JPH0899061A - SiO2 系セラミック被膜の形成方法 - Google Patents
SiO2 系セラミック被膜の形成方法Info
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Abstract
成する方法の提供。 【構成】 本発明の方法は、基板上に分子内にSi−H
結合及び/もしくはN−H結合を有するポリシラザンの
膜を形成し、その膜にアルコキシシラン及び水を含む混
合溶液を接触させることを特徴とする。
Description
膜の形成方法に関する。
には、有機系塗料では不十分であり、セラミックス系コ
ーティングが用いられる。
ては、一般にPVD(スパッタ法等)、CVD、ゾルー
ゲル法、ポリチタノカルボシラン系塗料、ポリ(ジシ
ル)シラザン系塗料、等が知られている。しかしなが
ら、上記の如き方法にはいずれも問題がある。すなわ
ち、PVD、CVD法では装置及び製造コストが高価で
ある。ゾルーゲル法では、必要焼成温度が500℃以上
と高く、しかも厚い膜が得られない。ポリチタノカルボ
シラン系塗料では低温焼成(400℃以下)における表
面強度が不十分である。ポリ(ジシル)シラザン系重合
体を用いたものは、施工に難があり、クラックが発生す
る。
膜を形成する方法としてポリシラザン、ポリメタロシラ
ザンを用いる方法を開示しており、焼成温度も200〜
500℃と比較的低温であるが、低温焼成では膜質が必
ずしも良好でない。
8号明細書において、ポリシラザンを含むコーティング
を熱処理した後、水蒸気雰囲気にさらすまたは触媒を含
有した蒸留水中に浸すセラミック被膜の低温形成方法を
開示した。この方法によると、150℃以下の比較的低
温で緻密なセラミック被膜が簡単に得られる。しかしな
がら、この方法は、比較的低温とはいえども加熱処理を
必要とし、また水蒸気または触媒含有溶液による処理に
比較的長時間を要する。
記の如き従来技術における問題を解決し、耐熱性、耐摩
耗性、耐食性に優れ、クラックのない緻密なセラミック
被膜を、従来よりもさらに低温で且つ短時間に形成する
方法を提供することを目的とする。
他の目的は、 (1)基板上に分子内にSi−H結合及び/もしくはN
−H結合を有するポリシラザンの膜を形成し、その膜に
アルコキシシラン及び水を含む混合溶液を接触させるこ
とを特徴とする、SiO2 系セラミック被膜の形成方法
によって達成される。
挙する。 (2)前記ポリシラザンが、一般式(I):
立に、水素原子、アルキル基、アルケニル基、シクロア
ルキル基、アリール基、またはこれらの基以外で珪素に
直結する基が炭素である基、アルキルシリル基、アルキ
ルアミノ基、アルコキシ基を表すが、但し、R1 、R2
及びR3 の少なくとも一つは水素原子である)で示され
る単位からなる骨格を有する数平均分子量が100〜5
万のポリシラザンまたはこれらのポリシラザンを変性し
たものであることを特徴とする、(1)項記載の方法。
R)4 〔式中、Rは、各々独立に、アルキル基、アルケ
ニル基、シクロアルキル基、アリール基、アルキルアミ
ノ基またはアルキルシリル基を表す〕で示されることを
特徴とする、(1)項又は(2)項記載の方法。
i(OR)4-n 〔式中、Rは、各々独立に、アルキル
基、アルケニル基、シクロアルキル基、アリール基、ア
ルキルアミノ基またはアルキルシリル基を表し、R’
は、各々独立に、上記Rの他、ビニル基、エポキシ基、
アミノ基、メタクリル基またはメルカプト基を表し、そ
してnは1〜2の整数である〕で示されることを特徴と
する、(1)項又は(2)項記載の方法。
n (RO)3-n Si−R”−Si(OR)3-m R’
m 〔式中、Rは、各々独立に、アルキル基、アルケニル
基、シクロアルキル基、アリール基、アルキルアミノ基
またはアルキルシリル基を表し、R’は、各々独立に、
上記Rの他、ビニル基、エポキシ基、アミノ基、メタク
リル基またはメルカプト基を表し、R”は、2価の有機
結合基または−O−を表し、nは0〜3、mは0〜3の
整数を表すが、但し、n+mは4以下である〕で示され
ることを特徴とする、(1)項又は(2)項記載の方
法。
膜を加熱処理することを特徴とする、(1)項〜(5)
項のいずれか一項に記載の方法。
あることを特徴とする、(1)〜(6)項のいずれか一
つに記載の方法。
記載の方法によって形成されたSiO2 系セラミック被
膜。
は、分子内に少なくともSi−H結合またはN−H結合
を有するポリシラザンであればよく、ポリシラザン単独
はもちろん、ポリシラザンと他のポリマーとの共重合体
やポリシラザンと他の化合物との混合物でも使用でき
る。
るいは架橋構造を有するもの、あるいは分子内にこれら
複数の構造を同時に有するものがあり、これら単独でも
あるいは混合物でも利用できる。
一般式(I)で示されるようなものがあるが、これらに
限定されるものではない。
原子を有するものは、ペルヒドロポリシラザンであり、
その製造法は、例えば特開昭60−145903号公
報、D.SeyferthらCommunicatio
n of Am.Cer.Soc.,C−13,Jan
uary 1983.に報告されている。これらの方法
で得られるものは、種々の構造を有するポリマーの混合
物であるが、基本的には分子内に鎖状部分と環状部分を
含み、
ロポリシラザンの構造の一例を示すと下記の如くであ
る。
R3 にメチル基を有するポリシラザンの製造方法は、
D.SeyferthらPolym.Prepr.A
m.Chem.Soc.,Div.Polym.Che
m,.25,10(1984)に報告されている。この
方法により得られるポリシラザンは、繰り返し単位が−
(SiH2 NCH3 )−の鎖状ポリマーと環状ポリマー
であり、いずれも架橋構造をもたない。
R2 に有機基を有するポリオルガノ(ヒドロ)シラザン
の製造法は、D.SeyferthらPolym.Pr
epr.Am.Chem.Soc.Div.Poly
m.Chem,.25,10(1984)、特開昭61
−89230号公報に報告されている。これらの方法に
より得られるポリシラザンには、−(R2 SiHNH)
−を繰り返し単位として、主として重合度が3〜5の環
状構造を有するものや(R3 SiHNH)x 〔(R2 S
iH)1.5 N〕1-x (0.4<X<1)の化学式で示せ
る分子内に鎖状構造と環状構造を同時に有するものがあ
る。
R3 に有機基を有するポリシラザン、またR1 及びR2
に有機基、R3 に水素原子を有するものは、−(R1 R
2 SiNR3 )−を繰り返し単位として、主に重合度が
3〜5の環状構造を有している。
般式(I)以外のものとして、D.Seyferthら
のCommunication of Am.Cer.
Soc.,C−132,July 1984.に報告さ
れている様な分子内に架橋構造を有するポリオルガノ
(ヒドロ)シラザンがある。一例を示すと下記の如くで
ある。
ている様なR1 SiX3 (X:ハロゲン)のアンモニア
分解によって得られる架橋構造を有するポリシラザン
(R1Si(NH)x 、あるいはR1 SiX3 及びR2
2 SiX2 の共アンモニア分解によって得られる下記の
構造を有するポリシラザンも出発材料として用いること
ができる。
子であるMは架橋をなしていてもよい)の如く金属原子
を含むポリメタロシラザンも出発材料として用いること
ができる。
報告されているようなポリシロキサザン、特開平2−8
4437号公報に報告されているようなポリシラザン、
特開昭63−81122号、特開昭63−191832
号及び特開平2−77427号公報に報告されているよ
うなポリメタロシラザン、特開平1−138108号、
特開平1−138107号、特開平1−203429
号、特開平1−203430号及び特開平4−6383
3号公報並びに特願平3−320167号明細書に報告
されているような改質ポリシラザン、特開平2−175
726号、特開平1−138107号、特開平5−86
200号、特開平5−331293号及び特開平3−3
13326号公報に報告されているような共重合ポリシ
ラザンも好適に使用できる。
如く環状化することがあり、その場合にはその環状部分
が末端基となり、このような環状化がされない場合に
は、主骨格の末端はR1 、R2 、R3 と同様の基又は水
素であることができる。
子量で100〜5万、好ましくは500〜10,000
である。分子量が小さすぎると収率が低く、実用的では
なく、一方、分子量が大きすぎると溶液の安定性が低下
し、健全な膜が得られなくなる。
成するために、ポリシラザンを適当な溶剤に溶解してコ
ーティング液を調製することができる。ポリシラザンの
溶剤には、例えば、脂肪族炭化水素、脂環式炭化水素、
芳香族炭化水素などの炭化水素溶剤、ハロゲン化メタ
ン、ハロゲン化エタン、ハロゲン化ベンゼンなどのハロ
ゲン化炭化水素、脂肪族エーテル、脂環式エーテルなど
のエーテル類が使用できる。好ましい溶剤として、塩化
メチレン、クロロホルム、四塩化炭素、ブロモホルム、
塩化エチレン、塩化エチリデン、トリクロロエタン、テ
トラクロロエタン等のハロゲン化炭化水素、エチルエー
テル、イソプロピルエーテル、エチルブチルエーテル、
ブチルエーテル、1,2−ジオキシエタン、ジオキサ
ン、ジメチルジオキサン、テトラヒドロフラン、テトラ
ヒドロピラン等のエーテル類、ペンタンヘキサン、イソ
ヘキサン、メチルペンタン、ヘプタン、イソヘプタン、
オクタン、イソオクタン、シクロペンタン、メチルシク
ロペンタン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサン、
ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼンなどの
炭化水素、等が挙げられる。これらの溶剤を使用する場
合、ポリシラザンの溶解度や溶剤の蒸発速度を調節する
ために、2種類以上の溶剤を混合してもよい。
により作業性がよくなるように選択され、またポリシラ
ザンの平均分子量、分子量分布、その構造によって異な
るので、コーティング液中溶剤は90重量%程度まで混
合することができ、好ましくは固形分濃度が10〜50
重量%の範囲で混合することができる。
には、必要に応じて適当な充填剤を加えてもよい。充填
剤の例としてはシリカ、アルミナ、ジルコニア、マイカ
を始めとする酸化物系無機物あるいは炭化珪素、窒化珪
素などの非酸化物系無機物の微粉、等が挙げられる。ま
た用途によってはアルミニウム、亜鉛、銅等の金属粉末
の添加も可能である。さらに充填剤の例を詳しく述べれ
ば、ケイ砂、石英、ノバキュライト、ケイ藻土などのシ
リカ系;合成無定形シリカ;カオリナイト、雲母、滑
石、ウオラストナイト、アスベスト、ケイ酸カルシウ
ム、ケイ酸アルミニウムなどのケイ酸塩;ガラス粉末、
ガラス球、中空ガラス球、ガラスフレーク、泡ガラス球
などのガラス体;窒化ホウ素、炭化ホウ素、窒化アルミ
ニウム、炭化アルミニウム、窒化ケイ素、炭化ケイ素、
ホウ化チタン、窒化チタン、炭化チタンなどの非酸化物
系無機物;炭酸カルシウム;酸化亜鉛、アルミナ、マグ
ネシア、酸化チタン、酸化ベリリウムなどの金属酸化
物;硫酸バリウム、二硫化モリブデン、二硫化タングス
テン、弗化炭素その他無機物;アルミニウム、ブロン
ズ、鉛、ステンレススチール、亜鉛などの金属粉末;カ
ーボンブラック、コークス、黒鉛、熱分解炭素、中空カ
ーボン球などのカーボン体、等があげられる。
得られ且つポリシラザンの反応性を阻害しない範囲であ
れば適宜選定することができる。充填剤添加量は、一般
にはポリシラザン1重量部に対し、0.05〜50重量
部の範囲にあり、特に好ましい添加量は0.2〜3重量
部の範囲にある。
液を基板上に1回又は2回以上適用して膜を形成する。
基板は、特に限定されず、金属、セラミックス、プラス
チック等の中から所望のものが用いられる。
の塗布方法、つまり浸漬、ロール塗り、バー塗り、刷毛
塗り、スプレー塗り、フロー塗り等が用いられる。ま
た、塗布前に基盤をヤスリがけ、脱脂、各種ブラスト等
で表面処理しておくと、コーティング液の付着性能が向
上する。
リシラザン膜を加熱することは本質的には必要がない。
しかし、乾燥(溶剤除去)の時間を短縮するために加熱
処理を実施してもよい。実質的に120℃以下の温度で
加熱処理すれば十分である。但し、溶剤が最終のセラミ
ック被膜中に残存すると被膜が曇ったり、被膜の平滑性
が悪くなるので、乾燥は十分に行うことが好ましい。な
お、この乾燥のための加熱処理によりポリシラザンの硬
化反応が部分的に進行することがあるが、硬化反応はセ
ラミック化であり問題はない。従って、本発明の本質か
らすれば必要はないが、アルコキシシランとの反応前に
ポリシラザンの一部を硬化させる熱処理が行われても、
Si−H又はN−H結合が残存する限り本発明は有効で
ある。
シラザンの膜を形成した後、その膜に、アルコキシシラ
ン及び水を含む反応性の混合溶液を接触させる。
ンは、ゾル−ゲル法によるSiO2系セラミック被膜の
形成に一般に用いられるアルコキシシランの中から任意
に選ぶことができる。
ランは、Si(OR)4 〔式中、Rは、各々独立に、ア
ルキル基、アルケニル基、シクロアルキル基、アリール
基、アルキルアミノ基またはアルキルシリル基を表す〕
で示されるアルコキシシランである。好ましいRは、メ
チル基、エチル基、プロピル基、ブチル基及びイソプロ
ペニル基である。中でも特に好ましいアルコキシシラン
は、テトラメトキシシラン及びテトラエトキシシランで
ある。
4-n 〔式中、Rは、各々独立に、アルキル基、アルケニ
ル基、シクロアルキル基、アリール基、アルキルアミノ
基またはアルキルシリル基を表し、R’は、各々独立
に、上記Rの他、ビニル基、エポキシ基、アミノ基、メ
タクリル基またはメルカプト基を表し、そしてnは1〜
2の整数である〕で表される有機アルコキシシラン、又
はR’n (RO)3-n Si−R”−Si(OR)
3-m R’m 〔式中、Rは、各々独立に、アルキル基、ア
ルケニル基、シクロアルキル基、アリール基、アルキル
アミノ基またはアルキルシリル基を表し、R’は、各々
独立に、上記Rの他、ビニル基、エポキシ基、アミノ
基、メタクリル基またはメルカプト基を表し、R”は、
2価の有機結合基または−O−を表し、nは0〜3、m
は0〜3の整数を表すが、但し、n+mは4以下であ
る〕で表されるアルコキシジシランを使用してもよい。
このような有機基R’及びR”は、得られる最終のセラ
ミック被膜が所望の膜質(例えば、耐熱性、耐磨耗性、
可撓性)を示すように、当業者であれば適宜選択するこ
とができる。
2 O)には、通常のイオン交換水、工業用水、濾過水、
等が使用できる。しかしながら、得られる最終セラミッ
ク被膜の膜質等を考慮した場合、純水を使用することが
好ましい。また、水の代わりに過酸化水素水を使用する
ことは可能である。
比率は、体積基準でアルコキシシラン/水=0.01〜
100、より好ましくは0.1〜10の範囲が好まし
い。この比率が0.01よりも小さいと、水による反応
が主体となり、得られるセラミックスの膜質が悪くな
る。一方、100よりも大きいと、アルコキシシランの
加水分解速度が遅くなる。また、この比率を変更するこ
とによって混合溶液の反応性を制御することができる。
で示されるアルコールを含有することができる。ここで
R”は、アルコキシシランについて先に記載したRと同
じ基、すなわちアルキル基、アルケニル基、シクロアル
キル基、アリール基、アルキルアミノ基またはアルキル
シリル基を表す。特定の混合溶液におけるアルコールの
R”とアルコキシシランのRは、同種であることが好ま
しいが、異なっていてもよい。アルコールが含有される
ことによって、アルコキシシランの加水分解が促進さ
れ、溶液の反応性が高まる。
コールの存在比率は、体積基準でアルコキシシラン/ア
ルコール=100〜0.01、より好ましくは10〜
0.1の範囲が好ましい。この比率が100よりも大き
いと、アルコキシシランの分解が少なく、溶液の反応性
が低くなる。一方、0.01よりも小さいと、アルコー
ルとシラザンの反応が主体となり、膜質が劣化する。ま
た、先に記載した水の場合と同様に、この比率を変更す
ることによっても混合溶液の反応性を制御することがで
きる。
溶液は、該アルコキシドの加水分解及びポリシラザンと
の反応を促進させるために触媒を含有することができ
る。触媒としては酸、塩基が好ましく、その種類につい
ては特に限定はされないが、例として塩酸、硫酸、フッ
酸、硝酸及びこれらの塩類、アンモニア、水酸化アンモ
ニウム、塩化アンモニウム、トリエチルアミン、ジエチ
ルアミン、モノエタノールアミン、ジエタノールアミ
ン、トリエタノールアミンなどのアミン類、並びに水酸
化ナトリウム、水酸化カリウム、等が挙げられる。これ
らの酸、塩基触媒の添加量は、アルコキシシラン1モル
当たり0.0001〜10モル%、より好ましくは0.
001〜1.0モル%が好ましい。同様に、この触媒添
加量によっても混合溶液の反応性を制御することができ
る。
たアルコキシシラン及び水を含有する反応性の混合溶液
を、上記のポリシラザンの膜に適当な方法で接触させ
る。接触させる方法として、例えば、浸漬法、噴霧法、
等が挙げられる。この接触によってポリシラザンとアル
コキシシランとの間で反応が起こり、これらがSiOx
組成のセラミックに転化する。
度)は、室温で十分であるが、所望により室温〜混合溶
液の沸点以下の範囲に加熱してもよい。接触時間は、限
定するわけではないが、一般に1時間以内で済み、好ま
しくは1〜10分の範囲である。
膜の乾燥と膜質の向上を兼ねて、基板の耐熱温度以下の
温度で後加熱工程を実施することができる。
ランとの間のセラミック被膜の形成反応は、以下の三つ
の素反応が基本になっているものと考える。すなわち、
混合溶液中においてアルコキシシランが下式: ≡Si−OR + H2 O −−> ≡Si−OH
+ ROH のように加水分解され、このとき生成したシラノール基
が、下式: ≡Si−OH + ≡Si−H −−>≡Si−O
−Si≡ + H2 ≡Si−OH + ≡Si−NH−Si≡ −−>
≡Si−O−Si≡ + ≡Si−NH2 のようにポリシラザンのSi−H及び/又はN−H結合
と反応することによって膜がSiOx 化する。
結合を主体とする緻密なSiO2 系セラミック被膜を、
常温で且つ短時間に得ることが可能になる。
する。
pe−1(PHPS−1;数平均分子量900)の20
%キシレン溶液を調製し、これをコーティング液1とし
た。 コーティング液2:東燃製ペルヒドロポリシラザンTy
pe−1(PHPS−1;数平均分子量900)の20
%キシレン溶液10グラムに、酢酸パラジウム(2)
(エヌイーエムキャット(株)製)の0.5%キシレン
溶液4グラムを添加し、さらにキシレン6グラムを加
え、大気中20℃で3時間攪拌しながら反応を行った。
その後この溶液を濃縮して濃度20%の溶液に調整し
た。本溶液の数平均分子量はGPCにより測定したとこ
ろ970であった。この溶液をコーティング液2とし
た。
及び純水1000mLに、エタノール100mL及び塩酸
0.65グラム(TEOSに対し0.02モル%)を加
えた溶液を調製し、これを浸漬液1とした。 浸漬液2:テトラメトキシシラン(TMOS)200mL
及び純水1000mLに、メタノール100mL及び塩酸
1.0グラム(TMOSに対し0.02モル%)を加え
た溶液を調製し、これを浸漬液2とした。
ルターで濾過後、厚さ0.5mmのシリコンウェハー(2
cm×2cm)にスピンコーターを用いて塗布(2000rp
m 、20秒)し、大気雰囲気下120℃で1時間加熱し
て溶媒を除去した。この段階での膜のセラミックス化の
進行度をIRで評価したところSiH残存率は95%で
あった。評価法は下記によった。 SiH残存率(%)=(加熱後のSiH吸光度/加熱前
のSiN吸光度)×100この数値はセラミックス化進
行の指標となるものであり、SiH残存率が小さいほ
ど、またSiO吸光度が大きいほどセラミックス化が進
んでいることを示す。なお、ここでSiN、SiO及び
SiHの特性吸収はそれぞれ約840、1100及び2
160cm-1を用いた。また吸光度は、 吸光度=1og(Io/I) にて計算した。ここで、Iは吸収ピークの透過率、Io
はピークのベースとなる透過率である。
漬液1に常温で1時間浸漬して反応させた。浸漬後、液
の乾燥を兼ねて120℃で5分間加熱した。膜のセラミ
ックス化の進行度をIRで評価したところ、SiH残存
率5%であった。また、1100cm-1にSi−O−Si
に起因する吸収、940cm-1にSi−OHに起因する吸
収、そして3400cm-1にO−Hに起因する吸収が認め
られた。ポリシラザンの骨格構造であるSi−N−Si
に起因する吸収はほぼ消失しており、これが浸漬液との
反応によってSiOx 構造のセラミックスに転化したこ
とがわかる。
を、49%フッ酸(ダイキン工業(株)製)18mLと6
1%硝酸1763mLの混合溶液で処理したところ、エッ
チングレートは1500Å/min であった。
クス化の進行度を評価した。これらの反応条件と結果を
それぞれ以下の表1及び表2に記載する。
1で得られたセラミック被膜は、ゾル−ゲル法で得られ
るSiO2 系被膜に比べて優れた緻密性(エッチングレ
ート)を示すことがわかる。
にスピンコートし、純水1000mL、エタノール100
mL及び塩酸0.65グラムを含む溶液に1時間した。浸
漬後、膜は分解し残存しなかった。
にスピンコートし、純水1000mL、メタノール100
mL及び塩酸1.0グラムを含む溶液に1時間した。浸漬
後、膜は分解し残存しなかった。
エハーにスピンコートし、大気中120℃、1時間加熱
した。この膜のセラミックス化進行度をIRで評価した
ところ、SiH残存率は85%を示し、ほとんどセラミ
ックス化していなかった。さらに、エッチングレートは
>5000Å/min であり、膜の緻密性も悪かった。
密なセラミック被膜を形成することが可能になり、従来
加熱を必要とするために適用できなかった各種基材(プ
ラスチック、電子部品など)へのセラミック被膜が実現
できる。また、本発明の方法は加熱処理なしでも短時間
でセラミック化されるので、製膜プロセスの簡素化及び
効率化が達成される。
Claims (1)
- 【請求項1】 基板上に分子内にSi−H結合及び/も
しくはN−H結合を有するポリシラザンの膜を形成し、
その膜にアルコキシシラン及び水を含む混合溶液を接触
させることを特徴とする、SiO2 系セラミック被膜の
形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23688194A JP3442160B2 (ja) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | SiO2 系セラミック被膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23688194A JP3442160B2 (ja) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | SiO2 系セラミック被膜の形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0899061A true JPH0899061A (ja) | 1996-04-16 |
JP3442160B2 JP3442160B2 (ja) | 2003-09-02 |
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ID=17007173
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