JPH09148017A - Icソケット本体及びガイド部材 - Google Patents
Icソケット本体及びガイド部材Info
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- JPH09148017A JPH09148017A JP7301402A JP30140295A JPH09148017A JP H09148017 A JPH09148017 A JP H09148017A JP 7301402 A JP7301402 A JP 7301402A JP 30140295 A JP30140295 A JP 30140295A JP H09148017 A JPH09148017 A JP H09148017A
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R33/00—Coupling devices specially adapted for supporting apparatus and having one part acting as a holder providing support and electrical connection via a counterpart which is structurally associated with the apparatus, e.g. lamp holders; Separate parts thereof
- H01R33/74—Devices having four or more poles, e.g. holders for compact fluorescent lamps
- H01R33/76—Holders with sockets, clips, or analogous contacts adapted for axially-sliding engagement with parallely-arranged pins, blades, or analogous contacts on counterpart, e.g. electronic tube socket
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/02—Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
- H05K7/10—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
- H05K7/1015—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having exterior leads
- H05K7/1023—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having exterior leads co-operating by abutting, e.g. flat pack
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
る。 【解決手段】 枠形にコンタクト列を配置したICソケ
ットにおいて、枠形に配置されたコンタクト列の各辺を
一辺ずつに切離し、各辺のコンタクト列を絶縁基板に装
着する際に、その装着位置を選択して各寸法のICに対
応させる。
Description
置に用いることができるICソケット本体及びこのIC
ソケット本体に被せてICをICソケット本体にガイド
するガイド部材に関する。
実装型のICが多数実用されている。この型式のICを
試験する場合には、ICのパッケージを真空吸着手段で
吸着し、この真空吸着手段で吸着した状態でX−Y搬送
手段(水平搬送手段)により被試験ICをテスト部に搬
送し、テスト部に設けたICソケットに接触させてテス
トを行なう。
トの構造を示す。図中1は枠形に配列したコンタクト列
を示す。このコンタクト列1は枠形の絶縁ボディ2に装
着され支持されている。コンタクト列1の各角の部分に
はICのパッケージと係合してICの位置を規定するた
めのガイド3が上向に突出して配置される。
ッチは厳格に規定されているが、パッケージの寸法には
許容幅が存在する。従ってこの許容幅の範囲内で各IC
製造会社はパッケージの寸法を決定している。ガイド3
の位置はパッケージの寸法に精度よく位置合せして設定
する。このために規格の許容幅の範囲内で異なる寸法の
ICを試験するには、各寸法毎にガイド3の位置を規定
したICソケットを用意しなければならない。また、パ
ッケージに寸法差を持つことによりコンタクト列1の対
向間隔L1,L2もわずかずつ異ならせなくてはならな
い。
にコンタクト列1を組込んで一体化しているから、コン
タクト列1の中のコンタクトの一部が例えば折れてしま
った場合には、修理ができないためICソケット全体を
交換しなくてはならない。このためICソケットに対す
るコストが掛り高価なものになる欠点がある。この発明
の目的はICパッケージの多種の寸法に対して共通の部
材によって対応できるICソケットを提供しようとする
ものである。
ドが突出された面実装型ICの各リードに接触する枠形
に配置されたコンタクト列を有し、面実装型ICをIC
試験装置等の装置に電気的に接続するICソケット本体
において、4辺に配列されるコンタクト列の各一辺分を
それぞれ各別に支持する複数の絶縁ブロックと、これら
複数の絶縁ブロックを枠形に配置して支持する絶縁基板
とによって構成し、絶縁基板に対する絶縁ブロックの支
持位置をICの寸法に応じて適宜選定することにより、
各辺のコンタクト列に接触するICの寸法差を吸収する
ように構成したものである。
成され、絶縁板に枠形に装着された絶縁ブロックを収納
する矩形状の凹部と、この凹部の天井面に各絶縁ブロッ
クに装着したコンタクト列を露出させる窓口と、この窓
口の四隅に上向に突出して形成され、コンタクト列に接
触するICの位置を規定するガイドとを絶縁樹脂材によ
って一体成形して構成したガイド部材を提案するもので
ある。
ば、4個に分離した各絶縁ブロックの配置を適宜に選定
することにより、寸法が異なるパッケージのICでもコ
ンタクトに適正に接触させることができるICソケット
本体を提供することができる。つまり、共通の構造の絶
縁ブロックによって寸法が異なるIC用のソケット本体
を作ることができる。またこの発明によればコンタクト
列を一辺ずつに分離して絶縁ブロックに支持したから一
部のコンタクトが破損しても、そのコンタクトが破損し
た辺だけを交換すればよいから、経済的である。
ソケット本体に対し、このICソケット本体に被せて実
用するガイド部材を別々に設ける。従って各ガイド部材
に適合したICを正確にICソケット本体にガイドする
ことができる。
の発明による実施の形態を詳細に説明する。図1におい
て10はこの発明によるICソケット本体、20はガイ
ド部材を示す。ICソケット本体10は各一辺のコンタ
クト列11A,11B,11C,11Dのそれぞれを支
持する絶縁ブロック12A,12B,12C,12D
と、この絶縁ブロック12A〜12Dを枠形に配置した
状態で支持する絶縁基板13とによって構成することが
できる。各絶縁ブロック12A,13B,12C,12
Dは互いに分離され、単体で絶縁基板13に装着され
る。このためには例えば各絶縁ブロック12A〜12D
の各底面に図2に示すように係合突起15を形成し、こ
の係合突起15を絶縁基板13に形成した孔14に挿入
し、接着剤等で固定する。孔14の対向距離W1とW2
(図2参照)は、試験しようとする被試験ICの寸法に
対応した位置に形成する。
13に枠形に装着した状態でICソケット本体10が完
成される。ICソケット本体10の上にガイド部材20
を被せる。ガイド部材20は平板形状の板材で構成さ
れ、底面に凹部21が形成され、この凹部21に枠形に
配置された絶縁ブロック12A〜12Dを収納する。凹
部21の天井面には窓口22を形成し、この窓口22を
通じてコンタクト列11A〜11Dを上面に露出させ
る。
23を一体に成形する。このガイド部材20は各ICの
寸法毎に樹脂材で成形し、多種類の寸法のガイド部材を
用意する。
タクト列11A〜11Dは別体に形成した絶縁ブロック
12A〜12Dに支持し、この絶縁ブロック12A〜1
2Dを絶縁基板13に枠形に装着し、その装着位置を違
ならせることによってICの寸法に対応したICソケッ
ト本体10を構成したから、各絶縁ブロック12A〜1
2Dは各寸法のIC用として共用することができる。よ
ってICソケット本体10のコストを低減することがで
きる。また、コンタクト列11A〜11Dの中の一部の
コンタクトが破損した場合には、破損した部分の絶縁ブ
ロックを交換すればよいから、修理が可能なICソケッ
トを提供することができる。また、修理のコストを安価
にすることができる。
するが、ガイド部材20は樹脂成形だけで作ることがで
きるので寸法を異にする種類が多くあっても、その製造
コストは安価に済ませることができる。
造を説明するための分解斜視図。
するための斜視図。
Claims (2)
- 【請求項1】 4辺にリードが突出された面実装型IC
の各リードに接触するコンタクト列が枠形に配置され、
面実装型ICを装置に電気的に接続するICソケット本
体において、 上記4辺に配列されるコンタクト列の各一辺分をそれぞ
れ各別に支持する複数の絶縁ブロックと、 これら複数の絶縁ブロックを枠形に配置して支持する絶
縁基板と、によって構成され、上記絶縁基板に対する上
記絶縁ブロックの支持位置を適宜選定することにより、
上記各辺のコンタクト列に接触するICの寸法差を吸収
するように構成したことを特徴とするICソケット本
体。 - 【請求項2】 底面に形成され、上記絶縁基板に枠形に
装着された絶縁ブロックを収納する矩形状の凹部と、こ
の凹部の天井面に形成され、上記各絶縁ブロックに装着
したコンタクト列を露出させる窓口と、 この窓口の四隅に上向きに突出して形成され、上記コン
タクト列に接触するICの位置を規定するガイドとを絶
縁樹脂材によって一体成形して構成し、上記ICソケッ
ト本体の上部に被せて実用することを特徴とするガイド
部材。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30140295A JP3644553B2 (ja) | 1995-11-20 | 1995-11-20 | Icソケット |
TW085113950A TW368770B (en) | 1995-11-20 | 1996-11-14 | IC socket body and guiding component |
US08/751,330 US5813869A (en) | 1995-11-20 | 1996-11-18 | IC socket and guide member |
KR1019960055521A KR100249098B1 (ko) | 1995-11-20 | 1996-11-20 | Ic소켓 및 가이드부재 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30140295A JP3644553B2 (ja) | 1995-11-20 | 1995-11-20 | Icソケット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09148017A true JPH09148017A (ja) | 1997-06-06 |
JP3644553B2 JP3644553B2 (ja) | 2005-04-27 |
Family
ID=17896445
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30140295A Expired - Fee Related JP3644553B2 (ja) | 1995-11-20 | 1995-11-20 | Icソケット |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5813869A (ja) |
JP (1) | JP3644553B2 (ja) |
KR (1) | KR100249098B1 (ja) |
TW (1) | TW368770B (ja) |
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1995
- 1995-11-20 JP JP30140295A patent/JP3644553B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-11-14 TW TW085113950A patent/TW368770B/zh not_active IP Right Cessation
- 1996-11-18 US US08/751,330 patent/US5813869A/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
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JP3644553B2 (ja) | 2005-04-27 |
KR19980036862A (ko) | 1998-08-05 |
KR100249098B1 (ko) | 2000-04-01 |
US5813869A (en) | 1998-09-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040702 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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RD01 | Notification of change of attorney |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050127 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080210 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090210 Year of fee payment: 4 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100210 Year of fee payment: 5 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |