JPH09161493A - 書換え可能な不揮発性メモリの管理方法 - Google Patents
書換え可能な不揮発性メモリの管理方法Info
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- JPH09161493A JPH09161493A JP32451095A JP32451095A JPH09161493A JP H09161493 A JPH09161493 A JP H09161493A JP 32451095 A JP32451095 A JP 32451095A JP 32451095 A JP32451095 A JP 32451095A JP H09161493 A JPH09161493 A JP H09161493A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 書換え可能な不揮発性メモリの管理方法に関
し、このメモリへの書込み中にバッテリー電源の外れ等
による電源断に起因するデータの誤書込みがあったとき
にこれを検知できるようにすることを目的とする。 【解決手段】 車両に搭載され、複数の特定データにつ
いての書込み／読出しが行われるメモリ１２においてそ
のメモリ１２内の一部に検査領域３１を形成し、該検査
領域３１内に特定の検査情報をセットし、この検査情報
を監視してこれに変化があるとき、データの誤書込みが
あったことを検知する。
し、このメモリへの書込み中にバッテリー電源の外れ等
による電源断に起因するデータの誤書込みがあったとき
にこれを検知できるようにすることを目的とする。 【解決手段】 車両に搭載され、複数の特定データにつ
いての書込み／読出しが行われるメモリ１２においてそ
のメモリ１２内の一部に検査領域３１を形成し、該検査
領域３１内に特定の検査情報をセットし、この検査情報
を監視してこれに変化があるとき、データの誤書込みが
あったことを検知する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は書換え可能な不揮発
性メモリの管理方法に関する。電子制御ユニット（ＥＣ
Ｕ）を備える車両においては、そのユニット内にメモリ
が設けられる。その代表はプログラムを格納するＲＯＭ
（Ｒｅａｄ ＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）であり、データの
一時格納を行うＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ
Ｍｅｍｏｒｙ）である。
性メモリの管理方法に関する。電子制御ユニット（ＥＣ
Ｕ）を備える車両においては、そのユニット内にメモリ
が設けられる。その代表はプログラムを格納するＲＯＭ
（Ｒｅａｄ ＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ）であり、データの
一時格納を行うＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ
Ｍｅｍｏｒｙ）である。
【０００２】そしてさらに近年はＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅ
ｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ ａｎｄ Ｐｒ
ｏｇｒａｍｍａｂｌｅ ＲＯＭ）も、ユニット内のメモ
リとして使用されるようになっている。このＥＥＰＲＯ
Ｍは、バッテリー電源が断になっても、バックアップな
しにその中の書込みデータを保持できるものであり、一
種のＲＯＭであるが、また同時に電気的に内容を書き換
えることもできるＲＡＭでもある。すなわち書換え可能
な不揮発性メモリであって、ＥＥＰＲＯＭの他にフラッ
シュメモリ等もこれに該当する。
ｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ ａｎｄ Ｐｒ
ｏｇｒａｍｍａｂｌｅ ＲＯＭ）も、ユニット内のメモ
リとして使用されるようになっている。このＥＥＰＲＯ
Ｍは、バッテリー電源が断になっても、バックアップな
しにその中の書込みデータを保持できるものであり、一
種のＲＯＭであるが、また同時に電気的に内容を書き換
えることもできるＲＡＭでもある。すなわち書換え可能
な不揮発性メモリであって、ＥＥＰＲＯＭの他にフラッ
シュメモリ等もこれに該当する。
【０００３】このような書換え可能な不揮発性メモリ
（以下、ＥＥＰＲＯＭとも称す）が要望されるのは、当
該車両に関する制御パラメータの学習制御における学習
値や、各種診断情報や、走行累積距離情報等々を、バッ
クアップなしに保存したいという要請があるからであ
る。本発明はかかるＥＥＰＲＯＭの管理方法について述
べるものである。
（以下、ＥＥＰＲＯＭとも称す）が要望されるのは、当
該車両に関する制御パラメータの学習制御における学習
値や、各種診断情報や、走行累積距離情報等々を、バッ
クアップなしに保存したいという要請があるからであ
る。本発明はかかるＥＥＰＲＯＭの管理方法について述
べるものである。
【０００４】
【従来の技術】図１７は一般的な電子制御ユニットの構
成例を示す図である。本図の１０は、車両のエンジン
（図示せず）等を電子的に制御する電子制御ユニット
（ＥＣＵ）であり、本発明に係る書換え可能な不揮発性
メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）は、好ましくはこのＥＣＵ１０
内に設けられる。これがＥＥＰＲＯＭ１２である。この
ＥＥＰＲＯＭ１２に対する書込みや読出しは、バスを介
し、マイクロプロセッサ（μＰ）１１によって行われ
る。
成例を示す図である。本図の１０は、車両のエンジン
（図示せず）等を電子的に制御する電子制御ユニット
（ＥＣＵ）であり、本発明に係る書換え可能な不揮発性
メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）は、好ましくはこのＥＣＵ１０
内に設けられる。これがＥＥＰＲＯＭ１２である。この
ＥＥＰＲＯＭ１２に対する書込みや読出しは、バスを介
し、マイクロプロセッサ（μＰ）１１によって行われ
る。
【０００５】なおバスにはこの他、前述したＲＯＭ１４
およびＲＡＭ１５や、上記エンジン等からのセンサ出力
を収集する入力ポート１６や、収集した該センサ出力に
対しμＰ１１にて演算処理を行って得た制御出力を、上
記エンジン等に与える出力ポート１７等がマルチドロッ
プ形式で持続される。本発明は後述するようにバッテリ
ー電源の外れ等の電源断に起因する問題について述べる
ので、本図では特に電源系統について一層具体的に表し
ている。すなわち、μＰ１１とＥＥＰＲＯＭ１２には、
安定化電源回路等を含む電源回路１３を介してバッテリ
ー電源（＋Ｂ）２１から電源が供給される。またバッテ
リー電源２１にはメインリレー２２やイグニッションス
イッチ（ＩＧＳＷ）２３も接続する。
およびＲＡＭ１５や、上記エンジン等からのセンサ出力
を収集する入力ポート１６や、収集した該センサ出力に
対しμＰ１１にて演算処理を行って得た制御出力を、上
記エンジン等に与える出力ポート１７等がマルチドロッ
プ形式で持続される。本発明は後述するようにバッテリ
ー電源の外れ等の電源断に起因する問題について述べる
ので、本図では特に電源系統について一層具体的に表し
ている。すなわち、μＰ１１とＥＥＰＲＯＭ１２には、
安定化電源回路等を含む電源回路１３を介してバッテリ
ー電源（＋Ｂ）２１から電源が供給される。またバッテ
リー電源２１にはメインリレー２２やイグニッションス
イッチ（ＩＧＳＷ）２３も接続する。
【０００６】このうちメインリレー２２はＥＥＰＲＯＭ
１２にとって重要な役割を果す。このＥＥＰＲＯＭ１２
は電源なしに（バックアップなしに）、前述した学習値
や診断情報等の車両に関する特定データを保存できるも
のであるが、その特定データの書込みや読出し時には当
然電源を必要とする。この場合、特にその特定データの
書込み時に上記の電源が断になったとすると、ＥＥＰＲ
ＯＭ１２に対する特定データの誤書込みというきわめて
重大な問題を生ずる。
１２にとって重要な役割を果す。このＥＥＰＲＯＭ１２
は電源なしに（バックアップなしに）、前述した学習値
や診断情報等の車両に関する特定データを保存できるも
のであるが、その特定データの書込みや読出し時には当
然電源を必要とする。この場合、特にその特定データの
書込み時に上記の電源が断になったとすると、ＥＥＰＲ
ＯＭ１２に対する特定データの誤書込みというきわめて
重大な問題を生ずる。
【０００７】そこでメインリレー２２はＥＥＰＲＯＭ１
２に対し次のように作用する。まず、ＩＧＳＷ２３をオ
ンにすると、ＯＲゲート１８を介しメインリレー２２が
励磁され、その接点をオンにする。そうすると、この接
点を通して、かつ、電源回路１３を介して、μＰ１１と
ＥＥＰＲＯＭ１２に電源が供給される。これを受けてμ
Ｐ１１はＯＲゲート１８に電源オン信号を継続的に印加
し、ＩＧＳＷ２３がオフになったとしてもメインリレー
２２を励磁し続ける。
２に対し次のように作用する。まず、ＩＧＳＷ２３をオ
ンにすると、ＯＲゲート１８を介しメインリレー２２が
励磁され、その接点をオンにする。そうすると、この接
点を通して、かつ、電源回路１３を介して、μＰ１１と
ＥＥＰＲＯＭ１２に電源が供給される。これを受けてμ
Ｐ１１はＯＲゲート１８に電源オン信号を継続的に印加
し、ＩＧＳＷ２３がオフになったとしてもメインリレー
２２を励磁し続ける。
【０００８】前述のとおり、車両に関する特定データを
ＥＥＰＲＯＭ１２に書き込むときは、その書込みが終る
までＥＥＰＲＯＭ１２に対する電源の供給が保証されて
いなければならない。前述したデータの誤書込みを生じ
させないためである。そこで少なくともμＰ１１がＥＥ
ＰＲＯＭ１２にデータの書込みを行っているときは、そ
の書込みが終了するまで、既述の電源オン信号をＯＲゲ
ート１８に印加し続け、仮にＩＧＳＷ２３がオフになっ
たとしても、メインリレー２２の接点をオンにしたまま
とし、ＥＥＰＲＯＭ１２への書込みが終了したときに初
めてμＰ１１は電源オン信号を解除するようにし、デー
タの書込み中には電源を落さない、という構成になって
いる。
ＥＥＰＲＯＭ１２に書き込むときは、その書込みが終る
までＥＥＰＲＯＭ１２に対する電源の供給が保証されて
いなければならない。前述したデータの誤書込みを生じ
させないためである。そこで少なくともμＰ１１がＥＥ
ＰＲＯＭ１２にデータの書込みを行っているときは、そ
の書込みが終了するまで、既述の電源オン信号をＯＲゲ
ート１８に印加し続け、仮にＩＧＳＷ２３がオフになっ
たとしても、メインリレー２２の接点をオンにしたまま
とし、ＥＥＰＲＯＭ１２への書込みが終了したときに初
めてμＰ１１は電源オン信号を解除するようにし、デー
タの書込み中には電源を落さない、という構成になって
いる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上述した図１７につい
ての説明からすると、少なくともＥＥＰＲＯＭ１２への
特定データの書込み中には電源の供給が保証され、デー
タの誤書込みは生じ得ない筈である。ところが、車両が
置かれる環境は広範に及び通常では考えられない事態も
起こり得る。その代表的なものはバッテリー電源２１の
外れであり、図１７の電源端子２４において生ずる可能
性が高い。例えば振動の激しいオフロード走行中には、
意図せずにバッテリー電源２１の外れが起こり得る。こ
のときＥＥＰＲＯＭ１２へのデータの書込みがあれば、
データの誤書込みとなる可能性がある。
ての説明からすると、少なくともＥＥＰＲＯＭ１２への
特定データの書込み中には電源の供給が保証され、デー
タの誤書込みは生じ得ない筈である。ところが、車両が
置かれる環境は広範に及び通常では考えられない事態も
起こり得る。その代表的なものはバッテリー電源２１の
外れであり、図１７の電源端子２４において生ずる可能
性が高い。例えば振動の激しいオフロード走行中には、
意図せずにバッテリー電源２１の外れが起こり得る。こ
のときＥＥＰＲＯＭ１２へのデータの書込みがあれば、
データの誤書込みとなる可能性がある。
【００１０】あるいはそのような電源外れが意図的に生
ずることも考えておかなければならない。例えば車両の
スイッチをＡＣＣ（アクセサリー）にしたままで、わざ
と電源端子２４を外せばＥＥＰＲＯＭ１２への特定デー
タの書込み中にデータの誤書込みを故意に生じさせるこ
とができる。通常は考え難いことではあるが、累積走行
距離を零にリセットしたいというようなときには、起こ
り得ることである。
ずることも考えておかなければならない。例えば車両の
スイッチをＡＣＣ（アクセサリー）にしたままで、わざ
と電源端子２４を外せばＥＥＰＲＯＭ１２への特定デー
タの書込み中にデータの誤書込みを故意に生じさせるこ
とができる。通常は考え難いことではあるが、累積走行
距離を零にリセットしたいというようなときには、起こ
り得ることである。
【００１１】意図的であれ、非意図的であれ、もしＥＥ
ＰＲＯＭ１２への特定データの書込み中にバッテリー電
源の外れが生ずれば、明らかにＥＥＰＲＯＭ１２内には
データエラーが生ずる。このこと事態を完全に回避する
ことはきわめて困難であるにもかかわらず、従来はμＰ
１１がそのデータエラーを検知できず、ＥＥＰＲＯＭ１
２内のデータが正しいか否かの確認ができないという問
題があった。
ＰＲＯＭ１２への特定データの書込み中にバッテリー電
源の外れが生ずれば、明らかにＥＥＰＲＯＭ１２内には
データエラーが生ずる。このこと事態を完全に回避する
ことはきわめて困難であるにもかかわらず、従来はμＰ
１１がそのデータエラーを検知できず、ＥＥＰＲＯＭ１
２内のデータが正しいか否かの確認ができないという問
題があった。
【００１２】本発明は上記問題点に鑑み、バッテリー電
源の外れ等に起因してＥＥＰＲＯＭ１２にデータの誤書
込みがあったとき、当該データエラーの発生を確認する
ことのできるＥＥＰＲＯＭの管理方法を提供することを
目的とするものである。また、そのようなデータエラー
が発生したときこれに対処するための管理方法を提供す
ることを目的とするものである。
源の外れ等に起因してＥＥＰＲＯＭ１２にデータの誤書
込みがあったとき、当該データエラーの発生を確認する
ことのできるＥＥＰＲＯＭの管理方法を提供することを
目的とするものである。また、そのようなデータエラー
が発生したときこれに対処するための管理方法を提供す
ることを目的とするものである。
【００１３】さらにまた、そのようなデータエラーの発
生の確率を低減するための管理方法を提供することを目
的とするものである。
生の確率を低減するための管理方法を提供することを目
的とするものである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の基本構成
を表す図である。本図において、１２は前述したＥＥＰ
ＲＯＭであり、そのデータ領域３０には複数の前述した
特定データ（１，２…Ｎ）が保存される。本発明におい
ては、ＥＥＰＲＯＭ１２内に、データ領域３０の他に検
査領域３１を形成する。そして、この検査領域３１に検
査情報をセットすると共に、ＥＥＰＲＯＭ１２の検査に
おいてセットされた該検査情報を監視するための判定手
段３２を備える。なお、この判定手段３２は、単体の論
理回路として構成することもできるが、好ましくはマイ
クロプロセッサ（μＰ）１１内にソフトウェアとして形
成される。
を表す図である。本図において、１２は前述したＥＥＰ
ＲＯＭであり、そのデータ領域３０には複数の前述した
特定データ（１，２…Ｎ）が保存される。本発明におい
ては、ＥＥＰＲＯＭ１２内に、データ領域３０の他に検
査領域３１を形成する。そして、この検査領域３１に検
査情報をセットすると共に、ＥＥＰＲＯＭ１２の検査に
おいてセットされた該検査情報を監視するための判定手
段３２を備える。なお、この判定手段３２は、単体の論
理回路として構成することもできるが、好ましくはマイ
クロプロセッサ（μＰ）１１内にソフトウェアとして形
成される。
【００１５】本図の構成における動作は一例として次の
とおりである。判定手段３２は、ＥＥＰＲＯＭ１２への
特定データの書込み（あるいは旧特定データの新特定デ
ータへの書換え）がμＰ１１より指示されると、まず検
査領域３１内の検査情報として論理“１”をセットする
ものとする。その後、上記の特定データの書込みがデー
タ領域３０に対して行われこれが正常に終了すると、上
記検査情報（“１”）を“０”にリセットするものとす
る。
とおりである。判定手段３２は、ＥＥＰＲＯＭ１２への
特定データの書込み（あるいは旧特定データの新特定デ
ータへの書換え）がμＰ１１より指示されると、まず検
査領域３１内の検査情報として論理“１”をセットする
ものとする。その後、上記の特定データの書込みがデー
タ領域３０に対して行われこれが正常に終了すると、上
記検査情報（“１”）を“０”にリセットするものとす
る。
【００１６】その後、上述したデータの誤書込みの有無
を知るため、ＥＥＰＲＯＭの検査を行うが、このために
判定手段３２より監視を行う。この監視では該検査情報
に変化があったか否かを調べるという操作が行われる。
上記の場合、一旦“１”にセットされた検査情報が、上
記の監視において“０”になっていることが確認されれ
ば、上記のデータの書込み中に、ＥＥＰＲＯＭ１２にバ
ッテリー電源外れ等による電源断は生じなかったものと
判断され、したがってデータの誤込みはないものと判定
される。
を知るため、ＥＥＰＲＯＭの検査を行うが、このために
判定手段３２より監視を行う。この監視では該検査情報
に変化があったか否かを調べるという操作が行われる。
上記の場合、一旦“１”にセットされた検査情報が、上
記の監視において“０”になっていることが確認されれ
ば、上記のデータの書込み中に、ＥＥＰＲＯＭ１２にバ
ッテリー電源外れ等による電源断は生じなかったものと
判断され、したがってデータの誤込みはないものと判定
される。
【００１７】こんどは上記の場合に、問題とする上記電
源断が生じたものとする。まず判定手段３２は上述のと
おり検査領域３１に“１”をセットする。引き続き、特
定データの書込みがデータ領域３０に対して開始する。
この特定データの書込みは例えば図１の１，２…Ｎの順
に実行される。仮に特定データ１，２…と書込みを行っ
た後、電源断が発生したとする。そうすると、判定手段
３２はデータ書込みの開始に先立ってセットした検査情
報の“１”をリセットしない。あるいは電源断のため
に、検査情報の“１”をリセット不能になる。いずれに
せよ、検査領域３１の検査情報は“１”になったままで
ある。
源断が生じたものとする。まず判定手段３２は上述のと
おり検査領域３１に“１”をセットする。引き続き、特
定データの書込みがデータ領域３０に対して開始する。
この特定データの書込みは例えば図１の１，２…Ｎの順
に実行される。仮に特定データ１，２…と書込みを行っ
た後、電源断が発生したとする。そうすると、判定手段
３２はデータ書込みの開始に先立ってセットした検査情
報の“１”をリセットしない。あるいは電源断のため
に、検査情報の“１”をリセット不能になる。いずれに
せよ、検査領域３１の検査情報は“１”になったままで
ある。
【００１８】ＥＥＰＲＯＭ１２の検査において、判定手
段３２は検査領域３１にアクセスし、検査情報を監視す
るがこのとき“０”にリセットされるべき検査情報が
“１”になったままであり、ここに判定手段３２はデー
タの誤書込みあり（有）と判定する。
段３２は検査領域３１にアクセスし、検査情報を監視す
るがこのとき“０”にリセットされるべき検査情報が
“１”になったままであり、ここに判定手段３２はデー
タの誤書込みあり（有）と判定する。
【００１９】
【発明の実施の形態】形態１ 車両に搭載され該車両に関する複数の特定データについ
ての書込みまたは読出しが行われる書換え可能な不揮発
性メモリを管理するための方法であって、まず 特定データの書込みを行うときに、ＥＥＰＲＯＭ１２
内に形成された検査領域３１に対し、書込みの実行を示
す書込み実行表示フラグをセットする。特定データの
書込みが正常に終了したときに、検査領域３１に対し、
書込み実行表示フラグに代えて、書込みの終了を示す書
込み終了表示フラグをセットする。ＥＥＰＲＯＭ１２
の検査において、検査領域３１をチェックし、書込み実
行表示フラグがセットされたままであるとき、ＥＥＰＲ
ＯＭ１２に対して特定データの書込み異常があったもの
と判定するようにする。形態２ 検査領域３１を、複数の特定データの各々に対応させ
て、ＥＥＰＲＯＭ１２内に複数形成し、上記の検査を、
複数の特定データについて個別に行うようにする。形態３ 複数の特定データの書込みを行うときに、複数の特定
データの各々と対にしてＥＥＰＲＯＭ１２内に複数形成
された各検査領域３１に対し、対応する特定データにそ
れぞれ関連付けた検査データを、各特定データの書込み
毎にセットする 。上記の検査において、各検査領域３１内の検査デー
タと、これと対をなす対応の特定データとの間に上記の
関連がないとき、特定データの書込み異常があったもの
と判定するようにする。形態４ 前述した複数の特定データの書込みを行うに際し、この
書込みに先行して全ての特定データおよび検査データを
初期化しておくようにする。形態５ 複数の特定データの書込みを行うときに、これら複数
の特定データの各々の書込みが順次終了する毎に、ＥＥ
ＰＲＯＭ１２内に形成された検査領域３１に対し、１ず
つ歩進する計数値をセットする。ＥＥＰＲＯＭ１２の
検査において、検査領域３１をチェックし、順次に検査
される複数の特定データのうち、上記計数値に相当する
順番に位置する特定データに書込み異常があったものと
判定するようにする。形態６ 特定データの書込みが全て正常に終了したときに、検査
領域３１に対し、書込みの終了を示す書込み終了キーワ
ードをセットする。前記の検査において、検査領域３
１をチェックし、（ｉ）検査終了を表示する検査終了キ
ーワードがセットされていないときに、書込み表示キー
ワードが予め定めたデータパターンと一致するときは、
特定データの書込み異常がなかったものと判定し、か
つ、検査領域３１に該検査終了キーワードをセットし、
（ii）該検査終了キーワードがセットされていないとき
に、書込み終了キーワードが予め定めたデータパターン
と一致しないときは、特定データの書込み異常があった
ものと判定するようにする。 形態７ 複数の特定データの書込みを行うときに、これら複数
の特定データの各々と対にして複数形成された各検査領
域３１に対し、書込みの終了を示す書込み終了キーワー
ドをそれぞれ各特定データの書込み毎にセットする。
上記の検査において、検査領域３１をチェックし、
（ｉ）検査終了を表示する検査終了キーワードがセット
されていないときに、各特定データと対をなす書込み終
了キーワードが予め定めたデータパターンと一致すると
きは、当該一致する特定データの書込み異常はなかった
ものと判定し、かつ、検査領域３１に検査終了キーワー
ドをセットし、（ii）この検査終了キーワードがセット
されていないときに、各特定データと対をなす書込み終
了キーワードが予め定めたデータパターンと一致しない
ときは、当該一致しない特定データに書込み異常があっ
たものと判定するようにする。形態８ 上記の諸形態において、特定データの少なくとも１つに
書込み異常があったものと判定されたとき、全ての特定
データを初期化するようにする。形態９ 上記の諸形態において、特定データの書込み異常があっ
たものと判定されたとき、当該異常に係る特定データの
みを初期化するようにする。形態１０ 上記の諸形態において、複数の特定データの書込みを行
うに際し、各特定データに対して書換えを行おうとして
いる新たな特定データと現特定データとの間に相違があ
るときのみ、全ての特定データに対する書換えを行うよ
うにする。形態１１ 複数の特定データの書込みを行うに際し、各特定データ
に対して書換えを行おうとしている新たな特定データと
現特定データとの間に相違があるときのみ、当該相違の
ある特定データについての書換えを行うようにする。
ての書込みまたは読出しが行われる書換え可能な不揮発
性メモリを管理するための方法であって、まず 特定データの書込みを行うときに、ＥＥＰＲＯＭ１２
内に形成された検査領域３１に対し、書込みの実行を示
す書込み実行表示フラグをセットする。特定データの
書込みが正常に終了したときに、検査領域３１に対し、
書込み実行表示フラグに代えて、書込みの終了を示す書
込み終了表示フラグをセットする。ＥＥＰＲＯＭ１２
の検査において、検査領域３１をチェックし、書込み実
行表示フラグがセットされたままであるとき、ＥＥＰＲ
ＯＭ１２に対して特定データの書込み異常があったもの
と判定するようにする。形態２ 検査領域３１を、複数の特定データの各々に対応させ
て、ＥＥＰＲＯＭ１２内に複数形成し、上記の検査を、
複数の特定データについて個別に行うようにする。形態３ 複数の特定データの書込みを行うときに、複数の特定
データの各々と対にしてＥＥＰＲＯＭ１２内に複数形成
された各検査領域３１に対し、対応する特定データにそ
れぞれ関連付けた検査データを、各特定データの書込み
毎にセットする 。上記の検査において、各検査領域３１内の検査デー
タと、これと対をなす対応の特定データとの間に上記の
関連がないとき、特定データの書込み異常があったもの
と判定するようにする。形態４ 前述した複数の特定データの書込みを行うに際し、この
書込みに先行して全ての特定データおよび検査データを
初期化しておくようにする。形態５ 複数の特定データの書込みを行うときに、これら複数
の特定データの各々の書込みが順次終了する毎に、ＥＥ
ＰＲＯＭ１２内に形成された検査領域３１に対し、１ず
つ歩進する計数値をセットする。ＥＥＰＲＯＭ１２の
検査において、検査領域３１をチェックし、順次に検査
される複数の特定データのうち、上記計数値に相当する
順番に位置する特定データに書込み異常があったものと
判定するようにする。形態６ 特定データの書込みが全て正常に終了したときに、検査
領域３１に対し、書込みの終了を示す書込み終了キーワ
ードをセットする。前記の検査において、検査領域３
１をチェックし、（ｉ）検査終了を表示する検査終了キ
ーワードがセットされていないときに、書込み表示キー
ワードが予め定めたデータパターンと一致するときは、
特定データの書込み異常がなかったものと判定し、か
つ、検査領域３１に該検査終了キーワードをセットし、
（ii）該検査終了キーワードがセットされていないとき
に、書込み終了キーワードが予め定めたデータパターン
と一致しないときは、特定データの書込み異常があった
ものと判定するようにする。 形態７ 複数の特定データの書込みを行うときに、これら複数
の特定データの各々と対にして複数形成された各検査領
域３１に対し、書込みの終了を示す書込み終了キーワー
ドをそれぞれ各特定データの書込み毎にセットする。
上記の検査において、検査領域３１をチェックし、
（ｉ）検査終了を表示する検査終了キーワードがセット
されていないときに、各特定データと対をなす書込み終
了キーワードが予め定めたデータパターンと一致すると
きは、当該一致する特定データの書込み異常はなかった
ものと判定し、かつ、検査領域３１に検査終了キーワー
ドをセットし、（ii）この検査終了キーワードがセット
されていないときに、各特定データと対をなす書込み終
了キーワードが予め定めたデータパターンと一致しない
ときは、当該一致しない特定データに書込み異常があっ
たものと判定するようにする。形態８ 上記の諸形態において、特定データの少なくとも１つに
書込み異常があったものと判定されたとき、全ての特定
データを初期化するようにする。形態９ 上記の諸形態において、特定データの書込み異常があっ
たものと判定されたとき、当該異常に係る特定データの
みを初期化するようにする。形態１０ 上記の諸形態において、複数の特定データの書込みを行
うに際し、各特定データに対して書換えを行おうとして
いる新たな特定データと現特定データとの間に相違があ
るときのみ、全ての特定データに対する書換えを行うよ
うにする。形態１１ 複数の特定データの書込みを行うに際し、各特定データ
に対して書換えを行おうとしている新たな特定データと
現特定データとの間に相違があるときのみ、当該相違の
ある特定データについての書換えを行うようにする。
【００２０】
【実施例】図２は本発明の第１実施例（形態１）を説明
するためのメモリマップ図である。本図に示すＥＥＰＲ
ＯＭ１２はＮ個の特定データ１，２…Ｎを収容するデー
タ領域３０に対して付加される検査領域３１には、検査
フラグＸＢＴＣＫがセットされる。このフラグＸＢＴＣ
Ｋは、図示の例では、１ビットのフラグであり、書込み
の実行を示す書込み実行フラグ（論理“１”）または書
込みの終了を示す書込み終了フラグ（論理“０”）であ
る。
するためのメモリマップ図である。本図に示すＥＥＰＲ
ＯＭ１２はＮ個の特定データ１，２…Ｎを収容するデー
タ領域３０に対して付加される検査領域３１には、検査
フラグＸＢＴＣＫがセットされる。このフラグＸＢＴＣ
Ｋは、図示の例では、１ビットのフラグであり、書込み
の実行を示す書込み実行フラグ（論理“１”）または書
込みの終了を示す書込み終了フラグ（論理“０”）であ
る。
【００２１】図３は図２の構成における動作、特に
（Ａ）は特定データおよび検査情報の書込み、（Ｂ）は
書込みの正常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャー
トである。まず本図の（Ａ）において、ＥＥＰＲＯＭ１
２への特定データの書込みに先立ち、検査フラグＸＢＴ
ＣＫに“１”をセットする（書込み実行フラグ）。これ
に引き続き本来の、特定データの書込みを行う（図中、
「データ１の書込み」、「データ２の書込み」…）。
（Ａ）は特定データおよび検査情報の書込み、（Ｂ）は
書込みの正常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャー
トである。まず本図の（Ａ）において、ＥＥＰＲＯＭ１
２への特定データの書込みに先立ち、検査フラグＸＢＴ
ＣＫに“１”をセットする（書込み実行フラグ）。これ
に引き続き本来の、特定データの書込みを行う（図中、
「データ１の書込み」、「データ２の書込み」…）。
【００２２】上記の特定データの書込み中に電源断がな
く正常に行われたときは、検査フラグＸＢＴＣＫを
“０”にリセットする（書込み終了フラグ）。ここで注
意すべきことは、上記の特定データの書込み中に例えば
バッテリー電源外れによる電源断があったものとする
と、図中の「ＸＢＴＣＫ←“０”」なるステップの実行
が不能になることである。したがって検査フラグＸＢＴ
ＣＫは“１”にセットされたままである。
く正常に行われたときは、検査フラグＸＢＴＣＫを
“０”にリセットする（書込み終了フラグ）。ここで注
意すべきことは、上記の特定データの書込み中に例えば
バッテリー電源外れによる電源断があったものとする
と、図中の「ＸＢＴＣＫ←“０”」なるステップの実行
が不能になることである。したがって検査フラグＸＢＴ
ＣＫは“１”にセットされたままである。
【００２３】次に図３の（Ｂ）を参照する。ＥＥＰＲＯ
Ｍ１２にデータの誤書込み（データエラー）があったか
否かを検査するものである。まず検査フラグＸＢＴＣＫ
を調べる。その結果がＹＥＳ（ＸＢＴＣＫ＝“０”）な
らば正常であり、ＮＯならば、データエラー発生と判定
される。したがって、例えば特定データ１〜Ｎを初期化
する等の対策が求められる。
Ｍ１２にデータの誤書込み（データエラー）があったか
否かを検査するものである。まず検査フラグＸＢＴＣＫ
を調べる。その結果がＹＥＳ（ＸＢＴＣＫ＝“０”）な
らば正常であり、ＮＯならば、データエラー発生と判定
される。したがって、例えば特定データ１〜Ｎを初期化
する等の対策が求められる。
【００２４】図４は本発明の第２実施例（形態２）を説
明するためのメモリマップ図である。本図に示すマッピ
ングは、図２に示すそれとほぼ同じである。異なるの
は、検査領域３１にセットされる検査情報が各特定デー
タ対応になっていることである。すなわち、検査フラグ
ＸＢＴＣＫが、特定データ１，２…Ｎの各々に対応させ
て、ＸＢＴＣＫ１，ＸＢＴＣＫ２…ＸＢＴＣＫＮのごと
く複数存在することである。したがって特定データが８
個あるとすれば、検査領域３１は少なくとも８ビット構
成であることを要する。この場合、ＸＢＴＣＫ１，ＸＢ
ＴＣＫ２…ＸＢＴＣＫＮの各々について、前述した書込
み実行フラグ（論理“１”）および書込み終了フラグ
（論理“０”）が定義される。
明するためのメモリマップ図である。本図に示すマッピ
ングは、図２に示すそれとほぼ同じである。異なるの
は、検査領域３１にセットされる検査情報が各特定デー
タ対応になっていることである。すなわち、検査フラグ
ＸＢＴＣＫが、特定データ１，２…Ｎの各々に対応させ
て、ＸＢＴＣＫ１，ＸＢＴＣＫ２…ＸＢＴＣＫＮのごと
く複数存在することである。したがって特定データが８
個あるとすれば、検査領域３１は少なくとも８ビット構
成であることを要する。この場合、ＸＢＴＣＫ１，ＸＢ
ＴＣＫ２…ＸＢＴＣＫＮの各々について、前述した書込
み実行フラグ（論理“１”）および書込み終了フラグ
（論理“０”）が定義される。
【００２５】図５は図４の構成における動作、特に
（Ａ）は特定データおよび検査情報の書込み、（Ｂ）は
書込みの正常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャー
トである。まず本図の（Ａ）において、ＥＥＰＲＯＭ１
２への特定データの書込みに先立ち、全検査フラグＸＢ
ＴＣＫ１〜ＸＢＴＣＫＮを一斉に“１”にセットする
（書込み実行フラグ１，２…Ｎのセット）。これに引き
続き本来の、特定データの書込みを開始する。例えば特
定データ１から開始する。そして特定データ１の書込み
が行われると（図中、「データ１の書込み」）、その直
後にこの特定データ１について検査フラグＸＢＴＣＫ１
を書込み終了フラグ（論理“０”）にリセットする。
（Ａ）は特定データおよび検査情報の書込み、（Ｂ）は
書込みの正常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャー
トである。まず本図の（Ａ）において、ＥＥＰＲＯＭ１
２への特定データの書込みに先立ち、全検査フラグＸＢ
ＴＣＫ１〜ＸＢＴＣＫＮを一斉に“１”にセットする
（書込み実行フラグ１，２…Ｎのセット）。これに引き
続き本来の、特定データの書込みを開始する。例えば特
定データ１から開始する。そして特定データ１の書込み
が行われると（図中、「データ１の書込み」）、その直
後にこの特定データ１について検査フラグＸＢＴＣＫ１
を書込み終了フラグ（論理“０”）にリセットする。
【００２６】このような書込みと検査フラグＸＢＴＣＫ
のリセットの対の動作は、以後、特定データ２、特定デ
ータ３…特定データＮについて順次実行される。ここで
注意すべきことは、上述した特定データの順次の書込み
中において、仮に特定データ１の書込み直後に既述の電
源断があったとすると、図中の「ＸＢＴＣＫ２←
“０”」なるステップの実行が不能になることである。
したがって検査フラグＸＢＴＣＫ２は“１”（書込み実
行表示フラグ）にセットされたままである。なお、一般
的には、特定データ２以降の全ての特定データについて
も書込み終了表示フラグ（“０”）へのリセットは行わ
れないであろう。
のリセットの対の動作は、以後、特定データ２、特定デ
ータ３…特定データＮについて順次実行される。ここで
注意すべきことは、上述した特定データの順次の書込み
中において、仮に特定データ１の書込み直後に既述の電
源断があったとすると、図中の「ＸＢＴＣＫ２←
“０”」なるステップの実行が不能になることである。
したがって検査フラグＸＢＴＣＫ２は“１”（書込み実
行表示フラグ）にセットされたままである。なお、一般
的には、特定データ２以降の全ての特定データについて
も書込み終了表示フラグ（“０”）へのリセットは行わ
れないであろう。
【００２７】次に図５の（Ｂ）を参照する。図３の
（Ｂ）と同様の検査ルーチンである。まず特定データ１
について、データの誤書込み（データエラー）があった
か否かを検査する。「ＸＢＴＣＫ１＝“０”？」のステ
ップであり、上述の例によれば、その結果はＹＥＳであ
り、次ステップへ進む。ところが上述の例によると、特
定データ２の書込み時に電源断が生じており、「ＸＢＴ
ＣＫ２＝“０”？」の結果はＮＯとなる。このとき、特
定データ２にデータエラー（特定データ２についての誤
書込み）が発生したものと判定される。したがって例え
ば特定データ２を初期化する等の対策が求められる。な
お、それ以降の特定データ３〜Ｎについても、データエ
ラー発生と判定され、各々について初期化される。ある
いは初期化に代えて運転者あるいは保守者にウォーニン
グを行うようにしてもよい（以後の実施例についても同
じ）。
（Ｂ）と同様の検査ルーチンである。まず特定データ１
について、データの誤書込み（データエラー）があった
か否かを検査する。「ＸＢＴＣＫ１＝“０”？」のステ
ップであり、上述の例によれば、その結果はＹＥＳであ
り、次ステップへ進む。ところが上述の例によると、特
定データ２の書込み時に電源断が生じており、「ＸＢＴ
ＣＫ２＝“０”？」の結果はＮＯとなる。このとき、特
定データ２にデータエラー（特定データ２についての誤
書込み）が発生したものと判定される。したがって例え
ば特定データ２を初期化する等の対策が求められる。な
お、それ以降の特定データ３〜Ｎについても、データエ
ラー発生と判定され、各々について初期化される。ある
いは初期化に代えて運転者あるいは保守者にウォーニン
グを行うようにしてもよい（以後の実施例についても同
じ）。
【００２８】上述した第２実施例と既述の第１実施例の
相違は、第２実施例の場合第１実施例に比べて動作がや
や煩雑になる反面、データエラーの発生箇所を具体的に
特定できることである。したがって、特定データの修復
は当該異常データについてのみ実行すれば良いことにな
る。一般にＥＥＰＲＯＭへのデータ書込み保証回数には
制限があり、通常のＲＡＭのごとく無制限に書込みを行
うことは控えるべきである。このためにも、異常データ
にのみに限って再書込みできるようにすることは有益で
ある。また、第１実施例では、データエラーの有無を検
査フラグの１ビットにのみ頼っているので、万一、ノイ
ズ等によりこの１ビットがビット反転し見掛け上リセッ
トされてしまうと、電源断の検知ができなくなるが、第
２実施例では、このリスクが少ない。そのようなビット
反転が多ビット同時に起こることはまれだからである。
相違は、第２実施例の場合第１実施例に比べて動作がや
や煩雑になる反面、データエラーの発生箇所を具体的に
特定できることである。したがって、特定データの修復
は当該異常データについてのみ実行すれば良いことにな
る。一般にＥＥＰＲＯＭへのデータ書込み保証回数には
制限があり、通常のＲＡＭのごとく無制限に書込みを行
うことは控えるべきである。このためにも、異常データ
にのみに限って再書込みできるようにすることは有益で
ある。また、第１実施例では、データエラーの有無を検
査フラグの１ビットにのみ頼っているので、万一、ノイ
ズ等によりこの１ビットがビット反転し見掛け上リセッ
トされてしまうと、電源断の検知ができなくなるが、第
２実施例では、このリスクが少ない。そのようなビット
反転が多ビット同時に起こることはまれだからである。
【００２９】図６は第３および第４実施例（形態３およ
び４）を説明するためのメモリマップ図である。本図に
示すＥＥＰＲＯＭ１２は、特定データ１，特定データ２
…特定データＮにそれぞれ対応させたＮ個のデータ領域
３０と、各データ領域と対にして形成されるＮ個の検査
領域３１を備える。各検査領域３１には対応する特定デ
ータにそれぞれ関連付けた検査データが、前述の検査情
報としてセットされる。このセットは各特定データの書
込みがある毎に行われる。
び４）を説明するためのメモリマップ図である。本図に
示すＥＥＰＲＯＭ１２は、特定データ１，特定データ２
…特定データＮにそれぞれ対応させたＮ個のデータ領域
３０と、各データ領域と対にして形成されるＮ個の検査
領域３１を備える。各検査領域３１には対応する特定デ
ータにそれぞれ関連付けた検査データが、前述の検査情
報としてセットされる。このセットは各特定データの書
込みがある毎に行われる。
【００３０】ここで注意すべきことは、上記の特定デー
タの書込み中や検査データの書込み中に電源断が発生す
ると、データエラーを生じ、対をなす特定データと検査
データとの間に上述の関連付けが失われてしまうことで
ある。したがってここに特定データおよび／または検査
データの書込み異常があったものと判定することができ
る。
タの書込み中や検査データの書込み中に電源断が発生す
ると、データエラーを生じ、対をなす特定データと検査
データとの間に上述の関連付けが失われてしまうことで
ある。したがってここに特定データおよび／または検査
データの書込み異常があったものと判定することができ
る。
【００３１】ここに特定データに対する関連付けとは、
例えば次のような操作をいう。第１例としては、各検査
データとして対応する特定データの１の補数を割り付け
ることが挙げられる。つまりビット反転したミラーデー
タである。図６はこのミラーデータの例を示している。
第２例としては、上記１の補数に代えて２の補数とする
ことである。また第３例としては、各特定データにＣＲ
Ｃ演算結果やパリティを、対応する検査ビットとして割
り付けることが挙げられる。なお、以上述べたことは第
３および第４実施例のいずれも共通である。
例えば次のような操作をいう。第１例としては、各検査
データとして対応する特定データの１の補数を割り付け
ることが挙げられる。つまりビット反転したミラーデー
タである。図６はこのミラーデータの例を示している。
第２例としては、上記１の補数に代えて２の補数とする
ことである。また第３例としては、各特定データにＣＲ
Ｃ演算結果やパリティを、対応する検査ビットとして割
り付けることが挙げられる。なお、以上述べたことは第
３および第４実施例のいずれも共通である。
【００３２】図７は図６の構成における動作、特に
（Ａ）は特定データおよび検査情報の書込み、（Ｂ）は
書込みの正常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャー
トであるまず本図の（Ａ）を見ると、最初にステップＳ
（初期化）が示されているが、第３実施例と第４実施例
の違いは、このステップＳを導入するか（第４実施例）
しないか（第３実施例）、だけである。そこでまず第３
実施例に即して説明すると、まず特定データ１の書込み
（図中の「データ１の書込み」）を行う。そしてこれに
続いて、特定データ１と対をなす、検査情報をなすミラ
ーデータ１の書込みを行う。
（Ａ）は特定データおよび検査情報の書込み、（Ｂ）は
書込みの正常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャー
トであるまず本図の（Ａ）を見ると、最初にステップＳ
（初期化）が示されているが、第３実施例と第４実施例
の違いは、このステップＳを導入するか（第４実施例）
しないか（第３実施例）、だけである。そこでまず第３
実施例に即して説明すると、まず特定データ１の書込み
（図中の「データ１の書込み」）を行う。そしてこれに
続いて、特定データ１と対をなす、検査情報をなすミラ
ーデータ１の書込みを行う。
【００３３】このような特定データとミラーデータの対
の書込み操作は、以後、“特定データ２＋ミラーデータ
２”…“特定データＮ＋ミラーデータＮ”と繰り返され
る。ここで注意すべきことは、上述した特定データおよ
びミラーデータの順次書込み中において、仮にミラーデ
ータ１の書込み直後に既述の電源断があったとすると、
図中の「データ２の書込み」より以降の書込みにデータ
エラーが含まれてしまうことである。「データ２の書込
み」のステップで書き込まれた特定データ２と、「ミラ
ーデータ２の書込み」ステップで書き込まれたミラーデ
ータ２との間の既述した関連付けは喪失してしまう。ま
た以降に現れる、各特定データとこれと対をなすミラー
データとの間の既述した関連付けも喪失してしまう筈で
ある。
の書込み操作は、以後、“特定データ２＋ミラーデータ
２”…“特定データＮ＋ミラーデータＮ”と繰り返され
る。ここで注意すべきことは、上述した特定データおよ
びミラーデータの順次書込み中において、仮にミラーデ
ータ１の書込み直後に既述の電源断があったとすると、
図中の「データ２の書込み」より以降の書込みにデータ
エラーが含まれてしまうことである。「データ２の書込
み」のステップで書き込まれた特定データ２と、「ミラ
ーデータ２の書込み」ステップで書き込まれたミラーデ
ータ２との間の既述した関連付けは喪失してしまう。ま
た以降に現れる、各特定データとこれと対をなすミラー
データとの間の既述した関連付けも喪失してしまう筈で
ある。
【００３４】次に図７の（Ｂ）を参照する。図３の
（Ｂ）や図５の（Ｂ）と同様の検査ルーチンである。ま
ず特定データ１について、データの誤書込み（データエ
ラー）があったか否かを調べる。「データ１＝ミラーデ
ータ１のバー？」のステップであり、上述の例によれば
その結果はＹＥＳである。ここにミラーデータ１のバー
とは、ミラーデータ１を論理的に反転したものであり、
ミラーデータ１を論理的に反転したものと特定データ１
とが一致するように予め上記の関連付けが行われてい
る。このことは他の特定データとそれぞれに対応するミ
ラーデータとの間でも同じである。
（Ｂ）や図５の（Ｂ）と同様の検査ルーチンである。ま
ず特定データ１について、データの誤書込み（データエ
ラー）があったか否かを調べる。「データ１＝ミラーデ
ータ１のバー？」のステップであり、上述の例によれば
その結果はＹＥＳである。ここにミラーデータ１のバー
とは、ミラーデータ１を論理的に反転したものであり、
ミラーデータ１を論理的に反転したものと特定データ１
とが一致するように予め上記の関連付けが行われてい
る。このことは他の特定データとそれぞれに対応するミ
ラーデータとの間でも同じである。
【００３５】ところで上述の例によると、特定データ２
およびミラーデータ２の書込みの際に電源断が生じてお
り、「データ２＝ミラーデータ２のバー？」の結果はＮ
Ｏとなる。このとき、特定データ２およびミラーデータ
２の少なくとも一方にデータエラー（データの誤書込
み）が発生したものと判定される。これが図中の「デー
タ２エラー判定」である。もしミラーデータ２にのみデ
ータエラーがあっても特定データ２のエラーとして判定
してしまう。そして、図５（Ｂ）で示したように特定デ
ータ２の初期化を行ったり（このときミラーデータ２も
初期化する）、あるいはウォーニングを発生する。な
お、それ以降の特定データ３〜Ｎおよび対応するミラー
データ３〜Ｎについてもデータエラーと判定され、これ
らについて初期化等を行う。
およびミラーデータ２の書込みの際に電源断が生じてお
り、「データ２＝ミラーデータ２のバー？」の結果はＮ
Ｏとなる。このとき、特定データ２およびミラーデータ
２の少なくとも一方にデータエラー（データの誤書込
み）が発生したものと判定される。これが図中の「デー
タ２エラー判定」である。もしミラーデータ２にのみデ
ータエラーがあっても特定データ２のエラーとして判定
してしまう。そして、図５（Ｂ）で示したように特定デ
ータ２の初期化を行ったり（このときミラーデータ２も
初期化する）、あるいはウォーニングを発生する。な
お、それ以降の特定データ３〜Ｎおよび対応するミラー
データ３〜Ｎについてもデータエラーと判定され、これ
らについて初期化等を行う。
【００３６】このように検査データとしてミラーデータ
のように特定データに関連付けたものを用いることによ
り、データエラーが発生したときにそれが電源断による
ものか、多ビット中の１または数ビットがノイズにより
部分的にエラーになったのかを詳しく知ることができ
る。図７（Ａ）に戻ると、第４実施例の場合には、ステ
ップＳが初めに導入される。このステップＳは、全ての
特定データ１〜Ｎと全てのミラーデータ１〜Ｎを予め初
期化（例えば￥００の書込み）してしまうという工程で
ある。その後の工程は上述した第３実施例と同じであ
る。
のように特定データに関連付けたものを用いることによ
り、データエラーが発生したときにそれが電源断による
ものか、多ビット中の１または数ビットがノイズにより
部分的にエラーになったのかを詳しく知ることができ
る。図７（Ａ）に戻ると、第４実施例の場合には、ステ
ップＳが初めに導入される。このステップＳは、全ての
特定データ１〜Ｎと全てのミラーデータ１〜Ｎを予め初
期化（例えば￥００の書込み）してしまうという工程で
ある。その後の工程は上述した第３実施例と同じであ
る。
【００３７】このように予め初期化しておけば、電源断
が発生したときにその前後の切り分けがきわめて明確に
なる。第３実施例の場合、電源断後であっても直前のデ
ータが残留しているので、電源断の切り分けは必ずしも
明確ではない。図８は本発明の第５実施例（形態５）を
説明するためのメモリマップ図である。本図に示すマッ
ピングは、図４に示すそれと近似している。異なるの
は、検査領域３１にセットされる検査情報がカウントデ
ータＣＢＴＣＫになっていることである。
が発生したときにその前後の切り分けがきわめて明確に
なる。第３実施例の場合、電源断後であっても直前のデ
ータが残留しているので、電源断の切り分けは必ずしも
明確ではない。図８は本発明の第５実施例（形態５）を
説明するためのメモリマップ図である。本図に示すマッ
ピングは、図４に示すそれと近似している。異なるの
は、検査領域３１にセットされる検査情報がカウントデ
ータＣＢＴＣＫになっていることである。
【００３８】カウントデータＣＢＴＣＫは、特定データ
１、特定データ２…と書込みが順次終了する毎に、１ず
つ歩進（インクリメント）される計数値である。このた
めのカウンタはマイクロプロセッサ（μＰ）１１内にソ
フトウェアで形成できる。かくして、例えば特定データ
１から特定データ８まで正常に書込みが終了すれば、カ
ウントデータＣＢＴＣＫによって表される計数値は
“７”となる。ただし、０からカウントするものとす
る。
１、特定データ２…と書込みが順次終了する毎に、１ず
つ歩進（インクリメント）される計数値である。このた
めのカウンタはマイクロプロセッサ（μＰ）１１内にソ
フトウェアで形成できる。かくして、例えば特定データ
１から特定データ８まで正常に書込みが終了すれば、カ
ウントデータＣＢＴＣＫによって表される計数値は
“７”となる。ただし、０からカウントするものとす
る。
【００３９】図９は図８の構成における動作、特に
（Ａ）は特定データの書込みおよびカウントアップ、
（Ｂ）は書込みの正常／異常の検査をそれぞれ表すフロ
ーチャートである。まず本図の（Ａ）において、カウン
トデータＣＢＴＣＫを「０」にリセットする。その後、
各特定データの書込みが終了する毎にＣＢＴＣＫを＋１
（歩進）する。
（Ａ）は特定データの書込みおよびカウントアップ、
（Ｂ）は書込みの正常／異常の検査をそれぞれ表すフロ
ーチャートである。まず本図の（Ａ）において、カウン
トデータＣＢＴＣＫを「０」にリセットする。その後、
各特定データの書込みが終了する毎にＣＢＴＣＫを＋１
（歩進）する。
【００４０】次に図９の（Ｂ）を参照する。既述の検査
ルーチンである。「ＣＢＴＣＫ＝０？」のステップがＹ
ＥＳであったとすると、初めから特定データの書込みが
成功しなかったことにより、特定データ１のデータエラ
ー発生（図中の「データ１エラー判定」）があったもの
と判定される。「ＣＢＴＣＫ＝１？」のステップがＹＥ
Ｓであったとすると、特定データ１の書込みは正常で、
特定データ２の書込みに異常があったものと判定され
る。
ルーチンである。「ＣＢＴＣＫ＝０？」のステップがＹ
ＥＳであったとすると、初めから特定データの書込みが
成功しなかったことにより、特定データ１のデータエラ
ー発生（図中の「データ１エラー判定」）があったもの
と判定される。「ＣＢＴＣＫ＝１？」のステップがＹＥ
Ｓであったとすると、特定データ１の書込みは正常で、
特定データ２の書込みに異常があったものと判定され
る。
【００４１】この第５実施例によれば、数ビットの検査
領域３１でありながら、データエラー発生箇所まで推定
可能となる。図１０は本発明の第６実施例（形態６）を
説明するためのメモリマップ図である。本図に示すマッ
ピングは図２のそれと同様である。異なるのは、検査領
域３１にセットされる検査情報がキーワード（ＫＥＹＷ
Ｄ）になっていることである。
領域３１でありながら、データエラー発生箇所まで推定
可能となる。図１０は本発明の第６実施例（形態６）を
説明するためのメモリマップ図である。本図に示すマッ
ピングは図２のそれと同様である。異なるのは、検査領
域３１にセットされる検査情報がキーワード（ＫＥＹＷ
Ｄ）になっていることである。
【００４２】特定データ１、特定データ２…特定データ
Ｎの書込みが全て正常に終了したときのみ、検査領域３
１に特定のＫＥＹＷＯＲＤがセットされる。図１１は図
１０の構成における動作、特に（Ａ）は特定データとＫ
ＥＹＷＤの書込み、（Ｂ）は書込みの正常／異常の検査
をそれぞれ表すフローチャートである。
Ｎの書込みが全て正常に終了したときのみ、検査領域３
１に特定のＫＥＹＷＯＲＤがセットされる。図１１は図
１０の構成における動作、特に（Ａ）は特定データとＫ
ＥＹＷＤの書込み、（Ｂ）は書込みの正常／異常の検査
をそれぞれ表すフローチャートである。
【００４３】特定データの書込みが全て正常に終了した
ときに、検査領域３１に対し、書込みの終了を示す書込
み終了キーワード（ＫＥＹＷＤ＝￥５Ａ）をセットす
る。 ＥＥＰＲＯＭ１２の検査において、検査領域３１をチ
ェックし、（ｉ）検査終了を表示する検査終了キーワー
ド（ＫＥＹＷＤ＝￥００）がセットされていないとき
に、書込み終了キーワードが予め定めたデータパターン
（￥５Ａ）と一致するときは、特定データの書込み異常
がなかったものと判定し、かつ、検査領域３１に該検査
終了キーワード（ＫＥＹＷＤ＝￥００）をセットし、
（ii）該検査終了キーワード（￥００）がセットされて
いないときに、書込み終了キーワードが予め定めたデー
タパターン（￥５Ａ）と一致しないときは、特定データ
の書込み異常（データエラー）があったものと判定する
ようにする。
ときに、検査領域３１に対し、書込みの終了を示す書込
み終了キーワード（ＫＥＹＷＤ＝￥５Ａ）をセットす
る。 ＥＥＰＲＯＭ１２の検査において、検査領域３１をチ
ェックし、（ｉ）検査終了を表示する検査終了キーワー
ド（ＫＥＹＷＤ＝￥００）がセットされていないとき
に、書込み終了キーワードが予め定めたデータパターン
（￥５Ａ）と一致するときは、特定データの書込み異常
がなかったものと判定し、かつ、検査領域３１に該検査
終了キーワード（ＫＥＹＷＤ＝￥００）をセットし、
（ii）該検査終了キーワード（￥００）がセットされて
いないときに、書込み終了キーワードが予め定めたデー
タパターン（￥５Ａ）と一致しないときは、特定データ
の書込み異常（データエラー）があったものと判定する
ようにする。
【００４４】この第６実施例によれば、書込み終了キー
ワードＫＥＹＷＤが例えば￥５Ａのように予め定められ
ているから、仮にノイズ等により￥５Ａの中のいずれか
のビットに反転が生じても、この反転を見付けることが
できる。これに対し、図２の構成である検査フラグＸＢ
ＴＣＫが仮にノイズ等により論理“０”に反転してしま
うとこの反転を見付けることはできず、最早電源断の検
知は不能となる。
ワードＫＥＹＷＤが例えば￥５Ａのように予め定められ
ているから、仮にノイズ等により￥５Ａの中のいずれか
のビットに反転が生じても、この反転を見付けることが
できる。これに対し、図２の構成である検査フラグＸＢ
ＴＣＫが仮にノイズ等により論理“０”に反転してしま
うとこの反転を見付けることはできず、最早電源断の検
知は不能となる。
【００４５】図１２は本発明の第７実施例（形態７）を
説明するためのメモリマップ図である。このマッピング
は図６のそれと近似している。異なるのは、検査領域３
１にセットされる検査情報がキーワード（ＫＥＹＷＤ）
になっている。特定データ１，２，３…の各書込みが終
了する毎に、対応するキーワード１，２，３…が書き込
まれる。なお、キーワードＫＥＹＷＤとしては、全ての
キーワード１〜Ｎについて統一しても良くあるいは個々
に違うキーワードを割り当てても良い。次に述べるフロ
ーチャートでは全てのキーワードをＫＥＹＷＤ＝￥５Ａ
に統一した例を示す。
説明するためのメモリマップ図である。このマッピング
は図６のそれと近似している。異なるのは、検査領域３
１にセットされる検査情報がキーワード（ＫＥＹＷＤ）
になっている。特定データ１，２，３…の各書込みが終
了する毎に、対応するキーワード１，２，３…が書き込
まれる。なお、キーワードＫＥＹＷＤとしては、全ての
キーワード１〜Ｎについて統一しても良くあるいは個々
に違うキーワードを割り当てても良い。次に述べるフロ
ーチャートでは全てのキーワードをＫＥＹＷＤ＝￥５Ａ
に統一した例を示す。
【００４６】図１３は図１２の構成における動作、特に
（Ａ）は特定データとＫＥＹＷＤの書込み、（Ｂ）は書
込みの正常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャート
である。複数の特定データの書込みを行うときに、これ
ら複数の特定データの各々と対にして複数形成された各
検査領域３１に対し、書込みの終了を示す書込み終了キ
ーワード（ＫＥＹＷＤ＝￥５Ａ）をそれぞれ各特定デー
タの書込み毎にセットする。
（Ａ）は特定データとＫＥＹＷＤの書込み、（Ｂ）は書
込みの正常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャート
である。複数の特定データの書込みを行うときに、これ
ら複数の特定データの各々と対にして複数形成された各
検査領域３１に対し、書込みの終了を示す書込み終了キ
ーワード（ＫＥＹＷＤ＝￥５Ａ）をそれぞれ各特定デー
タの書込み毎にセットする。
【００４７】ＥＥＰＲＯＭ１２の検査において、検査領
域３１をチェックし、（ｉ）検査終了を表示する検査終
了キーワード（ＫＥＹＷＤ＝￥００）がセットされてい
ないときに、各特定データと対をなす書込み終了キーワ
ードが予め定めたデータパターン（￥５Ａ）と一致する
ときは、当該一致する特定データの書込み異常（データ
エラー）はなかったものと判定し、かつ、検査領域３１
に検査終了キーワード（ＫＥＹＷＤ＝￥００）をセット
し、（ii）この検査終了キーワードがセットされていな
いときに（ＫＥＹＷＤ≠￥００）、各特定データと対を
なす書込み終了キーワードが予め定めたデータパターン
（￥５Ａ）と一致しないときは、当該一致しない特定デ
ータに書込み異常（データエラー）があったものと判定
するようにする。
域３１をチェックし、（ｉ）検査終了を表示する検査終
了キーワード（ＫＥＹＷＤ＝￥００）がセットされてい
ないときに、各特定データと対をなす書込み終了キーワ
ードが予め定めたデータパターン（￥５Ａ）と一致する
ときは、当該一致する特定データの書込み異常（データ
エラー）はなかったものと判定し、かつ、検査領域３１
に検査終了キーワード（ＫＥＹＷＤ＝￥００）をセット
し、（ii）この検査終了キーワードがセットされていな
いときに（ＫＥＹＷＤ≠￥００）、各特定データと対を
なす書込み終了キーワードが予め定めたデータパターン
（￥５Ａ）と一致しないときは、当該一致しない特定デ
ータに書込み異常（データエラー）があったものと判定
するようにする。
【００４８】この第７実施例によれば、キーワード（Ｋ
ＥＹＷＤ）を用いることによる前述（第６実施例）の利
点が、特定データの１つ１つについて得られる。次に第
８実施例（形態８）について説明する。この第８実施例
は本発明の第２の目的に対応するものであり、上述した
各実施例において、データの書込み異常（データエラ
ー）が発生したときの対処手段に関するものである。
ＥＹＷＤ）を用いることによる前述（第６実施例）の利
点が、特定データの１つ１つについて得られる。次に第
８実施例（形態８）について説明する。この第８実施例
は本発明の第２の目的に対応するものであり、上述した
各実施例において、データの書込み異常（データエラ
ー）が発生したときの対処手段に関するものである。
【００４９】この第８実施例（形態８）では、その第２
の目的のために、ＥＥＰＲＯＭ１２に対し特定データの
少なくとも１つに書込み異常（データエラー）があった
ものと判定されたとき、全ての特定データを初期化する
ものである。その第２の目的は次のごとく達成すること
もできる。すなわち、ＥＥＰＲＯＭ１２に対し特定デー
タの書込み異常（データエラー）があったものと判定さ
れたとき、当該異常に係る特定データのみを初期化する
というものである。これが本発明の第９実施例（形態
９）である。これは、図２に示すマッピング構成以外の
ＥＥＰＲＯＭ１２について適用可能である。
の目的のために、ＥＥＰＲＯＭ１２に対し特定データの
少なくとも１つに書込み異常（データエラー）があった
ものと判定されたとき、全ての特定データを初期化する
ものである。その第２の目的は次のごとく達成すること
もできる。すなわち、ＥＥＰＲＯＭ１２に対し特定デー
タの書込み異常（データエラー）があったものと判定さ
れたとき、当該異常に係る特定データのみを初期化する
というものである。これが本発明の第９実施例（形態
９）である。これは、図２に示すマッピング構成以外の
ＥＥＰＲＯＭ１２について適用可能である。
【００５０】ＥＥＰＲＯＭ１２への書込み回数が減少す
るので第８実施例よりも有利である。最後に本発明の第
３の目的に対応可能な実施例について述べる。既述のと
おり第３の目的は、データエラーの発生確率を低減する
ことであり、簡単に言えば、書込み回数に制限のあるＥ
ＥＰＲＯＭに対し、再書込みする回数を極力減らそうと
いうものである。次に述べる第１０実施例と第１１実施
例が該当する。
るので第８実施例よりも有利である。最後に本発明の第
３の目的に対応可能な実施例について述べる。既述のと
おり第３の目的は、データエラーの発生確率を低減する
ことであり、簡単に言えば、書込み回数に制限のあるＥ
ＥＰＲＯＭに対し、再書込みする回数を極力減らそうと
いうものである。次に述べる第１０実施例と第１１実施
例が該当する。
【００５１】図１４は第１０実施例（形態１０）を説明
するためのメモリマップ図である。本図において左欄
は、前述と同様のＥＥＰＲＯＭ１２であり、これに対し
μＰ１１内のＲＡＭ４１のマッピングが新たに示されて
いる。ＥＥＰＲＯＭ１２に保存すべき特定データ１，２
…ＮをＥＤＡ１，２…Ｎで表し、ＲＡＭ４１内に一時格
納すべきコピーデータ１，２…ＮをＣＤＡ１，２…Ｎで
表す。
するためのメモリマップ図である。本図において左欄
は、前述と同様のＥＥＰＲＯＭ１２であり、これに対し
μＰ１１内のＲＡＭ４１のマッピングが新たに示されて
いる。ＥＥＰＲＯＭ１２に保存すべき特定データ１，２
…ＮをＥＤＡ１，２…Ｎで表し、ＲＡＭ４１内に一時格
納すべきコピーデータ１，２…ＮをＣＤＡ１，２…Ｎで
表す。
【００５２】基本的な考え方は、特定データ１，２…Ｎ
の書込みを行うに際し、各特定データに対して書換えを
行おうとしている新たな特定データと現特定データとの
間に相違があるときのみ、全ての特定データに対する書
換えを行うというものである。これにより書込みの回数
は減らせる。図１５は第１０実施例の動作を説明するた
めの図である。図１４も参照すると、μＰ１１が新たな
特定データ１，２…Ｎを順次演算により生成するとこれ
らを自内のＲＡＭ４１に収容する。
の書込みを行うに際し、各特定データに対して書換えを
行おうとしている新たな特定データと現特定データとの
間に相違があるときのみ、全ての特定データに対する書
換えを行うというものである。これにより書込みの回数
は減らせる。図１５は第１０実施例の動作を説明するた
めの図である。図１４も参照すると、μＰ１１が新たな
特定データ１，２…Ｎを順次演算により生成するとこれ
らを自内のＲＡＭ４１に収容する。
【００５３】さらにμＰ１１は対応するＥＥＰＲＯＭ１
２およびＲＡＭ４１の各データ同士を比較する。もし、
これら特定データのうちの１つにでも不一致（ＮＯ）が
あるならば、ＥＥＰＲＯＭ１２へ書込みを実行する。も
し各対応の特定データが全て一致（ＹＥＳ）していれ
ば、ＥＥＰＲＯＭ１２に対しては一切書込みを行わな
い。これにより無駄な書込みを排除する。
２およびＲＡＭ４１の各データ同士を比較する。もし、
これら特定データのうちの１つにでも不一致（ＮＯ）が
あるならば、ＥＥＰＲＯＭ１２へ書込みを実行する。も
し各対応の特定データが全て一致（ＹＥＳ）していれ
ば、ＥＥＰＲＯＭ１２に対しては一切書込みを行わな
い。これにより無駄な書込みを排除する。
【００５４】図１６は第１１実施例の動作を説明するた
めの図である。第１０実施例と異なるのは、各特定デー
タの１つ１つについて上記の比較を実行することであ
る。すなわち複数の特定データの書込みを行うに際し、
各特定データに対して書換えを行おうとしている新たな
特定データと現特定データとの間に相違があるときの
み、当該相違のある特定データについての書換えを行う
ようにする。
めの図である。第１０実施例と異なるのは、各特定デー
タの１つ１つについて上記の比較を実行することであ
る。すなわち複数の特定データの書込みを行うに際し、
各特定データに対して書換えを行おうとしている新たな
特定データと現特定データとの間に相違があるときの
み、当該相違のある特定データについての書換えを行う
ようにする。
【００５５】図１５および図１６を参照すると、新たな
特定データ１，２…Ｎを順次演算により生成する都度、
これを一旦自内のＲＡＭ４１に格納する。例えば、新た
な特定データ１（ＣＤＡ１）が現特定データ１（ＥＤＡ
１）と一致（ＹＥＳ）するならばＥＥＰＲＯＭ１２への
書込みは行わない。逆に新たな特定データ１（ＣＤＡ
１）が現特定データ１（ＥＤＡ１）から変化していると
き（両者に相違があるとき（ＮＯ）は、そのときの
み）、ＥＥＰＲＯＭ１２への特定データの書込みを実行
する。以下、特定データ２，３…Ｎについて同様であ
る。
特定データ１，２…Ｎを順次演算により生成する都度、
これを一旦自内のＲＡＭ４１に格納する。例えば、新た
な特定データ１（ＣＤＡ１）が現特定データ１（ＥＤＡ
１）と一致（ＹＥＳ）するならばＥＥＰＲＯＭ１２への
書込みは行わない。逆に新たな特定データ１（ＣＤＡ
１）が現特定データ１（ＥＤＡ１）から変化していると
き（両者に相違があるとき（ＮＯ）は、そのときの
み）、ＥＥＰＲＯＭ１２への特定データの書込みを実行
する。以下、特定データ２，３…Ｎについて同様であ
る。
【００５６】これにより第１０実施例よりもさらに特定
データの書込み回数を減らすことができる。
データの書込み回数を減らすことができる。
【００５７】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、バ
ッテリー電源の外れ等に起因する電源断によって、ＥＥ
ＰＲＯＭへの特定データの書込みに誤りが生じた場合、
マイクロプロセッサはこれを検知することが可能とな
り、ＥＥＰＲＯＭの保存データの信頼性を飛躍的に向上
させることができる。
ッテリー電源の外れ等に起因する電源断によって、ＥＥ
ＰＲＯＭへの特定データの書込みに誤りが生じた場合、
マイクロプロセッサはこれを検知することが可能とな
り、ＥＥＰＲＯＭの保存データの信頼性を飛躍的に向上
させることができる。
【００５８】また、もしそのようなデータの誤書込みが
あっても、当該特定データに対して初期化を行うことに
より、エラーデータがそのまま利用されることがないよ
うにすることができる。さらにまた、無駄なデータの書
込みを排除して、そのようなデータの誤込みが生ずる要
因を少しでも減らすことができ、長期に亘ってＥＥＰＲ
ＯＭの高信頼性を維持可能となる。
あっても、当該特定データに対して初期化を行うことに
より、エラーデータがそのまま利用されることがないよ
うにすることができる。さらにまた、無駄なデータの書
込みを排除して、そのようなデータの誤込みが生ずる要
因を少しでも減らすことができ、長期に亘ってＥＥＰＲ
ＯＭの高信頼性を維持可能となる。
【図１】本発明の基本構成を表す図である。
【図２】本発明の第１実施例を説明するためのメモリマ
ップ図である。
ップ図である。
【図３】図２の構成における動作であって、（Ａ）は特
定データの書込み、（Ｂ）は書込みの正常／異常の検査
をそれぞれ表すフローチャートである。
定データの書込み、（Ｂ）は書込みの正常／異常の検査
をそれぞれ表すフローチャートである。
【図４】本発明の第２実施例を説明するためのメモリマ
ップ図である。
ップ図である。
【図５】図４の構成における動作であって、（Ａ）は特
定データおよび検査情報の書込み、（Ｂ）は書込みの正
常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャートである。
定データおよび検査情報の書込み、（Ｂ）は書込みの正
常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャートである。
【図６】第３および第４実施例を説明するためのメモリ
マップ図である。
マップ図である。
【図７】図６の構成における動作であって、（Ａ）は特
定データおよび検査情報の書込み、（Ｂ）は書込みの正
常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャートである。
定データおよび検査情報の書込み、（Ｂ）は書込みの正
常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャートである。
【図８】本発明の第５実施例を説明するためのメモリマ
ップ図である。
ップ図である。
【図９】図８の構成における動作であって、（Ａ）は特
定データおよび検査情報の書込みおよびカウントアッ
プ、（Ｂ）は書込みの正常／異常の検査をそれぞれ表す
フローチャートである。
定データおよび検査情報の書込みおよびカウントアッ
プ、（Ｂ）は書込みの正常／異常の検査をそれぞれ表す
フローチャートである。
【図１０】本発明の第６実施例を説明するためのメモリ
マップ図である。
マップ図である。
【図１１】図１０の構成における動作であって、（Ａ）
は特定データとＫＥＹＷＤの書込み、（Ｂ）は書込みの
正常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャートであ
る。
は特定データとＫＥＹＷＤの書込み、（Ｂ）は書込みの
正常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャートであ
る。
【図１２】本発明の第７実施例を説明するためのメモリ
マップ図である。
マップ図である。
【図１３】図１２の構成における動作であって、（Ａ）
は特定データとＫＥＹＷＤの書込み、（Ｂ）は書込みの
正常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャートであ
る。
は特定データとＫＥＹＷＤの書込み、（Ｂ）は書込みの
正常／異常の検査をそれぞれ表すフローチャートであ
る。
【図１４】第１０実施例を説明するためのメモリマップ
図である。
図である。
【図１５】第１０実施例の動作を説明するための図であ
る。
る。
【図１６】第１１実施例の動作を説明するための図であ
る。
る。
【図１７】一般的な電子制御ユニットの構成例を示す図
である。
である。
１０…電子制御ユニット（ＥＣＵ） １１…マイクロプロセッサ（μＰ） １２…ＥＥＰＲＯＭ １３…電源回路 １４…ＲＯＭ １５…ＲＡＭ １６…入力ポート １７…出力ポート １８…ＯＲゲート ２１…バッテリー電源（＋Ｂ） ２２…メインリレー ２３…イグニッションスイッチ（ＩＧＳＷ） ２４…電源端子 ３０…データ領域 ３１…検査領域 ４１…ＲＡＭ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 若本 昌孝 兵庫県神戸市兵庫区御所通１丁目２番28号 富士通テン株式会社内 (72)発明者 西脇 伸幸 兵庫県神戸市兵庫区御所通１丁目２番28号 富士通テン株式会社内 (72)発明者 樽本 拓啓 兵庫県神戸市兵庫区御所通１丁目２番28号 富士通テン株式会社内
Claims (11)
- 【請求項１】 車両に搭載され該車両に関する複数の特
定データについての書込みまたは読出しが行われる書換
え可能な不揮発性メモリを管理するための方法であっ
て、 前記特定データの書込みを行うときに、前記不揮発性メ
モリ内に形成された検査領域に対し、書込みの実行を示
す書込み実行表示フラグをセットし、 前記特定データの書込みが正常に終了したときに、前記
検査領域に対し、前記書込み実行表示フラグに代えて、
書込みの終了を示す書込み終了表示フラグをセットし、 前記不揮発性メモリの検査において、前記検査領域をチ
ェックし、前記書込み実行表示フラグがセットされたま
まであるとき、該不揮発性メモリに対して前記特定デー
タの書込み異常があったものと判定することを特徴とす
る書換え可能な不揮発性メモリの管理方法。 - 【請求項２】 前記検査領域を、前記複数の特定データ
の各々に対応させて、前記不揮発性メモリ内に複数形成
し、前記不揮発性メモリの検査を、複数の前記特定デー
タについて個別に行う請求項１に記載の管理方法。 - 【請求項３】 車両に搭載され該車両に関する複数の特
定データについての書込みまたは読出しが行われる書換
え可能な不揮発性メモリを管理するための方法であっ
て、 前記複数の特定データの書込みを行うときに、該複数の
特定データの各々と対にして前記不揮発性メモリ内に複
数形成された各検査領域に対し、対応する該特定データ
にそれぞれ関連付けた検査データを、各該特定データの
書込み毎にセットし、 前記不揮発性メモリの検査において、各前記検査領域内
の前記検査データと、これと対をなす対応の前記特定デ
ータとの間に前記の関連がないとき、該不揮発性メモリ
に対して前記特定データの書込み異常があったものと判
定することを特徴とする書換え可能な不揮発性メモリの
管理方法。 - 【請求項４】 前記複数の特定データの書込みを行うに
際し、該書込みに先行して全ての前記特定データおよび
検査データを初期化しておく請求項３に記載の管理方
法。 - 【請求項５】 車両に搭載され該車両に関する複数の特
定データについての書込みまたは読出しが行われる書換
え可能な不揮発性メモリを管理するための方法であっ
て、 前記複数の特定データの書込みを行うときに、該複数の
特定データの各々の書込みが順次終了する毎に、前記不
揮発性メモリ内に形成された検査領域に対し、１ずつ歩
進する計数値をセットし、 前記不揮発性メモリの検査において、前記検査領域をチ
ェックし、順次に検査される前記複数の特定データのう
ち、前記計数値に相当する順番に位置する特定データに
書込み異常があったものと判定することを特徴とする書
換え可能な不揮発性メモリの管理方法。 - 【請求項６】 車両に搭載され該車両に関する複数の特
定データについての書込みまたは読出しが行われる書換
え可能な不揮発性メモリを管理するための方法であっ
て、 前記特定データの書込みが全て正常に終了したときに、
前記検査領域に対し、書込みの終了を示す書込み終了キ
ーワードをセットするようにすると共に、 前記不揮発性メモリの検査において、前記検査領域をチ
ェックし、（ｉ）検査終了を表示する検査終了キーワー
ドがセットされていないときに、前記書込み終了キーワ
ードが予め定めたデータパターンと一致するときは、前
記不揮発性メモリに対して前記特定データの書込み異常
がなかったものと判定し、かつ、該検査領域に該検査終
了キーワードをセットし、（ii）該検査終了キーワード
がセットされていないときに、前記書込み終了キーワー
ドが予め定めたデータパターンと一致しないときは、前
記不揮発性メモリに対して前記特定データの書込み異常
があったものと判定することを特徴とする書換え可能な
不揮発性メモリの管理方法。 - 【請求項７】 車両に搭載され該車両に関する複数の特
定データについての書込みまたは読出しが行われる書換
え可能な不揮発性メモリを管理するための方法であっ
て、 前記複数の特定データの書込みを行うときに、該複数の
特定データの各々と対にして前記不揮発性メモリ内に複
数形成された各検査領域に対し、書込みの終了を示す書
込み終了キーワードをそれぞれ各該特定データの書込み
毎にセットし、 前記不揮発性メモリの検査において、前記検査領域をチ
ェックし、（ｉ）検査終了を表示する検査終了キーワー
ドがセットされていないときに、各前記特定データと対
をなす前記書込み終了キーワードが予め定めたデータパ
ターンと一致するときは、当該一致する特定データの前
記不揮発性メモリに対する書込み異常はなかったものと
判定し、かつ、該検査領域に該検査終了キーワードをセ
ットし、（ii）該検査終了キーワードがセットされてい
ないときに、各前記特定データと対をなす前記書込み終
了キーワードが予め定めたデータパターンと一致しない
ときは、当該一致しない特定データの前記不揮発性メモ
リに対する書込み異常があったものと判定することを特
徴とする書換え可能な不揮発性メモリの管理方法。 - 【請求項８】 前記不揮発性メモリに対し前記特定デー
タの少なくとも１つに書込み異常があったものと判定さ
れたとき、全ての該特定データを初期化する請求項１か
ら７のいずれか一項に記載の書換え可能な不揮発性メモ
リの管理方法。 - 【請求項９】 前記不揮発性メモリに対し前記特定デー
タの書込み異常があったものと判定されたとき、当該異
常に係る特定データのみを初期化する請求項２から７の
いずれか一項に記載の書換え可能な不揮発性メモリの管
理方法。 - 【請求項１０】 前記複数の特定データの書込みを行う
に際し、各該特定データに対して書換えを行おうとして
いる新たな特定データと現特定データとの間に相違があ
るときのみ、全ての前記特定データに対する書換えを行
う請求項１から７のいずれか一項に記載の書換え可能な
不揮発性メモリの管理方法。 - 【請求項１１】 前記複数の特定データの書込みを行う
に際し、各該特定データに対して書換えを行おうとして
いる新たな特定データと現特定データとの間に相違があ
るときのみ、当該相違のある前記特定データについての
書換えを行う請求項１から７のいずれか一項に記載の書
換え可能な不揮発性メモリの管理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32451095A JPH09161493A (ja) | 1995-12-13 | 1995-12-13 | 書換え可能な不揮発性メモリの管理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32451095A JPH09161493A (ja) | 1995-12-13 | 1995-12-13 | 書換え可能な不揮発性メモリの管理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09161493A true JPH09161493A (ja) | 1997-06-20 |
Family
ID=18166614
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32451095A Withdrawn JPH09161493A (ja) | 1995-12-13 | 1995-12-13 | 書換え可能な不揮発性メモリの管理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09161493A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19911794A1 (de) * | 1999-03-17 | 2000-09-28 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und Vorrichtung zur Absicherung bei Veränderung des Speicherinhalts von Steuergeräten |
| JP2006147024A (ja) * | 2004-11-18 | 2006-06-08 | Takashi Oshikiri | 半導体メモリおよび半導体メモリのテスト方法 |
| JP2009289200A (ja) * | 2008-05-30 | 2009-12-10 | Denso Corp | 車載電子制御装置並びにそのデータ書込み方法及びデータ読出し方法 |
| JP2011230633A (ja) * | 2010-04-27 | 2011-11-17 | Denso Corp | 車両用電子制御装置 |
| JP2014035730A (ja) * | 2012-08-10 | 2014-02-24 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 車両用制御装置 |
| US10476047B2 (en) | 2012-09-26 | 2019-11-12 | Robert Bosch Gmbh | Battery cell comprising a housing covering plate having a raised central region |
-
1995
- 1995-12-13 JP JP32451095A patent/JPH09161493A/ja not_active Withdrawn
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19911794A1 (de) * | 1999-03-17 | 2000-09-28 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und Vorrichtung zur Absicherung bei Veränderung des Speicherinhalts von Steuergeräten |
| EP1037140A3 (de) * | 1999-03-17 | 2005-07-06 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Absicherung bei Veränderung des Speicherinhalts von Steuergeräten |
| DE19911794B4 (de) * | 1999-03-17 | 2005-10-06 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Absicherung bei Veränderung des Speicherinhalts von Steuergeräten |
| US7035964B1 (en) | 1999-03-17 | 2006-04-25 | Robert Bosch Gmbh | Method and device for securing data when altering the storage contents of control units |
| JP2006147024A (ja) * | 2004-11-18 | 2006-06-08 | Takashi Oshikiri | 半導体メモリおよび半導体メモリのテスト方法 |
| US8090958B2 (en) | 2004-11-18 | 2012-01-03 | Takashi Oshikiri | Semiconductor memory and method of testing semiconductor memory |
| JP2009289200A (ja) * | 2008-05-30 | 2009-12-10 | Denso Corp | 車載電子制御装置並びにそのデータ書込み方法及びデータ読出し方法 |
| JP2011230633A (ja) * | 2010-04-27 | 2011-11-17 | Denso Corp | 車両用電子制御装置 |
| JP2014035730A (ja) * | 2012-08-10 | 2014-02-24 | Hitachi Automotive Systems Ltd | 車両用制御装置 |
| US10476047B2 (en) | 2012-09-26 | 2019-11-12 | Robert Bosch Gmbh | Battery cell comprising a housing covering plate having a raised central region |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030304 |