JPH09199385A - 半導体露光装置およびデバイス製造方法 - Google Patents

半導体露光装置およびデバイス製造方法

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JPH09199385A
JPH09199385A JP8021624A JP2162496A JPH09199385A JP H09199385 A JPH09199385 A JP H09199385A JP 8021624 A JP8021624 A JP 8021624A JP 2162496 A JP2162496 A JP 2162496A JP H09199385 A JPH09199385 A JP H09199385A
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JP
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equipment
input
ews
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semiconductor
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JP8021624A
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Seita Tazawa
成太 田澤
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Canon Inc
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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • GPHYSICS
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    • G03F7/70883Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of optical system
    • G03F7/70891Temperature

Abstract

(57)【要約】 【課題】 装置の状態と必要なコマンドとの関係を把
握、管理する煩雑さを解消するとともに、誤ったコマン
ドの実行を防止する。 【解決手段】 装置との間で情報の授受を行なうための
入出力手段102、103、104、105、およびこ
の入出力手段を介して入力される情報に基づいて露光処
理の実行および装置の駆動を行なう制御手段106を備
えた半導体製造装置において、前記入出力手段を介して
得られる装置の状態と必要なコマンドとの対応情報を記
憶する記憶手段を有し、装置の状態により必要なコマン
ド名を前記対応情報に基づいて、前述入出力手段を介し
て表示する。この表示コマンドから選択してコマンドを
入力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、LSI、VLSI
等の半導体デバイスを製造するための半導体露光装置お
よびデバイス製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、このような半導体製造装置では、
露光処理を実行するに際して、オペレータが実行するの
に必要なコマンド名を入力装置を介して入力することに
より露光処理を行なう。また、露光途中で、装置のエラ
ーまたは、アライメントのエラーにより装置が一時停止
する場合があり、この場合にも、オペレータが処理を継
続するのに必要なコマンド名を入力することにより、露
光処理が継続される。
【0003】したがって、オペレータは露光処理の実
行、継続のそれぞれに必要なコマンド名を記憶しておく
必要がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これに
よれば、露光処理の実行、継続においてそれぞれ必要な
コマンド名を記憶していなければならず、オペレータの
ミスにより誤ったコマンドを実行してしまう等の問題が
ある。
【0005】本発明の目的は、このような従来技術の問
題点に鑑み、装置の状態と必要なコマンドとの関係を把
握、管理する煩雑さを解消するとともに、誤ったコマン
ドの実行を防止することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
本発明の装置は、装置との間で情報の授受を行なうため
の入出力手段、およびこの入出力手段を介して入力され
る情報に基づいて露光処理の実行および装置の駆動を行
なう制御手段を備えた半導体製造装置において、前記入
出力手段を介して得られる装置の状態と必要なコマンド
との対応情報を記憶する記憶手段を有し、装置の状態に
より必要なコマンド名を前記対応情報に基づいて、前述
入出力手段を介して表示することを特徴とする。
【0007】また本発明の方法は、装置との間で情報の
授受を行なうための入出力手段、およびこの入出力手段
を介して入力される情報に基づいて露光処理の実行およ
び装置の駆動を行なう制御手段を備えた半導体露光装置
を用いて半導体デバイスを製造するデバイス製造方法に
おいて、前記入力手段を介して得られる装置の状態と、
それに対応したコマンド名を記憶し、これに基づいて、
装置の状態により必要なコマンド名を前記入出力手段を
介して表示し、この表示コマンドから選択してコマンド
を入力することを特徴とする。
【0008】これによれば、表示されたコマンドをオペ
レータが入力することにより、オペレータはコマンド名
を覚えていなくても操作が可能であり、誤った操作も回
避できる。
【0009】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の一実施形態に係
わる半導体露光装置の外観を示す斜視図である。同図に
示すように、この半導体露光装置は、装置本体の制御を
行なうCPUを有するEWS本体106、ならびに、装
置における所定の情報を表示するEWS用ディスプレイ
装置102、装置本体において撮像手段を介して得られ
る画像情報を表示するモニタTV105、装置に対し所
定の入力を行なうための操作パネル103、EWS用キ
ーボード104等を含むコンソール部を備えている。図
中、107はON−OFFスイッチ、108は非常停止
スイッチ、109は各種スイッチ、マウス等、110は
LAN通信ケーブル、111はコンソール部からの発熱
の排気ダクト、そして112はチャンバの排気装置であ
る。半導体露光装置本体はチャンバ101の内部に設置
される。
【0010】EWS用ディスプレイ102は、EL、プ
ラズマ、液晶等の薄型のフラットタイプのものであり、
チャンバ101全面に納められ、LANケーブル110
によりEWS本体106と接続される。操作パネル10
3、キーボード104、モニタTV105等もチャンバ
101前面に設置し、チャンバ101前面から従来と同
様のコンソール操作が行なえるようにしてある。
【0011】図2は、図1の装置の内部構造を示す図で
ある。同図においては、半導体露光装置としてのステッ
パが示されている。図中、202はレチクル、203は
ウエハであり、光源装置204から出た光束が照明光学
系205を通ってレチクル202を照明するとき、投影
レンズ206によりレチクル202上のパターンをウエ
ハ203上の感光層に転写することができる。レチクル
202はレチクル202を保持、移動するためのレチク
ルステージ207により支持されている。ウエハ203
はウエハチャック291により真空吸着された状態で露
光される。ウエハチャック291はウエハステージ20
9により各軸方向に移動可能である。レチクル202の
上側にはレチクルの位置ずれ量を検出するためのレチク
ル光学系281が配置される。ウエハステージ209の
上方に、投影レンズ206に隣接してオフアクシス顕微
鏡282が配置されている。オフアクシス顕微鏡282
は内部の基準マークとウエハ203上のアライメントマ
ークとの相対位置検出を行なうのが主たる役割である。
また、これらステッパ本体に隣接して周辺装置であるレ
チクルライブラリ220やウエハキャリアエレベータ2
30が配置され、必要なレチクルやウエハはレチクル搬
送装置221およびウエハ搬送装置231によって本体
に搬送される。
【0012】チャンバ101は、主に空気の温度調節を
行なう空調装置210および微小異物を濾過し、清浄空
気の均一な流れを形成するフィルタボックス213、ま
た装置環境を外部と遮断するブース214で構成されて
いる。チャンバ101内では、空調機室210内にある
冷却器215および再熱ヒーター216により温度調節
された空気が、送風機217によりエアフィルタgを介
してブース214内に供給される。このブース214に
供給された空気はリターン口raより再度空調機室21
0に取り込まれチャンバ101内を循環する。通常、こ
のチャンバ101は厳密には完全な循環系ではなく、ブ
ース214内を常時陽圧に保つため循環空気量の約1割
のブース214外の空気を空調機室210に設けられた
外気導入口oaより送風機を介して導入している。この
ようにしてチャンバ101は本装置の置かれる環境温度
を一定に保ち、かつ空気を清浄に保つことを可能にして
いる。また光源装置204には超高圧水銀灯の冷却やレ
ーザ異常時の有毒ガス発生に備えて吸気口saと排気口
eaが設けられ、ブース214内の空気の一部が光源装
置204を経由し、空調機室210に備えられた専用の
排気ファンを介して工場設備に強制排気されている。ま
た、空気中の化学物質を除去するための化学吸着フィル
タcfを、空調機室210の外気導入口oaおよびリタ
ーン口raにそれぞれ接続して備えている。
【0013】図3は、図1の装置の電気回路構成を示す
ブロック図である。同図において、321は装置全体の
制御を司る。前記EWS本体106に内蔵された本体C
PUであり、マイクロコンピュータまたはミニコンピュ
ータ等の中央演算処理装置からなる。322はウエハス
テージ駆動装置、323は前記オフアクシス顕微鏡28
2等のアライメント検出系、324はレチクルステージ
駆動装置、325は前記光源装置204等の照明系、3
26はシャッタ駆動装置、327はフォーカス検出系、
328はZ駆動装置であり、これらは、本体CPU32
1により制御される。329は前記レチクル搬送装置2
21、ウエハ搬送装置231等の搬送系である。330
は前記ディスプレイ102、キーボード104等を有す
るコンソールユニットであり、本体CPU321にこの
露光装置の動作に関する各種のコマンドやパラメータを
与えるためのものである。すなわち、オペレータとの間
で情報の授受を行なうためのものである。331はコン
ソールCPU、332はパラメータ等を記憶する外部メ
モリである。
【0014】図4は本装置による処理を示すフローチャ
ートである。また、図5〜図8はこの処理において、デ
ィスプレイ102に表示される画面の様子を示す。これ
らの図を参照し、動作を説明する。
【0015】まず、装置がスタート待ちの状態(ステッ
プ401)において、図5に示されるスタート画面上
で、スタートボタン51を押下して処理をスタートする
と(ステップ405)、装置はアライメントを行なうた
めに一時停止状態となる(ステップ402)。また、装
置からのステータス情報により画面(図6)にはアライ
メント状態を示すステータス60を表示するとともに、
このステータスをキーとして、図9に示されるようなス
テータス、コマンド対応表よりこの状態で必要なコマン
ド名62を検索し表示する(ステップ406)。この図
6の画面上で、アライメントボタン61を押下すること
により、アライメントを行ない、装置は露光を開始する
(ステップ403)。これと同時に、装置からのステー
タス情報により画面(図7)には露光中を示すステータ
ス70と、露光中に使用可能なコマンド73、74が表
示される(ステップ407)。そこで、露光を中断した
い場合は、ストップボタン71を押下することにより装
置が停止する(ステップ404)。すると、装置からの
ステータス情報により、画面(図8)には停止中を示す
ステータス80と使用可能なコマンド82が表示される
(ステップ408)。露光を再開したい場合はコンティ
ニューボタン81を押下することにより、露光を再開
し、露光が終了すると再びスタート待ち状態(ステップ
401)になり、画面も、スタート待ちのステータスと
スタートボタンを示す画面(図5)になる(ステップ4
05)。
【0016】
【発明の効果】本発明によれば、装置の状態により必要
なコマンドを表示するようにしたため、オペレータが装
置を熟知していなくても、操作が可能であり、装置を誤
って動作させることも防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態に係わる半導体製造装置
の外観を示す斜視図である。
【図2】 図1の装置の内部構造を示すブロック図であ
る。
【図3】 図1の装置の電気回路構成を示すブロック図
である。
【図4】 図1の装置の露光処理を示すフローチャート
である。
【図5】 図1の装置におけるスタート待ち状態の画面
の図である
【図6】 図1の装置におけるアライメント待ち状態の
画面の図である。
【図7】 図1の装置における露光状態の画面の図であ
る。
【図8】 図1の装置におけるコンティニュー待ち状態
の画面の図である。
【図9】 図1の装置におけるステータス・コマンド対
応表である。
【符号の説明】
101:温調チャンバ、102:EWS用ディスプレイ
装置、103:操作パネル、104:EWS用キーボー
ド、105:モニタTV、106:EWS本体、10
7:ON−OFFスイッチ、108:非常停止スイッ
チ、109:各種スイッチ、マウス等、110:LAN
通信ケーブル、111:排気ダクト、112:排気装
置、202:レチクル、203:ウエハ、204:光源
装置、205:照明光学系、206:投影レンズ、20
7:レチクルステージ、209:ウエハステージ、28
1:レチクル顕微鏡、282:オフアクシス顕微鏡、2
10:空調機室、213:フィルタボックス、214:
ブース、217:送風機、g:エアフィルタ、cf:化
学吸着フィルタ、oa:外気導入口、ra:リターン
口、321:本体CPU、330:コンソール、33
1:コンソールCPU、332:外部メモリ、51,6
1,71,72,81:ボタン。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 装置との間で情報の授受を行なうための
    入出力手段、およびこの入出力手段を介して入力される
    情報に基づいて露光処理の実行および装置の駆動を行な
    う制御手段を備えた半導体製造装置において、前記入出
    力手段を介して得られる装置の状態と必要なコマンドと
    の対応情報を記憶する記憶手段を有し、装置の状態によ
    り必要なコマンド名を前記対応情報に基づいて、前述入
    出力手段を介して表示することを特徴とする半導体製造
    装置。
  2. 【請求項2】 装置との間で情報の授受を行なうための
    入出力手段、およびこの入出力手段を介して入力される
    情報に基づいて露光処理の実行および装置の駆動を行な
    う制御手段を備えた半導体露光装置を用いて半導体デバ
    イスを製造するデバイス製造方法において、前記入力手
    段を介して得られる装置の状態と、それに対応したコマ
    ンド名を記憶し、これに基づいて、装置の状態により必
    要なコマンド名を前記入出力手段を介して表示し、この
    表示コマンドから選択してコマンドを入力することを特
    徴とするデバイス製造方法。
JP8021624A 1996-01-16 1996-01-16 半導体露光装置およびデバイス製造方法 Pending JPH09199385A (ja)

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Effective date: 20040114