JPH09120376A - データ処理装置 - Google Patents
データ処理装置Info
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- JPH09120376A JPH09120376A JP27797195A JP27797195A JPH09120376A JP H09120376 A JPH09120376 A JP H09120376A JP 27797195 A JP27797195 A JP 27797195A JP 27797195 A JP27797195 A JP 27797195A JP H09120376 A JPH09120376 A JP H09120376A
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- JP
- Japan
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- data
- eeprom
- failure
- processing device
- data processing
- Prior art date
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- Withdrawn
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- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Memory System (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＥＥＰＲＯＭを使用したデータ処理装置にお
いて、ＥＥＰＲＯＭに関する適切な故障予知、故障検
知、及び故障対策（フェールセーフ処理）の手法を確立
する。 【解決手段】 メモリの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭ
２で構成するデータ処理装置であって、ＥＥＰＲＯＭの
データを書き換えた回数を計数しかつ記憶するカウンタ
と、そのカウンタの値が所定の値に達したときに、ＥＥ
ＰＲＯＭの故障が発生しうる状態であると判定する故障
予知手段と、を具備する。ＥＥＰＲＯＭ２は複数のデー
タ領域を有しており、前記カウンタはその複数のデータ
領域ごとに備えられており、故障予知手段はその複数の
データ領域ごとに判定する。ＥＥＰＲＯＭの故障が予知
されたときは、ＥＥＰＲＯＭ２内においてデータ領域と
して使用されている領域を移動させる。
いて、ＥＥＰＲＯＭに関する適切な故障予知、故障検
知、及び故障対策（フェールセーフ処理）の手法を確立
する。 【解決手段】 メモリの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭ
２で構成するデータ処理装置であって、ＥＥＰＲＯＭの
データを書き換えた回数を計数しかつ記憶するカウンタ
と、そのカウンタの値が所定の値に達したときに、ＥＥ
ＰＲＯＭの故障が発生しうる状態であると判定する故障
予知手段と、を具備する。ＥＥＰＲＯＭ２は複数のデー
タ領域を有しており、前記カウンタはその複数のデータ
領域ごとに備えられており、故障予知手段はその複数の
データ領域ごとに判定する。ＥＥＰＲＯＭの故障が予知
されたときは、ＥＥＰＲＯＭ２内においてデータ領域と
して使用されている領域を移動させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、データ処理装置に
関し、より詳細には、電気的消去書込可能読出専用メモ
リ(Electrically Erasable/Programable Read Only Mem
ory)（以下、ＥＥＰＲＯＭという）を有するデータ処理
装置に関する。
関し、より詳細には、電気的消去書込可能読出専用メモ
リ(Electrically Erasable/Programable Read Only Mem
ory)（以下、ＥＥＰＲＯＭという）を有するデータ処理
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、マイクロコンピュータシステム
等の小型のデータ処理装置では、プログラムエリアをＲ
ＯＭ(Read Only Memory)、データエリアをＲＡＭ(Rando
m Access Memory)で構成するものが多い。また、電源が
切断された状態においても保持されるべきデータを有す
る装置では、さらにＥＥＰＲＯＭがそれらのデータを記
憶するために使用されている。
等の小型のデータ処理装置では、プログラムエリアをＲ
ＯＭ(Read Only Memory)、データエリアをＲＡＭ(Rando
m Access Memory)で構成するものが多い。また、電源が
切断された状態においても保持されるべきデータを有す
る装置では、さらにＥＥＰＲＯＭがそれらのデータを記
憶するために使用されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ＥＥＰＲＯＭは、書き
換え回数に制限を設けることにより、その品質が保証さ
れているため、保証回数を越えると、データの信頼性が
失われると考えなくてはならない。そして、ＥＥＰＲＯ
Ｍは、書き換え頻度が高かった領域のような特定の領域
のみ故障することがある。ただし、故障であると判定し
ても、実際に故障しているか否か不確実な場合がある。
また、ＥＥＰＲＯＭの異常や故障が装置に明らかな影響
を及ぼさない限り、ユーザがそのような異常や故障を認
識することは一般的にできない。さらに、ＥＥＰＲＯＭ
の故障を修理する際に、装置単位の交換が必要となって
修理コストの増大を招く場合がある。そして、たとえＥ
ＥＰＲＯＭの交換のみで対策することが可能な場合であ
っても、重要なデータがその交換の際に消去されてしま
うといった事態に至ることがある。
換え回数に制限を設けることにより、その品質が保証さ
れているため、保証回数を越えると、データの信頼性が
失われると考えなくてはならない。そして、ＥＥＰＲＯ
Ｍは、書き換え頻度が高かった領域のような特定の領域
のみ故障することがある。ただし、故障であると判定し
ても、実際に故障しているか否か不確実な場合がある。
また、ＥＥＰＲＯＭの異常や故障が装置に明らかな影響
を及ぼさない限り、ユーザがそのような異常や故障を認
識することは一般的にできない。さらに、ＥＥＰＲＯＭ
の故障を修理する際に、装置単位の交換が必要となって
修理コストの増大を招く場合がある。そして、たとえＥ
ＥＰＲＯＭの交換のみで対策することが可能な場合であ
っても、重要なデータがその交換の際に消去されてしま
うといった事態に至ることがある。
【０００４】かかる実情に鑑み、本発明の目的は、ＥＥ
ＰＲＯＭを使用したデータ処理装置においてＥＥＰＲＯ
Ｍに関する適切な故障予知、故障検知、及び故障対策
（フェールセーフ処理）の手法を確立することにある。
ＰＲＯＭを使用したデータ処理装置においてＥＥＰＲＯ
Ｍに関する適切な故障予知、故障検知、及び故障対策
（フェールセーフ処理）の手法を確立することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に案出された、本願第１の発明に係るデータ処理装置
は、メモリの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭで構成する
データ処理装置であって、前記ＥＥＰＲＯＭのデータを
書き換えた回数を計数しかつ記憶するカウンタと、前記
カウンタの値が所定の値に達したときに、前記ＥＥＰＲ
ＯＭの故障が発生しうる状態であると判定する故障予知
手段と、を具備する。
に案出された、本願第１の発明に係るデータ処理装置
は、メモリの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭで構成する
データ処理装置であって、前記ＥＥＰＲＯＭのデータを
書き換えた回数を計数しかつ記憶するカウンタと、前記
カウンタの値が所定の値に達したときに、前記ＥＥＰＲ
ＯＭの故障が発生しうる状態であると判定する故障予知
手段と、を具備する。
【０００６】第２の発明によれば、第１の発明に係る装
置において、前記ＥＥＰＲＯＭは分割された複数のデー
タ領域を有しており、前記カウンタは前記複数のデータ
領域ごとに備えられており、前記故障予知手段は前記複
数のデータ領域ごとに判定するものとされる。
置において、前記ＥＥＰＲＯＭは分割された複数のデー
タ領域を有しており、前記カウンタは前記複数のデータ
領域ごとに備えられており、前記故障予知手段は前記複
数のデータ領域ごとに判定するものとされる。
【０００７】第３の発明によれば、第１の発明に係る装
置において、前記カウンタは該データ処理装置内のＲＡ
Ｍ上に形成され、前記カウンタの値は該データ処理装置
の電源が切断される直前に前記ＥＥＰＲＯＭ上のカウン
タに記憶せしめられるものとされる。
置において、前記カウンタは該データ処理装置内のＲＡ
Ｍ上に形成され、前記カウンタの値は該データ処理装置
の電源が切断される直前に前記ＥＥＰＲＯＭ上のカウン
タに記憶せしめられるものとされる。
【０００８】第４の発明によれば、第３の発明に係る装
置において、ＥＥＰＲＯＭ上の前記カウンタの最下位ワ
ードは、複数個準備され、該カウンタの値が所定の値に
達したときに、使用される最下位ワードが切り換えられ
るものとされる。
置において、ＥＥＰＲＯＭ上の前記カウンタの最下位ワ
ードは、複数個準備され、該カウンタの値が所定の値に
達したときに、使用される最下位ワードが切り換えられ
るものとされる。
【０００９】第５の発明に係るデータ処理装置は、メモ
リの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭで構成するデータ処
理装置であって、前記ＥＥＰＲＯＭのデータの中で異常
となったデータのアドレス及び該アドレスにおける異常
検知回数を記憶する手段と、前記異常検知回数が所定の
値に達したときに、当該アドレスのデータに関して故障
が発生したと判定する故障検知手段と、を具備する。
リの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭで構成するデータ処
理装置であって、前記ＥＥＰＲＯＭのデータの中で異常
となったデータのアドレス及び該アドレスにおける異常
検知回数を記憶する手段と、前記異常検知回数が所定の
値に達したときに、当該アドレスのデータに関して故障
が発生したと判定する故障検知手段と、を具備する。
【００１０】第６の発明によれば、第５の発明に係る装
置において、前記故障検知手段により故障が発生したと
判定されたデータが書き込まれたタイミングと同一のタ
イミングで書き換えられたデータに関し、故障が発生し
うる状態であると判定する故障予知手段、をさらに具備
するものとされる。
置において、前記故障検知手段により故障が発生したと
判定されたデータが書き込まれたタイミングと同一のタ
イミングで書き換えられたデータに関し、故障が発生し
うる状態であると判定する故障予知手段、をさらに具備
するものとされる。
【００１１】第７の発明に係るデータ処理装置は、メモ
リの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭで構成するデータ処
理装置であって、前記ＥＥＰＲＯＭの故障を予知する故
障予知手段と、前記ＥＥＰＲＯＭの故障が予知されたと
きに、前記ＥＥＰＲＯＭ内においてデータ領域として使
用されている領域を移動させるデータ領域移動手段と、
を具備する。
リの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭで構成するデータ処
理装置であって、前記ＥＥＰＲＯＭの故障を予知する故
障予知手段と、前記ＥＥＰＲＯＭの故障が予知されたと
きに、前記ＥＥＰＲＯＭ内においてデータ領域として使
用されている領域を移動させるデータ領域移動手段と、
を具備する。
【００１２】第８の発明によれば、第７の発明に係る装
置において、前記ＥＥＰＲＯＭは分割された複数のデー
タ領域を有しており、前記データ領域移動手段によって
移動せしめられるデータ領域は故障が予知されたデータ
領域のみであるものとされる。
置において、前記ＥＥＰＲＯＭは分割された複数のデー
タ領域を有しており、前記データ領域移動手段によって
移動せしめられるデータ領域は故障が予知されたデータ
領域のみであるものとされる。
【００１３】第９の発明に係るデータ処理装置は、メモ
リの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭで構成するデータ処
理装置であって、前記ＥＥＰＲＯＭの故障を検知する故
障検知手段と、前記ＥＥＰＲＯＭの故障が検知されたと
きに、前記ＥＥＰＲＯＭ内において関連するデータ領域
を所定の内容に初期化する手段と、を具備する。
リの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭで構成するデータ処
理装置であって、前記ＥＥＰＲＯＭの故障を検知する故
障検知手段と、前記ＥＥＰＲＯＭの故障が検知されたと
きに、前記ＥＥＰＲＯＭ内において関連するデータ領域
を所定の内容に初期化する手段と、を具備する。
【００１４】第１０の発明に係るデータ処理装置は、メ
モリの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭで構成するデータ
処理装置であって、前記ＥＥＰＲＯＭの故障を予知又は
検知する故障予知又は検知手段と、前記ＥＥＰＲＯＭの
故障が予知又は検知されたときに、警告を発生する手段
と、を具備する。
モリの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭで構成するデータ
処理装置であって、前記ＥＥＰＲＯＭの故障を予知又は
検知する故障予知又は検知手段と、前記ＥＥＰＲＯＭの
故障が予知又は検知されたときに、警告を発生する手段
と、を具備する。
【００１５】第１１の発明によれば、第１０の発明に係
る装置において、前記警告の発生とともに前記ＥＥＰＲ
ＯＭのデータ内容を出力する手段をさらに具備する。
る装置において、前記警告の発生とともに前記ＥＥＰＲ
ＯＭのデータ内容を出力する手段をさらに具備する。
【００１６】第１２の発明によれば、第１０の発明に係
る装置において、同一の書き込み処理がなされる複数個
のＥＥＰＲＯＭが備えられており、かつ、前記警告の発
生に伴う異常品のＥＥＰＲＯＭの交換時に、交換後の新
たなＥＥＰＲＯＭに正常品のＥＥＰＲＯＭの内容をコピ
ーする手段をさらに具備するものとされる。
る装置において、同一の書き込み処理がなされる複数個
のＥＥＰＲＯＭが備えられており、かつ、前記警告の発
生に伴う異常品のＥＥＰＲＯＭの交換時に、交換後の新
たなＥＥＰＲＯＭに正常品のＥＥＰＲＯＭの内容をコピ
ーする手段をさらに具備するものとされる。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の実施例を説明する。
の実施例を説明する。
【００１８】図１は、本発明の一実施例に係るデータ処
理装置の構成を示すブロック図である。データ処理装置
の中枢となる中央処理装置（ＣＰＵ）１は、ＲＯＭ１１
及びＲＡＭ１２を内蔵したマイクロプロセッサで構成さ
れ、ＲＯＭ１１に格納されたプログラムに従ってデータ
処理を実行する。ＲＡＭ１２は、そのようなデータ処理
過程における一時的なデータ記憶場所として使用される
（ノーマルＲＡＭとも呼ばれる）。また、ＣＰＵ１に外
付けされているＥＥＰＲＯＭ２は、装置が電源オフとさ
れて停止している状態においても保持されるべきデータ
を格納するために使用されている。ＣＰＵ１は、ＥＥＰ
ＲＯＭ２へクロックＣＬＫ及びシリアルデータ出力ＳＤ
Ｏを供給し、ＥＥＰＲＯＭ２よりシリアルデータ入力Ｓ
ＤＩを受け取る。なお、ＲＡＭ１２には、ＥＥＰＲＯＭ
２内のデータをコピーして更新するためのワークエリア
１２１が設けられている。
理装置の構成を示すブロック図である。データ処理装置
の中枢となる中央処理装置（ＣＰＵ）１は、ＲＯＭ１１
及びＲＡＭ１２を内蔵したマイクロプロセッサで構成さ
れ、ＲＯＭ１１に格納されたプログラムに従ってデータ
処理を実行する。ＲＡＭ１２は、そのようなデータ処理
過程における一時的なデータ記憶場所として使用される
（ノーマルＲＡＭとも呼ばれる）。また、ＣＰＵ１に外
付けされているＥＥＰＲＯＭ２は、装置が電源オフとさ
れて停止している状態においても保持されるべきデータ
を格納するために使用されている。ＣＰＵ１は、ＥＥＰ
ＲＯＭ２へクロックＣＬＫ及びシリアルデータ出力ＳＤ
Ｏを供給し、ＥＥＰＲＯＭ２よりシリアルデータ入力Ｓ
ＤＩを受け取る。なお、ＲＡＭ１２には、ＥＥＰＲＯＭ
２内のデータをコピーして更新するためのワークエリア
１２１が設けられている。
【００１９】図２は、ＥＥＰＲＯＭ２のメモリマップを
示す図である。ＥＥＰＲＯＭ２は、複数のデータ領域Ｄ
Ａ，ＤＢ，…を有している。さらに、データ領域ＤＡ
は、複数のデータＤＡ１，ＤＡ２，…を格納し、データ
領域ＤＢは、複数のデータＤＢ１，ＤＢ２，…を格納す
る（以下、同様）構成となっている。また、これらデー
タの領域ＤＡ，ＤＢ，…の予備領域ＤＡ’，ＤＢ’，…
が設けられており、その中のデータは、ＤＡ１’，ＤＡ
２’，…と表示されている。また、データ領域の他に、
後述する処理で使用されるいくつかの制御情報も記憶さ
れる。ＣＤＡＨ、ＣＤＡＭ及びＣＤＡＬは、データ領域
ＤＡの書き換え回数カウンタＣＤＡを構成する上位ワー
ド、中位ワード及び下位ワードを表し、ＣＤＡＬ’は、
ＣＤＡＬの切り換え用に使用されるものである。データ
領域ＤＢ以下に対しても、同様の書き換え回数カウンタ
ＣＤＢ以下が設けられている。また、ＥＥＰＲＯＭ内で
異常が検知された場合のアドレスを記憶するための領域
ＥＲＡＤＲ１，ＥＲＡＤＲ２，…が設けられるととも
に、それとリンクして異常検知回数を記憶するための領
域ＣＥＲ１，ＣＥＲ２，…が設けられている。これらの
制御情報については、後に詳細に説明される。
示す図である。ＥＥＰＲＯＭ２は、複数のデータ領域Ｄ
Ａ，ＤＢ，…を有している。さらに、データ領域ＤＡ
は、複数のデータＤＡ１，ＤＡ２，…を格納し、データ
領域ＤＢは、複数のデータＤＢ１，ＤＢ２，…を格納す
る（以下、同様）構成となっている。また、これらデー
タの領域ＤＡ，ＤＢ，…の予備領域ＤＡ’，ＤＢ’，…
が設けられており、その中のデータは、ＤＡ１’，ＤＡ
２’，…と表示されている。また、データ領域の他に、
後述する処理で使用されるいくつかの制御情報も記憶さ
れる。ＣＤＡＨ、ＣＤＡＭ及びＣＤＡＬは、データ領域
ＤＡの書き換え回数カウンタＣＤＡを構成する上位ワー
ド、中位ワード及び下位ワードを表し、ＣＤＡＬ’は、
ＣＤＡＬの切り換え用に使用されるものである。データ
領域ＤＢ以下に対しても、同様の書き換え回数カウンタ
ＣＤＢ以下が設けられている。また、ＥＥＰＲＯＭ内で
異常が検知された場合のアドレスを記憶するための領域
ＥＲＡＤＲ１，ＥＲＡＤＲ２，…が設けられるととも
に、それとリンクして異常検知回数を記憶するための領
域ＣＥＲ１，ＣＥＲ２，…が設けられている。これらの
制御情報については、後に詳細に説明される。
【００２０】図３は、ノーマルＲＡＭ１２内の前記した
ＥＥＰＲＯＭデータ用ワークエリア１２１のメモリマッ
プを示す図である。このワークエリア１２１は、ＥＥＰ
ＲＯＭ内のデータが、データ予備領域ＤＡ’，ＤＢ’，
…を除いて、格納されるように構成されており、ＥＥＰ
ＲＯＭ内の名称に対応して、頭に“Ｎ”が付された名称
が与えられている。
ＥＥＰＲＯＭデータ用ワークエリア１２１のメモリマッ
プを示す図である。このワークエリア１２１は、ＥＥＰ
ＲＯＭ内のデータが、データ予備領域ＤＡ’，ＤＢ’，
…を除いて、格納されるように構成されており、ＥＥＰ
ＲＯＭ内の名称に対応して、頭に“Ｎ”が付された名称
が与えられている。
【００２１】次に、第１、２、３、７、８及び１０の発
明の実施例について図４を用いて説明する。図４は、デ
ータ領域ＤＡ更新ルーチンの処理手順を示すフローチャ
ートである。すなわち、本データ処理装置では、パワー
オン後、ＥＥＰＲＯＭ２の内容をＲＡＭ内ワークエリア
１２１にコピーして、ＲＡＭ上でデータの更新処理を実
行し、所定の周期で及びパワーオフ前にワークエリア１
２１からＥＥＰＲＯＭ２へデータを戻す処理を実行する
ようにしている。本ルーチンは、データ領域ＤＡに関し
てそのような処理を行うものである。
明の実施例について図４を用いて説明する。図４は、デ
ータ領域ＤＡ更新ルーチンの処理手順を示すフローチャ
ートである。すなわち、本データ処理装置では、パワー
オン後、ＥＥＰＲＯＭ２の内容をＲＡＭ内ワークエリア
１２１にコピーして、ＲＡＭ上でデータの更新処理を実
行し、所定の周期で及びパワーオフ前にワークエリア１
２１からＥＥＰＲＯＭ２へデータを戻す処理を実行する
ようにしている。本ルーチンは、データ領域ＤＡに関し
てそのような処理を行うものである。
【００２２】まず、ステップ１０２では、データ領域Ｄ
Ａ用書き換え回数カウンタＮＣＤＡ（図３に示されるよ
うに、ＮＣＤＡＨ，ＮＣＤＡＭ，ＮＣＤＡＬの３ワード
で構成される）をインクリメントし、ステップ１０４に
進む。なお、本発明では、ＥＥＰＲＯＭのデータの書き
換えをデータ領域ごとに行うことができるように、デー
タ領域ごとにカウンタが持たれる（第２の発明）。ステ
ップ１０４では、ＮＣＤＡが書き換え保証回数＊０．８
以上となったか否かを判定し、その判定結果がＹＥＳの
場合にはステップ１０６に進み、ＮＯの場合にはステッ
プ１０８に進む。ステップ１０６では、ＥＥＰＲＯＭデ
ータ使用領域変更フラグＸＣＨＡＮＧＥを１にセットす
る。すなわち、ステップ１０４及び１０６は、書き換え
回数カウンタの値が所定の値に達したときにＥＥＰＲＯ
Ｍが故障しそうな状態であると判定するものである（第
１の発明）。
Ａ用書き換え回数カウンタＮＣＤＡ（図３に示されるよ
うに、ＮＣＤＡＨ，ＮＣＤＡＭ，ＮＣＤＡＬの３ワード
で構成される）をインクリメントし、ステップ１０４に
進む。なお、本発明では、ＥＥＰＲＯＭのデータの書き
換えをデータ領域ごとに行うことができるように、デー
タ領域ごとにカウンタが持たれる（第２の発明）。ステ
ップ１０４では、ＮＣＤＡが書き換え保証回数＊０．８
以上となったか否かを判定し、その判定結果がＹＥＳの
場合にはステップ１０６に進み、ＮＯの場合にはステッ
プ１０８に進む。ステップ１０６では、ＥＥＰＲＯＭデ
ータ使用領域変更フラグＸＣＨＡＮＧＥを１にセットす
る。すなわち、ステップ１０４及び１０６は、書き換え
回数カウンタの値が所定の値に達したときにＥＥＰＲＯ
Ｍが故障しそうな状態であると判定するものである（第
１の発明）。
【００２３】ステップ１０８では、フラグＸＣＨＡＮＧ
Ｅが１か否かを判定し、１でない場合すなわち０の場合
にはステップ１１０に進み、１の場合にはステップ１１
２に進む。ステップ１１０では、ＲＡＭ上のデータ領域
ＮＤＡ内のデータＮＤＡ１，ＮＤＡ２，…をＥＥＰＲＯ
Ｍ上のデータ領域ＤＡ内のＤＡ１，ＤＡ２，…に書き込
んで、ステップ１１６に進む。一方、ステップ１１２で
は、ＲＡＭ上のデータ領域ＮＤＡ内のデータＮＤＡ１，
ＮＤＡ２，…をＥＥＰＲＯＭ上のデータ予備領域ＤＡ’
内のＤＡ１’，ＤＡ２’，…に書き込んで、ステップ１
１４に進む。このように、本発明では、故障が予知され
たときにＥＥＰＲＯＭ上のデータ使用領域が移動せしめ
られる（第７の発明）。また、その際、故障が予知され
たデータ領域のみが移動せしめられる（第８の発明）。
ステップ１１４では、故障が予知されたため、警告を発
すべく所定のダイアグランプ（図示せず）を点灯させ
（第１０の発明）、ステップ１１６に進む。
Ｅが１か否かを判定し、１でない場合すなわち０の場合
にはステップ１１０に進み、１の場合にはステップ１１
２に進む。ステップ１１０では、ＲＡＭ上のデータ領域
ＮＤＡ内のデータＮＤＡ１，ＮＤＡ２，…をＥＥＰＲＯ
Ｍ上のデータ領域ＤＡ内のＤＡ１，ＤＡ２，…に書き込
んで、ステップ１１６に進む。一方、ステップ１１２で
は、ＲＡＭ上のデータ領域ＮＤＡ内のデータＮＤＡ１，
ＮＤＡ２，…をＥＥＰＲＯＭ上のデータ予備領域ＤＡ’
内のＤＡ１’，ＤＡ２’，…に書き込んで、ステップ１
１４に進む。このように、本発明では、故障が予知され
たときにＥＥＰＲＯＭ上のデータ使用領域が移動せしめ
られる（第７の発明）。また、その際、故障が予知され
たデータ領域のみが移動せしめられる（第８の発明）。
ステップ１１４では、故障が予知されたため、警告を発
すべく所定のダイアグランプ（図示せず）を点灯させ
（第１０の発明）、ステップ１１６に進む。
【００２４】ステップ１１６では、今回の本ルーチンの
起動がパワーダウン前であることによるものか否か、す
なわちパワーダウン指示があるか否かを判定し（例えば
車両内の装置であればイグニションスイッチの信号を入
力することにより判定する）、パワーダウン指示がある
場合にはステップ１１８に進み、ない場合には本ルーチ
ンを終了する。ステップ１１８では、ＲＡＭ上のカウン
タＮＣＤＡ（すなわちＮＣＤＡＨ，ＮＣＤＡＭ，ＮＣＤ
ＡＬ）の内容を、ＥＥＰＲＯＭ上のカウンタＣＤＡ（す
なわちＣＤＡＨ，ＣＤＡＭ，ＣＤＡＬ）へコピーして、
本ルーチンを終了する。このように、本発明では、デー
タの書き換えごとにカウンタをインクリメントしている
と、カウンタ自体の値の方が早く書き換え上限回数に達
してしまうので、カウンタは、ＲＡＭ上に置かれ、パワ
ーダウン直前にＥＥＰＲＯＭ上のカウンタにコピーされ
る（第３の発明）。
起動がパワーダウン前であることによるものか否か、す
なわちパワーダウン指示があるか否かを判定し（例えば
車両内の装置であればイグニションスイッチの信号を入
力することにより判定する）、パワーダウン指示がある
場合にはステップ１１８に進み、ない場合には本ルーチ
ンを終了する。ステップ１１８では、ＲＡＭ上のカウン
タＮＣＤＡ（すなわちＮＣＤＡＨ，ＮＣＤＡＭ，ＮＣＤ
ＡＬ）の内容を、ＥＥＰＲＯＭ上のカウンタＣＤＡ（す
なわちＣＤＡＨ，ＣＤＡＭ，ＣＤＡＬ）へコピーして、
本ルーチンを終了する。このように、本発明では、デー
タの書き換えごとにカウンタをインクリメントしている
と、カウンタ自体の値の方が早く書き換え上限回数に達
してしまうので、カウンタは、ＲＡＭ上に置かれ、パワ
ーダウン直前にＥＥＰＲＯＭ上のカウンタにコピーされ
る（第３の発明）。
【００２５】次に、第４の発明の実施例について図５を
用いて説明する。図５は、データ領域ＤＡ更新ルーチン
の他の実施例の処理手順を示すフローチャートである。
ＥＥＰＲＯＭ上のカウンタの書き換え回数も、データの
書き換え回数に比例して増えていき、書き換え上限回数
に達してしまうので、第４の発明では、カウンタの最下
位ワードを複数個備え、一定回数ごとに使い捨てるよう
にする。具体的には、まず、ステップ２０２において、
カウンタ最下位ワードＮＣＤＡＬをインクリメントし、
ステップ２０４に進む。ステップ２０４では、ＮＣＤＡ
Ｌがオーバフローしたか否かを判定し、オーバフローし
なかった場合にはステップ２１２に進み、オーバフロー
した場合にはステップ２０６に進む。ステップ２０６で
は、カウンタ中位ワードＮＣＤＡＭをインクリメント
し、ステップ２０８に進む。ステップ２０８では、ＮＣ
ＤＡＭがオーバフローしたか否かを判定し、オーバフロ
ーしなかった場合にはステップ２１２に進み、オーバフ
ローした場合にはステップ２１０に進む。ステップ２１
０では、カウンタ上位ワードＮＣＤＡＨをインクリメン
トし、ステップ２１２に進む。
用いて説明する。図５は、データ領域ＤＡ更新ルーチン
の他の実施例の処理手順を示すフローチャートである。
ＥＥＰＲＯＭ上のカウンタの書き換え回数も、データの
書き換え回数に比例して増えていき、書き換え上限回数
に達してしまうので、第４の発明では、カウンタの最下
位ワードを複数個備え、一定回数ごとに使い捨てるよう
にする。具体的には、まず、ステップ２０２において、
カウンタ最下位ワードＮＣＤＡＬをインクリメントし、
ステップ２０４に進む。ステップ２０４では、ＮＣＤＡ
Ｌがオーバフローしたか否かを判定し、オーバフローし
なかった場合にはステップ２１２に進み、オーバフロー
した場合にはステップ２０６に進む。ステップ２０６で
は、カウンタ中位ワードＮＣＤＡＭをインクリメント
し、ステップ２０８に進む。ステップ２０８では、ＮＣ
ＤＡＭがオーバフローしたか否かを判定し、オーバフロ
ーしなかった場合にはステップ２１２に進み、オーバフ
ローした場合にはステップ２１０に進む。ステップ２１
０では、カウンタ上位ワードＮＣＤＡＨをインクリメン
トし、ステップ２１２に進む。
【００２６】ステップ２１２では、カウンタ上位ワード
ＮＣＤＡＨの値が０か否かを判定する。０の場合には、
書き換え回数が少ないと判断して、ステップ２１４に進
み、ＲＡＭ上のカウンタ最下位ワードＮＣＤＡＬをＥＥ
ＰＲＯＭ上のＣＤＡＬにコピーする。一方、０以外の場
合には、書き換え回数が多いと判断して、ステップ２１
６に進み、ＮＣＤＡＬをＥＥＰＲＯＭ上に別途設けられ
ているＣＤＡＬ’にコピーする。最後に、ステップ２１
８では、ＲＡＭ上のカウンタの中位及び上位ワード並び
にデータをＥＥＰＲＯＭにコピーする。
ＮＣＤＡＨの値が０か否かを判定する。０の場合には、
書き換え回数が少ないと判断して、ステップ２１４に進
み、ＲＡＭ上のカウンタ最下位ワードＮＣＤＡＬをＥＥ
ＰＲＯＭ上のＣＤＡＬにコピーする。一方、０以外の場
合には、書き換え回数が多いと判断して、ステップ２１
６に進み、ＮＣＤＡＬをＥＥＰＲＯＭ上に別途設けられ
ているＣＤＡＬ’にコピーする。最後に、ステップ２１
８では、ＲＡＭ上のカウンタの中位及び上位ワード並び
にデータをＥＥＰＲＯＭにコピーする。
【００２７】次に、第５、６及び９の発明の実施例につ
いて図６、図７及び図８を用いて説明する。図６は、デ
ータ領域にチェック用ミラーデータ（元のデータの１と
０とを反転させたデータ）を設けた場合のメモリマップ
を示す図である。すなわち、ＥＥＰＲＯＭ上において、
図６（Ａ）に示されるように、データＤＡ１に対してミ
ラーデータＤＡ１ｍ、データＤＡ２に対してミラーデー
タＤＡ２ｍ、というようにチェック用ミラーデータを各
データごとに備えるようにする。また、図６（Ｂ）に示
されるように、ＲＡＭ上においても対応して、データＮ
ＤＡ１及びミラーデータＮＤＡ１ｍ等が格納できるよう
にする。なお、＆ＮＤＡ１等は、ＮＤＡ１等のアドレス
を表す。
いて図６、図７及び図８を用いて説明する。図６は、デ
ータ領域にチェック用ミラーデータ（元のデータの１と
０とを反転させたデータ）を設けた場合のメモリマップ
を示す図である。すなわち、ＥＥＰＲＯＭ上において、
図６（Ａ）に示されるように、データＤＡ１に対してミ
ラーデータＤＡ１ｍ、データＤＡ２に対してミラーデー
タＤＡ２ｍ、というようにチェック用ミラーデータを各
データごとに備えるようにする。また、図６（Ｂ）に示
されるように、ＲＡＭ上においても対応して、データＮ
ＤＡ１及びミラーデータＮＤＡ１ｍ等が格納できるよう
にする。なお、＆ＮＤＡ１等は、ＮＤＡ１等のアドレス
を表す。
【００２８】そして、図７及び図８に示されるようなデ
ータ領域ＤＡチェックルーチンを実行する。なお、この
ルーチンは、所定時間周期で実行される。まず、ステッ
プ３０２では、データＤＡ１，ＤＡ２，…をそれらのミ
ラーデータＤＡ１ｍ，ＤＡ２ｍ，…とともにＲＡＭ上に
コピーする。次いで、ステップ３０４では、データＮＤ
Ａ１とミラーデータＮＤＡ１ｍとを照合して正常か否か
をチェックし、正常な場合にはステップ３０８に進み、
異常な場合にはステップ３０６に進む。ステップ３０６
では、ＮＤＡ１の格納アドレス＆ＮＤＡ１をエラーアド
レスＮＥＲＡＤＲｉ（ｉ＝１，２，３，…）として記憶
するとともに、異常検知回数のカウンタＮＣＥＲｉをイ
ンクリメントする。すなわち、既にそのアドレスがエラ
ーアドレスＮＥＲＡＤＲｉとして登録されている場合に
は、カウンタＮＣＥＲｉをインクリメントすればよい
し、未登録の場合には、新たにエラーアドレスを登録し
てカウンタの値を１にすればよい。ステップ３０８以降
では、ＮＤＡ２以降のデータについて同様に照合チェッ
クを行う。
ータ領域ＤＡチェックルーチンを実行する。なお、この
ルーチンは、所定時間周期で実行される。まず、ステッ
プ３０２では、データＤＡ１，ＤＡ２，…をそれらのミ
ラーデータＤＡ１ｍ，ＤＡ２ｍ，…とともにＲＡＭ上に
コピーする。次いで、ステップ３０４では、データＮＤ
Ａ１とミラーデータＮＤＡ１ｍとを照合して正常か否か
をチェックし、正常な場合にはステップ３０８に進み、
異常な場合にはステップ３０６に進む。ステップ３０６
では、ＮＤＡ１の格納アドレス＆ＮＤＡ１をエラーアド
レスＮＥＲＡＤＲｉ（ｉ＝１，２，３，…）として記憶
するとともに、異常検知回数のカウンタＮＣＥＲｉをイ
ンクリメントする。すなわち、既にそのアドレスがエラ
ーアドレスＮＥＲＡＤＲｉとして登録されている場合に
は、カウンタＮＣＥＲｉをインクリメントすればよい
し、未登録の場合には、新たにエラーアドレスを登録し
てカウンタの値を１にすればよい。ステップ３０８以降
では、ＮＤＡ２以降のデータについて同様に照合チェッ
クを行う。
【００２９】データの照合チェック完了後のステップ３
１２では、異常検知回数のカウンタＮＣＥＲ１が３以上
か否かを判定し、３以上の場合にはステップ３１４に進
み、３未満の場合にはステップ３１６に進む。ステップ
３１４では、ＤＡ１異常と判定して、ステップ３２０に
進む。ステップ３１６以下においては、カウンタＮＣＥ
Ｒ２以下について同様の判定を行う。このように、本発
明では、ＥＥＰＲＯＭのデータの中で、異常となったデ
ータのアドレスを記憶しておき、所定の回数、異常とな
ったアドレスのデータは故障と判定する（第５の発
明）。また、その際、そのデータと同じタイミングで書
き換えられたデータに関しても、信頼性が低く故障が発
生しうる状態であると判定するようにしてもよい（第６
の発明）。
１２では、異常検知回数のカウンタＮＣＥＲ１が３以上
か否かを判定し、３以上の場合にはステップ３１４に進
み、３未満の場合にはステップ３１６に進む。ステップ
３１４では、ＤＡ１異常と判定して、ステップ３２０に
進む。ステップ３１６以下においては、カウンタＮＣＥ
Ｒ２以下について同様の判定を行う。このように、本発
明では、ＥＥＰＲＯＭのデータの中で、異常となったデ
ータのアドレスを記憶しておき、所定の回数、異常とな
ったアドレスのデータは故障と判定する（第５の発
明）。また、その際、そのデータと同じタイミングで書
き換えられたデータに関しても、信頼性が低く故障が発
生しうる状態であると判定するようにしてもよい（第６
の発明）。
【００３０】ステップ３２０では、ＲＡＭ上のデータ領
域ＮＤＡ（データＮＤＡ１，ＮＤＡ２，…）を初期化す
る。すなわち、データチェックにより異常と判定されて
も、故障であるとは必ずしも断定できず、また、異常と
なったデータと同じタイミングで書き換えられたデータ
は誤ったデータになっている可能性があるので、それら
一連のデータを初期化するのである（第９の発明）。次
いで、ステップ３２２では、ＲＡＭ上のデータ領域ＮＤ
Ａ内のデータＮＤＡ１，ＮＤＡ２，…をＥＥＰＲＯＭ上
のデータ予備領域内のＤＡ１’，ＤＡ２’，…に格納
し、本ルーチンを終了する。
域ＮＤＡ（データＮＤＡ１，ＮＤＡ２，…）を初期化す
る。すなわち、データチェックにより異常と判定されて
も、故障であるとは必ずしも断定できず、また、異常と
なったデータと同じタイミングで書き換えられたデータ
は誤ったデータになっている可能性があるので、それら
一連のデータを初期化するのである（第９の発明）。次
いで、ステップ３２２では、ＲＡＭ上のデータ領域ＮＤ
Ａ内のデータＮＤＡ１，ＮＤＡ２，…をＥＥＰＲＯＭ上
のデータ予備領域内のＤＡ１’，ＤＡ２’，…に格納
し、本ルーチンを終了する。
【００３１】次に、第１１及び１２の発明の実施例につ
いて図９及び図１０を用いて説明する。この実施例で
は、図９に示されるように、全く同一の書き込み処理が
なされる２つのＥＥＰＲＯＭ、すなわち第１のＥＥＰＲ
ＯＭ２１及び第２のＥＥＰＲＯＭ２２がＣＰＵ１に外付
けされる。一方、ＥＥＰＲＯＭからの読み込みに関して
は、選択スイッチ３を介していずれかのＥＥＰＲＯＭが
選択されるようになっている。その選択スイッチ３の切
り換えは、ＣＰＵ１からの切り換えスイッチ操作信号Ｓ
ＥＬによる。また、ＣＰＵ１には、故障したＥＥＰＲＯ
Ｍの交換後にＯＮされるべきテスト端子が接続されてお
り、ＣＰＵ１は、そのテスト信号ＴＳＴを入力すること
ができるようになっている。
いて図９及び図１０を用いて説明する。この実施例で
は、図９に示されるように、全く同一の書き込み処理が
なされる２つのＥＥＰＲＯＭ、すなわち第１のＥＥＰＲ
ＯＭ２１及び第２のＥＥＰＲＯＭ２２がＣＰＵ１に外付
けされる。一方、ＥＥＰＲＯＭからの読み込みに関して
は、選択スイッチ３を介していずれかのＥＥＰＲＯＭが
選択されるようになっている。その選択スイッチ３の切
り換えは、ＣＰＵ１からの切り換えスイッチ操作信号Ｓ
ＥＬによる。また、ＣＰＵ１には、故障したＥＥＰＲＯ
Ｍの交換後にＯＮされるべきテスト端子が接続されてお
り、ＣＰＵ１は、そのテスト信号ＴＳＴを入力すること
ができるようになっている。
【００３２】図９に示されるような構成において実施さ
れる故障対策ルーチンは、図１０のフローチャートに示
される。まず、ステップ４０２では、前述したような故
障予知又は検知の手段に基づいて第１のＥＥＰＲＯＭ２
１が異常か否かを判定し、異常の場合にはステップ４０
４に進み、正常の場合には本ルーチンを終了する。ステ
ップ４０４では、第１のＥＥＰＲＯＭ２１に関するダイ
アグデータを適当な手段で出力し、ステップ４０６に進
む。このように、本発明では、ＥＥＰＲＯＭの交換等の
処置が必要か否かを判定することができるように、デー
タの内容を吐き出す機能が内蔵される（第１１の発
明）。ステップ４０６では、ＥＥＰＲＯＭ選択スイッチ
３を第２のＥＥＰＲＯＭ２２側に切り換えて、ステップ
４０８に進む。
れる故障対策ルーチンは、図１０のフローチャートに示
される。まず、ステップ４０２では、前述したような故
障予知又は検知の手段に基づいて第１のＥＥＰＲＯＭ２
１が異常か否かを判定し、異常の場合にはステップ４０
４に進み、正常の場合には本ルーチンを終了する。ステ
ップ４０４では、第１のＥＥＰＲＯＭ２１に関するダイ
アグデータを適当な手段で出力し、ステップ４０６に進
む。このように、本発明では、ＥＥＰＲＯＭの交換等の
処置が必要か否かを判定することができるように、デー
タの内容を吐き出す機能が内蔵される（第１１の発
明）。ステップ４０６では、ＥＥＰＲＯＭ選択スイッチ
３を第２のＥＥＰＲＯＭ２２側に切り換えて、ステップ
４０８に進む。
【００３３】ステップ４０８では、第１のＥＥＰＲＯＭ
２１が交換されてテスト端子がＯＮされた状態になって
いるか否かを所定時間監視し、ＯＮされなければ本ルー
チンを終了し、ＯＮされればステップ４１０に進む。ス
テップ４１０では、第２のＥＥＰＲＯＭ２２より全デー
タを読み込む。次いで、ステップ４１２では、そのデー
タを第１のＥＥＰＲＯＭ２１に書き込んで、処理を終了
する。
２１が交換されてテスト端子がＯＮされた状態になって
いるか否かを所定時間監視し、ＯＮされなければ本ルー
チンを終了し、ＯＮされればステップ４１０に進む。ス
テップ４１０では、第２のＥＥＰＲＯＭ２２より全デー
タを読み込む。次いで、ステップ４１２では、そのデー
タを第１のＥＥＰＲＯＭ２１に書き込んで、処理を終了
する。
【００３４】以上、本発明の実施例について述べてきた
が、もちろん本発明はこれに限定されるものではなく、
様々な実施例を案出することは当業者にとって容易なこ
とであろう。例えば、第１２の発明を除いて、ＥＥＰＲ
ＯＭを内蔵するマイクロプロセッサを採用したデータ処
理装置にも、本発明は適用可能である。
が、もちろん本発明はこれに限定されるものではなく、
様々な実施例を案出することは当業者にとって容易なこ
とであろう。例えば、第１２の発明を除いて、ＥＥＰＲ
ＯＭを内蔵するマイクロプロセッサを採用したデータ処
理装置にも、本発明は適用可能である。
【００３５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ＥＥＰＲＯＭを使用したデータ処理装置において、ＥＥ
ＰＲＯＭに関する適切な故障予知、故障検知、及び故障
対策（フェールセーフ処理）が確立される。すなわち、
第１の発明によれば、書き換え回数が保証回数を越えて
ＥＥＰＲＯＭが故障する前にデータを移動させることに
より、データ破壊が防止される。また、第２の発明によ
れば、全データを移動させるとＥＥＰＲＯＭのメモリが
不足する可能性があるので、データ領域を細分して操作
することにより、メモリの節約が可能となる。また、第
３の発明によれば、書き換え頻度が減少し、ＥＥＰＲＯ
Ｍの寿命を長くすることができる。
ＥＥＰＲＯＭを使用したデータ処理装置において、ＥＥ
ＰＲＯＭに関する適切な故障予知、故障検知、及び故障
対策（フェールセーフ処理）が確立される。すなわち、
第１の発明によれば、書き換え回数が保証回数を越えて
ＥＥＰＲＯＭが故障する前にデータを移動させることに
より、データ破壊が防止される。また、第２の発明によ
れば、全データを移動させるとＥＥＰＲＯＭのメモリが
不足する可能性があるので、データ領域を細分して操作
することにより、メモリの節約が可能となる。また、第
３の発明によれば、書き換え頻度が減少し、ＥＥＰＲＯ
Ｍの寿命を長くすることができる。
【００３６】また、第４の発明によれば、書き換えカウ
ンタ自体の故障によりデータの故障検知ができなくなる
ことが防止される。また、第５及び第８の発明によれ
ば、メモリが節約される。また、第６の発明によれば、
故障し易そうなデータが事前に検知され、保護可能とな
る。また、第７の発明によれば、データの保護が図られ
る。また、第９の発明によれば、データの信頼性がない
ときにフェールセーフが図られる。また、第１０の発明
によれば、故障状態をいち早くユーザに知らせることが
できる。また、第１１及び第１２の発明によれば、故障
から修理までの操作においてデータの保持が確保され
る。
ンタ自体の故障によりデータの故障検知ができなくなる
ことが防止される。また、第５及び第８の発明によれ
ば、メモリが節約される。また、第６の発明によれば、
故障し易そうなデータが事前に検知され、保護可能とな
る。また、第７の発明によれば、データの保護が図られ
る。また、第９の発明によれば、データの信頼性がない
ときにフェールセーフが図られる。また、第１０の発明
によれば、故障状態をいち早くユーザに知らせることが
できる。また、第１１及び第１２の発明によれば、故障
から修理までの操作においてデータの保持が確保され
る。
【図１】本発明の一実施例に係るデータ処理装置の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】ＥＥＰＲＯＭのメモリマップを示す図である。
【図３】ＲＡＭ内のＥＥＰＲＯＭデータ用ワークエリア
を示す図である。
を示す図である。
【図４】データ領域ＤＡ更新ルーチンの処理手順を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図５】データ領域ＤＡ更新ルーチンの他の実施例の処
理手順を示すフローチャートである。
理手順を示すフローチャートである。
【図６】データ領域にチェック用ミラーデータを設けた
場合のメモリマップを示す図である。
場合のメモリマップを示す図である。
【図７】データ領域ＤＡチェックルーチンの処理手順を
示すフローチャート（１／２）を示す図である。
示すフローチャート（１／２）を示す図である。
【図８】データ領域ＤＡチェックルーチンの処理手順を
示すフローチャート（２／２）を示す図である。
示すフローチャート（２／２）を示す図である。
【図９】本発明の他の実施例に係るデータ処理装置の構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図１０】故障対策ルーチンの処理手順を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
１…マイクロプロセッサ（ＣＰＵ） １１…内蔵ＲＯＭ １２…内蔵ＲＡＭ（ノーマルＲＡＭ） １２１…ＥＥＰＲＯＭデータ用ワークエリア ２，２１，２２…ＥＥＰＲＯＭ ３…ＥＥＰＲＯＭ選択スイッチ
Claims (12)
- 【請求項１】 メモリの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭ
で構成するデータ処理装置であって、 前記ＥＥＰＲＯＭのデータを書き換えた回数を計数しか
つ記憶するカウンタと、 前記カウンタの値が所定の値に達したときに、前記ＥＥ
ＰＲＯＭの故障が発生しうる状態であると判定する故障
予知手段と、 を具備するデータ処理装置。 - 【請求項２】 前記ＥＥＰＲＯＭは分割された複数のデ
ータ領域を有しており、前記カウンタは前記複数のデー
タ領域ごとに備えられており、前記故障予知手段は前記
複数のデータ領域ごとに判定するものである、請求項１
に記載のデータ処理装置。 - 【請求項３】 前記カウンタは該データ処理装置内のＲ
ＡＭ上に形成され、前記カウンタの値は該データ処理装
置の電源が切断される直前に前記ＥＥＰＲＯＭ上のカウ
ンタに記憶せしめられる、請求項１に記載のデータ処理
装置。 - 【請求項４】 ＥＥＰＲＯＭ上の前記カウンタの最下位
ワードは、複数個準備され、該カウンタの値が所定の値
に達したときに、使用される最下位ワードが切り換えら
れる、請求項３に記載のデータ処理装置。 - 【請求項５】 メモリの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭ
で構成するデータ処理装置であって、 前記ＥＥＰＲＯＭのデータの中で異常となったデータの
アドレス及び該アドレスにおける異常検知回数を記憶す
る手段と、 前記異常検知回数が所定の値に達したときに、当該アド
レスのデータに関して故障が発生したと判定する故障検
知手段と、 を具備するデータ処理装置。 - 【請求項６】 前記故障検知手段により故障が発生した
と判定されたデータが書き込まれたタイミングと同一の
タイミングで書き換えられたデータに関し、故障が発生
しうる状態であると判定する故障予知手段、をさらに具
備する、請求項５に記載のデータ処理装置。 - 【請求項７】 メモリの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭ
で構成するデータ処理装置であって、 前記ＥＥＰＲＯＭの故障を予知する故障予知手段と、 前記ＥＥＰＲＯＭの故障が予知されたときに、前記ＥＥ
ＰＲＯＭ内においてデータ領域として使用されている領
域を移動させるデータ領域移動手段と、 を具備するデータ処理装置。 - 【請求項８】 前記ＥＥＰＲＯＭは分割された複数のデ
ータ領域を有しており、前記データ領域移動手段によっ
て移動せしめられるデータ領域は故障が予知されたデー
タ領域のみである、請求項７に記載のデータ処理装置。 - 【請求項９】 メモリの少なくとも一部をＥＥＰＲＯＭ
で構成するデータ処理装置であって、 前記ＥＥＰＲＯＭの故障を検知する故障検知手段と、 前記ＥＥＰＲＯＭの故障が検知されたときに、前記ＥＥ
ＰＲＯＭ内において関連するデータ領域を所定の内容に
初期化する手段と、 を具備するデータ処理装置。 - 【請求項１０】 メモリの少なくとも一部をＥＥＰＲＯ
Ｍで構成するデータ処理装置であって、 前記ＥＥＰＲＯＭの故障を予知又は検知する故障予知又
は検知手段と、 前記ＥＥＰＲＯＭの故障が予知又は検知されたときに、
警告を発生する手段と、 を具備するデータ処理装置。 - 【請求項１１】 前記警告の発生とともに前記ＥＥＰＲ
ＯＭのデータ内容を出力する手段をさらに具備する、請
求項１０に記載のデータ処理装置。 - 【請求項１２】 同一の書き込み処理がなされる複数個
のＥＥＰＲＯＭが備えられており、かつ、前記警告の発
生に伴う異常品のＥＥＰＲＯＭの交換時に、交換後の新
たなＥＥＰＲＯＭに正常品のＥＥＰＲＯＭの内容をコピ
ーする手段をさらに具備する、請求項１０に記載のデー
タ処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27797195A JPH09120376A (ja) | 1995-10-25 | 1995-10-25 | データ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27797195A JPH09120376A (ja) | 1995-10-25 | 1995-10-25 | データ処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09120376A true JPH09120376A (ja) | 1997-05-06 |
Family
ID=17590826
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27797195A Withdrawn JPH09120376A (ja) | 1995-10-25 | 1995-10-25 | データ処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09120376A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11120085A (ja) * | 1997-10-15 | 1999-04-30 | Matsushita Electric Works Ltd | 制御システム |
| JPH11296439A (ja) * | 1998-04-08 | 1999-10-29 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
| US6839622B2 (en) | 2002-10-16 | 2005-01-04 | Denso Corporation | Vehicle control system |
| JP2008286682A (ja) * | 2007-05-18 | 2008-11-27 | Yazaki Corp | 電子式ガスメータ |
| JP2009157561A (ja) * | 2007-12-26 | 2009-07-16 | Yamatake Corp | 計測制御機器および記憶素子保護方法 |
| JP2012226575A (ja) * | 2011-04-20 | 2012-11-15 | Mitsubishi Electric Corp | 不揮発性メモリへのデータ保存方法および制御装置 |
| JP2016170604A (ja) * | 2015-03-12 | 2016-09-23 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
| JP2017134440A (ja) * | 2016-01-25 | 2017-08-03 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | メモリ制御回路、メモリ制御システム、メモリ制御方法、及び、メモリ制御プログラム |
-
1995
- 1995-10-25 JP JP27797195A patent/JPH09120376A/ja not_active Withdrawn
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11120085A (ja) * | 1997-10-15 | 1999-04-30 | Matsushita Electric Works Ltd | 制御システム |
| JPH11296439A (ja) * | 1998-04-08 | 1999-10-29 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
| US6839622B2 (en) | 2002-10-16 | 2005-01-04 | Denso Corporation | Vehicle control system |
| JP2008286682A (ja) * | 2007-05-18 | 2008-11-27 | Yazaki Corp | 電子式ガスメータ |
| JP2009157561A (ja) * | 2007-12-26 | 2009-07-16 | Yamatake Corp | 計測制御機器および記憶素子保護方法 |
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| JP2017134440A (ja) * | 2016-01-25 | 2017-08-03 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | メモリ制御回路、メモリ制御システム、メモリ制御方法、及び、メモリ制御プログラム |
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| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030107 |