供給に複数の配線を使用する場
合に、固定クロック配線2が配置され、第1層配線下に
はゲート列11、F/F列12が作りこまれており、ゲ
ート列11、F/F列12で使用するF/F13へクロ
ックを、第3層の固定クロック配線2を用いてF/F1
3のクロック入力端子へスルーホール9で接続され、F
/F13間、およびゲート14間は、信号専用の第1層
配線7と、信号専用の第2層配線8により回路構成のた
めに接続されている。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、信号配線
とは別の配線層を使用して、規則的な固定配線によりハ
ードマクロ、F/Fへクロックを分配することにより、
スタンダードセル半導体装置では各回路の再配置のたび
にクロック供給の配線を設計する必要がなく、ゲートア
レーでは必要に応じてクロックを自由に供給することが
でき、クロック配線が信号層と異なるため、各回路をク
ロック配線に影響されず、自由に信号配線を引くことが
でき、クロック分配が規則的な固定配線で構成されてい
るため半導体装置の性能予測が容易で、ゲートアレー半
導体装置、スタンダードセル半導体装置、フルカスタム
装置のいずれにおいても性能を想定することが容易にで
きるという結果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のスタンダードセル半導体装置の平面図
である。
【図2】本発明のゲートアレー半導体装置の平面図であ
る。
【図3】従来のゲートアレー形半導体装置の平面図であ
る。
【図4】従来のスタンダードセル,フルカスタム半導体
装置の平面図である。
【符号の説明】
1 スタンダードセル半導体装置 2 第3層の固定クロック配線 3,4 ハードマクロ 5,6,13 F/F 7 第1層の信号専用配線 8 第2層の信号専用配線 9 第3層の固定クロック配線とハードマクロ、F/
Fのクロック入力端子接続用スルーホール 10 ゲートアレー半導体装置 11 ゲート配置列 12 F/F配置列 14 ゲート

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数層の配線を有するゲートアレー構造
    の半導体装置において、 クロック信号分配用のクロック配線が専用の配線層に規
    則的なパターンで形成され、前記クロック信号により機
    能する回路と前記クロック配線を接続する接続ブロック
    を有することを特徴とするゲートアレー構造の半導体装
    置。
  2. 【請求項2】 複数層の配線を有するスタンダードセ
    ル,フルカスタム構造の半導体装置において、 クロック信号分配用のクロック配線が専用の配線層に規
    則的なパターンで形成され、前記クロック信号により機
    能する回路と前記クロック配線を接続する接続ブロック
    を有することを特徴とするスタンダードセル,フルカス
    タム構造の半導体装置。
JP1382496A 1996-01-30 1996-01-30 半導体装置 Pending JPH09213887A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010050244A (ja) * 2008-08-21 2010-03-04 Nec Electronics Corp 自動配置配線方法
US8030797B2 (en) 2007-09-07 2011-10-04 Nec Corporation Apparatus, circuit and method of wiring for supplying power

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JPH05218201A (ja) * 1992-01-30 1993-08-27 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路

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