JPH09101111A

JPH09101111A - パターンの傾き調整装置

Info

Publication number: JPH09101111A
Application number: JP26043795A
Authority: JP
Inventors: Hideyuki Takemoto; 英行竹本; Koichi Noguchi; 浩一野口; Shinichiro Wada; 真一郎和田
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1995-10-06
Filing date: 1995-10-06
Publication date: 1997-04-15

Abstract

(57)【要約】【課題】セットされたパターン部材が、微調整可能で
あり、しかも一旦セットされたらパターン部材がメンテ
ナンスなどで取り外されたとしても、また同じ位置にセ
ットすることができるようにする。【解決手段】斜線パターン３０を画像データと共に読
み取る機能を有する画像読取装置の前記パターンの傾き
を調整する調整装置において、前記斜線パターン３０が
形成されたコンタクトガラス２１を突き当てて前記パタ
ーンの位置決めを行う突き当て部材１０３ａ，１０３ｂ
および調整部材１０１と、前記位置決めを行う突き当て
部材のうち調整部材を上下に微小に移動させ、上下の微
小移動に応じてコンタクトガラス２１が突き当たる部分
を主走査方向に微動可能とした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、読取装置で読み
取ったビットマップ形式の画像データの位置誤差を補正
する装置に備えられる測定用パターンを位置決めするた
めの装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の複写機やスキャナにおいて、コン
タクトガラスはセットする位置に精度が必要ないため、
コンタクトガラスは所定の位置に適当に置かれるか、セ
ットしやすいように端部を突き当て手置くようになって
いる。これらはいずれにしても精度を必要としないもの
である。

【０００３】また、長手方向に設置される原稿スケール
では、副走査方向に平行になるように位置決めされてい
るが、部品のばらつきにより正確には副走査方向に平行
には設置されていない。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、画像領域外の
パターンを画像データとともに読み取って読み取り画素
の位置検出を行い、そのデータに基づいて補正し、画像
の高画質化を図ろうとすると、読み取り画素の測定精度
を上げる必要があり、読み取り画素の測定精度を上げる
ためには、前記パターンを副走査方向に対して正確に平
行に位置決めしなければならない。

【０００５】本発明は、このような背景に鑑みてなされ
たもので、その目的は、セットされたパターン部材が、
微調整可能であり、しかも一旦セットされたらパターン
部材がメンテナンスなどで取り外されたとしても、また
同じ位置にセットすることができるようにすることにあ
る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、第１の手段は、原稿の読取領域外に設置され、走査
方向に対して傾きを有する線を等ピッチで平行に並べた
パターンを画像データと共に読み取る画像読取装置の前
記パターンの傾きを調整する調整装置において、前記パ
ターンが形成されたコンタクトガラスを突き当てて前記
パターンの位置決めを行う手段と、前記位置決めを行う
手段を上下に微小に移動させる手段と、前記上下の微小
な移動に応じて前記コンタクトガラスが突き当たる部分
を主走査方向に微小に移動させる手段とを備えているこ
とを特徴としている。

【０００７】第２の手段は、第１の手段と同様の前提の
調整装置において、前記パターンが形成されたコンタク
トガラスを突き当てて前記パターンの位置決めを行う手
段と、前記位置決めを行う手段のコンタクトガラスが突
き当たる部分を前記位置決めを行う手段の回転に応じて
主走査方向に微小に移動させる手段とを備えていること
を特徴としている。

【０００８】第３の手段は、第１の手段と同様の前提の
調整装置において、前記パターンが形成された原稿スケ
ールを突き当てて前記パターンの位置決めを行う手段
と、前記位置決めを行う手段を上下に微小に移動させる
手段と、前記上下の微小な移動に応じて前記原稿スケー
ルが突き当たる部分を主走査方向に微小に移動させる手
段とを備えていることを特徴としている。

【０００９】第４の手段は、第１の手段と同様の前提の
調整装置において、前記パターンが形成された原稿スケ
ールを突き当てて前記パターンの位置決めを行う手段
と、前記位置決めを行う手段の原稿スケールが突き当た
る部分を前記位置決めを行う手段の回転に応じて主走査
方向に微小に移動させる手段とを備えていることを特徴
としている。

【００１０】第５の手段は、第１ないし第４の手段に、
さらに前記微小に移動させる手段を保護する手段を備え
ていることを特徴としている。

【００１１】第６の手段は、第１または第２の手段にお
いて、前記微小に移動させる手段を原稿スケールで保護
することを特徴としている。

【００１２】第７の手段は、第１ないし第４の手段にお
ける前記微動可能に支持する手段が減速手段を備えてい
ることを特徴としている。

【００１３】第８の手段は、第１ないし第４の手段にお
いて、前記位置決めを行う手段が前記パターンが形成さ
れた部材の長手方向で２点、短手方向で１点突き当たる
ように構成されていることを特徴としている。

【００１４】第９の手段は、第８の手段において、前記
長手方向で２点突き当たる部分のうち、短尺原稿スケー
ルから遠い方に微動可能に支持する手段が設けられてい
ることを特徴としている。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態について説明する。なお、以下の各実施の形
態において、同等と見なせる各部には同一の参照符号を
付し、重複する説明は適宜省略する。

【００１６】１測定原理図１は、本願の前提となる位置誤差の測定における測定
原理を典型的な場合を前提にして説明するための図であ
る。図の主走査と書いた矢印１１は線順次で画像を読み
取る装置が同時に読み取る１ラインの画像の画素の並び
と、この並列のデータを直線のデータに変換したときの
時間軸上の順序を示す。図の副走査と書いた矢印１２は
主走査の１列が読み取る範囲を順次移動させながら読み
取って行く方向を示している。移動する手段としては、
原稿の画像を光電変換素子に投影するミラー、照明ラン
プなどを機械的に移動させるもの、原稿を移動させるも
の、光電変換素子とその結像光学系を一体にして移動さ
せるものなどがある。ここではこの主走査方向と副走査
方向に平行な線で囲まれたそれぞれの４角形を画素とい
うことにする。画素によって構成される平面は、原稿の
画像を電気信号に変換されたデータが原稿の画像の写像
がそのまま並んでいるというイメージでとらえることが
でき、ビットマップということもある。読み取り装置か
らリアルタイムで出力されるときには、主走査、副走査
の方向が時間的な順序を示すが、出力されたデータをメ
モリに取り込んだ状態では、それぞれの画素を任意にア
クセスすることも可能であり、主走査、副走査、時間の
順序にとらわれない扱いも可能になる。

【００１７】図１は主走査と副走査の画素サイズが等し
い場合で、副走査方向の走査速度が変動するときと、一
定速度で４５°の斜線を読み取るときに光電変換装置に
投影されるが、像を全く劣化のないかたちでビットマッ
プに対応させて示したものである。すなわち、ａは副走
査方向の読み取りのタイミングを制御するクロックに対
応する所定の一定速度で走査したときで、ビットマップ
にも４５°の像ができる。ｂは速度が変動するときの像
で、速度に応じて傾きが異なってくる。

【００１８】つまり、Ａ−Ｂは副走査方向の走査速度が
０のときで、副走査方向の読み取りのタイミングを制御
するクロックにより副走査方向のビットマップのアドレ
スが進んでも原稿を読み取っている位置が変わらないた
め、副走査方向に平行な線になってしまう。

【００１９】Ｂ−Ｃは副走査方向の走査速度が所定の速
度の１／２のときで、ビットマップのアドレスが進んで
も、その半分しか進まない位置の画像を読んでいること
になり、画像の副走査方向の線との角度はｔａｎθ＝
０．５から、約２６．５７°である。

【００２０】Ｃ−Ｄは所定の速度で走査しているとき
で、傾きは４５°である。同様にＤ−以降は走査速度が
１．５倍の場合で、その角度は約５６．３１°である。
つまり、走査速度によって像の傾きが異なること、言い
換えれば斜線の主走査方向への移動量が、副走査方向の
移動速度に対応することを測定原理として副走査方向の
移動速度のムラ、ミラー、レンズ、光電変換装置の振動
などに起因するビットマップ画像の画素の位置誤差を計
測する。

【００２１】以上、正方形の画素を持ち、４５°の線を
使用した場合で説明したが、画素が正方形でなく、例え
ば、主走査の分解能４００ｄｐｉ、副走査の分解能６０
０ｄｐｉといった読み取り装置の画像データに適用する
こともでき、４５°以外の斜線を用いても同様に、斜線
の画像の主走査方向への移動量が副走査方向の読み取り
方向の速度に依存するという関係は成立するので、画素
の位置誤差を計測することができる。

【００２２】２システム構成図２は、本実施形態に係る位置誤差測定装置のシステム
構成の一例を示すブロック図で、画像読取装置への付加
機能として組み込み、リアルタイムでその位置誤差を測
定するものである。このシステムは光電変換部１、Ａ／
Ｄ変換部２、シェーディング補正部３、位置誤差測定部
４、位置誤差補正部５および制御部６から基本的に構成
されている。

【００２３】光電変換装置１は、例えばラインＣＣＤ
で、ＣＣＤの受光部に結像された原稿の画像と測定後述
の測定用パターン３０の画像が電気信号に変換される。
電気信号に変換された画像はＡ／Ｄ変換部（器）２でデ
ジタルの多値の画像データに変換される。変換されたデ
ータは、照明の不均一さ、レンズの周辺光量の低下、光
電変換装置の画素間の感度の違いなどをシェーディング
補正部３によってシェーディング補正する。シェーディ
ング補正には光電変換装置１で読み取った後述の基準濃
度板２９のデータが使用される。シェーディング補正さ
れた画像データは、位置誤差測定部（回路）４に入力さ
れ、後述のようにして位置誤差を測定し、測定結果を位
置誤差補正部５に出力する。位置誤差補正部１０は画像
データ（ビデオ信号）とともに位置誤差信号６を受け取
り、補正に必要な所定ライン数の画像データと、それら
の隣接するライン間の誤差信号を順次メモリに保持す
る。メモリのデータを使用し、補正を行う対象のライン
の前後の画像データと誤差データにより、本来あるべき
位置の画像データを読み取った画像の値に基づいた補間
法によってライン上の画素ごとの値を計算し、補正した
ラインの画像データをラインごとにビデオ信号７として
出力する。処理が済んでデータが不要になったメモリに
は次のデータを保持し、順次処理を繰り返すことによっ
て原稿の全面の画像を処理して出力する。それぞれの機
能ブロックは、制御部５によってタイミングの制御、動
作条件の設定などがなされ、相互に関連して動作する。
なお、符号８は制御部５との間で送受信されるビデオ制
御信号８である。

【００２４】３位置誤差測定処理の説明図３は図１と同様のビットマップに斜線の画像データａ
があるときの位置誤差の測定を行うときの処理を説明す
るためのものである。Ｗ₁は画像データの位置を求める
ための演算を行う１１×３のウインドウである。ウイン
ドウ内のデータの位置を求めるため、主走査方向におけ
る重心を演算する。この演算では、順次ウインドウの位
置をＷ₂,Ｗ₃・・・と移動させながら重心を求める。重
心の主走査方向の位置は４５°の線の場合、画素の位置
がなんらかの誤差要因で移動することがなければ、ウイ
ンドウを図のように移動させた場合、主走査方向に１画
素分ずつ移動するはずである。画素の移動量が１画素分
と異なる場合は、何らかの原因で画素の位置が変動した
ことになり、位置誤差が求められる。位置誤差の主要な
要因が副走査方向の走査速度のムラによることが分かっ
ている場合には、位置誤差のデータか速度ムラにデータ
を変換することは容易である。

【００２５】重心を求めるのに周辺の画素のデータを含
む多数の画素データを使っているので、ＣＣＤ固有のノ
イズを始めとしてさまざまなノイズが画像データに含ま
れるが、重心を求める過程でノイズの影響が軽減され、
Ｓ／Ｎの高い測定が可能になっている。通常、ウインド
ウの画素の数が多いほどＳ／Ｎは高くなる。

【００２６】ウインドウの形状は主走査方向の重心を求
めることから、主走査側に大きいことが望ましい。副走
査方向は１としても測定可能である。

【００２７】図４は斜線の数が複数あって複数の斜線を
使用して位置誤差を測定する場合のウインドウの移動と
それに伴う処理を説明するものである。図３の例と同様
にウインドウを順次移動させ、あらかじめ設定したおい
たＷ_nに達したとき、その次のウインドウとしてＷ_n+1
に移動させる。移動する前後の斜線のパターンａ₁とａ
₂の間隔は測定用チャートを作成する段階で決めてお
き、その間隔の値を主走査方向の重心の移動を計算する
ときに補正する。Ｗ_n+1、Ｗ_n+2、Ｗ_n+3・・・と移動
させるが、ターン間の間隔を画素サイズの整数倍に設定
しておくと、ウインドウをジャンプさせたときの補正が
簡単であり、測定に先立って測定装置にこの補正量を入
力するときにも便利である。

【００２８】この例ではウインドウを１画素ずつ移動さ
せているが、画素の位置誤差を起こす原因となる振動な
どの周波数帯域が低い場合は、ウインドウを２画素以上
ずつ移動させても良い。こうすることによって測定に要
する時間短くすることができる。

【００２９】また、複数の斜線を使って位置誤差を測定
するようにすれば、読み取り装置の読み取り範囲が縦長
であっても副走査方向の全域にわたっての測定が可能に
なる。さらに、主走査方向の狭い幅のなかだけで測定す
るようにすれば、主走査方向における中央部とか、手前
とか、奥側とかに分けて位置誤差を測定することも可能
になる。

【００３０】これらの図からも明らかなように、本願で
は高い分解能で位置誤差を測定する場合でも、それに応
じて斜線のパターンを細くする必要は全くなく、システ
ムのＭＴＦの制約の影響を受けない幅の広いパターンを
使うことができるという特徴がある。幅の広いパターン
を使えば、それに応じてウインドウも大きくなり、結果
として測定の精度を上げることができる。なお、処理速
度、リアルタイム処理を行う場合は、バッファのサイ
ズ、回路規模の経済性などとのバランスでパターンの幅
を設定すればよい。

【００３１】なお、他の例として、幅の広い線のパター
ンを用い、どちらか片側のエッジのデータによっても同
様に位置誤差を測定することが可能である。

【００３２】また、副走査の読み取りタイミングと斜線
との関係は常に同じであるから、前述の公知例のように
副走査方向に並べられた等間隔の白黒のパターンでは避
けることのできないモアレの問題を回避することがで
き、高精度な位置誤差の測定を可能にしている。

【００３３】４ウインドウのデータと重心の計算図５はウインドウのデータと、斜線のパターンの関係を
示すものである。ウインドウの各画素には斜線のパター
ンを読み取って得られる画像データの値が記入されてい
る。画像データの値は８ビットのデジタルデータで、１
０進法で表すと０〜２５５の値を取ることができる。図
の値は画像のデータを１０進法で表記した値である。

【００３４】主走査方向の重心を計算するには、各列ご
とにデータの和を求める。これを右側からａ₀,ａ₁,・・
・ａ₁₀とすると、それぞれ１４、３７、１５０、３４
５、５６２、５９０、４２７、２０２、５０、１８、１
３である。各画素の主走査方向の中心の座標を右から順
に０〜１０とし、重心の主走査方向の位置をｍとする
と、ｍの周りのモーメントは０となるので、ａ₀（ｍ−０）＋ａ₁（ｍ−１）＋・・・ａ₁₀（ｍ−１
０）＝０が成り立ち、数値を入れて計算すると、ｍ＝４．６６７が得られる。

【００３５】重心を求めるのは、補間などの前処理を必
要とせず、演算の簡素化、高速化に有用である。画像の
位置を求めるのは、各列ごとのデータの和の並びから、
補間により所定の分解能のデータ列を得て、そのデータ
からピーク値の存在する位置を求める方法を使うことも
できる。

【００３６】５斜線の幅重心を計算するに当たり、斜線の幅はデータをきちんと
読み取れるものであれば問題ないが、画素が正方形で、
斜線の角度が４５°であり、画像の走査速度を所定の目
標速度からのわずかなズレをより高精度で測定する場
合、斜線の主走査方向の幅を画素の整数倍にしておく
と、ウインドウを斜め方向に移動しても、斜線と画素の
関係は斜線の両側で同じになり、画像データの誤差要因
もバランスし、画像の位置を計算する精度を高めること
ができる。

【００３７】６主走査方向の斜線の画像の移動量と副
走査方向の画素の位置誤差の関係この実施形態では、副走査方向の画素の位置誤差を測定
するために、斜線を読み取った画像の主走査方向へ画像
の位置の移動を見ている。正方形の画素で４５°の斜線
を使って測定する場合には、これまでの説明で明らかな
ように、主走査方向の移動量のウインドウ間における偏
差がそのまま、副走査方向の位置誤差になる。画素が正
方形でない場合、斜線の角度が４５°でない場合には、
換算をして副走査方向の位置誤差を得る必要がある。

【００３８】７測定の処理手順図６は、測定の処理手順を示すフローチャートである。
この処理手順では、まず、計算するウインドウの位置を
示すＷ．Ｐ．（ウインドウポインタ）をセットし（ステ
ップＳ６０１）、次に、Ｗ．Ｐ．で指示されるウインド
ウのデータを取り込み（ステップＳ６０２）、取り込ん
だデータの総和Ｖを計算する（ステップＳ６０３）。そ
して、データの総和Ｖがあらかじめ設定したａとｂとの
間の値を持っているかどうかをチェックする（ステップ
Ｓ６０４）。このチェックでａとｂとの間に入っていれ
ば、重心の計算を行い（ステップＳ６０５）、さらに、
重心のずれを計算した（ステップＳ６０６）後、次の
Ｗ．Ｐ．をセットする（ステップＳ６０７）。その後、
ステップＳ６０２に戻ってデータフェッチ以降の処理を
繰り返す。

【００３９】一方、ステップＳ６０４で、データの総和
Ｖがａとｂとの間に入っていなければ、ループから抜け
出し、処理を終了する。

【００４０】なお、ステップＳ６０４で処理の総和をチ
ェックするのは、スタートのときにＷ．Ｐ．を誤ってセ
ットしたため、ウインドウ内に斜線のデータがないよう
な場合に、正しい測定がされていないのに測定結果が出
力されるのを防止するという理由からである。また、測
定に使う斜線の長さを短くしておけば、斜線が途切れた
位置で打ち切ることができ、必要以上の測定を無駄を省
くことができる。

【００４１】８測定に使用する標準チャート図７に測定に使用するチャートの例を示す。図７（ａ）
に示したのは、縦長の読み取り範囲の先端から後端まで
の測定を可能にするためのチャートである。鎖線Ｌ_Hは
２本の斜線Ｌ₁，Ｌ₂が主走査のラインで見たときに重
なりを持っていることを可能にすることを説明するため
の補助線である。重なりはウインドウを別の斜線のデー
タを使うためにジャンプさせたとき、ウインドウ内のデ
ータが斜線の端部の影響を受けないことを保証するため
のものである。

【００４２】図７（ｂ）は、チャートの全面に斜線Ｌを
持ち、折り返しを使えば画面全体のどの位置でも画素の
位置誤差を計測できるようにするためのチャートであ
る。この場合も、特定の１本の斜線Ｌに注目して図７
（ａ）のような計測にも使用することができる。しか
し、このチャートの場合には、他のパターンを入れて１
枚の画像データで何種類もの項目の画像評価をすること
には対応することはできない。

【００４３】図７（ｃ）は、中央を、図７（ｄ）は、中
央と左右の画素の位置誤差を測定するためのチャートで
ある。同図（ｃ）の斜線のパターンがある部分だけと切
りとったストリップ状のチャートを従来からあるテスト
チャートの所定の位置に張り付ける形で、画素の位置誤
差を測定するチャートを作ることもできる。あるいは、
このストリップ状のチャートをそのまま測定用のチャー
トとすることもできる。

【００４４】９装置の概略構成図８は、画像読取装置の概略構成を説明するための断面
図である。同図において、筐体２８の上面に、読み取る
ための原稿を載せるコンタクトガラス２１が設けられ、
当該コンタクトガラス２１は筐体２８に支えられた状態
になっている。コンタクトガラス２１の上面に画像を下
にして置かれた原稿は、照明光源２２によって照明さ
れ、原稿の反射光は第１ミラー２３、第２ミラー２４、
第３ミラー２５および結像レンズ２６によって光電変換
装置２７上の光電変換素子の受光面に投影され、原稿の
画像は電気信号に変換される。電気信号に変換されたデ
ータは所定の処理をした後、出力される。

【００４５】照明光源２２と第１ミラー２３は、図示し
ない第１キャリッジに取り付けられており、同じく図示
しない駆動装置によって原稿を線順次に読み取るため、
原稿面との距離を一定に保った状態で移動する。第２ミ
ラー２４と第３ミラー２５は、図示しない第２キャリッ
ジに取り付けられ、第１キャリッジの１／２の速度で第
１キャリッジと同様に移動する。このような構成で原稿
を走査することによってコンタクトガラス２１上の所定
の範囲の画像を線順次で読み取る。

【００４６】図９は、図８に示した画像読取装置の平面
図で、コンタクトガラス２１、筐体２８、シェーディン
グ補正の基準データを光電変換部に与えるための基準濃
度板２９、および読み取った画像データの画素の位置誤
差を測定するために設けられた測定用パターン３０の配
置の状態を示していている。ここで、基準濃度板２９お
よび測定用パターン３０が鎖線で示してあるのは、光電
変換装置で読み取れるように読取装置の外面には出てい
ないことを示すためである。特に測定用パターン３０は
画像データとともに光電変換装置で読み込むので原稿と
同様に光電変換素子の受光面に結像する必要があり、コ
ンタクトガラス２１の原稿が置かれる面に設けられてい
る。

【００４７】図１０は図９において２点鎖線の円ＣＬで
囲んだ部分の詳細を示す図である。基準濃度板２９は測
定用パターン３０を読み取る光電変換素子の画素に対し
てもシェーディング補正が行えるようにするため、測定
用パターン３０が配置されている領域まで延ばしてあ
る。

【００４８】図１１は測定用のパターン３０の一部を拡
大した平面図であり、このパターン３０は黒の斜線Ｌと
背景の白で構成している。このパターン３０について
は、第１の実施形態で説明したものと同様なので、ここ
での説明は省略する。なお、この実施形態では、測定用
のパターン３０を画像外の図９に示す位置に設置し、画
像と同時に読み取って測定するという点のみが異なる。

【００４９】１０．斜線パターンの位置決め調整機構１０．１第１の例図１２に調整機構の第１の例を示す。この例では、調整
部材１０１は、上部が指でつかめるようになっており、
下端側にはテーパ１０１ａが形成され、コンタクトガラ
ス２１が突き当たるような位置に設けられている。調整
部材１０１の軸部には雄ねじが形成されている。この調
整部材１０１を支持するホルダ１０２は固定されてお
り、前記雄ねじはこのホルダ１０２に設けられた雌ねじ
に螺合するようになっている。

【００５０】斜線パターン３０の形成されたコンタクト
ガラス２１は突き当て部材１０３ａ，１０３ｂおよび調
整部材１０１のテーパ部１０１ａに突き当てて位置決め
する。位置決め後、斜線パターン３０が副走査方向に平
行にセットされていない場合、調整部材１０１を指で摘
んで回転させ、コンタクトガラス２１が突き当たるテー
パ部１０１ａを上下方向に動かし、コンタクトガラス２
１の当接部を主走査方向に微動させて斜線パターン３０
の傾きを調整する。原稿スケール６１は見やすいように
下部が透けて見えるように描かれているが、破線で示し
たように置かれるため、調整部材１０１が摘めるように
穴が開けられている。

【００５１】１０．２第２の例図１３に調整機構の第２の例を示す。この例では、調整
部材１１１は中心軸のずれた２つの円筒で形成され、上
部の円筒１１１ａを軸として調整部材１１１が回転する
ようになっている。下部の円筒１１１ｂの外周部にはコ
ンタクトガラス２１の端面が当接するように配置されて
いる。調整部材１１１は固定されたホルダ１１２に回転
可能に保持されている。保持の方法としては、前述のよ
うなねじの螺合が利用される。また、ねじに代えて抜け
止めのＥリングを使用することもできる。

【００５２】斜線パターン３０が形成されたコンタクト
ガラス２１は、前述の突き当て部材１０３ａ，１０３ｂ
および調整部材１１１の下部の円筒１１１ｂの側面に突
き当てて位置決めする。位置決め後、斜線パターン３０
が副走査方向に平行にセットされていない場合、調整部
材１１１を指で摘んで回転させ、コンタクトガラス２１
が突き当たった部分が下部の円筒１１１ｂの回転に応じ
て主走査方向に微動するので、これに応じて斜線パター
ン３０の傾きが調整される。原稿スケール６１は見やす
いように下部が透けて見えるように描かれているが、破
線で示したように置かれるため、調整部材１１１が摘め
るように穴が開けられている。

【００５３】１０．３第３の例図１４に調整機構の第３の例を示す。この例では、調整
部材１２１は、上部が指でつかめるようになっており、
下端側にはテーパ１２１ａが形成され、原稿スケール６
１が突き当たるような位置に設けられている。調整部材
１２１の軸部には雄ねじが形成されている。この調整部
材１２１を支持するホルダ１２２は固定されており、前
記雄ねじはこのホルダ１２２に設けられた雌ねじに螺合
するようになっている。

【００５４】斜線パターン３０がコンタクトガラスに接
する側に形成された原稿スケール６１は、突き当て部材
１０３ａ，１０３ｂおよび調整部材１２１のテーパ部１
２１ａに突き当てて位置決めする。位置決め後、斜線パ
ターン３０が副走査方向に平行にセットされていなけれ
ば、調整部材１２１を指で摘んで回転させ、原稿スケー
ル６１が突き当たるテーパ部１２１ａを上下方向に移動
させ、これによって原稿スケール６１とテーパ部１２１
ａの当接部を主走査方向に微動させ、原稿スケール６１
の傾きを調整する。

【００５５】なお、この例では、コンタクトガラスの短
手方向に設けられる原稿スケール６１’は、原稿スケー
ル６１が調整された後に原稿スケール６１の短手側面に
原稿スケール６１’の長手側面を突き当ててセットす
る。なお、原稿スケール６１を傾けるのは極微少な角度
調整のため、原稿突き当て部が傾くことによるスキュー
などの心配はない。

【００５６】１０．４第４の例図１５に調整機構の第４の例を示す。この例では、調整
部材１３１は中心軸のずれた２つの円筒で形成され、第
２の例と同様に上部の円筒１３１ａを軸として調整部材
１３１が回転するようになっている。下部の円筒１３１
ｂの外周部には原稿スケール６１の端面が当接するよう
に配置されている。調整部材１３１は固定されたホルダ
１３２に回転可能に保持されている。保持の方法として
は、前述のようなねじの螺合が利用される。また、ねじ
に代えて抜け止めのＥリングを使用することもできる。

【００５７】斜線パターン３０がコンタクトガラス２１
に接する側に形成された原稿スケール６１は、前述の突
き当て部材１０３ａ，１０３ｂおよび調整部材１３１の
下部の円筒１３１ｂの側面に突き当てて位置決めする。
位置決め後、斜線パターン３０が副走査方向に平行にセ
ットされていなければ、調整部材１３１の上部を指で摘
んで回転させ、これによって原稿スケール６１の下部の
円筒１１１ｂに突き当たった部分が主走査方向に微動す
るので、これに応じて斜線パターン３０の傾きが調整さ
れる。なお、この例でも、前述の第３の例と同様に、コ
ンタクトガラスの短手方向に設けられる原稿スケール６
１’は、原稿スケール６１が調整された後に原稿スケー
ル６１の短手側面に原稿スケール６１’の長手側面を突
き当ててセットする。なお、原稿スケール６１を傾ける
のは極微少な角度調整のため、原稿突き当て部が傾くこ
とによるスキューなどの心配はない。

【００５８】１０．５第５の例図１６に調整機構の第５の例を示す。この例は、例えば
第４の例の調整部材１３１の上部に、通常、触ることが
できないように保護カバー１４０を設けたものである。
保護カバー１４０はヒンジ１４１を支点として開閉可能
に構成され、斜線パターンの調整を行うときのみ解放す
る。なお、調整部材の誤作動を招くことのない構造であ
れば、その他の保護構造を使用することができる。

【００５９】その他、特に説明しない各部は第４の例と
同等に構成されている。

【００６０】１０．６第６の例図１７に調整機構の第６の例を示す。この例は、第５の
例と同様に調整部材の保護に関するもので、前述の保護
カバー１４０の変わりに原稿スケール６１自体を保護カ
バー１４０として利用したものである。すなわち、この
例では、第１の例における原稿スケール６１を調整部材
１０１の上部を覆うように設けたものである。このよう
に構成すると、調整が必要なときにのみ原稿スケール６
１をはずしてコンタクトガラス２１の傾きを調整するこ
とができる。

【００６１】その他、特に説明しない各部は第１の例と
同等に構成されている。

【００６２】１０．７第７の例（請求項７に対応）図１８に調整機構の第７の例を示す。この例は前述の第
１の例に対して微調整機構にさらに減速機構を設けたも
のである。具体的には、コンタクトガラス２１が突き当
たるテーパ部を有する調整部材１０１は、固定されたホ
ルダ１０２とねじによって嵌まり合っている。調整部材
１０１にはギア１５１が固定されており、さらにギア１
５１よりもギア比の低いギア１５２に噛み合っている。
ギア１５２には、調整摘み１５３が固定されている。調
整部材１０１は回転によって上下動し、このときギア１
５１も共に上下動するが、この上下動があってもギア１
５２と噛み合うようにギア１５２の歯幅が設定されてい
る。

【００６３】このように構成すると、調整摘み１５３を
回転させることによって調整部材１０１のテーパ部１０
１ａを上下方向に微動させることができ、その結果、コ
ンタクトガラス２１のテーパ部１０１ａへの当接部を主
走査方向に微動させることができる。このような減速機
構は、第１の例のみならず、第２ないし第４の例にも導
入することができることはいうまでもない。

【００６４】１０．８第８の例図１９に調整機構の第８の例を示す。前述のようにコン
タクトガラス２１は突き当て部材１０３ａ，１０３ｂお
よび調整部材１０１に突き当てて調整を行うが、その
際、コンタクトガラス２１の長手方向では、突き当て部
材１０３ａと調整部材１０１の２点で支持し、短手方向
では、突き当て部材１０３ｂの１点で支持するようにし
ている。これによって長いスパンを有効に利用して位置
決めを行うことができる。

【００６５】なお、斜線パターンが形成された原稿スケ
ール６１でも同様である。

【００６６】１０．９第９の例図２０ないし図２２に調整機構の第９の例を示す。図２
０ないし図２２は一般的な画像形成装置、例えば複写機
やスキャナの例である。

【００６７】例えば図２０に示すように、原稿突き当て
が左奥基準の画像読取装置の場合、作業上接触頻度の少
ない図示した位置に調整部材１０１を設置する。

【００６８】また、図２１のように原稿が縦置きになる
と、原稿突き当て基準は図示の手前左、もしくは手前右
にくると思われるが、この場合には、作業上、接触頻度
の少ないと考えられる奥側に調整部材１０１を設置す
る。

【００６９】さらに、図２２は、図２１と同様に縦置き
であるが、スキャン方向が異なって一般的に高速機とし
て使用される画像形成装置の例である。このような場合
には、原稿突き当て基準が例えば手前右では、図示した
ように奥側に調整部材１０１を設置する。

【００７０】なお、これらの例では、原稿セットが端面
基準になっているが、中央基準であっても同様に短尺原
稿スケールから遠い方に調整部材が配置されるようにす
ればよい。

【００７１】

【発明の効果】これまでの説明で明らかなように、前述
のように構成された本発明によれば、以下のような効果
を奏する。

【００７２】すなわち、請求項１記載の発明によれば、
微小に移動させる手段により斜線パターンを精度良く設
置することができ、斜線パターンが形成されたコンタク
トガラスをメンテナンスなどで取り外した後でも、同一
の位置に設置することができる。

【００７３】請求項２記載の発明によれば、請求項１記
載の発明の効果に加えて、突き当て材はコンタクトガラ
スを面で受けるため、コンタクトガラスの突き当てた部
分が欠けるなどの破損を防止することができる。

【００７４】請求項３記載の発明によれば、請求項１記
載の発明と同様の効果を奏する。

【００７５】請求項４記載の発明によれば、請求項１記
載の発明の効果に加え、突き当て材は原稿スケールを面
で受けるため、原稿スケールの突き当てた部分が欠ける
などの破損を防止することができる。

【００７６】請求項５記載の発明によれば、微小に移動
させる手段がむき出しの場合における誤動作を防止し、
斜線パターンの設置位置を保持することができる。

【００７７】請求項６記載の発明によれば、部品点数を
増やすことなく、既存部品により微小に移動させる手段
を保護して当該微小に移動させる手段の誤動作を防止
し、斜線パターンの設置位置を保持することができる。

【００７８】請求項７記載の発明によれば、精度を要す
る斜線パターンの傾き調整を、手動で減速機構によって
厳密に行うことができる。

【００７９】請求項８記載の発明によれば、より長いス
パンを利用して位置決めするため、正確にかつ容易に斜
線パターンの形成された部材をセットすることができ
る。

【００８０】請求項９記載の発明によれば、操作や作業
において接触頻度の少ない領域に微小に移動させる手段
を設けているので、誤って当該手段を作動させてしまう
可能が少なくなる。また、保護部材が設けられている場
合、その突起によって作業を邪魔することがあるのを防
止することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態における測定原理を示す説明
図である。

【図２】実施形態における画像読取装置のシステム構成
を示すブロック図である。

【図３】ビットマップに斜線の画像データがあるときの
位置誤差測定を行うときの処理を示す説明図である。

【図４】ビットマップで複数の斜線を使って位置誤差を
測定する場合のウインドウの移動とそれに伴う処理を示
す説明図である。

【図５】ウインドウのデータと斜線のパターンの関係を
示す図である。

【図６】測定の処理手順を示すフローチャートである。

【図７】測定に使用するチャートの例を示す図である。

【図８】画像読取装置の概略構成を示す断面図である。

【図９】画像読取装置の平面図である。

【図１０】図９において２点鎖線の円で囲んだ部分の拡
大図である。

【図１１】図９における測定用パターンの部分を拡大し
た拡大図である。

【図１２】調整機構の第１の例を示す図である。

【図１３】調整機構の第２の例を示す図である。

【図１４】調整機構の第３の例を示す図である。

【図１５】調整機構の第４の例を示す図である。

【図１６】調整機構の第５の例を示す図である。

【図１７】調整機構の第６の例を示す図である。

【図１８】調整機構の第７の例を示す図である。

【図１９】調整機構の第８の例を示す図である。

【図２０】調整機構の第９の例を示す図である。

【図２１】調整機構の第９の例を示す図である。

【図２２】調整機構の第９の例を示す図である。

【符号の簡単な説明】

１光電変換部２Ａ／Ｄ変換部（回路）３シェーディング補正部（回路）４位置誤差測定部（回路）５制御部６誤差信号７ビデオ信号８ビデオ制御信号１０位置誤差補正部（回路）２１コンタクトガラス２２光源２９基準濃度板３０測定パターン６１原稿スケール１０１，１１１，１２１，１３１調整部材１０１ａテーパ部１０２、１１２，１２２，１３２ホルダ１０３ａ，１０３ｂ突き当て部材１４０保護カバー１５１，１５２ギア１５３調整摘み

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】原稿の読取領域外に設置され、走査方向
に対して傾きを有する線を等ピッチで平行に並べたパタ
ーンを画像データと共に読み取る画像読取装置の前記パ
ターンの傾きを調整する調整装置において、前記パターンが形成されたコンタクトガラスを突き当て
て前記パターンの位置決めを行う手段と、前記位置決めを行う手段を上下に微小に移動させる手段
と、前記上下の微小な移動に応じて前記コンタクトガラスが
突き当たる部分を主走査方向に微小に移動させる手段
と、を備えていることを特徴とするパターンの傾き調整
装置。
【請求項２】原稿の読取領域外に設置され、走査方向
に対して傾きを有する線を等ピッチで平行に並べたパタ
ーンを画像データと共に読み取る画像読取装置の前記パ
ターンの傾きを調整する調整装置において、前記パターンが形成されたコンタクトガラスを突き当て
て前記パターンの位置決めを行う手段と、前記位置決めを行う手段のコンタクトガラスが突き当た
る部分を前記位置決めを行う手段の回転に応じて主走査
方向に微小に移動させる手段と、を備えていることを特
徴とするパターンの傾き調整装置。
【請求項３】原稿の読取領域外に設置され、走査方向
に対して傾きを有する線を等ピッチで平行に並べたパタ
ーンを画像データと共に読み取る画像読取装置の前記パ
ターンの傾きを調整する調整装置において、前記パターンが形成された原稿スケールを突き当てて前
記パターンの位置決めを行う手段と、前記位置決めを行う手段を上下に微小に移動させる手段
と、前記上下の微小な移動に応じて前記原稿スケールが突き
当たる部分を主走査方向に微小に移動させる手段と、を
備えていることを特徴とするパターンの傾き調整装置。
【請求項４】原稿の読取領域外に設置され、走査方向
に対して傾きを有する線を等ピッチで平行に並べたパタ
ーンを画像データと共に読み取る画像読取装置の前記パ
ターンの傾きを調整する調整装置において、前記パターンが形成された原稿スケールを突き当てて前
記パターンの位置決めを行う手段と、前記位置決めを行う手段の原稿スケールが突き当たる部
分を前記位置決めを行う手段の回転に応じて主走査方向
に微小に移動させる手段と、を備えていることを特徴と
するパターンの傾き調整装置。
【請求項５】前記微小に移動させる手段を保護する手
段を備えていることを特徴とする請求項１ないし４のい
ずれか１項に記載のパターンの傾き調整装置。
【請求項６】前記微小に移動させる手段を原稿スケー
ルで保護することを特徴とする請求項１または２に記載
のパターンの傾き調整装置
【請求項７】前記微動可能に支持する手段が減速手段
を備えていることを特徴とする請求項１ないし４項記載
のパターンの傾き調整装置。
【請求項８】前記位置決めを行う手段が、前記パター
ンが形成された部材の長手方向で２点、短手方向で１点
突き当たるように構成されていることを特徴とする請求
項１ないし４のいずれか１項に記載のパターンの傾き調
整装置。
【請求項９】前記長手方向で２点突き当たる部分のう
ち、短尺原稿スケールから遠い方に微動可能に支持する
手段が設けられていることを特徴とする請求項８記載の
パターンの傾き調整装置。