JPH0915335A - 放射線検出器および放射線検出方法 - Google Patents

放射線検出器および放射線検出方法

Info

Publication number
JPH0915335A
JPH0915335A JP8082844A JP8284496A JPH0915335A JP H0915335 A JPH0915335 A JP H0915335A JP 8082844 A JP8082844 A JP 8082844A JP 8284496 A JP8284496 A JP 8284496A JP H0915335 A JPH0915335 A JP H0915335A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
scintillation
pulse
scintillation fiber
fiber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8082844A
Other languages
English (en)
Inventor
Toru Oka
徹 岡
Kazunori Ikegami
和律 池上
Kiyoshi Yoda
潔 依田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP8082844A priority Critical patent/JPH0915335A/ja
Priority to US08/634,677 priority patent/US5780856A/en
Priority to EP96106438A priority patent/EP0740167B1/en
Priority to DE69614028T priority patent/DE69614028T2/de
Publication of JPH0915335A publication Critical patent/JPH0915335A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/201Measuring radiation intensity with scintillation detectors using scintillating fibres
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/203Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being made of plastics

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 シンチレーションファイバが置かれた環境の
2次元または3次元の放射線分布(放射線源分布および
空間の放射線強度分布)が得られない。 【解決手段】 シンチレーションファイバ102a,1
02bを含む放射線検出系100Aが2次元状または3
次元状に配置されている。マルチチャネル波高分析器1
09a,109bは、2つの入力信号の到着時間差に応
じた波高を有する信号から、放射線検出系100Aにお
ける放射線の入射位置および入射位置における放射線量
率を得る。マイクロコンピュータ110は、逆問題解析
を行って放射線源101の分布または空間の放射線強度
の分布を推定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、放射線管理区域
などの放射線のモニタが必要な環境において、シンチレ
ーションファイバを用いて放射線の入射位置および放射
線量率を検出し、検出結果にもとづいて放射線の1次元
分布、2次元分布または3次元分布を得る放射線検出器
および放射線検出方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図21は例えば「放射線検出器とその応
用」要旨論文集(平成6年1月26日、高エネルギー物
理学研究所)に示された従来のシンチレーションファイ
バを用いた分布型の放射線検出器を示すブロック図であ
る。図において、1503は放射線が入射されると蛍光
を発生するシンチレーションファイバ、103a,10
3bはシンチレーションファイバ1503の両端に接続
された受光素子、104a,104bは受光素子103
a,103bが出力する電気パルスを増幅する増幅器、
105a,105bは増幅器104a,104bが出力
する信号の波形整形を行うコンスタントフラクションデ
ィスクリミネータ、106aは一方のコンスタントフラ
クションディスクリミネータ105bが出力する信号を
遅延する信号遅延回路、107aは入力する2つの信号
の到着時間差に応じた波高を有する信号を生成する時間
波高変換器、108aは時間波高変換器107aの出力
をA−D変換するA−D変換器、109aはA−D変換
器108aの出力にもとづいて波高弁別を行うマルチチ
ャネル波高分析器である。なお、図21には、コリメー
トされた放射線1501、およびシンチレーションファ
イバ1503で発生した蛍光によって生じた光パルス1
502a,1502bも示されている。
【0003】次に動作について説明する。放射線150
1がシンチレーションファイバ1503に入射すると、
シンチレーションファイバ1503内で蛍光が発生す
る。発生した蛍光は、光パルス1502a,1502b
として、シンチレーションファイバ1503の両端に伝
搬する。各光パルス1502a,1502bが受光素子
103a,103bに入力されると、受光素子103
a,103bは、各光パルス1502a,1502bを
電気パルスに変換する。各電気パルスは、増幅器104
a,104bで増幅された後、コンスタントフラクショ
ンディスクリミネータ105a,105bに入力する。
コンスタントフラクションディスクリミネータ105
a,105bは、入力された各信号の波形整形を行う。
【0004】一方のコンスタントフラクションディスク
リミネータ105aから出力される信号は直接時間波高
変換器107aに入力するが、他方のコンスタントフラ
クションディスクリミネータ105bから出力される信
号は、信号遅延回路106aを介して時間波高変換器1
07aに入力する。時間波高変換器107aは、2つの
信号の到着時間の差に応じた波高を有する信号を出力す
る。なお、信号遅延回路106aは、放射線1501が
シンチレーションファイバ1503におけるどの位置に
入力しても、コンスタントフラクションディスクリミネ
ータ105aから出力される一方の信号がコンスタント
フラクションディスクリミネータ105bからの他方の
信号よりも早く時間波高変換器107aに到着すること
を保証するために設けられている。
【0005】A−D変換器108aは、時間波高変換器
107aが出力する信号をA−D変換した後、マルチチ
ャネル波高分析器109aに供給する。マルチチャネル
波高分析器109aは、入力される信号の波高にもとづ
いて放射線の入射位置を特定する。マルチチャネル波高
分析器109aに入力される信号の波高は、各光パルス
1502a,1502bが各受光素子103a,103
bに到達する時間の差に比例している。到達時間差はシ
ンチレーションファイバ1503における放射線150
1の入射位置に対応しているので、マルチチャネル波高
分析器109aは、入力される信号の波高にもとづいて
放射線1501の入射位置を特定することができる。
【0006】マルチチャネル波高分析器109aは、シ
ンチレーションファイバ1503の複数位置に放射線1
501が入力しても、波高弁別を実行することによって
それぞれの放射線1501の入射位置を認識することが
できる。また、パルスのカウント数によって線量率(単
位時間当たりの入射線量)を検出することもできる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の放射線検出器は
以上のように構成されているので、シンチレーションフ
ァイバ1503上の1次元の放射線分布情報しか得られ
ず、シンチレーションファイバ1503が置かれた環境
の2次元または3次元の放射線分布(放射線源分布およ
び空間の放射線強度分布)は得られないという課題があ
った。また、広範囲にわたる空間の1次元分布が得られ
ないという課題があった。
【0008】なお、図21に示された放射線検出器を多
数用いれば放射線の2次元分布、3次元分布を得ること
は可能であるが、コストが上昇する。また、シンチレー
ションファイバの伝送特性等がよくないので広範囲にわ
たる放射線分布の測定を行うことは困難である。
【0009】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、低コストで放射線の1次元分布、
2次元分布または3次元分布を得て、放射線管理区域等
の安全性をより高めることができる放射線検出器および
放射線検出方法を得ることを目的とする。
【0010】また、以下のような放射線検出器または放
射線検出方法を得ることを目的とする。 (1)放射線情報の逆問題解析時に扱う変数を少なくし
て、放射線源の推定結果の誤差と解析時間を低減できる
放射線検出器。 (2)シンチレーションファイバで生じた光パルスの損
失を少なく抑えかつ広範囲の放射線測定を行うことがで
きる放射線検出器。 (3)シンチレーションファイバで生じた光パルスの損
失を簡単に補償することができる放射線検出器。 (4)シンチレーションファイバにおいて発生する光パ
ルスの光量を増大できる放射線検出器。 (5)シンチレーションファイバからの光パルスを高能
率で伝送用光ファイバに伝達できる放射線検出器。 (6)シンチレーションファイバ内での放射線の捕獲能
率を向上した放射線検出器。 (7)高エネルギーの放射線に対してシンチレーション
ファイバ束における光の反応効率を高めることができ、
また、放射線エネルギーの検出感度を上げることができ
る放射線検出器。 (8)シンチレーションファイバからの光パルスをより
高い効率で伝送用光ファイバへ導出できる放射線検出
器。 (9)放射線情報の逆問題解析によって放射線分布検出
を高精度で実行できる放射線検出方法。 (10)測定値および計算値を用いて、放射線情報の逆
問題解析によって放射線源の位置を高精度で推定できる
放射線検出方法。 (11)放射線源の位置を容易に確認できる放射線検出
方法。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明に係
る放射線検出器は、シンチレーションファイバを含む放
射線検出系が2次元状または3次元状に配置されている
ものである。
【0012】請求項2記載の発明に係る放射線検出器
は、放射線分析器が求めた放射線の入射位置および入射
位置における放射線量率にもとづいて逆問題解析を行っ
て放射線源または空間の放射線強度の分布を推定する解
析手段をさらに備えたものである。
【0013】請求項3記載の発明に係る放射線検出器
は、シンチレーションファイバの長手方向に対して直交
する方向に放射線を通過させる放射線指向通過手段を備
えたものである。
【0014】請求項4記載の発明に係る放射線検出器
は、放射線検出系が、シンチレーションファイバによる
放射線検出部と放射線検出部からの光パルスを伝送し放
射線に反応しない伝送用光ファイバとを含む構成になっ
ているものである。
【0015】請求項5記載の発明に係る放射線検出器
は、光パルスを増幅する中継増幅器が放射線検出系の中
途に設けられているものである。
【0016】請求項6記載の発明に係る放射線検出器
は、放射線検出部が、複数のシンチレーションファイバ
が束ねられたシンチレーションファイバ束とその両端に
接続されている伝送用光ファイバとを含む構成になって
いるものである。
【0017】請求項7記載の発明に係る放射線検出器
は、放射線検出系が、複数のシンチレーションファイバ
が束ねられたシンチレーションファイバ束と、シンチレ
ーションファイバ束の両端に接続されたライトガイド
と、各ライトガイドの他端に挿入された波長シフト用光
ファイバとを含む構成になっているものである。
【0018】請求項8記載の発明に係る放射線検出器
は、シンチレーションファイバのクラッディング外周に
反射材層が設けられているものである。
【0019】請求項9記載の発明に係る放射線検出器
は、放射線検出系が、それぞれシンチレーションファイ
バと伝送用光ファイバとが交互につなぎ合わされた複数
のものが光パルスの伝搬方向とは直交する方向で複数の
シンチレーションファイバが存在するように束ねられて
いるものである。
【0020】請求項10記載の発明に係る放射線検出器
は、ライトガイドに接続される波長シフト用光ファイバ
が、ライトガイド内でらせん状に巻かれている構成にな
っているものである。
【0021】請求項11記載の発明に係る放射線検出方
法は、複数の要素に分割された対象領域の周囲における
放射線強度分布を測定してその放射線強度分布に応じた
パターンベクトルを作成するステップと、各要素の中心
に放射線源があると仮定した場合に測定されるであろう
放射線強度分布の計算パターンベクトルを算出するステ
ップと、測定された放射線強度分布に応じたパターンベ
クトルの向きに最も近い向きを持つ計算パターンベクト
ルが生成されたときに仮定された放射線源の位置を確定
するステップと、確定された各放射線源の位置にもとづ
いて対象領域の2次元または3次元の放射線源分布を作
成するステップとを備えたものである。
【0022】請求項12記載の発明に係る放射線検出方
法は、2次元または3次元の放射線源分布から空間の放
射線強度分布を算出するステップと、放射線強度分布を
表示するステップとをさらに備えたものである。
【0023】請求項13記載の発明に係る放射線検出器
は、放射線検出系が1次元状に配置され、シンチレーシ
ョンファイバの長手方向に対して直交する方向に放射線
を通過させる放射線指向通過手段を備えたものである。
【0024】請求項14記載の発明に係る放射線検出器
は、放射線検出系が、1次元状に配置されるとともに、
シンチレーションファイバによる放射線検出部と、放射
線検出部とつなぎ合わされた放射線に反応しない伝送用
光ファイバとを含む構成になっているものである。
【0025】請求項15記載の発明に係る放射線検出器
は、放射線検出系が1次元状に配置され、光パルスを増
幅する中継増幅器が放射線検出系の中途に設けられてい
るものである。
【0026】請求項16記載の発明に係る放射線検出器
は、放射線検出系が、1次元状に配置され、複数のシン
チレーションファイバが束ねられたシンチレーションフ
ァイバ束とその両端に接続されている伝送用光ファイバ
とを含む構成になっているものである。
【0027】請求項17記載の発明に係る放射線検出器
は、放射線検出系が、1次元状に配置され、複数のシン
チレーションファイバが束ねられたシンチレーションフ
ァイバ束と、シンチレーションファイバ束の両端に接続
されたライトガイドと、各ライトガイドの他端に挿入さ
れた波長シフト用光ファイバとを含む構成になっている
ものである。
【0028】請求項18記載の発明に係る放射線検出器
は、放射線検出系が1次元状に配置され、シンチレーシ
ョンファイバのクラッディング外周に反射材層が設けら
れているものである。
【0029】請求項19記載の発明に係る放射線検出器
は、放射線検出系が、1次元状に配置され、それぞれシ
ンチレーションファイバと伝送用光ファイバとが交互に
つなぎ合わされた複数のものが光パルスの伝搬方向とは
直交する方向で複数のシンチレーションファイバが存在
するように束ねられているものである。
【0030】請求項20記載の発明に係る放射線検出器
は、放射線検出系が1次元状に配置され、ライトガイド
に接続される波長シフト用光ファイバが、ライトガイド
内でらせん状に巻かれている構成になっているものであ
る。
【0031】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1による放
射線検出器を示すブロック図である。図において、10
1は測定対象となる放射線源、102a,102bはモ
ニタが必要とされる環境、すなわちモニタ環境の辺に沿
って3次元的にそれぞれ配置された放射線検出部を構成
するシンチレーションファイバ、103a,103bは
シンチレーションファイバ102aの両端に接続された
受光素子、103c,103dはシンチレーションファ
イバ102bの両端に接続された受光素子、104a,
104bは受光素子103a,103bが出力する電気
パルスを増幅する増幅器、104c,104dは受光素
子103c,103dが出力する電気パルスを増幅する
増幅器である。100Aはシンチレーションファイバ1
02a,102bを含む放射線検出系である。
【0032】105a,105bは増幅器104a,1
04bが出力する信号の波形整形を行うコンスタントフ
ラクションディスクリミネータ、105c,105dは
増幅器104c,104dが出力する信号の波形整形を
行うコンスタントフラクションディスクリミネータ、1
06aはコンスタントフラクションディスクリミネータ
105bが出力する信号を遅延する信号遅延回路、10
6bはコンスタントフラクションディスクリミネータ1
05dが出力する信号を遅延する信号遅延回路、107
aはコンスタントフラクションディスクリミネータ10
5aからの信号の到着時間と信号遅延回路106aから
の信号の到着時間との差に応じた波高を有する信号を生
成する時間波高変換器、107bはコンスタントフラク
ションディスクリミネータ105cからの信号の到着時
間と信号遅延回路106bからの信号の到着時間との差
に応じた波高を有する信号を生成する時間波高変換器、
108a,108bは時間波高変換器107a,107
bの出力をA−D変換するA−D変換器、109a,1
09bはA−D変換器108a,108bの出力にもと
づいて波高弁別を行うマルチチャネル波高分析器であ
る。なお、マルチチャネル波高分析器109a,109
bは放射線分析器の一実現例である。
【0033】110はマルチチャネル波高分析器109
a,109bの出力にもとづいて逆問題解析を行い放射
線源101の2次元分布または3次元分布を推定するマ
イクロコンピュータ、121は推定された放射線源10
1の位置や放射線源101の2次元分布および3次元分
布から計算された空間の放射線強度を表示するCRTデ
ィスプレイなどの表示器である。なお、マイクロコンピ
ュータ110は解析手段の一実現例である。
【0034】次に動作について説明する。マイクロコン
ピュータ110は、3次元配置されたシンチレーション
ファイバ102a,102bで検出された放射線の入射
位置と線量との情報から3次元の放射線分布を推定する
ために、逆問題解析手法の一つであるサンプルドパター
ンマッチング(Sampled pattern ma
tching)法を用いる。サンプルドパターンマッチ
ング法は、モニタ環境空間をいくつかの要素に分割し、
各要素に放射線源101が存在すると仮定した場合の放
射線強度分布パターンを計算し、実際測定された放射線
強度分布パターンに最も近い計算による放射線強度分布
パターンに対応した放射線源101の位置を逐次的に探
索する手法である。実際測定された放射線強度分布パタ
ーンと計算による放射線強度分布パターンとの一致度が
最大に達したときに探索を終了する。この方法によれ
ば、放射線源101が複数存在しても各位置が推定され
る。また、各放射線源101の位置が特定されれば、モ
ニタ環境における放射線強度の3次元分布が得られる。
【0035】次に、サンプルドパターンマッチング法に
ついてより詳しく説明する。説明を簡単にするために2
次元分布の推定を例にする。図2に示すように、分布推
定の対象となる対象領域111を9個の要素に分割し、
要素名を図に示すように1,2,・・・,9とする。対
象領域111の外周に12個の放射線検出部A1,A
2,・・・,A12が設けられていると仮定する。そし
て、各放射線検出部A1〜A12による実際の放射線強
度の測定結果をa1,a2,・・・,a12とし、測定
された放射線強度分布のパターンベクトルAをA=(a
1,a2,・・・,a12)とおく。
【0036】次いで、ある要素の中心に単位強度の放射
線源101が存在すると仮定し、このとき外周に置かれ
た各放射線検出部A1〜A12で測定されるであろう値
を理論計算より求める。測定されるであろう値すなわち
理論値をb1,b2,・・・,b12とし、計算された
放射線強度分布のパターンベクトルBをB=(b1,b
2,・・・,b12)と定義する。放射線強度は距離の
2乗に逆比例するので、ベクトルBを算出することは容
易である。そして、それぞれの要素の中心に単位強度の
放射線源が存在すると仮定した場合の各パターンベクト
ルBを求める。さらに、実測によるパターンベクトルA
の向きに最も近い向きを持つパターンベクトルBを求め
る。
【0037】2つのベクトルA,Bの内積A・Bは、 A・B=cosθ×(|A||B|) と表されるので、θを最小にするパターンベクトルBを
求める。すなわち、 cosθ=A・B/(|A||B|) を最大にするパターンベクトルBを求める。ここで、|
A|,|B|はベクトルA,Bの大きさを示す。なお、
仮定される放射線源101の個数は複数であってもよ
い。
【0038】具体的には、まず、線源数を「1」として
どの位置に放射線源101をおくと、cosθが最大に
なるかを調べる。そして、cosθを最大にする位置に
放射線源101があるとする。次に、線源数を「2」と
する。すなわち、2個目の放射線源101の存在を各要
素の中心に仮定して、さらにcosθを大きくする位置
があるか否か調べる。もしあれば、2個目の放射線源1
01がその位置にあるとする。次いで、cosθが最大
に達するまで、さらに放射線源101の存在を各要素の
中心に仮定してcosθを調べる処理を繰り返す。
【0039】図3は図2に示すモデルを用いた場合のサ
ンプルドパターンマッチング法の処理の手順を示すフロ
ーチャートである。まず、パターンベクトル測定ステッ
プにおいて、放射線検出部で測定された放射線強度分布
にもとづいてパターンベクトルAを作成する(ステップ
ST1)。続いて、パターンベクトル作成ステップにお
いて、要素i(i=1〜9)の中心に放射線源101が
あると仮定し、各パターンベクトルBを作成する(ステ
ップST2)。
【0040】そして、放射線源設定ステップにおいて、
cosθの最大値を与えるパターンベクトルBを作成し
たときに放射線源101があると仮定した要素の中心
に、放射線源101があることを確定する(ステップS
T3)。さらに、パターンベクトル計算ステップにおい
て、放射線源101があると確定された要素以外の各要
素の中心に次の放射線源101の存在を仮定した場合の
各パターンベクトルBを計算する(ステップST4)。
【0041】計算ステップにおいて、各パターンベクト
ルBに応じたcosθを計算する(ステップST5)。
そして、増加判定ステップにおいて、ステップST3で
得られているcosθの最大値に対して、その値よりも
大きいcosθを与えるパターンベクトルBがあるか否
か調べる(ステップST6)。そのようなパターンベク
トルBがない場合にはステップST7に移行する。その
ようなパターンベクトルBがある場合には、ステップS
T3以下の処理を繰り返し実行する。放射線源分布作成
ステップにおいて、ステップST3で確定された各放射
線源101の位置を用いて放射線源分布を作成する(ス
テップST7)。
【0042】なお、ここでは説明を簡単にするため対象
領域を9分割したが、より高精度な推定を行うには要素
数を増やせばよい。また、同様の処理で、放射線の3次
元分布を推定できる。
【0043】この方法では、仮定される放射線源101
の強度はすべての要素において一定とされている。従っ
て、強度が大きい放射線源101が実在する場合には、
いくつかの強度が小さい放射線源が、実在する放射線源
101の位置およびそのまわりの複数要素内に存在する
と認識されるはずである。よって、要素数が少なければ
得られた放射線源分布に誤差が生ずる可能性があるが、
要素数を多くすれば、強度が大きい放射線源101に起
因する複数の放射線源の位置が狭い領域に特定されるの
で、誤差は小さくなると考えられる。
【0044】次に、図1に示された放射線検出器の動作
について説明する。シンチレーションファイバ102
a,102bに入射した放射線の入射位置と線量の検出
方法は、シンチレーションファイバ102a,102b
のいずれについても同様であるから、ここではシンチレ
ーションファイバ102aについてのみ説明する。
【0045】1つの放射線がシンチレーションファイバ
102aに入射するとシンチレーションファイバ102
a内で蛍光が起こり、蛍光によって発生した光パルスが
シンチレーションファイバ102aの両端に向かって伝
搬する。光パルスはシンチレーションファイバ102a
内を伝搬した後、受光素子103a,103bに入射す
る。受光素子103a,103bは、光パルスを電気パ
ルスに変換する。受光素子103a,103bからの電
気信号は、増幅器104a,104bで増幅され、コン
スタントフラクションディスクリミネータ105a,1
05bに入力する。コンスタントフラクションディスク
リミネータ105a,105bは、入力した信号をタイ
ミングパルスとして適当な波形に整える。
【0046】信号遅延回路106aは、コンスタントフ
ラクションディスクリミネータ105bの出力信号をn
+tだけ遅らせて出力する。ここで、nは光パルスがシ
ンチレーションファイバ102aの全長を伝搬する時
間、tは時間波高変換器107aに入力される2つの信
号が必ず持たなければいけない遅延時間である。すなわ
ち、nは一方の信号が他方の信号よりも早く時間波高変
換器107aに到着することを保証するための時間であ
り、tは時間波高変換器107aの不感期間に相当する
時間である。時間波高変換器107aは、コンスタント
フラクションディスクリミネータ105aから入力され
る信号の到着時間と信号遅延回路106aから入力され
る信号の到着時間との差に比例した電気パルスを出力す
る。
【0047】A−D変換器108aは、時間波高変換器
107aからの信号をA−D変換した後、マルチチャネ
ル波高分析器109aに供給する。マルチチャネル波高
分析器109aは、A−D変換器108aからのディジ
タル信号を波高値別に計数する。
【0048】A−D変換器108aからのディジタル信
号が示す波高値は放射線の入射位置に対応し、ディジタ
ル信号の入力数は放射線の線量に対応しているので、デ
ィジタル信号を波高値別に計数すれば、放射線の入射位
置と線量が測定できる。マイクロコンピュータ110
は、マルチチャネル波高分析器109aから放射線の入
射位置と線量とに関する情報を入力する。また、マルチ
チャネル波高分析器109bからも放射線の入射位置と
線量とに関する情報を入力する。そして、マイクロコン
ピュータ110は、上述したサンプルドパターンマッチ
ング法を実行する。すなわち、入力した放射線の入射位
置と線量とからパターンベクトルAを作成する。各入射
位置は、パターンベクトルAにおける要素Aiのiに対
応し、線量は|Ai|に対応する。さらに、上述した方
法によって各パターンベクトルBを作成し、cosθを
最大にするパターンベクトルBを順次求め、求められた
パターンベクトルBに対応する放射線源101の位置を
順次確定する。このようにして、モニタ環境内の放射線
源101の3次元分布を知ることができる。
【0049】放射線源分布を知ることができれば、空間
の放射線強度分布は容易に計算できる。放射線強度は放
射線源101からの距離の2乗に逆比例するからであ
る。モニタ環境内に障害物がある場合には、障害物によ
る放射線の挙動をあらかじめ把握し、計算された放射線
強度分布に障害物による放射線の挙動を反映すればよ
い。表示器121は、マイクロコンピュータ110から
放射線源分布および空間の放射線強度分布を入力し、表
示要求に応じてそれらを表示する。
【0050】放射線源101は通常周囲環境に放射線を
リークしないように遮蔽されているが、何らかの事故に
より安全基準を超える放射線が周囲環境にリークする可
能性もある。放射線がリークした場合には、上述したよ
うに放射線がリークを生じている放射線源101の位置
を推定すれば、放射線のリークに対する対応、例えば遮
蔽箇所の修復を、迅速かつ安全に遂行できる。また、放
射線源101の位置の推定結果が表示器121に表示さ
れれば、放射線のリークをより容易に発見でき、対応措
置を迅速にとることができる。
【0051】実施の形態2.実施の形態1では、2本の
シンチレーションファイバ102a,102bが図1に
示されるように配置されていたが、シンチレーションフ
ァイバ102a,102bが配置されていない辺に沿っ
てさらに他のシンチレーションファイバを配置してもよ
い。
【0052】また、シンチレーションファイバの位置が
把握できていればどのように配置してもよいが、できる
だけ放射線分布の推定誤差が少なくなるように配置する
ことが望ましい。図4および図5は、シンチレーション
ファイバ102c,102dの好ましい配置例を示す説
明図である。図4には、複数本のシンチレーションファ
イバ102cが一定の間隔をおいて並べられた放射線検
出系100Bが示されている。図5には、一本のらせん
状に巻かれたシンチレーションファイバ102dによる
放射線検出系100Cが示されている。
【0053】なお、各シンチレーションファイバ102
c,102dの両端には、図1に示されたような受光素
子103a〜103d、増幅器104a〜104d、コ
ンスタントフラクションディスクリミネータ105a〜
105d、信号遅延回路106a,106b、時間波高
変換器107a,107b、A−D変換器108a,1
08b、マルチチャネル波高分析器109a,109
b、マイクロコンピュータ110および表示器121な
どを含む計測部分が接続される。そして、マイクロコン
ピュータ110は、逆問題解析を実行する。
【0054】実施の形態3.実施の形態1および実施の
形態2による放射線検出器にバーチャルリアリティを適
用してもよい。すなわち、放射線管理区域等のモニタ環
境の実際の映像に対して、推定された放射線分布を重ね
合わせてもよい。例えば、推定された放射線源の位置に
特定マークを重ね合わせたり、放射線強度分布に応じた
映像を重ね合わせる。そのようにすれば、放射線管理区
域等の作業員は、バーチャルリアリティ表示された映像
を確認しながら修復作業等を進めることができ、より安
全に作業を遂行できる。
【0055】実施の形態4.図6はこの発明の実施の形
態4による放射線検出器の要部を示す平面図である。図
において、102はシンチレーションファイバ、101
a,101bは放射線分布の推定の対象領域111内に
存在する放射線源である。100Dはシンチレーション
ファイバ102による放射線検出系を示す。
【0056】シンチレーションファイバ102の両端に
は図1に示すような計測部分が接続される。従って、マ
イクロコンピュータ110は、シンチレーションファイ
バ102における放射線の入射位置と線量の情報とを用
いてサンプルドパターンマッチング法を実行し、モニタ
環境下の放射線の2次元分布を推定することができる。
従来の放射線検出器ではシンチレーションファイバ上で
の放射線分布しか知り得なかったが、この実施の形態4
によれば、2次元空間内の放射線分布を得ることができ
る。
【0057】実施の形態5.図7はこの発明の実施の形
態5による放射線検出器におけるシンチレーションファ
イバの近傍を示す断面図である。図において、102は
シンチレーションファイバ、302は鉛のコリメータ、
304はコリメート穴である。コリメータ302は放射
線指向通過手段の一実現例である。なお、シンチレーシ
ョンファイバ102の両端には図1に示すような計測部
分が接続される。また、シンチレーションファイバ10
2は2次元配置または3次元配置される。そして、マイ
クロコンピュータ110は、逆問題解析を実行する。
【0058】次に動作について説明する。放射線源10
1から放出された放射線は4π方向へと拡がる。すなわ
ち、等方的に広がる。しかし、ここでは、シンチレーシ
ョンファイバ102よりも線源側に鉛のコリメータ30
2が配置されているので、シンチレーションファイバ1
02に入射しようとする放射線のほとんどがコリメート
穴304を通過する。従って、シンチレーションファイ
バ102への放射線は、シンチレーションファイバ10
2に対してほぼ垂直に入射する。よって、この実施の形
態5によれば、シンチレーションファイバ102とコリ
メータ302とによる放射線検出系は、ファイバ配置に
対して垂直方向の指向性をもつことになる。なお、計測
部分は実施の形態1の場合と同様に動作する。
【0059】コリメータ302が配置されていない場合
には、1つの放射線源101からの放射線はあらゆる方
向からシンチレーションファイバ102に入射する。換
言すれば、1つの放射線源101からの放射線は随所か
らシンチレーションファイバ102に入射する。すなわ
ち、1つの放射線源101に起因する放射線の入射位置
が多くなるので、逆問題解析における変数が増加する。
しかし、この実施の形態5のように放射線検出系が指向
性を持てば、放射線の入射位置が減るので逆問題解析に
おける変数が減る。その結果、解析時間と放射線源10
1の位置の推定結果の誤差とが減少する。なお、図7に
示された形態は、上記の各実施の形態1から実施の形態
4におけるシンチレーションファイバに適用できる。
【0060】実施の形態6.図8(A),図8(B)は
この発明の実施の形態6による放射線検出器におけるシ
ンチレーションファイバの近傍を示す斜視図、図8
(C)はコリメータの作用を説明するための説明図であ
る。図において、305は一定の隙間307を隔てて複
数個配置された鉛の遮蔽体306からなるコリメータ、
308は例えば発泡プラスチックのような放射線を吸収
しにくい物質309を隔てて複数個配置された鉛の遮蔽
体306からなるコリメータである。コリメータ30
5,308の中央にはシンチレーションファイバ102
が貫通している。なお、シンチレーションファイバ10
2の両端には図1に示すような計測部分が接続される。
また、シンチレーションファイバ102は2次元配置ま
たは3次元配置される。そして、マイクロコンピュータ
110は、逆問題解析を実行する。なお、コリメータ3
05,308は放射線指向通過手段の一実現例である。
【0061】次に動作について説明する。シンチレーシ
ョンファイバ102の周囲に部分的に遮蔽体306が配
置されているので、シンチレーションファイバ102に
は、隙間307または放射線を吸収しにくい物質309
のみを介して放射線が入射する。すなわち、シンチレー
ションファイバ102は、実質的に、隙間307または
放射線を吸収しにくい物質309を含む平面から入射し
ようとする放射線のみに感度を有する。そして、計測部
分は、実施の形態1の場合と同様に動作する。
【0062】図8(C)に示すように、シンチレーショ
ンファイバ102が3次元配置された場合には、マルチ
チャネル波高分析器およびマイクロコンピュータは、x
軸方向に配置されたシンチレーションファイバ102を
介して放射線源101のx座標値x0 を、y軸方向に配
置されたシンチレーションファイバ102を介して放射
線源101のy座標値y0 を、そして、z軸方向に配置
されたシンチレーションファイバ102を介して放射線
源101のz座標値z0 を認識できる。すなわち、放射
線源101の位置を直ちに認識できる。また、放射線の
入射位置が限定されるので逆問題解析における変数が減
る。その結果、解析時間と放射線源101の位置の推定
結果の誤差とが減少する。図8(B)に示されたよう
に、放射線を吸収しにくい物質309で遮蔽体306が
挟まれている場合には、コリメータ308の形態は容易
に維持される。なお、図8に示された形態は、上記の各
実施の形態1から実施の形態4におけるシンチレーショ
ンファイバに適用できる。
【0063】実施の形態7.図9はこの発明の実施の形
態7による放射線検出器の要部を示す正面図である。図
において、401は放射線検出部を構成するシンチレー
ションファイバ、402は光パルスを伝送する伝送用光
ファイバである。伝送用光ファイバ402とシンチレー
ションファイバ401とで構成される放射線検出系40
0Aは、モニタ環境に設置される。放射線検出系400
Aの両端には、図1に示すような計測部分が接続され
る。そして、放射線検出系400Aは2次元配置または
3次元配置される。また、伝送用光ファイバ402とし
て、放射線が入射しても反応しないものが用いられる。
【0064】シンチレーションファイバは一般に伝送損
失が大きい。よって、長いシンチレーションファイバを
用いると、その両端に設けられた受光素子に入力する光
パルスの光量が低下してしまう。すなわち、シンチレー
ションファイバ単体で広範囲にわたるモニタ環境の放射
線分布を測定することは困難である。そこで、図9に示
すように、複数本の放射線に対して感度を有するシンチ
レーションファイバ401と複数本のシンチレーション
機能を持たない伝送用光ファイバ402とを交互に接続
し、1本あたりのシンチレーションファイバ401の長
さを制限することが考えられる。そのようにすれば、シ
ンチレーションファイバ401の長さは短くて済むの
で、シンチレーションファイバ401による伝送損失が
抑えられる。なお、計測部分は、実施の形態1の場合と
同様に動作する。
【0065】このような構成によれば、広範囲にわたっ
て放射線検出系を設置しても光パルスの伝送損失は大き
くならないので、広範囲にわたるモニタ環境の多点測定
型の放射線モニタを実現することができる。なお、多点
測定型とは、放射線検出系において放射線に対して感度
を有する放射線検出部が離散的に存在するタイプであ
る。また、この実施の形態7によれば、各シンチレーシ
ョンファイバ401ごとに受光素子を接続する必要がな
いのでコストが低減する。ここで、各シンチレーション
ファイバ401相互の間隔は、放射線源位置推定に要求
される分解能や放射線測定範囲に応じて決定される。
【0066】伝送用光ファイバ402として伝送損失が
小さい石英系のファイバを用いることが望ましい。そし
て、コア径がシンチレーションファイバ401の径と同
じであって、開口数がシンチレーションファイバ401
の開口数に近い伝送用光ファイバ402を用いれば、接
続損失を小さくすることができる。また、シンチレーシ
ョンファイバ401と伝送用光ファイバ402とを接続
するためにシリコン系の接着剤が用いられる。または、
JIS規格のFO1型コネクタのような低接続損失のコ
ネクタが用いられる。なお、図9に示された放射線検出
系400Aを、放射線の1次元分布測定に適用すること
もできる。放射線の1次元分布測定に適用される場合に
は、放射線検出系400Aは、1次元配置される。ま
た、その場合の計測部分として、図21に示された計測
部分を用いることができる。
【0067】実施の形態8.図10はこの発明の実施の
形態8による放射線検出器の要部を示す正面図である。
図において、501はそれぞれがシンチレーションファ
イバ401と伝送用光ファイバ402とが接続されたも
のからなる複数の光ファイバ系の両端に接続された受光
素子である。各光ファイバ系は、実施の形態7における
光ファイバ系と同様に、複数本のシンチレーションファ
イバ401と複数本のシンチレーション機能を持たない
伝送用光ファイバ402とが交互に接続されたものであ
る。この場合には、光ファイバ系が束状に設置されて1
つの放射線検出系400Bが構成される。そして、放射
線源の側から見て、ある光ファイバ系におけるシンチレ
ーションファイバ401は、他の光ファイバ系における
シンチレーションファイバ401と重ならないように、
放射線検出系400Bは構成される。
【0068】受光素子501の先には、図1に示すよう
な計測部分のうち受光素子103a〜103dよりも先
の部分が接続され、図10に示す放射線検出系400B
は2次元配置または3次元配置される。そして、計測部
分は、実施の形態1の場合と同様に動作する。
【0069】このような構成によっても、実施の形態7
の場合と同様に、マルチチャネル波高分析器は、それぞ
れのシンチレーションファイバ401で発生した光パル
スの時間情報を得ることができる。この場合には、各光
ファイバ系においてシンチレーションファイバ401が
占める部分はより少ない。従って、シンチレーションフ
ァイバ401における伝送損失は大きくならず、より広
範囲にわたるモニタ環境の多点測定型の放射線モニタを
実現することができる。なお、シンチレーションファイ
バ401の長さと本数は、必要とされる測定長に応じて
決定される。また、図10に示された放射線検出系40
0Bを、放射線の1次元分布測定に適用することもでき
る。
【0070】実施の形態9.シンチレーションファイバ
401と伝送用光ファイバ402とからなる放射線検出
系400A,400Bはモニタ環境下に設置されるが、
図1に示すような計測部分は、例えば、原子力発電所内
の中央制御室のような電磁ノイズの少ない場所に設置さ
れる。そこで、伝送用光ファイバ402は、モニタ環境
から原子力発電所内の中央制御室等まで延長される。し
かし、シンチレーションファイバ401で発生する光パ
ルスの光量は微少であるので、モニタ環境から計測部分
までの距離を長くすると、伝送用光ファイバ402で光
パルスの光量が低下してしまうことが考えられる。従っ
て、計測部分を例えば原子力発電所内の中央制御室のよ
うな電磁ノイズの少ない場所に設置しても、シンチレー
ションファイバ401は中央制御室の近傍にしか配置で
きない。すなわち、モニタできる範囲が制限される。
【0071】そこで、図11に示すように、放射線検出
系400Cにおける伝送用光ファイバ402に中継増幅
器410を挿入する形態が考えられる。中継増幅器41
0は、光パルスを電気パルスに変換する光−電気変換器
411と電気パルスを光パルスに変換する電気−光変換
器412とで構成される。光−電気変換器411または
電気−光変換器412、または両者は入力信号を増幅す
る。そして、電気−光変換器412に接続された伝送用
光ファイバ402は、増幅された光パルスを計測部分ま
で伝送する。図11には伝送用光ファイバ402に中継
増幅器410が挿入された場合が示されているが、シン
チレーションファイバ401に中継増幅器410を挿入
してもよい。
【0072】このような構成によれば、放射線検出系4
00Cが設置されるモニタ環境から計測部分までの距離
を長くしても、十分な情報を有する光パルスが計測部分
まで伝えられる。従って、モニタできる範囲が広がる。
この場合に、光パルスの時間情報が損なわれないよう
に、光−電気変換器411において使用される受光素子
および電気−光変換器412において使用される光源と
して、立ち上がり時間の速いものが選択される。また、
光−電気変換器411と電気−光変換器412とは、で
きるだけ電磁ノイズの影響を受けない環境に設置される
ことが望ましい。なお、このような中継増幅器410を
放射線の1次元分布測定を行う放射線検出器に対して適
用することもできる。
【0073】実施の形態10.図12はこの発明の実施
の形態10による放射線検出器の要部を示す正面図であ
る。図において、601は複数のシンチレーションファ
イバが束ねられたものである放射線検出部を実現するシ
ンチレーションファイバ束、602はシンチレーション
ファイバ束601の両側に設けられシンチレーションフ
ァイバと同径の伝送用光ファイバが束ねられたもので構
成された伝送用光ファイバ束である。シンチレーション
ファイバ束601と伝送用光ファイバ束602との接合
面ではシンチレーションファイバと伝送用光ファイバと
が1本ずつ対応している。シンチレーションファイバと
伝送用光ファイバとは、シリコン系接着剤またはJIS
規格のF01型コネクタのような低接続損失のコネクタ
によって接続される。それぞれの伝送用光ファイバ束6
02の一端には、図1に示すような計測部分が接続さ
れ、シンチレーションファイバ束601と伝送用光ファ
イバ束602とからなる放射線検出系600が2次元配
置または3次元配置される。
【0074】放射線検出系600をこのように構成した
場合にも、実施の形態7および実施の形態8の場合と同
様に多点測定型の放射線モニタが実現できる。また、こ
のようにシンチレーションファイバを重ね合わせれば、
高エネルギーの放射線に対してシンチレーションファイ
バ内での相互作用の確率を高めることができる。あるシ
ンチレーションファイバを放射線が突き抜けても、他の
シンチレーションファイバ内で蛍光を発することができ
るからである。従って、放射線のエネルギーに対する放
射線検出器の感度特性が向上する。さらに、複数のシン
チレーションファイバが束ねられているので、放射線の
入射によってシンチレーションファイバで発生する電子
のシンチレーションファイバ内における飛程距離が長く
なる。従って、電子による分子の励起作用によって発生
する光パルスの光量が増す。なお、図12に示された放
射線検出系600を、放射線の1次元分布測定に適用す
ることもできる。
【0075】実施の形態11.図13はこの発明の実施
の形態11による放射線検出器の要部を示す断面図であ
る。図において、701は複数のシンチレーションファ
イバが束ねられて構成された放射線検出部を構成するシ
ンチレーションファイバ束、702はシンチレーション
ファイバ束701の両端に設けられたテーパ状のライト
ガイド、703は伝送用光ファイバである。実施の形態
10の場合と異なり、この場合には、ライトガイド70
2が光パルスを1本の伝送用光ファイバ703に導く。
それぞれの伝送用光ファイバ703の一端には、図1に
示すような計測部分が接続され、シンチレーションファ
イバ束701、ライトガイド702および伝送用光ファ
イバ703で構成された放射線検出系700が2次元配
置または3次元配置される。ライトガイド702の形状
は、シンチレーションファイバ束701と伝送用光ファ
イバ703の開口数などを考慮し、シンチレーションフ
ァイバ束701から出射された光がより多く伝送用光フ
ァイバ703に入射する様に設計される。なお、計測部
分は、実施の形態1の場合と同様に動作する。
【0076】この実施の形態11でも、複数のシンチレ
ーションファイバが束ねられているので、放射線の入射
によってシンチレーションファイバで発生する電子のシ
ンチレーションファイバ内における飛程距離が長くな
る。従って、電子による分子の励起作用によって発生す
る光パルスの光量が増す。そして、光量が増大した光パ
ルスは1本の伝送用光ファイバ703に入射する。この
実施の形態11も、より広範囲における放射線の測定を
実現する。また、高エネルギーの放射線に対するシンチ
レーションファイバ内での相互作用の確率が高められ
る。なお、図13に示された放射線検出系700を、放
射線の1次元分布測定に適用することもできる。
【0077】実施の形態12.図14はこの発明の実施
の形態12による放射線検出器におけるシンチレーショ
ンファイバを用いた放射線検出部を示す断面図である。
図において、1601はシンチレーションファイバであ
る。複数のシンチレーションファイバ1601が束ねら
れて、放射線検出部を構成するシンチレーションファイ
バ束1605が形成される。1602はシンチレーショ
ンファイバ束1605の周囲に配された波長シフト用光
ファイバである。1603は放射線、1604は蛍光に
より発生した光パルスを示す。シンチレーションファイ
バ束1605と波長シフト用光ファイバ1602とを含
む放射線検出系1600からの光パルスは、例えば伝送
用光ファイバを介して図1に示すような計測部分に導か
れる。また、このように構成された放射線検出系160
0が2次元配置または3次元配置される。
【0078】シンチレーションファイバ1601内で発
生した光パルスのうちのほとんど(一般に95%程度)
はシンチレーションファイバ1601の臨界角以下でク
ラッド壁に入射し、屈折して外へ逃げていく。従って、
シンチレーションファイバ1601だけでは十分な光量
の光パルスを受光素子まで伝搬できない可能性がある。
そのような光パルスの光量低下を防ぐために、この実施
の形態12では、シンチレーションファイバ束1605
の周辺に放射線には反応しない波長シフト用光ファイバ
1602が配置される。
【0079】次に動作について説明する。放射線160
3が入射すると、シンチレーションファイバ1601で
光パルスが発生する。発生した光パルスのうち、シンチ
レーションファイバ1601内で捕らえられずシンチレ
ーションファイバ1601外へ逃げた光パルス1604
は、シンチレーションファイバ束1605の周辺に配置
された波長シフト用光ファイバ1602に入射する。波
長シフト用光ファイバ1602には、光パルス1604
の波長と同じ波長の光を吸収し、吸収した光の波長より
長い波長の光パルスを発光するシンチレータが充填され
ている。従って、波長シフト用光ファイバ1602は、
光パルス1604が入射すると蛍光を生じ、光パルス1
604より長い波長の光パルスを発生する。このように
して、シンチレーションファイバ1601から逃げてい
く光パルス1604が再び捕らえられ、多くの光量を受
光素子まで伝搬することができる。なお、計測部分は、
実施の形態1の場合と同様に動作する。
【0080】シンチレーションファイバ1601を伝搬
する光パルスの波長と波長シフト用光ファイバ1602
を伝搬する光パルスの波長は異なる。しかし、シンチレ
ーションファイバ1601の両端に、波長シフト用光フ
ァイバ1602と同種類の波長シフト用光ファイバを接
続すれば、計測部分には、同一波長の光パルスが供給さ
れる。なお、図14に示された放射線検出系1600
を、放射線の1次元分布測定に適用することもできる。
【0081】実施の形態13.図15はこの発明の実施
の形態13による放射線検出器の要部を示す断面図であ
る。図において、801はシンチレーションファイバを
含む複数の光ファイバが束ねられて形成されたシンチレ
ーションファイバ束、803は放射線検出部を構成する
シンチレーションファイバ束801から出射した光パル
ス802を波長シフト用光ファイバ804に集中させる
ライトガイドである。波長シフト用光ファイバ804
は、ライトガイド803からの光パルス802を吸収
し、吸収した光の波長より長い波長の光パルスを発生す
る。波長シフト用光ファイバ804は、光パルスを受光
素子まで伝搬する伝送用光ファイバとしても作用する。
波長シフト用光ファイバ804の一部はライトガイド8
03中に挿入されている。また、ライトガイド803と
して、外周に反射膜が塗布されたアクリル加工物や、円
錐型の鏡面が使用される。なお、図15には放射線検出
系800Aにおける一方の接続構造が示されているが、
他方にも同様の接続構造が存在する。
【0082】なお、多点測定を行う場合は、シンチレー
ションファイバ束801は、図10に示すように、1つ
のシンチレーションファイバと伝送用光ファイバとが組
み合わされた光ファイバ系が束ねられたもので構成され
る。各光ファイバ系におけるシンチレーションファイバ
の位置は、他の光ファイバ系における位置とはずれてい
る。シンチレーションファイバ束801、ライトガイド
803および波長シフト用光ファイバ804を含む放射
線検出系800Aの波長シフト用光ファイバ804から
の光パルスは図1に示すような計測部分に導かれる。ま
た、このような形態による放射線検出系800Aが2次
元配置または3次元配置される。
【0083】次に動作について説明する。シンチレーシ
ョンファイバ束801から出射した光パルス802は、
ライトガイド803の壁面で反射しながら、または直接
波長シフト用光ファイバ804に入射する。波長シフト
用光ファイバ804には、シンチレーションファイバ束
801からの光パルス802の波長と同一波長の光を吸
収し、その波長より長い波長の光パルスを発生するシン
チレータが充填されている。従って、光パルス802が
波長シフト用光ファイバ804の端面から入射しても側
面から入射しても、光パルス802の波長より長い波長
の光パルスを発生する。
【0084】すなわち、開口数に依存せずに、シンチレ
ーションファイバ束801からの光パルス802を効率
よく波長シフト用光ファイバ804が受光し、受光素子
側に伝搬することができる。光パルス802が効率よく
伝搬されるので、より広範囲のモニタ環境の放射線測定
が可能になる。なお、計測部分は、実施の形態1の場合
と同様に動作する。
【0085】シンチレーションファイバ束801からの
光パルス802は時間情報を得るためのものである。従
って、計測部分が時間情報を正確に得るために、光パル
ス802の波形を大きく変化させることはできない。そ
こで、波長シフト用光ファイバ804のライトガイド8
03への挿入深さを短くする。すると、シンチレーショ
ンファイバ束801から出射した各光パルスは、さほど
伝達時間に差のない状態で波長シフト用光ファイバ80
4の端面または側面に入射する。従って、波長シフト用
光ファイバ804においてシンチレーション作用により
発生する光パルスの波形は大きく拡がることはない。
【0086】また、波長シフト用光ファイバ804で蛍
光が発生すると、蛍光による光パルスは等方的に広が
る。従って、シンチレーションファイバ束801に向か
って進む光パルスが存在する。そこで、波長シフト用光
ファイバ804のシンチレーションファイバ束801側
の端面に反射膜が備えられる。反射膜の存在によって、
シンチレーションファイバ束801の方に進む光パルス
は、再び波長シフト用光ファイバ804内に戻される。
このようにして、計測部分に伝送される光パルスの光量
を増大することができる。
【0087】このような波長シフト用光ファイバ804
は、一般に伝送損失が大きい。そこで、波長シフト用光
ファイバ804のコアと同径で開口数がなるべく近い伝
送損失の少ない伝送用光ファイバを波長シフト用光ファ
イバ804に接続してもよい。その場合には、伝送用光
ファイバが波長シフト用光ファイバ804からの光パル
スを計測部分まで伝搬する。
【0088】シンチレーションファイバ束801からの
出射光を1本の伝送用光ファイバに入射させる場合に単
純にそれらを接続する構成では、それぞれのファイバの
開口数やコア径等の相違によって伝送用光ファイバに入
射する光パルスの光量が制限される。しかし、この実施
の形態13のような接続構造によれば、伝送用光ファイ
バとしても作用する波長シフト用光ファイバ804への
光パルスの入射効率が向上する。なお、図15に示され
た放射線検出系800Aを、放射線の1次元分布測定に
適用することもできる。
【0089】実施の形態14.図16はこの発明の実施
の形態14による放射線検出器の要部を示す断面図であ
る。図において、901はシンチレーションファイバに
入射する放射線、902,903,904は入射した放
射線901によってシンチレーションファイバ束801
内で発生した光パルス、905,906,907,90
8は波長シフト用光ファイバ804が入射した光パルス
902,903に起因して発生した光パルスを示す。9
09は波長シフト用光ファイバ804の外周に塗布され
た光吸収剤である。この実施の形態14では、波長シフ
ト用光ファイバ804は、シンチレーションファイバ束
801内を貫通している。そして、図16に示す放射線
検出系800Bからの光パルスは図1に示すような計測
部分に導かれる。また、このように構成された放射線検
出系800Bが2次元配置または3次元配置される。
【0090】次に動作について説明する。放射線901
がシンチレーションファイバ束801に入射すると、シ
ンチレーションファイバ束801内で蛍光が起こる。そ
して、光パルス902,903,904が発生する。光
パルス902,903はシンチレーションファイバ内を
それぞれ逆方向に伝搬していく。シンチレーションファ
イバ束801内を伝搬した光パルス902,903は、
それぞれライトガイド803の外壁で何回か反射し、波
長シフト用光ファイバ804に入射する。波長シフト用
光ファイバ804は、実施の形態13の場合と同様に、
入射した光パルス902,903を波長変換して光パル
ス905,906,907,908を発生する。なお、
計測部分は、実施の形態1の場合と同様に動作する。
【0091】入射した放射線901の位置情報を持って
いる光は、光パルス902,903のそれぞれの伝搬方
向と同方向に向かう光パルス905,907であり、光
パルス902,903の伝搬方向と逆方向に向かう光パ
ルス906,908は誤った位置情報を計測部分に与え
る原因になりうる。しかし、放射線検出器に要求される
位置分解能に対して問題とはならない誤差を与えるに過
ぎないと考えられる。
【0092】実施の形態13に示すシンチレーションフ
ァイバ束801同士を光ファイバを介して接続すること
はできない。なぜなら、そのように接続しても、波長シ
フト用光ファイバ804から出射した光パルスが次段の
シンチレーションファイバ束801を通過し、さらに次
段の波長シフト用光ファイバ804に入射することは困
難だからである。たとえ、光パルスが次段の波長シフト
用光ファイバ804に入射したとしても、その光量は微
弱である。
【0093】この実施の形態14では、図16に示すよ
うに、波長シフト用光ファイバ804がシンチレーショ
ンファイバ束801を貫通している。よって、複数のシ
ンチレーションファイバ束801を、伝送用光ファイバ
としても作用する波長シフト用光ファイバ804を介し
て接続することができる。いくつかのシンチレーション
ファイバ束801が伝送用光ファイバを介して接続され
た場合には、さらに広範囲にわたるモニタ環境の多点測
定型の放射線モニタが可能になる。
【0094】光パルス904はシンチレーションファイ
バ束801の臨界角以下でクラッド壁に入射し、屈折し
て外へ逃げていく。シンチレーションファイバ束801
内の蛍光によって発生する光パルスのうちほとんど(一
般に95%程度)は、光パルス904のようにシンチレ
ーションファイバ束801外へ逃げてしまう。そして、
その方向は等方的である。従って、発生した位置とは離
れた位置で、波長シフト用光ファイバ804の壁面から
波長シフト用光ファイバ804内に入射する光パルス9
04が存在する。
【0095】壁面から波長シフト用光ファイバ804に
入射した光パルス904に起因する蛍光による光パルス
が波長シフト用光ファイバ804を伝搬すると、誤った
放射線の位置情報が計測部分に伝えられる。そこで、波
長シフト用光ファイバ804のシンチレーションファイ
バ束801と接する箇所の外周に、光吸収剤909が塗
布される。光吸収剤909によって、光パルス904が
波長シフト用光ファイバ804に入射することが妨げら
れるので、誤った放射線の位置情報が伝送されることは
防止される。なお、図16に示された放射線検出系80
0Bを、放射線の1次元分布測定に適用することもでき
る。
【0096】実施の形態15.図17はこの発明の実施
の形態15による放射線検出器の要部を示す断面図であ
る。図に示すように、波長シフト用光ファイバ804
は、ライトガイド803中においてらせん状に巻かれて
いる。このように構成された放射線検出系800Cが2
次元配置または3次元配置される。
【0097】この実施の形態15による放射線検出器の
動作は、実施の形態13による放射線検出器の動作と同
様である。しかし、この場合には、波長シフト用光ファ
イバ804のライトガイド803内における表面積が大
きくなるので、シンチレーションファイバ束801から
出射した光パルスは、実施の形態13の場合よりもさら
に効率よく波長シフト用光ファイバ804に入射する。
なお、この実施の形態15を、放射線の1次元分布測定
に適用することもできる。また、実施の形態12から実
施の形態15において用いられるシンチレーションファ
イバ束に代えて、固体シンチレータの外面に反射材を塗
布したものを用いてもよい。その場合には多量の光を効
率的に伝搬させることが可能となる。
【0098】実施の形態16.図18はこの発明の実施
の形態16による放射線検出器の要部を示す断面図であ
る。図において、1201はシンチレーションファイバ
1206のクラッディング1208の外周に塗布または
蒸着された反射材層である。反射材層1201における
反射材として、酸化チタニウム、アルミニウムまたはテ
フロンなどが用いられる。1202は放射線901の入
射により発生した光パルスのうちシンチレーションファ
イバ1206のコア1207とクラッディング1208
との境界面で全反射した光パルス、1203は全反射せ
ず屈折して出ていく光パルス、1204は光パルス12
03のうち反射材層1201による散乱や反射によって
再びシンチレーションファイバ1206のコア1207
内に入射する光パルス、1205はコア1207に含ま
れたシンチレータ材が光パルス1204を吸収して発生
した光パルス1204よりも長波長の光パルスを示す。
なお、シンチレーションファイバ1206を伝搬する光
パルスは、図1に示すような計測部分に導かれる。この
ように構成された放射線検出系1200は、例えば伝送
用光ファイバを介して2次元配置または3次元配置され
る。また、図18に示された形態と伝送用光ファイバと
が交互につながれたものを、2次元状または3次元状に
配置してもよい。
【0099】次に動作について説明する。放射線901
がシンチレーションファイバ1206に入射すると、コ
ア1207内で蛍光が起こり光パルスが発生する。プラ
スチック製のシンチレーションファイバ1206が用い
られる場合に、光パルスのうちコア1207とクラッデ
ィング1208との境界面で全反射してコア1207内
を伝搬していくものは、等方に広がる全光パルスのおよ
そ5%程度にすぎない。
【0100】他の光パルス1203は、全反射せず、屈
折しながらクラッディング1208外へと逃げる。しか
し、この実施の形態16では、反射材層1201は、ク
ラッディング外へ逃げようとする光パルス1203を散
乱し、または、正反射し、光パルス1204として再び
シンチレーションファイバ1206のコア1207内に
戻す。
【0101】放射線901の入射によってまず発生する
光パルスは二百数十nm程度の短い波長の光であるか
ら、すぐにコア1207内で吸収される可能性が高い。
吸収されることを防ぐために、通常、コア1207内に
は数種類の波長シフト用のシンチレータ材が含まれてい
る。そして、光パルス1203の波長は、長波長側にシ
フトされる。波長シフトが完了する前に光パルス120
3がクラッディング1208に入射すると、光パルス1
203は反射材層1201によって散乱され、または反
射されて、光パルス1204として再びコア1207内
に入射する。光パルス1204は、コア1207内のシ
ンチレータ材に吸収される。そして、シンチレータ材
は、光パルス1205を発生する。光パルス1205
は、等方的に広がる。
【0102】光パルス1205のうちには、コア120
7とクラッディング1208との境界面で全反射するも
のが存在するので、最終的にシンチレーションファイバ
1206のコア1207内に閉じこめられる光パルスの
光量が多くなる。従って、放射線検出部の放射線901
に対する感度が向上することになる。その結果、より広
範囲のモニタ環境の放射線モニタが可能になる。なお、
計測部分は、実施の形態1の場合と同様に動作する。
【0103】シンチレーションファイバ1206が極端
に短い場合には、光パルス1203に対する波長シフト
が完了していても、反射材層1201からの光パルス1
204は、シンチレーションファイバ1206の端に到
達できる。その場合には、さらに感度が向上する。な
お、図18に示された放射線検出系1200を、放射線
の1次元分布測定に適用することもできる。
【0104】実施の形態17.図19はこの発明の実施
の形態17による放射線検出器の要部を示す断面図であ
る。図において1301は放射線検出部を構成するシン
チレーションファイバ、1302はシンチレーションフ
ァイバ1301で発生した光パルスを伝送する伝送用光
ファイバである。この実施の形態17では、複数のシン
チレーションファイバ1301と複数の伝送用光ファイ
バ1302とが接続された光ファイバ系が捻りなどの処
理によって束ねられ、放射線検出系1300Aが構成さ
れる。光パルスの伝搬方向とは直交する方向を眺める
と、1つのシンチレーションファイバ1301が存在す
る方向には他のシンチレーションファイバ1301も存
在するように、放射線検出系1300Aは構成されてい
る。放射線検出系1300Aの両端からの光パルスは図
1に示すような計測部分に導かれる。また、このように
構成された放射線検出系1300Aが2次元配置または
3次元配置される。
【0105】このような構成による放射線検出系130
0Aを有する放射線検出器の動作は、例えば、図12に
示された実施の形態10の場合と同様である。しかし、
この場合には、長手方向においてシンチレーションファ
イバが存在する部分が多数存在するので、多点計測によ
る放射線分布測定を行うことが可能になる。従って、よ
り広範囲にわたるモニタ環境の放射線測定を行うことが
できる。また、実施の形態10の場合と同様に、高エネ
ルギーの放射線に対するシンチレーションファイバ13
01内での相互作用の確率を高めることができる。すな
わち、放射線のエネルギーに対する放射線検出系の感度
が向上する。なお、計測部分は、実施の形態1の場合と
同様に動作する。また、図19に示された放射線検出系
1300Aを、放射線の1次元分布測定に適用すること
もできる。
【0106】実施の形態18.図20はこの発明の実施
の形態18による放射線検出器の要部を示す断面図であ
る。実施の形態17の場合と同様に、複数のシンチレー
ションファイバ1301と複数の伝送用光ファイバ13
02とが接続された光ファイバ系が捻りなどの処理によ
って束ねられ、放射線検出系1300Bが構成される。
しかし、この場合には、実施の形態17の場合と異な
り、光パルス伝搬方向においてシンチレーションファイ
バ1301が存在しない部分がないように、放射線検出
系1300Bが構成される。
【0107】このような構成による放射線検出系130
0Bを有する放射線検出器の動作は、図19に示された
実施の形態17の場合と同様である。しかし、この場合
には、シンチレーションファイバ1301が存在しない
部分はないので、放射線の多点測定ではなく、連続分布
測定を行うことができる。なお、図20に示された放射
線検出系1300Bを、放射線の1次元分布測定に適用
することもできる。
【0108】
【発明の効果】以上のように、請求項1記載の発明によ
れば、放射線検出器を、シンチレーションファイバが2
次元状または3次元状に配置されるように構成したの
で、放射線の2次元分布または3次元分布の測定が可能
になり、放射線管理区域等の放射線モニタを容易化でき
るものが得られる効果がある。
【0109】請求項2記載の発明によれば、放射線検出
器を、放射線の入射位置および入射位置における放射線
量率にもとづいて逆問題解析を行って放射線源または空
間の放射線強度の分布を推定する解析手段を含むように
構成したので、2次元または3次元の放射線源分布また
は放射線強度分布が得られ、放射線のリークに対する対
応を迅速かつ安全に遂行できるものが得られる効果があ
る。
【0110】請求項3記載の発明によれば、放射線検出
器を、シンチレーションファイバの長手方向に対して直
交する方向に放射線を通過させる放射線指向通過手段を
含むように構成したので、放射線検出系における放射線
の入射位置が減る。従って、逆問題解析を行う場合に扱
う変数が減り、解析時間と放射線源の位置の推定結果の
誤差とが減少する効果がある。
【0111】請求項4記載の発明によれば、放射線検出
器を、シンチレーションファイバと放射線に反応しない
伝送用光ファイバとを含むように構成したので、シンチ
レーションファイバで発生した光パルスの損失を少なく
抑えることができ、より広範囲の放射線測定を実現でき
るものが得られる効果がある。
【0112】請求項5記載の発明によれば、放射線検出
器を、光パルスを増幅する中継増幅器が中途に設けられ
た放射線検出系を含むように構成したので、シンチレー
ションファイバで発生した光パルスの損失を補償するこ
とができ、伝送用光ファイバを長くすることができる。
その結果、放射線検出器における計測部分を放射線検出
系から遠く離すことができる効果がある。
【0113】請求項6記載の発明によれば、放射線検出
器を、複数のシンチレーションファイバが束ねられたシ
ンチレーションファイバ束とその両端に接続された伝送
用光ファイバとを有する放射線検出系を含むように構成
したので、高エネルギーの放射線に対するシンチレーシ
ョンファイバにおける相互作用の確率を増大することが
でき、放射線のエネルギーに対する感度特性を向上でき
るものが得られる効果がある。
【0114】請求項7記載の発明によれば、放射線検出
器を、シンチレーションファイバ束の両端に接続された
ライトガイドと各ライトガイドの他端に挿入された波長
シフト用光ファイバとを有する放射線検出系を含むよう
に構成したので、シンチレーションファイバからの光パ
ルスを高い効率で伝送用光ファイバに集光でき、より広
範囲の放射線測定が可能になるものが得られる効果があ
る。
【0115】請求項8記載の発明によれば、放射線検出
器を、シンチレーションファイバのクラッディング外周
に反射材層が設けられるように構成したので、放射線に
よって発生した光パルスのうちクラッディング外へ逃げ
ようとする光パルスを再びコア内へ戻すことができ、シ
ンチレーションファイバ内での捕獲光量を増大すること
ができる。すなわち、さらに広範囲の放射線測定を実現
できるものが得られる効果がある。
【0116】請求項9記載の発明によれば、放射線検出
器を、それぞれシンチレーションファイバと伝送用光フ
ァイバとが交互につなぎ合わされた複数のものが光パル
スの伝搬方向とは直交する方向で複数のシンチレーショ
ンファイバが存在するように束ねられている放射線検出
系を含むように構成したので、高エネルギーの放射線に
対するシンチレーションファイバにおける相互作用の確
率を増大することができるとともに、シンチレーション
ファイバ内で発生した光パルスを低損失で受光素子へ伝
搬することができるものが得られる効果がある。
【0117】請求項10記載の発明によれば、放射線検
出器を、ライトガイドに接続される波長シフト用光ファ
イバがライトガイド内でらせん状に巻かれている放射線
検出系を含むように構成したので、シンチレーションフ
ァイバからの光パルスをさらに高い効率で伝送用光ファ
イバに集光でき、より広範囲の放射線測定を実現できる
ものが得られる効果がある。
【0118】請求項11記載の発明によれば、放射線検
出方法を、実測された放射線強度分布によるパターンベ
クトルと計算パターンベクトルとを用いた逆問題解析を
実行するように構成したので、2次元または3次元の空
間の放射線源分布を得ることができる効果がある。
【0119】請求項12記載の発明によれば、放射線検
出方法を、2次元または3次元の放射線源分布から空間
の放射線強度分布を算出しそれを表示するように構成し
たので、2次元または3次元の空間の放射線強度分布を
作業者に供給でき、作業者が放射線のリークに対する対
応を迅速かつ安全に遂行できる効果がある。
【0120】請求項13記載の発明によれば、放射線検
出器を、シンチレーションファイバを含む放射線検出系
が1次元状に配置され、シンチレーションファイバの長
手方向に対して直交する方向に放射線を通過させる放射
線指向通過手段を含むように構成したので、放射線検出
系における放射線の入射位置が減り、放射線源の位置の
推定結果の誤差が減少する効果がある。
【0121】請求項14記載の発明によれば、放射線検
出器を、シンチレーションファイバと放射線に反応しな
い伝送用光ファイバとがつなぎ合わされた1次元配置の
放射線検出系を含むように構成したので、シンチレーシ
ョンファイバで発生した光パルスの損失を少なく抑える
ことができ、より広範囲の放射線測定を実現できるもの
が得られる効果がある。
【0122】請求項15記載の発明によれば、放射線検
出器を、1次元状に配置され中途に光パルスを増幅する
中継増幅器が設けられた放射線検出系を含むように構成
したので、シンチレーションファイバで発生した光パル
スの損失を補償することができ、計測部分を放射線検出
系から遠く離すことができる効果がある。
【0123】請求項16記載の発明によれば、放射線検
出器を、1次元状に配置され、複数のシンチレーション
ファイバが束ねられたシンチレーションファイバ束とそ
の両端に接続された伝送用光ファイバとを有する放射線
検出系を含むように構成したので、高エネルギーの放射
線に対するシンチレーションファイバにおける相互作用
の確率を増大することができ、放射線のエネルギーに対
する感度特性を向上できるものが得られる効果がある。
【0124】請求項17記載の発明によれば、放射線検
出器を、1次元状に配置され、シンチレーションファイ
バ束の両端に接続されたライトガイドと各ライトガイド
の他端に挿入された波長シフト用光ファイバとを有する
放射線検出系を含むように構成したので、シンチレーシ
ョンファイバからの光パルスを高い効率で伝送用光ファ
イバに集光でき、より広範囲の放射線測定が可能になる
ものが得られる効果がある。
【0125】請求項18記載の発明によれば、放射線検
出器を、放射線検出系が1次元状に配置され、シンチレ
ーションファイバのクラッディング外周に反射材層が設
けられるように構成したので、放射線によって発生した
光パルスのうちクラッディング外へ逃げようとする光パ
ルスを再びコア内へ戻すことができ、シンチレーション
ファイバ内での捕獲光量を増大することができる。すな
わち、さらに広範囲の放射線測定を実現できるものが得
られる効果がある。
【0126】請求項19記載の発明によれば、放射線検
出器を、1次元状に配置され、シンチレーションファイ
バと伝送用光ファイバとが交互につなぎ合わされた複数
のものが光パルスの伝搬方向とは直交する方向で複数の
シンチレーションファイバが存在するように束ねられて
いる放射線検出系を含むように構成したので、高エネル
ギーの放射線に対するシンチレーションファイバにおけ
る相互作用の確率を増大することができるとともに、シ
ンチレーションファイバ内で発生した光パルスを低損失
で受光素子へ伝搬することができるものが得られる効果
がある。
【0127】請求項20記載の発明によれば、放射線検
出器を、1次元状に配置され、ライトガイドに接続され
る波長シフト用光ファイバがライトガイド内でらせん状
に巻かれている放射線検出系を含むように構成したの
で、シンチレーションファイバからの光パルスをさらに
高い効率で伝送用光ファイバに集光でき、より広範囲の
放射線測定を実現できるものが得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1による放射線検出器
を示すブロック図である。
【図2】 放射線分布推定の対象となる領域の分割方法
の一例を示す説明図である。
【図3】 サンプルドパターンマッチング法の処理の手
順を示すフローチャートである。
【図4】 この発明の実施の形態2におけるシンチレー
ションファイバの配置例を示す説明図である。
【図5】 この発明の実施の形態2におけるシンチレー
ションファイバの他の配置例を示す説明図である。
【図6】 この発明の実施の形態4による放射線検出器
の要部を示す平面図である。
【図7】 この発明の実施の形態5による放射線検出器
におけるシンチレーションファイバの近傍を示す断面図
である。
【図8】 この発明の実施の形態6による放射線検出器
におけるシンチレーションファイバの近傍を示す斜視図
およびコリメータの作用を説明するための説明図であ
る。
【図9】 この発明の実施の形態7による放射線検出器
の要部を示す正面図である。
【図10】 この発明の実施の形態8による放射線検出
器の要部を示す正面図である。
【図11】 この発明の実施の形態9による放射線検出
器の要部を示すブロック図である。
【図12】 この発明の実施の形態10による放射線検
出器の要部を示す正面図である。
【図13】 この発明の実施の形態11による放射線検
出器の要部を示す断面図である。
【図14】 この発明の実施の形態12による放射線検
出器におけるシンチレーションファイバを用いた放射線
検出部を示す断面図である。
【図15】 この発明の実施の形態13による放射線検
出器の要部を示す断面図である。
【図16】 この発明の実施の形態14による放射線検
出器の要部を示す断面図である。
【図17】 この発明の実施の形態15による放射線検
出器の要部を示す断面図である。
【図18】 この発明の実施の形態16による放射線検
出器の要部を示す断面図である。
【図19】 この発明の実施の形態17による放射線検
出器の要部を示す断面図である。
【図20】 この発明の実施の形態18による放射線検
出器の要部を示す断面図である。
【図21】 従来の分布型の放射線検出器を示すブロッ
ク図である。
【符号の説明】
100A,100B,100C,100D,400A,
400B,400C,600,700,800A,80
0B,800C,1200,1300A,1300B,
1600 放射線検出系、102a,102b,102
c,102d,1206 シンチレーションファイバ、
103a,103b,103c,103d,501 受
光素子、109a,109b マルチチャネル波高分析
器(放射線分析器)、110 マイクロコンピュータ
(解析手段)、302,305,308 コリメータ
(放射線指向通過手段)、401,1301 シンチレ
ーションファイバ(放射線検出部)、402,703,
1302 伝送用光ファイバ、410 中継増幅器、6
01,701,801,1605 シンチレーションフ
ァイバ束(放射線検出部)、702,803 ライトガ
イド、804 波長シフト用光ファイバ(伝送用光ファ
イバ)、1201 反射材層。

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 放射線を検出して光パルスを発生するシ
    ンチレーションファイバから2方向に伝搬する光パルス
    を電気パルスに変換する各受光素子と、前記各受光素子
    からの電気パルスの到着時間差および電気パルス数にも
    とづいて前記放射線の入射位置および入射位置における
    放射線量率を求める放射線分析器とを備えた放射線検出
    器において、前記シンチレーションファイバを含む放射
    線検出系が、2次元状または3次元状に配置されている
    ことを特徴とする放射線検出器。
  2. 【請求項2】 放射線分析器が求めた放射線の入射位置
    および入射位置における放射線量率にもとづいて逆問題
    解析を行って、放射線源または空間の放射線強度の分布
    を推定する解析手段を備えたことを特徴とする請求項1
    記載の放射線検出器。
  3. 【請求項3】 シンチレーションファイバの長手方向に
    対して直交する方向に放射線を通過させる放射線指向通
    過手段を備えたことを特徴とする請求項1または請求項
    2記載の放射線検出器。
  4. 【請求項4】 放射線検出系は、シンチレーションファ
    イバによる放射線検出部と、前記放射線検出部からの光
    パルスを伝送し放射線に反応しない伝送用光ファイバと
    を有することを特徴とする請求項1または請求項2記載
    の放射線検出器。
  5. 【請求項5】 放射線検出系は、放射線検出系の中途に
    設けられ光パルスを増幅する中継増幅器を有することを
    特徴とする請求項1または請求項2記載の放射線検出
    器。
  6. 【請求項6】 放射線検出部は、複数のシンチレーショ
    ンファイバが束ねられたシンチレーションファイバ束を
    有し、伝送用光ファイバは、前記シンチレーションファ
    イバ束の両端に接続されていることを特徴とする請求項
    4記載の放射線検出器。
  7. 【請求項7】 放射線検出系は、複数のシンチレーショ
    ンファイバが束ねられたシンチレーションファイバ束
    と、前記シンチレーションファイバ束の両端に接続され
    た各ライトガイドと、前記各ライトガイドの他端に挿入
    された波長シフト用光ファイバとを含むことを特徴とす
    る請求項4記載の放射線検出器。
  8. 【請求項8】 シンチレーションファイバのクラッディ
    ング外周に反射材層が設けられていることを特徴とする
    請求項4記載の放射線検出器。
  9. 【請求項9】 放射線検出系は、それぞれシンチレーシ
    ョンファイバと伝送用光ファイバとが交互につなぎ合わ
    された複数のものが、光パルスの伝搬方向とは直交する
    方向で複数のシンチレーションファイバが存在するよう
    に束ねられていることを特徴とする請求項4記載の放射
    線検出器。
  10. 【請求項10】 ライトガイドに接続される波長シフト
    用光ファイバは、前記ライトガイド内でらせん状に巻か
    れていることを特徴とする請求項7記載の放射線検出
    器。
  11. 【請求項11】 放射線を検出して光パルスを発生する
    シンチレーションファイバから2方向に伝搬する光パル
    スを電気パルスに変換する各受光素子と、前記各受光素
    子からの電気パルスの到着時間差および電気パルス数に
    もとづいて前記放射線の入射位置および入射位置におけ
    る放射線量率を求める放射線分析器と、求められた放射
    線の入射位置および入射位置における放射線量率にもと
    づいて逆問題解析を行って放射線源または空間の放射線
    強度の分布を推定する解析手段とを備えた放射線検出器
    で用いられる放射線検出方法において、複数の要素に分
    割された対象領域の周囲における放射線強度分布を測定
    してその放射線強度分布に応じたパターンベクトルを作
    成し、前記各要素の中心に放射線源があると仮定した場
    合に測定されるであろう放射線強度分布の計算パターン
    ベクトルを算出し、測定された放射線強度分布に応じた
    前記パターンベクトルの向きに最も近い向きを持つ計算
    パターンベクトルが生成されたときに仮定された放射線
    源の位置を確定し、確定された各放射線源の位置にもと
    づいて前記対象領域の2次元または3次元の放射線源分
    布を作成することを特徴とする放射線検出方法。
  12. 【請求項12】 2次元または3次元の放射線源分布か
    ら空間の放射線強度分布を算出し、算出された放射線強
    度分布を表示することを特徴とする請求項11記載の放
    射線検出方法。
  13. 【請求項13】 放射線を検出して光パルスを発生する
    シンチレーションファイバから2方向に伝搬する光パル
    スを電気パルスに変換する各受光素子と、前記各受光素
    子からの電気パルスの到着時間差および電気パルス数に
    もとづいて前記放射線の入射位置および入射位置におけ
    る放射線量率を求める放射線分析器とを備えた放射線検
    出器において、前記シンチレーションファイバを含む放
    射線検出系が1次元配置され、前記シンチレーションフ
    ァイバの長手方向に対して直交する方向に放射線を通過
    させる放射線指向通過手段を備えたことを特徴とする放
    射線検出器。
  14. 【請求項14】 放射線を検出して光パルスを発生する
    シンチレーションファイバから2方向に伝搬する光パル
    スを電気パルスに変換する各受光素子と、前記各受光素
    子からの電気パルスの到着時間差および電気パルス数に
    もとづいて前記放射線の入射位置および入射位置におけ
    る放射線量率を求める放射線分析器とを備えた放射線検
    出器において、前記シンチレーションファイバを含む放
    射線検出系が1次元配置され、前記放射線検出系は、シ
    ンチレーションファイバによる放射線検出部と、前記放
    射線検出部とつなぎ合わされ、光パルスを伝送し放射線
    に反応しない伝送用光ファイバとを有することを特徴と
    する放射線検出器。
  15. 【請求項15】 放射線を検出して光パルスを発生する
    シンチレーションファイバから2方向に伝搬する光パル
    スを電気パルスに変換する各受光素子と、前記各受光素
    子からの電気パルスの到着時間差および電気パルス数に
    もとづいて前記放射線の入射位置および入射位置におけ
    る放射線量率を求める放射線分析器とを備えた放射線検
    出器において、前記シンチレーションファイバを含む放
    射線検出系が1次元配置され、前記放射線検出系は、放
    射線検出系の中途に設けられ光パルスを増幅する中継増
    幅器を有することを特徴とする放射線検出器。
  16. 【請求項16】 放射線を検出して光パルスを発生する
    シンチレーションファイバから2方向に伝搬する光パル
    スを電気パルスに変換する各受光素子と、前記各受光素
    子からの電気パルスの到着時間差および電気パルス数に
    もとづいて前記放射線の入射位置および入射位置におけ
    る放射線量率を求める放射線分析器とを備えた放射線検
    出器において、前記シンチレーションファイバを含む放
    射線検出系が1次元配置され、前記放射線検出系は、複
    数のシンチレーションファイバが束ねられたシンチレー
    ションファイバ束と、前記シンチレーションファイバ束
    の両端に接続されている伝送用光ファイバとを含むこと
    を特徴とする放射線検出器。
  17. 【請求項17】 放射線を検出して光パルスを発生する
    シンチレーションファイバから2方向に伝搬する光パル
    スを電気パルスに変換する各受光素子と、前記各受光素
    子からの電気パルスの到着時間差および電気パルス数に
    もとづいて前記放射線の入射位置および入射位置におけ
    る放射線量率を求める放射線分析器とを備えた放射線検
    出器において、前記シンチレーションファイバを含む放
    射線検出系が1次元配置され、前記放射線検出系は、複
    数のシンチレーションファイバが束ねられたシンチレー
    ションファイバ束と、前記シンチレーションファイバ束
    の両端に接続された各ライトガイドと、前記各ライトガ
    イドの他端に挿入された波長シフト用光ファイバとを含
    むことを特徴とする放射線検出器。
  18. 【請求項18】 放射線を検出して光パルスを発生する
    シンチレーションファイバから2方向に伝搬する光パル
    スを電気パルスに変換する各受光素子と、前記各受光素
    子からの電気パルスの到着時間差および電気パルス数に
    もとづいて前記放射線の入射位置および入射位置におけ
    る放射線量率を求める放射線分析器とを備えた放射線検
    出器において、前記シンチレーションファイバを含む放
    射線検出系が1次元配置され、前記シンチレーションフ
    ァイバのクラッディング外周に反射材層が設けられてい
    ることを特徴とする放射線検出器。
  19. 【請求項19】 放射線を検出して光パルスを発生する
    シンチレーションファイバから2方向に伝搬する光パル
    スを電気パルスに変換する各受光素子と、前記各受光素
    子からの電気パルスの到着時間差および電気パルス数に
    もとづいて前記放射線の入射位置および入射位置におけ
    る放射線量率を求める放射線分析器とを備えた放射線検
    出器において、前記シンチレーションファイバを含む放
    射線検出系が1次元配置され、前記放射線検出系は、そ
    れぞれシンチレーションファイバと伝送用光ファイバと
    が交互につなぎ合わされた複数のものが、光パルスの伝
    搬方向とは直交する方向で複数のシンチレーションファ
    イバが存在するように束ねられていることを特徴とする
    放射線検出器。
  20. 【請求項20】 放射線を検出して光パルスを発生する
    シンチレーションファイバから2方向に伝搬する光パル
    スを電気パルスに変換する各受光素子と、前記各受光素
    子からの電気パルスの到着時間差および電気パルス数に
    もとづいて前記放射線の入射位置および入射位置におけ
    る放射線量率を求める放射線分析器とを備えた放射線検
    出器において、前記シンチレーションファイバを含む放
    射線検出系が1次元配置され、前記放射線検出系は、複
    数のシンチレーションファイバが束ねられたシンチレー
    ションファイバ束と、前記シンチレーションファイバ束
    の両端に接続された各ライトガイドと、前記各ライトガ
    イドの他端に挿入された波長シフト用光ファイバとを含
    み、前記波長シフト用光ファイバは、前記ライトガイド
    内でらせん状に巻かれていることを特徴とする放射線検
    出器。
JP8082844A 1995-04-27 1996-04-04 放射線検出器および放射線検出方法 Pending JPH0915335A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8082844A JPH0915335A (ja) 1995-04-27 1996-04-04 放射線検出器および放射線検出方法
US08/634,677 US5780856A (en) 1995-04-27 1996-04-18 Radiation detector and method of detecting radiation
EP96106438A EP0740167B1 (en) 1995-04-27 1996-04-24 Radiation detector and method of detecting radiation
DE69614028T DE69614028T2 (de) 1995-04-27 1996-04-24 Strahlungsdetektorvorrichtung und Verfahren zur Detektierung von Strahlung

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7-104363 1995-04-27
JP10436395 1995-04-27
JP8082844A JPH0915335A (ja) 1995-04-27 1996-04-04 放射線検出器および放射線検出方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0915335A true JPH0915335A (ja) 1997-01-17

Family

ID=26423867

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8082844A Pending JPH0915335A (ja) 1995-04-27 1996-04-04 放射線検出器および放射線検出方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5780856A (ja)
EP (1) EP0740167B1 (ja)
JP (1) JPH0915335A (ja)
DE (1) DE69614028T2 (ja)

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10213663A (ja) * 1997-01-29 1998-08-11 Mitsubishi Electric Corp 局所線量計
JPH10221452A (ja) * 1997-01-31 1998-08-21 Toshiba Corp 光ファイバ放射線センサおよび光ファイバ放射線測定装置
JPH116875A (ja) * 1997-06-16 1999-01-12 Mitsubishi Electric Corp シンチレーションファイバを用いた放射線検出方法
JP2001311777A (ja) * 2000-05-01 2001-11-09 Japan Nuclear Cycle Development Inst States Of Projects 薄型放射線表面汚染検出器
JP2003194944A (ja) * 2001-12-26 2003-07-09 Hitachi Ltd 放射線管理システム及び方法
JP2005121583A (ja) * 2003-10-20 2005-05-12 Japan Nuclear Cycle Development Inst States Of Projects 放射線飛来方向検出装置
JP2006106010A (ja) * 2005-12-28 2006-04-20 Mitsubishi Electric Corp 体表面汚染モニタ
JP2012533734A (ja) * 2009-07-16 2012-12-27 ユニバーシテット ヤギエロンスキ ガンマ量子反応の位置及び時間を測定するストリップ装置と方法及び陽電子放射断層撮影においてガンマ量子反応の位置及び時間を測定するストリップ装置の使用方法
JP2012533733A (ja) * 2009-07-16 2012-12-27 ユニバーシテット ヤギエロンスキ ガンマ量子反応の位置及び時間を測定するマトリックス装置及び方法、並びに陽電子放射断層撮影においてガンマ量子反応の位置及び時間を測定する前記装置の使用方法
JP2013195274A (ja) * 2012-03-21 2013-09-30 Shimizu Corp 3次元線量評価マッピングシステム及びその方法
WO2013179970A1 (ja) * 2012-05-31 2013-12-05 株式会社クラレ ケーブル、及び放射線測定装置
JP2014025833A (ja) * 2012-07-27 2014-02-06 Kumagai Gumi Co Ltd シンチレーションファイバー装置
JP2014145710A (ja) * 2013-01-30 2014-08-14 Kajima Corp 土地区分体、保管方法、区画方法
JP2015099035A (ja) * 2013-11-18 2015-05-28 鹿島建設株式会社 除去物汚染レベル計測システム
JP2015206780A (ja) * 2014-04-08 2015-11-19 清水建設株式会社 放射線知覚化装置
JP2017037009A (ja) * 2015-08-11 2017-02-16 株式会社日本環境調査研究所 線量測定方法
JP2017142077A (ja) * 2016-02-08 2017-08-17 清水建設株式会社 放射性物質収容物の放射線量測定方法

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3841898B2 (ja) * 1996-11-21 2006-11-08 三菱電機株式会社 深部線量測定装置
JP3784419B2 (ja) * 1996-11-26 2006-06-14 三菱電機株式会社 エネルギー分布を形成する方法
JPH10186034A (ja) * 1996-12-27 1998-07-14 Mitsubishi Electric Corp シンチレーションファイバを用いた放射線検出器
US6078052A (en) * 1997-08-29 2000-06-20 Picker International, Inc. Scintillation detector with wavelength-shifting optical fibers
PT1551834E (pt) * 2002-05-23 2010-09-30 Novartis Vaccines & Diagnostic Compostos de quinazolinona substituídos
US6900924B2 (en) * 2003-01-16 2005-05-31 Canon Kabushiki Kaisha Driving method of electrophoretic display
US7148483B1 (en) 2004-01-30 2006-12-12 Testardi Louis R Fast, simple radiation detector
US7115875B1 (en) * 2004-02-17 2006-10-03 Photodetection Systems, Inc. PET scanner with photodetectors and wavelength shifting fibers
US8173970B2 (en) 2005-02-04 2012-05-08 Dan Inbar Detection of nuclear materials
US20110101230A1 (en) * 2005-02-04 2011-05-05 Dan Inbar Advanced SNM Detector
US7847260B2 (en) * 2005-02-04 2010-12-07 Dan Inbar Nuclear threat detection
US7820977B2 (en) 2005-02-04 2010-10-26 Steve Beer Methods and apparatus for improved gamma spectra generation
DE102005017557B4 (de) 2005-04-16 2010-11-04 Mirion Technologies (Rados) Gmbh Leichtgewichtiger Flächendetektor für Teilchenstrahlung kontaminierter Objekte
US7813841B2 (en) * 2006-03-10 2010-10-12 Ottawa Heart Institute Research Corporation Rubidium elution system control
US20080089087A1 (en) * 2006-10-16 2008-04-17 Paul Douglas Stoner Apparatus and Method Pertaining to Light-Based Power Distribution in a Vehicle
US20080088484A1 (en) * 2006-10-16 2008-04-17 Paul Douglas Stoner Apparatus and Method Pertaining To Light-Based Power Distribution in a Vehicle
FR2922667A1 (fr) * 2007-10-22 2009-04-24 Commissariat Energie Atomique Procede de gestion d'un accident a evolution temporelle
DE102012100768A1 (de) * 2012-01-31 2013-08-01 Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg Szintillationdetektor
JP2014139564A (ja) * 2012-12-20 2014-07-31 Sony Corp 撮像装置および電子機器
US9970746B2 (en) * 2015-08-26 2018-05-15 Flextronics Ap, Llc Diffusive optical fiber sensor and communication device and method of use
FR3053799B1 (fr) * 2016-07-08 2019-08-30 Fibermetrix Dispositif de determination d'une dose deposee et procede associe
US10473815B2 (en) * 2016-07-10 2019-11-12 Andrew Xianyi Huang Time-delayed enlarged three-dimensional (3D) gravitational wave detection system

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3978337A (en) * 1975-01-29 1976-08-31 Wisconsin Alumni Research Foundation Three-dimensional time-of-flight gamma camera system
US4788436A (en) * 1986-12-24 1988-11-29 Walter Koechner Radiation sensitive optical fiber and detector
JPS63307382A (ja) * 1987-06-08 1988-12-15 Japan Atom Energy Res Inst 放射線計測方法
US4942302A (en) * 1988-02-09 1990-07-17 Fibertek, Inc. Large area solid state nucler detector with high spatial resolution
US5313065A (en) * 1992-09-01 1994-05-17 The Babcock & Wilcox Company Fiber optic radiation monitor

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10213663A (ja) * 1997-01-29 1998-08-11 Mitsubishi Electric Corp 局所線量計
JPH10221452A (ja) * 1997-01-31 1998-08-21 Toshiba Corp 光ファイバ放射線センサおよび光ファイバ放射線測定装置
JPH116875A (ja) * 1997-06-16 1999-01-12 Mitsubishi Electric Corp シンチレーションファイバを用いた放射線検出方法
JP2001311777A (ja) * 2000-05-01 2001-11-09 Japan Nuclear Cycle Development Inst States Of Projects 薄型放射線表面汚染検出器
JP2003194944A (ja) * 2001-12-26 2003-07-09 Hitachi Ltd 放射線管理システム及び方法
JP2005121583A (ja) * 2003-10-20 2005-05-12 Japan Nuclear Cycle Development Inst States Of Projects 放射線飛来方向検出装置
US7064333B2 (en) 2003-10-20 2006-06-20 Japan Nuclear Cycle Development Institute Direction sensitive detector of radiation
JP2006106010A (ja) * 2005-12-28 2006-04-20 Mitsubishi Electric Corp 体表面汚染モニタ
JP2012533734A (ja) * 2009-07-16 2012-12-27 ユニバーシテット ヤギエロンスキ ガンマ量子反応の位置及び時間を測定するストリップ装置と方法及び陽電子放射断層撮影においてガンマ量子反応の位置及び時間を測定するストリップ装置の使用方法
JP2012533733A (ja) * 2009-07-16 2012-12-27 ユニバーシテット ヤギエロンスキ ガンマ量子反応の位置及び時間を測定するマトリックス装置及び方法、並びに陽電子放射断層撮影においてガンマ量子反応の位置及び時間を測定する前記装置の使用方法
JP2013195274A (ja) * 2012-03-21 2013-09-30 Shimizu Corp 3次元線量評価マッピングシステム及びその方法
WO2013179970A1 (ja) * 2012-05-31 2013-12-05 株式会社クラレ ケーブル、及び放射線測定装置
JPWO2013179970A1 (ja) * 2012-05-31 2016-01-21 株式会社クラレ ケーブル、及び放射線測定装置
US9557425B2 (en) 2012-05-31 2017-01-31 Kuraray Co., Ltd. Cable and radiation measurement apparatus
JP2014025833A (ja) * 2012-07-27 2014-02-06 Kumagai Gumi Co Ltd シンチレーションファイバー装置
JP2014145710A (ja) * 2013-01-30 2014-08-14 Kajima Corp 土地区分体、保管方法、区画方法
JP2015099035A (ja) * 2013-11-18 2015-05-28 鹿島建設株式会社 除去物汚染レベル計測システム
JP2015206780A (ja) * 2014-04-08 2015-11-19 清水建設株式会社 放射線知覚化装置
JP2015206779A (ja) * 2014-04-08 2015-11-19 清水建設株式会社 放射線可視化装置、及びそれによる放射性物質監視方法、放射性物質漏洩検知方法
JP2017037009A (ja) * 2015-08-11 2017-02-16 株式会社日本環境調査研究所 線量測定方法
JP2017142077A (ja) * 2016-02-08 2017-08-17 清水建設株式会社 放射性物質収容物の放射線量測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0740167B1 (en) 2001-07-25
DE69614028T2 (de) 2002-03-14
EP0740167A1 (en) 1996-10-30
DE69614028D1 (de) 2001-08-30
US5780856A (en) 1998-07-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0915335A (ja) 放射線検出器および放射線検出方法
US5675151A (en) Distribution type detector using scintillation fibers
US7655912B2 (en) Direction finding radiation detector, and radiation monitoring method and apparatus
EP0608101B1 (en) Scintillation counter
JP4313895B2 (ja) 放射線検出装置
US5155366A (en) Method and apparatus for detecting and discriminating between particles and rays
JPH07306270A (ja) 放射線検出器および放射線検出方法
GB2365522A (en) X-ray inspection and material discrimination
JPH08338876A (ja) 粒子計量器、粒子計量方法および原子力プラント
JPH10288671A (ja) 位置検出型放射線検出装置
JPH06258446A (ja) 光導波型シンチレータとシンチレーション検出器
JP3813656B2 (ja) 光ファイバ型大面積放射線モニタ
US7502442B2 (en) X-ray inspection system and method
JPH09318757A (ja) 放射線検出器
JPH06294871A (ja) 放射線強度分布測定装置
CN105044760A (zh) 一种基于闪烁光纤的分布式单端反射型在线放射性探测仪及其探测方法
US9020099B1 (en) Miniaturized pipe inspection system for measuring corrosion and scale in small pipes
US9151852B1 (en) Material identification based upon energy-dependent attenuation of neutrons
Benlloch et al. Physical properties of the TOF (Time of Flight) scintillation counters of Delphi
JPH09159769A (ja) 大面積放射線検出器
JP5060410B2 (ja) 放射線検出装置
US11035964B1 (en) Method and apparatus for radiation detection based on time-of-flight within optical fibers
JP4316094B2 (ja) 放射線検出装置
JP7301288B2 (ja) 放射線強度分布測定装置、放射線強度分布測定方法
JP2019190857A (ja) 位置検出器