JPH0877227A - スタンダードセル方式のレイアウト手法 - Google Patents

スタンダードセル方式のレイアウト手法

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Publication number
JPH0877227A
JPH0877227A JP6209464A JP20946494A JPH0877227A JP H0877227 A JPH0877227 A JP H0877227A JP 6209464 A JP6209464 A JP 6209464A JP 20946494 A JP20946494 A JP 20946494A JP H0877227 A JPH0877227 A JP H0877227A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock signal
cell
clock
delay time
wiring
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP6209464A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Hisae
健治 久重
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP6209464A priority Critical patent/JPH0877227A/ja
Publication of JPH0877227A publication Critical patent/JPH0877227A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】セル・ライブラリに登録されているセル群を使
用して行われる集積回路のレイアウト設計手法、いわゆ
る、スタンダードセル方式のレイアウト手法に関し、ク
ロック・スキューを小さくするための処理を容易に自動
化することができるようにする。 【構成】クロック信号を必要とするセルについて、クロ
ック信号配線の長さを異にし、クロック信号を遅延させ
る時間を異にする複数のセルをパターンバージョンとし
て予めセル・ライブラリに登録しておく。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、予めセル・ライブラリ
に登録されているセル群を使用して行われる集積回路の
レイアウト設計手法、いわゆる、スタンダードセル方式
のレイアウト手法に関する。
【0002】近年、集積回路においては、高速化が著し
く、このことから、クロック信号を必要とする回路に伝
送されるクロック信号の各回路間での位相ずれ、いわゆ
る、クロック・スキューが重要な問題の1つとされてお
り、クロック・スキューを小さくするスタンダードセル
方式のレイアウト手法が求められている。
【0003】
【従来の技術】従来においては、スタンダードセル方式
のレイアウトを行う場合、クロック信号をセルに供給す
るクロック信号配線について、冗長配線を行ったり、同
じくクロック信号をセルに供給するクロック信号配線に
バッファ・ゲートを挿入したり、あるいは、配置配線を
マニュアルで行うという方法で、クロック・スキューを
小さくするようにしていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、これら従来の
スタンダードセル方式のレイアウト方法では、実配線の
抵抗値及び容量値をパラメータとしたクロック・スキュ
ーの計算結果に基づいてレイアウトの変更を行う場合、
セルの配置や配線に変更量が多く、自動化が困難である
という問題点があった。
【0005】本発明は、かかる点に鑑み、クロック・ス
キューを小さくするための処理を容易に自動化すること
ができるようにしたスタンダードセル方式のレイアウト
手法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明によるスタンダー
ドセル方式のレイアウト手法は、クロック信号を必要と
するセルについて、クロック信号を遅延させる時間を異
にするクロック信号遅延手段を設けてなる複数のセルを
パターンバージョンとして予めセル・ライブラリに登録
しておくというものである。
【0007】
【作用】本発明においては、自動配置配線時には、パタ
ーンバージョンのうち、クロック信号遅延手段によるク
ロック信号の遅延時間が標準値とされているセルを使用
して配置、配線を行う。
【0008】そして、その後、実配線の抵抗値及び容量
値をパラメータとしたクロック・スキューの計算結果に
基づいて、クロック・スキューの調整を行う必要のある
セルについては、パターンバージョン間でセルの入れ替
えのみを行うことにより、クロック・スキューを小さく
することができる。
【0009】
【実施例】図1、図2は本発明の一実施例を説明するた
めの平面図であり、特に、図1は本実施例において使用
されるセルを示す平面図、図2はクロック・スキューを
小さくする処理方法を説明するための平面図である。
【0010】ここに、図1A〜図1Cは、回路構成、端
子位置及び配線禁止領域をそれぞれ同一にし、クロック
信号配線の長さのみを異にするセルであり、本実施例に
おいては、これら図1A〜図1Cに示すセルをパターン
バージョンとして予めセル・ライブラリに登録してお
く。
【0011】以下、説明の便宜上、図1Aに示すセルを
Aタイプ・セル、図1Bに示すセルをBタイプ・セル、
図1Cに示すセルをCタイプ・セルという。
【0012】これら図1A〜図1Cにおいて、1〜3は
セルの枠、4〜6はクロック信号を受信するクロック信
号受信端子、7〜9は高抵抗ポリシリコンからなるクロ
ック信号配線、10〜12はクロック信号を必要とする
同一の回路構成の論理回路である。
【0013】ここに、クロック信号配線7は標準とされ
る遅延時間を持つ長さに形成され、クロック信号配線8
はクロック信号配線7よりも長く形成され、クロック信
号配線9は、クロック信号配線8よりも長く形成されて
いる。
【0014】即ち、本実施例においては、Bタイプ・セ
ルは、そのクロック信号配線8がAタイプ・セルのクロ
ック信号配線7よりも大きな遅延時間を持つように構成
され、Cタイプ・セルは、そのクロック信号配線9がB
タイプ・セルのクロック信号配線8よりも大きな遅延時
間を持つように構成されている。
【0015】また、図2において、図2Aは自動配置配
線後のレイアウト、図2Bはクロック・スキューを小さ
くするためのセル変更後のレイアウトを示している。
【0016】図2中、14はチップの枠、15はクロッ
ク信号受信端子、16はクロック信号受信端子15に入
力されたクロック信号を波形整形するクロック・バッフ
ァ、17はクロック信号配線、18〜21はAタイプ・
セル、22はBタイプ・セル、23、24はCタイプ・
セルである。
【0017】即ち、本実施例では、まず、標準の遅延時
間を有するAタイプ・セルを使用して自動配置配線を行
い、その後、実配線の抵抗値及び容量値をパラメータと
したクロック・スキューの計算を行い、クロック・スキ
ューが小さくなるように、パターンバージョン間でセル
の変更を行うようにする。
【0018】図2の例では、Aタイプ・セル19をBタ
イプ・セル22に変更し、Aタイプ・セル20、21を
Cタイプ・セル23、24に変更している。
【0019】このように、本実施例によれば、クロック
・スキューの調整が必要なセルについては、最適な遅延
時間を有するセルをパターンバージョンの中から選択
し、そのセルに変更するだけで、クロック・スキューを
小さくすることができる。
【0020】即ち、セルの移動や、周辺の配線の移動と
いうことを一切行わずに、クロック・スキューの調整を
行うことができ、他のネットの遅延時間を変えてしまう
という問題は生ぜず、セルの変更後、再び、実配線の抵
抗値及び容量値を抽出してクロック・スキューの計算を
行い、セル変更後の状態を確認するということも必要が
ない。
【0021】この場合、セル・ライブラリにセルのクロ
ック信号配線の遅延時間情報を持たせることにより、ク
ロック・スキューの計算結果をもとに最適な遅延時間を
持つセルへの自動変更を容易に行うことができる。
【0022】なお、遅延時間及びパターンバージョンの
数は、テクノロジや回路規模などに応じて最適なものと
すれば良いが、クロック・スキュー対策を行うクロック
・ツリー・シンセシス機能を使用した自動配置配線を行
う場合には、大きなクロック・スキューは生じないの
で、微調整を行うことができる遅延時間を持つパターン
バージョンを用意しておくことが好適である。
【0023】これに対して、クロック・ツリー・シンセ
シス機能を持たない通常の自動配置配線を行う場合に
は、大きなクロック・スキューが生じる場合があるの
で、遅延時間の調整範囲を大きくとることができるパタ
ーンバージョンを用意しておくことが好適である。
【0024】また、上述の実施例においては、セル内の
クロック信号遅延手段を高抵抗ポリシリコンからなるク
ロック信号配線で構成する場合について説明したが、ト
ランジスタ回路や、メタル配線などを使用してクロック
信号遅延手段を構成するようにしても良い。
【0025】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、自動配
置配線後、実配線の抵抗値及び容量値をパラメータとし
たクロック・スキューの計算結果に基づいて、クロック
・スキューの調整を行う必要のあるセルについては、パ
ターンバージョン間でセルの入れ替えのみを行うことに
より、クロック・スキューを小さくすることができるの
で、自動配置配線後のデータの修正量が少なく、クロッ
ク・スキューを小さくするための処理を容易に自動化す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例において使用されるセルを示
す平面図である。
【図2】クロック・スキューを小さくするための処理方
法を説明するための平面図である。
【符号の説明】
(図1) 1〜3 セルの枠 4〜6 クロック信号受信端子 7〜9 クロック信号配線 10〜12 同一の回路構成の論理回路 (図2) 14 チップの枠 15 クロック信号受信端子 16 クロック・バッファ 17 クロック信号配線 18〜21 Aタイプ・セル 22 Bタイプ・セル 23、24 Cタイプ・セル

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】クロック信号を必要とするセルについて、
    前記クロック信号を遅延させる時間を異にするクロック
    信号遅延手段を設けてなる複数のセルをパターンバージ
    ョンとして予めセル・ライブラリに登録しておくことを
    特徴とするスタンダードセル方式のレイアウト手法。
  2. 【請求項2】前記クロック信号遅延手段は、クロック信
    号配線により構成されていることを特徴とする請求項1
    記載のスタンダードセル方式のレイアウト手法。
  3. 【請求項3】前記クロック信号を必要とするセル内の端
    子位置及び配線禁止領域は、全てのパターンバージョン
    間で同一とされていることを特徴とする請求項1又は2
    記載のスタンダードセル方式のレイアウト手法。
  4. 【請求項4】自動配置配線時には、パターンバージョン
    のうち、前記クロック信号遅延手段による前記クロック
    信号の遅延時間が標準値とされているセルを使用して配
    置、配線を行うことを特徴とする請求項1、2又は3記
    載のスタンダードセル方式のレイアウト手法。
  5. 【請求項5】前記自動配置配線後の実配線の抵抗値及び
    容量値をパラメータとしたクロック・スキューの計算結
    果に基づいて前記クロック信号を必要とするセルのパタ
    ーンバージョン間の入れ替え処理のみを行うことにより
    クロック・スキューを小さくすることを特徴とする請求
    項4記載のスタンダードセル方式のレイアウト手法。
  6. 【請求項6】前記クロック信号遅延手段による前記クロ
    ック信号の遅延時間をセル・ライブラリに登録しておく
    ことにより、前記クロック信号を必要とするセルのパタ
    ーンバージョン間の入れ替え処理を自動的に行うことを
    特徴とする請求項5記載のスタンダードセル方式のレイ
    アウト手法。
JP6209464A 1994-09-02 1994-09-02 スタンダードセル方式のレイアウト手法 Withdrawn JPH0877227A (ja)

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JP6209464A JPH0877227A (ja) 1994-09-02 1994-09-02 スタンダードセル方式のレイアウト手法

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JP6209464A JPH0877227A (ja) 1994-09-02 1994-09-02 スタンダードセル方式のレイアウト手法

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JPH0877227A true JPH0877227A (ja) 1996-03-22

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JP6209464A Withdrawn JPH0877227A (ja) 1994-09-02 1994-09-02 スタンダードセル方式のレイアウト手法

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6253358B1 (en) 1997-04-09 2001-06-26 Nec Corporation Method for supporting the design of semiconductor integrated circuit and system using the same method
US7559041B2 (en) 2005-11-17 2009-07-07 Freescale Semiconductor, Inc Method and apparatus for designing semiconductor integrated circuit
US7590961B2 (en) 2004-08-24 2009-09-15 Agere Systems Inc. Integrated circuit with signal skew adjusting cell selected from cell library
CN101808460A (zh) * 2010-03-25 2010-08-18 中兴通讯股份有限公司 用于pcb的布线方法及pcb

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Effective date: 20011106